JP2010048784A - Jig, apparatus, and method for electrical inspection - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電気検査ジグ、電気検査装置および電気検査方法に関し、より具体的には、半導体パッケージ等の電子部品の電気検査に用いられる電気検査ジグ、これを組み込んだ電気検査装置および電気検査方法に関するものである。 The present invention relates to an electric inspection jig, an electric inspection device, and an electric inspection method, and more specifically, an electric inspection jig used for electric inspection of electronic parts such as semiconductor packages, an electric inspection device incorporating the electric inspection jig, and an electric inspection method. It is about.
LSIなどの半導体装置は、品質保証のため、製造ラインで全数の電気検査が行われる。電気検査に用いられる電気検査装置のヘッドを構成する電気検査ジグには、プローブピンが配置され、そのプローブピンにはテスターと連絡する配線が接続されている。テスターは、検査ジグのプローブピンが半導体チップ等の電極に接触した状態で、所定電極間の回路の正常または異常を検査することができる。高密度化する傾向にある被検査体の電極配列に対応して、電気検査ジグには、ピッチ変換基板(プリント回路基板)、異方導電性シート、プローブピン等を用いて、高密度配列の電極との電気的接続を実現している(特許文献1)。上記の異方導電性シートは、厚さ方向にのみ導電性を有し、加圧に対して厚み方向に弾性変形または回復可能な変形をするとされている(特許文献2)。
半導体チップまたはICパッケージでは、QFP(クワット・フラット・パッケージ:Quad Flat Package)の電極は、そのパッケージ本体の表面に平行でないものがある。すなわちQFPのリードは、樹脂パッケージ本体の側部から斜め下方に延び出す。延び出したリードは、先端部で鈍角をなして本体表面に平行に近づくように折れ曲がるが、それでも本体表面と交差する角度をもち、平行にはならない。電気検査ジグのピッチ変換基板(プリント回路基板)上に配置された異方導電性シートは、上記のリードと電気的に接続される。上記の斜めに延び出るリードと、異方導電性シートとの接続では、当然、上下から加圧を受ける。このため、リードの先端部は、異方導電性シートに、その先で突き刺す方向の成分をもって接触する。したがって、異方導電性シートは、リードの先端によって、大きな集中圧力を受ける。 Some semiconductor chips or IC packages have QFP (Quad Flat Package) electrodes that are not parallel to the surface of the package body. That is, the QFP lead extends obliquely downward from the side of the resin package body. The extended lead bends so that it forms an obtuse angle at the tip and approaches the body surface in parallel, but it still has an angle that intersects the body surface and does not become parallel. The anisotropic conductive sheet disposed on the pitch conversion board (printed circuit board) of the electrical inspection jig is electrically connected to the above leads. Of course, the connection between the lead extending obliquely and the anisotropic conductive sheet is pressurized from above and below. For this reason, the front-end | tip part of a lead contacts with an anisotropic conductive sheet with the component of the direction pierced ahead. Therefore, the anisotropic conductive sheet is subjected to a large concentration pressure by the tip of the lead.
上述したように、ICパッケージ等の製造ラインでは、出荷にあたって全数検査を行うので、その検査回数は、数万回に達することが珍しくない。このような膨大な回数の電気検査を行うと、被検査体は、数万体が、連続して、入れ替わりながら検査される。一方、検査装置のコンタクトシート(異方導電性シート)は数万回の繰り返し、大きな集中圧力を受ける。この結果、コンタクトシートは、すべての検査を終了する途中で、破損にいたる。電気検査のような連続ラインでの装置の故障は、電気検査の能率を大きく阻害し、電気検査費用を増大させる。また、コンタクトシートは高価であり、その破損は、電気検査の材料コストを増大させる。本発明は、ICパッケージのリード等のように斜めに延び出る電極をもつ被検査体を、コンタクトシートの破損なく、連続して電気検査することができる、電気検査ジグ、電気検査装置および電気検査方法を提供することを目的とする。 As described above, in the production line for IC packages and the like, all inspections are performed before shipping, and it is not uncommon for the number of inspections to reach tens of thousands. When such an enormous number of electrical inspections are performed, tens of thousands of inspected objects are inspected while being continuously replaced. On the other hand, the contact sheet (anisotropic conductive sheet) of the inspection apparatus is subjected to a large concentration pressure repeatedly several tens of thousands of times. As a result, the contact sheet is damaged in the middle of completing all inspections. Failure of equipment on a continuous line such as electrical inspection greatly impedes the efficiency of electrical inspection and increases the cost of electrical inspection. Also, contact sheets are expensive and their breakage increases the material cost of electrical inspection. The present invention provides an electric inspection jig, an electric inspection device, and an electric inspection capable of continuously inspecting an object to be inspected having an electrode extending obliquely, such as a lead of an IC package, without damaging the contact sheet. It aims to provide a method.
本発明の電気検査ジグは、本体部の面に交差する方向に延びるリードをもつ電子部品の電気検査を行うために用いられる。この電気検査ジグは、コンタクトシートを挟んで電子部品のリードと導通する端子を、表面にもつプリント回路基板と、プリント回路基板を支持する支持台と、電子部品のリード、コンタクトシート、およびプリント回路基板の端子を重ねて加圧するための圧子とを備える。そして、支持台は、プリント回路基板を傾けて支持し、当該プリント回路基板の表面の面内方向に前記リードの延びる方向を合わせることを特徴とする。 The electrical inspection jig of the present invention is used to perform electrical inspection of electronic components having leads extending in a direction intersecting the surface of the main body. This electrical inspection jig includes a printed circuit board having a terminal electrically connected to an electronic component lead across a contact sheet, a support base for supporting the printed circuit board, an electronic component lead, a contact sheet, and a printed circuit. And an indenter for pressurizing the terminals of the substrate. The support base tilts and supports the printed circuit board and aligns the extending direction of the leads with the in-plane direction of the surface of the printed circuit board.
上記の構成によれば、リードの方向は、プリント回路基板の表面と平行になるので、(リード/コンタクトシート/プリント回路基板の表面端子)の平行な積層部材に圧子が圧力を加える。このため、コンタクトシートには、リードによって局所的に大きな応力は生じない。この結果、コンタクトシート等の耐用回数を短縮することがなくなる。また、連続して繰り返し電気試験を行うことによる高い電気検査能率を、コンタクトシートの損傷によって劣化されるのを防止することができる。ここで、電子部品の本体部の面は、リードを除いた中央部の面、たとえばパッケージの場合はパッケージの面をいい、通常は、直方体を形成する最大平面である。しかし、湾曲などしていて曲面の場合は、頂部における接平面をいう。また、本体部などがとくに複雑な形状の場合は、本発明の趣旨に沿うように解釈されるべきである。 According to the above configuration, since the direction of the leads is parallel to the surface of the printed circuit board, the indenter applies pressure to the parallel laminated members of (lead / contact sheet / surface terminal of the printed circuit board). For this reason, a large stress is not locally generated in the contact sheet by the lead. As a result, the service life of the contact sheet or the like is not shortened. In addition, it is possible to prevent a high electrical inspection efficiency due to repeated electrical tests from being continuously deteriorated due to damage of the contact sheet. Here, the surface of the main body portion of the electronic component refers to the surface of the central portion excluding the leads, for example, the surface of the package in the case of a package, and is usually the maximum plane that forms a rectangular parallelepiped. However, in the case of a curved surface such as a curved surface, it means a tangential plane at the top. In addition, when the main body or the like has a particularly complicated shape, it should be interpreted in accordance with the spirit of the present invention.
上記の圧子の加圧のための当接面を、プリント回路基板の表面と平行な形状、またはリードの配列方向(リードが延びる方向に直交する方向)に延在してその断面が丸みを帯びた凸状の形状としてもよい。これによって、さらに接触部材の間の平行性が向上し、局所的に大きな応力発生のおそれを確実に除くことができる。前者の形状は面的にリードを押さえ加圧し、また後者の形状は線状の接触形態でリードを押さえ加圧する。 The contact surface for pressurizing the indenter described above extends in a shape parallel to the surface of the printed circuit board or in the lead arrangement direction (a direction perpendicular to the direction in which the leads extend), and its cross section is rounded. It may be a convex shape. As a result, the parallelism between the contact members is further improved, and the possibility of generating a large stress locally can be reliably eliminated. The former shape presses and presses the lead across the surface, and the latter shape presses and presses the lead in a linear contact form.
