JP2008003008A - Optical pulse tester - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光通信用の光が伝送される被測定光ファイバにパルス光を出射し、出射したパルス光の戻り光に基づいて、信号処理部が被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器に関し、詳しくは、光通信用の光とパルス光とを重畳して受光しても被測定光ファイバの測定を行なうことができる光パルス試験器に関するものである。 The present invention provides an optical pulse test in which pulse light is emitted to an optical fiber to be measured through which light for optical communication is transmitted, and a signal processing unit measures the optical fiber to be measured based on the return light of the emitted pulsed light More particularly, the present invention relates to an optical pulse tester capable of measuring an optical fiber to be measured even if light for optical communication and pulsed light are superimposed and received.
光信号によってデータ通信等を行なう光通信システムでは、光信号を伝送する光ファイバを監視することが重要になっている。そして、光ファイバの敷設、保守等において光パルス試験器(以下、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)と略す)が用いられる。OTDRは、測定コネクタから被測定光ファイバに対して繰り返しパルス光を入力し、被測定光ファイバからの反射光および後方散乱光のレベルおよび受光時間を測定することで、被測定光ファイバの断線、損失等の状態を測定する。 In an optical communication system that performs data communication using an optical signal, it is important to monitor an optical fiber that transmits the optical signal. An optical pulse tester (hereinafter abbreviated as OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)) is used for laying and maintaining optical fibers. The OTDR repeatedly inputs pulsed light from the measurement connector to the optical fiber to be measured, and measures the level of the reflected light and backscattered light from the optical fiber to be measured and the light reception time, thereby disconnecting the optical fiber to be measured. Measure loss and other conditions.
図3は、従来のOTDRの構成を示した図である(例えば、特許文献1参照)。図3において、被測定光ファイバF1は、被測定対象の光ファイバである。OTDR100は、被測定光ファイバF1に接続される入出射端の測定コネクタCNを有し、この測定コネクタCNからパルス光を被測定光ファイバF1に出射し、このパルス光の戻り光(反射光または後方散乱光)が測定コネクタCNを介して入射される。 FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a conventional OTDR (see, for example, Patent Document 1). In FIG. 3, a measured optical fiber F1 is an optical fiber to be measured. The OTDR 100 has an input / output end measurement connector CN connected to the optical fiber F1 to be measured. The OTDR 100 emits pulsed light from the measurement connector CN to the optical fiber F1 to be measured, and the return light (reflected light or Backscattered light) is incident via the measurement connector CN.
また、OTDR100は、発光部10、光カプラ20、バンドパスフィルタ(以下、BPF(Band Pass Filter)と略す)30、受光部40、信号処理部50、表示部60を有する。発光部10は、パルス光を出力する。光カプラ20は、発光部10からのパルス光をバンドパスフィルタ30に出力し、被測定光ファイバF1からの戻り光を受光部40に出力する。BPF30は、光カプラ20と測定コネクタCNの間に設けられ、所定の波長帯(発光部10が出力するパルス光の波長を含む)の光のみを透過する。受光部40は、光カプラ20からの光を受光する。信号処理部50は、発光部10のパルス光の出力のタイミングを制御し、受光部40から電気信号が入力される。表示部60は、信号処理部50の処理結果を表示する。
The OTDR 100 includes a
このような装置の動作を説明する。
発光部10が、信号処理部50からの指示に従って所定のタイミングでパルス光を出力する。そして、発光部10から出力されたパルス光が、光カプラ20、BPF30、測定コネクタCNを経て、被測定光ファイバF1に入射する。被測定光ファイバF1内部では、レイリー散乱が発生し、その一部はパルス光の進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてOTDR100に戻ってくる。また、被測定光ファイバF1の接続点で発生するフレネル反射光もOTDR100に戻ってくる。
The operation of such an apparatus will be described.
