JP2007128970A - Manufacturing method of multilayer wiring board having cable section - Google Patents
Manufacturing method of multilayer wiring board having cable section Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007128970A JP2007128970A JP2005318532A JP2005318532A JP2007128970A JP 2007128970 A JP2007128970 A JP 2007128970A JP 2005318532 A JP2005318532 A JP 2005318532A JP 2005318532 A JP2005318532 A JP 2005318532A JP 2007128970 A JP2007128970 A JP 2007128970A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- layer
- conduction
- forming
- wiring board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 79
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 65
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 60
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims abstract description 46
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 35
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 28
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 196
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 44
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 42
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 33
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 22
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 12
- 238000003475 lamination Methods 0.000 abstract description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 60
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 24
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 17
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 11
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 4
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 4
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 239000013039 cover film Substances 0.000 description 2
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229920006259 thermoplastic polyimide Polymers 0.000 description 2
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 2
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4623—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the circuit boards having internal via connections between two or more circuit layers before lamination, e.g. double-sided circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0393—Flexible materials
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/429—Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
Description
本発明は、ビルドアップ型多層配線基板の製造方法に関し、特に可撓性ケーブル部を有するビルドアップ型多層フレキシブル配線基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a buildup type multilayer wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a buildup type multilayer flexible wiring board having a flexible cable portion.
近年、電子機器の小型化および高機能化は益々促進されてきており、そのために配線基板に対する高密度化の要求が高まっている。そこで、配線基板を片面から両面や三層以上の多層配線基板とすることにより、配線基板の高密度化を図っている。 In recent years, downsizing and higher functionality of electronic devices have been promoted more and more, and therefore, there is an increasing demand for higher density of wiring boards. In view of this, the wiring board is made to be a high-density wiring board by changing the wiring board from one side to both sides or a multilayer wiring board having three or more layers.
この一環として、携帯電話などの小型電子機器を中心に、各種電子部品を実装する多層配線基板や硬質配線基板間を、コネクタ等を介して接続する別体のフレキシブル配線基板やフレキシブルフラットケーブルを一体化した可撓性ケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板が広く普及している(特許文献1、第5図参照)。
As part of this, a separate flexible wiring board or flexible flat cable that connects multiple wiring boards and hard wiring boards that mount various electronic components via connectors etc. is integrated, mainly in small electronic devices such as mobile phones. A multilayer flexible wiring board having a flexible cable portion is widely used (see
中でも携帯電話の高機能化はめざましく、それに伴い多層フレキシブル配線基板に実装される部品もCSP(チップサイズパッケージ)に置き換わり、高機能かつ高密度にパッケージングし、基板サイズを大きくすることなく、高機能を付加しようという流れがある。このCSPのパッドピッチも、当初は0.8mmであったものが、最近では0.5mm以下の狭ピッチなものの搭載の要求も出始めている。 In particular, the functionality of mobile phones is remarkable, and the parts mounted on the multilayer flexible wiring board are also replaced by CSP (chip size package), so that high functionality and high density packaging can be achieved without increasing the board size. There is a trend to add functions. The pad pitch of this CSP was originally 0.8 mm, but recently, there is a demand for mounting a narrow pitch of 0.5 mm or less.
多層フレキシブル配線基板に狭ピッチCSPを搭載するうえでの必須要件は、以下のようなものがある。
(a) CSP実装ランドに貫通孔がないこと。
実装に必要な半田が流れないようにするためである。
(b) 導通部の高密度配置が可能なこと。
狭ピッチCSP実装ランドから直接、下の配線層に接続するため、要求される最小ピッチとしては搭載するCSPのパッドピッチと同じピッチが必要となる。
(c) 微細配線の形成
外層、内層を問わず、100パッド以上の多くのパッドからの配線引き回しが必要なためである。また、CSP実装ランド間に引き回せる配線の本数が、搭載可能なCSPの仕様を決める重要なファクターである。特にCSP搭載に際しては、CSP実装ランドの存在する外層の配線より下の内層の配線の微細化が有効である。
(d) CSP実装ランドの平坦性
CSPを多層フレキシブル配線基板上にフェースダウンでフリップチップ実装する際に、CSP側のパッド上の半田ボールの高さで、CSP実装ランドの凹凸を吸収する必要があるためである。多層フレキシブル配線基板においては、各層の導体層の厚みによる段差を接着材等で充填し、平坦性を確保する必要がある。
The essential requirements for mounting a narrow pitch CSP on a multilayer flexible wiring board are as follows.
(a) There are no through holes in the CSP mounting land.
This is to prevent the solder necessary for mounting from flowing.
(b) Capable of high-density arrangement of conduction parts.
In order to connect directly to the lower wiring layer from the narrow pitch CSP mounting land, the required minimum pitch is the same as the pad pitch of the CSP to be mounted.
(c) Formation of fine wiring This is because it is necessary to route wiring from many pads of 100 pads or more regardless of the outer layer or the inner layer. Further, the number of wirings that can be routed between CSP mounting lands is an important factor that determines the specifications of the CSP that can be mounted. In particular, when a CSP is mounted, it is effective to miniaturize the inner layer wiring below the outer layer wiring where the CSP mounting land exists.
(d) Flatness of the CSP mounting land When flip-chip mounting the CSP on the multilayer flexible wiring board face down, it is necessary to absorb the unevenness of the CSP mounting land with the height of the solder ball on the pad on the CSP side. Because there is. In a multilayer flexible wiring board, it is necessary to fill a step due to the thickness of each conductive layer with an adhesive or the like to ensure flatness.
多層フレキシブル配線基板の代表的な構造は、両面又は片面のフレキシブル配線基板を内層とし、それに外層となるフレキシブル又は硬質ベースの配線基板を積層し、めっきなどによるスルーホール接続を施して4〜8層程度の多層フレキシブル配線基板とする構造である(特許文献1、図5参照)。
A typical structure of a multilayer flexible wiring board has a double-sided or single-sided flexible wiring board as an inner layer, and a flexible or hard-base wiring board as an outer layer is laminated thereon, and through-hole connection is performed by plating or the like to form 4 to 8 layers. It is a structure which makes a multilayer flexible wiring board to the extent (see
ただし、スルーホール接続では全層を貫通してしまうため、高密度化が困難なことや部品実装ランドをスルーホール上に設けると半田が流れてしまうため、ランドをスルーホール上には配置できないという問題がある。このため、上述の狭ピッチCSP搭載の要件を満たしておらず、狭ピッチCSPを搭載することはできない。 However, since through-hole connection penetrates all layers, it is difficult to increase the density, and solder will flow if a component mounting land is provided on the through-hole, so that the land cannot be placed on the through-hole. There's a problem. For this reason, the above-mentioned requirements for mounting a narrow pitch CSP are not satisfied, and a narrow pitch CSP cannot be mounted.
中でも、10パッド×10パッド以上のCSPのパッドがフルグリッドで配置されている狭ピッチCSPを搭載することは、従来の多層フレキシブル配線基板では非常に困難である。 In particular, it is very difficult for a conventional multilayer flexible wiring board to mount a narrow pitch CSP in which CSP pads of 10 pads × 10 pads or more are arranged in a full grid.
そこで、高密度実装を実現するため、多層フレキシブル配線基板をコア基板として、1〜2層程度のビルドアップ層を両面または片面に有するビルドアップ型多層フレキシブル配線基板も実用化されている。 Therefore, in order to realize high-density mounting, a build-up type multilayer flexible wiring board having a multilayer flexible wiring board as a core substrate and having about one or two build-up layers on both sides or one side has been put into practical use.
しかしながら、多層フレキシブルコア基板にビルドアップを行う場合、ケーブル部等の柔らかい構成材料がコア基板の平坦性を損なうことから、ビルドアップが困難である。また、コア基板にスルーホールめっきを行っているので、導体層厚が厚くなり、微細回路の形成は困難である。 However, when build-up is performed on a multilayer flexible core substrate, build-up is difficult because soft constituent materials such as cable portions impair the flatness of the core substrate. In addition, since through-hole plating is performed on the core substrate, the thickness of the conductor layer is increased and it is difficult to form a fine circuit.
さらにビルドアップ用の接着材で、上述の厚い導体層を充填し、平坦性を確保する必要もあるため、必要な接着材厚が厚くなり、接続信頼性を確保するために必要なビルドアップ層のビアホールめっき厚も厚くする必要がある。この結果、やはり微細回路の形成は困難であって、上述の狭ピッチCSP搭載の要件を満たしておらず、狭ピッチCSPを搭載することはできない。 In addition, it is necessary to fill the above-mentioned thick conductor layer with a build-up adhesive to ensure flatness, so the necessary adhesive thickness increases and the build-up layer necessary to ensure connection reliability. It is necessary to increase the thickness of the via hole plating. As a result, it is difficult to form a fine circuit, and the requirement for mounting the narrow pitch CSP is not satisfied, and the narrow pitch CSP cannot be mounted.
そこで、微細回路形成能力の不足を層数の増加で補うべく、さらに2段目のビルドアップを行う手法が提案されている。しかしながら、この手法を用いて、2段ビルドアップ型多層フレキシブル配線基板を作製するには、逐次積層を繰り返すため、層数が増すにつれて工程が煩雑になり、歩留まりが低下する問題がある。 In view of this, there has been proposed a method of further building up the second stage in order to make up for the shortage of the ability to form a fine circuit by increasing the number of layers. However, in order to fabricate a two-stage build-up type multilayer flexible wiring board using this method, since successive lamination is repeated, there is a problem that the process becomes complicated as the number of layers increases and the yield decreases.
また、導電性突起による1段目のビルドアップ層をコア基板に積層し、平坦性を確保した上で、さらに2段目のビルドアップを行う手法も考えられる(特許文献2、[0020]〜[0030]参照)。しかし、ケーブル部等の柔らかい構成材料からなる多層フレキシブルコア基板に導電性突起を突き当てると、コア基板が変形したりコア基板のスルーホールへのダメージがあったりすることや、やはり逐次積層を繰り返すため、層数が増すにつれて工程が煩雑になり、歩留まりが低下するため問題の解決には至らない。
In addition, a method is also conceivable in which a first build-up layer made of conductive protrusions is laminated on the core substrate to ensure flatness, and then a second build-up is performed (
これらのことから、集積度が高く、狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を安価かつ安定的に製造する方法が望まれている。 For these reasons, a method of manufacturing a multilayer wiring board having a high degree of integration and having a cable portion on which a narrow pitch CSP can be mounted inexpensively and stably is desired.
図10ないし図15は、従来のケーブル部を有する多層配線基板の製造方法(特許文献4、図3)を示す断面工程図であって、先ず、図10(1)に示すように、ポリイミド等の可撓性絶縁ベース材131の両面に、銅箔等の導電層132,133を有する、所謂、両面銅張積層板134を用意する。
10 to 15 are cross-sectional process diagrams showing a conventional method for manufacturing a multilayer wiring board having a cable portion (
次いで、図10(2)に示すように、この両面型銅張積層板134の銅箔層132,133に対し、通常のフォトファブリケーション手法によるエッチング手法を用いて、ケーブル等の回路パターン135を形成し、内層回路136とする。
Next, as shown in FIG. 10 (2), a
次に、図10(3)に示すように、ケーブル等の回路パターン135にポリイミドフィルム137を、接着材138を介して張り合わせることでカバー139を形成し、ケーブル部140を形成する。
Next, as shown in FIG. 10 (3), a
続いて、図10(4)に示すように、絶縁ベース材141の片面に銅箔等の導電層142を有する、所謂、片面銅張積層板143およびこれを金型等により所望の形状に打ち抜き加工した図10(3)のケーブル部140に張り合わせるための接着材144を用意する。このときの導電層142の厚みとしては50μm以下、できれば35μm以下が好ましい。この後、図10(5)に示すように、片面銅張積層板143と接着材144とを張り合わせ、これを金型等により所望の形状に打ち抜き加工する。
Subsequently, as shown in FIG. 10 (4), a so-called single-sided copper-
次に、図11(6)に示すように、図10(3)のケーブル部140に接着材144を介して図10(5)の打ち抜き加工した片面銅張積層板145を積層する。次いで、図11(7)に示すように、NCドリル等で導通用孔146を形成する。このとき、内層のカバー139のポリイミドフィルム137および接着剤138がドリル加工時に熱ダレを起こし、内層回路136の銅箔層132,133へのスルーホールめっき付き周りが悪化するため、デスミア処理を行う。導通用孔146の径としては、150〜500μm程度が好ましい。
Next, as shown in FIG. 11 (6), the single-sided copper-
ただし、導通用孔の径と接続信頼性との間には相関関係があり(特許文献5、[0005]〜[0008]参照)、集積度を向上させる目的で、導通用孔の径を小さく設計すると、信頼性を確保するのに必要なめっき厚が厚くなることが知られている。
However, there is a correlation between the diameter of the hole for conduction and the connection reliability (see
続いて、図13(8)に示すように、導通用孔146に無電解めっきまたは導電化処理等を施した後、電気めっきでスルーホール147を形成する。このときのスルーホール147のめっき厚みは、30〜50μm程度が信頼性を確保する上では好ましいとされる。
Subsequently, as shown in FIG. 13 (8), the
この後、図12(9)に示すように、上記スルーホール面に対し、通常のフォトファブリケーション手法によるエッチング手法を用いて回路パターン148を形成し、ビルドアップ型多層フレキシブル配線基板のケーブル部を有する内層コア基板149を得る。
Thereafter, as shown in FIG. 12 (9), a
次に、図13(10)に示すように、ローフロータイプのプリプレグやボンディングシート等の流れ出しの少ない接着性絶縁樹脂150の片面に銅箔等の導電層151を有する、所謂、片面銅張積層板152を用意する。接着性絶縁樹脂150の厚みとしては、図2(8)の厚付けしたスルーホールめっきを含む導体層を充填し、平坦性を確保する必要があることから、少なくとも50μm以上の厚みが必要で、ここでは厚さ100μmのものを用いた。
Next, as shown in FIG. 13 (10), a so-called single-sided copper-clad laminate having a
次に、図13(11)に示すように、片面銅張積層板152を金型等で打ち抜き加工する。次いで、図13(12)に示すように、図12(9)で得た、内層コア基板149に打ち抜き加工した片面銅張積層板153を積層する。
Next, as shown in FIG. 13 (11), the single-sided copper
この後、図14(13)に示すように、レーザ等で導通用孔154を形成する。導通用孔154の径としては、0.5mmピッチ以下の狭ピッチCSPを搭載するためには、100〜300μm程度が好ましい。ただし、上述のように、導通用孔の径を小さく設計すると、信頼性を確保するのに必要なめっき厚が厚くなる。一方、穴径を大きく設計すると、集積度が低下するだけでなく、レーザ加工に要する加工時間が増加し、生産性が悪化する。
Thereafter, as shown in FIG. 14 (13), a
続いて、図14(14)に示すように、導通用孔154に無電解めっきまたは導電化処理等を施した後、電気めっきでビアホール155を形成する。接着性絶縁樹脂150の厚みを考慮すると、このときのビアホール155のめっき厚みは、ビアホール155の径にも依るが、信頼性を確保する上では30μm以上が好ましいとされる。
Subsequently, as shown in FIG. 14 (14), the electroconductive plating 154 is subjected to electroless plating or conductive treatment, and then via
この後、図15(15)に示すように、上記めっき金属層面を含む最外導電層に対し、通常のフォトファブリケーション手法によるエッチング手法を用いて回路パターン156を形成する。この後、必要に応じて基板表面にフォトソルダーレジスト層の形成、半田めっき、ニッケルめっき、金めっき等の表面処理を施し、外形加工を行うことで、ケーブル部を有する多層配線基板157を得る。
Thereafter, as shown in FIG. 15 (15), a
このように、スルーホールめっきとビアホールめっきの厚付けが必要となるため、6層のうち、外側から1層目、2層目の導体層の厚みが厚くなり、この結果、これらの層の微細配線形成を困難なものとし、集積度の低下や歩留まりの低下を招いている。そのため、グリッド数の多いフルグリッドの狭ピッチCSPは搭載できず、自由度が低い基板仕様となってしまうという問題がある。 Thus, since it is necessary to thicken the through-hole plating and the via-hole plating, among the six layers, the thickness of the first and second conductor layers from the outside increases, and as a result, the fineness of these layers is increased. This makes wiring formation difficult, leading to a decrease in the degree of integration and the yield. Therefore, there is a problem that a full-grid narrow pitch CSP with a large number of grids cannot be mounted, resulting in a substrate specification with a low degree of freedom.
また、図示していないが、図13(10)からの工程を繰り返すことで、2段ビルドアップが可能であり、これにより得られた多層フレキシブル基板の搭載可能な狭ピッチCSPの仕様の自由度が高くなるものの、やはり外側から1層目、2層目の導体層の厚みが厚くなるため、これらの層の微細配線形成を困難なものとしている。これに加え、上述したように逐次積層を繰り返すため、層数が増すにつれて工程が煩雑になり、歩留まりが低下するという問題が発生する。
上述のように、従来の製造方法を用いて集積度が高く狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を製造する際の問題としては、煩雑な穴あけ加工めっきを複数回行う必要があり、生産性や歩留まりに問題があること、めっきの厚付けを行う配線層が多く、微細回路形成が困難なため、多段のビルドアップを行うか、または配線密度の低下を余儀なくされる。 As described above, as a problem in manufacturing a multilayer wiring board having a cable portion that can be mounted with a high integration density and a narrow pitch CSP using a conventional manufacturing method, it is necessary to perform complicated drilling plating multiple times. In addition, there are problems in productivity and yield, and there are many wiring layers for thickening plating, and it is difficult to form a fine circuit. Therefore, it is necessary to perform multi-stage buildup or to lower the wiring density.
本発明は、上述の点を考慮してなされたもので、集積度が高く狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を安価かつ安定的に製造する方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in consideration of the above-described points, and an object of the present invention is to provide a method for stably and inexpensively manufacturing a multilayer wiring board having a cable portion with a high degree of integration and capable of mounting a narrow pitch CSP. To do.
上記目的達成のため、本願では、次の各発明を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention provides the following inventions.
第1の発明によれば、
少なくとも一方の準外層にケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板の製造方法において、
a) 内層コア基板を製造する工程、
b) 可撓性を有する両面型銅張積層板における外層側の導通用孔形成部位に銅箔の開口を、また前記両面型銅張積層板の内層側に導通用孔形成部位の開口を含む回路パターンを形成する工程、
c) 前記回路パターン上にカバーレイを形成して外層ビルドアップ層とする工程、
d) 前記カバーレイを形成した側を前記内層コア基板の側へ向けて、前記外層ビルドアップ層を前記内層コア基板に接着材を介して積層し、積層回路基材を形成する工程、
e) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けて前記銅箔の開口を介してレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
f) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けて前記銅箔の開口および前記回路パターンにおける前記導通用孔形成部位の開口をレーザ遮光用のマスクとしてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
g) 前記導通用孔に対し導電化処理を行い、電解めっきを施してビアホールを形成する工程、
をそなえたことを特徴とする。
According to the first invention,
In the method for producing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one quasi-outer layer,
a) manufacturing the inner core substrate,
b) The opening of the copper foil is included in the hole-forming portion on the outer layer side of the flexible double-sided copper-clad laminate, and the opening of the hole-forming portion is provided on the inner layer side of the double-sided copper-clad laminate. Forming a circuit pattern;
c) forming a coverlay on the circuit pattern to form an outer buildup layer;
d) A step of forming a laminated circuit substrate by laminating the outer layer buildup layer on the inner layer core substrate with an adhesive facing the side on which the coverlay is formed toward the inner layer core substrate side,
e) Step of forming a hole for conduction by performing laser processing through the opening of the copper foil toward the hole formation portion for conduction on the outer layer side with respect to the laminated circuit substrate,
f) Laser processing with respect to the laminated circuit substrate using the opening of the copper foil and the opening of the hole for conduction in the circuit pattern as a mask for laser shielding toward the hole formation portion for conduction on the outer layer side. A step of forming a hole for conduction,
g) Conducting the conductive hole, forming a via hole by electrolytic plating,
It is characterized by having.
また、第2の発明によれば、
少なくとも一方の準外層にケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板の製造方法において、
a) 内層コア基板を製造する工程、
b) 可撓性を有する片面型銅張積層板の銅箔層に導通用孔形成部位の開口を含む回路パターンを形成する工程、
c) 前記回路パターン上にカバーレイを形成して外層ビルドアップ層とする工程、
d) 前記カバーレイを形成した側を前記内層コア基板の側へ向けて、前記外層ビルドアップ層を前記内層コア基板に接着材を介して積層し、積層回路基材を形成する工程、
e) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
f) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位および前記回路パターンにおける前記導通用孔形成部位の開口をレーザ遮光用のマスクとしてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
g) 前記導通用孔に対し導電化処理を行い、電解めっきを施してビアホールを形成する工程、
をそなえたことを特徴とする。
According to the second invention,
In the method for producing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one quasi-outer layer,
a) manufacturing the inner core substrate,
b) a step of forming a circuit pattern including an opening of a hole forming portion for conduction in a copper foil layer of a single-sided copper clad laminate having flexibility;
c) forming a coverlay on the circuit pattern to form an outer buildup layer;
d) A step of forming a laminated circuit substrate by laminating the outer layer buildup layer on the inner layer core substrate with an adhesive facing the side on which the coverlay is formed toward the inner layer core substrate side,
e) A step of performing laser processing on the laminated circuit base material toward the hole forming portion on the outer layer side to form a hole for conduction;
f) Laser processing is performed on the laminated circuit base material using the opening for the conduction hole on the outer layer side and the opening for the conduction hole in the circuit pattern as a mask for shielding the laser to form a conduction hole. Process,
g) Conducting the conductive hole, forming a via hole by electrolytic plating,
It is characterized by having.
そして、第3の発明によれば、
第1または第2の発明において、
前記内層コア基板は、フィルドビア構造による層間接続を有する両面配線基板であることを特徴とする。
And according to the third invention,
In the first or second invention,
The inner core substrate is a double-sided wiring substrate having an interlayer connection with a filled via structure.
これらの特徴により、本発明は次のような効果を奏する。 Due to these features, the present invention has the following effects.
第1の発明によれば、両面銅張積層板を用いた多層回路基板の層間接続を導電性突起により行うため、配線密度の低下を招くめっきの厚付けによる層間接続が不要となり、第1層と準外層である第2層とを接続するビアが狭ピッチに配置可能で準外層の配線を微細にでき、信頼性を確保することができる。また、CSP実装ランドに貫通孔がなく、CSP実装可能な平坦性も十分確保している。 According to the first invention, since the interlayer connection of the multilayer circuit board using the double-sided copper clad laminate is performed by the conductive protrusion, the interlayer connection by the thickness of the plating that causes a decrease in the wiring density becomes unnecessary. And the second layer which is the quasi-outer layer can be arranged at a narrow pitch, the wiring of the quasi-outer layer can be made fine, and reliability can be ensured. In addition, the CSP mounting land has no through hole, and sufficiently flat enough to be CSP mounted.
さらに第2の発明によれば、片面銅張積層板を用いた多層回路基板の層間接続を導電性突起により行うため、配線密度の低下を招くめっきの厚付けによる層間接続が不要となり、外層の回路パターンを第1の発明よりもさらに微細に形成でき、よりグリッド数の多い、狭ピッチCSP搭載が可能である。 Further, according to the second invention, since the interlayer connection of the multilayer circuit board using the single-sided copper-clad laminate is performed by the conductive protrusion, the interlayer connection by the plating thickening which leads to the reduction of the wiring density becomes unnecessary, and the outer layer A circuit pattern can be formed more finely than in the first invention, and a narrow pitch CSP can be mounted with a larger number of grids.
加えて、外層ビルドアップ層の内外層のレーザ遮光用マスクおよび内層回路パターンを同時加工し、内層コア基板へ積層後、1回のレーザ加工によって6層基板の全ての層間導通孔を形成可能であり、めっき工程も1回であることから、生産性がよく歩留まりも高い。しかも、配線密度の低下に繋がるめっきの厚付けが必要な層は最外層のみで、その他の全ての層では微細配線形成が可能である。また、コア基板およびビルドアップ層を別途製造可能であるため、さらに生産性が高くなる。 In addition, the laser shielding mask and inner layer circuit pattern of the inner and outer layers of the outer buildup layer can be processed simultaneously, and after lamination on the inner core substrate, all interlayer conduction holes of the six-layer substrate can be formed by one laser processing. In addition, since the plating process is performed once, the productivity is high and the yield is also high. Moreover, only the outermost layer needs to be plated to lead to a decrease in wiring density, and fine wiring can be formed in all other layers. Further, since the core substrate and the buildup layer can be separately manufactured, the productivity is further increased.
この結果、本発明によれば、従来の製造方法よりも集積度が高く、狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を安価かつ安定的に製造する方法を提供できる。 As a result, according to the present invention, it is possible to provide a method for stably and inexpensively manufacturing a multilayer wiring board having a cable portion that can be mounted with a narrow pitch CSP and has a higher degree of integration than the conventional manufacturing method.
以下、図1ないし図9を参照して本発明の実施形態を説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図1ないし図5は、本発明の実施形態1を示す断面工程図であって、先ず、同図(1)に示すように、両面可撓性配線基板の製造の際に、銅箔1(例えば厚さ100μm)/ニッケル箔2(例えば厚さ2μm)/銅箔3(例えば厚さ12μm)の3層構造を有する金属基材4を用意する。
FIGS. 1 to 5 are sectional process views showing
次に、図1(2)に示すように、導電性突起5を、銅箔3上に、選択的なエッチング手法で形成する。このときのエッチング液には、通常の銅のエッチング工程で用いられるエッチング液、たとえば塩化第二銅を含むエッチング液を用いて銅箔1の全体厚みの80〜90%程度をエッチングし、次にニッケルに対する腐食性が低く、銅を選択的にエッチングするエッチング液、たとえばアンモニアを含むアルカリ性のエッチング液を用い、銅箔1の残存部をエッチング除去してニッケル箔を露出し、続いて、銅に対する腐食性が低く、ニッケルを選択的にエッチングするエッチング液、たとえば過酸化水素や硝酸を含むエッチング液を用いて、露出しているニッケル箔2をエッチング除去する。これにより、図1(2)に示す構造が得られる。
Next, as shown in FIG. 1 (2), the
次いで、図1(3)に示すように、Bステージ状態のプリプレグ6を、導電性突起が立設された面にプレス、ラミネーター等で貼り付ける。プリプレグ6の代わりに、両面に熱可塑性ポリイミドを有するポリイミドフィルム等の接着性を有する絶縁性の樹脂を適用することも可能である。そして、図1(4)に示すように、導電性突起の頂部7をプリプレグ6から露出させるために、ロール研磨等の機械研磨、CMP等の化学研磨等を行う。ここまでの工程で、導電性突起5がプリプレグ6を貫通した回路基材8を得る。
Next, as shown in FIG. 1 (3), the
続いて、図1(5)に示すように、金属箔9に、導電性突起5がプリプレグ6を貫通した回路基材8を積層する。ここで、プリプレグ6が完全に熱硬化し、Cステージ状態となる。この後、図1(6)に示すように、積層した基材の銅箔に回路パターン10を形成し、ここまでの工程で、多層配線基板のコア基板となるフィルドビア構造を有する両面コア基板11を得る。
Subsequently, as shown in FIG. 1 (5), a
この実施形態1のように、導電性突起による層間導通を有する両面コア基板の場合には、めっきを厚付けする必要がなく、コア基板の配線層厚みを薄くすることができるため、配線の微細化が可能である。さらに、この後のビルドアップ層との接着に用いる接着材については、厚みが薄いもので充填可能であるため、流れ出し量が少なくなる。そして、ビルドアップ層との層間接続距離が短くなるため、同じめっき厚の場合には、相対的に接続信頼性が向上する。 In the case of a double-sided core substrate having interlayer conduction by conductive protrusions as in the first embodiment, it is not necessary to thicken the plating, and the wiring layer thickness of the core substrate can be reduced. Is possible. Furthermore, since the adhesive used for bonding to the subsequent build-up layer can be filled with a thin one, the flow-out amount is reduced. And since the interlayer connection distance with a buildup layer becomes short, in the case of the same plating thickness, connection reliability improves relatively.
フィルドビア構造は、種々のものに適用可能で、エッチング加工により形成した金属製の導電性突起のみならず、めっき法による金属製の導電性突起、導電性ペースト・インキ等を印刷して形成した導電性突起、さらにはビアホールめっきの際に内壁へのめっき析出を多くしたビアフィルめっきにより製造された両面コア基板、これらを組み合わせたものも含めて適用できる。 Filled via structure can be applied to various things, not only metal conductive protrusions formed by etching processing, but also conductive conductive protrusions formed by printing metal conductive protrusions, conductive paste / ink etc. by plating method In addition, the present invention can also be applied to a double-sided core substrate manufactured by via fill plating in which plating deposition on the inner wall is increased during via hole plating, and combinations thereof.
加えて、コア基板がフィルドビア構造を有することで、後の工程でビルドアップした際に、フィルドビア上にスタックする構造をとることが可能で、高密度化に有利である。また、高速信号伝送時の接続部の反射を低減させる効果も期待できる。 In addition, since the core substrate has a filled via structure, it is possible to take a structure of stacking on the filled via when it is built up in a later process, which is advantageous for high density. Moreover, the effect of reducing the reflection of the connection part at the time of high-speed signal transmission can also be expected.
この後、図2(7)に示すように、可撓性絶縁ベース材12(ここでは、厚さ25μmのポリイミド)の両面に厚さ12μmの銅箔13および14を有する、所謂、両面銅張積層板15を用意する。可撓性絶縁ベース材12の材質や厚みは25μmのポリイミドに限定されるわけではなく、用途に応じて使い分けることができる。例えば、高速信号伝送時の誘電体損失を低減させる必要があるような適用例では、低誘電正接の液晶ポリマー等をベースとした両面銅張積層板を用いることができ、高屈曲の要求に対してはポリイミドの膜厚を12.5μm等の薄いものを選択することができる。
After that, as shown in FIG. 2 (7), so-called double-sided copper-clad having copper foils 13 and 14 having a thickness of 12 μm on both sides of a flexible insulating base material 12 (here, polyimide having a thickness of 25 μm). A
続いて、図2(8)に示すように、両面銅張積層板15の銅箔13のレーザ加工の際のコンフォーマルマスクおよび銅箔14に、導通用孔形成部位の開口を含む内層回路パターンをフォトファブリケーション手法により形成するためのレジスト層16を両面銅張積層板15の両面に形成する。この時の両面の位置合わせは、ベタの材料に対して行うため、材料の伸縮等に影響されず、容易に位置精度を確保できる。必要に応じて、高精度な位置合わせが可能な露光機を用いることも可能である。
Subsequently, as shown in FIG. 2 (8), the conformal mask and the
また、銅箔13および14の厚みは5〜12μm程度が好ましく、この厚み範囲内であれば、狭ピッチCSPの搭載に必要な内層ピッチ100μm以下の微細配線形成が可能であり、後のレーザ加工の際のレーザ遮光用マスクとしても機能する。さらに、この後のカバーレイの接着材については、厚みが薄いもので平坦性を確保した上で充填可能であるため、ビルドアップ層との層間接続距離が短くなり、同じめっき厚の場合には、相対的に接続信頼性が向上する。 Further, the thickness of the copper foils 13 and 14 is preferably about 5 to 12 μm, and if within this thickness range, it is possible to form fine wiring with an inner layer pitch of 100 μm or less necessary for mounting a narrow pitch CSP, and later laser processing It also functions as a laser shading mask at this time. Furthermore, since the coverlay adhesive after this is thin and can be filled after ensuring flatness, the interlayer connection distance with the buildup layer is shortened, and in the case of the same plating thickness Relatively improved connection reliability.
次いで、図2(9)に示すように、レジスト層16を用い、フォトファブリケーション手法により、レーザ加工の際のコンフォーマルマスク17および導通用孔形成部位の開口を含む内層回路パターン18を形成し、さらにレジスト層を剥離する。必要に応じて、ビルドアップ接着材との密着を向上させるための粗化処理を行う。
Next, as shown in FIG. 2 (9), the resist
なお、導電性突起上にブラインドビアホールを形成すると、ビルドアップ後にレーザ等により形成される導通用孔の検査を容易にしたり、レーザの熱による影響を緩和したりするために、黒化処理や黒化還元処理よりは酸を用いたエッチングによる粗化が好ましい。ここまでの工程で、多層配線基板のビルドアップ層19を得る。
Note that if a blind via hole is formed on the conductive protrusion, blackening treatment or blackening is performed in order to facilitate inspection of a conduction hole formed by a laser or the like after build-up or to reduce the influence of laser heat. Roughening by etching using an acid is preferable to the chemical reduction treatment. Through the steps so far, the build-
この後、図2(10)に示すように、例えば12μm厚のポリイミドフィルム20上に厚さ15μmのアクリル・エポキシ等の接着材21を有する、所謂、カバーレイ22を用意する。
After that, as shown in FIG. 2 (10), a so-called cover lay 22 having an adhesive 21 such as acrylic / epoxy having a thickness of 15 μm on a
次に図2(11)に示すように、多層配線基板のビルドアップ層19の内層側にカバーレイ22を、真空プレス、ラミネーター等で貼り付ける。ここまでの工程で、カバーレイ付きのビルドアップ層23を得る。なお、図2(7)〜(11)までの工程はロールトゥロール工法が可能であり、更なる生産性の向上が見込める。
Next, as shown in FIG. 2 (11), a cover lay 22 is attached to the inner layer side of the build-
この後、図3(12)に示すように、次にカバーレイ付きのビルドアップ層23を両面コア基板11にビルドアップするための接着材24を予め型抜きし、位置合わせを行う。接着材24としては、ローフロータイプのプリプレグやボンディングシート等の流れ出しの少ないものが好ましい。接着材24の厚さは、充填性および平坦性を考慮しても、15〜20μmの薄いものが選択できる。
Thereafter, as shown in FIG. 3 (12), the adhesive 24 for building up the build-
次いで、図3(13)に示すように、接着材24を介し、カバーレイ付きのビルドアップ層23と両面コア基板11とを真空プレス等で積層する。ここまでの工程で、多層回路基材25を得る。
Next, as shown in FIG. 3 (13), the
続いて、図4(14)に示すように、予め作製したレーザ加工の際のコンフォーマルマスク17を用いてレーザ加工を行い、3種類の導通用孔26,27,28を形成する。導通用孔27を形成する際には、予め作製した回路パターン18の導通用孔形成部位の開口をレーザ加工の際のレーザ遮光用マスクとして用い、レーザ加工を行う。レーザ加工には、UV−YAGレーザ、炭酸レーザ、エキシマレーザ等を選択して使用する。
Subsequently, as shown in FIG. 4 (14), laser processing is performed using a
各導通用孔の径は、以下のように設定した。まず導通用孔26は、可撓性絶縁ベース材12に25μm厚のポリイミドを用いた場合、直径50μmでも製造可能で、信頼性を確保するための必要めっき厚が10μm程度であることから、ここでは直径50μmとした。
The diameter of each conduction hole was set as follows. First, the
導通用孔27,28は、集積度および層間接続信頼性の問題があるが、この実施形態1では導体層6層のうち、2層目(準外層)から5層目までは導体層厚みの増加に繋がる、めっきを行う必要がなく、導体層が薄くできる。このため、充填に必要な接着材21や接着材24の厚みを薄くでき、比較的薄いめっき厚でも信頼性を確保できる。めっき厚15〜20μm程度で信頼性が確保できる穴径としては、導通用孔27では下穴径150μm、上穴径は下穴との位置合わせを考慮して下穴径に50μmを加えた200μmとし、導通用孔28では穴径150μmとした。このことから、微細配線形成を可能としながら、集積度も向上し、各導通用孔とも狭ピッチに形成できる。
The conduction holes 27 and 28 have problems of integration degree and interlayer connection reliability. In the first embodiment, the conductor layer thickness is from the second layer (quasi-outer layer) to the fifth layer among the six conductor layers. There is no need to perform plating, which leads to an increase, and the conductor layer can be made thin. For this reason, the thickness of the adhesive 21 and the adhesive 24 required for filling can be reduced, and reliability can be ensured even with a relatively thin plating thickness. As for the hole diameter for which reliability can be ensured with a plating thickness of about 15 to 20 μm, the hole diameter for the
さらに、電解めっきによって層間接続をとるためのデスミア処理、導電化処理を行う。なお、レーザ加工には、上記のようにコンフォーマルマスクを用いた加工以外にも、予めレーザのビーム径よりも大きく、銅マスクをオフセットさせ、レーザ加工を行うラージウインドウ法も適用可能である。無論、銅箔および樹脂を、直接レーザ光で貫通させるダイレクトレーザ法も適用可能である。 Furthermore, a desmear process and a conductive process are performed for interlayer connection by electrolytic plating. In addition to the processing using the conformal mask as described above, a large window method in which the laser mask is offset and the copper mask is offset in advance can be applied to the laser processing. Of course, a direct laser method in which a copper foil and a resin are directly penetrated with laser light is also applicable.
また、上記コンフォーマルマスクを用いた加工は、ラージウインドウ法、ダイレクトレーザ法と組み合わせてもよい。なお、ダイレクトレーザ法を用いる場合、銅箔の厚さは20μm以下であることが好ましい。 The processing using the conformal mask may be combined with a large window method or a direct laser method. In addition, when using a direct laser method, it is preferable that the thickness of copper foil is 20 micrometers or less.
続いて、図4(15)に示すように、導通用孔26,27,28を有する多層回路基材25に15〜20μm程度の電解めっきを行い、層間導通をとる。ここまでの工程、すなわち1回のレーザ加工およびめっき工程で、導通用孔26により得られたビア29、導通用孔27により得られたステップビア30、導通用孔26により得られたスキップビア31を一挙に形成し、外層から内層までの全ての層間導通をとることが可能である。
Subsequently, as shown in FIG. 4 (15), the
ここまでの工程で、層間導通の完了した多層回路基材32を得る。また、挿し部品等の実装用の貫通穴が必要な場合には、導通用孔形成の際にNCドリル等で貫通孔を形成し、上記ビアホールめっきの際にスルーホールを同時に形成することも可能である。
The multilayer
次に、図5(16)に示すように、外層のパターン33を通常のフォトファブリケーション手法により形成する。この際、ビルドアップ層23の内層側に位置するカバーフィルム20上に析出しためっき層があれば、これも除去される。この後、必要に応じて基板表面に半田めっき、ニッケルめっき、金めっき等の表面処理を施し、フォトソルダーレジスト層の形成、ケーブルの外層側へのシールド層を銀ペースト、フィルム等を用いて形成し、外形加工を行うことで外層にケーブル部34を有する多層配線基板35を得る。
Next, as shown in FIG. 5 (16), an
この実施形態1によるケーブル部を有する多層配線基板は、ケーブルがめっき層のない準外層である2層目に配置されているため、径が50μmのビア29をピッチ0.3mm以下で配置でき、ピッチ100μm以下の微細配線形成が可能である。このため、狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を安価かつ安定的に製造する方法を提供することができる。また、CSP実装ランドに貫通孔がなく、CSP実装可能な平坦性も十分確保している。 In the multilayer wiring board having the cable portion according to the first embodiment, since the cable is arranged in the second layer which is a quasi-outer layer without a plating layer, vias 29 having a diameter of 50 μm can be arranged with a pitch of 0.3 mm or less. Fine wiring with a pitch of 100 μm or less can be formed. Therefore, it is possible to provide a method for stably and inexpensively manufacturing a multilayer wiring board having a cable portion on which a narrow pitch CSP can be mounted. In addition, the CSP mounting land has no through hole, and sufficiently flat enough to be CSP mounted.
さらに、上述のようにCSPからケーブルへの配線の引き回しの大部分は第1層と第2層(準外層)とで賄うことができるため、第3層、第4層は電源、グラウンド層となる。本発明では導電性突起により第3層、第4層を接続するが、この導電性突起の径を任意に変更することが容易で、例えば電源に対する電流容量の確保、特性インピーダンスの整合、接続部での信号の反射抑制のための最適な径、その他の設計要素を考慮した上で選択すればよい。 Furthermore, as described above, most of the wiring from the CSP to the cable can be covered by the first layer and the second layer (quasi-outer layer), so the third layer and the fourth layer are the power source, the ground layer, Become. In the present invention, the third layer and the fourth layer are connected by the conductive protrusion. However, it is easy to arbitrarily change the diameter of the conductive protrusion, for example, securing the current capacity for the power source, matching the characteristic impedance, and the connection portion. In consideration of the optimum diameter and other design factors for suppressing the reflection of the signal at, the selection may be made.
図6ないし図9は、本発明の実施形態2を示す断面工程図であって、先ず、図6(1)に示すように、両面可撓性配線基板の製造の際に、銅箔51(例えば厚さ100μm)/ニッケル箔52(例えば厚さ2μm)/銅箔53(例えば厚さ12μm)の3層構造を有する金属基材54を用意する。
6 to 9 are cross-sectional process
次いで図6(2)に示すように、導電性突起55を、銅箔53上に、選択的なエッチング手法で形成する。このときのエッチング液には、通常の銅のエッチング工程で用いられるエッチング液、たとえば塩化第二銅を含むエッチング液を用いて銅箔1の全体厚みの80〜90%程度をエッチングし、次にニッケルに対する腐食性が低く、銅を選択的にエッチングするエッチング液、たとえばアンモニアを含むアルカリ性のエッチング液を用い、銅箔1の残存部をエッチング除去してニッケル箔を露出し、続いて、銅に対する腐食性が低く、ニッケルを選択的にエッチングするエッチング液、たとえば過酸化水素や硝酸を含むエッチング液を用いて、露出しているニッケル箔2をエッチング除去することにより、図6(2)に示す構造とする。
Next, as shown in FIG. 6B,
続いて、図6(3)に示すように、Bステージ状態のプリプレグ56を、導電性突起が立設された面にプレス、ラミネーター等で貼り付ける。プリプレグ56の代わりに、両面に熱可塑性ポリイミドを有するポリイミドフィルム等の接着性を持った絶縁性の樹脂を適用することも可能である。
Subsequently, as shown in FIG. 6 (3), the
次に、図6(4)に示すように、導電性突起の頂部57をプリプレグ56から露出させるために、ロール研磨等の機械研磨・CMP等の化学研磨等を行う。
Next, as shown in FIG. 6 (4), in order to expose the
ここまでの工程で、導電性突起55がプリプレグ56を貫通した回路基材58を得る。
The
次いで、図6(5)に示すように、金属箔59に、導電性突起55がプリプレグ56を貫通した回路基材58を積層する。ここで、プリプレグ56が完全に熱硬化し、Cステージ状態となる。
Next, as shown in FIG. 6 (5), the
この後、図6(6)に示すように、積層した基材の銅箔に回路パターン60を形成し、ここまでの工程で多層配線基板のコア基板となるフィルドビア構造を有する両面コア基板61を得る。
Thereafter, as shown in FIG. 6 (6), the
この実施形態2のように、導電性突起による層間導通を有する両面コア基板の場合には、めっきを厚付けする必要がなく、コア基板の配線層厚みを薄くすることができるため、配線の微細化が可能である。さらに、この後のビルドアップ層との接着に用いる接着材については、厚みが薄いもので充填可能であるため、流れ出し量が少なくなることや、ビルドアップ層との層間接続距離が短くなるため、同じめっき厚の場合には、相対的に接続信頼性が向上する。 In the case of a double-sided core substrate having interlayer conduction by conductive protrusions as in the second embodiment, it is not necessary to thicken the plating, and the wiring layer thickness of the core substrate can be reduced. Is possible. Furthermore, since the adhesive used for bonding with the subsequent build-up layer can be filled with a thin thickness, the flow-out amount is reduced and the interlayer connection distance with the build-up layer is shortened. In the case of the same plating thickness, connection reliability is relatively improved.
フィルドビア構造は、エッチング加工により形成した金属製の導電性突起のみならず、めっき法による金属製の導電性突起、導電性ペースト・インキ等を印刷して形成した導電性突起、さらにはビアホールめっきの際に内壁へのめっき析出を多くしたビアフィルめっきにより製造された両面コア基板、これらを組み合わせたものも含めて適用可能である。加えて、コア基板がフィルドビア構造を有することで、後の工程でビルドアップした際に、フィルドビア上にスタックする構造をとることが可能で、高密度化に有利である。また、高速信号伝送時の接続部の反射を低減させる効果も期待できる。 Filled via structures are not only made of metal conductive protrusions formed by etching, but also metal conductive protrusions by plating, conductive protrusions formed by printing conductive paste / ink, and via hole plating. In particular, the present invention can be applied to a double-sided core substrate manufactured by via fill plating in which plating deposition on the inner wall is increased, and combinations thereof. In addition, since the core substrate has a filled via structure, it is possible to take a structure of stacking on the filled via when it is built up in a later process, which is advantageous for high density. Moreover, the effect of reducing the reflection of the connection part at the time of high-speed signal transmission can also be expected.
次いで、図7(7)に示すように、可撓性絶縁ベース材62(ここでは厚さ25μmのポリイミド)の両面に厚さ12μmの銅箔63を有する、所謂、片面銅張積層板64を用意する。可撓性絶縁ベース材62の材質や厚みは25μmのポリイミドに限定されるわけではなく、用途に応じ、使い分けることができる。
Next, as shown in FIG. 7 (7), a so-called single-sided copper clad
例えば、高速信号伝送時の誘電体損失を低減させる必要があるような適用例では、低誘電正接の液晶ポリマー等をベースとした両面銅張積層板を用いることができ、高屈曲の要求に対してはポリイミドの膜厚を12.5μm等の薄いものを選択することができる。 For example, in applications where it is necessary to reduce dielectric loss during high-speed signal transmission, a double-sided copper-clad laminate based on a low dielectric loss tangent liquid crystal polymer or the like can be used. For example, a thin polyimide film having a thickness of 12.5 μm or the like can be selected.
次に、図7(8)に示すように、片面銅張積層板64の銅箔63に内層回路パターンをフォトファブリケーション手法により形成するためのレジスト層65を、片面銅張積層板64の片面に形成する。銅箔63の厚みは5〜12μm程度が好ましく、この厚みの範囲であれば、狭ピッチCSP搭載に必要な内層ピッチ100μm以下の微細配線形成が可能であり、後のレーザ加工の際のレーザ遮光用マスクとしても機能する。
Next, as shown in FIG. 7 (8), a resist
さらに、この後のカバーレイの接着材については、厚みが薄いもので平坦性を確保した上で充填可能であるため、ビルドアップ層との層間接続距離が短くなり、同じめっき厚の場合には、相対的に接続信頼性が向上する。 Furthermore, since the coverlay adhesive after this is thin and can be filled after ensuring flatness, the interlayer connection distance with the buildup layer is shortened, and in the case of the same plating thickness Relatively improved connection reliability.
続いて、図7(9)に示すように、レジスト層65を用い、フォトファブリケーション手法により、導通用孔形成部位の開口を含む回路パターン66を形成し、さらにレジスト層を剥離する。必要に応じて、ビルドアップ接着材との密着を向上させるための粗化処理を行う。
Subsequently, as shown in FIG. 7 (9), using the resist
なお、導電性突起上にブラインドビアホールを形成すると、ビルドアップ後にレーザ等により形成される導通用孔の検査を容易にしたり、レーザの熱による影響を緩和したりするために、黒化処理や黒化還元処理よりは酸を用いたエッチングによる粗化が好ましい。ここまでの工程で、多層配線基板のビルドアップ層67を得る。
Note that if a blind via hole is formed on the conductive protrusion, blackening treatment or blackening is performed in order to facilitate inspection of a conduction hole formed by a laser or the like after build-up or to reduce the influence of laser heat. Roughening by etching using an acid is preferable to the chemical reduction treatment. Through the steps so far, the build-
この後、図7(10)に示すように、例えば12μm厚のポリイミドフィルム68上に厚さ15μmのアクリル・エポキシ等の接着材69を有する、所謂、カバーレイ70を用意する。
Thereafter, as shown in FIG. 7 (10), a so-called cover lay 70 having an adhesive 69 such as acrylic / epoxy having a thickness of 15 μm on a
続いて、同図(11)に示すように、多層配線基板のビルドアップ層67の内層側にカバーレイ70を、真空プレス、ラミネーター等で貼り付ける。ここまでの工程で、カバーレイ付きのビルドアップ層71を得る。なお、図7(7)〜(11)までの工程はロールトゥロール工法での実施が可能であり、それにより更なる生産性の向上が見込める。
Subsequently, as shown in FIG. 11 (11), a
次いで、図8(12)に示すように、次にカバーレイ付きのビルドアップ層71を両面コア基板61にビルドアップするための接着材72を予め型抜きし、位置合わせを行う。接着材72としては、ローフロータイプのプリプレグやボンディングシート等の流れ出しの少ないものが好ましい。接着材72の厚さは、充填性および平坦性を考慮しても、15〜20μmの薄いものが選択できる。
Next, as shown in FIG. 8 (12), an adhesive 72 for building up the build-
次に、図8(13)に示すように、接着材72を介し、カバーレイ付きのビルドアップ層71および両面コア基板61を真空プレス等で積層する。ここまでの工程で、多層回路基材73を得る。
Next, as shown in FIG. 8 (13), the
この後、図9(14)に示すように、導通用孔となる位置に対してレーザ加工を行い、3種類の導通用孔74,75,76を形成する。導通用孔75を形成する際には、予め作製した回路パターン66の導通用孔形成部位の開口をレーザ加工の際のレーザ遮光用マスクとしてレーザ加工を行う。レーザ加工法は、UV−YAGレーザ、炭酸レーザ、エキシマレーザ等を選択可能である。各導通用孔の径は、以下のように設定した。まず導通用孔74は、可撓性絶縁ベース材62に25μm厚のポリイミドを用いた場合、直径50μmでも製造可能で、信頼性を確保するための必要めっき厚が10μm程度であることから、ここでは直径50μmとした。
Thereafter, as shown in FIG. 9 (14), laser processing is performed on the position to be the conduction hole, and three kinds of conduction holes 74, 75, and 76 are formed. When the
導通用孔75,76は、集積度および層間接続信頼性の問題があるが、この実施形態2では、導体層6層のうち、2層目から5層目までは導体層厚みの増加に繋がる、めっきを行う必要がなく、導体層が薄くできるため、充填に必要な接着材69や接着材72の厚みを薄くでき、比較的薄いめっき厚でも信頼性を確保できる。 The conduction holes 75 and 76 have a problem of integration degree and interlayer connection reliability, but in the second embodiment, the second to fifth layers of the six conductor layers lead to an increase in the conductor layer thickness. Since the conductor layer can be made thin without performing plating, the thickness of the adhesive 69 and the adhesive 72 necessary for filling can be reduced, and reliability can be ensured even with a relatively thin plating thickness.
めっき厚15〜20μm程度で信頼性が確保できる穴径としては、導通用孔75では下穴径150μm、上穴径は下穴との位置合わせを考慮して下穴径に50μmを加えた200μmとし、導通用孔76では穴径150μmとした。このため、微細配線形成を可能としながら、集積度も向上し、各導通用孔とも狭ピッチに形成できる。
As for the hole diameter that can ensure reliability with a plating thickness of about 15 to 20 μm, the hole diameter for the
さらに、電解めっきによって層間接続をとるためのデスミア処理、導電化処理を行う。なお、レーザ加工には、上記のようにコンフォーマルマスクを用いた加工以外にも、銅箔および樹脂を直接レーザ光で貫通させるダイレクトレーザ法も適用可能である。さらに、上記コンフォーマルマスクを用いた加工とダイレクトレーザ法とを組み合わせてもよい。なお、ダイレクトレーザ法を用いる場合、銅箔の厚さは20μm以下であることが好ましい。 Furthermore, a desmear process and a conductive process are performed for interlayer connection by electrolytic plating. In addition to the processing using the conformal mask as described above, a direct laser method in which the copper foil and the resin are directly penetrated with laser light can be applied to the laser processing. Further, the processing using the conformal mask and the direct laser method may be combined. In addition, when using a direct laser method, it is preferable that the thickness of copper foil is 20 micrometers or less.
続いて、図9(15)に示すように、導通用孔74,75,76を有する多層回路基材73に15〜20μm程度の電解めっきを行い、層間導通をとる。ここまでの工程、すなわち1回のレーザ加工およびめっき工程で導通用孔74により得られたビア77、導通用孔75により得られたステップビア78、導通用孔76により得られたスキップビア79を形成可能で、外層から内層までの全ての層間導通をとることが可能である。
Subsequently, as shown in FIG. 9 (15), the
また、挿し部品等の実装用の貫通穴が必要な場合には、導通用孔形成の際にNCドリル等で貫通孔を形成し、上記ビアホールめっきの際にスルーホールを同時に形成することも可能である。 In addition, when a through-hole for mounting an insertion part or the like is required, it is possible to form a through-hole with an NC drill or the like when forming a hole for conduction and simultaneously form a through-hole when performing the via hole plating. It is.
導電化処理後に、ドライフィルムレジスト等のめっきレジスト層を通常のフォトファブリケーション手法により形成し、ビアホールおよび外層パターンをめっきにより形成し、導電化処理皮膜を除去する、所謂、セミアディティブ手法により層間導通を得るとともに、回路パターン80が微細に形成できるため、実施形態1に比べ、よりグリッド数の多い、狭ピッチCSP搭載が可能である。
After conducting the conductive treatment, a plating resist layer such as a dry film resist is formed by a normal photofabrication method, via holes and outer layer patterns are formed by plating, and the conductive treatment film is removed. In addition, since the
なお、外層パターンを形成する手法としては、前述のビアホールめっきをパネルめっきで行い、その後、通常のフォトファブリケーション手法により形成することも可能である。この際、ビルドアップ層71の内層側に位置するカバーフィルム68上に析出しためっき層があれば、これも除去される。
In addition, as a method for forming the outer layer pattern, the above-described via hole plating may be performed by panel plating, and then formed by a normal photofabrication method. At this time, if there is a plating layer deposited on the
この後、必要に応じて基板表面に半田めっき、ニッケルめっき、金めっき等の表面処理を施し、フォトソルダーレジスト層の形成、ケーブルの外層側へのシールド層を銀ペースト、フィルム等を用いて形成し、外形加工を行うことにより外層側にケーブル部81を有する多層配線基板82を得る。
Then, if necessary, surface treatment such as solder plating, nickel plating, gold plating, etc. is performed on the substrate surface, forming a photo solder resist layer, and forming a shield layer on the outer layer side of the cable using silver paste, film, etc. And the
この実施形態2によるケーブル部を有する多層配線基板は、ケーブルがめっき層のない準外層(第2層)に配置されているため、ビアを狭ピッチで配置でき、微細配線形成が可能であることから、狭ピッチCSPを搭載可能なケーブル部を有する多層配線基板を安価かつ安定的に製造することができる。また、CSP実装ランドに貫通孔がなく、CSP実装可能な平坦性も十分確保している。 In the multilayer wiring board having the cable portion according to the second embodiment, since the cable is arranged in the quasi-outer layer (second layer) having no plating layer, vias can be arranged at a narrow pitch and fine wiring can be formed. Therefore, a multilayer wiring board having a cable portion on which a narrow pitch CSP can be mounted can be manufactured inexpensively and stably. In addition, the CSP mounting land has no through hole, and sufficiently flat enough to be CSP mounted.
さらに、上述のようにCSPからケーブルへの配線の引き回しの大部分は第1層と準外層(第2層)で賄うことが可能であるため、第3層、第4層は電源、グラウンド層となる。本発明では導電性突起により第3層、第4層を接続するが、この導電性突起の径を任意に変更することが容易で、例えば電源に対しては電流容量を確保するため、および特性インピーダンスの整合、接続部での信号の反射抑制に最適な径をその他の設計要素を考慮した上で選択可能である。 Further, as described above, since most of the wiring from the CSP to the cable can be covered by the first layer and the quasi-outer layer (second layer), the third layer and the fourth layer are the power supply and ground layers. It becomes. In the present invention, the third layer and the fourth layer are connected by the conductive protrusion. However, it is easy to arbitrarily change the diameter of the conductive protrusion, and for example, to secure a current capacity for the power source, and characteristics The optimum diameter for impedance matching and suppression of signal reflection at the connection can be selected in consideration of other design factors.
1 銅箔
2 ニッケル箔
3 銅箔
4 金属基材
5 導電性突起
6 プリプレグ
7 導電性突起の頂部
8 導電性突起がプリプレグを貫通した回路基材
9 金属箔
10 回路パターン
11 両面コア基板
12 可撓性絶縁ベース材
13 銅箔
14 銅箔
15 両面銅張積層板
16 レジスト層
17 コンフォーマルマスク
18 導通用孔形成部位の開口を含む内層回路
19 ビルドアップ層
20 ポリイミドフィルム
21 接着材
22 カバーレイ
23 カバーレイ付きビルドアップ層
24 接着材
25 積層回路基材
26 導通用孔1
27 導通用孔2
28 導通用孔3
29 ヴィアホール
30 ステップヴィアホール
31 スキップヴィアホール
32 積層回路基材
33 外層回路パターン
34 準外層ケーブル
35 本発明によるケーブル部を有する多層配線基板
51 銅箔
52 ニッケル箔
53 銅箔
54 金属基材
55 導電性突起
56 プリプレグ
57 導電性突起の頂部
58 導電性突起がプリプレグを貫通した回路基材
59 金属箔
60 回路パターン
61 両面コア基板
62 可撓性絶縁ベース材
63 銅箔
64 片面銅張積層板
65 レジスト層
66 導通用孔形成部位の開口を含む内層回路
67 ビルドアップ層
68 ポリイミドフィルム
69 接着材
70 カバーレイ
71 カバーレイ付きビルドアップ層
72 接着材
73 積層回路基材
74 導通用孔1
75 導通用孔2
76 導通用孔3
77 ヴィアホール
78 ステップヴィアホール
79 スキップヴィアホール
80 外層回路パターン
81 準外層ケーブル
82 本発明によるケーブル部を有する多層配線基板
131 可撓性絶縁ベース材
132 銅箔層
133 銅箔層
134 両面銅張積層板
135 回路パターン
136 内層回路
137 ポリイミドフィルム
138 接着剤
139 カバー
140 ケーブル部
141 可撓性絶縁ベース材
142 銅箔層
143 片面銅張積層板
144 接着剤
145 型抜きされた片面銅張積層板
146 導通用孔
147 スルーホール
148 回路パターン
149 内層コア基板
150 接着性絶縁樹脂
151 導電層
152 片面銅張り積層板
153 打ち抜き加工された片面銅張り積層板
154 導通用孔
155 ビアホール
156 回路パターン
157 従来工法によるケーブル部を有する多層配線基板
DESCRIPTION OF
27
28
29 via
75
76
77 via
Claims (3)
a) 内層コア基板を製造する工程、
b) 可撓性を有する両面型銅張積層板における外層側の導通用孔形成部位に銅箔の開口を、また前記両面型銅張積層板の内層側に導通用孔形成部位の開口を含む回路パターンを形成する工程、
c) 前記回路パターン上にカバーレイを形成して外層ビルドアップ層とする工程、
d) 前記カバーレイを形成した側を前記内層コア基板の側へ向けて、前記外層ビルドアップ層を前記内層コア基板に接着材を介して積層し、積層回路基材を形成する工程、
e) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けて前記銅箔の開口を介してレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
f) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けて前記銅箔の開口および前記回路パターンにおける前記導通用孔形成部位の開口をレーザ遮光用のマスクとしてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
g) 前記導通用孔に対し導電化処理を行い電解めっきを施してビアホールを形成する工程、
をそなえたことを特徴とする、少なくとも一方の準外層にケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板の製造方法。 In the method for producing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one quasi-outer layer,
a) manufacturing the inner core substrate,
b) The opening of the copper foil is included in the hole-forming portion on the outer layer side of the flexible double-sided copper-clad laminate, and the opening of the hole-forming portion is provided on the inner layer side of the double-sided copper-clad laminate. Forming a circuit pattern;
c) forming a coverlay on the circuit pattern to form an outer buildup layer;
d) A step of forming a laminated circuit substrate by laminating the outer layer buildup layer on the inner layer core substrate with an adhesive facing the side on which the coverlay is formed toward the inner layer core substrate side,
e) Step of forming a hole for conduction by performing laser processing through the opening of the copper foil toward the hole formation portion for conduction on the outer layer side with respect to the laminated circuit substrate,
f) Laser processing with respect to the laminated circuit substrate using the opening of the copper foil and the opening of the hole for conduction in the circuit pattern as a mask for laser shielding toward the hole formation portion for conduction on the outer layer side. A step of forming a hole for conduction,
g) Conducting the conductive hole and performing electroplating to form a via hole;
A method for manufacturing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one of the quasi-outer layers.
a) 内層コア基板を製造する工程、
b) 可撓性を有する片面型銅張積層板の銅箔層に導通用孔形成部位の開口を含む回路パターンを形成する工程、
c) 前記回路パターン上にカバーレイを形成して外層ビルドアップ層とする工程、
d) 前記カバーレイを形成した側を前記内層コア基板の側へ向けて、前記外層ビルドアップ層を前記内層コア基板に接着材を介して積層し、積層回路基材を形成する工程、
e) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位に向けてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
f) 前記積層回路基材に対し、前記外層側の導通用孔形成部位および前記回路パターンにおける前記導通用孔形成部位の開口をレーザ遮光用のマスクとしてレーザ加工を行い、導通用孔を形成する工程、
g) 前記導通用孔に対し導電化処理を行い、電解めっきを施してビアホールを形成する工程、
をそなえたことを特徴とする、少なくとも一方の準外層にケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板の製造方法。 In the method for producing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one quasi-outer layer,
a) manufacturing the inner core substrate,
b) a step of forming a circuit pattern including an opening of a hole forming portion for conduction in a copper foil layer of a single-sided copper clad laminate having flexibility;
c) forming a coverlay on the circuit pattern to form an outer buildup layer;
d) A step of forming a laminated circuit substrate by laminating the outer layer buildup layer on the inner layer core substrate with an adhesive facing the side on which the coverlay is formed toward the inner layer core substrate side,
e) A step of performing laser processing on the laminated circuit base material toward the hole forming portion on the outer layer side to form a hole for conduction;
f) Laser processing is performed on the laminated circuit base material using the opening for the conduction hole on the outer layer side and the opening for the conduction hole in the circuit pattern as a mask for shielding the laser to form a conduction hole. Process,
g) Conducting the conductive hole, forming a via hole by electrolytic plating,
A method for manufacturing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one of the quasi-outer layers.
前記内層コア基板は、フィルドビア構造による層間接続を有する両面配線基板であることを特徴とする、少なくとも一方の準外層にケーブル部を有する多層フレキシブル配線基板の製造方法。 In the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board which has a cable part in at least one quasi-outer layer of Claim 1 or 2,
The method for manufacturing a multilayer flexible wiring board having a cable portion in at least one quasi-outer layer, wherein the inner layer core board is a double-sided wiring board having an interlayer connection with a filled via structure.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005318532A JP4527045B2 (en) | 2005-11-01 | 2005-11-01 | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion |
| TW095139214A TW200740335A (en) | 2005-11-01 | 2006-10-24 | Manufacturing method of multilayer wiring board having cable section |
| KR1020060106337A KR101201940B1 (en) | 2005-11-01 | 2006-10-31 | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable part |
| CN2006101718310A CN1972571B (en) | 2005-11-01 | 2006-11-01 | Method for manufacturing multilayer wiring substrate with cable |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005318532A JP4527045B2 (en) | 2005-11-01 | 2005-11-01 | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010093234A Division JP5000742B2 (en) | 2010-04-14 | 2010-04-14 | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007128970A true JP2007128970A (en) | 2007-05-24 |
| JP4527045B2 JP4527045B2 (en) | 2010-08-18 |
Family
ID=38113079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005318532A Expired - Lifetime JP4527045B2 (en) | 2005-11-01 | 2005-11-01 | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4527045B2 (en) |
| KR (1) | KR101201940B1 (en) |
| CN (1) | CN1972571B (en) |
| TW (1) | TW200740335A (en) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010016339A (en) * | 2008-06-03 | 2010-01-21 | Nippon Mektron Ltd | Module using multilayer flexible printed circuit board and method of manufacturing the same |
| JP2010278067A (en) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Nippon Mektron Ltd | Method of manufacturing multilayer flexible printed circuit board, and multilayer circuit base material |
| WO2011129127A1 (en) * | 2010-04-15 | 2011-10-20 | 日本メクトロン株式会社 | Multi-layer flexible printed circuit board and method of manufacturing thereof |
| WO2012014339A1 (en) | 2010-07-26 | 2012-02-02 | 日本メクトロン株式会社 | Flexible printed circuit board and method of manufacturing thereof |
| JP2012222078A (en) * | 2011-04-06 | 2012-11-12 | Nippon Mektron Ltd | Multilayer printed board and manufacturing method thereof |
| WO2013005451A1 (en) * | 2011-07-06 | 2013-01-10 | 株式会社 豊田自動織機 | Multi-layer wiring board and method for producing multi-layer wiring board |
| US9293929B2 (en) | 2013-01-08 | 2016-03-22 | Lg Electronics Inc. | Wireless power transmitter |
| CN106385761A (en) * | 2016-11-29 | 2017-02-08 | 珠海杰赛科技有限公司 | Manufacture method for multilayer flexible circuit board and multilayer flexible circuit board |
| KR20210031304A (en) * | 2019-09-11 | 2021-03-19 | 삼성전기주식회사 | Printed circuit board and antenna module comprising the same |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5080234B2 (en) * | 2007-12-19 | 2012-11-21 | 新光電気工業株式会社 | Wiring board and manufacturing method thereof |
| JP5198105B2 (en) * | 2008-03-25 | 2013-05-15 | 日本メクトロン株式会社 | Manufacturing method of multilayer flexible printed wiring board |
| JP5259240B2 (en) * | 2008-04-21 | 2013-08-07 | 日本メクトロン株式会社 | Multilayer flexible printed wiring board and manufacturing method thereof |
| CN102083272B (en) * | 2009-11-30 | 2012-07-04 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | Circuit board with grounding structure |
| JP5450272B2 (en) | 2010-06-10 | 2014-03-26 | 日本メクトロン株式会社 | LASER PROCESSING METHOD AND MULTILAYER FLEXIBLE PRINTED WIRING BOARD MANUFACTURING METHOD USING THE LASER PROCESSING METHOD |
| CN106793585A (en) * | 2016-12-06 | 2017-05-31 | 深圳市景旺电子股份有限公司 | A kind of high density interconnection semi-flexible printed circuit board and preparation method thereof |
| TWI804017B (en) * | 2021-10-25 | 2023-06-01 | 健鼎科技股份有限公司 | Method for manufacturing circuit board |
| CN114497016A (en) * | 2021-12-31 | 2022-05-13 | 青岛歌尔微电子研究院有限公司 | Preprocessing method and preprocessing structure before system-level chip test |
| EP4319499A1 (en) * | 2022-08-03 | 2024-02-07 | Tripod (Wuxi) Electronic Co., Ltd. | Semi-flex printed circuit board with cover-opening opening |
| CN117560856A (en) | 2022-08-03 | 2024-02-13 | 健鼎(无锡)电子有限公司 | Method for manufacturing semi-bending printed circuit board |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01124290A (en) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Sharp Corp | Manufacture of composite board |
| JPH06334284A (en) * | 1993-05-20 | 1994-12-02 | Toshiba Corp | Printed wiring board |
| JPH09172261A (en) * | 1995-12-20 | 1997-06-30 | Nippon Avionics Co Ltd | Method for manufacturing multilayer printed wiring board |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1494120A (en) * | 2002-10-28 | 2004-05-05 | 华泰电子股份有限公司 | Metal electroplating method for integrated circuit packaging substrate |
| JP2005166764A (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-23 | Toshiba Corp | Multilayer printed wiring board and method for producing multilayer printed wiring board |
-
2005
- 2005-11-01 JP JP2005318532A patent/JP4527045B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-10-24 TW TW095139214A patent/TW200740335A/en unknown
- 2006-10-31 KR KR1020060106337A patent/KR101201940B1/en active Active
- 2006-11-01 CN CN2006101718310A patent/CN1972571B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01124290A (en) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Sharp Corp | Manufacture of composite board |
| JPH06334284A (en) * | 1993-05-20 | 1994-12-02 | Toshiba Corp | Printed wiring board |
| JPH09172261A (en) * | 1995-12-20 | 1997-06-30 | Nippon Avionics Co Ltd | Method for manufacturing multilayer printed wiring board |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010016339A (en) * | 2008-06-03 | 2010-01-21 | Nippon Mektron Ltd | Module using multilayer flexible printed circuit board and method of manufacturing the same |
| JP2010278067A (en) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Nippon Mektron Ltd | Method of manufacturing multilayer flexible printed circuit board, and multilayer circuit base material |
| WO2011129127A1 (en) * | 2010-04-15 | 2011-10-20 | 日本メクトロン株式会社 | Multi-layer flexible printed circuit board and method of manufacturing thereof |
| JP2011228348A (en) * | 2010-04-15 | 2011-11-10 | Nippon Mektron Ltd | Multilayer flexible printed wiring board and manufacturing method thereof |
| US9185802B2 (en) | 2010-07-26 | 2015-11-10 | Nippon Mektron, Ltd. | Flexible printed circuit board with component mounting section for mounting electronic component and flexible cables extending in different directions from the component mounting section, and method of manufacturing the same |
| WO2012014339A1 (en) | 2010-07-26 | 2012-02-02 | 日本メクトロン株式会社 | Flexible printed circuit board and method of manufacturing thereof |
| EP3013128A1 (en) | 2010-07-26 | 2016-04-27 | Nippon Mektron Ltd. | Flexible printed circuit board and method of manufacturing the same |
| US9655239B2 (en) | 2010-07-26 | 2017-05-16 | Nippon Mektron, Ltd. | Flexible printed circuit board with component mounting section for mounting electronic component and flexible cable sections extending in different directions from the component mounting section |
| US10383224B2 (en) | 2010-07-26 | 2019-08-13 | Nippon Mektron, Ltd. | Method of manufacturing flexible printed circuit board with component mounting section for mounting electronic component and flexible cable sections extending in different directions from the component mounting section |
| JP2012222078A (en) * | 2011-04-06 | 2012-11-12 | Nippon Mektron Ltd | Multilayer printed board and manufacturing method thereof |
| WO2013005451A1 (en) * | 2011-07-06 | 2013-01-10 | 株式会社 豊田自動織機 | Multi-layer wiring board and method for producing multi-layer wiring board |
| JP5672381B2 (en) * | 2011-07-06 | 2015-02-18 | 株式会社豊田自動織機 | Multilayer wiring board |
| US9293929B2 (en) | 2013-01-08 | 2016-03-22 | Lg Electronics Inc. | Wireless power transmitter |
| CN106385761A (en) * | 2016-11-29 | 2017-02-08 | 珠海杰赛科技有限公司 | Manufacture method for multilayer flexible circuit board and multilayer flexible circuit board |
| KR20210031304A (en) * | 2019-09-11 | 2021-03-19 | 삼성전기주식회사 | Printed circuit board and antenna module comprising the same |
| KR102268389B1 (en) * | 2019-09-11 | 2021-06-23 | 삼성전기주식회사 | Printed circuit board and antenna module comprising the same |
| US11490512B2 (en) | 2019-09-11 | 2022-11-01 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Printed circuit board and antenna module comprising the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200740335A (en) | 2007-10-16 |
| KR20070047219A (en) | 2007-05-04 |
| TWI365694B (en) | 2012-06-01 |
| KR101201940B1 (en) | 2012-11-16 |
| CN1972571B (en) | 2010-05-19 |
| JP4527045B2 (en) | 2010-08-18 |
| CN1972571A (en) | 2007-05-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4527045B2 (en) | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion | |
| US8586875B2 (en) | Wiring board and method for manufacturing the same | |
| JP5198105B2 (en) | Manufacturing method of multilayer flexible printed wiring board | |
| JP5313202B2 (en) | Build-up type multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof | |
| JP2003209366A (en) | Flexible multilayer wiring board and method of manufacturing the same | |
| JPWO2004103039A1 (en) | Double-sided wiring board and method for manufacturing double-sided wiring board | |
| JP5259240B2 (en) | Multilayer flexible printed wiring board and manufacturing method thereof | |
| WO2008004382A1 (en) | Method for manufacturing multilayer printed wiring board | |
| TWI459879B (en) | Method for manufacturing multilayer flexible printed wiring board | |
| JP2005236067A (en) | Wiring board, method of manufacturing wiring board, and semiconductor package | |
| WO2007116622A1 (en) | Multilayer circuit board having cable portion and method for manufacturing same | |
| KR20100095742A (en) | Manufacturing method for embedded pcb, and embedded pcb structure using the same | |
| JP2008186851A (en) | Multilayer flexible printed wiring board and manufacturing method thereof | |
| JP5000742B2 (en) | Method for manufacturing multilayer wiring board having cable portion | |
| JP4813204B2 (en) | Multilayer circuit board manufacturing method | |
| JP4347143B2 (en) | Circuit board and manufacturing method thereof | |
| JP4485975B2 (en) | Manufacturing method of multilayer flexible circuit wiring board | |
| JP4554381B2 (en) | Manufacturing method of build-up type multilayer circuit board | |
| JP2004111578A (en) | Method of manufacturing build-up type wiring board with heat spreader and build-up type wiring board with heat spreader | |
| JP4926676B2 (en) | Manufacturing method of multilayer printed wiring board | |
| JP4397793B2 (en) | Circuit board and manufacturing method thereof | |
| JP4302045B2 (en) | Multilayer flexible circuit wiring board and manufacturing method thereof | |
| CN115968136A (en) | Wiring substrate and method for manufacturing wiring substrate | |
| JP2005244069A (en) | Manufacturing method of multilayer wiring board | |
| JP2003347365A (en) | Film carrier and its manufacturing method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070815 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100226 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100305 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100414 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100507 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100602 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4527045 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |