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JP2008185869A - 電気光学装置 - Google Patents

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JP2008185869A
JP2008185869A JP2007020544A JP2007020544A JP2008185869A JP 2008185869 A JP2008185869 A JP 2008185869A JP 2007020544 A JP2007020544 A JP 2007020544A JP 2007020544 A JP2007020544 A JP 2007020544A JP 2008185869 A JP2008185869 A JP 2008185869A
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Abstract

【課題】画素領域領域側から光センサへの外乱光の入射を防止することのできる電気光学装置を提供すること。
【解決手段】電気光学装置100の素子基板10において画素領域10bの外側領域に光センサ310が形成されており、素子基板10において光センサ310と画素領域10bとの間には、遮光用突起として機能する第2の柱状スペーサ4bが形成されている。第2の柱状スペーサ4bは、画素領域10bにおいて素子基板10と対向基板20との隙間寸法(液晶50の層厚)を規定する第1の柱状スペーサ4aと同時形成された感光性樹脂からなる。
【選択図】図4

Description

本発明は、光センサを備えた電気光学装置に関するものである。
電気光学装置を表示装置として搭載したパーソナルコンピュータや携帯電話機などの電子機器は、環境光の強度が異なる様々な環境下で使用される。従って、環境光に変化に応じて、電気光学装置での駆動条件を変化させれば、画像品位の向上や低消費電力化を図ることができる。
例えば、代表的な電気光学装置である透過型または反透過型の液晶装置では、液晶パネルの背面にバックライト装置が設けられており、バックライト装置からの出射光は、液晶パネルによって変調される。このような液晶装置において、バックライト装置の消費電力は大きい。そこで、液晶装置にディスクリート部品からなる光センサを搭載し、この光センサによって外光(環境光)を測定するとともに、その測定結果に応じてバックライト装置の強度を調整し、低消費電力化を図ることが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、特許文献1に記載の技術では、ディスクリート部品からなる光センサをフレキシブル基板に実装しているため、工数およびコストが増大してしまうという問題点がある。
そこで、液晶パネルの素子基板に対して薄膜トランジスタ(TFT/Thin Film Transistor)を形成する工程を利用して光センサを素子基板上に形成することが考えられ、かかる構成によれば、ディスクリート部品からなる光センサを用いなくても、透光性の対向基板の側から入射した外光を検出することができる。
特開2003−78838号公報
しかしながら、液晶パネルでは、画素領域で表示が行なわれることから、画素領域の側から光センサに光が漏れてくるおそれがある。例えば、バックライト装置から液晶パネルに向けて出射された光のうち、斜め方向に出射された光が対向基板で反射して画素領域側から光センサに外乱光として入射する場合があり、かかる外乱光は光センサの感度を低下させてしまう。
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、画素領域領域側から光センサへの外乱光の入射を防止することのできる電気光学装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明では、第1の基板と第2の基板とが所定の隙間を介して貼り合わされたパネルを備え、当該パネルには、複数の画素が配列された画素領域が構成された電気光学装置において、前記第1の基板または前記第2の基板のうちの少なくとも一方の前記画素領域の外側領域において、入射する対象光を検出する光センサが形成され、前記第1の基板および前記第2の基板のうちの一方の基板には、前記光センサと前記画素領域との間の領域において当該一方の基板から突出した遮光用突起が形成されていることを特徴とする。
本発明では、画素領域の外側領域に光センサが形成されており、この光センサは、入射する対象光を検出する。ここで、画素領域では表示が行なわれることから、画素領域の側から光センサに光が漏れてくるおそれがあるが、本発明では、第1の基板および第2の基板のうちの一方の基板には、光センサと画素領域との間において一方の基板から突出する遮光用突起が形成されているので、画素領域側から光センサに向けて進行する外乱光を遮ることができる。従って、光センサに外乱光が入射することを防止することができるので、光センサの感度を高めることができる。