本発明の電気検査装置は、加圧装置および、上記のいずれかの電気検査ジグを備え、加圧装置により圧子を介して加圧をすることを特徴とする。これによって、リードが本体部の面に非平行で、先下がりとなっている半導体パッケージ等の電気検査を、コンタクトシートの損傷なく、長期間、連続して行うことができる。この結果、上記のようなICパッケージの電気試験費用を低減することができる。 An electrical inspection apparatus according to the present invention includes a pressurization device and any one of the electrical inspection jigs described above, and pressurizes the pressurization device with an indenter. As a result, the electrical inspection of the semiconductor package or the like in which the lead is not parallel to the surface of the main body portion and the tip is lowered can be continuously performed for a long time without damaging the contact sheet. As a result, the electrical test cost of the IC package as described above can be reduced.
本発明の電気検査方法は、本体部の面に交差する方向に延びるリードをもつ電子部品の電気検査を行う方法である。この方法では、プリント回路基板を支持台に支持して、電子部品のリードが延びる方向を、そのプリント回路基板の表面の面内方向に含むように配置する工程を備える。さらに、この方法は、電子部品のリードと、プリント回路基板の端子とを、コンタクトシートを介在させて重ねて、その重ねた部分に圧力を加える工程とを備えることを特徴とする。 The electrical inspection method of the present invention is a method for performing electrical inspection of an electronic component having a lead extending in a direction intersecting the surface of the main body. In this method, the printed circuit board is supported on a support base and arranged to include the direction in which the lead of the electronic component extends in the in-plane direction of the surface of the printed circuit board. Further, the method includes a step of overlapping the lead of the electronic component and the terminal of the printed circuit board with a contact sheet interposed therebetween, and applying pressure to the overlapped portion.
上記の方法によって、コンタクトシートの損傷を生じる頻度を減らして、多くの電子部品を、連続して電気検査することが可能となる。このため、コンタクトシートの材料費だけでなく、電気検査能率を向上させて、電気検査の全体費用を低減することが可能となる。 According to the above method, it is possible to continuously inspect many electronic components by reducing the frequency of damage to the contact sheet. For this reason, not only the material cost of the contact sheet but also the electrical inspection efficiency can be improved, and the overall cost of the electrical inspection can be reduced.
上記の圧力を加えるために圧子を用い、その圧子の当接面を、プリント回路基板の表面と平行にすることができる。また、丸みを帯びた凸状断面をもつ先端部の圧子として、その丸みを帯びた先端部が線状にリードに接触するようにしてもよい。これによって、さらに部材間の平行性が確保され、局所的に大きな応力の発生が防止され、コンタクトシート等の繰り返し使用回数を向上させることができる。 An indenter can be used to apply the pressure, and the contact surface of the indenter can be parallel to the surface of the printed circuit board. Further, as the indenter at the tip having a rounded convex cross section, the rounded tip may be brought into contact with the lead in a linear shape. This further ensures the parallelism between the members, prevents the generation of a large stress locally, and improves the number of times the contact sheet or the like is used repeatedly.
本発明の電気検査ジグおよび電気検査装置によって、ICパッケージのリード等のように斜めに延びる電極をもつ電子部品を、多くの試験回数、コンタクトシートの破損なく、連続して電気検査することが可能となる。 With the electrical inspection jig and electrical inspection device of the present invention, it is possible to continuously inspect electronic parts having electrodes extending obliquely, such as IC package leads, many times without damage to the contact sheet. It becomes.
