JP2009025059A - Ｅｍｉ測定システム及びｅｍｉ測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ＭＨ_Z 帯とＧＨ_Z 帯は交互に測定する場合があり、その都度アンテナと測定器の接続変更、アンテナの距離変更、及び測定器の周波数設定等を変更する必要があり、手間がかかっていた。装置開発段階ではＥＭＩ測定を繰り返して行う必要があり、装置開発遅延の問題となっている。
【解決手段】２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するＭＨ_Z 帯アンテナ１２とし、他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナ１７として、個別にアンテナ昇降台１１、１６に設置してアンテナの高さを可変できるようにすると共に、２種類のアンテナはお互いの電波反射影響を抑えるため、被測定装置ＥＵＴを中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるようにした。
【選択図】図１

Description

本発明は、デスクトップＰＣ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）等のＥＭＩ測定において、問題となるノイズ源や放射源がどの周波数帯域のノイズレベルに影響があるかを速やかに調査可能なＥＭＩ測定システム及びＥＭＩ測定方法に関する。

昨今の情報技術装置（ＩＴＥ）は、ＣＰＵクロック周波数の高速化、プリント基板の高密度実装化、装置の軽量化などによって、電波対策（ＥＭＩ対策）及び静電気対策（ＥＳＤ対策）がますます困難になってきている。

ノートＰＣ、プリンターなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）は、内蔵基板に存在するＩＣとそのインタフェースによって、広範囲の周波数帯域でいろいろなノイズ（広帯域ノイズ、狭帯域ノイズ）が放射される。これらのノイズをＥＭＣ規制で規定されている許容値以内に抑えないと製品としての情報技術装置（ＩＴＥ）を出荷することができない。

そのためには、装置出荷に影響を与えるノイズ源又は放射源に対し、ＥＭＩ対策（ＥＭＩフィルターの挿入等）や構造対策（ガスケットや導電布の貼付など）を行い、装置全体の許容値を規定値以内になるようにする。

そこで、ＥＭＩ対策を実施する者は、それらのノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策を講じることが重要である。なお、ＥＭＩ規制（Electro-Magnetic Interference ）は、妨害電波規制のことである。

(1) ：従来例１
図５は従来例１の説明図である。以下、図５に基づいて従来例１を説明する。図５に示したように、外界からの電波を遮断した電波暗室１と、前記電波暗室１の外側に設けたＥＭＩ測定室２からなり、電波暗室１には、被試験装置を載せる非導電性机（図示省略）と、非導電性机を載せて回転可能なターンテーブル１４と、被試験装置（以下、「ＥＵＴ」とも記す）から放射されるノイズを検出するためのアンテナ（ＭＨ_Z 帯アンテナ１２、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７）と、アンテナ昇降台１１等を設置する（ＥＵＴ：Equipment Under Test）。

また、ＥＭＩ測定室２には、ターンテーブル１４の回転制御を行うターンテーブルコントローラ２４と、アンテナ昇降台コントローラ２１と、測定用ＰＣ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）２３と、ＥＭＩ測定器２２（例えば、スペクトルアナライザ）等を設置する。

また、電波暗室１には、周囲をシールド壁３８により構成し、その内側には電波吸収体４０を設置する。更に電波暗室１とＥＭＩ測定室２とを人が出入りするための開閉扉（図示省略）が設けてある。そして、アンテナ（１２、１７）とＥＭＩ測定器２２との間、及びアンテナ昇降台コントローラ２１とアンテナ昇降台１１との間をケーブル４１により接続する。

また、ターンテーブル１４とターンテーブルコントローラ２４との間をケーブル４１により接続する。更に、ターンテーブルコントローラ２４、アンテナ昇降台コントローラ２１、ＥＭＩ測定器２２をそれぞれ測定用ＰＣ２３にケーブル等で接続する。

図５に示したＥＭＩ測定システムにおいてＥＭＩ測定を行う場合、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定する際には、アンテナ昇降台１１にＭＨ_Z 帯アンテナ１２を設置し、１ＧＨ_Z 以上を測定する際には、アンテナ昇降台１１にＧＨ_Z 帯アンテナ１７を設置し、これらの各アンテナとＥＭＩ測定器２２との接続変更を行って測定する。

また、ＥＵＴとＭＨ_Z 帯アンテナ１２との間の距離は１０ｍとし、ＥＵＴとＧＨ_Z 帯アンテナ１７との間の距離は３ｍとして測定する。この場合、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z のＭＨ_Z 帯と１ＧＨ_Z 以上のＧＨ_Z 帯は交互に測定する場合があり、その都度アンテナ（１２、１７）とＥＭＩ測定器２２の接続変更、アンテナの距離変更、及び測定器の周波数設定等を変更する必要があり、手間がかかっていた。

(2) ：従来例２
以下、特許文献１を従来例２として説明する。従来例２には次のような内容が記載されている。

(a) ：「受信アンテナの取り替え、設置の手間を省くことが可能で、受信アンテナの設置状態に起因する測定値のバラツキを低減でき、測定時間の短縮を図ることのできる放射電磁妨害波の測定方法及び装置を提供する。」・・・要約の欄を参照
(b) ：「超短波帯乃至１ＧＨ_Z を超える極超短波帯における放射電磁妨害波の測定方法及び装置に係り、とくに超１ＧＨ_Z 帯（１ＧＨ_Z 〜１８ＧＨ_Z ）における放射電磁妨害波の測定方法及び装置に関して、電波無響室に用いて能率の良い測定作業条件、取得テータの再現性の良い測定作業条件を提供することに関する。」・・・段落番号［０００１］参照
(3) ：従来例３
以下、特許文献２を従来例３として説明する。従来例３には次のような内容が記載されている。

(a) ：「動的に周波数が変化する電磁波ノイズを正確に測定可能にし、さらに測定室内においても電磁波ノイズを正確に測定可能にするなど、測定対象物の状態によらず正確な電磁波ノイズの測定を可能にする。」・・・要約の欄を参照
(b) ：「中央制御装置８は、センサ位置移動装置４により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動して測定させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形データをデータ記憶装置６に記憶させる。さらに中央制御装置８は全ての測定点を測定したら表示装置９で特定周波数の磁界強度分布を表示させる。このため、任意のデジタル回路１に対して動的に周波数が変化する磁界の強度分布をより正確に測定することができる。」・・・要約の欄を参照
(4) ：従来例４
以下、特許文献３を従来例４として説明する。従来例４には次のような内容が記載されている。

(a) ：「作業者の経験や勘にたよる事無く、電子機器が発生する不要輻射の強度が最大となる方向を迅速かつ的確に特定することができる不要輻射測定装置を提供すること。」・・・要約の欄を参照
(b) ：「測定対象物の電子機器ＥＵＴを取り囲むように、複数のアンテナ素子１２０が天球状に配置され、電子機器ＥＵＴが発生する不要輻射を複数のアンテナ素子１２０で受信する。信号処理部により、複数のアンテナ素子１２０で受信された信号から最大強度の不要輻射を受信したアンテナ素子１２０を特定する。そして、この特定されたアンテナ素子１２０と電子機器ＥＵＴの位置関係に基づき、最大強度を有する不要輻射の方向を特定する。」・・・要約の欄を参照
(5) ：従来例５
以下、特許文献４を従来例５として説明する。従来例５には次のような内容が記載されている。

(a) ：「電波測定装置に関し、従来よりも測定時間を短縮し、特に大量の測定を行う場合には、大幅な測定日数を削減することを目的とする。」・・・要約の欄を参照
(b) ：「回転手段、前記昇降可能アンテナ、前記スペクトラム解析手段、及び前記画像記録手段について種々の制御を行う制御手段とを有し、前記制御手段には、スペクトラム波形以外の項目を、前記被測定装置を回転させている間に記録するように指示する回転時記録指示手段を設けるように構成する。」・・・要約の欄を参照
特開２００１−１１６７８５号公報 特開２００２−２７７４９９号公報 特開２００３−１６７０１３号公報 特開平８−８６８２１号公報

(1) ：ＩＴＥ（Information Technology Equipment）には各国のＥＭＩ規制（Electro-Magnetic Interference ：妨害電波規制）が義務付けられており、装置開発においてはＥＭＩ測定が頻繁に行なわれる。

国際規格のＣＩＳＰＲに基づき、従来から３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z をＭＨ_Z 帯アンテナで測定する必要があり、全周波数範囲において規制値を満足する必要がある。これに加え、西暦２００７年以降は１ＧＨ_Z 以上の周波数範囲が新たに規制化され、ＧＨ_Z 帯アンテナでの測定が開始されている。

