JP2011081661A - 試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】インタフェース試験の進捗状況や試験結果を確認しながら一元的に試験の実施を支援する試験装置を提供する試験装置を提供する。
【解決手段】入出力モジュールが送受信する入出力信号を取得する入出力部１０と、入出力部１０が取得した複数の入出力信号の値を入出力モジュールの端子の配置順に整理する配列部２０と、プログラマブルコントローラ４００が有する出力信号の値を試験用の出力信号の値に書き換える変換部３０と、インタフェース試験の対象である入出力モジュールを特定し、特定された入出力モジュールを用いた入出力回路の構成や特性を規定する入出力回路情報と、前記入出力信号が有する信号識別情報、制御内容、制御条件及び制御状態を規定する入出力信号情報とを抽出する抽出部４０と、入出力部１０が取得した入出力信号の値及び抽出部４０が抽出した入出力回路情報及び入出力信号情報を表示する表示部５０とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、稼動中のプラント制御システムに対するインタフェース試験の支援を行う試験装置に関する。

制御対象のプラントをに応じた制御システムを構築し、実際の機械設備での制御運転の調整を実施するにあたり、プラント機器である各機械設備のアクチュエータ、センサー及び制御操作装置からの入出力信号が、入出力モジュールを介して制御するプログラマブルコントローラ上の入出力信号として正しく認識されているかどうかを実際にチェックする必要がある。例えば、センサーをオンあるいはオフさせてプログラマブルコントローラ側の入力信号の値を専用ツールでモニターしたり、同様に専用ツールを用いてプログラマブルコントローラから試験的にオンの出力信号を送信して出力インタフェースの回路のオンあるいはオフの状態を確認することで、入出力信号を送受信する入出力インタフェースが正しく接続されているかどうかをチェックする。通常このようなチェック作業はプラント機器が配置される現場側に回路図面及び専用ツール等を持ち込んで実施することが困難なため、プログラマブルコントローラ盤等が配置されている場所で専用ツールを使用して現場側の試験オペレータとトランシーバ等で確認しながら実施する。プラントにおけるインタフェース試験は、数千点以上にも及び、プラント内に広く点在しているアクチュエータ、センサー及び制御操作装置等のプラント機器の信号等について、１点ずつ実施する必要がある。また、１点毎の試験確認作業も通常は二人で実施するため作業自体が煩雑な上、トラブル発生時の調査対応にも膨大な時間を必要とする。

そこで、周期的にプラントと入出力し、機器の動作状態を複数の入力要素から入力し、プログラムによる動作状態を反映した制御演算の結果を複数の出力要素へ出力する試験装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。しかし、試験作業中において進捗状況が不明であり、一度実施した試験を重複して実施してしまうという問題がある。また、試験結果の記録も通常紙の回路図へのマーキングやコメント書き込みにより実施しており、試験状況の報告や試験結果のエビデンスもこの紙の資料を用いているため手間が掛かるという問題もある。

特許第３７１３１５０号公報

上記問題点を鑑み、本発明は、インタフェース試験の進捗状況や試験結果を確認しながら一元的に試験の実施を支援する試験装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の様態は、入出力モジュールを介してプラント機器を制御するプログラマブルコントローラを用い、入出力モジュールとのインタフェース試験を行う試験装置に関する。すなわち、本発明の様態に係る試験装置は、（イ）入出力モジュールが送受信する入力信号及び出力信号をプログラマブルコントローラを経由して取得する入出力部と、（ロ）入出力部が取得した複数の入力信号及び出力信号の値を入出力モジュールの端子の配置順に整理する配列部と、（ハ）プログラマブルコントローラが有する出力信号の値をインタフェース試験用の出力信号の値に書き換える変換部と、（ニ）インタフェース試験の対象である入出力モジュールを特定し、特定された入出力モジュールを用いた入出力回路の構成や特性を規定する入出力回路情報と、入出力信号が有する信号識別情報、制御内容、制御条件及び制御状態を規定する入出力信号情報とを抽出する抽出部と、（ホ）入出力部が取得し配置部が配置した入出力信号の値及び抽出部が抽出した入出力回路情報及び入出力信号情報を表示する表示部とを備えることを要旨とする。

本発明によれば、インタフェース試験の進捗状況や試験結果を確認しながら一元的に試験の実施を支援する試験装置を提供することができる。

本発明の第１の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第１の実施の形態に係る試験装置のシステム構成図である。 本発明の第１の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。 本発明の第１の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。 本発明の第２の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第３の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第４の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第４の実施の形態に係るビット入力信号の概略図である。 本発明の第４の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。 本発明の第５の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第５の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。 本発明の第６の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第６の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。 本発明の第７の実施の形態に係る試験装置のブロック図である。 本発明の第７の実施の形態に係る試験方法のフローチャート図である。