本発明において、前記一方の基板には、当該一方の基板から突出して他方の基板に向けて突出する複数の柱状スペーサが形成されている場合があり、この場合、前記複数の柱状スペーサには、前記画素領域内において前記他方の基板に当接して前記隙間の寸法を規定する複数の第1の柱状スペーサと、前記光センサと前記画素領域との間に前記遮光用突起として形成された第2の柱状スペーサと、が含まれている構成を採用することが好ましい。このように構成すると、第1の基板と第2の基板との隙間を制御する柱状スペーサを形成する工程を利用して遮光用突起を形成することができ、新たな工程を追加する必要がない。
本発明において、前記遮光用突起は、前記画素領域の端部に沿う第1の方向に配列されて突起列を構成し、当該突起列は、前記第1の方向に直交する第2の方向において複数列設けられ、当該複数列の突起列において隣接する2つの突起列を前記第2の方向からみたとき、一方の突起列に含まれる前記遮光用突起の間が、他方の突起列に含まれる前記遮光用突起により塞がれていることが好ましい。このように構成すると、過大な遮光用突起を形成しなくても、画素領域側から光センサに向かう光を確実に遮ることができる。
本発明において、前記遮光用突起は、例えば、前記第1の方向の寸法と前記第2の方向の寸法とが略同一の棒状突起である。例えば、前記遮光用突起は、横断面が円形の丸棒状突起、あるいは横断面が正多角形の角棒状突起である。
本発明において、前記遮光用突起は、前記第1の方向の寸法が前記第2の方向の寸法より長い板状突起であってもよい。
本発明において、前記光センサが前記第1の基板に形成され、前記第2の基板が透光性基板であって、当該第2の基板の側から前記対象光が入射する場合、前記第2の基板において前記画素領域と前記光センサとの間に重なる領域には第1の遮光層が形成され、前記遮光用突起は、前記第1の遮光層と平面的に重なる領域に形成されていることが好ましい。このように構成すると、第1の遮光層によって画素領域に対して画像表示領域を設定することができる。この場合、画素領域の側から斜めに第1の遮光層に入射した外乱光が第1の遮光層で反射して光センサに向かうおそれがあるが、かかる外乱光は遮光用突起によって遮られ、光センサに入射することがない。
本発明において、前記光センサが前記第1の基板に形成され、前記第1の基板および前記第2の基板が透光性基板であって、当該第2の基板の側から前記対象光が入射する場合、前記光センサに対して前記第1の基板が位置する側には、少なくとも前記光センサと重なる領域に第2の遮光層が形成されていることが好ましい。このように構成すると第1の基板から外乱光が直接、光センサに入射することを防止することができる。
本発明において、前記光センサによる光検出結果に基づいて前記画素領域の駆動条件が調整されることが好ましい。
また、前記画素領域に光を出射する光源装置を備えている場合、前記光センサによる光検出結果に基づいて前記光源装置における出射光量を制御することが好ましい。
本発明を適用した電気光学装置は、例えばパーソナルコンピュータ、携帯電話機、情報携帯端末等の電子機器に用いることができる。
以下に、図面を参照して本発明について説明する。以下の実施形態は、代表的な電気光学装置であるTFTアクティブマトリクス駆動形式の液晶装置に本発明に係る光検出装置を構成したものである。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。
[実施の形態1]
(全体構成)
図1は、本発明を適用した電気光学装置の電気的構成を示すブロック図である。図1に示す電気光学装置100は、全透過型の液晶装置であり、液晶パネル100p、画像処理回路202、タイミング発生回路203、電源回路201、調光回路500、バックライト装置600(光源装置)などを備えている。画像処理回路202、タイミング発生回路203および電源回路201は、液晶パネル100pに接続されたフレキシブル基板108(図2(a)、(b)参照)に実装されたICなどにより構成されている。また、調光回路500およびバックライト装置600は、液晶パネル100pの外部に構成されている。
タイミング発生回路203では、液晶パネル100pの各画素100aを駆動するためのドットクロックが生成され、このドットクロックに基づいて、クロック信号VCK、HCK、反転クロック信号VCKB、HCKB、転送開始パルスHSP、VSPが生成される。画像処理回路202は、外部から入力画像データが入力されると、この入力画像データに基づいて画像信号を生成し、液晶パネル100pに供給する。電源回路201は、複数の電源VDD、VSS、VHH、VLLを生成して液晶パネル100pに供給する。
液晶パネル100pは、その中央領域に複数の画素100aがマトリクス状に配列された画素領域10b(画素配列領域)を備えている。かかる液晶パネル100pにおいて、後述する素子基板10には、画素領域10bの内側で複数本のデータ線6aおよび複数本の走査線3aが縦横に延びており、それらの交点に対応する位置に画素100aが構成されている。複数の画素100aの各々には、画素スイッチング素子としての薄膜トランジスタ30および画素電極9aが形成されている。薄膜トランジスタ30のソースにはデータ線6aが電気的に接続され、薄膜トランジスタ30のゲートには走査線3aが電気的に接続され、薄膜トランジスタ30のドレインには画素電極9aが電気的に接続されている。
