JP2010041550A - 圧電デバイスとその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 溶解時に封止材から発生するガスが圧電デバイスのパッケージ内に取り残されないようにする製造方法を提供する。
【解決手段】 圧電デバイスの製造方法は、大気中で振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハとスルーホールを有するベース用のウエハと接合する第1接合工程(S11)と、大気中でスルーホールを充填材で封止する封止工程(S12)と、真空中又は不活性雰囲気中で圧電フレームにリッド用のウエハを接合する第2接合工程(S13)と、接合した圧電フレーム用のウエハ、ベース用のウエハ及びリッド用のウエハをダイシングするダイシング工程(S14)と、を備える。
【選択図】図5
【解決手段】 圧電デバイスの製造方法は、大気中で振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハとスルーホールを有するベース用のウエハと接合する第1接合工程(S11)と、大気中でスルーホールを充填材で封止する封止工程(S12)と、真空中又は不活性雰囲気中で圧電フレームにリッド用のウエハを接合する第2接合工程(S13)と、接合した圧電フレーム用のウエハ、ベース用のウエハ及びリッド用のウエハをダイシングするダイシング工程(S14)と、を備える。
【選択図】図5
Description
本発明は、圧電振動片をパッケージ内に配置した圧電デバイスと、その圧電デバイスの製造方法とに関する。
従来、移動体通信機器やOA機器等の小型軽量化及び高周波数化に伴って、それらに用いられる圧電振動子も、より一層の小型化及び高周波数化への対応が求められている。
従来、圧電振動子は、金属、ガラス又はセラミックからなるリッドとパッケージ部材との接合面にロウ材を塗布して重ね合わせ、真空中あるいは不活性ガス中において加熱などによってロウ材を溶融することにより封止を行っている。このような圧電振動子は、例えば特許文献1に記載されたものが知られている。
特開2006−042096号公報
特許文献1に開示された圧電振動子は、パッケージ部材の接合を行う場合に、封止用の貫通孔(スルーホール)を封止材(ハンダ材)などで塞いでいる。封止材などを溶融する過程で生じたガスは、圧電振動片に吸着されることがある。このため、振動周波数にバラツキを生じていた。また、貫通孔の封止を行う場合に、溶融時に封止材から発生するガスがパッケージ内に取り残されることにより、圧電振動子の長期安定性を損なう懸念があった。
さらに、特許文献1ではセラミック基材からなるパッケージ部材に水晶振動子を載置するため、一つ一つの圧電振動子を効率的に生産する作業効率が悪かった。つまり、パッケージのスルーホールを封止する作業において、個々のパッケージに設けられた多数のスルーホールに充填する封止材の投入に要する作業時間が、作業効率向上のネックになっている。
そこで本発明の目的は、溶融時に封止材から発生するガスがパッケージ内に取り残されないようにすることにより、振動片の振動周波数にバラツキを生じることなく、長期安定性を得られる圧電デバイスを提供することである。
第1の観点の圧電デバイスは、励振電極が形成された振動片と、振動片を囲み励振電極に接続した接続電極が形成される外枠部とを有する圧電フレームと、圧電フレームの外枠部に対応した形状で外枠部の一方の面に接合する外枠フレームと、外枠フレームの面に接合するリッドと、外枠部の他方の面に接合し接続電極に接続される接続端子と、接続端子の反対面に形成された外部端子と、接続端子と外部端子とを接続するスルーホール配線とを有するベースと、を備える。
外枠フレームを有しているため、最後に外枠フレームの面にリッドを接合することができる。
外枠フレームを有しているため、最後に外枠フレームの面にリッドを接合することができる。
第2の観点の圧電デバイスは、励振電極が形成された振動片と、振動片を囲み励振電極に接続した接続電極が形成され且つ振動片よりも厚い外枠部とを有する圧電フレームと、圧電フレームの外枠部の一方の面に接合するリッドと、外枠部の他方の面に接合し接続電極に接続される接続端子と、接続端子の反対面に形成された外部端子と、接続端子と外部端子とを接続するスルーホール配線とを有するベースと、を備える。
圧電フレームが厚い外枠部を有しているため、最後に圧電フレームの外枠部の一方の面にリッドを接合することができる。
圧電フレームが厚い外枠部を有しているため、最後に圧電フレームの外枠部の一方の面にリッドを接合することができる。
第3の観点の圧電デバイスのスルーホール配線は、金(Au)層が形成されたスルーホールに金(Au)と他の金属との充填材で封止されて形成されている。
第4の観点の圧電デバイスの接続電極及び励振電極は、クロム又はニッケルからなる下地層と下地層の表面に形成された金(Au)層とからなる。
第4の観点の圧電デバイスの接続電極及び励振電極は、クロム又はニッケルからなる下地層と下地層の表面に形成された金(Au)層とからなる。
