JP2004009357A - Metallized / metallized laminated film and electronic parts using the same - Google Patents
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Abstract
【課題】金属表面の突起が非常に少なく、平面性に優れた金属蒸着/金属メッキ積層フィルムを提供する。
【解決手段】金属蒸着層上に電気めっき法で0.5μm以上9μm未満の厚さの導電性金属層を積層し、その導電性金属層上に20μm未満の厚みの絶縁層を設けた金属蒸着/金属メッキ積層フィルムにより達成できる。
【選択図】図1An object of the present invention is to provide a metal deposition / metal plating laminated film having very few projections on a metal surface and having excellent flatness.
Kind Code: A1 A metal deposition in which a conductive metal layer having a thickness of 0.5 μm or more and less than 9 μm is laminated on a metal deposition layer by electroplating, and an insulating layer having a thickness of less than 20 μm is provided on the conductive metal layer. / Achieved by metal-plated laminated film.
[Selection diagram] Fig. 1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フレキシブルプリント配線用基板やフィルムコンデンサーなどの電子部品に用いられる金属蒸着/金属メッキ積層フィルムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子機器の小型化、軽量化、高機能化、多機能化、高密度実装化に伴い、プリント配線板は、導体幅および導体間の狭小化、多層化、フレキシブル化、基板の薄膜化により高密度化が急速に進み、フレキシブルプリント回路(以下FPCという)基板へと発展している。
【0003】
従来より、ポリイミドフィルムに接着剤層を介して導体層としての銅箔を貼り合せた3層構造のフレキシブルプリント配線用基板が知られている。この3層構造タイプの基板は、用いられる接着剤の耐熱性がプラスチックフィルムより劣るため、加工後の寸法精度が低下するという問題があり、また用いられる銅箔の厚さが通常10μm以上であるため、ピッチの狭い高密度配線用のパターニングが難しいという欠点もあった。さらに、IC実装の際には、高温に熱せられたICに対して接着剤が溶融、あるいは熱分解してしまうため精度良くICのバンプとFPC上のリードを接続することが出来ない。そこで、IC実装の際には、ICの実装される位置にパンチングなどの方法により穴をあけて、ICチップの下に接着剤が介在しないようにして実装を行うことが一般的である。
【0004】
一方、プラスチックフィルム上に接着剤を用いることなく、湿式メッキ法や乾式メッキ法(例えば真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法など)により導体層としての金属層を形成させたのち電気メッキにより金属層を設ける2層構造タイプのフレキシブルプリント配線基板が知られている。これら接着剤を用いないめっき法2層タイプのフレキシブルプリント配線基板は、接着剤がないために、IC実装の際に前記したようなフィルム面に穴開けすることなく直接プラスチックフィルム上にICを実装することが可能である。また、この2層構造タイプの基板は、導体層を9μmよりも薄くすることができるため、FPCの屈曲性が非常に良好であるとともに高密度配線が可能である。
【0005】
しかし、このようにして得られた基板材料の金属表面には、メッキ工程において生じる金属の異常析出による突起あるいは凹みを生じ、これらが高密度配線において、配線の断線や配線間の短絡等の故障により歩留まり低下を招くという欠点があった。
【0006】
さらに、高密度配線化、基板のフレキシブル化が進むに連れて、プラスチックフィルムそのものもにも薄膜化が要求されてきている。しかし、通常溶液成膜されたのちイミド化プロセスを経て形成されたポリイミドフィルムは20μm未満の厚みにおいては、その平面性の悪さからフィルムを巻き取ったときにシワや折り目が生じ安く、金属蒸着やメッキ工程においてそれらの故障が助長され、後のプリント配線のパターニング等の工程において使用できなくなるという欠点あった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、接着剤を用いないめっき法2層タイプのFPC基板材料において、金属表面、特に、銅表面に実用上問題となる突起や凹みがなく、導電性金属層の厚みが9μm未満であり、かつ基板となるポリイミドフィルムなどの樹脂層の厚みが20μm未満の加工後の寸法精度が良く、高密度配線が可能な金属蒸着/金属メッキ積層フィルムを提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
金属蒸着層上に電気めっき法で0.5μm以上9μm未満の厚さの導電性金属層を積層し、その導電性金属層上に20μm未満の厚みの絶縁層を設けることにより達成できる。
【0009】
【発明の実施の形態】
本発明では、金属蒸着層上に電気めっき法で0.5μm以上9μm未満の厚さの導電性金属層を積層し、その導電性金属層上に20μm未満の厚みの絶縁層を設ける。
【0010】
以下、本発明の金属蒸着/金属メッキ積層フィルムとその製造方法について詳述する。
【0011】
本発明では、電気メッキ法でより厚膜の金属層を形成するに先立って、真空蒸着またはスパッタ法により金属蒸着層を形成する。工業的に生産する場合には加工速度の大きい、即ち生産性の高い真空蒸着が望ましい。前記金属蒸着層およびメッキ法での金属層を構成する金属としては、銅、ニッケル、スズ、クロムおよびこれらの合金から選ばれた金属が好適であり、これによって低抵抗でしかも屈曲性に富む層を形成することができる。
【0012】
蒸着またはスパッタ法によって設けられる該金属蒸着層の厚さは10〜300nm、好ましくは30〜120nm、さらに好ましくは40〜100nmである。膜厚が10nmよりも薄い場合は、金属メッキ工程で膜が溶出しやすく、300nmよりも厚い場合は、前記真空蒸着またはスパッタ工程中に熱により基材として用いられるフィルムが変形してしまう、いわゆる熱負けが生じやすい。なお、前記金属薄膜の表面の抵抗値は1.0Ω/cm以下(端子間距離1cmで測定した抵抗値が1.0Ω以下)であることが好適である。
【0013】
本発明では、蒸着金属表面の粗さがRaで60nm未満であることが好ましい。さらに、蒸着金属表面の高さ(あるいは深さ)3μm以上の突起(あるいは凹み)が10cm四方において0.5個未満であることが好ましく、3μm以上の突起(あるいは凹み)は、ほとんどない状態がより好ましい。
【0014】
本発明では、金属薄膜上に、電解メッキによってより厚膜の金属層を形成する。電解金属メッキ工程は、密着性を向上させるための脱脂および酸活性処理、金属ストライク、金属メッキの各工程からなる。金属薄膜を蒸着した直後に電気メッキ工程に入る場合には、脱脂および酸活性処理、金属ストライクを省略してもよい。金属薄層に給電する電流密度は0.2〜10A/dm2が好適で、0.5〜5A/dm2がより好適である。また、電解メッキに加えて無電解メッキを施すこともできる。
【0015】
本発明では、形成される金属メッキ層の厚さは、0.5以上9μm未満とする必要があり、1.0〜8μmがより好適である。0.5μm以下ではメッキ層の信頼性が十分とはいえない。9μm以上では膜形成に時間がかかり、経済性が劣るほか、エッチング加工時に回路パターンの端部エッチングが進行しやすい。目的とする回路の電流密度によっても異なるが、加工作業性、品質の面から、1.0〜8μm程度がより好適である。
【0016】
本発明において、メッキの条件は、メッキ浴の組成、電流密度、浴温、撹拌条件などにより異なるが、とくに制限はない。メッキ浴は、硫酸銅浴、ピロりん酸銅浴、シアン化銅浴、スルファミン酸ニッケル浴、スズ−ニッケル合金メッキ浴、銅−スズ−亜鉛合金メッキ浴、スズ−ニッケル−銅合金メッキ浴などが好ましいが、これらに限られるものではない。エッチング後、端子部にシアン化金メッキ、シアン化銀メッキ、ロジウムメッキ、パラジュウムメッキなどの貴金属メッキを補足形成させても良い。
【0017】
本発明においては、必要に応じて、金属メッキ層上に、金属層の後から設けられる絶縁層への拡散防止や、金属層の酸化防止、金属メッキ層との密着力を強くすることなどを目的として、前記金属メッキ層に用いた金属とは異種の金属、例えばNi、Cr、Zn、Sn、Co、Tiなどの金属あるいはこれらの合金、酸化物などを真空蒸着、スパッタリング、無電解メッキ、電解メッキなどの方法により下地層として付着させることができる。この下地層の厚みは目的に応じて3nmから50nm程度とするのが一般的である。また、金属メッキ層との密着力を強くすることなどを目的として、金属箔の極表面のみエッチング方式にて絶縁層を塗布する表面処理をおこなうことも可能である。
【0018】
金属メッキ層上の絶縁層として、ポリイミド樹脂若しくはエポキシ樹脂又はこれらの混合物層を設けることが好ましい。該絶縁樹脂層は、好ましくは、ウェットコーティングにより形成するが、これに先立って、電着によりポリイミドを金属面に付着させておくと、絶縁樹脂層のピンホールを解消することができ、好ましい。また、ウェットコーティングのみよる絶縁樹脂層形成の場合も、コーティングを複数回繰り返すことにより、ピンホールを解消することができるので好ましい。絶縁層を構成する樹脂は、そのガラス転移温度が100℃以上350℃未満であることが好ましい。ガラス転移点が100℃未満であると、配線パターンを刻んだり、ICやその他の電子部品を実装する際の熱により絶縁層が変形したりあるいは劣化する場合がある。また、350℃以上の樹脂ではコーティングにより膜が形成しづらい場合がある。さらに、下地層やエッチング層上に、絶縁層を形成することもできる。
