[go: up one dir, main page]

JP2009038331A - Method for electrically connecting element to wiring, method for manufacturing light-emitting element assembly, and light-emitting element assembly - Google Patents

Method for electrically connecting element to wiring, method for manufacturing light-emitting element assembly, and light-emitting element assembly Download PDF

Info

Publication number
JP2009038331A
JP2009038331A JP2007261974A JP2007261974A JP2009038331A JP 2009038331 A JP2009038331 A JP 2009038331A JP 2007261974 A JP2007261974 A JP 2007261974A JP 2007261974 A JP2007261974 A JP 2007261974A JP 2009038331 A JP2009038331 A JP 2009038331A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fixing member
conductive fixing
layer
wiring
light emitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007261974A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4396754B2 (en
Inventor
Naoki Hirao
直樹 平尾
Katsuhiro Tomota
勝寛 友田
Koushin Iwakoshi
康申 岩越
Huy Sam
フイ サム
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2007261974A priority Critical patent/JP4396754B2/en
Priority to US12/163,636 priority patent/US7838410B2/en
Publication of JP2009038331A publication Critical patent/JP2009038331A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4396754B2 publication Critical patent/JP4396754B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H10W70/093
    • H10W70/60

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】配線上に導電性接着剤層を用いて素子を確実に固定できる配線への素子の電気的接続方法を提供する。
【解決手段】電気的接続方法は、基体40に設けられた少なくとも配線41上に導電性固定部材前駆体層42を形成し、次いで、接続部25を備えた素子を、該接続部25が導電性固定部材前駆体層42と接するように配線41上に配置した後、導電性固定部材前駆体層42を加熱して導電性固定部材層43を得ることで、導電性固定部材層43を介して配線41に素子の接続部25を固定する工程から成り、導電性固定部材前駆体層42は溶液型の導電材料から成る。
【選択図】 図7
Provided is a method for electrically connecting an element to a wiring, which can securely fix the element by using a conductive adhesive layer on the wiring.
An electrical connection method includes forming a conductive fixing member precursor layer on at least a wiring 41 provided on a base body 40, and then connecting the element including the connection portion 25 to the conductive portion 25. After placing the conductive fixing member precursor layer 42 on the wiring 41 so as to be in contact with the conductive fixing member precursor layer 42, the conductive fixing member precursor layer 42 is heated to obtain the conductive fixing member layer 43. Thus, the conductive fixing member precursor layer 42 is made of a solution-type conductive material.
[Selection] Figure 7

Description

本発明は、配線への素子の電気的接続方法及び発光素子組立体の製造方法、並びに、発光素子組立体に関する。   The present invention relates to a method for electrically connecting elements to wiring, a method for manufacturing a light emitting element assembly, and a light emitting element assembly.

現在、例えば発光素子を配線等に電気的に接続する方法として、屡々、異方性導電ペースト(ACP)が使用されている(例えば、特開平11−177148あるいは特開2004−215223参照)。異方性導電ペーストは、一般に、導電性粒子、バインダ、及び、溶剤から構成されており、塗布後、乾燥、熱圧着することで、発光素子を配線等に電気的に接続することができる。   At present, for example, anisotropic conductive paste (ACP) is often used as a method of electrically connecting a light emitting element to a wiring or the like (see, for example, JP-A-11-177148 or JP-A-2004-215223). An anisotropic conductive paste is generally composed of conductive particles, a binder, and a solvent. After application, the light-emitting element can be electrically connected to a wiring or the like by drying and thermocompression bonding.

特開平11−177148JP-A-11-177148 特開2004−215223JP 2004-215223 A 特開2000−315453JP 2000-315453 A

しかしながら、発光素子等の素子が数十μm程度の大きさ、あるいはそれ以下になると、異方性導電ペーストに含まれる導電性粒子の素子に対する大きさが相対的に大きくなり、図13の(A)あるいは図13の(B)に模式的に示すように、素子と配線とを確実に電気的に接続することができなくなるといった問題、あるいは又、配線上で素子が傾いてしまうといった問題が生じる。また、不要な異方性導電ペーストの部分を除去したとき、バインダが残渣として残り易いといった問題もある。更には、異方性導電ペーストの使用時、温度や光といった外的刺激を加えながら加圧する必要があるため、微小な素子を均一に配線に固定することが困難である。   However, when the element such as the light emitting element is about several tens of μm or less, the size of the conductive particles contained in the anisotropic conductive paste relative to the element becomes relatively large. ) Or as schematically shown in FIG. 13B, there arises a problem that the element and the wiring cannot be reliably electrically connected, or that the element is inclined on the wiring. . There is also a problem that when the unnecessary anisotropic conductive paste is removed, the binder tends to remain as a residue. Furthermore, since it is necessary to apply pressure while applying an external stimulus such as temperature and light when using the anisotropic conductive paste, it is difficult to uniformly fix minute elements to the wiring.

尚、ITOインクを用いて等方性カーボンから成る陰極材料を基板に固定する技術が、特開2000−315453に開示されている。しかしながら、この特開2000−315453に開示された技術にあっては、ITOインクによって等方性カーボンを基板に固定した後、レジストをエッチング用マスクとして用いたパターニングを行い、不要な等方性カーボン及びITOインクを除去するといった煩雑な作業が必要とされる。   A technique for fixing a cathode material made of isotropic carbon to a substrate using ITO ink is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-315453. However, in the technique disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-315453, after the isotropic carbon is fixed to the substrate with ITO ink, patterning is performed using a resist as an etching mask, and unnecessary isotropic carbon is obtained. In addition, complicated operations such as removing ITO ink are required.

従って、本発明の目的は、基体に形成された配線上に、固定用の導電層を用いて素子又は発光素子を確実に電気的に接続された状態にて固定でき、しかも、あるいは又、レジストをエッチング用マスクとして用いて係る導電層をパターニングするといった煩雑な作業を行う必要のない配線への素子の電気的接続方法、及び、係る電気的接続方法を適用した発光素子組立体の製造方法、並びに、係る電気的接続方法が適用された発光素子組立体を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to fix an element or a light emitting element on a wiring formed on a substrate using a fixing conductive layer in a state where the element or the light emitting element is securely electrically connected. A method of electrically connecting elements to wiring that does not require complicated operations such as patterning the conductive layer using the etching mask as a mask, and a method of manufacturing a light emitting element assembly to which the electrical connection method is applied, Another object of the present invention is to provide a light emitting device assembly to which such an electrical connection method is applied.

上記の目的を達成するための本発明の第1の態様に係る配線への素子の電気的接続方法は、
(A)基体に設けられた少なくとも配線上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)接続部を備えた素子を、該接続部が導電性固定部材前駆体層と接するように配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method of electrically connecting an element to a wiring according to the first aspect of the present invention includes:
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on at least the wiring provided on the substrate;
(B) After disposing the element provided with the connection portion on the wiring so that the connection portion is in contact with the conductive fixing member precursor layer, the conductive fixing member precursor layer is heated to form the conductive fixing member layer. By obtaining, fixing the connection portion of the element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.

上記の目的を達成するための本発明の第1の態様に係る発光素子組立体の製造方法は、
(A)基体に設けられた少なくとも配線上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)接続部を備えた発光素子を、該接続部が導電性固定部材前駆体層と接するように配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に発光素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for manufacturing a light-emitting element assembly according to the first aspect of the present invention includes:
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on at least the wiring provided on the substrate;
(B) A light emitting element having a connection portion is arranged on the wiring so that the connection portion is in contact with the conductive fixing member precursor layer, and then the conductive fixing member precursor layer is heated to form a conductive fixing member layer. By fixing the connection part of the light emitting element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.

上記の目的を達成するための本発明の第2の態様に係る配線への素子の電気的接続方法は、
(A)素子に備えられた接続部上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)導電性固定部材前駆体層が基体に設けられた配線と接するように素子を配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the electrical connection method of the element to the wiring according to the second aspect of the present invention includes:
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on the connection portion provided in the element;
(B) By arranging the element on the wiring so that the conductive fixing member precursor layer is in contact with the wiring provided on the substrate, the conductive fixing member precursor layer is heated to obtain the conductive fixing member layer. Fixing the connection portion of the element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.

上記の目的を達成するための本発明の第2の態様に係る発光素子組立体の製造方法は、
(A)発光素子に備えられた接続部上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)導電性固定部材前駆体層が基体に設けられた配線と接するように発光素子を配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に発光素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする。
A method for manufacturing a light-emitting element assembly according to the second aspect of the present invention for achieving the above object is as follows:
(A) A conductive fixing member precursor layer is formed on the connection portion provided in the light emitting element, and then
(B) After arranging the light emitting element on the wiring so that the conductive fixing member precursor layer is in contact with the wiring provided on the substrate, the conductive fixing member precursor layer is heated to obtain the conductive fixing member layer. Then, the connection part of the light emitting element is fixed to the wiring through the conductive fixing member layer.
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.

上記の目的を達成するための本発明の第1の態様に係る発光素子組立体は、
発光素子の接続部と基体上に形成された配線とが、導電性固定部材層にて固定されており、
発光素子の下方にのみ導電性固定部材層が存在し、
導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする。
To achieve the above object, a light emitting device assembly according to a first aspect of the present invention comprises:
The connection part of the light emitting element and the wiring formed on the base are fixed by the conductive fixing member layer,
There is a conductive fixing member layer only below the light emitting element,
The conductive fixing member layer is made of ITO or IZO.

また、上記の目的を達成するための本発明の第2の態様に係る発光素子組立体は、
発光素子の接続部と基体上に形成された配線とが、導電性固定部材層にて固定されており、
導電性固定部材層は、少なくとも、金属原子、炭素(C)原子及び酸素(O)原子から構成されていることを特徴とする。
A light emitting device assembly according to the second aspect of the present invention for achieving the above object is
The connection part of the light emitting element and the wiring formed on the base are fixed by the conductive fixing member layer,
The conductive fixing member layer is composed of at least metal atoms, carbon (C) atoms, and oxygen (O) atoms.

本発明の第2の態様に係る発光素子組立体において、導電性固定部材層は、金属原子、炭素(C)原子及び酸素(O)原子から構成されているが、ここで、炭素(C)原子が含まれる割合として、3重量%乃至30重量%を例示することができる。   In the light-emitting element assembly according to the second aspect of the present invention, the conductive fixing member layer is composed of metal atoms, carbon (C) atoms, and oxygen (O) atoms. Here, carbon (C) Examples of the proportion of atoms include 3% by weight to 30% by weight.

また、金属原子には、例えば、インジウム(In)、錫(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)と錫(Sn)の組合せ、インジウム(In)と亜鉛(Zn)の組合せが含まれ、更には、半金属原子、半導体原子、及び、これらの組合せが含まれる。尚、導電性固定部材層を構成する原子として、金属原子、炭素(C)原子及び酸素(O)原子に加えて、水素(H)原子を挙げることができる。   The metal atom includes, for example, indium (In), tin (Sn), zinc (Zn), a combination of indium (In) and tin (Sn), and a combination of indium (In) and zinc (Zn). Furthermore, metalloid atoms, semiconductor atoms, and combinations thereof are included. In addition to the metal atoms, carbon (C) atoms, and oxygen (O) atoms, the atoms constituting the conductive fixing member layer can include hydrogen (H) atoms.

本発明の第1の態様に係る配線への素子の電気的接続方法あるいは本発明の第1の態様に係る発光素子組立体の製造方法(以下、これらを総称して、単に、『本発明の第1の態様に係る方法』と呼ぶ場合がある)においては、
前記工程(A)においては、配線上を含む基体上に導電性固定部材前駆体層を形成し、
前記工程(B)の後、素子あるいは発光素子(以下、これらを総称して、『素子等』と呼ぶ)の下方に位置する導電性固定部材層の部分を残し、その他の導電性固定部材層の部分を除去する工程を含む構成とすることができる。
A method for electrically connecting an element to a wiring according to the first aspect of the present invention or a method for manufacturing a light emitting element assembly according to the first aspect of the present invention (hereinafter collectively referred to as “the present invention”). In the case of “the method according to the first aspect”),
In the step (A), a conductive fixing member precursor layer is formed on the substrate including the wiring,
After the step (B), the conductive fixing member layer located below the element or the light emitting element (hereinafter collectively referred to as “element etc.”) is left, and other conductive fixing member layers It can be set as the structure including the process of removing this part.

上記の好ましい構成を含む本発明の第1の態様に係る方法にあっては、前記工程(B)において、基板上に支持された(基板に形成された形態、基板上に保持された形態を含む)素子等に備えられた接続部を導電性固定部材前駆体層と接触させた状態で、素子等を基板から取り除くことで、素子等を配線上に配置する形態とすることができる。   In the method according to the first aspect of the present invention including the above preferable configuration, in the step (B), a form supported on the substrate (a form formed on the substrate, a form held on the substrate). In a state where the connection portion provided in the element or the like is in contact with the conductive fixing member precursor layer, the element or the like is removed from the substrate, whereby the element or the like can be arranged on the wiring.

本発明の第2の態様に係る配線への素子の電気的接続方法あるいは本発明の第2の態様に係る発光素子組立体の製造方法(以下、これらを総称して、単に、『本発明の第2の態様に係る方法』と呼ぶ場合がある)にあっては、前記工程(B)において、基板上に支持された(基板に形成された形態、基板上に保持された形態を含む)素子等に備えられた接続部上に形成された導電性固定部材前駆体層を基体に設けられた配線と接触させた状態で、素子等を基板から取り除くことで、素子等を配線上に配置する形態とすることができる。尚、この場合には、素子等に備えられた接続部上に導電性固定部材前駆体層を形成する工程は、素子等を基板上に支持した後とすることが好ましい。   A method for electrically connecting an element to a wiring according to the second aspect of the present invention or a method for manufacturing a light emitting element assembly according to the second aspect of the present invention (hereinafter collectively referred to as “the present invention”). In the step (B), it is supported on the substrate (including a form formed on the substrate and a form held on the substrate). The element etc. is arranged on the wiring by removing the element etc. from the substrate in a state where the conductive fixing member precursor layer formed on the connection portion provided in the element etc. is in contact with the wiring provided on the base. It can be set as a form to do. In this case, it is preferable that the step of forming the conductive fixing member precursor layer on the connection portion provided in the element or the like is after the element or the like is supported on the substrate.

以上に説明した好ましい構成、形態を含む本発明の第1の態様に係る方法あるいは本発明の第2の態様に係る方法(以下、これらを総称して、単に、『本発明の方法』と呼ぶ場合がある)において、導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことが好ましい。粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことで、素子等と配線とを確実に電気的に接続することができるし、あるいは又、配線上で素子等が傾いてしまうといった問題が生じることを確実に防止することができる。 The method according to the first aspect of the present invention including the preferred configurations and forms described above or the method according to the second aspect of the present invention (hereinafter collectively referred to as “the method of the present invention”) In some cases, the conductive fixing member precursor layer preferably does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 −7 m. By not containing fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 −7 m, it is possible to securely connect the element and the wiring to each other, or the element is inclined on the wiring. Can be reliably prevented.

更には、上記の好ましい構成を含む本発明の方法、本発明の第1の態様あるいは第2の態様に係る発光素子組立体(以下、これらの発光素子組立体を総称して、単に、『本発明の発光素子組立体』と呼ぶ)において、導電性固定部材層を、ITO(Indium Tin Oxide)又はIZO(Indium Zinc Oxide)から構成することができるが、これに限定するものではなく、種々の金属アルコキシドや金属錯体、金属塩を出発物質として得られる導電材料から構成することもできる。   Further, the method of the present invention including the above-described preferred configuration, the light emitting element assembly according to the first aspect or the second aspect of the present invention (hereinafter, these light emitting element assemblies are collectively referred to as “the present invention”). In the present invention, the conductive fixing member layer can be made of ITO (Indium Tin Oxide) or IZO (Indium Zinc Oxide), but is not limited thereto. It can also be comprised from the electrically-conductive material obtained by using a metal alkoxide, a metal complex, and a metal salt as a starting material.

