JP2003203340A - 光記録装置及び光記録媒体 - Google Patents
光記録装置及び光記録媒体Info
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- JP2003203340A JP2003203340A JP2002000723A JP2002000723A JP2003203340A JP 2003203340 A JP2003203340 A JP 2003203340A JP 2002000723 A JP2002000723 A JP 2002000723A JP 2002000723 A JP2002000723 A JP 2002000723A JP 2003203340 A JP2003203340 A JP 2003203340A
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- recording
- pulse
- scanning speed
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 相変化型光記録層を有する光記録媒体に対す
る情報記録方法を最適化することで、より高速記録が可
能な光記録装置を提供する。 【解決手段】 光記録媒体と光ビームとの間の相対的な
走査速度Vと光記録媒体の相変化型光記録層における熱
拡散速度との関係から、走査速度VがV1≦V2<V3
≦V4なる条件下で、走査速度V2,V3を境として、
V1≦V≦V2ではマルチパルス発光波形なる最適な記
録方法を適用し、V3≦V≦V4ではシングルパルス発
光波形なる最適な記録方法を適用するように発光波形を
走査速度に応じて切換え設定することで、V3以上の高
い走査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで記
録することができるようにした。
る情報記録方法を最適化することで、より高速記録が可
能な光記録装置を提供する。 【解決手段】 光記録媒体と光ビームとの間の相対的な
走査速度Vと光記録媒体の相変化型光記録層における熱
拡散速度との関係から、走査速度VがV1≦V2<V3
≦V4なる条件下で、走査速度V2,V3を境として、
V1≦V≦V2ではマルチパルス発光波形なる最適な記
録方法を適用し、V3≦V≦V4ではシングルパルス発
光波形なる最適な記録方法を適用するように発光波形を
走査速度に応じて切換え設定することで、V3以上の高
い走査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで記
録することができるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CD−RW,DV
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW,PD等の相
変化型光記録層を有する光記録媒体を扱う光記録装置に
関する。
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW,PD等の相
変化型光記録層を有する光記録媒体を扱う光記録装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光記録媒体の高速記録化が進んで
いる。特に、コンパクトディスク(CD)をベースとし
た追記型光記録媒体であるCD−Rは記録モードの簡易
さと幅広い記録速度マージンから高速化が進み、基準速
度からその24倍相当の記録まで可能になっている。
いる。特に、コンパクトディスク(CD)をベースとし
た追記型光記録媒体であるCD−Rは記録モードの簡易
さと幅広い記録速度マージンから高速化が進み、基準速
度からその24倍相当の記録まで可能になっている。
【0003】一方、コンパクトディスクをベースとした
書換え型光記録媒体であるCD−RWは記録モードが急
冷、徐冷を制御することによって行う相変化材料を記録
層材料に用いているため、熱記録モードが複雑で幅広い
記録速度をカバーすることが困難である。例えば、CD
−RWは基準速度の1〜4倍速までの記録をサポート
し、HS CD−RWは基準速度の4〜10倍速までの
記録をサポートする。また、双方の光ディスクのオーバ
ーラップする4倍速でも、同様の記録方法を用いて記録
することは不可能である。
書換え型光記録媒体であるCD−RWは記録モードが急
冷、徐冷を制御することによって行う相変化材料を記録
層材料に用いているため、熱記録モードが複雑で幅広い
記録速度をカバーすることが困難である。例えば、CD
−RWは基準速度の1〜4倍速までの記録をサポート
し、HS CD−RWは基準速度の4〜10倍速までの
記録をサポートする。また、双方の光ディスクのオーバ
ーラップする4倍速でも、同様の記録方法を用いて記録
することは不可能である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】即ち、CD−RWの場
合、記録層に熱伝導率の高い金属材料を用いていること
と記録のために記録層に印加するエネルギーが高いこと
から、CD−Rのようなシングルパルスでの記録が困難
であり、通常はマルチパルス法を用いて記録するが高速
記録になると高い記録パワーで高速なパルスで記録する
必要があり、十分な記録振幅を得ることが困難となって
いる。
合、記録層に熱伝導率の高い金属材料を用いていること
と記録のために記録層に印加するエネルギーが高いこと
から、CD−Rのようなシングルパルスでの記録が困難
であり、通常はマルチパルス法を用いて記録するが高速
記録になると高い記録パワーで高速なパルスで記録する
必要があり、十分な記録振幅を得ることが困難となって
いる。
【0005】これは、CD−RWに限らず、PD,DV
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW等の相変化型
光記録層を有する光記録媒体に対して記録する場合でも
同様である。
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW等の相変化型
光記録層を有する光記録媒体に対して記録する場合でも
同様である。
【0006】本発明の目的は、相変化型光記録層を有す
る光記録媒体に対する情報記録方法を最適化すること
で、より高速記録が可能な光記録装置を提供することで
ある。
る光記録媒体に対する情報記録方法を最適化すること
で、より高速記録が可能な光記録装置を提供することで
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
光ビームが照射されることにより結晶相とアモルファス
相とに可逆的に相変化する相変化型光記録層を有する光
記録媒体に対して強度変調された光ビームを照射するこ
とによりPWM変調された記録情報を記録する光記録装
置において、前記光記録媒体を回転させる回転駆動機構
と、前記光記録媒体に対して照射する光ビームを発する
レーザ光源と、このレーザ光源を発光させる光源駆動手
段と、前記レーザ光源が発する光ビームの発光波形を設
定して前記光源駆動手段を制御する発光波形設定手段
と、回転駆動される前記光記録媒体とこの光記録媒体に
照射される前記光ビームとの間の走査速度を制御する速
度制御手段と、を備え、記録時における前記走査速度V
がV1≦V2<V3≦V4なる関係で表され、記録され
るマーク長が基本クロック周期Tに対してnT(nは自
然数)で表されるとき、前記発光波形設定手段は、前記
走査速度VがV1≦V≦V2の範囲では(n−1)個の
記録パルスからなるマルチパルス発光波形を設定し、前
記走査速度VがV3≦V≦V4の範囲では1つの記録パ
ルスからなるシングルパルス発光波形を設定するように
した。
光ビームが照射されることにより結晶相とアモルファス
相とに可逆的に相変化する相変化型光記録層を有する光
記録媒体に対して強度変調された光ビームを照射するこ
とによりPWM変調された記録情報を記録する光記録装
置において、前記光記録媒体を回転させる回転駆動機構
と、前記光記録媒体に対して照射する光ビームを発する
レーザ光源と、このレーザ光源を発光させる光源駆動手
段と、前記レーザ光源が発する光ビームの発光波形を設