【0019】
絶縁層として用いられる樹脂の例としては、基本的にウェットコーティングに適するものであれば構わないが、酸無水物として、ビフタル酸二無水物(BPDA)、ピロメリット酸二無水物、ジアミン成分としてオキシジアニリン(ODA)p−フェニレンジアミン、1,3−ビスアミノフェノキヘキサフルオロプロパン(Bis−A−AF)などのモノマーを組み合わせて重合したものが好適に用いられる。電着により絶縁層を設ける場合には、水溶液中で電気的に荷電する官能基(カルボキシル基など)を分子鎖中に導入したポリマーを用いる。
【0020】
本発明の金属蒸着/金属メッキ積層フィルムは、好ましくは、プラスチックフィルムの表面に、離型層を設け、その上に金属蒸着層を設ける。
【0021】
本発明で好ましく用いる離型層基材のプラスチックフィルムを例示すると、ポリエステルフィルム、ポリフェニレンサルファイドフィルム、ポリイミドフィルム、ポリパラジン酸フィルム、ポリエーテルスルホンフィルム、ポリエーテル・エーテルケトンフィルム、芳香族ポリアミドフィルム、ポリオキサゾールフィルムおよびこれらのハロゲン基あるいはメチル基置換体から選ばれたものが挙げられる。また、これらの共重合体や、他の有機重合体を含有するものであっても良い。これらのプラスチックに公知の添加剤、たとえば、滑剤、可塑剤などが添加されていても良い。
【0022】
本発明で好ましく用いるプラスチックフィルムは、少なくとも片面の表面粗さが、Raで40nm未満であることが好ましく、プラスチックフィルム表面において平均線に対する高さ(あるいは深さ)が2μm以上の粗大突起(あるいは凹み)が10cm四方において1個未満であることが好ましい。
【0023】
本発明で好ましく用いる離型層基材であるプラスチックフィルムの厚さは、6〜125μm程度のものが多用され、12〜50μmの厚さが好適である。
【0024】
プラスチックフィルムと金属蒸着層の間には、5〜50g/cmの剥離力を与えるために、フィルム表面にシリコーン樹脂膜、フッ素樹脂膜、ポリオレフィン系樹脂膜、ワックス樹脂膜、セルロース樹脂膜、メラミン系樹脂膜、アクリル樹脂膜、又はこれらの混合樹脂膜などの離型層を塗布、乾燥することが好ましい。塗布の方式は、既知のコーティング方式で有ればいずれも可能であり、特に限定されるものではない。
【0025】
かくして得られたプラスチックフィルム/離型層/金属蒸着層/絶縁樹脂層が積層されたフィルムから、離型層/金属蒸着層の界面で剥離することにより、金属蒸着層/絶縁樹脂層が積層された金属蒸着/金属メッキ積層フィルムを得ることができる。
【0026】
次いで、本発明の金属蒸着/金属メッキ積層フィルムは、フレキシブルプリント配線用基板として好適に用いられる。この場合はエッチングによってパターンを形成する。具体的には金属の不要部分を化学反応で溶解除去し、所定の電気回路図形を形成する。エッチング液としては、塩化第二銅、塩化第二鉄、過硫酸塩類、過酸化水素/硫酸、アルカリエッチャントなどの水溶液などが使用できる。また、パターンとして残すべき金属の必要部分は、写真法やスクリーン印刷法で有機化合物系レジストを被覆させるか、または異種金属系レジストをメッキし保護して、金属の溶解を防止する。本発明の金属蒸着/金属メッキ積層フィルムは、よりファインなパターンを形成でき、しかも製品の繰返し屈曲、各種環境試験に十分耐えるものを形成できる。
【0027】
【発明の効果】
以上、本発明の金属蒸着/金属メッキ積層フィルムは、金属蒸着層上に電気めっき法で0.5μm以上9μm未満の厚さの導電性金属層を積層し、その導電性金属層上に20μm未満の厚みの絶縁層を設けたことにより、金属表面に粗大突起がなく平滑性に優れた金属蒸着/金属メッキ積層フィルムを提供できる。本発明になる金属蒸着/金属メッキ積層フィルムは、電子計算機、端末機器、電話機、通信機器、計測制御機器、カメラ、時計、自動車、事給機器、家電製品、航空機計器、医療機器などのあらゆるエレクトロニクスの分野に活用できる。またコネクター、フラット電極などの電子部品への適用も可能である。
【0028】
【実施例】
以下、実施例によって本発明を詳述する。
【0029】
実施例中の各特性値の測定は、次の測定法に従って行なった。
【0030】
1.金属膜表面の突起(凹み)の数
160mm×40mmの範囲を40倍の実体顕微鏡で観察し、スケールの一目盛り(約25μm)以上の大きさの突起および凹みをカウントし、針などでマーキングする。マーキングされた箇所の突起(凹み)部分をレーザー顕微鏡(例えばキーエンス社製VK8500)で1000〜3000倍程度(ここでは1250倍、または2500倍)に拡大し、突起(凹み)を横切るプロファイルを作成し、高さ(深さ)を測定した。表1のデータは、これらの突起凹みの高さ(深さ)の上記視野9カ所の平均値を10cm四方に換算したものである。