また、以上に説明した各種の好ましい構成を含む本発明の方法にあっては、前記工程(B)中において、又は、前記工程(B)の後、熱処理によって、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、素子等の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び素子等の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化を図る構成とすることができ、これによって、一層、安定した配線と素子等の接続部との接続を得ることができるし、素子等の接続部や配線の部分の長期信頼性を高めることができる。また、導電性固定部材層の一部を除去する場合、合金化を図ることによって、合金化された導電性固定部材層の部分と、合金化されていない導電性固定部材層の部分との間で、例えば、エッチング選択比を変化させることができるので、導電性固定部材層の一部の除去を容易に行うことができる。尚、このような金属として、銀(Ag)、金(Au)、インジウム(In)、錫(Sn)、銅(Cu)を例示することができるし、あるいは又、これらの金属を含む合金、[Al,Mo,Ni,Pb,Pd]といった金属のいずれかから成る合金を例示することができる。そして、この場合、基体へ垂直投影した素子等の射影像の領域内には、合金化のための金属層が形成されている構成とすることもできる。基体へ垂直投影した素子等の射影像の外縁と金属層の外縁とは、一致していてもよいし、射影像の外縁内に金属層の外縁が含まれる形態としてもよい。場合によっては、金属層の外縁内に射影像の外縁が含まれる形態としてもよいが、この場合には、製造時のバラツキを考慮すると、金属層の外縁によって囲まれる領域の面積を「1」としたとき、射影像の外縁によって囲まれる領域の面積は「0.80乃至0.99」であることが望ましい。係る金属層を構成する金属として、銀(Ag)、金(Au)、インジウム(In)、錫(Sn)、チタン(Ti)を例示することができるし、あるいは又、これらの金属を含む合金を例示することができる。本発明の発光素子組立体にあっても、同様に、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化が施されていることが好ましい。金属層は、配線の上に形成されていてもよいし、基体と配線との間に形成されていてもよい。尚、合金化のための熱処理を、便宜上、『合金化熱処理』と呼ぶ場合がある。   Further, in the method of the present invention including the various preferable configurations described above, the metal and the conductive material constituting the wiring are subjected to heat treatment during the step (B) or after the step (B). Alloying with the metal constituting the fixing member layer, or alloying between the metal constituting the connection part of the element and the metal constituting the conductive fixing member layer, or the metal constituting the wiring and the conductive fixing member Alloying with the metal constituting the layer and alloying between the metal constituting the connection part of the element and the metal and the metal constituting the conductive fixing member layer can be achieved, thereby further stabilizing the wiring. And a connection portion such as an element can be obtained, and long-term reliability of a connection portion such as an element or a wiring portion can be improved. Further, when removing a part of the conductive fixing member layer, by alloying, the portion between the alloyed conductive fixing member layer portion and the non-alloyed conductive fixing member layer portion is formed. Thus, for example, since the etching selectivity can be changed, a part of the conductive fixing member layer can be easily removed. Examples of such metals include silver (Ag), gold (Au), indium (In), tin (Sn), and copper (Cu), or an alloy containing these metals, An alloy made of any one of metals such as [Al, Mo, Ni, Pb, Pd] can be exemplified. In this case, a metal layer for alloying may be formed in the region of the projected image of the element or the like vertically projected onto the substrate. The outer edge of the projected image of the element or the like vertically projected on the substrate may coincide with the outer edge of the metal layer, or the outer edge of the metal layer may be included in the outer edge of the projected image. In some cases, the outer edge of the metal layer may be included in the outer edge of the metal layer. In this case, the area surrounded by the outer edge of the metal layer is set to “1” in consideration of manufacturing variations. The area of the region surrounded by the outer edge of the projected image is preferably “0.80 to 0.99”. Examples of the metal constituting the metal layer include silver (Ag), gold (Au), indium (In), tin (Sn), and titanium (Ti), or an alloy containing these metals. Can be illustrated. Similarly, in the light emitting element assembly of the present invention, the metal constituting the wiring and the metal constituting the conductive fixing member layer are alloyed, or the metal constituting the connecting portion of the light emitting element is conductively fixed. Alloying with the metal constituting the member layer, or alloying between the metal constituting the wiring and the metal constituting the conductive fixing member layer and the metal constituting the connecting portion of the light emitting element and the conductive fixing member layer It is preferable that alloying with the metal to be performed is performed. The metal layer may be formed on the wiring, or may be formed between the base and the wiring. The heat treatment for alloying may be referred to as “alloying heat treatment” for convenience.

本発明の方法あるいは本発明の発光素子組立体における基体として、ガラス基板、金属基板や金属シート、合金基板や合金シート、セラミックス基板やセラミックスシート、半導体基板、プラスチック基板やプラスチックシート、プラスチックフィルムを例示することができる。尚、プラスチックフィルムとして、ポリエーテルサルホン(PES)フィルム、ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルム、ポリイミド(PI)フィルム、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムを例示することができる。あるいは又、基体として、ガラス基板に上記の各種フィルムが貼り合わされたもの、ガラス基板上にポリイミド樹脂層、アクリル樹脂層、ポリスチレン樹脂層、シリコーンゴム層が形成されたものを例示することができる。また、ガラス基板を金属基板やプラスチック基板に置き換えてもよい。あるいは又、これらの基板の表面に絶縁膜が形成されたものとすることもできる。ここで、絶縁膜を構成する材料として、酸化ケイ素系材料、窒化ケイ素(SiNY)、金属酸化物高誘電絶縁膜にて例示される無機系絶縁材料だけでなく、ポリメチルメタクリレート(PMMA)やポリビニルフェノール(PVP)、ポリビニルアルコール(PVA)にて例示される有機系絶縁材料を挙げることができるし、これらの組合せを用いることもできる。尚、酸化ケイ素系材料として、酸化シリコン(SiOX)、酸化窒化シリコン(SiON)、SOG(スピンオングラス)、低誘電率SiOX系材料(例えば、ポリアリールエーテル、シクロパーフルオロカーボンポリマー及びベンゾシクロブテン、環状フッ素樹脂、ポリテトラフルオロエチレン、フッ化アリールエーテル、フッ化ポリイミド、アモルファスカーボン、有機SOG)を例示することができる。絶縁膜の形成方法として、後述する各種PVD法;各種CVD法;スピンコーティング法;後述する各種印刷法や各種コーティング法;浸漬法;キャスティング法;及び、スプレー法の内のいずれかを挙げることができる。 Examples of the substrate in the method of the present invention or the light emitting device assembly of the present invention include glass substrates, metal substrates and metal sheets, alloy substrates and alloy sheets, ceramic substrates and ceramic sheets, semiconductor substrates, plastic substrates, plastic sheets and plastic films. can do. Examples of the plastic film include polyethersulfone (PES) film, polyethylene naphthalate (PEN) film, polyimide (PI) film, and polyethylene terephthalate (PET) film. Alternatively, examples of the substrate include those in which the above-mentioned various films are bonded to a glass substrate, and those in which a polyimide resin layer, an acrylic resin layer, a polystyrene resin layer, and a silicone rubber layer are formed on the glass substrate. Further, the glass substrate may be replaced with a metal substrate or a plastic substrate. Alternatively, an insulating film may be formed on the surface of these substrates. Here, as a material constituting the insulating film, not only a silicon oxide material, silicon nitride (SiN Y ), an inorganic insulating material exemplified by a metal oxide high dielectric insulating film, but also polymethyl methacrylate (PMMA), Examples thereof include organic insulating materials exemplified by polyvinyl phenol (PVP) and polyvinyl alcohol (PVA), and combinations thereof can also be used. Silicon oxide-based materials include silicon oxide (SiO x ), silicon oxynitride (SiON), SOG (spin-on-glass), low dielectric constant SiO x -based materials (for example, polyaryl ether, cycloperfluorocarbon polymer, and benzocyclobutene). , Cyclic fluororesin, polytetrafluoroethylene, fluorinated aryl ether, fluorinated polyimide, amorphous carbon, and organic SOG). Examples of the method for forming the insulating film include various PVD methods described later; various CVD methods; spin coating methods; various printing methods and various coating methods described later; immersion methods; casting methods; and spray methods. it can.

基体に形成された配線のパターンは、要求される仕様に基づき、適宜、決定すればよく、例えば、複数の帯状に延びる配線から構成することができるし、あるいは又、例えば、幹配線、及び、幹配線から延びる複数の枝配線から構成され、枝配線上に素子等が固定される構成とすることもできる。基体に形成された配線を構成する材料として、上述した銀(Ag)、金(Au)、インジウム(In)、錫(Sn)、銅(Cu)、これらの金属を含む合金、[Al,Mo,Ni,Pb,Pd]といった金属のいずれかから成る合金の他、アルミニウム(Al)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、チタン(Ti)等の金属、あるいは、これらの金属元素を含む合金、これらの金属から成る導電性粒子、これらの金属を含む合金の導電性粒子を挙げることができるし、これらの元素を含む層の積層構造とすることもできる。配線の形成方法として、これらを構成する材料にも依るが、物理的気相成長法(PVD法);MOCVD法を含む各種の化学的気相成長法(CVD法);スクリーン印刷法やインクジェット印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、コンタクトプリント法、インプリント法といった各種印刷法;リフト・オフ法;シャドウマスク法;及び、電解メッキ法や無電解メッキ法あるいはこれらの組合せといったメッキ法の内のいずれかと、必要に応じてパターニング技術との組合せを挙げることができる。尚、PVD法として、(a)電子ビーム加熱法、抵抗加熱法、フラッシュ蒸着等の各種真空蒸着法、(b)プラズマ蒸着法、(c)2極スパッタリング法、直流スパッタリング法、直流マグネトロンスパッタリング法、高周波スパッタリング法、マグネトロンスパッタリング法、イオンビームスパッタリング法、バイアススパッタリング法等の各種スパッタリング法、(d)DC(direct current)法、RF法、多陰極法、活性化反応法、電界蒸着法、高周波イオンプレーティング法、反応性イオンプレーティング法等の各種イオンプレーティング法を挙げることができる。   The wiring pattern formed on the substrate may be appropriately determined based on the required specifications. For example, the wiring pattern may be constituted by a plurality of wirings extending in a strip shape, or, for example, a trunk wiring, and It may be configured by a plurality of branch wirings extending from the trunk wiring, and an element or the like may be fixed on the branch wiring. As a material constituting the wiring formed on the substrate, the above-described silver (Ag), gold (Au), indium (In), tin (Sn), copper (Cu), alloys containing these metals, [Al, Mo , Ni, Pb, and Pd], as well as aluminum (Al), palladium (Pd), platinum (Pt), chromium (Cr), nickel (Ni), tantalum (Ta), tungsten ( W), metals such as titanium (Ti), or alloys containing these metal elements, conductive particles made of these metals, and conductive particles of alloys containing these metals. A layered structure of layers containing can also be used. Although the wiring formation method depends on the materials constituting these, physical vapor deposition method (PVD method); various chemical vapor deposition methods (CVD method) including MOCVD method; screen printing method and ink jet printing Various printing methods such as the offset printing method, offset printing method, gravure printing method, contact printing method, imprint method; lift-off method; shadow mask method; and plating methods such as electrolytic plating method, electroless plating method, or combinations thereof A combination of any of the above and a patterning technique can be given as necessary. In addition, as the PVD method, (a) various vacuum deposition methods such as electron beam heating method, resistance heating method, flash deposition, (b) plasma deposition method, (c) bipolar sputtering method, direct current sputtering method, direct current magnetron sputtering method Various sputtering methods such as high-frequency sputtering method, magnetron sputtering method, ion beam sputtering method, bias sputtering method, (d) DC (direct current) method, RF method, multi-cathode method, activation reaction method, electric field evaporation method, high-frequency method Various ion plating methods such as an ion plating method and a reactive ion plating method can be given.

導電性固定部材前駆体層の形成方法として、スピンコーティング法;スクリーン印刷法やインクジェット印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、コンタクトプリント法、インプリント法といった各種印刷法;エアドクタコーター法、ブレードコーター法、ロッドコーター法、ナイフコーター法、スクイズコーター法、リバースロールコーター法、トランスファーロールコーター法、グラビアコーター法、キスコーター法、キャストコーター法、スプレーコーター法、スリットオリフィスコーター法、カレンダーコーター法、浸漬法といった各種コーティング法;スタンプ法;スプレー法等の塗布法を挙げることができる。   As a method for forming the conductive fixing member precursor layer, spin coating method; various printing methods such as screen printing method, inkjet printing method, offset printing method, gravure printing method, contact printing method, imprinting method; air doctor coater method, blade Coater method, rod coater method, knife coater method, squeeze coater method, reverse roll coater method, transfer roll coater method, gravure coater method, kiss coater method, cast coater method, spray coater method, slit orifice coater method, calendar coater method, immersion Various coating methods such as a coating method; a stamping method; and a coating method such as a spray method can be exemplified.

導電性固定部材層を得るために導電性固定部材前駆体層を加熱するが、係る加熱には、
(1)導電性固定部材前駆体層に含まれる溶媒や溶剤、各種の有機物質(例えば、安定化剤)を除去するための加熱処理
だけでなく、
(2)加熱に基づく、導電性固定部材前駆体層を構成する溶液型の導電材料の熱分解や化学反応
(3)加熱に基づく、導電性固定部材前駆体層を構成する溶液型の導電材料の焼成
といった概念が包含される。加熱(加熱処理、熱分解、化学反応、焼成を含む)は、大気中で行ってもよいし、不活性ガス雰囲気中で行ってもよい。加熱の雰囲気、加熱時の圧力、加熱の時間、加熱の温度、昇温/降温パターンは、使用する導電性固定部材前駆体層に応じて、適宜設定すればよい。導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得た後、導電性固定部材層にアニール処理を施してもよい。素子等の下方に位置する導電性固定部材層の部分を残し、その他の導電性固定部材層の部分(素子等に覆われていない露出した導電性固定部材層の部分)を除去する場合、具体的には、素子等、基体や配線に悪影響を及ぼさない導電性固定部材層に適したエッチング液あるいはエッチング用ガスを用いて導電性固定部材層をエッチングすればよい。
In order to obtain the conductive fixing member layer, the conductive fixing member precursor layer is heated.
(1) Not only the heat treatment for removing the solvent and solvent and various organic substances (for example, stabilizer) contained in the conductive fixing member precursor layer,
(2) Thermal decomposition or chemical reaction of a solution-type conductive material constituting a conductive fixing member precursor layer based on heating (3) Solution-type conductive material constituting a conductive fixing member precursor layer based on heating The concept of firing is included. Heating (including heat treatment, thermal decomposition, chemical reaction, and baking) may be performed in the air or in an inert gas atmosphere. What is necessary is just to set suitably the atmosphere of heating, the pressure at the time of heating, the time of heating, the temperature of heating, and temperature rising / falling pattern according to the electroconductive fixing member precursor layer to be used. After the conductive fixing member precursor layer is heated to obtain the conductive fixing member layer, the conductive fixing member layer may be annealed. When removing the conductive fixing member layer portion located below the element, etc., and removing the other conductive fixing member layer portions (exposed conductive fixing member layer portions not covered by the element, etc.) Specifically, the conductive fixing member layer may be etched using an etching solution or an etching gas suitable for the conductive fixing member layer that does not adversely affect the substrate or wiring, such as an element.

本発明の方法、あるいは又、本発明の発光素子組立体において、素子等に備えられた接続部として、具体的には、電極やパッド部、配線部、端子部を挙げることができる。配線に固定される1つの素子等当たりの接続部の数は、1つに限定されず、2つ以上であってもよい。尚、接続部の数が2つ以上である場合、従来の技術にあっては、接続部のピッチを30μm以下とすることは困難であったが、本発明の方法、あるいは又、本発明の発光素子組立体にあっては、接続部のピッチを10μm程度としても、例えば、バンプを用いた接合が可能となる。導電性固定部材層の厚さとして、1×10-9(m)乃至1×10-5(m)、好ましくは、5×10-9(m)乃至1×10-7(m)を例示することができる。また、導電性固定部材層の体積抵抗値として、1×10Ω・m(1×103Ω・cm)以下、例えば、発光素子のように素子の内部抵抗値が高い場合においては、1×10-2Ω・m(1Ω・cm)乃至1Ω・m(1×102Ω・cm)を例示することができる。導電性固定部材層の体積抵抗値がこのように高い値であっても、導電性固定部材層の厚さが薄く、且つ、素子等の内部抵抗値が高いので、何ら、問題は生じない。 In the light emitting device assembly of the present invention or the light emitting device assembly of the present invention, specific examples of the connecting portion provided in the device include an electrode, a pad portion, a wiring portion, and a terminal portion. The number of connection portions per one element or the like fixed to the wiring is not limited to one, and may be two or more. When the number of connecting portions is two or more, it has been difficult in the prior art to set the pitch of the connecting portions to 30 μm or less. However, the method of the present invention or the present invention In the light-emitting element assembly, for example, bonding using bumps is possible even when the pitch of the connection portions is about 10 μm. Examples of the thickness of the conductive fixing member layer include 1 × 10 −9 (m) to 1 × 10 −5 (m), preferably 5 × 10 −9 (m) to 1 × 10 −7 (m). can do. Further, the volume resistance value of the conductive fixing member layer is 1 × 10 Ω · m (1 × 10 3 Ω · cm) or less. For example, when the internal resistance value of the element is high, such as a light emitting element, 1 × 10 -2 Ω · m (1 Ω · cm) to 1 Ω · m (1 × 10 2 Ω · cm) can be exemplified. Even if the volume resistance value of the conductive fixing member layer is such a high value, there is no problem because the thickness of the conductive fixing member layer is thin and the internal resistance value of the element or the like is high.

