JP2009099395A - Plasma display panel manufacturing method and apparatus therefor - Google Patents
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Abstract
【課題】保護層表面の変質層を十分に除去でき、パネル寿命に優れたプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供する。
【解決手段】第1導体板3が前面基板1に接し、第2導体板4が背面基板2に接するように、第1導体板3および第2導体板4を前面基板1および背面基板2の外側に配置し、前面基板1および背面基板2の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板1と背面基板2との間にガスを供給しながら、第1導体板3と第2導体板4との間に電圧を印加して前面基板1と背面基板2との間にプラズマを発生させることを含んで成る製造方法。
【選択図】図2Disclosed is a method for producing a plasma display panel, which can sufficiently remove an altered layer on the surface of a protective layer and has an excellent panel life.
A first conductor plate and a second conductor plate are connected to a front substrate and a rear substrate so that a first conductor plate is in contact with a front substrate and a second conductor plate is in contact with a rear substrate. The first conductor plate 3 and the second conductor are disposed outside and supply gas between the front substrate 1 and the rear substrate 2 through a through hole provided in at least one of the front substrate 1 and the rear substrate 2. A manufacturing method comprising generating a plasma between a front substrate 1 and a back substrate 2 by applying a voltage between the plate 4 and the plate 4.
[Selection] Figure 2
Description
本発明は、テレビやコンピュータ等の画像表示に用いられるプラズマディスプレイパネルの製造方法に関すると共に、かかるプラズマディスプレイパネルを製造するための装置にも関する。より詳細には、保護層表面の変質層が好ましく除去される点で特徴を有するプラズマディスプレイパネルの製造方法、および、そのための装置に関する。 The present invention relates to a method of manufacturing a plasma display panel used for image display of a television or a computer, and also relates to an apparatus for manufacturing such a plasma display panel. More specifically, the present invention relates to a method for manufacturing a plasma display panel characterized in that an altered layer on the surface of a protective layer is preferably removed, and an apparatus therefor.
近年、大型の薄型ディスプレイの市場が拡大している。特に、表示が高精細で大型化が可能なプラズマディスプレイパネルの技術革新は盛んに進められている。 In recent years, the market for large thin displays has expanded. In particular, technological innovations in plasma display panels that can display large-size images with high definition are being actively promoted.
プラズマディスプレイパネル(以下、「PDP:Plasma Display Panel」とも称す)は、対向配置された前面基板と背面基板とから構成されている。前面基板および背面基板の周縁部は封着処理されており、前面基板と背面基板との間に形成された放電空間に放電ガス(例えばヘリウムまたはネオンなど)が封入されている。前面基板は、ガラス基板と表示電極と誘電体層と保護層とから一般に構成されている。より具体的に言うと、前面基板においては、ガラス基板の一方の主面上に表示電極がストライプ状に形成され、かかる表示電極を覆うように誘電体層が形成され、そして、誘電体層上に保護層が形成されている。一方、背面基板は、ガラス基板とアドレス電極と誘電体層と隔壁と蛍光体層(赤色、緑色および青色の蛍光体層)とから一般に構成されている。より具体的に言うと、背面基板においては、ガラス基板の一方の主面上にアドレス電極がストライプ状に形成され、かかるアドレス電極を覆うように誘電体層が形成されている。そして、誘電体層上に一定の間隔を空けて複数の隔壁が形成され、蛍光体層が、誘電体層上において隣接する隔壁間に形成されている。このようなPDPでは、放電空間における電圧の印加で発生した紫外線によって、各色の蛍光体層を励起させており、それによって、赤色、緑色および青色と発光させ、カラー画像表示を実現している。 A plasma display panel (hereinafter,: also referred to as "PDP P lasma D isplay P anel") is composed of a counter arranged front and rear substrates. The peripheral portions of the front substrate and the rear substrate are sealed, and a discharge gas (for example, helium or neon) is sealed in a discharge space formed between the front substrate and the rear substrate. The front substrate is generally composed of a glass substrate, a display electrode, a dielectric layer, and a protective layer. More specifically, in the front substrate, display electrodes are formed in stripes on one main surface of the glass substrate, a dielectric layer is formed so as to cover the display electrodes, and on the dielectric layer A protective layer is formed. On the other hand, the back substrate is generally composed of a glass substrate, address electrodes, dielectric layers, barrier ribs, and phosphor layers (red, green and blue phosphor layers). More specifically, in the back substrate, address electrodes are formed in a stripe shape on one main surface of the glass substrate, and a dielectric layer is formed so as to cover the address electrodes. A plurality of barrier ribs are formed on the dielectric layer at regular intervals, and a phosphor layer is formed between adjacent barrier ribs on the dielectric layer. In such a PDP, the phosphor layers of the respective colors are excited by ultraviolet rays generated by applying a voltage in the discharge space, thereby emitting red, green, and blue light to realize color image display.
図6を参照することによって、より詳細にPDPの構成について説明する。例えば3電極構造の面放電型PDP60は、第1ガラス基板31上に互いに平行に隣接配置された一対の表示電極32a,32bからなる電極対と、かかる電極対と直交するように配列されたアドレス電極42とを有して成る。また、図示するように、第1ガラス基板31の背面には、第1誘電体層33と保護膜34が設けられている。表示電極32a,32bによって面放電セル(表示の主放電セル)が画定され、一方の表示電極32bとアドレス電極42とによって単位発光領域の点灯又は非点灯を選択するためのアドレス放電セルが画定される。背面基板に設けられる蛍光体層45は、アドレス電極42を含めて第2ガラス基板41の内面を隔壁(リブ)45に沿って被覆するように設けられており、表示電極32a,32b間の面放電で生じた紫外線によって励起されて発光する。蛍光によって生じた光は、図6の「表示方向」に取り出され、画像表示が実現されることになる。フルカラー表示を行う場合には、表示画面を構成する各画素(ドット)に対して、R(赤),G(緑),B(青)のいわゆる3原色の蛍光体層46R,46G,46Bが対応づけられる。蛍光体層45とアドレス電極42との間には、第2誘電体層43が設けられている(例えば、特許文献1参照)。通常、各蛍光体層46R,46G,46Bは、スクリーン印刷法を用いて、粒状の所定発光色の蛍光物質を主成分とする蛍光体ペーストを各色毎に順に塗布して焼成することによって形成される。
The configuration of the PDP will be described in more detail with reference to FIG. For example, a surface
ここで、PDPの動作電圧は、保護層の2次電子放出係数に依存する。従って、仕事関数が酸化マグネシウムよりも小さいアルカリ土類金属の酸化物(例えば、酸化カルシウム、酸化ストロンチウム、酸化バリウムなど)を保護層として用いることで、動作電圧を低電圧化することが提案されている。しかしながら、これらのアルカリ土類金属の酸化物は吸湿性が高く、保護層形成後に雰囲気中または周囲の水分を吸着し得るので、保護層の表面部分が水酸化物または水和物などに変質し得、結果的に不安定な放電特性がもたらされるという問題があった。また、雰囲気中または周囲に二酸化炭素が存在する場合でも、保護層の表面部分が炭酸化合物に変質し得、同様に、不安定な放電特性がもたらされるという問題があった。 Here, the operating voltage of the PDP depends on the secondary electron emission coefficient of the protective layer. Accordingly, it has been proposed to reduce the operating voltage by using an alkaline earth metal oxide (eg, calcium oxide, strontium oxide, barium oxide, etc.) having a work function smaller than that of magnesium oxide as a protective layer. Yes. However, these alkaline earth metal oxides are highly hygroscopic and can adsorb moisture in or around the atmosphere after the protective layer is formed, so that the surface portion of the protective layer is transformed into hydroxide or hydrate. As a result, there is a problem that unstable discharge characteristics are brought about. In addition, even when carbon dioxide is present in or around the atmosphere, the surface portion of the protective layer can be transformed into a carbonic acid compound, and similarly, there is a problem that unstable discharge characteristics are brought about.
上記のような問題点に対処すべく、保護層形成工程後から封着工程までを乾燥雰囲気中で連続して行う方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。 In order to deal with the above problems, a method has been proposed in which the process from the protective layer forming process to the sealing process is continuously performed in a dry atmosphere (see, for example, Patent Document 2).
また、保護層表面の変質層を除去する別の手法として、保護層の形成後に前面基板を真空容器内でプラズマ処理する方法(例えば、特許文献3参照)、保護層を形成後に前面基板を酸素プラズマ処理、紫外線照射処理またはイオンエッチング処理する方法(例えば、特許文献4参照)、封着工程後にパネル内のガスをXe分圧の低いまたは圧力の低い洗浄ガスにした状態でエージングを行う方法(例えば、特許文献5参照)なども提案されている。
しかしながら、従来のPDPの製造では、保護層表面の変質層を十分に除去できているとはいえない。保護層形成工程後から封着工程までを乾燥雰囲気中で連続して行う方法は、保護層表面に変質層を形成させないことを意図したものであるが、乾燥空気中には水分(水蒸気)や二酸化炭素がある程度含まれており、その含有量が十分小さくない限り、数十分〜数時間の曝露によって変質層が形成されてしまう(例えば、露点−20℃の乾燥空気中に0.1%の水分、露点−40℃の乾燥空気中に0.013%の水分、露点−60℃の乾燥空気中に0.0011%(11ppm)の水分が含まれている)。PDPの製造に際しては、一般に、保護層形成工程から封着工程までに数時間以上の工程在庫があるため、仮に極めて低い露点(−60℃以下の露点)の乾燥空気を用いたとしても、変質層の形成は避けられない。 However, it cannot be said that the deteriorated layer on the surface of the protective layer has been sufficiently removed in the production of the conventional PDP. The method of continuously performing from the protective layer forming step to the sealing step in a dry atmosphere is intended not to form a deteriorated layer on the surface of the protective layer, but in dry air, moisture (water vapor) or Unless carbon dioxide is contained to some extent and the content is not sufficiently small, an altered layer is formed by exposure for several tens of minutes to several hours (for example, 0.1% in dry air having a dew point of −20 ° C. Water, 0.013% water in dry air with a dew point of −40 ° C., and 0.0011% (11 ppm) water in dry air with a dew point of −60 ° C.). When manufacturing a PDP, since there is generally a process inventory of several hours or more from the protective layer forming step to the sealing step, even if dry air with a very low dew point (−60 ° C. or lower dew point) is used, the quality is changed. Formation of the layer is inevitable.
