JP2008039394A - 金属検知装置の電磁誘導センサ - Google Patents
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Abstract
【課題】 金属片検知装置の金属片検知センサにおいて、被検査物に金属片が混入しているときのみ、金属片検知信号を発生する電磁誘導センサを提供すること。
【解決手段】 電磁誘導センサは、励磁コイル21と検出コイル22からなり、両コイルは、コイル面が直交するように配置してある。電磁誘導センサは、被検査物31に対して、励磁コイル21のコイル面が垂直になり、検出コイル22のコイル面が並行になるように上置してある。励磁コイル21は、被検査物31に一様磁界を発生する。したがって検出コイル22には、被検査物31に金属片が混入しているときのみ、金属片検知信号を発生する
【選択図】 図1
【解決手段】 電磁誘導センサは、励磁コイル21と検出コイル22からなり、両コイルは、コイル面が直交するように配置してある。電磁誘導センサは、被検査物31に対して、励磁コイル21のコイル面が垂直になり、検出コイル22のコイル面が並行になるように上置してある。励磁コイル21は、被検査物31に一様磁界を発生する。したがって検出コイル22には、被検査物31に金属片が混入しているときのみ、金属片検知信号を発生する
【選択図】 図1
Description
本願発明は、食品、工業材料、衣服、郵便物等に混入或いは潜在する金属片の検知装置、地雷検知装置等に使用する電磁誘導センサに関する。
従来食品、工業材料等に混入する金属片の検知装置には、電磁センサが使用されている。
図7により従来の電磁センサを説明する(例えば特許文献1参照)。
図7は、被検査物の上に配置した電磁センサを示し、図7(a)は、平面図、図7(b)は、図7(a)のX1部分の矢印方向の断面図、図7(c)は、電磁センサの裏面の平面図である。
図7において、11は、電磁センサ、13は、被検査物12を搬送するベルトコンベアのベルトである。電磁センサ11は、断面がE文字状の鉄心111にセンサーコイル112を巻き、中央に永久磁石113を取り付けてある。電磁センサ11のセンサーコイル112は、交流電源(図示せず)と検出回路(図示せず)に接続されている。被検査物12は、ベルト13によってX2方向へ搬送され、電磁センサ11の下を通って移動する。
センサーコイル112に交流電源を接続すると、センサーコイル112に交流電流が流れて交番磁界を発生し、センサーコイル112の磁束は、ベルト13を含む磁路を通過する。被検査物12に金属片が混入しているときは、被検査物12が、図7のように電磁センサ11の下に移動すると、センサーコイル112の磁路の磁気特性が変わるため、センサーコイル112の交流電流の振幅が変化する。その振幅の変化分を検出回路で抽出して、被検査物12に混入している金属片を検知する。
図7により従来の電磁センサを説明する(例えば特許文献1参照)。
図7は、被検査物の上に配置した電磁センサを示し、図7(a)は、平面図、図7(b)は、図7(a)のX1部分の矢印方向の断面図、図7(c)は、電磁センサの裏面の平面図である。
図7において、11は、電磁センサ、13は、被検査物12を搬送するベルトコンベアのベルトである。電磁センサ11は、断面がE文字状の鉄心111にセンサーコイル112を巻き、中央に永久磁石113を取り付けてある。電磁センサ11のセンサーコイル112は、交流電源(図示せず)と検出回路(図示せず)に接続されている。被検査物12は、ベルト13によってX2方向へ搬送され、電磁センサ11の下を通って移動する。
センサーコイル112に交流電源を接続すると、センサーコイル112に交流電流が流れて交番磁界を発生し、センサーコイル112の磁束は、ベルト13を含む磁路を通過する。被検査物12に金属片が混入しているときは、被検査物12が、図7のように電磁センサ11の下に移動すると、センサーコイル112の磁路の磁気特性が変わるため、センサーコイル112の交流電流の振幅が変化する。その振幅の変化分を検出回路で抽出して、被検査物12に混入している金属片を検知する。
