JP2011085544A - 積層物検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】複数の層が積層されてなる積層物について複数の層が互いにずれて積層された状態であっても汚れを確実に検出する。
【解決手段】複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置であって、複数の層が互いに積層されていない状態における登録画像データ１０ａ〜１０ｃを、積層物の積層状態における互いのずれに応じてずらして重ね合わされることにより比較用画像を生成し、その比較用画像と画像撮影部３０にて撮影された画像とを比較し、比較した差分を汚れとして検出する。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置に関する。

近年、情報化社会の進展に伴って、情報をカードに記録し、該カードを用いた情報管理や決済等が行われている。また、商品等に貼付されるタグやラベルに情報を記録し、このタグやラベルを用いての商品等の管理も行われている。

このようなカードやラベル、タグを用いた情報管理においては、カードやラベル、タグに対して非接触状態にて情報の書き込み及び読み出しを行うことが可能なＩＣチップが搭載された非接触型ＩＣカードや非接触型ＩＣラベル、あるいは非接触型ＩＣタグがその優れた利便性から急速に普及しつつある。

図７は、一般的な非接触型ＩＣラベルの一構成例を示す図であり、（ａ）は表面から見た図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図、（ｃ）は（ｂ）に示したインレット１０５の構成を示す図である。

本構成例は図７に示すように、ウェブ状の剥離紙１０４上に、一方の面にインレット１０５が貼着された表面シート１０２が、インレット１０５が貼着された面を貼着面として貼着されて構成されている。表面シート１０２には、インレット１０５が貼着された面とは反対側の面に印刷層１０３が積層されることによって情報１０３ａが表現されている。インレット１０５は、樹脂シート１０８の一方の面に、互いに直列に並ぶように所定の間隔を有して形成された２つの帯状の導体部１０７ａ，１０７ｂからなるアンテナ１０７が形成されており、この２つの導体部１０７ａ，１０７ｂの一端にそれぞれ設けられた給電点に接続されるように、非接触状態にて情報の書き込み及び読み出しが可能なＩＣチップ１０６が搭載されて構成されている。そして、表面シート１０２の一方の面に積層された粘着剤１０９によって表面シート１０２とインレット１０５とが貼着されているとともに、表面シート１０２及びインレット１０５の一方の面にそれぞれ積層された粘着剤１０９によって、互いに貼着された表面シート１０２とインレット１０５とが剥離紙１０９に剥離可能に貼着されている。

上記のように構成された非接触型ＩＣラベル１０１においては、剥離紙１０４から剥離されて粘着剤１０９によって物品等に貼付され、外部に設けられた情報書込／読出装置（不図示）に近接させることにより、情報書込／読出装置からの電波に共振してアンテナ１０７に電流が流れ、この電流が給電点を介してＩＣチップ１０６に供給され、それにより、非接触状態において、情報書込／読出装置からＩＣチップ１０６に情報が書き込まれたり、ＩＣチップ１０６に書き込まれた情報が情報書込／読出装置にて読み出されたりする。

ここで、上述した非接触型ＩＣラベル１０１のように、印刷層１０３と表面シート１０２とインレット１０５といった複数の層が積層されてなる積層物においては、複数の層を積層する工程等において層間に汚れが付着してしまうことがある。ところが、このような積層物が積層された後においては、複数の層が透明な材料からなるものではない限り、層間に付着した汚れを外部から肉眼で検出することができない。そこで、積層物が積層された後に積層物に赤外線を照射することにより、層間に付着した汚れを検出することが行われている。例えば、汚れが付着していない状態の検査対象物の画像と、実際に赤外線を照射して撮影した検査対象物の画像とを比較することにより、これら画像の差分を用いて汚れを検出することができる。このように、検査対象物に赤外線を照射することにより、検査対象物の内部の汚れ等を検出することは一般的に行われている（例えば、特許文献１参照。）。

