JP2008112509A - 光ディスク記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
再生信号に符号間干渉が生じている場合であっても、再生信号の再生ジッタを測定することができ、これを指標として記録レーザパルスを最適に設定すること。
【解決手段】
A/D変換部８で所定のサンプリングタイミングにおける再生信号の振幅値データを取得する。最尤復号部１０で再生信号の振幅値データについてビタビ復号を行う。再生信号の２値データを復号し、パーシャルレスポンス等化部１３で再生信号の２値データを理想的なPR（１、２、２、２、１）特性を持つ等化信号の振幅値データする。パターン検出部１４で所定のパターンを検出する。再生ジッタ算出部１５０１で、所定パターンに含まれるマークのエッジの等化信号の振幅値データに対するエッジの再生信号の振幅値データの期待値誤差から再生ジッタを算出する。レーザパルス制御部１５０２は、この再生ジッタに基づき記録レーザパルスの波形を設定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、レーザ光を用いてディスク上に情報を記録再生する光ディスク装置に関する。

従来、書き換え可能な光ディスク、例えばDVD-R（Digital Versatile Disk Recordable）等の記録再生を行う光ディスク装置においては、光メディアの特性に適したマークを形成するため、光ディスクの所定の領域（PCA：Power Calibration Area）に対して１つ以上のパルス列からなる記録レーザパルスの発光波形規則（以下、ストラテジ）を変化させながら試し書きを行い、その領域の再生信号の品質が最適なストラテジを求めている。

例えば、特許文献１では、再生信号の品質を評価する指標として再生信号の再生ジッタを参照し、最適なストラテジを求めている。
特開２０００−１８２２４４号公報

近年、光ディスクの高密度化、高速記録化が図られており、HD-DVD、Blu-ray等の高密度光ディスクの記録再生においては隣接するマークから生じる符号間干渉を積極的に利用するPRML（Partial Response and Maximum Likelihood）が用いられている。PRMLを用いて情報の記録再生を行う場合、再生信号では符号間干渉がおきており、従来のように再生信号を特定の閾値と単純に比較する方式では、マークのエッジを検出することが難しいため、マークのエッジの揺らぎを観察し、再生信号の再生ジッタを測定することが容易でなくなり、記録レーザパルスを最適に設定する際、再生信号の再生ジッタを指標として用いることは困難であった。

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、HD-DVD等の高密度光ディスクのように再生信号で符号間干渉が生じている場合であっても、記録レーザパルスを最適化可能な光ディスク装置を提供することを目的とする。

本発明は、レーザ光を用いてディスク上に情報を記録再生する光ディスク装置において、所定サンプリングタイミングにおける再生信号の振幅値データを取得する再生振幅値データ取得手段と、前記振幅値データに最尤復号を行い２値データの復号を行う最尤復号手段と、前記２値データにパーシャルレスポンス等化を行って等化信号を生成し、前記等化信号の振幅値データを出力する等化振幅値データ出力手段と、所定のパターンを検出するパターン検出手段と、前記所定のパターンの等化振幅値データと再生振幅値データに基づき、１つ以上のパルス列からなる記録レーザパルスの波形を設定するレーザパルス設定手段とを備えることをその要旨とする。

また、前記所定のパターンに含まれるマークのエッジの再生ジッタを算出する再生ジッタ算出手段をさらに備え、前記再生ジッタ算出手段は、前記所定のパターンに含まれるマークのエッジ等化振幅値データとエッジ再生振幅値データから、前記マークのエッジ等化振幅値データに対する前記マークのエッジ再生振幅値データの期待値誤差（E）を算出し、前記期待値誤差に基づき、前記再生ジッタを算出することが望ましい。

また、前記レーザパルス設定手段は、前記マークの後エッジの期待値誤差（RE）により前記後エッジが所定の位置より偏移していると判断したときは、前記後エッジの再生ジッタ（RJ）により前記レーザパルスの後端パルス波形を調整して設定することが望ましい。

また、前記情報をマーク長nT(nは１以上の整数)とスペース長mT(mは１以上の整数)からなる複数のパターン群に区分し、前記再生ジッタ算出手段は、前記複数のパターン群ごとに再生ジッタを算出することが望ましい。

