JP2009532668A - 連続する角度範囲に渡って選択可能な照明を利用する検査システム - Google Patents
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 127
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 11
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
- G01N2021/8825—Separate detection of dark field and bright field
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
【解決手段】照明装置は、照明角度を定める角度により特定される照明の立体角を与える照明部を備え、この照明角度は使用者により実行可能な連続する範囲から選択される。この照明装置は更に照明部により照明が行われる対象物を検査する対象物検査部を備える。この照明部は照明光源と、光収束部と、照明角度選択部とを備えてもよく、これらは照明光源と対象物検査部の間の光路に沿って配置される。照明角度選択部には第1と第2の位置があってよく、第1の位置では直接反射光は対物面に向かって伝播し、第2の位置では照明角度選択部により選択された光も対物面から直接反射する光も集光レンズに入射しない。むしろ、第2の位置では、対物面から散乱する光だけが集光レンズに入射する。
【選択図】図1
Description
2 楕円鏡
3 平面鏡
4 対象物
5 集光レンズ
Claims (20)
- 微細な特徴を有する対象物の検査に使用することを目的とする検査方法であって、
照明角度を定める角度により特定される照明の立体角を与える工程であって、前記照明角度は複数の照明角度から選択された1つの角度である工程と、
前記角度により特定される照明の立体角を使用して対象物を検査する工程とを含むことを特徴とする検査方法。 - 前記複数の照明角度は連続する照明角度範囲であることを特徴とする請求項1に記載の検査方法。
- 前記立体角を与える前記工程は、前記対象物の明視野照明に適した角度を与える工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の検査方法。
- 前記立体角を与える前記工程は、前記対象物の暗視野照明に適した角度を与える工程を含むことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査方法。
- 前記対象物は製造途中のフラットパネル・ディスプレイを含むことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査方法。
- 微細な特徴を有する対象物を検査する検査システムであって、
照明角度を定める角度により特定される照明の立体角を与える照明部であって、前記照明角度は複数の照明角度から選択された1つの角度である照明部と、
前記角度により特定される照明の立体角を使用して微細な特徴を有する対象物を検査する対象物検査部とを備えることを特徴とする検査システム。 - 前記複数の照明角度は連続する照明角度範囲であることを特徴とする請求項6に記載の検査システム。
- 前記照明部は1つの光ファイバー束であることを特徴とする請求項6または7に記載の検査システム。
- 微細な特徴を有する対象物を検査する照明装置であって、
照明角度を定める角度により特定される照明の立体角を与える照明部であって、前記照明角度は複数の照明角度から選択された1つの角度である照明部を備えることを特徴とする照明装置。 - 前記複数の照明角度は連続する照明角度範囲であることを特徴とする請求項9に記載の照明装置。
- 前記照明部は1つの光ファイバー束であることを特徴とする請求項9または10に記載の照明装置。
- 微細な特徴を有する対象物を検査する検査システムであって、
前記検査システムは、微細な特徴を有する対象物の照明を行う照明部であって、前記照明は複数の選択可能な照明角度を定める照明部と、
微細な特徴を有する前記対象物を前記照明に基づき検査する対象物検査部と、
前記対象物検査部を制御して少なくとも2つのモードの1つで動作する制御部とを備え、
前記モードは、連続する前記照明角度範囲内から適切な照明角度を、微細な特徴を有する対象物の各セットについて、前記セット内の前記対象物の少なくとも一部について複数の照明角度それぞれに基づきコントラストを比較することにより特定する第1のモード、すなわち学習モードと、
前記適切な照明角度に基づき対象物の各前記セットを検査する第2のモード、すなわち検査モードとを含むことを特徴とする検査システム。 - 前記複数の照明角度は連続する照明角度範囲であることを特徴とする請求項12に記載の検査システム。
- 前記照明部は1つの光ファイバー束であることを特徴とする請求項12または13に記載の検査システム。
- 前記対象物検査部は集光レンズを備え、
前記対象物は対物面を成し、
前記照明部は、
照明光源と、
光収束部と、
前記照明光源から前記対象物検査部に延在する光路に沿って配置され、少なくとも第1の選択可能な位置において、光を前記対物面に向けて伝播させる照明角度選択部と、
前記照明光源に対する前記照明角度選択部の相対位置を変える動作により、前記照明角度選択部が少なくとも第2の選択可能な位置にある場合、前記照明角度選択部により選択されて前記集光レンズに入射する光は前記対物面で前記対象物により散乱するようになっている相対位置移動部とを備えることを特徴とする請求項12に記載の検査システム。 - 前記照明角度選択部は平面鏡を備えることを特徴とする請求項15に記載の検査システム。
- 前記光収束部は楕円鏡を含むことを特徴とする請求項15または16に記載の検査システム。
- 前記照明光源は1つの光ファイバー束であることを特徴とする請求項15に記載の検査システム。
- 微細な特徴を有する対象物の検査に使用することを目的とする検査方法であって、
第1のモード、すなわち学習モードで、
検査対象の微細な特徴を有する対象物の照明を複数の照明角度からの複数の照明角度で連続的に行う工程と、
前記複数の照明角度に基づき前記微細な特徴のコントラストを比較する工程と、
前記複数の照明角度の中から、前記コントラストに基づき適切な照明角度を特定する工程とを含み、
第2のモード、すなわち検査モードで、前記適切な照明角度に基づき前記微細な特徴を検査する工程を含むことを特徴とする検査方法。 - 実行可能な前記複数の照明角度は実行可能な連続する照明角度範囲であることを特徴とする請求項19に記載の検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US78723006P | 2006-03-30 | 2006-03-30 | |
| PCT/IB2007/002845 WO2007144777A2 (en) | 2006-03-30 | 2007-03-20 | Inspection system employing illumination that is selectable over a continuous range angles |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009532668A true JP2009532668A (ja) | 2009-09-10 |
Family
ID=38832176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009502261A Pending JP2009532668A (ja) | 2006-03-30 | 2007-03-20 | 連続する角度範囲に渡って選択可能な照明を利用する検査システム |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7986404B2 (ja) |
| JP (1) | JP2009532668A (ja) |
| KR (1) | KR101373511B1 (ja) |
| IL (1) | IL193890A0 (ja) |
| TW (1) | TWI457558B (ja) |
| WO (1) | WO2007144777A2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2007-03-20 JP JP2009502261A patent/JP2009532668A/ja active Pending
- 2007-03-20 US US12/295,514 patent/US7986404B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-03-20 KR KR1020087022797A patent/KR101373511B1/ko active Active
- 2007-03-20 WO PCT/IB2007/002845 patent/WO2007144777A2/en not_active Ceased
- 2007-03-22 TW TW096109901A patent/TWI457558B/zh active
-
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| WO2007144777A2 (en) | 2007-12-21 |
| TWI457558B (zh) | 2014-10-21 |
| KR20080106548A (ko) | 2008-12-08 |
| TW200745541A (en) | 2007-12-16 |
| KR101373511B1 (ko) | 2014-03-12 |
| WO2007144777A3 (en) | 2013-07-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100121 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111003 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111005 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
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|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120110 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
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|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120209 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20121016 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
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|
| A601 | Written request for extension of time |
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|
| A602 | Written permission of extension of time |
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|
| A601 | Written request for extension of time |
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|
| A602 | Written permission of extension of time |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
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