JP2005191550A - 基板の貼り付け方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 半導体ウェーハWの回路(素子)形成面に接着剤液を塗布し、この接着剤液を予備乾燥させて流動性を低減させ、接着剤層1としての形状維持を可能とする。予備乾燥にはオーブンを用いて例えば80℃で5分間加熱する。接着剤層1の厚みは半導体ウェーハWの表面に形成した回路の凹凸に応じて決定する。この後、所定厚みの接着剤層1が形成された半導体ウェーハWにサポートプレート2を貼り付ける。
【選択図】 図3
Description
一旦、予備乾燥せしめることで接着剤層の膜厚コントロールが容易に行える。また、必要な厚さを得るために、接着剤液の塗布と予備乾燥を複数回繰り返すようにしてもよい。
本発明にあっては先ず、半導体ウェーハWの回路(素子)形成面に接着剤液を塗布する。塗布には例えばスピンナーを用いる。接着剤液としてはアクリル系樹脂またはノボラックタイプのフェノール樹脂系材料とする。
貼り付け機5はボトムプレート51の上方にトッププレート52を配置し、このトッププレート52をモータ53を駆動することで昇降動せしめるようにし、またトッププレート52の下面にはセラミックスの焼結板54を取り付け、この焼結板54に排気管55を接続している。
Claims (8)
- 研削によって半導体ウェーハなどの基板を薄板化する工程に先立って、前記基板の回路形成面をサポートプレートに貼り付ける方法であって、基板の回路形成面に接着剤液を塗布した後、当該接着剤液を予備乾燥せしめて接着剤層としての形状維持を可能とし、次いで、サポートプレートを前記接着剤層に押し付けて一体化し、この押し付けと同時にまたは押し付けが終了した後に、前記接着剤層を乾燥せしめることを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記接着剤液として、ノボラックタイプのフェノール樹脂系材料を用いることを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記サポートプレートとして厚み方向に多数の貫通穴を有するものを用い、また前記予備乾燥では、押圧した際に前記貫通穴から接着剤が滲み出なくなるまで乾燥せしめることを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記接着剤層を厚くするために、接着剤液の塗布と予備乾燥を複数回繰り返すことを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記予備乾燥工程の温度は200℃以下、前記乾燥工程の温度は300℃以下とすることを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記接着剤はアルコールまたはケトンに可溶性であることを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記基板の回路形成面に接着剤液を塗布した後、当該接着剤液を予備乾燥する前に、基板の周縁部に形成された接着剤液のビード部を溶剤によって除去することを特徴とする基板の貼り付け方法。
- 請求項1に記載の基板の貼り付け方法において、前記接着剤液として、アクリル系樹脂材料を用いることを特徴とする基板の貼り付け方法。
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|---|---|---|---|
| JP2004343477A JP2005191550A (ja) | 2003-12-01 | 2004-11-29 | 基板の貼り付け方法 |
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Cited By (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007242812A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法及び支持テープ |
| WO2007138786A1 (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-06 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | 基板の薄板化方法、貼り合わせシステムおよび薄板化システム |
| WO2008007454A1 (fr) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Plaque de maintien, dispositif de transfert, dispositif de pelage et procédé de pelage |
| US7399683B2 (en) | 2002-06-18 | 2008-07-15 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
| JP2008227285A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Sanyo Electric Co Ltd | ウエハ及びその搬送システム |
| WO2008114806A1 (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2008244132A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
| JP2009130218A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 貼付装置および貼付方法 |
| JP2009144048A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 接着剤の処理方法 |
| US7662670B2 (en) | 2002-10-30 | 2010-02-16 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
| US7691672B2 (en) | 2006-05-25 | 2010-04-06 | Sony Corporation | Substrate treating method and method of manufacturing semiconductor apparatus |
| US7719102B2 (en) | 2002-06-18 | 2010-05-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US7795115B2 (en) | 2005-12-28 | 2010-09-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
| JP2011508448A (ja) * | 2007-12-27 | 2011-03-10 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | 電子アセンブリ製造方法 |
| US7919875B2 (en) | 2003-08-06 | 2011-04-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor device with recess portion over pad electrode |
| US7947586B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-05-24 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor device |
| US8080121B2 (en) | 2006-07-28 | 2011-12-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Method of bonding, thinning, and releasing wafer |
| US8097087B2 (en) | 2009-07-21 | 2012-01-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Method of cleaning support plate |
| US8105856B2 (en) | 2002-04-23 | 2012-01-31 | Semiconductor Components Industries, Llc | Method of manufacturing semiconductor device with wiring on side surface thereof |
| US8124685B2 (en) | 2009-01-13 | 2012-02-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition and film adhesive |
| JP2012049274A (ja) * | 2010-08-26 | 2012-03-08 | Mitsubishi Electric Corp | 基板サポート板および基板サポート板へのウェハ仮固着方法 |
| US8163836B2 (en) | 2005-10-28 | 2012-04-24 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition and adhesive film |
| US8354157B2 (en) | 2009-06-09 | 2013-01-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Support plate, method for producing the same, and method for processing substrate |
| JP2013014777A (ja) * | 2008-10-31 | 2013-01-24 | Brewer Science Inc | ウェーハーの一時的接着用の環状オレフィン組成物 |
| US8449691B2 (en) | 2007-01-19 | 2013-05-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Liquid solvent abutment unit |
| JP2013157510A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | 貼着装置 |
| JP2014029999A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-02-13 | Hitachi Chemical Co Ltd | 仮固定用フィルム、仮固定用フィルムシート及び半導体装置の製造方法 |
| JPWO2012053463A1 (ja) * | 2010-10-21 | 2014-02-24 | 住友ベークライト株式会社 | 電子装置の製造方法およびそれを用いてなる電子装置、電気、電子部品の製造方法およびそれを用いてなる電気、電子部品 |
| JP2014158035A (ja) * | 2010-08-06 | 2014-08-28 | Brewer Science Inc | 薄ウェーハハンドリングのための多層接合層 |
| US8882096B2 (en) | 2006-12-28 | 2014-11-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Perforated support plate |
| WO2015098609A1 (ja) | 2013-12-25 | 2015-07-02 | 日本碍子株式会社 | ハンドル基板、半導体用複合基板、半導体回路基板およびその製造方法 |
| US9466584B2 (en) | 2015-02-17 | 2016-10-11 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
| US9589926B2 (en) | 2014-12-17 | 2017-03-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
| JP2018024204A (ja) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | 富士フイルム株式会社 | 積層体および積層体の製造方法 |
| WO2018097265A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2018-05-31 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| WO2018097264A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2018-05-31 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005150235A (ja) | 2003-11-12 | 2005-06-09 | Three M Innovative Properties Co | 半導体表面保護シート及び方法 |
| TWI280618B (en) * | 2005-06-08 | 2007-05-01 | Advanced Semiconductor Eng | Method for machining a wafer |
| JP4721828B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2011-07-13 | 東京応化工業株式会社 | サポートプレートの剥離方法 |
| US7498240B2 (en) * | 2005-08-31 | 2009-03-03 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpieces, carriers, and associated methods |
| US20080014532A1 (en) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | 3M Innovative Properties Company | Laminate body, and method for manufacturing thin substrate using the laminate body |
| JP5074719B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2012-11-14 | 東京応化工業株式会社 | ウエハを薄くする方法及びサポートプレート |
| JP2008041987A (ja) * | 2006-08-08 | 2008-02-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | サポートプレートとウェハとの剥離方法及び装置 |
| JP2008063464A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 接着剤組成物、接着フィルム及び当該接着剤組成物の製造方法 |
| JP5016296B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2012-09-05 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、及び接着フィルム |
| JP4976829B2 (ja) * | 2006-11-29 | 2012-07-18 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、及び接着フィルム |
| SG147330A1 (en) | 2007-04-19 | 2008-11-28 | Micron Technology Inc | Semiconductor workpiece carriers and methods for processing semiconductor workpieces |
| US20090017323A1 (en) * | 2007-07-13 | 2009-01-15 | 3M Innovative Properties Company | Layered body and method for manufacturing thin substrate using the layered body |
| US20090017248A1 (en) * | 2007-07-13 | 2009-01-15 | 3M Innovative Properties Company | Layered body and method for manufacturing thin substrate using the layered body |
| JP5323385B2 (ja) * | 2008-01-30 | 2013-10-23 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、および接着フィルム |
| JP5271554B2 (ja) * | 2008-02-04 | 2013-08-21 | 東京応化工業株式会社 | サポートプレート |
| JP5368845B2 (ja) * | 2008-06-17 | 2013-12-18 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、接着フィルムおよび熱処理方法 |
| JP5497276B2 (ja) | 2008-07-08 | 2014-05-21 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物の製造方法 |
| JP2010062269A (ja) * | 2008-09-02 | 2010-03-18 | Three M Innovative Properties Co | ウェーハ積層体の製造方法、ウェーハ積層体製造装置、ウェーハ積層体、支持層剥離方法、及びウェーハの製造方法 |
| JP2010163495A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 接着剤組成物および接着フィルム |
| US20100200957A1 (en) * | 2009-02-06 | 2010-08-12 | Qualcomm Incorporated | Scribe-Line Through Silicon Vias |
| JP5572979B2 (ja) * | 2009-03-30 | 2014-08-20 | ソニー株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP5552365B2 (ja) * | 2009-06-30 | 2014-07-16 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物および接着フィルム |
| TWI540644B (zh) * | 2011-07-01 | 2016-07-01 | 漢高智慧財產控股公司 | 斥性材料於半導體總成中保護製造區域之用途 |
| NL2009147C2 (nl) * | 2012-07-06 | 2014-01-07 | Fico Bv | Inrichting en werkwijze voor het separeren, ten minste gedeeltelijk drogen en inspecteren van elektronische componenten. |
| JP6374680B2 (ja) * | 2013-12-13 | 2018-08-15 | 東京応化工業株式会社 | 貼付方法 |
| JP6647267B2 (ja) * | 2017-11-09 | 2020-02-14 | 古河電気工業株式会社 | 半導体チップの製造方法 |
| JP7374657B2 (ja) * | 2019-08-21 | 2023-11-07 | 株式会社ディスコ | ウエーハの加工方法 |
| US11791212B2 (en) | 2019-12-13 | 2023-10-17 | Micron Technology, Inc. | Thin die release for semiconductor device assembly |
| CN114316872B (zh) * | 2020-09-29 | 2023-09-05 | 上海飞凯材料科技股份有限公司 | 一种临时粘合剂及其应用和应用方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05131358A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-05-28 | Nikko Kyodo Co Ltd | 研磨加工法 |
| JPH09157628A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-17 | Nikka Seiko Kk | ウエハ−の仮着用接着剤 |
| JPH1161079A (ja) * | 1997-08-21 | 1999-03-05 | The Inctec Inc | 精密加工用仮着接着剤 |
| JP2001181684A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-03 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | エッジビードリムーバ |
| JP2002057252A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-22 | Hitachi Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2002184845A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-28 | Kyocera Corp | ウエハー支持基板 |
| JP2003197611A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-11 | Clariant (Japan) Kk | ポリシラザン処理溶剤およびこの溶剤を用いるポリシラザンの処理方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6404643B1 (en) * | 1998-10-15 | 2002-06-11 | Amerasia International Technology, Inc. | Article having an embedded electronic device, and method of making same |
| JP2001077304A (ja) | 1999-06-28 | 2001-03-23 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 電子部品の製造法 |
| JP2002203821A (ja) | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 接着および剥離法 |
| JP4497737B2 (ja) | 2001-03-12 | 2010-07-07 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置の製造方法 |
-
2004
- 2004-11-29 JP JP2004343477A patent/JP2005191550A/ja active Pending
- 2004-12-01 KR KR1020040099727A patent/KR101043486B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-01 TW TW093137046A patent/TW200524679A/zh unknown
- 2004-12-01 US US11/001,575 patent/US7268061B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-01 CN CNB2004100822799A patent/CN100474550C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05131358A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-05-28 | Nikko Kyodo Co Ltd | 研磨加工法 |
| JPH09157628A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-17 | Nikka Seiko Kk | ウエハ−の仮着用接着剤 |
| JPH1161079A (ja) * | 1997-08-21 | 1999-03-05 | The Inctec Inc | 精密加工用仮着接着剤 |
| JP2001181684A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-03 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | エッジビードリムーバ |
| JP2002057252A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-22 | Hitachi Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2002184845A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-28 | Kyocera Corp | ウエハー支持基板 |
| JP2003197611A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-11 | Clariant (Japan) Kk | ポリシラザン処理溶剤およびこの溶剤を用いるポリシラザンの処理方法 |
Cited By (49)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8105856B2 (en) | 2002-04-23 | 2012-01-31 | Semiconductor Components Industries, Llc | Method of manufacturing semiconductor device with wiring on side surface thereof |
| US7719102B2 (en) | 2002-06-18 | 2010-05-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US7399683B2 (en) | 2002-06-18 | 2008-07-15 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
| US7662670B2 (en) | 2002-10-30 | 2010-02-16 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
| US7919875B2 (en) | 2003-08-06 | 2011-04-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor device with recess portion over pad electrode |
| US8163836B2 (en) | 2005-10-28 | 2012-04-24 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition and adhesive film |
| US7795115B2 (en) | 2005-12-28 | 2010-09-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
| JP2007242812A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法及び支持テープ |
| US7691672B2 (en) | 2006-05-25 | 2010-04-06 | Sony Corporation | Substrate treating method and method of manufacturing semiconductor apparatus |
| JP2007324370A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 基板の薄板化方法、貼り合わせシステムおよび薄板化システム |
| WO2007138786A1 (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-06 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | 基板の薄板化方法、貼り合わせシステムおよび薄板化システム |
| WO2008007454A1 (fr) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Plaque de maintien, dispositif de transfert, dispositif de pelage et procédé de pelage |
| US8080121B2 (en) | 2006-07-28 | 2011-12-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Method of bonding, thinning, and releasing wafer |
| US8882096B2 (en) | 2006-12-28 | 2014-11-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Perforated support plate |
| US8449691B2 (en) | 2007-01-19 | 2013-05-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Liquid solvent abutment unit |
| WO2008114806A1 (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | 半導体装置及びその製造方法 |
| US8187949B2 (en) | 2007-03-14 | 2012-05-29 | Sanyo Semiconductor Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
| JP2008227285A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Sanyo Electric Co Ltd | ウエハ及びその搬送システム |
| JP2008244132A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
| JP2009130218A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 貼付装置および貼付方法 |
| JP2009144048A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 接着剤の処理方法 |
| JP2011508448A (ja) * | 2007-12-27 | 2011-03-10 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | 電子アセンブリ製造方法 |
| JP2013014777A (ja) * | 2008-10-31 | 2013-01-24 | Brewer Science Inc | ウェーハーの一時的接着用の環状オレフィン組成物 |
| US8124685B2 (en) | 2009-01-13 | 2012-02-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition and film adhesive |
| US7947586B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-05-24 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor device |
| US8354157B2 (en) | 2009-06-09 | 2013-01-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Support plate, method for producing the same, and method for processing substrate |
| US8097087B2 (en) | 2009-07-21 | 2012-01-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Method of cleaning support plate |
| JP2016225662A (ja) * | 2010-08-06 | 2016-12-28 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 薄ウェーハハンドリングのための多層接合層 |
| JP2014158035A (ja) * | 2010-08-06 | 2014-08-28 | Brewer Science Inc | 薄ウェーハハンドリングのための多層接合層 |
| JP2012049274A (ja) * | 2010-08-26 | 2012-03-08 | Mitsubishi Electric Corp | 基板サポート板および基板サポート板へのウェハ仮固着方法 |
| JPWO2012053463A1 (ja) * | 2010-10-21 | 2014-02-24 | 住友ベークライト株式会社 | 電子装置の製造方法およびそれを用いてなる電子装置、電気、電子部品の製造方法およびそれを用いてなる電気、電子部品 |
| JP2013157510A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | 貼着装置 |
| JP2014029999A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-02-13 | Hitachi Chemical Co Ltd | 仮固定用フィルム、仮固定用フィルムシート及び半導体装置の製造方法 |
| WO2015098609A1 (ja) | 2013-12-25 | 2015-07-02 | 日本碍子株式会社 | ハンドル基板、半導体用複合基板、半導体回路基板およびその製造方法 |
| US9425083B2 (en) | 2013-12-25 | 2016-08-23 | Ngk Insulators, Ltd. | Handle substrate, composite substrate for semiconductor, and semiconductor circuit board and method for manufacturing the same |
| US9589926B2 (en) | 2014-12-17 | 2017-03-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
| US9466584B2 (en) | 2015-02-17 | 2016-10-11 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
| JP2018024204A (ja) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | 富士フイルム株式会社 | 積層体および積層体の製造方法 |
| JPWO2018097265A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2019-10-17 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| WO2018097264A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2018-05-31 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| KR20190088470A (ko) * | 2016-11-28 | 2019-07-26 | 미쓰이금속광업주식회사 | 다층 배선판의 제조 방법 |
| JPWO2018097264A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2019-10-17 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| WO2018097265A1 (ja) * | 2016-11-28 | 2018-05-31 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| TWI745494B (zh) * | 2016-11-28 | 2021-11-11 | 日商三井金屬鑛業股份有限公司 | 多層配線板之製造方法 |
| JP7112962B2 (ja) | 2016-11-28 | 2022-08-04 | 三井金属鉱業株式会社 | 多層配線板の製造方法 |
| US11527415B2 (en) | 2016-11-28 | 2022-12-13 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Multilayer circuit board manufacturing method |
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