保護層表面の変質層を除去するため、保護層の形成後に前面基板を真空容器内でプラズマ処理しても、プラズマ処理後の前面基板を封着装置へと搬送するまでに再び変質層が形成されてしまう。これを避けるには、プラズマ処理後の前面基板を封着装置へと真空雰囲気下で搬送し、かつ封着工程を真空雰囲気下で行う必要があるが、搬送系及び封着装置の構成が極めて複雑となり、実現は容易ではない。 Even if the front substrate is plasma-treated in a vacuum container after forming the protective layer, the altered layer is formed again before the plasma-treated front substrate is transported to the sealing device in order to remove the altered layer on the surface of the protective layer. Will be. In order to avoid this, it is necessary to transport the front substrate after the plasma treatment to the sealing device in a vacuum atmosphere, and to perform the sealing step in a vacuum atmosphere. However, the configuration of the transport system and the sealing device is extremely high. It becomes complicated and not easy to implement.
同様に、保護層表面の変質層を除去するため、保護層の形成後に前面基板を酸素プラズマ処理、紫外線照射処理またはイオンエッチング処理しても、かかる処理後に前面基板を封着装置へと搬送するまでに再び変質層が形成されてしまう。これを避けるには、処理後の前面基板を封着装置まで真空雰囲気下で搬送し、かつ封着工程を真空雰囲気下で行う必要があるが、搬送系及び封着装置の構成が極めて複雑となり、実現は容易ではない。 Similarly, in order to remove the altered layer on the surface of the protective layer, even if the front substrate is subjected to oxygen plasma treatment, ultraviolet irradiation treatment or ion etching treatment after the formation of the protective layer, the front substrate is transferred to the sealing device after such treatment. By the time, the deteriorated layer is formed again. In order to avoid this, it is necessary to transport the treated front substrate to the sealing device in a vacuum atmosphere and perform the sealing process in a vacuum atmosphere, but the configuration of the transport system and the sealing device becomes extremely complicated. Realization is not easy.
また、保護層表面の変質層を除去するため、封着工程後にパネル内のガスをXe分圧の低いまたは圧力の低い洗浄ガスにした状態でエージングを行った場合は、Xe分圧の高いガスでエージングする場合と比べて高速に変質層を除去できるものの、除去された変質層から生じた水分や炭素を含有する物質がPDP内部に残存してしまう。また、この場合、変質層が除去されるのは表示電極近傍のみであって、表示電極から離れている保護層表面には変質層が残存することとなる。したがって、残存物質の影響で放電特性が徐々に変化することになり、パネル寿命が短くなってしまうという問題が生じる。 In addition, in order to remove the deteriorated layer on the surface of the protective layer, when aging is performed in a state where the gas in the panel is a cleaning gas having a low Xe partial pressure or a low pressure after the sealing step, a gas having a high Xe partial pressure is used. Although the deteriorated layer can be removed at a higher speed than in the case of aging at, the substance containing moisture and carbon generated from the removed deteriorated layer remains inside the PDP. In this case, the altered layer is removed only in the vicinity of the display electrode, and the altered layer remains on the surface of the protective layer away from the display electrode. Therefore, the discharge characteristics are gradually changed due to the influence of the remaining substance, which causes a problem that the panel life is shortened.
本発明は、上記事情に鑑みて為されたものである。つまり、本発明の課題は、保護層表面の変質層を十分に除去でき、パネル寿命に優れたプラズマディスプレイパネルの製造方法及び装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above circumstances. That is, the subject of this invention is providing the manufacturing method and apparatus of a plasma display panel which can fully remove the alteration layer on the surface of a protective layer, and was excellent in panel lifetime.
上記課題を解決するため、本発明は、プラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
(i)第1ガラス基板上に第1電極、第1誘電体層および保護層が形成された前面基板を用意すると共に、第2ガラス基板上に第2電極、第2誘電体層、隔壁および蛍光体層が形成された背面基板を用意する工程、
(ii)前面基板または背面基板に対してガラスフリットを塗布する工程、
(iii)前記ガラスフリットが前面基板と背面基板との間に位置するように、前面基板と背面基板とを相互に対向させて配置する工程、
(iv)第1導体板が前面基板に接し、第2導体板が背面基板に接するように、第1導体板および第2導体板を前面基板および背面基板の外側に配置する工程、
(v)前面基板および背面基板の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板と背面基板との間にガスを供給しながら、第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加して前面基板と背面基板との間にプラズマを発生させる工程、
(vi)前記ガラスフリットを溶融させて前面基板および背面基板の封着を行う工程、ならびに
(vii)前面基板と背面基板との間の空間に存在するガスを排気した後、前面基板と背面基板との間の空間にXeを含んで成るガスを封入する工程
を含んで成ることを特徴とする製造方法を提供する。
In order to solve the above problems, the present invention is a method of manufacturing a plasma display panel,
(I) preparing a front substrate on which a first electrode, a first dielectric layer and a protective layer are formed on a first glass substrate; and a second electrode, a second dielectric layer, a partition wall and a second glass substrate Preparing a back substrate on which a phosphor layer is formed;
(Ii) applying a glass frit to the front substrate or the back substrate;
(Iii) a step of disposing the front substrate and the rear substrate so as to face each other so that the glass frit is positioned between the front substrate and the rear substrate;
(Iv) disposing the first conductor plate and the second conductor plate outside the front substrate and the rear substrate so that the first conductor plate is in contact with the front substrate and the second conductor plate is in contact with the rear substrate;
(V) While supplying gas between the front substrate and the rear substrate through a through hole provided in at least one of the front substrate and the rear substrate, a voltage is applied between the first conductor plate and the second conductor plate. Applying and generating plasma between the front substrate and the back substrate,
(Vi) a step of sealing the front substrate and the rear substrate by melting the glass frit; and (vii) after exhausting gas existing in a space between the front substrate and the rear substrate, the front substrate and the rear substrate. A manufacturing method comprising the step of enclosing a gas containing Xe in a space between the two.
本発明は、プラズマディスプレイパネルの製造に際して、対向して配置された前面基板と背面基板との間にプラズマを発生させることによって、前面基板の保護層表面の変質層を除去することを特徴としており、特に、前面基板および背面基板の外側に設けられた第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加することによってプラズマを発生させ、変質層を除去することを特徴としている。 The present invention is characterized in that, during the manufacture of a plasma display panel, the altered layer on the surface of the protective layer of the front substrate is removed by generating plasma between the front substrate and the rear substrate disposed opposite to each other. In particular, the present invention is characterized in that plasma is generated by applying a voltage between a first conductor plate and a second conductor plate provided outside the front substrate and the rear substrate, and the altered layer is removed.
本明細書で用いる「導体板」とは、導電性を有する部材を実質的に意味しており、その外観は必ずしも“板状”である必要はなく、より厚みを増した形態又はより薄いシート状の形態であってもよい。尚、導体板の主面(別の表現を用いれば、「前面基板または背面基板と接することになる面」)のサイズは、ある程度大きいことが好ましく、前面基板と背面基板とが互いに対向する領域以上の面積を有していることが好ましい(換言すれば、対向配置されている前面基板と背面基板とを互いに重ね合わせた場合、その重なり合っている領域以上の面積を導体板の主面が有していることが好ましい)。 As used herein, the term “conductor plate” substantially means a member having conductivity, and its appearance does not necessarily need to be “plate-like”, but a thicker form or a thinner sheet. The shape may be a shape. The size of the main surface of the conductor plate (in other words, “surface that will be in contact with the front substrate or the back substrate”) is preferably large to some extent, and the front substrate and the back substrate face each other. It is preferable to have the above area (in other words, when the front substrate and the back substrate which are arranged to face each other are overlapped with each other, the main surface of the conductor plate has an area larger than the overlapping region. Preferably).
ある好適な態様では、保護層は、少なくとも1つの層(即ち、「単一の層」または「複数の層」)から構成されており、層の各々が、酸化マグネシウム、酸化カルシウム、酸化ストロンチウムおよび酸化バリウムから成る群から選択される少なくとも1種類以上を含んで成る。かかる場合、駆動電圧の低いプラズマディスプレイパネルの製造方法が実現される。 In certain preferred embodiments, the protective layer is comprised of at least one layer (ie, “single layer” or “multiple layers”), each of which comprises magnesium oxide, calcium oxide, strontium oxide and It comprises at least one selected from the group consisting of barium oxide. In this case, a method for manufacturing a plasma display panel with a low driving voltage is realized.
工程(v)では、第1導体板と第2導体板との間にパルス電圧または高周波電圧を印加することが好ましい。これにより、比較的容易にプラズマを発生させることができる。 In the step (v), it is preferable to apply a pulse voltage or a high frequency voltage between the first conductor plate and the second conductor plate. Thereby, plasma can be generated relatively easily.
また、工程(v)では、第1導体板が「電圧を印加するために用いられる電源」に電気的に接続され、第2導体板が接地(またはアース)されることが好ましい。これにより、保護層表面のスパッタリングを促進させることができ、より短時間で保護層表面の変質層を除去することができる。尚、ここでいう「スパッタリング」とは、プラズマ発生に際して、加速されたイオン等が保護層の表面に衝突して、変質層が弾き飛ばされて除去される現象を実質的に意味している。 In the step (v), it is preferable that the first conductor plate is electrically connected to “a power source used for applying a voltage” and the second conductor plate is grounded (or grounded). Thereby, sputtering on the surface of the protective layer can be promoted, and the altered layer on the surface of the protective layer can be removed in a shorter time. The term “sputtering” as used herein substantially means a phenomenon in which accelerated ions collide with the surface of the protective layer when the plasma is generated, and the altered layer is blown off and removed.