本発明の方法において、導電性固定部材前駆体層は溶液型の導電材料から成るが、溶液型の導電材料には、基本的には、フィラーは含まれていない。溶液型の導電材料は、例えば、アルコキシド等を加水分解、重合してコロイド状にした物を溶液中に分散させた材料から構成されている。あるいは又、溶液型の導電材料は、金属の有機化合物を有機溶剤に溶解した溶液から構成された液体材料であって、下地(配線や基板、接続部)上に係る溶液を塗布し、乾燥後、加熱することで、例えば酸化物を容易に形成することができる液体材料から構成されている。素子等の接続部が導電性固定部材前駆体層と接するように配置するが、配置後、素子等が導電性固定部材前駆体層から移動しない程度に、導電性固定部材前駆体層は粘着性(タック)を有していることが好ましい。   In the method of the present invention, the conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material, but the solution-type conductive material basically does not contain a filler. The solution-type conductive material is made of, for example, a material in which a colloidal product obtained by hydrolyzing and polymerizing alkoxide or the like is dispersed in a solution. Alternatively, the solution-type conductive material is a liquid material composed of a solution in which a metal organic compound is dissolved in an organic solvent, and the solution is applied on a base (wiring, substrate, connection part) and dried. For example, it is made of a liquid material that can easily form an oxide by heating. Arrange the connection part of the element so that it contacts the conductive fixing member precursor layer, but the conductive fixing member precursor layer is sticky to the extent that the element does not move from the conductive fixing member precursor layer after the arrangement. It is preferable to have (tack).

発光層において発光した光が基体から出射される構造において、配線は、係る出射光を遮らない形状、構成、構造とする必要がある。また、出射光が通過しない基体の部分には、ブラックマトリクス層を形成してもよい。ブラックマトリクス層を構成する材料として、カーボン、金属薄膜(例えば、クロム、ニッケル、アルミニウム、モリブデン等、あるいは、これらの合金)、金属酸化物(例えば、酸化クロム)、金属窒化物(例えば、窒化クロム)、耐熱性有機樹脂、ガラスペースト、黒色顔料や銀等の導電性粒子を含有するガラスペースト等の材料を挙げることができる。ブラックマトリクス層は、例えば、真空蒸着法やスパッタリング法とエッチング法との組合せ、真空蒸着法やスパッタリング法、スピンコーティング法とリフトオフ法との組合せ、各種印刷法、リソグラフィ技術等、使用する材料に依存して適宜選択された方法にて形成することができる。また、出射光が出射する基体の部分には、凸レンズを設けてもよい。凸レンズを構成する材料として、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、シリコーンゴムを挙げることができるし、凸レンズの形成方法(配設方法)として、リフロー法、ポッティング法、インプリント法、フォトリソグラフィ法、エッチング法、印刷法を挙げることができる。   In a structure in which light emitted from the light emitting layer is emitted from the substrate, the wiring needs to have a shape, configuration, and structure that does not block the emitted light. Further, a black matrix layer may be formed on the portion of the substrate through which the emitted light does not pass. As a material constituting the black matrix layer, carbon, a metal thin film (for example, chromium, nickel, aluminum, molybdenum, etc., or an alloy thereof), a metal oxide (for example, chromium oxide), a metal nitride (for example, chromium nitride) ), A heat-resistant organic resin, a glass paste, and a glass paste containing conductive particles such as a black pigment and silver. The black matrix layer depends on the materials used, for example, vacuum deposition method, a combination of sputtering method and etching method, vacuum deposition method, sputtering method, combination of spin coating method and lift-off method, various printing methods, lithography technology, etc. Thus, it can be formed by an appropriately selected method. Further, a convex lens may be provided in the portion of the base body from which the emitted light is emitted. Examples of the material constituting the convex lens include acrylic resin, epoxy resin, and silicone rubber. As the convex lens forming method (arrangement method), reflow method, potting method, imprint method, photolithography method, etching method, The printing method can be mentioned.

本発明の発光素子組立体の製造方法、あるいは、本発明の発光素子組立体における発光素子として、発光ダイオード(LED)、半導体レーザ、エレクトロルミネッセンス(EL)素子を挙げることができる。また、本発明の配線への素子の電気的接続方法における素子として、フォトダイオード、CCDセンサ、MOSセンサ等の受光素子;ICチップ、LSIチップ等の電子素子を例示することができる。あるいは又、素子として、半導体素子[発光素子、受光素子、電子走行素子等]のほか、圧電素子、焦電素子、光学素子[非線形光学結晶を用いる第2次高調波発生素子等]、誘電体素子[強誘電体素子を含む]、超伝導素子等を挙げることもできる。更には、素子として、例えば、光エンコーダ等の各種のMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)に用いる微小な部品又は要素を挙げることもできる。素子等の大きさ(例えばチップサイズ)は特に制限されないが、素子等は、典型的には微小なものであり、具体的には、例えば1mm以下、あるいは、例えば0.3mm以下、あるいは、例えば0.1mm以下、あるいは、例えば0.02mm以下の大きさのものである。   Examples of the method for producing the light emitting device assembly of the present invention or the light emitting device in the light emitting device assembly of the present invention include a light emitting diode (LED), a semiconductor laser, and an electroluminescence (EL) device. Examples of the element in the electrical connection method of the element to the wiring of the present invention include a light receiving element such as a photodiode, a CCD sensor, and a MOS sensor; and an electronic element such as an IC chip and an LSI chip. Alternatively, as an element, in addition to a semiconductor element [light emitting element, light receiving element, electron traveling element, etc.], piezoelectric element, pyroelectric element, optical element [second harmonic generation element using nonlinear optical crystal, etc.], dielectric Examples include elements [including ferroelectric elements], superconducting elements, and the like. Furthermore, as an element, the micro components or element used for various MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), such as an optical encoder, can also be mentioned, for example. The size of the element or the like (for example, the chip size) is not particularly limited, but the element or the like is typically a minute one, and specifically, for example, 1 mm or less, or, for example, 0.3 mm or less, or, for example, The size is 0.1 mm or less, or 0.02 mm or less, for example.

本発明の方法によって得られる電子機器として、あるいは又、本発明の発光素子組立体が適用され得る電子機器として、例えば、発光ダイオード表示装置、発光ダイオードを用いたバックライト、発光ダイオード照明装置、EL表示装置を挙げることができる。あるいは又、電子機器は、基本的にはどのようなものであってもよく、携帯型のものと据え置き型のものとの双方を含み、具体例を挙げると、携帯電話、モバイル機器、ロボット、パーソナルコンピュータ、車載機器、各種家庭電気製品等である。赤色発光ダイオード、緑色発光ダイオード及び青色発光ダイオードとして、例えば、窒化物系III−V族化合物半導体を用いたものを用いることができ、赤色発光ダイオードとして、例えば、AlGaInP系化合物半導体を用いたものを用いることもできる。   As an electronic device obtained by the method of the present invention or an electronic device to which the light emitting element assembly of the present invention can be applied, for example, a light emitting diode display device, a backlight using a light emitting diode, a light emitting diode illumination device, an EL A display device can be mentioned. Alternatively, the electronic device may be basically any device, including both portable devices and stationary devices. Specific examples include mobile phones, mobile devices, robots, Personal computers, in-vehicle devices, various home appliances, etc. As the red light emitting diode, the green light emitting diode, and the blue light emitting diode, for example, a nitride-based III-V compound semiconductor can be used. As the red light-emitting diode, for example, an AlGaInP-based compound semiconductor can be used. It can also be used.

GaInN系の発光ダイオードを製造するための素子製造用基板として、現在のところ、公称2インチを超える大口径の基板の製造は困難であるし、AlGaInP系の発光ダイオードを製造するための素子製造用基板として、現在のところ、公称3インチを超える大口径の基板の製造は困難である。従って、例えば、公称口径2インチのサファイア基板を素子製造用基板として用いて、青色発光ダイオード、緑色発光ダイオードを製造し、公称口径3インチのGaAs基板を素子製造用基板として用いて、赤色発光ダイオードを製造している。そして、例えば、発光ダイオード表示装置を製造する場合、仕様に基づく数の青色発光ダイオード、緑色発光ダイオード及び赤色発光ダイオードを基体に実装すればよい。   As a device manufacturing substrate for manufacturing a GaInN-based light emitting diode, at present, it is difficult to manufacture a substrate having a large diameter exceeding 2 inches nominal, and for manufacturing a device for manufacturing an AlGaInP-based light emitting diode. At present, it is difficult to manufacture a substrate having a large diameter exceeding a nominal size of 3 inches. Therefore, for example, a blue light emitting diode and a green light emitting diode are manufactured using a sapphire substrate having a nominal diameter of 2 inches as a device manufacturing substrate, and a red light emitting diode is manufactured using a GaAs substrate having a nominal diameter of 3 inches as a device manufacturing substrate. Is manufacturing. For example, when manufacturing a light-emitting diode display device, the number of blue light-emitting diodes, green light-emitting diodes, and red light-emitting diodes based on specifications may be mounted on the base.

ところで、このような発光ダイオード表示装置を製造するための方法として、ステップ転写法が、例えば、特開2004−273596、特開2004−281630から周知である。本発明の発光素子組立体の製造方法を、このステップ転写法に適用することができる。即ち、
(a)素子製造用基板に化合物半導体層の積層構造から成る発光層を形成し、発光層上に第2電極を形成することで、第2電極及び発光層から成る積層構造体を得る。
(b)次いで、中継基板に第2電極が接するように積層構造体を中継基板に貼り合わせた後、素子製造用基板を発光層から除去し、露出した発光層に第1電極を形成し、次に、発光層をパターニングすることで発光素子に分離する。
(c)その後、所望の発光素子を中継基板から基板に転写し、次いで、本発明の発光素子組立体の製造方法を適用して、発光素子を基体の配線上に固定する。
(d)次いで、発光素子を覆うように絶縁層を形成し、発光ダイオードの第1電極あるいは第2電極の上方の絶縁層に開口部を形成し、係る第1電極あるいは第2電極と接続された第2の配線を絶縁層の上に形成する。尚、第2電極が接続部に相当する場合もあるし、第1電極が接続部に相当する場合もある。
By the way, as a method for manufacturing such a light emitting diode display device, a step transfer method is known from, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2004-273596 and 2004-281630. The manufacturing method of the light emitting element assembly of the present invention can be applied to this step transfer method. That is,
(A) A light emitting layer made of a laminated structure of compound semiconductor layers is formed on an element manufacturing substrate, and a second electrode is formed on the light emitting layer to obtain a laminated structure made of the second electrode and the light emitting layer.
(B) Next, after the laminated structure is bonded to the relay substrate so that the second electrode is in contact with the relay substrate, the element manufacturing substrate is removed from the light emitting layer, and the first electrode is formed on the exposed light emitting layer, Next, the light emitting layer is separated into light emitting elements by patterning.
(C) Thereafter, the desired light emitting element is transferred from the relay substrate to the substrate, and then the light emitting element assembly manufacturing method of the present invention is applied to fix the light emitting element on the wiring of the substrate.
(D) Next, an insulating layer is formed so as to cover the light emitting element, an opening is formed in the insulating layer above the first electrode or the second electrode of the light emitting diode, and connected to the first electrode or the second electrode. The second wiring is formed on the insulating layer. Note that the second electrode may correspond to the connection portion, and the first electrode may correspond to the connection portion.

そして、基体に形成された配線及び第2の配線を駆動回路と接続することによって、発光ダイオード表示装置を完成させることができる。尚、絶縁層を構成する材料として、上述した絶縁膜を構成する材料を挙げることができる。   Then, the light emitting diode display device can be completed by connecting the wiring formed on the substrate and the second wiring to the driving circuit. In addition, the material which comprises the insulating film mentioned above can be mentioned as a material which comprises an insulating layer.

基板や中継基板を構成する材料として、ガラス板、金属板、合金板、セラミックス板、プラスチック板を挙げることができる。積層構造体の中継基板への貼り合わせ方法として、接着剤を用いる方法の他、金属接合法、半導体接合法、金属・半導体接合法を挙げることができる。素子製造用基板を発光層から除去する方法として、レーザ・アブレーション法や加熱法、エッチング法を挙げることができるし、複数の発光素子に分離する方法として、ウエットエッチング法若しくはドライエッチング法、レーザ照射法、ダイシング法、ラッピング法、化学的機械的研磨法(CMP法)を例示することができる。所望の素子等を中継基板から基板に転写する方法、素子等を基板から取り除く方法として、レーザ・アブレーション法を挙げることができるし、素子等が基板に対して左程高い強度で支持されていない場合には、素子等と導電性固定部材前駆体層との間の粘着性(タック)によって素子等を基板から取り除くことができる。   Examples of the material constituting the substrate and the relay substrate include a glass plate, a metal plate, an alloy plate, a ceramic plate, and a plastic plate. As a method for bonding the laminated structure to the relay substrate, a metal bonding method, a semiconductor bonding method, and a metal / semiconductor bonding method can be used in addition to a method using an adhesive. Examples of a method for removing the element manufacturing substrate from the light emitting layer include a laser ablation method, a heating method, and an etching method. Examples of a method for separating the light emitting element into a plurality of light emitting devices include a wet etching method, a dry etching method, and laser irradiation. Examples thereof include a method, a dicing method, a lapping method, and a chemical mechanical polishing method (CMP method). As a method for transferring a desired element from the relay substrate to the substrate and a method for removing the element from the substrate, a laser ablation method can be cited, and the element is not supported with high strength to the left. In some cases, the element or the like can be removed from the substrate by the adhesiveness (tack) between the element or the like and the conductive fixing member precursor layer.

本発明の方法において、導電性固定部材前駆体層は溶液型の導電材料から成るので、導電性固定部材前駆体層を加熱することで得られた導電性固定部材層には大きな粒子が含まれていない。従って、素子等と配線とを確実に電気的に接続することができるし、素子等が配線上で傾くといった問題が生じることもない。また、加圧すること無く導通を得ることができる。更には、不要な導電性固定部材層の部分を除去したとき、残渣が残るといった問題が生じることもない。また、本発明の第1の態様に係る方法にあっては、素子等、それ自体をエッチング用マスクとして用いて不要な導電性固定部材層の部分を除去するので、一方、本発明の第2の態様に係る方法にあっては、素子等に備えられた接続部上にのみ導電性固定部材層を形成するので、エッチング用マスクを用いて導電性固定部材層をパターニングするといった煩雑な作業を行う必要がない。そして、例えば、数十μm以下の素子等を、広範囲に亙り、且つ、選択的に配線に固定することができる。また、本発明の第1の態様あるいは第2の態様に係る発光素子組立体にあっても、導電性固定部材前駆体層を加熱することで得られた導電性固定部材層には大きな粒子が含まれていない。従って、素子等と配線とを確実に電気的に接続することができるし、素子等が配線上で傾くといった問題が生じることもない。また、加圧すること無く導通を得ることができる。更には、本発明の方法あるいは本発明の発光素子組立体において、導電性固定部材層をITO又はIZOから構成すれば、導電性固定部材層それ自身が酸化物であるが故に、加熱によっても導電性に劣化が生じないし、導電性固定部材層に炭素原子が含まれていれば、密着性の向上、高剪断強度の達成を図ることができるし、更には、場合によっては、低温(例えば400゜C未満)での加熱を行えばよいので、素子等へ熱的悪影響を及ぼすことを確実に防止することができる。また、本発明の第2の態様に係る方法あるいは本発明の第2の態様に係る発光素子組立体にあっては、素子等に備えられた接続部上にのみ導電性固定部材層を形成するので、導電性固定部材層を余分に形成する必要がないし、接続後に除去する必要もなく、製造コストの低減を図ることができ、更には、基板に支持された素子等よりも広いピッチで基体の配線上に素子等を並べる場合(即ち、ステップ転写法である、基板に支持された素子等のピッチの整数倍の間引いたピッチで基体の配線上に素子等を配置する方法を採用する場合)、その効果は極めて大きい。   In the method of the present invention, since the conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material, the conductive fixing member layer obtained by heating the conductive fixing member precursor layer contains large particles. Not. Therefore, the element or the like and the wiring can be reliably electrically connected, and the problem that the element or the like is inclined on the wiring does not occur. Moreover, conduction can be obtained without applying pressure. Furthermore, there is no problem that a residue remains when an unnecessary portion of the conductive fixing member layer is removed. Further, in the method according to the first aspect of the present invention, the unnecessary portion of the conductive fixing member layer such as an element itself is used as an etching mask to remove an unnecessary portion of the conductive fixing member layer. In the method according to the embodiment, the conductive fixing member layer is formed only on the connection portion provided in the element or the like. Therefore, the complicated operation of patterning the conductive fixing member layer using the etching mask is performed. There is no need to do it. For example, an element of several tens of μm or less can be selectively fixed to the wiring over a wide range. Further, even in the light emitting device assembly according to the first aspect or the second aspect of the present invention, the conductive fixing member layer obtained by heating the conductive fixing member precursor layer has large particles. Not included. Therefore, the element or the like and the wiring can be reliably electrically connected, and the problem that the element or the like is inclined on the wiring does not occur. Moreover, conduction can be obtained without applying pressure. Furthermore, in the method of the present invention or the light emitting device assembly of the present invention, if the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO, the conductive fixing member layer itself is an oxide, so that it is conductive even by heating. If the conductive fixing member layer contains carbon atoms, adhesion can be improved and high shear strength can be achieved. Further, in some cases, low temperature (for example, 400 Therefore, it is possible to reliably prevent adverse effects on the elements and the like. In the method according to the second aspect of the present invention or the light emitting element assembly according to the second aspect of the present invention, the conductive fixing member layer is formed only on the connection portion provided in the element or the like. Therefore, it is not necessary to form an extra conductive fixing member layer, and it is not necessary to remove the conductive fixing member layer after connection, so that the manufacturing cost can be reduced, and further, the substrate is formed with a wider pitch than the elements supported on the substrate. When arranging elements etc. on the wiring of the substrate (that is, adopting the step transfer method, which is a method of arranging elements etc. on the wiring of the substrate at a pitch thinned out by an integral multiple of the pitch of the elements supported on the substrate) ) The effect is extremely large.

以下、図面を参照して、実施例に基づき本発明を説明する。   Hereinafter, the present invention will be described based on examples with reference to the drawings.

実施例1は、本発明の第1の態様に係る配線への素子の電気的接続方法、及び、本発明の第1の態様に係る発光素子組立体の製造方法、並びに、本発明の第1の態様に係る発光素子組立体に関する。尚、これらの方法を総称して、以下、実施例1の方法と呼ぶ。   Example 1 is a method of electrically connecting an element to a wiring according to the first aspect of the present invention, a method of manufacturing a light-emitting element assembly according to the first aspect of the present invention, and the first of the present invention. It relates to the light emitting element assembly which concerns on an aspect. Hereinafter, these methods are collectively referred to as the method of Example 1.

実施例1にあっては、素子あるいは発光素子を、平面形状が円形(直径20μm)の発光ダイオード(LED)とする。それ故、以下の説明においては、「素子」という用語の代わりに『発光ダイオード』という用語を用いる場合がある。従って、以下の説明において、「発光ダイオード」という用語を用いる場合、原則として、『素子』という概念が包含される。また、導電性固定部材層はITOから構成されている。導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まない溶液型の導電材料から成る。より具体的には、この溶液型の導電材料にはフィラーは含まれていない。溶液型の導電材料は、インジウム・アルコキシド及び錫アルコキシドを加水分解、重合してコロイド状にした物を溶液中に分散させた材料から構成されている。また、実施例1にあっては、配線を金(Au)から構成し、発光ダイオードの接続部(第2電極)をAg/Pt/Au構造の金属多層膜から構成する。尚、Ag/Pt/Au構造の金属多層膜から構成された発光ダイオードの接続部(第2電極)にあっては、Ag膜が発光層に接し、Au膜が導電性固定部材層と接している。配線は、複数の帯状に延びる配線から構成されている。配線が形成された基体は、SiO2から成る絶縁膜が表面に形成されたガラス基板から成る。実施例1の方法によって得られる電子機器を発光ダイオード表示装置とする。以上の事項は、後述する実施例2〜実施例5にあっても同様である。 In Example 1, the element or the light emitting element is a light emitting diode (LED) having a circular planar shape (diameter 20 μm). Therefore, in the following description, the term “light emitting diode” may be used instead of the term “element”. Therefore, in the following description, when the term “light emitting diode” is used, the concept of “element” is included in principle. The conductive fixing member layer is made of ITO. The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material that does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 −7 m. More specifically, the solution-type conductive material does not contain a filler. The solution-type conductive material is composed of a material in which a colloidal product obtained by hydrolyzing and polymerizing indium alkoxide and tin alkoxide is dispersed in a solution. In the first embodiment, the wiring is made of gold (Au), and the connection portion (second electrode) of the light emitting diode is made of a metal multilayer film having an Ag / Pt / Au structure. In the connection part (second electrode) of the light emitting diode composed of a metal multilayer film having an Ag / Pt / Au structure, the Ag film is in contact with the light emitting layer, and the Au film is in contact with the conductive fixing member layer. Yes. The wiring is composed of a plurality of wirings extending in a strip shape. The substrate on which the wiring is formed is made of a glass substrate on the surface of which an insulating film made of SiO 2 is formed. The electronic device obtained by the method of Example 1 is a light emitting diode display device. The above matters are the same in Examples 2 to 5 described later.

図1に、実施例1の方法によって得られた発光ダイオード組立体の模式的な一部断面図を示す。この発光ダイオード組立体は、発光ダイオード10の接続部(p側電極あるいは第2電極)25と基体40上に形成された配線41とが、導電性固定部材層43にて固定されており、発光ダイオード10の下方にのみ導電性固定部材層43が存在し、導電性固定部材層43はITOから成る。具体的には、この発光ダイオード組立体は、発光ダイオード10と、基体40と、基体40上に形成された配線41と、導電性固定部材層43と、第2の配線51と、絶縁層52から構成されている。発光ダイオード10は、接続部(p側電極あるいは第2電極)25と、発光層24と、第1電極(n側電極)27とから構成されている。発光層24は、n側電極側から、n型の導電型を有する第1化合物半導体層21、活性層23、p型の導電型を有する第2化合物半導体層22の積層構造を有する。配線41と接続部(p側電極あるいは第2電極)25とは、導電性固定部材層43にて固定(例えば、接着)されている。また、発光ダイオード10の下方にのみ、導電性固定部材層43が存在する。即ち、発光ダイオード10の下方に位置する導電性固定部材層43の部分は残されているが、その他の導電性固定部材層43の部分は除去されている。発光ダイオード10の側面及び頂面(n側電極27)は絶縁層52で覆われており、n側電極27の上方の絶縁層52には開口部53が設けられ、絶縁層52上には第2の配線51が形成され、更に、開口部53を介してn側電極27から第2の配線51まで延びる第2の配線の延在部51Aが形成されている。配線41は図面の紙面と平行な方向に延び、第2の配線51は、図面の紙面と垂直な方向に延びている。発光層24において発光した光は、基体40から出射される。尚、配線41は、係る出射光を遮らない形状となっている。出射光が通過しない基体40の部分には、ブラックマトリクス層を形成しておいてもよい。更には、第2の配線の延在部51Aの幅を十分に広くすることで、光取出し機能を付与する(例えば、光取出しミラーを兼用する)構成としてもよい。発光ダイオード10は全体として切頭円錐形である。第1化合物半導体層21、活性層23、及び、第2化合物半導体層22を構成する化合物半導体は、具体的には、例えば、GaInN系化合物半導体やAlGaInP系化合物半導体である。後述する実施例2〜実施例5にあっても同様である。   FIG. 1 shows a schematic partial cross-sectional view of a light-emitting diode assembly obtained by the method of Example 1. FIG. In this light-emitting diode assembly, the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 of the light-emitting diode 10 and the wiring 41 formed on the base body 40 are fixed by the conductive fixing member layer 43, and the light-emitting diode assembly emits light. The conductive fixing member layer 43 exists only below the diode 10, and the conductive fixing member layer 43 is made of ITO. Specifically, the light-emitting diode assembly includes a light-emitting diode 10, a base body 40, a wiring 41 formed on the base body 40, a conductive fixing member layer 43, a second wiring 51, and an insulating layer 52. It is composed of The light emitting diode 10 includes a connection portion (p-side electrode or second electrode) 25, a light emitting layer 24, and a first electrode (n-side electrode) 27. The light emitting layer 24 has a stacked structure of a first compound semiconductor layer 21 having an n-type conductivity, an active layer 23, and a second compound semiconductor layer 22 having a p-type conductivity from the n-side electrode side. The wiring 41 and the connecting portion (p-side electrode or second electrode) 25 are fixed (for example, bonded) by the conductive fixing member layer 43. In addition, the conductive fixing member layer 43 exists only below the light emitting diode 10. That is, the portion of the conductive fixing member layer 43 located below the light emitting diode 10 is left, but the other portions of the conductive fixing member layer 43 are removed. The side surface and the top surface (n-side electrode 27) of the light emitting diode 10 are covered with an insulating layer 52, and an opening 53 is provided in the insulating layer 52 above the n-side electrode 27. The second wiring 51 is formed, and the second wiring extending portion 51 </ b> A extending from the n-side electrode 27 to the second wiring 51 through the opening 53 is formed. The wiring 41 extends in a direction parallel to the drawing sheet, and the second wiring 51 extends in a direction perpendicular to the drawing sheet. The light emitted from the light emitting layer 24 is emitted from the substrate 40. The wiring 41 has a shape that does not block the emitted light. A black matrix layer may be formed on the portion of the substrate 40 through which the emitted light does not pass. Furthermore, the light extraction function may be imparted (for example, the light extraction mirror is also used) by sufficiently widening the extending portion 51A of the second wiring. The light emitting diode 10 has a truncated cone shape as a whole. Specifically, the compound semiconductor constituting the first compound semiconductor layer 21, the active layer 23, and the second compound semiconductor layer 22 is, for example, a GaInN-based compound semiconductor or an AlGaInP-based compound semiconductor. The same applies to Examples 2 to 5 described later.

発光ダイオード10が例えばGaN系発光ダイオードである場合、各部の寸法、材料等の具体例を例示すると、以下のとおりである。即ち、第1化合物半導体層21は、厚さ2.6μmのn型GaN層から成り、活性層23は、厚さが例えば0.2μmであり、InGaN井戸層とGaN障壁層とから成る多重量子井戸(MQW)構造を有する。また、第2化合物半導体層22は、厚さ0.2μmのp型GaN層から成る。活性層23を構成するInGaN井戸層のIn組成は、GaN系発光ダイオードが青色発光ダイオードである場合には、例えば0.17、緑色発光ダイオードである場合は、例えば0.25である。また、発光ダイオード10の最大径、即ち、第2化合物半導体層22の下面の直径は20μmであり、発光ダイオード10の全体の厚さは5μmである。接続部(p側電極)25は、上述したとおり、例えばAg/Pt/Au構造の金属多層膜から成る。n側電極27は、例えばTi/Pt/Au構造の金属積層膜から成る。後述する実施例2〜実施例5にあっても同様である。   When the light-emitting diode 10 is, for example, a GaN-based light-emitting diode, specific examples of dimensions, materials, etc. of each part are as follows. That is, the first compound semiconductor layer 21 is composed of an n-type GaN layer having a thickness of 2.6 μm, and the active layer 23 is 0.2 μm in thickness, for example, and is a multiple quantum composed of an InGaN well layer and a GaN barrier layer. It has a well (MQW) structure. The second compound semiconductor layer 22 is composed of a p-type GaN layer having a thickness of 0.2 μm. The In composition of the InGaN well layer constituting the active layer 23 is, for example, 0.17 when the GaN-based light-emitting diode is a blue light-emitting diode, and for example, 0.25 when the GaN-based light-emitting diode is a green light-emitting diode. The maximum diameter of the light emitting diode 10, that is, the diameter of the lower surface of the second compound semiconductor layer 22 is 20 μm, and the total thickness of the light emitting diode 10 is 5 μm. As described above, the connection portion (p-side electrode) 25 is made of, for example, a metal multilayer film having an Ag / Pt / Au structure. The n-side electrode 27 is made of a metal laminated film having a Ti / Pt / Au structure, for example. The same applies to Examples 2 to 5 described later.

実施例1にあっては、導電性固定部材層43の体積抵抗率は3×10-3Ω・m(0.3Ω・cm)であり、厚さは約30nmである。 In Example 1, the volume resistivity of the conductive fixing member layer 43 is 3 × 10 −3 Ω · m (0.3 Ω · cm), and the thickness is about 30 nm.

以下、図1、工程概念図である図2、積層構造体等の模式的な一部断面図である図3の(A)及び(B)、図4の(A)〜(C)、図5の(A)及び(B)、図6の(A)及び(B)、図7の(A)及び(B)、並びに、図8の(A)及び(B)を参照して、実施例1の方法を説明する。   Hereinafter, FIG. 1, FIG. 2 which is a process conceptual diagram, FIGS. 3A and 3B and FIGS. 4A to 4C which are schematic partial sectional views of a laminated structure and the like, FIG. Referring to (A) and (B) of FIG. 5, (A) and (B) of FIG. 6, (A) and (B) of FIG. 7, and (A) and (B) of FIG. The method of Example 1 will be described.

[工程−100]
先ず、周知の方法で、素子製造用基板20に化合物半導体層の積層構造から成る発光層24を形成し、発光層24上に接続部(p側電極に相当する)25を形成する。具体的には、例えば、公称口径2インチのサファイア基板から成る素子製造用基板20の上に、MOCVD法に基づき、n型の導電型を有する第1化合物半導体層21、活性層23、p型の導電型を有する第2化合物半導体層22を順次形成し、第2化合物半導体層22上に、更に、真空蒸着法にてAg/Pt/Au構造の金属多層膜から成る接続部(p側電極あるいは第2電極)25を形成する。こうして、第1化合物半導体層21、活性層23及び第2化合物半導体層22から成る発光層24、並びに、接続部(p側電極)25から構成された積層構造体26を得ることができる(図2の(A)及び図3の(A)参照)。尚、図面によっては、発光層24や積層構造体26を1層で表す場合がある。
[Step-100]
First, a light emitting layer 24 having a laminated structure of compound semiconductor layers is formed on the element manufacturing substrate 20 by a known method, and a connection portion (corresponding to a p-side electrode) 25 is formed on the light emitting layer 24. Specifically, for example, a first compound semiconductor layer 21, an active layer 23, and a p-type having an n-type conductivity are formed on an element manufacturing substrate 20 made of a sapphire substrate having a nominal diameter of 2 inches based on the MOCVD method. The second compound semiconductor layer 22 having the following conductivity type is sequentially formed, and a connection portion (p-side electrode) made of a metal multilayer film having an Ag / Pt / Au structure is further formed on the second compound semiconductor layer 22 by a vacuum deposition method. Alternatively, the second electrode) 25 is formed. Thus, a laminated structure 26 including the light emitting layer 24 composed of the first compound semiconductor layer 21, the active layer 23, and the second compound semiconductor layer 22, and the connection portion (p-side electrode) 25 can be obtained (FIG. 2 (A) and FIG. 3 (A)). Depending on the drawing, the light emitting layer 24 and the laminated structure 26 may be represented by one layer.

