JP2007270099A - 半導体発光素子封止用組成物 - Google Patents
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Abstract
高屈折率で透明性、分散性、耐光性、耐候性等に優れた被覆型無機酸化物超微粒子、該超微粒子が水あるいは有機溶媒に分散してなるゾル液、及び該超微粒子が高濃度に分散した半導体発光素子封止用組成物及びそれを含んでなる光学部材を提供する。
【解決手段】
屈折率が1.5〜2.8である、ルチル型酸化チタン超微粒子を核とし、特定の手法でケイ素酸化物からなる被覆層を設けた被覆型酸化物超微粒子を含有してなる半導体発光素子封止用組成物、およびそれを含んでなる光学部材、である。
【選択図】 なし
Description
しかしながら、上記目的で添加した無機酸化物微粒子(シリカ粒子等)は、樹脂(エポキシ樹脂等)との親和性が低く、樹脂中で容易に大きな凝集体となりやすく、この凝集体と樹脂との界面で光が乱反射し、光透過性が著しく低下するという問題があった。
[1] 屈折率が1.5〜2.8であるルチル型結晶構造の酸化チタンを含有する無機酸化物超微粒子および/または当該超微粒子を核(A)とし、一種以上の無機酸化物を含む被覆層(B)を有する被覆型無機酸化物超微粒子と樹脂とを含有してなる半導体発光素子封止用組成物。
[2] 前記超微粒子または前記核(A)のルチル型結晶構造の酸化チタンを含有する無機酸化物超微粒子中のルチル型酸化チタン超微粒子が、
チタンに対するスズのモル比(Sn/Ti)が0.001〜2のスズ化合物共存下、Ti濃度が0.07〜5mol/lのチタン化合物水溶液をpHが−1〜3の範囲で反応させて得られ、Sn/Ti組成モル比が0.001〜0.5であるスズ修飾ルチル型酸化チタン超微粒子であることを特徴とする[1]記載の半導体発光素子封止用組成物。
[3] 前記被覆層(B)がケイ素酸化物を含む被覆層であり、該被覆層が二層被覆型であって、内層が(1)の工程、外層が(2)の工程によって得られる被覆層を有し、核微粒子に対するケイ素酸化物被覆層の重量比がSiO2換算で0.001〜20であることを特徴とする被覆型無機酸化物超微粒子である[1]または[2]記載の半導体発光素子封止用組成物。
(1)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH<7の条件下で、核(A)と反応させる工程
(2)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH≧7の条件下で、(1)で得られた被覆超微粒子と反応させる工程
[4] 前記の被覆型無機酸化物超微粒子の結晶径の短軸、長軸が2〜20nmである[1]〜[3]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[5] 前記の被覆型無機酸化物超微粒子からなる凝集体の平均凝集粒子径が、10〜100nmである[1]〜[4]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[6] 前記の被覆型無機酸化物超微粒子が、水あるいは有機溶媒に分散してなるゾルを用いることを特徴とする[1]〜[5]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[7] 前記の被覆型無機酸化物超微粒子の表面が有機ケイ素化合物および/またはアミン類で処理されていることを特徴とする[1]〜[6]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[8] 屈折率が1.5〜2.8である[1]〜[7]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[9] 前記樹脂がエポキシ樹脂および/またはシリコーン樹脂である[1]〜[8]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
[10] [1]〜[9]の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物を含んでなる光学部材。
に関するものである。
前記超微粒子または前記核(A)のルチル型結晶構造の酸化チタンを含有する無機酸化物超微粒子中のルチル型酸化チタン超微粒子が、
チタンに対するスズのモル比(Sn/Ti)が0.001〜2のスズ化合物共存下、Ti濃度が0.07〜5mol/lのチタン化合物水溶液をpHが−1〜3の範囲で反応させて得られ、Sn/Ti組成モル比が0.001〜0.5であるスズ修飾ルチル型酸化チタン超微粒子であることを特徴とする、前記の半導体発光素子封止用組成物、である。
前記被覆層(B)がケイ素酸化物を含む被覆層であり、該被覆層が二層被覆型であって、内層が(1)の工程、外層が(2)の工程によって得られる被覆層を有し、核微粒子に対するケイ素酸化物被覆層の重量比がSiO2換算で0.001〜20であることを特徴とする被覆型無機酸化物超微粒子である、前記半導体発光素子封止用組成物、である。
(1)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH<7の条件下で、核(A)と反応させる工程
(2)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH≧7の条件下で、(1)で得られた被覆超微粒子と反応させる工程
(1)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH<7の条件下で、核(A)と反応させる工程
(2)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH≧7の条件下で、(1)で得られた被覆超微粒子と反応させる工程
まず、核微粒子即ち核(A)と、核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物を、pH<7の条件下で反応させる。
工程(1)で得られた被覆超微粒子あるいはゾル液を必要に応じて解こうした後、続いて、(1)で得られた被覆超微粒子と、核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物を、pH≧7の条件下で反応させる。
Si(OR3)4 (2)
(式中、R1、R2はアルキル基、ハロゲン化アルキル基、ビニル基、アリル基、アシル基、アクリロキシ基、メタクリロキシ基、メルカプト基、アミノ基またはエポキシ基等を有する有機基であり、Si−C結合によりケイ素と結合するものである。R3は炭素数1〜8のアルキル基、アルコキシアルキル基またはアシル基等の有機基である。)
[製造例1]
四塩化スズ五水和物0.27gを100mlナス型フラスコに仕込み、イオン交換水50mlに溶解し、酸化塩化チタンの塩酸水溶液(Ti 15重量%含有)5mlを加えた。溶液のpHは−0.1であった。(仕込みTi濃度=0.45、Sn/Ti=0.03)マグネチックスターラーで攪拌し、50℃で1時間加熱したところ、白色の沈殿を得た。遠心分離を行い、白色沈殿を回収、イオン交換水に再分散させた。限外ろ過を行い、固形分2重量%のゾル液を得た。この固形分の粉末X線回折測定、電子顕微鏡観察を行った。120℃で2時間熱風乾燥を行った後に粉末X線回折測定を行ったところ、酸化チタンルチル型であった。結晶径は回折ピークの半値幅からDebye−Sherrerの式を用いて計算した。その結果、結晶径が平均それぞれ短軸5nm、長軸8nmであった。電子顕微鏡観察は透過型電子顕微鏡を用い、メッシュに希薄ゾル液を滴下したものを倍率20万倍、200万倍で観察した。その結果、平均凝集粒子径が23nmのルチル型酸化チタンであった。誘導結合プラズマ法分析によるSn/Tiの元素モル比は0.02であった。
製造例1で四塩化スズ五水和物を0.9g用いた以外は製造例1と同様に実施した。(仕込みTi濃度=0.45、Sn/Ti=0.1)得られたゾル液の固形分を製造例1と同様に分析したところSn/Tiの元素モル比は0.06であった。結晶径が平均それぞれ短軸5nm、長軸8nmで、平均凝集粒子径が20nmのルチル型酸化チタンであった。被覆層/微粒子の重量比は=0.13/1であった。ロータリーエバポレーターによりメタノールへ溶媒を置換、濃縮し、20重量%メタノール分散ゾル液とした。
[比較製造例1]
四塩化スズ五水和物を添加しない以外は製造例1と同様に実施した。得られた白色沈殿は再分散しなかった。同様に分析したところ、凝集粒子径200nm以上のルチル型酸化チタンであった。ロータリーエバポレーターによりメタノールへ溶媒を置換、濃縮し、20重量%濃度としたが、ゲル化、沈殿を生成した。
[比較製造例2]
イオン交換水2Lに酸化塩化チタンの塩酸水溶液(Ti含有率15重量%)20mlを加え、60℃で6時間加熱した。室温まで冷却した後、限外ろ過により濃縮、脱イオン処理を行い、固形分2重量%ゾル液とした。得られたゾル液の固形分を製造例1と同様に分析したところ、結晶径が短軸、長軸共に平均5nmのアナターゼ型酸化チタンであった。ロータリーエバポレーターによりメタノールへ溶媒を置換、濃縮し、20重量%メタノール分散ゾル液とした。
[比較製造例3]
イオン交換水2Lに酸化塩化チタンの塩酸水溶液(Ti含有率15重量%)20mlを加え、60℃で6時間加熱した。酸化塩化ジルコニウム八水和物32gを溶解した水溶液50gを滴下し、90℃に昇温し、1時間加熱した。室温まで冷却した後、限外ろ過を行った。室温まで冷却した後、限外ろ過により濃縮、脱イオン処理を行い、2重量%ゾル液とした。得られたゾル液の固形分を実施例1と同様に分析したところ、結晶径が短軸、長軸共に平均5nmのアナターゼ型酸化チタンであった。ジルコニウム酸化物被覆アナターゼ型酸化チタン超微粒子の組成は酸化物換算で酸化ジルコニウム/酸化チタン重量比=0.85/1であった。ロータリーエバポレーターによりメタノールへ溶媒を置換、濃縮し、20重量%メタノール分散ゾル液とした。
市販の五酸化アンチモン超微粒子ゾル液を20重量%メタノール分散ゾル液とした。
比較製造例1で得られたゾル液5.3gを用いた以外は実施例4と同様にして行い、樹脂成形体を得た。
比較製造例2で得られたゾル液を用いた以外は実施例4と同様にして行い、樹脂成形体を得た。
比較製造例3で得られたゾル液6.2gを用いた以外は実施例4と同様にして行い、樹脂成形体を得た。
比較製造例4で得られたゾル液5.3gを用いた以外は実施例4と同様にして行い、樹脂成形体を得た。
実施例1〜3で得た硬化前の組成物溶液をメタノールで希釈し、石英基板上にをスピンコート法により硬化後の膜厚が約700Åとなるように塗布した。実施例1と同様にして硬化させた後、熱風乾燥した硬化膜を自動波長走査型エリプソメーターM−150(日本分光(株)製)を用いて550nmでの屈折率を測定した。実施例4〜6及び比較例1〜4はブタノール:トルエン(1:1)混合溶媒で希釈した後、測定した。
○…85%以上
×…85%未満
Claims (10)
- 屈折率が1.5〜2.8であるルチル型結晶構造の酸化チタンを含有する無機酸化物超微粒子および/または当該超微粒子を核(A)とし、一種以上の無機酸化物を含む被覆層(B)を有する被覆型無機酸化物超微粒子と樹脂とを含有してなる半導体発光素子封止用組成物。
- 前記超微粒子または前記核(A)のルチル型結晶構造の酸化チタンを含有する無機酸化物超微粒子中のルチル型酸化チタン超微粒子が、
チタンに対するスズのモル比(Sn/Ti)が0.001〜2のスズ化合物共存下、Ti濃度が0.07〜5mol/lのチタン化合物水溶液をpHが−1〜3の範囲で反応させて得られ、Sn/Ti組成モル比が0.001〜0.5であるスズ修飾ルチル型酸化チタン超微粒子であることを特徴とする請求項1記載の半導体発光素子封止用組成物。 - 前記被覆層(B)がケイ素酸化物を含む被覆層であり、該被覆層が二層被覆型であって、内層が(1)の工程、外層が(2)の工程によって得られる被覆層を有し、核微粒子に対するケイ素酸化物被覆層の重量比がSiO2換算で0.001〜20であることを特徴とする被覆型無機酸化物超微粒子である請求項1または2記載の半導体発光素子封止用組成物。
(1)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH<7の条件下で、核(A)と反応させる工程
(2)核(A)に対する重量比がSiO2換算で0.001〜10となるケイ素酸化物をpH≧7の条件下で、(1)で得られた被覆超微粒子と反応させる工程 - 前記の被覆型無機酸化物超微粒子の結晶径の短軸、長軸が2〜20nmである請求項1〜3の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 前記の被覆型無機酸化物超微粒子からなる凝集体の平均凝集粒子径が、10〜100nmである請求項1〜4の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 前記の被覆型無機酸化物超微粒子が、水あるいは有機溶媒に分散してなるゾルを用いることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 前記の被覆型無機酸化物超微粒子の表面が有機ケイ素化合物および/またはアミン類で処理されていることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 屈折率が1.5〜2.8である請求項1〜7の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 前記樹脂がエポキシ樹脂および/またはシリコーン樹脂である請求項1〜8の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物。
- 請求項1〜9の何れかに記載の半導体発光素子封止用組成物を含んでなる光学部材。
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