第5の観点の圧電デバイスの製造方法は、大気中で振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハとスルーホールを有するベース用のウエハと接合する第1接合工程と、大気中でスルーホールを充填材で封止する封止工程と、真空中又は不活性雰囲気中で圧電フレームにリッド用のウエハを接合する第2接合工程と、接合した圧電フレーム用のウエハ、ベース用のウエハ及びリッド用のウエハをダイシングするダイシング工程と、を備える。
封止材などを溶融する過程で生じるガスは大気中に開放され、パッケージングの最終工程が真空中又は不活性雰囲気中で行われるため、振動片に封止材などから生じるガスが吸着されることがない。
封止材などを溶融する過程で生じるガスは大気中に開放され、パッケージングの最終工程が真空中又は不活性雰囲気中で行われるため、振動片に封止材などから生じるガスが吸着されることがない。
第6の観点の圧電デバイスの製造方法であって、大気中で振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハを挟むようにスルーホールを有するベース用のウエハと外枠部に対応した外枠フレームとで接合する第1接合工程と、大気中でスルーホールを充填材で封止する封止工程と、真空中又は不活性雰囲気中で外枠フレームに平板状のリッド用のウエハを接合する第2接合工程と、を備える。
封止材などを溶融する過程で生じるガスは大気中に開放され、パッケージングの最終工程が真空中又は不活性雰囲気中で行われる。また、リッド用のウエハは平板状であるため、真空中又は不活性雰囲気中でも簡易に扱うことができる。
封止材などを溶融する過程で生じるガスは大気中に開放され、パッケージングの最終工程が真空中又は不活性雰囲気中で行われる。また、リッド用のウエハは平板状であるため、真空中又は不活性雰囲気中でも簡易に扱うことができる。
第7の観点の圧電デバイスの製造方法は、ベース用のウエハと圧電フレーム用のウエハとは水晶材料であり、第1接合工程はシロキサン結合である。
第8の観点の圧電デバイスの製造方法は、リッド用のウエハは水晶材料又はガラス材料であり、第2接合はシロキサン結合又は陽極接合である。
第8の観点の圧電デバイスの製造方法は、リッド用のウエハは水晶材料又はガラス材料であり、第2接合はシロキサン結合又は陽極接合である。
本発明の圧電デバイスの製造方法は、振動周波数にバラツキを生じることなく長期安定性を得られる圧電デバイスを製造することができ、また作業効率もよい。
<第1実施形態:第1水晶振動子100の構成>
以下、本発明の各実施形態にかかる第1水晶振動子100について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態の第1水晶振動子100の概略図を示している。
図1(a)は、分割した状態の第1水晶振動子100を、リッド10のリッド部側からみた斜視図である。図1(b)は、図1(a)のA−A断面で第1水晶振動子100の断面構成図である。
以下、本発明の各実施形態にかかる第1水晶振動子100について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態の第1水晶振動子100の概略図を示している。
図1(a)は、分割した状態の第1水晶振動子100を、リッド10のリッド部側からみた斜視図である。図1(b)は、図1(a)のA−A断面で第1水晶振動子100の断面構成図である。
図1(a)及び図1(b)に示されるように、第1水晶振動子100は、最上部の第1リッド10、第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び最下部の第1ベース40から構成される。第1リッド10、第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び第1ベース40は水晶材料から形成される。第1圧電フレーム50は、エッチングにより形成された音叉型の水晶振動片30を有している。
第1水晶振動子100は、音叉型の水晶振動片30を備えた第1圧電フレーム50を中心に挟んで、その第1圧電フレーム50の上に第1外枠フレーム20が接合され、第1圧電フレーム50の下に第1ベース40が接合される。さらに、第1外枠フレーム20の上に第1リッド10が接合されてパッケージ90が形成されている。つまり、第1リッド10は第1外枠フレーム20に、第1圧電フレーム50は第1外枠フレーム20に、第1ベース40は第1圧電フレーム50にシロキサン接合(Si−O−Si)により封止する構成になっている。
第1リッド10は平板状である。第1外枠フレーム20は、外枠部21を有しており、空間部22が形成されている。内形を規定する空間部22は水晶エッチングにより形成されている。
第1圧電フレーム50は、その中央部にいわゆる音叉型の水晶振動片30と外側に外枠部51とを有しており、音叉型の水晶振動片30と外枠部51との間には空間部52が形成されている。音叉型の水晶振動片30の外形を規定する空間部52は水晶エッチングにより形成されている。音叉型の水晶振動片30は外枠部51と同じ厚さである。音叉型の水晶振動片30は、基部32と基部32から伸びる一対の振動腕31とを有している。基部32と外枠部51とは一体に形成されている。基部32及び外枠部51の第1主面に第1基部電極33と第2基部電極34とが形成され、第2主面にも同様に第1基部電極33と第2基部電極34とが形成されている。