特開２００５―３５１６７８号公報

ところで、図７に示したように、ウェブ状の剥離紙４上にインレット１０５及び表面シート１０２が積層されてなる非接触型ＩＣラベル１０１においては、まず、ウェブ状の剥離紙１０４上に単片状のインレット１０５が積層され、その上に印刷層３が積層された表面シート１０２が積層される。そのため、これら剥離紙１０４上へのインレット１０５及び表面シート１０２の積層工程において層間にずれが生じる場合があり、その場合、汚れが付着していない状態の非接触型ＩＣラベル１０１の画像と、実際に赤外線を照射して撮影した非接触型ＩＣラベル１０１の画像とを比較すると、例えば、表面シート１０２とインレット１０５とがθ方向にずれていた場合、表面シート１０２を基準とするとθ方向に傾いたアンテナ１０７が差分として検出され、その差分が汚れとして認識されることになってしまうという問題点がある。このような問題点は、表面シート１０２とインレット１０５とがｘ−ｙ方向にずれていた場合においても生じてしまう。

本発明は、上述したような従来の技術が有する問題点に鑑みてなされたものであって、複数の層が積層されてなる積層物について複数の層が互いにずれて積層された状態であっても汚れを確実に検出することができる積層物検査装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明は、
複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置であって、
前記複数の層が積層されていない状態における前記複数の層毎の画像データを取得する画像データ取得手段と、
前記複数の層が積層された状態において前記複数の層の画像を全て含む前記積層物の画像を撮影する画像撮影手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された画像データと前記画像撮影手段にて撮影された画像とを前記複数の層毎に照合することにより、前記積層物を構成する複数の層のそれぞれについて、前記画像撮影手段にて撮影された画像の前記画像データに対するずれを検出するずれ検出手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された複数の層毎の画像データを、前記ずれ検出手段にて検出されたずれに応じてずらして重ね合わせることにより比較用画像を生成する比較用画像生成手段と、
前記画像撮影手段にて撮影された画像と、前記比較用画像生成手段にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合に当該差分を汚れとして検出する画像比較手段とを有する。

上記のように構成された本発明においては、画像データ取得手段において、積層物を構成する複数の層が積層されていない状態における複数の層毎の画像データが取得され、また、画像撮影手段において、複数の層が積層された状態にて複数の層の画像を全て含む積層物の画像が撮影される。次に、ずれ検出手段において、画像データ取得手段にて取得された画像データと画像撮影手段にて撮影された画像とが複数の層毎に照合され、積層物を構成する複数の層のそれぞれについて、画像撮影手段にて撮影された画像の画像データに対するずれが検出され、比較用画像生成手段において、画像データ取得手段にて取得された画像データが、ずれ検出手段にて検出されたずれに応じてずらして重ね合わされることにより比較用画像が生成される。そして、画像比較手段において、画像撮影手段にて撮影された画像と、比較用画像生成手段にて生成された比較用画像とが比較され、差分が生じた場合にその差分が汚れとして検出される。

このように、複数の層が積層されてなる積層物について、複数の層がずれた状態で積層されている場合、複数の層が積層されていない状態における複数の層毎の画像データがそのずれに応じてずらして重ね合わされることにより比較用画像が生成され、その比較用画像と画像撮影手段にて撮影された画像とが比較され、比較した差分が汚れとして検出されるので、積層物を構成する複数の層が互いにずれて積層された状態であっても、層間の汚れが確実に検出されることになる。

以上説明したように本発明においては、複数の層が積層されてなる積層物について、複数の層がずれた状態で積層されている場合、複数の層が積層されていない状態における複数の層毎の画像データがそのずれに応じてずらして重ね合わされることにより比較用画像が生成され、その比較用画像と画像撮影手段にて撮影された画像とが比較され、比較した差分が汚れとして検出される構成としたため、複数の層が積層されてなる積層物について複数の層が互いにずれて積層された状態であっても汚れを確実に検出することができる。