素子基板10において、画素領域10bの外側領域には走査線駆動回路104およびデータ線駆動回路101が構成されている。データ線駆動回路101はデータ線6aに電気的に接続しており、画像信号を各データ線6aに順次供給する。走査線駆動回路104は走査線3aに電気的に接続しており、走査信号を各走査線3aに順次供給する。
各画素100aにおいて、画素電極9aは、後述する対向基板に形成された共通電極と液晶を介して対向し、液晶容量50aを構成している。また、各画素100aには、液晶容量50aで保持される画像信号がリークするのを防ぐために、液晶容量50aと並列に保持容量60が付加されている。本形態では、保持容量60を構成するために、走査線3aと並列するように容量線3bが形成されており、かかる容量線3bは共通電位線(図示せず)に接続され、所定の電位に保持されている。なお、保持容量60は前段の走査線3aとの間に形成される場合もある。
電気光学装置100において、表示画像の見え易さは環境の明るさによって左右される。例えば、日中の自然光の下では、バックライト装置600の発光輝度を高く設定し、明るい画面を表示する必要がある。一方、夜間の暗い環境の下では、バックライト装置600の発光輝度が日中ほど高くなくても鮮明な画像を表示することができる。従って、バックライト装置600の発光輝度は、環境光の照度に応じて調整することが望ましい。そこで、本形態の電気光学装置100には、光センサ310および検出回路340を備えた光検出装置300が構成されており、かかる光検出装置300は、環境光の照度を計測する。また、調光回路500は、光検出装置300により得られた照度データに応じた輝度でバックライト装置600が発光するように制御する。かかる光検出装置300の具体的な構成は後述する。なお、検出回路340は素子基板10上に構成される場合もある。
(液晶パネル100pの具体的構成)
図2(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置100の液晶パネル100pを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、およびそのH−H′断面図である。図2(a)、(b)に示すように、電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と、ガラスなどを基材とする透光性の対向基板20とがシール材107(図2(a)において右下がりの斜線を付した領域)によって貼り合わされており、シール材107は対向基板20の外周縁に沿うように配置されている。シール材107は、光硬化樹脂や熱硬化性樹脂などからなる接着剤である。対向基板20のコーナー部などにおいては、素子基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための上下導通材(図示せず)が形成されている。
素子基板10において、シール材107の内周縁より外側領域には、素子基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101および複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。また、素子基板10には、端子102によりフレキシブル基板108が接続されている。なお、素子基板10には、画素領域10b、データ線駆動回路101および走査線駆動回路104を静電気から保護するための保護回路や検査回路が構成される場合もあるが、それらの説明は省略する。
詳しくは後述するが、素子基板10には、画素電極9aがマトリクス状に形成されている。これに対して、対向基板20には、シール材107の内側領域に額縁状の遮光層23b(図2(a)において右上がりの斜線を付した領域)が形成され、その内側が画像表示領域10aとされている。また、対向基板20では、素子基板10の画素電極9aの縦横の境界領域と対向する領域にブラックマトリクス、あるいはブラックストライプなどと称せられる遮光層23aが形成され、その上層側には、ITO膜からなる対向電極21が形成されている。なお、画素領域10bには、遮光層23bと重なる領域にダミーの画素が構成される場合があり、この場合、画素領域10bのうち、ダミー画素を除いた領域が画像表示領域10aとして利用されることになる。本形態では、シール材107として光硬化性接着剤を用いたため、対向基板20側からの光照射が可能なように、遮光層23bとシール材107とをずれた位置に形成したが、素子基板10側からの光照射によりシール材107を光硬化させる場合や、シール材107に熱硬化性接着剤を用いた場合には、遮光層23bとシール材107とが重なった位置に形成されている構成を採用することもできる。