定して前記光源駆動手段を制御する発光波形設定手段
と、回転駆動される前記光記録媒体とこの光記録媒体に
照射される前記光ビームとの間の走査速度を制御する速
度制御手段と、を備え、記録時における前記走査速度V
がV1≦V2<V3≦V4なる関係で表され、記録され
るマーク長が基本クロック周期Tに対してnT(nは自
然数)で表されるとき、前記発光波形設定手段は、前記
走査速度VがV1≦V≦V2の範囲では(n−1)個の
記録パルスからなるマルチパルス発光波形を設定し、前
記走査速度VがV3≦V≦V4の範囲では1つの記録パ
ルスからなるシングルパルス発光波形を設定するように
した。
【0008】従って、光記録媒体と光ビームとの間の相
対的な走査速度と光記録媒体の相変化型光記録層におけ
る熱拡散速度との関係から、走査速度VがV1≦V2<
V3≦V4なる条件下で、走査速度V2,V3を境とし
て異なる走査速度での記録モードの領域について各々マ
ルチパルス発光波形、シングルパルス発光波形なる最適
な記録方法を適用することで、高い走査速度の領域でも
十分な変調度と良好なジッタで記録することができる。
対的な走査速度と光記録媒体の相変化型光記録層におけ
る熱拡散速度との関係から、走査速度VがV1≦V2<
V3≦V4なる条件下で、走査速度V2,V3を境とし
て異なる走査速度での記録モードの領域について各々マ
ルチパルス発光波形、シングルパルス発光波形なる最適
な記録方法を適用することで、高い走査速度の領域でも
十分な変調度と良好なジッタで記録することができる。
【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の光
記録装置において、前記発光波形設定手段は、前記走査
速度VがV1≦V≦V2の範囲では記録パワーレベルP
w,バイアスパワーレベルPb,消去パワーレベルPe
(ただし、Pw>Pe>Pb)の3値の組合せによるマ
ルチパルス発光波形を設定し、前記走査速度VがV3≦
V≦V4の範囲では前記記録パワーレベルPwと前記消
去パワーレベルPeの2値の組合せによるシングルパル
ス発光波形を設定するようにした。
記録装置において、前記発光波形設定手段は、前記走査
速度VがV1≦V≦V2の範囲では記録パワーレベルP
w,バイアスパワーレベルPb,消去パワーレベルPe
(ただし、Pw>Pe>Pb)の3値の組合せによるマ
ルチパルス発光波形を設定し、前記走査速度VがV3≦
V≦V4の範囲では前記記録パワーレベルPwと前記消
去パワーレベルPeの2値の組合せによるシングルパル
ス発光波形を設定するようにした。
【0010】従って、請求項1記載の発明を実現する上
で、低速記録時のマルチパルス発光波形については記録
パワーレベルPw,バイアスパワーレベルPb,消去パ
ワーレベルPeの3値の組合せによるものとし、高速記
録時のシングルパルス発光波形については記録パワーレ
ベルPwと消去パワーレベルPeの2値の組合せによる
ものとすることにより、何れの走査速度の領域でも十分
な変調度と良好なジッタで記録することができる。
で、低速記録時のマルチパルス発光波形については記録
パワーレベルPw,バイアスパワーレベルPb,消去パ
ワーレベルPeの3値の組合せによるものとし、高速記
録時のシングルパルス発光波形については記録パワーレ
ベルPwと消去パワーレベルPeの2値の組合せによる
ものとすることにより、何れの走査速度の領域でも十分
な変調度と良好なジッタで記録することができる。
【0011】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載の光記録装置において、前記走査速度VがV1≦V≦
V2の範囲で(n−1)個からなる記録パルスのうち2
番目以降の記録パルスのパルス幅をTmpとするとき,
基本クロック周期Tに対するパルス比z=Tmp/Tが
記録速度Vに対して 0.02(s/m)×V≦z≦0.012(s/m)×
V+0.25 の範囲である。
載の光記録装置において、前記走査速度VがV1≦V≦
V2の範囲で(n−1)個からなる記録パルスのうち2
番目以降の記録パルスのパルス幅をTmpとするとき,
基本クロック周期Tに対するパルス比z=Tmp/Tが
記録速度Vに対して 0.02(s/m)×V≦z≦0.012(s/m)×
V+0.25 の範囲である。
【0012】従って、走査速度がV1〜V2と低い速度
領域ではマルチパルス発光波形の発光長さ(パルス幅)
を走査速度に対して変化させているため、V1〜V2の
範囲内での最適記録パワーの変動を最小限に抑えること
ができ、V1〜V2の範囲内でのCAV記録対応の何れ
の走査速度でも同等の記録感度と高い変調度を得ること
ができる。
領域ではマルチパルス発光波形の発光長さ(パルス幅)
を走査速度に対して変化させているため、V1〜V2の
範囲内での最適記録パワーの変動を最小限に抑えること
ができ、V1〜V2の範囲内でのCAV記録対応の何れ
の走査速度でも同等の記録感度と高い変調度を得ること
ができる。
【0013】請求項4記載の発明は、請求項3記載の光
記録装置において、前記走査速度V2は、前記マルチパ
ルス発光波形に従い前記光記録媒体に記録した場合にz
=0.5で記録可能な最高記録線速度である。
記録装置において、前記走査速度V2は、前記マルチパ
ルス発光波形に従い前記光記録媒体に記録した場合にz
=0.5で記録可能な最高記録線速度である。
【0014】従って、マルチパルス発光波形を用いて十
分な変調度と良好なジッタで記録することができる最高
記録線速度が明確となる。
分な変調度と良好なジッタで記録することができる最高
記録線速度が明確となる。
【0015】請求項5記載の発明は、請求項1ないし4
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
がV3≦V≦V4の範囲での記録パルスのパルス幅をT
sp=(n−δ)Tとするとき、補正パラメータδが 0≦δ≦0.5 の範囲である。
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
がV3≦V≦V4の範囲での記録パルスのパルス幅をT
sp=(n−δ)Tとするとき、補正パラメータδが 0≦δ≦0.5 の範囲である。
【0016】従って、シングルパルス発光波形における
発光時間(パルス幅)が歪みの影響によるジッタの悪化
を低減できるように最適化されているので、V3〜V4
なる高い走査速度でも高い変調度と良好なジッタを得る
ことができる。
発光時間(パルス幅)が歪みの影響によるジッタの悪化
を低減できるように最適化されているので、V3〜V4
なる高い走査速度でも高い変調度と良好なジッタを得る
ことができる。
【0017】請求項6記載の発明は、請求項1ないし5
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
3は、前記シングルパルス発光波形に従い前記光記録媒
体に記録した場合の歪みパラメータがΔI/I11≦
0.1となる領域の記録線速度に設定される。
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
3は、前記シングルパルス発光波形に従い前記光記録媒
体に記録した場合の歪みパラメータがΔI/I11≦
0.1となる領域の記録線速度に設定される。
【0018】従って、低走査速度領域の最高走査速度V
2と高走査速度領域の最低走査速度V3との関係が熱伝
導の影響を最小限にし得るように最適化されており、発
光波形が切換えられる走査速度範囲が適切な範囲に設定
されているため、何れの走査速度領域でも良好なオーバ
ーライト特性を得ることができる。
2と高走査速度領域の最低走査速度V3との関係が熱伝
導の影響を最小限にし得るように最適化されており、発
光波形が切換えられる走査速度範囲が適切な範囲に設定
されているため、何れの走査速度領域でも良好なオーバ
ーライト特性を得ることができる。
【0019】請求項7記載の発明は、請求項1ないし6
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
2,V3の比V3/V2が、1.2≦V3/V2≦2.
0である。
の何れか一記載の光記録装置において、前記走査速度V
2,V3の比V3/V2が、1.2≦V3/V2≦2.
0である。
【0020】従って、低走査速度領域の最高走査速度V
2と高走査速度領域の最低走査速度V3との関係が最適
化されており、発光波形が切換えられる走査速度範囲が
適切な範囲に設定されているため、何れの走査速度領域
でも良好なオーバーライト特性を得ることができる。
2と高走査速度領域の最低走査速度V3との関係が最適
化されており、発光波形が切換えられる走査速度範囲が
適切な範囲に設定されているため、何れの走査速度領域
でも良好なオーバーライト特性を得ることができる。
【0021】請求項8記載の発明は、請求項1ないし7
の何れか一記載の光記録装置において、前記光記録媒体
は、透明基板上に下部誘電体層、前記相変化型光記録
層、上部誘電体層及び反射層を有し、前記相変化型光記
録層がGa,Sb,Teを主成分とし、各々の組成比を
α,β,γとするとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立つ。
の何れか一記載の光記録装置において、前記光記録媒体
は、透明基板上に下部誘電体層、前記相変化型光記録
層、上部誘電体層及び反射層を有し、前記相変化型光記
録層がGa,Sb,Teを主成分とし、各々の組成比を
α,β,γとするとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立つ。
【0022】従って、相変化型光記録層の組成として走
査速度VがV≧24m/sの高速記録に対応できる原子
組成を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で
良好なオーバーライト特性を得ることができる。
査速度VがV≧24m/sの高速記録に対応できる原子
組成を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で
良好なオーバーライト特性を得ることができる。
【0023】請求項9記載の発明は、請求項8記載の光
記録装置において、前記反射層は、Agを主成分とする
金属又は合金である。
記録装置において、前記反射層は、Agを主成分とする
金属又は合金である。
【0024】従って、反射層の組成として走査速度Vが
V≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料を使
用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好なオ
ーバーライト特性を得ることができる。
V≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料を使
用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好なオ
ーバーライト特性を得ることができる。
【0025】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図面に基
づいて説明する。まず、基本として、本実施の形態の光
記録装置に適用される光記録媒体への記録方法は、光記
録媒体中の相変化型光記録層に光ビームを集光し、当該
光記録媒体を相対的に走査することで行う。記録は光ビ
ームの強度変調によって行う。記録される情報は任意の
ものであるが、記録する際にはマーク長変調、マークエ
ッジ変調又はパルス幅変調(PWM)と呼ばれる方法で
変調された記録情報を記録する。PWM変調の方法とし
ては、記録するデータの長さ等に従って任意の変調方式
を採用して良いが、一例としてCD−RW系のEFM変
調、DVD−RW系のEFM+(プラス)変調などがあ
る。このようなPWM変調された記録情報は基本クロッ
ク周期Tに対してnTの長さのマークとして光記録媒体
上に記録される。このとき、nは自然数であり、変調方
式によってその範囲が決定される。EFM変調の場合は
n=3〜11であり、EFM+変調ではn=3〜11,
14となっている。このような長さnTのマークを形成
するには、相変化型光記録層に集光された光ビームを照
射することで形成する。
づいて説明する。まず、基本として、本実施の形態の光
記録装置に適用される光記録媒体への記録方法は、光記
録媒体中の相変化型光記録層に光ビームを集光し、当該
光記録媒体を相対的に走査することで行う。記録は光ビ
ームの強度変調によって行う。記録される情報は任意の
ものであるが、記録する際にはマーク長変調、マークエ
ッジ変調又はパルス幅変調(PWM)と呼ばれる方法で
変調された記録情報を記録する。PWM変調の方法とし
ては、記録するデータの長さ等に従って任意の変調方式
を採用して良いが、一例としてCD−RW系のEFM変
調、DVD−RW系のEFM+(プラス)変調などがあ
る。このようなPWM変調された記録情報は基本クロッ
ク周期Tに対してnTの長さのマークとして光記録媒体
上に記録される。このとき、nは自然数であり、変調方
式によってその範囲が決定される。EFM変調の場合は
n=3〜11であり、EFM+変調ではn=3〜11,
14となっている。このような長さnTのマークを形成
するには、相変化型光記録層に集光された光ビームを照
射することで形成する。
【0026】このような記録に用いられる光記録媒体1
としてCD−RWの構造例を図1に示す。概略的には、
透明基板2上に下部誘電体層3、相変化型光記録層4、
上部誘電体層5、反射層6及びオーバーコート層7を順
に積層させた層構成とされている。このような光記録媒
体1は、CAV方式又はZCLV方式で回転駆動される
ことを想定している。
としてCD−RWの構造例を図1に示す。概略的には、
透明基板2上に下部誘電体層3、相変化型光記録層4、
上部誘電体層5、反射層6及びオーバーコート層7を順
に積層させた層構成とされている。このような光記録媒
体1は、CAV方式又はZCLV方式で回転駆動される
ことを想定している。
【0027】次に、このような光記録媒体1に記録光を
強度変調された光ビームとして照射する場合の発光波形
例について図2を参照して説明する。
強度変調された光ビームとして照射する場合の発光波形
例について図2を参照して説明する。
【0028】記録光の強度変調の方式には多数の方式が
あるが、制御のしやすさからパルス発光を用いるのが一
般的である。パルス発光の手法としては、1つの記録マ
ークに対して1つのパルス発光(シングルパルス発光波
形)で記録するシングルパルスと、1つの記録マークに
対して複数のパルス発光(マルチルパルス発光波形)を
用いるマルチパルス法とに分けられる。
あるが、制御のしやすさからパルス発光を用いるのが一
般的である。パルス発光の手法としては、1つの記録マ
ークに対して1つのパルス発光(シングルパルス発光波
形)で記録するシングルパルスと、1つの記録マークに
対して複数のパルス発光(マルチルパルス発光波形)を
用いるマルチパルス法とに分けられる。
【0029】シングルパルス法とマルチパルス法の発光
波形例を図2に示す。図示例は図2(a)に示すように
nT=5Tの長さのマークを記録する場合についてであ
る。ここで、記録極性はHigh to Lowであり、図2
(a)のHighレベルがランドに相当し、Lowレベルが
ピットに相当する。シングルパルスの場合の発光波形は
図2(b)のように、5Tのピットに対して、5Tに近
い長さのパルスが記録パワーPwだけ発光する。パワー
レベルとしては、記録パワーレベルPwと消去パワーレ
ベルPe(ただし、Pw>Pe)の2値が用いられる。
発光長さ(パルス幅Tsp)は特定の規則に従い任意に
設定することが可能であり、(n−δ)Tの長さだけ発
光する。ここで、δはn毎に設定することができる補正
パラメータである。このようなシングルパルスの記録方
法はCD−Rに採用されており、CD−Rの標準規格書
によると(n−1)Tのシングルパルス発光での記録方
法が記載されている。
波形例を図2に示す。図示例は図2(a)に示すように
nT=5Tの長さのマークを記録する場合についてであ
る。ここで、記録極性はHigh to Lowであり、図2
(a)のHighレベルがランドに相当し、Lowレベルが
ピットに相当する。シングルパルスの場合の発光波形は
図2(b)のように、5Tのピットに対して、5Tに近
い長さのパルスが記録パワーPwだけ発光する。パワー
レベルとしては、記録パワーレベルPwと消去パワーレ
ベルPe(ただし、Pw>Pe)の2値が用いられる。
発光長さ(パルス幅Tsp)は特定の規則に従い任意に
設定することが可能であり、(n−δ)Tの長さだけ発
光する。ここで、δはn毎に設定することができる補正
パラメータである。このようなシングルパルスの記録方
法はCD−Rに採用されており、CD−Rの標準規格書
によると(n−1)Tのシングルパルス発光での記録方
法が記載されている。
【0030】シングルパルス法の最大の利点は、記録信
号から発光波形への変調方法が容易であり、発光してい
る実時間が長いために高速記録でも十分なエネルギーを
媒体の記録層に加えることができることにある。
号から発光波形への変調方法が容易であり、発光してい
る実時間が長いために高速記録でも十分なエネルギーを
媒体の記録層に加えることができることにある。
【0031】シングルパルス法の欠点としては、熱伝導
率の高い記録層材料については、媒体にかかるエネルギ
ー量が高いために、温度の上がる領域が広くなり、記録
マークが歪んでしまうことにある。合金材料を相変化型
光記録層4の材料に用いている相変化の光記録媒体1に
対して低速記録時にシングルパルス法を用いると、図3
(a)に示すように、走査速度が熱伝導による熱の伝播
に速度に対して遅いため、記録マークの後方の幅が大き
くなる傾向にある(涙状となる)。このような記録マー
クは再生信号に大きく影響し、図3(b)に示すような
再生信号波形の歪みとなってしまう。このような再生信
号はジッタの劣化として影響する。
率の高い記録層材料については、媒体にかかるエネルギ
ー量が高いために、温度の上がる領域が広くなり、記録
マークが歪んでしまうことにある。合金材料を相変化型
光記録層4の材料に用いている相変化の光記録媒体1に
対して低速記録時にシングルパルス法を用いると、図3
(a)に示すように、走査速度が熱伝導による熱の伝播
に速度に対して遅いため、記録マークの後方の幅が大き
くなる傾向にある(涙状となる)。このような記録マー
クは再生信号に大きく影響し、図3(b)に示すような
再生信号波形の歪みとなってしまう。このような再生信
号はジッタの劣化として影響する。
【0032】また、光記録媒体1にかかる絶対的なエネ
ルギー量が高いため、多数回の繰返し記録(オーバーラ
イト記録)に媒体が耐えることができない傾向にある。
ルギー量が高いため、多数回の繰返し記録(オーバーラ
イト記録)に媒体が耐えることができない傾向にある。
【0033】このような理由で、シングルパルス法は相
変化型の光記録媒体1には向かないとされている。
変化型の光記録媒体1には向かないとされている。
【0034】一方、図2(c)にマルチパルス法の発光
波形例を示す。複数個の記録パルスからなるマルチパル
ス発光波形は、記録パワーレベルPw,バイアスパワー
レベルPb,消去パワーレベルPe(ただし、Pw>P
e>Pb)の3値の組合せにより構成される。パルスの
数は任意に設定できるが、図示例ではnT=5Tの長さ
のマークを記録する場合に(n−1)=4個の記録パル
スを用いる場合である。各パルスの幅は任意に設定でき
るが、1パルス目のパルス幅Ttopを広めに設定し、
2パルス以降のパルス幅Tmpは同一とするのが制御上
単純であると同時に多種の長さのマークを形成する場合
にマーク長のばらつきを抑えることができるため有利で
ある。パルス幅Tmpはマルチパルス法を用いる場合、
1パルス目のパルス幅Ttop、最後の冷却パルス幅T
offを固有の幅に設定することができる。
波形例を示す。複数個の記録パルスからなるマルチパル
ス発光波形は、記録パワーレベルPw,バイアスパワー
レベルPb,消去パワーレベルPe(ただし、Pw>P
e>Pb)の3値の組合せにより構成される。パルスの
数は任意に設定できるが、図示例ではnT=5Tの長さ
のマークを記録する場合に(n−1)=4個の記録パル
スを用いる場合である。各パルスの幅は任意に設定でき
るが、1パルス目のパルス幅Ttopを広めに設定し、
2パルス以降のパルス幅Tmpは同一とするのが制御上
単純であると同時に多種の長さのマークを形成する場合
にマーク長のばらつきを抑えることができるため有利で
ある。パルス幅Tmpはマルチパルス法を用いる場合、
1パルス目のパルス幅Ttop、最後の冷却パルス幅T
offを固有の幅に設定することができる。
【0035】マルチパルス法は短いマークも長いマーク
を記録する場合も光記録媒体1の熱伝導の影響を受けに
くく、均一にエネルギーを加えることが可能なため、歪
みの少ないマークを形成することができ、ジッタを改善
できる。また、光記録媒体1にかかるエネルギー量も小
さくなるため、多数回の繰返し記録(オーバーライト記
録)でも劣化が遅い傾向にある。しかし、基本クロック
周期Tに近い細い記録パルスを射出する必要があるた
め、高周波数に対応でき、かつ、応答の速い回路(レー
ザーダイオード,アナログ回路)が必要となる。
を記録する場合も光記録媒体1の熱伝導の影響を受けに
くく、均一にエネルギーを加えることが可能なため、歪
みの少ないマークを形成することができ、ジッタを改善
できる。また、光記録媒体1にかかるエネルギー量も小
さくなるため、多数回の繰返し記録(オーバーライト記
録)でも劣化が遅い傾向にある。しかし、基本クロック
周期Tに近い細い記録パルスを射出する必要があるた
め、高周波数に対応でき、かつ、応答の速い回路(レー
ザーダイオード,アナログ回路)が必要となる。
【0036】マルチパルス法を用いる場合、記録パルス
の数も重要な要因となる。記録パルスの数としては(n
−1)個のパルスで記録するのが最も単純でありマーク
長さを揃える上で有利であるため好ましい。
の数も重要な要因となる。記録パルスの数としては(n
−1)個のパルスで記録するのが最も単純でありマーク
長さを揃える上で有利であるため好ましい。
【0037】このようなマルチパルス法は、CD−R
W,DVD−RW等の相変化型の光記録媒体の記録方法
として採用されている。マルチパルス法は記録する走査
速度Vに対してパルス幅Tmpを変化させることで、異
なる記録速度でも同等の記録パワーで記録することが可
能となる。その例としてHS CD−RWの標準規格で
あるオレンジブックパートIII vol2で採用されてい
る手法があり、記録線速4.8m/s(4倍速)ではT
mp=0.2Tであり、9.6m/s(8倍速)ではT
mp=0.4T,12.0m/s(10倍速)では0.
5Tとなっている。このように記録パワーを揃えること
が可能であるため、本来CLV記録が主流であるCD−
RWにCAV記録又は半径位置毎に走査速度VをCAV
的に変化させCLVで擬似的なCAVを行うゾーンCL
V(ZCLV)法等が採用できる。
W,DVD−RW等の相変化型の光記録媒体の記録方法
として採用されている。マルチパルス法は記録する走査
速度Vに対してパルス幅Tmpを変化させることで、異
なる記録速度でも同等の記録パワーで記録することが可
能となる。その例としてHS CD−RWの標準規格で
あるオレンジブックパートIII vol2で採用されてい
る手法があり、記録線速4.8m/s(4倍速)ではT
mp=0.2Tであり、9.6m/s(8倍速)ではT
mp=0.4T,12.0m/s(10倍速)では0.
5Tとなっている。このように記録パワーを揃えること
が可能であるため、本来CLV記録が主流であるCD−
RWにCAV記録又は半径位置毎に走査速度VをCAV
的に変化させCLVで擬似的なCAVを行うゾーンCL
V(ZCLV)法等が採用できる。
【0038】パルス幅Tmpは通常0.5Tを最大とす
る。従って、光記録媒体の記録可能な最高速度でTmp
=0.5Tとするのが好ましい。Tmp>0.5Tにな
ると,シングルパルスと同様の効果が出て記録マークに
歪みが発生する。そのため、記録速度VとTmp/Tの
関係は図4に示すようになる。つまり、或る線速度以上
の走査線速度で記録する場合はTmpを0.5T近傍に
設定する。
る。従って、光記録媒体の記録可能な最高速度でTmp
=0.5Tとするのが好ましい。Tmp>0.5Tにな
ると,シングルパルスと同様の効果が出て記録マークに
歪みが発生する。そのため、記録速度VとTmp/Tの
関係は図4に示すようになる。つまり、或る線速度以上
の走査線速度で記録する場合はTmpを0.5T近傍に
設定する。
【0039】従って、幅広い記録速度(走査速度)に対
応するためにはTmp=0.5Tで記録できる最高記録
速度がその光記録媒体1の最高記録線速度である。Tm
p=0.5Tのマルチパルス法で記録した場合の記録速
度(走査速度)と変調度の関係を図5に模式的に示す。
高速記録になるにつれて変調度が出なくなる傾向にあ
る。従って、変調度が十分に確保できる走査速度Vの上
限値がマルチパルス法での記録可能最高速度V2とな
る。
応するためにはTmp=0.5Tで記録できる最高記録
速度がその光記録媒体1の最高記録線速度である。Tm
p=0.5Tのマルチパルス法で記録した場合の記録速
度(走査速度)と変調度の関係を図5に模式的に示す。
高速記録になるにつれて変調度が出なくなる傾向にあ
る。従って、変調度が十分に確保できる走査速度Vの上
限値がマルチパルス法での記録可能最高速度V2とな
る。
【0040】一方、シングルパルスによる歪みを表すパ
ラメータとしてΔI/I11を定義する(図3参照)。
I11はEFM記録の場合の11T振幅であり、ΔIは
IIT信号の歪み量を表す。シングルパルス記録を行っ
た場合、記録速度と歪みパラメータΔI/I11の関係
は図6に示すようなる。記録時の走査速度Vが高くなる
と、熱伝導の影響が無視できる記録モードになるため、
歪みは小さくなる傾向にある。つまり、歪みが十分に無
視できる領域からシングルパルス法で記録可能な最低線
速(走査速度)V3が設定される。
ラメータとしてΔI/I11を定義する(図3参照)。
I11はEFM記録の場合の11T振幅であり、ΔIは
IIT信号の歪み量を表す。シングルパルス記録を行っ
た場合、記録速度と歪みパラメータΔI/I11の関係
は図6に示すようなる。記録時の走査速度Vが高くなる
と、熱伝導の影響が無視できる記録モードになるため、
歪みは小さくなる傾向にある。つまり、歪みが十分に無
視できる領域からシングルパルス法で記録可能な最低線
速(走査速度)V3が設定される。
【0041】本実施の形態の光記録装置で用いる記録方
法は、これらの考察事項を踏まえて、光ビームと光記録
媒体1との間の相対速度である走査速度Vが、V2<V
3なる条件下に、V≦V2なる速度領域ではマルチパル
ス法により光ビームを発光させる記録方法により記録を
行い、V≧V3なる速度領域ではシングルパルス法によ
り光ビームを発光させる記録方法により記録させるよう
にしたものである。
法は、これらの考察事項を踏まえて、光ビームと光記録
媒体1との間の相対速度である走査速度Vが、V2<V
3なる条件下に、V≦V2なる速度領域ではマルチパル
ス法により光ビームを発光させる記録方法により記録を
行い、V≧V3なる速度領域ではシングルパルス法によ
り光ビームを発光させる記録方法により記録させるよう
にしたものである。
【0042】即ち、V1≦V≦V2なる速度範囲で記録
する場合は(n−1)個の記録パルスからなるマルチパ
ルス法を用いる。マルチパルスのパルス幅Tmpと基本
クロック周期Tとの比率z=Tmp/Tは走査速度の上
昇に従って大きくなっていくことが、前述の通り、CA
V記録に対応するために好ましく、図7に示すように、
0.02V≦z≦0.01.2V+0.25であること
が好ましい。この範囲内に設定することでV1≦V≦V
2なる速度範囲での最適記録パワーの変動を最小限に抑
えることができ、V1〜V2なる速度範囲内でCAV記
録に対応することができる。
する場合は(n−1)個の記録パルスからなるマルチパ
ルス法を用いる。マルチパルスのパルス幅Tmpと基本
クロック周期Tとの比率z=Tmp/Tは走査速度の上
昇に従って大きくなっていくことが、前述の通り、CA
V記録に対応するために好ましく、図7に示すように、
0.02V≦z≦0.01.2V+0.25であること
が好ましい。この範囲内に設定することでV1≦V≦V
2なる速度範囲での最適記録パワーの変動を最小限に抑
えることができ、V1〜V2なる速度範囲内でCAV記
録に対応することができる。
【0043】一方、V3≦V≦V4なる速度範囲での記
録にはシングルパルス法を用いる。シングルパルス法を
用いる最低記録速度V3とマルチパルス法での最高記録
速度V2とはV2<V3なる関係を満たさなくてはなら
ない。V3は歪みパラメータΔI/I11≦0.1とな
る点に設定することで、歪みの影響によるジッタの悪化
を低減できるので好ましく、V2とV3との比がV3/
V2≧1.2とすることが熱伝導の影響を最小限にする
ために好ましく、記録感度を実現可能な範囲に設定する
ためにはV3/V2≦2.0とすることが好ましい。
録にはシングルパルス法を用いる。シングルパルス法を
用いる最低記録速度V3とマルチパルス法での最高記録
速度V2とはV2<V3なる関係を満たさなくてはなら
ない。V3は歪みパラメータΔI/I11≦0.1とな
る点に設定することで、歪みの影響によるジッタの悪化
を低減できるので好ましく、V2とV3との比がV3/
V2≧1.2とすることが熱伝導の影響を最小限にする
ために好ましく、記録感度を実現可能な範囲に設定する
ためにはV3/V2≦2.0とすることが好ましい。
【0044】シングルパルスの発光パルス幅Tspはn
に対して任意のものを設定できるが、(n−δ)Tに設
定することが好ましく、0≦δ≦0.5とすることが好
ましい。発光パルスが最適な範囲内にあるので、高い変
調度を確保できるとともに、高いオーバーライト特性を
得ることができる。
に対して任意のものを設定できるが、(n−δ)Tに設
定することが好ましく、0≦δ≦0.5とすることが好
ましい。発光パルスが最適な範囲内にあるので、高い変
調度を確保できるとともに、高いオーバーライト特性を
得ることができる。
【0045】図8はこのような記録方法を実現するため
の本実施の形態の光記録装置の構成の一例を示す。ま
ず、光記録媒体1に対して、この光記録媒体1をCAV
方式又はZCLV方式に従い回転駆動させるスピンドル
モータ12を含み回転駆動機構を構成する回転機構13
が設けられているとともに、光記録媒体1に対してレー
ザ光による光ビームを集光照射させる対物レンズや半導
体レーザ等のレーザ光源を備えた光ヘッド14がディス
ク半径方向にシーク移動自在に設けられている。光ヘッ
ド14の対物レンズ駆動装置や出力系に対してはサーボ
機構15が接続されている。また、光ヘッド14中の受
光素子等により検出される再生信号から変調度を算出す
る等の再生動作に関与する再生信号検出手段16が設け
られている。これらのサーボ機構15や再生信号検出手
段16にはプログラマブルBPF17を含むウォブル検
出部18が接続されている。ウォブル検出部18には検
出されたウォブル信号からアドレスを復調するアドレス
復調回路19が接続されている。このアドレス復調回路
19にはPLLシンセサイザ回路20を含む記録クロッ
ク生成部21が接続されている。PLLシンセサイザ回
路20には速度制御手段として機能するドライブコント
ローラ22が接続されている。システムコントローラ2
3に接続されたこのドライブコントローラ22には、回
転機構13、サーボ機構15、再生信号検出手段16、
ウォブル検出部18及びアドレス復調回路19も接続さ
れている。
の本実施の形態の光記録装置の構成の一例を示す。ま
ず、光記録媒体1に対して、この光記録媒体1をCAV
方式又はZCLV方式に従い回転駆動させるスピンドル
モータ12を含み回転駆動機構を構成する回転機構13
が設けられているとともに、光記録媒体1に対してレー
ザ光による光ビームを集光照射させる対物レンズや半導
体レーザ等のレーザ光源を備えた光ヘッド14がディス
ク半径方向にシーク移動自在に設けられている。光ヘッ
ド14の対物レンズ駆動装置や出力系に対してはサーボ
機構15が接続されている。また、光ヘッド14中の受
光素子等により検出される再生信号から変調度を算出す
る等の再生動作に関与する再生信号検出手段16が設け
られている。これらのサーボ機構15や再生信号検出手
段16にはプログラマブルBPF17を含むウォブル検
出部18が接続されている。ウォブル検出部18には検
出されたウォブル信号からアドレスを復調するアドレス
復調回路19が接続されている。このアドレス復調回路
19にはPLLシンセサイザ回路20を含む記録クロッ
ク生成部21が接続されている。PLLシンセサイザ回
路20には速度制御手段として機能するドライブコント
ローラ22が接続されている。システムコントローラ2
3に接続されたこのドライブコントローラ22には、回
転機構13、サーボ機構15、再生信号検出手段16、
ウォブル検出部18及びアドレス復調回路19も接続さ
れている。
【0046】また、記録パワー演算手段24を備えると
ともにシステムコントローラ23にはEFMエンコーダ
25やLD制御手段26が接続されている。このLD制
御手段26は、マルチパルス発光波形用の複数個の記録
パルス(先頭加熱パルス、加熱パルス、冷却パルス及び
消去パルス等)や、シングルパルス発光波形用の1つの
記録パルスなどのパルス列制御信号を生成する記録パル
ス列生成部27を含む。この記録パルス列生成部27は
システムコントローラ23とともに発光波形設定手段を
構成する。LD制御手段26の出力側には、前述したよ
うな走査速度V1≦V≦V2なるマルチパルス発光波形
での動作時にはその波形に従い記録パワーレベルPwと
バイアスパワーレベルPbと消去パワーレベルPeとの
3値の各々の駆動電流源29をスイッチングすることで
光ヘッド14中の半導体レーザを記録情報に応じてパワ
ーレベルPw,Pe,Pbの何れかで駆動させ、走査速
度V3≦V≦V4なるシングルパルス発光波形での動作
時にはその波形に従い記録パワーレベルPwと消去パワ
ーレベルPeとの2値の各々の駆動電流源29をスイッ
チングすることで光ヘッド14中の半導体レーザを記録
情報に応じてパワーレベルPw,Peの何れかで駆動さ
せる光源駆動手段としてのドライバ回路であるLD駆動
手段30が接続されている。
ともにシステムコントローラ23にはEFMエンコーダ
25やLD制御手段26が接続されている。このLD制
御手段26は、マルチパルス発光波形用の複数個の記録
パルス(先頭加熱パルス、加熱パルス、冷却パルス及び
消去パルス等)や、シングルパルス発光波形用の1つの
記録パルスなどのパルス列制御信号を生成する記録パル
ス列生成部27を含む。この記録パルス列生成部27は
システムコントローラ23とともに発光波形設定手段を
構成する。LD制御手段26の出力側には、前述したよ
うな走査速度V1≦V≦V2なるマルチパルス発光波形
での動作時にはその波形に従い記録パワーレベルPwと
バイアスパワーレベルPbと消去パワーレベルPeとの
3値の各々の駆動電流源29をスイッチングすることで
光ヘッド14中の半導体レーザを記録情報に応じてパワ
ーレベルPw,Pe,Pbの何れかで駆動させ、走査速
度V3≦V≦V4なるシングルパルス発光波形での動作
時にはその波形に従い記録パワーレベルPwと消去パワ
ーレベルPeとの2値の各々の駆動電流源29をスイッ
チングすることで光ヘッド14中の半導体レーザを記録
情報に応じてパワーレベルPw,Peの何れかで駆動さ
せる光源駆動手段としてのドライバ回路であるLD駆動
手段30が接続されている。
【0047】このような構成において、基本的には、C
AV方式又はZCLV方式における記録線速度に対応し
たBPFの中心周波数をドライブコントローラ22によ
りプログラマブルBPF17にセットし、ウォブル検出
部18により検出されたウォブル信号からアドレス復調
回路19によりアドレス復調するとともに、ドライブコ
ントローラ22によって基本クロック周波数を変化させ
たPLLシンセサイザ回路20により、任意の記録線速
度における基本クロック周期を規定する記録チャンネル
クロックを生成し記録パルス列生成部27に出力する。
AV方式又はZCLV方式における記録線速度に対応し
たBPFの中心周波数をドライブコントローラ22によ
りプログラマブルBPF17にセットし、ウォブル検出
部18により検出されたウォブル信号からアドレス復調
回路19によりアドレス復調するとともに、ドライブコ
ントローラ22によって基本クロック周波数を変化させ
たPLLシンセサイザ回路20により、任意の記録線速
度における基本クロック周期を規定する記録チャンネル
クロックを生成し記録パルス列生成部27に出力する。
【0048】次に、半導体レーザ用の記録パルスを発生
させるため、記録パルス列生成部27には記録チャンネ
ルクロックと記録情報であるEFMデータが記録クロッ
ク生成部21、EFMエンコーダ25から各々入力さ
れ、かつ、システムコントローラ23からはその記録時
の走査速度Vに応じてマルチパルス発光波形モードかシ
ングルパルス発光波形モードかを決定するモード信号が
与えられ、記録パルス列生成部27ではマルチパルス発
光波形モードであればPw,Pe,Pbの3値のパワー
レベルを組合せる(n−1)個の記録パルスによるマル
チパルス発光波形、シングルパルス発光波形モードであ
ればPw,Peの2値のパワーレベルを組合せる1個の
記録パルスによるシングルパルス発光波形をパルス列制
御信号として生成する。そして、LD駆動手段30で各
々のパルスに応じてパワーレベルPw,Pb,Peの各
々の駆動電流源29をスイッチングする。後は、通常通
り、動作する。
させるため、記録パルス列生成部27には記録チャンネ
ルクロックと記録情報であるEFMデータが記録クロッ
ク生成部21、EFMエンコーダ25から各々入力さ
れ、かつ、システムコントローラ23からはその記録時
の走査速度Vに応じてマルチパルス発光波形モードかシ
ングルパルス発光波形モードかを決定するモード信号が
与えられ、記録パルス列生成部27ではマルチパルス発
光波形モードであればPw,Pe,Pbの3値のパワー
レベルを組合せる(n−1)個の記録パルスによるマル
チパルス発光波形、シングルパルス発光波形モードであ
ればPw,Peの2値のパワーレベルを組合せる1個の
記録パルスによるシングルパルス発光波形をパルス列制
御信号として生成する。そして、LD駆動手段30で各
々のパルスに応じてパワーレベルPw,Pb,Peの各
々の駆動電流源29をスイッチングする。後は、通常通
り、動作する。
【0049】
【実施例】上記実施の形態に基づく本発明の一実施例に
ついて説明する。連続グルーブを転写したCD−RW1
用のポリカーボネート製の透明基板2上に下部誘電体層
3、相変化型光記録層4、上部誘電体層5、反射層6及
びオーバーコート層7を順次積層した。
ついて説明する。連続グルーブを転写したCD−RW1
用のポリカーボネート製の透明基板2上に下部誘電体層
3、相変化型光記録層4、上部誘電体層5、反射層6及
びオーバーコート層7を順次積層した。
【0050】下部誘電体層3、上部誘電体層5にはZn
S−SiO2の混合物を用いた。成膜には真空成膜法の
一種であるRFマグネトロンスパッタリング法を用い、
各層の膜厚を80nm,20nmとした。
S−SiO2の混合物を用いた。成膜には真空成膜法の
一種であるRFマグネトロンスパッタリング法を用い、
各層の膜厚を80nm,20nmとした。
【0051】相変化型光記録層4の材料としては、相変
化合金であるGaSbTe合金に添加物としてGeを添
加したものを用いた。その組成比をGaαSbβTeγ
Ge ηとしたとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 0.01≦η≦0.05 の範囲であった。 ただし、α+β+γ+η=1.0である。
化合金であるGaSbTe合金に添加物としてGeを添
加したものを用いた。その組成比をGaαSbβTeγ
Ge ηとしたとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 0.01≦η≦0.05 の範囲であった。 ただし、α+β+γ+η=1.0である。
【0052】一般論でいえば、Geは必須ではなく、G
aαSbβTeγを主成分とし、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立てばよい。
aαSbβTeγを主成分とし、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立てばよい。
【0053】このような相変化型光記録層4の成膜には
Arガス雰囲気を用いたDCマグネトロンスパッタリン
グ法を用い、その膜厚は20nmとした。
Arガス雰囲気を用いたDCマグネトロンスパッタリン
グ法を用い、その膜厚は20nmとした。
【0054】反射層6の材料として、Agを主成分とす
る金属(又は、合金)を用いた。Agの純度は99.9
%wtとした。反射層6の成膜には記録層と同様のDC
マグネトロンスパッタリング法を用いた。反射層6の膜
厚は150nmとした。
る金属(又は、合金)を用いた。Agの純度は99.9
%wtとした。反射層6の成膜には記録層と同様のDC
マグネトロンスパッタリング法を用いた。反射層6の膜
厚は150nmとした。
【0055】これらのスパッタ膜を積層した透明基板2
上に樹脂製のオーバーコート層7を作成し光記録媒体1
とした。オーバーコート層7の樹脂としては紫外線硬化
樹脂をスピンコート法で均一に塗布し紫外線を照射し硬
化させることで成膜した。オーバーコート層7の膜厚は
4〜10μmの膜厚であった。
上に樹脂製のオーバーコート層7を作成し光記録媒体1
とした。オーバーコート層7の樹脂としては紫外線硬化
樹脂をスピンコート法で均一に塗布し紫外線を照射し硬
化させることで成膜した。オーバーコート層7の膜厚は
4〜10μmの膜厚であった。
【0056】得られた光記録媒体1は相変化型光記録層
4の全面が非晶質状態のため、結晶化する必要がある。
市販の相変化光ディスク用初期化装置を使用して全面を
初期化した。初期化装置は高出力半導体レーザを光記録
媒体1に照射・走査することで行う。走査速度は5.0
m/sとし、照射するビーム径は幅80μmであった。
4の全面が非晶質状態のため、結晶化する必要がある。
市販の相変化光ディスク用初期化装置を使用して全面を
初期化した。初期化装置は高出力半導体レーザを光記録
媒体1に照射・走査することで行う。走査速度は5.0
m/sとし、照射するビーム径は幅80μmであった。
【0057】得られた光記録媒体1はグルーブ反射率
2.0%のCD−RWディスクとなった。
2.0%のCD−RWディスクとなった。
【0058】このようなCD−RWディスクに異なる走
査速度Vで記録を行った。記録はマルチパルス法、シン
グルパルス法の双方で行った。記録情報は通常のCD−
RWと同様のEFM変調されたPWM信号であり、ラン
ダムパターンとした。
査速度Vで記録を行った。記録はマルチパルス法、シン
グルパルス法の双方で行った。記録情報は通常のCD−
RWと同様のEFM変調されたPWM信号であり、ラン
ダムパターンとした。
【0059】記録にはスピンドルテスターDDU100
0にパターンジェネレータで作成した記録波形を入力し
て行った。DDU1000の光ピックアップはNA0.
50,λ=789nmであった。
0にパターンジェネレータで作成した記録波形を入力し
て行った。DDU1000の光ピックアップはNA0.