図7の従来の電磁センサ11は、1個のセンサーコイル112を励磁コイルと検出コイルに使用しているから、検出コイル(センサーコイル112)には、被検査物12に金属片が混入していないときも電流が流れている。即ち金属片が混入していないときも、検出コイルに検出信号が発生する。したがって金属片を検知するには、金属片が混入していないときの検出信号と金属片が混入しているときの検出信号から、両検出信号の振幅差を金属片検知信号として抽出しなければならない。そのため金属片検知信号の抽出には、ブリッジ回路(平衡回路)等からなる複雑な回路を用いて、複雑な信号処理を行わなければならないから、金属片の検知装置が複雑になる。また被検査物12とセンサーコイル112の距離(間隔)が大きくなると、前記両検出信号は小さくなり、両検出信号の振幅差も小さくなるから、金属片の検出精度や検出感度が低下する。
また従来の電磁センサは、被検査物12に金属片が混入している場合、センサーコイル112と被検査物12の間隔(距離)が変化すると検出コイルの電流も変化するため、その変化は、金属片検知信号に影響し、金属片の検出精度や検出感度を低下させる。センサーコイル112と被検査物12の間隔(距離)の変化は、センサーコイル112の位置の上下動や被検査物12に混入する金属片の位置の相違(例えば、金属片が被検査物12のセンサーコイル112に近い位置にあるか、遠い位置にあるかの相違)によって起きる。
本願発明は、従来の磁気センサの前記問題点を解決するため、被検査物に金属片が混入しているときにのみ検出コイルに検出信号を発生する(金属検知信号を発生する)電磁誘導センサを提供することを目的とする。
本願発明は、従来の磁気センサの前記問題点を解決するため、被検査物に金属片が混入しているときにのみ検出コイルに検出信号を発生する(金属検知信号を発生する)電磁誘導センサを提供することを目的とする。
本願発明は、その目的を達成するため、請求項1に記載の金属検知装置の電磁誘導センサは、励磁コイルと検出コイルを両コイルのコイル面が交差するように配置し、検出コイルのコイル面を被検査物に並行に配置してあることを特徴とする。
請求項2に記載の金属検知装置の電磁誘導センサは、請求項1に記載の金属検知装置の電磁誘導センサにおいて、前記検出コイルは複数個の検出コイルを並置してなることを特徴とする。
請求項3に記載の金属検知方法は、励磁コイルと検出コイルを両コイルのコイル面が交差するように配置した電磁誘導センサの検出コイルのコイル面が被検査物と並行するように、電磁誘導センサ又は被検査物を移動して被検査物の金属片を検知することを特徴とする。
請求項4記載の金属検知方法は、請求項3に記載の金属検知方法において、前記検出コイルは複数個の検出を並置してなることを特徴とする。
請求項2に記載の金属検知装置の電磁誘導センサは、請求項1に記載の金属検知装置の電磁誘導センサにおいて、前記検出コイルは複数個の検出コイルを並置してなることを特徴とする。
請求項3に記載の金属検知方法は、励磁コイルと検出コイルを両コイルのコイル面が交差するように配置した電磁誘導センサの検出コイルのコイル面が被検査物と並行するように、電磁誘導センサ又は被検査物を移動して被検査物の金属片を検知することを特徴とする。
請求項4記載の金属検知方法は、請求項3に記載の金属検知方法において、前記検出コイルは複数個の検出を並置してなることを特徴とする。
本願発明の電磁誘導センサの検出コイルには、被検査物に金属片が混入しているときにのみ、検出信号が発生し(即ち金属片検知信号が発生し)、金属片が混入していないときは、検出信号を発生しないから、例え金属片検知信号の振幅が小さいときにも金属片を確実に検知できる。したがって従来の金属片検地センサよりも高精度、高感度で金属片を検知できる。また本願発明の電磁誘導センサを用いた金属検知装置は、金属片検知信号の抽出が容易になるから、金属片検知信号の抽出回路を簡単に構成できる。
本願発明の電磁誘導センサの金属片検知信号は、金属片の寸法によって振幅の大きさが異なるから、金属片の種類(材質)が同じ場合には、金属片検知信号の振幅の大小によって金属片の大きさを推定することができる。また金属片検出信号の位相は、金属片の寸法に関係なく、金属片の種類(材質)によって決まるから、金属片検出信号の位相によって金属片の種類(材質)を推定することができる。
本願発明の電磁誘導センサは、電磁誘導センサと金属片の距離(間隔)が変化して金属片検出信号の振幅が変動しても、その振幅の変動は、金属片有無の判別に関係しないから、その金属片検出信号の振幅の変動によって金属片有無の判別を誤ることがない。
本願発明の電磁誘導センサは、電磁誘導センサと金属片の距離(間隔)が変化して金属片検出信号の振幅が変動しても、その振幅の変動は、金属片有無の判別に関係しないから、その金属片検出信号の振幅の変動によって金属片有無の判別を誤ることがない。
図1〜図6により本願発明の実施例を説明する。なお各図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
図1は、被検査物の上に配置した電磁誘導センサを示す。図1(a)は、平面図、図1(b)は、図1(a)のY2方向の側面図、図1(c)は、図1(a)のY1部分の矢印方向の断面図である。
図1において、21は、電磁誘導センサの励磁コイル、22は、電磁誘導センサの検出コイル、31は、被検査物である。
励磁コイル21は、矩形状(四角形状)のコイルであり、検出コイル22は、パンケーキ状(ドーナツ状)のコイルである。電磁誘導センサは、励磁コイル21と検出コイル22からなり、励磁コイル21と検出コイル22は、夫々のコイルのコイル面が直交する(交差する)ように配置し、励磁コイル21は、そのコイル面が被検査物31と直交するように設置してある。したがって検出コイル22のコイル面は、被検査物と平行になる。
ここでコイル面は、コイルの中心軸と直交する面(巻線に囲まれた開口面)である。以下本願において同様である。
図1は、被検査物の上に配置した電磁誘導センサを示す。図1(a)は、平面図、図1(b)は、図1(a)のY2方向の側面図、図1(c)は、図1(a)のY1部分の矢印方向の断面図である。
図1において、21は、電磁誘導センサの励磁コイル、22は、電磁誘導センサの検出コイル、31は、被検査物である。
励磁コイル21は、矩形状(四角形状)のコイルであり、検出コイル22は、パンケーキ状(ドーナツ状)のコイルである。電磁誘導センサは、励磁コイル21と検出コイル22からなり、励磁コイル21と検出コイル22は、夫々のコイルのコイル面が直交する(交差する)ように配置し、励磁コイル21は、そのコイル面が被検査物31と直交するように設置してある。したがって検出コイル22のコイル面は、被検査物と平行になる。
ここでコイル面は、コイルの中心軸と直交する面(巻線に囲まれた開口面)である。以下本願において同様である。
図2は、励磁コイル21が発生する磁束の方向、及び被検査物中の金属片と検出コイルの位置関係を説明する図である。
励磁コイル21に電流を流すと、図2(a)のように、励磁コイル21は、その巻線方向と直交する方向(コイル面と直交する方向)に一様磁界を発生し、平行で方向が同じ磁束Mfを発生する。検出コイル22は、図2(b)のように、一様磁界に置かれているから、磁束Mfにより起電力が誘導される。その際検出コイル22は、そのコイルの磁束Mfと平行な中心線Y3の両側の部分22l、22rは、左右対称であるから、図2(b)のように被検査物31に金属片32が混入していないときには、検出コイル22の左側の部分22lに誘導する起電力と右側の部分22rに誘導する起電力は、大きさが同じで方向が逆になる。したがって左側の部分22lに誘導する起電力と右側の部分22rに誘導する起電力は、打消し合い、検出コイル22には、検出信号は発生しない。即ち一様な磁界中に金属片が存在しないときは、検出コイル22には、検出信号は発生しない。
励磁コイル21に電流を流すと、図2(a)のように、励磁コイル21は、その巻線方向と直交する方向(コイル面と直交する方向)に一様磁界を発生し、平行で方向が同じ磁束Mfを発生する。検出コイル22は、図2(b)のように、一様磁界に置かれているから、磁束Mfにより起電力が誘導される。その際検出コイル22は、そのコイルの磁束Mfと平行な中心線Y3の両側の部分22l、22rは、左右対称であるから、図2(b)のように被検査物31に金属片32が混入していないときには、検出コイル22の左側の部分22lに誘導する起電力と右側の部分22rに誘導する起電力は、大きさが同じで方向が逆になる。したがって左側の部分22lに誘導する起電力と右側の部分22rに誘導する起電力は、打消し合い、検出コイル22には、検出信号は発生しない。即ち一様な磁界中に金属片が存在しないときは、検出コイル22には、検出信号は発生しない。
他方被検査物31に金属片が混入しているとき、例えば、図2(c)のように、被検査物31に金属片32が混入しているときには、金属片32には、磁束Mfによって渦電流iが発生する。そのため、金属片32近傍の空間磁界は、渦電流iが発生する磁界の影響を受けて、一様磁界に乱れを生じる。なお渦電流iは、金属片32の前端部分32aと後端部分32bとで逆方向に流れる。
図2(c)の場合、検出コイル22は、金属片32から離れた位置にあるため、金属片32の近傍の空間磁界が乱れてもその影響は受けない。即ち検出コイル22には、検出信号は発生しない。次に電磁誘導センサを、被検査物31に対して矢印Y4方向へ移動して、図2(d)のように、検出コイル22が金属片32の前端部分32aまで進むと、検出コイル22は、渦電流iの発生する磁界の影響を受けるから、起電力が誘導される。即ち検出コイル22には、金属片検知信号が発生する。検出コイル22がさらに進み、図2(e)のように、金属片32の真上まで進むと、検出コイル22は、金属片32の前端部分32aと後端部分32bの渦電流iが発生する磁界の影響を受ける。その際、前端部分32aと後端部分32bの渦電流iの方向は逆であるから、検出コイル22には、検出信号は発生しない。検出コイル22が図2(f)の位置まで進むと、検出コイル22は、金属片32の後端部分32bの渦電流iが発生する磁界の影響を受けるから、検出コイル22には、起電力が誘導される。即ち検出コイル22には、金属片検知信号が発生する。その場合、金属片検知信号は、図2(d)の金属片検知信号と極性が逆になる。
以上のように図1の電磁誘導センサの検出コイル22には、被検査物31に金属片32が混入しているときのみ、金属片検知信号が発生し、金属片32が混入していないときには検出信号が発生しない。即ち検出コイル22の検出信号=金属片検知信号となる。したがって図1の電磁誘導センサは、従来の電磁センサのように、金属片32が混入していないときの検出信号と金属片32が混入しているときの検出信号との振幅差を抽出して金属片検知信号を抽出する必要がない。また図1の電磁誘導センサは、被検査物31に金属片32が混入しているときのみ金属片検知信号を発生するから、検出コイル22と金属片32の距離(間隔)が変化して金属片検知信号の振幅が変動しても、その振幅の変動は、金属片有無の検出に関係しないから、金属片有無の判別を誤ることがない。
図2は、電磁誘導センサを矢印Y4方向へ移動する例について説明したが、電磁誘導センサを移動する代わりに被検査物31を移動させてもよい。
図2は、電磁誘導センサを矢印Y4方向へ移動する例について説明したが、電磁誘導センサを移動する代わりに被検査物31を移動させてもよい。
ここで、図1の電磁誘導センサの試験結果について説明する。
電磁誘導センサの試験は、金属片上に図1の電磁誘導センサを設置し、励磁コイル21へ高周波信号を印加し、電磁誘導センサを移動して、検出コイル22に誘導された電圧を測定した。なお金属片がないときは、検出コイル22に電圧は誘導されなかった。
図5は、検出コイル22に誘導した電圧を示す。図5において、横軸は、検出コイルに誘導した電圧の同相成分(励磁電流と同相の成分)を示し、縦軸は、90度進相成分(励磁電流と90度進相成分)を示す。なお図5は、正規化した電圧を示す。
電磁誘導センサの試験は、金属片上に図1の電磁誘導センサを設置し、励磁コイル21へ高周波信号を印加し、電磁誘導センサを移動して、検出コイル22に誘導された電圧を測定した。なお金属片がないときは、検出コイル22に電圧は誘導されなかった。
図5は、検出コイル22に誘導した電圧を示す。図5において、横軸は、検出コイルに誘導した電圧の同相成分(励磁電流と同相の成分)を示し、縦軸は、90度進相成分(励磁電流と90度進相成分)を示す。なお図5は、正規化した電圧を示す。
金属片は、図6のボルト(図6(a))、クリップ(図6(b))、ホッチキス針(図6(c))を用いた。クリップとホッチキス針は、略同じ種類(材料)であるが、ボルトは、それらと種類(材料)が異なる。
励磁コイル21の寸法は、長さ(被検査物に対向する部分のコイルの中心軸と直交する方向の寸法)160mm、高さ30mm、幅(被検査物に対向する部分のコイルの中心軸と平行する方向の寸法)150mmであり、検出コイル22の寸法は、外径70mm、巻幅10mm、巻厚1mmである。
ボルト等の寸法は、ボルトが長さ50mm、頭部径16mm、ネジ部径10mm、クリップ(イ)が長さ50mm、幅10mm、クリップ(ロ)が長さ28mm、幅8mm、クリップ(ハ)が長さ21mm、幅5mm、ホッチキス針が長さ9mm、幅1mmである。
励磁コイル21の寸法は、長さ(被検査物に対向する部分のコイルの中心軸と直交する方向の寸法)160mm、高さ30mm、幅(被検査物に対向する部分のコイルの中心軸と平行する方向の寸法)150mmであり、検出コイル22の寸法は、外径70mm、巻幅10mm、巻厚1mmである。
ボルト等の寸法は、ボルトが長さ50mm、頭部径16mm、ネジ部径10mm、クリップ(イ)が長さ50mm、幅10mm、クリップ(ロ)が長さ28mm、幅8mm、クリップ(ハ)が長さ21mm、幅5mm、ホッチキス針が長さ9mm、幅1mmである。
図5(a)は、ボルトの金属片検知信号とクリップ(イ)の金属片検知信号を示す。ボルトの金属片検知信号とクリップ(イ)の金属片検知信号は、振幅が相違するとともに、位相も相違している。
図5(b)は、クリップ(イ)〜(ハ)の金属片検知信号を示す。クリップ(イ)〜(ハ)の金属片検知信号は、クリップの寸法が小さくなるほど、振幅は小さくなるが、位相は同じである。即ち金属片の寸法が変わると、金属片検知信号の振幅は変わるが、位相は変わらない。
図5(b)は、クリップ(イ)〜(ハ)の金属片検知信号を示す。クリップ(イ)〜(ハ)の金属片検知信号は、クリップの寸法が小さくなるほど、振幅は小さくなるが、位相は同じである。即ち金属片の寸法が変わると、金属片検知信号の振幅は変わるが、位相は変わらない。
図5(c)は、ホッチキス針の金属片検知信号を示す。ホッチキス針の場合には、金属片検知信号の振幅は小さくなるが、ボルトやクリップと同様に高感度で検出できる。なお位相は、クリップと同じになる。
図5の試験結果によると、検出コイルは、金属片があるときのみ金属片検知信号を発生するから、振幅が小さいときも金属片を確実に検知することができる。また金属片検知信号の振幅は、金属片の寸法によって変わるが、位相は、変わらない(同じである)ことが分かる。そして金属片検知信号の位相は、金属片の種類(材質)によって変わることが分かる。このことから、金属片の種類(材質)が同じ場合には、金属片検知信号の振幅の大小により金属片の大きさを推定することができ、金属片検知信号の位相によって金属片の種類(材質)を推定することができる。
図5の試験結果によると、検出コイルは、金属片があるときのみ金属片検知信号を発生するから、振幅が小さいときも金属片を確実に検知することができる。また金属片検知信号の振幅は、金属片の寸法によって変わるが、位相は、変わらない(同じである)ことが分かる。そして金属片検知信号の位相は、金属片の種類(材質)によって変わることが分かる。このことから、金属片の種類(材質)が同じ場合には、金属片検知信号の振幅の大小により金属片の大きさを推定することができ、金属片検知信号の位相によって金属片の種類(材質)を推定することができる。
次に図3により検出コイルの巻線方向と検出コイルの形状について説明する。
図3(a)の励磁コイル21の巻線は、図1の励磁コイル21と同じように、電磁誘導センサの移動方向Y4と直交する方向に巻いてある。また図3(b)の励磁コイル21の巻線は、電磁誘導センサの移動方向Y4と平行する方向に巻いてある。金属片検知信号は、被検査物に混入する金属片の形状や方向によって相違することがあるから、図3(a)の電磁誘導センサと図3(b)の電磁誘導センサを組み合わせて(並置して)使用すると、より安定した金属片検知信号を得ることができる。
検出コイル22は、パンケーキ状の外、図3(c)のように矩形(四角形)状であってもよい。
図3(a)の励磁コイル21の巻線は、図1の励磁コイル21と同じように、電磁誘導センサの移動方向Y4と直交する方向に巻いてある。また図3(b)の励磁コイル21の巻線は、電磁誘導センサの移動方向Y4と平行する方向に巻いてある。金属片検知信号は、被検査物に混入する金属片の形状や方向によって相違することがあるから、図3(a)の電磁誘導センサと図3(b)の電磁誘導センサを組み合わせて(並置して)使用すると、より安定した金属片検知信号を得ることができる。
検出コイル22は、パンケーキ状の外、図3(c)のように矩形(四角形)状であってもよい。
図4は、被検査物の広い範囲を一度に検査できる電磁誘導センサの例を示す。
図4(a)の電磁誘導センサは、検出コイル22の巻線方向に複数個のパンケーキ状の検出コイル22を並置してある。図4(a)の電磁誘導センサは、被検査物31の全幅の広い範囲を一度に検査でき、また金属片検知信号が検出された検出コイル22によって金属片が混入している位置を判別することができる。図4(b)の電磁誘導センサは、図4(a)の複数個の検出コイル22に代えて、1個の長い矩形状の検出コイル22を用いた例である。図4(b)の電磁誘導センサは、1個の検出コイルで被検査物の広い範囲を検査できるが、金属片の位置の判別はできない。
図4(c)の電磁誘導センサは、図4(a)の電磁誘導センサと励磁コイルの巻線の方向が異なる外は図4(a)の電磁誘導センサと同じである。
図4(a)の電磁誘導センサは、検出コイル22の巻線方向に複数個のパンケーキ状の検出コイル22を並置してある。図4(a)の電磁誘導センサは、被検査物31の全幅の広い範囲を一度に検査でき、また金属片検知信号が検出された検出コイル22によって金属片が混入している位置を判別することができる。図4(b)の電磁誘導センサは、図4(a)の複数個の検出コイル22に代えて、1個の長い矩形状の検出コイル22を用いた例である。図4(b)の電磁誘導センサは、1個の検出コイルで被検査物の広い範囲を検査できるが、金属片の位置の判別はできない。
図4(c)の電磁誘導センサは、図4(a)の電磁誘導センサと励磁コイルの巻線の方向が異なる外は図4(a)の電磁誘導センサと同じである。
21 電磁誘導センサの励磁コイル
22 電磁誘導センサの検出コイル
22l 検出コイル22の左側の部分
22r 検出コイル22の右側の部分
31 被検査物
32 被検査物に混入している金属片
32a 金属片32の前端部分
32b 金属片32の後端部分
Mf 励磁コイル21が発生する磁束
i 渦電流
22 電磁誘導センサの検出コイル
22l 検出コイル22の左側の部分
22r 検出コイル22の右側の部分
31 被検査物
32 被検査物に混入している金属片
32a 金属片32の前端部分
32b 金属片32の後端部分
Mf 励磁コイル21が発生する磁束
i 渦電流
Claims (4)
- 励磁コイルと検出コイルを両コイルのコイル面が交差するように配置し、検出コイルのコイル面を被検査物に並行に配置してあることを特徴とする金属検知装置の電磁誘導センサ。
- 請求項1に記載の金属検知装置の電磁誘導センサにおいて、前記検出コイルは複数個の検出コイルを並置してなることを特徴とする金属検知装置の電磁誘導センサ。
- 励磁コイルと検出コイルを両コイルのコイル面が交差するように配置した電磁誘導センサの検出コイルのコイル面が被検査物と並行するように、電磁誘導センサ又は被検査物を移動して被検査物の金属片を検知することを特徴とする金属検知方法。
- 請求項3に記載の金属検知方法において、前記検出コイルは複数個の検出を並置してなることを特徴とする金属検知方法。
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