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JP2012208180A - Contrast inspection method and contrast inspection device - Google Patents

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JP2012208180A
JP2012208180A JP2011071852A JP2011071852A JP2012208180A JP 2012208180 A JP2012208180 A JP 2012208180A JP 2011071852 A JP2011071852 A JP 2011071852A JP 2011071852 A JP2011071852 A JP 2011071852A JP 2012208180 A JP2012208180 A JP 2012208180A
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Japan
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phase difference
difference compensation
light
inspection object
plate
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JP2011071852A
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Satoshi Yamamoto
学志 山本
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

【課題】プロジェクターのライトバルブに用いられる液晶パネル10のコントラストの検査時間を短縮する。
【解決手段】検査前に、液晶パネル10の代わりに鏡を保持させるとともに、位相差補償板60の代わりに1/4波長板を保持させて、受光部80の照度情報が最大値となるように、第1偏光子40の回転角θ、偏光ビームスプリッター50の回転角θ、第2偏光子70の回転角θをそれぞれ調整する。液晶パネル10を検査するときには、鏡を当該液晶パネル10に、1/4波長板を位相差補償板60に、それぞれ交換する。そして、受光部80の照度情報が最大値となるように、液晶パネル10の回転角x、回転角y、位相差補償板60の回転角θを調整する。
【選択図】図2
An object of the present invention is to reduce the inspection time of contrast of a liquid crystal panel 10 used in a light valve of a projector.
Before inspection, a mirror is held instead of the liquid crystal panel 10 and a quarter-wave plate is held instead of the phase difference compensation plate 60 so that the illuminance information of the light receiving unit 80 becomes the maximum value. In addition, the rotation angle θ of the first polarizer 40, the rotation angle θ of the polarization beam splitter 50, and the rotation angle θ of the second polarizer 70 are respectively adjusted. When inspecting the liquid crystal panel 10, the mirror is replaced with the liquid crystal panel 10, and the quarter-wave plate is replaced with the phase difference compensation plate 60. Then, the rotation angle x and rotation angle y of the liquid crystal panel 10 and the rotation angle θ of the phase difference compensation plate 60 are adjusted so that the illuminance information of the light receiving unit 80 becomes the maximum value.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、コントラスト検査方法およびコントラスト検査装置に関する。   The present invention relates to a contrast inspection method and a contrast inspection apparatus.

液晶パネルは、電子機器の表示装置のほか、プロジェクターのライトバルブとしても用いられている。プロジェクターにおいては、液晶パネルによって対角で1インチ程度の変調像が生成され、この画像が拡大されてスクリーンに投写される。このような液晶パネルの検査する場合、透過型であれば、各ドットの透過光をCCDカメラによって撮像するとともに、撮像した検査画像から検査対象ドットの欠陥を検出する技術が提案されている(例えば特許文献1参照)。   The liquid crystal panel is used as a light valve of a projector in addition to a display device of an electronic device. In the projector, a modulated image of about 1 inch diagonally is generated by the liquid crystal panel, and this image is enlarged and projected onto the screen. When such a liquid crystal panel is inspected, if it is a transmissive type, a technique has been proposed in which the transmitted light of each dot is imaged by a CCD camera and a defect in the inspection target dot is detected from the inspected image (for example, Patent Document 1).

特開2005−338261号公報JP 2005-338261 A

ところで近年、透過型に加えて反射型の液晶パネルも登場している。反射型では、開口率が高められるほか、光漏れが抑えられるので、透過型と比較して高いコントラストの映像表示が可能となっている。このため、検査工程において、画素欠陥とは別に、液晶パネルのコントラストの高低を見極めることが重要になる。従来の検査装置でコントラストを検査する場合、検査に時間を要するので、多数のパネルを検査することができない、という問題があった。
そこで本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的の一つは、例えば液晶パネルのコントラスト検査に要する時間の短縮することが可能な技術を提供することにある。
In recent years, reflective liquid crystal panels have appeared in addition to transmissive types. In the reflection type, the aperture ratio is increased and light leakage is suppressed, so that a high contrast image display is possible as compared with the transmission type. For this reason, in the inspection process, it is important to determine the level of contrast of the liquid crystal panel separately from the pixel defect. When the contrast is inspected with a conventional inspection apparatus, there is a problem that a large number of panels cannot be inspected because the inspection takes time.
Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and one of its purposes is to provide a technique capable of shortening the time required for, for example, contrast inspection of a liquid crystal panel.

上記目的を達成するために本発明に係るコントラスト検査方法にあっては、検査対象に光を照射する光源と、前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査方法であって、前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、前記検査対象のパネルを検査する際には、当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整することを特徴とする。本発明によれば、鏡の保持によって光学部材の各位置が調整されるので、パネルを検査する際には、パネルの保持位置および位相差補償板による位相差補償量を調整する程度で、当該パネルのコントラストを検査することができる。このため、検査に要する時間の短縮化が図られる。   In order to achieve the above object, in the contrast inspection method according to the present invention, a light source that irradiates light to an inspection object, a light receiving unit that receives reflected light from the inspection object, and from the light source to the inspection object And an optical member disposed on an optical axis from the inspection target to the light receiving unit, and a holding unit that holds each position of the optical member and the inspection target to be adjustable with respect to the optical axis. The optical member includes a first polarizer, a polarization beam splitter, a phase difference compensation plate, and a second polarizing plate, and transmits light from the light source to the first polarizer, the polarization beam splitter, Irradiating the inspection object via a phase difference compensation plate, and receiving the reflected light from the inspection object by the light receiving unit via the phase difference compensation plate, the polarization beam splitter, and the second polarizer, Inspection target An inspection method for inspecting contrast based on reflected light received by the light receiving unit, wherein a mirror is held instead of the panel before inspecting the panel to be inspected, and the phase difference compensation plate Instead, the quarter wavelength plate is held to adjust each position of the optical member, and when inspecting the panel to be inspected, the panel is held instead of the mirror, and the 1 The phase difference compensation plate is held in place of the / 4 wavelength plate to adjust the position of the panel, and the phase difference compensation amount is adjusted according to the position of the phase difference compensation plate. According to the present invention, each position of the optical member is adjusted by holding the mirror. Therefore, when inspecting the panel, the position where the panel is held and the phase difference compensation amount by the phase difference compensation plate are adjusted. The contrast of the panel can be inspected. For this reason, the time required for the inspection can be shortened.

