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JP2010062265A5 - - Google Patents

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JP2010062265A5
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Claims (27)

  1. 基板上に、第1電極、第2電極、及び前記両電極の間に形成される可変抵抗体を有し、前記両電極間に電圧パルスを印加することで前記両電極間の電気抵抗が可逆的に変化する可変抵抗素子であって、
    前記可変抵抗体が、前記第1電極から前記第2電極に向かう方向に延伸する少なくとも一つのシームを有することを特徴とする可変抵抗素子。
  2. 少なくとも一つの前記シームが、前記第1電極と前記第2電極との間に電圧が印加されることでフィラメントパスの一部を形成することを特徴とする請求項1に記載の可変抵抗素子。
  3. 前記可変抵抗体が、前記基板面に平行に構成される第1構造部と、下端が前記第1構造部の端部と結合し前記基板面に垂直な方向に構成される第2構造部とを備え、前記第1構造部と前記第2構造部とが結合するコーナ領域に前記シームを有することを特徴とする請求項1または2に記載の可変抵抗素子。
  4. 前記第1電極の一部上層に絶縁膜を有し、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記絶縁膜の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  5. 前記第1電極と同一層において前記第1電極よりも膜厚が厚い絶縁膜を有し、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記絶縁膜の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  6. 前記第1電極は、形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する構成であり、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記第1電極の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  7. 形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する絶縁膜を備え、
    前記第1電極が、前記絶縁膜上に形成されることで最上位面に高さ位置の差異を有した状態で形成されており、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記第1電極の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  8. 絶縁膜を備え、
    前記第1電極が前記絶縁膜の一部上層に形成されており、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記第1電極の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  9. 前記第1電極と同一層において前記第1電極よりも膜厚が薄い絶縁膜を有し、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、第1面が前記第1電極の側面と接触し、前記第1面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する第2面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  10. 前記可変抵抗体が、
    前記基板面に平行に構成され前記第1構造部より高さ位置が高く、端部において前記第2構造部の上端と結合する第3構造部を備え、
    前記第3構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項4または5に記載の可変抵抗素子。
  11. 前記可変抵抗体が、
    前記基板面に平行に構成され前記第1構造部より高さ位置が高く、端部において前記第2構造部の上端と結合する第3構造部を備え、
    前記第3構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項6〜9のいずれか1項に記載の可変抵抗素子。
  12. 前記第2構造部が、
    前記基板面に平行な断面が環状に形成されるとともに、当該第2構造部の内側において下端と前記第1構造部の端部とが結合する構成であることを特徴とする請求項3に記載の可変抵抗素子。
  13. 前記第1電極の一部上層に絶縁膜を備え、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記絶縁膜の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  14. 前記第1電極と同一層において前記第1電極よりも膜厚が厚い絶縁膜を有し、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記絶縁膜の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  15. 前記第1電極は、形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する構成であり、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記第1電極の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  16. 形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する絶縁膜を備え、
    前記第1電極が、前記絶縁膜上に形成されることで最上位面に高さ位置の差異を有した状態で形成されており、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記第1電極の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  17. 絶縁膜を備え、
    前記第1電極が前記絶縁膜の一部上層に形成されており、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記第1電極の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  18. 前記第1電極と同一層において前記第1電極よりも膜厚が薄い絶縁膜を有し、
    前記可変抵抗体は、
    前記第1構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触し、
    前記第2構造部において、外側面が前記第1電極の側面と接触し、前記外側面と当該可変抵抗体の膜厚を隔てて対向する内側面が前記第2電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項12に記載の可変抵抗素子。
  19. 前記可変抵抗体が、
    前記基板面に平行に構成され前記第1構造部より高さ位置が高く、前記第2構造部の外側において端部が前記第2構造部の上端と結合する第3構造部を備え、
    前記第3構造部において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項13または14に記載の可変抵抗素子。
  20. 前記可変抵抗体が、
