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JP2006037119A - Film forming apparatus and film forming method using the same - Google Patents

Film forming apparatus and film forming method using the same Download PDF

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JP2006037119A
JP2006037119A JP2004214039A JP2004214039A JP2006037119A JP 2006037119 A JP2006037119 A JP 2006037119A JP 2004214039 A JP2004214039 A JP 2004214039A JP 2004214039 A JP2004214039 A JP 2004214039A JP 2006037119 A JP2006037119 A JP 2006037119A
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JP
Japan
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electrodes
targets
film
film forming
container
Prior art date
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Pending
Application number
JP2004214039A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Hirata
信治 平田
Kenichiro Hori
健一郎 堀
Koji Nomura
幸治 野村
Shigeki Nakagawa
茂樹 中川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a target-facing type film-forming apparatus for keeping a high film-forming condition, and to provide a film-forming method using it. <P>SOLUTION: The film-forming apparatus comprises: a vessel 1; first and second electrodes 4 and 5 arranged so as to face each other in the vessel 1; first and second holding means for holding first and second targets 6 and 7 which respectively correspond to the first and second electrodes 4 and 5; power sources 11 and 12 for supplying electrical energy to each of the first and second electrodes; a third holding means for holding a film-forming body 8 in a place other than a portion in which the first and second electrodes 4 and 5 face each other, in the vessel 1; and a gas supply means for supplying a sputtering gas into the vessel 1. At least one target out of the first and the second targets 6 and 7 is made from a substantially insulating material, and at the same time, the power sources 11 and 12 are structured so as to apply negative voltage normally and positive voltage intermittently to at least one of the first and second electrodes 4 and 5. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、対向ターゲット方式の成膜装置とそれを用いた成膜方法に関するものである。   The present invention relates to a facing target type film forming apparatus and a film forming method using the same.

成膜効率を高める成膜装置として、以下のような対向ターゲット方式が提案されている。   The following facing target system has been proposed as a film forming apparatus for improving the film forming efficiency.

すなわち、容器と、この容器内において対向配置された第1、第2の電極と、これらの第1、第2の電極のそれぞれに対応して第1、第2のターゲットを保持させる第1、第2の保持手段と、前記第1、第2の電極にそれぞれ電気的エネルギーを供給する電源と、前記容器内の第1、第2の電極対向部分以外の場所に成膜体を保持する第3の保持手段と、前記容器内にスパッタガスを供給するガス供給手段とを備え、前記電源は、第1、第2の電極に高周波電圧を印加する構成となっていた。   That is, a container, first and second electrodes opposed to each other in the container, and first and second targets for holding the first and second targets corresponding to the first and second electrodes, respectively. Second holding means, a power source for supplying electrical energy to the first and second electrodes, respectively, and a film forming body for holding the film-forming body at a place other than the first and second electrode facing portions in the container. 3 and a gas supply means for supplying a sputtering gas into the container, and the power source is configured to apply a high-frequency voltage to the first and second electrodes.

つまり、第1、第2のターゲットを対向させ、これらに負のバイアスを加えることにより、ガンマー電子をこれら第1、第2のターゲット間を往復させ、これによりプラズマ化を促進し、成膜効率を高めるようにしているのである。   That is, the first and second targets are opposed to each other, and a negative bias is applied thereto, whereby gamma electrons are reciprocated between the first and second targets, thereby promoting plasma formation and film formation efficiency. It is trying to raise.

なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開平1−55379号公報
As prior art document information related to the invention of this application, for example, Patent Document 1 is known.
JP-A-1-55379

上記従来例においては、第1、第2の電極に印加する高周波電圧の、波長と位相を同じにすることにより安定なスパッタリングを行うようにしている。   In the above conventional example, stable sputtering is performed by making the wavelength and phase of the high-frequency voltage applied to the first and second electrodes the same.

しかしながら、高周波電圧の波長と位相を同じものにすることは極めて難しく、これら第1、第2の電極への配線長などにより直ちに影響を受け、結果として波長も位相もずれ、安定的な成膜が出来なくなる可能性があった。   However, it is extremely difficult to make the wavelength and phase of the high-frequency voltage the same, and it is immediately affected by the wiring length to the first and second electrodes, and as a result, the wavelength and phase are shifted, resulting in stable film formation. There was a possibility that could not be.

そこで本発明は、安定的な成膜が出来るようにすることを目的とするものである。   Accordingly, an object of the present invention is to enable stable film formation.

そしてこの目的を達成するために本発明は、容器と、この容器内において対向配置された第1、第2の電極と、これらの第1、第2の電極のそれぞれに対応して第1、第2のターゲットを保持させる第1、第2の保持手段と、前記第1、第2の電極にそれぞれ電気的エネルギーを供給する電源と、前記容器内の第1、第2の電極対向部分以外の場所に成膜体を保持する第3の保持手段と、前記容器内にスパッタガスを供給するガス供給手段とを備え、前記第1、第2のターゲットの内少なくとも一方を実質的な絶縁物とするとともに、前記電源は、第1、第2の電極の少なくとも一方に、常時は負電圧を、間欠的に正電圧を印加する構成としたものである。   In order to achieve this object, the present invention provides a container, first and second electrodes opposed to each other in the container, and first and second electrodes corresponding to the first and second electrodes, respectively. First and second holding means for holding the second target, a power source for supplying electric energy to the first and second electrodes, respectively, and portions other than the first and second electrode facing portions in the container A third holding means for holding the film-forming body at the location, and a gas supply means for supplying a sputtering gas into the container, wherein at least one of the first and second targets is substantially insulated. In addition, the power source is configured to apply a negative voltage and an intermittent positive voltage to at least one of the first and second electrodes.

以上のごとく本発明は、容器内で第1、第2のターゲットを対向配置するとともに、電源から第1、第2の電極への電気的エネルギーを供給することにより、これらの第1、第2のターゲットを負電圧にバイアスし、これら第1、第2のターゲット間で、ガンマー電子のミラー効果を得てプラズマ化を促進し、この結果として成膜の効率を高めることが出来る。   As described above, according to the present invention, the first and second targets are disposed opposite to each other in the container, and the first and second targets are supplied by supplying electric energy from the power source to the first and second electrodes. The target is biased to a negative voltage, and a gamma-electron mirror effect is obtained between the first and second targets to promote plasma formation. As a result, the efficiency of film formation can be increased.

また、前記第1、第2のターゲットの内少なくとも一方を実質的な絶縁物としているので、イオンが衝突することでその絶縁性ターゲットにプラスチャージが起こり、負のバイアスが浅くなり、これにより上記ガンマー電子に対する反発力が低下し、つまりミラー効果が低下し、これによりプラズマ化が抑制される状況が発生する。   In addition, since at least one of the first and second targets is a substantial insulator, a positive charge occurs in the insulating target due to the collision of ions, and the negative bias becomes shallow. The repulsive force against the gamma electrons is reduced, that is, the mirror effect is reduced, thereby causing a situation where the plasma is suppressed.

しかし、本発明では前記電源から、第1、第2の電極の少なくとも一方に、間欠的に正電圧を印加する構成としているので、上記プラズマ化の抑制状態を小さなものにすることが出来る。つまり、第1、第2の電極への間欠的な正電圧の印加により、絶縁性ターゲットは一時的にプラスにバイアスされ、これによりプラズマ中の電子がこのプラスにバイアスされたターゲットに引き込まれ、プラスチャージ状態が中和されるような状態になる。   However, in the present invention, since a positive voltage is intermittently applied to at least one of the first and second electrodes from the power source, the suppression state of the plasma generation can be made small. That is, by intermittently applying a positive voltage to the first and second electrodes, the insulating target is temporarily biased to positive, whereby electrons in the plasma are drawn into the positively biased target, The positive charge state is neutralized.

