JP2007048999A - Rigid-flex multilayer board or multilayer flexible wiring board manufacturing method and rigid-flex multilayer board or multilayer flexible wiring board - Google Patents
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Abstract
【課題】 リジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造に適したレーザ加工条件を見出し、良好な形状で信頼性に優れるビアホールの形成を可能にする。
【解決手段】 層間接続に用いられるビアホール32を作製する際のレーザ加工条件が、パルスエネルギー1〜20mJ、パルス幅が1〜30μs、ショット数が1〜10回の条件であることを特徴とするリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造方法を提供する。本発明では、複数の銅張積層板10、20を積層して多層板30を形成し、該多層板30の状態でレーザ加工してビアホール32用の開口23を形成することが好ましい。
【選択図】 図1PROBLEM TO BE SOLVED: To find a laser processing condition suitable for manufacturing a rigid flex multilayer substrate or a multilayer flexible wiring board, and to form a via hole having a good shape and excellent reliability.
Laser processing conditions for producing a via hole 32 used for interlayer connection are a pulse energy of 1 to 20 mJ, a pulse width of 1 to 30 μs, and a shot number of 1 to 10 times. Provided is a method for producing a rigid-flex multilayer board or multilayer flexible wiring board. In the present invention, it is preferable to form a multilayer board 30 by laminating a plurality of copper-clad laminates 10 and 20, and to form an opening 23 for a via hole 32 by laser processing in the state of the multilayer board 30.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、リジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造方法及びリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板に関する。 The present invention relates to a manufacturing method of a rigid flex multilayer board or a multilayer flexible wiring board, and a rigid flex multilayer board or a multilayer flexible wiring board.
従来、電気機器や電子機器の内部で用いられる回路基板としては、2層以上の回路を有する多層プリント配線板が広く用いられている。多層プリント配線板としては、リジッド配線板(RPC)のみで構成されている多層リジッド配線板(多層RPC)、フレキシブル配線板(FPC)とリジッド配線板(RPC)が複合されたリジッドフレックス多層基板(R−F配線板)がよく知られている。多層リジッド配線板は、パーソナルコンピュータのマザーボード等の電子機器に採用されている。リジッドフレックス多層基板は、デジタルカメラなどの電子機器に採用されている。さらに、近年では電気機器・電子機器の軽量化・薄型化の観点から、すべてをFPCのみで構成した多層フレキシブル配線板(多層FPC)の採用も進んでいる。 Conventionally, multilayer printed wiring boards having two or more layers of circuits have been widely used as circuit boards used inside electrical and electronic devices. The multilayer printed wiring board includes a rigid rigid wiring board (multilayer RPC) composed only of a rigid wiring board (RPC), and a rigid flex multilayer board in which a flexible wiring board (FPC) and a rigid wiring board (RPC) are combined. R-F wiring board) is well known. Multilayer rigid wiring boards are used in electronic devices such as personal computer motherboards. Rigid flex multilayer substrates are used in electronic devices such as digital cameras. Furthermore, in recent years, from the viewpoint of reducing the weight and thickness of electrical and electronic devices, the adoption of multilayer flexible wiring boards (multilayer FPC), which is composed entirely of FPCs, is also progressing.
一般的な多層プリント配線板の製造方法の一例として、4層の回路を有する多層FPCの製造方法を図5に示す。なお、図5は、内層FPC10の銅箔12及び片面銅張積層板20を片側(上側の回路2層)のみ図示し、もう片側(下側の回路2層)の図示を簡略さのため省略している。
(1)絶縁性基材21の片面に銅箔22を有する片面銅張積層板20(図5(a)参照)にビアホール形成用開口23を形成する(図5(b)参照)。
(2)図5(c)に示すように、開口23を形成した片面銅張積層板20と内層FPC10とを接着材31で積層する。内層FPC10は、絶縁性基材21の両面の銅箔12(片面のみ図示した。)に回路が積層前に形成されたものである。
(3)図5(d)に示すように、電解銅めっき等によりビアホール形成用開口23に導電体33を充填し、層間の導通を取るためのビアホール32を形成する。
(4)片面銅張積層板20の銅箔22に形成した回路の保護等のため、表層レジスト(図示略)を形成する。
FIG. 5 shows a method for manufacturing a multilayer FPC having a four-layer circuit as an example of a method for manufacturing a general multilayer printed wiring board. FIG. 5 shows the
(1) A via
(2) As shown in FIG. 5 (c), the single-sided
(3) As shown in FIG. 5D, the via
(4) A surface resist (not shown) is formed to protect the circuit formed on the
また、特許文献1では、絶縁性基材としてプリプレグを用いたプリント配線板に対して最適なレーザ加工条件が提案されている。
ビアホール形成用の開口は、一般に、炭酸ガスレーザを用いたレーザ加工によって形成されている。しかしながら、やみくもにレーザを照射すればよいものではなく、最適なレーザ加工条件にて実施するのは自明である。最適領域から外れた場合には、以下のような現象が発生する。
(1)レーザによる金属層の損傷
(2)ビアホール内壁面での接着材層や絶縁性基材の凹凸、及びめっき不良
(3)ビアホール内へのめっきの異常析出
(4)炭化物の残留
The opening for forming a via hole is generally formed by laser processing using a carbon dioxide laser. However, it is not necessary to irradiate the laser indiscriminately, and it is obvious to carry out under the optimum laser processing conditions. When deviating from the optimum region, the following phenomenon occurs.