図1は、本発明の実施の形態における電気検査ジグ10(電気検査装置50)を示す図である。本発明の実施の形態の電気検査の対象となる電子部品は、電子部品の本体部70aから外に突き出るリードまたはリード71が、本体部70aの面に平行ではなく、交差するように延在する。本体部70aの面は平面の場合も多いが、このあと説明するように、外に凸に湾曲している場合もあり、このように曲面の場合の本体部の面は、頂部における接平面をさす。その他、本体部などが複雑な形状の場合は、本発明の趣旨に沿って解釈されるべきである。本発明の実施の形態の電気検査ジグ10では、リード71の先端部が延びる方向に沿うように、ピッチ変換基板またはプリント回路基板7を傾斜して配置する点に特徴を有する。プリント回路基板7の傾斜配置を実現するために、絶縁基台11にさらに傾斜基台12を固定して、その傾斜基台12にプリント回路基板7を取り付けている。プリント回路基板7の傾斜基台12への取り付けは、ねじ13によって行う。プリント回路基板7には貫通孔17が開けられ、傾斜基台12にはねじ12が螺合する雌ねじ12gが形成されている。上記より、直接的には、傾斜基台12がプリント回路基板7を支持しているが、傾斜基台12と絶縁基台11とが、プリント回路基板7を支持しているとみてもよい。
FIG. 1 is a diagram showing an electrical inspection jig 10 (electrical inspection device 50) according to an embodiment of the present invention. In the electronic component to be subjected to the electrical inspection according to the embodiment of the present invention, the lead or the
図2は、被検査体の電子部品70を示す図である。電子部品70は、図3に示す接続部品として用いられる。図3では、電子部品70は、2つの直交する基板上の電極間を接続している。電子部品である接続部品70の一方側のリード71は、一方の基板90に設けられた電極91にはんだ78によって接続されている。接続部品70の他方側のリード71は、前記一方の基板に直交するように配置された基板90上の電極91に、やはりはんだ78で接続されている。このような接続の構造から分かるように、電子部品70のリード71の本体部70aのマクロ的な面に略45°の角度をもって交差する。両側のリード71,71がなす角度は、したがって90°である。一方側と他方側のリード71において、本体部70aに近い根本部は本体部の面に対して45°の角度(交差角)をなす。しかし、リード71の先端部は、その交差角を減じて緩和するために、本体部70aの面に近づく向きに曲げられている。このため、上記のはんだ78による接続の際、リード71の先端を電極91の面に沿わせるので、それより本体部側のリードおよび本体部70a自身は、弾性的に湾曲することになる。本体部70aの面は、平面ではなく、少し湾曲しており、はんだ接続の固定によって、リードの根本側とともにより湾曲しやすくなっている。
FIG. 2 is a diagram showing an
図4は、平板の絶縁性基台11に固定された2つの傾斜基台12を示す図である。2つの傾斜基台12は、接続部品70の本体部70aの大きさに合わせた間隔をあけて、両サイドに低くなる傾斜面を持つ。傾斜基台12には、ねじ13a〜13dが配置され、このあと説明するように、プリント回路基板7を傾斜基台12上に固定する。図5は、上記の傾斜基台12に取り付けられるプリント回路基板またはピッチ変換基板7である。図5では、裏面が示され、裏面端子7bがテスターへの配線21にはんだ接続されている。図5において、プリント回路基板7の裏面の範囲Rが、傾斜基台12の傾斜面に接するように固定される。傾斜基台12のねじ13aは、プリント回路基板7の貫通孔17aを挿通して雌ねじ部に螺合される。ねじ13bは、貫通孔17bを通り、ねじ13cは貫通孔17cを通り、ねじ13dは貫通孔17dを通って、それぞれ傾斜基台12に設けられた雌ねじに螺合される。プリント回路基板7の裏面端子7bは、傾斜基台12の傾斜面に当らない。このため、図1に示すように、裏面の下方をテスターへの配線21が通り抜けてゆく。
FIG. 4 is a view showing two
回路基板7は、コンタクトシート5を介在させて、電子部品のリード71と電気的に接続する。コンタクトシート5は、多孔質の樹脂部の孔の内壁に導電性金属を付着させて導通部5aは形成される。樹脂部は絶縁部5bとなる。この際、導電性金属の付着量を適度に制御することによって、導通部での多孔質構造を保持することができる。導電性金属が多孔質構造の樹脂部の表面に沿って付着しているため、導電性金属層の部分が多孔質構造と一体となって多孔質状構造となっている。このため、接触時の導通部自身の変形容易性を得ることができる。他方で、これは、所定レベル以上の圧縮応力を加えられないと、導通部5aの導通状態が得られないことを意味する。したがって、コンタクトシート5を用いる場合、所定レベル以上の圧縮応力を加える必要がある。
The
このため、電気検査装置には、加圧装置が備えられて、被検査体である電子部品と、電気検査ジグとの圧力を加える。図6は、リード71に直接、接して圧力を加える圧子54を示す図である。圧子54は、二股状の樹脂部54aと、その二股状樹脂部の根本に差し込まれ固定された金属部54mとから形成される。樹脂部54aを形成する樹脂は、PTFE系樹脂、POM系樹脂、PA系樹脂、PPS系樹脂、PI系樹脂などの硬質樹脂を用いることができる。リード71に接触する先端部は丸みを帯びているのが望ましい。また、先端部54aは、プリント回路基板の表面に平行な面であってもよい。二股に分岐した一方54aは、一方のリード71に、直接、接触して、プリント回路基板7に向けて圧力を加える。二股の両方の先端部の間隔は、接続部品70における2つのリード71の距離に略一致する。
For this reason, the electrical inspection apparatus is provided with a pressurizing device, and applies pressure between the electronic component which is the object to be inspected and the electrical inspection jig. FIG. 6 is a view showing an
通常の電気検査装置では、圧力を加える圧子は、電子部品本体部70aに接触して、プリント回路基板7との間に挟まれるコンタクトシート5に圧力を加える。しかし、上述のように、リード71が、電子部品本体部70aの表面に交差する方向に延びるように位置する場合、本体部70aを圧子が押す構造は好ましくない。図1に示すように、圧子54は、コンタクトシート5に接するリード71を、直接、押しつけるのがよい。図1および図6から、リード71には、圧子54は丸みを帯びた先端部が、線状に接触して押しつけるのが望ましい。
In a normal electrical inspection apparatus, an indenter that applies pressure contacts the electronic component
(本発明の実施の形態の電気検査ジグのポイント)
上記の電気検査ジグのポイントは次の点にある。
(P1)電子部品のリードの先端が延びる方向に沿わせて、コンタクトシート5およびプリント回路基板7の面を配置する。これは、リードの先端が延びる方向が、コンタクトシート5およびプリント回路基板7の面に含まれるように配置すると言い換えてもよい。
(P2)上記(P1)の条件下、圧力を加える圧子54を、リード71に、直接、接触させ、リード71と、(コンタクトシート5/プリント回路基板7)とに上下から圧力を加える。圧子54の先端部54aは、リード71が延びる方向に沿うような面にしてもよいし、また丸みを帯びさせて線状接触によって加圧してもよい。
(Points of electrical inspection jig according to the embodiment of the present invention)
The points of the electrical inspection jig are as follows.
(P1) The surfaces of the
(P2) Under the conditions of (P1) above, the
上記の構成(P1)、(P2)を備えることにより、次の作用効果を奏することができる。
(E1)高価なコンタクトシート5に、リード71から突き出すような局所に集中した応力が加えられず、コンタクトシートの耐用検査回数が短縮されるのを防止することができる。
(E2)連続して繰り返し行うことによる高い電気検査能率が、コンタクトシートの損傷による中断で低下するのを防止することができる。また、リード71の突き出すような集中した応力によってコンタクトシートが破損することに起因する、断線、混線などの誤判断を防止することができる。
By providing the above configurations (P1) and (P2), the following operational effects can be achieved.