更に、工程(v)では、希ガスを含んで成るガスを前面基板と背面基板との間に供給することが好ましい。これにより、低い印加電圧でプラズマを発生させることができる。尚、より低い印加電圧でプラズマ発生が可能となる点で、希ガスはヘリウムガスであることがより好ましい。 Furthermore, in the step (v), it is preferable to supply a gas containing a rare gas between the front substrate and the rear substrate. Thereby, plasma can be generated with a low applied voltage. The rare gas is more preferably helium gas in that plasma can be generated with a lower applied voltage.
ある好適な態様では、工程(vi)において、水蒸気をほとんど含まないガス(例えば0〜10ppmの水蒸気を含んだガス)を前面基板と背面基板との間に供給しながら、前面基板および背面基板を加熱する。これにより、変質層が除去され清浄化された保護層表面の再汚染を効果的に抑制することができる。特に、水蒸気をほとんど含まないガスとして、乾燥空気を用いれば、より安価なプラズマディスプレイパネルの製造方法を実現することができる。 In a preferred embodiment, in the step (vi), the front substrate and the rear substrate are supplied while supplying a gas containing almost no water vapor (for example, a gas containing 0 to 10 ppm of water vapor) between the front substrate and the rear substrate. Heat. Thereby, recontamination of the surface of the protective layer from which the altered layer is removed and cleaned can be effectively suppressed. In particular, if dry air is used as a gas containing almost no water vapor, a more inexpensive method for manufacturing a plasma display panel can be realized.
別のある好適な態様では、工程(vi)において、前面基板と背面基板との間に0〜10ppmの二酸化炭素を含んだガスを供給しながら、前面基板および背面基板を加熱する。これにより、変質層が除去され清浄化された保護層表面の再汚染を効果的に抑制することができる。 In another preferable aspect, in the step (vi), the front substrate and the rear substrate are heated while supplying a gas containing 0 to 10 ppm of carbon dioxide between the front substrate and the rear substrate. Thereby, recontamination of the surface of the protective layer from which the altered layer is removed and cleaned can be effectively suppressed.
本発明では、上記プラズマディスプレイパネルの製造方法を実施するための装置も提供される。かかる本発明の製造装置は、
第1導体板および第2導体板、
第1導体板が前面基板に接し、第2導体板が背面基板に接するように、第1導体板および第2導体板を前面基板および背面基板の外側にて保持するための保持デバイス、
前面基板および背面基板の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板と背面基板との間にガスを供給するためのガス供給デバイス、ならびに
第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加するための電源
を有して成る製造装置。
The present invention also provides an apparatus for carrying out the method for manufacturing the plasma display panel. Such a manufacturing apparatus of the present invention comprises:
A first conductor plate and a second conductor plate,
A holding device for holding the first conductor plate and the second conductor plate outside the front substrate and the rear substrate so that the first conductor plate is in contact with the front substrate and the second conductor plate is in contact with the rear substrate;
A gas supply device for supplying gas between the front substrate and the rear substrate through a through hole provided in at least one of the front substrate and the rear substrate, and between the first conductor plate and the second conductor plate A manufacturing apparatus comprising a power source for applying a voltage.
かかる本発明の製造装置は、プラズマディスプレイパネルの製造に際して、対向して配置された前面基板と背面基板との間にプラズマの発生を可能にする構成要素を有すると共に、前面基板と背面基板との間にガスを連続的に流すことを可能にする構成要素を有することを特徴としている。 Such a manufacturing apparatus of the present invention has a component that enables generation of plasma between a front substrate and a back substrate that are arranged to face each other when manufacturing a plasma display panel. It is characterized by having a component that allows a gas to flow continuously between them.
本発明の製造装置において、電源は、「前面基板と背面基板との間にパルス電圧を印加することができるパルス電源」または「前面基板と背面基板との間に高周波電圧を印加することができる高周波電源」であることが好ましい。これにより、比較的容易にプラズマを発生させることができる。 In the manufacturing apparatus of the present invention, the power supply can apply a high-frequency voltage between the front substrate and the back substrate, or “pulse power supply that can apply a pulse voltage between the front substrate and the back substrate”. A “high frequency power source” is preferable. Thereby, plasma can be generated relatively easily.
ある好適な態様では、第1導体板が電源に電気的に接続されている一方、第2導体板が接地されている。これにより、前面基板と背面基板との間に電圧を印加した際に保護層表面のスパッタリングを促進させることができ、より短時間で保護層表面の変質層を除去することができる。 In a preferred aspect, the first conductor plate is electrically connected to the power source, while the second conductor plate is grounded. Thereby, when a voltage is applied between the front substrate and the back substrate, sputtering of the surface of the protective layer can be promoted, and the altered layer on the surface of the protective layer can be removed in a shorter time.
以上のように、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造方法及びそのための装置では、プラズマディスプレイパネルの製造に際して保護層表面の変質層を除去できるので、パネル寿命に優れたプラズマディスプレイパネルを得ることができる。 As described above, in the method for manufacturing a plasma display panel and the apparatus therefor according to the present invention, the altered layer on the surface of the protective layer can be removed during the manufacture of the plasma display panel, so that a plasma display panel having an excellent panel life can be obtained. it can.
以下では、本発明をより詳細に説明する。まず、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造方法について説明を行い、その後、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造装置について説明を行う。 In the following, the present invention will be described in more detail. First, a plasma display panel manufacturing method according to the present invention will be described, and then a plasma display panel manufacturing apparatus according to the present invention will be described.
本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造方法は、保護層表面の変質層を除去するための工程(ステップ)を含んで成る。 The method for manufacturing a plasma display panel according to the present invention includes a step for removing the altered layer on the surface of the protective layer.
まず、工程(i)では、第1ガラス基板上に第1電極、第1誘電体層および保護層が形成された前面基板(または表面板)を用意/準備すると共に、第2ガラス基板上に第2電極、第2誘電体層、隔壁および蛍光体層が形成された背面基板(または背面板)を用意/準備する。 First, in step (i), a front substrate (or a surface plate) in which a first electrode, a first dielectric layer, and a protective layer are formed on a first glass substrate is prepared / prepared, and on the second glass substrate. A back substrate (or back plate) on which the second electrode, the second dielectric layer, the barrier ribs, and the phosphor layer are formed is prepared / prepared.
前面基板の用意に際しては、まず、第1ガラス基板上に、例えばスパッタリング法または焼成法などで第1電極を形成し、その上に誘電体の前駆体材料を塗布して焼成などで第1誘電体層を形成する。第1ガラス基板は、一般的なPDPの製造に用いられる透明で絶縁性を有する基板(厚さは例えば約1.0mm〜約3mm程度)であれば特に制限はなく、例えば、フロートガラス基板、ソーダライムガラス基板、鉛アルカリケイ酸ガラス基板またはホウケイ酸塩ガラス基板等であってよい。第1電極は、第1基板上にストライプ状に平行に複数配置されて形成されるものであり、例えば、走査電極および維持電極から成る表示電極(厚さは例えば約1μm〜約50μm程度)であることが好ましい。この場合、走査電極および維持電極は、それぞれ、酸化インジウム(ITO)または酸化スズ(SnO2)などから成る透明導電膜である透明電極(蛍光体層で発生した可視光を通過させる電極)、および、かかる透明電極上に形成されたバス電極(表示電極の抵抗を低くして、透明電極の長手方向に導電性を付与するための電極)から一般に構成されている。更に、第1誘電体層の前駆体材料は、一般的なPDPの製造に用いられる誘電体原料であれば特に制限はなく、例えば、ガラス粉末と、セルロース系またはアクリル系のバインダ樹脂(増粘剤樹脂)と、アルコール系又はエステル系等の有機溶剤とを混合したペースト状またはシート状の原料であってよい。第1誘電体層の厚さは、例えば約5μm〜約50μm程度である。第1誘電体層を形成した後は、かかる誘導体層を覆うように、例えば電子ビーム蒸着(EB蒸着)法などで酸化マグネシウムなどから成る膜を形成することで保護層(厚さ:0.5〜1.5μm程度)を形成する。かかる保護層は、典型的には主として酸化マグネシウムから成るものであるが、これに微量の元素(シリコンおよび/またはアルミニウムなど)が添加されたものであったものでもよい。尚、保護層は、単一の層から構成されたものでもよいし、複数の層が積層して構成されてもよい(例えば2層または3層から成る保護層であってよい)。また、保護層の主成分は酸化マグネシウムに限らず、酸化カルシウム、酸化ストロンチウムおよび/または酸化バリウムであってよい。換言すれば、保護層は、酸化マグネシウム、酸化カルシウム、酸化ストロンチウムおよび酸化バリウムから成る群から選択される少なくとも1種類以上の成分から形成されたものであってよい。尚、保護層の原料として、仕事関数が酸化マグネシウムよりも小さいアルカリ土類金属の酸化物(即ち、酸化カルシウム、酸化ストロンチウムまたは酸化バリウム)などを用いた場合であっても、安定な放電特性を得ることができることに留意されたい。 When preparing the front substrate, first, a first electrode is formed on the first glass substrate by, for example, sputtering or firing, and a dielectric precursor material is applied on the first electrode, followed by firing and the like. A body layer is formed. The first glass substrate is not particularly limited as long as it is a transparent and insulating substrate (thickness is, for example, about 1.0 mm to about 3 mm) used for manufacturing a general PDP, for example, a float glass substrate, It may be a soda lime glass substrate, a lead alkali silicate glass substrate, a borosilicate glass substrate, or the like. The first electrode is formed by arranging a plurality of stripes in parallel on the first substrate. For example, the first electrode is a display electrode composed of a scan electrode and a sustain electrode (thickness is about 1 μm to about 50 μm, for example). Preferably there is. In this case, the scan electrode and the sustain electrode are respectively a transparent electrode (an electrode through which visible light generated in the phosphor layer passes) which is a transparent conductive film made of indium oxide (ITO) or tin oxide (SnO 2 ), and the like. The bus electrode (electrode for lowering the resistance of the display electrode and imparting conductivity in the longitudinal direction of the transparent electrode) generally formed on the transparent electrode. Further, the precursor material of the first dielectric layer is not particularly limited as long as it is a dielectric material used in the production of a general PDP. For example, glass powder and a cellulose or acrylic binder resin (thickening agent) Agent resin) and an organic solvent such as alcohol or ester may be used as a paste or sheet material. The thickness of the first dielectric layer is, for example, about 5 μm to about 50 μm. After forming the first dielectric layer, a protective layer (thickness: 0.5) is formed by forming a film made of magnesium oxide or the like by, for example, an electron beam evaporation (EB evaporation) method so as to cover the dielectric layer. ˜1.5 μm). Such a protective layer is typically composed mainly of magnesium oxide, but may be one obtained by adding a trace amount of elements (such as silicon and / or aluminum) to the protective layer. The protective layer may be composed of a single layer or may be formed by laminating a plurality of layers (for example, it may be a protective layer composed of two or three layers). The main component of the protective layer is not limited to magnesium oxide, but may be calcium oxide, strontium oxide and / or barium oxide. In other words, the protective layer may be formed from at least one component selected from the group consisting of magnesium oxide, calcium oxide, strontium oxide, and barium oxide. Even when an alkaline earth metal oxide (that is, calcium oxide, strontium oxide or barium oxide) having a work function smaller than that of magnesium oxide is used as a material for the protective layer, stable discharge characteristics can be obtained. Note that can be obtained.