前記従来例１では、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定する際には、アンテナ昇降台にＭＨ_Z 帯アンテナを設置し、一方でＭＨ_Z 帯とＧＨ_Z 帯は交互に測定する場合があり、その都度アンテナと測定器の接続変更、アンテナの距離変更、及び測定器の周波数設定等を変更する必要があり、手間がかかっていた。装置開発段階ではＥＭＩ測定を繰り返して行う必要があり、装置開発遅延の問題となっている。

(2) ：従来例２は、受信アンテナの取り替え、設置の手間を省くことが可能で、受信アンテナの設置状態に起因する測定値のバラツキを低減でき、測定時間の短縮を図ることのできる放射妨害波の測定方法及び装置を提供するという内容である。しかし、従来例２には本発明の必須構成要件（３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z のＭＨ_Z 帯アンテナと、１ＧＨ_Z 以上のＧＨ_Z 帯アンテナをそれぞれ個別のアンテナ昇降台に設置し、かつそれぞれ独立したＥＭＩ測定器に接続し、ターンテーブルを回転させながら同時にＥＭＩ測定を行うこと）が無く、本発明の参考程度の内容である。

(3) ：従来例３は、動的に周波数が変化する電磁波ノイズを正確に測定可能にし、さらに測定室内においても電磁波ノイズを正確に測定可能にするなど、測定対象物の状態によらず正確な電磁波ノイズの測定を可能にするという内容である。しかし、従来例３には前記のような本発明の必須構成要件が無く、本発明の参考程度の内容である。

(4) ：従来例４は、作業者の経験や勘にたよる事無く、電子機器が発生する不要輻射の強度が最大となる方向を迅速かつ的確に特定することができる不要輻射測定装置を提供するという内容である。しかし、従来例４には本発明の前記のような必須構成要件が無く、本発明の参考程度の内容である。

(5) ：従来例５は、電波測定装置に関し、従来よりも測定時間を短縮し、特に大量の測定を行う場合には、大幅な測定日数を削減するという内容である。しかし、従来例５には前記のような本発明の必須構成要件が無く、本発明の参考程度の内容である。

本発明は前記従来の課題を解決し、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z のＭＨ_Z 帯アンテナと、１ＧＨ_Z 以上のＧＨ_Z 帯アンテナをそれぞれ個別のアンテナ昇降台に設置し、かつそれぞれ独立したＥＭＩ測定器に接続し、ターンテーブルを回転させながら同時にＥＭＩ測定を行うことにより、面倒な接続変更や設定変更を回避できるようにすることを目的とする。

本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。

(1) ：外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるための２種類のアンテナを配置し、前記電波暗室外には、前記アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、前記測定用制御装置の制御により、前記ターンテーブルを回転させながら前記２種類のアンテナにより、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定システムであって、前記２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナとし、前記他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナとして、個別にアンテナ昇降台に設置してアンテナの高さを可変できるように構成すると共に、前記２種類のアンテナは、お互いの電波反射影響を抑えるため、被測定装置（ＥＵＴ）を中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるように構成した。

(2) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記ＥＭＩ測定器を少なくとも２台で構成し、前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナを、それぞれ前記電波暗室の外に設置した専用のＥＭＩ測定器に個別に接続した。

(3) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記ＭＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定し、前記ＭＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定するように、前記両方のアンテナを異なる偏波に設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止するようにした。

(4) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記アンテナ昇降台により、前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナの高さを設定する場合、両方のアンテナの高さを異なる高さに設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止した。

(5) ：外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるためのアンテナを配置し、前記電波暗室外には、アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、前記測定用制御装置の制御により前記ターンテーブルを回転させながら、前記２種類のアンテナにより、周波数の異なる２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定方法であって、前記測定用制御装置の制御により、ＭＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台と、ＧＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台を、それぞれの周波数に適したアンテナの高さに設定する第１の手順と、前記第１の手順が終了した時点で、それそれのアンテナに接続されたＥＭＩ測定器をデータ書き込み状態にする第２の手順と、前記第２の手順が終了した時点で、前記ターンテーブルを回転させ、回転が終了した時点で、それぞれのＥＭＩ測定器のデータ書き込みを終了する第３の手順と、前記第３の手順が終了した時点で、測定したデータを取り込む第４の手順とを実行することでＥＭＩ測定を行う。

