[go: up one dir, main page]

JP2010226375A - 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法 - Google Patents

撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010226375A
JP2010226375A JP2009070776A JP2009070776A JP2010226375A JP 2010226375 A JP2010226375 A JP 2010226375A JP 2009070776 A JP2009070776 A JP 2009070776A JP 2009070776 A JP2009070776 A JP 2009070776A JP 2010226375 A JP2010226375 A JP 2010226375A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
charge
voltage
signal
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009070776A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Shizukuishi
誠 雫石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
Priority to JP2009070776A priority Critical patent/JP2010226375A/ja
Priority to US12/722,266 priority patent/US20100238310A1/en
Publication of JP2010226375A publication Critical patent/JP2010226375A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/53Control of the integration time
    • H04N25/531Control of the integration time by controlling rolling shutters in CMOS SSIS
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/667Camera operation mode switching, e.g. between still and video, sport and normal or high- and low-resolution modes
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/18Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/803Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/807Pixel isolation structures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

【課題】滑らかな動画撮像と高品質の静止画撮像を両立させることが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】複数の画素部を有する撮像装置であって、画素部100は、光電変換部3と、光電変換部3で発生した電荷を蓄積する浮遊拡散層FDと、FDに接続されるゲート電極CG及びCGとnウェル層との間に設けられたフローティングゲートFGを含むトランジスタMTとを含み、トランジスタMTの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能なトランジスタLTと、トランジスタLTをオフにした状態で、ゲート電極CGに供給される電圧に応じた電荷をFGに注入し、注入した電荷によるトランジスタMTの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す駆動と、トランジスタLTをオンにした状態で、CGに供給される電圧に応じてトランジスタMTから出力される電圧を撮像信号として読み出す駆動とを撮像モードによって切り替える制御部とを備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法に関する。
CMOS型の固体撮像素子は、低消費電力及び小型化が可能なことから、携帯電話機への搭載をきっかけに普及が進んでいる。しかし、一般的なCMOS型の固体撮像素子を搭載するデジタルカメラ等の撮像装置では、固体撮像素子の露光期間がライン毎に異なる方式(ローリングシャッタ方式)を採用しているため、高速で変化する被写体を静止画撮像した場合、ライン毎の露光期間の開始タイミングの差に起因して撮影画像の歪み、いわゆる像流れが発生する(特許文献1参照)。
この像流れを防止するには、固体撮像素子を機械的に遮光する手段であるメカニカルシャッタを併用することが有効である。しかし、メカニカルシャッタを用いると、シャッタースピードをあまり早くすることができない上に、撮像装置の小型化及び低コスト化が困難となる。
メカニカルシャッタを用いずに像流れを防止する方法として、露光期間中に光電変換部で発生した1フレーム分の電荷を各画素部内に設けられた蓄積部に同時に蓄積し、この蓄積部内の電荷を電圧信号に変換して該電圧信号を外部に順次読み出す方法が提案されている(非特許文献1参照)。
非特許文献1のような構成では、画素内のトランジスタ数が5個以上必要となり、画素の微細化に適さない、撮像信号が読み出されるまでの期間、フローティング拡散層(FD)に信号電荷を保持する必要があるため暗電流や隣接画素からの信号電荷の流入等により画質を損なうという課題がある。
そこで、本出願人は、露光期間中に光電変換部で発生した1フレーム分の電荷を各画素部内に設けられたフローティングゲートに同時に蓄積し、ここに蓄積された電荷に応じた信号を外部に順次読み出す方法を開示している(特許文献2参照)。
特許文献2の構成によれば、画素の構造を複雑化することなくグローバルシャッタを実現可能であり、かつフローティング拡散層に信号電荷を保持する必要がないため暗電流や隣接画素からの流入信号電荷の影響を受けにくいという特徴がある。ただし、グローバルシャッタのニーズは、高精細静止画撮影の場合が主であり、例えば液晶モニタ上で画角を設定するときなどは低解像度でかつ動画モードの撮影(ローリングシャッタによる撮影)で十分な場合が多い。このような場合に、特許文献2のフローティングゲート構造を有するイメージセンサにおいて画像記録の同時刻性は不要であり、長時間使用時のフローティングゲートの書き換え耐久性の観点からも動画モードと静止画モードの切り替えが容易にできる方策が望まれていた。
米国特許第5471515号明細書 特開2002−280537号公報
Junichi Nakamura,Image Sensors and Signal Processing for Digital Still camera,2005/9/30,P171-172
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、メカニカルシャッタを用いることなく滑らかな動画撮像と高品質の静止画撮像とを容易に切り替えることが可能な撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法を提供することを目的とする。
本発明の撮像装置は、行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する撮像装置であって、前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタと、前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出し手段と、前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出し手段とを備える。
本発明の固体撮像素子の駆動方法は、行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する固体撮像素子の駆動方法であって、前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、前記固体撮像素子は、前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタを含み、前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出しステップと、前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出しステップとを備える。
本発明によれば、メカニカルシャッタを用いることなく滑らかな動画撮像と高品質の静止画撮像とを容易に切り替えることが可能な撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法を提供することができる。
本発明の一実施形態を説明するための撮像装置に搭載される固体撮像素子の概略構成を示す平面模式図 図1に示す固体撮像素子の画素部の等価回路図 図2に示す画素部の部分断面模式図 図2のトランジスタMTを不揮発性メモリトランジスタとして機能させたときの画素部の回路構成を示した図 図2のトランジスタMTを駆動トランジスタとして機能させたときの画素部の回路構成を示した図 図1に示す固体撮像素子を搭載する撮像装置の静止画撮像モード時の動作の概略を示した図 図1に示す固体撮像素子を搭載した撮像装置の動画撮像時の動作を示したタイミングチャート 図1に示す固体撮像素子を搭載した撮像装置の静止画撮像時の動作を示したタイミングチャート
以下、本発明の一実施形態を説明するための撮像装置(デジタルカメラやビデオカメラ、内視鏡装置やカメラ付き携帯電話機に搭載される撮像ユニット等)について説明する。
図1は、本発明の一実施形態を説明するための撮像装置に搭載される固体撮像素子の概略構成を示す平面模式図である。
図1に示す固体撮像素子は、同一平面上の行方向とこれに直交する列方向にアレイ状(ここでは正方格子状)に配列された複数の画素部100を備える。複数の画素部100が形成された領域の左にはライン制御回路70が形成され、右にはリセットドレイン電圧供給回路80が形成されている。複数の画素部100が形成された領域の上には、列方向に並ぶ複数の画素部100からなる画素列毎に設けられた読み出し回路20及び選択トランジスタ30と、水平シフトレジスタ50と、出力アンプ60とが形成されている。複数の画素部100が形成された領域の下には、画素列毎に設けられたトランジスタLT及び読み出し回路10と、電圧制御部12と、水平走査読み出し回路51と、固体撮像素子全体を統括制御する制御部90とが形成されている。なお、制御部90は固体撮像素子が搭載される撮像装置内に設けてあっても良い。
ライン制御部70からは、行方向に並ぶ複数の画素部100からなる画素行毎に対応させてその上側部にリセット線RST及び転送制御線TXが行方向に延びている。リセット線RST及び転送制御線TXは、それに対応する画素行の各画素部100に接続されている。
リセットドレイン電圧供給回路80からは、画素行毎に対応させてその下側部にリセットドレイン線RSDが行方向に延びている。リセットドレイン線RSDは、それに対応する画素行の各画素部100に接続されている。
各画素列の右側部には、各画素列に対応させて信号出力線BLが列方向に延在している。信号出力線BLは、対応する画素列の各画素部100に接続されると共に、該画素列に対応して設けられた読み出し回路20と、トランジスタLTと、読み出し回路10とにも接続されている。
各画素列の左側部には、各画素列に対応させてソース線SLが列方向に延在している。ソース線SLは、対応する画素列の各画素部100に接続されると共に、電圧制御部12にも接続されている。
図2は、図1に示す画素部100の等価回路図である。図2に示すように、画素部100は、入射光を受光してこれに応じた電荷を発生する光電変換部3と、光電変換部3で発生した電荷を蓄積するフローティングディフュージョンFDと、光電変換部3で発生した電荷をフローティングディフュージョンFDに転送するための転送トランジスタ11と、フローティングディフュージョンFDの電位を所定電位にリセットするためのリセットトランジスタRTと、電荷蓄積部としてのフローティングゲートFGを有し、ゲート電極CGがフローティングディフュージョンFDに接続されたトランジスタMTとを備える。
図3は、図2に示す画素部の一部の断面模式図である。図3(a)は、図2に示す光電変換部3、転送トランジスタ11、及びフローティングディフュージョンFDの断面模式図であり、図3(b)は、図2に示すトランジスタMTの断面模式図である。
図3(a)に示すように、p型シリコン基板1上にはnウェル層2が形成されており、このnウェル層2内に、p型不純物層3が形成されている。このp型不純物層3とnウェル層2とのpn接合により、光電変換部3(フォトダイオード)が構成されている。このフォトダイオードは、p型不純物層3表面に完全空乏化や暗電流抑制のためにn型不純物層4が形成された所謂埋め込み型フォトダイオードとなっている。
p型不純物層3の隣には少し離間してp型不純物からなるフローティングディフュージョンFDが形成されている。p型不純物層3とフローティングディフュージョンFDとの間のnウェル層2上には、酸化膜5を介して転送電極TGが形成されている。p型不純物層3と、フローティングディフュージョンFDと、転送電極TGとにより、転送トランジスタ11が構成されている。
転送トランジスタ11の転送電極TGには転送制御線TXが接続されている。ライン制御回路70は、転送制御線TXに印加する電圧を画素行毎に独立に制御することができるようになっており、これにより、転送トランジスタ11を画素行毎に独立してオンオフ制御することが可能となっている。
図3(b)に示すように、画素部100のnウェル層2内には、p型不純物からなるトランジスタMTのソース領域S及びドレイン領域Dが形成されている。ソース領域Sとドレイン領域Dの間のnウェル層2上には酸化膜5を介してフローティングゲートFGが形成されている。フローティングゲートFGの上には絶縁膜6が形成され、この上にゲート電極CGが形成されている。フローティングゲートFG下の酸化膜5は、nウェル層2から電荷を注入できる程度の厚み(約1〜5nm程度)となっている。また、絶縁膜6は、フローティングゲートFGとゲート電極CGとの絶縁性を保てる程度の厚み(約2〜10nm程度)となっている。
ソース領域Sにはソース線SLを介して電圧制御部12が接続されている。ドレイン領域Dには信号出力線BLが接続されている。上述したように、信号出力線BLには、その一端にトランジスタLTのドレイン領域が接続されている。トランジスタLTは、トランジスタMTの負荷トランジスタとして機能するものであり、トランジスタMTと同様に、nウェル層2内に形成されたpチャネルMOSトランジスタである。
トランジスタLTのソース領域には電源電圧Vccが接続され、ゲート電極には電圧制御部12が接続されている。電圧制御部12は、トランジスタLTのゲート電極に印加する電圧を制御することで、トランジスタLTをオンオフ制御する。また、電圧制御部12は、ソース線SLに供給する電圧を制御する機能も有している。
リセットトランジスタRTは、p型不純物層3をソース領域とするpチャネルMOSトランジスタである。リセットトランジスタRTのゲート電極にはリセット線RSTが接続されており、ライン制御回路70からリセット線RSTに印加する電圧を画素行毎に独立に制御することができるようになっている。これにより、リセットトランジスタRTを画素行毎に独立してオンオフ制御することが可能となっている。リセットトランジスタRTのドレイン領域には、リセットドレイン線RSDを介してリセットドレイン電圧供給回路80が接続されている。
リセットドレイン電圧供給回路80は、リセットドレイン線RSDからリセットトランジスタRTのドレイン領域に、フローティングディフュージョンFDをリセットするためのリセット電圧を供給する機能の他に、トランジスタMTのゲート電極CGに印加すべきゲート電圧も供給する機能を有している。この固体撮像素子では、フローティングディフュージョンFDとゲート電極CGが接続されているため、フローティングディフュージョンFDの電位を制御することで、ゲート電極CGに印加するゲート電圧も制御することが可能である。このことを利用し、この固体撮像素子では、リセットドレイン電圧供給回路80が、リセットトランジスタRTのドレイン領域からフローティングディフュージョンFDを介して、トランジスタMTのゲート電極に所定のゲート電圧を印加するようにしている。