[工程−110]
次いで、中継基板30に接続部(p側電極)25が接するように積層構造体26を中継基板30に貼り合わせ後、素子製造用基板20を発光層24から除去する。そして、露出した発光層24にn側電極27を形成し、次いで、発光層24をパターニングすることで発光ダイオード10に分離する。具体的には、先ず、接続部(p側電極)25を中継基板30に貼り合わせる(図2の(B)及び図3の(B)参照)。より具体的には、表面に未硬化の接着剤から成る接着層31が形成されたガラス基板から成る中継基板30を準備する。そして、積層構造体26における接続部(p側電極)25と接着層31とを貼り合わせ、接着層31を硬化させる。その後、素子製造用基板20を発光層24から除去する(図2の(C)及び図4の(A)参照)。具体的には、発光層24(より具体的には、第1化合物半導体層21)と素子製造用基板20との界面に、素子製造用基板20を介してエキシマレーザを照射することで、レーザ・アブレーションが生じる結果、素子製造用基板20を発光層24から剥離することができる。
[Step-110]
Next, the laminated structure 26 is bonded to the relay substrate 30 so that the connection portion (p-side electrode) 25 is in contact with the relay substrate 30, and then the element manufacturing substrate 20 is removed from the light emitting layer 24. Then, the n-side electrode 27 is formed on the exposed light emitting layer 24, and then the light emitting layer 24 is patterned to be separated into the light emitting diodes 10. Specifically, first, the connection portion (p-side electrode) 25 is bonded to the relay substrate 30 (see FIG. 2B and FIG. 3B). More specifically, a relay substrate 30 made of a glass substrate having a surface on which an adhesive layer 31 made of an uncured adhesive is formed is prepared. Then, the connection portion (p-side electrode) 25 and the adhesive layer 31 in the laminated structure 26 are bonded together, and the adhesive layer 31 is cured. Thereafter, the element manufacturing substrate 20 is removed from the light emitting layer 24 (see FIG. 2C and FIG. 4A). Specifically, the interface between the light emitting layer 24 (more specifically, the first compound semiconductor layer 21) and the device manufacturing substrate 20 is irradiated with an excimer laser through the device manufacturing substrate 20, thereby providing a laser. As a result of ablation, the element manufacturing substrate 20 can be peeled off from the light emitting layer 24.

次いで、中継基板30に貼り合わされた発光層24を構成する第1化合物半導体層21上に、第1電極(n側電極)27を形成する(図2の(D)参照)。その後、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、第1電極(n側電極)27、発光層24及び接続部(p側電極)25をエッチングすることで、複数の発光ダイオード10を得ることができる(図4の(B)参照)。発光ダイオード10を拡大した模式的な一部断面図を、図4の(C)に示す。発光ダイオード10は、アレイ状(2次元マトリクス状)に中継基板30上に残される。発光ダイオード10の平面形状を、直径20μmの円形とした。   Next, a first electrode (n-side electrode) 27 is formed on the first compound semiconductor layer 21 constituting the light-emitting layer 24 bonded to the relay substrate 30 (see FIG. 2D). Thereafter, the plurality of light emitting diodes 10 can be obtained by etching the first electrode (n-side electrode) 27, the light emitting layer 24, and the connection portion (p side electrode) 25 based on the photolithography technique and the etching technique ( (See FIG. 4B). A schematic partial sectional view in which the light emitting diode 10 is enlarged is shown in FIG. The light emitting diodes 10 are left on the relay substrate 30 in an array (two-dimensional matrix). The planar shape of the light emitting diode 10 was a circle having a diameter of 20 μm.

[工程−120]
その後、所望の発光ダイオード10を中継基板30から基板(以下、便宜上、支持基板32と呼ぶ)に転写する。即ち、中継基板30に貼り合わされた各発光ダイオード10を、支持基板32に付着させる。具体的には、先ず、発光ダイオード10がアレイ状(2次元マトリクス状)に残された中継基板30上の発光ダイオード10に、ガラス板から成る支持基板32の表面に形成された微粘着層33を押し当てる(図2の(E)、図5の(A)及び図5の(B)参照)。微粘着層33は、例えば、シリコーンゴムから成る。支持基板32は、図示しない位置決め装置に保持されている。そして、位置決め装置の作動によって、支持基板32と中継基板30との位置関係を調整することができる。次いで、実装すべき発光ダイオード10に対して、中継基板30の裏面側から、例えば、エキシマレーザを照射する(図6の(A)参照)。これによって、レーザ・アブレーションが生じ、エキシマレーザが照射された発光ダイオード10は、中継基板30から剥離する。その後、支持基板32と発光ダイオード10との接触を解くと、中継基板30から剥離した発光ダイオード10は、微粘着層33に付着した状態となる(図2の(F)及び図6の(B)参照)。
[Step-120]
Thereafter, the desired light emitting diode 10 is transferred from the relay substrate 30 to a substrate (hereinafter referred to as a support substrate 32 for convenience). That is, each light emitting diode 10 bonded to the relay substrate 30 is attached to the support substrate 32. Specifically, first, a light-adhesive layer 33 formed on the surface of a support substrate 32 made of a glass plate is formed on the light-emitting diode 10 on the relay substrate 30 where the light-emitting diodes 10 are left in an array (two-dimensional matrix). (See (E) in FIG. 2, (A) in FIG. 5 and (B) in FIG. 5)). The slightly adhesive layer 33 is made of, for example, silicone rubber. The support substrate 32 is held by a positioning device (not shown). The positional relationship between the support substrate 32 and the relay substrate 30 can be adjusted by the operation of the positioning device. Next, for example, excimer laser is irradiated to the light emitting diode 10 to be mounted from the back side of the relay substrate 30 (see FIG. 6A). As a result, laser ablation occurs, and the light emitting diode 10 irradiated with the excimer laser is peeled off from the relay substrate 30. Thereafter, when the contact between the support substrate 32 and the light emitting diode 10 is released, the light emitting diode 10 peeled off from the relay substrate 30 is attached to the slightly adhesive layer 33 ((F) of FIG. 2 and (B) of FIG. 6). )reference).

[工程−130]
次いで、本発明の第1の態様に係る方法を実行する。即ち、先ず、基体40に設けられた少なくとも配線41上に導電性固定部材前駆体層42を形成する。具体的には、配線41上を含む基体40上に導電性固定部材前駆体層42を形成する。より具体的には、ガラス基板の表面に形成されたSiO2から成る絶縁膜(図示せず)上に配線41を周知の方法で形成することで、基体40を得る。そして、導電性固定部材前駆体層42をスピンコーティング法に基づき全面に形成する(図7の(A)参照)。尚、導電性固定部材前駆体層42に対して、例えば、60゜C、1分といったプリベーク処理を施してもよいし、行わなくともよい。
[Step-130]
Next, the method according to the first aspect of the present invention is performed. That is, first, the conductive fixing member precursor layer 42 is formed on at least the wiring 41 provided on the base body 40. Specifically, the conductive fixing member precursor layer 42 is formed on the substrate 40 including the wiring 41. More specifically, the substrate 40 is obtained by forming the wiring 41 on an insulating film (not shown) made of SiO 2 formed on the surface of the glass substrate by a known method. Then, the conductive fixing member precursor layer 42 is formed on the entire surface based on the spin coating method (see FIG. 7A). The conductive fixing member precursor layer 42 may or may not be subjected to a pre-bake treatment such as 60 ° C. for 1 minute.

そして、接続部(p側電極)25を備えた発光ダイオード10を、接続部(p側電極)25が導電性固定部材前駆体層42と接するように、配線41上に配置する(図2の(G)及び(H)、並びに、図7の(A)及び(B)参照)。具体的には、支持基板32上に支持された発光ダイオード10に備えられた接続部(p側電極あるいは第2電極)25を導電性固定部材前駆体層42と接触させた状態で、発光ダイオード10を支持基板32から取り除く。より具体的には、[工程−120]において得られた、微粘着層33に付着した状態にある発光ダイオード10を導電性固定部材前駆体層42に押し付ける。発光ダイオード10は微粘着層33に相対的に弱く付着しているだけであり、導電性固定部材前駆体層42は粘着性(タック)を有しているので、導電性固定部材前駆体層42に押し付けられた発光ダイオード10は、微粘着層33から外れる。発光ダイオード10を導電性固定部材前駆体層42と接触させた(押し付けた)状態で支持基板32を基体40から離れる方向に移動させると、発光ダイオード10は導電性固定部材前駆体層42の上に残される。こうして、所望の数の発光ダイオード10を導電性固定部材前駆体層42上に仮止めすることができる。尚、発光ダイオード10は導電性固定部材前駆体層42から移動しない程度に、導電性固定部材前駆体層42は粘着性(タック)を有している。   Then, the light emitting diode 10 provided with the connection portion (p-side electrode) 25 is disposed on the wiring 41 so that the connection portion (p-side electrode) 25 is in contact with the conductive fixing member precursor layer 42 (see FIG. 2). (See (G) and (H) and FIGS. 7A and 7B). Specifically, in a state where the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 provided in the light emitting diode 10 supported on the support substrate 32 is in contact with the conductive fixing member precursor layer 42, the light emitting diode. 10 is removed from the support substrate 32. More specifically, the light emitting diode 10 in the state attached to the slightly adhesive layer 33 obtained in [Step-120] is pressed against the conductive fixing member precursor layer 42. Since the light emitting diode 10 is only weakly adhered to the slightly adhesive layer 33 and the conductive fixing member precursor layer 42 has adhesiveness (tack), the conductive fixing member precursor layer 42. The light emitting diode 10 pressed against is detached from the slightly adhesive layer 33. When the light emitting diode 10 is moved in a direction away from the base body 40 in a state where the light emitting diode 10 is in contact with (pressed on) the conductive fixing member precursor layer 42, the light emitting diode 10 is placed on the conductive fixing member precursor layer 42. Left behind. Thus, a desired number of light emitting diodes 10 can be temporarily fixed on the conductive fixing member precursor layer 42. The conductive fixing member precursor layer 42 has adhesiveness (tack) to the extent that the light emitting diode 10 does not move from the conductive fixing member precursor layer 42.

以上の[工程−120]及び[工程−130]を所望の回数だけ繰り返し、所望の数の発光ダイオードを配線41上に仮止めする。このような支持基板32を用いた方式を、便宜上、ステップ転写法と呼ぶ。そして、このようなステップ転写法を所望の回数、繰り返すことで、所望の個数の発光ダイオード10が、導電性固定部材前駆体層42上に2次元マトリクス状に配置される。具体的には、1920×1080×(3種類の発光ダイオードの個数)の数の発光ダイオードを実装する場合を想定し、1回のステップ転写において、例えば、160×120個の発光ダイオード10を導電性固定部材前駆体層42上に2次元マトリクス状に配置させるとする。すると、この場合には、(1920×1080)/(160×120)=108回のステップ転写法を繰り返すことで、1920×1080個の発光ダイオード10を、導電性固定部材前駆体層42上に配置することができる。そして、以上の[工程−100]〜[工程−130]を合計3回、繰り返すことで、所定の数の赤色発光ダイオード、緑色発光ダイオード、青色発光ダイオードを、所定の間隔、ピッチで基体40に実装することができる。尚、中継基板30上に残された発光ダイオード10は、次の基体40への発光ダイオード10の実装に用いればよい。   The above [Step-120] and [Step-130] are repeated a desired number of times, and a desired number of light-emitting diodes are temporarily fixed on the wiring 41. Such a method using the support substrate 32 is referred to as a step transfer method for convenience. Then, by repeating such a step transfer method a desired number of times, a desired number of light emitting diodes 10 are arranged on the conductive fixing member precursor layer 42 in a two-dimensional matrix. Specifically, assuming that 1920 × 1080 × (the number of three types of light emitting diodes) are mounted, for example, 160 × 120 light emitting diodes 10 are conductive in one step transfer. It is assumed that the two-dimensional matrix is arranged on the conductive fixing member precursor layer 42. Then, in this case, by repeating the step transfer method of (1920 × 1080) / (160 × 120) = 108 times, 1920 × 1080 light emitting diodes 10 are formed on the conductive fixing member precursor layer 42. Can be arranged. Then, by repeating the above [Step-100] to [Step-130] a total of three times, a predetermined number of red light emitting diodes, green light emitting diodes, and blue light emitting diodes are formed on the substrate 40 at predetermined intervals and pitches. Can be implemented. The light emitting diode 10 left on the relay substrate 30 may be used for mounting the light emitting diode 10 on the next substrate 40.

[工程−140]
その後、導電性固定部材前駆体層42を加熱して導電性固定部材層43を得ることで、導電性固定部材層43を介して配線41に発光ダイオード10の接続部(p側電極)25を固定する(図8の(A)参照)。具体的には、例えば、酸素ガス雰囲気あるいは大気雰囲気で350゜Cまで昇温し、350゜Cにて30分間の加熱(焼成処理)を行った後、窒素ガス雰囲気として450゜Cまで昇温し、450゜Cにて30分間の加熱(アニール処理)を行えばよい。但し、窒素ガス雰囲気での加熱(アニール処理)を省略することもできる。この加熱条件で得られたITOから成る導電性固定部材層43は、アモルファス状態にある。
[Step-140]
Thereafter, the conductive fixing member precursor layer 42 is heated to obtain the conductive fixing member layer 43, whereby the connection portion (p-side electrode) 25 of the light emitting diode 10 is connected to the wiring 41 through the conductive fixing member layer 43. Fix (see FIG. 8A). Specifically, for example, the temperature is raised to 350 ° C. in an oxygen gas atmosphere or an air atmosphere, heated for 30 minutes at 350 ° C. (baking treatment), and then heated to 450 ° C. as a nitrogen gas atmosphere. Then, heating (annealing) at 450 ° C. for 30 minutes may be performed. However, heating (annealing treatment) in a nitrogen gas atmosphere can be omitted. The conductive fixing member layer 43 made of ITO obtained under these heating conditions is in an amorphous state.

[工程−150]
次に、発光ダイオード10の下方に位置する導電性固定部材層43の部分を残し、その他の導電性固定部材層43の部分を除去する(図8の(B)参照)。具体的には、塩化第2鉄水溶液や有機酸から成るエッチング液に全体を浸漬することで、発光ダイオード10が一種のエッチング用マスクとして機能し、発光ダイオード10に覆われていない露出した導電性固定部材層43の部分を除去することができる。こうして、発光ダイオード10を配線41上に電気的に接続した状態で固定することができる。
[Step-150]
Next, the conductive fixing member layer 43 located below the light emitting diode 10 is left, and the other conductive fixing member layer 43 is removed (see FIG. 8B). Specifically, the light emitting diode 10 functions as a kind of etching mask by immersing the whole in an etching solution composed of an aqueous solution of ferric chloride or an organic acid, and the exposed conductive material not covered by the light emitting diode 10 is exposed. The portion of the fixing member layer 43 can be removed. Thus, the light emitting diode 10 can be fixed in a state of being electrically connected to the wiring 41.

[工程−160]
その後、発光ダイオード10を覆うように絶縁層52を形成し、発光ダイオードの第1電極(n側電極)27の上方の絶縁層52に開口部53を形成し、係る第1電極(n側電極)27と接続された第2の配線51及び第2の配線の延在部51Aを絶縁層52の上に形成する(図1参照)。そして、配線41及び第2の配線51を駆動回路と接続することによって、発光ダイオード表示装置を完成させることができる。
[Step-160]
Thereafter, an insulating layer 52 is formed so as to cover the light emitting diode 10, an opening 53 is formed in the insulating layer 52 above the first electrode (n-side electrode) 27 of the light-emitting diode, and the first electrode (n-side electrode) ) The second wiring 51 connected to 27 and the extended portion 51A of the second wiring are formed on the insulating layer 52 (see FIG. 1). Then, the light emitting diode display device can be completed by connecting the wiring 41 and the second wiring 51 to the driving circuit.

実施例1にあっては、発光ダイオードに設けられた接続部を、確実に、比較的容易に、高い信頼性をもって配線と接続することができる。しかも、基体に微小な発光ダイオードを実装するとき、発光ダイオードが不所望の位置にずれたり、傾いてしまうといった現象が生じることがなく、容易に、確実に、高い位置精度で実装することが可能となる。   In the first embodiment, the connection portion provided in the light emitting diode can be reliably and relatively easily connected to the wiring with high reliability. In addition, when a small light emitting diode is mounted on the substrate, the light emitting diode does not shift to an undesired position or tilts, and can be mounted easily and reliably with high positional accuracy. It becomes.