また、前記レーザパルス設定手段は、前記複数のパターン群ごとに前記レーザパルスの波形を設定することが望ましい。

本発明によれば、HD-DVD等の高密度光ディスクのように再生信号に符号間干渉が生じている場合であっても、再生信号の再生ジッタを測定することができ、これを指標として記録レーザパルスを最適に設定することができるため、信頼性良く情報を光ディスクに記録することが可能となる。

（第１の実施の形態）
本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の全体構成を表す概念図を図１に示す。図１において、光ディスク１は、試し書きを行うためのPCAを含む。符号部２は、入力された情報に誤り訂正符号等の処理を行う。変調部３は、符号部２からの出力に対してETM（Eight Twelve Modulation）等の処理を行う。レーザ駆動部４は、記録時には変調部３からの出力に応じた半導体レーザ駆動信号を光ピックアップ５に出力し、再生時には一定強度のレーザを出射するための半導体レーザ駆動信号を光ピックアップに出力する。

光ピックアップ５は、半導体レーザから出射されたレーザ光を対物レンズで光ディスク1上に収束させることにより、光ディスク１に対する情報の書き込みおよび読み出しを行う。この他、光ディスク１に対するレーザ光の収束状態を調整する対物レンズアクチュエータ、光ディスクからの反射光を受光する光検出器および半導体レーザから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、光ディスク１からの反射光を光検出器に導く光学系等を備えている。

受光信号処理部６は、光ピックアップ５の光検出器で光電変換された受光信号を増幅し再生信号を生成するとともに、ウォブル信号、フォーカスエラー信号あるはトラッキングエラー信号等を生成する。

サーボ部７は、受光信号処理部６から出力されたフォーカスエラー信号およびトラッキング信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ５に出力する。また、受光信号処理部６から出力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、光ディスク１の駆動モータに出力する。

A/D変換部８は、受光信号処理部６から出力された再生信号を所定のサンプリングタイミングでA/D変換して、再生信号の振幅値データを出力する。

適応等化部９は、FIRフィルタで構成され、フィルタ係数を調整し、再生信号をPR（1、2、2、2、1）特性に適合するよう等化処理を行う。

最尤復号部１０は、PR特性を持つ再生信号のML復号を行うため、適応等化部９の出力である再生信号の振幅値データについて軟判定ビタビ復号を行い、所定の期待値と比較し、再生信号の２値データを復号する。

復調部１１は、最尤復号部１０の出力である再生信号の２値データにETM復調等の処理を行う。復号部１２は、復調部１１の出力に誤り訂正等の処理を行う。

パーシャルレスポンス等化部１３は、FIRフィルタで構成され、最尤復号部１０の出力である再生信号の２値データを理想的なPR（１、２、２、２、１）特性を持つ振幅値データとする。

パターン検出部１４は、最尤復号部１０の出力である再生信号の２値データから、所定のパターン群を検出し、どの所定のパターンが検出されたか再生ジッタ算出部１５０１に通知する。

図２は、マーク長nTとスペース長mTから構成される所定のパターンの分類を示す図である。以下、所定のパターン群とは、図２に示す先行するスペース長が2T、3T、4T以上、それに続くマーク長が2T、3T、4T以上の組み合わせからなる前エッジを含むパターン群、および先行するマーク長が2T、3T、4T以上、それに続くスペース長が2T、3T、4T以上の組み合わせからなる後エッジを含むパターン群に属するパターンのうち、マーク長2Tおよびスペース長2Tの組み合わせパターンを除く、パターンの集合をいう。また、所定のパターンとは、所定のパターン群に属する任意のパターンをいう。

制御部１５は、再生ジッタ算出部１５０１、レーザパルス制御部１５０２を含む。この他、光ディスク装置全体を制御するファームウェア含み、このファームウェアに従って、各部の制御を行う。
＜再生ジッタの算出手順の概要＞
再生ジッタ算出部１５０１の具体的な動作を説明する前に、まず再生ジッタの算出手順の概要について述べる。

図３は前エッジの最大期待値誤差（前方偏移）を示す図である。ここで、「前エッジ」とは先行するスペースとマークを区切るマークのエッジに相当する。

図３において２値の理想パターンを（１、１、０、０、０、１、１、０、０）すなわち先行するスペース長が３Tで、それに続くマーク長が２Tのパターンとする。正規化した振幅値データとしてパターンが１のときは−１、パターンが０のときは＋１を割り当て、PR（１、２、２、２、１）のパーシャルレスポンス等化を行うと図３において実線で示す波形となる。

次に理想パターンの前エッジが前方に１T遷移したパターンを（１、１、０、０、１、１、１、０、０）すなわち先行するスペース長が２Tでそれに続くマーク長が３Tのパターンとする。理想パターンと同様にPR（１、２、２、２、１）のパーシャルレスポンス等化を行うと図３において一点鎖線で示す波形となる。

ここで、前エッジが前方に遷移したポイントに（図３において二点鎖線で示す）着目し、このポイントにおける理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データと、１Tシフトパターンのパーシャルレスポンス等化波形との振幅値データとの差分の絶対値を最大期待値誤差（FME）とする。理想パターンが前方に1T以下の偏移をした場合、理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形と、遷移したパターンのパーシャルレスポンス等化波形との差分の絶対値（FD）を最大期待値誤差FMEと比較することにより、チャネルクロック１Tに対してどの程度の割合で偏移したかが分かる。すなわち、演算式（FD/FME）×Tはこのときの偏移量を与える。なお、偏移量の局所的な依存性を少なくするには、所定量のサンプル数で平均をとることが好ましい。そこで、本発明では理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形との差分の相加平均を期待値誤差（FE）として、演算式（FE／FME）×Tにより前エッジの偏移量を算出している。

次に後エッジの場合について説明する。図４は後エッジの最大期待値誤差（前方偏移）を示す図である。ここで、「後エッジ」とはマークとこれに続くスペースを区切るマークのエッジに相当する。

図４において２値の理想パターンを（０、１、１、１、１、０、０、０、１）すなわち記録変調方式のチャネルクロックをTとしたとき、先行するマーク長が４Tで、それに続くスペース長が３Tのパターンとする。正規化した振幅値データとしてパターンが１のときは−１、パターンが０のときは＋１を割り当て、PR（１、２、２、２、１）のパーシャルレスポンス等化を行うと図４において実線で示す波形となる。

次に理想パターンの前エッジが前方に１T遷移したパターンを（０、１、１、１、０、０、０、０、１）すなわち先行するマーク長が３Tでそれに続くスペース長が４Tのパターンとする。理想パターンと同様にPR（１、２、２、２、１）のパーシャルレスポンス等化を行うと図４において一点鎖線で示す波形となる。

ここで、後エッジが前方に遷移したポイントに（図４において二点鎖線で示す）着目し、このポイントにおける理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データと、１Tシフトパターンのパーシャルレスポンス等化波形との振幅値データとの差分の絶対値を最大期待値誤差（RME）とする。以下、上と同様の議論により、チャネルクロック１Tに対してどの程度の割合で偏移したかが分かる。前エッジと同様に偏移量の局所的な依存性を少なくするため、本発明では理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形との差分の相加平均を期待値誤差（RE）として、演算式（RE／RME）×Tにより後エッジの偏移量を算出している。

＜再生ジッタ算出部１５０１の動作＞
図５は、再生ジッタ算出部１５０１の動作を示すフローチャートである。

パターン検出部１４より処理対象である所定のパターンを検出した旨の通知を受理すると、再生ジッタ算出部１５０１は、所定のパターンに含まれるエッジが前方に１T遷移したポイント（図３または図４で二点鎖線で示す）における、所定のパターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データと、エッジが前方向に１T遷移したパターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データとの差分の絶対値である最大期待値誤差を取得する（S10）。なお、最大期待値誤差はパターンが決まれば一意に算出できるので、その都度算出することなく、あらかじめ所定のパターンについて最大期待値誤差を算出しておき、その結果を保持しておいてもよい。以下、所定のパターンに含まれるエッジが前エッジの場合の最大期待値誤差を、前エッジの最大期待値誤差（FME）、後エッジの場合の最大期待値誤差を、後エッジの最大期待値誤差（RME）とする。

次に、適応等化部１０６の出力である再生信号の振幅値データから、所定のパターンに含まれるエッジに相当するポイントの振幅値データ（R）を予測する（S11）。ここで予測は、エッジ前後のサンプルタイミングの再生信号の振幅値データをR1、R2としたとき、
R=（R1+R2）/2
により行なう。また、同時にパーシャルレスポンス等化部１３の出力である再生信号のパーシャルレスポンス等化振幅値データから、所定のパターンに含まれるエッジに相当するポイントの振幅値データ（I）を予測する（S11）。ここで予測は、エッジの前後のサンプルタイミングの再生信号のパーシャルレスポンス等化振幅値データをI1、I2としたとき、
I=（I1+I2）/2
により行う。

次に、再生信号のパーシャルレスポンス振幅値データより予測された振幅値データIを基準として、この基準値に対する再生信号の振幅値データから予測された振幅値データRの期待値誤差(E)を算出する（S12）。ここで、期待値誤差Eは対象となる所定のパターンの総数をNとしたとき、

により算出する。なお、期待値誤差Eは、所定のパターンに含まれるエッジが前エッジの場合と、後エッジの場合とで個別に算出し、それぞれ前エッジの期待値誤差（FE）および後エッジの期待値誤差（RE）とする。

次に、前エッジおよび後エッジの再生ジッタをそれぞれの最大期待値誤差と期待値誤差を用いて算出する（S13）。再生ジッタはチャンネルクロックTに対する偏移量で表され、前エッジの再生ジッタ（FJ）は、
FJ=FE/FME×T
後エッジの再生ジッタ（RJ）は、
RJ＝RE/RME×T
により算出する。
以上の処理を、所定パターン群に属する所定パターンごとに行い、算出した再生ジッタをレーザパルス制御部１５０２に出力する。
＜ストラテジの概要＞
図６は、記録レーザパルスのストラテジを示す図である。記録レーザパルスのパワーレベルはPw、Pb1、Pb2、Pb3の4つのパワーレベルが設定される。記録レーザパルスは図６で示すようにマルチパルス化されており、先端パルスは記録マークの立ち上がりに対して、Tsfpだけ経過した時間で立ち上がり、記録マークの立ち上りに対してTefpだけ経過した時間で立ち下がる。後端パルスは記録マークの立ち下がりに対してTだけ先行した時間を基準として、Tslpだけ経過した時間で立ち上がり、Telpだけ経過した時間で立ち下がる。後端パルスに引き続き、パワーレベルがPb2の部分がTlcだけ存在する。

なお、図６に示すパワーレベルPw、Pb1、Pb2、Pb3およびマルチパルスを定義する時間Tsfp、Tefp、Tmp、Tslp、Telp、Tlc等の各パラメータ値は、光ディスク１の製造業者の推奨値が、光ディスク１のコントロールデータゾーンの情報トラックに記録されている。以下、図６を用いて記録パルス制御部１５０２の動作の説明を行う。
＜レーザパルス制御部１５０２の動作＞
記録パルス制御部１５０２は、光ディスク１のコントロールデータゾーンの情報トラックから記録レーザパルスに関するパラメータ値を読み取り、これを初期値して記録レーザパルスのストラテジを決定し、レーザ駆動部４に出力し、所定のパターン群を含むテストパターンを用いて光ディスク１のPCAで試し書きを行う。

次に、試し書きを行った箇所を再生し、再生ジッタ算出部１５０１から所定のパターン群の前エッジおよび後エッジの再生ジッタを受け取る。所定のパターン群の前エッジおよび後エッジの再生ジッタの値が所定値以上である場合は、相当する所定のパターンを記録する記録レーザパルスのストラテジを更新する。すなわち、前エッジの再生ジッタにより先端パルスの立ち上がりを遅延させ、後エッジの再生ジッタにより後端パルスの立ち下がりを遅延させる。つまり、先端パルスの立ち上がりを遅延させる場合は、TsfpをTsfp=Tsfp+FJと更新し、後端パルスの立ち下がりを遅延させる場合は、TelpをTelp=Telp+RJと更新する。なお、Tsfpを更新した場合、TefpもTefp=Tefp+FJと更新してもよく、Telpを更新した場合、TslpもTslp=Tslp+RJと更新してもよい。