トランジスタMTは、トランジスタLTがオフ状態(電圧制御部12からハイレベルのパルスが印加された状態)のときに、不揮発性メモリトランジスタとして機能する。図4は、トランジスタMTを不揮発性メモリトランジスタとして機能させたときの画素部100の回路構成を示した図である。
トランジスタMTが不揮発性メモリトランジスタとして機能する場合、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷に応じてフローティングディフュージョンFDの電位が変化すると、この電位変化分がトランジスタMTのゲート電極CGに電圧として印加され、印加された電圧に応じて、バンド間ホットエレクトロン注入(特開平9−8153参照)により、nウェル層2からフローティングゲートFGに電荷が注入される。即ち、光電変換部3で露光期間中に発生した電荷に相当する電荷がフローティングゲートFGには注入される。フローティングゲートFGに電荷が注入されると、その電荷量に応じてトランジスタMTの閾値電圧が変化する。読み出し回路20は、この閾値電圧の変化を検出する回路である。
読み出し回路20は、図1(b)に示すように、読み出し制御部20aと、センスアンプ20bと、電圧制御回路20cと、ランプアップ回路20dと、トランジスタ20e,20fとを備えた構成となっている。
読み出し制御部20aは、画素部100から撮像信号を読み出す際、トランジスタ20fをオンして電圧制御回路20cから画素部100のトランジスタMTのドレイン領域Dに信号出力線BLを介してドレイン電圧を供給する(プリチャージ)。次に、トランジスタ20eをオンして画素部100のトランジスタMTのドレイン領域Dとセンスアンプ20bを導通させる。
センスアンプ20bは、画素部100のドレイン領域Dの電圧を監視し、この電圧が変化したことを検出し、ランプアップ回路20dにその旨を通知する。例えば、電圧制御回路20cによってプリチャージされたドレイン電圧が上昇したことを検出しセンスアンプ出力を反転させる。
ランプアップ回路20dは、N−bitカウンタ(例えばN=8〜12)を内蔵しており、リセットドレイン電圧供給回路80を介して画素部100のゲート電極CGに漸増または漸減するランプ波形電圧を供給すると共に、ランプ波形電圧の値に対応するカウント値(N個の1、0の組み合わせ)を出力する。
ゲート電極CGの電圧がトランジスタMTの閾値電圧を越えるとトランジスタMTが導通し、このとき、プリチャージされていた信号出力線BLの電位が上昇する。これがセンスアンプ20bによって検出されて反転信号が出力される。ランプアップ回路20dは、この反転信号を受けた時点におけるランプ波形電圧の値に対応するカウント値を保持(ラッチ)する。これにより、デジタル値(1,0の組み合わせ)として閾値電圧の変化を撮像信号として読み出すことができる。
水平シフトレジスタ50により1つの水平選択トランジスタ30が選択されると、その水平選択トランジスタ30に接続されたランプアップ回路20dで保持されているカウンタ値が信号線40に出力され、これが撮像信号として出力アンプ60から出力される。
なお、読み出し回路20によるトランジスタMTの閾値電圧の変化を読み出す方法としては上述したものに限らない。例えば、ゲート電極CGとドレイン領域Dに一定の電圧を印加した場合のトランジスタMTのドレイン電流を撮像信号として読み出しても良い。
トランジスタLTは、オン状態(電圧制御部12からローレベルのパルスが印加された状態)のときに、トランジスタMTと共にソースフォロア回路を構成する。このソースフォロア回路では、トランジスタMTが駆動トランジスタとして機能し、トランジスタLTが定電流源の負荷トランジスタとして機能する。図5は、トランジスタMTをソースフォロア回路の駆動トランジスタとして機能させたときの画素部100の回路構成を示した図である。
トランジスタMTが駆動トランジスタとして機能する場合、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷に応じてフローティングディフュージョンFDの電位が変化すると、この電位変化分がトランジスタMTのゲート電極CGに電圧として印加され、印加された電圧が増幅されて読み出し回路10に入力される。読み出し回路10と水平走査読み出し回路51は、このソースフォロア回路からの入力信号を撮像信号として外部に読み出すための回路である。読み出し回路10には、ソースフォロア回路の出力信号に対して相関二重サンプリング処理を行うCDS回路や、CDS回路の出力信号をデジタル変換するAD変換回路が含まれる。読み出し回路10には、水平走査読み出し回路51が接続され、水平走査読み出し回路51は、読み出し回路10を順次選択して、選択した読み出し回路10からAD変換後の撮像信号を出力させる。
このように、図1に示す固体撮像素子は、トランジスタLTのオンオフを切り替えることにより、2通りの方法で撮像信号を外部に読み出すことが可能となっている。トランジスタLTをオフしたときには、トランジスタMTを不揮発性メモリトランジスタとして機能させることができる。不揮発性メモリトランジスタは、露光で発生した電荷をフローティングゲートFGに蓄積しておくことができる構成であるため、全ての画素部100で露光期間を同一としたグローバルシャッタを実現することができる。一方、トランジスタLTをオンしたときには、ソースフォロア回路が構成されるため、一般的なCMOSイメージセンサと同様に、画素部行毎に露光期間をずらしたローリングシャッタを実現することができる。図1に示す固体撮像素子では、制御部90が、静止画撮像時には、高画質化を実現するために固体撮像素子をグローバルシャッタモードで駆動し、動画撮像時には、滑らかな動画を実現するために固体撮像素子をローリングシャッタモードで駆動するものとしている。以下、この固体撮像素子を搭載する撮像装置における撮影モード時の動作について説明する。
図6は、図1に示す固体撮像素子を搭載する撮像装置の静止画撮像モード時の動作の概略を示した図である。
図6に示すように、制御部90は、利用者の操作によって撮像装置が静止画撮像モードに設定されると、まず、動画撮像を開始する。尚、この動画撮像によって撮像装置内部で生成される画像データはモニタ表示用や撮像条件設定用に用いられ、外部出力可能な記録媒体には記録されない。動画撮像中にシャッターボタンが全押しされてシャッタートリガが立ち上がる(静止画撮像の指示がなされる)と、制御部90は静止画撮像を実施する。そして、静止画撮像が終了して該静止画撮像による撮像信号の読み出しが終了すると、制御部90は動画撮像を再開する。
図7は、図1に示す固体撮像素子を搭載した撮像装置の動画撮像時の動作を示したタイミングチャートである。以下の動作は制御部90の制御のもと実行される。
静止画撮像モードに設定されて動画撮像を開始すると、電圧制御部12がソース線SLに電源電圧Vccの供給を開始すると共に、トランジスタLTのゲート電極にローレベルのパルスを供給してトランジスタLTをオンする。次に、1行目の各画素部100の露光終了前になると、リセットドレイン電圧供給回路80が所定のリセット電圧(例えば0V)を1行目の各画素部100に接続されたリセットドレイン線RSDに供給を開始する。それと同時に、ライン制御回路70が、1ライン目の各画素部100に接続されたリセット線RSTに供給するリセットパルスを所定期間だけローレベルにする。これにより、露光終了前にフローティングディフュージョンFDに蓄積されていた電荷はリセットトランジスタRTのドレインへと排出され、フローティングディフュージョンFDの電位が0Vにリセットされる。
リセットパルスがハイレベルに戻ってリセット動作が完了すると、1行目の各画素部100のフローティングディフュージョンFDにはリセットノイズが蓄積された状態となる。このリセットノイズは、トランジスタMT及びトランジスタLTで構成されるソースフォロア回路により電圧信号に変換されて出力され、読み出し回路10に入力される。図中のSignal Outputが読み出し回路10に入力される撮像信号を示しており、リセット動作完了後、撮像信号のレベルはフローティングディフュージョンFDの電位に応じて“VRST”のレベルにまで下降して安定する。制御部90は、リセット動作の完了後、撮像信号のレベルが安定した時点で読み出し回路10にサンプルホールド信号(S&H1)を供給し、“VRST”のレベルの撮像信号をサンプリングして保持させる。