(E1) The locally concentrated stress that protrudes from the
(E2) It is possible to prevent the high electrical inspection efficiency due to continuous and repeated performance from being lowered by interruption due to damage to the contact sheet. Further, it is possible to prevent misjudgment such as disconnection and cross-connection due to the contact sheet being damaged by concentrated stress such as the
次に実施例により本発明の効果を検証した結果について説明する。下記の2つの試験体(本発明例A1および比較例B1)を、ICパッケージ(製品)の出荷ラインに配置して、所定期間、出荷試験を行った。本発明例A1は、図1に示すように、ICパッケージの傾斜リードの傾きに合わせてコンタクトシートを傾けて、かつ押圧面をコンタクトシート面に合わせた電気検査ジグである。本発明例A1では、リードの延びる方向は、コンタクトシートの面内方向に合っている。一方、比較例B1は、ICパッケージのリード先端部の延びる方向は、コンタクトシートの面内方向に合っていず、コンタクトシートの面に交差する電気検査ジグである。比較例B1では、コンタクトシートは水平(垂直方向に直角)に配置され、したがってコンタクトシートは、リード先端部ではなくIC本体部の面に平行になる。
上記の所定期間、破損が生じたものを交換し、使用開始から交換までの間の試験回数を耐久回数とした。実際は正常なICパッケージであるのに、断線があるという誤報を発した回数の割合を、断線NG誤報率とした。すなわち、断線NG誤報率は、上記所定期間中に起きた(断線NG誤報の回数/試験回数)×100%である。結果を、表1に示す。
Next, the results of verifying the effects of the present invention will be described with reference to examples. The following two specimens (Invention Example A1 and Comparative Example B1) were placed on the shipment line of the IC package (product), and a shipment test was performed for a predetermined period. As shown in FIG. 1, Example A1 of the present invention is an electrical inspection jig in which the contact sheet is inclined according to the inclination of the inclined lead of the IC package and the pressing surface is aligned with the contact sheet surface. In the inventive example A1, the direction in which the leads extend matches the in-plane direction of the contact sheet. On the other hand, the comparative example B1 is an electrical inspection jig in which the extending direction of the lead tip of the IC package does not match the in-plane direction of the contact sheet and intersects the surface of the contact sheet. In the comparative example B1, the contact sheet is disposed horizontally (at right angles to the vertical direction), and therefore, the contact sheet is parallel to the surface of the IC body, not the lead tip.
During the predetermined period, the damaged ones were replaced, and the number of tests between the start of use and the replacement was defined as the durability number. The ratio of the number of times that a false notification that there was a disconnection even though it was a normal IC package was the disconnection NG false alarm rate. That is, the disconnection NG false alarm rate is (the number of disconnection NG false alarms / number of tests) that occurred during the predetermined period × 100%. The results are shown in Table 1.
表1によれば、耐久回数については、本発明例A1は、比較例B1に比べて、数倍(中心値で比較して3倍)という顕著な長寿命化が認められた。また、工場の操業および電気検査自体の信頼性に大きな影響を与える断線NG誤報率については、比較例B1では15〜20%という異常に大きな率であった。これに対して、本発明例A1では0.01%未満という非常に低い率を実現することができた。見方を変えれば、断線NG誤報はあってはならないことであり、製造工場からの出荷における電気検査において、通常の状態といえる率を実現することができ、電気検査に対する信頼性を高めることができた。また、製造工場の操業に対して、無用な混乱を与えるおそれを避けることができた。 According to Table 1, regarding the number of endurance, the invention example A1 was found to have a significantly longer life than the comparative example B1 by several times (three times compared with the center value). Moreover, about the disconnection NG false alarm rate which has big influence on the reliability of factory operation and electrical inspection itself, it was an unusually large rate of 15 to 20% in Comparative Example B1. On the other hand, in the inventive example A1, a very low rate of less than 0.01% could be realized. From a different point of view, there should be no broken NG false alarms, and it is possible to realize a rate that can be said to be a normal state in electrical inspection at the time of shipment from the manufacturing plant, and it is possible to improve the reliability of electrical inspection. It was. Moreover, the possibility of causing unnecessary disruption to the operation of the manufacturing plant could be avoided.
上記において、本発明の実施の形態および実施例について説明を行ったが、上記に開示された本発明の実施の形態および実施例は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこれら発明の実施の形態に限定されない。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。 Although the embodiments and examples of the present invention have been described above, the embodiments and examples of the present invention disclosed above are merely examples, and the scope of the present invention is the implementation of these inventions. It is not limited to the form. The scope of the present invention is indicated by the description of the scope of claims, and further includes meanings equivalent to the description of the scope of claims and all modifications within the scope.
本発明は、電子部品のリードの先端の延びる方向に、(コンタクトシート/プリント回路基板)の面を沿わせることにより、リードの先端からコンタクトシートにかかる集中した応力を緩和することができ、コンタクトシートの耐用試験回数を延長することができる。また、連続して繰り返す電気検査が、コンタクトシートの損傷により中断されることによる、電気検査能率の低下を防止することができる。 The present invention can relieve concentrated stress on the contact sheet from the tip of the lead by aligning the surface of the (contact sheet / printed circuit board) in the direction in which the tip of the lead of the electronic component extends. The number of sheet durability tests can be extended. In addition, it is possible to prevent a decrease in the efficiency of electrical inspection due to interruption of continuous electrical inspection due to contact sheet damage.
