JP2012068143A - X線検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 120
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 21
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】
本実施の形態に係るX線検査装置100においては、被検査物900を透過した透過X線210がラインセンサ220により検出される。検出された透過X線210から透過画像が作成されて被検査物900の検査が行われる。本発明のラインセンサ220は、シンチレータおよびフォトダイオードからなる間接型ラインセンサのシンチレータがないセンサである。
【選択図】図4
Description
一の局面に従うX線検査装置は、X線源から物品に対してX線を照射して、該物品を透過した透過X線をラインセンサにて検出し、検出した当該透過X線から透過画像を作成して当該物品の検査を行うX線検査装置であって、X線源から照射するX線源の管電圧が15キロボルトから50キロボルトの範囲内であり、かつラインセンサは、シンチレータおよびフォトダイオードからなる間接型ラインセンサのシンチレータを除去したセンサである。
第2の発明は、X線検査装置において、X線源の管電圧は、40キロボルト以下である。
第3の発明は、X線検査装置において、X線源の管電圧は、20キロボルト以下である。
第4の発明は、X線検査装置において、X線源の管電圧は、30キロボルト以下であり、かつ物品の材質は、紙または樹脂であり、厚み12mm以下である。
X線検査装置において、X線源から物品に対してX線を照射して、該物品を透過した透過X線をラインセンサにて検出し、当該物品の検査を行うX線検査装置であって、前記X線源から照射するX線源のX線源の管電圧が25キロボルト以下であり、かつ、前記ラインセンサは、シンチレータおよびフォトダイオードからなる間接型ラインセンサのシンチレータを除去したセンサであることを特徴とするものである。
X線検査装置において、X線源から物品に対してX線を照射して、該物品を透過した透過X線をラインセンサにて検出し、当該物品の検査を行うX線検査装置であって、前記X線源から照射するX線源のX線源の管電圧が20キロボルト以下であり、かつ、前記ラインセンサは、シンチレータおよびフォトダイオードからなる間接型ラインセンサのシンチレータを除去したセンサであることを特徴とするものである。
本実施形態に係るX線検査装置100によれば、間接型のラインセンサのシンチレータを除去しているため、X線210が直接電荷に変換されるので、当該ラインセンサ220に入力された微小なX線の変化を抽出し、出力として変換することができる。
上記実施形態においては、X線検査装置100がX線検査装置に相当し、X線照射装置200がX線源に相当し、X線210が透過X線に相当し、被検査物900が物品に相当し、ラインセンサ220がラインセンサに相当する。
なお、上記実施形態では、フォトダイオードをCdTe(カドミウムテルリド)で構成したが、これに限定されるものではなく、例えばSi(珪素)等の他の材料を用いてもよい。
200 X線照射装置
210 X線
220 ラインセンサ
900 被検査物
Claims (4)
- X線源から物品に対してX線を照射して、該物品を透過した透過X線をラインセンサにて検出し、検出した当該透過X線から透過画像を作成して当該物品の検査を行うX線検査装置であって、
前記X線源から照射するX線源の管電圧が15キロボルトから50キロボルトの範囲内であり、かつ前記ラインセンサは、シンチレータおよびフォトダイオードからなる間接型ラインセンサのシンチレータを除去したセンサであることを特徴とするX線検査装置。 - 前記X線源の管電圧は、40キロボルト以下であることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線源の管電圧は、20キロボルト以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査装置。
- 前記X線源の管電圧は、30キロボルト以下であり、かつ前記物品の材質は、紙または樹脂であり、厚み12mm以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010213745A JP2012068143A (ja) | 2010-09-24 | 2010-09-24 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010213745A JP2012068143A (ja) | 2010-09-24 | 2010-09-24 | X線検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012068143A true JP2012068143A (ja) | 2012-04-05 |
Family
ID=46165590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010213745A Pending JP2012068143A (ja) | 2010-09-24 | 2010-09-24 | X線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2012068143A (ja) |
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- 2010-09-24 JP JP2010213745A patent/JP2012068143A/ja active Pending
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Legal Events
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| A621 | Written request for application examination |
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| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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| A977 | Report on retrieval |
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| A521 | Written amendment |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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