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JP2011249362A - 集積回路装置 - Google Patents

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JP2011249362A JP2010117652A JP2010117652A JP2011249362A JP 2011249362 A JP2011249362 A JP 2011249362A JP 2010117652 A JP2010117652 A JP 2010117652A JP 2010117652 A JP2010117652 A JP 2010117652A JP 2011249362 A JP2011249362 A JP 2011249362A
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Abstract

【課題】昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作する集積回路チップの数に応じてより適正に電源電圧を所定電圧まで昇圧する。
【解決手段】チャネル数検出回路50は出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至るようトランジスタN2を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが降下したときには、降下後の出力端子電圧Vpgmに基づいて動作チャネル数Nchを検出し、スイッチング制御回路70は動作チャネル数Nchに基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを用いて昇圧スイッチング制御を実行する。これにより、昇圧スイッチング制御中に動作チャネル数Nchが増加したときでも動作チャネル数Nchに基づいてより適正に昇圧スイッチング制御を実行して、より適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。
【選択図】図3

Description

本発明は、集積回路装置に関し、詳しくは、所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと電源側電圧を所定電圧に昇圧して複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路が搭載されたインターポーザとを備える集積回路装置に関する。
従来、この種の集積回路装置としては、フラッシュメモリが搭載された複数のフラッシュメモリチップを備え、各フラッシュメモリチップのフラッシュメモリを複数のバンクに分けてメモリインターリーブによりデータを読み書きしながら各フラッシュメモリチップの各々から並列にデータを読み書きするものが提案されている(例えば、非特許文献1参照)。この装置では、こうした制御により、データを高速に読み書きすることができるとしている。
Chanik Park, Prakash Talawar, Daesik Won, MyungJin Jung, JungBeen Im, Suksan Kim and Youngjoon Choi,「A High Performance Controller for NAND Flash-based Solid State Disk(NSSD)」, IEEE Non-Volatile Smiconductor Memory Workshop, pp.17-20, February 2006
上述の集積回路装置では、一般に、データを読み書きする際のフラッシュメモリチップが多くなるほど消費電力が大きくなるため、動作しているフラッシュメモリチップの数を少なくしてデータ転送の高速化より消費電力の抑制を優先させる制御が行われており、実際に動作しているフラッシュメモリチップの数は適宜変化する。また、上述の集積回路装置では、一般に、フラッシュメモリにデータを書き込む際に必要な書き込み用の高電圧を各フラッシュメモリチップのフラッシュメモリに供給するブーストコンバータが搭載されているが、ブーストコンバータで昇圧を行っている最中に実際に動作するフラッシュメモリチップの数、すなわち、ブーストコンバータの負荷が変化すると、電圧を適正に昇圧できない場合がある。例えば、ブーストコンバータで昇圧している最中に動作するフラッシュメモリチップの数が増加して負荷が増加したときに、増加前と同じオン時間でブーストコンバータのスイッチング素子を制御すると、電圧が書き込み用の高電圧に達するまでに要する時間が増加する。また、昇圧中に動作するフラッシュメモリチップの数が減少してブーストコンバータの負荷が減少するときに、チップ数の減少前と同じオン時間でブーストコンバータのスイッチング素子を制御すると、必要以上に早期に書き込み用の高電圧を出力して、無駄に電力を消費してしまう。したがって、動作するチップ数の増減に応じてより適正に電圧を昇圧することが望まれている。
本発明の集積回路装置は、昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作する集積回路チップの数に応じてより適正に電源電圧を所定電圧まで昇圧することを主目的とする。
本発明の集積回路装置は、上述の主目的を達成するために以下の手段を採った。
本発明の第1の集積回路装置は、
所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと、電源側から供給される電源側電圧を前記所定電圧に昇圧して前記複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路と前記複数の集積回路チップのうち少なくとも1つの集積回路チップを選択して該選択した集積回路チップの集積回路が前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作するよう前記集積回路を制御するチップ制御回路とが搭載されたインターポーザと、を備える集積回路装置であって、
前記チップ制御回路は、所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を変更可能な回路であり、
前記昇圧供給回路は、
前記電源側電圧が供給される入力端子と前記集積回路チップの集積回路に電圧を供給する出力端子との間に直列に接続されたインダクタと、前記インダクタと前記出力端子との間に直列に接続され電流を前記入力端子から前記出力端子に向かう方向へ整流する整流素子と、前記インダクタと前記整流素子との間で前記インダクタからみて前記出力端子に並列に接続されたスイッチング素子と、を有するブーストコンバータと、
該ブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が前記所定電圧に至るよう前記スイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が降下したときには、該降下後の出力端子電圧に基づいて前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出するチップ数検出回路と、
前記検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、該生成した制御用クロック信号を用いて前記昇圧スイッチング制御を実行するスイッチング制御回路と、
を有する回路であることを要旨とする。
この本発明の第1の集積回路装置では、チップ数検出回路はブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が所定電圧に至るようスイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧が降下したときには、降下後の出力端子電圧に基づいて昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出し、スイッチング回路は検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、生成した制御用クロック信号を用いて昇圧スイッチング制御を実行する。これにより、動作チップ数に基づいてより適正に昇圧スイッチング制御を実行して、より適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
こうした本発明の第1の集積回路装置において、前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を第1のチップ数から該第1のチップ数より多い第2のチップ数に変更可能な回路であり、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記動作チップ数が前記第1のチップ数から前記第2のチップ数に変更されたことを判定するための電圧であり前記第1の判定用参照電圧未満の第2の判定用参照電圧未満に前記出力端子の電圧が至ったときには、前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出する回路であるものとすることができる。こうすれば、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
また、本発明の第1の集積回路装置において、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に前記第1の判定用参照電圧および前記第2の判定用参照電圧を生成して出力する増加側参照電圧生成出力回路と、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子の電圧が前記生成された第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記生成された第2の判定用参照電圧未満の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出する増加側検出回路と、を有する回路であるものとすることもできる。昇圧スイッチング制御が実行されている最中には出力端子電圧が変化するため、第1の判定用参照電圧および第2の判定用参照電圧を出力端子電圧に拘わらずに一定の値とすると動作チップ数を適正に検出できない場合があるが、参照電圧生成出力回路で出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に第1の判定用参照電圧および第2の判定用参照電圧を生成して、こうして生成した第1の判定用参照電圧および第2の判定用参照電圧を用いて動作チップ数を検出することにより、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
さらに、本発明の第1の集積回路装置において、前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を前記第1のチップ数から前記第2のチップ数または前記第1のチップ数から該第2のチップ数より多い第3のチップ数に変更可能な回路であり、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中、前記出力端子電圧が前記第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記第2の判定用参照電圧未満であって前記第3の判定用参照電圧以上の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出し、前記出力端子電圧が前記第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記第3の判定用参照電圧未満の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第3のチップ数であることを検出するものとすることもできる。こうすれば、チップ制御回路が選択する集積回路チップの数を第1のチップ数から第2のチップ数または第1のチップ数から第2のチップ数より多い第3のチップ数に変更可能な回路である場合でも、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
そして、本発明の第1の集積回路装置において、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が所定期間内に所定電圧以上に上昇したときには、該上昇後の出力端子電圧に基づいて前記動作チップ数を検出する回路であるものとすることもできる。こうすれば、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
また、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧が所定上昇電圧以上に上昇したときには上昇後の出力端子電圧に基づいて動作チップ数を検出する態様の本発明の第1の集積回路装置において、前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を第4のチップ数から該第4のチップ数より少ない第5のチップ数に変更可能な回路であり、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記動作チップ数が前記第4のチップ数から前記第5のチップ数に変更されたことを判定するための電圧であって前記第3の判定用参照電圧より高い第4の判定用参照電圧を前記出力端子電圧が超えたときには、前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出する回路であるものとすることができる。こうすれば、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
さらに、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧が所定上昇電圧以上に上昇したときには上昇後の出力端子電圧に基づいて動作チップ数を検出する態様の本発明の第1の集積回路装置おいて、前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に前記第3の判定用参照電圧および前記第4の判定用参照電圧を生成して出力する減少側参照電圧生成出力回路と、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子の電圧が前記生成された第3の判定用参照電圧以上になると共に該出力端子の電圧が前記生成された第3の判定用参照電圧以上となってから前記所定時間内に前記出力端子電圧が前記生成された第4の判定用参照電圧を超えたときには前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出する減少側検出回路と、を有する回路であるものとすることができる。昇圧スイッチング制御が実行されている最中には出力端子電圧が変化するため、第3の判定用参照電圧および第4の判定用参照電圧を出力端子電圧に拘わらずに一定の値とすると動作チップ数を適正に検出できない場合があるが、減少側参照電圧生成出力回路で出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に第3の判定用参照電圧および第4の判定用参照電圧を生成して、こうして生成した第3の判定用参照電圧および第4の判定用参照電圧を用いて動作チップ数を検出することにより、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
そして、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧が所定上昇電圧以上に上昇したときには上昇後の出力端子電圧に基づいて動作チップ数を検出する態様の本発明の第1の集積回路装置において、前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を前記第4のチップ数から前記第5のチップ数または前記第4のチップ数から該第5のチップ数より少ない第6のチップ数に変更可能な回路であり、前記昇圧供給回路の前記チップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中、前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記出力端子電圧が前記第4の判定用参照電圧より高く該第4の判定用参照電圧より高い第5の判定用参照電圧以下となったときには前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出し、前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記出力端子電圧が前記第5の判定用参照電圧より高くなったときには前記動作チップ数が前記第6のチップ数であることを検出する回路であるものとすることもできる。こうすれば、チップ制御回路が所定の制御信号に基づいて選択する集積回路チップの数を第4のチップ数から第5のチップ数または第4のチップ数から第5のチップ数より少ない第6のチップ数に変更可能な回路である場合でも、より適正に動作チップ数を検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
本発明の第2の集積回路装置は、
所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと、電源側から供給される電源側電圧を前記所定電圧に昇圧して前記複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路と前記複数の集積回路チップのうち少なくとも1つの集積回路チップを選択して該選択した集積回路チップの集積回路が前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作するよう前記集積回路を制御するチップ制御回路とが搭載されたインターポーザと、を備える集積回路装置であって、
前記チップ制御回路は、所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を変更可能な回路であり、
前記昇圧供給回路は、
前記電源側電圧が供給される入力端子と前記集積回路チップの集積回路に電圧を供給する出力端子との間に直列に接続されたインダクタと、前記インダクタと前記出力端子との間に直列に接続され電流を前記入力端子から前記出力端子に向かう方向へ整流する整流素子と、前記インダクタと前記整流素子との間で前記インダクタからみて前記出力端子に並列に接続されたスイッチング素子と、を有するブーストコンバータと、
該ブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が前記所定電圧に至るよう前記スイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が所定期間内に所定電圧以上の電圧に上昇したときには、該上昇後の出力端子電圧に基づいて前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出するチップ数検出回路と、
前記検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、該生成した制御用クロック信号を用いて前記昇圧スイッチング制御を実行するスイッチング制御回路と、
を有する回路であることを要旨とする。
この本発明の第2の集積回路装置では、チップ数検出回路はブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が所定電圧に至るようスイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧が所定上昇電圧量以上上昇したときには、上昇後の出力端子電圧に基づいて昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出し、スイッチング回路は検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、生成した制御用クロック信号を用いて昇圧スイッチング制御を実行する。これにより、動作チップ数に基づいてより適正に昇圧スイッチング制御を実行して、より適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