50,λ=789nmであった。
【0060】記録速度(走査速度)と各特性(z、I1
/Itop、初期ジッタ、オーバーライト(DOW)1
00後のジッタ、δ、ΔI/I11、I1/Itop、
初期ジッタ、オーバーライト(DOW)100後のジッ
タ)の測定結果を表1に示す。
/Itop、初期ジッタ、オーバーライト(DOW)1
00後のジッタ、δ、ΔI/I11、I1/Itop、
初期ジッタ、オーバーライト(DOW)100後のジッ
タ)の測定結果を表1に示す。
【0061】
【表1】
【0062】ジッタ<35ns,I11/Itop>
0.55を目標仕様として考慮すると記録速度(走査速
度)V,ΔI/I11,パルス比z等の各パラメータが
前述したように、 V1≦V≦V2…マルチパルス,V3≦V≦V4…シン
グルパルス 0.02(s/m)×V≦z≦0.012(s/m)×
V+0.25 z=0.5で走査速度V2を規定 0≦δ≦0.5 ΔI/I11≦0.1で走査速度V3を規定 1.2≦V3/V2≦2.0 のような条件にあることが必要である。
0.55を目標仕様として考慮すると記録速度(走査速
度)V,ΔI/I11,パルス比z等の各パラメータが
前述したように、 V1≦V≦V2…マルチパルス,V3≦V≦V4…シン
グルパルス 0.02(s/m)×V≦z≦0.012(s/m)×
V+0.25 z=0.5で走査速度V2を規定 0≦δ≦0.5 ΔI/I11≦0.1で走査速度V3を規定 1.2≦V3/V2≦2.0 のような条件にあることが必要である。
【0063】この結果、本実施例の場合であれば、V2
=24.0m/s,V3=28.8m/sであり、高速
側の特性はシングルパルス法のほうが良好な特性とな
り、低速側はマルチパルス法の方が良好な特性であるこ
とを確認できたものである。
=24.0m/s,V3=28.8m/sであり、高速
側の特性はシングルパルス法のほうが良好な特性とな
り、低速側はマルチパルス法の方が良好な特性であるこ
とを確認できたものである。
【0064】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、光記録媒
体と光ビームとの間の相対的な走査速度と光記録媒体の
相変化型光記録層における熱拡散速度との関係から、走
査速度VがV1≦V2<V3≦V4なる条件下で、走査
速度V2,V3を境として異なる走査速度での記録モー
ドの領域について各々マルチパルス発光波形、シングル
パルス発光波形なる最適な記録方法を適用することで、
高い走査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで
記録することができる。
体と光ビームとの間の相対的な走査速度と光記録媒体の
相変化型光記録層における熱拡散速度との関係から、走
査速度VがV1≦V2<V3≦V4なる条件下で、走査
速度V2,V3を境として異なる走査速度での記録モー
ドの領域について各々マルチパルス発光波形、シングル
パルス発光波形なる最適な記録方法を適用することで、
高い走査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで
記録することができる。
【0065】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明を実現する上で、低速記録時のマルチパルス発
光波形については記録パワーレベルPw,バイアスパワ
ーレベルPb,消去パワーレベルPeの3値の組合せに
よるものとし、高速記録時のシングルパルス発光波形に
ついては記録パワーレベルPwと消去パワーレベルPe
の2値の組合せによるものとすることにより、何れの走
査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで記録す
ることができる。
載の発明を実現する上で、低速記録時のマルチパルス発
光波形については記録パワーレベルPw,バイアスパワ
ーレベルPb,消去パワーレベルPeの3値の組合せに
よるものとし、高速記録時のシングルパルス発光波形に
ついては記録パワーレベルPwと消去パワーレベルPe
の2値の組合せによるものとすることにより、何れの走
査速度の領域でも十分な変調度と良好なジッタで記録す
ることができる。
【0066】請求項3記載の発明によれば、請求項1又
は2記載の光記録装置において、走査速度がV1〜V2
と低い速度領域ではマルチパルス発光波形の発光長さ
(パルス幅)を走査速度に対して変化させているため、
V1〜V2の範囲内での最適記録パワーの変動を最小限
に抑えることができ、V1〜V2の範囲内でのCAV記
録対応の何れの走査速度でも同等の記録感度と高い変調
度を得ることができる。
は2記載の光記録装置において、走査速度がV1〜V2
と低い速度領域ではマルチパルス発光波形の発光長さ
(パルス幅)を走査速度に対して変化させているため、
V1〜V2の範囲内での最適記録パワーの変動を最小限
に抑えることができ、V1〜V2の範囲内でのCAV記
録対応の何れの走査速度でも同等の記録感度と高い変調
度を得ることができる。
【0067】請求項4記載の発明によれば、請求項3記
載の光記録装置において、マルチパルス発光波形を用い
て十分な変調度と良好なジッタで記録することができる
最高記録線速度が明確となる。
載の光記録装置において、マルチパルス発光波形を用い
て十分な変調度と良好なジッタで記録することができる
最高記録線速度が明確となる。
【0068】請求項5記載の発明によれば、請求項1な
いし4の何れか一記載の光記録装置において、シングル
パルス発光波形における発光時間(パルス幅)が歪みの
影響によるジッタの悪化を低減できるように最適化され
ているので、V3〜V4なる高い走査速度でも高い変調
度と良好なジッタを得ることができる。
いし4の何れか一記載の光記録装置において、シングル
パルス発光波形における発光時間(パルス幅)が歪みの
影響によるジッタの悪化を低減できるように最適化され
ているので、V3〜V4なる高い走査速度でも高い変調
度と良好なジッタを得ることができる。
【0069】請求項6記載の発明によれば、請求項1な
いし5の何れか一記載の光記録装置において、低走査速
度領域の最高走査速度V2と高走査速度領域の最低走査
速度V3との関係が熱伝導の影響を最小限にし得るよう
に最適化されており、発光波形が切換えられる走査速度
範囲が適切な範囲に設定されているため、何れの走査速
度領域でも良好なオーバーライト特性を得ることができ
る。
いし5の何れか一記載の光記録装置において、低走査速
度領域の最高走査速度V2と高走査速度領域の最低走査
速度V3との関係が熱伝導の影響を最小限にし得るよう
に最適化されており、発光波形が切換えられる走査速度
範囲が適切な範囲に設定されているため、何れの走査速
度領域でも良好なオーバーライト特性を得ることができ
る。
【0070】請求項7記載の発明によれば、請求項1な
いし6の何れか一記載の光記録装置において、低走査速
度領域の最高走査速度V2と高走査速度領域の最低走査
速度V3との関係が最適化されており、発光波形が切換
えられる走査速度範囲が適切な範囲に設定されているた
め、何れの走査速度領域でも良好なオーバーライト特性
を得ることができる。
いし6の何れか一記載の光記録装置において、低走査速
度領域の最高走査速度V2と高走査速度領域の最低走査
速度V3との関係が最適化されており、発光波形が切換
えられる走査速度範囲が適切な範囲に設定されているた
め、何れの走査速度領域でも良好なオーバーライト特性
を得ることができる。
【0071】請求項8記載の発明によれば、請求項1な
いし7の何れか一記載の光記録装置において、相変化型
光記録層の組成として走査速度VがV≧24m/sの高
速記録に対応できる原子組成を使用しているので、V3
〜V4の走査速度範囲で良好なオーバーライト特性を得
ることができる。
いし7の何れか一記載の光記録装置において、相変化型
光記録層の組成として走査速度VがV≧24m/sの高
速記録に対応できる原子組成を使用しているので、V3
〜V4の走査速度範囲で良好なオーバーライト特性を得
ることができる。
【0072】請求項9記載の発明によれば、請求項8記
載の光記録装置において、反射層の組成として走査速度
VがV≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料
を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好
なオーバーライト特性を得ることができる。
載の光記録装置において、反射層の組成として走査速度
VがV≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料
を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好
なオーバーライト特性を得ることができる。
【図1】本発明の一実施の形態の光記録媒体を示す断面
構造図である。
構造図である。
【図2】発光波形例を示す説明図である。
【図3】シングルパルス記録時の特性を示し、(a)は
マーク形状の説明図、(b)はそのマーク再生時の時間
−反射率特性図である。
マーク形状の説明図、(b)はそのマーク再生時の時間
−反射率特性図である。
【図4】記録速度V−z特性図である。
【図5】記録速度V−I11/Itop特性図である。
【図6】記録速度V−ΔI/I11特性図である。
【図7】記録速度V−z特性図である。
【図8】本実施の形態の光記録装置の構成例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
1 光記録媒体
2 透明基板
3 下部誘電体層
4 相変化型光記録層
5 上部誘電体層
6 反射層
13 回転駆動機構
22 速度制御手段
23,27 発光波形設定手段
30 光源駆動手段
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成14年2月7日(2002.2.7)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 光記録装置及び光記録媒体
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項8
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項9
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CD−RW,DV
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW,PD等の相
変化型光記録層を有する光記録媒体を扱う光記録装置及
びこの光記録装置で記録を行う光記録媒体に関する。
D−RAM,DVD−RW,DVD+RW,PD等の相
変化型光記録層を有する光記録媒体を扱う光記録装置及
びこの光記録装置で記録を行う光記録媒体に関する。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】請求項8記載の発明は、請求項1ないし7
の何れか一記載の光記録装置で記録を行う光記録媒体
は、透明基板上に下部誘電体層、相変化型光記録層、上
部誘電体層及び反射層を有し、前記相変化型光記録層が
Ga,Sb,Teを主成分とし、各々の組成比をα,
β,γとするとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立つ。
の何れか一記載の光記録装置で記録を行う光記録媒体
は、透明基板上に下部誘電体層、相変化型光記録層、上
部誘電体層及び反射層を有し、前記相変化型光記録層が
Ga,Sb,Teを主成分とし、各々の組成比をα,
β,γとするとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立つ。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】請求項9記載の発明は、請求項8記載の光
記録媒体において、前記反射層は、Agを主成分とする
金属又は合金である。
記録媒体において、前記反射層は、Agを主成分とする
金属又は合金である。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0071
【補正方法】変更
【補正内容】
【0071】請求項8記載の発明によれば、請求項1な
いし7の何れか一記載の光記録装置で記録を行う光記録
媒体が、相変化型光記録層の組成として走査速度VがV
≧24m/sの高速記録に対応できる原子組成を使用し
ているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好なオーバ
ーライト特性を得ることができる。
いし7の何れか一記載の光記録装置で記録を行う光記録
媒体が、相変化型光記録層の組成として走査速度VがV
≧24m/sの高速記録に対応できる原子組成を使用し
ているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好なオーバ
ーライト特性を得ることができる。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0072
【補正方法】変更
【補正内容】
【0072】請求項9記載の発明によれば、請求項8記
載の光記録媒体において、反射層の組成として走査速度
VがV≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料
を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好
なオーバーライト特性を得ることができる。
載の光記録媒体において、反射層の組成として走査速度
VがV≧24m/sの高速記録に対応できる反射層材料
を使用しているので、V3〜V4の走査速度範囲で良好
なオーバーライト特性を得ることができる。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
G11B 7/24 538 B41M 5/26 X
Fターム(参考) 2H111 EA04 EA12 EA23 EA33 FA12
FA21 FA23 FB09 FB12 FB21
FB30
5D029 JA01 MA13
5D090 AA01 BB05 CC02 DD01 EE01
EE05 FF21 KK04 KK05
5D119 AA23 AA24 AA26 BA01 BB04
DA02 HA25 HA27 HA47 HA49
HA52 HA60
5D789 AA23 AA24 AA26 BA01 BB04
DA02 HA25 HA27 HA47 HA49
HA52 HA60
Claims (9)
- 【請求項1】 光ビームが照射されることにより結晶相
とアモルファス相とに可逆的に相変化する相変化型光記
録層を有する光記録媒体に対して強度変調された光ビー
ムを照射することによりPWM変調された記録情報を記
録する光記録装置において、 前記光記録媒体を回転させる回転駆動機構と、 前記光記録媒体に対して照射する光ビームを発するレー
ザ光源と、 このレーザ光源を発光させる光源駆動手段と、 前記レーザ光源が発する光ビームの発光波形を設定して
前記光源駆動手段を制御する発光波形設定手段と、 回転駆動される前記光記録媒体とこの光記録媒体に照射
される前記光ビームとの間の走査速度を制御する速度制
御手段と、を備え、 記録時における前記走査速度VがV1≦V2<V3≦V
4なる関係で表され、記録されるマーク長が基本クロッ
ク周期Tに対してnT(nは自然数)で表されるとき、
前記発光波形設定手段は、前記走査速度VがV1≦V≦
V2の範囲では(n−1)個の記録パルスからなるマル
チパルス発光波形を設定し、前記走査速度VがV3≦V
≦V4の範囲では1つの記録パルスからなるシングルパ
ルス発光波形を設定するようにしたことを特徴とする光
記録装置。 - 【請求項2】 前記発光波形設定手段は、前記走査速度
VがV1≦V≦V2の範囲では記録パワーレベルPw,
バイアスパワーレベルPb,消去パワーレベルPe(た
だし、Pw>Pe>Pb)の3値の組合せによるマルチ
パルス発光波形を設定し、前記走査速度VがV3≦V≦
V4の範囲では前記記録パワーレベルPwと前記消去パ
ワーレベルPeの2値の組合せによるシングルパルス発
光波形を設定するようにしたことを特徴とする請求項1
記載の光記録装置。 - 【請求項3】 前記走査速度VがV1≦V≦V2の範囲
で(n−1)個からなる記録パルスのうち2番目以降の
記録パルスのパルス幅をTmpとするとき,基本クロッ
ク周期Tに対するパルス比z=Tmp/Tが記録速度V
に対して 0.02(s/m)×V≦z≦0.012(s/m)×
V+0.25 の範囲であることを特徴とする請求項1又は2記載の光
記録装置。 - 【請求項4】 前記走査速度V2は、前記マルチパルス
発光波形に従い前記光記録媒体に記録した場合にz=
0.5で記録可能な最高記録線速度であることを特徴と
する請求項3記載の光記録装置。 - 【請求項5】 前記走査速度VがV3≦V≦V4の範囲
での記録パルスのパルス幅をTsp=(n−δ)Tとす
るとき、補正パラメータδが 0≦δ≦0.5 の範囲であることを特徴とする請求項1ないし4の何れ
か一記載の光記録装置。 - 【請求項6】 前記走査速度V3は、前記シングルパル
ス発光波形に従い前記光記録媒体に記録した場合の歪み
パラメータがΔI/I11≦0.1となる領域の記録線
速度に設定されることを特徴とする請求項1ないし5の
何れか一記載の光記録装置。 - 【請求項7】 前記走査速度V2,V3の比V3/V2
が、1.2≦V3/V2≦2.0であることを特徴とす
る請求項1ないし6の何れか一記載の光記録装置。 - 【請求項8】 前記光記録媒体は、透明基板上に下部誘
電体層、前記相変化型光記録層、上部誘電体層及び反射
層を有し、前記相変化型光記録層がGa,Sb,Teを
主成分とし、各々の組成比をα,β,γとするとき、 0.04≦α≦0.08 0.73≦β≦0.79 0.19≦γ≦0.21 α+β+γ≦1 の関係が成り立つことを特徴とする請求項1ないし7の
何れか一記載の光記録装置。 - 【請求項9】 前記反射層は、Agを主成分とする金属
又は合金であることを特徴とする請求項8記載の光記録
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002000723A JP2003203340A (ja) | 2002-01-07 | 2002-01-07 | 光記録装置及び光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002000723A JP2003203340A (ja) | 2002-01-07 | 2002-01-07 | 光記録装置及び光記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003203340A true JP2003203340A (ja) | 2003-07-18 |
Family
ID=27641023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002000723A Pending JP2003203340A (ja) | 2002-01-07 | 2002-01-07 | 光記録装置及び光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003203340A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004038705A1 (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体 |
| US7376065B2 (en) * | 2004-01-30 | 2008-05-20 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Optical recording method, optical recording apparatus and optical storage medium |
| US7443776B2 (en) | 2002-12-13 | 2008-10-28 | Mitsubishi Kagaku Media Co., Ltd. | Optical recording method |
| US7564769B2 (en) * | 2004-01-30 | 2009-07-21 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Phase-change recording medium having the relation between pulse patterns and reflectivity of un-recorded section |
| US7602675B2 (en) | 2003-10-17 | 2009-10-13 | Mitsubishi Kagaku Media Co., Ltd. | Optical recording method |
-
2002
- 2002-01-07 JP JP2002000723A patent/JP2003203340A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004038705A1 (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体 |
| JPWO2004038705A1 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-02-23 | 松下電器産業株式会社 | 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体 |
| US7116623B2 (en) | 2002-10-28 | 2006-10-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording method, optical information recording device and optical information recording medium |
| US7443776B2 (en) | 2002-12-13 | 2008-10-28 | Mitsubishi Kagaku Media Co., Ltd. | Optical recording method |
| US7532555B2 (en) | 2002-12-13 | 2009-05-12 | Mitsubishi Kagaku Media Co., Ltd. | Phase-change recording layer optical recording method |
| US7602675B2 (en) | 2003-10-17 | 2009-10-13 | Mitsubishi Kagaku Media Co., Ltd. | Optical recording method |
| US7376065B2 (en) * | 2004-01-30 | 2008-05-20 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Optical recording method, optical recording apparatus and optical storage medium |
| US7564769B2 (en) * | 2004-01-30 | 2009-07-21 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Phase-change recording medium having the relation between pulse patterns and reflectivity of un-recorded section |
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