第1ベース40は、第1圧電フレーム50側にベース用凹部47を備える。第1ベース40は第1スルーホール41及び第2スルーホール43並びに段差部49を形成する。段差部49には、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に接続する第1接続電極42及び第2接続電極44が形成されている。第1ベース40は、底面に第1外部電極45及び第2外部電極46を備えている。
第1スルーホール41及び第2スルーホール43は、その内面に金属膜が形成される。内面の金属膜は、第1接続電極42及び第2接続電極44並びに第1外部電極45及び第2外部電極46と同時にフォトリソグラフィ工程で作成される。金属膜は2層から成り、150オングストローム〜700オングストロームのニッケル(Ni)層の上に400オングストローム〜2000オングストロームの金(Au)層が形成された構成である。ニッケル(Ni)層の代わりに、クロム(Cr)層又はチタン(Ti)層が使用されることもある。
第1接続電極42は、第1スルーホール41を通じて第1ベース40に設けた第1外部電極45に電気的に接続する。第2接続電極44は、第2スルーホール43を通じて第1ベース40に設けた第2外部電極46に電気的に接続する。
第1水晶振動子100は、第1リッド10、第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び第1ベース40が接合されてパッケージ90が形成される。つまり、第1基部電極33は第1ベース40の第1外部電極45と電気的に接合し、第2基部電極34は第1ベース40の第2外部電極46と電気的に接合する。
図2は、第1水晶振動子100の概略図を示している。図2(a)は、第1リッド10の上面図であり、(b)は第1外枠フレーム20の上面図であり、(c)は第1圧電フレーム50の上面図であり、(d)は第1ベース40の上面図であり、(e)は、(a)から(d)のA−A断面で第1水晶振動子100を示した概略断面図である。図2では、図1と重複する説明を省く。
図2(a)に示されるように、第1リッド10は、平板状である。図2(b)に示されるように、第1外枠フレーム20は、外枠部21を有しており、内形を規定する空間部22が形成されている。
図2(c)に示されるように、第1圧電フレーム50は、音叉型の水晶振動片30と外枠部51とを備える。音叉型の水晶振動片30は、第1主面及び第2主面に第1励振電極35及び第2励振電極36が形成されており、第1励振電極35は、基部32及び外枠部51に形成された第1基部電極33につながっており、第2励振電極36は、基部32及び外枠部51に形成された第2基部電極34につながっている。また、水晶振動片30の振動腕31の先端には、錘部37及び錘部38が形成されている。第1基部電極33及び第2基部電極34、第1励振電極35及び第2励振電極36並びに錘部37及び錘部38は、同時にフォトリソグラフィ工程で作成される。これらに電圧が加えられると水晶振動片30は所定の周波数で振動する。錘部37及び錘部38は水晶振動片30の振動腕31が振動し易くなるため錘であり且つ周波数調整のために設けられる。
図2(d)に示されるように、第1ベース40は、エッチングにより第1スルーホール41及び第2スルーホール43並びにベース用凹部47及び段差部49が形成される。第1ベース40は、段差部49に第1接続電極42及び第2接続電極44を備え、裏面に第1外部電極45及び第2外部電極46を備えている。第1接続電極42、第2接続電極44、第1外部電極45及び第2外部電極46は、フォトリソグラフィ工程で作成される。
第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び第1ベース40は、第1接合工程でシロキサン結合を行い接合する。シロキサン結合は、音叉型の水晶振動片30を備えた第1圧電フレーム50を中心として、第1ベース40及び第1外枠フレーム20の接面を酸素含有雰囲気中で短波長の紫外線を照射し、清浄な状態にする。そしてそれらを重ね合わさせて、350°Cから450°Cに保持された不図示の高温槽で圧着することによって結合が行われる。
第1接合工程でシロキサン結合を終了した第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び第1ベース40は、第1ベース40の底面を上になるように載置して、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に球形に形成された封止材48を充填し、加熱などによって封止材48を溶融して第1スルーホール41及び第2スルーホール43の封止を行う。
封止材48の共晶合金には、融点280℃の金スズ(Au20Sn)合金、融点356℃の金ゲルマニュウム(Au12Ge)合金又は融点363℃の金シリコン(Au3.15Si)合金のいずれか一つが用いられる。