シール材107より囲まれた空間内には電気光学物質としての液晶50が封入されている。液晶50は、画素電極9aからの電界が印加されていない状態で、素子基板10および対向基板に形成された配向膜16、22(図2(b)参照)により所定の配向状態をとる。液晶50は、例えば一種または数種のネマティック液晶を混合したものなどからなる。
電気光学装置100において、素子基板10の背面側にはバックライト装置600が配置されており、バックライト装置600から出射された光は、素子基板10の側から液晶パネル100pに入射して対向基板20の側から出射される間に変調され、対向基板20の側から表示光として出射される。バックライト装置600としては面光源装置を採用することができるとともに、LED素子と導光板とを用いた光源装置を採用することもできる。
液晶パネル100pにおいて、画像表示領域10aを挟んでデータ線駆動回路101と対向する位置には光センサ310が配置されている。本形態において、光センサ310は、素子基板10上に形成された受光素子からなる。対向基板20に形成された遮光層23bは、一部が切り欠かれており、素子基板10において遮光層23bの切り欠き23cと重なる領域に光センサ310が形成されている。
このように形成した電気光学装置100は、後述するモバイルコンピュータ、携帯電話機、液晶テレビなどといった電子機器のカラー表示装置として用いることができ、この場合、対向基板20には、カラーフィルタ(図示せず)や保護膜が形成される。また、対向基板20および素子基板10の光入射側の面あるいは光出射側には、使用する液晶50の種類、すなわち、TN(ツイステッドネマティック)モード、STN(スーパーTN)モード等々の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、偏光フィルム、位相差フィルム、偏光板などが所定の向きに配置される。電気光学装置100は、透過型に限らず、半透過反射型として構成される場合がある。
(各画素の構成)
図3(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置100に用いた素子基板10において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置100を切断したときの断面図である。
図3(a)、(b)に示すように、素子基板10には、ガラスなどからなる透光性基板10dの表面にシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12が形成されているとともに、その表面側において、画素電極9aに隣接する位置にNチャネル型の薄膜トランジスタ30が形成されている。薄膜トランジスタ30は、ツインゲート構造を有しており、島状の半導体膜1aには、ソース側からドレイン側に向かって、高濃度ソース領域1d、チャネル形成領域1b、高濃度N型領域1g、チャネル形成領域1c、および高濃度ドレイン領域1eがこの順に配置されている。半導体膜1aの上層にはシリコン酸化膜などからなるゲート絶縁膜2が形成され、ゲート絶縁膜2の上層には走査線3aが形成されている。走査線3aの一部は、ゲート電極としてゲート絶縁膜2を介してチャネル形成領域1b、1cに対向している。
半導体膜1aは、透光性基板10dに対してアモルファスシリコン膜を形成した後、レーザアニールやランプアニールなどにより多結晶化されたポリシリコン膜である。高濃度ソース領域1d、高濃度N型領域1g、および高濃度ドレイン領域1eは、走査線3a(ゲート電極)をマスクとして約0.1×1015/cm2〜約10×1015/cm2のドーズ量で高濃度N型の不純物(リンイオンなど)を導入することにより形成された半導体領域である。
薄膜トランジスタ30の上層側には、層間絶縁膜7、8が形成されている。層間絶縁膜7の表面にはデータ線6aおよびドレイン電極6bが形成され、データ線6aは、層間絶縁膜7に形成されたコンタクトホール7aを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続している。層間絶縁膜8の表面にはITO膜からなる画素電極9aが形成されている。画素電極9aは、層間絶縁膜8に形成されたコンタクトホール8aを介してドレイン電極6bに電気的に接続し、このドレイン電極6bは、層間絶縁膜7およびゲート絶縁膜2に形成されたコンタクトホール7bを介して高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続している。画素電極9aの表面側にはポリイミド膜からなる配向膜16が形成されている。高濃度ドレイン領域1eからの延設部分1f(下電極)に対しては、ゲート絶縁膜2と同時形成された絶縁膜(誘電体膜)を介して、走査線3aと同層の容量線3bが上電極として対向することにより、保持容量60が構成されている。本形態において、走査線3aおよび容量線3bは、モリブデン膜、アルミニウム膜、チタン膜、タングステン膜、タンタル膜などの単層膜あるいは積層膜からなる。また、データ線6aおよびドレイン電極6bも、モリブデン膜、アルミニウム膜、チタン膜、タングステン膜、タンタル膜などの単層膜あるいは積層膜からなる。