1行目の各画素部100の露光期間の終了タイミングになると、ライン制御回路70が1行目の画素部100に接続された転送制御線TXに供給する転送パルスをローレベルにして転送トランジスタ11をオンする。これにより、1行目の各画素部100の露光期間が終了し、露光期間中に光電変換部3で発生した電荷がフローティングディフュージョンFDへと完全転送される。ライン制御回路70が転送パルスをハイレベルに戻して電荷の転送を完了させると、次のフレームの露光期間が開始される。また、読み出し回路10に入力される撮像信号のレベルは“VRST”からフローティングディフュージョンFDの電位に応じて“Vsig”のレベルまで上昇して安定する。制御部90は、撮像信号のレベルが安定した時点で読み出し回路10にサンプルホールド信号(S&H2)を供給し、“Vsig”のレベルの撮像信号をサンプリングして保持させる。
読み出し回路10では、保持した“Vsig”から“VRST”が減算されてリセットノイズが除去され、リセットノイズ除去後の撮像信号がデジタル信号に変換され、図示しないシフトレジスタの制御により出力バッファから後段の信号処理回路へと順次出力される。
制御部90は、2行目以降についても上述したシーケンス(但し、露光開始タイミングをライン毎にずらす)を繰り返し行う。このように、この撮像装置の動画撮像時の動作は、一般的なCMOSセンサをローリングシャッタ方式で駆動したときと同様である。
動画撮像中にシャッタートリガが立ち上がると、制御部90は静止画撮像を実施し、静止画撮像による撮像信号の読み出しが終了すると、動画撮像を再開する。
図8は、図1に示す固体撮像素子を搭載した撮像装置の静止画撮像時の動作を示したタイミングチャートである。
静止画撮像モード時に行われる動画撮像中に、静止画撮像のための撮像条件の設定指示(シャッターボタンの半押し)がなされると、撮像装置のシステム制御部は固体撮像素子から出力されてくる撮像信号に基づいてAE,AFを行い撮像条件の設定を行う。
次に、シャッターボタンが全押しされてシャッタートリガが立ち下がると、制御部90は、上記設定された撮像条件にしたがって静止画撮像を開始する。
シャッタートリガが立ち下がって露光期間の開始タイミングになると、電圧制御部12がソース線をオープンにし、トランジスタLTのゲート電極に供給するパルスをハイレベルにしてトランジスタLTをオフにする。また、リセットドレイン電圧供給回路80が、全てのリセットドレイン線RSDに所定のリセット電圧(例えば0V)を供給する。それと同時に、ライン制御回路70が、全てのリセット線RSTに供給するリセットパルスと転送制御線TXに供給する転送パルスを所定期間だけローレベルにする。
これにより、露光開始前に全ての画素部100の光電変換部3に蓄積されていた電荷はフローティングディフュージョンFDに転送され、ここからリセットトランジスタRTのドレインへと排出される。また、フローティングディフュージョンFDの電位が0Vにリセットされる。リセットパルス及び転送パルスがハイレベルに戻ってリセット動作が完了すると、全ての画素部100の露光期間が開始され、全ての画素部100の光電変換部3に電荷が蓄積される。
露光期間の終了後、ライン制御回路70が全ての転送制御線TXに供給する転送パルスをローレベルにして転送トランジスタ11をオンする。これにより、全ての画素部100の露光期間が終了し、露光期間中に光電変換部3で発生した電荷がフローティングディフュージョンFDへと完全転送され、転送された電荷量に応じてゲート電極CGの電位が上昇する。
ライン制御回路70が転送パルスをハイレベルに戻して電荷の転送を完了させると、フローティングディフュージョンFDへ転送された電荷量に相当する電荷をフローティングゲートFGに注入するために必要な書き込み電圧(例えば−5V)を、電圧制御回路20cが信号出力線BLに供給する。
これにより、ゲート電極CGの電位上昇分に応じた電子がnウェル層2からフローティングゲートFGへと注入される。信号出力線BLへの書き込み電圧の供給が終了すると、ライン制御回路70が、1行目の各画素部100に接続されたリセット線RSTに供給するリセットパルスをローレベルにしてリセットトランジスタRTをオンし、その後、電圧制御部20cが、全ての信号出力線BLに例えば−1Vのドレイン電圧を印加して、ドレイン領域Dをプリチャージする。
次に、電圧制御部12が、ソース線SLに供給する電圧を0Vに戻し、リセットドレイン電圧供給回路80が、1行目の各画素部100に接続されたリセットドレイン線RSDに、例えば−3Vから0Vにランプアップ(又は単調増加)する読み出し電圧を供給する。リセットトランジスタRTはオンとなっているため、読み出し電圧はリセットトランジスタRTのドレイン領域からフローティングディフュージョンFDを介してゲート電極CGに印加される。
読み出し電圧の供給開始後、1ライン目の各画素部100のトランジスタMTのチャネル領域が導通すると、図8に示したようにドレイン領域D(信号出力線BL)の電位が上昇する。
読み出し回路20では、この電位が上昇したときの読み出し電圧の値に対応するカウンタ値が保持される。そして、シフトレジスタ50の制御により、保持されたカウンタ値が、1行目の各画素部100から得られた撮像信号として順次出力される。2行目以降についても、ドレインプリチャージ、読み出し電圧の供給を順次行って、各ラインから撮像信号を順次出力させる。
全ての画素部100からの撮像信号が出力アンプ60から出力されて静止画撮像が終了すると、制御部90が例えば7Vの電圧をnウェル層2に印加し、電圧制御部12がnウェル層2に印加する電圧と同じ7Vの電圧をソース線SLに供給し、リセットドレイン電圧供給回路80が全てのリセットドレイン線RSDにnウェル層2に印加される電圧とは逆極性の−7Vの電圧を印加する。リセットトランジスタRTはオンとなっているため、リセットドレイン線RSDに−7Vの電圧が印加されると、この電圧はフローティングディフュージョンFDを介してゲート電極CGにも印加される。これにより、半導体基板と全てのゲート電極CGとにそれぞれ逆極性の電圧が印加されることになり、フローティングゲートFGに注入された電荷は半導体基板へと引き抜かれて消去される。
電荷の消去完了後のトランジスタMTの閾値電圧を読み出し回路20で読み出し、電荷消去前に該トランジスタMTから読み出された撮像信号との差分を取ることによって、トランジスタMTの閾値電圧バラツキを補正しても良い。
この電荷の一括消去が完了すると、制御部90により静止画撮像終了フラグが出力され、このフラグを受けた撮像装置は動画撮像のために必要な撮影条件の設定等を行い、設定された撮影条件で制御部90が動画撮像を再開する。
以上のように、図1の固体撮像素子によれば、静止画撮像時には、全ての画素部100で露光期間を同一とし、露光期間中に各光電変換部3で発生した電荷をフローティングゲートFGに一旦蓄積した後、フローティングゲートFGに蓄積された電荷に応じた撮像信号を順次読み出すグローバルシャッタ駆動が可能となる。また、動画撮像時には、ライン毎に露光期間をずらし、露光期間が終わったラインから順に光電変換部3で発生した電荷に応じた撮像信号を読み出すローリングシャッタ駆動が可能となる。このため、メカニカルシャッタを用いることなく、グローバルシャッタ駆動による像ずれのない高品質の静止画撮像と、ローリングシャッタ駆動による滑らかな動画撮像とを両立させることができる。
この固体撮像素子によれば、単一のトランジスタMTを駆動トランジスタと不揮発性メモリトランジスタとの2つのトランジスタとして機能させることで、グローバルシャッタとローリングシャッタを両立させているため、画素部100内に設けるトランジスタ数を最少で3つにすることができ、画素部100の微細化が容易となる。
また、上記撮像装置は、静止画撮像モード時に行われる動画撮像時にはローリングシャッタ駆動による滑らかな動画撮像を行い、静止画撮像時にはグローバルシャッタ駆動による像ずれのない高品質な静止画撮像を行う。このため、違和感のない滑らかな動画像をモニタで確認しながら画角を決定して高品質の静止画撮像を実施することが可能となり、使い勝手を向上させることができる。
また、上記撮像装置によれば、静止画撮像モード時に行われる動画撮像、所謂スルー画表示のための撮像時にはフローティングゲートFGに電荷が注入されない。つまり、静止画撮像のときだけフローティングゲートFGへの電荷の注入が行われるため、フローティングゲートFGの耐久性を向上させることができ、素子の信頼性を向上させることができる。
また、この固体撮像素子によれば、静止画撮像を終了してから動画撮像を再開する前に、フローティングゲートFGに注入された電荷を消去しているため、動画撮像時にはソースフォロア回路による撮像信号の読み出しを常に同一条件で実施することができる。
また、この固体撮像素子によれば、トランジスタMTとしてフローティングゲートFGを有するMOS構造を採用しているため、フローティングゲートFGに蓄積された電荷が周囲のノイズ電荷(光電変換部3で発生する暗電流や周辺画素部から流れ込む電荷等)の影響を受けにくいという利点がある。このため、静止画撮像時には、暗電流や周辺画素部から流入する不要電荷の混入等に起因するノイズの発生を抑制した高品質の画像データを生成することが可能となる。
なお、以上の説明では、静止画撮像モード時に行う動画撮像時にローリングシャッタ駆動を行うものとしたが、このローリングシャッタ駆動は、動画撮像モード時に行う動画撮像(固体撮像素子から微少時間間隔で連続的に出力されてくる撮像信号から生成した画像データを外部出力可能な記録媒体に動画として記録する撮像)時において実施しても良い。
なお、以上の説明では、トランジスタMTとしてフローティングゲートFGを有するMOSトランジスタを例にしたが、トランジスタMTにはMOS構造以外の構造も採用することができる。例えば、フローティングゲートFGを窒化膜にし、コントロールゲートCGを該窒化膜上に直接形成したMNOS型のトランジスタ構造や、フローティングゲートFGを窒化膜にしたMONOS型のトランジスタ構造であっても良い。いずれの場合も、窒化膜が電荷を蓄積する電荷蓄積部として機能する。
また、以上の説明では、取り扱い電荷(信号として取り出す電荷)が正孔の場合を想定しているが、取り扱い電荷が電子の場合でも考え方は一緒である。取り扱い電荷が電子の場合には、図面においてN型領域とP型領域を入れ替え、各部に印加する電圧の極性を逆にすれば良い。なお、フローティングゲートFGへの電荷の注入方法は、公知の方法の中から取り扱い電荷に応じて最適なものを採用すれば良い。
以上のように、本明細書には以下の事項が開示されている。
開示された撮像装置は、行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する撮像装置であって、前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタと、前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出し手段と、前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出し手段とを備える。
第一の信号読み出し手段によれば、全ての画素部の光電変換部で発生した電荷に対応する電荷を第二の電荷蓄積部に同時に蓄積してから、該電荷に応じた撮像信号を読み出すことができる。このため、第一の信号読み出し手段により、全ての画素部で露光時間を同一にしたグローバルシャッタを実現することができ、高画質の静止画撮像が可能となる。また、第二の信号読み出し手段によれば、第二の電荷蓄積部に電荷を注入することなく撮像信号を読み出すことができるため、繰り返し撮像を行った場合でも、第一のトランジスタの耐久性を向上させることができる。また、第二の信号読み出し手段により、露光時間を例えばライン毎にずらしたローリングシャッタを実現することができるため、なめらかな動画撮像が可能となる。
開示された撮像装置は、前記画素部が、前記第一の電荷蓄積部の電位を所定電位にリセットするためのリセットトランジスタを含み、前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に独立して前記リセットトランジスタのドレインに電圧を供給可能なリセットドレイン電圧供給回路を備え、前記リセットドレイン電圧供給回路は、前記第一の電荷蓄積部をリセットするためのリセット電圧と、前記ゲート電極に印加すべき所定の電圧とを前記ドレインに供給する。
開示された撮像装置は、前記第一の信号読み出し手段は、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を読み出すために前記ゲート電極に印加すべき読み出し電圧を前記リセットドレイン電圧供給回路によって前記ドレインに供給し、該ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に該読み出し電圧を印加する。
この構成により、第一の信号読み出し手段による撮像信号の読み出しを、読み出し電圧をゲート電極に供給するための配線を別途設けることなく実現することができる。
開示された撮像装置は、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を前記半導体基板に引き抜いて消去する電荷消去手段を備え、前記電荷消去手段は、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を消去するために前記ゲート電極に印加すべき消去電圧を、前記リセットドレイン電圧供給回路によって前記ドレインに供給し、該ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に該消去電圧を印加する。
この構成により、電荷の消去を、消去電圧をゲート電極に供給するための配線を別途設けることなく実現することができる。
開示された撮像装置は、前記画素部が、前記光電変換部で発生した電荷を前記第一の電荷蓄積部に転送する転送トランジスタを備え、前記第一の信号読み出し手段が、全ての前記画素部で前記転送トランジスタを同時にオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を同時に蓄積し、その後、前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に前記撮像信号を順次読み出し、前記第二の信号読み出し手段が、前記転送トランジスタをオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を蓄積し、その後、前記前記撮像信号を読み出す処理を前記画素行毎にタイミングをずらしながら行う。
開示された撮像装置は、動画撮像時には、前記動画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第二の信号読み出し手段により読み出し、静止画撮像時には、前記静止画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第一の信号読み出し手段により読み出す。
この構成により、例えば動画像を表示するための撮像については滑らかに行うことができる一方、記録用の静止画撮像については、像ずれの抑制された高品質の撮像を行うことができる。このため、利用者は、違和感のない滑らかな動画像を確認しながら画角を決定して高品質の静止画撮像を実施することが可能となり、撮像装置の使い勝手を向上させることができる。
開示された撮像装置は、静止画撮像を行うための静止画撮像モードに設定されると動画撮像を実施し、前記動画撮像中に静止画撮像の指示がなされると静止画撮像を実施し、前記静止画撮像による撮像信号の読み出し終了後に、前記第二の電荷蓄積部に蓄積されている電荷を消去してから前記動画撮像を再開する。
この構成により、第二の電荷蓄積部に蓄積されている電荷が消去されてから動画撮像が再開されるため、第一のトランジスタの特性を一致させた状態で第二の信号読み出し手段により撮像信号を読み出すことができる。
開示された撮像装置は、前記光電変換部と前記トランジスタのソース領域及びドレイン領域が同一導電型の半導体内に形成されている。
開示された撮像装置は、前記半導体がN型である。
開示された撮像装置は、前記第一のトランジスタが、フローティングゲートを前記第二の電荷蓄積部とするMOS構造である。
この構成により、フローティングゲートに蓄積された電荷が、ノイズ電荷(該電荷に応じた信号の読み出しが終わるまでの間に光電変換部で発生した暗電流や周辺の画素部から流入する電荷)の影響を受けにくくなる。このため、第一の信号読み出し手段を介して撮像信号を読み出して画像データを生成する場合には、暗電流や周辺画素部から流入する不要電荷の混入等に起因するノイズの発生を抑制した高品質の画像データを生成することができる。
開示された撮像装置は、前記第一のトランジスタが、窒化膜を前記第二の電荷蓄積部とするMONOS又はMNOS構造である。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する固体撮像素子の駆動方法であって、前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、前記固体撮像素子は、前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタを含み、前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出しステップと、前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出しステップとを備える。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、前記画素部が、前記第一の電荷蓄積部の電位を所定電位にリセットするためのリセットトランジスタを含み、前記第一の信号読み出しステップでは、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を読み出すために前記ゲート電極に印加すべき読み出し電圧を前記リセットトランジスタのドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に印加する。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を消去するために前記ゲート電極に印加すべき消去電圧を前記ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に印加して、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を前記半導体基板に引き抜いて消去する電荷消去ステップを備える。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、前記画素部が、前記光電変換部で発生した電荷を前記第一の電荷蓄積部に転送する転送トランジスタを備え、前記第一の信号読み出しステップでは、全ての前記画素部で前記転送トランジスタを同時にオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を同時に蓄積し、その後、前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に前記撮像信号を順次読み出し、前記第二の信号読み出しステップでは、前記転送トランジスタをオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を蓄積し、その後、前記前記撮像信号を読み出す処理を前記画素行毎にタイミングをずらしながら行う。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、動画撮像時には、前記動画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第二の信号読み出しステップにより読み出し、静止画撮像時には、前記静止画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第一の信号読み出しステップにより読み出す。
開示された固体撮像素子の駆動方法は、静止画撮像を行うための静止画撮像モードに設定されると動画撮像を開始し、前記動画撮像中に静止画撮像の指示がなされると静止画撮像を実施し、前記静止画撮像による撮像信号の読み出し終了後に、前記第二の電荷蓄積部に蓄積されている電荷を消去してから前記動画撮像を再開する。
2 nウェル層
3 光電変換部
90 制御部
100 画素部
FD フローティングディフュージョン
MT,LT トランジスタ
CG ゲート電極

Claims (17)

  1. 行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する撮像装置であって、
    前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、
    前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタと、
    前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出し手段と、
    前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出し手段とを備える撮像装置。
  2. 請求項1記載の撮像装置であって、
    前記画素部が、前記第一の電荷蓄積部の電位を所定電位にリセットするためのリセットトランジスタを含み、
    前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に独立して前記リセットトランジスタのドレインに電圧を供給可能なリセットドレイン電圧供給回路を備え、
    前記リセットドレイン電圧供給回路は、前記第一の電荷蓄積部をリセットするためのリセット電圧と、前記ゲート電極に印加すべき所定の電圧とを前記ドレインに供給する撮像装置。
  3. 請求項2記載の撮像装置であって、
    前記第一の信号読み出し手段は、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を読み出すために前記ゲート電極に印加すべき読み出し電圧を前記リセットドレイン電圧供給回路によって前記ドレインに供給し、該ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に該読み出し電圧を印加する撮像装置。
  4. 請求項3記載の撮像装置であって、
    前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を前記半導体基板に引き抜いて消去する電荷消去手段を備え、
    前記電荷消去手段は、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を消去するために前記ゲート電極に印加すべき消去電圧を、前記リセットドレイン電圧供給回路によって前記ドレインに供給し、該ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に該消去電圧を印加する撮像装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項記載の撮像装置であって、
    前記画素部が、前記光電変換部で発生した電荷を前記第一の電荷蓄積部に転送する転送トランジスタを備え、
    前記第一の信号読み出し手段が、全ての前記画素部で前記転送トランジスタを同時にオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を同時に蓄積し、その後、前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に前記撮像信号を順次読み出し、
    前記第二の信号読み出し手段が、前記転送トランジスタをオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を蓄積し、その後、前記前記撮像信号を読み出す処理を前記画素行毎にタイミングをずらしながら行う撮像装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項記載の撮像装置であって、
    動画撮像時には、前記動画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第二の信号読み出し手段により読み出し、静止画撮像時には、前記静止画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第一の信号読み出し手段により読み出す撮像装置。
  7. 請求項6記載の撮像装置であって、
    静止画撮像を行うための静止画撮像モードに設定されると動画撮像を実施し、前記動画撮像中に静止画撮像の指示がなされると静止画撮像を実施し、前記静止画撮像による撮像信号の読み出し終了後に、前記第二の電荷蓄積部に蓄積されている電荷を消去してから前記動画撮像を再開する撮像装置。
  8. 請求項1〜7のいずれか1項記載の撮像装置であって、
    前記光電変換部と前記トランジスタのソース領域及びドレイン領域が同一導電型の半導体内に形成されている撮像装置。
  9. 請求項8記載の撮像装置であって、
    前記半導体がN型である撮像装置。
  10. 請求項1〜9のいずれか1項記載の撮像装置であって、
    前記第一のトランジスタが、フローティングゲートを前記第二の電荷蓄積部とするMOS構造である撮像装置。
  11. 請求項1〜9のいずれか1項記載の撮像装置であって、
    前記第一のトランジスタが、窒化膜を前記第二の電荷蓄積部とするMONOS又はMNOS構造である撮像装置。
  12. 行方向とこれに直交する列方向に配列された複数の画素部を有する固体撮像素子の駆動方法であって、
    前記画素部は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を蓄積する第一の電荷蓄積部と、前記第一の電荷蓄積部に接続されるゲート電極及び前記ゲート電極と半導体基板との間に設けられた第二の電荷蓄積部を含む第一のトランジスタとを含み、
    前記固体撮像素子は、前記第一のトランジスタの負荷トランジスタとして機能するオンオフ制御可能な第二のトランジスタを含み、
    前記第二のトランジスタをオフにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じた電荷を前記第二の電荷蓄積部に注入し、該注入した電荷による前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を撮像信号として読み出す第一の信号読み出しステップと、
    前記第二のトランジスタをオンにした状態で、前記ゲート電極に供給される電圧に応じて前記第一のトランジスタから出力される電圧を撮像信号として読み出す第二の信号読み出しステップとを備える固体撮像素子の駆動方法。
  13. 請求項12記載の固体撮像素子の駆動方法であって、
    前記画素部が、前記第一の電荷蓄積部の電位を所定電位にリセットするためのリセットトランジスタを含み、
    前記第一の信号読み出しステップでは、前記リセットトランジスタをオンした状態で、前記第一のトランジスタの閾値電圧の変化を読み出すために前記ゲート電極に印加すべき読み出し電圧を前記リセットトランジスタのドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に印加する固体撮像素子の駆動方法。
  14. 請求項13記載の固体撮像素子の駆動方法であって、
    前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を消去するために前記ゲート電極に印加すべき消去電圧を前記ドレインから前記第一の電荷蓄積部を介して前記ゲート電極に印加して、前記第二の電荷蓄積部に注入された電荷を前記半導体基板に引き抜いて消去する電荷消去ステップを備える固体撮像素子の駆動方法。
  15. 請求項11〜14のいずれか1項記載の固体撮像素子の駆動方法であって、
    前記画素部が、前記光電変換部で発生した電荷を前記第一の電荷蓄積部に転送する転送トランジスタを備え、
    前記第一の信号読み出しステップでは、全ての前記画素部で前記転送トランジスタを同時にオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を同時に蓄積し、その後、前記行方向に並ぶ複数の前記画素部からなる画素行毎に前記撮像信号を順次読み出し、
    前記第二の信号読み出しステップでは、前記転送トランジスタをオンして前記第一の電荷蓄積部に前記電荷を蓄積し、その後、前記前記撮像信号を読み出す処理を前記画素行毎にタイミングをずらしながら行う固体撮像素子の駆動方法。
  16. 請求項11〜15のいずれか1項記載の固体撮像素子の駆動方法であって、
    動画撮像時には、前記動画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第二の信号読み出しステップにより読み出し、静止画撮像時には、前記静止画撮像のための露光中に前記光電変換部で発生した電荷に応じた撮像信号を前記第一の信号読み出しステップにより読み出す固体撮像素子の駆動方法。
  17. 請求項16記載の固体撮像素子の駆動方法であって、
    静止画撮像を行うための静止画撮像モードに設定されると動画撮像を開始し、前記動画撮像中に静止画撮像の指示がなされると静止画撮像を実施し、前記静止画撮像による撮像信号の読み出し終了後に、前記第二の電荷蓄積部に蓄積されている電荷を消去してから前記動画撮像を再開する固体撮像素子の駆動方法。
JP2009070776A 2009-03-23 2009-03-23 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法 Pending JP2010226375A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009070776A JP2010226375A (ja) 2009-03-23 2009-03-23 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
US12/722,266 US20100238310A1 (en) 2009-03-23 2010-03-11 Imaging apparatus and drive method of solid-state imaging device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009070776A JP2010226375A (ja) 2009-03-23 2009-03-23 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010226375A true JP2010226375A (ja) 2010-10-07

Family

ID=42737229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009070776A Pending JP2010226375A (ja) 2009-03-23 2009-03-23 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20100238310A1 (ja)
JP (1) JP2010226375A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013176007A1 (ja) * 2012-05-25 2013-11-28 ソニー株式会社 撮像素子、駆動方法、および電子装置
US9455295B2 (en) 2012-04-20 2016-09-27 Sony Corporation Solid-state image sensor with MOS capacitor storage section to which a negative bias is applied after a reset sampling period and electronic device incorporating same
JP6398021B1 (ja) * 2018-01-09 2018-09-26 株式会社フローディア 固体撮像装置及びカメラシステム

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102332942B1 (ko) * 2015-11-27 2021-12-01 에스케이하이닉스 주식회사 전력 소모 감소를 위한 카운팅 장치 및 그를 이용한 아날로그-디지털 변환 장치와 씨모스 이미지 센서
JP6640872B2 (ja) * 2015-12-01 2020-02-05 シャープ株式会社 画像形成素子