    前記基板面に平行に構成され前記第1構造部より高さ位置が高く、前記第2構造部の外側において端部が前記第2構造部の上端と結合する第3構造部を備え、
    前記第3構造部において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項15〜18のいずれか1項に記載の可変抵抗素子。
  21. 前記可変抵抗体が、少なくとも外側面が同一の材料膜で囲まれた埋め込み領域内に埋め込まれて形成され、前記埋め込み領域内において高さ方向に延伸する前記シームを有する構成であって、
    前記材料膜が、前記第1電極または絶縁膜で構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の可変抵抗素子。
  22. 前記第1電極の一部上層に前記絶縁膜を備え、
    前記可変抵抗体は、
    前記埋め込み領域内において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、前記外側面が前記絶縁膜の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項21に記載の可変抵抗素子。
  23. 前記第1電極は、形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する構成であり、
    前記可変抵抗体は、
    前記埋め込み領域内において、下面が前記第1電極の上面と接触し、前記外側面が前記第1電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項21に記載の可変抵抗素子。
  24. 形成膜厚が異なる領域を有することで段差を有する絶縁膜を備え、
    前記第1電極が、前記絶縁膜上に形成されることで最上位面に高さ位置の差異を有した状態で形成されており、
    前記可変抵抗体は、
    前記埋め込み領域内において、下面が前記第1電極の上面と接触し、前記外側面が前記第1電極の側面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項21に記載の可変抵抗素子。
  25. 前記可変抵抗体が、
    前記埋め込み領域の外側に係る埋め込み外領域内において、前記埋め込み領域内に形成されている当該可変抵抗体と連結し、且つ前記埋め込み領域内の最下面よりも最下面の高さ位置が高くなるように形成されており、前記埋め込み外領域内において、下面が前記絶縁膜の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触することを特徴とする請求項22に記載の可変抵抗素子。
  26. 前記可変抵抗体が、
    前記埋め込み領域の外側に係る埋め込み外領域内において、前記埋め込み領域内に形成されている当該可変抵抗体と連結し、且つ前記埋め込み領域内の最下面よりも最下面の高さ位置が高くなるように形成されており、前記埋め込み外領域内において、下面が前記第1電極の上面と接触し、上面が前記第2電極の下面と接触することを特徴とする請求項23または24に記載の可変抵抗素子。
  27. 請求項1〜26のいずれか1項に記載の可変抵抗素子の駆動方法であって、
    前記第1電極と前記第2電極との間に電圧を印加することで、少なくとも前記シームを介して前記可変抵抗体内にフィラメントパスを形成することを特徴とする可変抵抗素子の駆動方法。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102217067B (zh) 2009-09-14 2014-07-30 松下电器产业株式会社 非易失性存储装置及其制造方法
US9627443B2 (en) * 2011-06-30 2017-04-18 Crossbar, Inc. Three-dimensional oblique two-terminal memory with enhanced electric field
WO2013046603A1 (ja) * 2011-09-27 2013-04-04 パナソニック株式会社 不揮発性記憶素子、不揮発性記憶装置及びそれらの製造方法
US8853099B2 (en) * 2011-12-16 2014-10-07 Intermolecular, Inc. Nonvolatile resistive memory element with a metal nitride containing switching layer
WO2013136798A1 (ja) * 2012-03-16 2013-09-19 日本電気株式会社 抵抗変化素子、その抵抗変化素子を有する半導体装置、その半導体装置の製造方法およびその抵抗変化素子を用いたプログラミング方法
US9685608B2 (en) 2012-04-13 2017-06-20 Crossbar, Inc. Reduced diffusion in metal electrode for two-terminal memory
WO2014076869A1 (ja) * 2012-11-14 2014-05-22 パナソニック株式会社 不揮発性記憶素子及びその製造方法
US9985203B2 (en) * 2013-11-15 2018-05-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Resistive random access memory (RRAM) with improved forming voltage characteristics and method for making
US10290801B2 (en) 2014-02-07 2019-05-14 Crossbar, Inc. Scalable silicon based resistive memory device
US20160181517A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-23 Silicon Storage Technology, Inc. Geometrically Enhanced Resistive Random Access Memory (RRAM) Cell And Method Of Forming Same
WO2017170149A1 (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 日本電気株式会社 抵抗変化素子、および抵抗変化素子の製造方法
KR102421726B1 (ko) * 2017-09-25 2022-07-15 삼성전자주식회사 이미지 센서
US11094883B2 (en) 2019-10-31 2021-08-17 International Business Machines Corporation Structure and method to fabricate resistive memory with vertical pre-determined filament
JP2021129071A (ja) 2020-02-17 2021-09-02 キオクシア株式会社 半導体記憶装置および半導体記憶装置の製造方法
CN115377286A (zh) * 2022-06-21 2022-11-22 昕原半导体(杭州)有限公司 阻变存储器及其制造方法和电子装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101100427B1 (ko) * 2005-08-24 2011-12-30 삼성전자주식회사 이온 전도층을 포함하는 불휘발성 반도체 메모리 장치와 그제조 및 동작 방법
JP5217259B2 (ja) * 2007-06-07 2013-06-19 富士通株式会社 半導体装置及びその製造方法

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