第2接合工程において、第1接合工程でシロキサン結合を終了した第1外枠フレーム20の接面と第1リッド10の接面とを、酸素含有雰囲気中で短波長の紫外線を照射し清浄な状態にして重ね合わせる。そして、シロキサン結合した第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及びスルーホールが封止された第1ベース40は、第1リッド10と重ね合わされた状態で、不図示の真空リフロー炉により一定時間真空中又は不活性雰囲気中に保持して加熱されシロキサン結合が行われる。このシロキサン結合によりパッケージ90内が真空になった又は不活性ガスで満たされた第1水晶振動子100が完成する。パッケージングがシロキサン結合によって行われるため、パッケージングに接合材を使用する必要がない。また、第1スルーホール41及び第2スルーホール43は封止材48で既に封止されているため、接合材及び封止材48から生じるガスの発生がない。
さらに、シロキサン結合した第1外枠フレーム20、第1圧電フレーム50及び第1ベース40に対して、第1リッド10をシロキサン結合すると、接合材及び封止材48から生じるガスの発生の影響がなく音叉型の水晶振動片30の振動周波数にバラツキが小さくなり、高精度の第1水晶振動子100を生産することができる。
図2(e)の概略断面図で示されるように、第1水晶振動子100は、第1リッド10と第1外枠フレーム20と第1圧電フレーム50と第1ベース40とを重ね合わせ、1個の第1水晶振動子100をシロキサン結合した図を示している。
シロキサン結合は、電極の厚み(3000Åから4000Å)でさえ接合不良の原因となる。このため、外枠部51の裏面に形成した第1基部電極33及び第2基部電極34と対向する面はその配線電極の厚み以上の段差部を形成する必要がある。また、第1ベース40の表面に形成した第1接続電極42及び第2接続電極44はその接続電極の厚み分だけの深さで段差部49を形成する必要がある。つまり、接合面はシロキサン結合を阻害しないように、各電極の段差部及びその対向する面を形成する。
第1ベース40に設けられた段差部49の高さは、ウエットエッチングなどによって2500Å〜3000Åに形成されている。外枠部51に形成された第1基部電極33及び第2基部電極34の厚さも1500Å〜2000Åである。また、第1ベース40に形成された第1接続電極42及び第2接続電極44の厚さも1500Å〜2000Åである。すなわち、外枠部51に形成された基部電極の厚さと第1ベース40に形成された接続電極の厚さを合計すると3000Åから4000Åである。
第1ベース40と外枠部51とを接触しようとすると、最初に第1基部電極33及び第2基部電極34と第1接続電極42及び第2接続電極44とが接触する。このときに外枠部51の底面と第1ベース40の上面との隙間は500Å〜1000Åぐらいとなる。この状態で水晶のシロキサン結合を行うと、第1基部電極33及び第2基部電極34と第1接続電極42及び第2接続電極44との金層が互いに結合する。また、外枠部51の底面と第1ベース40の上面とがシロキサン結合で強固に結合する。
段差部49を設けない状態で、外枠部51の底面と第1ベース40の上面とを結合しようとすると、外枠部51に形成された基部電極と第1ベース40に形成された接続電極との合計厚さが3000Åから4000Åもあり、外枠部51の底面と第1ベース40の上面とが結合しないことが多い。その一方で、基部電極と接続電極との合計厚さ(3000Åから4000Å)の段差部49を設けると、外枠部51と第1ベース40とはシロキサン結合することができるが、第1基部電極33及び第2基部電極34と第1接続電極42及び第2接続電極44とが結合せず、両者が導通していない場合が多い。このため、第1基部電極33及び第2基部電極34と第1接続電極42及び第2接続電極44との合計厚さより約10パーセントから約30パーセント程度水晶厚さが薄くなるような段差部49の高さを形成している。
<第1水晶振動子100の製造工程>
図3は、リッド用ウエハ1と、外枠フレーム用ウエハ60と、音叉型の水晶振動片30が形成された圧電フレーム用ウエハ70と、ベース用凹部47を備えたベース用ウエハ80とを重ね合わせる前の図である。説明の都合上仮想線で、リッド用ウエハ1には第1リッド10が示され、外枠フレーム用ウエハ60には第1外枠フレーム20が示され、圧電フレーム用ウエハ70には第1圧電フレーム50が示され、ベース用ウエハ80にはベース40が示されている。なお、説明の都合上リッド用ウエハ1には42個の第1リッド10が描かれているが、実際の製造においては、1枚のウエハに数百から数千の第1リッド10、第1圧電フレーム50などが形成される。
図3は、リッド用ウエハ1と、外枠フレーム用ウエハ60と、音叉型の水晶振動片30が形成された圧電フレーム用ウエハ70と、ベース用凹部47を備えたベース用ウエハ80とを重ね合わせる前の図である。説明の都合上仮想線で、リッド用ウエハ1には第1リッド10が示され、外枠フレーム用ウエハ60には第1外枠フレーム20が示され、圧電フレーム用ウエハ70には第1圧電フレーム50が示され、ベース用ウエハ80にはベース40が示されている。なお、説明の都合上リッド用ウエハ1には42個の第1リッド10が描かれているが、実際の製造においては、1枚のウエハに数百から数千の第1リッド10、第1圧電フレーム50などが形成される。
重ね合わせる前に、斜線部で内形を規定する空間部22が水晶エッチングにより外枠フレーム用ウエハ60に形成されている。
