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JP2008170314A - 放射線用シンチレータプレート及び放射線画像撮影装置 - Google Patents

放射線用シンチレータプレート及び放射線画像撮影装置 Download PDF

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JP2008170314A JP2007004412A JP2007004412A JP2008170314A JP 2008170314 A JP2008170314 A JP 2008170314A JP 2007004412 A JP2007004412 A JP 2007004412A JP 2007004412 A JP2007004412 A JP 2007004412A JP 2008170314 A JP2008170314 A JP 2008170314A
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満 関口
Takehiko Shoji
武彦 庄子
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Abstract

【課題】放射線が蛍光体層に入射する際に、同時に放射線画像検出手段の各種部材で散乱された低エネルギ放射線が蛍光体層に入射して、正確な画像診断の検出が妨げられ、診断性能が損なわれるという課題を解決する。
【解決手段】基板26と、基板26に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層27と、基板26の蛍光体層27に接する面の反対側の面に接する金属層25と、を有し、基板26、蛍光体層27、金属層25の全体が耐湿性保護膜24Bにより覆われている放射線用シンチレータプレート200。
【選択図】図4

Description

本発明は、放射線を受けて蛍光を発する放射線用シンチレータプレート、及びシンチレータプレートを有する放射線画像撮影装置に関する。
従来から、X線画像のような放射線画像撮影装置は医療現場において病状の診断に広く用いられている。特に、増感紙−X線フィルムによる放射線画像撮影装置は、長い歴史の中で高感度化と高画質化が図られた結果、世界中の医療現場で用いられている。
近年では、フラットパネル型放射線ディテクタ(FPD)等に代表されるデジタル方式の放射線画像検出手段も登場しており、放射線画像をデジタル情報として取得して自由に画像処理を行い、画像情報を直ちに電送することが可能となっている。
放射線画像検出手段は放射線を蛍光に変換する所謂「シンチレータプレート」を有している。シンチレータプレートは、被写体を通過した放射線を受けて、その放射線量に対応した強度で蛍光体層による蛍光を瞬時に発光するものであり、基板上に蛍光体層を形成した構成を有する。
特許文献1に記載の放射線画像撮影装置は、放射線を検出する平面型の放射線検出手段を覆う筐体の前面板と、放射線検出手段との間に特定の金属層を備えたものである。
特開2003−185754号公報
上記の放射線画像検出手段のシンチレータプレートにおいて、放射線が蛍光体層に入射する際に、同時に放射線画像検出手段の各種部材で散乱された低エネルギ放射線が蛍光体層に入射して、正確な画像診断の検出が妨げられ、診断性能が損なわれるという課題がある。
特許文献1に記載の放射線画像撮影装置は、放射線散乱防止用の金属箔がシンチレータプレートではなく、筐体に付属していて、シンチレータプレート外に配置されている。このため、金属箔が湿度による水分によって腐食されるおそれがある。また、金属箔とシンチレータプレートとの距離が離れているから、放射線が散乱する。
上記の課題は、下記の本発明により達成される。
1. 基板と、前記基板の一方の面に設けられ、放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、前記基板の前記蛍光体層に接する面の反対側の面に接する金属層と、を有し、前記基板、前記蛍光体層、前記金属層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
2. 基板と、前記基板に接する金属層と、前記金属層の上に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有し、前記基板、前記金属層、前記蛍光体層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
3. 金属または合金から形成された金属基板と、前記金属基板に設けられ、放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有し、前記金属基板、前記蛍光体層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