素子基板10には、画素100aのうち、表示に実質寄与しない領域に第1の柱状スペーサ4a(第1の柱状スペーサ)が形成されている。本形態において、第1の柱状スペーサ4aは、画素電極9aの上層のうち、容量線3bと重なる位置に形成されている。このような第1の柱状スペーサ4aは、複数の画素100aの各々に形成されており、素子基板10から突出して上端部が対向基板20に当接することにより、素子基板10と対向基板20との隙間寸法(液晶50の層厚)を規定する。このような第1の柱状スペーサ4aは、例えば、透光性、感光性および絶縁性を有する樹脂、例えば、アクリル樹脂を塗布、露光、現像することによって形成される。
(駆動回路の構成)
再び図2(a)において、本形態の電気光学装置100では、素子基板10の表面側のうち、画素領域10bの周辺領域を利用してデータ線駆動回路101および走査線駆動回路104などの内部回路が形成されている。このようなデータ線駆動回路101および走査線駆動回路104のシフトレジスタなどを構成するにあたっては、図示を省略するが、Nチャネル型の薄膜トランジスタとPチャネル型の薄膜トランジスタとを備えた相補型薄膜トランジスタが用いられる。
(光センサおよびその周辺部分の構成)
図4(a)、(b)は、本発明を適用した電気光学装置に用いた光センサおよびその近傍の平面図、およびそのB−B′断面図であり、図4には、画素スイッチング用の薄膜トランジスタ30も示してある。
図4(a)、(b)に示すように、本形態の素子基板10(第1の基板)において画素領域10bの外側領域には光センサ310が形成されており、光センサ310は、複数の受光素子を配線によって並列に電気的に接続した構造を有している。本形態において、光センサ310は、半導体膜1wで高濃度N型領域1x、真性領域1yおよび高濃度P型領域1zが順に並ぶPIN接合型ダイオードからなり、層間絶縁膜7の上層に形成された配線6h、6iが各々、コンタクトホール7h、7iを介して高濃度N型領域1xおよび高濃度P型領域1zに電気的に接続している。
半導体膜1wは、薄膜トランジスタ30を構成する半導体膜1aと同時形成されたポリシリコン膜である。高濃度N型領域1xは、薄膜トランジスタ30および相補型薄膜トランジスタの高濃度N型領域を形成する際、レジストマスクを用いて、約0.1×1015/cm2〜約10×1015/cm2のドーズ量で高濃度N型の不純物(リンイオンなど)を導入することにより形成された半導体領域であり、高濃度P型領域1zは、相補型薄膜トランジスタの高濃度P型領域を形成する際、レジストマスクを用いて、約0.1×1015/cm2〜約10×1015/cm2のドーズ量で高濃度P型の不純物(ボロンイオンなど)を導入することにより形成された半導体領域である。配線6h、6iは、データ線6aおよびドレイン電極6bと同時形成された金属膜であり、モリブデン膜、アルミニウム膜、チタン膜、タングステン膜、タンタル膜などの単層膜あるいは積層膜からなる。
このように構成した光センサ310は、対向基板20(第2の基板)に形成された遮光層23b(第1の遮光層)の切り欠き23cと重なっており、対向基板20の側から入射してくる外光(対象光/環境光/矢印Pで示す)を検出可能である。遮光層23bは、ブラックマトリクスを構成する遮光層23aと同時形成されたクロム膜やチタンなどの金属膜や窒化チタン膜などからなる。ここで、遮光層23bは、画素領域10bと光センサ310との間に重なる領域にも形成されている。
半導体膜1wに対して透光性基板10dが位置する側、例えば、透光性基板10dと下地保護膜12との層間には、光センサ310を含む領域と重なるように、クロム膜やチタンなどの金属膜や窒化チタン膜などからなる遮光層11a(第2の遮光層)が形成されている。このため、バックライト装置600からの光が直接、真性領域1yに入射しない。このような遮光層11aは、下地保護膜12を形成する前に、フォトリソグラフィ技術を用いて、透光性基板10dの表面に形成しておけばよい。本形態において、遮光層11aは広い領域にわたって形成されており、後述する第2の柱状スペーサ4bと重なる領域にまで形成されている。
本形態では、素子基板10において画素領域10bには複数の第1の柱状スペーサ4aが形成されているとともに、光センサ310と画素領域10bとの間にも、素子基板10から突出して対向基板20に当接する複数の第2の柱状スペーサ4bが形成されている。このような第2の柱状スペーサ4bは、第1の柱状スペーサ4aと同時形成されたものであり、アクリル樹脂などを塗布、露光、現像することによって形成される。
ここで、複数の第2の柱状スペーサ4bは、画素領域10bの端部に沿う第1の方向Xにおける寸法Lxと、第1の方向Xと直交する第2の方向Yにおける寸法Lyが略同一の丸棒状の突起であるが、以下のように配置されることにより、画素領域10b側から光センサ310に向けて進行する光を遮る遮光用突起として機能する。
本形態において、複数の第2の柱状スペーサ4b(遮光用突起)は、画素領域10bの端部に沿う第1の方向Xに配列されて突起列41、42を構成しているとともに、これらの突起列41、42は、画素領域10bから光センサ310に向かう第2の方向Yで並列している。