更新したストラテジで試し書きを行い、以下、再生した所定のパターン群の前エッジおよび後エッジの再生ジッタの値が所定値より小さくなるまでこの動作を繰り返す。

以上、所定のパターンに含まれるエッジが前方向に遷移した場合を説明した。所定のパターンに含まれるエッジが後方向に遷移した場合は、前エッジの再生ジッタにより先端パルスの立ち上がりを先行させ、後エッジの再生ジッタにより後端パルスの立ち下がりを先行させる。つまり、先端パルスの立ち上がりを先行させる場合は、TsfpをTsfp=Tsfp-FJと更新し、後端パルスの立ち下がりを遅延させる場合は、TelpをTelp=Telp-RJと更新する。なお、Tsfpを更新した場合、TefpもTefp=Tefp-FJと更新してもよく、Telpを更新した場合、TslpもTslp=Tslp-RJと更新してもよい。

このような本発明の第１の実施の形態によれば、以下の通りの作用効果を享受することができる。
（１）A/D変換部８で所定のサンプリングタイミングにおける再生信号の振幅値データを取得し、最尤復号部１０で再生信号の振幅値データについてビタビ復号を行い、再生信号の２値データを復号し、パーシャルレスポンス等化部１３で再生信号の２値データを理想的なPR（１、２、２、２、１）特性を持つ等化信号の振幅値データとし、パターン検出部１４で所定のパターンを検出し、再生ジッタ算出部１５０１で、所定パターンに含まれるマークのエッジの等化信号の振幅値データに対するエッジの再生信号の振幅値データの期待値誤差から再生ジッタを算出し、レーザパルス制御部１５０２は、この再生ジッタに基づき記録レーザパルスの波形を設定するため、再生信号に符号間干渉が生じている場合であっても、記録レーザパルスを最適化する指標として再生ジッタを用いることができ、信頼性良く情報を光ディスクに記録することが可能となる。
（２）再生ジッタ算出部１５０１は、所定のパターンに含まれるマークのエッジの等化信号の振幅値データIとエッジの再生信号の振幅値データRを予測し、演算式I-Rにより差分値もとめ、これを相加平均することにより期待値誤差Eを算出しているため、時間軸方向の偏移である再生ジッタを、振幅軸方向の偏移である期待値誤差で測定することが可能となる。
（３）再生ジッタ算出部１５０１は、所定のパターンに対してパーシャルレスポンス等化を行ったときのエッジの等化信号の振幅値データと、所定のパターンにおいてエッジをTだけ偏移させたパターンに対してパーシャルレスポンス等化を行ったときのエッジの等化信号の振幅値データとの差分の絶対値を最大期待値誤差とし、演算式（E/ME）×Tでエッジの再生ジッタを算出することができるため、チャネルクロックTに対する偏移量として、再生ジッタを精度良く測定することが可能となる。
（４）レーザパルス制御部１５０２は、マークの前エッジの期待値誤差により前エッジが所定の位置より偏移していると判断したときは、前エッジの再生ジッタによりレーザパルスの先端パルス波形を調整して設定するため、前エッジの偏移を補償して光ディスク１に信頼性良くマークを記録することが可能となる。
（５）レーザパルス制御部１５０２は、マークの後エッジの期待値誤差により後エッジが所定の位置より偏移していると判断したときは、後エッジの再生ジッタによりレーザパルスの後端パルス波形を調整して設定するため、後エッジの偏移を補償して光ディスク１に信頼性良くマークを記録することが可能となる。
（６）再生ジッタ算出部１５０１は、所定のパターン群ごとに再生ジッタを算出するため、再生ジッタの算出精度が向上する。
（７）レーザパルス制御部１５０２は、所定のパターン群ごとにレーザパルスの波形を設定するため、光ディスク１にマークを記録する際の信頼性が向上する。
（第２の実施の形態）
第１の実施の形態では、所定のパターンに含まれるエッジが予めどちらかの方向に遷移することが判明している場合について説明した。ところで、所定のパターンに含まれるエッジの期待値誤差の符号を参照すれば、エッジの遷移の方向を判断することは可能である。以下、エッジ遷移方向の判断手順について、概要を述べる。

