[go: up one dir, main page]

JP2000182016A - IC card - Google Patents

IC card

Info

Publication number
JP2000182016A
JP2000182016A JP35856898A JP35856898A JP2000182016A JP 2000182016 A JP2000182016 A JP 2000182016A JP 35856898 A JP35856898 A JP 35856898A JP 35856898 A JP35856898 A JP 35856898A JP 2000182016 A JP2000182016 A JP 2000182016A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
card
thickness
reinforcing plate
sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35856898A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigehiko Inayoshi
成彦 稲吉
Masahiro Sugiura
正博 杉浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP35856898A priority Critical patent/JP2000182016A/en
Priority to FR9915762A priority patent/FR2787610B1/en
Priority to DE19960836A priority patent/DE19960836A1/en
Publication of JP2000182016A publication Critical patent/JP2000182016A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/0772Physical layout of the record carrier
    • G06K19/07728Physical layout of the record carrier the record carrier comprising means for protection against impact or bending, e.g. protective shells or stress-absorbing layers around the integrated circuit
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07745Mounting details of integrated circuit chips
    • H10W70/699
    • H10W74/15
    • H10W90/724
    • H10W90/734

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ICカードが曲げ、点押し等の形態で作用す
る負荷によって破損することを極力防止する。 【解決手段】 回路シート2と、中間シート3と、カバ
ーシート4の3層構造のICカード1において、半導体
チップ6の封止部材7の上面にステンレス板からなる補
強板10を設ける。このICカード1の実用時に良く作
用する負荷形態に基づいて曲げ試験、点押し試験を行う
とともに試験を模擬した有限要素解析を行い、半導体チ
ップ6が破損を生じない補強板9の厚さtと半導体チッ
プ6の厚さTとの関係式を求め、補強板9の厚さtをそ
の関係式を満足する範囲に定める。これにより、半導体
チップ6の破損を極力防止できる。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To prevent an IC card from being damaged by a load acting in a form such as bending or spot pressing as much as possible. SOLUTION: In an IC card 1 having a three-layer structure of a circuit sheet 2, an intermediate sheet 3, and a cover sheet 4, a reinforcing plate 10 made of a stainless steel plate is provided on an upper surface of a sealing member 7 of a semiconductor chip 6. A bending test and a point-push test are performed based on a load form that works well when the IC card 1 is put to practical use, and a finite element analysis simulating the test is performed. A relational expression with the thickness T of the semiconductor chip 6 is obtained, and the thickness t of the reinforcing plate 9 is set in a range satisfying the relational expression. Thereby, damage of the semiconductor chip 6 can be prevented as much as possible.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はメモリ、CPU等の
機能を有する半導体チップを備えたICカードに係り、
特に実使用時の半導体チップの破損を防止するようにし
たものに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC card having a semiconductor chip having functions such as a memory and a CPU.
In particular, the present invention relates to a device for preventing breakage of a semiconductor chip during actual use.

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】現在広く用いられてい
るキャッシュカード、クレジットカード等は、プラスチ
ックカードに磁気ストライプを塗布し、これに記録され
た情報を読み取るようにしたものである。このような磁
気記録方式のものでは、第三者によって情報が解読され
易い、記録可能な情報量が少ないなどの問題があった。
A cash card, a credit card, and the like, which are widely used at present, are obtained by applying a magnetic stripe to a plastic card and reading information recorded on the magnetic stripe. Such a magnetic recording method has problems such that information is easily read by a third party and the amount of recordable information is small.

【0003】そこで、近年、メモリ、CPU等の機能を
有する半導体チップをカード状基体に実装したICカー
ドが開発され、既に実用化されている。このICカード
は、通常、回路パターンを形成して半導体チップを実装
した回路シートと、半導体チップを収納するくりぬき穴
を有して回路シート上に装着された中間シートと、この
中間シート上に装着されたカバーシートとからなる3層
構造とされている。
Therefore, in recent years, an IC card in which a semiconductor chip having functions such as a memory and a CPU is mounted on a card-like base has been developed and has already been put to practical use. This IC card usually has a circuit sheet on which a semiconductor chip is mounted by forming a circuit pattern, an intermediate sheet having a hollow hole for accommodating the semiconductor chip and mounted on the circuit sheet, and an IC card mounted on the intermediate sheet. And a cover sheet having a three-layer structure.

【0004】このような構造のICカードでは、半導体
チップに加わる曲げ力に対して弱く、半導体チップが割
れて使用不能になってしまう場合がある。この問題を解
消し、半導体チップの耐曲げ性の向上を図るものとし
て、例えば特開平9−156265号公報、特開平9−
263082号公報に開示された技術がある。
In an IC card having such a structure, the semiconductor chip is weak against bending force applied to the semiconductor chip, and the semiconductor chip may be broken and become unusable. To solve this problem and improve the bending resistance of the semiconductor chip, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos.
There is a technique disclosed in Japanese Patent No. 263082.

【0005】特開平9−156265号公報に開示され
たICカードは、回路基板上に半導体チップを実装し、
半導体チップを収容するためのくりぬき穴を設けたスペ
ーサを回路基板上に接着し、このスペーサ上に、補強板
として上記のくりぬき穴よりやや大きく形成した厚さ3
0μm程度のステンレス板を半導体チップの真上となる
ように配置し、更にその上にカバーフィルムを接着して
構成してなるものである。また、特開平9−26308
2号公報に開示されたICカードは、半導体チップの少
なくとも一面に補強板として厚さ20μm程度のステン
レス板を接着し、この半導体チップをシート状の中間層
内に埋め込み、そして中間層の表裏両側にシートを接着
して構成してなるものである。
[0005] The IC card disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-156265 has a semiconductor chip mounted on a circuit board.
A spacer provided with a hollow for accommodating a semiconductor chip is adhered on a circuit board, and a reinforcing plate is formed on the spacer as a reinforcing plate having a thickness slightly larger than the above-mentioned hollow.
A stainless plate having a thickness of about 0 μm is disposed directly above the semiconductor chip, and a cover film is further adhered thereon. Also, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-26308
In the IC card disclosed in Japanese Patent Publication No. 2, a stainless steel plate having a thickness of about 20 μm is adhered to at least one surface of a semiconductor chip as a reinforcing plate, and the semiconductor chip is embedded in a sheet-like intermediate layer. And a sheet bonded to the sheet.

【0006】ところで、ICカードの実使用時には、I
Cカードに種々の形態で負荷が加わるが、概ね、ICカ
ードが円弧状に反ったり捻られたりする曲げ負荷と、部
分的に押圧力を受けるいわゆる点押し負荷の2つの形態
に大別される。このような負荷に対しては、半導体チッ
プの片側に補強板を配置すれば、その半導体チップの剛
性を実質的に高めることができるので、半導体チップの
破損を防止することができる。
By the way, when an IC card is actually used, I
Loads are applied to the C card in various forms. Generally, the IC card is roughly classified into two forms: a bending load in which the IC card is bent or twisted in an arc shape, and a so-called spot load in which a partial pressing force is applied. . With respect to such a load, by arranging the reinforcing plate on one side of the semiconductor chip, the rigidity of the semiconductor chip can be substantially increased, so that damage of the semiconductor chip can be prevented.

【0007】しかしながら、本発明者の実験等によって
究明したところによると、この従来の半導体チップ補強
技術、すなわち半導体チップの片側に補強板を配置する
という補強技術では、補強板の厚さと半導体チップの厚
さとの関係によっては、曲げ、点押しなどの形態で負荷
を受けた場合、半導体チップの発生応力が補強板なしの
場合よりも増大することがあり、必ずしも半導体チップ
の破損を防止できるとは限らないことが分かった。
However, according to the results of experiments conducted by the present inventor and the like, according to the conventional semiconductor chip reinforcing technique, that is, the reinforcing technique of disposing a reinforcing plate on one side of a semiconductor chip, the thickness of the reinforcing plate and the thickness of the semiconductor chip are reduced. Depending on the relationship with the thickness, when a load is applied in the form of bending, spot pressing, or the like, the generated stress of the semiconductor chip may be greater than that without the reinforcing plate, and it is not necessarily possible to prevent damage to the semiconductor chip. It turns out that it is not limited.

【0008】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、補強板の厚さを、半導体チップの厚さ
との関係で所定の範囲に設定することにより、曲げ、点
押し等の形態で作用する負荷に耐え、半導体チップの破
損を極力防止できるICカードを提供するにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to set a thickness of a reinforcing plate in a predetermined range in relation to a thickness of a semiconductor chip to bend, push, etc. Another object of the present invention is to provide an IC card capable of withstanding a load acting in the form described above and preventing damage to a semiconductor chip as much as possible.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】発明者は、半導体チップ
の厚さと補強板の板厚との組み合わせを種々変更し、曲
げ試験、点押し試験を行うときに、試験を模擬した有限
要素解析を行い半導体チップの内部応力を明らかにする
と共に、半導体チップの破損の有無を検査した。この試
験結果から、曲げ、点押しなどの負荷に耐え、半導体チ
ップの破損を防止できる補強板の厚さと半導体チップの
厚さとの関係を究明した。
Means for Solving the Problems The inventor of the present invention changed the combination of the thickness of the semiconductor chip and the thickness of the reinforcing plate in various ways, and performed a finite element analysis simulating the test when performing a bending test and a point pressing test. The internal stress of the semiconductor chip was clarified, and the semiconductor chip was inspected for damage. From this test result, the relationship between the thickness of the reinforcing plate and the thickness of the semiconductor chip that can withstand loads such as bending and spot pressing and prevent damage to the semiconductor chip was determined.

【0010】具体的には、使用者がズボンの後ポケッ
トにICカードを入れたまま椅子等に腰を降ろしたよう
な場合に相当する曲げ試験、ボールペンの先端等の比
較的鋭い突起物で押されたような場合に相当する鋭い点
押し試験、財布等に入れられたICカードが衣服また
は財布のボタン等で押されたような場合に相当する鈍い
点押し試験を行い、半導体チップが破損されない補強板
の板厚を半導体チップの厚さとの関係式にして求めた。
Specifically, a bending test corresponding to a case where a user sits down on a chair or the like with an IC card inserted in the back pocket of the pants, and a push with a relatively sharp projection such as a tip of a ballpoint pen. A sharp point pressing test corresponding to the case where the IC card put in the wallet or the like is pressed by a button of the clothes or the wallet or the like, and the semiconductor chip is not damaged. The thickness of the reinforcing plate was determined as a relational expression with the thickness of the semiconductor chip.

【0011】下記(1)式は、上記試験のうち、の曲
げ試験との鋭い点押し試験の結果から、半導体チップ
が破壊されない補強板の板厚tを半導体チップの厚さT
との関係で求めたものである。
The following equation (1) shows that the thickness t of the reinforcing plate that does not break the semiconductor chip is determined by the thickness T of the semiconductor chip from the results of the bending test and the sharp spot pressing test.
It was obtained in relation to

【数3】 (Equation 3)

【0012】また、下記(2)式は、の曲げ試験、
の鋭い点押し試験およびの鈍い点押し試験の結果か
ら、半導体チップが破壊されない補強板の板厚tを半導
体チップの厚さTとの関係で求めたものである。
The following equation (2) is a bending test,
The thickness t of the reinforcing plate that does not destroy the semiconductor chip was determined in relation to the thickness T of the semiconductor chip from the results of the sharp point pressing test and the dull point pressing test.

【数4】 (Equation 4)

【0013】請求項1のICカードによれば、補強板の
板厚tを上記(1)式で示された範囲に設定したので、
ズボンの後ポケットにICカードを入れたまま椅子等に
腰を降ろしたような場合や、ボールペンの先端のような
比較的鋭い突起物で押圧されたような場合に、半導体チ
ップに過大な応力が作用することを防止でき、当該半導
体チップのの破損を効果的に防止することができる。請
求項2のICカードによれば、補強板の板厚tを上記
(2)式で示された範囲に設定したので、衣服または財
布のボタンのような、それ程鋭くない突起物で押圧され
場合にも、半導体チップの破損を効果的に防止すること
ができる。
According to the IC card of the first aspect, since the thickness t of the reinforcing plate is set in the range shown by the above equation (1),
Excessive stress may be applied to the semiconductor chip when the user sits down on a chair or the like with the IC card inserted in the back pocket of the pants, or when pressed by a relatively sharp protrusion such as the tip of a ballpoint pen. The semiconductor chip can be prevented from acting, and damage to the semiconductor chip can be effectively prevented. According to the IC card of the second aspect, since the thickness t of the reinforcing plate is set in the range shown by the above equation (2), the reinforcing plate is pressed by a not so sharp protrusion such as a button of clothes or a wallet. In addition, damage to the semiconductor chip can be effectively prevented.

【0014】ところで、補強板の機能は、半導体チップ
の剛性を実質的に大きくしてその破損を防止するところ
にある。このため、補強板として、通常のプラスチック
で形成したものでは、相当厚くしないと所定の剛性を得
ることができない。これは、ICカード全体の厚さの増
大をもたらす。そこで、請求項3のICカードでは、補
強板のヤング率を100〜300GPaとした。このよ
うな値のヤング率を持つ材料であれば、薄くても半導体
チップを補強する上で必要な剛性を得ることができ、I
Cカードを扱い易い適度な厚さに形成できる。
The function of the reinforcing plate is to substantially increase the rigidity of the semiconductor chip to prevent the semiconductor chip from being damaged. For this reason, a predetermined rigidity cannot be obtained unless the reinforcing plate is made of ordinary plastic unless it is considerably thick. This results in an increase in the thickness of the entire IC card. Therefore, in the IC card according to the third aspect, the Young's modulus of the reinforcing plate is set to 100 to 300 GPa. If the material has a Young's modulus of such a value, the rigidity necessary for reinforcing the semiconductor chip can be obtained even if it is thin, and I
The C card can be formed in an appropriate thickness that is easy to handle.

【0015】また、補強板を半導体チップの回路基板側
に配置すると仮定すると、この場合には、半導体チップ
と回路基板とは電気的に接続する必要があるので、補強
板としては、回路基板の半導体チップ実装面とは反対側
の面に設けなければならない。しかし、このようにする
と、補強板を覆い隠すための別のシートが必要となり、
ICカード全体の厚さの増大をもたらす。請求項4のI
Cカードでは、補強板を、回路基板の両側のうち、半導
体チップの実装側とは反対側に配置したので、該補強板
を半導体チップを保護するケーシングによって隠すこと
ができ、ICカードの薄型化に寄与し得る。
Further, assuming that the reinforcing plate is disposed on the circuit board side of the semiconductor chip, in this case, it is necessary to electrically connect the semiconductor chip and the circuit board. It must be provided on the surface opposite to the semiconductor chip mounting surface. However, this would require another sheet to cover the stiffener,
This leads to an increase in the thickness of the entire IC card. I of claim 4
In the C card, since the reinforcing plate is disposed on the opposite side of the circuit board from the side on which the semiconductor chip is mounted, the reinforcing plate can be hidden by a casing for protecting the semiconductor chip, and the thickness of the IC card can be reduced. Can contribute.

【0016】ICカードを扱い易い厚さに抑えるために
は、請求項5の発明のように、半導体チップの厚さを5
0〜150μmに設定することが好ましく、また、IC
カードの総厚としては、請求項6の発明のように、40
0〜900μmであることが好ましい。
In order to reduce the thickness of the IC card to an easy-to-handle thickness, the thickness of the semiconductor chip is set to 5
It is preferably set to 0 to 150 μm.
The total thickness of the card is 40
It is preferably from 0 to 900 μm.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例を図面に
基づいて説明する。まず、図1および図2に示すよう
に、ICカード1は、回路基板としての回路シート2
と、中間接着層としての中間シート3と、カバーシート
4とから構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, as shown in FIGS. 1 and 2, an IC card 1 includes a circuit sheet 2 as a circuit board.
, An intermediate sheet 3 as an intermediate adhesive layer, and a cover sheet 4.

【0018】上記回路シート2は、プラスチック、例え
ばポリエステル系プラスチック、具体的にはPET(ポ
リエチレンテレフタレート)製のシートからなる。この
回路シート2の一面には、導体回路としてのコイル状の
回路パターン5が形成されていると共に、この回路パタ
ーン5に接続された半導体チップ6が実装されている。
そして、この半導体チップ6は封止部材7によってモー
ルドされている。封止部材7は、例えばエポキシ系のプ
ラスチックからなる比較的硬質のもので、この封止部材
7と中間シート3とカバーシート4とによって半導体チ
ップ6を保護するためのケーシング8が構成されてい
る。
The circuit sheet 2 is a sheet made of plastic, for example, a polyester-based plastic, specifically, PET (polyethylene terephthalate). On one surface of the circuit sheet 2, a coil-shaped circuit pattern 5 as a conductor circuit is formed, and a semiconductor chip 6 connected to the circuit pattern 5 is mounted.
The semiconductor chip 6 is molded by a sealing member 7. The sealing member 7 is a relatively hard material made of, for example, epoxy-based plastic, and a casing 8 for protecting the semiconductor chip 6 is constituted by the sealing member 7, the intermediate sheet 3 and the cover sheet 4. .

【0019】なお、この実施例では、上記コイル状の回
路パターン5は、導電性ペースト、例えばポリエステル
系銀ペーストを用いたスクリーン印刷手段によって形成
され、半導体チップ6は、例えば異方導電性接着剤9に
よりフリップチップ実装されている。この回路パターン
5は、外部機器との間で信号を送受する素子、この実施
例では、電波信号を送受信するアンテナとして機能する
が、半導体チップ6に回路構成されたCPU等の動作用
電力も、この回路パターン5によって受信される外部機
器からの電波信号によって得るように構成されている。
In this embodiment, the coil-shaped circuit pattern 5 is formed by a screen printing means using a conductive paste, for example, a polyester-based silver paste, and the semiconductor chip 6 is formed by, for example, an anisotropic conductive adhesive. 9 is flip-chip mounted. The circuit pattern 5 functions as an element for transmitting / receiving a signal to / from an external device, in this embodiment, an antenna for transmitting / receiving a radio signal. The circuit pattern 5 is configured to be obtained by a radio signal received from an external device.

【0020】前記中間シート3は、熱せられると溶融状
態になって流動性を帯びるという熱溶融性を有したプラ
スチック材料、例えばポリエステル系ホットメルト接着
剤により形成されたシートからなる。この中間シート3
は、回路パターン5、半導体チップ6等を保護すると共
に、自身と回路シート2およびカバーシート4とを接着
する機能をも有するもので、回路パターン5、半導体チ
ップ6等を隙間なく覆う。また、前記カバーシート4
は、比較的軟質の中間シート3を保護する機能も有し、
例えば回路シート2と同様にPET製シートからなる。
The intermediate sheet 3 is made of a plastic material having a heat-melting property such that the intermediate sheet 3 becomes molten when heated and becomes fluid, for example, a sheet formed of a polyester-based hot melt adhesive. This intermediate sheet 3
Has a function of protecting the circuit pattern 5, the semiconductor chip 6, and the like, and also having a function of bonding itself to the circuit sheet 2 and the cover sheet 4, and covers the circuit pattern 5, the semiconductor chip 6, and the like without gaps. The cover sheet 4
Also has the function of protecting the relatively soft intermediate sheet 3,
For example, like the circuit sheet 2, it is made of a PET sheet.

【0021】このような3層構造のICカード1を製造
するには、まず回路シート2に半導体チップ6を実装
し、次にこの半導体チップ6をエポキシ系プラスチック
によりモールドして前記封止部材7を形成する。エポキ
シ系プラスチックは、硬化する前、常温では流動性を帯
びているので、その流動性でもって半導体チップ6の周
りを隙間なく覆う。
In order to manufacture such an IC card 1 having a three-layer structure, first, a semiconductor chip 6 is mounted on the circuit sheet 2 and then the semiconductor chip 6 is molded with an epoxy-based plastic to form the sealing member 7. To form The epoxy-based plastic has fluidity at room temperature before curing, so that the fluidity covers the semiconductor chip 6 without gaps.

【0022】半導体チップ6を封止部材7でモールドし
た後、回路シート2上に中間シート3およびカバーシー
ト4を順に重ね、全体を図示しない熱プレス装置により
熱圧着する。すると、中間シート3を構成するホットメ
ルト接着剤が加熱されて溶融し、流動性を帯びるように
なるため、溶融状態となったホットメルト接着剤が回路
パターン5や封止部材7を隙間なく覆う。同時に中間シ
ート3は、上下両側からの加圧によって厚さが均一とな
るように成形されて回路シート2とカバーシート4とを
接着する。そして、その後の冷却により、中間シート3
は固化し、以上により回路シート2と中間シート3とカ
バーシート4とからなる3層構造のICカード1が製造
される。
After the semiconductor chip 6 is molded with the sealing member 7, the intermediate sheet 3 and the cover sheet 4 are sequentially stacked on the circuit sheet 2, and the whole is thermocompression-bonded by a hot press device (not shown). Then, the hot-melt adhesive constituting the intermediate sheet 3 is heated and melted and becomes fluid, so that the molten hot-melt adhesive covers the circuit pattern 5 and the sealing member 7 without gaps. . At the same time, the intermediate sheet 3 is formed so as to have a uniform thickness by applying pressure from both the upper and lower sides, and adheres the circuit sheet 2 and the cover sheet 4. Then, the intermediate sheet 3 is cooled by the subsequent cooling.
Is solidified, and an IC card 1 having a three-layer structure including the circuit sheet 2, the intermediate sheet 3, and the cover sheet 4 is manufactured as described above.

【0023】以上のようなICカード1では、回路シー
ト2とカバーシート4とがPETで形成され、中間シー
ト3がポリエステル系ホットメルト接着剤で形成されて
いて、いずれも柔軟性を有しているので、曲げ力が作用
したとき、ICカード1は弾力性をもってしなやかに曲
がる。
In the IC card 1 as described above, the circuit sheet 2 and the cover sheet 4 are formed of PET, and the intermediate sheet 3 is formed of a polyester hot melt adhesive. Therefore, when a bending force acts, the IC card 1 bends flexibly with elasticity.

【0024】そして、ICカード1が曲げられると、半
導体チップ6に曲げ力が作用して該半導体チップ6が破
損する恐れがあるので、半導体チップ6を補強してその
剛性を実質的に高めるために、補強板10が設けられて
いる。この補強板10は、封止部材7とほぼ同じ大きさ
に形成され、封止部材7により半導体チップ6を封止し
た後工程でその封止部材7の上面に重ねて配置される。
この場合、補強板10は、その中心を半導体チップ6の
中心にほぼ一致させるように配置される。この後、前述
のようにして回路シート2、中間シート3、カバーシー
ト4が熱圧着されるので、補強板10は、中間シート3
を構成するホットメルト接着剤が溶融状態となることに
よって該ホットメルト接着剤により隙間なく覆われる。
When the IC card 1 is bent, a bending force acts on the semiconductor chip 6 and the semiconductor chip 6 may be broken. Therefore, the semiconductor chip 6 is reinforced to substantially increase its rigidity. , A reinforcing plate 10 is provided. The reinforcing plate 10 is formed to have substantially the same size as the sealing member 7, and is disposed on the upper surface of the sealing member 7 in a step after the semiconductor chip 6 is sealed by the sealing member 7.
In this case, the reinforcing plate 10 is disposed so that the center thereof substantially matches the center of the semiconductor chip 6. Thereafter, the circuit sheet 2, the intermediate sheet 3, and the cover sheet 4 are thermocompression-bonded as described above.
When the hot melt adhesive constituting the above is in a molten state, the hot melt adhesive is completely covered by the hot melt adhesive.

【0025】ここで、半導体チップ6の鏡面6a側と
は、図1において上面側のことをいう。すなわち、図1
において半導体チップ6の上下両面のうち、回路シート
2側の下面には集積回路が形成されており、上面は半導
体チップ6がウエーハのときに裏面研削されたままの鏡
面となっている。このことから、半導体チップ6の上面
を鏡面と称し、下面を回路面と称しているので、本実施
例においてもその呼称に倣った。
Here, the mirror surface 6a side of the semiconductor chip 6 means the upper surface side in FIG. That is, FIG.
The integrated circuit is formed on the lower surface of the upper and lower surfaces of the semiconductor chip 6 on the circuit sheet 2 side, and the upper surface is a mirror surface that has been back-ground when the semiconductor chip 6 is a wafer. For this reason, the upper surface of the semiconductor chip 6 is referred to as a mirror surface, and the lower surface is referred to as a circuit surface.

【0026】補強板10は、半導体チップ6の剛性を高
めるために、ヤング率が100〜300GPa(ギガ・
パスカル)の材料、例えばステンレス板によって形成さ
れている。補強板10による補強効果は、通常は、その
厚さが厚い程大きい。しかしながら、実使用時に良く現
れる曲げ、点押しなどの負荷形態では、補強板10を設
けても、半導体チップ6の厚さとの関係によってはかえ
って半導体チップ6に作用する応力が大きくなることが
ある。
The reinforcing plate 10 has a Young's modulus of 100 to 300 GPa (giga.
Pascal) material, for example, a stainless steel plate. The reinforcing effect of the reinforcing plate 10 is generally greater as the thickness is larger. However, in a load form such as bending or spot pressing that often appears in actual use, even if the reinforcing plate 10 is provided, the stress acting on the semiconductor chip 6 may be increased depending on the relationship with the thickness of the semiconductor chip 6.

【0027】そこで、本発明者は上述のようなICカー
ド1を使用して曲げ試験と2種類の点押し試験を行い、
半導体チップ6が破損しないための補強板10の厚さ
を、半導体チップ6の厚さとの関係で求めた。曲げ試験
は、図8に示すように、ICカード1を半径40mmの
マンドレル11の上に半導体チップ6の鏡面6a側が下
となるようにして載せ、そして、ICカード1全体を円
弧状の押え治具12により加圧してマンドレル10の円
筒状外面に沿うように円弧状に曲げ、半導体チップ6に
作用する応力を、試験を模擬した有限要素解析により明
らかにするとともに半導体チップ6の破損の有無を検査
するものである。
Then, the present inventor conducted a bending test and two types of point pressing tests using the IC card 1 as described above,
The thickness of the reinforcing plate 10 for preventing the semiconductor chip 6 from being damaged was determined in relation to the thickness of the semiconductor chip 6. In the bending test, as shown in FIG. 8, the IC card 1 is placed on a mandrel 11 having a radius of 40 mm so that the mirror surface 6a side of the semiconductor chip 6 faces down, and the entire IC card 1 is clamped in an arc shape. The tool 12 is pressurized and bent into an arc shape along the cylindrical outer surface of the mandrel 10, and the stress acting on the semiconductor chip 6 is clarified by finite element analysis simulating a test, and the presence or absence of breakage of the semiconductor chip 6 is determined. It is to be inspected.

【0028】点押し試験は、図9に示す鋭い点押し試験
と図10に示す鈍い点押し試験とがあり、いずれも、I
Cカード1の半導体チップ6(補強板10)の配置部分
を小径の半球圧子13,14で押圧して半導体チップ6
に作用する応力を、試験を模擬した有限要素解析により
明らかにするとともに半導体チップ6の破損の有無を検
査するものである。この試験では、ICカード1は、厚
さ20mmのゴム板15の上に半導体チップ6の鏡面6
a側が上となるようにして載せられる。そして、鋭い点
押し試験では、半径1.5mmの半球圧子13を10N
(ニュートン)で押圧し、鈍い点押し試験では、半径1
0mmの半球圧子14を17Nで押圧する。
The point pressing test includes a sharp point pressing test shown in FIG. 9 and a dull point pressing test shown in FIG.
The portion of the C card 1 where the semiconductor chip 6 (reinforcement plate 10) is placed is pressed by small-diameter hemispherical indenters 13 and 14 so that the semiconductor chip 6
Is clarified by finite element analysis simulating a test, and the presence or absence of breakage of the semiconductor chip 6 is inspected. In this test, the IC card 1 is placed on a mirror plate 6 of a semiconductor chip 6 on a rubber plate 15 having a thickness of 20 mm.
It is placed so that the a side faces upward. Then, in the sharp spot pressing test, the hemispherical indenter 13 having a radius of 1.5 mm was
(Newton), and in the dull spot pressing test, the radius is 1
A 0 mm hemispherical indenter 14 is pressed with 17N.

【0029】上記の曲げ試験でマンドレル11の上にI
Cカード1を半導体チップ6の鏡面側6a側が下となる
ようにして載せ、および点押し試験で、ゴム板15上に
ICカード1を半導体チップ6の鏡面6a側が上となる
ように載せる理由は次の通りである。すなわち、押え治
具12でICカード1を押し、或いは半球圧子13,1
4でICカード1を押圧すると、ICカード1は回路シ
ート2側が凸となるように曲がる。このとき、ICカー
ド1の曲げの中立軸は、例えば図1に二点鎖線ρで示す
ように、半導体チップ6の厚さ方向の中心よりも鏡面6
a側に存在すると考えられる。そうすると、半導体チッ
プ6の鏡面6a側には圧縮力、回路面6bには引張力が
作用する。
In the above bending test, the I
The reason why the C card 1 is placed so that the mirror surface 6a side of the semiconductor chip 6 faces down, and the IC card 1 is placed on the rubber plate 15 so that the mirror surface 6a side of the semiconductor chip 6 faces up in the spot pressing test is as follows. It is as follows. That is, the IC card 1 is pressed by the holding jig 12 or the hemispherical indenter 13 is pressed.
When the IC card 1 is pressed at 4, the IC card 1 bends so that the circuit sheet 2 side becomes convex. At this time, the neutral axis of the bending of the IC card 1 is, for example, as shown by a two-dot chain line ρ in FIG.
It is thought that it exists on the a side. Then, a compressive force acts on the mirror surface 6a side of the semiconductor chip 6 and a tensile force acts on the circuit surface 6b.

【0030】そして、半導体チップ6の鏡面6a側はウ
エーハの単結晶のままで高強度であるが、回路面6b側
は集積回路の形成のために不純物が添加されていたり、
凹凸状になっていたりして、強度的に弱くなっている。
このため同じ曲げ応力が作用しても、回路面6b側が凸
となって引張力が加わる状態となったときの方が半導体
チップ6は破損し易い。このようなことを考慮して、曲
げ試験および点押し試験では、ICカード1が曲げられ
たとき、回路面6b側が凸となるようにセットしている
のである。
The mirror surface 6a of the semiconductor chip 6 has a high strength with the single crystal of the wafer as it is, but the circuit surface 6b has impurities added for forming an integrated circuit.
It is uneven in shape and weak in strength.
Therefore, even when the same bending stress is applied, the semiconductor chip 6 is more likely to be damaged when the circuit surface 6b side becomes convex and a tensile force is applied. In consideration of the above, in the bending test and the point pressing test, the IC card 1 is set so that the circuit surface 6b side becomes convex when the IC card 1 is bent.

【0031】このような曲げ試験、鋭い点押し試験、或
いは鈍い点押し試験は、ICカード1の実使用時の代表
的な負荷形態に対応する。すなわち、ICカード1に
は、その実使用時に様々な負荷が作用するが、その多く
は、使用者がICカード1をズボンの後ポケットに入れ
たまま椅子に腰を下ろしたような場合、ICカード1に
ボールペンの先のような物が当たるなど、ICカード1
のごく狭い箇所に押圧力が加わるような場合、或いは財
布に入れたICカード1に財布のボタンが当たるなど、
ICカード1のやや広い部分に押圧力が加わるような場
合である。
Such a bending test, a sharp point pressing test, or a dull point pressing test corresponds to a typical load form in actual use of the IC card 1. That is, various loads act on the IC card 1 during its actual use. In many cases, when the user sits down on a chair with the IC card 1 placed in the back pocket of the pants, the IC card 1 An IC card 1 such as an object like a ballpoint pen hits 1
When a pressing force is applied to a very narrow place, or when the button of the wallet hits the IC card 1 in the wallet,
This is a case where a pressing force is applied to a slightly wide portion of the IC card 1.

【0032】このような代表的な負荷形態を想定し、I
Cカード1入りの財布をズボンの後ポケットに入れたま
ま椅子に腰を下ろしたような場合に対して図8の曲げ試
験を行い、ICカード1のごく狭い箇所に押圧力が加わ
るような場合に対して図9の鋭い点押し試験を行い、I
Cカード1のやや広い部位に押圧力が加わるような場合
に対して図10の鈍い点押し試験を行ったものである。
Assuming such a typical load form, I
The bending test shown in Fig. 8 is performed for a case where the purse containing the C card 1 is placed in the back pocket of the pants and the chair is lowered, and a pressing force is applied to a very narrow part of the IC card 1. 9 was subjected to a sharp spot pressing test shown in FIG.
A dull spot test shown in FIG. 10 was performed for a case in which a pressing force was applied to a slightly wider portion of the C card 1.

【0033】さて、図5は曲げ試験、図6は鋭い点押し
試験、図7は鈍い点押し試験の結果をそれぞれ示す。こ
こで、各図の(a)は回路面6bの最大応力を示し、
(b)は半導体チップ6の端部(4辺部)に作用する最
大応力を示すもので、それら(a)および(b)には、
半導体チップ6が破損しなかった応力範囲を斜線を付し
て示した。半導体チップ6の端部の最大応力を測定した
理由は、半導体チップ6はウエーハからダイシングして
得られるが、そのダイシング時に切断面(端部)に微細
な欠けなどを生じて破損し易い状態になっていると考え
られるので、その部分に作用する応力を、試験を模擬し
た有限要素解析により明らかにすると共に、破損の有無
を検査するようにしたものである。
FIG. 5 shows the results of the bending test, FIG. 6 shows the results of the sharp point pressing test, and FIG. 7 shows the results of the dull point pressing test. Here, (a) of each figure shows the maximum stress of the circuit surface 6b,
(B) shows the maximum stress acting on the end (four sides) of the semiconductor chip 6, and (a) and (b) show
The stress range in which the semiconductor chip 6 was not damaged is indicated by hatching. The reason for measuring the maximum stress at the end of the semiconductor chip 6 is that the semiconductor chip 6 is obtained by dicing from a wafer. Therefore, the stress acting on the portion is clarified by finite element analysis simulating a test, and the presence or absence of breakage is inspected.

【0034】そして、曲げ試験と鋭い点押し試験の2つ
の試験結果から、両試験共に、半導体チップ6が破損し
なかった補強板10の厚さtの範囲を半導体チップ6の
厚さTとの関係で求める。この範囲が、実使用時に、I
Cカード1入りの財布をズボンの後ポケットに入れたま
ま椅子に腰を下ろしたり、ICカード1のごく狭い箇所
に押圧力が加わったりしても、半導体チップ6がほとん
ど破損を生じない補強板10の厚さの範囲である。
From the two test results of the bending test and the sharp spot pressing test, in both tests, the range of the thickness t of the reinforcing plate 10 in which the semiconductor chip 6 was not damaged was defined as the range of the thickness T of the semiconductor chip 6. Ask for a relationship. This range is, in actual use, I
Reinforcing plate with which the semiconductor chip 6 is hardly damaged even when the user sits down on a chair with the wallet containing the C card 1 in the back pocket of the pants or applies a pressing force to a very narrow part of the IC card 1 A range of 10 thicknesses.

【0035】この半導体チップ6が曲げ試験と鋭い点押
し試験の2つの試験で破損を生じない補強板10の厚さ
tの範囲を図3に斜線で示す。図3において、曲線C1
(図5(b)の最大応力350MPaの曲線C1と同
じ)は半導体チップ6の破損の有無の境界を示す線であ
るが、その曲線C1を表す式を最小2乗近似によって求
めると、下記(1)式の右辺のようになる。従って、補
強板10の厚さtを、下記(1)式の範囲に定めれば、
実使用時に、ICカード1入りの財布をズボンの後ポケ
ットに入れたまま椅子に腰を下ろしたり、ICカード1
のごく狭い部分に押圧力が加わったりしても、半導体チ
ップ6が破損を生じないようにすることができる。
The range of the thickness t of the reinforcing plate 10 in which the semiconductor chip 6 does not break in the bending test and the sharp spot pressing test is shown by hatching in FIG. In FIG. 3, the curve C1
(The same as the curve C1 with the maximum stress of 350 MPa in FIG. 5B) is a line indicating the boundary of the presence or absence of breakage of the semiconductor chip 6. When the equation representing the curve C1 is obtained by least square approximation, 1) It becomes like the right side of the equation. Therefore, if the thickness t of the reinforcing plate 10 is set within the range of the following equation (1),
At the time of actual use, while sitting in the back pocket of the trousers with the wallet containing the IC card 1 sitting down on the chair,
Even if a pressing force is applied to a very narrow portion, the semiconductor chip 6 can be prevented from being damaged.

【数5】 (Equation 5)

【0036】また、曲げ試験、鋭い点押し試験および鈍
い点押し試験の3つの試験結果から、いずれの試験でも
半導体チップ6が破損しない範囲を半導体チップ6の厚
さとの関係で求める。この範囲が、実使用時に、ICカ
ード1入りの財布をズボンの後ポケットに入れたまま椅
子に腰を下ろしたり、ICカード1のごく狭い箇所に押
圧力が加わったり、ICカード1の比較的広い部分に押
圧力が加わったりしても、半導体チップ6がほとんど破
損を生じない補強板10の厚さの範囲である。
From the three test results of the bending test, the sharp point pressing test, and the dull point pressing test, a range in which the semiconductor chip 6 is not damaged in any of the tests is determined in relation to the thickness of the semiconductor chip 6. This range is that, in actual use, the user can sit down on the chair with the wallet containing the IC card 1 in the back pocket of the pants, apply a pressing force to a very narrow part of the IC card 1, This is the range of the thickness of the reinforcing plate 10 in which the semiconductor chip 6 is hardly damaged even if a pressing force is applied to a wide portion.

【0037】この半導体チップ6がほとんど破損を生じ
ない補強板10の厚さの範囲を図4に斜線で示す。図4
において、曲線C2(図6(a)の最大応力380MP
aの曲線C2と同じ)は半導体チップ6の破損の有無の
境界を示す線であるが、その曲線C2を表す式を最小2
乗近似によって求めると、下記(2)式の右辺のように
なる。従って、補強板10の厚さtを、下記(2)式の
範囲に定めれば、実使用時に、ICカード1入りの財布
をズボンの後ポケットに入れたまま椅子に腰を下ろした
り、ICカード1のごく狭い部分に押圧力が加わった
り、ICカード1の比較的広い部分に押圧力が加わった
りしても、半導体チップ6がほとんど破損を生じないよ
うにすることができる。
The range of the thickness of the reinforcing plate 10 at which the semiconductor chip 6 hardly breaks is shown by oblique lines in FIG. FIG.
In the curve C2 (the maximum stress of 380MP in FIG. 6A)
a) is a line indicating the boundary of whether or not the semiconductor chip 6 is damaged.
When it is obtained by the power approximation, it is as shown on the right side of the following equation (2). Therefore, if the thickness t of the reinforcing plate 10 is set in the range of the following expression (2), during actual use, the user can sit down on the chair with the wallet containing the IC card 1 in the back pocket of the pants, or Even if a pressing force is applied to a very narrow portion of the card 1 or a pressing force is applied to a relatively wide portion of the IC card 1, the semiconductor chip 6 can be hardly damaged.

【0038】[0038]

【数6】 (Equation 6)

【0039】ここで、ICカード1の具体的な寸法例を
次に示す。 [具体例1] 回路シート2とカバーシート4の厚さは共に125μm 両シート2,4を中間シート3で接着した後のICカー
ド1の総厚605μm 半導体チップ6の厚さ100μm 補強板10の厚さ50μm [具体例2]回路シート2とカバーシート4の厚さは共
に100μm 両シート2,4を中間シート3で接着した後のICカー
ド1の総厚627μm 半導体チップ6の厚さ150μm 補強板10の厚さ50μm ちなみに、上記の具体例1は(1)式を満足し、具体例
2は(1)式および(2)式の両方を満足するものとし
て掲げた。
Here, an example of specific dimensions of the IC card 1 will be described below. [Specific Example 1] Both the circuit sheet 2 and the cover sheet 4 have a thickness of 125 μm. The total thickness of the IC card 1 after bonding the two sheets 2 and 4 with the intermediate sheet 3 is 605 μm. The thickness of the semiconductor chip 6 is 100 μm. [Specific Example 2] The thickness of the circuit sheet 2 and the cover sheet 4 are both 100 μm. The total thickness of the IC card 1 after bonding both sheets 2 and 4 with the intermediate sheet 3 is 627 μm. The thickness of the semiconductor chip 6 is 150 μm. The thickness of the plate 10 is 50 μm. Incidentally, the specific example 1 satisfies the expression (1), and the specific example 2 satisfies both the expressions (1) and (2).

【0040】ICカード1の総厚は上記の具体例1およ
び2に限られない。しかし、ICカード1のしなやか
さ、使い良さを考慮すると、ICカード1の総厚は40
0〜900μmの範囲に定めることが好ましい。また、
半導体チップ6の厚さTは、ICカード1の総厚の10
〜30%、補強板10の厚さは、ICカード1の総厚の
8〜20%の範囲に定めることが好ましい。
The total thickness of the IC card 1 is not limited to the specific examples 1 and 2. However, considering the flexibility and ease of use of the IC card 1, the total thickness of the IC card 1 is 40
It is preferable to set the thickness in the range of 0 to 900 μm. Also,
The thickness T of the semiconductor chip 6 is 10 times the total thickness of the IC card 1.
It is preferable that the thickness of the reinforcing plate 10 is set in the range of 8 to 20% of the total thickness of the IC card 1.

【0041】ICカード1をできるだけ薄くする場合、
回路シート2とカバーシート4の厚さを薄肉化するには
限界があるから、中間シート13、ひいては半導体チッ
プ6を薄肉化することが好ましい。この場合の半導体チ
ップ6の好ましい厚さは50〜150μmである。
When making the IC card 1 as thin as possible,
Since there is a limit in reducing the thickness of the circuit sheet 2 and the cover sheet 4, it is preferable to reduce the thickness of the intermediate sheet 13 and thus the semiconductor chip 6. In this case, the preferable thickness of the semiconductor chip 6 is 50 to 150 μm.

【0042】なお、本発明は上記し且つ図面に示す実施
例に限定されるものではなく、次のような拡張或いは変
更が可能である。ICカード1の総厚は400μm未満
であっても、或いは、900μmを越えても良い。半導
体チップ6の厚さは50〜150μmに限られず、IC
カード1をごく薄くしたい場合には、例えば0.5μm
程度のものでも良く、また、薄肉化を考慮しない場合に
は、例えば200μm程度のものを使用しても良い。補
強板10はステンレスに限らず、銅、アルミニウムなど
であっても良い。ただ、半導体チップ6の剛性を実質的
に高めて破損を防止する趣旨から、ヤング率が100〜
300GPaの材料から選択することが好ましく、その
範囲にあればプラスチック製としても良い。ICカード
1は回路シート2、中間シート3、カバーシート4の3
層構造のものに限られない。補強板10の配設位置とし
ては、回路シート2の半導体チップ6の実装面とは反対
側であっても良い。この場合、補強板10を隠すように
回路シート2にシートを貼り付けることが好ましい。封
止部材7はなくとも良い。
The present invention is not limited to the embodiment described above and shown in the drawings, but can be extended or modified as follows. The total thickness of the IC card 1 may be less than 400 μm, or may exceed 900 μm. The thickness of the semiconductor chip 6 is not limited to 50 to 150 μm.
To make the card 1 extremely thin, for example, 0.5 μm
If the thickness is not considered, a thickness of, for example, about 200 μm may be used. The reinforcing plate 10 is not limited to stainless steel, but may be copper, aluminum, or the like. However, in order to substantially increase the rigidity of the semiconductor chip 6 to prevent breakage, the Young's modulus is 100 to 100%.
It is preferable to select from a material of 300 GPa, and if it is within the range, it may be made of plastic. The IC card 1 is composed of a circuit sheet 2, an intermediate sheet 3, and a cover sheet 4.
It is not limited to a layered structure. The disposition position of the reinforcing plate 10 may be on the side opposite to the mounting surface of the circuit sheet 2 on which the semiconductor chip 6 is mounted. In this case, it is preferable to attach the sheet to the circuit sheet 2 so as to hide the reinforcing plate 10. The sealing member 7 may not be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すICカードの断面図FIG. 1 is a cross-sectional view of an IC card showing one embodiment of the present invention.

【図2】ICカードの分解斜視図FIG. 2 is an exploded perspective view of an IC card.

【図3】補強板の厚さの式を求める曲線を表す第1のグ
ラフ
FIG. 3 is a first graph showing a curve for obtaining an equation for the thickness of a reinforcing plate.

【図4】補強板の厚さの式を求める曲線を表す第2のグ
ラフ
FIG. 4 is a second graph showing a curve for obtaining a formula for the thickness of the reinforcing plate.

【図5】曲げ試験の結果を示すグラフFIG. 5 is a graph showing a result of a bending test.

【図6】鋭い点押し試験の結果を示すグラフFIG. 6 is a graph showing the results of a sharp spot pressing test.

【図7】鈍い点押し試験の結果を示すグラフFIG. 7 is a graph showing the results of a dull spot pressing test.

【図8】曲げ試験を示す図FIG. 8 shows a bending test.

【図9】鋭い点押し試験を示す図FIG. 9 is a view showing a sharp spot pressing test;

【図10】鈍い点押し試験を示す図FIG. 10 is a diagram showing a dull spot pressing test.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

図中、1はICカード、2は回路シート、3は中間シー
ト、4はカバーシート、6は半導体チップ、8はケーシ
ング、10は補強板である。
In the figure, 1 is an IC card, 2 is a circuit sheet, 3 is an intermediate sheet, 4 is a cover sheet, 6 is a semiconductor chip, 8 is a casing, and 10 is a reinforcing plate.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C005 MA10 NA08 NA31 NB37 PA18 PA26 PA27 RA04 RA11 TA22 5B035 AA08 BA05 BA09 BB09 BC00 CA03 CA12 CA23  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page F term (reference) 2C005 MA10 NA08 NA31 NB37 PA18 PA26 PA27 RA04 RA11 TA22 5B035 AA08 BA05 BA09 BB09 BC00 CA03 CA12 CA23

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体回路を有する回路基板と、 この回路基板に実装された半導体チップと、 この半導体チップを補強する補強板と、 前記半導体チップを保護するケーシングとを備え、 前記半導体チップの厚さをT、前記補強板の厚さをtと
したとき、その補強板の厚さtを次の式を満足するよう
に設定したことを特徴とするICカード。 【数1】
1. A semiconductor device comprising: a circuit board having a conductor circuit; a semiconductor chip mounted on the circuit board; a reinforcing plate for reinforcing the semiconductor chip; and a casing for protecting the semiconductor chip. An IC card characterized in that, when T is the thickness of the reinforcing plate and t is the thickness of the reinforcing plate, the thickness t of the reinforcing plate is set to satisfy the following expression. (Equation 1)
【請求項2】 導体回路を有する回路基板と、 この回路基板に実装された半導体チップと、 この半導体チップを補強する補強板と、 前記半導体チップを保護するケーシングとを備え、 前記半導体チップの厚さをT、前記補強板の厚さをtと
したとき、その補強板の厚さtを次の式を満足するよう
に設定したことを特徴とするICカード。 【数2】
2. A semiconductor device comprising: a circuit board having a conductor circuit; a semiconductor chip mounted on the circuit board; a reinforcing plate for reinforcing the semiconductor chip; and a casing for protecting the semiconductor chip. An IC card characterized in that, when T is the thickness of the reinforcing plate and t is the thickness of the reinforcing plate, the thickness t of the reinforcing plate is set to satisfy the following expression. (Equation 2)
【請求項3】 前記補強板のヤング率は、100〜30
0GPaであることを特徴とする請求項1または2記載
のICカード。
3. The reinforcing plate has a Young's modulus of 100 to 30.
The IC card according to claim 1, wherein the IC card is 0 GPa.
【請求項4】 前記補強板は、前記回路基板の両側のう
ち、前記半導体チップの実装側とは反対側に配置されて
いることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記
載のICカード。
4. The IC according to claim 1, wherein the reinforcing plate is disposed on a side of the circuit board opposite to a side on which the semiconductor chip is mounted. card.
【請求項5】 前記半導体チップの厚さは、50〜15
0μmに設定されていることを特徴とする請求項1ない
し4のいずれかに記載のICカード。
5. The semiconductor chip has a thickness of 50 to 15
The IC card according to any one of claims 1 to 4, wherein the IC card is set to 0 µm.
【請求項6】 総厚が400〜900μmであることを
特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載のICカ
ード。
6. The IC card according to claim 1, wherein the total thickness is 400 to 900 μm.
JP35856898A 1998-12-17 1998-12-17 IC card Pending JP2000182016A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35856898A JP2000182016A (en) 1998-12-17 1998-12-17 IC card
FR9915762A FR2787610B1 (en) 1998-12-17 1999-12-14 INTEGRATED CIRCUIT BOARD CAPABLE OF PREVENTING A SEMICONDUCTOR CHIP MOUNTED ON IT FROM FRACTURING
DE19960836A DE19960836A1 (en) 1998-12-17 1999-12-16 Construction of IC card to prevent breakage of semiconductor chip, with strengthening plate laid over semiconductor chip

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35856898A JP2000182016A (en) 1998-12-17 1998-12-17 IC card

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000182016A true JP2000182016A (en) 2000-06-30

Family

ID=18459988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35856898A Pending JP2000182016A (en) 1998-12-17 1998-12-17 IC card

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2000182016A (en)
DE (1) DE19960836A1 (en)
FR (1) FR2787610B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100619125B1 (en) 2003-09-25 2006-09-12 가부시끼가이샤 도시바 Radio card
JP2007529863A (en) * 2004-03-16 2007-10-25 エルジー・ケム・リミテッド High-efficiency organic light-emitting device using substrate or electrode having nano-sized hemispherical protrusions and method for producing the same
CN107666775A (en) * 2017-10-09 2018-02-06 台山市精诚达电路有限公司 The preparation method of multilayer soft board

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10111028A1 (en) * 2001-03-07 2002-09-19 Infineon Technologies Ag Smart card module
TWI560616B (en) 2011-08-02 2016-12-01 Corning Inc Biometric-enabled smart card

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63149191A (en) * 1986-12-15 1988-06-21 日立マクセル株式会社 Ic card
US5581445A (en) * 1994-02-14 1996-12-03 Us3, Inc. Plastic integrated circuit card with reinforcement structure for protecting integrated circuit module
US5852289A (en) * 1994-09-22 1998-12-22 Rohm Co., Ltd. Non-contact type IC card and method of producing the same

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100619125B1 (en) 2003-09-25 2006-09-12 가부시끼가이샤 도시바 Radio card
JP2007529863A (en) * 2004-03-16 2007-10-25 エルジー・ケム・リミテッド High-efficiency organic light-emitting device using substrate or electrode having nano-sized hemispherical protrusions and method for producing the same
US7741145B2 (en) 2004-03-16 2010-06-22 Lg Chem. Ltd. Highly efficient organic light-emitting device using substrate or electrode having nanosized half-spherical convex and method for preparing the same
US8158971B2 (en) 2004-03-16 2012-04-17 Lg Chem. Ltd. Highly efficient organic light-emitting device using substrate or electrode having nanosized half-spherical convex and method for preparing the same
CN107666775A (en) * 2017-10-09 2018-02-06 台山市精诚达电路有限公司 The preparation method of multilayer soft board
CN107666775B (en) * 2017-10-09 2020-07-31 台山市精诚达电路有限公司 Method for manufacturing multi-layer flexible board

Also Published As

Publication number Publication date
FR2787610B1 (en) 2003-05-23
FR2787610A1 (en) 2000-06-23
DE19960836A1 (en) 2000-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4249020B2 (en) Contact / contactless hybrid smart card with enhanced electronic module strength
TWI248585B (en) Contactless smart card with an antenna and a chip support made of fibrous material
JP4546251B2 (en) Smart card and method for manufacturing smart card
US5719437A (en) Smart cards having thin die
JP2000182016A (en) IC card
WO1989010269A1 (en) Ic card and production method thereof
JP3468954B2 (en) IC card
JP2005234683A (en) IC card
JPS61204788A (en) Portable electronic device
JP2001256462A (en) Non-contact IC card and method of manufacturing the same
JP2012043341A (en) Ic module and ic card prepared therewith
JP2000137781A (en) Card type electronic circuit board and method of manufacturing the same
JP5206245B2 (en) Inlay, inlay with cover and booklet
JP2003132322A (en) Combination type IC card and manufacturing method thereof
JP2588548B2 (en) IC card
JP2000048151A (en) Non-contact IC card
JP2935755B2 (en) Chip card
JP2001229360A (en) IC card
JPH024597A (en) Method of inserting ic card
JP2003044814A (en) Combination type IC card and manufacturing method thereof
JPH1111061A (en) Module for ic card and the ic card with the module
JPS6337429B2 (en)
JP2000242760A (en) Ic card
JP2010157064A (en) Inlay, inlay with cover, and booklet
JP2005234684A (en) IC card

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050118

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061017

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061207

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070220