（作用）
以下、前記構成に基づく本発明の作用を説明する。

(a) ：前記(1) の作用
前記(1) では、測定用制御装置の制御により、ターンテーブルを回転させながら２種類のアンテナにより、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うことができる。

この場合、２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナとし、他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナとして、個別にアンテナ昇降台に設置してアンテナの高さを可変できるようにしてＥＭＩ測定ができる。また、２種類のアンテナは、お互いの電波反射影響を抑えるため、被測定装置（ＥＵＴ）を中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができる。

このように、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z のＭＨ_Z 帯アンテナと、１ＧＨ_Z 以上のＧＨ_Z 帯アンテナをそれぞれ個別のアンテナ昇降台に設置し、かつそれぞれ独立したＥＭＩ測定器に接続し、ターンテーブルを回転させながら同時にＥＭＩ測定を行うことにより、面倒な接続変更や設定変更を回避できる。

(b) ：前記(2) の作用
前記(2) では、ＥＭＩ測定器を少なくとも２台で構成し、ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナを、それぞれ電波暗室の外に設置した専用のＥＭＩ測定器に個別に接続してＥＭＩ測定を行う。このようにすれば、ターンテーブルを回転させながら同時にＥＭＩ測定を行うことにより、面倒な接続変更や設定変更を回避できる。

(c) ：前記(3) の作用
前記(3) では、両方のアンテナを異なる偏波に設定してＥＭＩ測定ができるので、反射波が他のアンテナに入ることを防止できる。

(d) ：前記(4) の作用
前記(4) では、両方のアンテナの高さを異なる高さに設定しているので、反射波が他のアンテナに入ることを防止できる。

(e) ：前記(5) の作用
前記(5) では、測定用制御装置の制御により、ＭＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台と、ＧＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台を、それぞれの周波数に適したアンテナの高さに設定する第１の手順と、前記第１の手順が終了した時点で、それそれのアンテナに接続されたＥＭＩ測定器をデータ書き込み状態にする第２の手順と、前記第２の手順が終了した時点で、前記ターンテーブルを回転させ、回転が終了した時点で、それぞれのＥＭＩ測定器のデータ書き込みを終了する第３の手順と、前記第３の手順が終了した時点で、測定したデータを取り込む第４の手順とを実行することでＥＭＩ測定を行う。このような手順によりＥＭＩ測定を行うので、面倒な接続変更や設定変更を回避できる。

本発明は請求項１乃至５により次のような効果がある。

(1) ：従来よりもターンテーブルの回転回数を半減してＭＨ_Z 帯、ＧＨ_Z 帯の両方同時、かつ、水平方向、垂直方向両方の測定を行うことができる。

(2) ：この時、例えば、ＭＨ_Z 帯アンテナが水平方向の反射波が発生することがあるが、ＧＨ_Z 帯アンテナは垂直方向に設定しているため、ＧＨ_Z 帯アンテナに反射波が入って測定精度を悪化させるようなことはない。これはＧＨ_Z 帯アンテナの反射波及び垂直方向の反射波についても同様である。

(3) ：例えば、ＭＨ_Z 帯アンテナが高さ１ｍのときにＧＨ_Z 帯アンテナは高さ２ｍとなるように、すなわち両方のアンテナを異なる高さに設定してあるため、反射波が他のアンテナに入って測定精度を悪化させることを防止できる。

(4) ：以上のように、ＭＨ_Z 帯測定とＧＨ_Z 帯測定の設定を変えずに済むため、ＥＭＩ測定の準備時間を削減でき、かつアンテナの反射波の影響を抑えることができるため、測定信頼度を損なわず、かつ、ターンテーブルの回転数を半減して測定時間を半減できるため、装置開発時間を半減できるため、装置開発時間を短縮できる。

§１：ＥＭＩ測定システムの概要説明
図１は本発明の原理説明図である。以下、図１に基づいて、ＥＭＩ測定システムの概要を説明する。

(1) ：ＥＭＩ測定システムは、外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室１内に、ＥＵＴ（被試験装置）を載せて回転させることが可能なターンテーブル１４と、ＥＵＴから放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるための２種類のアンテナ１２、１７を配置し、電波暗室１の外側には、アンテナ１２、１７からの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器２２、２６と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置２３Ａ（例えば、測定用ＰＣ）を設置し、測定用制御装置２３Ａの制御により、ターンテーブル１４を回転させながら２種類のアンテナ１２、１７により、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定システムである。