4. 前記1乃至3の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレートを、光電変換手段に密接させて、筐体内に収容した放射線検出手段を有することを特徴とする放射線画像撮影装置。
本発明のシンチレータプレートにより以下の効果が得られる。
1. 散乱防止用の金属層、金属基板がシンチレータプレートの保護膜の内部にあるから、金属層、金属基板が湿度等から保護され、腐食に対して強い効果が得られる。
2. 金属層、金属基板と蛍光体層との距離が近いから、蛍光体層に入射する直前で散乱X線をカットでき、散乱X線除去の効果が高い。
3. 蛍光体層に接する金属層、金属基板を柱状構造にした際には、金属層、金属基板が柱状構造になっていることを特徴としている。この場合、柱状構造に平行なX線(画像情報を含んでいる)を効率的に透過させることができ、かつ柱状方向に平行でない(画像情報を含ない)散乱線を効果的に遮断することができる。また、蛍光体層を形成するヨウ化セシウムが下地の柱状性を反映して成長するから、ヨウ化セシウム結晶の柱状性が向上し、画像の尖鋭性が向上する。
4. 蛍光体層である潮解性を有する物質、例えばヨウ化セシウム等は耐湿保護膜の内部に設けられているので、湿度による金属腐食が防止される。
5. 金属層、金属基板である散乱X線除去フィルタと蛍光体層との間に絶縁膜層を設け、蛍光体構成原子が金属層、金属基板に付着することで、電池反応を起こし、金属腐食の原因となることを防止することができる。
以下、図を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は該実施の形態に限定されるものではない
図1は、本発明の実施の形態に係る放射線画像撮影装置1の概略図である。
放射線画像撮影装置1は、本体10、放射線検出手段20、画像処理手段30、画像表示手段40を備えている。本体10は、その内部に、放射線検出手段20や各種機器を搭載するものであり、放射線室内の所定の位置に固定されている。
放射線画像撮影は、放射線源50から照射され被写体60、及び放射線検出手段20の前面板22を透過させた放射線を放射線検出手段20で検出して行う。
図2は、図1の部分拡大断面図である。
放射線検出手段20は、ハウジング21の内部に、前面板22、緩衝材23、シンチレータプレート200、及びフォトダイオードを形成したTFT基板からなる光電変換手段28を備えている。
シンチレータプレート200は、基板26の面上に蛍光体層27を備えるものであり、蛍光体層27に放射線が照射されると、蛍光体層27は入射した放射線のエネルギを吸収して、波長が300μmから800μmの電磁波、即ち、可視光線を中心に紫外光から赤外光にわたる電磁波(光)を発光する。
シンチレータプレート200は、金属層25、基板26、蛍光体層27、及びこれらの部材を包囲して密封する耐湿性保護膜(以下、保護膜と称す)24A、24Bから構成されている。
本体10は、その内部に搭載した各種機器を保護できるように剛性の高い材料、例えば炭素繊維強化ABS樹脂で作製される。
放射線検出手段20の前面板22は、放射線透過率が高い材料で作製される。なお、この前面板22の厚さは、0.3〜0.5mmで、放射線透過性を確保しつつ、強度を維持する。放射線透過率が高く、且つ剛性の高い材料としては、アルミニウム合金、炭素繊維強化樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、これらの樹脂とアルミニウム合金との複合材などがある。
前面板22は、緩衝材23を介してシンチレータプレート200を押圧して、シンチレータプレート200を光電変換手段28に密接させる。
シンチレータプレート200の内部に配置された金属層25は、原子番号20以上の金属、または実効原子番号20以上の合金から構成された金属、例えば、Cu,Ni,Fe,Pb,Zn,W,Mo,Au,Ag,Ba,Ta,Cd,Ti,Zr,V,Nb,Cr,Co,Snの金属のうちの少なくとも1種から構成されている。これらの金属または合金は、低エネルギの放射線を吸収するものであるから、前記した散乱放射線を効率的に吸収して除去することができる。ここで、「実効原子番号」とは、合金を構成する各金属の原子番号をモル比に基づいて平均化したときの原子番号を意味する。例えば、Co(原子番号27)とCu(原子番号29)のモル比が1:1で構成された合金の場合、実効原子番号は28となる。
金属層25の厚さは、5μm以上、200μm以下とする。金属層25の厚さが5μm未満であると、前記した散乱放射線除去機能が充分みたされないので好ましくない。また、金属層25の厚さが200μmを超えると、この金属層25による放射線の吸収が大きすぎて放射線の利用効率が低下するので好ましくない。金属層25は電解液法や圧延法により作製される。
保護膜24A、24Bは、金属層25、基板26、蛍光体層27を内包したのち接着されて袋状に形成される。保護膜24A、24Bの水分透過率が1日当たり50g/m2以下である。水分透過率が1日当たり50g/m2以上であると、例えば蛍光体層27がCsIなどの潮解性物質であったとき、60℃、湿度80%の環境下で168時間置くと蛍光体の輝度が10%低下し、製品としての信頼性が不満足になることがわかっているためである。
蛍光体層27としては、Cs(セシウム)をベースとして結晶が形成されたものであり、例えばCsI(ヨウ化セシウム)の他に、CsBrやCsClなどがあげられる。また、前記Csをベースとする蛍光体層27を構成する複数の原料を任意の混合比率で用いて結晶体を形成し、この結晶体をベースとしてもよい。
[従来例]
図3は従来例の放射線検出手段20の模式断面図である。
シンチレータプレート200は、保護膜24A、基板26、蛍光体層27、保護膜24Bの順に構成されている。
図3には、保護膜24A,24Bの中に金属層が形成されていないことが特徴である。
[第1の実施形態]
図4は本発明の第1の実施形態による放射線検出手段20の模式断面図である。
層構成:保護層24A、金属層25、基板26、蛍光体層27、保護膜24Bの順に形成されている。例えば、保護層24A、24Bは合計50μmの厚さのPET20μm/アルミナ蒸着0.2μm/ポリプロピレン30μm積層膜を用いる。金属層25としては厚さ20μmのCu膜を用い、基板26としては125μm厚のポリイミド膜、蛍光体層としては600μm厚のTl(タリウム)を0.03mol%ドープしたCsI結晶を蒸着法にて成膜した。
本実施形態においては、X線はまず、金属層25に入射する。ここで、装置の他の部分で発生したノイズの元となる散乱X線は強度が弱いため吸収されてなくなる。特に本発明では、金属層25と蛍光体層27の距離が近いため、蛍光体層に入射する直前で散乱X線をカットでき、散乱X線除去の効果が高いという利点がある。
散乱X線による画像の劣化度の測定法にグレア成分(散乱によるコントラスト低下)の測定がある。鉛ディスク法(医用画像工学、岡部哲夫、瓜屋富三編、医歯薬出版株式会社発行pp.66)を用いて本実施の形態のグレアを測定したところ40mmの鉛ディスクを用いた際のグレアは、金属層25無しで0.12%、金属層有りで0.03%と明らかに散乱によるコントラスト低下が抑えられていることがわかった。
また、本実施の形態では散乱防止用の金属層25がシンチレータプレートの保護膜24の内部にあるから、金属層25が湿度から保護され、銅の腐食が発生するという問題がない。
[第2の実施の形態]
図5(a)は本発明の第2の実施形態による放射線検出手段20の模式断面図である。
層構成:保護層24A、基板26、金属層25、蛍光体層27、保護膜24Bの順に形成されている。例えば、保護層24A、24Bは合計50μmの厚さのPET20μm/アルミナ蒸着0.2μm/ポリプロピレン30μm積層膜を用いる。基板26としては125μm厚のポリイミド膜、金属層25としてはCu層0.3mmを用い、蛍光体層27としては600μm厚のTlを0.03mol%ドープしたCsI結晶を蒸着法にて成膜した。
本実施形態においても、X線は蛍光体層27に入射する前に、金属層25に入射する。ここで、装置の他の部分で発生したノイズの元となる散乱X線は強度が弱いため吸収されてなくなる。本実施の形態では、第1の実施の形態と比べても、金属層25と蛍光体層27の距離が近いため、蛍光体層に入射する直前で散乱X線をカットでき、散乱X線除去の効果が高いという利点がある。
また、金属層25は蛍光体層27より発した光を反射することが出来るので、第1の実施の形態では基板26に吸収され無駄になっていた蛍光体層からの光が、光電変換手段28に向けて反射され、より少ないX線量で明るい画像が得られるという利点がある。
[第3の実施の形態]
図5(b)は本発明の第3の実施形態による放射線検出手段20の模式断面図である。
層構成:保護層24A、基板26、金属層25、絶縁層膜201、蛍光体層27、保護膜24Bの順に形成されている。例えば、保護層24A、24Bは合計50μmの厚さのPET20μm/アルミナ蒸着0.2μm/ポリプロピレン30μm積層膜を用いる。基板26としては125μm厚のポリイミド膜、金属層25としてはCu層0.3mmを用い、絶縁層膜201としては、ポリエステル1μmを塗布法にて形成した。蛍光体層27としては600μm厚のTlを0.03mol%ドープしたCsI結晶を蒸着法にて成膜した。