圧電フレーム用ウエハ70には、斜線部で音叉型の水晶振動片30の外形を規定する開口部52が示されている。開口部52は水晶エッチングで形成されている。また、水晶ウエハ単位で第1圧電フレーム50の外枠部51及び音叉型の水晶振動片30には、第1基部電極33及び第2基部電極34並びに第1励振電極35及び第2励振電極36並びに錘部37及び錘部38が形成されている。
ベース用ウエハ80には、第1ベース40のリッド用凹部47が水晶エッチングで形成されている。さらに第1接続電極42及び第2接続電極44並びに第1外部電極45及び第2外部電極46が形成されている。
リッド用ウエハ1、外枠フレーム用ウエハ60、圧電フレーム用ウエハ70及びベース用ウエハ80から成る4枚の水晶ウエハの直径は、例えば4インチであり軸方向が特定できるように4枚の水晶ウエハの周辺部1e,周辺部60e,周辺部70e及び周辺部80eの一部に水晶の結晶方向を特定するオリエンテーションフラット1c、60c,70c及び80cが形成されている。この4枚の水晶ウエハのオリエンテーションフラットを正確に位置合わせして重ね合わせる。
<第2実施形態:第2水晶振動子110の構成>
図4は、第2水晶振動子110の概略図を示している。図4(a)は、第2リッド10’の上面図であり、(b)は第2外枠フレーム20’の上面図であり、(c)は第1圧電フレーム50の上面図であり、(d)は第1ベース40の上面図であり、(e)は、(a)から(d)のA−A断面で第2水晶振動子110を陽極接合する概略断面図である。
図4は、第2水晶振動子110の概略図を示している。図4(a)は、第2リッド10’の上面図であり、(b)は第2外枠フレーム20’の上面図であり、(c)は第1圧電フレーム50の上面図であり、(d)は第1ベース40の上面図であり、(e)は、(a)から(d)のA−A断面で第2水晶振動子110を陽極接合する概略断面図である。
第2水晶振動子110と第1水晶振動子100との違いは、第2リッド10’がガラス材料から成るリッド用ウエハ1’を用いている点である。このため、第2接合工程において、第2リッド10’と第2外枠フレーム20’とを陽極接合によって接合を行っている。以下の説明では第1水晶振動子100との主な相違点について説明する。なお同一構造部分は同一符号を使用している。
図4(a)に示されるように、第2リッド10’は、パイレックス(登録商標)ガラス、ホウ珪酸ガラス又はソーダガラスなどのナトリウムイオンなどの金属イオンを含有するガラスからなる。
図4(b)に示されるように、第2外枠フレーム20’は外枠部21’を有しており、空間部22が形成されている。外枠部21’の表面に金属膜25を備える。金属膜25は、スパッタリングもしくは真空蒸着などの手法により形成する。金属膜25は例えばアルミニュウム(Al)層より成り、アルミニュウム層の厚みは1000Å〜1500Å程度とする。なお、金属膜25はアルミニュウム層以外に、下地のクロム層に金層を重ねた金属膜であってもよい。
図4(b)に示されるように、第2外枠フレーム20’は外枠部21’を有しており、空間部22が形成されている。外枠部21’の表面に金属膜25を備える。金属膜25は、スパッタリングもしくは真空蒸着などの手法により形成する。金属膜25は例えばアルミニュウム(Al)層より成り、アルミニュウム層の厚みは1000Å〜1500Å程度とする。なお、金属膜25はアルミニュウム層以外に、下地のクロム層に金層を重ねた金属膜であってもよい。
第2水晶振動子110は、第2外枠フレーム20’と第1圧電フレーム50と第1ベース40とを重ね合わせ、第1接合工程でシロキサン結合を行う。次に、第1ベース40の底面を上になるように載置して、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に球形に形成された封止材48を充填し、加熱などによって封止材48を溶融してスルーホールを封止する。
図4(e)は、第2接合工程における陽極接合を行う概略断面図である。上述したように第2外枠フレーム20’は、表面に金属膜25を備え、その金属膜25の上に第2リッド10’が重ねられる。
第2リッド10’が重ねられた第2外枠フレーム20’は、真空中あるいは不活性ガス中で、200°Cから400°Cに加熱しながら加圧される。その際に、第2リッド10’の上面をマイナス電位に、第2外枠フレーム20’の表面の金属膜25をプラス電位にして、直流電源95を用いて500V〜1kVの直流電圧が10分間印加される。第2リッド10’と第2外枠フレーム20’とは陽極接合技術により接合し、パッケージ90’が形成される。説明の都合上第2リッド10’の上面をマイナス電位に、第2外枠フレーム20’の表面の金属膜25をプラス電位にして説明されているが、実際の製造においては、ウエハ単位でリッド用ウエハ1’の上面をマイナス電位に、外枠フレーム用ウエハ60’の第2外枠フレーム20’の金属膜25をプラス電位にして陽極接合が行われる。
ところで、陽極接合は、接合界面にある金属が酸化されるという化学反応により成立する。陽極接合させるときには、金属膜を陽極としガラス部材の接合面に対向する面に陰極を配置し、これらの間に電界を印加する。このことにより、ガラスに含まれているナトリウムなどの金属イオンが陰極側に移動し、この結果接合界面においてガラス部材に接触している金属膜が酸化され、両者が接続した状態が得られる。
なお、第1ベースがガラス材料であってもよく、この場合にも第1ベースが陽極接合される。
なお、第1ベースがガラス材料であってもよく、この場合にも第1ベースが陽極接合される。
<パッケージングの工程>
図5は、ウエハ単位でのパッケージングのフローチャートである。
ステップS11において、音叉型の水晶振動片30を備えた圧電フレーム用ウエハ70を中心として、外枠フレーム用ウエハ60及びベース用ウエハ80の接面を酸素含有雰囲気中で短波長の紫外線を照射し、清浄な状態にする。そしてそれらを重ね合わさせて、350°Cから450°Cに保持された不図示の高温槽で圧着することによってシロキサン結合が行われる。この第1接合工程は大気中で行われる。
図5は、ウエハ単位でのパッケージングのフローチャートである。
ステップS11において、音叉型の水晶振動片30を備えた圧電フレーム用ウエハ70を中心として、外枠フレーム用ウエハ60及びベース用ウエハ80の接面を酸素含有雰囲気中で短波長の紫外線を照射し、清浄な状態にする。そしてそれらを重ね合わさせて、350°Cから450°Cに保持された不図示の高温槽で圧着することによってシロキサン結合が行われる。この第1接合工程は大気中で行われる。
ステップS12では、第1接合工程でシロキサン結合が終了した第1ベース40の底面を上になるように載置して、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に球形に形成された封止材48を充填し、加熱などによって封止材48を溶融してこれらスルーホールを封止する。この工程も大気中で行われる。例えば、封止材48の共晶合金には融点356℃の金ゲルマニュウム(Au12Ge)合金が用いられる。
ステップS13では、第2接合工程において、第1接合工程でシロキサン結合を終了した外枠フレーム用ウエハ60及びリッド用ウエハ1の接面を、酸素含有雰囲気中で短波長の紫外線を照射し清浄な状態にして重ね合わせる。そして、シロキサン結合した外枠フレーム用ウエハ60、圧電フレーム用ウエハ70及びスルーホールが封止されたベース用ウエハ80は、リッド用ウエハ1と重ね合わされた状態で、不図示の真空リフロー炉により一定時間真空中又は不活性雰囲気中に保持して加熱される。このシロキサン結合によりパッケージ90内が真空になった又は不活性ガスで満たされた第1水晶振動子100が完成する。
ガラス材料からなるリッド用ウエハ1’には、外枠フレーム用ウエハ60’の外枠部21’は、表面に金属膜25を備えている。第2接合工程において、第1接合工程でシロキサン結合を終了した外枠フレーム用ウエハ60’をリッド用ウエハ1’を重ね合わせて陽極接合する。この陽極接合は真空中あるいは不活性ガス中で行われ、パッケージ90’
内が真空になった又は不活性ガスで満たされた第2水晶振動子110が完成する。
内が真空になった又は不活性ガスで満たされた第2水晶振動子110が完成する。
ステップS14では、パッケージ90及びパッケージ90’が完成されたウエハをダイシングソー又はレーザーソーで切断して切り離し、個々の第1水晶振動子100及び第2水晶振動子110に形成される。いわゆるパッケージングと電極の結合とを同時に行うことができ、また水晶ウエハ単位で製造できるため、生産性を向上させることができる。
<第3実施形態:第3水晶振動子120の構成>
図6は、第3水晶振動子120の概略図を示している。図6(a)は第1リッド10の上面図であり、(b)は第2圧電フレーム50’の上面図であり、(c)は第2ベース40’の上面図であり、(d)は、(a)から(c)のB−B断面で第3水晶振動子120を示した断面構成図である。第1リッド10、第2圧電フレーム50’
及び第2ベース40’は水晶材料から形成される。第3水晶振動子120は、第1水晶振動子100に用いられた外枠フレーム20を用いていない。また、第2ベース40’はベース用凹部47を備えない平面板である。第3実施形態では、第1実施形態と重複する説明を省く。
図6は、第3水晶振動子120の概略図を示している。図6(a)は第1リッド10の上面図であり、(b)は第2圧電フレーム50’の上面図であり、(c)は第2ベース40’の上面図であり、(d)は、(a)から(c)のB−B断面で第3水晶振動子120を示した断面構成図である。第1リッド10、第2圧電フレーム50’
及び第2ベース40’は水晶材料から形成される。第3水晶振動子120は、第1水晶振動子100に用いられた外枠フレーム20を用いていない。また、第2ベース40’はベース用凹部47を備えない平面板である。第3実施形態では、第1実施形態と重複する説明を省く。
図6(a)に示されるように、第1リッド10は、平面板である。
図6(b)に示されるように、第2圧電フレーム50’は、音叉型の水晶振動片30と外枠部51’とを備える。音叉型の水晶振動片30は、外枠部51’の厚さより薄くなるように、両面より水晶エッチングにより形成され、同時に基部32に段差部39が形成されている。音叉型の水晶振動片30の構成は、第1実施形態と同じである。
図6(b)に示されるように、第2圧電フレーム50’は、音叉型の水晶振動片30と外枠部51’とを備える。音叉型の水晶振動片30は、外枠部51’の厚さより薄くなるように、両面より水晶エッチングにより形成され、同時に基部32に段差部39が形成されている。音叉型の水晶振動片30の構成は、第1実施形態と同じである。
