JP2004163364A - プローブとそれを用いたコンタクト装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】コンタクト装置4に使用するプローブ1を構成する部品点数を低減し、プローブ1の低価格化を図り、コンタクト装置4の低価格化を図る。
【解決手段】プローブ1として、導電材料によりコイル状に形成され、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされたものを用いる。自身の中心軸に沿って延びるようにされた両端部の先端面が尖った形状にすると良い。
そして、プローブ1を、その両端部が上下両面から突出或いは露出し且つ脱落しないように保持するプローブ保持孔6が複数配設されたプローブ保持ボード5のプローブ保持孔6内に保持することによりコンタクト装置4を構成する。各プローブ1は両端部を二つの被コンタクト体(被覆コード7の芯線8・プリント配線基板9の配線膜10)にて押圧されて縮んで該被コンタクト体との電気的接続に必要な弾力を蓄えるようにする。
【選択図】 図1
【解決手段】プローブ1として、導電材料によりコイル状に形成され、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされたものを用いる。自身の中心軸に沿って延びるようにされた両端部の先端面が尖った形状にすると良い。
そして、プローブ1を、その両端部が上下両面から突出或いは露出し且つ脱落しないように保持するプローブ保持孔6が複数配設されたプローブ保持ボード5のプローブ保持孔6内に保持することによりコンタクト装置4を構成する。各プローブ1は両端部を二つの被コンタクト体(被覆コード7の芯線8・プリント配線基板9の配線膜10)にて押圧されて縮んで該被コンタクト体との電気的接続に必要な弾力を蓄えるようにする。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続するプローブと、該プローブを用いたコンタクト装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続することによりその各電極、各配線膜をその測定回路に電気的に導出することが必要である。そして、各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト装置が用いられる。この種のコンタクト装置はプレートに多数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させるようになっているものが多い。これに関しては、本願出願人会社は特願平7−61728、特願平8−183449、特願平10−66333、特願2001−139420等により各種提案を行っている。
【0003】
図3はそのようなコンタクト装置の従来例の一つを示す断面図である。aはプローブ保持ボードで、複数枚の板a1、a2、a3、a4、a5を重ね合わせてなる。bは該プローブ保持ボードaに形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板a1、a2、a3、a4、a5に形成された保持孔b1、b2、b3、b4、b5が連通してなる。cは導電性材料からなるコイルスプリング、dは導電性材料からなるプローブ本体で、該プローブ本体dとコイルスプリングcにより、つまり複数の部品によりプローブが構成され、該プローブが保持孔bのうち、b2、b3、b4、b5の部分に、上記プローブ本体dの尖った先端がプローブ保持ボードa上面から突出しつつ抜け止めされた状態で保持されている。
【0004】
eはプローブと、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線fが被覆を剥がされ上記板a1の孔b1に通されてプローブ保持ボードaに固定されている。該芯線fの先端面は板a1の上面と略同一平面上に位置するようにされ、上記コイルスプリングcの尖った下端がその先端面に接するようにされている。gは例えばIC等の被検査体、fはその例えば電極である。
【0005】
上記該被検査体gは、検査時において、その電極h側を下向きにして、各電極fと、それに対応するプローブとが接するように位置合わせすることによってプローブ保持ボードa上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各プローブ本体dは下側に移動せしめられ、コイルスプリングcがそれによって縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。そして、この弾力により、プローブ本体dと電極hとの間及びコイルスプリングcと被覆ケーブルeの芯線fとの間が弾接し、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図3に示すような従来のコンタクト装置は、低価格化の要請に応えるべく改良を重ねて形状の簡単化、部品点数の低減化の努力の結晶といえるものであるが、コンタクト装置に対する低価格化の要請は止まるところを知らず、より一層の低価格化が要請されている。
【0007】
そこで、本願発明者は、その要請に応えるべく、プローブの低価格化を模索した。というのは、ICやプリント配線基板等は多ピン化、多電極化、高集積化等が進み、1台のコンタクト装置が必要とするプローブの数は増加の一途を辿っており、プローブ1個当たりの価格を低減できれば、コンタクト装置の価格をそのプローブ1個当たりの低減価格のプローブ数倍安くすることができるからである。
【0008】
そして、本願発明者は、プローブについて、図3に示すような従来のコンタクト装置に使用されるものは、プローブ本体dの他にコイルスプリングcを必要としているが、コイルスプリングのみでプローブを構成すれば、部品点数が半減できると言う着想を得た。
本発明はこのような着想を得た上で更に試作を重ねた結果として為されたものであり、コンタクト装置に使用するプローブの部品点数を低減し、プローブの低価格化を図り、延いては、プローブを使用するコンタクト装置の低価格化を図ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1のプローブは、導電材料によりコイル状に形成されことを特徴とする。
【0010】
従って、請求項1のプローブによれば、コイル状であるので、一端部が一方の被コンタクト体に、他端部が他方のコンタクト体に接し、その両被コンタクト体から押圧されたとき縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。即ち、プローブ自身がコイルスプリングとなり、その蓄えた弾力により、その両端部と両被コンタクト体との間を弾接させる。従って、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
そして、自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がなく、プローブをコイル状の導電体のみで形成することができ、プローブの部品点数を低減することができる。
【0011】
請求項2のプローブは、請求項1記載のプローブにおいて、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされたことを特徴とする。
従って、請求項2のプローブによれば、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされているので、被コンタクト体のコンタクト面に垂直にコンタクトし、良好にコンタクトするようにできる。
請求項3のプローブは、請求項1又は2記載のプローブにおいて、自身の中心軸に沿って延びるようにされた両端部の先端面が尖ってなることを特徴とする。従って、請求項3のプローブによれば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、より接触を良好に為すことができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得る。
【0012】
請求項4のコンタクト装置は、請求項1のプローブ複数個と、上記プローブをその両端部が上下両面に突出或いは露出し且つ脱落しないように保持するプローブ保持孔が複数配設されたプローブ保持ボードを有し、上記各プローブは両端部を二つの被コンタクト体にて押圧されて縮んで該被コンタクト体との電気的接続に必要な弾力を蓄えるようにされたことを特徴とする。
【0013】
従って、請求項4のコンタクト装置によれば、請求項1のプローブを用いるので、請求項1のプローブが享受する効果を享受し、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明は、基本的にコンタクト装置のプローブとして、導電材料によりコイル状に形成されたものを用いるが、そのプローブは両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされた形状を有する方がよい。というのは、プローブが被コンタクト体の表面に対して垂直に弾接することができ、良好な電気的接触が得られるからである。
更に、そのプローブの両端部は先端面が尖っているとより好ましいといえる。なぜならば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、接触がより良好に為されるようにすることができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得るからである。
【0015】
【実施例】
以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説明する。図1は本発明プローブの第1の実施例を示す斜視図である。
図において、1はプローブで、コイル状に形成された導電材料、例えば金属からなる。2は該プローブ1の一端部(下端部)で、プローブ1自身の中心軸に沿って延びるように形成され、その先端面2aは円錐状に仕上げられて尖っている。
3は該プローブ1の他端部(上端部)で、プローブ1自身の中心軸に沿って延びるように形成され、その先端面3aは円錐状に仕上げられて尖っている。
【0016】
図2は図1に示したプローブ1を多数用いたコンタクト装置(本発明コンタクト装置の第1の実施例)4を示す断面図である。尚、図2はコンタクト装置4のプローブ1を1個保持する部分のみを示すが、実際には、一つのコンタクト装置4には、数十〜数千個のプローブ1が保持されるようになっている。
5はプローブ保持ボードで、複数枚の板5a、5b、5c、5dを重ね合わせてなる。6は該プローブ保持ボード5に形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板5a、5b、5c、5dに形成された保持孔6a、6b、6c、6dが連通されてなる。
【0017】
プローブ1は、自身の軸方向に延びる上端部3を除く部分が板5cの保持孔6c内に、上端部3の基部側が板5dの保持孔6d内に収納され、上端部3の先端側がプローブ保持ボード5の上面から上に突出せしめられている。そして、プローブ1の上端部3とそれより下の部分との間の段部が、保持孔6dと6cとの間に生じる下向きの段部に係合することによりプローブ1の上方向への抜けが阻まれるようになっている。
【0018】
また、保持孔6cは下部より上部が大径にされてその間に上向きの段部が形成された形状を有し、この段部に、それより上の部分との間の段部が係合することによりプローブ1の下方向への抜けが阻まれるようになっている。
【0019】
7はプローブ1と、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線8が被覆を剥がされ、その被覆が剥がされた部分が板5bの保持孔6bに通され、被覆の先端部が板5aの保持孔6aに通されてプローブ保持ボード4に固定されている。該芯線8の先端面は板5bの上面と略同一平面上に位置するようにされ、上記プローブ1の下端部2の尖った先端と接するようにされている。9は例えばIC等の被検査体、10はその例えば電極である。
【0020】
上記該被検査体9は、検査時において、その電極10側を下向きにして、各電極10と、それに対応するプローブ1とが接するように位置合わせしてプローブ保持ボード5上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各プローブ1は、コイル状に形成されているので、その押圧力に応じて縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。そして、この弾力により、プローブ1と電極10との間及びプローブ1と被覆ケーブル7の芯線8との間を弾接させ、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
【0021】
このようなコンタクト装置4によれば、プローブ1として、コイル状に形成された導電材料からなる1個の部材のみからなるものを使用し、そのプローブ1自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がない。従って、プローブの部品点数を低減することができ、延いては、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【0022】
【発明の効果】
請求項1のプローブによれば、コイル状に形成されているので、一端部が一方の被コンタクト体に、他端部が他方のコンタクト体に接し、その両被コンタクト体から押圧されたとき縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。即ち、プローブ自身がコイルスプリングとなり、その蓄えた弾力により、その両端部と両被コンタクト体との間を弾接させて、その間に良好な電気的接続状態が形成されるようにすることができる。
そして、自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がなく、プローブをコイル状の導電体のみで形成することができ、プローブの部品点数を低減することができる。
【0023】
請求項2のプローブによれば、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされているので、被コンタクト体のコンタクト面に垂直にコンタクトし、良好にコンタクトするようにできる。
請求項3のプローブによれば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、より接触を良好に為すことができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得る。
【0024】
請求項4のコンタクト装置によれば、請求項1のプローブを用いるので、請求項1のプローブが享受する効果を享受し、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明プローブの第1の実施例を示す斜視図である。
【図2】上記本発明本発明プローブの第1の実施例を用いたコンタクト装置の一例(本発明コンタクト装置の第1の実施例)を示す断面図である。
【図3】コンタクト装置の従来例を示す断面図である。
【符号の説明】
1・・・プローブ、2、3・・・軸方向に延びる両端部、
4・・・コンタクト装置、5・・・プローブ保持ボード、
6・・・プローブ保持孔。
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続するプローブと、該プローブを用いたコンタクト装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続することによりその各電極、各配線膜をその測定回路に電気的に導出することが必要である。そして、各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト装置が用いられる。この種のコンタクト装置はプレートに多数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させるようになっているものが多い。これに関しては、本願出願人会社は特願平7−61728、特願平8−183449、特願平10−66333、特願2001−139420等により各種提案を行っている。
【0003】
図3はそのようなコンタクト装置の従来例の一つを示す断面図である。aはプローブ保持ボードで、複数枚の板a1、a2、a3、a4、a5を重ね合わせてなる。bは該プローブ保持ボードaに形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板a1、a2、a3、a4、a5に形成された保持孔b1、b2、b3、b4、b5が連通してなる。cは導電性材料からなるコイルスプリング、dは導電性材料からなるプローブ本体で、該プローブ本体dとコイルスプリングcにより、つまり複数の部品によりプローブが構成され、該プローブが保持孔bのうち、b2、b3、b4、b5の部分に、上記プローブ本体dの尖った先端がプローブ保持ボードa上面から突出しつつ抜け止めされた状態で保持されている。
【0004】
eはプローブと、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線fが被覆を剥がされ上記板a1の孔b1に通されてプローブ保持ボードaに固定されている。該芯線fの先端面は板a1の上面と略同一平面上に位置するようにされ、上記コイルスプリングcの尖った下端がその先端面に接するようにされている。gは例えばIC等の被検査体、fはその例えば電極である。
【0005】
上記該被検査体gは、検査時において、その電極h側を下向きにして、各電極fと、それに対応するプローブとが接するように位置合わせすることによってプローブ保持ボードa上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各プローブ本体dは下側に移動せしめられ、コイルスプリングcがそれによって縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。そして、この弾力により、プローブ本体dと電極hとの間及びコイルスプリングcと被覆ケーブルeの芯線fとの間が弾接し、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図3に示すような従来のコンタクト装置は、低価格化の要請に応えるべく改良を重ねて形状の簡単化、部品点数の低減化の努力の結晶といえるものであるが、コンタクト装置に対する低価格化の要請は止まるところを知らず、より一層の低価格化が要請されている。
【0007】
そこで、本願発明者は、その要請に応えるべく、プローブの低価格化を模索した。というのは、ICやプリント配線基板等は多ピン化、多電極化、高集積化等が進み、1台のコンタクト装置が必要とするプローブの数は増加の一途を辿っており、プローブ1個当たりの価格を低減できれば、コンタクト装置の価格をそのプローブ1個当たりの低減価格のプローブ数倍安くすることができるからである。
【0008】
そして、本願発明者は、プローブについて、図3に示すような従来のコンタクト装置に使用されるものは、プローブ本体dの他にコイルスプリングcを必要としているが、コイルスプリングのみでプローブを構成すれば、部品点数が半減できると言う着想を得た。
本発明はこのような着想を得た上で更に試作を重ねた結果として為されたものであり、コンタクト装置に使用するプローブの部品点数を低減し、プローブの低価格化を図り、延いては、プローブを使用するコンタクト装置の低価格化を図ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1のプローブは、導電材料によりコイル状に形成されことを特徴とする。
【0010】
従って、請求項1のプローブによれば、コイル状であるので、一端部が一方の被コンタクト体に、他端部が他方のコンタクト体に接し、その両被コンタクト体から押圧されたとき縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。即ち、プローブ自身がコイルスプリングとなり、その蓄えた弾力により、その両端部と両被コンタクト体との間を弾接させる。従って、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
そして、自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がなく、プローブをコイル状の導電体のみで形成することができ、プローブの部品点数を低減することができる。
【0011】
請求項2のプローブは、請求項1記載のプローブにおいて、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされたことを特徴とする。
従って、請求項2のプローブによれば、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされているので、被コンタクト体のコンタクト面に垂直にコンタクトし、良好にコンタクトするようにできる。
請求項3のプローブは、請求項1又は2記載のプローブにおいて、自身の中心軸に沿って延びるようにされた両端部の先端面が尖ってなることを特徴とする。従って、請求項3のプローブによれば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、より接触を良好に為すことができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得る。
【0012】
請求項4のコンタクト装置は、請求項1のプローブ複数個と、上記プローブをその両端部が上下両面に突出或いは露出し且つ脱落しないように保持するプローブ保持孔が複数配設されたプローブ保持ボードを有し、上記各プローブは両端部を二つの被コンタクト体にて押圧されて縮んで該被コンタクト体との電気的接続に必要な弾力を蓄えるようにされたことを特徴とする。
【0013】
従って、請求項4のコンタクト装置によれば、請求項1のプローブを用いるので、請求項1のプローブが享受する効果を享受し、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明は、基本的にコンタクト装置のプローブとして、導電材料によりコイル状に形成されたものを用いるが、そのプローブは両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされた形状を有する方がよい。というのは、プローブが被コンタクト体の表面に対して垂直に弾接することができ、良好な電気的接触が得られるからである。
更に、そのプローブの両端部は先端面が尖っているとより好ましいといえる。なぜならば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、接触がより良好に為されるようにすることができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得るからである。
【0015】
【実施例】
以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説明する。図1は本発明プローブの第1の実施例を示す斜視図である。
図において、1はプローブで、コイル状に形成された導電材料、例えば金属からなる。2は該プローブ1の一端部(下端部)で、プローブ1自身の中心軸に沿って延びるように形成され、その先端面2aは円錐状に仕上げられて尖っている。
3は該プローブ1の他端部(上端部)で、プローブ1自身の中心軸に沿って延びるように形成され、その先端面3aは円錐状に仕上げられて尖っている。
【0016】
図2は図1に示したプローブ1を多数用いたコンタクト装置(本発明コンタクト装置の第1の実施例)4を示す断面図である。尚、図2はコンタクト装置4のプローブ1を1個保持する部分のみを示すが、実際には、一つのコンタクト装置4には、数十〜数千個のプローブ1が保持されるようになっている。
5はプローブ保持ボードで、複数枚の板5a、5b、5c、5dを重ね合わせてなる。6は該プローブ保持ボード5に形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板5a、5b、5c、5dに形成された保持孔6a、6b、6c、6dが連通されてなる。
【0017】
プローブ1は、自身の軸方向に延びる上端部3を除く部分が板5cの保持孔6c内に、上端部3の基部側が板5dの保持孔6d内に収納され、上端部3の先端側がプローブ保持ボード5の上面から上に突出せしめられている。そして、プローブ1の上端部3とそれより下の部分との間の段部が、保持孔6dと6cとの間に生じる下向きの段部に係合することによりプローブ1の上方向への抜けが阻まれるようになっている。
【0018】
また、保持孔6cは下部より上部が大径にされてその間に上向きの段部が形成された形状を有し、この段部に、それより上の部分との間の段部が係合することによりプローブ1の下方向への抜けが阻まれるようになっている。
【0019】
7はプローブ1と、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線8が被覆を剥がされ、その被覆が剥がされた部分が板5bの保持孔6bに通され、被覆の先端部が板5aの保持孔6aに通されてプローブ保持ボード4に固定されている。該芯線8の先端面は板5bの上面と略同一平面上に位置するようにされ、上記プローブ1の下端部2の尖った先端と接するようにされている。9は例えばIC等の被検査体、10はその例えば電極である。
【0020】
上記該被検査体9は、検査時において、その電極10側を下向きにして、各電極10と、それに対応するプローブ1とが接するように位置合わせしてプローブ保持ボード5上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各プローブ1は、コイル状に形成されているので、その押圧力に応じて縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。そして、この弾力により、プローブ1と電極10との間及びプローブ1と被覆ケーブル7の芯線8との間を弾接させ、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。
【0021】
このようなコンタクト装置4によれば、プローブ1として、コイル状に形成された導電材料からなる1個の部材のみからなるものを使用し、そのプローブ1自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がない。従って、プローブの部品点数を低減することができ、延いては、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【0022】
【発明の効果】
請求項1のプローブによれば、コイル状に形成されているので、一端部が一方の被コンタクト体に、他端部が他方のコンタクト体に接し、その両被コンタクト体から押圧されたとき縮んで拡がろうとする弾力を蓄える。即ち、プローブ自身がコイルスプリングとなり、その蓄えた弾力により、その両端部と両被コンタクト体との間を弾接させて、その間に良好な電気的接続状態が形成されるようにすることができる。
そして、自身がコイルスプリングとなるので、弾接のために別にスプリングを設ける必要がなく、プローブをコイル状の導電体のみで形成することができ、プローブの部品点数を低減することができる。
【0023】
請求項2のプローブによれば、両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされているので、被コンタクト体のコンタクト面に垂直にコンタクトし、良好にコンタクトするようにできる。
請求項3のプローブによれば、被コンタクト体との接触を先端面の尖った部分にて為し得るので、より接触を良好に為すことができ、延いては、プローブと被コンタクト体との電気的接続性を良好に為し得る。
【0024】
請求項4のコンタクト装置によれば、請求項1のプローブを用いるので、請求項1のプローブが享受する効果を享受し、コンタクト装置をより低価格化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明プローブの第1の実施例を示す斜視図である。
【図2】上記本発明本発明プローブの第1の実施例を用いたコンタクト装置の一例(本発明コンタクト装置の第1の実施例)を示す断面図である。
【図3】コンタクト装置の従来例を示す断面図である。
【符号の説明】
1・・・プローブ、2、3・・・軸方向に延びる両端部、
4・・・コンタクト装置、5・・・プローブ保持ボード、
6・・・プローブ保持孔。
Claims (4)
- 導電材料からなり、コイル状であって両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされた
ことを特徴とするプローブ。 - 両端部が自身の中心軸に沿って延びるようにされた
ことを特徴とする請求項1記載のプローブ。 - 自身の中心軸に沿って延びるようにされた両端部の先端面が尖ってなる
ことを特徴とする請求項1又は2記載のプローブ - 導電材料によりコイル状に形成された複数のプローブと、
上記プローブをその両端が上下両面に突出或いは露出し且つ脱落しないように保持するプローブ保持孔が複数配設されたプローブ保持ボードと、
を有し、
上記各プローブは両端部を二つの被コンタクト体にて押圧されて縮んで該被コンタクト体との電気的接続に必要な弾力を蓄えるようにされた
ことを特徴とするコンタクト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002332007A JP2004163364A (ja) | 2002-11-15 | 2002-11-15 | プローブとそれを用いたコンタクト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002332007A JP2004163364A (ja) | 2002-11-15 | 2002-11-15 | プローブとそれを用いたコンタクト装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004163364A true JP2004163364A (ja) | 2004-06-10 |
Family
ID=32809208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002332007A Withdrawn JP2004163364A (ja) | 2002-11-15 | 2002-11-15 | プローブとそれを用いたコンタクト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2004163364A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010025665A (ja) * | 2008-07-17 | 2010-02-04 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具及び接触子 |
| JP2012522976A (ja) * | 2009-04-03 | 2012-09-27 | デーテーゲー・インターナショナル・ゲーエムベーハー | プリント配線板を検査する検査装置用の接触ユニット |
-
2002
- 2002-11-15 JP JP2002332007A patent/JP2004163364A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010025665A (ja) * | 2008-07-17 | 2010-02-04 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具及び接触子 |
| JP2012522976A (ja) * | 2009-04-03 | 2012-09-27 | デーテーゲー・インターナショナル・ゲーエムベーハー | プリント配線板を検査する検査装置用の接触ユニット |
| TWI494569B (zh) * | 2009-04-03 | 2015-08-01 | Dtg Int Gmbh | 用於測試印刷電路板之測試裝置的接觸單元 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20070724 |