本発明の積層物検査装置にて検査される積層物の一例となる非接触型ＩＣラベルの構成を示す図であり、（ａ）は表面から見た図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図、（ｃ）は（ｂ）に示したインレットの構成を示す図である。 本発明の積層物検査装置の実施の一形態を示す機能ブロック図である。 図２に示した積層物検査装置において図１に示した非接触型ＩＣラベルの検査を行う動作を説明するためのフローチャートである。 図２に示した画像データ取得部において取得した登録画像データからのずれ検出部位の切出しを説明するための図である。 図２に示したずれ検出部におけるパターンマッチング処理から比較用画像生成部における比較用画像の生成処理までの動作を説明するための図である。 図２に示した画像比較部における比較動作を説明するための図であり、（ａ）は画像撮影部にて撮影された撮影画像を示す図、（ｂ）は比較用画像生成部にて生成された比較用画像を示す図である。 一般的な非接触型ＩＣラベルの一構成例を示す図であり、（ａ）は表面から見た図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図、（ｃ）は（ｂ）に示したインレットの構成を示す図である。

以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。

図１は、本発明の積層物検査装置にて検査される積層物の一例となる非接触型ＩＣラベルの構成を示す図であり、（ａ）は表面から見た図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図、（ｃ）は（ｂ）に示したインレット５の構成を示す図である。

本発明の積層物検査装置にて検査される積層物としては、例えば、図１に示すように、ウェブ状の剥離紙４上に、一方の面にインレット５が貼着された表面シート２が、インレット５が貼着された面を貼着面として貼着されて構成された非接触型ＩＣラベル１が考えられる。この非接触型ＩＣラベル１は、表面シート２において、インレット５が貼着された面とは反対側の面に印刷層３が積層されることによって情報３ａが表現されている。また、インレット５は、樹脂シート８の一方の面に、互いに直列に並ぶように所定の間隔を有して形成された２つの帯状の導体部７ａ，７ｂからなるアンテナ７が形成されており、この２つの導体部７ａ，７ｂの一端にそれぞれ設けられた給電点に接続されるように、非接触状態にて情報の書き込み及び読み出しが可能なＩＣチップ６が搭載されて構成されている。そして、表面シート２の一方の面に積層された粘着剤９によって表面シート２とインレット５とが貼着されているとともに、表面シート２及びインレット５の一方の面にそれぞれ積層された粘着剤９によって、互いに貼着された表面シート２とインレット５とが剥離紙９に剥離可能に貼着されている。

上記のように構成された非接触型ＩＣラベル１においては、剥離紙４から剥離されて粘着剤９によって物品等に貼付され、外部に設けられた情報書込／読出装置（不図示）に近接させることにより、情報書込／読出装置からの電波に共振してアンテナ７に電流が流れ、この電流が給電点を介してＩＣチップ６に供給され、それにより、非接触状態において、情報書込／読出装置からＩＣチップ６に情報が書き込まれたり、ＩＣチップ６に書き込まれた情報が情報書込／読出装置にて読み出されたりする。

図２は、本発明の積層物検査装置の実施の一形態を示す機能ブロック図であり、図１に示した非接触型ＩＣラベル１の検査を行うものである。

本形態は図２に示すように、図１に示した非接触型ＩＣラベル１を構成する印刷層３、表面シート２及びインレット５の画像となる登録画像データ１０ａ〜１０ｃを取得する画像データ取得部２０と、図１に示した非接触型ＩＣラベル１の画像を撮影する画像撮影部３０と、印刷層３、表面シート２及びインレット５のそれぞれについて、画像撮影部３０にて撮影された画像の画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃに対するずれを検出するずれ検出部４０と、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃのそれぞれを、ずれ検出部４０にて検出されたずれに応じて重ね合わせることにより比較用画像を生成する比較用画像生成部５０と、画像撮影部３０にて撮影された画像と、比較用画像生成部５０にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合にその差分を汚れとして検出する画像比較部６０とから構成されている。

登録画像データ１０ａ〜１０ｃは、検査対象となる非接触型ＩＣラベル１を構成する複数の層毎の画像データである。具体的には、登録画像データ１０ａが印刷層３の画像データであり、登録画像データ１０ｂが表面シート２の画像データであり、登録画像データ１０ｃがインレット５の画像データであり、これらはそれぞれ、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層されていない状態における画像データである。

画像データ取得部２０は、登録画像データ１０ａ〜１０ｃ、すなわち、非接触型ＩＣラベル１が積層されていない状態における、印刷層３、表面シート２及びインレット５の画像データを取得する。

画像データ撮影部３０は、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層されてなる非接触型ＩＣラベル１に対して赤外線を照射することにより、印刷層３、表面シート２及びインレット５それぞれの画像を全て含む非接触型ＩＣラベル１の画像を撮影する。

ずれ検出部４０は、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃと、画像撮影部３０にて撮影された画像とを、印刷層３、表面シート２及びインレット５の複数の層毎にパターンマッチングすることにより、印刷層３、表面シート２及びインレット５のそれぞれについて、画像撮影部３０にて撮影された画像の画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃに対するずれを検出する。

比較用画像生成部５０は、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃを、ずれ検出部４０にて検出されたずれに応じて重ね合わせることにより比較用画像を生成する。

画像比較部６０は、画像撮影部３０にて撮影された画像と、比較用画像生成部５０にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合にその差分を汚れとして検出し、汚れ情報として出力する。

以下に、上記のように構成された積層物検査装置において図１に示した非接触型ＩＣラベル１の検査を行う動作について説明する。

図３は、図２に示した積層物検査装置において図１に示した非接触型ＩＣラベル１の検査を行う動作を説明するためのフローチャートである。

まず、画像データ取得部２０において、登録画像データ１０ａ〜１０ｃが取得される（ステップＳ１）。ここで、登録画像データ１０ａ〜１０ｃは、それぞれ、上述したように非接触型ＩＣラベル１を構成する印刷層３、表面シート２及びインレット５の画像データであり、これらはそれぞれ、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層されていない状態における画像データとなっている。そのため、画像データ取得部２０においては、互いに積層されていない状態における印刷層３、表面シート２及びインレット５それぞれの画像データが取得されることになる。なお、登録画像データ１０ａ，１０ｃは、コンピュータ処理上のデータ、すなわち、印刷層３を構成するための印刷データや、インレット５上のアンテナ７及びＩＣチップ６の配置位置及び形状を示すデータとして保持されていてもよいし、表面シート２上に積層された印刷層３やインレット５を予め撮影し、その撮影画像として保持されていてもよい。また、表面シート２の登録画像データ１０ｂは、その外形のみが認識可能なものであればよい。

画像データ取得部２０においては、登録画像データ１０ａ〜１０ｃが取得されると、取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃのそれぞれについて、ずれを検出するためのずれ検出部位が切出される（ステップＳ２）。

図４は、図２に示した画像データ取得部２０において取得した登録画像データ１０ａ〜１０ｃからのずれ検出部位の切出しを説明するための図である。

画像データ取得部２０において印刷層３の登録画像データ１０ａが取得されると、図４（ａ）に示すように、この登録画像データ１０ａにてずれ検出部位となる切出し部１２ａが指定され、図４（ｂ）に示すように、この切出し部１２ａが登録画像データ１０ａから切出される。本例においては、印刷層３のうち、情報３ａによる絵柄パターンを含む領域が切出し部１２ａとして切出される。

また、画像データ取得部２０においては、図４（ｃ）に示すように、表面シート２の登録画像データ１０ｂも取得されるが、表面シート２の登録画像データ１０ｂにおいては、その外形をずれ検出部位とするため、切出し部が切出されない。

また、画像データ取得部２０においてインレット５の登録画像データ１０ｃが取得されると、図４（ｄ）に示すように、この登録画像データ１０ｃにてずれ検出部位となる切出し部１２ｃが指定され、図４（ｅ）に示すように、この切出し部１２ｃが登録画像データ１０ｃから切出される。本例においては、インレット５のうちＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂが配置された領域が切出し部１２ｃとして切出される。

なお、切出し部１２ａ，１２ｃとなる領域は、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層された状態において互いに重なり合わないように予め設定されており、その設定に基づいて切出し部１２ａ，１２ｃが指定されることになる。