次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一または類似の部分には同一または類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、装置やシステムの構成等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な構成は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの構成の異なる部分が含まれていることは勿論である。

また、以下に示す本発明の実施の形態は、本発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものではない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。

（第１の実施の形態）
＜試験装置の構成＞
本発明の実施の形態に係る試験装置は、図１に示すように、入出力部１０、配列部２０、変換部３０、抽出部４０及び表示部５０を備え、図２に示すように、入出力モジュール（第１の入出力モジュール２０１、第２の入出力モジュール２０２及び第ｎの入出力モジュール２０３）を介してプラント機器（第１のプラント機器３０１、第２のプラント機器３０２及び第３のプラント機器３０３）を制御するプログラマブルコントローラ４００を用い、入出力モジュールとのインタフェース試験を行う。

入出力部１０は、入出力モジュール２０１〜２０３が送受信する入力信号及び出力信号をプログラマブルコントローラ４００を経由して取得する。

配列部２０は、入出力部１０が取得した複数の入力信号及び出力信号の値を入出力モジュール２０１〜２０３の端子の配置順に整理する。

変換部３０は、プログラマブルコントローラ４００が有する出力信号の値を試験用の出力信号の値に書き換える。

抽出部４０は、インタフェース試験の対象である入出力モジュール２０１〜２０３を特定し、特定された入出力モジュール２０１〜２０３が有する入出力回路の構成や特性を規定する入出力回路情報と、入出力信号が有する信号識別情報、制御内容、制御条件及び制御状態を規定する入出力信号情報とを抽出する。入出力回路情報及び入出力信号情報は、テキストデータ及びイメージデータ等によって予め設定された情報であり、図示しない記憶装置等に蓄積される。なお、入出力回路情報は、入出力モジュールが有する入出力回路のイメージデータ及び入出力モジュールのデバイス番号等を含む。また、入出力信号情報は、入出力信号の名称、入出力信号アドレス及び信号コメント等を含む。

表示部５０は、入出力部１０が取得し配置部２０が配置した入出力信号の値及び抽出部４０が生成した入出力回路情報及び入出力信号情報等を表示する。

ここで、プラント機器３０１〜３０３とはプラントの機械設備であるモータドライブ装置、アクチュエータ、センサー及び操作装置が有する操作ボタン、ランプ表示器及び数値表示器が該当する。プラント機器３０１〜３０３は、これらの機器から入出力される入出力信号を送受信する入出力モジュール２０１〜２０３を経由して、プログラマブルコントローラ４００に接続される。試験装置１００とプログラマブルコントローラ４００とは通信ネットワークを経由して接続される。

＜試験装置による入力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第１の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の入力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図３のフローチャートを参照しながら説明する。

（イ）ステップＳ１０１において、図１に示す入出力部１０は、図２に示すプログラマブルコントローラ４００から入出力モジュール２０１〜２０３へ入力される入力信号を取得する。

（ロ）ステップＳ１０２において、配置部２０は、入出力部１０が取得した入力信号を入出力モジュール２０１〜２０３におけるそれぞれの入力モジュールの端子の配置順に並べ替える。ステップＳ１０３において、抽出部４０は、試験対象である第１の入出力モジュール２０１の回路図面等に関する入出力回路情報を抽出する。

（ハ）ステップＳ１０４において、表示部５０は、入出力部１０が入出力モジュール２０１〜２０３から取得し配列部２０が入力モジュールの端子の配置順に並び替えた入力信号の値及び抽出部４０が抽出した試験対象である第１の入出力モジュール２０１を用いた回路図面を表示する。表示された入力信号の値は、入出力部１０が新たな入力信号を取得した際に更新される。

このようにして、第１の入出力モジュール２０１に接続される第１のプラント機器３０１の電源がオンあるいはオフの制御作業に連動して、表示部５０が表示する第１の入出力モジュールに該当する入力信号の値が変化するかどうかを確認することでインタフェース試験を実施することができる。

＜試験装置による出力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第１の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の出力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図４のフローチャートを参照しながら説明する。

（イ）ステップＳ２０１において、入出力部１０は、プログラマブルコントローラが有する出力信号で、試験対象である第２の入出力モジュール２０２に対応した複数の出力信号を取得する。ステップＳ２０２において、抽出部４０は、試験対象の第２の入出力モジュール２０２の回路図面等に関する入出力回路情報を抽出する。

（ロ）ステップＳ２０３において、表示部５０は、第２の入出力モジュール２０２の複数の出力信号及び第２の入出力モジュール２０２の回路情報を表示する。ステップＳ２０４において、変換部３０は、プログラマブルコントローラ４００が有する第２の入出力モジュール２０２に対応する出力信号の値を試験用の出力信号の値に書き換える。

（ハ）ステップＳ２０５において、表示部５０は、変換部３０が書き換えた出力信号の値に対応する第２の入出力モジュール２０２の出力信号の変更した値を表示する。

このようにして、プログラマブルコントローラ４００の出力信号の値を試験用の出力信号の値に書き換え、表示部５０が表示する対応した出力信号も変更されるのを確認することで試験を実施することができる。

このようにして、表示部５０による、入出力モジュールが受信するインタフェース試験用の出力信号の表示に連動して、第２のプラント機器３０２のインタフェース信号がオンあるいはオフの制御作業が実行されているかどうかを確認することでインタフェース試験を実施することができる。

以上説明したように、本発明の第１の実施の形態に係る試験装置１００は、プログラマブルコントローラ４００が有する制御用のアプリケーションプログラム及び入出力モジュール２０１〜２０３の設定を変更することなく、入出力モジュール２０１〜２０３にそれぞれ接続されるアクチュエータ及びセンサー等、更には配線等についてのインタフェース試験を効率よく実施できる。また、入出力モジュール２０１〜２０３の回路情報を表示することで、インタフェース試験で不良が発見された箇所を回路図等の回路情報を使用して表示することで、不良原因の調査や処置等にも効率よく対応でき、復旧処置等に対する作業時間や工数の削減が可能となる。さらに、インタフェース試験で必要となるプログラマブルコントローラ上での入出力信号の値を表示し、試験用の値に書き換え、入出力モジュールの回路図面を表示することで、インタフェース試験で必要な機能が全て１つの試験装置で対応できる。そのため、インタフェース試験の作業効率を大幅に改善することができる。さらにまた、従来は現場側で出力信号の確認、センサー等の入力信号の入力等、試験操作を行う試験オペレータと、プログラマブルコントローラ側でエンジニアリングツールを用いてプログラマブルコントローラ側の入出力信号の値の確認や試験信号の出力操作を行う試験オペレータとの２人の作業となっていたが、本発明の試験装置は、試験装置だけでインタフェース試験の作業を集約し、専用のエンジニアリング操作は不要となるため、現場側における一人作業を実現することができる。

（第２の実施の形態）
本発明の第２の実施の形態に係る試験装置は、図５に示すように、第１の実施の形態に係る試験装置に対して、インタフェース試験の履歴及び試験結果を作成する報告部６０を更に備え、表示部５０は、インタフェース試験の履歴及び試験結果を表示する。

また、インタフェース試験の履歴及び試験結果を図示しない記憶装置に蓄積することで、インタフェース試験のノウハウを他の試験オペレータ及び第三者に広く水平展開することが可能となる。

（第３の実施の形態）
本発明の第３の実施の形態に係る試験装置は、図６に示すように、第１の実施の形態に係る試験装置に対して、インタフェース試験の進捗状況及び試験結果と回路情報を併合する併合部６１を更に備え、表示部５０は、回路情報が有する回路図と共に回路図に併合されたインタフェース試験の進捗履歴及び試験結果を表示する
これによって、入出モジュール２０１〜２０３の回路に対するインタフェース試験の進捗を明確にすると共に、インタフェース試験の合格した箇所及び不合格の箇所を回路図上に明示することができる。そのため、試験オペレータは不良箇所に対して迅速に修理等の処理と施すことが可能になる。

（第４の実施の形態）
＜試験装置の構成＞
本発明の第４の実施の形態に係る試験装置は、図７に示すように、第１の実施の形態に係る試験装置に対して、変換部３０を備えず、インタフェース試験に用いるパルス状のビット入力信号に関する定義情報を設定する設定部７０と、入出力モジュールがプラント機器３０１〜３０３から受信したビット入力信号と設定部が設定したパルス状のビット入力信号とが一致するか否かを判定する判定部８０とを更に備える。すなわち、判定部８０は、第１のプラント機器３０１である操作装置の操作ボタン押した際に、第１の入出力モジュール２０１が受信する入力信号の波形パターンと、予め設定部７０が設定する入力信号の波形パターンとが一致しているか否かを判定する。

ここで、「定義情報」とは、プログラマブルコントローラ４００がプラント機器３０１〜３０３を制御する際に、入出力モジュール２０１〜２０３がプラント機器３０１〜３０３から受信する入力信号に関する情報であり、制御内容、制御条件及び入力信号の波形パターン等を含む。図８はパルス状のビット入力信号における波形パターンの一例である。図８（ａ）に示すインタフェース試験で用いるビット入力信号と、図８（ｂ）に示す第１のプラント機器３０１が第１の入出力モジュール２０１に入力する入力信号とは完全には一致しないため、判定部８０が判定する波形パターンのパターンマッチングの条件として、パルス間隔等に関して一致条件の許容範囲を設ける必要がある。波形に関する一致条件の許容範囲も定義情報に含まれる。

＜試験装置による入力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第４の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の出力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図９のフローチャートを参照しながら説明する。

（イ）ステップＳ３０１において、設定部７０は、インタフェース試験用のビット入力信号を設定する。ステップＳ３０２において、入出力部１０は、第１のプラント機器３０１が第１の入出力モジュール２０１に入力する入力信号を取得する。

（ロ）ステップＳ３０３において、判定部８０は、設定部７０が設定したインタフェース試験用のビット入力信号と、入出力部１０が取得した第１の入出力モジュールが受信した入力信号とが一致するか否かを比較する。

以上説明したように、本発明の第４の実施の形態に係る試験装置１０３は、インタフェース試験用に設定したビット入力信号と、制御対象の入出力モジュールがプラント機器から受信した入力信号とが一致するか否かを自動的に判定することで、試験オペレータによる作業負担を劇的に削減し、試験精度も向上する。また、人為的なミスを著しく減少させることができる。

（第５の実施の形態）
＜試験装置の構成＞
本発明の第５の実施の形態に係る試験装置は、図１０に示すように、第１の実施の形態に係る試験装置に対して、インタフェース試験に用いるパルス状のビット出力信号に関する定義情報を設定する設定部８０と、ビット出力信号によってプラント機器が出力する出力結果を撮像する撮像部９０と、撮像部が撮像した画像から、インタフェース試験が実施される一定期間における時系列変化のパターンを認識する認識部１１と、撮像部の撮像領域において座標系を定義し、画像から被撮像物であるプラント機器の座標系における座標情報を取得する座標取得部１２と、定義情報は、ビット出力信号の波形のパターン及びビット出力信号に対応するプラント機器の座標情報である仮想座標情報を含み、ビット出力信号の波形のパターンと撮像部が撮像した画像における時系列変化のパターンとが一致するか否かを判定し、更に仮想座標情報とビット出力信号によって制御後のプラント機器の座標情報である実座標情報とが一致するか否かを判定する判定部９０とを更に備える。

すなわち、第２の入出力モジュール２０２に対するインタフェース試験を実施する際、設定部７０は、第２のプラント機器３０２である操作装置のランプ表示器を制御する出力信号としてインタフェース試験用のビット出力信号を設定する。撮像部９０は、インタフェース試験用のビット出力信号によるランプ表示器の制御状態を撮像する。座標取得部１２は、撮像部９０が撮像する領域において座標系を定義し、定義した座標系における撮像対象のランプ表示器の座標をインタフェース試験を実施している間、継続して取得する。また、設定部７０は、ビット出力信号に対応するランプ表示器の座標の情報も定義する。判定部８０は、インタフェース試験用のビット出力信号の波形のパターンと撮像部９０が撮像したランプ表示器の画像から認識部１１が認識する変化のパターンとが一致するか否かを判定する。さらに、インタフェース試験用のビット出力信号に対応するランプ表示器の座標情報と撮像部９０が撮像したインタフェース試験中のランプ表示器の画像から取得した座標情報とが一致するか否かを判定部８０が判定する。

＜試験装置による出力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第５の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の出力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図１１のフローチャートを参照しながら説明する。

（イ）ステップＳ４０１において、設定部７０は、インタフェース試験用のビット出力信号の波形パターン及び座標取得部１２が定義する座標系で、ビット出力信号に対応する第２のプラント機器３０２であるランプ表示器の座標情報を設定する。ステップＳ４０２において、撮像部９０は、インタフェース試験の対象である第２の入出力モジュール２０２に接続されるランプ表示器を撮像する。

（ロ）ステップＳ４０３において、座標取得部１２は、撮像部９０が撮像した画像からランプ表示機の座標情報を取得する。ステップＳ４０４において、設定部７０が設定したビット出力信号の波形パターン及び認識部１１によって画像から認識される試験による変化のパターンが一致するか否かを判定する。さらに、設定部７０が設定したビット出力信号に対応するランプ表示器の座標情報及び座標取得部１２によって画像から取得されるランプ表示器の座標情報が一致するか否かを判定する。

以上説明したように、本発明の第５の実施の形態に係る試験装置１０４は、インタフェース試験の対象となる入出力モジュールに接続されたプラント機器が遠隔地に配置されている場合でも、撮像機能により一元的にインタフェース試験を実施することが可能となる。

（第６の実施の形態）
＜試験装置の構成＞
本発明の第６の実施の形態に係る試験装置は、図１２に示すように、第１の実施の形態に係る試験装置に対して、インタフェース試験に用いるワード出力信号に関する定義情報を設定する設定部７０と、インタフェース試験が実施される一定期間においてプラント機器３０１〜３０３を撮像する撮像部９０と、撮像部９０が撮像した画像を解析し、画像の中の変化する領域から文字情報を抽出する画像解析部１３と、定義情報は、ワード出力信号に対応してプラント機器３０１〜３０３が出力する文字情報である仮想文字情報を含み、仮想文字情報と画像解析部１３が抽出する文字情報である実文字情報とが一致するか否かを判定する判定部９０とを更に備える。

すなわち、第２の入出力モジュール２０２に対するインタフェース試験を実施する際、設定部８０は、第２のプラント機器３０２である操作装置の数値表示器を制御する出力信号としてインタフェース試験用のワード出力信号を設定する。設定内容は、ワード出力信号の波形パターン及び対応する文字情報等である。撮像部９０は、インタフェース試験用のワード出力信号による数値表示器の制御状態を撮像する。画像解析部１３は、撮像部９０がインタフェース試験の一定期間において継続して撮像した数値表示器の画像から、インタフェース試験によって変化した領域の文字情報を解析する。判定部８０は、設定部７０が設定した文字情報と画像解析部１３が解析した文字情報との同一性を判定する。

＜試験装置による出力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第６の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の出力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図１３のフローチャートを参照しながら説明する。

（イ）ステップＳ５０１において、設定部７０は、インタフェース試験用のワード出力信号の波形パターン及びワード出力信号に対応する第２のプラント機器３０２である数値表示器が表示する文字情報を設定する。ステップＳ５０２において、撮像部９０は、インタフェース試験の対象である数値表示器を撮像する。

（ロ）ステップＳ５０３において、画像解析部１３は、撮像部９０が撮像した画像の中でインタフェース試験の一定期間において変化のある領域から文字情報を解析する。ステップＳ５０４において、判定部８０は、設定部７０が設定した文字情報と画像解析部１３が解析した文字情報が一致するか否かを判定する。

（第７の実施の形態）
＜試験装置の構成＞
本発明の第７の実施の形態に係る試験装置は、図１４に示すように、第６の実施の形態に係る試験装置に対して、インタフェース試験の進捗状況及び試験結果を音声によって出力する警報部１４を更に備える。

警報部１４は、インタフェース試験対象の全入出力モジュールに対して終了したとき、各入出力モジュールそれぞれへのインタフェース試験が終了したとき、判定部８０により試験対象の入出力モジュールが不良であるとの判定結果が出たとき等、ブザー音、ホイッスル音及び人間の肉声等を発出する。また、警報部１４は、インタフェース試験の過程で、試験オペレータの要求に基づき進捗状況を知らせる。

＜試験装置による出力モジュール試験方法＞
つぎに、本発明の第７の実施の形態に係る試験装置が、入出力モジュール２０１〜２０３の出力モジュールに対しインタフェース試験を実施する方法について、図１５のフローチャートを参照しながら説明する。なお、ステップＳ６０１〜６０４は、第６の実施の形態に係るステップＳ５０１〜５０４と同一である。

ステップＳ６０５において、設定部７０が設定した文字情報と画像解析部１３が解析した文字情報とが一致した場合は、第２の入出力モジュール２０２に対するインタフェース試験を終了する。ステップＳ６０５において、設定部７０が設定した文字情報と画像解析部１３が解析した文字情報とが一致しない場合は、警報部１４は音声を発出する。

なお、警報部１４が音声を発出した後、インタフェース試験を終了することも、ステップＳ６０３において画像解析部１３が再度画像解析を実施することも可能である。

以上説明したように、本発明の第７の実施の形態に係る試験装置１０６は、音声でインタフェース試験のステイタス等を示すため、表示部５０の確認が困難な場合でもインタフェース試験の進捗及び結果等を容易に確認することが可能である。

（その他の実施の形態）
上記のように、本発明は本発明の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面は本発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。

１００，１０１，１０２，１０３，１０４，１０５…試験装置
１０…入出力部
１１…認識部
１２…座標取得部
１３…画像解析
１４…警報部
２０…配列部
３０…変換部
４０…抽出部
５０…表示部
６０…報告部
６１…併合部
７０…設定部
８０…判定部
９０…撮像部
２０１…第１の入出力モジュール
２０２…第２の入出力モジュール
２０３…第ｎの入出力モジュール
３０１…第１のプラント機器
３０２…第２のプラント機器
３０３…第ｎのプラント機器

Claims (7)

1. 入出力モジュールを介してプラント機器を制御するプログラマブルコントローラを用い、前記入出力モジュールとのインタフェース試験を行う試験装置であって、
   前記入出力モジュールが送受信する入力信号及び出力信号を前記プログラマブルコントローラを経由して取得する入出力部と、
   前記入出力部が取得した複数の前記入力信号及び出力信号の値を前記入出力モジュールの端子の配置順に整理する配列部と、
   前記プログラマブルコントローラが有する出力信号の値をインタフェース試験用の出力信号の値に書き換える変換部と、
   前記インタフェース試験の対象である入出力モジュールを特定し、特定された前記入出力モジュールを用いた入出力回路の構成や特性を規定する入出力回路情報と、前記入出力信号が有する信号識別情報、制御内容、制御条件及び制御状態を規定する入出力信号情報とを抽出する抽出部と、
   前記入出力部が取得し前記配置部が配置した前記入出力信号の値及び前記抽出部が抽出した入出力回路情報及び前記入出力信号情報を表示する表示部
   とを備えることを特徴とする試験装置。
2. 前記インタフェース試験の履歴及び試験結果を作成する報告部を更に備え、
   前記表示部は、前記履歴及び試験結果を表示することを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
3. 前記インタフェース試験の進捗状況及び試験結果と回路情報を併合する併合部を更に備え、
   前記表示部は、前記回路情報が有する回路図と共に前記回路図に併合された前記インタフェース試験の進捗履歴及び試験結果を表示することを特徴とする請求項１又は２に記載の試験装置。
4. 前記インタフェース試験に用いるパルス状のビット入力信号に関する定義情報を設定する設定部と、
   前記入出力モジュールが前記プラント機器から受信したビット入力信号と、前記設定部が設定した前記パルス状のビット入力信号とが一致するか否かを判定する判定部
   とを備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の試験装置。
5. 前記インタフェース試験に用いるパルス状のビット出力信号に関する定義情報を設定する設定部と、
   前記インタフェース試験が実施される一定期間において前記プラント機器を撮像する撮像部と、
   前記撮像部が撮像した画像から、前記インタフェース試験が実施される一定期間における時系列変化のパターンを認識する認識部と、
   前記撮像部の撮像領域において座標系を定義し、前記画像から被撮像物である前記プラント機器の前記座標系における座標情報を取得する座標取得部と、
   前記定義情報は、前記ビット出力信号の波形のパターン及び前記ビット出力信号に対応する前記プラント機器の座標情報である仮想座標情報を含み、前記ビット出力信号の波形のパターンと前記撮像部が撮像した画像における前記時系列変化のパターンとが一致するか否かを判定し、更に前記仮想座標情報と前記ビット出力信号によって制御後の前記プラント機器の座標情報である実座標情報とが一致するか否かを判定する判定部
   とを備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の試験装置。
6. 前記インタフェース試験に用いるワード出力信号に関する定義情報を設定する設定部と、
   前記インタフェース試験が実施される一定期間において前記プラント機器を撮像する撮像部と、
   前記撮像部が撮像した画像を解析し、前記画像の中の変化する領域から文字情報を抽出する画像解析部と、
   前記定義情報は、前記ワード出力信号に対応して前記プラント機器が出力する文字情報である仮想文字情報を含み、仮想文字情報と前記画像解析部が抽出する文字情報である実文字情報とが一致するか否かを判定する判定部
   とを備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の試験装置。
7. 前記インタフェース試験の進捗状況及び試験結果を音声によって出力する警報部を備えることを特徴とする請求項４乃至６のいずれか１項に記載の試験装置。

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