前記ＥＭＩ測定システムでは、２種類のアンテナ１２、１７の内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナ１２とし、他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナ１７として、個別にアンテナ昇降台１１、１６に設置してアンテナの高さを可変できるように構成すると共に、２種類のアンテナ１２、１７は、お互いの電波反射影響を抑えるため、ＥＵＴを中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるように構成している。

(2) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記ＥＭＩ測定器を少なくとも２台（２２、２６）で構成し、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２と、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７を、それぞれ電波暗室１の外側に設置した専用のＥＭＩ測定器２２、２６に個別に接続する。すなわち、ＭＨ_Z 帯アンテナをＥＭＩ測定器２２に接続し、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７をＥＭＩ測定器２６に接続する。

(3) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２を水平方向に設定した場合、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７を垂直方向に設定し、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２を垂直方向に設定した場合、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７を水平方向に設定するように、両方のアンテナ１２、１７を異なる偏波に設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止するようにした。

(4) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、アンテナ昇降台１１、１６により、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２と、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７の高さを設定する場合、両方のアンテナの高さを異なる高さに設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止した。

§２：電波暗室及びＥＭＩ測定室の説明
図２は電波暗室及びＥＭＩ測定室の説明図である。以下、図２に基づいて電波暗室及びＥＭＩ測定室の詳細な構成を説明する。

このＥＭＩ測定システム例は、電波暗室１内に、ＥＵＴ（被試験装置）を載せて回転させることが可能なターンテーブル１４と、ＥＵＴから放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるための２種類のアンテナを配置する。この場合、２種類のアンテナとしては、３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナ１２と、１ＧＨ_Z 以上の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナ１７とを用いる。

また、電波暗室１の外側には、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２と、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７からの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器２２、２６と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用ＰＣ２３を設置し、測定用ＰＣ２３の制御により、ターンテーブル１４を回転させながら２種類のアンテナにより、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行う。

また、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２はアンテナ昇降台１１に設置し、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７はアンテナ昇降台１６に設置して、アンテナの高さを個別に可変できるように構成すると共に、２種類のアンテナは、お互いの電波反射影響を抑えるため、ＥＵＴを中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるように構成している。

そして、ターンテーブル１４をターンテーブルコントローラ２４にケーブル４１で接続し、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２をＥＭＩ測定器２２にケーブル４１で接続し、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７をＥＭＩ測定器２６にケーブル４１で接続し、アンテナ昇降台１１をアンテナ昇降台コントローラ２１にケーブル４１で接続し、アンテナ昇降台１６をアンテナ昇降台コントローラ２５にケーブル４１で接続する。

また、前記アンテナ昇降台コントローラ２１、２５、ＥＭＩ測定器２２、２６、ターンテーブルコントローラ２４を全て測定用ＰＣ２３と接続しておき、測定用ＰＣ２３の制御により前記各部が動作するようにしておく。従って、測定用ＰＣ２３には、前記制御に必要なプログラムや各種データ（例えば、各アンテナの高さ）を予め格納しておく。

また、電波暗室１には、周囲をシールド壁３８により構成し、その内側には電波吸収体４０を設置する。更に電波暗室１とＥＭＩ測定室２とを人が出入りするための開閉扉（図示省略）が設けてある。

なお、前記ＭＨ_Z 帯アンテナ１２としては、例えば、バイコニカル・ログペリオディック・アンテナ（Biconical-Log-Periodic-Antenna）を使用し、前記G Ｈ_Z 帯アンテナ１7 としては、例えば、ダブル・リッジド・アンテナ（Double-Ridged-antenna ）を使用する。このようなアンテナを使用した場合、アンテナの構造から水平方面や垂直方向を見つけるのは簡単である。

§３：ＥＭＩ測定方法の説明
以下、図２に基づきＥＭＩ測定方法を説明する。ＥＭＩ測定を行う際の制御は測定用ＰＣ２３から行う（制御用プログラムを起動して測定時の制御を行う）。

ＭＨ_Z 帯アンテナ１２は常にアンテナ昇降台１１に取り付けたままにしておき、ＥＵＴからの距離を１０ｍに設置すると共に、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２はＥＭＩ測定器２２に接続し、アンテナ昇降台１１はアンテナ昇降台コントローラ２１に接続しておく。