5 コンタクトシート、5a 導通部、5b 絶縁部、7 プリント回路基板(ピッチ変換基板)、7a 表面端子、7b 裏面端子、10 電気検査ジグ、11 絶縁性基台、12 傾斜基台、12g 雌ねじ、13,13a〜13d ねじ、17,17a〜17d プリント回路基板の貫通孔(ねじ孔)、21 テスターの配線、50 電気検査装置、54 圧子、54m 金属ロッド、54a 樹脂先端部、70 被検査体(電子部品、接続部品)、70a 電子部品本体部、71 リード、78 はんだ、90 基板、91 電極。
規格化電極、77,77a,77b,77c,77d 被検査体電極。
5 Contact sheet, 5a Conducting part, 5b Insulating part, 7 Printed circuit board (pitch conversion board), 7a Front terminal, 7b Back terminal, 10 Electrical inspection jig, 11 Insulating base, 12 Inclined base, 12g Female thread, 13 , 13a to 13d Screw, 17, 17a to 17d Printed circuit board through hole (screw hole), 21 tester wiring, 50 electrical inspection device, 54 indenter, 54m metal rod, 54a resin tip, 70 inspected object (electronic) Components, connection components), 70a electronic component main body, 71 lead, 78 solder, 90 substrate, 91 electrode.
Standardized electrodes, 77, 77a, 77b, 77c, 77d Inspected electrodes.
Claims (4)
コンタクトシートを挟んで前記電子部品のリードと導通する端子を、表面にもつプリント回路基板と、
前記プリント回路基板を支持する支持台と、
前記電子部品のリード、コンタクトシート、およびプリント回路基板の端子を重ねて加圧するための圧子とを備え、
前記支持台は、前記プリント回路基板を傾けて支持し、当該プリント回路基板の表面の面内方向に前記リードの延びる方向を合わせることを特徴とする、電気検査ジグ。 An electrical inspection jig used for electrical inspection of an electronic component having a lead extending in a direction intersecting the surface of the main body,
A printed circuit board having a terminal on the surface, which is electrically connected to the lead of the electronic component with a contact sheet interposed therebetween,
A support for supporting the printed circuit board;
An indenter for stacking and pressurizing the leads of the electronic component, the contact sheet, and the terminals of the printed circuit board;
The electrical inspection jig, wherein the support base tilts and supports the printed circuit board, and aligns the extending direction of the leads with the in-plane direction of the surface of the printed circuit board.
プリント回路基板を支持して、前記電子部品のリードが延びる方向を、そのプリント回路基板の表面の面内方向に含むように配置する工程と、
前記電子部品のリードと、前記プリント回路基板の端子とを、コンタクトシートを介在させて重ねて、その重ねた部分に圧力を加える工程とを備えることを特徴とする、電気検査方法。
A method for conducting an electrical inspection of an electronic component having a lead extending in a direction intersecting the surface of the main body,
A step of supporting a printed circuit board and arranging the lead of the electronic component to extend in an in-plane direction of the surface of the printed circuit board;
An electrical inspection method comprising: a step of superposing leads of the electronic component and terminals of the printed circuit board with a contact sheet interposed therebetween, and applying pressure to the superposed portion.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2008215864A JP2010048784A (en) | 2008-08-25 | 2008-08-25 | Jig, apparatus, and method for electrical inspection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008215864A JP2010048784A (en) | 2008-08-25 | 2008-08-25 | Jig, apparatus, and method for electrical inspection |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010048784A true JP2010048784A (en) | 2010-03-04 |
Family
ID=42065969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008215864A Pending JP2010048784A (en) | 2008-08-25 | 2008-08-25 | Jig, apparatus, and method for electrical inspection |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2010048784A (en) |
-
2008
- 2008-08-25 JP JP2008215864A patent/JP2010048784A/en active Pending
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