The
そして、被測定光ファイバF1からの戻り光が、測定コネクタCN、BPF30、光カプラ20を経て受光部40に入射する。さらに、受光部40が、入射光を、この入射光の光パワーに応じた電気信号に変換し、信号処理部50に出力する。
Then, the return light from the measured optical fiber F1 enters the
そして、信号処理部50が、パルス光を出射させてから受光部40に入射するまでの時間から被測定光ファイバF1の距離測定、戻り光の光信号レベル測定を行ない、測定結果を横軸を距離、縦軸を戻り光の光信号レベルとして表示部60に表示する。
Then, the
また、戻り光の信号レベルは非常に微弱なため、パルス光を繰り返し被測定光ファイバF1に出力し、複数回の測定値を平均化することでノイズ低減を図っている。 Further, since the signal level of the return light is very weak, the pulse light is repeatedly output to the optical fiber F1 to be measured, and the noise is reduced by averaging a plurality of measurement values.
次に、図4は、受光部40の構成を示した図である。図4において、受光部40は、アバランシェフォトダイオード(以下APD(Avalanche Photo Diode)と略す)41、バイアス回路42、DA変換回路43、抵抗44、IV変換回路45、増幅回路46、AD変換回路47を有する。
Next, FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of the
APD41は、光カプラ20からの光を受光する。バイアス回路42は、APD41にバイアス電圧を印加する。DA変換回路43および抵抗44は、オフセット回路であり、APD41の出力に所定のオフセット電圧を印加する。IV変換回路45は、APD41の光電流とオフセット回路の電圧とが入力される。増幅回路46は、複数のアンプで構成され、IV変換回路45からの電圧を増幅する。AD変換回路47は、増幅回路46からのアナログ信号(電圧の電気信号)をデジタル信号に変換して信号処理部50に出力する。なお、バイアス回路42の出力する印加電圧の大きさは可変であり、APD41の増倍度Mも印加電圧によって変化する。増倍度Mは、例えば、M=1〜20(M=1が最小の増倍度)の範囲で、所定のステップ幅でレンジ変更が可能である。IV変換回路45、増幅回路46のそれぞれも利得が可変であり、複数のレンジ設定ができる。
The APD 41 receives light from the
続いて、受光部40が戻り光を変換したデジタルデータを信号処理部50に出力する動作を説明する。
信号処理部50が、測定を行なう縦軸(光信号レベル)方向のレンジ、横軸方向の距離レンジ等に基づいてパルス光を、所定のパルス強度、パルス幅にしてパルス光を出力させる。また、信号処理部50が、レンジごとにあらかじめ定められた利得となるようにIV変換回路45、増幅回路46を設定し、バイアス回路42に対してもレンジごとにあらかじめ定められたバイアス電圧を出力させる。つまり、レンジによって回路45、46の利得は固定であり、バイアス回路42のバイアス電圧も固定である。
Next, an operation in which the
The
そして、APD41が、受光した戻り光を光電流に変換するが、バイアス回路42からのバイアス電圧で決まる増倍度Mで光電流に変換し、IV変換回路45に出力する。そして、IV変換回路45が、APD41の光電流を電圧に変換すると共に、変換した電圧にオフセット回路からの電圧を加算し、増幅回路46に出力する。さらに、増幅回路46が、所定の利得で電圧を増幅してAD変換回路47に出力する。そして、AD変換回路47が、アナログ信号をデジタル信号に変換して信号処理部50に出力する。
The APD 41 converts the received return light into a photocurrent. However, the
図4に示す受光部41内で生ずるオフセット分をキャンセルする動作を説明する。ここで、図5は、オフセット分を除去する動作を示したフローチャートである。なお、オフセット分とは、APD41の暗電流によるものである。また、オフセット分による測定誤差は、IV変換回路45、増幅回路46のノイズによるものもあるが、通常は、APD41の暗電流による影響が主である。
An operation for canceling the offset generated in the
信号処理部50が、発光部10のパルス光の発光を停止する(S10)。そして、信号処理部50が、受光部40のAD変換回路47からのデジタルデータの値を確認し、規定の範囲内に入っていた場合、APD41の暗電流によるオフセット分は、測定への影響が少ないとして発光部10にパルス光を出力させ、被測定光ファイバF1の測定を開始する(S11、S12)
The
一方、受光部40のデジタルデータの値が規定の範囲内に入っていない場合、信号処理部50が、DA変換回路43の出力電圧を変更してオフセット調整を行なう(S11、S13)。そして、DA変換回路43への設定値がフルスケールに達していれば、表示部60にオフセットエラーを表示する(S14、S15)。フルスケールに達していなければ、再度、信号処理部50が、AD変換回路47のデジタルデータの判定を行なう(S14,S11〜S13)。
On the other hand, if the value of the digital data of the
図3に示すOTDR100による測定では、光通信システムで用いられる光通信用の光を止め、被測定光ファイバF1内には、OTDR100からの発光部10のパルス光以外の外光(例えば、光通信システムで使用される光通信用の光等)が存在しない状態で測定を行なっていた。なお、被測定光ファイバF1内における発光部10からのパルス光以外の外光は、通信光と呼ぶ。