＜エッジ遷移方向の判断手順の概要＞
図７は、前エッジの最大期待値誤差（後方偏移）を示す図である。図７において前エッジが後方に１T遷移した１Tシフトパターンを（１、１、０、０、０、０、１、０、０）すなわち先行するスペース長が５Tでそれに続くマーク長が１Tのパターンとしている点が図３と相違する。前方エッジが前後方向に遷移したポイントにおける理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形と１Tシフトパターンのパーシャルレスポンス等化波形との関係を図３と図７で比較すると、前エッジが前方向に遷移した場合は、理想パターンのパーシャルレスポンス等化波形を基準として、１Tシフトパターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データが小さくなり、前エッジが後方向に遷移した場合は、１Tシフトパターンのパーシャルレスポンス等化波形の振幅値データが大きくなっているのが分かる。このことは、前エッジの期待値誤差の符号を参照すれば、前エッジが前方向あるいは後方向のどちらに遷移したか判断できることを示している。

図８は、後エッジの最大期待値誤差（後方偏移）を示す図である。図８において後エッジが後方に１T遷移した１Tシフトパターンを（０、１、１、１、１、１、０、０、１）すなわち先行するマーク長が５Tでそれに続くスペース長が２Tのパターンとしている点が図４と相違する。以下、上と同様の議論により、後エッジの期待値誤差の符号を参照すれば、後エッジが前方向あるいは後方向どちらに遷移したか判断できることが分かる。
＜エッジ遷移方向の判断した場合のストラテジ＞
以下、エッジがあらかじめどちらかの方向に遷移することが分からない場合のストラテジについて説明する。

エッジの期待値誤差の符号を参照し、エッジが前方向に遷移したと判断した場合は、第１の実施の形態におけるエッジが前方に遷移した場合の手順でストラテジの更新を行い、エッジが後方向に遷移したと判断した場合は、第１の実施の形態におけるエッジが後方に遷移した場合の手順でストラテジの更新を行う。

ここで、前エッジの期待値誤差の符号が負のとき、前エッジは前方向に遷移したと判断し、符号が正のとき、前エッジは後方向に遷移したと判断する。また、後エッジの期待値誤差の符号が正のとき、後ろエッジは前方向に遷移したと判断し、符号が負のとき、後エッジは後方向に遷移したと判断する。

このような本発明の第２の実施の形態によれば、第１の実施の形態に加え、以下の通りの作用効果を享受することができる。
（８）レーザパルス制御部１５０２は、前エッジの偏移が前方向である判断したときはレーザパルスの先端パルスの立ち上がりをFJ遅延させ、前エッジの偏移が後方向であると判断したときはレーザパルスの先端パルスの立ち上がりをFJ先行させるため、前エッジの再生ジッタによるマークの遷移を補償して光ディスク１に信頼性良くマークを記録することが可能となる。
（９）レーザパルス制御部１５０２は、後エッジの偏移が前方向である判断したときはレーザパルスの後端パルスの立ち下がりをRJ遅延させ、後エッジの偏移が後方向であると判断したときはレーザパルスの後端パルスの立ち上がりをRJ先行させるため、後エッジの再生ジッタによるマークの遷移を補償して光ディスク１に信頼性良くマークを記録することが可能となる。
（１０）レーザパルス制御部１５０２は、前エッジの期待値誤差の符号により前エッジの偏移の方向を判断し、後エッジの期待値誤差の符号により後エッジの偏移の方向を判断するため、エッジの遷移の方向の予測信頼性が向上する。

以上、本発明を実施するための最良の形態について説明をしてきたが、本発明は、この実施の形態の構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲に規定された本発明の適用範囲にあり、上述した実施の形態の構成が備える機能を達成可能であれば、いろいろな変形が可能である。

例えば、本発明の実施の形態において、レーザパルス制御部１５０２は再生ジッタ算出部１５０１で算出されたマークのエッジの再生ジッタに基づきレーザパルスを設定していたが、所定パターンに含まれるマークの所定のポイントの等化信号の振幅値データに対するエッジの再生信号の振幅値データの期待値誤差に基づき、レーザパルスの波形を設定してもよい。図９は、マーク長が8Tの場合の再生信号および等化信号を示す図である。本変形例によれば、図９に示すロングマーク長のパターンにおいて、時間軸方向の偏移は小さいが、振幅軸方向の偏移が大きい場合であっても、それを補償するストラテジを行うことができ、光ディスク１に信頼性良くマークを記録することができる。

また、本発明の実施の形態において、レーザパルス制御部１５０２は、再生ジッタが算出される都度、レーザパルスの波形を設定していたが、再生ジッタが所定の値を超えた場合、レーザパルスの波形の設定を行わない、あるは初期値に戻すようにしてもよい。本変形例によれば、ストラテジの更新を安定して行うことができる。

また、本発明の実施の形態において、レーザパルス制御部１５０２は、光ディスク１のコントロールデータゾーンの情報トラックから記録レーザパルスに関するパラメータ値を読み出し、ストラテジの初期値としていたが、演算の結果得られた最終的なストラテジを光ディスク装置１００を識別する識別子とともに光ディスク１に記録し、光ディスク１にこのストラテジが存在する場合は、これを読み出し、ストラテジの初期値としてもよい。本変形例によれば、ストラテジが確定するまで時間を短縮化することができる。

本発明によれば、HD-DVD等の高密度光ディスクのように再生信号に符号間干渉が生じている場合であっても、再生信号の再生ジッタを測定することができ、これを指標として記録レーザパルスを最適に設定することができるため、信頼性良く情報を光ディスクに記録できる効果を有し、光ディスク装置として有用である。

本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の全体構成を表す概念図 マーク長nTとスペース長mTから構成される所定のパターンの分類を示す図 前エッジの最大期待値誤差（前方偏移）を示す図 後エッジの最大期待値誤差（前方偏移）を示す図 再生ジッタの算出手順を示すフローチャート 記録レーザパルスのストラテジを示す図 前エッジの最大期待値誤差（後方偏移）を示す図 後エッジの最大期待値誤差（後方偏移）を示す図 マーク長が8Tの場合の再生信号および等化信号を示す図

符号の説明

８ A/D変換部
９ 適応等化部
１０ 最尤復号部
１３ パーシャルレスポンス等化部
１４ パターン検出部
１５０１ 再生ジッタ算出部
１５０２ レーザパルス制御部

Claims (6)

1. レーザ光を用いてディスク上に情報を記録再生する光ディスク装置において、
   所定サンプリングタイミングにおける再生信号の振幅値データを取得する再生振幅値データ取得手段と、前記振幅値データに最尤復号を行い２値データの復号を行う最尤復号手段と、前記２値データにパーシャルレスポンス等化を行って等化信号を生成し、前記等化信号の振幅値データを出力する等化振幅値データ出力手段と、所定のパターンを検出するパターン検出手段と、前記所定のパターンの等化振幅値データと再生振幅値データに基づき、１つ以上のパルス列からなる記録レーザパルスの波形を設定するレーザパルス設定手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記所定のパターンに含まれるマークのエッジの再生ジッタを算出する再生ジッタ算出手段をさらに備え、
   前記再生ジッタ算出手段は、前記所定のパターンに含まれるマークのエッジ等化振幅値データとエッジ再生振幅値データから、前記マークのエッジ等化振幅値データに対する前記マークのエッジ再生振幅値データの期待値誤差（E）を算出し、前記期待値誤差に基づき、前記再生ジッタを算出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記レーザパルス設定手段は、前記マークの前エッジの期待値誤差（FE）により前記前エッジが所定の位置より偏移していると判断したときは、前記前エッジの再生ジッタ（FJ）により前記レーザパルスの先端パルス波形を調整して設定することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
4. 前記レーザパルス設定手段は、前記マークの後エッジの期待値誤差（RE）により前記後エッジが所定の位置より偏移していると判断したときは、前記後エッジの再生ジッタ（RJ）により前記レーザパルスの後端パルス波形を調整して設定することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
5. 前記情報を、マーク長nT(nは１以上の整数)とスペース長mT(mは１以上の整数)からなる複数のパターン群に区分し、前記再生ジッタ算出手段は、前記複数のパターン群ごとに再生ジッタを算出することを特徴とする請求項２ないし請求項４のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
6. 前記レーザパルス設定手段は、前記複数のパターン群ごとに前記レーザパルスの波形を設定することを特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
   

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