また、突起列41、42を第2の方向Yからみたとき、一方の突起列41に含まれる第2の柱状スペーサ4bの間が、他方の突起列42に含まれる第2の柱状スペーサ4bにより塞がれている。具体的には、突起列41において、第2の柱状スペーサ4bは所定の間隔を空けて配列されているが、その間隔は、第2の柱状スペーサ4bの第1の方向Xにおける寸法Lzよりも狭く、突起列42に含まれる第2の柱状スペーサ4bは、突起列41に含まれる第2の柱状スペーサ4bの間に配置されている。逆に、突起列42において、第2の柱状スペーサ4bは所定の間隔を空けて配列されているが、その間隔は、第2の柱状スペーサ4bの第1の方向Xにおける寸法Lzよりも狭く、かつ、突起列41に含まれる第2の柱状スペーサ4bは、突起列42に含まれる第2の柱状スペーサ4bの間に配置されている。
(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態の電気光学装置100では、素子基板10において画素領域10bの外側領域に光センサ310が形成されており、この光センサ310は、対向基板20側から入射する外光を検出する。従って、検出回路340は、照度データを調光装置500に出力し、調光装置500は、外光に応じた条件でバックライト装置600が発光するように制御する。
ここで、画素領域10bのうち、画像表示領域10aでは表示が行なわれることから、画素領域10bの側から光センサ310に光が漏れてくるおそれがある。例えば。バックライト装置600から出射された光のうち、斜め方向に出射された光は、矢印Qで示すように、対向基板20の遮光層23bのうち、画素領域10bと光センサ310との間に重なる部分で反射して光センサ310の向けて進行する場合がある。このような場合でも、本形態では、素子基板10において光センサ310と画素領域10bとの間には、遮光用突起として機能する第2の柱状スペーサ4bが形成されており、第2の柱状スペーサ4bの側面に斜めに入射した光は反射、吸収あるいは散乱される。従って、画素領域10b側から光センサ310に向けて進行する外乱光を遮ることができる。それ故、光センサ310に外乱光が入射することを防止することができるので、光センサ310の感度を高めることができる。
また、第2の柱状スペーサ4bは、画素領域10bにおいて素子基板10と対向基板20との隙間寸法(液晶50の層厚)を規定する第1の柱状スペーサ4aと同時形成された感光性樹脂からなる。このため、第1の柱状スペーサ4aを形成する工程を利用して第2の柱状スペーサ4bを形成するため、第2の柱状スペーサ4bを形成する場合でも、新たな工程を追加する必要がない。
また、半導体膜1wに対して透光性基板10dが位置する側、本形態では、透光性基板10dと下地保護膜12との層間には、光センサ310を含む領域と重なるように遮光層11aが形成されているため、バックライト装置600からの光が直接、真性領域1yに入射しない。それ故、光センサ310の感度が高い。
[実施の形態1の変形例]
上記実施の形態1において、第2の柱状スペーサ4bは丸棒状の突起であったが、横断面が正四角形、正六角形、正八角形などといった角棒状の突起であってもよい。
[実施の形態2]
図5は、本発明の実施の形態2に係る電気光学装置に用いた光センサおよびその近傍の平面図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。また、本形態のC−C′断面は、図4(b)に示すように表わされることから、本形態の光センサの断面については図4(b)を参照する。
図4(b)および図5に示すように、本形態においても、実施の形態1と同様、素子基板10(第1の基板)において画素領域10bの外側領域には光センサ310が形成されており、本形態において、光センサ310は、複数の受光素子を配線によって並列に電気的に接続した構造を有している。本形態において、光センサ310は、ポリシリコン膜からなる半導体膜1wに高濃度N型領域1x、真性領域1yおよび高濃度P型領域1zが順に並ぶPIN接合型ダイオードからなり、層間絶縁膜7の上層に形成された配線6h、6iが各々、コンタクトホール7h、7iを介して高濃度N型領域1xおよび高濃度P型領域1zに電気的に接続している。なお、本形態でも、図4(b)を参照して説明したように、光センサ310は、対向基板20(第2の基板)に形成された遮光層23b(第1の遮光層)の切り欠き23cと重なっており、対向基板20の側から入射してくる外光(対象光/環境光/矢印Pで示す)を検出可能である。ここで、遮光層23bは、画素領域10bと光センサ310との間に重なる領域にも形成された状態にある。また、透光性基板10dと下地保護膜12との層間には、光センサ310を含む領域と重なるように、クロム膜やチタンなどの金属膜や窒化チタン膜などからなる遮光層11a(第2の遮光層)が形成されている。
さらに、本形態でも、実施の形態1と同様、素子基板10において画素領域10bには複数の第1の柱状スペーサ4aが形成されているとともに、光センサ310と画素領域10bとの間にも、素子基板10から突出して対向基板20に当接する複数の第2の柱状スペーサ4cが形成されている。このような第2の柱状スペーサ4cは、第1の柱状スペーサ4aと同時形成されたものであり、アクリル樹脂などを塗布、露光、現像することによって形成される。