【0031】
2.製品外観
金属蒸着/金属メッキ積層フィルム(500mm幅)を平坦な床面に広げ、目視にてシワ、折り目などの外観不良を観察した。
【0032】
3.蒸着金属層表面粗さ(Ra)
光干渉式表面粗さ形(WYKO NT−1000)を用い、下記条件にて
・測定倍率 ×5.2
・測定範囲 1.24mm×0.94mm
測定した。
【0033】
実施例1
厚さ50μm、幅1000mmのポリエステルフィルム(東レ(株)ルミラーT−70D 表面粗さRa=28nm、高さ2μm以上の粗大突起0.2個/10cm□)に、メラミン系離型剤をグラビアコーターにて塗布(膜厚0.2μm)し、離型フィルムを得た。この離型フィルムを500mm幅に裁断した後、真空蒸着機を用いて60nmの銅を蒸着した。銅を蒸着されたフィルムを、ロール・トゥ・ロールの電解メッキ装置にて厚さ5μmの電解銅めっきを行い、金属蒸着層上に導電性金属層を形成した。さらに、この銅メッキされたフィルムの銅面側に、ポリイミドワニス(宇部興産 ユピタイトUPA−N111)をリバースロールコーターにて2回繰り返し塗布し乾燥膜厚を12μmとし、ポリイミドフィルムを銅面上に形成した。このフィルム積層板から前記離型フィルムを剥離して、金属蒸着/金属メッキ/ポリイミド樹脂積層の構成をもつ導電性金属層薄膜ポリイミド積層フィルムを得た。ここまでの製造工程において特に問題は無かった。
【0034】
実施例2
実施例1においてポリイミド樹脂層のコーティング厚みを5μとした以外は実施例1と同様にして、サンプルを調製した。
【0035】
実施例3
厚さ50μm、幅1000mmのポリエステルフィルム(東レ(株)ルミラーR72 表面粗さRa=28nm、高さ2μm以上の粗大突起0.2個/10cm□)に、メラミン系離型剤をグラビアコーターにて塗布(膜厚0.3μm)し、離型フィルムを得た。この離型フィルムを500mm幅に裁断した後、離型材塗布面に真空蒸着機を用いて60nmの銅を蒸着した。その後、ロール・トゥ・ロールの電解メッキ装置にて厚さ8μmの電解銅めっきを行い、金属蒸着層上に導電性金属層を形成した。
【0036】
得られた積層フィルムのメッキ銅表面に、スパッタリングによりニッケルクロム合金(Ni:Cr=95:5)を120オングストロームの厚みに成膜し、さらにこの金属表面上にポリイミドワニス(宇部興産 ユピタイトUPA−N111)をコンマコーターを用いて2回繰り返し塗布し乾燥加熱工程を経て、15μm厚みのポリイミドフィルムを形成した。得られた積層フィルムから、離型フィルムを引き剥がし、金属蒸着/金属メッキ/ポリイミド樹脂積層フィルムを得た。
【0037】
比較例1
厚さ12.5μm、幅520mmのポリイミドフィルム“カプトンEN”(東レデュポン社の登録商標)の片面にプラズマ処理を実施した。プラズマ処理は、5mPa以下の真空度にした真空チャンバー中で、アルゴンガスを2.0Paまで導入し、1.0kWのRF電力で行った。次いで、クロム10%ニッケル90%のターゲットを用いて、ポリイミドフィルムのプラズマ処理面上にスパッタ蒸着し厚さ60nmのニッケルクロム蒸着層を形成し、金属蒸着層第一層とした。さらに、純度99.99%の銅を金属蒸着第二層の上にスパッタ蒸着し厚さ100nmの銅蒸着層を形成した。このスパッタ工程において、巻き取りの張力を最初に520mm幅に対して50Nに設定したが、熱負け(スパッタ時にフィルムが受ける熱による変形)によるシワが発生し、巻き取り張力を70Nに上げざるを得なかったが、この場合にも完全にシワを解消するに至らなかった。
【0038】
その後、ロール・トゥ・ロールの電解メッキ装置にて厚さ8μmの電解銅めっきを行い、金属蒸着層上に導電性金属層を形成した。
【0039】
比較例2
ポリイミドフィルムとして厚さ25μm、幅520mmの“カプトンEN”(東レデュポン社の登録商標)を用いた以外は、比較例1と全く同様にしてサンプルを作成した。この場合は加工上特に問題は生じなかった。
【0040】
評価結果
上記実施例1、2、3と比較例1、2のサンプルについて、金属表面突起(凹み)の個数測定および外観検査を行った結果を表1に示す。
【0041】
【表1】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフレキシブルプリント配線用基板の好適なひとつの例の断面図を示す。
【符号の説明】
1:プラスチックフィルム
2:離型層
3:金属蒸着層
4:電気メッキ層
5:下地層
6:絶縁樹脂層[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a metal-deposited / metal-plated laminated film used for electronic components such as a substrate for flexible printed wiring and a film capacitor.
[0002]
[Prior art]
As electronic devices become smaller, lighter, more functional, more multifunctional, and densely packed, printed wiring boards are becoming more demanding due to the narrower conductor width and spacing between conductors, increased multilayer structure, increased flexibility, and thinner substrates. The density has been rapidly increasing, and the flexible printed circuit (hereinafter, referred to as FPC) substrate has been developed.
[0003]
2. Description of the Related Art Conventionally, a flexible printed wiring board having a three-layer structure in which a copper foil as a conductor layer is bonded to a polyimide film via an adhesive layer has been known. This three-layer structure type substrate has a problem that the heat resistance of the adhesive used is inferior to that of the plastic film, so that the dimensional accuracy after processing is reduced, and the thickness of the copper foil used is usually 10 μm or more. Therefore, there is a disadvantage that patterning for high-density wiring with a narrow pitch is difficult. Further, when mounting the IC, the adhesive is melted or thermally decomposed to the IC heated to a high temperature, so that the bumps of the IC and the leads on the FPC cannot be accurately connected. Therefore, when mounting an IC, it is common to make a hole at the position where the IC is mounted by punching or the like so that no adhesive is interposed under the IC chip.
[0004]
On the other hand, a metal layer as a conductor layer is formed on a plastic film by a wet plating method or a dry plating method (for example, a vacuum deposition method, a sputtering method, an ion plating method, etc.) without using an adhesive, and then electroplating. 2. Description of the Related Art A two-layer structure type flexible printed wiring board provided with a metal layer is known. These two-layer type flexible printed wiring boards that do not use an adhesive do not have an adhesive, so the IC is directly mounted on a plastic film without making a hole in the film surface when mounting the IC as described above. It is possible to do. Further, since the conductor layer of this two-layer structure type substrate can be made thinner than 9 μm, the flexibility of the FPC is very good and high-density wiring is possible.
[0005]
However, on the metal surface of the substrate material obtained in this way, protrusions or dents are generated due to abnormal deposition of the metal generated in the plating process, and these are failures in high-density wiring such as disconnection of wiring and short-circuit between wiring. Therefore, there is a drawback that the yield is lowered.
[0006]
Further, as high-density wiring and flexible substrates have progressed, thinner plastic films have been required. However, a polyimide film formed through a solution film forming process and then subjected to an imidization process has a thickness of less than 20 μm, and is poor in flatness. There is a disadvantage that these failures are promoted in the plating step and cannot be used in the subsequent steps such as patterning of printed wiring.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
The problem to be solved by the present invention is to provide an FPC substrate material of a two-layer plating method that does not use an adhesive, and has no protrusions or dents that pose a practical problem on the metal surface, particularly the copper surface. It is an object to provide a metal deposition / metal plating laminated film having a thickness of less than 9 μm and a resin layer such as a polyimide film serving as a substrate having a thickness of less than 20 μm, having good dimensional accuracy after processing, and capable of high-density wiring. It is assumed that.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
This can be achieved by laminating a conductive metal layer having a thickness of 0.5 μm or more and less than 9 μm on the metal deposition layer by electroplating, and providing an insulating layer having a thickness of less than 20 μm on the conductive metal layer.
[0009]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
In the present invention, a conductive metal layer having a thickness of 0.5 μm or more and less than 9 μm is laminated on the metal deposition layer by electroplating, and an insulating layer having a thickness of less than 20 μm is provided on the conductive metal layer.
[0010]
Hereinafter, the metal deposition / metal plating laminated film of the present invention and the method for producing the same will be described in detail.
[0011]
In the present invention, before forming a thicker metal layer by an electroplating method, a metal deposition layer is formed by a vacuum deposition or sputtering method. In the case of industrial production, vacuum deposition at a high processing speed, that is, high productivity is desirable. As the metal constituting the metal vapor deposition layer and the metal layer in the plating method, a metal selected from copper, nickel, tin, chromium and alloys thereof is preferable, and thereby, a layer having low resistance and rich in flexibility. Can be formed.