図6(c)に示されるように、第2ベース40’はベース用凹部47を備えない平面板である。第2ベース40’は、エッチングにより第1スルーホール41及び第2スルーホール43が形成される。その他の構成は第1実施形態と同じである。
図6(d)に示されるように、第3水晶振動子120は、第2圧電フレーム50’と第2ベース40’との接面を清浄にして重ね合わせ、第1接合工程でシロキサン結合を行う。次に、第2ベース40’の底面を上になるように載置して、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に球形に形成された封止材48を充填し、加熱などによって封止材48を溶融してスルーホールを封止する。
第2接合工程で第2圧電フレーム50’と第1リッド10との接面を清浄にして重ね合わせシロキサン結合を行ってパッケージ90”が形成される。
なお、ガラス材料からなるリッド10’のウエハと第2圧電フレーム50’の外枠部51’に金属膜を備えたウエハとを使用して陽極接合を行ってもよい。第1スルーホール41及び第2スルーホール43は封止材48で封止されてから、第2接合工程において接合されるため、封止材48から生じるガスの発生の影響がなく、音叉型の水晶振動片30の振動周波数にバラツキが小さくなり、高精度の水晶振動子を生産することができる。
なお、ガラス材料からなるリッド10’のウエハと第2圧電フレーム50’の外枠部51’に金属膜を備えたウエハとを使用して陽極接合を行ってもよい。第1スルーホール41及び第2スルーホール43は封止材48で封止されてから、第2接合工程において接合されるため、封止材48から生じるガスの発生の影響がなく、音叉型の水晶振動片30の振動周波数にバラツキが小さくなり、高精度の水晶振動子を生産することができる。
1 …… リッド用ウエハ
1c,60c,70c,80c …… オリエンテーションフラット
1e,60e,70e,80e …… ウエハ周辺部
10,10’ …… リッド
17 …… リッド用凹部
20,20’ …… 外枠フレーム
21、21’ …… 外枠部
22 …… 開口部
25 …… 金属膜
30 …… 水晶振動片
31 …… 振動腕
32 …… 基部
33、34 …… 基部電極
35,36 …… 励振電極
37、38 …… 錘部
39、49 …… 段差部
40、40’ …… ベース
41,43, …… スルーホール
42,42’、44、44’ …… 接続電極
45,45’、46、46’ …… 外部電極
47 …… ベース用凹部
48 …… 封止材
50、50’ …… 圧電フレーム
51、51’ …… 外枠部
52 …… 開口部
60 …… 外枠フレーム用ウエハ
70 …… 圧電フレーム用ウエハ
80 …… ベース用ウエハ
90,90’、90” …… パッケージ
95 …… 直流電源
1c,60c,70c,80c …… オリエンテーションフラット
1e,60e,70e,80e …… ウエハ周辺部
10,10’ …… リッド
17 …… リッド用凹部
20,20’ …… 外枠フレーム
21、21’ …… 外枠部
22 …… 開口部
25 …… 金属膜
30 …… 水晶振動片
31 …… 振動腕
32 …… 基部
33、34 …… 基部電極
35,36 …… 励振電極
37、38 …… 錘部
39、49 …… 段差部
40、40’ …… ベース
41,43, …… スルーホール
42,42’、44、44’ …… 接続電極
45,45’、46、46’ …… 外部電極
47 …… ベース用凹部
48 …… 封止材
50、50’ …… 圧電フレーム
51、51’ …… 外枠部
52 …… 開口部
60 …… 外枠フレーム用ウエハ
70 …… 圧電フレーム用ウエハ
80 …… ベース用ウエハ
90,90’、90” …… パッケージ
95 …… 直流電源
Claims (8)
- 励振電極が形成された振動片と、前記振動片を囲み前記励振電極に接続した接続電極が形成される外枠部とを有する圧電フレームと、
前記圧電フレームの外枠部に対応した形状で、前記外枠部の一方の面に接合する外枠フレームと、
前記外枠フレームの面に接合するリッドと、
前記外枠部の他方の面に接合し前記接続電極に接続される接続端子と、前記接続端子の反対面に形成された外部端子と、前記接続端子と前記外部端子とを接続するスルーホール配線とを有するベースと、
を備えることを特徴とする圧電デバイス。 - 励振電極が形成された振動片と、前記振動片を囲み前記励振電極に接続した接続電極が形成され且つ前記振動片よりも厚い外枠部とを有する圧電フレームと、
前記圧電フレームの外枠部の一方の面に接合するリッドと、
前記外枠部の他方の面に接合し前記接続電極に接続される接続端子と、前記接続端子の反対面に形成された外部端子と、前記接続端子と前記外部端子とを接続するスルーホール配線とを有するベースと、
を備えることを特徴とする圧電デバイス。 - 前記スルーホール配線は、金(Au)層が形成されたスルーホールに金(Au)と他の金属との充填材で封止されて形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の圧電デバイス。
- 前記接続電極及び励振電極は、クロム又はニッケルからなる下地層と下地層の表面に形成された金(Au)層とからなることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の圧電デバイス。
- 圧電デバイスの製造方法であって、
大気中で、振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハとスルーホールを有するベース用のウエハと接合する第1接合工程と、
大気中で、前記スルーホールを充填材で封止する封止工程と、
真空中又は不活性雰囲気中で前記圧電フレームにリッド用のウエハを接合する第2接合工程と、
接合した前記圧電フレーム用のウエハ、前記ベース用のウエハ及び前記リッド用のウエハをダイシングするダイシング工程と、
を備えることを特徴とする圧電デバイスの製造方法。 - 圧電デバイスの製造方法であって、
大気中で、振動片及びこの振動片を囲む外枠部を有する圧電フレーム用のウエハを挟むようにスルーホールを有するベース用のウエハと前記外枠部に対応した外枠フレームとで接合する第1接合工程と、
大気中で、前記スルーホールを充填材で封止する封止工程と、
真空中又は不活性雰囲気中で前記外枠フレームに平板状のリッド用のウエハを接合する第2接合工程と、
を備えることを特徴とする圧電デバイスの製造方法。 - 前記ベース用のウエハと前記圧電フレーム用のウエハとは水晶材料であり、前記第1接合工程はシロキサン結合であることを特徴とする請求項5又は請求項6の圧電デバイスの製造方法。
- 前記リッド用のウエハは前記水晶材料又はガラス材料であり、前記第2接合はシロキサン結合又は陽極接合であることを特徴とする請求項5から請求項7のいずれか一項に記載の圧電デバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008204020A JP2010041550A (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 圧電デバイスとその製造方法 |
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|---|---|
| JP2010041550A true JP2010041550A (ja) | 2010-02-18 |
Family
ID=42013590
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|---|---|---|---|
| JP2008204020A Pending JP2010041550A (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 圧電デバイスとその製造方法 |
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| JP (1) | JP2010041550A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011216940A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶デバイス、及びその製造方法 |
| WO2015162958A1 (ja) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | 株式会社村田製作所 | 水晶振動装置及びその製造方法 |
-
2008
- 2008-08-07 JP JP2008204020A patent/JP2010041550A/ja active Pending
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| US8319404B2 (en) | 2010-03-31 | 2012-11-27 | Nihon Dempa Kogyo, Co., Ltd. | Surface-mountable quartz-crystal devices and methods for manufacturing same |
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| JP5991452B2 (ja) * | 2014-04-24 | 2016-09-14 | 株式会社村田製作所 | 水晶振動装置及びその製造方法 |
| CN106233624A (zh) * | 2014-04-24 | 2016-12-14 | 株式会社村田制作所 | 水晶振动装置以及其制造方法 |
| CN106233624B (zh) * | 2014-04-24 | 2018-12-21 | 株式会社村田制作所 | 水晶振动装置以及其制造方法 |
| US10511282B2 (en) | 2014-04-24 | 2019-12-17 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Crystal-oscillating device and manufacturing method therefor |
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