JP2004088005A - ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 - Google Patents
ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004088005A JP2004088005A JP2002249940A JP2002249940A JP2004088005A JP 2004088005 A JP2004088005 A JP 2004088005A JP 2002249940 A JP2002249940 A JP 2002249940A JP 2002249940 A JP2002249940 A JP 2002249940A JP 2004088005 A JP2004088005 A JP 2004088005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wire
- capillary
- bonding
- face surface
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K20/00—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
- B23K20/002—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating specially adapted for particular articles or work
- B23K20/004—Wire welding
-
- H10W72/07141—
-
- H10W72/07521—
-
- H10W72/07533—
-
- H10W72/536—
-
- H10W72/5363—
-
- H10W72/5366—
-
- H10W72/5522—
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
【解決手段】貫通孔11の開口部12を含む、キャピラリの軸方向に垂直な平面に対するフェイス面13の傾斜角θを4〜15°の範囲とすると共に、フェイス面13の軸方向の高さhをワイヤ2の太さ以上にする。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明はワイヤボンディングに用いるキャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法に関し、より詳細には半導体素子などを実装するのに用いるキャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
リードフレームや回路基板に半導体素子を実装する場合、ワイヤで電極間を接続するワイヤボンディングがこれまでから広く用いられている。一般的なワイヤボンディングはおおよそ次のようにして行われる。まず、キャピラリ先端部の開口から導出されたワイヤの先端を放電等によってボール状に成形する。そして電極上にキャピラリを移動し降下させて、ボール状に成形したワイヤ先端を電極上に固着する(ファーストボンディング)。このときワイヤの接着強度を上げるために超音波振動が加えられる。次に、接続すべき電極上にキャピラリを移動させ、そして降下させてワイヤを電極に固着する(セカンドボンディング)。この固着の際にもワイヤの接着強度を上げるために超音波振動が加えられる。
【0003】
ここで、セカンドボンディングは、キャピラリのフェイス面でワイヤを押しつぶして固着する、いわゆるスティッチボンディングである。このためキャピラリ先端部のフェイス面の形状によって、ワイヤと電極との固着状態は大きく左右される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
図4に示すように、従来のキャピラリ1’の先端部近傍の形状は、ワイヤ2の太さに対して幅(円柱状の場合には直径)が狭く、フェイス面13の面積も小さかった。またこれに起因して、フェイス面13から外周面14に至る、丸め処理されたキャピラリの曲面部15にもワイヤ2を押しつぶす働きを担わせていた。
【0005】
しかし、前記キャピラリの曲面部15ではワイヤ2を充分に押しつぶすことができず、ワイヤ2の一部が電極31から浮いた状態となることがあった。ワイヤ2と電極31との間にこのような隙間があると、生産工程において、機械的及び熱的な応力がワイヤ2の固着部分と浮いた部分の境界に集中する結果、この境界部分でワイヤが切れる。
【0006】
この現象は特に、半導体素子の上面電極にセカンドボンディングする場合に多く発生し、本発明者の実験結果によればワイヤ切れの不具合は、前記上面電極にファーストボンディングした場合には数万個に1個の割合であったのに対し、前記上面電極にセカンドボンディングした場合には数十個に1個という高い割合で発生した。
【0007】
本発明はこのような従来の問題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、スティッチボンディングにおいてワイヤを電極に強固に固着でき、ワイヤがその後に切断や剥離することのないキャピラリを提供することにある。
【0008】
また本発明の目的は、外部電極にファーストボンディングし、半導体素子の上面電極にセカンドボンディングするワイヤボンディング方法において、セカンドボンディングしたワイヤが切断あるいや剥離しないようにすることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、中心方向に向かってテーパ状に傾斜するフェイス面が先端に形成され、ワイヤを挿通させる貫通孔の開口部が前記フェイス面の中心に形成された、ワイヤボンディングに用いられるキャピラリにおいて、
前記貫通孔の開口部を含む、キャピラリの軸方向に垂直な平面に対する前記フェイス面の傾斜角が4〜15°の範囲であり、且つ前記フェイス面の軸方向の高さがワイヤの太さ以上であることを特徴とするワイヤボンディング用キャピラリが提供される。なお、本明細書におけるフェイス面の傾斜角θおよび高さhは、具体的には図1に図示するものをいう。
【0010】
また本発明によれば、外部電極にワイヤをボンディングした後、半導体素子の上面電極にワイヤをボンディングするワイヤボンディング方法において、
