JP2008293394A - Inlet sealing body, and wrist band in which inlet sealing body is enclosed - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、インレット封止体、該インレット封止体を封入してなるリストバンドに関する。 The present invention relates to an inlet sealing body and a wristband formed by sealing the inlet sealing body.
近年、ICチップを搭載したICタグを物品に取り付け、商品の物流管理、製造履歴管理、あるいはセキュリティ管理等を非接触で行うシステムが注目されている。
このようなICタグの製造には、情報を記録した小さなICチップと該ICチップの情報を無線で送信する小さなアンテナをフィルム上に実装してなるインレットが部品として用いられる。
このようなインレットは、ラミネートやモールドなどのタグ加工によってその表面を保護することによって、耐久性を有するICタグとなり、種々の用途に用いられる。
このようなICタグの一つの用途として、インレットをリストバンドに封入して、人の手首に装着可能とし、工場内での作業者の入退場の管理、スポーツクラブでの種々の管理などに用いられることがある。
このようなリストバンドの一例としては、例えば以下に示すRF−ID用リストバンドがある。
2. Description of the Related Art In recent years, a system that attaches an IC tag equipped with an IC chip to an article and performs merchandise distribution management, manufacturing history management, security management, or the like without contact has been attracting attention.
In manufacturing such an IC tag, a small IC chip on which information is recorded and an inlet in which a small antenna that wirelessly transmits information on the IC chip is mounted on a film are used as components.
Such an inlet becomes a durable IC tag by protecting its surface by tag processing such as laminate or mold, and is used for various applications.
As one application of such an IC tag, an inlet is enclosed in a wristband so that it can be worn on a person's wrist, used for managing entry / exit of workers in a factory, various management in sports clubs, etc. May be.
An example of such a wristband is the following RF-ID wristband.
データを記憶するICチップと当該データを電磁波を用いて非接触で送受信するアンテナとが回路基板上に形成され、封止材にて封止されてなるICタグと、合成樹脂にて成形され、ICタグ収納部を中心にしてその両端部からベルト部を延伸させてなるリストバンド本体と、前記ICタグ収納部は、前記両ベルト部よりも厚肉であって、表面側に近接する位置に前記ICタグを収納する凹部が形成されており、前記凹部は、前記ICタグ収納部の背面側から断面T字状の切り込みにより形成されていることを特徴とするRF−ID用リストバンド(特許文献1参照)。
特許文献1に示されたリストバンドにおいては、ICタグをリストバンド内に収納するために、ICタグの収納部を断面T字状の切り込みにより形成し、ICタグを収納したあとポッテリング加工(樹脂盛)を行うようにしている。
しかしながら、このようなICタグの収納方式だと、リストバンドを形成した後に、ICタグを収納するための別工程を経なければならず、製造工程が煩雑である。
In the wristband disclosed in
However, such an IC tag storage method requires a separate process for storing the IC tag after the wristband is formed, and the manufacturing process is complicated.
このように、従来のICタグを封入したリストバンドにおいては、製造工程が煩雑化するにも関わらず、ICタグをリストバンドの成型後に封入する形態を採っている。
これは、リストバンドをシリコンゴムのプレス加硫によって成型する場合において、ICタグを封入した状態でリストバンドを成型しようとすると、プレス加硫時の熱によってICチップやアンテナが破損する危険があると考えられ、これを避けるために比較的低温での加工ができるポッテリング加工によってリストバンドの成型後にICタグを封入するようにしているものと考えられる。
As described above, the conventional wristband in which the IC tag is encapsulated adopts a form in which the IC tag is encapsulated after the wristband is formed, although the manufacturing process is complicated.
This is because when the wristband is molded by press vulcanization of silicon rubber, if the wristband is molded with the IC tag enclosed, there is a risk of damage to the IC chip or antenna due to heat during the press vulcanization. In order to avoid this, it is considered that the IC tag is sealed after the wristband is formed by pottering which can be processed at a relatively low temperature.
