JP2008039496A - 電気接触子,電気接触子の第1接触部材の成形方法及び電気部品用ソケット - Google Patents
電気接触子,電気接触子の第1接触部材の成形方法及び電気部品用ソケット Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000465 moulding Methods 0.000 title abstract description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 17
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
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Abstract
【解決手段】 板材が筒状に形成された第1接触部材26を有し、この第1接触部材26の先端部に、第1の電気部品に接触されて電気的に接続される第1接触部26aが形成されたコンタクトピンにおいて、第1接触部26aには、複数の接触片26eがそれぞれ筒状の内側に向けて折曲げられて形成され、接触片26eが電気部品の端子に接触されるように構成されたコンタクトピン。
【選択図】 図6
Description
[発明の実施の形態1]
[発明の実施の形態2]
12 ICパッケージ(電気部品)
12a 半田ボール(端子)
12b パッケージ本体
13 配線基板
13a 電極部
14 ソケット本体
15 コンタクトピン(電気接触子)
18 上側保持部材
19 下側保持部材
20 フローティングプレート
26 第1接触部材
26a 第1接触部
26b 膨出部
26c 突部
26e 接触片
26f,26g 端面部
26i 突片
27 第2接触部材
27a 大径筒部
27b 小径筒部
27c 段差部
27d 第2接触部
28 コイルスプリング
Claims (7)
- 板材が筒状に形成された第1接触部材を有し、該第1接触部材の先端部に、第1の電気部品に接触されて電気的に接続される第1接触部が形成された電気接触子において、
前記第1接触部には、複数の接触片がそれぞれ内側に向けて折曲げられて形成され、該接触片が電気部品の端子に接触されるように構成されたことを特徴とする電気接触子。 - 前記接触片は端面部が、前記端子に接触されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の電気接触子。
- 前記端面部は、筒状の周縁側より中心側に向かうに従って低くなるように水平方向に対して傾斜していることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気接触子。
- 前記接触片は、3片以上形成され、前記各接触片の端面部は筒状の中心に対して略放射方向に沿って形成されていることを特徴とする請求項3に記載の電気接触子。
- 前記第1接触部材と、第2の電気部品に接触される第2接触部を有する第2接触部材と、該両第1及び第2接触部材を互いに反対方向に付勢する付勢手段とを有することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載の電気接触子。
- 請求項1乃至4の何れか一つに記載の電気接触子の第1接触部材の成形方法であって、
一枚の導電性を有する板材を略長方形状に打ち抜くと共に、先端部に複数の切り込みを形成して、前記接触片となる突片を複数形成し、該各突片を同一方向に折曲げ、その後、略長方形の板材を、前記各突片を折曲げた側を内側として筒状に曲げ加工して形成したことを特徴とする電気接触子の第1接触部材の成形方法。 - 第1の電気部品が収容されるソケット本体と、
該ソケット本体に配設されて、前記第1の電気部品の端子に接触される請求項1乃至5の何れか一つに記載の電気接触子とを有することを特徴とする電気部品用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006211624A JP4857047B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 電気接触子,電気接触子の第1接触部材の成形方法及び電気部品用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006211624A JP4857047B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 電気接触子,電気接触子の第1接触部材の成形方法及び電気部品用ソケット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008039496A true JP2008039496A (ja) | 2008-02-21 |
| JP4857047B2 JP4857047B2 (ja) | 2012-01-18 |
Family
ID=39174689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006211624A Expired - Fee Related JP4857047B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 電気接触子,電気接触子の第1接触部材の成形方法及び電気部品用ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4857047B2 (ja) |
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- 2006-08-03 JP JP2006211624A patent/JP4857047B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP4857047B2 (ja) | 2012-01-18 |
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