こうした本発明の第1,第2の集積回路装置において、前記スイッチング制御回路は、前記検出された動作チップ数が所定数以下であるときには前記出力端子電圧の迅速な上昇より前記昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減を優先するよう調整したオン時間およびオフ時間の前記制御用クロック信号を生成し、前記検出された動作チップ数が前記所定数を超えているときには前記昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減より前記出力端子電圧の迅速な上昇を優先するよう調整したオン時間およびオフ時間の前記制御用クロック信号を生成する回路であるものとすることもできる。こうすれば、動作チップ数が所定数以下であるときに出力端子電圧の迅速な上昇より前記昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減を優先しながら電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。また、動作チップ数が所定数を超えているときに昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減より出力端子電圧の迅速な上昇を優先しながら電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。
また、本発明の第1,第2の集積回路装置において、前記集積回路チップに搭載されている集積回路は、フラッシュメモリであるものとすることもできる。
本発明の一実施例としてコンピュータの内部記憶装置としてSSD(Solid State Disk)10の構成の概略を示す構成図である。 NANDコントローラ32および24個のフラッシュメモリチップ22の構成の概略を示す構成図である。 インターポーザ30に搭載された昇圧回路40の構成の概略を示す回路図である。 参照電圧発生回路56の構成の概略を示す回路図である。 動作チャネル数Nchが1個から16個に増加したときの出力端子電圧Vpgmの時間変化の一例を示す説明図である。 動作チャネル数Nchが16個から1個に減少したときの出力端子電圧Vpgmの時間変化の一例を示す説明図である。 判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3の時間変化の一例を示す説明図である。 増加側検出回路58の構成の概略を示す回路図である。 減少側検出回路60の構成の概略を示す回路図である。 オンオフ時間設定用テーブルの一例を示す説明図である。 オシレータ76の構成の概略を示す回路図である。 動作チャネル数Nchと立ち上がり時間と一例を示す説明図である。 動作チャネル数Nchと1チャネルあたりの消費電力の一例を示す説明図である。 変形例のブーストコンバータ42Bの構成の概略を示す回路図である。
次に、本発明を実施するための形態を実施例を用いて説明する。
図1は、本発明の一実施例としてコンピュータの内部記憶装置としてSSD(Solid State Disk)10の構成の概略を示す構成図である。SSD10は、DRAM(Dynamic Random Access Memory)が搭載されたシリコンチップとしてのDRAMチップ20と、NAND型のフラッシュメモリが搭載されたシリコンチップである複数積層されたフラッシュメモリチップ22と、最上面に配置されたインターポーザ30とを備える。SSD10には、図示しない外部の電源から電源電圧として電圧V1(例えば、1,6V,1.8V,2.0Vなど)が供給されており、実施例では、DRAMチップ20に搭載されているDRAMは電圧V1で動作するものとし、フラッシュメモリチップ22に搭載されているフラッシュメモリは書き込み電圧が電圧V2(例えば、18V,20V,22Vなど)で読み出し電圧が電圧V1であるものとした。なお、DRAMチップ20やフラッシュメモリチップ22にはチップの表面から裏面へ貫通する図示しないスルーホールが形成されており、DRAMチップ20やフラッシュメモリチップ22間は、スルーホールを導電性の比較的高い金属材料(例えば、銅など)で埋め込んで形成した接続配線で電気的に接続されている。実施例では、説明のため、24個のフラッシュメモリチップ22が積層されているものとしたが、フラッシュメモリチップ22の数は2個以上であれば如何なる数としても構わない。
インターポーザ30には、フラッシュメモリチップ22に搭載されているフラッシュメモリを制御するためのNANDコントローラ32や電源から供給された電圧V1を電圧V2に昇圧してフラッシュメモリチップ22に供給する昇圧回路40,昇圧回路40やNANDコントローラ32からの接続配線(図示せず)などが搭載されている。NANDコントローラ32は、図2に示すように、24個のフラッシュメモリチップ22とチャネル1〜24を介してデータを転送できるよう構成されており、コンピュータの図示しないCPUからデータの書き込み要求信号が入力されたときには、CPUから入力される制御信号に基づいて24個のフラッシュメモリチップ22のうち少なくとも1つのフラッシュメモリチップ22を選択して、選択したフラッシュメモリチップ22が昇圧回路40からの電圧を用いて動作するようフラッシュメモリチップ22に搭載したフラッシュメモリを制御する。こうして選択されるフラッシュメモリチップ22の数(以下、「動作チャネル数」という)Nchは、制御信号に応じて適宜変化する。
図3は、インターポーザ30に搭載された昇圧回路40の構成の概略を示す回路図である。昇圧回路40は、入力端子Vinに供給された電圧V1を昇圧して出力端子Voutからフラッシュメモリチップ22のフラッシュメモリに出力するブーストコンバータ42と、出力端子Voutからの電圧を用いて動作チャネル数Nchを検出するチャネル数検出回路50と、チャネル数検出回路50で検出された動作チャネル数Nchに基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを用いてブーストコンバータ42の出力端子Voutの電圧である出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至るようブーストコンバータ42を制御する昇圧スイッチング制御を実行するスイッチング制御回路70とから構成されている。
ブーストコンバータ42は、入力端子Vinと出力端子Voutとの間に直列に接続されたインダクタLと、ゲートとソースとが互いに接続されておりソースがインダクタLに接続されると共にドレインが出力端子Voutに接続されたエンハンスメント型のNMOS(N-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタN1(以下、トランジスタN1という)と、インダクタLとトランジスタN1との間でインダクタLからみて出力端子Voutに並列に接続されたデプレッション型のNMOSトランジスタN2(以下、トランジスタN2という)と、を備え、トランジスタN2は、スイッチング制御回路70からの制御用クロック信号CLKによりスイッチングが制御されている。
チャネル数検出回路50は、外部から供給される電源電圧Vdd(ここでは、電圧V1)と出力端子電圧Vpgmとを用いて出力端子電圧Vpgmの増減を判定するための判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を生成する参照電圧発生回路56と、スイッチング制御回路70により昇圧スイッチング制御が実行されている最中に動作チャネル数Nchが増加したときに増加後の動作チャネル数Nchを検出する増加側検出回路58と、スイッチング制御回路70により昇圧スイッチング制御が実行されている最中に動作チャネル数Nchが減少したときに減少後の動作チャネル数Nchを検出する減少側検出回路60と、出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至ったときにスタンバイ信号STBを出力する目標電圧検出回路62と、を備える。
参照電圧発生回路56は、出力端子電圧Vpgmをデジタル値に変換して出力するA/Dコンバータ56aと、供給された電源電圧Vddから複数の基準電圧Vs1〜Vsn(nは、値2以上の整数)を生成する基準電圧発生回路56bと、A/Dコンバータ56aからの出力端子電圧Vpgmと基準電圧発生回路56bからの基準電圧Vs1〜Vsnとが入力され出力端子電圧Vpgmに基づいて出力端子電圧Vpgmの増減を判定するための参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を基準電圧Vs1〜Vsnから選択して出力する選択回路56cと、から構成されている。選択回路56cは、1サイクル前の制御用クロック信号CLKでトランジスタN2をオンしているときの1サイクル前出力端子電圧Vpreを記憶しており、基準電圧Vs1〜Vsnのうち1サイクル前出力端子電圧Vpreより若干高い電圧を判定用参照電圧Vref1として選択して出力するものとした。すなわち、判定用参照電圧Vref1は、出力端子電圧Vpgmが上昇しているか否かを判定するための閾値である。また、選択回路56cは、予め検出すべき動作チャネル数Nchの増加パターンPitag(例えば、動作チャネル数Nchが1個から4個に増加など)と予め検出すべき動作チャネル数Nchの減少パターンPdtag(例えば、動作チャネル数Nchが4個から1個に減少など)とを記憶しており、動作チャネル数Nchが定めた増加パターンPitagで増加して出力端子電圧Vpgmが下降したときの出力端子電圧Vpgmの最小値である電圧Vlより若干高く出力端子電圧Vpgmが高いほど高くなる電圧を出力端子電圧Vpgmに基づいて基準電圧Vs1〜Vsnから選択して判定用参照電圧Vref2として選択して出力し、動作チャネル数Nchが定めた減少パターンPdtagで減少して出力端子Vpgmが上昇したときの出力端子電圧Vpgmの最大値である電圧Vhより若干低い電圧を出力端子電圧Vpgmに基づいて基準電圧Vs1〜Vsnから判定用参照電圧Vref3として選択して出力する。したがって基準電圧発生回路56bは、こうした判定用参照電圧Vref1〜Vref3として用いると想定される電圧を基準電圧Vs1〜Vsnとして出力するよう構成されている。ここで、選択回路56cから、こうした判定用参照電圧Vref2,Vref3を出力する理由について説明する。
図5は、動作チャネル数Nchが1個から16個に増加したときの出力端子電圧Vpgmの時間変化の一例を示す説明図である。動作チャネル数Nchが一定である場合、スイッチング制御回路70による昇圧スイッチング制御により出力端子電圧Vpgmが電圧V2に向けてステップ状に上昇していく。昇圧スイッチング制御が実行されている最中に動作チャネル数Nchが増加すると、ブーストコンバータ42の出力端子Voutに接続されている負荷容量が増えるため、図示するように、出力端子電圧Vpgmが降下して電圧Vlに至る。電圧Vlは、出力端子電圧Vpgmと動作チャネル数Nchの増加パターンPitagとを用いて定めることができ、増加後の動作チャネル数Nchが多いほどブーストコンバータ42の出力端子Voutの負荷容量が大きくなるため電圧Vlが低くなり、降下する前の出力端子電圧Vpgmが高いほど電圧Vlが高くなる。したがって、判定用参照電圧Vref2を電圧V1より若干高く出力端子電圧Vpgmが高くなるほど高い電圧として出力し、出力端子電圧Vpgmと判定用参照電圧Vref2とを比較することにより、動作チャネル数Nchが予め定めた増加パターンPitagで増加したか否かを判定することができる。判定用参照電圧Vref2は、こうした判定を行うための閾値として生成したのである。
図6は、動作チャネル数Nchが16個から1個に減少したときの出力端子電圧Vpgmの時間変化の一例を示す説明図である。図示するように、動作チャネル数Nchが減少すると、ブーストコンバータの出力端子Voutの負荷容量が減るため、出力端子電圧Vpgmが昇圧スイッチング制御による電圧の上昇量を超えた電圧Vhまで上昇する。電圧Vhは、減少後の動作チャネル数Nchが少ないほどブーストコンバータの出力端子Voutの負荷容量の小さくなるため高くなり、上昇前の出力端子電圧Vpgmが高いほど電圧Vvhも高くなる。したがって、判定用参照電圧Vref3を電圧Vhより若干高く出力端子電圧Vpgmが高くなるほど高い電圧として出力して、出力端子電圧Vpgmと判定用参照電圧Vref3とを比較することで、動作チャネル数Nchが予め定めた検出すべき減少パターンPdtagで減少したか否かを判定することができる。判定用参照電圧Vref3は、こうした判定を行うための閾値として生成したのである。こうして生成された判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3の時間変化の一例を図7に示す。
増加側検出回路58は、図8に示すように、複数の検出回路59から構成されている。検出回路59は、出力端子電圧Vpgmと判定用参照電圧Vref1とを比較して出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1より低いときには低電圧の論理信号(以下、「ローの信号」という)を出力すると共に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上であるときには高電圧の論理信号(以下、「ハイの信号」という)を出力するコンパレータ59aと、出力端子電圧Vpgmと判定用参照電圧Vref2とを比較して出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref2以上のときにはローの信号を出力する出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref2未満のときにはハイの信号を出力するコンパレータ59bと、制御用クロック信号と逆相のリセット信号とコンパレータ59a,59bからの信号とが入力されリセット信号がハイの信号であるときまたはコンパレータ59a,59bからの信号のいずれかがローの信号であるときに端子L2からローの信号を出力しリセット信号がローの信号である状態でコンパレータ59a,59bからハイの信号が入力されているときに端子L2からハイの信号を出力する論理回路59cとを備えている。検出回路59には、検出すべき動作チャネル数Nchの増加パターンPitagの判定用参照電圧Vref1,Vref2が供給されており、リセット信号がローの信号である期間中、すなわち、制御用クロック信号CLKがハイとなっている期間に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上となってから判定用参照電圧Vref2未満になったときに、端子L2からハイの信号を出力する。ここで、判定用参照電圧Vref1は力端子電圧Vpgmが昇圧されているか否かを判定するための閾値であり、判定用参照電圧Vref2は動作チャネル数Nchが予め定めた増加パターンPitagで増加したか否かを判定するための閾値であるから、端子L2からハイの信号が出力されたときには、動作チャネル数Nchが増加パターンPitagで増加したことになる。このように、検出回路59は、動作チャネル数Nchの増加パターンPitagを検出することができる。
1つの検出回路59は1つの増加パターンPitagのみ検出可能であるため、増加側検出回路58に含まれる検出回路の59の数は、想定しうる全て増加パターンPitagと同じ数になるよう構成されている。例えば、動作チャネル数Nchが1個から2個、1個から3個、1個から4個に増加することを検出する場合には、増加側検出回路58は動作チャネル数Nchが1個から2個、1個から3個、1個から4個に増加することを検出するための3つの検出回路59から構成され、各検出回路59には動作チャネル数Nchが1個であるときの判定用参照電圧Vref1を供給すると共に動作チャネル数Nchが1個から2個、1個から3個、1個から4個に増加するときの判定用参照電圧Vref2が供給される。動作チャネル数Nchが1個から2個に増加すると動作チャネル数Nchが1個から2個に増加するときの参照電圧Vref2が供給された検出回路59の端子L2のみがハイの信号を出力し、動作チャネル数Nchが1個から4個に増加すると動作チャネル数Nchが1個から2個,1個から3個、1個から4個に増加するときの参照電圧Vref2が供給された3個の検出回路59の端子L2がハイの信号を出力する。したがって、複数の端子L2がハイのときには、最も動作チャネル数Nchの増加量が大きい増加パターンPitagを実際の増加パターンとして検出することにより、増加パターン、すなわち、増加後の動作チャネル数Nchを検出することができる。
減少側検出回路60は、図9に示すように、複数の検出回路61から構成されている。検出回路61は、出力端子電圧Vpgmと参照電圧Vref3とを比較して出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref3未満のときにはハイの信号を出力し出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref3以上のときにはローの信号を出力するコンパレータ61aと、出力端子電圧Vpgmと判定用参照電圧Vref1とを比較して出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1未満のときにはハイの信号を出力する出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上のときにはローの信号を出力するコンパレータ61bと、制御用クロック信号と逆相のリセット信号がハイの信号であるときやコンパレータ61aの出力信号およびコンパレータ61bの出力信号を制御クロック信号CLKの2周期分の時間遅延させた信号の少なくとも一方がハイの信号であるときには端子L3からローの信号を出力すると共に制御用クロック信号と逆相のリセット信号がハイの信号であるときにコンパレータ61aの出力信号とコンパレータ61bの出力信号を制御用クロック信号CLKの2周期分の時間遅延させた信号が共にローであるときには端子L3からハイの信号を出力する論理回路61cとを備えている。検出回路61には、検出すべき動作チャネル数Nchの減少パターンPdtagの判定用参照電圧Vref1,Vref3が供給されており、制御用クロック信号の2周期分の時間内に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1,Vref3を超えたときに、リセット信号がローの信号になったタイミング、すなわち、制御用クロック信号CLKがハイの信号になったタイミングで端子L3からハイの信号を出力する。ここで、制御用クロック信号の2周期分の時間内に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1,Vref3を超えたときを考えるのは、動作チャネル数Nchが一定であるときでも昇圧スイッチング制御により出力端子電圧Vpgmが上昇するため、動作チャネル数Nchが一定であるときの出力端子電圧Vpgmの上昇と動作チャネル数Nchが減少したときの出力端子電圧Vpgmの上昇とを判別するためである。判定用参照電圧Vref1は、上述したように、出力端子電圧Vpgmが昇圧されているか否かを判定するための閾値であり、判定用参照電圧Vref3は動作チャネル数Nchが予め定めた減少パターンPdtagで減少したか否かを判定するための閾値であるから、端子L3からハイの信号が出力されたときには、動作チャネル数Nchが減少パターンPdtagで減少したことになる。このように、検出回路61は、動作チャネル数Nchの減少パターPdtagを検出することができる。
1つの検出回路61は1つの減少パターンPdtagのみ検出可能であるため、減少側検出回路60に含まれる検出回路61の数は、想定される全ての減少パターンPitagと同じ数になるよう構成されている。例えば、動作チャネル数Nchが4個から3個、4個から2個、4個から1個に減少するときには、動作チャネル数Nchが4個から3個、4個か2個、4個から1個に減少することを検出するための3つの検出回路59を用意し、各検出回路61には動作チャネル数Nchが4個であるときの参照電圧Vref1を供給すると共に動作チャネル数Nchが4個から1個、4個から2個、4個から1個に減少するときの参照電圧Vref3をそれぞれ供給することにより、動作チャネル数Nchが4個から3個に減少すると動作チャネル数Nchが4個から3個に減少するときの参照電圧Vref3が供給された検出回路59の端子L3のみがハイの信号を出力し、動作チャネル数Nchが4個から1個に減少すると動作チャネル数Nchが4個から3個,4個から2個、4個から1個に減少するときの参照電圧Vref3が供給された3個の検出回路59の端子L3がハイの信号を出力する。したがって、複数の端子L3がハイの信号を出力しているときには、最も動作チャネル数Nchの減少量が大きい減少パターンPdtagを実際の減少パターンとして検出することにより、減少パターン、すなわち、減少後の動作チャネル数Nchを検出することができる。
スイッチング制御回路70は、動作チャネル数Nch毎の制御用クロック信号CLKのオン時間Tonとオフ時間Toffとをオンオフ時間設定用テーブルとして記憶するレジスタ72と、チャネル数検出回路50の端子L2,L3からの出力信号,すなわち,動作チャネル数Nchに基づいて対応するオン時間Tonとオフ時間Toffを選択する選択回路74と、選択回路74で選択されたオン時間Tonでオフ時間Toffの制御用クロック信号CLKを生成するオシレータ76と、オシレータ76からのデータをスイッチング素子に出力するドライバ78と、を備える。
レジスタ72に記憶されているオンオフ時間設定用テーブルは、動作チャネル数Nchが15個以下であるときにはブーストコンバータ42の出力端子電圧Vpgmの迅速な上昇より制御用クロック信号CLKを用いたスイッチング制御による消費電力の低減を優先するエネルギー節約モード時のオン時間Ton,オフ時間Toffが設定され、動作チャネル数Nchが15個を超えているときには制御用クロック信号CLKを用いたスイッチング制御による消費電力の低減よりブーストコンバータ42の出力端子電圧Vpgmの迅速な上昇を優先する高速モード時のオン時間Ton,オフ時間Toffが設定されるよう構成されている。図10に、オンオフ時間設定用テーブルの一例を示す。
選択回路74は、チャネル数検出回路50の端子L2,L3からの出力信号のいずれかがハイの信号であるかを調べて、端子L2,L3からの出力信号の状態に対応するオン時間Ton,オフ時間Toffをレジスタ72から選択する。例えば、動作チャネル素Nchが1個から4個以下に増加したことを検出する検出回路59(動作チャネル数Nchが1個から2個,1個から3個、1個から4個に増加するときの参照電圧Vref2が供給された3個の検出回路59)の端子L2の信号のみがハイの信号になり、他の検出回路59の端子L2の信号はローの信号になり、減少側検出回路60の各検出回路61の端子L3から信号は全てのローの信号になっているときには、動作チャネル数Nchが4個であるときのオン時間Ton,オフ時間Toffをレジスタ72から選択する。また、端子L2からの信号が全てローであり、動作チャネル素Nchが4個から1個に減少したことを検出する検出回路61(動作チャネル数Nchが4個から3個,4個から2個、4個から1個に減少するときの参照電圧Vref3が供給された3個の検出回路61)の端子L3の信号のみがハイの信号になり、他の検出回路61の端子L3からの信号はローの信号であるときには、動作チャネル数Nchが3個であるときのオン時間Ton,オフ時間Toffをレジスタ72から選択する。これにより、端子L2,L3からの出力信号状態、すなわち、動作チャネル数Nchに応じた制御用クロック信号CLKのオン時間Ton,オフ時間Toffを選択することができる。
図11は、オシレータ76の構成の概略を示す回路図である。オシレータ76は、図示するように、定電流回路として構成された第1回路M1と、第1回路M1とカレントミラーを構成する第2回路M2,第3回路M3と、第1回路M2,M3の出力からクロック信号CLKを生成して出力するクロック信号出力回路CKOと、から構成されている。第1回路M1は、抵抗Rと、抵抗Rを介してドレインに電源電圧Vddが供給されると共にゲートとドレインとが接続されソースが接地されたNMOSトランジスタNM1とから構成されている。第2回路M2,M3は、互いに同一の構成をしており、ソースに電源電圧Vddが供給されるPMOS(P-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタPM1と、ゲート,ドレインがそれぞれトランジスタPM1のゲート,ドレインに接続されたNMOSトランジスタNM2と、ゲートがトランジスタNM1のゲートに接続されると共にドレインがトランジスタNM2のドレインに接続されたNMOSトランジスタNM3とから構成されている。第2回路M2,M3のトランジスタPM1のドレインと接地との間にスイッチSW1〜SW5を介してキャパシタC1〜C5が互いに並列接続されている。クロック信号出力回路CKOは、第1回路M1のトランジスタNM1のドレインと接地との間の電圧である参照電圧Vrefと第2回路M2のトランジスタPM1のドレインと接地との間の電圧,すなわち,キャパシタC1〜C5の電極間電圧であるキャパシタ電圧Vcap1とを比較して比較結果を出力するコンパレータCMP111と、参照電圧Vrefと第3回路M3のトランジスタPM1のドレインと接地との間の電圧,すなわち,キャパシタC1〜C5の電極間電圧であるキャパシタ電圧Vcap2とを比較して比較結果を出力するコンパレータCMP112と、CMP111,112からの比較結果に応じてセットまたはリセットされるフリップフロップFFとから構成されている。フリップフロップFFは、キャパシタ電圧Vcap1が参照電圧Vref以下のときにはセットされて低レベルの論理電圧の信号をクロック信号CLKとして出力し、キャパシタ電圧Vcap2が参照電圧Vref以下のときにリセットされて高レベルの論理電圧の信号をクロック信号CLKとして出力し、こうしたクロック信号CLKと逆相のクロック信号CLKBも出力する。なお、オシレータ76は、選択回路74からスタンバイ信号STBが入力されるとクロック信号CLKの電圧を低レベルの論理電圧に固定する図示しないトランジスタも備えている。こうして構成されたオシレータ76では、オシレータ76から出力されるクロック信号CLKのオン時間とオフ時間が抵抗Rの抵抗値Rと第2回路M2,第3回路でスイッチSW1〜SW5のうちオンになっているスイッチに接続されたキャパシタの合成容量Cとで決まるため、スイッチSW1〜SW5のオンオフを制御することにより所望のオン時間,オフ時間の制御用クロック信号CLKを出力することができる。
こうして構成されたSSD10の昇圧回路40では、最初に、予め定められたオン時間、オフ時間の制御用クロック信号CLKをオシレータ76で生成して、ブーストコンバータ42のトランジスタN2をスイッチング制御する昇圧スイッチング制御を実行する。これにより、出力端子電圧Vpgmがステップ状に電圧V2に向かって上昇していく。これにより、出力端子電圧Vpgmを電圧V2に昇圧することができる。こうした制御は、チャネル数検出回路50の端子L2,L3からの信号が全てロー、すなわち、動作チャネル数Nchに変化がない場合には、出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至るまで継続される。そして、出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至ったときには目標電圧検出回路62からスイッチング制御回路70の選択回路74を介してオシレータ76にスタンバイ信号STBが入力されてオシレータ76の動作が休止する。
こうした昇圧スイッチング制御を実行している最中に、動作チャネル数Nchが増加したり、動作チャネル数Nchが減少したときには、チャネル数検出回路50は、増加後または減少後の動作チャネル数Nchを示す出力信号を端子L2,L3から出力し、スイッチング制御回路70の選択回路74は、チャネル数検出回路50の端子L2,L3からの出力信号の状態に対応するオン時間Ton,オフ時間Toffをレジスタ72から選択し、オシレータ76はドライバ78を介して選択回路74で選択されたオン時間Tonでオフ時間Toffの制御用クロック信号CLKをトランジスタN2に出力する。実施例では、レジスタ72には、動作チャネル数Nchが15個以下であるときにはエネルギー節約モード時のオン時間Ton,オフ時間Toffが記憶されており、動作チャネル数Nchが15個を超えているときには高速モード時のオン時間Ton,オフ時間Toffが記憶されているから、動作チャネル数Nchが15個以下であるときには出力端子電圧Vpgmの上昇する時間(立ち上がり時間)が遅いが1チャネルあたりの消費電力が比較的に低くなり、動作チャネル数Nchが15個以上であるときには出力端子電圧Vpgmの上昇する時間(立ち上がり時間)が早いが1チャネルあたりの消費電力が比較的に大きくなる。図12は動作チャネル数Nchと立ち上がり時間と一例を示す説明図であり、図13は動作チャネル数Nchと1チャネルあたりの消費電力の一例を示す説明図である。図中実線が、動作チャネル数Nchに応じたオン時間Ton,オフ時間Toffの制御用クロック信号CLKでトランジスタN2を制御した場合、破線は動作チャネル数に拘わらずエネルギー節約モードのオン時間Ton,オフ時間Toffの制御用クロック信号CLKでトランジスタN2を制御した場合、破線は動作チャネル数に拘わらず高速モードのオン時間Ton,オフ時間Toffの制御用クロック信号CLKでトランジスタN2を制御した場合、それぞれにおける動作チャネル数Nchと立ち上がり時間と1チャネルあたりの消費電力とを示している。図示するように、動作チャネル数Nchに応じて調整されるオン時間Ton,オフ時間Toffの制御用クロック信号CLKでトランジスタN2を制御することにより、より適正に出力端子電圧Vpgmを電圧V2に昇圧することができる。