したがって、リストバンドのプレス加硫時の熱によってICチップ等が破損しないようにインレットを封止したICタグ(インレット封止体)ができれば、リストバンドの成型時にICタグを封止してリストバンドを成型でき、工程の簡素化が実現できる。このような耐熱性に優れたICタグは、リストバンドに封入する場合に限らず、種々の用途において有用なものとなる。 Therefore, if an IC tag (inlet sealing body) in which the inlet is sealed so that the IC chip or the like is not damaged by the heat during the press vulcanization of the wristband can be obtained, the IC tag is sealed when the wristband is molded. The process can be simplified. Such an IC tag excellent in heat resistance is useful not only in the case of enclosing in a wristband but also in various applications.
そこで、本発明の一つの課題は、シリコンゴムのプレス加硫時のように熱が加わるような場合においても、ICチップやアンテナが破損しない耐熱性に優れたインレット封止体を得ることである。
また、そのようなインレット封止体をシリコンゴム内に封入してリストバンドを成型したとしても、リストバンドの使用状態において、ICチップやアンテナが破損しないようにすることも必要である。
そこで、本発明の他の課題は、ICチップやアンテナが破損しないようにリストバンドにインレットが封入されるようにしたリストバンドを得ることにある。
Therefore, one object of the present invention is to obtain an inlet sealed body excellent in heat resistance that does not damage an IC chip or an antenna even when heat is applied as in the case of silicon rubber press vulcanization. .
Further, even if such an inlet sealing body is sealed in silicon rubber and a wristband is molded, it is necessary to prevent the IC chip and the antenna from being damaged in the usage state of the wristband.
Accordingly, another object of the present invention is to obtain a wristband in which an inlet is sealed in a wristband so that an IC chip and an antenna are not damaged.
(1)本発明に係るインレット封止体は、PETフィルム上にアンテナ及びICチップを搭載したインレットの両面を、粘着層を介してPENフィルムで封止してなることを特徴とするものである。 (1) The inlet sealing body according to the present invention is characterized in that both sides of an inlet in which an antenna and an IC chip are mounted on a PET film are sealed with a PEN film via an adhesive layer. .
(2)また、上記(1)に記載のものにおいて、アンテナ及びICチップが搭載された面側に設けるPENフィルムの厚みを他方の面に設けるPENフィルムの厚みよりも厚くしたことを特徴とするものである。 (2) Further, in the above (1), the thickness of the PEN film provided on the surface side on which the antenna and the IC chip are mounted is made larger than the thickness of the PEN film provided on the other surface. Is.
(3)また、本発明に係るリストバンドは、上記(1)または(2)に記載のインレット封止体をシリコンゴム内に封入してなることを特徴とするリストバンド。 (3) A wristband according to the present invention is formed by sealing the inlet sealing body according to the above (1) or (2) in silicon rubber.
(4)また、上記(3)に記載のものにおいて、リストバンドはリング状のシリコンゴムからなり、リングの一部分が低硬度のシリコンゴムからなる低硬度部からなり、リングの他の部分が高硬度のシリコンゴムからなる高硬度部からなり、インレット封止体が高硬度部に封入されていることを特徴とするものである。 (4) In the above (3), the wristband is made of ring-shaped silicon rubber, a part of the ring is made of a low hardness part made of low hardness silicon rubber, and the other part of the ring is made high. It consists of a high hardness portion made of silicon rubber having a hardness, and is characterized in that an inlet sealing body is sealed in the high hardness portion.
(5)また、上記(4)に記載のものにおいて、2枚の高硬度未加硫シリコンゴム短冊の間にインレット封止体を挟んでなる積層構造体と、1枚の低硬度未加硫シリコンゴム短冊をプレス加硫することによってリング状に成型してなることを特徴とするものである。 (5) Further, in the structure described in (4) above, a laminated structure in which an inlet sealing body is sandwiched between two high-hardness unvulcanized silicon rubber strips, and one low-hardness unvulcanized sheet A silicon rubber strip is formed into a ring shape by press vulcanization.