背面基板の用意に際しては、まず、第2ガラス基板上に第2電極を形成し、その上に誘電体の前駆体材料を塗布して焼成などで第2誘電体層を形成する。次いで、所定のパターンで低融点ガラスから成る隔壁を形成し、その隔壁の間に蛍光体材料を塗布して焼成することによって蛍光体層を形成する。第2ガラス基板は、一般的なPDPの製造に用いられる透明で絶縁性を有する基板(厚さは例えば約1.0mm〜約3mm程度)であれば特に制限はなく、例えば、フロートガラス基板、ソーダライムガラス基板、鉛アルカリケイ酸ガラス基板またはホウケイ酸塩ガラス基板等であってよい。第2電極は、第2基板上にストライプ状に複数形成されるものであり、例えば、アドレス電極(データ電極)である(厚さは例えば約1〜4μm程度)。アドレス電極は、各放電セルを選択的に放電させる目的で設けられている。かかるアドレス電極は、銀を主成分とした導電性ペーストからスクリーン印刷法を用いて成膜できる。また、アドレス電極は、銀を主成分とした感光性ペーストをダイコート法または印刷法によって塗布した後、約100℃〜約200℃で乾燥させ、次いで、露光・現像するフォトリソグラフィー法によってパターニングしても成膜できる。かかるアドレス電極は、塗布および乾燥後に、約400〜約700℃の焼成に最終的に付される。第2誘電体層の前駆体材料は、一般的なPDPの製造に用いられる誘電体原料であれば特に制限はなく、例えば、ガラス粉末と、セルロース系またはアクリル系のバインダ樹脂(増粘剤樹脂)と、アルコール系又はエステル系等の有機溶剤とを混合したペースト状またはシート状の原料であってよい。第2誘電体層の厚さは、例えば約5μm〜約50μm程度である。第2誘電体層の上には、蛍光体層が形成されている(厚さは例えば約5〜約50μm程度)。蛍光体層は、放電によって放射された紫外線を可視光線に変換する目的で設けられるものである。かかる蛍光体層は、赤色、緑色および青色の蛍光体層を構成単位としており、それぞれが隔壁で区切られている。隔壁は、放電空間をアドレス電極毎に区画する目的で形成されている。ここで、蛍光体層は、蛍光体粉末、バインダ樹脂(例えば、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル重合体など)および有機溶剤(例えば、メチルエチルケトンなどのケトン類、トルエンなどの芳香族炭化水素類、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類など)から成るペースト原料をダイコート法、印刷法、ディスペンス法またはインクジェット法などによって塗布し、次いで、約100℃の乾燥に付すことによって形成する。蛍光体粉末について説明すると、例えば赤色の蛍光体粉末としては、Y2O3:Eu、YVO4:Eu、Y2O3S:Eu等を挙げることができ、緑色の蛍光体粉末としては、Zn2GeO2:M、BaAl12O19:Mn、LaPO4:Tb等を挙げることができ、青色の蛍光体粉末としては、Sr5(PO4)3Cl:Eu、BaMg2Al14O24:Eu等を挙げることができる。隔壁は、ストライプ状または井桁状に第2誘電体層上に形成されるものであるが、低融点ガラス材料(例えば酸化鉛−酸化硼素−酸化珪素系、酸化鉛−酸化硼素−酸化珪素−酸化亜鉛系などのガラス粉末)、フィラー(例えば酸化物セラミックなど)、バインダ樹脂(例えば、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル重合体など)および有機溶剤(例えば、メチルエチルケトンなどのケトン類、トルエンなどの芳香族炭化水素類、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類など)等を含んで成るペースト原料をダイコート法または印刷法によって塗布して約100℃〜200℃の乾燥に付した後、露光・現像するフォトリソグラフィー法でパターニングし、次いで、約400℃〜約700℃の焼成に付すことによって形成される。尚、隔壁は、サンドブラスト法、エッチング法または成型法などを用いることによっても形成できる。 In preparing the rear substrate, first, a second electrode is formed on a second glass substrate, a dielectric precursor material is applied thereon, and a second dielectric layer is formed by firing or the like. Next, barrier ribs made of low-melting glass are formed in a predetermined pattern, and a phosphor layer is formed by applying and firing a phosphor material between the barrier ribs. The second glass substrate is not particularly limited as long as it is a transparent and insulating substrate (thickness is, for example, about 1.0 mm to about 3 mm) used for manufacturing a general PDP. For example, a float glass substrate, It may be a soda lime glass substrate, a lead alkali silicate glass substrate, a borosilicate glass substrate, or the like. A plurality of second electrodes are formed in stripes on the second substrate, and are, for example, address electrodes (data electrodes) (thickness is about 1 to 4 μm, for example). The address electrode is provided for the purpose of selectively discharging each discharge cell. Such an address electrode can be formed from a conductive paste mainly composed of silver using a screen printing method. In addition, the address electrode is formed by applying a photosensitive paste mainly composed of silver by a die coating method or a printing method, drying at about 100 ° C. to about 200 ° C., and then patterning by a photolithography method in which exposure and development are performed. Can also be formed. Such address electrodes are finally subjected to baking at about 400 to about 700 ° C. after application and drying. The precursor material of the second dielectric layer is not particularly limited as long as it is a dielectric material used for manufacturing a general PDP. For example, glass powder and a cellulose-based or acrylic-based binder resin (thickener resin) ) And an organic solvent such as an alcohol or ester, may be a paste-like or sheet-like raw material. The thickness of the second dielectric layer is, for example, about 5 μm to about 50 μm. A phosphor layer is formed on the second dielectric layer (thickness is about 5 to about 50 μm, for example). The phosphor layer is provided for the purpose of converting ultraviolet rays emitted by the discharge into visible light. Such a phosphor layer has red, green and blue phosphor layers as structural units, each of which is separated by a partition wall. The barrier ribs are formed for the purpose of partitioning the discharge space for each address electrode. Here, the phosphor layer is composed of phosphor powder, binder resin (for example, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, methacrylic acid ester polymer, acrylic acid ester polymer, etc.) and an organic solvent (for example, ketones such as methyl ethyl ketone, toluene, etc. By applying a paste raw material consisting of an aromatic hydrocarbon of the above, a glycol ether such as propylene glycol monomethyl ether) by a die coating method, a printing method, a dispensing method or an ink jet method, and then subjecting to drying at about 100 ° C. Form. The phosphor powder will be described. For example, examples of the red phosphor powder include Y 2 O 3 : Eu, YVO 4 : Eu, Y 2 O 3 S: Eu, and the like. As the green phosphor powder, Zn 2 GeO 2 : M, BaAl 12 O 19 : Mn, LaPO 4 : Tb and the like can be mentioned, and examples of blue phosphor powder include Sr 5 (PO 4 ) 3 Cl: Eu, BaMg 2 Al 14 O 24. : Eu etc. can be mentioned. The barrier ribs are formed on the second dielectric layer in a stripe shape or in a cross shape, but are made of a low melting point glass material (for example, lead oxide-boron oxide-silicon oxide system, lead oxide-boron oxide-silicon oxide-oxide). Glass powders such as zinc), fillers (eg, oxide ceramics), binder resins (eg, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, methacrylate polymer, acrylate polymer) and organic solvents (eg, methyl ethyl ketone) Paste raw materials containing ketones, aromatic hydrocarbons such as toluene, glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether, etc.) are applied by a die coating method or a printing method and subjected to drying at about 100 ° C. to 200 ° C. After that, patterning is performed by photolithography that exposes and develops It is then formed by subjecting the firing about 400 ° C. ~ about 700 ° C.. The partition walls can also be formed by using a sandblast method, an etching method, a molding method, or the like.