本発明において、前記保持部による前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板、前記検査対象および前記第2偏光板の各位置を調整する調整部を有し、前記検査対象のパネルを検査する際に前記調整部は、前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッターおよび前記第2偏光板の各位置の調整を禁止する態様が好ましい。この態様によれば、光学部材の各位置が人手によらずに調整されるので、調整に要する時間が短縮されるとともに正確に調整される。この態様において、前記調整部は、前記受光部によって受光された光の明るさが最小となる地点に調整することが好ましい。
なお、本発明は、コントラストの検査方法のほか、コントラストの検査装置としても概念することができる。
In this invention, it has an adjustment part which adjusts each position of the said 1st polarizing plate by the said holding | maintenance part, the said polarizing beam splitter, the said phase difference compensation plate, the said test object, and the said 2nd polarizing plate, When the panel is inspected, it is preferable that the adjustment unit prohibits adjustment of each position of the first polarizing plate, the polarizing beam splitter, and the second polarizing plate. According to this aspect, since each position of the optical member is adjusted without manual intervention, the time required for the adjustment is shortened and adjusted accurately. In this aspect, it is preferable that the adjusting unit adjusts to a point where the brightness of the light received by the light receiving unit is minimized.
The present invention can be conceptualized as a contrast inspection apparatus in addition to a contrast inspection method.

検査対象となる液晶パネルの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the liquid crystal panel used as a test object. 実施形態に係るコントラスト検査装置の光学構成を示す図である。It is a figure which shows the optical structure of the contrast inspection apparatus which concerns on embodiment. コントラスト検査装置の位相差補償板の回転軸を示す図である。It is a figure which shows the rotating shaft of the phase difference compensating plate of a contrast inspection apparatus. コントラスト検査装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a contrast inspection apparatus. コントラスト検査装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of a contrast inspection apparatus. コントラスト検査装置のミラーによる調整後の光学構成を示す図である。It is a figure which shows the optical structure after adjustment with the mirror of a contrast inspection apparatus. 応用形態における位相差補償板の回転軸を示す図である。It is a figure which shows the rotating shaft of the phase difference compensating plate in an application form. パネルの調整不良によるコントラスト低下を示す図である。It is a figure which shows the contrast fall by the adjustment defect of a panel.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
図1は、実施形態に係るコントラスト検査装置において、検査対象となる液晶パネル10の構成を示す斜視図である。この液晶パネル10は、プロジェクターのライトバルブとして用いられる反射型であり、図において上側からの入射光を上側に反射する際に表示部本体12が表示領域で変調像を生成する。なお、表示領域は、平面視で長方形である。表示部本体12は、表示領域が開口したフレーム14にケーシングされている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a liquid crystal panel 10 to be inspected in the contrast inspection apparatus according to the embodiment. The liquid crystal panel 10 is a reflection type used as a light valve of a projector, and the display unit body 12 generates a modulated image in the display area when incident light from the upper side is reflected upward in the drawing. The display area is rectangular in plan view. The display unit body 12 is casing in a frame 14 having an open display area.

表示部本体12は、複数の画素毎に個別の画素電極を有する素子基板と、複数の画素にわたって共通のコモン電極を有する対向基板とが一定の間隙を保って、電極形成面が互いに対向するように貼り合わせられるとともに、この間隙に液晶が挟持された構造である。
表示部本体12には、FPC(Flexible Printed Circuits)基板20の一端が接続されている。FPC基板20には、ベアチップのドライバーIC22が、COF(Chip On Film)技術によって実装されるとともに、表示部本体12に接続された一端と反対側の端子部24において複数の端子26が設けられている。端子部24が、後述する調整部のコネクターに接続されて、当該調整部から端子26を介してそれぞれ各種の制御信号や映像信号が供給されると、ドライバーIC22が表示部本体12を駆動し、これにより表示部本体12が、当該映像信号に応じた変調像を生成する構成となっている。
The display unit main body 12 is configured such that an electrode substrate is opposed to each other with a constant gap between an element substrate having individual pixel electrodes for each of a plurality of pixels and a counter substrate having a common electrode common to the plurality of pixels. And the liquid crystal is sandwiched between the gaps.
One end of an FPC (Flexible Printed Circuits) substrate 20 is connected to the display unit main body 12. A bare chip driver IC 22 is mounted on the FPC board 20 by COF (Chip On Film) technology, and a plurality of terminals 26 are provided in a terminal portion 24 opposite to one end connected to the display unit main body 12. Yes. When the terminal unit 24 is connected to the connector of the adjusting unit described later and various control signals and video signals are supplied from the adjusting unit via the terminal 26, the driver IC 22 drives the display unit body 12, Thus, the display unit body 12 is configured to generate a modulated image corresponding to the video signal.

図2は、実施形態に係るコントラスト検査装置1の光学系を示す概略図である。
コントラスト検査装置1は、光源110と光学部材と受光部120とを有し、光学部材は、第1偏光子40、偏光ビームスプリッター50、位相差補償板60および第2偏光子70を含む構成となっている。
このうち、光源110は、例えばLED(Light Emitting Diode)であり、光を照射する。なお、光源110からは、図において光軸aに沿って上側に向かって光が出射するように構成されている。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an optical system of the contrast inspection apparatus 1 according to the embodiment.
The contrast inspection apparatus 1 includes a light source 110, an optical member, and a light receiving unit 120. The optical member includes a first polarizer 40, a polarization beam splitter 50, a phase difference compensation plate 60, and a second polarizer 70. It has become.
Among these, the light source 110 is LED (Light Emitting Diode), for example, and irradiates light. The light source 110 is configured to emit light upward along the optical axis a in the drawing.

一方、コントラスト検査装置1において、検査対象となる液晶パネル10は、図示省略された検査治具にセットされる。この検査治具は、液晶パネル10を、図1においてX軸202、Y軸204およびZ軸を中心に回転可能に保持する。ここで、X軸202は、表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域の長手に沿った方向の軸である。Y軸204は、表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域の短手に沿った方向の軸である。Z軸206は表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域に対して法線方向の軸である。
なお、検査治具において液晶パネル10をX軸202に対して回転させるのが図2に示されるアクチュエーター32である。同様にY軸204およびZ軸206に対して回転させるのが、それぞれアクチュエーター34および36である。また、小文字のxは、X軸202回りの回転角である。同様に、yおよびθは、それぞれY軸204およびZ軸206回りの回転角である。
On the other hand, in the contrast inspection apparatus 1, the liquid crystal panel 10 to be inspected is set on an inspection jig (not shown). The inspection jig holds the liquid crystal panel 10 so as to be rotatable about the X axis 202, the Y axis 204, and the Z axis in FIG. Here, the X-axis 202 is an axis that passes through the diagonal center of the display area and extends along the length of the display area. The Y axis 204 is an axis that passes through the diagonal center of the display area and extends along the short side of the display area. The Z axis 206 is an axis that passes through the diagonal center of the display area and is normal to the display area.
Note that the actuator 32 shown in FIG. 2 rotates the liquid crystal panel 10 with respect to the X axis 202 in the inspection jig. Similarly, the actuators 34 and 36 rotate with respect to the Y axis 204 and the Z axis 206, respectively. The lower case x is a rotation angle around the X axis 202. Similarly, y and θ are rotation angles around the Y axis 204 and the Z axis 206, respectively.

第1偏光子40は、光軸aに直交するように配置されるとともに、光軸aに対して透過軸が回転可能となっている。ここで、第1偏光子40の透過軸を回転させるのがアクチュエーター46である。
なお、第1偏光子40についてのθは、光軸a回りの回転角である。
The first polarizer 40 is disposed so as to be orthogonal to the optical axis a, and the transmission axis is rotatable with respect to the optical axis a. Here, the actuator 46 rotates the transmission axis of the first polarizer 40.
Note that θ for the first polarizer 40 is a rotation angle around the optical axis a.

偏光ビームスプリッター50は、例えば板状のワイヤーグリッド偏光子であり、ある一方向であるP方向成分の光を透過し、P方向に直交するS方向成分の光を反射する。偏光ビームスプリッター50は、図2に示されるように光軸aに対し反時計回りで45度傾いてセットされて、光軸aに沿って12時(上側)の方向から入射した光のうちS方向成分の光を、3時(右側)の方向の光軸bに沿って反射させる。
なお、偏光ビームスプリッター50の板面は、法線cに対して回転し、透過軸方向(反射軸方向)が調整可能となっている。偏光ビームスプリッター50を回転させるのがアクチュエーター56である。偏光ビームスプリッター50についてのθは、法線c回りの回転角である。
The polarization beam splitter 50 is, for example, a plate-shaped wire grid polarizer, and transmits light in the P direction component that is one direction, and reflects light in the S direction component orthogonal to the P direction. As shown in FIG. 2, the polarization beam splitter 50 is set to be inclined 45 degrees counterclockwise with respect to the optical axis a, and S of the light incident from the direction of 12:00 (upper side) along the optical axis a. The light of the direction component is reflected along the optical axis b in the direction of 3 o'clock (right side).
The plate surface of the polarizing beam splitter 50 rotates with respect to the normal line c, and the transmission axis direction (reflection axis direction) can be adjusted. The actuator 56 rotates the polarization beam splitter 50. Θ for the polarizing beam splitter 50 is a rotation angle around the normal line c.

位相差補償板60は、液晶パネル10の検査時に図示省略した保持部にセットされて、液晶パネル10の位相差を、光軸aを中心にした回転角度に応じて補償する。なお、この保持部には、液晶パネル10の検査前にあっては1/4波長板がセットされる。   The phase difference compensation plate 60 is set in a holding unit (not shown) when the liquid crystal panel 10 is inspected, and compensates for the phase difference of the liquid crystal panel 10 according to the rotation angle about the optical axis a. Note that a quarter-wave plate is set in the holding unit before the liquid crystal panel 10 is inspected.

図3は、保持部にセットされた位相差補償板60の各軸および回転を示す図である。
この図に示されるように、位相差補償板60は、X軸262、Y軸264およびZ軸266を中心に回転可能に保持される。ここで、X軸262およびY軸264は、位相差補償板60の板面を二次元で規定し、Z軸266は、光軸aに一致する。なお、この保持部に、1/4波長板がセットされたときについても、同様に当該1/4波長板は、X軸262、Y軸264およびZ軸266を中心に回転可能に保持される。
また、位相差補償板60(または1/4波長板)についてのxは、X軸262回りの回転角である。同様に、yおよびθは、それぞれY軸264およびZ軸266回りの回転角である。
FIG. 3 is a diagram illustrating each axis and rotation of the phase difference compensation plate 60 set in the holding unit.
As shown in this figure, the phase difference compensation plate 60 is held rotatably about the X axis 262, the Y axis 264, and the Z axis 266. Here, the X axis 262 and the Y axis 264 define the plate surface of the phase difference compensation plate 60 in two dimensions, and the Z axis 266 coincides with the optical axis a. In addition, even when the quarter wavelength plate is set in the holding unit, the quarter wavelength plate is similarly held rotatably around the X axis 262, the Y axis 264, and the Z axis 266. .
Further, x for the phase difference compensation plate 60 (or ¼ wavelength plate) is a rotation angle around the X axis 262. Similarly, y and θ are rotation angles around the Y axis 264 and the Z axis 266, respectively.

第2偏光子70は、光軸bに直交するように配置されるとともに、光軸bに対して透過軸が回転可能となっている。ここで、第2偏光子70の透過軸を回転させるのがアクチュエーター76である。
なお、第2偏光子70についてのθは、光軸b回りの回転角である。
The second polarizer 70 is disposed so as to be orthogonal to the optical axis b, and the transmission axis is rotatable with respect to the optical axis b. Here, the actuator 76 rotates the transmission axis of the second polarizer 70.
Note that θ for the second polarizer 70 is a rotation angle around the optical axis b.

受光部120はセンサー122を有する。当該センサー122は、第2偏光子70を光軸bに沿って透過した光を受光して、当該光の例えば照度(単位面積当たりの光束の量)を検出し、その照度情報を出力する。   The light receiving unit 120 includes a sensor 122. The sensor 122 receives light transmitted through the second polarizer 70 along the optical axis b, detects, for example, illuminance (amount of light flux per unit area) of the light, and outputs the illuminance information.

図4は、コントラスト検査装置1の電気的な構成を示す図である。
この図に示されるように、調整部80は、コネクター82を含む。このコネクター82には、検査対象となる液晶パネル10の端子部24が接続される。また、調整部80は、アクチュエーター32、34、36、46、56、62、64、66、76の回転を制御するほか、受光部120の照度情報を入力し、コネクター82に接続された液晶パネル10のコントラスト(比)を当該照度情報に基づいて出力する。当該コントラストが良品の範囲内であるのか否かを判別するのは、このコントラスト検査装置1ではなく、別の装置である。
FIG. 4 is a diagram showing an electrical configuration of the contrast inspection apparatus 1.
As shown in this figure, the adjustment unit 80 includes a connector 82. The connector 82 is connected to the terminal portion 24 of the liquid crystal panel 10 to be inspected. The adjustment unit 80 controls the rotation of the actuators 32, 34, 36, 46, 56, 62, 64, 66, 76, and inputs the illuminance information of the light receiving unit 120 and is connected to the connector 82. A contrast (ratio) of 10 is output based on the illuminance information. It is not the contrast inspection apparatus 1 but another apparatus that determines whether or not the contrast is within a non-defective range.

次に、コントラスト検査装置1の動作について図5を参照して説明する。まず、液晶パネル10の検査に先立って、各部の位置調整が実行される。詳細には、ステップSa1において、検査治具の保持部に、液晶パネル10の代わりにミラー(鏡)をケーシングしたダミーのパネルがセットされるとともに、位相差補償板60の代わりに1/4波長板がセットされる。なお、このセットは、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。   Next, the operation of the contrast inspection apparatus 1 will be described with reference to FIG. First, prior to the inspection of the liquid crystal panel 10, the position adjustment of each part is executed. Specifically, in step Sa1, a dummy panel in which a mirror (mirror) is casing is set instead of the liquid crystal panel 10 in the holding portion of the inspection jig, and a quarter wavelength is used instead of the phase difference compensation plate 60. The board is set. The set may be performed manually by the inspector, but a configuration in which the inspection apparatus automatically performs the setting is desirable.

ステップSa2において、調整部80は、アクチュエーター32、34、46、56、66、76の回転を制御して、各部の位置を調整する。例えば、調整部80は、いずれかのアクチュエーターを1つ選択するとともに、選択したアクチュエーターだけを回転させて、受光部120の照度情報が最大値または最小値となる地点を探索する。最大値または最小値を迎えたら、調整部80は、選択したアクチュエーターを最大値または最小値となった地点にセットするとともに、今度は別のアクチュエーターを1つ選択して、同様に選択したアクチュエーターだけを回転させて、照度情報が最大値または最小値となる地点を探索する。このようにアクチュエーターのすべてを選択して、それぞれにおいて照度情報が最大値を示す地点にセットされると、そのセット位置は、光源110から出力された光を受光部120が最も効率良く受光する位置関係、すなわち図2に示した配置となっている。   In step Sa2, the adjustment unit 80 controls the rotation of the actuators 32, 34, 46, 56, 66, and 76 to adjust the position of each unit. For example, the adjustment unit 80 selects one of the actuators and rotates only the selected actuator to search for a point where the illuminance information of the light receiving unit 120 is the maximum value or the minimum value. When the maximum value or minimum value is reached, the adjustment unit 80 sets the selected actuator to the point where the maximum value or minimum value is reached, and this time, selects another actuator, and similarly selects only the selected actuator. To search for a point at which the illuminance information has the maximum value or the minimum value. Thus, when all of the actuators are selected and the illuminance information is set to the maximum value in each of the actuators, the set position is a position where the light receiving unit 120 receives the light output from the light source 110 most efficiently. The relationship, that is, the arrangement shown in FIG.