(6)また、上記(4)又は(5)に記載のものにおいて、インレット封止体を封入している部位のシリコンゴムの厚みを厚くしたことを特徴とするものである。 (6) Further, in the above (4) or (5), the thickness of the silicon rubber in the portion enclosing the inlet sealing body is increased.
(7)また、上記(3)〜(6)のいずれかに記載のものにおいて、インレット封止体がシリコンゴムと分離可能状態で封入されていることを特徴とするものである。 (7) Moreover, in the thing in any one of said (3)-(6), an inlet sealing body is enclosed with the silicon rubber in the separable state, It is characterized by the above-mentioned.
本発明においては、PETフィルム上にアンテナ及びICチップを搭載したインレットの両面を、粘着層を介してPENフィルムで封止してインレット封止体を構成したので、シリコンゴムの熱プレス成形工程においても、インレットに熱的なストレスが作用せず、ICチップやアンテナを破損することがない。 In the present invention, since the inlet sealing body is configured by sealing both sides of the inlet mounting the antenna and the IC chip on the PET film with the PEN film via the adhesive layer, in the hot press molding process of silicon rubber However, thermal stress does not act on the inlet, and the IC chip and the antenna are not damaged.
[実施の形態1]
図1は本発明の一実施の形態に係るインレット封止体の説明図であり、インレット封止体の平面図を示している。図2は、図1における矢視A−A断面を拡大して示す図である。
本実施の形態に係るインレット封止体1は、PET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム3にICチップ5と該ICチップ5に接続された無線通信用のアンテナ7が搭載されてなるインレット8の両面に両面テープ9の粘着層を介してPEN(2軸延伸ポリエチレン2,6−ナフタレート)フィルムを貼着して形成されている。
[Embodiment 1]
FIG. 1 is an explanatory view of an inlet sealing body according to an embodiment of the present invention, and shows a plan view of the inlet sealing body. FIG. 2 is an enlarged view showing an AA cross section in FIG.
The
PENフィルム11の例としては、帝人株式会社の「テオネックス(登録商標)」フィルムが挙げられる。このテオネックス(登録商標)フィルムの物性値、およびPETフィルム3の物性値を表1に示す。
PENフィルム11は、ICチップ5及びアンテナ7に対向する側のPENフィルム11Aの厚みを250μmとし、他方の側のPENフィルム11Bの厚みを100μmとしている。このように、ICチップ5及びアンテナ7に対向する側のPENフィルム11Aの厚みを厚くすることにより、インレット封止体1に外力が作用した場合にもICチップ5及びアンテナ7の破損を防止できる。
In the PEN
両面テープ9は、市販品を用いることができ、その構造を例示すると以下に示すようなものがある。すなわち、一つの例として、高分子粘着剤層13の両面に低分子粘着剤層15A、15Bが形成された3層構造のもので、厚さ80μmで、耐熱温度が180℃のものがある。
また、他の例としては、ポリエステル基材の両面にアクリル系粘着剤層が形成されたもので、厚さ100μmで、耐熱温度が180℃のものがある。
As the double-sided tape 9, a commercially available product can be used, and examples of the structure include the following. That is, as an example, there is a three-layer structure in which the low molecular pressure-sensitive
As another example, an acrylic pressure-sensitive adhesive layer is formed on both sides of a polyester base material, and has a thickness of 100 μm and a heat resistant temperature of 180 ° C.