工程(ii)では、前面基板または背面基板にガラスフリット(または「シールフリット」)が塗布される。塗布されたガラスフリットは、後に行う「封着工程」で前面基板と背面基板との周縁をシールするために機能することになる。従って、かかるガラスフリットは、前面基板または背面基板の周縁部に一般的に塗布されることになる。用いられるガラスフリットは、一般的なPDPの製造において同様の目的で用いられるものであれば特に制限はなく、例えば、低融点ガラス材料(例えば酸化鉛−酸化硼素−酸化珪素系、酸化鉛−酸化硼素−酸化珪素−酸化亜鉛系など)から成るガラスフリットであってよい。前面基板または背面基板の周縁部に塗布されたガラスフリットの厚さは100〜140μm程度であり、その幅は3〜10mm程度であることが好ましい。 In step (ii), a glass frit (or “seal frit”) is applied to the front substrate or the back substrate. The applied glass frit functions to seal the periphery of the front substrate and the rear substrate in a “sealing step” to be performed later. Therefore, such a glass frit is generally applied to the peripheral portion of the front substrate or the rear substrate. The glass frit used is not particularly limited as long as it is used for the same purpose in the production of a general PDP. For example, a low-melting glass material (for example, lead oxide-boron oxide-silicon oxide system, lead oxide-oxidation) A glass frit made of a boron-silicon oxide-zinc oxide system or the like may be used. The thickness of the glass frit applied to the peripheral portion of the front substrate or the back substrate is preferably about 100 to 140 μm, and the width is preferably about 3 to 10 mm.
工程(iii)では、塗布されたガラスフリットが前面基板と背面基板との間に位置するように、前面基板と背面基板とが相互に対向して配置される。即ち、前面基板と背面基板とがガラスフリットを介して相互に張り合わされる。また別の表現を用いれば、前面基板と背面基板とは、保護層と蛍光体層とが互いに向き合うように対向して配置され、より具体的には、表示電極とアドレス電極とが直交するように、前面基板と背面基板とが実質的に平行な位置関係で配置される。対向配置された前面基板と背面基板との間の間隔(即ち、ギャップ幅)は、塗布されたガラスフリットの厚さなどに依存するが、例えば、好ましくは100〜1000μmであり、より好ましくは300〜800μmである。 In the step (iii), the front substrate and the rear substrate are arranged to face each other so that the coated glass frit is located between the front substrate and the rear substrate. That is, the front substrate and the back substrate are bonded to each other through the glass frit. In other words, the front substrate and the rear substrate are disposed so that the protective layer and the phosphor layer face each other, and more specifically, the display electrode and the address electrode are orthogonal to each other. In addition, the front substrate and the rear substrate are arranged in a substantially parallel positional relationship. The distance between the front substrate and the rear substrate arranged opposite to each other (that is, the gap width) depends on the thickness of the applied glass frit and the like, but is preferably 100 to 1000 μm, and more preferably 300, for example. ˜800 μm.
工程(iv)では、第1導体板が前面基板に接し、第2導体板が背面基板に接するように、第1および第2の導体板が前面基板および背面基板の外側に配置される(図1参照)。換言すれば、「第1および第2の導体板」と「前面及び背面の基板」とを、前面基板及び背面基板が内側に、2枚の導体板が外側になるよう平行に重ね合わされる。第1導体板および第2導体板は、導電性材料から成るものであれば特に制限はなく、例えば、銅、アルミニウム、銀および金から成る群から選択される少なくとも1種類以上の材料から形成されている。第1導体板および第2導体板の厚さは、特に制限はないものの、好ましくは0.1〜10mm、より好ましくは0.5〜2mmである。第1導体板および第2導体板の主面(別の表現を用いれば、「前面または背面の基板と接することになる面」)のサイズは、好ましくは、前面基板と背面基板とが互いに対向する領域以上の面積を有しており、より好ましくは、封着後に実質的な閉空間を形成する「塗布されたガラスフリットよりも内側に位置する基板領域」以上の面積を有している。 In step (iv), the first and second conductor plates are disposed outside the front substrate and the rear substrate so that the first conductor plate is in contact with the front substrate and the second conductor plate is in contact with the rear substrate (FIG. 1). In other words, the “first and second conductor plates” and the “front and back substrates” are overlapped in parallel so that the front substrate and the back substrate are on the inside and the two conductor plates are on the outside. The first conductor plate and the second conductor plate are not particularly limited as long as they are made of a conductive material. For example, the first conductor plate and the second conductor plate are made of at least one material selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and gold. ing. Although there is no restriction | limiting in particular in the thickness of a 1st conductor plate and a 2nd conductor plate, Preferably it is 0.1-10 mm, More preferably, it is 0.5-2 mm. The size of the main surface of the first conductor plate and the second conductor plate (in other words, “surface that will be in contact with the front or back substrate”) is preferably such that the front substrate and the back substrate face each other. More preferably, it has an area equal to or larger than the “substrate region located inside the applied glass frit” that forms a substantially closed space after sealing.
工程(v)では、前面基板および背面基板の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板と背面基板との間にガスを吹き込んだ状態で、第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加して(即ち、第1導体板と第2導体板との間に電位差を形成して)前面基板と背面基板との間の空間にプラズマを発生させる。ここで発生させるプラズマは安定な非平衡プラズマであることが望まれる。印加電圧は、好ましくは200〜2000V、より好ましくは500〜1000Vである。尚、プラズマ発生が比較的容易となるので、パルス電圧または高周波電圧を印加電圧として用いてもよい。パルス電圧におけるパルス周波数は1kHz〜1MHzであり、パルス幅は0.5μs〜0.5msであることが好ましい。また、高周波電圧における「高周波」とは、100kHz〜100MHz程度の周波数を実質的に意味している。 In the step (v), in a state where gas is blown between the front substrate and the back substrate through a through hole provided in at least one of the front substrate and the back substrate, the first conductor plate and the second conductor plate are A voltage is applied between them (that is, a potential difference is formed between the first conductor plate and the second conductor plate) to generate plasma in the space between the front substrate and the rear substrate. The plasma generated here is desirably a stable non-equilibrium plasma. The applied voltage is preferably 200 to 2000V, more preferably 500 to 1000V. Since plasma generation is relatively easy, a pulse voltage or a high frequency voltage may be used as the applied voltage. The pulse frequency in the pulse voltage is preferably 1 kHz to 1 MHz, and the pulse width is preferably 0.5 μs to 0.5 ms. The “high frequency” in the high frequency voltage substantially means a frequency of about 100 kHz to 100 MHz.
プラズマ中のイオンは、プラズマ電位と浮遊電位との差に相当するエネルギーで前面基板および背面基板に向かって直進するように加速され、保護層および隔壁や蛍光体層などに衝突する。衝突エネルギーは数〜20eV程度であると考えられる。この衝突によって、保護層表面の変質層がスパッタリングによって除去されるが、スパッタリングされた粒子の多くは気相中で分解されることになり、最終的には、前面基板と背面基板との間に供される連続的なガス流れに伴って基板外部へと排出される。このようにして、保護層表面を清浄化することができる。尚、前面基板と背面基板との間には、工程(ii)で塗布されたガラスフリットが存在しているものの、工程(v)ではガラスフリットを加熱により溶融させる封着処理を行っていない段階なので、連続的に吹き込まれたガスが基板の周縁部の隙間を介して外部へと連続的に流出できることに留意されたい。 Ions in the plasma are accelerated so as to travel straight toward the front substrate and the rear substrate with energy corresponding to the difference between the plasma potential and the floating potential, and collide with the protective layer, the barrier ribs, the phosphor layer, and the like. The collision energy is considered to be about several to 20 eV. Due to this collision, the altered layer on the surface of the protective layer is removed by sputtering, but many of the sputtered particles are decomposed in the gas phase, and finally, between the front substrate and the rear substrate. With the continuous gas flow provided, it is discharged out of the substrate. In this way, the surface of the protective layer can be cleaned. Although the glass frit applied in the step (ii) exists between the front substrate and the rear substrate, the step (v) does not perform the sealing process for melting the glass frit by heating. Therefore, it should be noted that the continuously blown gas can continuously flow out to the outside through the gap at the peripheral edge of the substrate.
保護層表面のスパッタリングをより促進させる観点からいうと、第1導体板が電源に電気的に接続され、第2導体板が接地されていることが好ましい。より具体的には、第1導体板が電源のホット側(即ち、「アース側でない側」または「電圧を供給する側」)に電気的に接続されている一方、第2導体板が接地されていることが好ましい。これにより、より短時間で保護層表面の変質層を除去することができる。 From the viewpoint of further promoting the sputtering of the surface of the protective layer, it is preferable that the first conductor plate is electrically connected to the power source and the second conductor plate is grounded. More specifically, the first conductor plate is electrically connected to the hot side of the power supply (that is, the “non-earth side” or “voltage supply side”), while the second conductor plate is grounded. It is preferable. Thereby, the altered layer on the surface of the protective layer can be removed in a shorter time.
ガスが吹き込むための「貫通孔」は、対向配置された前面基板と背面基板との間にガスを外部から連続的に流すことを可能にするものであれば、どのような形状・形態・サイズであってもかまわないものの(例えば、円形状の貫通孔の場合、直径サイズは2〜5mm程度である)、貫通孔は、完成されたPDPの画像表示を妨げることがないように、PDP表示部ではない前面基板(もしくは第1ガラス基板)または背面基板(もしくは第2ガラス基板)の周辺部分に位置することが好ましい。貫通孔の個数は1つに限定されるものではなく、必要に応じて複数設けてもよい。尚、かかる貫通孔の形成は、例えば、前面基板または背面基板を準備した後に、ドリル加工またはレーザー加工などの適当な方法で形成することができる。例えば、貫通孔を背面基板に設ける場合では、蛍光体のペースト原料を塗布して乾燥させた後の段階において貫通孔を設けることが好ましい(尚、貫通孔が設けられた後でガラスフリットが塗布されることになる)。 “Through hole” for blowing gas can be any shape, form, and size as long as it allows gas to flow continuously from the outside between the front substrate and the rear substrate that are opposed to each other. (For example, in the case of a circular through-hole, the diameter size is about 2 to 5 mm), but the through-hole does not interfere with image display of the completed PDP. It is preferable to be located in a peripheral portion of the front substrate (or first glass substrate) or the rear substrate (or second glass substrate) that is not a part. The number of through holes is not limited to one, and a plurality of through holes may be provided as necessary. The through holes can be formed by an appropriate method such as drilling or laser processing after preparing the front substrate or the back substrate, for example. For example, in the case where the through hole is provided on the back substrate, it is preferable to provide the through hole in a stage after the phosphor paste material is applied and dried (the glass frit is applied after the through hole is provided). Will be done).
低い印加電圧でプラズマ発生が可能となる点で、供給するガス(即ち、「貫通孔を介して吹き込むガス」)は、ヘリウムガス(He)、ネオンガス(Ne)、アルゴンガス(Ar)、クリプトンガス(Kr)、キセノンガス(Xe)およびラドンガス(Rn)から成る群から選択される少なくとも1種類以上の希ガスであることが好ましい。また、希ガスの中でも、より低い印加電圧でプラズマ発生が可能となる点で、ヘリウムガスがより好ましい。ヘリウムガスを用いた場合、プラズマ発生に際して保護層に衝突するイオンは、He+イオンとなり得る。かかるヘリウムガスは、不活性ガスであるために保護層の化学的な変質を引き起こす恐れが極めて小さいだけでなく、大気圧放電が低電圧で発生できるという利点がある。尚、供給するガスの流量は少なすぎるとプラズマが不安定なアーク放電へ移行する場合があり、制御が困難となるだけでなく、変質層除去に“ムラ”が生じてしまうことになる一方、逆に流量が多すぎることはコスト的に不利である。従って、供給するガスの流量は約100sccm〜10SLM程度が好ましい。 The gas to be supplied (that is, “the gas blown through the through-hole”) is helium gas (He), neon gas (Ne), argon gas (Ar), krypton gas because plasma can be generated with a low applied voltage. It is preferably at least one kind of rare gas selected from the group consisting of (Kr), xenon gas (Xe) and radon gas (Rn). Among rare gases, helium gas is more preferable because plasma can be generated with a lower applied voltage. When helium gas is used, ions that collide with the protective layer when plasma is generated can be He + ions. Since such helium gas is an inert gas, it has not only a very low possibility of causing chemical alteration of the protective layer, but also has an advantage that atmospheric pressure discharge can be generated at a low voltage. If the flow rate of the supplied gas is too small, the plasma may shift to unstable arc discharge, which not only makes control difficult, but also causes “unevenness” in the removal of the deteriorated layer, Conversely, too much flow rate is disadvantageous in terms of cost. Therefore, the flow rate of the supplied gas is preferably about 100 sccm to 10 SLM.
工程(vi)では、ガラスフリットを溶融させて前面基板および背面基板の封着が行なわれる。かかる工程に先立っては、第1導体板と第2導体板との間の電圧印加を停止してプラズマ発生を停止させる。そして、対向配置された前面基板および背面基板を封排炉に投入して前面基板および背面基板を加熱する。これにより、ガラスフリットが溶融し、前面基板と背面基板とが気密に接合することになる。加熱温度は、ガラスフリットが溶融できる温度であれば特に制限はない(即ち、一般的なPDPの製造に際して用いられる「封着温度」であってよい)。 In step (vi), the glass frit is melted to seal the front substrate and the rear substrate. Prior to this step, the voltage generation between the first conductor plate and the second conductor plate is stopped to stop plasma generation. Then, the front substrate and the rear substrate that are arranged to face each other are put into a sealing furnace, and the front substrate and the rear substrate are heated. Thereby, the glass frit is melted, and the front substrate and the rear substrate are joined in an airtight manner. The heating temperature is not particularly limited as long as the glass frit can be melted (that is, it may be a “sealing temperature” used in manufacturing a general PDP).
尚、かかる工程(vi)では、プラズマ発生を停止した後、対向配置された前面基板と背面基板との間に供給するガスをヘリウムガスから乾燥ガスに変更することが好ましい(即ち、乾燥ガスの吹込みを開始することが好ましい)。このとき、対向配置された基板間に大気が混入しないよう、ヘリウムガスの供給停止後直ちに乾燥ガスの吹込みを開始することが望ましい。あるいは、ヘリウムガスの供給を停止する前に乾燥ガスの吹込みを開始してもよい。そして、乾燥ガスを吹き込みながら、前面基板および背面基板を加熱して封着することが好ましい。尚、場合によっては、2枚の基板間の内圧が上がり過ぎないよう、ガラスフリットの軟化点以上の温度においては、窒素ガスの吹込み量を少なくするか、あるいは実質的にゼロにする必要がある。 In this step (vi), it is preferable to change the gas supplied between the front substrate and the rear substrate facing each other from helium gas to dry gas after plasma generation is stopped (that is, dry gas It is preferable to start blowing). At this time, it is desirable to start blowing the dry gas immediately after the supply of helium gas is stopped so that the atmosphere does not enter between the substrates arranged opposite to each other. Alternatively, blowing of dry gas may be started before stopping the supply of helium gas. And it is preferable to heat and seal the front substrate and the back substrate while blowing dry gas. In some cases, the nitrogen gas blowing amount needs to be reduced or substantially zero at a temperature equal to or higher than the softening point of the glass frit so that the internal pressure between the two substrates does not increase excessively. is there.
上述の乾燥ガスは、望ましくは水分(水蒸気)を全く含んでいないガスが好ましいものの、水分(水蒸気)がわずかに含まれていてもよく、ガス中に0〜10ppmの水分(水蒸気)、例えば0〜1ppmの水分(水蒸気)が含まれていてもよい。これにより、「変質層が除去され清浄化された保護層表面」の再汚染を効果的に抑制することができる。尚、ここでいう「ガス中に含まれる水分の量(ppm)」は、ガスの全体積(0℃1気圧の標準状態)に占める水分(水蒸気)の体積割合を百万分率で示したものであり、常套の露点計で測定することによって得られる値を指している。窒素ガスは比較的高価であるので、乾燥ガスとして乾燥空気を用いることによって安価な製造工程とすることが可能である。同様に、乾燥ガスは、望ましくは二酸化炭素を全く含んでいないガスが好ましいものの、二酸化炭素がわずかに含まれていてもよく、ガス中に0〜10ppmの二酸化炭素成分、例えば0〜1ppmの二酸化炭素成分が含まれていてもよい。尚、ここでいう二酸化炭素含有量(ppm)は、ガスの全体積(0℃1気圧の標準状態)に占める二酸化炭素の体積割合を百万分率で示したものであり、常套の非分散型赤外吸収法(NDIR)で測定することによって得られる値を指している(尚、「NDIR」は、二酸化炭素分子が赤外線(波長:4.26μm)を吸収することを利用して、その吸収量から二酸化炭素濃度を求める方法である)。吹き込む乾燥ガスの流量が少なすぎると外部の大気が混入するおそれがあり、逆に流量が多すぎることはコスト的に不利である。従って、工程(vi)の吹込みで用いられる乾燥ガスの流量は、好ましくは約20sccm〜10SLM程度である。 The above-mentioned dry gas is preferably a gas that does not contain any water (water vapor), but may contain a small amount of water (water vapor), and 0-10 ppm of water (water vapor), for example 0 ˜1 ppm of water (water vapor) may be contained. Thereby, the recontamination of the “surface of the protective layer from which the altered layer has been removed and cleaned” can be effectively suppressed. The “amount of water contained in the gas (ppm)” here represents the volume ratio of the water (water vapor) in the total volume of the gas (standard state at 0 ° C. and 1 atm) in parts per million. It is a value obtained by measuring with a conventional dew point meter. Since nitrogen gas is relatively expensive, it is possible to make an inexpensive manufacturing process by using dry air as the dry gas. Similarly, the dry gas is preferably a gas that does not contain any carbon dioxide, but may contain a small amount of carbon dioxide, and the gas may contain 0-10 ppm carbon dioxide components, such as 0-1 ppm carbon dioxide. A carbon component may be included. The carbon dioxide content (ppm) mentioned here is the volume fraction of carbon dioxide in the total volume of gas (standard state at 0 ° C. and 1 atm) expressed in parts per million, and is a conventional non-dispersion. This refers to the value obtained by measurement by the type infrared absorption method (NDIR) (“NDIR” means that carbon dioxide molecules absorb infrared rays (wavelength: 4.26 μm) and This is a method for obtaining the carbon dioxide concentration from the absorbed amount). If the flow rate of the blown dry gas is too small, external air may be mixed, and conversely, if the flow rate is too large, it is disadvantageous in terms of cost. Therefore, the flow rate of the dry gas used in the blowing in the step (vi) is preferably about 20 sccm to 10 SLM.
工程(vii)では、前面基板と背面基板との間の空間に存在するガスが排気された後、前面基板と背面基板との間にXeを含んで成るガスが封入される。具体的には、封着処理された2枚の基板を封着時よりも若干低温(ガラスフリットが固化する温度)に保持しながら、2枚の基板間の空間が真空状態(例えば、2枚の基板間が1.0×10−6〜1.0×10−2Pa程度の圧力下にある状態)となるように排気を行う。かかる排気ステップが完了した後、2枚の基板を冷却し、ほぼ常温となった後に、前面基板と背面基板との間にXeとNeの混合ガスを導入する(封入処理)。そして、ガス導入は所定の圧力に達すると停止する。尚、封入に用いるガスは、XeとNeの混合ガスに限定されるものでなく、例えば、Xeガスのみを封入してもよいし、あるいはHeを混入させたガスを封入してもよい。 In the step (vii), after the gas existing in the space between the front substrate and the back substrate is exhausted, a gas containing Xe is sealed between the front substrate and the back substrate. Specifically, the space between the two substrates is kept in a vacuum state (for example, two substrates) while holding the two substrates subjected to the sealing process at a slightly lower temperature (temperature at which the glass frit solidifies) than at the time of sealing. Is exhausted so that the space between the substrates is under a pressure of about 1.0 × 10 −6 to 1.0 × 10 −2 Pa. After the evacuation step is completed, the two substrates are cooled to approximately room temperature, and then a mixed gas of Xe and Ne is introduced between the front substrate and the rear substrate (encapsulation process). The gas introduction is stopped when a predetermined pressure is reached. The gas used for sealing is not limited to a mixed gas of Xe and Ne. For example, only Xe gas may be sealed or a gas mixed with He may be sealed.
次に、図2を参照しながら、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造装置について説明する。本発明の製造装置は、
第1導体板3および第2導体板4、
第1導体板3が前面基板1に接し、第2導体板4が背面基板2に接するように、第1導体板3および第2導体板4を前面基板1および背面基板2の外側にて保持するための保持デバイス、
前面基板1および背面基板2の少なくとも一方に設けられた貫通穴(図示せず)を介して前面基板1と背面基板2との間にガスを供給するためのガス供給デバイス、ならびに
第1導体板3と第2導体板4との間に電圧を印加するための電源10
を有して成る。
Next, a plasma display panel manufacturing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The manufacturing apparatus of the present invention
A
The
A gas supply device for supplying gas between
It has.
第1導体板3および第2導体板4は、図2に示すように、対向配置された前面基板1と背面基板2とを外側から挟みこむことができるように配置されている。第1導体板3および第2導体板4の材質、厚さおよび主面サイズなどは、本発明の製造方法にて既に上述しており、重複を避けるために説明は省略する。
As shown in FIG. 2, the
保持デバイスは、例えば、図2に示すような「バネ力を有するクリップ部材5」であることが好ましい。かかるクリップ部材5は、第1導体板3および第2導体板4の周縁部を挟持するように設けられることが好ましい。このようなクリップ部材5によって、第1導体板3および第2導体板4が、前面基板1および背面基板2にそれぞれ押し当てられることになる。クリップ部材5は、1つである必要がなく、前面基板1と背面基板2とが均等に押圧されるように、複数設けてもよい。
The holding device is preferably a “
ガス供給デバイスは、好ましくは、ガス供給源(図示せず)、配管8、チャックヘッド9、チップ管6およびフリットリング7を有して成る。チップ管6は、フリットリング7を介して背面基板に設けられた貫通穴(図示せず)に合わせて背面基板に押し当てられる。チップ管6の先端には、配管8の先端部を構成するチャックヘッド9が接続されている。チャックヘッド9内には水冷配管・シール機構(図示せず)が配置されており、チップ管6および配管8が封着温度にまで昇温された場合においても一体的に密閉構造となるよう構成されている。配管8には、例えば高圧ガスボンベなどのガス供給源(図示せず)が接続されており、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノンもしくはラドンなどの希ガスまたは窒素ガスなどを供給できるようになっている。尚、ガス供給デバイスには、必要に応じて、フローメーターまたはファンなどを設けてもよい。
The gas supply device preferably includes a gas supply source (not shown), a
電源10は、第1導体板3と第2導体板4との間に電圧を印加するための電源であれば、特に制限はない。好ましくは、パルス電源または高周波電源を電源10として用いることができる。第1導体板3が高周波電源10に電気的に接続されている一方、第2導体板4が接地されていることが好ましい。具体的に説明すると次のようになる。例えば、電源10として高周波電源を用いた場合、コネクタ11及び銅板12(または銅線12)を介して台座13に100kHz〜100MHzの周波数(例えば約13.56MHz)の高周波電圧が供給される。台座13と前面基板1に密着させた導体板3とは電気的に導通状態にある。高周波電源10とコネクタ11との間には、インピーダンス整合回路(図示せず)が設けられる。クリップ部材5は銅板14(または銅線14)を介して接地される。ここで、クリップ部材5の一方の端部5aと背面基板2に密着させた導体板4とは電気的に導通状態にある。これに対して、クリップ部材5の他方の端部5bと前面板1に密着させた導体板3とは、セラミックス製の絶縁部材15によって電気的に絶縁状態にされる。
If the
前面基板1、背面基板2、第1導体板3および第2導体板4を含む各種要素は、高周波ノイズを漏洩させないよう、網目状の金属で構成されたシールドケース16内に収納されることが好ましい。この場合、シールドケース16は接地されている。また、台座13とシールドケース16間に絶縁板17が設けられ、シールドケース16に高周波電圧がかからないように構成されることが好ましい。
Various elements including the
次に、本発明の更なる理解のために、2つの実施形態に基づいて本発明の製造方法を説明する。 Next, the manufacturing method of the present invention will be described based on two embodiments for further understanding of the present invention.
(実施形態1)
図3は、本発明の実施形態1におけるPDPの製造工程の概略構成を示すフローチャートである。図3を参照して本発明の製造方法を説明すると次のようになる。前面基板を用意する工程は、電極形成、誘電体層形成、保護層形成の各サブステップからなる。その一方、背面基板を用意する工程は、電極形成、誘電体層形成、隔壁形成、蛍光体層形成の各サブステップと、ガラスフリットを塗布するサブステップとからなる。このような各サブステップは、よく知られたスパッタリング法、蒸着法、フォトリソグラフィー法、スクリーン印刷法、ダイコート法、サンドブラスト法等の薄膜・厚膜形成技術や微細加工技術と、乾燥・焼成等の熱プロセスとによって実現することができる。このようにして用意された前面基板および背面基板を、アライメント装置内でアライメント(位置合わせ)を行った後、「前面基板と背面基板とを貼り合せた際に重なり合う部分以上の面積を有する2枚の導体板」と「前面基板および背面基板」とを、前面基板および背面基板が内側に、2枚の導体板(即ち、第1導体板および第2導体板)が外側になるよう平行に重ね合わせる。このとき、2枚の導体板を、前面基板及び背面基板に押し当てるように重ね合わせる。次に、これら4枚の薄板を密着させるために、保持デバイスとしてのクリップ部材を取り付ける。さらに、背面基板に設けられた貫通穴に合わせてチップ管を取り付ける。保護層の形成からこのステップまでは、保護層が大気に曝露されるため、保護層の表面には変質層が形成され得る。次いで、背面基板に設けられた貫通穴よりチップ管を通じて前面基板と背面基板との間にヘリウムガスを吹き込みながら、2枚の導体板間に電圧を印加して前面基板と背面基板との間にプラズマを発生させる。プラズマ中のイオンは、プラズマ電位と浮遊電位との差に相当するエネルギーで前面基板および背面基板に向かって加速されて移動し(それら基板に対して実質的に垂直な方向に移動し)、前面基板および背面基板に衝突することになる。この衝突によって、前面基板に形成された保護層の表面の変質層がスパッタリングによって除去される。スパッタリングされた粒子の多くは気相中で分解され、前面基板と背面基板との間に吹き込んでいるガスの流れによって、前面基板および背面基板の周縁の隙間を介して外部へと排出される。変質層が十分に除去された後は、2枚の導体板間の電圧印加を停止してプラズマ発生を停止する。そして、前面基板と背面基板との間に供給するガスをヘリウムから窒素に変更する。窒素ガスを供給しながら、クリップ部材で固定された4枚の薄板(即ち、前面および背面の基板、第1および第2の導体板)を封排炉に投入して加熱し、ガラスフリットを溶融させて基板の封着処理を実施する。次に、封着された2枚の基板を封着時よりも若干低温に保持しながら、2枚の基板間が真空雰囲気下となるように基板間のガスを排気する。かかる排気ステップが完了した後、2枚の基板を冷却し、ほぼ常温となった後に、前面基板と背面基板との間にXeとNeの混合ガスを導入し、所定の圧力にてガス導入を停止する。最終的には、チップ管を切断するとPDPが完成することになる。
(Embodiment 1)
FIG. 3 is a flowchart showing a schematic configuration of the manufacturing process of the PDP in
このような製造工程を経て得られたPDPでは、プラズマ発生に際して保護層表面の変質層が除去されており、かつ、プラズマ停止の直後に前面基板と背面基板との間に流すガスをヘリウムガスから窒素ガスに変更するため、前面基板と背面基板との間に大気が混入していない。そして、前面基板と背面基板との間が窒素ガスに満たされた状態のまま封着がなされるので、再び保護層表面に変質層が形成されることはない。また、前面基板と背面基板を貼り合せた際に重なり合う部分以上の面積を有する2枚の導体板間に電圧を印加してプラズマを発生させるので、表示電極近傍のみならず、表示電極から離れている保護層表面の変質層をも除去できる。また、保護層表面のみならず、背面基板の隔壁や蛍光体層の表面にも水分や二酸化炭素等がほとんど吸着していない状態のPDPを製造することができるので、張り合わされたPDP内部には、水分、二酸化炭素など保護層表面を変質・劣化させる要因となるガスがほとんど含まれていない。その結果、PDPを長時間駆動させても、放電電圧・輝度等の変化が少なく、パネル寿命に優れたPDPが実現される。 In the PDP obtained through such a manufacturing process, the altered layer on the surface of the protective layer is removed when plasma is generated, and the gas flowing between the front substrate and the rear substrate immediately after the plasma is stopped is changed from helium gas. Since it is changed to nitrogen gas, no air is mixed between the front substrate and the rear substrate. And since sealing is performed in a state where the space between the front substrate and the rear substrate is filled with nitrogen gas, the altered layer is not formed again on the surface of the protective layer. In addition, since the plasma is generated by applying a voltage between two conductive plates having an area larger than the overlapping portion when the front substrate and the rear substrate are bonded together, the plasma is generated not only in the vicinity of the display electrode but also away from the display electrode. The altered layer on the surface of the protective layer can also be removed. In addition, since a PDP in which moisture, carbon dioxide, etc. are hardly adsorbed not only on the surface of the protective layer but also on the partition walls of the back substrate and the surface of the phosphor layer can be manufactured, It contains almost no gas that causes deterioration or deterioration of the surface of the protective layer, such as moisture and carbon dioxide. As a result, even when the PDP is driven for a long time, a change in the discharge voltage, luminance, etc. is small, and a PDP having an excellent panel life is realized.