(1) Damage to the metal layer due to laser (2) Adhesive layer on the inner wall surface of the via hole, unevenness of the insulating substrate, and plating failure (3) Abnormal deposition of plating in the via hole (4) Residual carbide
上記のような現象が発生すると、プリント配線板を製造する上での歩留まりが低下してしまうし、工業製品としての信頼性が損なわれる。ひいてはプリント配線板が用いられる電気機器や電子機器で導通不良などが発生し、電気的信頼性が著しく低下するおそれがある。 When such a phenomenon occurs, the yield in manufacturing a printed wiring board is lowered, and the reliability as an industrial product is impaired. As a result, a continuity failure or the like may occur in an electric device or an electronic device in which a printed wiring board is used, and the electrical reliability may be significantly reduced.
特許文献1に記載された提案は、絶縁性基材としてプリプレグを用いた場合に限られており、ポリイミドを用いた場合には適当ではない。すなわち、特許文献1は多層RPCに関してのみの提案であり、FPCとRPCとを複合したR−F配線板や、FPCのみで構成されている多層FPCには適用できない。それはレーザを照射する対象物が異なっているので、レーザ加工条件の最適領域も異なっているためである。
The proposal described in
また、特許文献1に記載された方法は、片面回路基板にビアホールを形成し、それとコア層を積層し、多層プリント配線板とする製造方法である。しかしながら、このような方法では、図6に示すように積層してレーザ加工でビアホール形成用開口23を形成したときに位置ずれが発生するおそれがある。開口23の底部に内層FPC10の回路12が存在しない部分24にはめっき33が付かず、図7に示すように導通不良となる問題がある。このため、位置ずれを考慮した設計を行う必要があり、ランド径を大きくする必要があることから、回路のファイン化には適さないという問題がある。
Moreover, the method described in
さらに特許文献1は片面プリント配線板でのレーザ加工条件を明示しているのみであり、多層基板の状態でのレーザ加工条件を明示していない。
Further,
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、リジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造に適したレーザ加工条件を見出し、良好な形状でかつ電気的信頼性に優れるビアホールを形成することが可能なリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造方法及びリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, finds a laser processing condition suitable for manufacturing a rigid-flex multilayer board or a multilayer flexible wiring board, and forms a via hole having a good shape and excellent electrical reliability. It is an object of the present invention to provide a method for producing a rigid flex multilayer substrate or a multilayer flexible wiring board, and a rigid flex multilayer substrate or a multilayer flexible wiring board.
前記課題を解決するため、本発明は、層間接続に用いられるビアホールを作製する際のレーザ加工条件が、パルスエネルギーが1〜20mJ、パルス幅が1〜30μs、ショット数が1〜10回の条件であることを特徴とするリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板の製造方法を提供する。
本発明では、複数の銅張積層板を積層して多層板を形成し、該多層板の状態でビアホールのレーザ加工を行うことが好ましい。
前記レーザ加工に用いるレーザとしては炭酸ガスレーザが好ましい。
前記ビアホールが形成される絶縁性基材としては、厚さが5〜50μmのポリイミド複合材料から形成されたものを用いることが好ましい。
銅張積層板の銅箔の厚さとしては、3〜50μmであることが好ましい。
ビアホールの穴径としては、5〜300μmであることが好ましい。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a laser processing condition for producing a via hole used for interlayer connection, wherein the pulse energy is 1 to 20 mJ, the pulse width is 1 to 30 μs, and the number of shots is 1 to 10 times. A method for producing a rigid-flex multilayer board or multilayer flexible wiring board is provided.