実施例2は、実施例1の変形である。実施例2にあっては、配線41を構成する金属、及び、発光ダイオード10の接続部(p側電極あるいは第2電極)25を構成する金属を、銀(Ag)とする。そして、実施例2にあっては、[工程−150]を実行した後、合金化熱処理を施し、配線41を構成する金属である銀(Ag)と、導電性固定部材層43を構成する金属(インジウム及び錫)、並びに、発光ダイオード10の接続部(p側電極)25を構成する金属である銀(Ag)を合金化する。合金化熱処理の条件として、雰囲気を窒素ガス雰囲気、温度を350゜C、処理時間を30分とした。この点を除き、実施例2の方法は、実施例1の方法と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。   The second embodiment is a modification of the first embodiment. In Example 2, the metal constituting the wiring 41 and the metal constituting the connecting portion (p-side electrode or second electrode) 25 of the light emitting diode 10 are silver (Ag). In Example 2, after performing [Step-150], alloying heat treatment is performed, and silver (Ag), which is a metal constituting the wiring 41, and a metal, which constitutes the conductive fixing member layer 43, are processed. (Indium and tin) and silver (Ag) which is a metal constituting the connection part (p-side electrode) 25 of the light emitting diode 10 are alloyed. As conditions for the alloying heat treatment, the atmosphere was a nitrogen gas atmosphere, the temperature was 350 ° C., and the treatment time was 30 minutes. Except for this point, the method of the second embodiment can be the same as the method of the first embodiment, and a detailed description thereof will be omitted.

実施例3も実施例1の変形である。実施例3にあっては、基体40へ垂直投影した発光ダイオード10の射影像の領域内に、合金化のための金属層60が形成されている。具体的には、実施例1の[工程−140]と同様の工程における模式的な一部断面図を図9の(A)に示すように、Tiから成る金属層60が配線41の上に形成されている。尚、図9の(B)に示すように、Tiから成る金属層60が配線41と基体40との間に形成されていてもよい。   The third embodiment is also a modification of the first embodiment. In the third embodiment, the metal layer 60 for alloying is formed in the region of the projected image of the light emitting diode 10 that is vertically projected onto the substrate 40. Specifically, a schematic partial cross-sectional view in the same process as [Process-140] in Example 1 is shown in FIG. 9A, and a metal layer 60 made of Ti is formed on the wiring 41. Is formed. Note that, as shown in FIG. 9B, a metal layer 60 made of Ti may be formed between the wiring 41 and the substrate 40.

実施例3にあっては、[工程−140]と同様の工程において、大気雰囲気で350゜Cまで昇温し、350゜Cにて60分間の加熱(焼成処理)を行った。尚、この加熱によって、合金化熱処理も同時に行われた。即ち、配線41を構成する金属である金(Au)と、導電性固定部材層43を構成する金属(インジウム及び錫)と、発光ダイオード10の接続部(p側電極)25を構成する金属である金(Au)と、チタン(Ti)から成る金属層60を合金化した。こうして、図9の(C)に示すように、発光ダイオード10の下方の導電性固定部材前駆体層42の部分と金属層60と配線41の部分によって合金層61が形成され、あるいは又、発光ダイオード10の下方の導電性固定部材前駆体層42の部分と配線41の部分と金属層60によって合金層61が形成される。以上の点を除き、実施例3の方法は、実施例1の方法と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。   In Example 3, in the same step as [Step-140], the temperature was raised to 350 ° C. in an air atmosphere, and heating (firing treatment) was performed at 350 ° C. for 60 minutes. In addition, alloying heat processing was also performed simultaneously by this heating. That is, gold (Au) that is a metal constituting the wiring 41, metal (indium and tin) that constitutes the conductive fixing member layer 43, and metal that constitutes the connection portion (p-side electrode) 25 of the light emitting diode 10. A metal layer 60 made of some gold (Au) and titanium (Ti) was alloyed. Thus, as shown in FIG. 9C, the alloy layer 61 is formed by the conductive fixing member precursor layer 42, the metal layer 60, and the wiring 41 below the light emitting diode 10, or the light emission. An alloy layer 61 is formed by the conductive fixing member precursor layer 42, the wiring 41, and the metal layer 60 below the diode 10. Except for the above points, the method of the third embodiment can be the same as the method of the first embodiment, and a detailed description thereof will be omitted.

実施例3にあっては、実施例1の[工程−150]と同様の工程において、発光ダイオード10の下方に位置する導電性固定部材層43の部分を残し、その他の導電性固定部材層43の部分を除去するが、発光ダイオード10の下方に位置する導電性固定部材層43の部分は合金化されており、その他の導電性固定部材層43の部分は合金化されていない。従って、発光ダイオード10の下方に位置する合金化された導電性固定部材層43の部分のエッチング速度と、合金化されていないその他の導電性固定部材層43の部分のエッチング速度に大きな差異が生じる結果、合金化されていないその他の導電性固定部材層43の部分を確実にエッチングにて除去することができる。しかも、フォトリソグラフィ技術等に基づくエッチング用マスクの形成等も不要である。   In Example 3, in the same step as [Step-150] of Example 1, the portion of the conductive fixing member layer 43 located below the light emitting diode 10 is left, and the other conductive fixing member layer 43 is left. The portion of the conductive fixing member layer 43 located below the light emitting diode 10 is alloyed, and the other portions of the conductive fixing member layer 43 are not alloyed. Therefore, there is a large difference between the etching rate of the portion of the conductive fixing member layer 43 that is alloyed below the light emitting diode 10 and the etching rate of the portion of the other conductive fixing member layer 43 that is not alloyed. As a result, the other conductive fixing member layer 43 that is not alloyed can be reliably removed by etching. Moreover, it is not necessary to form an etching mask based on a photolithography technique or the like.

実施例4は、本発明の第2の態様に係る発光素子組立体に関する。実施例4の発光素子組立体は、発光ダイオード10の接続部(p側電極あるいは第2電極)25と基体40上に形成された配線41とが、導電性固定部材層43にて固定されており、導電性固定部材層43は、少なくとも、金属原子、炭素(C)原子及び酸素(O)原子、より具体的には、実施例1にあっては、金属原子としてのインジウム(In)及び錫(Sn)、並びに、炭素(C)原子及び酸素(O)原子から構成されている。ここで、炭素(C)原子が含まれる割合は、約20重量%である。   Example 4 relates to a light-emitting element assembly according to the second aspect of the present invention. In the light-emitting element assembly of Example 4, the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 of the light-emitting diode 10 and the wiring 41 formed on the base 40 are fixed by the conductive fixing member layer 43. The conductive fixing member layer 43 includes at least metal atoms, carbon (C) atoms, and oxygen (O) atoms. More specifically, in Example 1, indium (In) as metal atoms and It is composed of tin (Sn) and carbon (C) atoms and oxygen (O) atoms. Here, the proportion of carbon (C) atoms is about 20% by weight.

実施例4にあっては、実施例1の[工程−140]と同様の工程において、例えば、大気雰囲気にて320゜Cまで昇温し、320゜Cにて30分間の加熱を行った。このような比較的低温の加熱状態では、導電性固定部材前駆体層42に含まれる溶剤や各種の有機物質(例えば、安定化剤)は除去されるが、導電性固定部材前駆体層42に熱分解や化学反応が生じてITOから成る導電性固定部材層43が形成されるよりは、むしろ、金属原子としてのインジウム(In)原子と錫(Sn)原子、及び、炭素(C)原子、並びに、これらの原子に結合した酸素(O)原子から導電性固定部材層43が構成されていると考えられる。このときの導電性固定部材層43の体積抵抗率は3×10-3Ω・m(0.3Ω・cm)であり、厚さは約30nmであった。 In Example 4, in the same step as [Step-140] of Example 1, for example, the temperature was raised to 320 ° C. in an air atmosphere, and heating was performed at 320 ° C. for 30 minutes. In such a relatively low temperature heating state, the solvent and various organic substances (for example, stabilizer) contained in the conductive fixing member precursor layer 42 are removed, but the conductive fixing member precursor layer 42 has Rather than the conductive fixing member layer 43 made of ITO formed by thermal decomposition or chemical reaction, indium (In) atoms and tin (Sn) atoms as metal atoms, and carbon (C) atoms, In addition, it is considered that the conductive fixing member layer 43 is composed of oxygen (O) atoms bonded to these atoms. The volume resistivity of the conductive fixing member layer 43 at this time was 3 × 10 −3 Ω · m (0.3 Ω · cm), and the thickness was about 30 nm.

以上の点を除き、実施例4の方法は、実施例1の方法と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。   Except for the above points, the method of the fourth embodiment can be the same as the method of the first embodiment, and a detailed description thereof will be omitted.

実施例5は、本発明の第2の態様に係る配線への素子の電気的接続方法、及び、本発明の第2の態様に係る発光素子組立体の製造方法に関する。尚、これらの方法を総称して、以下、実施例5の方法と呼ぶ。ここで、実施例5の方法によって得られた発光ダイオード組立体の模式的な一部断面図は、図1に示したと同様である。即ち、この発光ダイオード組立体は、発光ダイオード10の接続部(p側電極あるいは第2電極)25と基体40上に形成された配線41とが、導電性固定部材層43にて固定されており、導電性固定部材層43はITOから成る。尚、発光ダイオード10の下方にのみ導電性固定部材層43が存在する。   Example 5 relates to a method for electrically connecting an element to a wiring according to a second aspect of the present invention, and a method for manufacturing a light emitting element assembly according to the second aspect of the present invention. Hereinafter, these methods are collectively referred to as the method of Example 5. Here, a schematic partial cross-sectional view of the light-emitting diode assembly obtained by the method of Example 5 is the same as that shown in FIG. That is, in this light emitting diode assembly, the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 of the light emitting diode 10 and the wiring 41 formed on the base body 40 are fixed by the conductive fixing member layer 43. The conductive fixing member layer 43 is made of ITO. The conductive fixing member layer 43 exists only below the light emitting diode 10.

以下、再び、図1、工程概念図である図2、積層構造体等の模式的な一部断面図である図3の(A)及び(B)、図4の(A)〜(C)、図5の(A)及び(B)、図6の(A)及び(B)、並びに、図10の(A)及び(B)、図11を参照して、実施例5の方法を説明する。   Hereinafter, FIG. 1, FIG. 2 which is a conceptual diagram of the process, FIGS. 3A and 3B which are schematic partial sectional views of a laminated structure and the like, and FIGS. 5, (A) and (B), FIG. 6 (A) and (B), FIG. 10 (A) and (B), and FIG. 11, the method of Example 5 is demonstrated. To do.

[工程−500]
先ず、実施例1の[工程−100]と同様にして、周知の方法で、素子製造用基板20に化合物半導体層の積層構造から成る発光層24を形成し、発光層24上に接続部(p側電極に相当する)25を形成する(図2の(A)及び図3の(A)参照)。
[Step-500]
First, in the same manner as in [Step-100] of Example 1, the light emitting layer 24 having a laminated structure of compound semiconductor layers is formed on the element manufacturing substrate 20 by a well-known method, and the connection portion ( 25 (corresponding to the p-side electrode) is formed (see FIG. 2A and FIG. 3A).

[工程−510]
次いで、実施例1の[工程−110]と同様にして、中継基板30に接続部(p側電極)25が接するように積層構造体26を中継基板30に貼り合わせ後、素子製造用基板20を発光層24から除去する。そして、露出した発光層24にn側電極27を形成し、次いで、発光層24をパターニングすることで発光ダイオード10に分離する(図2の(B)〜(D)、図3の(B)、図4の(A)〜(C)参照)。
[Step-510]
Next, in the same manner as in [Step-110] of Example 1, the laminated structure 26 is bonded to the relay substrate 30 so that the connection portion (p-side electrode) 25 is in contact with the relay substrate 30, and then the element manufacturing substrate 20 is bonded. Is removed from the light emitting layer 24. Then, the n-side electrode 27 is formed on the exposed light emitting layer 24, and then the light emitting layer 24 is patterned to be separated into the light emitting diodes 10 ((B) to (D) in FIG. 2 and (B) in FIG. 3). FIG. 4 (A) to (C)).

[工程−520]
その後、実施例1の[工程−120]と同様にして、所望の発光ダイオード10を中継基板30から支持基板32に転写する(図2の(E)〜(F)、図5の(A)、(B)、図6の(A)、(B)参照)。
[Step-520]
Thereafter, in the same manner as in [Step-120] in Example 1, the desired light emitting diode 10 is transferred from the relay substrate 30 to the support substrate 32 ((E) to (F) in FIG. 2, (A) in FIG. 5). , (B), see FIGS. 6A and 6B).

[工程−530]
次いで、本発明の第2の態様に係る方法を実行する。即ち、発光ダイオード10に備えられた接続部(p側電極あるいは第2電極)25上に、適切な印刷法(例えば、インクジェット印刷法)に基づき導電性固定部材前駆体層42を形成する(図10の(A)参照)。尚、導電性固定部材前駆体層42に対して、例えば、60゜C、1分といったプリベーク処理を施してもよいし、行わなくともよい。
[Step-530]
Next, the method according to the second aspect of the present invention is performed. That is, the conductive fixing member precursor layer 42 is formed on the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 provided in the light emitting diode 10 based on an appropriate printing method (for example, ink jet printing method) (see FIG. 10 (A)). The conductive fixing member precursor layer 42 may or may not be subjected to a pre-bake treatment such as 60 ° C. for 1 minute.

[工程−540]
そして、導電性固定部材前駆体層42が基体40に設けられた配線41と接するように、発光ダイオード10を配線41上に配置する(図2の(G)〜(H)、及び、図10の(B)参照)。具体的には、支持基板32上に支持された発光ダイオード10に備えられた接続部(p側電極あるいは第2電極)25上に形成された導電性固定部材前駆体層42を配線41と接触させた状態で、発光ダイオード10を支持基板32から取り除く。より具体的には、[工程−530]において得られた、微粘着層33に付着した状態にある発光ダイオード10における導電性固定部材前駆体層42を配線41に押し付ける。発光ダイオード10は微粘着層33に相対的に弱く付着しているだけであり、導電性固定部材前駆体層42は粘着性(タック)を有しているので、導電性固定部材前駆体層42が配線41に押し付けられた発光ダイオード10は、微粘着層33から外れる。発光ダイオード10の導電性固定部材前駆体層42を配線41と接触させた(押し付けた)状態で支持基板32を基体40から離れる方向に移動させると、発光ダイオード10は導電性固定部材前駆体層42を介して配線41の上に残される。こうして、所望の数の発光ダイオード10を配線41上に導電性固定部材前駆体層42を介して仮止めすることができる。尚、導電性固定部材前駆体層42が配線41から移動しない程度に、導電性固定部材前駆体層42は粘着性(タック)を有している。
[Step-540]
Then, the light emitting diode 10 is disposed on the wiring 41 so that the conductive fixing member precursor layer 42 is in contact with the wiring 41 provided on the base body 40 ((G) to (H) in FIG. 2 and FIG. 10). (See (B)). Specifically, the conductive fixing member precursor layer 42 formed on the connection portion (p-side electrode or second electrode) 25 provided in the light emitting diode 10 supported on the support substrate 32 is brought into contact with the wiring 41. In this state, the light emitting diode 10 is removed from the support substrate 32. More specifically, the conductive fixing member precursor layer 42 in the light emitting diode 10 in the state of being attached to the slightly adhesive layer 33 obtained in [Step-530] is pressed against the wiring 41. Since the light emitting diode 10 is only weakly adhered to the slightly adhesive layer 33 and the conductive fixing member precursor layer 42 has adhesiveness (tack), the conductive fixing member precursor layer 42. The LED 10 pressed against the wiring 41 is detached from the slightly adhesive layer 33. When the support substrate 32 is moved in a direction away from the base body 40 in a state where the conductive fixing member precursor layer 42 of the light emitting diode 10 is in contact (pressed) with the wiring 41, the light emitting diode 10 becomes a conductive fixing member precursor layer. 42 is left on the wiring 41 via 42. Thus, a desired number of light emitting diodes 10 can be temporarily fixed onto the wiring 41 via the conductive fixing member precursor layer 42. The conductive fixing member precursor layer 42 has adhesiveness (tack) to such an extent that the conductive fixing member precursor layer 42 does not move from the wiring 41.

