JP2009194200A - Solid electrolytic capacitor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は弁作用金属を用いた固体電解コンデンサに係り、特に回路基板実装時のリフローによるストレスに強い、導電性高分子を電解質とする固体電解コンデンサに関する。 The present invention relates to a solid electrolytic capacitor using a valve action metal, and more particularly to a solid electrolytic capacitor using a conductive polymer as an electrolyte, which is resistant to stress due to reflow during circuit board mounting.
近年、デジタル機器の小型化、高機能化が進み、固体電解コンデンサもノイズ除去や電源電圧の安定化を目的としてCPUの周囲、直下もしくは半導体パッケージなどで使用されるなど、電子回路における固体電解コンデンサの役割が重要になってきている。 In recent years, digital devices have become smaller and more advanced, and solid electrolytic capacitors are also used around CPUs, directly under CPUs or in semiconductor packages for the purpose of noise reduction and power supply voltage stabilization. The role of is becoming important.
導電性高分子を固体電解質とする従来の固体電解コンデンサの一例として、本発明と関連する平板型素子構造を有するアルミニウム固体電解コンデンサの形成方法に関して説明する。まず弁作用金属である多孔質化した平板状のアルミニウム金属からなるアルミニウム基体の表面に、陽極酸化によって絶縁膜である誘電体皮膜を形成する。次いでこの誘電体皮膜の所定位置にエポキシ樹脂などにより絶縁体を形成してアルミニウム基体を2つの領域に区分し、前記領域の内の一方のみに、導電性高分子からなる固体電解質層を形成する。さらにこの固体電解質の上にスクリーン印刷等によりグラファイト層を形成し、そのグラファイト層の上に導電性ペースト層を形成して陰極部とする。一方、絶縁体により区分されたもう一つの領域では、誘電体皮膜を剥離させるなどしてアルミニウム基体を露出させ、金属リードフレームを溶接して陽極部とする。固体電解コンデンサ素子の陽極部および陰極部をそれぞれ電極基板の外部陽極端子および外部陰極端子と電気的に接続し、固体電解コンデンサの実装用端子とする。次に電極基板と接続していないコンデンサ素子の露出部をエポキシ樹脂でモールドすることにより、固体電解コンデンサを形成している。こうして、ガスおよび蒸気に対するバリア性に優れたモールド樹脂で外装された固体電解コンデンンサが得られる。 As an example of a conventional solid electrolytic capacitor using a conductive polymer as a solid electrolyte, a method for forming an aluminum solid electrolytic capacitor having a flat element structure related to the present invention will be described. First, a dielectric film, which is an insulating film, is formed on the surface of an aluminum substrate made of a porous plate-like aluminum metal, which is a valve action metal, by anodic oxidation. Next, an insulator is formed with epoxy resin or the like at a predetermined position of the dielectric film to divide the aluminum substrate into two regions, and a solid electrolyte layer made of a conductive polymer is formed only in one of the regions. . Further, a graphite layer is formed on the solid electrolyte by screen printing or the like, and a conductive paste layer is formed on the graphite layer to form a cathode portion. On the other hand, in another region separated by the insulator, the aluminum substrate is exposed by peeling the dielectric film or the like, and the metal lead frame is welded to form an anode portion. The anode part and the cathode part of the solid electrolytic capacitor element are electrically connected to the external anode terminal and the external cathode terminal of the electrode substrate, respectively, to form a mounting terminal for the solid electrolytic capacitor. Next, a solid electrolytic capacitor is formed by molding an exposed portion of the capacitor element not connected to the electrode substrate with an epoxy resin. In this way, a solid electrolytic capacitor covered with a mold resin excellent in gas and vapor barrier properties can be obtained.
しかし固体電解コンデンサでは、陰極部を形成する際に多くの場合ペースト中に樹脂を含有する導電性ペーストを用いるため、モールド外装時にモールドのエポキシ樹脂と導電性ペースト層中の樹脂が密着してしまい、リフロー時の熱により、モールドが膨張、収縮した際に導電性ペースト層がモールド側に追従し、下地のグラファイト層と剥離を起こし、これが原因となってESRが増大し、高周波領域でのインピーダンスが相対的に増大するという問題があった。 However, in the case of a solid electrolytic capacitor, a conductive paste containing a resin in the paste is often used when forming the cathode portion, and therefore, the epoxy resin of the mold and the resin in the conductive paste layer are in close contact when the mold is packaged. When the mold expands and contracts due to heat during reflow, the conductive paste layer follows the mold side, causing peeling from the underlying graphite layer, which increases ESR and increases the impedance in the high frequency region. There has been a problem of relatively increasing.
この解決策として、第一にモールド以外の外装材でコンデンサを形成するという方法が考えらる。しかし、例えば樹脂ケースでコンデンサ素子の露出部を覆った場合、樹脂ケースを高精度に加工し、その中に素子を入れることが必要となるため、コスト増大を招来しやすいという欠点がある。 As a solution, firstly, a method of forming a capacitor with an exterior material other than a mold may be considered. However, for example, when the exposed portion of the capacitor element is covered with a resin case, it is necessary to process the resin case with high accuracy and to insert the element therein, which causes a disadvantage that the cost is likely to increase.
上記のリフローによるモールドのストレスに強いコンデンサを実現する方法として、第二にモールドと導電性ペースト層の界面に有機物の緩衝層を設け、この緩衝層でモールドからのストレスを緩和する方法が考えられる。一般的には液状離型剤を使用し、モールドと導電性ペースト層の離型性を高める方法が用いられるが、粘性の低い離型剤を使用した場合、導電性ペースト層以外に電極基板にも離型剤が塗布されてしまうことが多く、モールドと電極基板間で剥離が発生し、また、導電性ペースト層の樹脂が離型剤の溶剤により溶解・膨潤し、特性劣化を引き起こすこともある。また、粘性の高い離型剤を使用した場合、離型剤の塗布形状に起因して凹凸が大きくなりやすく、製品の小型化が難しくなる。 As a method for realizing a capacitor that is resistant to the stress of the mold due to the above reflow, a second method is to provide an organic buffer layer at the interface between the mold and the conductive paste layer, and this buffer layer can relieve the stress from the mold. . In general, a liquid mold release agent is used, and a method of increasing the mold release property between the mold and the conductive paste layer is used. However, when a low viscosity mold release agent is used, in addition to the conductive paste layer, an electrode substrate is used. In many cases, a release agent is applied, peeling occurs between the mold and the electrode substrate, and the resin of the conductive paste layer is dissolved and swollen by the solvent of the release agent, which may cause deterioration of characteristics. is there. In addition, when a release agent having a high viscosity is used, the unevenness tends to increase due to the application shape of the release agent, making it difficult to reduce the size of the product.
上記の問題を避けるために、熱収縮性のチューブまたはフィルムで仮外装した後にモールドを実施した固体電解コンデンサとして、特許文献1に開示された例がある。
In order to avoid the above problem, there is an example disclosed in
上記の特許文献1に開示された固体電解コンデンサに関するそれぞれの技術を使用することが出来れば、リフローによるモールドのストレスをある程度緩和することが可能であると考えられる。しかし、この技術は緩衝層の形成方法として固体電解コンデンサ素子をフィルムで覆う工法を用いており、量産化工法としては不向きな点がある。
If the respective technologies relating to the solid electrolytic capacitor disclosed in
従って、本発明の目的はガスおよび蒸気に対するバリア性に優れたモールド樹脂で外装を行い、且つ、回路基板実装時の繰り返しのリフロー時の信頼性を確保し、且つ、量産性に優れた固体電解コンデンサを作製することにある。 Accordingly, the object of the present invention is to provide a solid electrolytic that is externally molded with a mold resin having excellent barrier properties against gases and vapors, that ensures reliability during repeated reflow during circuit board mounting, and that is excellent in mass productivity. The purpose is to produce a capacitor.
本発明の固体電解コンデンサは、多孔質化された弁作用金属に陽極酸化皮膜が形成され、前記陽極酸化皮膜上にそれぞれ固体電解質層、グラファイト層、導電性ペースト層が順に形成されて陰極部が設けられ、前記陰極部以外の場所に導電性部材からなる陽極部が設けられてなる固体電解コンデンサ素子での前記陽極部および前記陰極部をそれぞれ外部陽極端子および外部陰極端子で電気的に接続し、絶縁性のモールド樹脂で外装した固体電解コンデンサにおいて、前記陰極部と前記モールド樹脂で被覆される部位の導電性ペースト層上に金属を主成分とした緩衝層を形成した後、前記固体電解コンデンサ素子を前記モールド樹脂で外装することで固体電解コンデンサを構成する。前記緩衝層を形成する手段として、ナノ金属粒子ペースト、メッキ等を用いることが可能であり、前記緩衝層中の金属成分として金、銀、銅、白金、ニッケル、パラジウムの内、1つ以上の金属が選択されることを特徴とし、また、前記緩衝層中の樹脂成分が1重量%未満であることを特徴とする。 In the solid electrolytic capacitor of the present invention, an anodized film is formed on a porous valve action metal, and a solid electrolyte layer, a graphite layer, and a conductive paste layer are sequentially formed on the anodized film, and a cathode portion is formed. The anode part and the cathode part in a solid electrolytic capacitor element provided with an anode part made of a conductive member at a place other than the cathode part are electrically connected by an external anode terminal and an external cathode terminal, respectively. In the solid electrolytic capacitor packaged with an insulating mold resin, after forming a buffer layer mainly composed of metal on the conductive paste layer at the portion covered with the cathode portion and the mold resin, the solid electrolytic capacitor A solid electrolytic capacitor is formed by covering the element with the mold resin. As the means for forming the buffer layer, it is possible to use a nano metal particle paste, plating or the like, and one or more of gold, silver, copper, platinum, nickel, palladium as the metal component in the buffer layer A metal is selected, and the resin component in the buffer layer is less than 1% by weight.
上記の手段のように、導電性ペースト層とモールド樹脂の間に金属を主成分とした樹脂成分の少ない緩衝層を形成することにより、モールド樹脂は金属成分とは密着力が乏しいため、リフローによるストレスに対しても緩衝層がモールド樹脂と剥離を起こし、導電性ペースト層はほとんどストレスを受けない。また、形成方法としても、ペースト印刷、メッキ等の工法を用いることが出来るため、量産性に優れている。これにより、ガスおよび蒸気のバリア性に優れたモールド樹脂で外装を行い、且つ、回路基板実装時の繰り返しのリフロー時の信頼性を確保し、且つ、量産性に優れた固体電解コンデンサを実現できる。 By forming a buffer layer with a small amount of a resin component mainly composed of a metal between the conductive paste layer and the mold resin as in the above-mentioned means, the mold resin has poor adhesion to the metal component. Even with respect to stress, the buffer layer peels off from the mold resin, and the conductive paste layer hardly receives stress. In addition, as a forming method, a method such as paste printing or plating can be used, which is excellent in mass productivity. As a result, it is possible to realize a solid electrolytic capacitor that is externally molded with a mold resin excellent in gas and vapor barrier properties, is reliable during repeated reflow during circuit board mounting, and is excellent in mass productivity. .
本発明の実施の形態による固体電解コンデンサについて、図1にその構成を示す。図1(a)はその斜視図、図1(b)は図1(a)のA−A’面での断面図である。 FIG. 1 shows the configuration of a solid electrolytic capacitor according to an embodiment of the present invention. FIG. 1A is a perspective view thereof, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the plane A-A ′ of FIG.
図1において、アルミニウム基体1は長方形状のアルミニウム箔からなり、その両面はエッチングにより多孔質化が施されている。このアルミニウム基体1の両表面は陽極酸化により陽極酸化皮膜2が形成されている。次いで前記の陽極酸化皮膜2の所定位置にエポキシ樹脂などにより絶縁体3を形成してアルミニウム基体1を2つの領域に区分し、前記領域の内の一方のみに導電性高分子からなる固体電解質層4、グラファイト層5、導電性ペースト層6を形成して陰極部を構成している。絶縁体3に隔てられ陰極部が形成されていない位置の陽極酸化皮膜2の片面のみに溶接によって長方形状の金属リードフレーム7が設けられており、陽極部が形成されている。金属リードフレーム7は銅箔などの金属部材からなり、固体電解コンデンサの実装面に設けられる外部陽極端子8とアルミニウム基体1との間の陽極の電気的接続を行う役割を有している。なおアルミニウム基体1と金属リードフレーム7の接続部では陽極酸化皮膜2が剥離されており、両者は超音波溶接によって接続することが可能となっている。このように作製した固体電解コンデンサ素子は長方形板状で図1(b)に示す断面形状を有している。次に固体電解コンデンサ素子の金属リードフレーム7と電極基板9内の外部陽極端子8、および、導電性ペースト層6と外部陰極端子10をそれぞれ導電性接着剤11で電気的に接続をし、固体電解コンデンサの電子回路における実装面を形成した。
In FIG. 1, an
次に固体電解コンデンサ素子の電極基板に接続した面と反対側の陰極部の導電性ペースト層6上にスクリーン印刷でナノ金属粒子ペーストを塗布し、およそ125℃の温度で乾燥させてナノ金属粒子ペースト中の溶剤等を揮発させ、さらに150〜300℃程度の炉で短時間熱処理を行い、ナノ金属粒子ペーストをキュアすることにより、樹脂成分の残留が1重量%未満である緩衝層12を形成する。ここで用いる金属ペーストとして、ナノサイズの金属微粒子で構成される、ペースト、有機金属、および、酸化金属の混合ペースト等を用い、それらペーストは粒子サイズによる表面活性、有機物および酸素の脱離に伴う金属粒子の活性等により金属粒子同士が融着を起こして、金属を主成分とする緩衝層12を形成する。なお、緩衝層12の形成方法として金属ペーストを用いる他にも導電性ペースト層6上に電解メッキ、および、無電解メッキを施すことにより、緩衝層12とすることも可能である。また、緩衝層に使用される金属成分として、金、銀、銅、白金、ニッケル、パラジウムの内、1つ以上の金属から選択し、この金属を主成分とした緩衝層12を用いるとよい。ところで、緩衝層12中に含まれる樹脂成分の量が1重量%以上になると、モールド樹脂13との接着力が強くなり、リフロー後のESRの増加が実用的許容値を超えるので、その樹脂成分の量は1重量%未満にするのがよい。
Next, the nano metal particle paste is applied by screen printing on the
次に実装面以外の固体電解コンデンサ素子の露出部をモールド樹脂13で覆い、外装を行うことで本実施の形態の固体電解コンデンサを形成する。
Next, the solid electrolytic capacitor of the present embodiment is formed by covering the exposed portion of the solid electrolytic capacitor element other than the mounting surface with the
次に本発明の実施例を挙げてさらに説明する。 Next, examples of the present invention will be further described.
(実施例1)
本発明の実施例1の固体電解コンデンサを以下の方法にて作製し、その電気的特性を測定した。
(Example 1)
A solid electrolytic capacitor of Example 1 of the present invention was produced by the following method, and its electrical characteristics were measured.
実施例1として固体電解コンデンサ素子の陰極部の緩衝層をナノ金属粒子ペーストで形成した固体電解コンデンサの作製方法を示す。図1を参照し、まず箔状のアルミニウム基体1を多孔質化し、さらにその表面に陽極酸化皮膜2を形成した。ここで箔状のアルミニウム基体1はアルミ電解コンデンサ用として市販されている材質のものであり、表面に陽極酸化皮膜2を形成する上での公称化成電圧が4V、単位面積(cm2)あたりの静電容量が260μF、厚さが105μmである。ここでアルミニウム基体1における陽極酸化皮膜2を有する多孔質部の厚みは片面で50μmである。この箔状のアルミニウム基体1を幅3.0mm、長さ7.0mmの長方形状に切り出し、長さ方向の一端部から幅方向に3.0mm、長さ方向に4.5mmの長方形の領域に陰極部を形成することとし、陰極部が形成されていない側の長さ方向の端部から幅方向3.0mm、長さ方向に1.0mmの長方形の領域に陽極部を形成することとした。次に、陽極部と陰極部の間を電気的に絶縁するために、陽極部と陰極部の間に絶縁体3層の幅が0.5mm、厚さが15μmになるようにエポキシ樹脂をスクリーン印刷して形成した。次に、アルミニウム基体1の両面の陰極部の陽極酸化皮膜2の表面に、モノマーとして3、4−エチレンジオキシチオフェン、酸化剤としてペルオキソ二硫酸アンモニウム、ドーパントとしてパラトルエンスルホン酸を、それぞれモル比が6:1:2の割合で反応させて導電性高分子からなる固体電解質層4を形成し、さらにその表面にスクリーン印刷によってグラファイト層5を厚み15μmになるように形成し、さらにその表面に10重量%以上のメラミン樹脂と80重量%以上の銀含有量を有した導電性ペースト層6を厚さ30μmに形成した。
Example 1 shows a method for producing a solid electrolytic capacitor in which the buffer layer of the cathode portion of the solid electrolytic capacitor element is formed of a nano metal particle paste. Referring to FIG. 1, a foil-
次に陽極部上にあらかじめ両面にニッケルと銀メッキを施した銅箔からなる金属リードフレーム7を固定し、超音波溶接を用いて金属リードフレーム7と陽極部のアルミニウム基体1間を電気的に接続し、コンデンサ素子の陽極部の導通を可能とした。
Next, a
次に回路基板実装用の電極基板9の外部陽極端子8と外部陰極端子10を、陽極部および陰極部をそれぞれ構成する金属リードフレーム7と導電性ペースト層6に、導電性接着剤11により電気的に接合した。
Next, the
次に固体電解コンデンサ素子の電極基板9に接続した面と反対側の陰極部の導電性ペースト層6上に、有機銀、酸化銀および希釈溶剤等からなる有機銀・酸化銀混合ペーストをスクリーン印刷で厚さ5μm以下に形成し、塗膜を125℃下で乾燥し、成分中の希釈溶剤のみを揮発させ、さらに250℃下の炉で30秒間熱処理を行い、有機銀・酸化銀混合ペーストをキュアすることによって、有機銀中の有機物、および、酸化銀中の酸素が乖離し、銀粒子同士が活性化することによって融着を促し、成分中の樹脂成分が0.1重量%以下の緩衝層12が形成された。
Next, an organic silver / silver oxide mixed paste made of organic silver, silver oxide, a diluting solvent, etc. is screen-printed on the
次に電極基板9と接続していない固体電解コンデンサ素子の露出部全体をエポキシ樹脂からなるモールド樹脂13によって覆い、200℃で熱処理を行うことにより樹脂を硬化し、固体電解コンデンサを作製した。この方法による固体電解コンデンサの作製数は30個とした。
Next, the entire exposed portion of the solid electrolytic capacitor element not connected to the
作製した30個の固体電解コンデンサについて電気特性を測定した。測定項目は、静電容量、ESR、漏れ電流の3項目で、それぞれリフロー前、第1リフロー後、第2リフロー後に電気特性の測定を行った。リフロー条件は260℃雰囲気下、30秒間熱処理を行うこととし、2回繰り返し行い1回ごとに電気特性を測定した。静電容量およびESRはいずれも交流インピーダンスブリッジ法により測定している。このうち静電容量の測定条件は、印加した基準信号の周波数が120Hz、電圧が1Vrmsで、DCバイアスを0Vとした。一方ESRは印加した基準信号の周波数が100kHz、電圧が1Vrms、DCバイアスは0Vとしている。また、漏れ電流については固体電解コンデンサの定格電圧である2.5Vの信号電圧を印加し、1分後の値を測定した。作製した30個の固体電解コンデンサの各特性の平均値を、リフローの段階ごとに、表1、表2、表3の実施例1の欄に示す。 Electrical characteristics were measured for the 30 solid electrolytic capacitors produced. The measurement items were three items of capacitance, ESR, and leakage current, and electrical characteristics were measured before reflow, after first reflow, and after second reflow, respectively. The reflow conditions were heat treatment in an atmosphere of 260 ° C. for 30 seconds, repeated twice, and the electrical characteristics were measured each time. Capacitance and ESR are both measured by the AC impedance bridge method. Among these, the measurement conditions of the capacitance were that the frequency of the applied reference signal was 120 Hz, the voltage was 1 Vrms, and the DC bias was 0V. On the other hand, in the ESR, the frequency of the applied reference signal is 100 kHz, the voltage is 1 Vrms, and the DC bias is 0V. As for the leakage current, a signal voltage of 2.5 V, which is the rated voltage of the solid electrolytic capacitor, was applied, and the value after 1 minute was measured. The average value of each characteristic of the produced 30 solid electrolytic capacitors is shown in the column of Example 1 in Table 1, Table 2, and Table 3 for each stage of reflow.
(実施例2)
実施例2として固体電解コンデンサ素子の陰極部の緩衝層12をメッキで形成した固体電解コンデンサの作製方法を示す。
(Example 2)
Example 2 shows a method for producing a solid electrolytic capacitor in which the
実施例1と同様に固体電解コンデンサ素子を作製し、固体電解コンデンサ素子の陽極部、陰極部をそれぞれ電極基板9の外部陽極端子8、外部陰極端子10と接続した。実施例1と異なり、固体電解コンデンサ素子の陰極部の導電性ペースト層6上の一部に給電端子を接続し、同じく給電端子と接続した浴槽中に銅イオンを含んだメッキ液を満たし、固体電解コンデンサ素子の陰極側を給電端子が浸漬しない程度に浸漬して給電端子間を導通し、平均5μmの銅メッキ層を形成して緩衝層12とし、その後は実施例1と同様に固体電解コンデンサ素子の露出部をモールド樹脂13で覆い、固体電解コンデンサを形成した。この方法による固体電解コンデンサの作製数は30個とした。また、リフローによる評価や電気特性の測定は実施例1と同様にし、作製した30個の固体電解コンデンサの各特性の平均値を表1、表2、表3の実施例2の欄に示す。
A solid electrolytic capacitor element was produced in the same manner as in Example 1, and the anode part and the cathode part of the solid electrolytic capacitor element were connected to the
(比較例1)
比較例として固体電解コンデンサ素子の陰極部の緩衝層12を設けない従来型の固体電解コンデンサの作製方法を示す。図2は、本比較例の固体電解コンデンサを示し、図2(a)はその斜視図、図2(b)は図2(a)のB−B’面での断面図である。
(Comparative Example 1)
As a comparative example, a method for producing a conventional solid electrolytic capacitor in which the
実施例と同様に固体電解コンデンサ素子を作製し、コンデンサ素子の陽極部、陰極部をそれぞれ電極基板9の外部陽極端子8、外部陰極端子10と接続した。実施例1および2と異なり、導電性ペースト層6上に緩衝層12を設けず、導電性ペースト層6上を含む固体電解コンデンサ素子の露出部をモールド樹脂13で覆い、固体電解コンデンサを形成した。この方法による固体電解コンデンサの作製数は30個とした。また、リフローによる評価や電気特性の測定は実施例と同様にし、作製した30個の固体電解コンデンサの各特性の平均値を表1、表2、表3の比較例1の欄に示す。
A solid electrolytic capacitor element was produced in the same manner as in the example, and the anode part and the cathode part of the capacitor element were connected to the
(比較例2)
比較例として固体電解コンデンサ素子の陰極部の緩衝層12中に1重量%の樹脂成分を含む固体電解コンデンサの作製方法を示す。
(Comparative Example 2)
As a comparative example, a method for producing a solid electrolytic capacitor containing 1% by weight of a resin component in the
実施例と同様に固体電解コンデンサ素子を作製し、コンデンサ素子の陽極部、陰極部をそれぞれ電極基板9の外部陽極端子8、外部陰極端子10と接続した。実施例1および2と異なり、エポキシ樹脂を1重量%含む銀ペースト層を用いてコンデンサ素子の緩衝層12を形成し、その後は実施例と同様に固体電解コンデンサ素子の露出部をモールド樹脂13で覆い、固体電解コンデンサを形成した。この方法による固体電解コンデンサの作製数は30個とした。また、リフローによる評価や電気特性の測定は実施例と同様にし、作製した30個の固体電解コンデンサの各特性の平均値を表1、表2、表3の比較例2の欄に示す。
A solid electrolytic capacitor element was produced in the same manner as in the example, and the anode part and the cathode part of the capacitor element were connected to the
表1より、リフロー前のESRは実施例、比較例共にほとんど差がないのに対し、第1リフロー後のESRは実施例1、実施例2と比べて比較例1が大幅に増加し、比較例2もやや増加し、同様に第2リフロー後のESRは実施例1、実施例2と比べて比較例1が大幅に増加し、比較例2もやや増加した。 From Table 1, ESR before reflow is almost the same in both Examples and Comparative Examples, whereas ESR after the first reflow is significantly increased in Comparative Example 1 compared to Examples 1 and 2. Example 2 also increased slightly. Similarly, ESR after the second reflow increased significantly in Comparative Example 1 compared to Examples 1 and 2, and Comparative Example 2 also increased slightly.
この結果は、緩衝層12を設けない比較例1や緩衝層12に樹脂成分を1重量%含む比較例2と比べて、本発明である実施例1、実施例2はリフローおよび繰り返しのリフローによるモールド樹脂13の膨張、収縮に対して固体電解コンデンサ素子の導電性ペースト層6の剥離を防止し、固体電解コンデンサの電気特性の劣化を防ぐ効果があることが分かる。
As a result, compared to Comparative Example 1 in which the
以上示したように、本発明の固体電解コンデンサによれば、導電性ペースト層6とモールド樹脂13の間に金属を主成分とする緩衝層12を形成することにより、モールド樹脂13は金属成分とは密着力が乏しいため、それらはリフローによるストレスに対しても緩衝層12がモールド樹脂13と剥離を起こし、導電性ペースト層6はほとんどストレスを受けない。これらにより、ガスおよび蒸気のバリア性に優れたモールド樹脂13で外装を行い、且つ、回路基板実装時の繰り返しのリフロー時の信頼性を確保し、且つ、量産性に優れた固体電解コンデンサを実現できる。
As described above, according to the solid electrolytic capacitor of the present invention, by forming the
1 アルミニウム基体
2 陽極酸化皮膜
3 絶縁体
4 固体電解質層
5 グラファイト層
6 導電性ペースト層
7 金属リードフレーム
8 外部陽極端子
9 電極基板
10 外部陰極端子
11 導電性接着剤
12 緩衝層
13 モールド樹脂
DESCRIPTION OF
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008034334A JP2009194200A (en) | 2008-02-15 | 2008-02-15 | Solid electrolytic capacitor |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ID=41075950
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| JP2008034334A Pending JP2009194200A (en) | 2008-02-15 | 2008-02-15 | Solid electrolytic capacitor |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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2008
- 2008-02-15 JP JP2008034334A patent/JP2009194200A/en active Pending
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