以上説明した実施例のSSD10によれば、チャネル数検出回路50は出力端子電圧Vpgmが電圧V2に至るようトランジスタN2を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが降下したときには、降下後の出力端子電圧Vpgmに基づいて動作チャネル数Nchを検出し、スイッチング制御回路70は動作チャネル数Nchに基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成し、生成した制御用クロック信号CLKを用いて昇圧スイッチング制御を実行する。これにより、昇圧スイッチング制御中に動作チャネル数Nchが増加したときでも動作チャネル数Nchに基づいてより適正に昇圧スイッチング制御を実行して、より適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。また、昇圧回路40の増加側検出回路58は、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に判定用参照電圧Vref1以上の電圧から判定用参照電圧Vref2未満に出力端子電圧Vpgmが至ったときには、動作チップ数が判定用参照電圧Vref2に対応する動作チャネル数Nchであることを検出するから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。さらに、チャネル数検出回路50は、参照電圧発生回路56から出力端子電圧Vpgmが高くなるほど高くなるよう判定用参照電圧Vref1,Vref2を生成して出力し、増加側検出回路58で昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上の電圧から判定用参照電圧Vref2未満の電圧に至ったときには動作チャネル数Nchが判定用参照電圧Vref2に対応する動作チップ数であることを検出するから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V1まで昇圧することができる。そして、増加側検出回路58は、検出回路59に増加パターンPitagに対応する判定用参照電圧Vref1,Vref2が供給される複数の検出回路59から構成されているから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。
また、チャネル数検出回路50は、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが制御用クロック信号CLKの2周期以内に判定用参照電圧Vref3以上に上昇したときには、上昇後の出力端子電圧Vpgmに基づいて動作チャネル数Nchを検出するから、昇圧スイッチング制御中に動作チャネル数Nchが減少したときでもより適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源側電圧を所定電圧まで昇圧することができる。さらに、チャネル数検出回路50は、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref以上となり出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上となってから制御用クロック信号CLKの2周期分の時間内に判定用参照電圧Vref3を出力端子電圧Vpgmが超えたときには、動作チャネル数Nchが判定用参照電圧Vref3に対応する動作チャネル数であることを検出するから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。そして、チャネル数検出回路50は、参照電圧発生回路56で出力端子電圧Vpgmが高くなるほど高くなる判定用参照電圧Vref1,Vref3を生成し、減少側検出回路60で昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上となり出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上となってから制御用クロック信号CLKの2周期分の時間内に判定用参照電圧Vref3を出力端子電圧Vpgmが超えたときに動作チャネル数Nchを判定用参照電圧Vref3に対応するチップ数であることを検出するから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。また、減少側検出回路60は、減少パターンPdtagに対応する判定用参照電圧Vref1,Vref3が供給される複数の検出回路61から構成されているから、より適正に動作チャネル数Nchを検出してより適正に電源電圧を電圧V2まで昇圧することができる。
そして、スイッチング制御回路70は、動作チャネル数Nchが15個以下であるときにはエネルギー節約モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成し、動作チャネル数Nchが15個を超えているときには高速モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成するから、動作チャネル数Nchが15個以下であるときには出力端子電圧Vpgmの迅速な上昇より昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減を優先しながら電源電圧を電圧V2まで昇圧させることができ、動作チャネル数Nchが15個を超えているときには昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減より出力端子電圧Vpgmの迅速な上昇を優先しながら電源電圧を電圧V2まで昇圧させることができる。
実施例のSSD10では、参照電圧発生回路56は、出力端子電圧Vpgmが高くなるほど一律に高くなるよう判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を生成するものとしたが、出力端子電圧Vpgmが高くなるほど高くなる傾向に判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を設定すればよいから、例えば、出力端子電圧Vpgmが高くなるとステップ状に高くなるよう判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を設定するものとしてもよい。また、出力端子電圧Vpgmに拘わらず一定の値として判定用参照電圧Vref1,Vref2,Vref3を生成するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、増加側検出回路58は、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に判定用参照電圧Vref1以上の電圧から判定用参照電圧Vref2未満に出力端子電圧Vpgmが至ったときには動作チャネル数Nchが判定用参照電圧Vref2に対応する動作チャネル数であることを検出するものとしたが、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが降下したときに、降下後の出力端子電圧Vpgmに基づいて動作チャネル数を検出するものであればよく、例えば、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが降下したときに、降下後の出力端子電圧Vpgmと電圧Vlとを比較して出力端子電圧Vpgmが電圧V1近傍値となったときに電圧V1に対応する動作チャネル数であることを検出するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、減少側検出回路60は、昇圧スイッチング制御が実行されている最中に出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref以上となり出力端子電圧Vpgmが判定用参照電圧Vref1以上となってから制御用クロック信号CLKの2周期分の時間以内に判定用参照電圧Vref3を出力端子電圧Vpgmが超えたときには、動作チャネル数Nchが判定用参照電圧Vref3に対応する動作チャネル数であることを検出するものとしたが、動作チャネル数Nchを検出する際に判定用参照電圧Vref1以上となってから判定用参照電圧Vref3を出力端子電圧Vpgmが超えるまでの時間は、制御用クロック信号CLKの2周期分の時間に限定されるものではなく、制御用クロック信号CLKの3周期分の時間など適宜設定するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、増加側検出回路58,減少側検出回路60により増加後および減少後の動作チャネル数Nchの両方を検出するものとしたが、動作チャネル数Nchが増加する方向または減少する方向の一方にしか変化しない場合には一方のみを検出すれば良いから、例えば、減少側検出回路60を備えずに増加側検出回路58により増加後の動作チャネル数Nchのみを検出するものとしてもよいし、増加側検出回路58を備えずに減少側検出回路60により減少後の動作チャネル数Nchのみを検出するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、スイッチング制御回路70は、動作チャネル数Nchが15個以下であるときにはエネルギー節約モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成し、動作チャネル数Nchが15個を超えているときには高速モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成するものとしたが、エネルギー節約モードから高速モードに切り替える動作チャネル数Nchの閾値は適宜設定するものとしてもよい。また、動作チャネル数Nchに拘わらずエネルギー節約モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成するものとしたり、動作チャネル数Nchに拘わらず高速モードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成するものとしてもよい。さらに、エネルギー節約モードや高速モードと異なる他のモードに調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号CLKを生成するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、ブーストコンバータ42は、インダクタLとトランジスタN1との間でインダクタLからみて出力端子Voutに並列に接続されたデプレッション型のNMOSトランジスタN2を備えるものとしたが、インダクタLとトランジスタN1との間でインダクタLからみて出力端子Voutに並列にクロック信号CLKでスイッチングする素子を備えていればよいから、図14に例示する変形例のブーストコンバータ42Bのように、デプレッション型のNMOSトランジスタN2に代えて、インダクタLとトランジスタN1との間に接続されたデプレッション型のNMOSトランジスタN21(以下、トランジスタN21)と、トランジスタN21と直列にエンハンスメント型のNMOSトランジスタN22(以下、トランジスタN22)とを有するものとし、トランジスタN21のゲートの電圧を所定電圧Vmに固定すると共にトランジスタN22のゲートにクロック信号CLKを入力するものとしてもよい。ここで、所定電圧Vmとしては、電圧V1と電圧V2との間の電圧(例えば、3.6V)とするのが望ましい。また、ブーストコンバータ42は、ゲートとソースとが互いに接続されておりソースがインダクタLに接続されると共にドレインが出力端子Voutに接続されたエンハンスメント型のNMOSトランジスタN1を備えるものとしたが、インダクタLと出力端子Voutとの間に直列に接続され電流を入力端子Vinから出力端子Voutに向かう方向へ整流する整流素子を備えていればよいから、トランジスタN1に代えてダイオードを備えるものとしてもよい。
実施例のSSD10では、インターポーザ30をフラッシュメモリチップ22の上面に配置するものとしたが、下面に配置することもできる。また、インターポーザ30上に他の集積回路チップやインターポーザを積層するものとしてもよい。
実施例のSSD10では、フラッシュメモリが搭載されたフラッシュメモリチップ22を備えるものとしたが、こうしたチップに搭載される集積回路はフラッシュメモリに限定されるものではなく、所定電圧で動作する集積回路であれば如何なるものとしても構わない。
実施例では、本発明をSSD10に適用するものとしたが、所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと、電源側から供給される電源側電圧を所定電圧に昇圧して複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路と前記複数の集積回路チップのうち少なくとも1つの集積回路チップを選択して選択した集積回路チップの集積回路が昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作するよう集積回路を制御するチップ制御回路とが搭載されたインターポーザと、を備える集積回路装置であれば如何なるものに用いるものとしてもよく、例えば、マイクロコンピュータに用いるものとしてもよい。
以上、本発明を実施するための形態について実施例を用いて説明したが、本発明はこうした実施例に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、種々なる形態で実施し得ることは勿論である。
本発明は、集積回路装置の製造産業などに利用可能である。
なお、本発明は、平成21年度独立行政法人科学技術振興機構の戦略的創造研究推進事業の研究課題「ディペンダブル ワイヤレス ソリッド・ステート・ドライブ」の成果である。
10 SSD、20 DRAMチップ、22 フラッシュメモリチップ、30 インターポーザ、32 NANDコントローラ、40 昇圧回路、42 ブーストコンバータ、42B ブーストコンバータ、50 チャネル数検出回路、56 参照電圧発生回路、56a A/Dコンバータ、56b 基準電圧発生回路、56c,74 選択回路、58 増加側検出回路、59,61 検出回路、59a,59b,61a,61b,111,112 コンパレータ、59c,61c 論理回路、60 減少側検出回路、62 目標電圧検出回路、70 スイッチング制御回路、72 レジスタ、76 オシレータ、78 ドライバ、C1〜C5 キャパシタ、L2,L3 端子、M1 第1回路、M2 第2回路、M3 第3回路、N1,N2,N21,N22,NM1,NM2,NM3,PM1 トランジスタ、SW1〜SW5 スイッチ、Vin 入力端子、Vout 出力端子。

Claims (11)

  1. 所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと、電源側から供給される電源側電圧を前記所定電圧に昇圧して前記複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路と前記複数の集積回路チップのうち少なくとも1つの集積回路チップを選択して該選択した集積回路チップの集積回路が前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作するよう前記集積回路を制御するチップ制御回路とが搭載されたインターポーザと、を備える集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路は、
    前記電源側電圧が供給される入力端子と前記集積回路チップの集積回路に電圧を供給する出力端子との間に直列に接続されたインダクタと、前記インダクタと前記出力端子との間に直列に接続され電流を前記入力端子から前記出力端子に向かう方向へ整流する整流素子と、前記インダクタと前記整流素子との間で前記インダクタからみて前記出力端子に並列に接続されたスイッチング素子と、を有するブーストコンバータと、
    該ブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が前記所定電圧に至るよう前記スイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が降下したときには、該降下後の出力端子電圧に基づいて前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出するチップ数検出回路と、
    前記検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、該生成した制御用クロック信号を用いて前記昇圧スイッチング制御を実行するスイッチング制御回路と、
    を有する回路である、
    集積回路装置。
  2. 請求項1記載の集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を第1のチップ数から該第1のチップ数より多い第2のチップ数に変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記動作チップ数が前記第1のチップ数から前記第2のチップ数に変更されたことを判定するための電圧であり前記第1の判定用参照電圧未満の第2の判定用参照電圧未満に前記出力端子の電圧が至ったときには、前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出する回路である
    集積回路装置。
  3. 請求項2記載の集積回路装置であって、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、
    前記出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に前記第1の判定用参照電圧および前記第2の判定用参照電圧を生成して出力する増加側参照電圧生成出力回路と、
    前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子の電圧が前記生成された第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記生成された第2の判定用参照電圧未満の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出する増加側検出回路と、
    を有する回路である
    集積回路装置。
  4. 請求項2または3記載の集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を前記第1のチップ数から前記第2のチップ数または前記第1のチップ数から該第2のチップ数より多い第3のチップ数に変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中、前記出力端子電圧が前記第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記第2の判定用参照電圧未満であって前記第3の判定用参照電圧以上の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第2のチップ数であることを検出し、前記出力端子電圧が前記第1の判定用参照電圧以上の電圧から前記第3の判定用参照電圧未満の電圧に至ったときには前記動作チップ数が前記第3のチップ数であることを検出する回路である
    集積回路装置。
  5. 請求項1記載の集積回路装置であって、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が所定期間内に所定電圧以上に上昇したときには、該上昇後の出力端子電圧に基づいて前記動作チップ数を検出する回路である
    集積回路装置。
  6. 請求項5記載の集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を第4のチップ数から該第4のチップ数より少ない第5のチップ数に変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記動作チップ数が前記第4のチップ数から前記第5のチップ数に変更されたことを判定するための電圧であって前記第3の判定用参照電圧より高い第4の判定用参照電圧を前記出力端子電圧が超えたときには、前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出する回路である
    集積回路装置。
  7. 請求項6記載の集積回路装置であって、
    前記昇圧供給回路のチップ数検出回路は、
    前記出力端子電圧が高くなるほど高くなる傾向に前記第3の判定用参照電圧および前記第4の判定用参照電圧を生成して出力する減少側参照電圧生成出力回路と、
    前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子の電圧が前記生成された第3の判定用参照電圧以上になると共に該出力端子の電圧が前記生成された第3の判定用参照電圧以上となってから前記所定時間内に前記出力端子電圧が前記生成された第4の判定用参照電圧を超えたときには前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出する減少側検出回路と、
    を有する回路である
    集積回路装置。
  8. 請求項6または7記載の集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、前記所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を前記第4のチップ数から前記第5のチップ数または前記第4のチップ数から該第5のチップ数より少ない第6のチップ数に変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路の前記チップ数検出回路は、前記昇圧スイッチング制御が実行されている最中、前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記出力端子電圧が前記第4の判定用参照電圧より高く該第4の判定用参照電圧より高い第5の判定用参照電圧以下となったときには前記動作チップ数が前記第5のチップ数であることを検出し、前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上になると共に前記出力端子電圧が前記第3の判定用参照電圧以上となってから所定時間内に前記出力端子電圧が前記第5の判定用参照電圧より高くなったときには前記動作チップ数が前記第6のチップ数であることを検出する回路である
    集積回路装置。
  9. 所定電圧で動作する集積回路が搭載された複数の集積回路チップと、電源側から供給される電源側電圧を前記所定電圧に昇圧して前記複数の集積回路チップの集積回路に供給可能な昇圧供給回路と前記複数の集積回路チップのうち少なくとも1つの集積回路チップを選択して該選択した集積回路チップの集積回路が前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作するよう前記集積回路を制御するチップ制御回路とが搭載されたインターポーザと、を備える集積回路装置であって、
    前記チップ制御回路は、所定の制御信号に基づいて前記選択する集積回路チップの数を変更可能な回路であり、
    前記昇圧供給回路は、
    前記電源側電圧が供給される入力端子と前記集積回路チップの集積回路に電圧を供給する出力端子との間に直列に接続されたインダクタと、前記インダクタと前記出力端子との間に直列に接続され電流を前記入力端子から前記出力端子に向かう方向へ整流する整流素子と、前記インダクタと前記整流素子との間で前記インダクタからみて前記出力端子に並列に接続されたスイッチング素子と、を有するブーストコンバータと、
    該ブーストコンバータの出力端子の電圧である出力端子電圧が前記所定電圧に至るよう前記スイッチング素子を制御する昇圧スイッチング制御が実行されている最中に前記出力端子電圧が所定期間内に所定電圧以上の電圧に上昇したときには、該上昇後の出力端子電圧に基づいて前記昇圧供給回路から供給される電圧を用いて動作している集積回路チップの数である動作チップ数を検出するチップ数検出回路と、
    前記検出された動作チップ数に基づいて調整したオン時間およびオフ時間の制御用クロック信号を生成し、該生成した制御用クロック信号を用いて前記昇圧スイッチング制御を実行するスイッチング制御回路と、
    を有する回路である
    集積回路装置。
  10. 請求項1ないし9いずれか1つの請求項に記載の集積回路装置であって
    前記スイッチング制御回路は、前記検出された動作チップ数が所定数以下であるときには前記出力端子電圧の迅速な上昇より前記昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減を優先するよう調整したオン時間およびオフ時間の前記制御用クロック信号を生成し、前記検出された動作チップ数が前記所定数を超えているときには前記昇圧スイッチング制御に伴う消費電力の低減より前記出力端子電圧の迅速な上昇を優先するよう調整したオン時間およびオフ時間の前記制御用クロック信号を生成する回路である
    集積回路装置。
  11. 請求項1ないし10いずれか1つの請求項に記載の集積回路装置であって
    前記集積回路チップに搭載されている集積回路は、フラッシュメモリである
    集積回路装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPWO2021090092A1 (ja) * 2019-11-10 2021-05-14

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8289065B2 (en) * 2008-09-23 2012-10-16 Transphorm Inc. Inductive load power switching circuits
JP5888754B2 (ja) * 2011-05-18 2016-03-22 国立大学法人 東京大学 集積回路装置
JP7525506B2 (ja) 2019-11-11 2024-07-30 株式会社半導体エネルギー研究所 情報処理装置、および情報処理装置の動作方法
KR20220103973A (ko) 2019-11-22 2022-07-25 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 컴퓨터 시스템 및 정보 처리 장치의 동작 방법
JP7685349B2 (ja) * 2021-03-18 2025-05-29 キオクシア株式会社 半導体記憶装置
US11736103B2 (en) * 2021-06-16 2023-08-22 Appleton Grp Llc Voltage source kickstart circuit for powering integrated circuits

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009003991A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Toshiba Corp 半導体装置及び半導体メモリテスト装置
WO2010047140A1 (ja) * 2008-10-20 2010-04-29 国立大学法人東京大学 集積回路装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3110883B2 (ja) * 1992-08-07 2000-11-20 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP4056107B2 (ja) * 1997-06-20 2008-03-05 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路
JP4492935B2 (ja) * 2004-03-08 2010-06-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 昇圧回路および昇圧回路を備えた半導体装置
JP4237207B2 (ja) * 2006-07-07 2009-03-11 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置の製造方法
TWI327421B (en) * 2007-03-07 2010-07-11 Orise Technology Co Ltd Method for stabling voltage, pulse frequency modulating circuit and power supply using the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009003991A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Toshiba Corp 半導体装置及び半導体メモリテスト装置
WO2010047140A1 (ja) * 2008-10-20 2010-04-29 国立大学法人東京大学 集積回路装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021090092A1 (ja) * 2019-11-10 2021-05-14
WO2021090092A1 (ja) * 2019-11-10 2021-05-14 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶装置、記憶装置の動作方法、情報処理装置、情報処理システム、および電子機器
US12237019B2 (en) 2019-11-10 2025-02-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device, operation method of memory device, data processing device, data processing system, and electronic device

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