なお、インレット封止体1に用いる両面テープ9の例としては、上記のものに限定されない。また、インレット8の両面を覆う粘着層を形成する手段として、上記の例では両面テープを用いた例を示したが、これに限られず、粘着層を直接塗布するようにしてもよい。
In addition, as an example of the double-sided tape 9 used for the
次に、上記のように構成されたインレット封止体1の製造方法を説明する。
インレット封止体1は、以下の製造工程によって製造される。厚さ250μmのPENフィルム11A上に両面テープ9を貼着する。貼着した両面テープ9の粘着層にインレット8を設置する。このとき、インレット8におけるICチップ5及びアンテナ7側の面を粘着層側とする。次に、設置されたインレット8の上面に両面テープ9をさらに貼着する。そして、貼着した両面テープ9の粘着層の上に厚さ100μmのPENフィルム11Bを貼着する。
Next, the manufacturing method of the
The
上記のように構成されたインレット封止体1においては、インレット封止体1を例えばシリコンゴム内に封入する場合のような加熱工程を有する加工において、以下のような特徴を有する。
インレット8が粘着層を介してPENフィルム11内に封止されており、このように粘着層を介することで、インレット8とPENフィルム11は、両者を接着した場合のような固定状態ではなく、半固定状態で接合されている。このため、熱加工時の熱によって、PENフィルム11とインレット8を形成しているPETフィルム3との間の線膨張係数の相違から両者間の伸びの違いが生じても、粘着層がクッションとなりインレット8には過大な応力が作用せず、ICチップ5及びアンテナ7を破損から防止する。
The
The
また、PENフィルム11は耐熱性に優れているので、このような素材で覆われたインレット封止体1は耐熱性に優れる。
さらに、インレット封止体1においては、インレット8に至るまでに、PENフィルム11、両面テープ9における3つの層(低分子粘着層→高分子粘着層→低分子粘着層、アクリル系粘着材層→ポリエステル基材→アクリル系粘着材層)というように材質の異なる複数の層が介在することが、熱伝達率を小さくしており、熱加工時においてインレット8への熱の伝達を少なくしてインレット8を保護するように作用する。
Moreover, since the PEN
Furthermore, in the
[実施の形態2]
図3は本発明の一実施の形態におけるリストバンドの外観を示す図、図4はリストバンドを側面から見た図である。
本実施の形態に係るリストバンド17は、リング状に成形したシリコンゴムからなり、シリコンゴム内に実施の形態1のインレット封止体1が封入されている。
リストバンド17は、高硬度のシリコンゴム19と低硬度のシリコンゴム21を周方向の2箇所で接着して形成されている。
また、高硬度のシリコンゴム19の部分は、低硬度のシリコンゴム21の部分よりも厚みが厚くなっており、インレット封止体1は高硬度のシリコンゴム19の部分に封入されている。
[Embodiment 2]
FIG. 3 is a view showing the appearance of a wristband in an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a view of the wristband as viewed from the side.
The
The
The high
このように、本実施の形態においては、リストバンド17を低硬度のシリコンゴム21と高硬度のシリコンゴム19を周方向で接着して形成してなるので、リストバンド17を装着する時のようにリストバンド17を伸ばした場合において、低硬度の部分に大きな変形が集中し、このため、高硬度の部分に封入されたインレット封止体1には大きな力が作用しない。よって、リストバンド17の伸長によってインレット封止体1に封止されたインレット8のIC基板やアンテナ7が破損する恐れがない。
Thus, in the present embodiment, the
次に、上記のようなリストバンド17の製造方法を説明する。
リストバンド17は、図5に示すように、高硬度の未加硫シリコンゴムからなる2枚の高硬度未加硫シリコンゴム短冊23、低硬度の未加硫シリコンゴムからなる1枚の低硬度未加硫シリコンゴム短冊25及びインレット封止体1を材料として、図6に示す熱プレス機27を用いたシリコンゴムのプレス加硫によって製造される。
以下に未加硫シリコンゴム短冊の仕様及び熱プレス機27の概要を説明する。
Next, a method for manufacturing the
As shown in FIG. 5, the
The specification of the unvulcanized silicon rubber strip and the outline of the
<未加硫シリコンゴム短冊>
未加硫シリコンゴム短冊は、シリコンポリマーに加硫剤、老化防止剤、軟化材、着色剤、補強剤などを加えてロールミルで混練し、1日経過したものであって、硬度の異なる硬軟2種類のものである。高硬度未加硫シリコンゴム短冊と低硬度未加硫シリコンゴム短冊はそれぞれ、以下の寸法に設定されている。
高硬度未加硫シリコンゴム短冊(内側):幅10mm、長さ80mm、厚さ2.25mm
高硬度未加硫シリコンゴム短冊(外側):幅10mm、長さ80mm、厚さ2.0mm
低硬度未加硫シリコンゴム短冊 :幅10mm、長さ110mm、厚さ3mm
<Unvulcanized silicone rubber strip>
Unvulcanized silicone rubber strips are made by adding a vulcanizing agent, an anti-aging agent, a softening material, a coloring agent, a reinforcing agent, etc. to a silicon polymer, kneading with a roll mill, and passing through one day. Of a kind. The high hardness unvulcanized silicone rubber strips and the low hardness unvulcanized silicone rubber strips are set to the following dimensions, respectively.
High hardness unvulcanized silicone rubber strip (inside): width 10mm, length 80mm, thickness 2.25mm
High hardness unvulcanized silicone rubber strip (outside): 10mm wide, 80mm long, 2.0mm thick
Low hardness unvulcanized silicone rubber strip: width 10mm, length 110mm, thickness 3mm
(高硬度の未加硫シリコンゴム)
高硬度の未加硫シリコンゴムは、一般成型品用と力のかかる部品用のシリコンポリマーを半々ブレンドしてなるものである。
これらシリコンポリマーの物性を、これをある条件でプレス加硫してなるシリコンゴムの物性値を示すことによって示す。
一般成型品用のシリコンポリマーをプレス加硫してなるシリコンゴムの例としては、GE東芝シリコン(株)製の製品名:TSE2287Uがある。
また、力のかかる部品用のシリコンポリマーをプレス加硫してなるシリコンゴムの例としては、GE東芝シリコン(株)製の製品名:TSE261−7Uがある。これらの各製品の製品規格値をそれぞれ以下の表2、表3に示す。
High-hardness unvulcanized silicone rubber is obtained by blending half of the silicone polymer for general molded products and parts with high forces.
The physical properties of these silicon polymers are shown by showing the physical property values of silicon rubber obtained by press vulcanization under certain conditions.
An example of silicon rubber obtained by press vulcanizing a silicon polymer for general molded products is a product name: TSE2287U manufactured by GE Toshiba Silicon Corporation.
Moreover, as an example of the silicon rubber formed by press vulcanizing a silicon polymer for a part to which force is applied, there is a product name: TSE261-7U manufactured by GE Toshiba Silicon Co., Ltd. The product specification values of these products are shown in Tables 2 and 3 below.
(低硬度の未加硫シリコンゴム)
低硬度の未加硫シリコンゴムは、高耐久性のシリコンポリマーを用いた。この高耐久性のシリコンポリマーをプレス加硫してなるシリコンゴムの例としては、GE東芝シリコン(株)製の製品名:XE20−523−5Uがある。この製品の製品規格値を以下の表4に示す。
As the low-hardness unvulcanized silicone rubber, a highly durable silicone polymer was used. An example of silicon rubber obtained by press vulcanizing this highly durable silicon polymer is a product name: XE20-523-5U manufactured by GE Toshiba Silicon Corporation. The product specification values of this product are shown in Table 4 below.
<インレット封止体>
実施の形態1で示した構造を有するインレット封止体1であって、幅4mm、長さ55mm、厚さ0.2mmのものを用いた。
<Inlet sealed body>
The
<熱プレス機の概要>
図6はシリコンゴムのプレス加硫を行う熱プレス機27の説明図である。まず、熱プレス機27の構造を概説する。
熱プレス機27は、下方に向けて凹陥する半円状の凹部29を有する下型31と、下型31の凹部29と略同一の半径を有する円柱状の中型33と、上方に向けて凹陥する半円状の凹部35を有する上型36と、上型36を下型31に向けて押圧する油圧シリンダ37を備えた本体部39と、を備えている。
下型31の凹部29には、幅10mm、深さ2.5mm〜3.3mmの半円状の下溝41が形成されている。下溝41の深さは、中央部(インレット封止体1が配置される分部)が3.3mmであり、そこから両端部にかけて漸次浅くなって、両端部では2.5mmになっている。
下溝41の中央部には下溝41から下型31の側面に連通するベント43が形成されている。
また、下型31の凹部29を挟む両側上面にはガイドピン45が設けられ、上型36のガイド孔(図示なし)に挿入できるようになっている。
上型36の凹部35には、幅10mm、深さ2.5mmの半円状の上溝47が形成されている。
なお、シリコンゴムのプレス加硫においては、上型36と下型31とは160℃から170℃に加熱される。
<Outline of heat press machine>
FIG. 6 is an explanatory view of a
The
A semicircular
A
In addition, guide pins 45 are provided on the upper surfaces of both sides of the
A semicircular
In the press vulcanization of silicon rubber, the
<リストバンドの成形方法の説明>
2枚の高硬度未加硫シリコンゴム短冊23の間にインレット封止体1を挟み、高硬度未加硫シリコンゴム短冊23とインレット封止体1からなる積層構造体49にし(図5参照)、これを湾曲させながら下型31の下溝41に嵌め込む。嵌め込んだ状態において、下溝41の中央は積層構造体49で占められ、下溝41の両端は約10mmずつ開いた状態になっている。また、積層構造体49はその厚さ方向に1mm程度下溝41から上方に突出している。
<Description of wristband molding method>
An
積層構造体49を下型31に設置した後、下型31に中型33を入れ、積層構造体49上に載せる。この状態では、中型33の上半分は下型31から露出しているので、この露出面の中央部に設けられた目印線にあわせて低硬度未加硫シリコンゴム短冊25を載せる。低硬度未加硫シリコンゴム短冊25を中型33に載置した状態において、低硬度未加硫シリコンゴム短冊25は中型33の半円部の全てを覆うことはなく、中型33の半円部の両端部には5mm程度低硬度未加硫シリコンゴム短冊25に覆われていない部分が存在する。
After the
低硬度未加硫シリコンゴム短冊25を設置した状態で下型31に立設されたガイドピン45に上型36のガイド孔を挿入することにより上型36と下型31を組み合わせ、熱プレス機27の本体部39に設置し、油圧シリンダ37によって上型36を下型31側に所定の圧力(150kg/cm2)で押圧する。
各短冊23、25は、加圧・加熱の作用により未加硫のシリコンゴムが流れて、高硬度未加硫シリコンゴム短冊23と低硬度未加硫シリコンゴム短冊25がその両端面で合流し、また高硬度の2枚の高硬度未加硫シリコンゴム短冊23は接合面で合流し、余分なシリコンゴムはベント43から流出する。
高硬度未加硫シリコンゴム短冊23と低硬度未加硫シリコンゴム短冊25の合流部においては過酸化物加硫が起こり、両者が接着する。また、2枚の高硬度未加硫シリコンゴム短冊23の接合面においても、インレット封止体1を除く領域で上下の高硬度未加硫シリコンゴム短冊23相互が接着し、インレット封止体1は厚み方向でほぼ中央に配置される。
この状態で6〜7分加熱すると加硫反応が終了する。
The
In each
Peroxide vulcanization occurs at the junction of the high-hardness unvulcanized silicone rubber strips 23 and the low-hardness unvulcanized silicone rubber strips 25, and the two adhere. In addition, the upper and lower high-hardness unvulcanized silicon rubber strips 23 are bonded to each other in the region excluding the
When heated in this state for 6 to 7 minutes, the vulcanization reaction is completed.
加硫反応の終了後に、プレス機を開き、上型36を取り外し、さらに中型33を取り外す。このとき、接合されてリング状になったリストバンド17が中型33に装着された状態で下型31から取り外せる。
その後、1〜1.5日経過後に、180℃で1時間の二次加硫を行う。
After completion of the vulcanization reaction, the press is opened, the
Thereafter, after 1 to 1.5 days have elapsed, secondary vulcanization is performed at 180 ° C. for 1 hour.
上記のようにして成型されたリストバンド17に対して、(1)リストバンド17の使用環境においてインレット8の動作が正常に行われるかどうか、(2)ICチップ5の信頼性がリストバンド17の成型工程を経ることによって劣化していないかどうか、という2つの観点から確認試験を行った。
以下、この確認試験について試験方法及び試験結果を説明する。
For the
Hereinafter, the test method and test results for this confirmation test will be described.
(1)リストバンド17の使用環境においてインレット8の動作が正常に行われるかどうかについて
この確認試験においては、リストバンド17を引っ張って伸縮させるが、その場合の引っ張る方法については、図7、図8に示す2つの方法で行った。図7の方法は、インレット封止体1を封入した箇所と異なる箇所に2本の棒材を挿入して、これらを離したり近づけたりして引張試験を行う方法である。図8の方法は、2本の棒材のうちの1本をインレット封止体1を封入した箇所に配置して他の1本の棒材をその対向部に配置して、これら2本の棒材を離したり近づけたりして引張試験を行う方法である。
これら、2つの方法を行ったのは、リストバンド17に対する引張の力の作用点の位置によって、インレット封入体への影響が異なることを考慮したものである。
以下、具体的な試験方法について説明する。
(1) Whether or not the operation of the
These two methods were performed in consideration of the fact that the influence on the inlet enclosure differs depending on the position of the point of action of the tensile force on the
Hereinafter, a specific test method will be described.
(i)限界引っ張り試験
(試験方法)
インレット8からの情報の読取りを行いながら一定の速度でリストバンド17を引っ張り、読取りが不能になるか、またはリストバンド17が破断するまでの強度を測定する。
(試験結果)
3つのサンプルについて上記の試験を行ったが、全てのサンプルにおいて、破断に至るまで読取りが可能であった。
(i) Limit tensile test (test method)
While reading the information from the
(Test results)
The above test was performed on three samples, and all samples could be read until breakage occurred.
(ii)繰り返し引っ張り試験(加速)
(試験方法)
リストバンド17を2倍程度に伸ばすことを繰り返すことによりストレスを付加し、リストバンド17が破断するまで、または情報の読取りが不能になるまでのストレス回数を測定する。読取りをしながら、自動計数伸縮装置で一定変形を繰り返し加える。
(試験結果)
3つのサンプルについて上記の試験を行ったが、全てのサンプルにおいて、破断に至るまで読取りが可能であった。
(ii) Repeated tensile test (acceleration)
(Test method)
Stress is applied by repeatedly extending the
(Test results)
The above test was performed on three samples, and all samples could be read until breakage occurred.
(iii)繰り返し引っ張り試験(通常使用条件)
(試験方法)
リストバンド17を手首に装着する場合と同程度のストレスを繰り返し加え、破断または読取り不能になるストレス回数を測定する。読取りをしながら、自動計数伸縮装置で一定変形を繰り返し加える。(4回×365日×3年=約5000回以上を目標とし、10万回まで実施。)
(試験結果)
3つのサンプルについて上記の試験を行ったが、全てのサンプルにおいて、リストバンド17が破断することなく、また読取りが可能であった。
(iii) Repeated tensile test (normal operating conditions)
(Test method)
The same level of stress as that when the
(Test results)
The above test was performed on three samples, and in all the samples, the
以上の試験結果から、リストバンド17の使用環境においてインレット8の動作が正常に行われることが実証された。
これは、ICチップ5及びアンテナ7に対向する側のPENフィルム11Aの厚みを厚くしたことにより、ICチップ5及びアンテナ7の破損を防止できたこと、インレット封止体1を封入した箇所のシリコンゴムを高硬度のものを使用して厚みを厚くすることで変形量を少なくしたこと等の効果によるものと推察される。
From the above test results, it was proved that the operation of the
This is because the thickness of the
また、成型後のリストバンド17におけるインレット封止体1を封入している部位に切込みを入れて、インレット封止体1とシリコンゴムとの状態を観察したところ、両者は溶着することなく、分離可能状態になっていた。
このように、リストバンド17の成型時においてインレット封止体1がシリコンゴムと溶着しないのは、インレット封止体1を覆うPENフィルム11が耐熱性に優れることによる効果であるが、この効果によって、リストバンド17が伸びて変形したときにも、その変形がインレット封止体1に直接伝達されることなく、ICチップ5及びアンテナ7の破損防止の効果を高めている。
In addition, when a state where the
Thus, when the
(2)ICチップ5の信頼性がリストバンド17の成型工程を経ることによって劣化していないかどうかについて
以下に示す3つの試験方法を行った
<試験方法>
(i)高温放置試験
125℃に放置し、1000時間まで約200時間毎に取り出して読取り性を確認する。
(125℃、1000時間)
(ii)恒温高湿試験
85℃、85%RHに放置し、1000時間まで約200時間毎に取り出して読取り性能を確認する。(85℃、85%RH、1000時間)
(iii)冷熱サイクル
―55〜125℃に繰り返し曝し、1000サイクルまで、約200サイクル毎に読取り性能を確認する。(―55〜125℃、1000サイクル)
<試験結果>
いずれの試験においても、読取り可能であり、動作不良になったものは存在しなかた。
このことから、成型工程を経てもインレット8が劣化していないことが実証された。
(2) Regarding whether or not the reliability of the
(i) High-temperature standing test Leave at 125 ° C and take out every about 200 hours up to 1000 hours to check the readability.
(125 ° C, 1000 hours)
(ii) Constant-temperature and high-humidity test Leave at 85 ° C. and 85% RH, and take out every 200 hours up to 1000 hours to check the reading performance. (85 ° C, 85% RH, 1000 hours)
(iii) Cooling cycle--Repeat exposure to 55-125 ° C and check the reading performance about every 200 cycles up to 1000 cycles. (-55 to 125 ° C, 1000 cycles)
<Test results>
In any of the tests, there was no one that was readable and malfunctioned.
This proved that the
1 インレット封止体
3 PETフィルム
5 ICチップ
7 アンテナ
8 インレット
9 両面テープ
11 PENフィルム
11 APENフィルム
11 BPENフィルム
13 高分子粘着剤層
15 A、15B 低分子粘着剤層
17 リストバンド
19 高硬度のシリコンゴム
21 低硬度のシリコンゴム
23 高硬度未加硫シリコンゴム短冊
25 低硬度未加硫シリコンゴム短冊
27 熱プレス機
29 凹部
31 下型
33 中型
35 凹部
37 油圧シリンダ
39 本体部
41 下溝
43 ベント
45 ガイドピン
47 上溝
49 積層構造体
DESCRIPTION OF
Claims (7)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007140053A JP2008293394A (en) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | Inlet sealing body, and wrist band in which inlet sealing body is enclosed |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007140053A JP2008293394A (en) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | Inlet sealing body, and wrist band in which inlet sealing body is enclosed |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008293394A true JP2008293394A (en) | 2008-12-04 |
Family
ID=40168030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007140053A Pending JP2008293394A (en) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | Inlet sealing body, and wrist band in which inlet sealing body is enclosed |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008293394A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011221598A (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-04 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2011221599A (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-04 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2012068810A (en) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2018133069A (en) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | 丁紹傑 | NFC ring provided with strip-shaped flexible substrate and production method thereof |
-
2007
- 2007-05-28 JP JP2007140053A patent/JP2008293394A/en active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2011221598A (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-04 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2011221599A (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-04 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2012068810A (en) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Toppan Printing Co Ltd | Ic tag |
| JP2018133069A (en) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | 丁紹傑 | NFC ring provided with strip-shaped flexible substrate and production method thereof |
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