[0012]
The thickness of the metal deposition layer provided by vapor deposition or sputtering is 10 to 300 nm, preferably 30 to 120 nm, more preferably 40 to 100 nm. When the film thickness is smaller than 10 nm, the film is easily eluted in the metal plating step, and when the film thickness is larger than 300 nm, the film used as the base material is deformed by heat during the vacuum deposition or the sputtering step, so-called, It is easy to lose heat. Preferably, the surface of the metal thin film has a resistance of 1.0 Ω / cm or less (a resistance measured at a distance between terminals of 1 cm is 1.0 Ω or less).
[0013]
In the present invention, it is preferable that the roughness of the surface of the deposited metal is less than 60 nm in Ra. Further, it is preferable that the number of protrusions (or dents) having a height (or depth) of 3 μm or more on the surface of the deposited metal is less than 0.5 in a 10 cm square, and the number of protrusions (or dents) of 3 μm or more is almost nonexistent. More preferred.
[0014]
In the present invention, a thicker metal layer is formed on a metal thin film by electrolytic plating. The electrolytic metal plating step includes the steps of degreasing and acid activating treatment for improving adhesion, metal strike, and metal plating. When the electroplating process is started immediately after the deposition of the metal thin film, the degreasing and the acid activation treatment and the metal strike may be omitted. The current density for feeding the thin metal layer is preferably 0.2 to 10 A / dm2, and more preferably 0.5 to 5 A / dm2. Further, electroless plating can be performed in addition to electrolytic plating.
[0015]
In the present invention, the thickness of the formed metal plating layer needs to be 0.5 or more and less than 9 μm, and more preferably 1.0 to 8 μm. If it is less than 0.5 μm, the reliability of the plating layer cannot be said to be sufficient. If the thickness is 9 μm or more, it takes a long time to form a film, the economic efficiency is poor, and the etching of the end of the circuit pattern tends to proceed during the etching. Although it depends on the current density of the target circuit, it is more preferably about 1.0 to 8 μm from the viewpoint of processing workability and quality.
[0016]
In the present invention, plating conditions vary depending on the composition of the plating bath, current density, bath temperature, stirring conditions, and the like, but are not particularly limited. The plating bath includes a copper sulfate bath, a copper pyrophosphate bath, a copper cyanide bath, a nickel sulfamate bath, a tin-nickel alloy plating bath, a copper-tin-zinc alloy plating bath, a tin-nickel-copper alloy plating bath, and the like. Preferred, but not limited to. After the etching, noble metal plating such as gold cyanide plating, silver cyanide plating, rhodium plating, and palladium plating may be additionally formed on the terminals.
[0017]
In the present invention, if necessary, on the metal plating layer, to prevent diffusion to the insulating layer provided after the metal layer, to prevent oxidation of the metal layer, to increase the adhesion to the metal plating layer and the like. For the purpose, a metal different from the metal used for the metal plating layer, for example, a metal such as Ni, Cr, Zn, Sn, Co, Ti or an alloy thereof, an oxide, or the like is vacuum-deposited, sputtered, electroless-plated, It can be attached as a base layer by a method such as electrolytic plating. The thickness of the underlayer is generally set to about 3 to 50 nm depending on the purpose. In addition, for the purpose of increasing the adhesion to the metal plating layer, it is also possible to perform a surface treatment of applying an insulating layer only on the very surface of the metal foil by an etching method.
[0018]
It is preferable to provide a polyimide resin, an epoxy resin, or a mixture thereof as an insulating layer on the metal plating layer. The insulating resin layer is preferably formed by wet coating. Prior to this, it is preferable to attach polyimide to the metal surface by electrodeposition, because pinholes in the insulating resin layer can be eliminated. Also, in the case of forming an insulating resin layer only by wet coating, it is preferable that pinholes can be eliminated by repeating coating a plurality of times. The resin constituting the insulating layer preferably has a glass transition temperature of 100 ° C. or more and less than 350 ° C. When the glass transition point is lower than 100 ° C., the insulating layer may be deformed or deteriorated due to the heat generated when the wiring pattern is cut or when an IC or other electronic component is mounted. Further, in the case of a resin having a temperature of 350 ° C. or higher, it may be difficult to form a film by coating. Further, an insulating layer can be formed over the base layer or the etching layer.
[0019]
Examples of the resin used as the insulating layer may basically be any resin suitable for wet coating. However, as an acid anhydride, biphthalic dianhydride (BPDA), pyromellitic dianhydride, or a diamine component A polymer obtained by polymerizing a combination of monomers such as oxydianiline (ODA) p-phenylenediamine and 1,3-bisaminophenoxyhexafluoropropane (Bis-A-AF) is preferably used. When an insulating layer is provided by electrodeposition, a polymer having a functional group (such as a carboxyl group) electrically charged in an aqueous solution introduced into a molecular chain is used.
[0020]
In the metal-deposited / metal-plated laminated film of the present invention, preferably, a release layer is provided on the surface of the plastic film, and a metal-deposited layer is provided thereon.
[0021]
Examples of the release layer substrate plastic film preferably used in the present invention include a polyester film, a polyphenylene sulfide film, a polyimide film, a polyparazic acid film, a polyether sulfone film, a polyether ether ketone film, an aromatic polyamide film, and a polyoxazole. Films and those selected from their halogen group or methyl group substituents are exemplified. Further, these copolymers and those containing other organic polymers may be used. Known additives such as a lubricant and a plasticizer may be added to these plastics.
[0022]
The plastic film preferably used in the present invention preferably has at least one surface with a surface roughness Ra of less than 40 nm, and has a height (or depth) of 2 μm or more with respect to an average line on the surface of the plastic film. Is preferably less than one in a 10 cm square.
[0023]
The thickness of the plastic film, which is a release layer substrate preferably used in the present invention, is about 6 to 125 μm, and a thickness of 12 to 50 μm is suitable.
[0024]
A silicone resin film, a fluororesin film, a polyolefin resin film, a wax resin film, a cellulose resin film, a melamine-based film are applied to the surface of the film to give a peeling force of 5 to 50 g / cm between the plastic film and the metal deposition layer. It is preferable to apply and dry a release layer such as a resin film, an acrylic resin film, or a mixed resin film thereof. Any application method can be used as long as it is a known coating method, and it is not particularly limited.
[0025]
By peeling off the thus obtained plastic film / release layer / metal deposition layer / insulating resin layer laminated film at the interface of the release layer / metal deposition layer, the metal deposition layer / insulating resin layer is laminated. A metal-deposited / metal-plated laminated film can be obtained.
[0026]
Next, the metal deposition / metal plating laminated film of the present invention is suitably used as a substrate for flexible printed wiring. In this case, a pattern is formed by etching. Specifically, an unnecessary portion of the metal is dissolved and removed by a chemical reaction to form a predetermined electric circuit figure. As the etchant, an aqueous solution of cupric chloride, ferric chloride, persulfates, hydrogen peroxide / sulfuric acid, alkali etchant, or the like can be used. In addition, a necessary portion of the metal to be left as a pattern is coated with an organic compound-based resist by a photographic method or a screen printing method, or is protected by plating a different metal-based resist to prevent dissolution of the metal. The metal-deposited / metal-plated laminated film of the present invention can form a finer pattern and can withstand a repeated bending of a product and various environmental tests.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, the metal-deposited / metal-plated laminated film of the present invention is obtained by laminating a conductive metal layer having a thickness of 0.5 μm or more and less than 9 μm on a metal-deposited layer by electroplating, and less than 20 μm on the conductive metal layer. By providing the insulating layer having a thickness of 3 mm, it is possible to provide a metal deposition / metal plating laminated film excellent in smoothness without coarse projections on the metal surface. The metal-deposited / metal-plated laminated film according to the present invention can be used for all kinds of electronics such as computers, terminal equipment, telephones, communication equipment, measurement and control equipment, cameras, watches, automobiles, household appliances, home appliances, aircraft instruments, and medical equipment. Can be used in the field. It is also applicable to electronic components such as connectors and flat electrodes.
[0028]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples.
[0029]
Each characteristic value in the examples was measured according to the following measurement method.
[0030]
1. Observe the area of 160 mm x 40 mm of the protrusions (dents) on the surface of the metal film with a stereo microscope of 40 times, count the protrusions and dents of one scale (approximately 25 μm) or more, and mark them with a needle or the like. . The projection (dent) portion of the marked portion is magnified to about 1000 to 3000 times (here, 1250 times or 2500 times) with a laser microscope (for example, VK8500 manufactured by Keyence Corporation) to create a profile that crosses the projection (dent). And height (depth) were measured. The data in Table 1 are obtained by converting the average values of the heights (depths) of these protrusions and dents at nine places in the visual field into 10 cm square.
[0031]
2. Product appearance A metal-deposited / metal-plated laminated film (500 mm width) was spread on a flat floor, and appearance defects such as wrinkles and folds were visually observed.
[0032]
3. Deposition metal layer surface roughness (Ra)
Using a light interference type surface roughness type (WYKO NT-1000), under the following conditions: Measurement magnification × 5.2
・ Measurement range 1.24mm × 0.94mm
It was measured.
[0033]
Example 1
A gravure coater is coated with a melamine-based release agent on a polyester film having a thickness of 50 μm and a width of 1000 mm (Lumirror T-70D, Toray Industries, Inc., surface roughness Ra = 28 nm, coarse projections having a height of 2 μm or more, 0.2 / 10 cm □). (Film thickness 0.2 μm) to obtain a release film. After this release film was cut into a width of 500 mm, copper of 60 nm was deposited using a vacuum deposition machine. The copper-deposited film was subjected to electrolytic copper plating with a thickness of 5 μm using a roll-to-roll electrolytic plating apparatus to form a conductive metal layer on the metal vapor-deposited layer. Further, a polyimide varnish (Ube Industries Iupitite UPA-N111) is repeatedly applied twice on the copper side of the copper-plated film with a reverse roll coater to a dry film thickness of 12 μm, and a polyimide film is formed on the copper side. did. The release film was peeled from the film laminate to obtain a conductive metal layer thin film polyimide laminate film having a structure of metal deposition / metal plating / polyimide resin laminate. There was no particular problem in the manufacturing process up to this point.
[0034]
Example 2
A sample was prepared in the same manner as in Example 1 except that the coating thickness of the polyimide resin layer was changed to 5 μm.
[0035]
Example 3
A melamine release agent is applied to a polyester film (thickness: 50 μm, width: 1000 mm) (Lumirror R72, Toray Industries, Inc., surface roughness Ra = 28 nm, height: 0.2 μm or more, 0.2 cm / 10 cm □) using a gravure coater. It was applied (thickness: 0.3 μm) to obtain a release film. After this release film was cut into a width of 500 mm, copper of 60 nm was deposited on the release material application surface using a vacuum deposition machine. Thereafter, electrolytic copper plating with a thickness of 8 μm was performed using a roll-to-roll electrolytic plating apparatus to form a conductive metal layer on the metal deposition layer.
[0036]
A nickel chromium alloy (Ni: Cr = 95: 5) is deposited to a thickness of 120 angstroms on the plated copper surface of the obtained laminated film by sputtering, and a polyimide varnish (Ube Industries Iupitite UPA-N111) is formed on the metal surface. ) Was repeatedly applied twice using a comma coater, followed by a drying and heating step to form a polyimide film having a thickness of 15 μm. The release film was peeled off from the obtained laminated film to obtain a metal deposition / metal plating / polyimide resin laminated film.
[0037]
Comparative Example 1
One side of a polyimide film "Kapton EN" (registered trademark of Toray DuPont) having a thickness of 12.5 μm and a width of 520 mm was subjected to plasma treatment. The plasma treatment was performed in a vacuum chamber having a degree of vacuum of 5 mPa or less, by introducing an argon gas up to 2.0 Pa and using RF power of 1.0 kW. Next, using a target of chromium 10% nickel 90%, a nickel chromium vapor-deposited layer having a thickness of 60 nm was formed on the plasma-treated surface of the polyimide film by sputtering to form a first metal vapor-deposited layer. Further, copper having a purity of 99.99% was sputter-deposited on the metal-deposited second layer to form a copper-deposited layer having a thickness of 100 nm. In this sputtering step, the winding tension was initially set to 50 N for a width of 520 mm, but wrinkles were generated due to heat loss (deformation due to the heat applied to the film during sputtering), and the winding tension had to be increased to 70 N. Although it was not obtained, wrinkles were not completely eliminated in this case as well.
[0038]
Thereafter, electrolytic copper plating with a thickness of 8 μm was performed using a roll-to-roll electrolytic plating apparatus to form a conductive metal layer on the metal deposition layer.
[0039]
Comparative Example 2
A sample was prepared in exactly the same manner as in Comparative Example 1 except that “Kapton EN” (registered trademark of Toray DuPont) having a thickness of 25 μm and a width of 520 mm was used as the polyimide film. In this case, no particular problem occurred in processing.
[0040]
Evaluation Results Table 1 shows the results of measurement of the number of metal surface protrusions (dents) and appearance inspection of the samples of Examples 1, 2, and 3 and Comparative Examples 1 and 2.
[0041]
[Table 1]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a preferred example of a flexible printed wiring board according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1: plastic film 2: release layer 3: metal deposition layer 4: electroplating layer 5: base layer 6: insulating resin layer
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2002162640A JP2004009357A (en) | 2002-06-04 | 2002-06-04 | Metallized / metallized laminated film and electronic parts using the same |
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| JP2002162640A JP2004009357A (en) | 2002-06-04 | 2002-06-04 | Metallized / metallized laminated film and electronic parts using the same |
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|---|---|
| JP2004009357A true JP2004009357A (en) | 2004-01-15 |
Family
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002162640A Pending JP2004009357A (en) | 2002-06-04 | 2002-06-04 | Metallized / metallized laminated film and electronic parts using the same |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP2004009357A (en) |
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