ここで、複数の第2の柱状スペーサ4cは、画素領域10bの端部に沿う第1の方向Xにおける寸法Lxが、第1の方向Xと直交する第2の方向Yにおける寸法Lyより長い板状突起であり、以下のように配置されることにより、画素領域10b側から光センサ310に向けて進行する光を遮る遮光用突起として機能する。
本形態において、複数の第2の柱状スペーサ4c(遮光用突起)は、画素領域10bの端部に沿う第1の方向Xに配列されて突起列41、42を構成しているとともに、これらの突起列41、42は、画素領域10bから光センサ310に向かう第2の方向Yで並列している。
また、突起列41、42を第2の方向Yからみたとき、突起列41に含まれる第2の柱状スペーサ4cの間が、突起列42に含まれる第2の柱状スペーサ4cにより塞がれている。具体的には、突起列41において、第2の柱状スペーサ4cは所定の間隔を空けて配列されているが、その間隔は、第2の柱状スペーサ4cの第1の方向Xにおける寸法Lzよりも狭く、突起列42に含まれる第2の柱状スペーサ4cは、突起列41に含まれる第2の柱状スペーサ4cの間に配置されている。
以上説明したように、本形態の電気光学装置100でも、実施の形態1と同様、素子基板10において画素領域10bの外側領域に光センサ310が形成されており、この光センサ310は、対向基板20側から入射する外光を検出する。ここで、画素領域10bのうち、画像表示領域10aでは表示が行なわれることから、画素領域10bの側から光センサ310に光が漏れてくるおそれがあるが、本形態では、素子基板10において光センサ310と画素領域10bとの間には、遮光用突起として機能する第2の柱状スペーサ4cが形成されているので、画素領域10b側から光センサ310に向けて進行する外乱光を遮ることができるなど、実施の形態1と同様な効果を奏する。
[その他の電気光学装置への適用例]
上記形態では、光センサ310がPIN接合型ダイオードの場合を説明したが、N型の薄膜トランジスタをダイオード接続したMOS型ダイオード、あるいはP型の薄膜トランジスタをダイオード接続したMOS型ダイオードを光センサ310として用いた場合に本発明を適当してもよい。また、光センサ310を用いて光検出を行なうにあたっては、遮光層23bの切り欠き23cに重なる領域に主センサを構成する光センサ310を配置する一方、遮光層23bと重なる領域に副センサを構成する光センサ310を配置し、それらの検出結果の差により、外光の強度を求めてもよい。例えば、主センサと副センサとをノードを介して直列に電気的接続してセンサ回路を構成するとともに、センサ回路の両端に電圧を印加したときにノードから取り出される電流あるいは電圧に基いて外光を検出してもよい。
上記形態では、第1の柱状スペーサ4aおよび第2の柱状スペーサ4b、4cを素子基板10の側から突出させたが、対向基板20の側から突出させてもよい。
また、上記形態では、第1の柱状スペーサ4aを製造する際、第2の柱状スペーサ4b、4cを同時形成したが、第1の柱状スペーサ4aと第2の柱状スペーサ4b、4cとを別工程で形成した構成や、第1の柱状スペーサ4aを形成せず、第2の柱状スペーサ4b、4cのみを形成した構成を採用してもよい。
[電子機器への搭載例]
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置100を適用した電子機器について説明する。図6(a)に、電気光学装置100を備えたモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ2000は、表示ユニットとしての電気光学装置100と本体部2010を備える。本体部2010には、電源スイッチ2001及びキーボード2002が設けられている。図6(b)に、電気光学装置100を備えた携帯電話機の構成を示す。携帯電話機3000は、複数の操作ボタン3001及びスクロールボタン3002、並びに表示ユニットとしての電気光学装置100を備える。スクロールボタン3002を操作することによって、電気光学装置100に表示される画面がスクロールされる。図6(c)に、電気光学装置100を適用した情報携帯端末(PDA:Personal Digital Assistants)の構成を示す。情報携帯端末4000は、複数の操作ボタン4001及び電源スイッチ4002、並びに表示ユニットとしての電気光学装置100を備える。電源スイッチ4002を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光学装置100に表示される。
なお、電気光学装置100が適用される電子機器としては、図6に示すものの他、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した電気光学装置100が適用可能である。
本発明を適用した電気光学装置の電気的構成を示すブロック図である。 (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置の液晶パネルを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、およびそのH−H′断面図である。 (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板10において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置を切断したときの断面図である。 (a)、(b)は各々、本発明の実施の形態1に係る電気光学装置に用いた光センサおよびその近傍の平面図、およびそのB−B′断面図である。 本発明の実施の形態2に係る電気光学装置に用いた光センサおよびその近傍の平面図である。 本発明を適用した電気光学装置を備えた電子機器の説明図である。
符号の説明
1w・・光センサの半導体膜、1x・・光センサの高濃度N型領域、1y・・光センサの真性領域、1z・・光センサの高濃度P型領域、4a・・第1の柱状スペーサ、4b、4c・・第2の柱状スペーサ(遮光用突起)、10・・素子基板(第1の基板)、10a・・画像表示領域、10b・・画素領域、11a・・素子基板側の遮光層(第2の遮光層)、20・・対向基板(第2の基板)、23b・・対向基板側の遮光層(第1の遮光層)、30・・画素スイッチング用の薄膜トランジスタ、100・・電気光学装置、100p・・液晶パネル、300・・光検出装置、310・・光センサ回路、600・・バックライト装置

Claims (9)

  1. 第1の基板と第2の基板とが所定の隙間を介して貼り合わされたパネルを備え、当該パネルには、複数の画素が配列された画素領域が構成された電気光学装置において、
    前記第1の基板または前記第2の基板のうちの少なくとも一方の前記画素領域の外側領域において、入射する対象光を検出する光センサが形成され、
    前記第1の基板および前記第2の基板のうちの一方の基板には、前記光センサと前記画素領域との間の領域において当該一方の基板から突出した遮光用突起が形成されていることを特徴とする電気光学装置。
  2. 前記一方の基板には、当該一方の基板から突出して他方の基板に向けて突出する複数の柱状スペーサが形成され、
    前記複数の柱状スペーサには、前記画素領域内において前記他方の基板に当接して前記隙間の寸法を規定する複数の第1の柱状スペーサと、前記光センサと前記画素領域との間に前記遮光用突起として形成された第2の柱状スペーサと、が含まれていることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  3. 前記遮光用突起は、前記画素領域の端部に沿う第1の方向に配列されて突起列を構成し、
    当該突起列は、前記第1の方向に直交する第2の方向において複数列設けられ、
    当該複数列の突起列において隣接する2つの突起列を前記第2の方向からみたとき、一方の突起列に含まれる前記遮光用突起の間が、他方の突起列に含まれる前記遮光用突起により塞がれていることを特徴とする請求項1または2に記載の電気光学装置。
  4. 前記遮光用突起は、前記第1の方向の寸法と前記第2の方向の寸法とが同一の棒状突起であることを特徴とする請求項3に記載の電気光学装置。
  5. 前記遮光用突起は、前記第1の方向の寸法が前記第2の方向の寸法より長い板状突起であることを特徴とする請求項3に記載の電気光学装置。
  6. 前記光センサは前記第1の基板に形成され、
    前記第2の基板は透光性基板であり、当該第2の基板の側から前記対象光が入射し、
    前記第2の基板において前記画素領域と前記光センサとの間に重なる領域には第1の遮光層が形成され、
    前記遮光用突起は、前記第1の遮光層と平面的に重なる領域に形成されていることを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の電気光学装置。
  7. 前記光センサは前記第1の基板に形成され、
    前記第1の基板および前記第2の基板は透光性基板であり、当該第2の基板の側から前記対象光が入射し、
    前記光センサに対して前記第1の基板が位置する側には、少なくとも前記光センサと重なる領域に第2の遮光層が形成されていることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の電気光学装置。
  8. 前記光センサによる光検出結果に基づいて前記画素領域の駆動条件が調整されることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の電気光学装置。
  9. 前記画素領域に光を出射する光源装置を備え、
    前記光センサによる光検出結果に基づいて前記光源装置における出射光量を制御することを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の電気光学装置。
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