キャピラリとして前記記載のキャピラリを用いることを特徴とするワイヤボンディング方法が提供される。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明者は、スティッチボンディングにおいてワイヤを電極に強固に固着できるようにすべく、キャピラリのフェイス面の形状を種々検討した結果、フェイス面の傾斜角及び高さを所定範囲とすればよいことを見出し本発明をなすに至った。
【0012】
すなわち本発明のキャピラリではフェイス面の傾斜角を4〜15°の範囲とすることが重要である。フェイス面の傾斜角が4°より小さいと、後述するフェイス面の高さとの関係においてキャピラリが太くなりすぎ、高密度でワイヤをボンディングすることが困難になる。他方、フェイス面の傾斜角が15°より大きいと、フェイス面を介してワイヤに押圧力が充分に加わらず、電極へのワイヤの接着が不十分となるからである。
【0013】
また本発明のキャピラリではフェイス面の高さをワイヤの太さ以上とすることも重要である。フェイス面の高さがワイヤの太さより低いと、ワイヤと電極との実質的接合面積が小さくなり、ワイヤが電極に強固に接着しないからである。フェイス面の高さの上限に特に限定はないが、高密度でワイヤをボンディングする観点などからは、ワイヤの太さよりも数μm大きい程度が好ましい。キャピラリの幅(直径)は前記フェイス面の傾斜角と高さとから決定されるが、半導体素子の上面電極にワイヤを接合する場合には、上面電極とワイヤとの接合をより強固にする観点からキャピラリの幅を半導体素子の幅よりも広くすることが推奨される。
【0014】
図1に、本発明のキャピラリの一例を示す先端部拡大断面図を示す。図1のキャピラリ1は略逆円錐状の形状を有し、その軸中心にはワイヤ2を挿通させるための貫通孔11が形成され、そしてその先端にはフェイス面13が形成されている。貫通孔11の下端部には外方に向かって順次拡径した開口部12が形成され、この開口部12はフェイス面13の中心に位置している。一方、フェイス面13は貫通孔11の開口部12から半径方向外方に向かって角度8°で上方に傾斜し、そしてその高さがちょうどワイヤ2の太さ(直径30μm)となる所で、キャピラリの外周面14に繋がる曲面部15と繋がっている。
【0015】
このような構造のキャピラリ1を用いて半導体素子3を回路基板4に実装する作業例について図2に基づいて説明する。まず、トーチ電極(不図示)からの放電によって、キャピラリ先端部の開口部12から導出されたワイヤ2の先端をボール状に成形する(図2(a))。そしてキャピラリ1を降下させて、回路基板4上に形成された電極41に、ボール状のワイヤ先端を押し付けて、超音波振動を加えながらワイヤ2を電極41に固着させる(同図(b))。次に、キャピラリ1を、半導体素子3の高さよりも少し高い位置まで上昇させながら、回路基板上の電極に固着された半導体素子3の上方に移動させた後(同図(c))、キャピラリ1を下降させて上面電極31に押し当て、所定の荷重を掛けると同時に超音波振動を加えワイヤ2を上面電極31に固着させる(同図(d))。その後ワイヤをクランプした状態でキャピラリ1を上方に移動させてワイヤ2を切断する(同図(e))。
【0016】
ワイヤ2と上面電極31との固着状態を図3に示す。図3から理解されるように、キャピラリ1の先端部に前記のような傾斜角及び高さのフェイス面13が形成されているので、ワイヤ2と上面電極31との接合面積が従来に比べ広くなり、しかもこの接合面積全体に所定の荷重が掛かるので、ワイヤ2は上面電極31に強固に固着し、ワイヤ切れや剥離といった不具合は生じない。
【0017】
加えて、回路基板4の電極41にワイヤ2をファーストボンディングし、半導体素子3の上面電極31とセカンドボンディングしているので、半導体素子3の上面電極31とワイヤ2とのなす角を非常に小さくすることができ、機械的、熱的応力がワイヤ2の接着部の一部に集中することを防止でき、ワイヤ切れなどが一層抑えられる。また同時に、ワイヤ2のループを小さくでき半導体装置の薄型にすることができる。
【0018】
キャピラリのフェイス面でワイヤを押しつぶして接着するスティッチボンディングにおいて、キャピラリに加える荷重としては特に限定はなく、ワイヤの種類などから適宜決定すればよいが、一般に100〜200g/cm2の範囲が好ましい。また本発明で使用できるワイヤとしては特に限定はなく、従来公知のものが使用できるが、その中でもAuワイヤが好ましい。
【0019】
【発明の効果】
本発明のキャピラリでは、キャピラリの先端に形成されたフェイス面の傾斜角を4〜15°の範囲とするとともに、フェイス面の軸方向の高さをワイヤの太さ以上としたので、スティッチボンディングによってワイヤを電極にボンディングした場合に、ワイヤと電極との接合面積を従来に比べ大きくできると同時に、キャピラリから加わる荷重をワイヤに効果的に伝えることができ、ワイヤの切れや剥離といった不具合を効果的に防止できる。
【0020】
本発明のワイヤボンディング方法では、外部電極にワイヤをボンディングした後、半導体素子の上面電極にワイヤをボンディングするので、ワイヤのループを確保しながら半導体装置の薄型化が図れ、またキャピラリとして前記記載のキャピラリを用いるので、ワイヤを上面電極に強固に接合することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のキャピラリの一例を示す側面図である。
【図2】本発明のキャピラリを用いてワイヤボンディングを行う場合の工程図である。
【図3】本発明のキャピラリを用いてスティッチボンディングしたときの状態図である。
【図4】従来のキャピラリを示す側面図である。
【符号の説明】
1 キャピラリ
2 ワイヤ
3 半導体素子
4 回路基板
11 貫通孔
12 開口部
13 フェイス面
14 外周面
15 曲面部
31 表面電極
41 電極
Claims (2)
- 中心方向に向かってテーパ状に傾斜するフェイス面が先端に形成され、ワイヤを挿通させる貫通孔の開口部が前記フェイス面の中心に形成された、ワイヤボンディングに用いられるキャピラリにおいて、
前記貫通孔の開口部を含む、キャピラリの軸方向に垂直な平面に対する前記フェイス面の傾斜角が4〜15°の範囲であり、且つ前記フェイス面の軸方向の高さがワイヤの太さ以上であることを特徴とするワイヤボンディング用キャピラリ。 - 外部電極にワイヤをボンディングした後、半導体素子の上面電極にワイヤをボンディングするワイヤボンディング方法において、
キャピラリとして請求項1記載のキャピラリを用いることを特徴とするワイヤボンディング方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002249940A JP3765778B2 (ja) | 2002-08-29 | 2002-08-29 | ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 |
| US10/649,654 US7051915B2 (en) | 2002-08-29 | 2003-08-28 | Capillary for wire bonding and method of wire bonding using it |
| CNB031557112A CN100342514C (zh) | 2002-08-29 | 2003-08-29 | 用于引线接合的毛细管及利用毛细管进行引线接合的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002249940A JP3765778B2 (ja) | 2002-08-29 | 2002-08-29 | ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004088005A true JP2004088005A (ja) | 2004-03-18 |
| JP3765778B2 JP3765778B2 (ja) | 2006-04-12 |
Family
ID=31972604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002249940A Expired - Fee Related JP3765778B2 (ja) | 2002-08-29 | 2002-08-29 | ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7051915B2 (ja) |
| JP (1) | JP3765778B2 (ja) |
| CN (1) | CN100342514C (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009054950A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Tokai Rika Co Ltd | バンプ形成方法 |
| TWI721404B (zh) * | 2019-04-11 | 2021-03-11 | 日商新川股份有限公司 | 打線接合裝置、半導體裝置的製造方法以及半導體裝置 |
Families Citing this family (49)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7347352B2 (en) * | 2003-11-26 | 2008-03-25 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Low loop height ball bonding method and apparatus |
| KR101313391B1 (ko) | 2004-11-03 | 2013-10-01 | 테세라, 인코포레이티드 | 적층형 패키징 |
| US8058101B2 (en) | 2005-12-23 | 2011-11-15 | Tessera, Inc. | Microelectronic packages and methods therefor |
| US8482111B2 (en) | 2010-07-19 | 2013-07-09 | Tessera, Inc. | Stackable molded microelectronic packages |
| KR101128063B1 (ko) | 2011-05-03 | 2012-04-23 | 테세라, 인코포레이티드 | 캡슐화 층의 표면에 와이어 본드를 구비하는 패키지 적층형 어셈블리 |
| MY181180A (en) * | 2011-09-09 | 2020-12-21 | Carsem M Sdn Bhd | Low loop wire bonding |
| US8404520B1 (en) | 2011-10-17 | 2013-03-26 | Invensas Corporation | Package-on-package assembly with wire bond vias |
| US8946757B2 (en) | 2012-02-17 | 2015-02-03 | Invensas Corporation | Heat spreading substrate with embedded interconnects |
| US8372741B1 (en) | 2012-02-24 | 2013-02-12 | Invensas Corporation | Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface |
| US8835228B2 (en) | 2012-05-22 | 2014-09-16 | Invensas Corporation | Substrate-less stackable package with wire-bond interconnect |
| US9391008B2 (en) | 2012-07-31 | 2016-07-12 | Invensas Corporation | Reconstituted wafer-level package DRAM |
| US9502390B2 (en) | 2012-08-03 | 2016-11-22 | Invensas Corporation | BVA interposer |
| US8878353B2 (en) | 2012-12-20 | 2014-11-04 | Invensas Corporation | Structure for microelectronic packaging with bond elements to encapsulation surface |
| US8940630B2 (en) | 2013-02-01 | 2015-01-27 | Invensas Corporation | Method of making wire bond vias and microelectronic package having wire bond vias |
| US9136254B2 (en) * | 2013-02-01 | 2015-09-15 | Invensas Corporation | Microelectronic package having wire bond vias and stiffening layer |
| TWI570864B (zh) * | 2013-02-01 | 2017-02-11 | 英帆薩斯公司 | 具有焊線通孔的微電子封裝、其之製造方法以及用於其之硬化層 |
| US9167710B2 (en) | 2013-08-07 | 2015-10-20 | Invensas Corporation | Embedded packaging with preformed vias |
| US9685365B2 (en) | 2013-08-08 | 2017-06-20 | Invensas Corporation | Method of forming a wire bond having a free end |
| US20150076714A1 (en) | 2013-09-16 | 2015-03-19 | Invensas Corporation | Microelectronic element with bond elements to encapsulation surface |
| US9087815B2 (en) | 2013-11-12 | 2015-07-21 | Invensas Corporation | Off substrate kinking of bond wire |
| US9082753B2 (en) * | 2013-11-12 | 2015-07-14 | Invensas Corporation | Severing bond wire by kinking and twisting |
| US9583456B2 (en) | 2013-11-22 | 2017-02-28 | Invensas Corporation | Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate |
| US9379074B2 (en) | 2013-11-22 | 2016-06-28 | Invensas Corporation | Die stacks with one or more bond via arrays of wire bond wires and with one or more arrays of bump interconnects |
| US9263394B2 (en) | 2013-11-22 | 2016-02-16 | Invensas Corporation | Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate |
| US9583411B2 (en) | 2014-01-17 | 2017-02-28 | Invensas Corporation | Fine pitch BVA using reconstituted wafer with area array accessible for testing |
| US10381326B2 (en) | 2014-05-28 | 2019-08-13 | Invensas Corporation | Structure and method for integrated circuits packaging with increased density |
| TWI580511B (zh) * | 2014-06-10 | 2017-05-01 | 新川股份有限公司 | A bonding device, and a method of estimating the placement position of the engagement tool |
| USD771168S1 (en) | 2014-10-31 | 2016-11-08 | Coorstek, Inc. | Wire bonding ceramic capillary |
| US9735084B2 (en) | 2014-12-11 | 2017-08-15 | Invensas Corporation | Bond via array for thermal conductivity |
| USD797171S1 (en) | 2015-02-03 | 2017-09-12 | Coorstek, Inc. | Ceramic bonding tool with textured tip |
| USD797172S1 (en) | 2015-02-03 | 2017-09-12 | Coorstek, Inc. | Ceramic bonding tool with textured tip |
| USD797826S1 (en) | 2015-02-03 | 2017-09-19 | Coorstek, Inc. | Ceramic bonding tool with textured tip |
| US9888579B2 (en) | 2015-03-05 | 2018-02-06 | Invensas Corporation | Pressing of wire bond wire tips to provide bent-over tips |
| USD753739S1 (en) | 2015-04-17 | 2016-04-12 | Coorstek, Inc. | Wire bonding wedge tool |
| US9502372B1 (en) | 2015-04-30 | 2016-11-22 | Invensas Corporation | Wafer-level packaging using wire bond wires in place of a redistribution layer |
| US9761554B2 (en) | 2015-05-07 | 2017-09-12 | Invensas Corporation | Ball bonding metal wire bond wires to metal pads |
| JP6064308B2 (ja) * | 2015-07-03 | 2017-01-25 | Toto株式会社 | ボンディングキャピラリ |
| US9490222B1 (en) | 2015-10-12 | 2016-11-08 | Invensas Corporation | Wire bond wires for interference shielding |
| US10490528B2 (en) | 2015-10-12 | 2019-11-26 | Invensas Corporation | Embedded wire bond wires |
| US10332854B2 (en) | 2015-10-23 | 2019-06-25 | Invensas Corporation | Anchoring structure of fine pitch bva |
| US10181457B2 (en) | 2015-10-26 | 2019-01-15 | Invensas Corporation | Microelectronic package for wafer-level chip scale packaging with fan-out |
| US10043779B2 (en) | 2015-11-17 | 2018-08-07 | Invensas Corporation | Packaged microelectronic device for a package-on-package device |
| US9659848B1 (en) | 2015-11-18 | 2017-05-23 | Invensas Corporation | Stiffened wires for offset BVA |
| US9984992B2 (en) | 2015-12-30 | 2018-05-29 | Invensas Corporation | Embedded wire bond wires for vertical integration with separate surface mount and wire bond mounting surfaces |
| US9935075B2 (en) | 2016-07-29 | 2018-04-03 | Invensas Corporation | Wire bonding method and apparatus for electromagnetic interference shielding |
| USD868123S1 (en) | 2016-12-20 | 2019-11-26 | Coorstek, Inc. | Wire bonding wedge tool |
| US10299368B2 (en) | 2016-12-21 | 2019-05-21 | Invensas Corporation | Surface integrated waveguides and circuit structures therefor |
| KR102411257B1 (ko) * | 2019-03-18 | 2022-06-22 | 가부시키가이샤 신가와 | 캐필러리 안내 장치 및 와이어 본딩 장치 |
| US11515284B2 (en) * | 2020-07-14 | 2022-11-29 | Semiconductor Components Industries, Llc | Multi-segment wire-bond |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4405074A (en) * | 1981-08-31 | 1983-09-20 | Kulicke And Soffa Industries Inc. | Composite bonding tool and method of making same |
| JPH084837B2 (ja) * | 1987-12-28 | 1996-01-24 | 三菱マテリアル株式会社 | 極細線の製造方法 |
| US5437405A (en) * | 1994-08-22 | 1995-08-01 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for stitch bonding of wires to integrated circuit bonding pads |
| US5596284A (en) * | 1994-11-10 | 1997-01-21 | Brooktree Corporation | System for, and method of, minimizing noise in an integrated circuit chip |
| US5686353A (en) * | 1994-12-26 | 1997-11-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| US5558270A (en) * | 1995-01-06 | 1996-09-24 | Kulicke And Soffa Investments, Inc | Fine pitch capillary/wedge bonding tool |
| US5662261A (en) * | 1995-04-11 | 1997-09-02 | Micron Technology, Inc. | Wire bonding capillary |
| DE69739065D1 (de) * | 1996-02-26 | 2008-12-11 | Texas Instruments Inc | Verbindungen in integrierten Schaltungen |
| JPH1154539A (ja) * | 1997-08-05 | 1999-02-26 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | ワイヤーボンディング用キャピラリー |
| US6158647A (en) * | 1998-09-29 | 2000-12-12 | Micron Technology, Inc. | Concave face wire bond capillary |
| JP4010432B2 (ja) * | 1999-01-29 | 2007-11-21 | ローム株式会社 | 電子部品におけるワイヤボンディング方法及びその装置 |
| TW516984B (en) * | 1999-12-28 | 2003-01-11 | Toshiba Corp | Solder material, device using the same and manufacturing process thereof |
| JP3474513B2 (ja) * | 2000-03-09 | 2003-12-08 | 沖電気工業株式会社 | キャピラリ |
| US6715658B2 (en) * | 2001-07-17 | 2004-04-06 | Kulicke & Soffa Investments, Inc. | Ultra fine pitch capillary |
| JP3952959B2 (ja) * | 2002-02-25 | 2007-08-01 | 株式会社村田製作所 | 超音波ホーンおよびこの超音波ホーンを用いた超音波接合装置 |
-
2002
- 2002-08-29 JP JP2002249940A patent/JP3765778B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-08-28 US US10/649,654 patent/US7051915B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-08-29 CN CNB031557112A patent/CN100342514C/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009054950A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Tokai Rika Co Ltd | バンプ形成方法 |
| TWI721404B (zh) * | 2019-04-11 | 2021-03-11 | 日商新川股份有限公司 | 打線接合裝置、半導體裝置的製造方法以及半導體裝置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3765778B2 (ja) | 2006-04-12 |
| US7051915B2 (en) | 2006-05-30 |
| CN100342514C (zh) | 2007-10-10 |
| CN1487573A (zh) | 2004-04-07 |
| US20040041000A1 (en) | 2004-03-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3765778B2 (ja) | ワイヤボンディング用キャピラリ及びこれを用いたワイヤボンディング方法 | |
| CN100423219C (zh) | 用于导线键合的毛细尖管 | |
| JP2009283814A (ja) | ワイヤーボンディング用キャピラリーおよび電子部品組立装置 | |
| JPH01273325A (ja) | キャピラリ及び該キャピラリを使用する半導体装置の製造方法 | |
| US20070235495A1 (en) | Wire bonding capillary tool having multiple outer steps | |
| JPS62150836A (ja) | 半導体装置 | |
| JP3202193B2 (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
| JP3391234B2 (ja) | バンプ形成用キャピラリおよびバンプ形成装置およびバンプ形成方法 | |
| JP2003282629A (ja) | 超音波フリップチップ実装方法 | |
| JPH1041333A (ja) | キャピラリ及びワイヤボンディング方法 | |
| JPH0529404A (ja) | Al配線リードのボンデイング用ツール | |
| JPH02277251A (ja) | ワイヤボンディング方法および装置 | |
| JP2009054950A (ja) | バンプ形成方法 | |
| JP2006032532A (ja) | 半導体装置の製造方法および製造装置 | |
| JP2006245495A (ja) | ワイヤボンディング用キャピラリ及びワイヤボンディング装置 | |
| JP3559936B2 (ja) | バンプボンディング装置 | |
| JPH07263477A (ja) | 被覆ボンディング細線接合用キャピラリー | |
| JP2006147842A (ja) | スタッドバンプ用キャピラリ及びこれを用いたスタッドバンプの形成方法 | |
| JP2003258042A (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
| JPH11214424A (ja) | ウェッジボンディング方法および装置ならびに半導体装置 | |
| JP2001338941A (ja) | バンプ形成装置及びバンプ形成方法 | |
| JPH09326411A (ja) | ワイヤボンディング装置 | |
| JPH10199913A (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
| JPS62136843A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
| JPH1092861A (ja) | ワイヤーボンディング用キャピラリー |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041116 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050926 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051004 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051205 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060124 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060124 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3765778 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120203 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120203 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130203 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140203 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |