JP2012004368A - 固体撮像素子およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画素領域103と、前記画素領域の駆動制御及び撮像信号に対する信号処理を行う周辺回路領域102とを設け、さらに前記半導体基板上に複数層の配線と層間膜よりなる多層配線層121を設けると共に、前記多層配線層間の少なくとも画素領域に対応する領域に光導波路107と、前記多層配線層上の少なくとも画素領域に対応する領域に前記光電変換素子への入射光を制御する導波路材と、カラーフィルタ材114、レンズ材115、平坦化材116のうち少なくとも1つ以上からなる光学構造部材を設けた固体撮像素子ならびに、周辺回路上の一部に導波路材と、カラーフィルタ材、レンズ材、平坦化材のうち少なくとも1つ以上からなる光学構造部材を設けた固体撮像素子において、前記撮像素子領域部上の導波路材が欠落した溝を設ける。
【選択図】図2
Description
下記特許文献1では、上述したような画素領域と周辺回路領域との間における段差を低減するために、画素領域の多層配線層上の絶縁膜に溝(凹部)を設け、カラーフィルタ材を塗布形成させたときに、従来の傾斜を低減する構成が掲載されている。
前記画素領域上であって周辺回路領域に近接した領域に、導波路材を欠落して形成された溝が存在することを特徴とする。
本発明の固体撮像素子の製造方法では、前記多層配線層上の少なくとも画素領域に対応する領域に導波路材を形成すると同時或いはその後、導波路材の上にカラーフィルタ材、レンズ材を形成する前に、前記画素領域上であって周辺回路領域に近接した領域に、導波路材を欠落させて溝を形成することにより、カラーフィルタ膜とオンチップマイクロレンズ膜が平坦に成膜される。
(実施の形態1)
図1は、固体撮像素子製造過程の一工程として光導波路を形成する前の工程での画素領域、周辺回路領域の構成を示す断面図である。例えば、シリコンからなる基板105に光電子変換素子とゲート素子を含む複数の単位画素を2次元アレイ状に配列した撮像素子を有する画素領域101があり、さらに画素領域には実際の映像信号を出力する有効画素領域103と、実際の映像信号を出力しない無効画素領域104とが存在する。撮像素子の周辺には前記画素領域部の駆動制御及び撮像信号に対する信号処理を行う周辺回路領域102がある。
(実施の形態1の製造方法)
次に図2に示した固体撮像素子の製造方法を、図3から図12を用いて説明する。なお、固体撮像素子という用語は、全ての工程を経て製造された完成品を指し、製造途上の未完成品は固体撮像素子とは呼べないので、本明細書において、製造途中にあるものは、素子半製品という用語を用いることとする。
次に図5に示すように、画素領域101の無効画素領域104の一部の導波路材116を除去し、溝117を形成する。
前記ポジ型感光性樹脂は少なくとも炭素または珪素を含む高分子樹脂の媒質を有し、前記高分子樹脂の屈折率は1.5以上であることとする。このとき、クラッド部の材質がSiO2とした場合にコア部とクラッド部の界面で入射光が全反射する際の臨界角が小さくなってしまい、斜めから入射する光の反射効率が低下する。それゆえ、屈折率が1.6より高いポリシロキサン樹脂やポリイミド樹脂が望ましい。
例えば、前記導波路材116は酸化チタン粒子を含み、またポジ型感光性樹脂としてポリイミド樹脂を有する場合は屈折率が1.7以上で透過率が90%以上、粘度1cp〜50cpの非常に高屈折率で高透明な導波路材であり、斜めから入社する光の反射効率が低下せず、光の量子収率が良い。
例えば、固体撮像素子の平面図が図6に示すような形状であったとすると、これに溝117を形成する場合には、図7のように4辺を122、123、124、125のそれぞれ任意の溝幅にすることが可能である。これは、無効画素領域104の幅が4辺で異なる場合に、感度ムラや色ムラを低減するのに効果がある。
さらに、図8に示すように4辺の交差する角部については、126、127、128、129のように斜状、円弧状、直角、階段状など形状を形成することができ、溝の幅も任意で良い。
図9は溝117を形成しない参考例を示しており、その例に対してカラー膜114を塗布した断面図を示す。カラー膜114は導波路材116上に形成されるが、画素領域101の導波路材116と周辺回路領域102の多層配線層112の段差により、画素領域101内でカラー膜厚差を生じる。この点はすでに説明済みである。
なお、本発明は上述した実施例の構成に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、改変実施が可能なことは言うまでもない。
例えば、図2、図10に示した実施例では、溝117は、多層配線層121上に形成しているが、これに限定されるものではなく、図14に示すように、最外側の導波路用凹部107aを跨ぐ、広い溝117を形成することもできる。このようにすると、最外側の導波路用凹部107aも溝の一部となり、大量の余剰のカラー膜材料を吸収することが出来る。
また、導波路部材106として実施例では、ポジ型感光性樹脂を用いたが、ネガ型感光性樹脂を用いても実施できることはもちろんである。
102 周辺回路領域
103 有効画素領域
104 無効画素領域
105 シリコン基板
106 フォトダイオード
107 導波路
107a 導波路用凹部
108 配線
109 配線
110 配線
111 配線
112 多層配線層
113 層間膜
114 カラーフィルタ(カラー膜)
115 オンチップレンズ(レンズ膜)
116 導波路材
117 溝
118 カラーフィルタ
119 カラーフィルタ
120 カラーフィルタ
121 多層配線層
122 溝(溝幅)
123 溝(溝幅)
124 溝(溝幅)
125 溝(溝幅)
126 溝(溝幅)
127 溝(溝幅)
128 溝(溝幅)
129 溝(溝幅)
150 段差
150a 壁面
Claims (15)
- 半導体基板に光電子変換素子とゲート素子を含む複数の単位画素を2次元アレイ状に配列した画素領域と、前記画素領域の駆動制御及び撮像信号に対する信号処理を行う周辺回路領域とを設け、さらに前記半導体基板上に複数層の配線と層間膜よりなる多層配線層を設けると共に、前記多層配線層間の少なくとも画素領域に対応する領域に光導波路と、前記多層配線層上の少なくとも画素領域に対応する領域に前記光電変換素子への入射光を制御する導波路材と、カラーフィルタ材、オンチップレンズ材からなる光学構造部材を設けた固体撮像素子において、
前記画素領域上であって周辺回路領域に近接した領域に、導波路材を欠落して形成された溝が存在することを特徴とする固体撮像素子。 - 前記導波路材は、前記層間膜よりも高屈折率の材料を用いていることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記導波路材は、光により反応する感光基を有し、現像液で感光部または非感光部を溶解させることができる材料からなることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記導波路材は、エッチングまたはアッシングにより加工することができる材料であることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記撮像素子領域の多層配線層は、前記周辺回路領域の多層配線層よりも低く形成されることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記溝は、幅5nm〜100μm、深さ5nm〜10μmに形成されている請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記溝を含む前記導波路膜上には、塗布系材料からなる膜が形成されている請求項1記載の固体撮像素子。
- 前記導波路にはカラーフィルタ材、レンズ材、平坦化材の少なくとも1つで埋まることを特徴とする請求項1の固体撮像素子。
- 半導体基板に光電子変換素子とゲート素子を含む複数の単位画素を2次元アレイ状に配列した画素領域と、前記画素領域の駆動制御及び撮像信号に対する信号処理を行う周辺回路領域とを設け、さらに前記半導体基板上に複数層の配線層と層間膜よりなる多層配線層を形成する工程と、前記多層配線層間の少なくとも画素領域に対応する領域に光導波路と、前記多層配線層上の少なくとも画素領域に対応する領域に前記光電変換素子への入射光を制御する導波路材、平坦化材、カラーフィルタ材、レンズ材からなる光学構造部材を設けた固体撮像素子を形成する工程または、周辺回路上の一部に導波路材、平坦化材、カラーフィルタ材、レンズ材からなる光学構造部材を設ける工程を有する固体撮像素子の製造方法であって、
前記多層配線層上の少なくとも画素領域に対応する領域に導波路材を形成すると同時或いはその後、導波路材の上にカラーフィルタ材、レンズ材を形成する前に、
前記画素領域上であって周辺回路領域に近接した領域に、導波路材を欠落させて溝を形成する工程を
含むことを特徴とする固体撮像素子の製造方法。 - 前記導波路材は、前記層間膜よりも高屈折率の材料を用いていることを特徴とする請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
- 前記導波路材は、光により反応する感光基を有し、現像液で感光部または非感光部を溶解させることができる材料を特徴とする請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
- 前記導波路材は、エッチングまたはアッシングにより加工することができる材料であることを特徴とする請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
- 前記撮像素子領域の多層配線層は、前記周辺回路領域の多層配線層よりも低く形成される請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
- 前記溝部は、幅5nm〜100μm、深さ5nm〜10μmに形成されている請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
- 前記溝部を含む前記導波路膜上には、塗布系材料からなる膜が形成されている請求項8記載の固体撮像素子の製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010138353A JP5574419B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | 固体撮像素子およびその製造方法 |
| US13/162,092 US8410532B2 (en) | 2010-06-17 | 2011-06-16 | Solid-state imaging device including a multilayer wiring layer, color filters, lenses, and waveguide groove and manufacturing method for the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010138353A JP5574419B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | 固体撮像素子およびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012004368A true JP2012004368A (ja) | 2012-01-05 |
| JP5574419B2 JP5574419B2 (ja) | 2014-08-20 |
Family
ID=45327916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010138353A Expired - Fee Related JP5574419B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | 固体撮像素子およびその製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8410532B2 (ja) |
| JP (1) | JP5574419B2 (ja) |
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| JP4735643B2 (ja) | 2007-12-28 | 2011-07-27 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、カメラ及び電子機器 |
| JP5369441B2 (ja) | 2008-01-24 | 2013-12-18 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子 |
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-
2010
- 2010-06-17 JP JP2010138353A patent/JP5574419B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2011
- 2011-06-16 US US13/162,092 patent/US8410532B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5574419B2 (ja) | 2014-08-20 |
| US20110309460A1 (en) | 2011-12-22 |
| US8410532B2 (en) | 2013-04-02 |
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