In the measurement by the OTDR 100 shown in FIG. 3, the light for optical communication used in the optical communication system is stopped, and external light other than the pulse light of the
一方、近年、作業効率の改善にあたり、通信光が存在する状態での測定が必要になっている。そこで、通信光が存在する状態での測定方法として、発光部10のパルス光の波長を、光通信用の光の波長とずらし、さらに、光通信用の光がOTDR100の内部に入射しないようにBPF30を設けている。なお、光通信用の光の波長は、代表的なものとして1.31[μm]帯、1.55[μm]帯であり、OTDR100の測定用のパルス光の波長としては、例えば、1.65[μm]である。
On the other hand, in recent years, in order to improve work efficiency, measurement in the presence of communication light is required. Therefore, as a measurement method in the presence of communication light, the wavelength of the pulsed light of the
しかしながら、光通信用の光とOTDR100のパルス光との波長をずらした場合、光通信システムに光通信用の光の波長のみを通過させる波長フィルタ等が設けられていた場合、パルス光が波長フィルタによって除去され、被測定光ファイバF1の測定ができないという問題があった。また、BPF30がOTDR100を含む測定系のコストを上げる要因にもなるという問題があった。
However, when the wavelength of the optical communication light and the pulse light of the OTDR 100 are shifted, if the optical communication system is provided with a wavelength filter or the like that allows only the wavelength of the optical communication light to pass, There is a problem that the optical fiber F1 to be measured cannot be measured. In addition, there is a problem that the
また、光通信システムの光通信用の光と同じ波長のパルス光を用いて測定を行なった場合、OTDR100で測定した測定波形が、光通信用の光によって乱れてしまうという問題があった。つまり、光通信用の光は変調が行なわれて光パワーも変動しているが、受光部40のAPD41の応答速度に比較して、変調速度が著しく速い。従って、光通信用の光は、受光部40ではCW光として受光され、戻り光にオフセット分が加算された状態となる。さらに、APD41の暗電流によるオフセット分よりも、光通信用の光によるオフセット分の方が、1桁以上も大きく、オフセット調整が難しいという問題あった。そして、OTDR100のユーザには、工事作業者等も多く、光通信用の光の影響による測定波形の乱れを判断するスキルがあるとは限らず、被測定光ファイバF1の測定・監視等を正確に行なうことが難しいという問題があった。
In addition, when measurement is performed using pulsed light having the same wavelength as the light for optical communication in the optical communication system, there is a problem that the measurement waveform measured by the OTDR 100 is disturbed by the light for optical communication. That is, although the light for optical communication is modulated and the optical power fluctuates, the modulation speed is significantly higher than the response speed of the
そこで本発明の目的は、光通信用の光とパルス光とを重畳して受光しても被測定光ファイバの測定を行なうことができ、特に、光通信用の光と同じ波長のパルス光にて被測定光ファイバの測定を行なう場合であっても、被測定光ファイバの測定を行なうことができる光パルス試験器を実現することにある。 Therefore, an object of the present invention is to measure an optical fiber to be measured even if light for optical communication and pulsed light are superimposed and received, and particularly for pulsed light having the same wavelength as light for optical communication. Thus, an object of the present invention is to realize an optical pulse tester capable of measuring an optical fiber to be measured even when measuring the optical fiber to be measured.
請求項1記載の発明は、
光通信用の光が伝送される被測定光ファイバにパルス光を出射し、出射したパルス光の戻り光に基づいて信号処理部が前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
前記光通信用の光および戻り光を受光する受光部と、
この受光部が受光した前記光通信用の光の影響分をキャンセルするオフセット調整部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記光通信用の光と前記パルス光の波長が同じであることを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、
前記被測定光ファイバからの光のうち、前記被測定光ファイバ内を伝送される光通信用の光および前記戻り光を前記受光部に出力するバンドパスフィルタを設けたことを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、
受光部は、
前記戻り光を受光するアバランシェフォトダイオードと、
このアバランシェフォトダイオードにバイアス電圧を印加して増倍度を調整するバイアス回路と、
出力する電圧が可変なDA変換回路と、
利得が可変であり、前記アバランシェフォトダイオードの出力をIV変換するとともに、前記DA変換回路の電圧を前記アバランシェフォトダイオードの出力に加算するIV変換回路と、
利得が可変であり、前記IV変換回路からの電圧を増幅する増幅回路と、
この増幅回路の出力をAD変換し、前記信号処理部と前記オフセット調整部とに出力するAD変換回路と
を有することを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項4記載の発明において、
オフセット調整部は、
前記バイアス回路のバイアス電圧を制御するバイアス制御手段と、
前記DA変換回路の出力電圧を制御するDA制御手段と、
前記IV変換回路の利得を制御するIV制御手段と、
前記AD変換回路からのデジタルデータを参照し、前記バイアス制御手段、前記DA制御手段、前記IV制御手段に影響分をキャンセルさせる判定手段と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、請求項5記載の発明において、
判定手段は、前記バイアス制御手段による増倍度、前記DA制御手段による出力電圧、前記IV制御手段による利得によって、光通信用の光の有無を判断することを特徴とするものである。
The invention described in
In an optical pulse tester that emits pulsed light to a measured optical fiber to which light for optical communication is transmitted, and the signal processing unit measures the measured optical fiber based on the return light of the emitted pulsed light,
A light receiving unit for receiving the light for optical communication and the return light;
An offset adjustment unit for canceling the influence of the light for optical communication received by the light receiving unit is provided.
The invention according to
The optical communication light and the pulsed light have the same wavelength.
The invention according to
Among the light from the optical fiber to be measured, there is provided a band-pass filter for outputting the light for optical communication transmitted through the optical fiber to be measured and the return light to the light receiving unit. is there.
The invention according to
The light receiver
An avalanche photodiode for receiving the return light;
A bias circuit for adjusting a multiplication factor by applying a bias voltage to the avalanche photodiode;
A DA converter that can output a variable voltage;
An IV conversion circuit having a variable gain, performing IV conversion on the output of the avalanche photodiode, and adding the voltage of the DA conversion circuit to the output of the avalanche photodiode;
An amplifying circuit having a variable gain and amplifying a voltage from the IV conversion circuit;
An AD conversion circuit that AD-converts the output of the amplifier circuit and outputs the converted signal to the signal processing unit and the offset adjustment unit is provided.
The invention according to
The offset adjuster
Bias control means for controlling the bias voltage of the bias circuit;
DA control means for controlling the output voltage of the DA converter circuit;
IV control means for controlling the gain of the IV conversion circuit;
The bias control means, the DA control means, and the IV control means determine reference means for canceling the influence by referring to the digital data from the AD conversion circuit.
The invention according to
The determining means is characterized by determining the presence or absence of light for optical communication based on a multiplication factor by the bias control means, an output voltage by the DA control means, and a gain by the IV control means.
本発明によれば、オフセット調整部が、被測定光ファイバ内の光通信用の光の影響分をキャンセルさせるので、光通信用の光とパルス光とを重畳して受光しても被測定光ファイバの測定を行なうことを行なうことができる。これにより、作業効率を改善することがる。 According to the present invention, the offset adjustment unit cancels the influence of the light for optical communication in the optical fiber to be measured, so that the light to be measured can be received even if the light for optical communication and the pulse light are superimposed and received. Fiber measurements can be made. Thereby, working efficiency can be improved.
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図3、図4と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図1において、OTDR100に、オフセット調整部70が設けられる。オフセット調整部70は、バイアス制御手段71、DA制御手段72、IV制御手段73、増幅回路制御手段74、判定手段75が設けられ、信号処理部50と相互に接続され、受光部40のAD変換回路47からデジタル信号の電気信号が入力される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In FIG. 1, an offset adjustment unit 70 is provided in the OTDR 100. The offset adjustment unit 70 includes a bias control unit 71, a DA control unit 72, an
また、発光部10は、被測定光ファイバF1内を伝送される光通信用の光と同じ波長の光をパルス光として出力する。なお、現実的には、光通信用の光の波長は、わずかながら変動する。従って、光通信用の光の波長と発光部10のパルス光の波長とが完全に一致することはまれである。また、光通信用の光の波長も、現実的には、通信規格で定めれた波長範囲内に存在していればよいので、光通信用の光と同じ波長とは、その範囲内という意味である。
Further, the
そして、BPF30の代わりにBPF31が設けられる。BPF31は、所定の波長帯の光のみを選択して受光部40に出力する。具体的には、光通信用の光、パルス光(戻り光)を透過する。
A BPF 31 is provided instead of the
バイアス制御手段71は、バイアス回路42の出力するバイアス電圧の大きさを制御し、APD41の増倍度Mを制御する。DA制御手段72は、DA変換回路43の出力する電圧レベルを制御する。IV制御手段73は、IV変換回路45の利得を制御する。増幅回路制御手段74は、増幅回路46の利得を制御する。判定手段75は、AD変換回路47からのデジタルデータが入力される。また、判定手段75は、オフセット調整部70内の各制御手段71〜74を全体的に制御する。
The bias control means 71 controls the magnitude of the bias voltage output from the bias circuit 42 and controls the multiplication factor M of the
このような装置の動作を説明する。
図示しない設定部から、信号処理部50に縦軸および横軸のレンジが設定される。この設定部(図示せず)からのレンジ設定に従って信号処理部50が、オフセット調整部70のバイアス制御手段71に増倍度M、DA制御手段72にDA値、IV制御手段73、増幅回路制御手段74に利得率を出力する。そして、バイアス制御手段71が、指示された増倍度Mとなる印加電圧をバイアス回路42に出力させ、DA制御手段72が、指示されたDA値となる電圧をDA変換回路43に出力させ、IV制御手段73が、指示された利得となるようにIV変換回路43を調整し、増幅回路制御手段74が、指示された利得となるように増幅回路46の各アンプを調整する。
The operation of such an apparatus will be described.
A vertical axis and a horizontal axis range are set in the
そして、信号処理部50が、オフセット調整部70に、AD変換回路47の出力に重畳しているオフセット分(受光部40内で生ずるものや通信光によるもの)のキャンセルを行なわせる。
Then, the
ここで、図2は、AD変換回路47の出力に含まれるオフセット分をキャンセルする動作を説明したフローチャートである。
Here, FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation for canceling the offset included in the output of the
信号処理部50が、発光部10のパルス光の出力を停止させる。これにより、受光部40のAD変換回路47に入力される電気信号は、APD41の暗電流および通信光によるオフセット分になる。また、オフセット分には、APD41の暗電流に比較して小さいが、IV変換回路45や増幅回路46のアンプによるもの含まれる(S20)。
The
そして、信号処理部50が、オフセット分をキャンセルさせるようにオフセット調整部70の判定手段75に指示をする。この指示によって、判定手段75が、増幅回路制御手段74を介して増幅回路46の利得を最小に設定する(S21)。
Then, the
そして、判定手段75が、AD変換回路47からのデジタルデータを参照し、規定範囲内、すなわちパルス光が存在しない状態にて、オフセット分が所定の範囲内かを判定する。そして、規定範囲内の場合、判定手段75が、増幅回路制御手段74を介して増幅回路46の利得を元の値に戻し、オフセット調整が終了した旨を信号処理部50に通知する(S22、S23)。そして、信号処理部50が、図3に示す装置と同様に、被測定光ファイバF1の測定を開始する(S24)。
Then, the
一方、デジタルデータが規定範囲内でない場合、判定手段75が、DA制御手段72を介してDA変換回路43のDA値を可変し、オフセット調整を行なう(S22、S25)。 On the other hand, if the digital data is not within the specified range, the determination means 75 changes the DA value of the DA conversion circuit 43 via the DA control means 72 and performs offset adjustment (S22, S25).
そして、DA変換回路43へのDA値の設定値がフルスケールでない場合、再度、判定手段75が、AD変換回路47からのデジタルデータの値を判定する(S26、S22)。 If the DA value set to the DA conversion circuit 43 is not full scale, the determination means 75 again determines the value of the digital data from the AD conversion circuit 47 (S26, S22).
フルスケールの場合、DA変換回路43の出力電圧によるオフセット調整をこれ以上行なえないので、判定手段75が、バイアス制御手段71によるAPD41の増倍度Mを確認する。そして、増倍度Mが、最小増倍度M=1でない場合、判定手段75が、バイアス制御手段71にAPD41の増倍度Mを1レンジ下げさせる。この指示に従ってバイアス制御手段71が、バイアス回路42の出力する印加電圧を低下させ、APD41の増倍度Mを1レンジ下げる。さらに、判定手段75が、再度、AD変換回路47からのデジタルデータの値を判定する(S27、S28、S22)。
In the case of full scale, the offset adjustment by the output voltage of the DA conversion circuit 43 cannot be performed any more, so the
また、増倍度M=1の場合、APD41の暗電流を減少させることによるオフセット調整をこれ以上行なえないので、判定手段75が、IV制御手段73によるIV変換回路45の利得を確認する。そして、IV変換回路45の利得が最小でない場合、判定手段75が、IV制御手段73にIV変換回路45の利得を1レンジ下げさせる。この指示に従ってIV制御手段73が、IV変換回路45の利得を低下させる。さらに、判定手段75が、再度、AD変換回路47からのデジタルデータの値を判定する(S29、S30、S22)。
Further, when the multiplication factor M = 1, the offset adjustment by reducing the dark current of the
また、IV変換回路45の利得が最小の場合、IV変換45の利得によるオフセット調整をこれ以上行なえないので、判定手段75が、オフセット調整が失敗した旨を信号処理部50に通知する。そして、信号処理部50が、表示部60にオフセットエラーを表示する(S29、S31)。
Further, when the gain of the
なお、オフセット分を調整後(S22,S23)に被測定光ファイバF1を測定する動作(信号処理部50が、発光部10にパルス光を被測定光ファイバF1に出力させる。そして、被測定光ファイバF1からの戻り光や通信光を受光部40が受光してデジタルデータを信号処理部50に出力する。さらに、信号処理部50が、パルス光を出射させてから受光部40に入射するまでの時間から被測定光ファイバF1の距離測定、戻り光の光信号レベル測定を行ない、測定結果を横軸を距離、縦軸を戻り光の光信号レベルとして表示部60に表示)は、図3に示す装置と同様なので説明を省略する。
The operation of measuring the measured optical fiber F1 after adjusting the offset (S22, S23) (the
このように、オフセット調整部70が、通信光によるオフセット分をキャンセルするので、光通信用の光とパルス光とが重畳して受光しても、すなわち、通信光に含まれる光通信用の光と同じ波長のパルス光にて被測定光ファイバの測定を行なう場合であっても、被測定光ファイバの測定を行なうことができる。これにより、作業効率を改善することがる。 As described above, the offset adjustment unit 70 cancels the offset due to the communication light. Therefore, even if the light for optical communication and the pulse light are superimposed and received, that is, the light for optical communication included in the communication light. Even when the optical fiber under measurement is measured with pulsed light having the same wavelength as that of the optical fiber under measurement, the optical fiber under measurement can be measured. Thereby, working efficiency can be improved.
すなわち、図3に示す装置では、バイアス回路42の印加電圧、IV変換回路45の利得、増幅回路46の利得は、パルス光のパルス幅や光強度に基づいて固定値であった。そして、APD41の暗電流によるオフセット分をキャンセルするDA変換回路43のみが可変であった。そのため、光通信用の光と同じ波長のパルス光を用いると、通信光のオフセット分をキャンセルすることが困難であり、被測定光ファイバF1の測定を行なうことが難しかった。しかし、判定手段75が、AD変換回路47からのデジタルデータを参照し、バイアス制御手段71、DA制御手段72、IV制御手段73に影響分をキャンセルさせるので、通信光によるオフセット分をキャンセルすることができる。これにより、光通信用の光と同じ波長のパルス光にて被測定光ファイバの測定を行なう場合であっても、被測定光ファイバの測定を行なうことができる。したがって、OTDR100のユーザは、通信光の有無を意識することなく測定を行なうことができ、ユーザのスキルにも影響さない。
That is, in the apparatus shown in FIG. 3, the applied voltage of the bias circuit 42, the gain of the
また、発光部10のLDの波長を、光通信用の光と同じ波長(1.55[μm]帯または1.31[μm]帯)にするので、光通信用の一般的なLDで済み、発光部10のコストを抑えることができる。そして、BPF31も、光通信用の一般的なものとすることができ、コストを抑えることができる。
In addition, since the wavelength of the LD of the
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
図1に示す装置において、ステップS21において、増幅回路46の利得を最小に変更してから、DA変換回路43のDA値、APD41の増倍度M、IV変換回路45の利得を調整する構成を示したが、増幅回路46の利得のレンジ変更はせずに、オフセット分の調整を行なってもよい。すなわち、ステップS21、S23は、省略してもよい。
The present invention is not limited to this, and may be as shown below.
In the apparatus shown in FIG. 1, in step S21, after the gain of the
また、DA変換回路43のDA値のみでオフセット分がキャンセルできず、APD41の増倍度M、IV変換回路45の利得を調整した場合、オフセット分に通信光が含まれると判定手段75が判断し、信号処理部50に通信光が存在することを通知してもよい。そして、信号処理部50が、表示部60に、測定結果を表示させると共に、戻り光には通信光が重畳しているメッセージを表示させてもよい。
Further, when the offset value cannot be canceled only by the DA value of the DA conversion circuit 43 and the multiplication degree M of the
また、BPF31が、被測定光ファイバF1からの光のうち、被測定光ファイバ内を伝送される光通信用の光およびパルス光の戻り光を選択して受光部に出力する構成を示したが、BPF31を設けなくてもよい。これにより、OTDR100を含む測定系のコストを抑えることができ、OTDR100の小型化を図ることができる。 Also, the configuration in which the BPF 31 selects the light for optical communication and the return light of the pulsed light transmitted through the optical fiber to be measured from the light from the optical fiber to be measured F1 is output to the light receiving unit. The BPF 31 may not be provided. Thereby, the cost of the measurement system including the OTDR 100 can be suppressed, and the OTDR 100 can be downsized.
また、パルス光の波長を、光通信用の光と同じ波長にする構成を示したが、BPF31の透過波長内(もちろん、光通信用の光を透過する)であればどのような波長でもよい。また、BPF31を設けない場合は、パルス光の波長は、APD41の受光可能な波長範囲内であればよい。
Moreover, although the structure which makes the wavelength of pulsed light the same wavelength as the light for optical communication was shown, as long as it is in the transmission wavelength of BPF31 (of course, the light for optical communication is permeate | transmitted), what kind of wavelength may be sufficient . Further, when the BPF 31 is not provided, the wavelength of the pulsed light only needs to be within the wavelength range that the
そして、光カプラ20の代わりに、方向性結合器等を用いてもよく、要は、発光部10からのパルス光を被測定光ファイバF1にのみ出力し、被測定光ファイバF1からの戻り光を受光部40にのみ出力するものであればよい。
A directional coupler or the like may be used instead of the
40 受光部
41 アバランシェフォトダイオード
42 バイアス回路
43 DA変換回路
45 IV変換回路
46 増幅回路
47 AD変換回路
50 信号処理部
70 オフセット調整部
71 バイアス制御手段
72 DA制御手段
73 IV制御手段
75 判定手段
100 OTDR
F1 被測定光ファイバ
40
F1 Optical fiber to be measured
Claims (6)
前記光通信用の光および戻り光を受光する受光部と、
この受光部が受光した前記光通信用の光の影響分をキャンセルするオフセット調整部と
を設けたことを特徴とする光パルス試験器。 In an optical pulse tester that emits pulsed light to a measured optical fiber to which light for optical communication is transmitted, and the signal processing unit measures the measured optical fiber based on the return light of the emitted pulsed light,
A light receiving unit for receiving the light for optical communication and the return light;
An optical pulse tester comprising: an offset adjustment unit that cancels an influence of the light for optical communication received by the light receiving unit.
光を受光するアバランシェフォトダイオードと、
このアバランシェフォトダイオードにバイアス電圧を印加して増倍度を調整するバイアス回路と、
出力する電圧が可変なDA変換回路と、
利得が可変であり、前記アバランシェフォトダイオードの出力をIV変換するとともに、前記DA変換回路の電圧を前記アバランシェフォトダイオードの出力に加算するIV変換回路と、
利得が可変であり、前記IV変換回路からの電圧を増幅する増幅回路と、
この増幅回路の出力をAD変換し、前記信号処理部と前記オフセット調整部とに出力するAD変換回路と
を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光パルス試験器。 The light receiver
An avalanche photodiode that receives light;
A bias circuit for adjusting a multiplication factor by applying a bias voltage to the avalanche photodiode;
A DA converter that can output a variable voltage;
An IV conversion circuit having a variable gain, performing IV conversion on the output of the avalanche photodiode, and adding the voltage of the DA conversion circuit to the output of the avalanche photodiode;
An amplifying circuit having a variable gain and amplifying a voltage from the IV conversion circuit;
The optical pulse tester according to any one of claims 1 to 3, further comprising: an AD conversion circuit that AD-converts an output of the amplifier circuit and outputs the converted signal to the signal processing unit and the offset adjustment unit.
前記バイアス回路のバイアス電圧を制御するバイアス制御手段と、
前記DA変換回路の出力電圧を制御するDA制御手段と、
前記IV変換回路の利得を制御するIV制御手段と、
前記AD変換回路からのデジタルデータを参照し、前記バイアス制御手段、前記DA制御手段、前記IV制御手段に影響分をキャンセルさせる判定手段と
を設けたことを特徴とする請求項4記載の光パルス試験器。 The offset adjuster
Bias control means for controlling the bias voltage of the bias circuit;
DA control means for controlling the output voltage of the DA converter circuit;
IV control means for controlling the gain of the IV conversion circuit;
5. The optical pulse according to claim 4, further comprising: a determination unit that refers to digital data from the AD conversion circuit and causes the bias control unit, the DA control unit, and the IV control unit to cancel the influence. Tester.
6. The light according to claim 5, wherein the determination means determines the presence or absence of light for optical communication based on a multiplication factor by the bias control means, an output voltage by the DA control means, and a gain by the IV control means. Pulse tester.
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