このため、この正電圧の印加後に前記電源から第1、第2の電極の少なくとも一方に、常時の負電圧を印加すれば、これらの第1、第2のターゲットは適正な負電圧にバイアスされ、この結果としてこれら第1、第2のターゲット間で、ガンマー電子のミラー効果が発揮され、プラズマ化が促進され、高い成膜の効率を維持することが出来る。   Therefore, if a normal negative voltage is applied from the power source to at least one of the first and second electrodes after the positive voltage is applied, the first and second targets are biased to an appropriate negative voltage. As a result, the mirror effect of gamma electrons is exhibited between the first and second targets, and the plasma conversion is promoted, so that high film formation efficiency can be maintained.

以下本発明の一実施形態を添付図面を用いて説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

図1において、1は実質的な真空状態を作ることが出来る容器で、この容器1内には排気後アルゴンガスなどがスパッタガスの一例として供給されるようになっている。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a container capable of creating a substantial vacuum state, and after the exhaust, argon gas or the like is supplied into the container 1 as an example of a sputtering gas.

またこの容器1内には磁場形成のための磁石2,3が所定間隔を置いて配置されている。   In the container 1, magnets 2 and 3 for forming a magnetic field are arranged at a predetermined interval.

さらに、磁石2,3の対向面近傍には電極4,5が設けられ、これらの電極4,5の表面上に、酸化珪素製のターゲット6,7が図示していない保持手段により保持されている。   Furthermore, electrodes 4 and 5 are provided in the vicinity of the facing surfaces of the magnets 2 and 3, and silicon oxide targets 6 and 7 are held on the surfaces of these electrodes 4 and 5 by holding means (not shown). Yes.

また、これらのターゲット6,7の対向外の場所には、図示していない保持手段により基板などの成膜体8が保持されている。なお、9,10は陽極である。   In addition, a film forming body 8 such as a substrate is held by a holding means (not shown) at a place outside of these targets 6 and 7. In addition, 9 and 10 are anodes.

上記構成において電極4,5には、それぞれ電源11,12から同図にあるように電気的エネルギーが供給されるようになっている。   In the above configuration, electrical energy is supplied to the electrodes 4 and 5 from the power sources 11 and 12 as shown in FIG.

具体的には、前記電源11,12は何れも、第1、第2の電極4,5に、常時はマイナス500ボルトの負電圧を、間欠的にプラス200ボルトの正電圧を印加する構成となっている。   Specifically, each of the power supplies 11 and 12 is configured to apply a negative voltage of minus 500 volts to the first and second electrodes 4 and 5 at all times and a positive voltage of plus 200 volts intermittently. It has become.

また、正電圧は実質的な矩形波とし、負電圧と正電圧の印加時間は、2対1〜100対1としており、矩形波の印加時間は、10〜0.01μ秒としている。   The positive voltage is a substantially rectangular wave, the application time of the negative voltage and the positive voltage is 2: 1 to 100: 1, and the application time of the rectangular wave is 10 to 0.01 μsec.

このような電気的エネルギーの印加を行うと、容器1内に供給されたアルゴンガス中のアルゴン原子から分離したガンマー電子は磁石2,3の磁場による拘束を受けた状態でターゲット6,7に向かうことになるが、ターゲット6,7は基本的には負にバイアスされているために、ターゲット6,7で反発され、この間を継続的に往復するような状態になる。これがミラー効果と呼ばれる。   When such electrical energy is applied, the gamma electrons separated from the argon atoms in the argon gas supplied into the container 1 are directed to the targets 6 and 7 while being constrained by the magnetic fields of the magnets 2 and 3. However, since the targets 6 and 7 are basically negatively biased, they are repelled by the targets 6 and 7 and are continuously reciprocated between them. This is called the mirror effect.

また、このようなガンマー電子がアルゴン原子に衝突することでアルゴンのイオンが発生し、ターゲット6,7近傍のものはターゲット6,7が負にバイアスされているので、勢い良くこれらのターゲット6,7に衝突し、この結果としてターゲット6,7から酸化珪素がはじき出され、これが成膜体8の表面に達し、酸化珪素の薄膜を形成することになる。   Moreover, since such gamma electrons collide with argon atoms, argon ions are generated, and in the vicinity of the targets 6 and 7, the targets 6 and 7 are negatively biased. 7, and as a result, silicon oxide is ejected from the targets 6 and 7, reaching the surface of the film-forming body 8 and forming a thin film of silicon oxide.

また前記第1、第2のターゲット6,7は実質的な絶縁物としているので、イオンが衝突することでその絶縁性ターゲット6,7にプラスチャージが起こり、負のバイアスが浅くなり、これにより上記ガンマー電子に対する反発力が低下し、つまりミラー効果が低下し、これによりプラズマ化が抑制される状況が発生する。   In addition, since the first and second targets 6 and 7 are substantially insulators, when the ions collide, the insulating targets 6 and 7 are positively charged, and the negative bias becomes shallow. The repulsive force with respect to the gamma electrons is reduced, that is, the mirror effect is reduced, thereby causing a situation in which plasma formation is suppressed.

しかし、本実施形態では前記電源11,12から、第1、第2の電極4,5に、間欠的に正電圧を印加する構成としているので、上記プラズマ化の抑制状態を小さなものにすることが出来る。   However, in the present embodiment, since a positive voltage is intermittently applied from the power supplies 11 and 12 to the first and second electrodes 4 and 5, the plasma generation suppression state is made small. I can do it.

つまり、第1、第2の電極4,5への間欠的な正電圧の印加により、絶縁性のターゲット6,7は一時的にプラスにバイアスされ、これによりプラズマ中の電子がこのプラスにバイアスされたターゲットに引き込まれ、プラスチャージ状態が中和されるような状態になる。   That is, by intermittently applying a positive voltage to the first and second electrodes 4 and 5, the insulating targets 6 and 7 are temporarily biased to positive, whereby electrons in the plasma are biased to this positive. The target is drawn into the target and the positive charge state is neutralized.

このため、この正電圧の印加後に前記電源から第1、第2の電極4,5の少なくとも一方に、常時の負電圧を印加すれば、これらの第1、第2のターゲット6,7は適正な負電圧にバイアスされ、この結果としてこれら第1、第2のターゲット6,7間で、ガンマー電子のミラー効果が発揮され、プラズマ化が促進され、高い成膜の効率を維持することが出来る。   Therefore, if a normal negative voltage is applied from the power source to at least one of the first and second electrodes 4 and 5 after application of the positive voltage, the first and second targets 6 and 7 are appropriate. As a result, a gamma electron mirror effect is exerted between the first and second targets 6 and 7, plasmaization is promoted, and high film formation efficiency can be maintained. .

なお、正電圧は同図1に示すように、実質的な矩形波とし、負電圧と正電圧の印加時間は、2対1〜100対1とし、矩形波の印加時間は、10〜0.01μ秒、つまりわずかの時間としているので、この正電圧の印加により第1、第2のターゲット6,7が一時的にプラスにバイアスされてもプラズマ化が停止されることはない。   As shown in FIG. 1, the positive voltage is a substantially rectangular wave, the application time of the negative voltage and the positive voltage is 2: 1 to 100: 1, and the application time of the rectangular wave is 10 to 0. Since it is set to 01 μs, that is, a short time, even if the first and second targets 6 and 7 are temporarily biased to be positive by the application of the positive voltage, the plasma formation is not stopped.

勿論このように正電圧の印加時間がわずかであるので、電源11,12の両方にパルス電圧が印加された場合においても、パルス状態の正電圧の同期が取れている必要はない。   Of course, since the application time of the positive voltage is short as described above, even when the pulse voltage is applied to both the power supplies 11 and 12, it is not necessary that the positive voltage in the pulse state is synchronized.

以上のごとく本発明は、容器内で第1、第2のターゲットを対向配置するとともに、電源から第1、第2の電極への電気的エネルギーを供給することにより、これらの第1、第2のターゲットを負電圧にバイアスし、これら第1、第2のターゲット間で、ガンマー電子のミラー効果を得てプラズマ化を促進し、この結果として成膜の効率を高めることが出来る。   As described above, according to the present invention, the first and second targets are disposed opposite to each other in the container, and the first and second targets are supplied by supplying electric energy from the power source to the first and second electrodes. The target is biased to a negative voltage, and a gamma-electron mirror effect is obtained between the first and second targets to promote plasma formation. As a result, the efficiency of film formation can be increased.

また前記第1、第2のターゲットの内少なくとも一方を実質的な絶縁物としているので、イオンが衝突することでその絶縁性ターゲットにプラスチャージが起こり、負のバイアスが浅くなり、これにより上記ガンマー電子に対する反発力が低下し、つまりミラー効果が低下し、これによりプラズマ化が抑制される状況が発生する。   In addition, since at least one of the first and second targets is a substantially insulating material, when the ions collide, a positive charge is generated in the insulating target, and the negative bias becomes shallow. The repulsive force with respect to electrons is reduced, that is, the mirror effect is reduced, thereby causing a situation in which plasma formation is suppressed.

しかし、本発明では前記電源から、第1、第2の電極の少なくとも一方に、間欠的に正電圧を印加する構成としているので、上記プラズマ化の抑制状態を小さなものにすることが出来る。つまり、第1、第2の電極への間欠的な正電圧の印加により、絶縁性ターゲットは一時的にプラスにバイアスされ、これによりプラズマ中の電子がこのプラスにバイアスされたターゲットに引き込まれ、プラスチャージ状態が中和されるような状態になる。   However, in the present invention, since a positive voltage is intermittently applied to at least one of the first and second electrodes from the power source, the suppression state of the plasma generation can be made small. That is, by intermittently applying a positive voltage to the first and second electrodes, the insulating target is temporarily biased to positive, whereby electrons in the plasma are drawn into the positively biased target, The positive charge state is neutralized.

このため、この正電圧の印加後に前記電源から第1、第2の電極の少なくとも一方に、常時の負電圧を印加すれば、これらの第1、第2のターゲットは適正な負電圧にバイアスされ、この結果としてこれら第1、第2のターゲット間で、ガンマー電子のミラー効果が発揮され、プラズマ化が促進され、高い成膜の効率を維持することが出来る。   Therefore, if a normal negative voltage is applied from the power source to at least one of the first and second electrodes after the positive voltage is applied, the first and second targets are biased to an appropriate negative voltage. As a result, the mirror effect of gamma electrons is exhibited between the first and second targets, and the plasma conversion is promoted, so that high film formation efficiency can be maintained.

よって、本発明によれば、ターゲットが実質的に絶縁物のものを用いても、対向ターゲット方式で効率的な成膜形成ができ、電子部品、電子基板、他の材料への絶縁性の成膜が行えることになる。   Therefore, according to the present invention, even if the target is substantially an insulating material, an efficient film formation can be performed by the opposed target method, and the insulating property to electronic components, electronic substrates, and other materials can be formed. A film can be made.

本発明の一実施形態を示すブロック図The block diagram which shows one Embodiment of this invention

符号の説明Explanation of symbols

1 容器
2 磁石
3 磁石
4 電極
5 電極
6 ターゲット
7 ターゲット
8 成膜体
9 陽極
10 陽極
11 電源
12 電源
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Container 2 Magnet 3 Magnet 4 Electrode 5 Electrode 6 Target 7 Target 8 Film-forming body 9 Anode 10 Anode 11 Power supply 12 Power supply

Claims (8)

容器と、この容器内において対向配置された第1、第2の電極と、これらの第1、第2の電極のそれぞれに対応して第1、第2のターゲットを保持させる第1、第2の保持手段と、前記第1、第2の電極にそれぞれ電気的エネルギーを供給する電源と、前記容器内の第1、第2の電極対向部分以外の場所に成膜体を保持する第3の保持手段と、前記容器内にスパッタガスを供給するガス供給手段とを備え、前記第1、第2のターゲットの内少なくとも一方を実質的な絶縁物とするとともに、前記電源は、第1、第2の電極の少なくとも一方に、常時は負電圧を、間欠的に正電圧を印加する構成とした成膜装置。 A container, first and second electrodes opposed to each other in the container, and first and second holding the first and second targets corresponding to the first and second electrodes, respectively. Holding means, a power source for supplying electrical energy to the first and second electrodes, respectively, and a third body for holding the film-forming body in a place other than the first and second electrode facing portions in the container. A holding means and a gas supply means for supplying a sputtering gas into the container, wherein at least one of the first and second targets is a substantially insulating material, and the power A film forming apparatus configured to apply a negative voltage to at least one of the two electrodes at all times and a positive voltage intermittently. 第1、第2の電極のうち、電源から常時は負電圧を、間欠的に正電圧を印加される電極には、実質的に絶縁性のターゲットを保持させる構成とした請求項1に記載の成膜装置。 2. The configuration according to claim 1, wherein the first and second electrodes are configured to hold a substantially insulating target on an electrode to which a negative voltage is constantly applied from a power source and a positive voltage is intermittently applied. Deposition device. 正電圧は実質的な矩形波とし、負電圧と正電圧の印加時間は、2対1〜100対1とした請求項2に記載の成膜装置。 The film forming apparatus according to claim 2, wherein the positive voltage is a substantially rectangular wave, and the application time of the negative voltage and the positive voltage is 2: 1 to 100: 1. 矩形波の印加時間は、10〜0.01μ秒とした請求項3に記載の成膜装置。 The film forming apparatus according to claim 3, wherein the application time of the rectangular wave is 10 to 0.01 μsec. 容器内において対向配置された第1、第2の電極のそれぞれに対応して第1、第2のターゲットを保持させるとともに、前記容器内の第1、第2の電極対向部分以外の場所に成膜体を保持させ、前記容器内にスパッタガスを供給し、前記第1、第2のターゲットの内少なくとも一方を実質的な絶縁物とするとともに、前記第1、第2の電極の少なくとも一方に、電源から常時は負電圧を、間欠的に正電圧を印加して、成膜体表面に成膜を行う成膜方法。 The first and second targets are held corresponding to the first and second electrodes opposed to each other in the container, and formed in a place other than the first and second electrode facing portions in the container. A film body is held, a sputtering gas is supplied into the container, at least one of the first and second targets is made a substantial insulator, and at least one of the first and second electrodes A film forming method in which a negative voltage is always applied from a power source and a positive voltage is intermittently applied to form a film on the surface of the film forming body. 第1、第2の電極のうち、電源から、常時は負電圧を、間欠的に正電圧を印加される電極には、実質的に絶縁性のターゲットを保持させる請求項5に記載の成膜方法。 The film formation according to claim 5, wherein a substantially insulating target is held by an electrode to which a negative voltage is constantly applied from a power source and an intermittently positive voltage is applied, from among the first and second electrodes. Method. 正電圧は実質的に矩形波とし、負電圧と正電圧の印加時間は、2対1〜100対1とする請求項6に記載の成膜方法。 The film forming method according to claim 6, wherein the positive voltage is substantially a rectangular wave, and the application time of the negative voltage and the positive voltage is 2: 1 to 100: 1. 矩形波の印加時間は、10〜0.01μ秒とする請求項7に記載の成膜方法。 The film forming method according to claim 7, wherein the application time of the rectangular wave is 10 to 0.01 μsec.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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TWI500795B (en) * 2013-02-05 2015-09-21 Canon Anelva Corp Film forming device

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