JP2018060980A (ja) 2016-10-07 2018-04-12 キヤノン株式会社 撮像表示装置及びウェアラブルデバイス
KR102598041B1 (ko) * 2018-02-28 2023-11-07 삼성전자주식회사 이미지 센서 칩
US11468146B2 (en) * 2019-12-06 2022-10-11 Globalfoundries U.S. Inc. Array of integrated pixel and memory cells for deep in-sensor, in-memory computing
US11069402B1 (en) * 2020-03-17 2021-07-20 Globalfoundries U.S. Inc. Integrated pixel and three-terminal non-volatile memory cell and an array of cells for deep in-sensor, in-memory computing
CN112532899B (zh) * 2020-11-27 2023-06-30 京东方科技集团股份有限公司 光电转换电路、驱动方法、光电检测基板、光电检测装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471515A (en) * 1994-01-28 1995-11-28 California Institute Of Technology Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer
JP3878681B2 (ja) * 1995-06-15 2007-02-07 株式会社ルネサステクノロジ 不揮発性半導体記憶装置
JP4040261B2 (ja) * 2001-03-22 2008-01-30 富士フイルム株式会社 固体撮像装置とその駆動方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9455295B2 (en) 2012-04-20 2016-09-27 Sony Corporation Solid-state image sensor with MOS capacitor storage section to which a negative bias is applied after a reset sampling period and electronic device incorporating same
WO2013176007A1 (ja) * 2012-05-25 2013-11-28 ソニー株式会社 撮像素子、駆動方法、および電子装置
US9621827B2 (en) 2012-05-25 2017-04-11 Sony Corporation Imaging element, driving method, and electronic apparatus
JP6398021B1 (ja) * 2018-01-09 2018-09-26 株式会社フローディア 固体撮像装置及びカメラシステム
WO2019138894A1 (ja) * 2018-01-09 2019-07-18 株式会社フローディア 固体撮像装置及びカメラシステム
CN111602388A (zh) * 2018-01-09 2020-08-28 株式会社芙洛提亚 固体摄像装置及照相机系统
KR20200106881A (ko) * 2018-01-09 2020-09-15 플로디아 코포레이션 고체 촬상 장치 및 카메라 시스템
US11282878B2 (en) 2018-01-09 2022-03-22 Floadia Corporation Solid-state imaging device and camera system
TWI765133B (zh) * 2018-01-09 2022-05-21 日商芙洛提亞股份有限公司 固體攝像裝置及相機系統
KR102412999B1 (ko) * 2018-01-09 2022-06-23 플로디아 코포레이션 고체 촬상 장치 및 카메라 시스템
CN111602388B (zh) * 2018-01-09 2023-04-18 株式会社芙洛提亚 固体摄像装置及照相机系统

Also Published As

Publication number Publication date
US20100238310A1 (en) 2010-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010226375A (ja) 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
US9054009B2 (en) Solid-state image pickup device in which charges overflowing a memory during a charge transfer period are directed to a floating diffusion and method of driving same
US8212905B2 (en) Photoelectric conversion device, imaging system, and photoelectric conversion device driving method
CN111602388B (zh) 固体摄像装置及照相机系统
CN104469199B (zh) 成像设备、成像方法、制造设备、制造方法和电子设备
JP5139150B2 (ja) 撮像装置
JP2011061522A (ja) Mos型イメージセンサ、mos型イメージセンサの駆動方法、撮像装置
JP2010212417A (ja) 固体撮像素子、撮像装置、固体撮像素子の駆動方法
JP2010050146A (ja) 固体撮像素子、撮像装置、及び撮像方法
US20100085454A1 (en) Imaging apparatus and method of driving solid-state imaging device
JP2010056475A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2011061520A (ja) Mos型イメージセンサ、mos型イメージセンサの駆動方法、撮像装置
JP2010093549A (ja) 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
JP2010171868A (ja) 撮像装置及び撮像装置の駆動方法
JP2013106231A (ja) 撮像装置
JP2010093550A (ja) 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
JP2010171869A (ja) 固体撮像素子、撮像装置、及び固体撮像素子の信号読み出し方法
US20100188544A1 (en) Solid-state imaging device, imaging apparatus, and signal reading method of solid-state imaging device
JP2010056474A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2010056473A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2011061521A (ja) Mos型イメージセンサ、mos型イメージセンサの駆動方法、撮像装置
JP2010087633A (ja) 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
JP2010225805A (ja) 固体撮像素子、撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法
JP2010278653A (ja) 固体撮像素子、撮像装置、撮像方法
JP2010087632A (ja) 撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法