以上の[工程−530]及び[工程−540]を所望の回数だけ繰り返し、所望の数の発光ダイオードを配線41上に仮止めする。そして、ステップ転写法を所望の回数、繰り返すことで、所望の個数の発光ダイオード10が、導電性固定部材前駆体層42を介して配線41上に2次元マトリクス状に配置される。更には、以上の[工程−500]〜[工程−540]を合計3回、繰り返すことで、所定の数の赤色発光ダイオード、緑色発光ダイオード、青色発光ダイオードを、所定の間隔、ピッチで基体40に実装することができる。尚、中継基板30上に残された発光ダイオード10は、次の基体40への発光ダイオード10の実装に用いればよい。   The above-mentioned [Step-530] and [Step-540] are repeated a desired number of times, and a desired number of light-emitting diodes are temporarily fixed on the wiring 41. Then, by repeating the step transfer method a desired number of times, a desired number of light emitting diodes 10 are arranged in a two-dimensional matrix form on the wiring 41 via the conductive fixing member precursor layer 42. Furthermore, by repeating the above [Step-500] to [Step-540] a total of three times, a predetermined number of red light emitting diodes, green light emitting diodes, and blue light emitting diodes are arranged at a predetermined interval and pitch. Can be implemented. The light emitting diode 10 left on the relay substrate 30 may be used for mounting the light emitting diode 10 on the next substrate 40.

[工程−550]
その後、導電性固定部材前駆体層42を加熱して導電性固定部材層43を得ることで、導電性固定部材層43を介して配線41に発光ダイオード10の接続部(p側電極)25を固定する(図11参照)。具体的には、例えば、酸素ガス雰囲気あるいは大気雰囲気で350゜Cまで昇温し、350゜Cにて30分間の加熱(焼成処理)を行った後、窒素ガス雰囲気として450゜Cまで昇温し、450゜Cにて30分間の加熱(アニール処理)を行えばよい。但し、窒素ガス雰囲気での加熱(アニール処理)を省略することもできる。この加熱条件で得られたITOから成る導電性固定部材層43は、アモルファス状態にある。
[Step-550]
Thereafter, the conductive fixing member precursor layer 42 is heated to obtain the conductive fixing member layer 43, whereby the connection portion (p-side electrode) 25 of the light emitting diode 10 is connected to the wiring 41 through the conductive fixing member layer 43. Fix (see FIG. 11). Specifically, for example, the temperature is raised to 350 ° C. in an oxygen gas atmosphere or an air atmosphere, heated for 30 minutes at 350 ° C. (baking treatment), and then heated to 450 ° C. as a nitrogen gas atmosphere. Then, heating (annealing) at 450 ° C. for 30 minutes may be performed. However, heating (annealing treatment) in a nitrogen gas atmosphere can be omitted. The conductive fixing member layer 43 made of ITO obtained under these heating conditions is in an amorphous state.

[工程−560]
その後、発光ダイオード10を覆うように絶縁層52を形成し、発光ダイオードの第1電極(n側電極)27の上方の絶縁層52に開口部53を形成し、係る第1電極(n側電極)27と接続された第2の配線51及び第2の配線の延在部51Aを絶縁層52の上に形成する(図1参照)。そして、配線41及び第2の配線51を駆動回路と接続することによって、発光ダイオード表示装置を完成させることができる。
[Step-560]
Thereafter, an insulating layer 52 is formed so as to cover the light emitting diode 10, an opening 53 is formed in the insulating layer 52 above the first electrode (n-side electrode) 27 of the light-emitting diode, and the first electrode (n-side electrode) ) The second wiring 51 connected to 27 and the extended portion 51A of the second wiring are formed on the insulating layer 52 (see FIG. 1). Then, the light emitting diode display device can be completed by connecting the wiring 41 and the second wiring 51 to the driving circuit.

実施例5にあっても、発光ダイオードに設けられた接続部を、確実に、比較的容易に、高い信頼性をもって配線と接続することができる。しかも、基体に微小な発光ダイオードを実装するとき、発光ダイオードが不所望の位置にずれたり、傾いてしまうといった現象が生じることがなく、容易に、確実に、高い位置精度で実装することが可能となる。   Even in the fifth embodiment, the connection portion provided in the light emitting diode can be reliably and relatively easily connected to the wiring with high reliability. In addition, when a small light emitting diode is mounted on the substrate, the light emitting diode does not shift to an undesired position or tilts, and can be mounted easily and reliably with high positional accuracy. It becomes.

実施例2において説明した合金化を、実施例5に適用することができる。また、実施例3において説明した合金化を、実施例5に適用することができる。この場合の、実施例5の[工程−540]と同様の工程における模式的な一部断面図を図12の(A)に示すが、Tiから成る金属層60が配線41の上に形成されている。尚、図12の(B)に示すように、Tiから成る金属層60が配線41と基体40との間に形成されていてもよい。そして、[工程−540]を実行した後、合金化熱処理を施し、配線41を構成する金属である金(Au)と、導電性固定部材層43を構成する金属(インジウム及び錫)と、発光ダイオード10の接続部(p側電極)25を構成する金属である金(Au)と、チタン(Ti)から成る金属層60を合金化する。こうして、図12の(C)に示すように、発光ダイオード10の下方の導電性固定部材前駆体層42の部分と金属層60と配線41の部分によって合金層61が形成され、あるいは又、発光ダイオード10の下方の導電性固定部材前駆体層42の部分と配線41の部分と金属層60によって合金層61が形成される。あるいは又、実施例4において説明した本発明の第2の態様に係る発光素子組立体を、実施例5に適用することもできる。   The alloying described in Example 2 can be applied to Example 5. Further, the alloying described in the third embodiment can be applied to the fifth embodiment. FIG. 12A shows a schematic partial cross-sectional view in the same process as [Process-540] of Example 5 in this case. A metal layer 60 made of Ti is formed on the wiring 41. ing. As shown in FIG. 12B, a metal layer 60 made of Ti may be formed between the wiring 41 and the substrate 40. Then, after performing [Step-540], an alloying heat treatment is performed, gold (Au) which is a metal constituting the wiring 41, metal (indium and tin) which constitutes the conductive fixing member layer 43, and light emission Gold (Au), which is a metal constituting the connecting portion (p-side electrode) 25 of the diode 10, and a metal layer 60 made of titanium (Ti) are alloyed. Thus, as shown in FIG. 12C, the alloy layer 61 is formed by the conductive fixing member precursor layer 42, the metal layer 60, and the wiring 41 below the light emitting diode 10, or the light emission. An alloy layer 61 is formed by the conductive fixing member precursor layer 42, the wiring 41, and the metal layer 60 below the diode 10. Alternatively, the light-emitting element assembly according to the second aspect of the present invention described in Example 4 can be applied to Example 5.

以上、本発明を好ましい実施例に基づき説明したが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、実施例において挙げた数値、材料、構成、構造、形状、各種基板、原料、プロセス等はあくまでも例示に過ぎず、必要に応じて、これらと異なる数値、材料、構成、構造、形状、基板、原料、プロセス等を用いることができる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated based on the preferable Example, this invention is not limited to these Examples, Various deformation | transformation based on the technical idea of this invention is possible. For example, the numerical values, materials, configurations, structures, shapes, various substrates, raw materials, processes, etc. given in the examples are merely examples, and different values, materials, configurations, structures, shapes, substrates, etc., as necessary. , Raw materials, processes, etc. can be used.

実施例1〜実施例4にあっては、導電性固定部材前駆体層42をスピンコーティング法に基づき全面(配線41上を含む基体40上)に形成したが、代替的に、例えば、インクジェット印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、コンタクトプリント法、インプリント法といった各種印刷法に基づき、導電性固定部材前駆体層42を配線41の所望の領域上にのみ形成してもよい。このような方法によれば、実施例1の[工程−150]を省略することができる。また、実施例にあっては、配線に固定される接続部の数を1つとしたが、これに限定するものではなく、素子等によっては2つ以上であってもよい。   In Example 1 to Example 4, the conductive fixing member precursor layer 42 was formed on the entire surface (on the substrate 40 including the wiring 41) based on the spin coating method. The conductive fixing member precursor layer 42 may be formed only on a desired region of the wiring 41 based on various printing methods such as a method, an offset printing method, a gravure printing method, a contact printing method, and an imprinting method. According to such a method, [Step-150] of Example 1 can be omitted. In the embodiment, the number of connection portions fixed to the wiring is one. However, the number of connection portions is not limited to this, and may be two or more depending on the element or the like.

図1は、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法によって得られた素子(発光素子)を含む発光ダイオード組立体の模式的な一部断面図である。1 is a schematic partial cross-sectional view of a light-emitting diode assembly including an element (light-emitting element) obtained by a method for electrically connecting elements to wiring or a method for manufacturing a light-emitting element assembly in Example 1. FIG. . 図2は、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法の各工程を説明するための工程概念図である。FIG. 2 is a process conceptual diagram for explaining each process of the method for electrically connecting the element to the wiring or the method for manufacturing the light emitting element assembly according to the first embodiment. 図3の(A)及び(B)は、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。3A and 3B are schematic partial cross-sectional views of a light emitting layer and the like for explaining a method for electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method for manufacturing a light emitting element assembly. is there. 図4の(A)及び(B)は、図3の(B)に引き続き、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図であり、図4の(C)は、[工程−110]において得られた発光ダイオードを拡大した模式的な一部断面図である。4 (A) and 4 (B) show a light emitting layer and the like for explaining a method of electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method of manufacturing a light emitting element assembly, following FIG. 3 (B). FIG. 4C is a schematic partial cross-sectional view in which the light-emitting diode obtained in [Step-110] is enlarged. 図5の(A)及び(B)は、図4の(B)に引き続き、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。5 (A) and 5 (B) show a light emitting layer and the like for explaining a method of electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method of manufacturing a light emitting element assembly, following FIG. 4 (B). It is a typical partial sectional view of. 図6の(A)及び(B)は、図5の(B)に引き続き、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。6 (A) and 6 (B) show a light emitting layer and the like for explaining a method of electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method of manufacturing a light emitting element assembly, following FIG. 5 (B). It is a typical partial sectional view of. 図7の(A)及び(B)は、図6の(B)に引き続き、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。FIGS. 7A and 7B show a light emitting layer and the like for explaining a method of electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method of manufacturing a light emitting element assembly, following FIG. 6B. It is a typical partial sectional view of. 図8の(A)及び(B)は、図7の(B)に引き続き、実施例1の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。8A and 8B are light emitting layers for explaining a method for electrically connecting elements to the wiring of Example 1 or a method for manufacturing a light emitting element assembly, etc., following FIG. 7B. It is a typical partial sectional view of. 図9の(A)及び(B)は、実施例3において、実施例1の[工程−140]と同様の工程における模式的な一部断面図であり、図9の(C)は、合金化のための熱処理を行った後の発光ダイオード等の模式的な一部断面図である。9A and 9B are schematic partial cross-sectional views in the same process as [Process-140] in Example 1, in Example 3, and FIG. 9C is an alloy. It is typical partial sectional drawing of a light emitting diode etc. after performing the heat processing for conversion. 図10の(A)及び(B)は、図6の(B)に引き続き、実施例5の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。10 (A) and 10 (B) show the light emitting layer and the like for explaining the electrical connection method of the element to the wiring or the manufacturing method of the light emitting element assembly in Example 5 following FIG. 6 (B). It is a typical partial sectional view of. 図11は、図10の(B)に引き続き、実施例5の配線への素子の電気的接続方法あるいは発光素子組立体の製造方法を説明するための発光層等の模式的な一部断面図である。FIG. 11 is a schematic partial cross-sectional view of a light emitting layer and the like for explaining a method for electrically connecting elements to the wiring of Example 5 or a method for manufacturing a light emitting element assembly, following FIG. It is. 図12の(A)及び(B)は、実施例5の実施例3と同様の変形例において、実施例5の[工程−540]と同様の工程における模式的な一部断面図であり、図12の(C)は、合金化のための熱処理を行った後の発光ダイオード等の模式的な一部断面図である。FIGS. 12A and 12B are schematic partial cross-sectional views in the same process as [Process-540] of Example 5, in a modification similar to Example 3 of Example 5. FIG. 12C is a schematic partial cross-sectional view of a light emitting diode and the like after heat treatment for alloying. 図13の(A)及び(B)は、従来の技術における問題点を説明するための模式図である。FIGS. 13A and 13B are schematic diagrams for explaining problems in the prior art.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・発光ダイオード、20・・・素子製造用基板、21・・・第1化合物半導体層、22・・・第2化合物半導体層、23・・・活性層、24・・・発光層、25・・・接続部(p側電極あるいは第2電極)、26・・・積層構造体、27・・・n側電極、30・・・中継基板、31・・・接着層、32・・・基板(支持基板)、33・・・微粘着層、40・・・基体、41・・・配線、42・・・導電性固定部材前駆体層、43・・・導電性固定部材層、51・・・第2の配線、51A・・・第2の配線の延在部、52・・・絶縁層、53・・・開口部、60・・・金属層、61・・・合金層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Light emitting diode, 20 ... Element manufacturing substrate, 21 ... 1st compound semiconductor layer, 22 ... 2nd compound semiconductor layer, 23 ... Active layer, 24 ... Light emitting layer, 25 ... Connection part (p-side electrode or second electrode), 26 ... Laminated structure, 27 ... n-side electrode, 30 ... relay substrate, 31 ... adhesive layer, 32 ... Substrate (supporting substrate), 33 ... slightly adhesive layer, 40 ... base, 41 ... wiring, 42 ... conductive fixing member precursor layer, 43 ... conductive fixing member layer, 51. ..Second wiring, 51A ... extended portion of second wiring, 52 ... insulating layer, 53 ... opening, 60 ... metal layer, 61 ... alloy layer

Claims (28)