また、画像データ撮影部３０において、非接触型ＩＣラベル１に対して赤外線を照射することにより、非接触型ＩＣラベル１の画像が撮影される（ステップＳ３）。非接触型ＩＣラベル１は、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層されて構成されたものであって、非接触型ＩＣラベル１に対して赤外線が照射された状態で撮影されると、印刷層３、表面シート２及びインレット５それぞれの画像を全て含む非接触型ＩＣラベル１の画像が撮影されることになる。

次に、ずれ検出部４０において、画像撮影部３０にて撮影された画像と、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｂ及び登録画像データ１０ａ，１０ｃから切出された切出し部１２ａ，１２ｃとが、印刷層３、表面シート２及びインレット５のそれぞれについてパターンマッチングによって照合され（ステップＳ４）、印刷層３、表面シート２及びインレット５のそれぞれについて、画像撮影部３０にて撮影された画像の、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｂ及び登録画像データ１０ａ，１０ｃから切出された切出し部１２ａ，１２ｃに対するずれが検出される（ステップＳ５）。

そして、上述したパターンマッチング及びずれの検出処理が、印刷層３、表面シート２及びインレット５の全ての層について行われた後（ステップＳ６）、比較画像生成部５０において、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃが、ずれ検出部４０にて検出されたすれに応じて重ね合わされることにより比較用画像が生成される（ステップＳ７）。

ここで、上述したパターンマッチング処理から比較用画像の生成処理までの動作について詳細に説明する。

図５は、図２に示したずれ検出部４０におけるパターンマッチング処理から比較用画像生成部６０における比較用画像の生成処理までの動作を説明するための図であり、図１に示した非接触型ＩＣラベル１について、印刷層３が表面シート２に対して図中左上方向にずれ、インレット５が表面シート２に対して図中時計回りにずれている場合を示す。

ずれ検出部４０において、まず、図５（ａ）に示すように、画像撮影部３０にて撮影された撮影画像３１と、画像データ取得部２０にて取得された印刷層３の登録画像データ１０ａから切出された切出し部１２ａとがパターンマッチングによって重ね合わされる。まず、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａから切出された切出し部１２ａが、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の画像上に重ね合わされ、そして、切出し部１２ａ上における情報１３ａと撮影画像３１における情報３ａとが一致するように切出し部１２ａがずらされる。図５（ａ）に示したものにおいては、撮影画像３１における情報３ａが切出し部１２ａにおける情報１３ａに対して図中左上側にずれているため、切出し部１２ａが図中左上方向にずらされる。そして、切出し部１２ａ上における情報１３ａと撮影画像３１における情報３ａとが一致した状態において、撮影画像３１の図中左上端基準とした切出し部１２ａの位置が検出される。なお、撮影画像３１における情報３ａは、非接触型ＩＣラベル１の表面シート２に対してｘ−ｙ方向及びθ方向にずれている可能性があるため、切出し部１２ａの位置は、撮影画像３１の図中左上端基準として切出し部１２ａの少なくとも所定の２点の位置情報を検出することによって検出される。これにより、印刷層３について、画像撮影部３０にて撮影された画像の画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａに対するずれが検出されることになる。

次に、ずれ検出部４０において、画像撮影部３０にて撮影された撮影画像３１と、画像データ取得部２０にて取得された表面シート２の登録画像データ１０ｂとがパターンマッチングによって重ね合わされる。まず、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｂが、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の画像上に重ね合わされ、そして、登録画像データ１０ｂ上における表面シート２の外形と撮影画像３１における表面シート２の外形とが一致するように登録画像データ１０ｂがずらされる。そして、登録画像データ１０ｂ上における表面シート２の外形と撮影画像３１における表面シート２の外形とが一致した状態において、撮影画像３１の図中左上端基準とした登録画像データ１０ｂの相対位置が検出される。登録画像データ１０ｂ上における表面シート２の外形と撮影画像３１における表面シート２の外形とが一致するように登録画像データ１０ｂがずらされると、登録画像データ１０ｂ上における表面シート２の一部が、撮影画像３１における表面シート２からはみ出ることになり、撮影画像３１からはみ出た領域は削除される。

次に、図５（ｂ）に示すように、画像撮影部３０にて撮影された撮影画像３１と、画像データ取得部２０にて取得されたインレット５の登録画像データ１０ｃから切出された切出し部１２ｃとがパターンマッチングによって重ね合わされる。まず、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｃから切出された切出し部１２ｃが、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の画像上に重ね合わされ、そして、切出し部１２ｃ上におけるＩＣチップ１６及び導体部１７ａ，１７ｂと撮影画像３１におけるＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂとが一致するように切出し部１２ｃがずらされる。図５（ｂ）に示したものにおいては、撮影画像３１における導体部７ａ，７ｂが切出し部１２ｃにおける導体部１７ａ，１７ｂに対して図中時計回りにθだけずれているため、切出し部１２ｃが図中時計回りにθだけずらされる。そして、切出し部１２ｃ上におけるＩＣチップ１６及び導体部１７ａ，１７ｂと撮影画像３１におけるＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂとが一致した状態において、撮影画像３１の図中左上端基準とした切出し部１２ｃの位置が検出される。なお、撮影画像３１におけるＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂは、非接触型ＩＣラベル１の表面シート２に対してｘ−ｙ方向及びθ方向にずれている可能性があるため、切出し部１２ｃの位置は、撮影画像３１の図中左上端基準として切出し部１２ｃの少なくとも所定の２点の位置情報を検出することによって検出される。これにより、インレット５について、画像撮影部３０にて撮影された画像の画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｃに対するずれが検出されることになる。

その後、比較用画像生成部５０において、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ａ〜１０ｃが、上記のようにして検出されたずれに応じて配置されるように互いに重ね合わせることにより比較用画像が生成される。本例においては、上述したように、印刷層２については、撮影画像３１における情報３ａが、登録画像データ１０ａから切出された切出し部１２ａにおける情報１３ａに対して図中左上側にずれており、また、インレット５については、撮影画像３１における導体部７ａ，７ｂが、登録画像データ１０ｃから切出された切出し部１３ｃにおける導体部１７ａ，１７ｂに対して図中時計回りにθだけずれているため、図５（ｃ）に示すように、図１に示した非接触型ＩＣラベル１に対して印刷層３による情報３ａが図中左上方向にずらされて情報５３ａとして表示されるとともに、インレット５の導体部７ａ，７ｂが図中時計回りにずらされて導体部５７ａ，５７ｂとして配置された比較用画像５１が生成されることになる。

ここで、画像撮影部３０にて撮影された画像と、画像データ取得部２０にて取得された登録画像データ１０ｂ及び登録画像データ１０ａ，１０ｃから切出された切出し部１２ａ，１２ｃとが、印刷層３、表面シート２及びインレット５のそれぞれについてパターンマッチングによって重ね合わされた際、画像撮影部３０にて撮影された画像における情報３ａやＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂのずれが所定量以上であった場合、積層工程において不具合が発生したものとしてエラーを出力することも考えられる。これは、画像撮影部３０にて撮影された画像における情報３ａやＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂのずれが所定量以上であると、画像撮影部３０にて撮影された画像において印刷層３による情報３ａとインレット５のＩＣチップ６や導体部７ａ，７ｂとが重なり合ってしまい、上述したようなパターンマッチングを行うことができなくなってしまうためである。

その後、画像比較部６０において、画像撮影部３０にて撮影された画像と、比較用画像生成部５０にて生成された比較用画像とが、例えば、明度判定によって比較され（ステップＳ８）、差分が生じた場合にその差分が汚れとして検出され、汚れ情報として出力される（ステップＳ９）。

図６は、図２に示した画像比較部６０における比較動作を説明するための図であり、（ａ）は画像撮影部３０にて撮影された撮影画像３１を示す図、（ｂ）は比較用画像生成部５０にて生成された比較用画像５１を示す図である。

上述したように、比較用画像生成部５０においては、画像データ取得部２０にて取得された印刷層３、表面シート２及びインレット５の登録画像データ１０ａ〜１０ｃが、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の画像に応じてずらされているため、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の撮影画像３１が図６（ａ）に示すようなものである場合、比較用画像５１における情報５３ａ、ＩＣチップ５６及び導体部５７ａ，５７ｂは、図６（ｂ）に示すように、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の撮影画像３１における情報３ａ、ＩＣチップ６及び導体部７ａ，７ｂに応じた位置に配置されている。

そのため、これら画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の撮影画像３１と比較用画像生成部５０にて生成された比較用画像５１とが比較されると、非接触型ＩＣラベル１の層間に汚れが存在し、図６（ａ）に示すように、画像撮影部３０にて撮影された非接触型ＩＣラベル１の撮影画像３１にその汚れ７０が含まれている場合、その汚れ７０のみが差分として検出されることになり、その差分を汚れ情報として出力することができる。

このように本形態においては、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層されていない状態における登録画像データ１０ａ〜１０ｃが、非接触型ＩＣラベル１の積層状態における互いのずれに応じてずらして重ね合わされることにより比較用画像が生成され、その比較用画像と画像撮影部３０にて撮影された画像とが比較され、比較した差分が汚れとして検出される構成としたため、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いにずれて積層された状態であっても、印刷層３、表面シート２及びインレット５間に存在する汚れを確実に検出することができる。

なお、本形態においては、複数の層が積層されてなる積層物として、印刷層３、表面シート２及びインレット５が互いに積層された非接触型ＩＣラベル１を例に挙げて説明したが、本発明の積層物検査装置にて検査可能な積層物は、複数の層が積層されてなるものであればこれに限らない。例えば、紙や不織布等からなるベース基材上に、電極が積層されるとともにこの電極に接続された薄型の電池が配置され、この電極上に薬剤が添加された薬剤添加ゲルが積層されてなるイオントフォレシスデバイスが挙げられる。このようなイオントフォレシスデバイスにおいても、ベース基材上に電極が配置されるとともに薄型の電池が配置され、その後、電極上に薬剤添加ゲルが積層されるため、積層工程において、これら複数の層間にてずれが生じることがあり、このずれが生じた場合であっても、本発明の積層物検査装置によって汚れを確実に検出することができるようになる。

１ 非接触型ＩＣラベル
２ 表面シート
３ 印刷層
３ａ，１３ａ，５３ａ 情報
４ 剥離紙
５ インレット
６，５６ ＩＣチップ
７ アンテナ
７ａ，７ｂ，１７ａ，１７ｂ，５７ａ，５７ｂ 導体部
８ 樹脂シート
９ 粘着剤
１０ａ〜１０ｃ 登録画像データ
１２ａ，１２ｃ 切出し部
２０ 画像データ取得部
３０ 画像撮影部
３１ 撮影情報
４０ ずれ検出部
５０ 比較用画像生成部
５１ 比較用画像
６０ 画像比較部
７０ 汚れ

Claims (1)

1. 複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置であって、
   前記複数の層が積層されていない状態における前記複数の層毎の画像データを取得する画像データ取得手段と、
   前記複数の層が積層された状態において前記複数の層の画像を全て含む前記積層物の画像を撮影する画像撮影手段と、
   前記画像データ取得手段にて取得された画像データと前記画像撮影手段にて撮影された画像とを前記複数の層毎に照合することにより、前記積層物を構成する複数の層のそれぞれについて、前記画像撮影手段にて撮影された画像の前記画像データに対するずれを検出するずれ検出手段と、
   前記画像データ取得手段にて取得された複数の層毎の画像データを、前記ずれ検出手段にて検出されたずれに応じてずらして重ね合わせることにより比較用画像を生成する比較用画像生成手段と、
   前記画像撮影手段にて撮影された画像と、前記比較用画像生成手段にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合に当該差分を汚れとして検出する画像比較手段とを有する積層物検査装置。

Images