同様に、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７は常にアンテナ昇降台１６に取り付けたままにしておき、ＥＵＴからの距離を３ｍに設置すると共に、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７はＥＭＩ測定器２６に接続し、アンテナ昇降台１６はアンテナ昇降台コントローラ２５に接続しておく。この時、お互いのアンテナの電波反射影響を抑えるため、ＥＵＴを中心にして、互いに両者を９０°の向きに設置する。

先ず、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２を水平方向に設定し、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７は垂直方向に設定する。すなわち、両方の偏波が異なるように設定する。次に、アンテナ昇降台１１を、予め準備されたＭＨ_Z 測定用の高さに設定し、ＥＭＩ測定器２２の周波数範囲を予め準備されたＭＨ_Z 周波数に設定する。

同様に、次に、アンテナ昇降台１６を、予め設定されたＧＨ_Z 測定用の高さに設定し、ＥＭＩ測定器２６の周波数範囲を予め設定されたＧＨ_Z 周波数に設定する。この時、アンテナ高さを複数通り変えて測定する場合が多いが、例えば、アンテナを高さ１ｍと２ｍの２通り測定する場合、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２の高さを１ｍにした場合、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７高さを２ｍに設定する。すなわち、両方のアンテナ高さを異なるようにする。

次に、ＥＭＩ測定器２２、２６を両方とも最大値保持状態に設定しておき、ターンテーブル１４の回転を開始する。ターンテーブル１４が回転している間、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２とＧＨ_Z 帯アンテナ１７は同時に異なる周波数の電波を受信する。受信した電波はケーブル４１（この場合は、同軸ケーブル）を伝わってそれぞれのＥＭＩ測定器２２、２６に入力される。ターンテーブル１４が１回転または数回転した時点でそれぞれのＥＭＩ測定器の受信を停止する。この時点でＥＭＩ測定器２２、２６はそれぞれＭＨ_Z 帯とＧＨ_Z 帯の最大電波を保持している。

測定用ＰＣ２３はＥＭＩ測定器２２、ＥＭＩ測定器２６からそれぞれの測定データを読み取り、結果を保持する。次に、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２を垂直方向に設定し、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７を水平方向に設定し、同様の手順を行うことでＥＭＩ測定を行う。

§４：測定用ＰＣの制御によるＥＭＩ測定処理の説明
図３は測定用ＰＣの制御によるＥＭＩ測定処理フローチャートである。以下、図３に基づいて、測定用ＰＣの制御によるＥＭＩ測定処理を説明する。なお、図３においてＳ１〜Ｓ５は各処理ステップを示す。

先ず、測定用ＰＣ２３の制御によるＥＭＩ測定処理が開始されると、測定用ＰＣ２３の制御（ＥＭＩ測定用プログラムの制御）により、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２用のアンテナ昇降台１１と、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７用のアンテナ昇降台１６を、それぞれの周波数に適した高さ（予め、測定用ＰＣ２３に格納されたデータを使用）に設定する（Ｓ１）。次に、ＭＨ_Z 帯アンテナ１２用のＥＭＩ測定器２２と、ＧＨ_Z 帯アンテナ１７用のＥＭＩ測定器２６をそれぞれデータ書き込み状態に設定する（Ｓ２）。

次に、測定用ＰＣ２３の制御により、ターンテーブル１４を回転させる（Ｓ３）。そして、測定用ＰＣ２３は、ターンテーブル１４の回転は終了したか否かを判断し（Ｓ４）、ターンテーブル１４の回転が終了したら、測定用ＰＣ２３はそれぞれのＥＭＩ測定器２２、２６のデータ書き込みを終了し、データ（ＥＭＩ測定データ）を取り込む（Ｓ５）。そして測定用ＰＣ２３の制御によるＥＭＩ測定処理を終了する。

§５：製品出荷までの全プロセスの概要説明
図４は製品出荷までの全プロセスの概要説明図である。以下、図４に基づいて、製品出荷までの全プロセス（製品に関する市場調査から製品出荷までを含めた情報技術装置の製造方法の全プロセス）の概要を説明する。なお、図４においてＳ１１〜Ｓ１９は各処理ステップを示す。

先ず、製品（情報技術装置）に関する市場調査を行い、製品化計画を立てる（Ｓ１１）。次に、製品化計画を立てた製品に関して製品の設計を行い（Ｓ１２）、製品の製造及び組み立てを行う（Ｓ１３）。次に、製品に関して各種の試験を行い（Ｓ１４）、ＥＭＩ測定を行う（Ｓ１５）。この場合、前記ＥＭＩ測定は前記の説明（§３、§４等の説明を参照）のようにして行う。

そして、ＥＭＩ測定値は、規制値を満足しているか否かを判断し（Ｓ１６）、規制値を満足していなければ、原因調査及び対策を行い（Ｓ１７）、製品の設計変更を行う（Ｓ１８）。次に、製品の改造を行い（Ｓ１９）、Ｓ１５の処理へ移行する。また、Ｓ１６の処理において、ＥＭＩ測定値が、規制値を満足していると判断したら、製品出荷（情報技術装置の出荷）となり、この処理を終了する。

§６：付記
前記の説明に対し、次のような構成を付記する。

（付記１）
外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるための２種類のアンテナを配置し、前記電波暗室外には、前記アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、
前記測定用制御装置の制御により、前記ターンテーブルを回転させながら前記２種類のアンテナにより、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定システムであって、
前記２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナとし、前記他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナとして、個別にアンテナ昇降台に設置してアンテナの高さを可変できるように構成すると共に、前記２種類のアンテナは、お互いの電波反射影響を抑えるため、被測定装置（ＥＵＴ）を中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるように構成したことを特徴とするＥＭＩ測定システム。

（付記２）
前記ＥＭＩ測定器を少なくとも２台で構成し、
前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナを、それぞれ前記電波暗室の外に設置した専用のＥＭＩ測定器に個別に接続したことを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定システム。

（付記３）
前記ＭＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定し、前記ＭＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定するように、前記両方のアンテナを異なる偏波に設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止するようにしたことを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定システム。

（付記４）
前記アンテナ昇降台により、前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナの高さを設定する場合、両方のアンテナの高さを異なる高さに設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止したことを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定システム。

（付記５）
外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるためのアンテナを配置し、前記電波暗室外には、アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、
前記測定用制御装置の制御により前記ターンテーブルを回転させながら、前記２種類のアンテナにより、周波数の異なる２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定方法であって、
前記測定用制御装置の制御により、ＭＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台と、ＧＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台を、それぞれの周波数に適したアンテナの高さに設定する第１の手順と、
前記第１の手順が終了した時点で、それそれのアンテナに接続されたＥＭＩ測定器をデータ書き込み状態にする第２の手順と、
前記第２の手順が終了した時点で、前記ターンテーブルを回転させ、回転が終了した時点で、それぞれのＥＭＩ測定器のデータ書き込みを終了する第３の手順と、
前記第３の手順が終了した時点で、測定したデータを取り込む第４の手順とを実行することでＥＭＩ測定を行うことを特徴とするＥＭＩ測定方法。

（付記６）
製品に関する市場調査を行い、製品化計画を立てる第１のステップと、
製品化計画を立てた製品に関して製品の設計を行う第２のステップと、
製品の製造及び組み立てを行う第３のステップと、
製品に関して各種の試験を行う第４のステップと、
ＥＭＩ測定を行う第５のステップと、
ＥＭＩ測定値は、規制値を満足しているか否かを判断する第６のステップと、
規制値を満足していなければ、原因調査及び対策を行い、製品の設計変更を行い、製品の改造を行う第７のステップと、
ＥＭＩ測定値が、規制値を満足していると判断したら、製品出荷とする第８のステップを実行することにより、情報技術装置を製造する情報技術装置の製造方法であって、
前記ＥＭＩ測定を行う第５のステップを実行する際、
３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z のＭＨ_Z 帯アンテナと、１ＧＨ_Z 以上のＧＨ_Z 帯アンテナをそれぞれ個別のアンテナ昇降台に設置し、かつそれぞれ独立したＥＭＩ測定器に接続し、ターンテーブルを回転させながら同時にＥＭＩ測定を行うことを特徴とする情報技術装置の製造方法。

（付記７）
前記ＥＭＩ測定を行う第５のステップを実行する際、
２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナとし、前記他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナとして、個別にアンテナ昇降台に設置してアンテナの高さを可変できるようにすると共に、２種類のアンテナは、被測定装置を中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定を行うことを特徴とする付記６記載の情報技術装置の製造方法。