本発明の更なる効果として、前面基板および背面基板に“割れ”が生じにくい点を挙げることができる。つまり、本発明では、前面基板と背面基板とを貼り合せた際に重なり合う部分以上の面積を有する2枚の導体板間に電圧を供給してプラズマを発生させるので、前面基板および背面基板が、プラズマによって比較的均一に全体が加熱され、局所的な熱勾配による基板の割れが発生しにくい。また、本発明で得られたPDPでは、保護層表面に変質層が無く、また、背面基板表面におけるガス吸着も極めて少ないため、エージングがほとんど不要か、または極めて短時間で済むといった効果もある。 A further advantage of the present invention is that “cracking” hardly occurs in the front substrate and the rear substrate. That is, in the present invention, when the front substrate and the back substrate are bonded, a voltage is generated between the two conductive plates having an area equal to or larger than the overlapping portion, so that the plasma is generated. The whole is heated relatively uniformly by the plasma, and the substrate is not easily cracked by a local thermal gradient. In addition, the PDP obtained by the present invention has no alteration layer on the surface of the protective layer and has very little gas adsorption on the surface of the back substrate. Therefore, there is an effect that aging is almost unnecessary or an extremely short time is required.
(実施形態2)
次に、図4および図5を参照して、本発明の実施形態2について説明する。図4は、本発明の実施形態2におけるプラズマ発生、窒素ガス吹き込み開始、封着直前における4枚の薄板の状態を示した拡大断面図である。図4は、前面基板1および背面基板2の外縁部を拡大表記したものである。図3における前面基板1、背面基板2、第1導体板3、第2導体板4、クリップ部材5および絶縁部材15の構成は、図2に示す構成と同様である。
(Embodiment 2)
Next,
背面基板2の表面には隔壁18が形成されている。背面基板2において隔壁の無い周縁領域に、前面基板1と背面基板2とを封着するためのガラスフリット19が形成されている。ガラスフリット19の外側には、隔壁高さ(100〜140μm)およびガラスフリット厚さ(100〜140μm)よりも厚く形成されたダミーフリット20が設けられている。フリットの形成配置を示した図5の平面図を参照すると分かるように、ガラスフリット19は、前面基板1と背面基板2とを貼り合せた際に重なり合う部分を囲うように、連続的な一続きの環を構成するよう形成されている。一方、ダミーフリット20は、背面基板の主面に数カ所設けられ、例えば長さ5〜15mm(例えば約10mm)、幅3〜7mm(例えば約5mm)、厚さ300〜800μm(例えば約500μm)のものが外縁部にほぼ均等に20カ所設けられている。ダミーフリット20の材質はガラスフリット19と同じであってもよいし、ガラスフリット19よりも軟化点の低い材質あるいは軟化した際の粘度が低い材質であってもよい。同じ材質であれば形成(塗布)工程が簡単になるという利点がある。軟化点が低い材質あるいは軟化した際の粘度が低い材質であれば、封着後の前面基板1と背面基板2との間隔を、ダミーフリット20が無い場合とほぼ同等にすることが容易となる。このようなダミーフリット20を用いることにより、プラズマ発生、窒素ガス吹き込み開始、封着直前における前面基板1と背面基板2との間隔をより大きくすることができるので、基板間の空間におけるガス置換がより迅速にできるだけでなく、プラズマ発生によって除去された変質層由来の物質、水分、二酸化炭素等を基板間の空間から外部へと追い出すことがより迅速に実施できることになる。
A
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されず、種々の改変がなされ得ることを当業者は容易に理解されよう。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited thereto, and those skilled in the art will readily understand that various modifications can be made.
例えば、ガラスフリットを塗布した後、アライメントの前にフリットの仮焼成を行ってもよい。あるいは、蛍光体層形成するステップにおいて蛍光体層の焼成を経ずに、フリットの仮焼成と同時に一括で蛍光体層を焼成することも可能である。 For example, after applying the glass frit, the frit may be temporarily fired before alignment. Alternatively, in the step of forming the phosphor layer, the phosphor layer can be simultaneously fired at the same time as the frit temporary firing without firing the phosphor layer.
また、チップ管を1つ用いる場合を例示したが、チップ管を2つ用いてフロー封排を行ってもよい。「フロー封排」とは、封着の際に一方のチップ管から窒素あるいは乾燥空気を吹き込みながら、他方のチップ管から排気を行い、パネル内のガス置換を促進する方法である。この場合、プラズマ発生や窒素ガス吹き込み開始のステップにおいて、一方のチップ管は何もせず(チップ管とガス供給源との間のバルブを閉にする)、他方のチップ管からガスを供給してもよいし、あるいは、両方のチップ管からガスを供給してもよい。両方のチップ管からガスを供給する方が、より面内ムラの少ないPDPを得ることができる。 Moreover, although the case where one tip pipe | tube was used was illustrated, you may flow-exclude using two chip pipe | tubes. “Flow sealing / discharging” is a method of accelerating gas replacement in the panel by exhausting air from the other tip tube while blowing nitrogen or dry air from one tip tube during sealing. In this case, in the step of starting plasma generation or nitrogen gas blowing, one tip tube does nothing (closes the valve between the tip tube and the gas supply source) and supplies gas from the other tip tube. Alternatively, gas may be supplied from both tip tubes. When the gas is supplied from both the tip tubes, a PDP with less in-plane unevenness can be obtained.
本発明の製造方法では、PDPの製造に際して保護層表面に生じ得る変質層を十分に除去できるので、パネル寿命に優れたPDPを得ることができる。 According to the production method of the present invention, a deteriorated layer that can be generated on the surface of the protective layer during the production of the PDP can be sufficiently removed, so that a PDP having an excellent panel life can be obtained.
1 前面基板(表面板)
2 背面基板(背面板)
3 第1導体板
4 第2導体板
5 クリップ部材
6 チップ管
7 フリットリング
8 配管
9 チャックヘッド
10 高周波電源
11 コネクタ
12 銅板または銅線
13 台座
14 銅板または銅線
15 絶縁部材(絶縁板)
16 シールドケース
17 絶縁板
18 隔壁
19 ガラスフリット
20 ダミーフリット
30 前面基板
31 第1ガラス基板
32a,32b 表示電極
33 第1誘電体層
34 保護層
40 背面基板
41 第2ガラス基板
42 アドレス電極
43 第2誘電体層
45 隔壁
46R,46G,46B 蛍光体層
50 放電空間
51 放電セル
60 PDP
1 Front substrate (surface plate)
2 Back substrate (back plate)
3
16
Claims (11)
(i)第1ガラス基板上に第1電極、第1誘電体層および保護層が形成された前面基板と、第2ガラス基板上に第2電極、第2誘電体層、隔壁および蛍光体層が形成された背面基板とを用意する工程、
(ii)前面基板または背面基板に対してガラスフリットを塗布する工程、
(iii)前記ガラスフリットが前面基板と背面基板との間に位置するように、前面基板と背面基板とを相互に対向させて配置する工程、
(iv)第1導体板が前面基板に接し、第2導体板が背面基板に接するように、第1導体板および第2導体板を前面基板および背面基板の外側に配置する工程、
(v)前面基板および背面基板の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板と背面基板との間にガスを供給しながら、第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加して前面基板と背面基板との間にプラズマを発生させる工程、
(vi)前記ガラスフリットを溶融させて前面基板および背面基板を封着する工程、ならびに
(vii)前面基板と背面基板との間に存在するガスを排気した後、前面基板と背面基板との間にXeを含んで成るガスを封入する工程
を含んで成ることを特徴とする製造方法。 A method for manufacturing a plasma display panel, comprising:
(I) A front substrate in which a first electrode, a first dielectric layer and a protective layer are formed on a first glass substrate, and a second electrode, a second dielectric layer, a partition and a phosphor layer on the second glass substrate. Preparing a back substrate on which is formed,
(Ii) applying a glass frit to the front substrate or the back substrate;
(Iii) a step of disposing the front substrate and the rear substrate so as to face each other so that the glass frit is positioned between the front substrate and the rear substrate;
(Iv) disposing the first conductor plate and the second conductor plate outside the front substrate and the rear substrate so that the first conductor plate is in contact with the front substrate and the second conductor plate is in contact with the rear substrate;
(V) While supplying gas between the front substrate and the rear substrate through a through hole provided in at least one of the front substrate and the rear substrate, a voltage is applied between the first conductor plate and the second conductor plate. Applying and generating plasma between the front substrate and the back substrate,
(Vi) a step of melting the glass frit to seal the front substrate and the rear substrate; and (vii) after exhausting a gas existing between the front substrate and the rear substrate, between the front substrate and the rear substrate. A manufacturing method comprising the step of encapsulating a gas containing Xe.
第1導体板および第2導体板、
第1導体板が前面基板に接し、第2導体板が背面基板に接するように、第1導体板および第2導体板を前面基板および背面基板の外側にて保持するための保持デバイス、
前面基板および背面基板の少なくとも一方に設けられた貫通穴を介して前面基板と背面基板との間にガスを供給するためのガス供給デバイス、ならびに
第1導体板と第2導体板との間に電圧を印加するための電源
を有して成る製造装置。 An apparatus for manufacturing a plasma display panel,
A first conductor plate and a second conductor plate,
A holding device for holding the first conductor plate and the second conductor plate outside the front substrate and the rear substrate so that the first conductor plate is in contact with the front substrate and the second conductor plate is in contact with the rear substrate;
A gas supply device for supplying gas between the front substrate and the rear substrate through a through hole provided in at least one of the front substrate and the rear substrate, and between the first conductor plate and the second conductor plate A manufacturing apparatus comprising a power source for applying a voltage.
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