光源110から照射された光のうち、第1偏光子40および偏光ビームスプリッター50を透過したP方向の直線偏光は、1/4波長板によって一方向(例えば時計回り)の円偏光に変換されて、ミラーで反射する。この反射のときに逆方向(反時計回り)の円偏光になるので、1/4波長板を再度通過するときには、S方向の直線偏光に変換される。このため、光源110から出力された光を受光部120が最も効率良く受光する位置関係となっているとき、偏光ビームスプリッター50の透過軸であるP方向は第1偏光子40の透過軸に一致し、また、第2偏光子70の透過軸は、偏光ビームスプリッター50の反射軸であるS方向に一致している。
なお、この状態は、受光部120による照度情報が最も明るい状態である。ダミーパネルのミラーは液晶パネル10とは異なり、変調機能を有しない。このため、調整部80は、例えば第1偏光子40または第2偏光子70のいずれかを、現時点の状態からZ軸回りに回転させて、偏光子同士による黒状態を作り出す。これにより、受光部120は最も暗い照度情報を出力するので、調整部80は、明るさの最高値と最低値との比、すなわち、ミラーのコントラストを出力する。このコントラストは、液晶パネル10で測定するコントラストの基準になる。
Of the light emitted from the light source 110, the linearly polarized light in the P direction transmitted through the first polarizer 40 and the polarizing beam splitter 50 is converted into circularly polarized light in one direction (for example, clockwise) by the quarter wavelength plate. , Reflect on the mirror. Since this becomes circularly polarized light in the reverse direction (counterclockwise) at the time of this reflection, it is converted to linearly polarized light in the S direction when passing through the quarter wavelength plate again. For this reason, when the light receiving unit 120 has the positional relationship in which the light output from the light source 110 is most efficiently received, the P direction, which is the transmission axis of the polarizing beam splitter 50, is aligned with the transmission axis of the first polarizer 40. In addition, the transmission axis of the second polarizer 70 coincides with the S direction, which is the reflection axis of the polarization beam splitter 50.
This state is a state in which the illuminance information by the light receiving unit 120 is brightest. Unlike the liquid crystal panel 10, the mirror of the dummy panel does not have a modulation function. For this reason, the adjusting unit 80 rotates, for example, one of the first polarizer 40 and the second polarizer 70 around the Z axis from the current state to create a black state by the polarizers. Thereby, since the light receiving unit 120 outputs the darkest illuminance information, the adjusting unit 80 outputs the ratio between the highest value and the lowest value of brightness, that is, the contrast of the mirror. This contrast serves as a reference for the contrast measured by the liquid crystal panel 10.

光源110からの光を最も効率良く受光する位置関係となったとき、ステップSa3において、調整部80は、アクチュエーター46、56、76に対して以降の回転を禁止する。これによって、第1偏光子(PL)40、偏光ビームスプリッター(PBF)50および第2偏光子(PL)60は、以降、位置が調整されることなく、それぞれ固定されることになる。
次に、ステップSa4において、1/4波長板に代えて、位相差補償板60がセットされる。続いて、ステップSa5において、ダミーパネルに代えて、検査対象となる液晶パネル10が検査治具の保持部にセットされる。なお、ステップSa4およびSa5におけるセットについても、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。
When the positional relationship is such that the light from the light source 110 is received most efficiently, in step Sa3, the adjustment unit 80 prohibits the actuators 46, 56, and 76 from rotating thereafter. As a result, the first polarizer (PL) 40, the polarization beam splitter (PBF) 50, and the second polarizer (PL) 60 are each fixed without adjusting their positions.
Next, in step Sa4, the phase difference compensation plate 60 is set instead of the quarter wavelength plate. Subsequently, in step Sa5, the liquid crystal panel 10 to be inspected is set in the holding portion of the inspection jig instead of the dummy panel. The set in steps Sa4 and Sa5 may be performed manually by the inspector, but a configuration in which the inspection apparatus automatically performs is desirable.

ステップSa6において、調整部80は、第1に、コネクター82に端子部24が接続された液晶パネル10に対し、例えば画素のすべてを白画素にする白画像を表示させる映像信号および制御信号を供給する。
調整部80は、第2に、アクチュエーター32、34、36の回転を制御して、すなわち、液晶パネル10をx回転、y回転、θ回転させて、光源110から出力された光を受光部120が出力する照度情報が最も高くなる地点に調整する。これによって、液晶パネル10は、光軸aに対して表示領域が対角中心に垂直となる位置に調整される。
調整部80は、第3に、液晶パネル10に対し、白画像と黒画像とを交互に表示させる映像信号および制御信号を供給する。
調整部80は、第4に、受光部120(センサー122)から、白画像が表示されているときの照度情報と黒画像が表示されているときの照度情報とから、表示された黒画像に対する白画像の明るさの比を求める。
調整部80は、第5に、アクチュエーター66を操作して、位相差補償板60を所定方向(例えば光源110からみて時計回りに)微小角度(例えば0.2度)だけ回転させる。
以降、調整部80は、第3から第5までの動作を上記比が最大値を迎えるまで繰り返す。この動作が繰り返し実行されると、位相差補償板60が微小角度ずつ回転しながら、液晶パネル10において黒画像に対する白画像の明るさの比が求められる。そして、上記比が最大値を迎えたとき、位相差補償板60が液晶パネル10の位相差を最適に補償する地点に調整されたとみなすことができる。このため、調整部80は、当該比の最大値を当該液晶パネル10のコントラスト(比)として出力する。
なお、液晶パネル10の位相差は個体毎に異なるが、ある範囲におおよそ限られているので、位相差補償板60を360度全周にわかって回転させる必要はない。このため、検査に要する時間は短くて済む。
In step Sa6, the adjustment unit 80 first supplies a video signal and a control signal for displaying a white image in which all of the pixels are white pixels, for example, to the liquid crystal panel 10 in which the terminal unit 24 is connected to the connector 82. To do.
Secondly, the adjustment unit 80 controls the rotation of the actuators 32, 34, and 36, that is, rotates the liquid crystal panel 10 by x rotation, y rotation, and θ rotation, and receives the light output from the light source 110 as the light receiving unit 120. Adjust to the point where the illuminance information output by is the highest. Thus, the liquid crystal panel 10 is adjusted to a position where the display area is perpendicular to the diagonal center with respect to the optical axis a.
Third, the adjustment unit 80 supplies the liquid crystal panel 10 with a video signal and a control signal for alternately displaying a white image and a black image.
Fourthly, the adjusting unit 80 applies the illuminance information when the white image is displayed and the illuminance information when the black image is displayed from the light receiving unit 120 (sensor 122) to the displayed black image. Find the brightness ratio of the white image.
Fifth, the adjustment unit 80 operates the actuator 66 to rotate the phase difference compensation plate 60 by a minute angle (for example, 0.2 degrees) (for example, clockwise as viewed from the light source 110).
Thereafter, the adjusting unit 80 repeats the third to fifth operations until the ratio reaches the maximum value. When this operation is repeatedly executed, the ratio of the brightness of the white image to the black image is obtained in the liquid crystal panel 10 while the phase difference compensation plate 60 rotates by a minute angle. When the ratio reaches the maximum value, it can be considered that the phase difference compensation plate 60 is adjusted to a point where the phase difference of the liquid crystal panel 10 is optimally compensated. For this reason, the adjustment unit 80 outputs the maximum value of the ratio as the contrast (ratio) of the liquid crystal panel 10.
Although the phase difference of the liquid crystal panel 10 varies from one individual to another, it is almost limited to a certain range. Therefore, it is not necessary to rotate the phase difference compensator 60 by knowing 360 degrees all around. For this reason, the time required for the inspection is short.

次に、ステップSa7において、検査治具の保持部にセットされた液晶パネル10が取り外される。なお、この取り外しは、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。
そして、処理手順がステップSa5に戻り、別の液晶パネル10がセットされる。以後、液晶パネル毎にステップSa5〜Sa7が繰り返し実行されて、その都度、コントラストが求められることになる。
Next, in step Sa7, the liquid crystal panel 10 set on the holding part of the inspection jig is removed. The removal may be performed manually by the inspector, but a configuration in which the inspection apparatus automatically performs the removal is desirable.
Then, the processing procedure returns to step Sa5, and another liquid crystal panel 10 is set. Thereafter, steps Sa5 to Sa7 are repeatedly executed for each liquid crystal panel, and the contrast is obtained each time.

本実施形態においては、液晶パネル10の検査に先立って、鏡を有するダミーパネルが検査治具の保持部にセットされて、各軸の角度、すなわち液晶パネル10の回転角x、yと、第1偏光子40の回転角θと、偏光ビームスプリッター50の回転角θと、位相差補償板60の代わりに1/4波長板の回転角θと、第2偏光子70の回転角θとの計6つの回転角が予め最適位置に調整される。そして、液晶パネル10を検査する際には、液晶パネル10のZ軸(θ)と、第1偏光子40、偏光ビームスプリッター50、第2偏光子70の各回転軸(θ)と、位相差補償板60のX軸、Y軸との計6つ回転軸が固定される。このため、液晶パネル10の検査時においては、図6において実線で示されるように、液晶パネル10の検査において実際に調整されるのは、液晶パネル10のX軸、Y軸および位相差補償板60のZ軸(θ)の3つの回転軸のみであり、他については、すでに最適位置に調整されている。尚、位相差補償板60のX軸、Y軸は、本実施形態においては、調整が不要のため、最適位置にあるものとしている。
ここで、1角(1軸)の調整に例えば20秒を要する場合(尚、第1偏光子40の回転角θと、偏光ビームスプリッター50の回転角θ、さらには第2偏光子70の回転角θの調整は20秒より長く要する。すなわち、これらの調整は、回転角θを数周にわたって調整をしなければ最適位置が定まらないため、この3軸の調整には300秒以上かかってしまう)、コントラストを検査するためには、液晶パネル10毎に6つの角度を調整する必要がある。これは、1つの軸でもずれていると、例えば図8に示されるように、液晶パネル10のY軸回りの角度がずれていると、受光部120に至るまでに損失光が発生して、正しくコントラストを検査することができないためである。
これに対し、本実施形態では、最初に鏡をセットしたとき、6軸のすべてを位置調整するために360秒(20秒×3+300秒)の時間を要することになるが、以降については、液晶パネル10のX軸、Y軸および位相差補償板60のZ軸(θ)の3軸のみの調整であるから、検査精度を保ったまま、液晶パネル10の1枚につき60秒(20秒×3)で済む。
したがって、本実施形態によれば、検査効率の大幅に向上させることが可能となる。
In this embodiment, prior to the inspection of the liquid crystal panel 10, a dummy panel having a mirror is set on the holding portion of the inspection jig, and the angles of the respective axes, that is, the rotation angles x and y of the liquid crystal panel 10, The rotation angle θ of the one polarizer 40, the rotation angle θ of the polarization beam splitter 50, the rotation angle θ of the quarter wave plate instead of the phase difference compensation plate 60, and the rotation angle θ of the second polarizer 70 A total of six rotation angles are adjusted in advance to optimum positions. When inspecting the liquid crystal panel 10, the Z axis (θ) of the liquid crystal panel 10, the rotation axes (θ) of the first polarizer 40, the polarization beam splitter 50, and the second polarizer 70, and the phase difference A total of six rotation axes including the X axis and the Y axis of the compensation plate 60 are fixed. Therefore, when the liquid crystal panel 10 is inspected, as shown by the solid line in FIG. 6, what is actually adjusted in the inspection of the liquid crystal panel 10 is the X axis, the Y axis, and the phase difference compensation plate There are only three rotation axes of the Z axis (θ) of 60, and the others are already adjusted to the optimum positions. Note that the X-axis and Y-axis of the phase difference compensation plate 60 are at the optimal positions because adjustment is not necessary in this embodiment.
Here, for example, when adjustment of one angle (one axis) requires 20 seconds (note that the rotation angle θ of the first polarizer 40, the rotation angle θ of the polarization beam splitter 50, and further the rotation of the second polarizer 70). Adjustment of the angle θ takes longer than 20 seconds, that is, the adjustment of these three axes takes 300 seconds or more because the optimum position cannot be determined unless the rotation angle θ is adjusted over several turns. In order to inspect the contrast, it is necessary to adjust six angles for each liquid crystal panel 10. For example, as shown in FIG. 8, if the angle around the Y axis of the liquid crystal panel 10 is deviated, a loss of light is generated before reaching the light receiving unit 120. This is because the contrast cannot be correctly inspected.
On the other hand, in this embodiment, when the mirror is first set, it takes 360 seconds (20 seconds × 3 + 300 seconds) to adjust the position of all six axes. Since only the three axes of the X axis and Y axis of the panel 10 and the Z axis (θ) of the phase difference compensation plate 60 are adjusted, 60 seconds (20 seconds × 20 seconds) per sheet of the liquid crystal panel 10 while maintaining the inspection accuracy. 3) is enough.
Therefore, according to the present embodiment, inspection efficiency can be greatly improved.

また、本実施形態において液晶パネル10をセットしたときに、回転角θについては、特に意識して角度を調整しなくても良い。これは、液晶パネル10の位相差方向が個体毎に異なっていても、液晶パネル10の検査時において位相差補償板60をZ軸で回転させる回転角θの調整によって補正されるからである。   In addition, when the liquid crystal panel 10 is set in the present embodiment, the rotation angle θ may not be adjusted with particular attention. This is because even if the phase difference direction of the liquid crystal panel 10 is different for each individual, it is corrected by adjusting the rotation angle θ that rotates the phase difference compensation plate 60 about the Z axis when the liquid crystal panel 10 is inspected.

本発明は、上述した実施形態に限られず、次のように種々の応用・変形が可能である。
上述した位相差補償板60は、光軸aに一致するZ軸回りの回転角θに応じて位相差補償量が変化するタイプであったが、これ以外のタイプの位相差補償板60にも適用も可能である。例えば図7に示されるように、X、Y平面における光学軸268の回転角ψに応じて位相差補償量が変化する位相差補償板61にも適用可能である。
なお、光学軸268は、X軸262およびY軸264のなす角の2等分線、すなわち位相差補償板61の板面においてY軸(X軸)から45度だけ傾けた軸である。このため、位相差補償板61の軸(進相軸、遅相軸、光学軸)が保持部の回転軸に一致するように保持されれば良い。このとき調整部80はアクチュエーター66からアクチュエーター64(62)に信号を送るように自動的に切り替わることが好ましい。
なお、位相差補償板61を用いる場合でも、液晶パネル10の検査前に1/4波長板に代える必要があるので、位相差補償板61または1/4波長板の保持部の回転軸は計4軸となる。また、液晶パネル10のコントラストを検査するときには、回転角ψによって位相差補償量を調整することになる。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various applications and modifications are possible as follows.
The phase difference compensation plate 60 described above is a type in which the amount of phase difference compensation changes in accordance with the rotation angle θ about the Z axis that coincides with the optical axis a, but the phase difference compensation plate 60 of other types is also used. Application is also possible. For example, as shown in FIG. 7, the present invention can also be applied to a phase difference compensation plate 61 in which the phase difference compensation amount changes according to the rotation angle ψ of the optical axis 268 in the X and Y planes.
The optical axis 268 is a bisector of an angle formed by the X axis 262 and the Y axis 264, that is, an axis inclined by 45 degrees from the Y axis (X axis) on the plate surface of the phase difference compensation plate 61. Therefore, it is only necessary to hold the phase difference compensation plate 61 so that the axes (the fast axis, the slow axis, and the optical axis) coincide with the rotation axis of the holding unit. At this time, the adjustment unit 80 is preferably automatically switched so as to send a signal from the actuator 66 to the actuator 64 (62).
Even when the phase difference compensator 61 is used, it is necessary to replace the quarter wavelength plate before the inspection of the liquid crystal panel 10, so the rotational axis of the holder of the phase difference compensator 61 or the quarter wavelength plate is There are 4 axes. Further, when the contrast of the liquid crystal panel 10 is inspected, the phase difference compensation amount is adjusted by the rotation angle ψ.

また、本発明において、検査対象としては、反射型の液晶パネルであれば良く、例えば高温シリコンプロセスや低温シリコンプロセスを用いた液晶パネルでも良いし、素子基板にシリコン基板を用いたいわゆるLCOS(Liquid Crystal on Silicon)型の液晶パネルでも良い。   In the present invention, the inspection object may be a reflective liquid crystal panel, for example, a liquid crystal panel using a high temperature silicon process or a low temperature silicon process, or a so-called LCOS (Liquid) using a silicon substrate as an element substrate. Crystal on Silicon) type liquid crystal panel may be used.

1…検査装置、10…液晶パネル、40…第1偏光子、50…偏光ビームスプリッター、60…位相差補償板、70…第2偏光子、80…調整部、110…光源、120…受光部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Inspection apparatus, 10 ... Liquid crystal panel, 40 ... 1st polarizer, 50 ... Polarization beam splitter, 60 ... Phase difference compensation plate, 70 ... 2nd polarizer, 80 ... Adjustment part, 110 ... Light source, 120 ... Light receiving part .

Claims (4)

検査対象に光を照射する光源と、
前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、
前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、
前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、
前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、
前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、
前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、
前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査方法であって、
前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、
前記検査対象のパネルを検査する際には、
当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、
前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整する
ことを特徴とするコントラストの検査方法。
A light source that irradiates the inspection object with light;
A light receiving unit for receiving reflected light from the inspection object;
An optical member disposed on an optical axis from the light source to the inspection object, and from the inspection object to the light receiving unit;
A holding part that holds the optical member and each position of the inspection object in an adjustable manner with respect to the optical axis,
The optical member includes a first polarizer, a polarizing beam splitter, a phase difference compensation plate, and a second polarizing plate,
Irradiating the inspection object with light from the light source via the first polarizer, the polarization beam splitter, and the phase difference compensation plate;
The reflected light from the inspection object is received by the light receiving unit via the phase difference compensation plate, the polarization beam splitter, and the second polarizer,
An inspection method for inspecting the contrast of the inspection object based on reflected light received by the light receiving unit,
Before inspecting the panel to be inspected, hold a mirror instead of the panel, hold a quarter wave plate instead of the phase difference compensation plate, and adjust each position of the optical member,
When inspecting the panel to be inspected,
Instead of the mirror, hold the panel, hold the retardation compensation plate instead of the quarter-wave plate,
A contrast inspection method, wherein the position of the panel is adjusted, and the amount of phase difference compensation is adjusted according to the position of the phase difference compensation plate.
前記保持部による前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板、前記検査対象および前記第2偏光板の各位置を調整する調整部を有し、
前記検査対象のパネルを検査する際に前記調整部は、前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッターおよび前記第2偏光板の各位置の調整を禁止する
ことを特徴とする請求項1に記載のコントラストの検査方法。
An adjustment unit for adjusting each position of the first polarizing plate, the polarizing beam splitter, the phase difference compensation plate, the inspection object, and the second polarizing plate by the holding unit;
The said adjustment part prohibits adjustment of each position of a said 1st polarizing plate, the said polarizing beam splitter, and the said 2nd polarizing plate when test | inspecting the said panel to be examined. Contrast inspection method.
前記調整部は、前記受光部によって受光された光の明るさが最大となる地点に調整する
ことを特徴とする請求項2に記載のコントラストの検査方法。
The contrast adjustment method according to claim 2, wherein the adjustment unit adjusts to a point where the brightness of the light received by the light receiving unit is maximized.
検査対象に光を照射する光源と、
前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、
前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、
前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、
前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、
前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、
前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、
前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査装置であって、
前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、
前記検査対象のパネルを検査する際には、
当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、
前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整する
ことを特徴とするコントラストの検査装置。
A light source that irradiates the inspection object with light;
A light receiving unit for receiving reflected light from the inspection object;
An optical member disposed on an optical axis from the light source to the inspection object, and from the inspection object to the light receiving unit;
A holding part that holds the optical member and each position of the inspection object in an adjustable manner with respect to the optical axis,
The optical member includes a first polarizer, a polarizing beam splitter, a phase difference compensation plate, and a second polarizing plate,
Irradiating the inspection object with light from the light source via the first polarizer, the polarization beam splitter, and the phase difference compensation plate;
The reflected light from the inspection object is received by the light receiving unit via the phase difference compensation plate, the polarization beam splitter, and the second polarizer,
An inspection apparatus for inspecting the contrast of the inspection object based on reflected light received by the light receiving unit,
Before inspecting the panel to be inspected, hold a mirror instead of the panel, hold a quarter wave plate instead of the phase difference compensation plate, and adjust each position of the optical member,
When inspecting the panel to be inspected,
Instead of the mirror, hold the panel, hold the retardation compensation plate instead of the quarter-wave plate,
The contrast inspection apparatus, wherein the position of the panel is adjusted and the amount of phase difference compensation is adjusted according to the position of the phase difference compensation plate.
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CN112378627A (en) * 2020-11-27 2021-02-19 深圳市晶联星科技有限公司 3D glasses testing arrangement

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019090647A (en) * 2017-11-13 2019-06-13 株式会社サキコーポレーション Method for determining position of liquid crystal display element in projection unit of inspection device
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