なお、前記付記６、７によれば、ＭＨ_Z 帯測定とＧＨ_Z 帯測定の設定を変えずに済むため、ＥＭＩ測定の準備時間を削減でき、かつアンテナの反射波の影響を抑えることができるため、測定信頼度を損なわず、かつ、ターンテーブルの回転数を半減して測定時間を半減できるため、装置開発時間を半減できるため、製品の全製造時間を短縮できる。

本発明の原理説明図である。 実施の形態における電波暗室及びＥＭＩ測定室の説明図である。 実施の形態における測定用ＰＣの制御によるＥＭＩ測定処理フローチャートである。 実施の形態における製品出荷までの全プロセスの説明図である。 従来例１の説明図である。

符号の説明

１ 電波暗室
２ ＥＭＩ測定室
１１、１６ アンテナ昇降台
１２ ＭＨ_Z 帯アンテナ
１４ ターンテーブル
１７ ＧＨ_Z 帯アンテナ
２１ アンテナ昇降台コントローラ
２２、２６ ＥＭＩ測定器
２３ 測定用パーソナルコンピュータ（測定用ＰＣ）
２３Ａ 測定用制御装置
２４ ターンテーブルコントローラ
３８ シールド壁
４０ 電波吸収体
４１ ケーブル
ＥＵＴ 被測定装置

Claims (5)

1. 外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるための２種類のアンテナを配置し、前記電波暗室外には、前記アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、
   前記測定用制御装置の制御により、前記ターンテーブルを回転させながら前記２種類のアンテナにより、２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定システムであって、
   前記２種類のアンテナの内、一方のアンテナを３０ＭＨ_Z 〜１ＧＨ_Z を測定するためのＭＨ_Z 帯アンテナとし、前記他方のアンテナを１ＧＨ_Z 以上の周波数帯の測定を行うＧＨ_Z 帯アンテナとして、個別にアンテナ昇降台に設置してアンテナの高さを可変できるように構成すると共に、前記２種類のアンテナは、お互いの電波反射影響を抑えるため、被測定装置を中心にして、互いに９０°の向きに設置してＥＭＩ測定ができるように構成したことを特徴とするＥＭＩ測定システム。
2. 前記ＥＭＩ測定器を少なくとも２台で構成し、
   前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナを、それぞれ前記電波暗室の外に設置した専用のＥＭＩ測定器に個別に接続したことを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定システム。
3. 前記ＭＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定し、前記ＭＨ_Z 帯アンテナを垂直方向に設定した場合、前記ＧＨ_Z 帯アンテナを水平方向に設定するように、前記両方のアンテナを異なる偏波に設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止するようにしたことを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定システム。
4. 前記アンテナ昇降台により、前記ＭＨ_Z 帯アンテナと、ＧＨ_Z 帯アンテナの高さを設定する場合、両方のアンテナの高さを異なる高さに設定して、反射波が他のアンテナに入ることを防止したことを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定システム。
5. 外界からの電波を遮断したＥＭＩ測定用の電波暗室内に、被試験装置を載せて回転させることが可能なターンテーブルと、前記被試験装置から放射された電波の内、周波数帯域の異なる２種類の電波を受信させるためのアンテナを配置し、前記電波暗室外には、アンテナからの受信信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器と、ＥＭＩ測定全体の制御を行う測定用制御装置を設置し、
   前記測定用制御装置の制御により前記ターンテーブルを回転させながら、前記２種類のアンテナにより、周波数の異なる２種類の周波数帯域でのＥＭＩ測定を同時に行うＥＭＩ測定方法であって、
   前記測定用制御装置の制御により、ＭＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台と、ＧＨ_Z アンテナ用のアンテナ昇降台を、それぞれの周波数に適したアンテナの高さに設定する第１の手順と、
   前記第１の手順が終了した時点で、それそれのアンテナに接続されたＥＭＩ測定器をデータ書き込み状態にする第２の手順と、
   前記第２の手順が終了した時点で、前記ターンテーブルを回転させ、回転が終了した時点で、それぞれのＥＭＩ測定器のデータ書き込みを終了する第３の手順と、
   前記第３の手順が終了した時点で、測定したデータを取り込む第４の手順とを実行することでＥＭＩ測定を行うことを特徴とするＥＭＩ測定方法。

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