(A)基体に設けられた少なくとも配線上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)接続部を備えた素子を、該接続部が導電性固定部材前駆体層と接するように配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする配線への素子の電気的接続方法。
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on at least the wiring provided on the substrate;
(B) After disposing the element provided with the connection portion on the wiring so that the connection portion is in contact with the conductive fixing member precursor layer, the conductive fixing member precursor layer is heated to form the conductive fixing member layer. By obtaining, fixing the connection portion of the element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material, and the element is electrically connected to the wiring.
前記工程(A)においては、配線上を含む基体上に導電性固定部材前駆体層を形成し、
前記工程(B)の後、素子の下方に位置する導電性固定部材層の部分を残し、その他の導電性固定部材層の部分を除去する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の電気的接続方法。
In the step (A), a conductive fixing member precursor layer is formed on the substrate including the wiring,
2. The method according to claim 1, further comprising: after the step (B), leaving a portion of the conductive fixing member layer positioned below the element and removing other conductive fixing member layer portions. Electrical connection method.
前記工程(B)において、基板上に支持された素子に備えられた接続部を導電性固定部材前駆体層と接触させた状態で、素子を基板から取り除くことで、素子を配線上に配置することを特徴とする請求項1に記載の電気的接続方法。   In the step (B), the element is disposed on the wiring by removing the element from the substrate in a state where the connection portion provided in the element supported on the substrate is in contact with the conductive fixing member precursor layer. The electrical connection method according to claim 1. 導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことを特徴とする請求項1に記載の電気的接続方法。 2. The electrical connection method according to claim 1, wherein the conductive fixing member precursor layer does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 −7 m. 導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする請求項1に記載の電気的接続方法。   The electrical connection method according to claim 1, wherein the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO. 前記工程(B)中において、又は、前記工程(B)の後、熱処理によって、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化を図ることを特徴とする請求項1に記載の電気的接続方法。   In the step (B) or after the step (B), the metal forming the wiring and the metal forming the conductive fixing member layer are alloyed or the element connecting portion is formed by heat treatment. Alloying of metal and metal constituting the conductive fixing member layer, or alloying of metal constituting the wiring and metal constituting the conductive fixing member layer, and metal and conductive fixing of the element connecting portion 2. The electrical connection method according to claim 1, wherein alloying with a metal constituting the member layer is achieved. 基体へ垂直投影した素子の射影像の領域内には、合金化のための金属層が形成されていることを特徴とする請求項6に記載の電気的接続方法。   7. The electrical connection method according to claim 6, wherein a metal layer for alloying is formed in a region of a projected image of the element vertically projected onto the substrate. (A)素子に備えられた接続部上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)導電性固定部材前駆体層が基体に設けられた配線と接するように素子を配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする配線への素子の電気的接続方法。
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on the connection portion provided in the element;
(B) By arranging the element on the wiring so that the conductive fixing member precursor layer is in contact with the wiring provided on the substrate, the conductive fixing member precursor layer is heated to obtain the conductive fixing member layer. Fixing the connection portion of the element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material, and the element is electrically connected to the wiring.
前記工程(B)において、基板上に支持された素子に備えられた接続部上に形成された導電性固定部材前駆体層を基体に設けられた配線と接触させた状態で、素子を基板から取り除くことで、素子を配線上に配置することを特徴とする請求項8に記載の電気的接続方法。   In the step (B), the element is removed from the substrate in a state where the conductive fixing member precursor layer formed on the connection portion provided on the element supported on the substrate is in contact with the wiring provided on the base. The electrical connection method according to claim 8, wherein the element is arranged on the wiring by removing the element. 導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことを特徴とする請求項8に記載の電気的接続方法。 The electrical connection method according to claim 8, wherein the conductive fixing member precursor layer does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 −7 m. 導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする請求項8に記載の電気的接続方法。   The electrical connection method according to claim 8, wherein the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO. 前記工程(B)中において、又は、前記工程(B)の後、熱処理によって、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化を図ることを特徴とする請求項8に記載の電気的接続方法。   In the step (B) or after the step (B), the metal forming the wiring and the metal forming the conductive fixing member layer are alloyed or the element connecting portion is formed by heat treatment. Alloying of metal and metal constituting the conductive fixing member layer, or alloying of metal constituting the wiring and metal constituting the conductive fixing member layer, and metal and conductive fixing of the element connecting portion 9. The electrical connection method according to claim 8, wherein alloying with a metal constituting the member layer is achieved. 基体へ垂直投影した素子の射影像の領域内には、合金化のための金属層が形成されていることを特徴とする請求項12に記載の電気的接続方法。   13. The electrical connection method according to claim 12, wherein a metal layer for alloying is formed in a region of a projected image of the element vertically projected onto the substrate. (A)基体に設けられた少なくとも配線上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)接続部を備えた発光素子を、該接続部が導電性固定部材前駆体層と接するように配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に発光素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする発光素子組立体の製造方法。
(A) forming a conductive fixing member precursor layer on at least the wiring provided on the substrate;
(B) A light emitting element having a connection portion is arranged on the wiring so that the connection portion is in contact with the conductive fixing member precursor layer, and then the conductive fixing member precursor layer is heated to form a conductive fixing member layer. By fixing the connection part of the light emitting element to the wiring through the conductive fixing member layer,
Consisting of processes,
The method of manufacturing a light-emitting element assembly, wherein the conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.
前記工程(A)においては、配線上を含む基体上に導電性固定部材前駆体層を形成し、
前記工程(B)の後、発光素子の下方に位置する導電性固定部材層の部分を残し、その他の導電性固定部材層の部分を除去する工程を含むことを特徴とする請求項14に記載の発光素子組立体の製造方法。
In the step (A), a conductive fixing member precursor layer is formed on the substrate including the wiring,
15. The method according to claim 14, further comprising a step of leaving a portion of the conductive fixing member layer located below the light emitting element and removing a portion of the other conductive fixing member layer after the step (B). Manufacturing method of the light emitting device assembly.
前記工程(B)において、基板上に支持された発光素子に備えられた接続部を導電性固定部材前駆体層と接触させた状態で、発光素子を基板から取り除くことで、発光素子を配線上に配置することを特徴とする請求項14に記載の発光素子組立体の製造方法。   In the step (B), the light emitting element is removed from the substrate by removing the light emitting element from the substrate in a state where the connection portion provided in the light emitting element supported on the substrate is in contact with the conductive fixing member precursor layer. The method of manufacturing a light emitting device assembly according to claim 14, wherein: 導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことを特徴とする請求項14に記載の発光素子組立体の製造方法。 The method of manufacturing a light-emitting element assembly according to claim 14, wherein the conductive fixing member precursor layer does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 × 10 -7 m. 導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする請求項14に記載の発光素子組立体の製造方法。   The method of manufacturing a light emitting device assembly according to claim 14, wherein the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO. 前記工程(B)中において、又は、前記工程(B)の後、熱処理によって、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化を図ることを特徴とする請求項14に記載の発光素子組立体の製造方法。   During the step (B) or after the step (B), by heat treatment, the metal constituting the wiring and the metal constituting the conductive fixing member layer are alloyed, or the connection portion of the light emitting element is constituted. Alloying between the metal forming the conductive fixing member layer and the metal forming the wiring, or alloying between the metal forming the wiring and the metal forming the conductive fixing member layer, and the metal forming the connection portion of the light emitting element and the conductive The method of manufacturing a light emitting element assembly according to claim 14, wherein alloying with a metal constituting the conductive fixing member layer is achieved. 基体へ垂直投影した発光素子の射影像の領域内には、合金化のための金属層が形成されていることを特徴とする請求項19に記載の発光素子組立体の製造方法。   20. The method of manufacturing a light emitting element assembly according to claim 19, wherein a metal layer for alloying is formed in a region of a projected image of the light emitting element vertically projected onto the substrate. (A)発光素子に備えられた接続部上に導電性固定部材前駆体層を形成し、次いで、
(B)導電性固定部材前駆体層が基体に設けられた配線と接するように発光素子を配線上に配置した後、導電性固定部材前駆体層を加熱して導電性固定部材層を得ることで、導電性固定部材層を介して配線に発光素子の接続部を固定する、
工程から成り、
導電性固定部材前駆体層は、溶液型の導電材料から成ることを特徴とする発光素子組立体の製造方法。
(A) A conductive fixing member precursor layer is formed on the connection portion provided in the light emitting element, and then
(B) After arranging the light emitting element on the wiring so that the conductive fixing member precursor layer is in contact with the wiring provided on the substrate, the conductive fixing member precursor layer is heated to obtain the conductive fixing member layer. Then, the connection part of the light emitting element is fixed to the wiring through the conductive fixing member layer.
Consisting of processes,
The method of manufacturing a light-emitting element assembly, wherein the conductive fixing member precursor layer is made of a solution-type conductive material.
前記工程(B)において、基板上に支持された発光素子に備えられた接続部上に形成された導電性固定部材前駆体層を基体に設けられた配線と接触させた状態で、発光素子を基板から取り除くことで、発光素子を配線上に配置することを特徴とする請求項21に記載の発光素子組立体の製造方法。   In the step (B), in a state where the conductive fixing member precursor layer formed on the connection portion provided in the light emitting element supported on the substrate is in contact with the wiring provided on the base, The method for manufacturing a light-emitting element assembly according to claim 21, wherein the light-emitting element is disposed on the wiring by being removed from the substrate. 導電性固定部材前駆体層は、粒径が1×10-7mを越える微粒子を含まないことを特徴とする請求項21に記載の発光素子組立体の製造方法。 The method of manufacturing a light-emitting element assembly according to claim 21, wherein the conductive fixing member precursor layer does not contain fine particles having a particle size exceeding 1 x 10-7 m. 導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする請求項21に記載の発光素子組立体の製造方法。   The method of manufacturing a light emitting device assembly according to claim 21, wherein the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO. 前記工程(B)中において、又は、前記工程(B)の後、熱処理によって、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化、又は、配線を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化及び発光素子の接続部を構成する金属と導電性固定部材層を構成する金属との合金化を図ることを特徴とする請求項21に記載の発光素子組立体の製造方法。   During the step (B) or after the step (B), by heat treatment, the metal constituting the wiring and the metal constituting the conductive fixing member layer are alloyed, or the connection portion of the light emitting element is constituted. Alloying between the metal forming the conductive fixing member layer and the metal forming the wiring, or alloying between the metal forming the wiring and the metal forming the conductive fixing member layer, and the metal forming the connection portion of the light emitting element and the conductive The method of manufacturing a light-emitting element assembly according to claim 21, wherein alloying with a metal constituting the conductive fixing member layer is achieved. 基体へ垂直投影した発光素子の射影像の領域内には、合金化のための金属層が形成されていることを特徴とする請求項25に記載の発光素子組立体の製造方法。   26. The method of manufacturing a light-emitting element assembly according to claim 25, wherein a metal layer for alloying is formed in a region of a projection image of the light-emitting element vertically projected onto the substrate. 発光素子の接続部と基体上に形成された配線とが、導電性固定部材層にて固定されており、
発光素子の下方にのみ導電性固定部材層が存在し、
導電性固定部材層は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする発光素子組立体。
The connection part of the light emitting element and the wiring formed on the base are fixed by the conductive fixing member layer,
There is a conductive fixing member layer only below the light emitting element,
The light-emitting element assembly, wherein the conductive fixing member layer is made of ITO or IZO.
発光素子の接続部と基体上に形成された配線とが、導電性固定部材層にて固定されており、
導電性固定部材層は、少なくとも、金属原子、炭素原子及び酸素原子から構成されていることを特徴とする発光素子組立体。
The connection part of the light emitting element and the wiring formed on the base are fixed by the conductive fixing member layer,
The conductive fixing member layer is composed of at least a metal atom, a carbon atom, and an oxygen atom.
JP2007261974A 2007-07-11 2007-10-05 Method for electrically connecting element to wiring and method for manufacturing light emitting element assembly Expired - Fee Related JP4396754B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007261974A JP4396754B2 (en) 2007-07-11 2007-10-05 Method for electrically connecting element to wiring and method for manufacturing light emitting element assembly
US12/163,636 US7838410B2 (en) 2007-07-11 2008-06-27 Method of electrically connecting element to wiring, method of producing light-emitting element assembly, and light-emitting element assembly

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007181727 2007-07-11
JP2007261974A JP4396754B2 (en) 2007-07-11 2007-10-05 Method for electrically connecting element to wiring and method for manufacturing light emitting element assembly

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009038331A true JP2009038331A (en) 2009-02-19
JP4396754B2 JP4396754B2 (en) 2010-01-13

Family

ID=40439955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007261974A Expired - Fee Related JP4396754B2 (en) 2007-07-11 2007-10-05 Method for electrically connecting element to wiring and method for manufacturing light emitting element assembly

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4396754B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011049322A (en) * 2009-08-26 2011-03-10 Toshiba Corp Semiconductor light-emitting element and method for manufacturing the same
JP2014225569A (en) * 2013-05-16 2014-12-04 ソニー株式会社 Method for manufacturing mounting board and method for manufacturing electronic apparatus
JP2018032740A (en) * 2016-08-24 2018-03-01 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting apparatus
WO2018038153A1 (en) * 2016-08-24 2018-03-01 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP2018117106A (en) * 2017-01-21 2018-07-26 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting apparatus
JP2019114659A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP2019114660A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP2020194957A (en) * 2019-05-27 2020-12-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung Light source, manufacturing method for the same, and position determination apparatus including light source

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10228249A (en) * 1996-12-12 1998-08-25 Nichia Chem Ind Ltd Light emitting diode and LED display device using the same
JP2005317941A (en) * 2004-03-29 2005-11-10 Showa Denko Kk Pn junction type compound semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP2006135236A (en) * 2004-11-09 2006-05-25 Seiko Epson Corp Electronic device mounting method, circuit board, and electronic apparatus
JP2006147648A (en) * 2004-11-16 2006-06-08 Seiko Epson Corp Electronic device apparatus manufacturing method, electronic device apparatus, electronic device apparatus manufacturing apparatus, and electronic apparatus
JP2006165506A (en) * 2004-11-11 2006-06-22 Seiko Epson Corp Mounting board and electronic equipment
JP2008135518A (en) * 2006-11-28 2008-06-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting structure and manufacturing method thereof
WO2008078478A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Panasonic Corporation Conductive bump, method for manufacturing the conductive bump, semiconductor device and method for manufacturing the semiconductor device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10228249A (en) * 1996-12-12 1998-08-25 Nichia Chem Ind Ltd Light emitting diode and LED display device using the same
JP2005317941A (en) * 2004-03-29 2005-11-10 Showa Denko Kk Pn junction type compound semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP2006135236A (en) * 2004-11-09 2006-05-25 Seiko Epson Corp Electronic device mounting method, circuit board, and electronic apparatus
JP2006165506A (en) * 2004-11-11 2006-06-22 Seiko Epson Corp Mounting board and electronic equipment
JP2006147648A (en) * 2004-11-16 2006-06-08 Seiko Epson Corp Electronic device apparatus manufacturing method, electronic device apparatus, electronic device apparatus manufacturing apparatus, and electronic apparatus
JP2008135518A (en) * 2006-11-28 2008-06-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting structure and manufacturing method thereof
WO2008078478A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Panasonic Corporation Conductive bump, method for manufacturing the conductive bump, semiconductor device and method for manufacturing the semiconductor device

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011049322A (en) * 2009-08-26 2011-03-10 Toshiba Corp Semiconductor light-emitting element and method for manufacturing the same
US8791498B2 (en) 2009-08-26 2014-07-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
JP2014225569A (en) * 2013-05-16 2014-12-04 ソニー株式会社 Method for manufacturing mounting board and method for manufacturing electronic apparatus
US11370047B2 (en) 2013-05-16 2022-06-28 Sony Semiconductor Solutions Corporation Method of manufacturing mounting substrate and method of manufacturing electronic apparatus
WO2018038153A1 (en) * 2016-08-24 2018-03-01 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
KR20190040493A (en) * 2016-08-24 2019-04-18 토레 엔지니어링 가부시키가이샤 Mounting method and mounting apparatus
TWI723209B (en) * 2016-08-24 2021-04-01 日商東麗工程股份有限公司 Installation method and installation device
JP2018032740A (en) * 2016-08-24 2018-03-01 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting apparatus
KR102422604B1 (en) * 2016-08-24 2022-07-19 토레 엔지니어링 가부시키가이샤 Mounting method and mounting device
US11495571B2 (en) 2016-08-24 2022-11-08 Toray Engineering Co., Ltd. Mounting method and mounting device
JP2018117106A (en) * 2017-01-21 2018-07-26 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting apparatus
JP2019114659A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP2019114660A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP6990577B2 (en) 2017-12-22 2022-01-12 東レエンジニアリング株式会社 Mounting method and mounting device
JP2020194957A (en) * 2019-05-27 2020-12-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung Light source, manufacturing method for the same, and position determination apparatus including light source
JP7514101B2 (en) 2019-05-27 2024-07-10 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング Light source, its manufacturing method, and position measuring device equipped with the light source

Also Published As

Publication number Publication date
JP4396754B2 (en) 2010-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7838410B2 (en) Method of electrically connecting element to wiring, method of producing light-emitting element assembly, and light-emitting element assembly
JP4396754B2 (en) Method for electrically connecting element to wiring and method for manufacturing light emitting element assembly
CN113629097B (en) Display device and method of forming the same
CN101197355B (en) Electronic device and manufacturing method thereof, light-emitting diode display unit and manufacturing method thereof
CN115498088B (en) Micro light emitting diode and its preparation method
JP2010245365A (en) Semiconductor light emitting device assembly manufacturing method, semiconductor light emitting device, electronic apparatus, and image display apparatus
US20180286734A1 (en) Micro-device pockets for transfer printing
JP4400327B2 (en) Wiring formation method for tile-shaped element
US20150327388A1 (en) Electrically Bonded Arrays of Transfer Printed Active Components
US10157880B2 (en) Micro-transfer printing with volatile adhesive layer
KR20110030317A (en) Semiconductor light emitting element and its manufacturing method, image display apparatus, and electronic device
CN110610893B (en) Bearing structure of light emitting diode and manufacturing method thereof
EP3726576B1 (en) Method for forming a display device
US10566214B1 (en) Seed layer free nanoporous metal deposition for bonding
CN112992884A (en) Display module, manufacturing method thereof and electronic equipment
JP2008192689A (en) Electrode, thin film element, circuit board, wiring formation method, and circuit board manufacturing method
US20220181531A1 (en) Display module, manufacturing method thereof, and electronic device
JP6709046B2 (en) Semiconductor light emitting device and method of manufacturing semiconductor light emitting device
WO2009072675A1 (en) Control substrate and control substrate manufacturing method
CN119447123A (en) Semiconductor element arrangement structure and manufacturing method thereof
KR100752509B1 (en) Electron-emitting device, method for manufacturing same, and electron-emitting display device using same, and method for manufacturing same
JP2005183031A (en) Substrate assembly, method for manufacturing substrate assembly, electro-optical device, and electronic apparatus
JP3214980B2 (en) Semiconductor light emitting device
TWI222761B (en) Light-emitting diode and its manufacturing method
CN116314479A (en) Micro light-emitting chip array and preparation method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090714

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090903

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090929

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091012

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4396754

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees