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JP2009302110A - Cover ray film - Google Patents

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Publication number
JP2009302110A
JP2009302110A JP2008151551A JP2008151551A JP2009302110A JP 2009302110 A JP2009302110 A JP 2009302110A JP 2008151551 A JP2008151551 A JP 2008151551A JP 2008151551 A JP2008151551 A JP 2008151551A JP 2009302110 A JP2009302110 A JP 2009302110A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coverlay film
reflectance
resin
film
emitting element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008151551A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Jun Matsui
純 松井
Shingetsu Yamada
紳月 山田
Hideji Suzuki
秀次 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Plastics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Plastics Inc filed Critical Mitsubishi Plastics Inc
Priority to JP2008151551A priority Critical patent/JP2009302110A/en
Publication of JP2009302110A publication Critical patent/JP2009302110A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】耐熱性が高く、可視光領域において反射率が高く、及び高温熱負荷環境下における反射率の低下が少ない、大面積化に対応可能な、特にLED実装用プリント配線基板に使用可能なカバーレイフィルム等を提供すること。
【解決手段】結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂からなる樹脂組成物100質量部に対して、無機充填材5〜100質量部を含有する組成物からなり、波長400〜800nmにおける平均反射率が、70%以上であり、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が、10%以下であることを特徴とするプリント配線板の導体回路保護用のカバーレイフィルム。
【選択図】図1
[PROBLEMS] To provide high heat resistance, high reflectivity in the visible light region, and low decrease in reflectivity under high-temperature heat load environment. Provide coverlay film.
A composition containing 5 to 100 parts by weight of an inorganic filler with respect to 100 parts by weight of a resin composition comprising a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and an amorphous polyetherimide resin. The average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm is 70% or more, and the reduction rate of the reflectance at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less. Coverlay film for protecting printed circuit board conductor circuits.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、プリント配線板、特にLDE等の発光素子を搭載した基板の表面を保護する導体回路保護用のカバーレイフィルム、並びに該カバーレイフィルムを積層してなる発光素子搭載基板、及び光源装置に関し、より詳細には、高温熱負荷環境下や、耐光性試験環境下においても、反射率低下が抑制されたカバーレイフィルム等に関する。   The present invention relates to a printed circuit board, in particular, a coverlay film for protecting a conductor circuit for protecting the surface of a substrate on which a light emitting element such as LDE is mounted, a light emitting element mounting substrate formed by laminating the coverlay film, and a light source device More specifically, the present invention relates to a coverlay film or the like in which a decrease in reflectance is suppressed even under a high-temperature heat load environment or a light resistance test environment.

プリント配線基板のパターン上に直接素子を実装し、樹脂封止されたチップタイプLEDは小型化、薄型化に有利なことから、携帯電話のテンキー照明や、小型液晶ディスプレーのバックライトなど電子機器に幅広く使用されてきた。   Since chip-type LEDs that are mounted directly on the printed circuit board pattern and are resin-sealed are advantageous for miniaturization and thinning, they can be used in electronic devices such as numeric keypad lighting for mobile phones and backlights for small liquid crystal displays. Widely used.

近年、LEDの高輝度化技術の向上が著しく、LEDはより高輝度化しているが、それに伴いLED素子自体の発熱量も増大し、プリント配線基板等周辺にかかる熱負荷も増大しており、LED素子周辺温度は100℃超になる場合もあるのが現状である。また、LED搭載基板の製造工程において、封止樹脂の熱硬化処理や、鉛(Pb)フリー半田の採用が進み、リフロー工程においても、260〜300℃程度の温度がかかる場合があり、高温の熱環境下にさらされる。そういった熱負荷の環境下では、従来使用されてきた白色の光硬化性、熱硬化性のソルダーレジストを被覆形成してなり、熱硬化系樹脂組成物からなる白色のプリント配線基板では、ソルダーレジストやプリント配線板が黄変するなど白色度が低下し、反射効率が劣る傾向が見られ、今後の次世代高輝度LED搭載向け基板としては、依然改良の余地があった。また、白色のソルダーレジストを被覆形成してなる白色のプリント配線板を搭載した製品は、今後長期の信頼性が求められており、UV環境下においても同様に、黄変するなど白色度が低下し、反射率が劣る傾向が見られていた。それに対し、セラミック基板については、耐熱性の点では優れているものの、硬く脆い性質から大面積、薄型化には限界があり、今後の一般照明用途や、ディスプレー用途向けの基板としては対応が困難になる可能性があり、高温熱負荷下で、変色しない、反射率の低下しない、大面積化に対応可能な、耐熱性を有するカバーレイフィルム及びカバーレイフィルムを積層してなるプリント配線板の開発が求められていた。   In recent years, the improvement in the technology for increasing the brightness of LEDs has been remarkably improved, and the LEDs have become more bright, but along with this, the amount of heat generated by the LED elements themselves has increased, and the thermal load on the periphery of the printed circuit board has increased, The LED element ambient temperature is sometimes over 100 ° C. Moreover, in the manufacturing process of the LED mounting substrate, the thermosetting treatment of the sealing resin and the use of lead (Pb) -free solder have progressed, and in the reflow process, a temperature of about 260 to 300 ° C. may be applied. Exposed to thermal environment. Under such a heat load environment, a conventional white photo-curing and thermosetting solder resist is coated to form a white printed wiring board made of a thermosetting resin composition. There is a tendency for the whiteness to decrease and the reflection efficiency to be inferior, such as yellowing of the printed wiring board, and there is still room for improvement as a substrate for mounting next-generation high-brightness LEDs. In addition, products equipped with a white printed wiring board that is coated with a white solder resist are required to have long-term reliability in the future. However, there was a tendency for the reflectance to be inferior. On the other hand, ceramic substrates are superior in heat resistance, but they are hard and brittle, so there is a limit to reducing the area and thickness due to their hard and brittle nature, making it difficult to handle as a substrate for future general lighting and display applications. Of a heat-resistant coverlay film and a printed wiring board formed by laminating a coverlay film that does not discolor under high-temperature heat load, does not deteriorate reflectance, and can handle a large area Development was required.

また、プリント配線板の表面には、精密に設計された導体回路等が印刷の手法で形成されており、導体回路の絶縁、防錆、傷付きの防止といった保護のためにカバーレイフィルムが被覆されている。例えば、特許文献1には、結晶融解ピーク温度260℃以上のポリアリールケトン樹脂65〜35重量%と、非晶性ポリエーテルイミド樹脂35〜65重量%とを含有する樹脂組成物からなり、該組成物の結晶性を適当に進行させたカバーレイフィルムについて開示されている。   In addition, printed circuit boards are formed with precisely designed conductor circuits, etc., using a printing method, and covered with a coverlay film to protect conductor circuits such as insulation, rust prevention, and scratch protection. Has been. For example, Patent Document 1 includes a resin composition containing 65 to 35% by weight of a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and 35 to 65% by weight of an amorphous polyetherimide resin, A coverlay film in which the crystallinity of the composition is appropriately advanced is disclosed.

特許第3514668号Japanese Patent No. 3514668

1つ又は複数のLED等の発光素子を実装させたプリント配線基板は、導体回路が形成されるため、導体回路の保護が必要となる。上記特許文献1には、熱可塑性樹脂組成物の結晶性を利用して、260℃以下の低温に加熱した際にプリント配線板の表面との接着に適した特性を示して比較的短時間で接着可能であり、しかも熱融着後には260℃に耐える耐熱性を示すカバーレイフィルムについて開示されているが、特にLEDが実装されたプリント配線基板に積層するためには、特許文献1に記載のような反射率を考慮していないカバーレイフィルムをそのまま使用することはできない。   Since a printed circuit board on which a light emitting element such as one or a plurality of LEDs is mounted has a conductor circuit, the conductor circuit needs to be protected. The above-mentioned Patent Document 1 shows characteristics suitable for adhesion to the surface of a printed wiring board when heated to a low temperature of 260 ° C. or lower by utilizing the crystallinity of the thermoplastic resin composition, and in a relatively short time. A cover lay film that can be bonded and exhibits heat resistance that can withstand 260 ° C. after heat fusion is disclosed. In particular, in order to laminate on a printed wiring board on which an LED is mounted, it is described in Patent Document 1. A coverlay film that does not take into account the reflectance cannot be used as it is.

そこで、本発明の課題は、耐熱性が高く、可視光領域において反射率が高く、及び高温熱負荷環境下における反射率の低下が少ない、大面積化に対応可能な、特にLED実装用プリント配線基板に使用可能なカバーレイフィルム、並びに該カバーレイフィルムを積層してなる発光素子搭載基板及び光源装置を提供することである。   Therefore, the object of the present invention is to provide a printed wiring especially for LED mounting, which has high heat resistance, high reflectance in the visible light region, and little reduction in reflectance under a high-temperature heat load environment, and can cope with a large area. It is an object of the present invention to provide a coverlay film that can be used for a substrate, and a light emitting element mounting substrate and a light source device formed by laminating the coverlay film.

本発明者等らは、結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及びポリエーテルイミド樹脂からなる樹脂組成物100質量部に対し、無機充填材5〜100質量部を含有する組成物からなり、波長400〜800nmにおける平均反射率が、70%以上であり、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であるプリント配線板の導体回路保護用のカバーレイフィルムが、上記課題を解決することを見出し、本発明を完成するに至った。   The inventors have a composition containing 5 to 100 parts by weight of an inorganic filler with respect to 100 parts by weight of a resin composition comprising a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and a polyetherimide resin. The conductor circuit protection of a printed wiring board having an average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm of 70% or more and a reduction rate of the reflectance at a wavelength of 470 nm after a heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less It has been found that a coverlay film for use in solving the above-mentioned problems has led to the completion of the present invention.

すなわち、本発明は、(1)結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及びポリエーテルイミド樹脂からなる樹脂組成物100質量部に対し、無機充填材5〜100質量部を含有する組成物からなり、波長400〜800nmにおける平均反射率が70%以上であり、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であることを特徴とするプリント配線板の導体回路保護用のカバーレイフィルムや、(2)さらに、以下に示す耐光性試験後の反射率の低下率が6%以下であることを特徴とする前記(1)記載のカバーレイフィルムや、(3)無機充填材が、平均粒径15μm以下、かつ平均アスペクト比30以上の充填材を少なくとも含有することを特徴とする前記(1)又は(2)記載のカバーレイフィルムや、(4)無機充填材が、少なくとも酸化チタンを含有することを特徴とする前記(1)〜(3)のいずれか記載のカバーレイフィルムや、(5)フィルムの厚みが、3〜200μmであることを特徴とする前記(1)〜(4)のいずれか記載のカバーレイフィルムや、(6)MD及びTDの線膨張係数の平均値が、35×10−6/℃以下であることを特徴とする前記(1)〜(5)のいずれか記載のカバーレイフィルムや、(7)260℃で5分間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が、10%以下であることを特徴とする前記(1)〜(6)のいずれか記載のカバーレイフィルムに関する。
(耐光性試験);キセノンウェザーメータを用いて、温度63℃(ブラックパネル温度)、湿度50%、放射照度(295〜400nm)60W/mで50時間照射
That is, this invention contains 5-100 mass parts of inorganic fillers with respect to 100 mass parts of (1) polyaryl ketone resin whose crystal melting peak temperature is 260 degreeC or more, and polyetherimide resin. A print comprising the composition, wherein the average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm is 70% or more, and the reduction rate of the reflectance at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less. A coverlay film for protecting a conductor circuit of a wiring board; and (2) a coverlay according to (1) above, wherein the reflectance reduction rate after the light resistance test shown below is 6% or less. The film or (3) the inorganic filler contains at least a filler having an average particle diameter of 15 μm or less and an average aspect ratio of 30 or more. The coverlay film according to (2), (4) the coverlay film according to any one of (1) to (3), wherein the inorganic filler contains at least titanium oxide, and (5) The coverlay film according to any one of (1) to (4) above, wherein the film has a thickness of 3 to 200 μm, and (6) the average value of the linear expansion coefficients of MD and TD is 35 × 10 −6 / ° C. or less, the coverlay film according to any one of the above (1) to (5), and (7) a decrease in reflectance at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 260 ° C. for 5 minutes A rate is 10% or less, It is related with the coverlay film in any one of said (1)-(6) characterized by the above-mentioned.
(Light resistance test): irradiation with a xenon weather meter at a temperature of 63 ° C. (black panel temperature), a humidity of 50%, and an irradiance (295 to 400 nm) of 60 W / m 2 for 50 hours.

また、本発明は、(8)少なくとも1つ以上の発光素子を搭載する基板上に、上記(1)〜(7)のいずれか記載のカバーレイフィルムが積層されていることを特徴とする発光素子搭載基板に関する。   Moreover, this invention is (8) Light emission characterized by laminating | stacking the coverlay film in any one of said (1)-(7) on the board | substrate which mounts at least 1 or more light emitting element. The present invention relates to an element mounting substrate.

さらに、本発明は、(9)導体回路が形成された配線基板上に、少なくとも1つ以上の発光素子が搭載され、かつ、上記(1)〜(7)のいずれか記載のカバーレイフィルムが積層されており、前記発光素子は樹脂封止され、前記配線基板と発光素子とが導通されてなる発光素子搭載基板を備えることを特徴とする光源装置に関する。   Furthermore, the present invention provides (9) a cover lay film according to any one of (1) to (7) above, wherein at least one light emitting element is mounted on a wiring board on which a conductor circuit is formed. The light source device includes a light emitting element mounting substrate that is laminated, the light emitting element is resin-sealed, and the wiring board and the light emitting element are electrically connected.

本発明によると、耐熱性が高く、寸法安定性に優れ、可視光領域において反射率が高く、また高温熱負荷環境下や、耐光性試験環境下における反射率の低下が少ないプリント配線基板の導体回路保護用のカバーレイフィルムを提供することができ、これらはその特性から、発光素子搭載基板の導体回路保護用のカバーレイフィルムに好適に使用可能なものである。   According to the present invention, a printed wiring board conductor having high heat resistance, excellent dimensional stability, high reflectivity in the visible light region, and low decrease in reflectivity under high-temperature heat load environments and light resistance test environments. A cover-lay film for circuit protection can be provided, and these can be suitably used for a cover-lay film for protecting a conductor circuit of a light-emitting element mounting substrate because of its characteristics.

以下、本発明の実施形態について説明するが、本発明の範囲がこの実施形態に限定されるものではない。   Hereinafter, although embodiment of this invention is described, the scope of the present invention is not limited to this embodiment.

(カバーレイフィルム)
本発明のプリント配線板の導体回路保護用のカバーレイフィルムとしては、結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂からなる樹脂組成物100質量部に対し、無機充填材5〜100質量部を含有する組成物からなり、波長400〜800nmにおける平均反射率が70%以上であり、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下のフィルムあれば、特に制限されず、無機充填材の添加により、波長400〜800nmにおける平均反射率を70%以上にすることで、反射率が高く、また高温熱負荷環境下における反射率の低下が極めて少ないという、優れた効果を奏することができる。さらに、特定の無機充填材の添加することで、MD(フィルムの流れ方向)及びTD(流れ方向と直交する方向)の線膨張係数の平均値を35×10−6/℃以下とすることでき、反射率が高く、また高温熱負荷環境下における反射率の低下が極めて少ないというだけでなく、寸法安定性に優れたカバーレイフィルムとすることができる。線膨張係数が35×10−6/℃を超えると、基板に積層した場合にカールや反りを生じやすく、また寸法安定性が不十分となる。より好適な線膨張係数の範囲は、使用する基板の種類や、表裏面に形成する回路パターン、積層構成によっても異なるが、概ね10×10−6〜30×10−6/℃程度である。また、MD、TDの線膨張係数差は20×10−6/℃以下であることが好ましく、15×10−6/℃以下であることがより好ましく、さらには10×10−6/℃以下であることが最も好ましい。このように異方性(MD、TDの線膨張係数差)を小さくさせることによって、線膨張係数が大きい方にカールや反りを生じたり、寸法安定性が不十分となったりする問題がない。
(Coverlay film)
As a coverlay film for protecting a conductor circuit of a printed wiring board of the present invention, a resin composition consisting of a polyarylketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and an amorphous polyetherimide resin is 100 parts by mass. , Composed of a composition containing 5 to 100 parts by weight of an inorganic filler, having an average reflectance of 70% or more at a wavelength of 400 to 800 nm, and a reduction rate of the reflectance at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours If the film is 10% or less, the film is not particularly limited, and by adding an inorganic filler, the average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm is set to 70% or more, so that the reflectance is high and in a high temperature heat load environment. An excellent effect that the decrease in reflectance is extremely small can be achieved. Furthermore, by adding a specific inorganic filler, the average value of the linear expansion coefficients of MD (film flow direction) and TD (direction orthogonal to the flow direction) can be 35 × 10 −6 / ° C. or less. The cover lay film not only has a high reflectivity but also has a very low decrease in reflectivity under a high-temperature heat load environment, and can have a superior dimensional stability. When the linear expansion coefficient exceeds 35 × 10 −6 / ° C., it tends to be curled or warped when laminated on a substrate, and the dimensional stability becomes insufficient. A more preferable range of the linear expansion coefficient is about 10 × 10 −6 to 30 × 10 −6 / ° C., although it varies depending on the type of substrate used, the circuit pattern formed on the front and back surfaces, and the laminated configuration. Further, the difference in linear expansion coefficient between MD and TD is preferably 20 × 10 −6 / ° C. or less, more preferably 15 × 10 −6 / ° C. or less, and further 10 × 10 −6 / ° C. or less. Most preferably. By reducing the anisotropy (difference between the linear expansion coefficients of MD and TD) in this way, there is no problem of curling or warping on the larger linear expansion coefficient or insufficient dimensional stability.

また、本発明のカバーレイフィルムは、以下に示す耐光性試験後の反射率の低下率を6%以下とすることができる。このように本発明のカバーレイフィルは、加熱処理後の耐熱性のみならず、耐光性試験後の反射率の低下が極めて少ないため、プリント配線基板、特にLED実装用プリント配線基板のカバーレイフィルムとして好適に使用することができる。
(耐光性試験);キセノンウェザーメータを用いて、温度63℃(ブラックパネル温度)、湿度50%、放射照度(295〜400nm)60W/mで50時間照射
Moreover, the coverlay film of this invention can make the fall rate of the reflectance after the light resistance test shown below 6% or less. As described above, the cover lay fill of the present invention has not only the heat resistance after heat treatment but also the decrease in reflectance after the light resistance test is extremely small. Can be suitably used.
(Light resistance test): irradiation with a xenon weather meter at a temperature of 63 ° C. (black panel temperature), a humidity of 50%, and an irradiance (295 to 400 nm) of 60 W / m 2 for 50 hours.

上記のとおり、本発明のカバーレイフィルムは、波長400〜800nmにおける平均反射率が70%以上であることを必要とするが、これは可視光領域の反射率が高いほど、搭載するLEDの輝度が高くなる傾向があり、上記範囲であれば、LED搭載向け基板の導体回路保護用カバーレイフィルムとして好適に利用可能であるからである。また、青色LEDの平均波長(470nm)に対応した470nm付近の反射率が高いほど輝度が高くなる傾向があるため、470nmにおける反射率が70%以上であることがより好ましく、反射率が75%以上であることがより好ましい。   As described above, the coverlay film of the present invention requires an average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm to be 70% or more. This is because the higher the reflectance in the visible light region, the higher the luminance of the LED to be mounted. This is because, if it is within the above range, it can be suitably used as a cover lay film for protecting a conductor circuit of an LED mounting substrate. Moreover, since there exists a tendency for a brightness | luminance to become high so that the reflectance of 470 nm vicinity corresponding to the average wavelength (470 nm) of blue LED is high, it is more preferable that the reflectance in 470 nm is 70% or more, and a reflectance is 75%. More preferably.

(無機充填材)
上記無機充填材としては、例えば、タルク、マイカ、雲母、ガラスフレーク、窒化ホウ素(BN)、炭酸カルシウム、水酸化アルミニウム、シリカ、チタン酸塩(チタン酸カリウム等)、硫酸バリウム、アルミナ、カオリン、クレー、酸化チタン、酸化亜鉛、硫化亜鉛、チタン酸鉛、酸化ジルコン、酸化アンチモン、酸化マグネシウム等が挙げられる。これらは1種類を単独で添加してもよく、2種類以上を組み合わせて添加してもよい。
(Inorganic filler)
Examples of the inorganic filler include talc, mica, mica, glass flake, boron nitride (BN), calcium carbonate, aluminum hydroxide, silica, titanate (potassium titanate, etc.), barium sulfate, alumina, kaolin, Examples include clay, titanium oxide, zinc oxide, zinc sulfide, lead titanate, zircon oxide, antimony oxide, and magnesium oxide. These may be added singly or in combination of two or more.

無機充填材は、熱可塑性樹脂への分散性を向上させるために、無機充填材の表面を、シリコン系化合物、多価アルコール系化合物、アミン系化合物、脂肪酸、脂肪酸エステル等で表面処理されたものを使用することができる。その中でもシリコン系化合物(シランカップリング剤)で処理されたものを好適に使用することができる。   Inorganic fillers are those whose surface is treated with silicon compounds, polyhydric alcohol compounds, amine compounds, fatty acids, fatty acid esters, etc., in order to improve dispersibility in thermoplastic resins. Can be used. Among them, those treated with a silicon compound (silane coupling agent) can be preferably used.

(本発明のカバーレイフィルムの反射率調整)
本発明のカバーレイフィルムは、上記のとおり、波長400〜800nmにおける平均反射率を70%以上、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率を10%以下とすることが重要であり、反射率の値がこの範囲内となれば、添加される無機充填材の種類は特に制限されるものではないが、反射率を前記範囲内にする具体的方法としては、ベース樹脂である樹脂組成物との屈折率差の大きい充填材1(概ね充填材1の屈折率が1.6以上)を用いる方法を挙げることができる。さらに、基板との積層におけるカールの防止や寸法安定性を考慮して線膨張係数の値を上記範囲内にする具体的方法としては、前記充填材1と、平均粒径15μm以下、かつ平均アスペクト比(平均粒径/平均厚み)30以上の充填材2とを含有する無機充填材を用いる方法を挙げることができる。これら無機充填材の含有量は、前記樹脂組成物100質量部に対して、5〜100質量部であることを要するが、中でも、前記充填材1及び2を含有する無機充填材を25〜100質量部とすることが好ましい。無機充填材が25質量部より多ければ、反射率と線膨張係数のバランスを取ることができ、100質量部未満であれば、無機充填材の分散性不良や、フィルムの成形時に破断するといった成形性に問題が生じる場合がないので好ましい。このように、無機充填材として、上記で特定された物性値を有する各種充填材(充填材1及び充填材2)を含有させることによって、良好な反射率と異方性のない寸法安定性に優れたカバーレイフィルムを得ることができる。
(Reflectance adjustment of the coverlay film of the present invention)
As described above, the coverlay film of the present invention has an average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm of 70% or more, and a reflectance reduction rate at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less. If the reflectance value falls within this range, the type of inorganic filler added is not particularly limited, but a specific method for bringing the reflectance within the above range is the base. Examples thereof include a method using the filler 1 having a large refractive index difference from the resin composition which is a resin (the refractive index of the filler 1 is generally 1.6 or more). Further, as a specific method for setting the value of the linear expansion coefficient within the above range in consideration of curling prevention and dimensional stability in the lamination with the substrate, the filler 1, the average particle diameter of 15 μm or less, and the average aspect ratio are used. A method using an inorganic filler containing a filler 2 having a ratio (average particle diameter / average thickness) of 30 or more can be mentioned. The content of these inorganic fillers is required to be 5 to 100 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin composition. Among them, the inorganic filler containing the fillers 1 and 2 is preferably 25 to 100 parts. It is preferable to set it as a mass part. If the amount of the inorganic filler is more than 25 parts by mass, the reflectance and the linear expansion coefficient can be balanced. If the amount is less than 100 parts by mass, the inorganic filler is poorly dispersible or the film is broken when it is formed. It is preferable because there is no case where the problem arises in the property. Thus, by including various fillers (filler 1 and filler 2) having the physical property values specified above as inorganic fillers, good reflectivity and dimensional stability without anisotropy are achieved. An excellent coverlay film can be obtained.

前記充填材1は、ベース樹脂である樹脂組成物との屈折率差が大きい無機充填材である。すなわち、無機充填材として屈折率が大きいもの、基準としては1.6以上の無機充填材が好ましい。具体的には、屈折率が1.6以上である炭酸カルシウム、硫酸バリウム、酸化亜鉛、酸化チタン、チタン酸塩等を用いることが好ましく、特に酸化チタンを用いることが好ましい。   The filler 1 is an inorganic filler having a large refractive index difference from the resin composition that is a base resin. That is, an inorganic filler having a large refractive index and a reference inorganic filler of 1.6 or more are preferable. Specifically, calcium carbonate, barium sulfate, zinc oxide, titanium oxide, titanate, or the like having a refractive index of 1.6 or more is preferably used, and titanium oxide is particularly preferably used.

酸化チタンは、他の無機充填材に比べて、顕著に屈折率が高く、ベース樹脂である樹脂組成物との屈折率差を大きくすることができるため、他の充填材を使用した場合よりも、少ない配合量で優れた反射性を得ることができる。またフィルムを薄くしても、高い反射性を有する白色フィルムを得ることができる。   Titanium oxide has a significantly higher refractive index than other inorganic fillers, and can increase the difference in refractive index from the resin composition that is the base resin, so that it is more than when other fillers are used. Excellent reflectivity can be obtained with a small amount. Even if the film is thinned, a white film having high reflectivity can be obtained.

酸化チタンは、アナターゼ型やルチル型のような結晶型の酸化チタンが好ましく、その中でもベース樹脂との屈折率差が大きくなるといった観点から、ルチル型の酸化チタンが好ましい。   The titanium oxide is preferably a crystalline titanium oxide such as anatase type or rutile type. Among them, a rutile type titanium oxide is preferable from the viewpoint of a large difference in refractive index from the base resin.

また酸化チタンの製造方法は、塩素法と硫酸法があるが、白色度の点からは、塩素法で製造された酸化チタンを使用することが好ましい。   Moreover, although the manufacturing method of a titanium oxide has a chlorine method and a sulfuric acid method, it is preferable to use the titanium oxide manufactured by the chlorine method from the point of whiteness.

酸化チタンは、その表面が不活性無機酸化物で被覆処理されたものが好ましい。酸化チタンの表面を不活性無機酸化物で被覆処理することにより、酸化チタンの光触媒活性を抑制することができ、フィルムが劣化することを防ぐことができる。不活性無機酸化物としては、シリカ、アルミナ、及びジルコニアからなる群から選ばれる少なくとも1種類を用いることが好ましい。これらの不活性無機酸化物を用いれば、高い反射性を損なうことなく、高温溶融時に、熱可塑性樹脂の分子量低下や、黄変を抑制することができる。   The titanium oxide is preferably one whose surface is coated with an inert inorganic oxide. By coating the surface of titanium oxide with an inert inorganic oxide, the photocatalytic activity of titanium oxide can be suppressed, and deterioration of the film can be prevented. As the inert inorganic oxide, it is preferable to use at least one selected from the group consisting of silica, alumina, and zirconia. When these inert inorganic oxides are used, a decrease in the molecular weight of the thermoplastic resin and yellowing can be suppressed during high temperature melting without impairing high reflectivity.

また、酸化チタンは、樹脂組成物への分散性を高めるために、その表面がシロキサン化合物、シランカップリング剤等からなる群から選ばれる少なくとも1種類の無機化合物や、ポリオール、ポリエチレングリコール等からなる群から選ばれる少なくとも1種類の有機化合物で表面されたものが好ましい。特に耐熱性の点からは、シランカップリング剤で処理されたものが好ましい。   In addition, in order to improve dispersibility in the resin composition, titanium oxide has at least one inorganic compound selected from the group consisting of siloxane compounds, silane coupling agents, etc., a polyol, polyethylene glycol, and the like. Those surfaced with at least one organic compound selected from the group are preferred. In particular, those treated with a silane coupling agent are preferable from the viewpoint of heat resistance.

酸化チタンの粒径は、0.1〜1.0μmであることが好ましく、より好ましくは0.2〜0.5μmである。酸化チタンの粒径が上記範囲であれば、樹脂組成物への分散性が良好で、それとの界面が緻密に形成され、高い反射性を付与することができる。   The particle size of titanium oxide is preferably 0.1 to 1.0 μm, more preferably 0.2 to 0.5 μm. If the particle size of titanium oxide is in the above range, the dispersibility in the resin composition is good, the interface with it is densely formed, and high reflectivity can be imparted.

酸化チタンの含有量は、樹脂組成物100質量部に対し、10質量部以上であることが好ましく、20質量部以上であることがより好ましく、さらには25質量部以上であることが最も好ましい。上記範囲内であれば、良好な反射特性を得られ、またフィルムの厚みが薄くなっても良好な反射特性を得ることが可能である。   The content of titanium oxide is preferably 10 parts by mass or more, more preferably 20 parts by mass or more, and most preferably 25 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the resin composition. Within the above range, good reflection characteristics can be obtained, and good reflection characteristics can be obtained even when the film is thin.

上記平均粒径15μm以下、かつ平均アスペクト比(平均粒径/平均厚み)30以上の充填材2としては、例えば、合成マイカ、天然マイカ(マスコバイト、フロゴパイト、セリサイト、スゾライト等)、焼成された天然又は合成のマイカ、ベーマイト、タルク、イライト、カオリナイト、モンモリロナイト、バーミキュライト、スメクタイト、及び板状アルミナ等の無機鱗片状(板状)充填材や、鱗片状チタン酸塩を挙げることができる。これらの充填材2によれば、平面方向と厚み方向の線膨張係数比を低く抑えることができる。また、光反射性を考慮した場合には、鱗片状チタン酸塩が、屈折率が高いためより好ましい。なお、前記充填材2は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。アスペクト比の高い鱗片状充填材を用いることにより、フィルムへの透湿(吸湿)を抑えることができ、熱可塑性樹脂の高熱環境下での酸化劣化を防止し、反射率の低下を抑えることが可能であり、また、フィルムの剛性も向上し、より薄型の基板に使用することが可能である。   Examples of the filler 2 having an average particle diameter of 15 μm or less and an average aspect ratio (average particle diameter / average thickness) of 30 or more are, for example, synthetic mica, natural mica (mascobite, phlogopite, sericite, szolite, etc.), fired In addition, inorganic scale-like (plate-like) fillers such as natural or synthetic mica, boehmite, talc, illite, kaolinite, montmorillonite, vermiculite, smectite, and plate-like alumina, and scale-like titanates can be mentioned. According to these fillers 2, the linear expansion coefficient ratio in the plane direction and the thickness direction can be kept low. In consideration of light reflectivity, scaly titanate is more preferable because of its high refractive index. In addition, the said filler 2 can be used individually or in combination of 2 or more types. By using a scaly filler with a high aspect ratio, moisture permeation (moisture absorption) to the film can be suppressed, oxidation deterioration of the thermoplastic resin in a high heat environment can be prevented, and reduction in reflectance can be suppressed. In addition, the rigidity of the film is improved and the film can be used for a thinner substrate.

前記充填材2の含有量は、樹脂組成物100質量部に対し、10質量部以上であることが好ましく、20質量部以上であることがより好ましく、さらには30質量部以上であることが好ましい。上記範囲であれば、得られる白色フィルムの線膨張係数を所望の範囲にまで低下させることが可能である。   The content of the filler 2 is preferably 10 parts by mass or more, more preferably 20 parts by mass or more, and further preferably 30 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the resin composition. . If it is the said range, it is possible to reduce the linear expansion coefficient of the white film obtained to a desired range.

前記充填材1と充填材2の組み合わせとしては、反射率と線膨張係数のバランスを取る上で、上記酸化チタンと鱗片状の無機充填材を適宜配合することが好ましい。   As a combination of the filler 1 and the filler 2, it is preferable that the titanium oxide and the scale-like inorganic filler are appropriately blended in order to balance the reflectance and the linear expansion coefficient.

(樹脂組成物)
上記樹脂組成物としては、結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂を含有する樹脂組成物であることを要し、該樹脂組成物を用いることによって、Pbフリー半田リフローに対する耐熱性を有することが可能である。また、高熱環境下での酸化劣化を防止し、反射率の低下を抑えることが可能であり、加えて、キセノンウェザーメータによる耐光性試験後の反射率の低下率を抑えることも可能である。
(Resin composition)
The resin composition requires a resin composition containing a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and an amorphous polyetherimide resin, and by using the resin composition It is possible to have heat resistance against Pb-free solder reflow. In addition, it is possible to prevent oxidative deterioration in a high heat environment and suppress a decrease in reflectance. In addition, it is possible to suppress a decrease rate in reflectance after a light resistance test using a xenon weather meter.

結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂としては、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK:Tg =145℃、Tm=335℃)、ポリエーテルケトン(PEK:Tg=165℃、Tm=355℃)等が好適に用いられる。   Polyaryl ketone resins having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher include polyether ether ketone (PEEK: Tg = 145 ° C., Tm = 335 ° C.), polyether ketone (PEK: Tg = 165 ° C., Tm = 355 ° C.). Etc. are preferably used.

このポリアリールケトン樹脂は、その構造単位に芳香核結合、エーテル結合及びケトン結合を含む熱可塑性樹脂であり、その代表例としては、ポリエーテルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルケトンケトン等があり、これらの中では、耐熱性向上の観点から、結晶性を示し、Tmが260℃以上、特に300〜380℃のものが好ましい。また、本発明の効果を阻害しない限り、ビフェニル構造、スルホニル基等又はその他の繰り返し単位を含むものであってもよい。   This polyaryl ketone resin is a thermoplastic resin having an aromatic nucleus bond, an ether bond and a ketone bond in its structural unit, and representative examples thereof include polyether ketone, polyether ether ketone, polyether ketone ketone and the like. Among these, from the viewpoint of improving heat resistance, it is preferable to exhibit crystallinity and have a Tm of 260 ° C. or higher, particularly 300 to 380 ° C. Moreover, as long as the effect of this invention is not inhibited, you may contain a biphenyl structure, a sulfonyl group, etc., or another repeating unit.

前記ポリアリールケトン樹脂の中でも、下記構造式(1)で表される繰り返し単位を有するポリエーテルエーテルケトンを主成分とするポリアリールケトン樹脂が特に好ましく用いられる。ここで主成分とは、その含有量が50質量%を超えることを意味する。なお、ポリエーテルエーテルケトンは、「PEEK151G」、「PEEK381G」、「PEEK450G」(いずれもVICTREX社の商品名)等として市販されている。ポリアリールケトン樹脂は、単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   Among the polyaryl ketone resins, polyaryl ketone resins mainly composed of a polyether ether ketone having a repeating unit represented by the following structural formula (1) are particularly preferably used. Here, the main component means that the content exceeds 50% by mass. Polyether ether ketone is commercially available as “PEEK151G”, “PEEK381G”, “PEEK450G” (all are trade names of VICTREX), and the like. A polyaryl ketone resin can be used individually or in combination of 2 or more types.

Figure 2009302110
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また、非晶性ポリエーテルイミド樹脂としては、ガラス転移温度が260℃以上の高Tgを有するポリエーテルイミド(PEI)等が好適に用いられる。   Moreover, as an amorphous polyetherimide resin, polyetherimide (PEI) etc. which have high Tg whose glass transition temperature is 260 degreeC or more are used suitably.

前記非晶性ポリエーテルイミド樹脂としては、具体的に下記構造式(2)又は(3)で表される繰り返し単位を有する非晶性ポリエーテルイミド樹脂が挙げられる。   Specific examples of the amorphous polyetherimide resin include amorphous polyetherimide resins having a repeating unit represented by the following structural formula (2) or (3).

Figure 2009302110
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Figure 2009302110
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構造式(2)又は(3)で表される繰り返し単位を有する非晶性ポリエーテルイミド樹脂は、4,4’−[イソプロピリデンビス(p−フェニレンオキシ)]ジフタル酸二無水物とp−フェニレンジアミン又はm−フェニレンジアミンとの重縮合物として、公知の方法により製造することができる。これらのポリエーテルイミド樹脂の市販品としては、ゼネラルエレクトリック社製の商品名「Ultem 1000」(Tg:216℃)、「Ultem 1010」(Tg:216℃)又は「Ultem CRS5001」(Tg226℃)等が挙げられ、これらの中でも、前記構造式(3)で表される繰り返し単位を有するポリエーテルイミド樹脂が特に好ましい。なお、ポリエーテルイミド樹脂は、単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   The amorphous polyetherimide resin having a repeating unit represented by the structural formula (2) or (3) is composed of 4,4 ′-[isopropylidenebis (p-phenyleneoxy)] diphthalic dianhydride and p- As a polycondensate with phenylenediamine or m-phenylenediamine, it can be produced by a known method. Examples of commercially available products of these polyetherimide resins include “Ultem 1000” (Tg: 216 ° C.), “Ultem 1010” (Tg: 216 ° C.), “Ultem CRS 5001” (Tg 226 ° C.), etc., manufactured by General Electric. Among these, a polyetherimide resin having a repeating unit represented by the structural formula (3) is particularly preferable. In addition, polyetherimide resin can be used individually or in combination of 2 or more types.

本発明のカバーレイフィルムは、プリント配線板との密着性を考慮した場合においては、結晶融解ピーク温度が260℃以上であるポリアリールケトン樹脂を20質量%以上、80質量%以下含有し、残部を非晶性ポリエーテルイミド樹脂及び不可避不純物とした混合組成物を用いることが好ましい。より好ましくは30質量%以上、75質量%以下、さらに好ましくは、40質量%以上、70質量%以下である。ポリアリールケトン樹脂の含有率の上限を前記範囲内とすることで、カバーレイフィルムを構成する樹脂組成物の結晶性が高くなるのを抑えることができ、基板との密着性低下を防ぐことができる。また、ポリアリールケトン樹脂の含有率の下限を前記範囲内とすることで、カバーレイフィルムを構成する樹脂組成物の結晶性が低くなるのを抑えることができ、耐熱性の低下を防ぐことができる。   The cover lay film of the present invention contains 20% by mass or more and 80% by mass or less of a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher when the adhesiveness with a printed wiring board is taken into consideration, and the balance It is preferable to use a mixed composition containing amorphous polyetherimide resin and inevitable impurities. More preferably, they are 30 mass% or more and 75 mass% or less, More preferably, they are 40 mass% or more and 70 mass% or less. By setting the upper limit of the content of the polyaryl ketone resin within the above range, it is possible to suppress the increase in crystallinity of the resin composition constituting the coverlay film, and to prevent a decrease in adhesion to the substrate. it can. Moreover, by setting the lower limit of the content of the polyaryl ketone resin within the above range, it is possible to prevent the crystallinity of the resin composition constituting the cover lay film from being lowered, and to prevent a decrease in heat resistance. it can.

本発明のカバーレイフィルムは、200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であることを必要とし、また中でも、260℃で5分間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であることが好ましい。   The cover lay film of the present invention requires that the reflectance decrease rate at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less, and above all, the wavelength 470 nm after heat treatment at 260 ° C. for 5 minutes. It is preferable that the reflectance decrease rate at 10% or less.

前記条件の根拠について以下に記載する。LED搭載基板を製造する際に、導電接着剤やエポキシ、シリコン樹脂等の封止剤の熱硬化工程(100〜200℃、数時間)、半田付け工程(Pbフリー半田リフロー、ピーク温度260℃、数分間)やワイヤボンディング工程等、高熱負荷がかかる状況にある。また実際の使用環境下においても、高輝度LEDの開発が進み、基板への熱負荷は高まる傾向にあり、LED素子周辺温度は100℃超になる場合もある。今後このような高熱負荷環境下においても、変色することなく、高い反射率を維持することが重要になってきている。また波長470nmは青色LEDの平均波長である。   The grounds for the above conditions are described below. When manufacturing an LED mounting substrate, a thermosetting process (100 to 200 ° C., several hours) of a sealing agent such as a conductive adhesive, epoxy, or silicon resin, soldering process (Pb-free solder reflow, peak temperature 260 ° C., (Several minutes) and wire bonding process, and so on. Further, even in an actual use environment, development of high-brightness LEDs has progressed, the thermal load on the substrate tends to increase, and the LED element ambient temperature may exceed 100 ° C. in some cases. In the future, it will be important to maintain a high reflectance without discoloration even under such a high heat load environment. The wavelength 470 nm is the average wavelength of the blue LED.

したがって、前記条件下(200℃、4時間後、260℃、5分間後)での波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であれば、発光素子搭載基板や光源装置等の製造工程での反射率の低下を抑制することが可能であり、また、実際の使用時の反射率の低下を抑制することが可能であるため、LED搭載基板の導体回路保護用カバーレイフィルムとして好適に使用できる。より好ましくは5%以下であり、さらに好ましくは3%以下であり、特に好ましくは2%以下である。   Therefore, if the rate of decrease in reflectance at a wavelength of 470 nm under the above conditions (200 ° C., 4 hours later, 260 ° C., 5 minutes later) is 10% or less, the light emitting element mounting substrate, the light source device and the like are manufactured. It can be used as a coverlay film for protecting a conductor circuit of an LED mounting board because it is possible to suppress a decrease in reflectivity of the LED and to suppress a decrease in reflectivity during actual use. it can. More preferably, it is 5% or less, More preferably, it is 3% or less, Especially preferably, it is 2% or less.

本発明のカバーレイフィルムの厚みは、3〜200μmであることが好ましい。より好ましくは、10〜100μmであり、さらには20〜50μmである。かかる範囲であれば、薄型が要求される携帯電話用バックライトや、液晶ディスプレー用バックライト用の面光源として使用されるチップLED搭載基板の導体回路保護用カバーレイフィルムとして好適に使用することができる。   The coverlay film of the present invention preferably has a thickness of 3 to 200 μm. More preferably, it is 10-100 micrometers, Furthermore, it is 20-50 micrometers. Within such a range, it can be suitably used as a coverlay film for protecting a conductor circuit of a chip LED mounting substrate used as a surface light source for a mobile phone backlight or a liquid crystal display backlight that is required to be thin. it can.

本発明のカバーレイフィルムを構成する組成物には、その性質を損なわない程度に、他の樹脂や無機充填材以外の各種添加剤、例えば、熱安定剤、紫外線吸収剤、光安定剤、核剤、着色剤、滑剤、難燃剤等を適宜配合しても良い。また前記組成物の調製方法としては、特に制限されるものではなく、公知の方法を用いることができる。例えば、(a)各種添加剤をポリアリールケトン樹脂及び/又は非晶性ポリエーテルイミド樹脂などの適当なベース樹脂に高濃度(代表的な含有量としては10〜60重量%)に混合したマスターバッチを別途作製しておき、これを使用する樹脂に濃度を調整して混合し、ニーダーや押出機等を用いて機械的にブレンドする方法、(b)使用する樹脂に直接各種添加剤をニーダーや押出機等を用いて機械的にブレンドする方法などが挙げられる。上記混合方法の中では、(a)のマスターバッチを作製し、混合する方法が分散性や作業性の点から好ましい。さらに、フィルムの表面にはハンドリング性の改良等のために、エンボス加工やコロナ処理等を適宜施しても良い。   In the composition constituting the cover lay film of the present invention, various additives other than other resins and inorganic fillers, for example, heat stabilizers, ultraviolet absorbers, light stabilizers, cores, etc., to the extent that their properties are not impaired. You may mix | blend an agent, a coloring agent, a lubricant, a flame retardant, etc. suitably. The method for preparing the composition is not particularly limited, and a known method can be used. For example, (a) a master in which various additives are mixed at a high concentration (typically 10 to 60% by weight) with an appropriate base resin such as a polyaryl ketone resin and / or an amorphous polyetherimide resin. A batch is prepared separately, the concentration is adjusted and mixed with the resin to be used, and mechanically blended with a kneader or an extruder. (B) Various additives are directly kneaded with the resin to be used. Or a mechanical blending method using an extruder or the like. Among the above mixing methods, the method of preparing and mixing the master batch (a) is preferable from the viewpoint of dispersibility and workability. Furthermore, the surface of the film may be appropriately subjected to embossing, corona treatment or the like for improving handling properties.

本発明のカバーレイフィルムの製膜方法としては、公知の方法、例えばTダイを用いる押出キャスト法やカレンダー法等を採用することができ、特に限定されるものではないが、シートの製膜性や安定生産性等の面から、Tダイを用いる押出キャスト法が好ましい。Tダイを用いる押出キャスト法での成形温度は、組成物の流動特性や製膜性等によって適宜調整されるが、概ね融点以上、430℃以下である。また、結晶性樹脂を使用した場合、耐熱性を付与するための結晶化処理方法は、特に限定されるものではないが、例えば、押出キャスト時に結晶化させる方法(キャスト結晶化法)や製膜ライン内で、熱処理ロールや熱風炉等により結晶化させる方法(インライン結晶化法)及び製膜ライン外で、熱風炉や熱プレス等により結晶化させる方法(アウトライン結晶化法) などを挙げることができる。   As a method for forming the coverlay film of the present invention, a known method such as an extrusion casting method using a T-die or a calendering method can be adopted, and the film forming property of the sheet is not particularly limited. From the standpoint of stability and productivity, an extrusion casting method using a T die is preferred. The molding temperature in the extrusion casting method using a T-die is appropriately adjusted depending on the flow characteristics and film forming properties of the composition, but is generally about the melting point or higher and 430 ° C. or lower. In addition, when a crystalline resin is used, a crystallization treatment method for imparting heat resistance is not particularly limited. For example, a method of crystallization at the time of extrusion casting (cast crystallization method) or film formation In-line crystallization methods using heat treatment rolls or hot-air ovens (in-line crystallization method) and out-of-film crystallization methods in hot-air ovens or hot presses (outline crystallization methods). it can.

本発明の発光素子搭載基板としては、少なくとも1つ以上の発光素子を搭載する基板上に、上記カバーレイフィルムが積層されているものであれば、特に制限されることはなく、本発明のカバーレイフィルムが積層されていることによって、熱処理後及び耐光性試験後のカバーレイフィルムの変色等に起因する基板の反射率低下がなく、カバーレイフィルムがリフレクターとしての効果も奏することから、基板の反射率向上にも貢献することができる。   The light emitting element mounting substrate of the present invention is not particularly limited as long as the coverlay film is laminated on a substrate on which at least one light emitting element is mounted. By laminating the lay film, there is no decrease in the reflectivity of the substrate due to discoloration of the cover lay film after heat treatment and after the light resistance test, and the cover lay film also has an effect as a reflector. It can also contribute to improving the reflectivity.

前記発光素子を搭載する基板としては、特に制限されるものではなく、各種公知の基板を使用することができる。例えば、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂からなる基板の少なくとも片面に金属層を積層させた金属積層体に所定の導体パターンを形成後、発光素子を搭載させた各種配線基板を利用することができる。このような発光素子を搭載する公知の基板上に、本発明のカバーフィルムを積層させれば、該基板の反射率に影響を及ぼすことなく、導体回路を保護することが可能となり、該カバーレイフィルムはリフレクターとしての機能をも発揮するため、該基板の反射率の向上に寄与することも可能となる。   The substrate on which the light emitting element is mounted is not particularly limited, and various known substrates can be used. For example, after forming a predetermined conductor pattern on a metal laminate in which a metal layer is laminated on at least one surface of a substrate made of a thermosetting resin or a thermoplastic resin, various wiring boards on which light emitting elements are mounted can be used. . By laminating the cover film of the present invention on a known substrate on which such a light emitting element is mounted, the conductor circuit can be protected without affecting the reflectance of the substrate. Since the film also functions as a reflector, it can contribute to the improvement of the reflectance of the substrate.

また、前記以外にも発光素子を搭載する基板として、本発明のカバーレイフィルムを使用することもできる。具体的には、本発明のカバーレイフィルムを所定の厚み(例えば3〜500μm)に成形し、上記と同様に導体パターンを形成後、発光素子を搭載させて基板とする。このような形態によれば、発光素子を搭載した基板自体が、高温熱負荷環境下や、耐光性試験環境下においても、反射率低下が極めて少ないため、大面積化に対応することが可能となる。加えて、従来の熱硬化系樹脂からなる基板は、ガラスクロスを含有しているため、製造工程において、ボイド(気泡)が残りやすい等の問題が生じたり、薄型化は難しく、またセラミック基板においても、硬く脆い性質から薄型化は困難であるが、本発明のカバーレイフィルムに金属層を積層させてなる金属積層体を発光素子を搭載する基板として使用した場合においては、より薄型化が可能であり、薄型化の要求が激しい携帯電話のバックライト用基板として好適に使用可能である。   In addition to the above, the cover lay film of the present invention can also be used as a substrate on which a light emitting element is mounted. Specifically, the cover lay film of the present invention is formed to a predetermined thickness (for example, 3 to 500 μm), and after forming a conductor pattern in the same manner as described above, a light emitting element is mounted to form a substrate. According to such a form, the substrate itself on which the light emitting element is mounted can cope with an increase in area because the decrease in reflectance is extremely small even under a high temperature heat load environment or a light resistance test environment. Become. In addition, since conventional substrates made of thermosetting resin contain glass cloth, problems such as voids (bubbles) tend to remain in the manufacturing process, thinning is difficult, and in ceramic substrates However, it is difficult to reduce the thickness due to its hard and brittle nature, but it is possible to reduce the thickness when using a metal laminate made by laminating a metal layer on the coverlay film of the present invention as a substrate for mounting a light emitting element. Therefore, it can be suitably used as a backlight substrate for a mobile phone, which is required to be thin.

上記金属層としては、例えば、銅、金、銀、アルミニウム、ニッケル、錫等の、厚さ5〜70μm程度の金属箔を使用することができる。これらの中でも、金属箔としては、通常銅箔が使用され、さらに表面を黒色酸化処理等の化成処理を施したものが好適に使用される。導体箔は、接着効果を高めるために、フィルムとの接触面(重ねる面)側を予め化学的又は機械的に粗化したものを用いることが好ましい。表面粗化処理された導体箔の具体例としては、電解銅箔を製造する際に電気化学的に処理された粗化銅箔などが挙げられる。また、上記金属箔の積層方法については、接着層を介することのない熱融着方法として、加熱、加圧による方法であれば公知の方法を採用することができ、特に限定されるものではないが、例えば、熱プレス法や熱ラミネートロール法、押出した樹脂にキャストロールで積層する押出ラミネート法、又はこれらを組み合わせた方法を好適に採用することができる。   As said metal layer, metal foil with a thickness of about 5-70 micrometers, such as copper, gold | metal | money, silver, aluminum, nickel, tin, can be used, for example. Among these, as the metal foil, a copper foil is usually used, and a metal foil having a surface subjected to chemical conversion treatment such as black oxidation treatment is preferably used. In order to enhance the adhesive effect, it is preferable to use a conductor foil that has been chemically or mechanically roughened in advance on the contact surface (surface to be overlapped) side with the film. Specific examples of the conductor foil that has been subjected to surface roughening treatment include a roughened copper foil that has been electrochemically treated when an electrolytic copper foil is produced. Moreover, about the lamination | stacking method of the said metal foil, a well-known method can be employ | adopted if it is a method by a heating and pressurization as a heat-fusion method without interposing an adhesive layer, It does not specifically limit. However, for example, a heat press method, a heat laminating roll method, an extrusion laminating method in which the extruded resin is laminated with a cast roll, or a method combining these can be suitably employed.

また発光素子を搭載する基板として、より放熱性が要求される場合には、特に制限はされないが、銅板、アルミ板等の金属材料、窒化アルミなどのセラミック、または黒鉛板等の熱伝導率の高い材料と複合化することにより放熱性を向上させることも可能である。例えば、アルミ板との複合基板の構成としては、アルミ板全面に、上記のような金属積層体を積層する場合や、該金属積層体にキャビティー(凹部)構造用の窓枠を抜き、積層する場合が挙げられる。使用するアルミについては、樹脂との密着性を考慮すると粗化されていることが望ましいが、キャビティー構造を考慮した場合には、LEDからの光を効率よく反射させるために鏡面アルミを用いることが好ましい。また放熱性を向上させる点においては、フィルムの厚みは薄い方が好ましい。なお、本発明のカバーレイフィルムに金属層を積層してなる金属積層体を用いれば、樹脂フローを抑えることができ、キャビティー構造の形状を保持しつつ、鏡面アルミを使用しても接着信頼性の確保が可能である。   In addition, when heat dissipation is required as a substrate on which the light emitting element is mounted, there is no particular limitation, but the thermal conductivity of a metal material such as a copper plate or an aluminum plate, a ceramic such as an aluminum nitride, or a graphite plate or the like. It is also possible to improve heat dissipation by combining with a high material. For example, as a composite substrate structure with an aluminum plate, the above-mentioned metal laminate is laminated on the entire surface of the aluminum plate, or a window frame for a cavity (recess) structure is removed from the metal laminate and laminated. If you want to. As for the aluminum used, it is desirable that it is roughened considering the adhesiveness with the resin, but when considering the cavity structure, mirror surface aluminum should be used to efficiently reflect the light from the LED. Is preferred. In terms of improving heat dissipation, it is preferable that the thickness of the film is thin. In addition, if the metal laminate formed by laminating a metal layer on the coverlay film of the present invention is used, the resin flow can be suppressed, and even if mirror surface aluminum is used while maintaining the shape of the cavity structure, adhesion reliability can be maintained. It is possible to ensure the sex.

本発明の発光素子搭載基板の製造方法としては、特に制限されるものではなく、両面に金属層を積層させた両面基板の場合には、例えば、図1に示す方法にしたがって製造することができる(なお、以下の実施形態においては、半導体素子を搭載する基板として、カバーレイフィルムと同一のフィルムであって、カバーレイフィルムよりも厚みの厚いフィルム(以下、白色フィルムという。)を使用している。)。図1に示すように、(a)まず、白色フィルム(100)と、金属層となる2枚の銅箔(10)とを用意し、(b)白色フィルム(100)の両面に銅箔(10)を真空プレスにより積層して金属積層体を製造し、(c)銅箔(10)をエッチング又は銅上にメッキして配線パターン(20)を形成してLED搭載用基板とする。(d)この基板に、ボンディングワイヤにて実装する箇所を窓抜き加工した本発明のカバーレイフィルム(400)を一括積層し、その後金メッキ加工して、(e)LED(200)を実装させ、ボンディングワイヤ(30)により導体パターン(20)と接続させて使用する。なお、窓抜き加工する方法としては、特に制限されるものではなくビク型を用いる方法や、ルーター加工する方法、レーザー加工する方法等を用いることができる。   The method for producing the light emitting element mounting substrate of the present invention is not particularly limited, and in the case of a double-sided substrate in which metal layers are laminated on both sides, for example, it can be produced according to the method shown in FIG. (In the following embodiments, as the substrate on which the semiconductor element is mounted, a film that is the same film as the coverlay film and is thicker than the coverlay film (hereinafter referred to as a white film) is used. Yes.) As shown in FIG. 1, (a) First, a white film (100) and two copper foils (10) to be a metal layer are prepared, and (b) a copper foil (100) on both sides of the white film (100). 10) is laminated by a vacuum press to produce a metal laminate, and (c) a copper foil (10) is etched or plated on copper to form a wiring pattern (20) to form an LED mounting substrate. (D) On this substrate, the coverlay film (400) of the present invention in which a portion to be mounted with a bonding wire is window-laminated is collectively laminated, and then gold-plated, and (e) the LED (200) is mounted, It is used by being connected to the conductor pattern (20) by the bonding wire (30). In addition, the method for performing window cutting is not particularly limited, and a method using a big die, a router processing method, a laser processing method, and the like can be used.

また、図2に示すように、(a)白色フィルム(100)の片面に銅箔(10)を積層して金属積層体を製造し、(b)銅箔(10)をエッチングして配線パターン(20)を形成し金メッキ加工を施し、さらに白色フィルム(100)をビク型を用いてキャビティー枠に打ち抜き(40)、(c)窓抜き加工した本発明のカバーレイフィルム(400)と配線パターン(20)が形成された面とは反対面にアルミ板(300)を真空プレスにより積層してLED搭載用基板とする。この基板に、(d)LED(200)を実装させ、ボンディングワイヤ(30)により導体パターン(20)と接続させて使用する。なお、キャビティー枠に打ち抜く方法としては、上記ビク型を用いる方法に制限されるものではなく、例えば、ルーター加工や、レーザーを用いて形成することもできる。なお、上記製造方法においては、片面銅箔付きフィルム(図2中(b))、カバーレイフィルム、及びアルミ板の積層を一括して行っているが、これらを逐次的に積層させ、その後に枠抜き及び導体パターンを形成することもできる。   Moreover, as shown in FIG. 2, (a) a copper laminate (10) is laminated on one side of the white film (100) to produce a metal laminate, and (b) the copper foil (10) is etched to form a wiring pattern. (20) is formed, gold-plated, and the white film (100) is punched into a cavity frame using a big die (40), (c) the window layed coverlay film (400) of the present invention and wiring An aluminum plate (300) is laminated on the surface opposite to the surface on which the pattern (20) is formed by vacuum pressing to form an LED mounting substrate. (D) The LED (200) is mounted on this substrate and used by being connected to the conductor pattern (20) by the bonding wire (30). Note that the method of punching into the cavity frame is not limited to the method using the Bic die, and for example, it can be formed by router processing or using a laser. In addition, in the said manufacturing method, although the lamination | stacking of the film with a single-sided copper foil ((b) in FIG. 2), a coverlay film, and an aluminum plate is performed collectively, these are laminated | stacked sequentially, and then It is also possible to form a frame and a conductor pattern.

本発明の光源装置としては、導体回路が形成された配線基板上に、少なくとも1つ以上の発光素子が搭載され、かつ本発明のカバーレイフィルムが積層されており、前記発光素子は樹脂封止され、前記配線基板と発光素子とが導通されてなる発光素子搭載基板を備えるものであれば、特に制限されず、本発明のカバーレイフィルムが積層されていることにより、導体回路を効果的に保護することが可能となり、高温熱負荷環境下や、耐光性試験環境下においても、反射率の低下を引き起こすことがないので、本発明の光源装置は、照明用、プロジェクタ光源、液晶表示装置等のバックライト装置、車載用途、携帯電話用途等の各種用途に用いることができる。
(実施例)
As the light source device of the present invention, at least one light emitting element is mounted on a wiring board on which a conductor circuit is formed, and the cover lay film of the present invention is laminated, and the light emitting element is resin-sealed. The wiring board and the light emitting element are not particularly limited as long as the light emitting element mounting substrate is provided, and the cover circuit film of the present invention is laminated so that the conductor circuit is effectively provided. The light source device of the present invention is used for illumination, projector light source, liquid crystal display device and the like because it can be protected and does not cause a decrease in reflectance even under high temperature heat load environment and light resistance test environment. It can be used for various applications such as backlight devices, in-vehicle applications, and cellular phone applications.
(Example)

以下、実施例及び比較例によりさらに詳しく説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、本明細書中に示されるフィルム等についての種々の測定値及び評価は以下のようにして求めた。   Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate in more detail, this invention is not limited to these. In addition, the various measured values and evaluation about the film etc. which are shown in this specification were calculated | required as follows.

[結晶融解ピーク温度(Tm)]
示差走査熱量計「DSC−7」(パーキンエルマー製)を用いて、JIS K7121に準じて、試料10mgを加熱速度10℃/分で昇温したときのサーモグラフから求めた。
[Crystal melting peak temperature (Tm)]
Using a differential scanning calorimeter “DSC-7” (manufactured by PerkinElmer), the temperature was determined from a thermograph when 10 mg of a sample was heated at a heating rate of 10 ° C./min according to JIS K7121.

[平均反射率]
分光光度計(「U−4000」、(株)日立製作所製)に積分球を取りつけ、アルミナ白板の反射率が100%としたときの反射率を、波長400nm〜800nmにわたって、0.5nm間隔で測定した。得られた測定値の平均値を計算し、この値を平均反射率とした。
[Average reflectance]
An integrating sphere is attached to a spectrophotometer ("U-4000", manufactured by Hitachi, Ltd.), and the reflectance when the reflectance of the alumina white plate is assumed to be 100% is measured at intervals of 0.5 nm over a wavelength range of 400 nm to 800 nm. It was measured. The average value of the measured values obtained was calculated, and this value was taken as the average reflectance.

[加熱処理後の反射率]
得られた白色フィルムを260℃のピーク温度で30分間真空プレス器にて熱処理(結晶化処理)した後に、熱風循環式オーブンに、200℃で4時間、260℃で5分間加熱処理し、加熱処理後の反射率を上記の方法と同様に測定して、470nmにおける反射率を読みとった。
[Reflectance after heat treatment]
The obtained white film was heat-treated (crystallization treatment) at a peak temperature of 260 ° C. for 30 minutes in a vacuum press, and then heat-treated in a hot-air circulating oven for 4 hours at 200 ° C. and for 5 minutes at 260 ° C. The reflectance after the treatment was measured in the same manner as described above, and the reflectance at 470 nm was read.

[線膨張係数測定]
セイコーインスツルメンツ(株)製の熱応力歪み測定装置TMA/SS6100を用いて、フィルムから切り出した短冊状の試験片(長さ10mm)を引張荷重0.1gで固定し、30℃から5℃/分の割合で300℃まで昇温させ、MD(α1(MD))とTD(α1(TD))の熱膨張量の降温時の30℃〜140℃の温度依存性を求めた。
[Measurement of linear expansion coefficient]
Using a thermal stress strain measuring device TMA / SS6100 manufactured by Seiko Instruments Inc., a strip-shaped test piece (length 10 mm) cut out from the film is fixed with a tensile load of 0.1 g, and from 30 ° C. to 5 ° C./min. The temperature dependence was raised to 300 ° C. at a rate of 30 ° C. to 140 ° C. when the thermal expansion amounts of MD (α1 (MD)) and TD (α1 (TD)) were lowered.

[平均粒径]
(株)島津製作所製の型式「SS−100」の粉体比表面測定器(透過法)を用い、断面
積2cm、高さ1cmの試料筒に試料3gを充填して、500mm水柱で20ccの空
気透過時間を計測し、これより酸化チタンの平均粒径を算出した。
[Average particle size]
Using a powder specific surface measuring instrument (transmission method) of model “SS-100” manufactured by Shimadzu Corporation, a sample tube having a cross-sectional area of 2 cm 2 and a height of 1 cm was filled with 3 g of sample, and 20 cc with a 500 mm water column. The air permeation time was measured, and the average particle size of titanium oxide was calculated from this.

[キセノンウェザーメータによる試験]
得られたカバーレイフィルムをスガ試験機(株)製のキセノンウェザーメータ(型式:SX−75)を用いて、温度63℃(ブラックパネル温度)、湿度50%、放射照度(295〜400nm)60W/mで50時間照射し、その後上記の方法と同様に反射率を測定し、470nmにおける反射率を読みとった。
[Test with xenon weather meter]
Using the xenon weather meter (model: SX-75) manufactured by Suga Test Instruments Co., Ltd., the obtained coverlay film was temperature 63 ° C. (black panel temperature), humidity 50%, irradiance (295 to 400 nm) 60 W. Irradiation was performed at / m 2 for 50 hours, and then the reflectance was measured in the same manner as described above, and the reflectance at 470 nm was read.

[耐熱性試験]
カバーレイフィルムの片側に、銅箔(18μm、表面粗化箔)を重ね、真空プレスにより、240℃5MPa30分の条件下で、熱圧着し、片面銅張り板を作製し、JIS C 6481の常態のハンダ耐熱性に準拠し、260℃のハンダ浴に試験片の銅箔側がハンダ浴に接触する常態で10秒間浮かべた後、ハンダ浴から取り出して室温まで放冷し、その膨れや剥がれ箇所の有無を目視観察し、その良否を判断した。膨れ剥がれ等がない場合は○、膨れ剥がれ等がある場合は×とした。
[Heat resistance test]
A copper foil (18 μm, surface roughened foil) is laminated on one side of the cover lay film, and thermocompression bonded by a vacuum press under the condition of 240 ° C. and 5 MPa for 30 minutes to produce a single-sided copper-clad plate, and the normal state of JIS C 6481 In accordance with the solder heat resistance of the test piece, the copper foil side of the test piece floats in a 260 ° C. solder bath for 10 seconds in a normal state in contact with the solder bath, then is taken out of the solder bath and allowed to cool to room temperature. The presence or absence was visually observed, and the quality was judged. When there was no bulging and peeling, it was marked with ◯, and when there was bulging and peeling, it was marked with ×.

ポリエーテルエーテルケトン樹脂(PEEK450G、Tm=335℃)40質量%、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂(Ultem 1000)60質量%からなる樹脂組成物100質量部に対して、塩素法で製造された酸化チタン(平均粒径0.23μm、アルミナ処理、シランカップリング剤処理)41質量部、平均粒径5μm、平均アスペクト比50の合成マイカを23質量部を混合して得られた組成物を溶融混練し、Tダイを備えた押出機を用いて設定温度380℃で、厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。   Produced by the chlorine method with respect to 100 parts by mass of a resin composition consisting of 40% by mass of a polyether ether ketone resin (PEEK450G, Tm = 335 ° C.) and 60% by mass of an amorphous polyetherimide resin (Ultem 1000). Melting composition obtained by mixing 23 parts by mass of synthetic mica with 41 parts by mass of titanium oxide (average particle size 0.23 μm, alumina treatment, silane coupling agent treatment), average particle size 5 μm and average aspect ratio 50 A film having a thickness of 50 μm was prepared at a preset temperature of 380 ° C. using an extruder equipped with a T-die. The evaluation results are shown in Table 1.

実施例1において、ポリエーテルエーテルケトン樹脂(PEEK450G、Tm=335℃)60質量%、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂(Ultem 1000)40質量%からなる樹脂組成物を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。   In Example 1, Example 1 was used except that a polyether ether ketone resin (PEEK450G, Tm = 335 ° C.) 60% by mass and an amorphous polyetherimide resin (Ultem 1000) 40% by mass were used. In the same manner, a film having a thickness of 50 μm was produced. The evaluation results are shown in Table 1.

実施例1において、酸化チタン41質量部、及び合成マイカ23質量部に代えて、塩素法で製造された酸化チタン(平均粒径0.23μm、アルミナ処理、シランカップリング剤処理)67質量部を混合して得られた組成物を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。   In Example 1, instead of 41 parts by mass of titanium oxide and 23 parts by mass of synthetic mica, 67 parts by mass of titanium oxide (average particle size 0.23 μm, alumina treatment, silane coupling agent treatment) produced by a chlorine method was used. A film having a thickness of 50 μm was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition obtained by mixing was used. The evaluation results are shown in Table 1.

実施例1において、酸化チタン41質量部、及び合成マイカ23質量部に代えて、塩素法で製造された酸化チタン25質量部を混合して得られた組成物を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。   In Example 1, instead of 41 parts by mass of titanium oxide and 23 parts by mass of synthetic mica, Example 1 was used except that a composition obtained by mixing 25 parts by mass of titanium oxide produced by the chlorine method was used. Similarly, a film having a thickness of 50 μm was produced. The evaluation results are shown in Table 1.

実施例1において、フィルム厚さを30μmとした以外は同様にしてフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。   A film was produced in the same manner as in Example 1 except that the film thickness was 30 μm. The evaluation results are shown in Table 1.

(比較例1)
ポリエーテルエーテルケトン樹脂(PEEK450G、Tm=335℃)40質量%、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂(Ultem 1000)60質量%からなる樹脂組成物に代えて、ポリエーテルエーテルケトン樹脂(PEEK450G、Tm=335℃)100質量%からなる樹脂を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。
(Comparative Example 1)
Instead of a polyether ether ketone resin (PEEK450G, Tm = 335 ° C.) 40% by mass and an amorphous polyetherimide resin (Ultem 1000) 60% by mass, a polyether ether ketone resin (PEEK450G, Tm) = 335 ° C.) A film having a thickness of 50 μm was produced in the same manner as in Example 1 except that a resin comprising 100% by mass was used. The evaluation results are shown in Table 1.

(比較例2)
ポリエーテルエーテルケトン樹脂(PEEK450G、Tm=335℃)40質量%、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂(Ultem 1000)60質量%からなる樹脂組成物に代えて、非晶性ポリエーテルイミド樹脂(Ultem 1000)100質量%からなる樹脂を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。
(Comparative Example 2)
Instead of a resin composition comprising 40% by mass of a polyether ether ketone resin (PEEK450G, Tm = 335 ° C.) and 60% by mass of an amorphous polyetherimide resin (Ultem 1000), an amorphous polyetherimide resin (Ultem) 1000) A film having a thickness of 50 μm was produced in the same manner as in Example 1 except that a resin composed of 100% by mass was used. The evaluation results are shown in Table 1.

(比較例3)
実施例1において、酸化チタン41質量部、及び合成マイカ23質量部に代えて、平均粒径5μm、平均アスペクト比50の合成マイカ39質量部を混合して得られた組成物を用いた以外は実施例1と同様にして厚さ50μmのフィルムを作製した。その評価結果を表1に示す。
(Comparative Example 3)
In Example 1, instead of 41 parts by mass of titanium oxide and 23 parts by mass of synthetic mica, a composition obtained by mixing 39 parts by mass of synthetic mica having an average particle size of 5 μm and an average aspect ratio of 50 was used. A film having a thickness of 50 μm was produced in the same manner as in Example 1. The evaluation results are shown in Table 1.

Figure 2009302110
Figure 2009302110

表1に示した結果から分かるように、実施例3及び4においては、反射率特性、加熱試験後の反射率変化、UV照射後の反射率変化、層間剥離の有無、耐熱性の点において、いずれも優れたカバーレイフィルムを得ることができ、実施例1、2、及び5においては、更に寸法安定性に優れたカバーフィルムを得ることができた。一方、比較例1においては、ポリエーテルエーテルケトン樹脂の単独樹脂を使用しているため、UV照射後の反射率変化が大きく、また結晶化速度が速いため、プレス温度240℃では銅箔との接着しなかった。また、比較例2においては、非晶性ポリエーテルイミド樹脂の単独樹脂を使用しており、加熱試験後の反射率変化及びUV照射後の反射率変化の点においては優れるが、プレス温度240℃では、銅箔との密着性が十分ではなく、耐熱性の観点からも満足できるものではなく、特にLED基板用途として使用することは困難であると考えられる。さらに、比較例3においては、波長400〜800nmにおける平均反射率が70%以下(40%)であるため、特にLED基板用途として使用することは困難であると考えられる。   As can be seen from the results shown in Table 1, in Examples 3 and 4, in terms of reflectance characteristics, reflectance change after a heating test, reflectance change after UV irradiation, presence or absence of delamination, and heat resistance, All were able to obtain an excellent cover lay film, and in Examples 1, 2, and 5, it was possible to obtain a cover film further excellent in dimensional stability. On the other hand, in Comparative Example 1, since a single polyether ether ketone resin is used, the reflectance change after UV irradiation is large and the crystallization speed is fast. It did not adhere. In Comparative Example 2, a single amorphous polyetherimide resin is used, which is excellent in terms of reflectance change after the heating test and reflectance change after UV irradiation, but the press temperature is 240 ° C. Then, the adhesiveness with the copper foil is not sufficient, and it is not satisfactory from the viewpoint of heat resistance, and it is considered that it is particularly difficult to use as an LED substrate. Furthermore, in Comparative Example 3, since the average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm is 70% or less (40%), it is considered that it is particularly difficult to use as an LED substrate.

本発明の発光素子搭載基板及びその製造方法の一実施形態を示した図である。It is the figure which showed one Embodiment of the light emitting element mounting substrate of this invention, and its manufacturing method. 本発明の発光素子搭載基板及びその製造方法の一実施形態を示した図である。It is the figure which showed one Embodiment of the light emitting element mounting substrate of this invention, and its manufacturing method.

符号の説明Explanation of symbols

10 銅箔
20 導体パターン
30 ボンディングワイヤ
100 白色フィルム
200 LED
300 アルミ板
400 カバーレイフィルム
10 Copper foil 20 Conductor pattern 30 Bonding wire 100 White film 200 LED
300 Aluminum plate 400 Cover lay film

Claims (9)

結晶融解ピーク温度が260℃以上のポリアリールケトン樹脂、及び非晶性ポリエーテルイミド樹脂からなる樹脂組成物100質量部に対して、無機充填材5〜100質量部を含有する組成物からなり、
波長400〜800nmにおける平均反射率が70%以上であり、かつ200℃で4時間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が10%以下であることを特徴とするプリント配線板の導体回路保護用のカバーレイフィルム。
It consists of a composition containing 5 to 100 parts by weight of an inorganic filler with respect to 100 parts by weight of a resin composition comprising a polyaryl ketone resin having a crystal melting peak temperature of 260 ° C. or higher and an amorphous polyetherimide resin,
The conductor circuit of a printed wiring board having an average reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm of 70% or more and a decreasing rate of the reflectance at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 200 ° C. for 4 hours is 10% or less Protective coverlay film.
さらに、以下に示す耐光性試験後の反射率の低下率が6%以下であることを特徴とする請求項1記載のカバーレイフィルム。
(耐光性試験);キセノンウェザーメータを用いて、温度63℃(ブラックパネル温度)、湿度50%、放射照度(295〜400nm)60W/mで50時間照射
The coverlay film according to claim 1, wherein the reflectance reduction rate after the light resistance test shown below is 6% or less.
(Light resistance test): irradiation with a xenon weather meter at a temperature of 63 ° C. (black panel temperature), a humidity of 50%, and an irradiance (295 to 400 nm) of 60 W / m 2 for 50 hours.
無機充填材が、平均粒径15μm以下、かつ平均アスペクト比30以上の充填材を少なくとも含有することを特徴とする請求項1又は2記載のカバーレイフィルム。 The coverlay film according to claim 1 or 2, wherein the inorganic filler contains at least a filler having an average particle size of 15 µm or less and an average aspect ratio of 30 or more. 無機充填材が、少なくとも酸化チタンを含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか記載のカバーレイフィルム。 The coverlay film according to claim 1, wherein the inorganic filler contains at least titanium oxide. フィルムの厚みが、3〜200μmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか記載のカバーレイフィルム。 The coverlay film according to claim 1, wherein the film has a thickness of 3 to 200 μm. MD及びTDの線膨張係数の平均値が、35×10−6/℃以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか記載のカバーレイフィルム。 6. The coverlay film according to claim 1, wherein an average value of linear expansion coefficients of MD and TD is 35 × 10 −6 / ° C. or less. 260℃で5分間熱処理した後の波長470nmにおける反射率の低下率が、10%以下であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか記載のカバーレイフィルム。 The coverlay film according to any one of claims 1 to 6, wherein a reflectance reduction rate at a wavelength of 470 nm after heat treatment at 260 ° C for 5 minutes is 10% or less. 少なくとも1つ以上の発光素子を搭載する基板上に、請求項1〜7のいずれか記載のカバーレイフィルムが積層されていることを特徴とする発光素子搭載基板。 A light emitting element mounting substrate, wherein the coverlay film according to claim 1 is laminated on a substrate on which at least one light emitting element is mounted. 導体回路が形成された配線基板上に、少なくとも1つ以上の発光素子が搭載され、かつ、請求項1〜7のいずれか記載のカバーレイフィルムが積層されており、
前記発光素子は樹脂封止され、前記配線基板と発光素子とが導通されてなる発光素子搭載基板を備えることを特徴とする光源装置。
On the wiring board on which the conductor circuit is formed, at least one light-emitting element is mounted, and the coverlay film according to any one of claims 1 to 7 is laminated,
A light source device comprising: a light emitting element mounting substrate in which the light emitting element is resin-sealed and the wiring substrate and the light emitting element are electrically connected.
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