第3の実施の形態においては、金属層25と蛍光体層27が接しているため、CsI蛍光体に含まれるハロゲン元素が、保護膜を通して進入してきた水分と反応し、金属層25を腐食させるという心配があった。しかし、本実施の形態では金属層25と蛍光体層27の間を絶縁層膜201で分離することで蛍光体構成原子が金属層25に付着することで、金属層25との間で電池反応を起こし、金属腐食の原因となることを防止することができる。
[第4の実施の形態]
図6(a)は本発明の第4の実施形態による放射線検出手段20の模式断面図である。
層構成:保護層24A、金属基板29、蛍光体層27、保護膜24Bの順から成っている。例えば、保護層24A、24Bは合計50μmの厚さのPET20μm/アルミナ蒸着0.2μm/ポリプロピレン30μm積層膜を用いる。金属基板29としては例えばCu層0.5mmを用い、蛍光体層27としては600μm厚のTlを0.03mol%ドープしたCsI結晶を蒸着法にて成膜した。
第4の実施の形態においては、第3の実施の形態と比べ、基板26が不要であり、シンチレータプレートの構成を単純化でき、コストを安く押さえることが出来る。
[第5の実施の形態]
図6(b)は本発明の第5の実施形態による放射線検出手段20の模式断面図である。
層構成:保護層24A、金属基板29、絶縁層膜202、蛍光体層27、保護膜24Bの順の順から成っている。例えば、保護層24A、24Bは合計50μmの厚さのPET20μm/アルミナ蒸着0.2μm/ポリプロピレン30μm積層膜を用いる。金属基板29としては例えばCu層0.5mmを用い、絶縁層膜202としては、ポリエステル1μmを塗布法にて形成した。蛍光体層27としては600μm厚のTlを0.03mol%ドープしたCsI結晶を蒸着法にて成膜した。
第4の実施の形態においては、金属基板29と蛍光体層27が接しているため、CsI蛍光体に含まれるハロゲン元素が、保護膜を通して進入してきた水分と反応し、金属基板29を腐食させるという心配があった。しかし、本実施の形態では金属基板29と蛍光体層27の間を絶縁層膜202で分離することで蛍光体構成原子が金属基板29に付着することを防ぐ。すなわち、蛍光体構成原子が金属基板29との間で電池反応を起こし、金属腐食の原因となることを防止することができる。
以上の実施の形態に対し本発明では、金属層が、原子番号20以上の金属、または実効原子番号20以上の合金から構成された厚さ5μm以上、200μm以下であることを特徴としている。これは、被写体60及び、前面板22を透過する際に散乱した低エネルギのX線(散乱線)を除去する機能を果たす金属層として必要な金属、膜厚である。金属基板として用いる場合は、画像情報を含む高いエネルギのX線も一部吸収してしまうが、シンチレータプレートの機械強度を高めるため、500μm以下程度まで厚くすることも可能である。
また、本発明では、原子番号20以上の金属としてCu,Ni,Fe,Pb,Zn,W,Mo,Au,Ag,Ba,Ta,Cd,Ti,Zr,V,Nb,Cr,Co,Snの金属層ないしは金属基板を挙げている。これは、低エネルギのX線(散乱線)を除去する機能を果たすためである。
また、本発明では、金属層、金属基板が柱状構造になっていることを特徴としている。この場合、柱状構造に平行なX線(画像情報を含んでいる)を効率的に透過させることができ、かつ柱状方向に平行でない(画像情報を含ない)散乱線を効果的に遮断することができる。
また、本発明では、アクリル樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、またはこれらの樹脂の発泡体、炭素繊維強化樹脂、アルミニウム等の基板26を用いると、原子番号20以上の金属層25を0.3mm以下とした場合、金属層25が変形しやすくなる。このため、シンチレータプレート200をX線をほとんど吸収しない材料からなる基板26で補強する必要がある。X線をほとんど吸収しない材料がアクリル樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、またはこれらの樹脂の発泡体、炭素繊維強化樹脂、アルミニウム等の基板である。
本発明のの耐湿性保護膜の水分透過率が1日当たり50g/m2以下の効果は以下の通りである。水分がシンチレータプレート内に進入すると水分が、金属層25または金属基板29と反応し、腐食が発生する。これを防ぐためにはモコン法により測定された耐湿性保護膜の水分透過率を1日当たり50g/m2以下にする必要がある。
また、金属層または金属基板と蛍光体層の間に、絶縁膜層を設けることにより、CsI蛍光体に含まれるハロゲン元素が、保護膜を通して進入してきた水分と反応し、金属層または金属基板を腐食させることを防ぐため、金属層または金属基板と蛍光体層の間に、絶縁膜層を設けるというものである。
本発明の実施の形態に係る放射線画像撮影装置の概略図。 図1の部分拡大断面図。 従来の放射線検出手段の模式断面図。 本発明による第1の実施の形態の放射線検出手段の模式断面図。 本発明による第2、第3の実施の形態の放射線検出手段の模式断面図。 本発明による第4、第5の放射線検出手段の模式断面図。
符号の説明
1 放射線画像撮影装置
10 本体
20 放射線検出手段
21 ハウジング
22 前面板
23 緩衝材
24A 耐湿性保護膜(保護膜)
24B 耐湿性保護膜(保護膜)
25 金属層
26 基板
27 蛍光体層
28 光電変換手段
29 金属基板
200 シンチレータプレート
201、202 絶縁層膜
30 画像処理手段
40 画像表示手段
50 放射線源
60 被写体

Claims (14)

  1. 基板と、
    前記基板の一方の面に設けられ、放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、
    前記基板の前記蛍光体層に接する面の反対側の面に接する金属層と、を有し、
    前記基板、前記蛍光体層、前記金属層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
  2. 基板と、
    前記基板に接する金属層と、
    前記金属層の上に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有し、
    前記基板、前記金属層、前記蛍光体層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
  3. 金属または合金から形成された金属基板と、
    前記金属基板に設けられ、放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有し、
    前記金属基板、前記蛍光体層の全体が耐湿性保護膜により覆われていることを特徴とする放射線用シンチレータプレート。
  4. 前記金属層が、原子番号20以上の金属、または実効原子番号20以上の合金から構成された厚さ5μm以上、200μm以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線用シンチレータプレート。
  5. 前記金属基板が、原子番号20以上の金属、または実効原子番号20以上の合金から構成された厚さ5μm以上、500μm以下であることを特徴とする請求項3に記載の放射線用シンチレータプレート。
  6. 前記金属層が、Cu,Ni,Fe,Pb,Zn,W,Mo,Au,Ag,Ba,Ta,Cd,Ti,Zr,V,Nb,Cr,Co,Snの金属のうちの少なくとも1種から構成されていることを特徴とする請求項1、2、4の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレート。
  7. 前記金属基板が、Cu,Ni,Fe,Pb,Zn,W,Mo,Au,Ag,Ba,Ta,Cd,Ti,Zr,V,Nb,Cr,Co,Snのうちの少なくとも1種から構成されていることを特徴とする請求項3または5に記載の放射線用シンチレータプレート。
  8. 前記金属層が柱状構造を有することを特徴とする請求項1、2、4、6の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレート。
  9. 前記金属基板が柱状構造を有することを特徴とする請求項3、5、7の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレート。
  10. 前記基板がアクリル樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、またはこれらの樹脂の発泡体、炭素繊維強化樹脂、アルミニウムのうち、少なくとも1つの材料で構成されたものであることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線用シンチレータプレート。
  11. 前記耐湿性保護膜の水分透過率が1日当たり50g/m2以下であることを特徴とする請求項1、2、3の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレート。
  12. 前記金属層と前記蛍光体層との間に、絶縁膜層を設けたことを特徴とする請求項2に記載の放射線用シンチレータプレート。
  13. 前記金属基板と前記蛍光体層との間に、絶縁膜層を設けたことを特徴とする請求項3に記載の放射線用シンチレータプレート。
  14. 請求項1乃至13の何れか1項に記載の放射線用シンチレータプレートを、光電変換手段に密接させて、筐体内に収容した放射線検出手段を有することを特徴とする放射線画像撮影装置。
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