In the present invention, it is preferable to laminate a plurality of copper-clad laminates to form a multilayer board, and perform laser processing of the via hole in the state of the multilayer board.
As the laser used for the laser processing, a carbon dioxide laser is preferable.
As the insulating substrate on which the via hole is formed, it is preferable to use a substrate formed from a polyimide composite material having a thickness of 5 to 50 μm.
The thickness of the copper foil of the copper clad laminate is preferably 3 to 50 μm.
The diameter of the via hole is preferably 5 to 300 μm.
また本発明は、パルスエネルギーが1〜20mJ、パルス幅が1〜30μs、ショット数が1〜10回のレーザ加工条件で形成されたビアホールが層間接続に用いられていることを特徴とするリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板を提供する。
前記ビアホールを有する絶縁性基材は、厚さが5〜50μmのポリイミド複合材料から形成されていることが好ましい。
銅張積層板の銅箔の厚さは3〜50μmであることが好ましい。
ビアホールの穴径は5〜300μmであることが好ましい。
According to the present invention, a rigid flex is characterized in that a via hole formed under laser processing conditions with a pulse energy of 1 to 20 mJ, a pulse width of 1 to 30 μs, and a shot number of 1 to 10 is used for interlayer connection. A multilayer substrate or a multilayer flexible wiring board is provided.
The insulating base material having the via hole is preferably formed from a polyimide composite material having a thickness of 5 to 50 μm.
The thickness of the copper foil of the copper clad laminate is preferably 3 to 50 μm.
The hole diameter of the via hole is preferably 5 to 300 μm.
本発明によれば、ビアホール形成用の開口を形成するためのレーザ加工条件がリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板向けに最適化されており、良好な形状でかつ電気的信頼性に優れるビアホールを形成することが可能である。
複数の銅張積層板を積層して多層板を形成し、該多層板の状態でビアホールのレーザ加工を行う場合、積層による位置ずれがないことから、高密度化が可能である。また多層板の状態でIVHを形成することができる。
According to the present invention, a laser processing condition for forming an opening for forming a via hole is optimized for a rigid flex multilayer substrate or a multilayer flexible wiring board, and a via hole having a good shape and excellent electrical reliability is obtained. It is possible to form.
When a multilayer board is formed by laminating a plurality of copper-clad laminates and laser processing of via holes is performed in the state of the multilayer board, since there is no positional shift due to the lamination, the density can be increased. Moreover, IVH can be formed in the state of a multilayer board.
以下、最良の形態に基づき、図面を参照して本発明を説明する。図1は、本発明を用いて多層プリント配線板にビアホールを形成する方法の一例を説明する断面工程図である。
本形態例の多層プリント配線板の製造方法では、まず図1(a)に示すように、複数の銅張積層板10、20を積層して多層板30を形成する。ここで、レーザ加工の際に内側に位置する銅張積層板10(以下、区別のため「第1の銅張積層板10」と呼ぶことにする。)は、絶縁性基材11の片面または両面に銅箔12が積層されたものである(図1では片面のみ銅箔12を示す)。また、レーザ加工の際に外側に位置する銅張積層板20(以下、区別のため「第2の銅張積層板20」と呼ぶことにする。)は、絶縁性基材21の片面に銅箔22が積層された片面銅張積層板である。
The present invention will be described below with reference to the drawings based on the best mode. FIG. 1 is a sectional process diagram for explaining an example of a method for forming a via hole in a multilayer printed wiring board using the present invention.
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to this embodiment, first, as shown in FIG. 1A, a plurality of copper-
第1の銅張積層板10の銅箔12には積層に先立って回路形成する。第1の銅張積層板10が両面銅張積層板である場合には、両面の回路間の導通をとるため、めっきスルーホール等を形成する。第1の銅張積層板10の銅箔12と第2の銅張積層板20との間には、両者を接着するための接着材層31が積層されている。接着材層31は、一般的に使用されるエポキシ系、アクリル系などの接着材が適用可能であることは言うまでもないが、本発明では特に限定されるものではない。
Prior to lamination, a circuit is formed on the
銅張積層板10、20の絶縁性基材11、21としては、ポリイミド、ポリイミド複合材料が用いられる。絶縁性基材11、21の厚さは、5〜50μmくらいの範囲であれば特に制限されるものではない。銅箔12、22の厚さは、一般的に使用される3〜50μmくらいの範囲であれば特に制限されるものではない。炭酸ガスレーザを用いることにより、レーザ加工時に第1の銅張積層板10の銅箔12が貫通することも生じない。
As the
銅張積層板10、20の積層後、図1(b)に示すように、第2の銅張積層板20の銅箔22には、レーザ加工に先立って、ビアホール32が形成される位置に開口22aを形成する。開口22aの位置は、ビアホール32内に形成されるめっき層33が第1の銅張積層板10の銅箔12と良好に接続できるように、該銅箔12の導体パターン上の所定の位置に対して位置合わせされる。層間の位置合わせは、不図示の位置合わせ穴や位置合わせ用マークなどを基準にして行うことができる。
After the lamination of the copper clad
多層板30の状態でビアホール32の形成を行うには、図1(c)に示すように、開口22aから露出された第2の銅張積層板20の絶縁性基材21と、その下側に位置する接着材層31とをレーザ照射により穴あけ加工してビアホール形成用開口23を形成し、炭化物等のスミヤを除去(デスミヤ)した後、図1(d)に示すように、ビアホール形成用開口23にめっきなどにより導電体(めっき層)33を充填する。めっき層33は、銅などの電解又は無電解のめっき等により形成することができる。第2の銅張積層板20に回路とビアホールを形成した後、回路の保護等のため、カバーレイ(CL)や表層レジスト(図示略)を積層することが好ましい。また、防錆処理などの保護処理を行ってもよい。
In order to form the via
ビアホール32の開口23が形成される第2の銅張積層板20の絶縁性基材21は、厚さ5〜50μmのポリイミド複合材料から形成されたものが好ましい。その理由は、絶縁性基材21の厚さが5μm未満では強度が低下してハンドリングが難しく、逆に50μmを超えると、微細なビアホールの形成及び導電性物質の充填が難しくなるためである。ビアホール32の開口23の直径(穴径)は、炭酸ガスレーザで一般的に加工される大きさ(5〜300μm)であれば、特に限定するものではない。
The insulating
本発明では、絶縁性基材21にビアホール形成用開口23をあけるときのレーザ加工条件として、以下の条件(1)〜(3)を採用する。
(1)パルスエネルギーは1〜20mJ、より好ましくは2〜10mJ。
(2)パルス幅は1〜30μs、より好ましくは3〜10μs。
(3)ショット数は1〜10回、より好ましくは3〜7回。
In the present invention, the following conditions (1) to (3) are adopted as laser processing conditions when opening the via
(1) The pulse energy is 1 to 20 mJ, more preferably 2 to 10 mJ.
(2) The pulse width is 1 to 30 μs, more preferably 3 to 10 μs.
(3) The number of shots is 1 to 10 times, more preferably 3 to 7 times.
加工に用いるレーザは炭酸ガスレーザが好ましい。レーザのパルス間隔は、一般的な2ms以上とすることが好ましい。 The laser used for processing is preferably a carbon dioxide laser. The laser pulse interval is preferably 2 ms or more.
上記(1)〜(3)のレーザ加工条件を用いる理由は、以下のとおりである。
パルスエネルギーが低く、かつ/又はショット数が少ない場合には、炭化物が残留したり、めっき層33の異常析出が発生するおそれがある。特に、パルスエネルギーが低く、かつショット数も少ない場合には、開口23があかない場合もある。逆に、パルスエネルギーが高く、かつ/又はショット数が多い場合には、開口23の周囲または開口23の底部となる銅箔12、22へのダメージも大きく、開口23の内壁面での接着材層31や絶縁性基材21の表面の凹凸も大きくなり、電気的信頼性の低下の原因となる。また、パルス幅が短い場合には、樹脂への熱的影響が大きくなり、接着材層31や絶縁性基材21の表面の凹凸も大きくなる。
The reason why the laser processing conditions (1) to (3) are used is as follows.
When the pulse energy is low and / or the number of shots is small, carbides may remain or abnormal deposition of the
すなわち、パルスエネルギーを低く、パルス幅を低くし、ショット数を多くするならば、ビアホール形成用開口23の形状は良好であるが、生産性が低くなり、コスト高になってしまう。逆に、パルスエネルギーを高く、パルス幅を長くし、ショット数を少なくするほど、生産性は高いが、ビアホール形成用開口23の形状は悪化する。そのため、上記(1)〜(3)に記す条件内でレーザ加工を行うことにより、良好な形状でかつ電気的信頼性に優れるビアホール32を形成することができる。特に、上記(1)〜(3)においてより好ましいとされた条件を用いることが好ましい。
That is, if the pulse energy is lowered, the pulse width is lowered, and the number of shots is increased, the shape of the via
すなわちレーザ加工条件というのは、電気的信頼性や生産性を考慮しなければならないものであり、「パルスエネルギー」、「パルス幅」、「ショット数」といったレーザ加工時のパラメータには、最適領域が存在するわけである。
本発明は、上記の特許文献1に記載されている片面銅張積層板やプリプレグへのレーザ加工条件ではなく、ポリイミドを用いた銅張積層板へのレーザ加工条件である。すなわち、多層プリント配線板のうち、フレキシブル配線板(FPC)とリジッド配線板(RPC)が複合されたリジッドフレックス多層基板(R−F配線板)及び、FPCのみで構成されている多層フレキシブル配線板(多層FPC)のみを対象としている。
In other words, the laser processing conditions must take into account electrical reliability and productivity, and parameters for laser processing such as “pulse energy”, “pulse width”, and “number of shots” are optimal regions. That is why.
The present invention is not a laser processing condition for a single-sided copper-clad laminate or a prepreg described in
以上説明したように、本発明によれば、ビアホール32用の開口23を形成するためのレーザ加工条件がリジッドフレックス多層基板又は多層フレキシブル配線板向けに最適化されており、良好な形状でかつ電気的信頼性に優れるビアホール32を形成することが可能である。
複数の銅張積層板10、20を積層して多層板30を形成し、該多層板30の状態でビアホール32のレーザ加工を行う場合、積層時の位置ずれを補正して回路形成ができるから、位置ずれを防止し、高密度化が可能である。また多層板30の状態でIVHを形成することができる。
As described above, according to the present invention, the laser processing conditions for forming the
When a
以下、実施例をもって本発明を具体的に説明する。なお、本発明は、これらの実施例のみに限定されるものではない。
以下の実施例では、両面銅張積層板の両側にそれぞれ片面銅張積層板を1枚ずつ積層した4層フレキシブル配線板(基板サイズ:300×300mm)を製造した。
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. In addition, this invention is not limited only to these Examples.
In the following examples, a four-layer flexible wiring board (substrate size: 300 × 300 mm) was produced in which one single-sided copper-clad laminate was laminated on each side of a double-sided copper-clad laminate.
<構成材料>
内層基板となる両面銅張積層板(両面CCL)としては、厚さ25μmのポリイミド(PI)の両面にそれぞれ厚さ18μmの銅箔を積層したものを用いた。
外層基板となる片面銅張積層板(片面CCL)としては、厚さ25μmのポリイミド(PI)の片面に厚さ18μmの銅箔を積層したものを用いた。
カバーレイ(CL)としては、厚さ25μmのポリイミド(PI)の片面に厚さ25μmの接着材を積層したものを用いた。
層間接着材としては、厚さ40μmの接着材を用いた。
<Constituent materials>
As the double-sided copper-clad laminate (double-sided CCL) serving as the inner layer substrate, a laminate of 18 μm thick copper foils on both sides of 25 μm thick polyimide (PI) was used.
As the single-sided copper-clad laminate (single-sided CCL) to be the outer layer substrate, one obtained by laminating a 18 μm thick copper foil on one side of a 25 μm thick polyimide (PI) was used.
As the coverlay (CL), a laminate of 25 μm thick adhesive material on one side of 25 μm thick polyimide (PI) was used.
As the interlayer adhesive, an adhesive having a thickness of 40 μm was used.
<製造方法>
(1)内層CCLに所要の配線パターンを作製し、内層FPCとする。
(2)内層FPCの両面に、それぞれ片面CCLを積層する。この際、内層FPCと各片面CCLとの間には、層間接着材を介在させる。
(3)炭酸ガスレーザを用いてビアホール形成用の開口(ビア径φ50μm)をあける。
(4)開口内をデスミヤ後、電解銅めっきを行い、層間導通を取る。
(5)外層基板に所要の配線パターンを形成し、外層FPCとする。
(6)外層FPCの表面にカバーレイ(CL)を積層し、多層FPCを完成させる。
<Manufacturing method>
(1) A required wiring pattern is produced on the inner layer CCL to form an inner layer FPC.
(2) Single-sided CCL is laminated on both sides of the inner layer FPC. At this time, an interlayer adhesive is interposed between the inner layer FPC and each single-sided CCL.
(3) An opening for forming a via hole (via diameter φ50 μm) is opened using a carbon dioxide laser.
(4) After desmearing the inside of the opening, electrolytic copper plating is performed to achieve interlayer conduction.
(5) A required wiring pattern is formed on the outer layer substrate to form an outer layer FPC.
(6) A coverlay (CL) is laminated on the surface of the outer layer FPC to complete a multilayer FPC.
<レーザ加工条件>
炭酸ガスレーザを用いてビアホール形成用の開口をあける際のレーザ加工条件として、表1の(1)、(2)、(3)に示すレーザ加工条件を用いた。
<Laser processing conditions>
The laser processing conditions shown in (1), (2), and (3) of Table 1 were used as laser processing conditions when opening a hole for forming a via hole using a carbon dioxide laser.
表1の(1)のレーザ加工条件では、パルス幅を7μsに、ショット数を7回に固定し、パルスエネルギーを1〜50mJの範囲で9通りに変更した。
表1の(2)のレーザ加工条件では、パルスエネルギーを5mJに、ショット数を5回に固定し、パルス幅を1〜50μsの範囲で10通りに変更した。
表1の(3)のレーザ加工条件では、パルスエネルギーを4mJに、パルス幅を4μsに固定し、ショット数を1〜50回の範囲で10通りに変更した。
Under the laser processing conditions of (1) in Table 1, the pulse width was fixed to 7 μs, the number of shots was fixed to 7 times, and the pulse energy was changed in 9 ways in the range of 1 to 50 mJ.
Under the laser processing conditions of (2) in Table 1, the pulse energy was fixed to 5 mJ, the number of shots was fixed to 5 times, and the pulse width was changed to 10 in the range of 1 to 50 μs.
In the laser processing conditions of (3) in Table 1, the pulse energy was fixed to 4 mJ, the pulse width was fixed to 4 μs, and the number of shots was changed to 10 in the range of 1 to 50 times.
<試験方法>
試料の層間接続信頼性を試験するため、プリント配線板の評価として一般的に行われている気相ヒートショック試験(気相熱衝撃試験)を実施した。試験条件は、−25℃/30分⇔125℃/30分(−25℃の低温槽と125℃の高温槽を用い、1サイクルあたり60分で交互の槽に入れ替えるもの)とした。そしてビアホールの導体抵抗を連続測定し、断線するまで(抵抗値が所定値以上になるまで)のサイクル数をカウントした。
<Test method>
In order to test the interlayer connection reliability of the sample, a vapor phase heat shock test (vapor phase thermal shock test) generally performed as an evaluation of a printed wiring board was performed. The test conditions were set to -25 ° C / 30 minutes to 125 ° C / 30 minutes (using a low temperature bath of -25 ° C and a high temperature bath of 125 ° C and replacing them in alternate tanks in 60 minutes per cycle). Then, the conductor resistance of the via hole was continuously measured, and the number of cycles until disconnection (until the resistance value reached a predetermined value or more) was counted.
<試験結果>
表1のレーザ加工条件(1)、(2)、(3)について行った試験の結果を、それぞれ図2、図3、図4に示す。
<Test results>
The results of tests conducted on the laser processing conditions (1), (2), and (3) in Table 1 are shown in FIGS. 2, 3, and 4, respectively.
図2より、レーザ加工条件(1)においてパルスエネルギーが大きくなるとサイクル数が低下している。これは必要以上にレーザを照射したため、「レーザによる金属層の損傷」、「ビアホール内壁面での接着材層や絶縁性基材の凹凸」、「ビアホール内へのめっきの異常析出」、「炭化物の残留によるめっき不良」などが発生したものと考えられる。 As shown in FIG. 2, the number of cycles decreases as the pulse energy increases in the laser processing condition (1). This is because the laser was irradiated more than necessary, "damage of the metal layer by laser", "unevenness of the adhesive layer and insulating substrate on the inner wall of the via hole", "abnormal deposition of plating in the via hole", "carbide It is probable that the “deterioration of plating due to residual” occurred.
図3より、レーザ加工条件(2)においてパルス幅が大きくなるとサイクル数が低下している。これは必要以上にレーザを照射したため、「レーザによる金属層の損傷」、「ビアホール内壁面での接着材層や絶縁性基材の凹凸」、「ビアホール内へのめっきの異常析出」、「炭化物の残留によるめっき不良」などが発生したものと考えられる。 From FIG. 3, the number of cycles decreases as the pulse width increases in the laser processing condition (2). This is because the laser was irradiated more than necessary, "damage of the metal layer by laser", "unevenness of the adhesive layer and insulating substrate on the inner wall of the via hole", "abnormal deposition of plating in the via hole", "carbide It is probable that the “deterioration of plating due to residual” occurred.
図4より、レーザ加工条件(3)においてショット数が大きくなるとサイクル数が低下している。これは必要以上にレーザを照射したため、「レーザによる金属層の損傷」、「ビアホール内壁面での接着材層や絶縁性基材の凹凸」、「ビアホール内へのめっきの異常析出」、「炭化物の残留によるめっき不良」などが発生したものと考えられる。 From FIG. 4, the cycle number decreases as the number of shots increases under the laser processing condition (3). This is because the laser was irradiated more than necessary, "damage of the metal layer by laser", "unevenness of the adhesive layer and insulating substrate on the inner wall of the via hole", "abnormal deposition of plating in the via hole", "carbide It is probable that the “deterioration of plating due to residual” occurred.
気相ヒートショック試験において、断線までのサイクル数が多いほど電気的信頼性は良好であると判断される。サイクル数が絶対的に大きければ(一定値以上であれば)プリント配線板としての信頼性が確保できると考えられるが、電気機器や電子機器の種類や用途、構造等によってサイクル数への要求値は異なる。したがって、パルスエネルギー、パルス幅、ショット数といったレーザ加工条件のパラメータに対する依存性から、相対的にサイクル数が高いものを選択するほうが好ましい。 In the gas phase heat shock test, it is judged that the electrical reliability is better as the number of cycles until disconnection is larger. If the cycle number is absolutely large (if it is above a certain value), it is considered that the reliability as a printed wiring board can be secured. Is different. Therefore, it is preferable to select the one having a relatively high cycle number from the dependence on the parameters of laser processing conditions such as pulse energy, pulse width, and number of shots.
図2より、1000回以上のサイクル数が得られるパルスエネルギーは1〜20mJであり、1500回以上のサイクル数が得られるパルスエネルギーは2〜10mJである。
図3より、1000回以上のサイクル数が得られるパルス幅は1〜30μsであり、1500回以上のサイクル数が得られるパルス幅は3〜10μsである。
図4より、1000回以上のサイクル数が得られるショット数は1〜10回であり、1500回以上のサイクル数が得られるショット数は3〜7回である。
本発明では、1000回以上のサイクル数であれば、好適なレーザ加工条件として使用できるものと判断した。さらに好ましくは1500回以上のサイクル数と判断した。この判断に基づき、上記のレーザ加工条件が好適であると分かる。
パルス幅は、一般的な2ms以上であれば特に制限しない。
From FIG. 2, the pulse energy for obtaining the number of cycles of 1000 times or more is 1 to 20 mJ, and the pulse energy for obtaining the number of cycles of 1500 times or more is 2 to 10 mJ.
From FIG. 3, the pulse width for obtaining the number of cycles of 1000 times or more is 1 to 30 μs, and the pulse width for obtaining the number of cycles of 1500 times or more is 3 to 10 μs.
From FIG. 4, the number of shots that can obtain 1000 or more cycles is 1 to 10 times, and the number of shots that can obtain 1500 or more cycles is 3 to 7 times.
In the present invention, it was determined that the number of cycles of 1000 times or more can be used as suitable laser processing conditions. More preferably, the number of cycles was determined to be 1500 times or more. Based on this determination, it can be seen that the above laser processing conditions are suitable.
The pulse width is not particularly limited as long as it is 2 ms or more.
本発明は、リジッドフレックス多層基板及び多層フレキシブル配線板の製造に利用することができる。 The present invention can be used for manufacturing a rigid-flex multilayer board and a multilayer flexible wiring board.
10…第1の銅張積層板(内層FPC)、11…絶縁性基材、12…銅箔(回路)、20…第2の銅張積層板(片面銅張積層板)、21…絶縁性基材、22…銅箔(回路)、23…ビアホール形成用開口、30…多層板(多層プリント配線板)、32…ビアホール。
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