JP2003273150A - Wire bonding method and apparatus - Google Patents
Wire bonding method and apparatusInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボンディング点間をワイヤにて良好に接続で
き、良質の半導体の製造を可能とすること。
【解決手段】 キャピラリ1の移動により電極52とリ
ード53間をワイヤ2で接続するにあたり、電極52に
ワイヤ2を接続後、ループを形成しつつリード53方向
にキャピラリ1を移動させ、リード53上のボンディン
グ点の上方を行き過ぎた後に電極52側にキャピラリ1
を引き戻す動作を行なわせてからリード53上のボンデ
ィング点にワイヤ2を接続する。
(57) [Problem] To provide a good connection between bonding points with wires, and to enable the production of a high-quality semiconductor. In connecting a wire 2 between an electrode 52 and a lead 53 by moving the capillary 1, after connecting the wire 2 to the electrode 52, the capillary 1 is moved in the direction of the lead 53 while forming a loop. After passing over the bonding point, the capillary 1 on the electrode 52 side
The wire 2 is connected to the bonding point on the lead 53 after the operation of pulling back is performed.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、第1ボンディング点と
第2ボンディング点間をワイヤで接続するワイヤボンデ
ィング方法及び装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wire bonding method and apparatus for connecting a first bonding point and a second bonding point with a wire.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体ペレットに設けられた電極とリー
ドフレームに形成されたリードとを導電性のワイヤを用
いて電気的に接続するものとして、ワイヤボンディング
技術が知られている。2. Description of the Related Art A wire bonding technique is known as a technique for electrically connecting an electrode provided on a semiconductor pellet and a lead formed on a lead frame by using a conductive wire.
【0003】この技術の一例を図4により説明すると、
次の通りである。まずワイヤ50を保持する不図示のキ
ャピラリを、半導体ペレット51の電極52の上方位置
から垂直下降させる。電極上方の所定高さに設定された
サーチレベルにキャピラリが到達した時点でその下降速
度を今までの速度より遅いサーチ速度に切換え、この速
度を維持しながらワイヤ50を電極52に接触させる。
そしてキャピラリを介してワイヤ50に所定のボンディ
ング荷重並びに超音波振動を付与し、ワイヤ50の一端
を電極にボンディング(接続)する。An example of this technique will be described with reference to FIG.
It is as follows. First, a capillary (not shown) holding the wire 50 is vertically lowered from a position above the electrode 52 of the semiconductor pellet 51. When the capillary reaches a search level set at a predetermined height above the electrode, its descending speed is switched to a search speed slower than the existing speed, and the wire 50 is brought into contact with the electrode 52 while maintaining this speed.
Then, a predetermined bonding load and ultrasonic vibration are applied to the wire 50 via the capillary to bond (connect) one end of the wire 50 to the electrode.
【0004】次に、キャピラリを所定量上昇させた後、
ループを描くようにしてリード53の上方に移動させ
る。このループ形成時にキャピラリがリード上方の所定
高さに設定されたサーチレベルに到達した時点でその下
降速度をサーチ速度に切換え、この速度を維持しながら
ワイヤ50をリード53に接触させる。そして、キャピ
ラリを介してワイヤ50に所定のボンディング荷重並び
に超音波振動を付与し、ワイヤ50をリード53にボン
ディングする。そして最後に、ワイヤ50のリード53
との接続部分を切断して1サイクルが終了する。Next, after raising the capillary by a predetermined amount,
It is moved above the lead 53 so as to draw a loop. When the capillary reaches the search level set at a predetermined height above the lead during this loop formation, the descending speed is switched to the search speed, and the wire 50 is brought into contact with the lead 53 while maintaining this speed. Then, a predetermined bonding load and ultrasonic vibration are applied to the wire 50 via the capillary to bond the wire 50 to the lead 53. And finally, the lead 53 of the wire 50
The connection part with and is disconnected, and one cycle is completed.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したワ
イヤボンディングにおいては、ワイヤ50のリード53
への接続の際、図4に示すように、通常はワイヤ50を
ループの頂点54の位置で折り返すようにキャピラリを
移動させた後、リード53にボンディングするようにし
ている。In the wire bonding described above, the lead 53 of the wire 50 is used.
At the time of connection to the wire, as shown in FIG. 4, the capillary is usually moved so that the wire 50 is folded back at the position of the apex 54 of the loop, and then bonded to the lead 53.
【0006】しかしながら、特に半導体ペレット51が
大型化し、電極52からペレット端部51aまでの距離
が長く、かつペレット端部51aからリード53上のボ
ンディング点までの距離が短い場合には、ワイヤ50が
ペレット端部51aに接触してしまう危険性を有してい
て、接触した場合には半導体としての品質が損なわれ
る。However, especially when the semiconductor pellet 51 becomes large, the distance from the electrode 52 to the pellet end 51a is long, and the distance from the pellet end 51a to the bonding point on the lead 53 is short, the wire 50 is There is a risk of coming into contact with the pellet end portion 51a, and if it comes into contact, the quality as a semiconductor will be impaired.
【0007】また、これを防止するため、ループの頂点
54からリード53に至る迄の間に膨らみ癖を付けるこ
とも試みられている。ところがこの場合には、次工程へ
のリードフレーム搬送時の振動等によりループが倒れて
隣接するワイヤ同士が接触してしまったり、あるいはモ
ールドの際の樹脂加重などにより、膨らみがつぶれてし
まうこともあり、依然として有効な解決には至っていな
い。In order to prevent this, it has been attempted to add a bulge between the apex 54 of the loop and the lead 53. However, in this case, the loop may collapse due to vibration during the lead frame transportation to the next process and the adjacent wires may come into contact with each other, or the bulge may be collapsed due to resin loading during molding. Yes, there is still no effective solution.
【0008】本発明は、ボンディング点間をワイヤにて
良好に接続でき、良質の半導体の製造が可能なワイヤボ
ンディング方法及び装置を提供することを目的とする。It is an object of the present invention to provide a wire bonding method and apparatus capable of satisfactorily connecting between bonding points with wires and capable of manufacturing a good quality semiconductor.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明におけるワイヤボ
ンディング方法は、キャピラリの移動により第1ボンデ
ィング点と第2ボンディング点間をワイヤで接続するワ
イヤボンディング方法において、第1ボンディング点に
ワイヤを接続後、ループを形成しつつ第2ボンディング
点方向にキャピラリを移動させ、第2ボンディング点の
上方を行き過ぎた後に第1ボンディング点側にキャピラ
リを引き戻す動作を行なわせてから第2ボンディング点
にワイヤを接続することを特徴とする。A wire bonding method according to the present invention is a wire bonding method for connecting a first bonding point and a second bonding point with a wire by moving a capillary, after connecting the wire to the first bonding point. , Connecting the wire to the second bonding point after moving the capillary toward the second bonding point while forming a loop, moving the capillary too far above the second bonding point, and then pulling back the capillary to the first bonding point side It is characterized by doing.
【0010】また本発明におけるワイヤボンディング装
置は、キャピラリと、このキャピラリの移動装置と、こ
の移動装置の制御装置とを有するワイヤボンディング装
置において、前記制御装置は、前記キャピラリが第1ボ
ンディング点にワイヤを接続後、ループを形成しつつ第
2ボンディング点方向に移動し、第2ボンディング点の
上方を行き過ぎた後に第1ボンディング点側に引き戻る
動作を行ない、その後、第2ボンディング点にワイヤを
接続するよう前記移動装置を制御することを特徴とす
る。The wire bonding apparatus according to the present invention is a wire bonding apparatus having a capillary, a moving device for the capillary, and a controller for the moving device. After connecting, the wire moves in the direction of the second bonding point while forming a loop, goes over the second bonding point and then returns to the first bonding point side, and then connects the wire to the second bonding point. The moving device is controlled so as to do so.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、図
面を用いて説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0012】図1は、本発明が適用されてなるワイヤボ
ンディング装置の正面図、図2は、図1のワイヤボンデ
ィング装置を用いたキャピラリの移動軌跡を示す図、図
3は、図1のワイヤボンディング装置を用いたワイヤの
移動軌跡を示す図である。なお、各図において、図4と
同一部品には同一符号を付し、その説明は省略する。FIG. 1 is a front view of a wire bonding apparatus to which the present invention is applied, FIG. 2 is a view showing a movement path of a capillary using the wire bonding apparatus of FIG. 1, and FIG. 3 is a wire of FIG. It is a figure which shows the locus | trajectory of the movement of the wire using a bonding device. In each drawing, the same parts as those in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
【0013】ワイヤボンディング装置10は、図1に示
すように、XY方向に移動するテーブル11と、このテ
ーブル11に載置されたボンディングヘッド12を有す
る。ボンディングヘッド12には支持ブロック13が設
けられ、この支持ブロック13に設けられた支軸14に
より、揺動ブロック15とボンディングアーム16とが
揺動自在に支持される。ボンディングアーム16の一方
の揺動端部には、ワイヤ2の挿通孔を有するキャピラリ
1が装着され、また他端部には、不図示の超音波振動子
が装着される。As shown in FIG. 1, the wire bonding apparatus 10 has a table 11 that moves in the XY directions and a bonding head 12 placed on this table 11. A supporting block 13 is provided on the bonding head 12, and a swing shaft 15 and a bonding arm 16 are swingably supported by a support shaft 14 provided on the supporting block 13. The capillary 1 having an insertion hole for the wire 2 is attached to one swing end of the bonding arm 16, and an ultrasonic transducer (not shown) is attached to the other end.
【0014】さらにボンディングアーム16の後部と揺
動ブロック15との間には、ばね17とボイスコイルモ
ータ18が隣接して配置される。ばね17は、その各端
部が揺動ブロック15とボンディングアーム16にそれ
ぞれ支持され、揺動ブロック15に対してボンディング
アーム16を支軸14を中心に反時計方向に付勢するも
ので、その揺動は揺動ブロック15に設けたストッパ1
9によって制限される。一方、ボイスコイルモータ18
は、その本体18aが揺動ブロック15に、その作動軸
18bがボンディングアーム16にそれぞれ装着され、
ボイスコイルモータ18は電流の印加により、その電流
値に応じた押付力をボンディングアーム16の後部に発
生するものである。従ってボイスコイルモータ18に印
加する電流を調整することにて、揺動ブロック15とボ
ンディングアーム16との間に作用するばね17の付勢
力を調整できるようになっている。Further, a spring 17 and a voice coil motor 18 are arranged adjacent to each other between the rear portion of the bonding arm 16 and the swing block 15. Each end of the spring 17 is supported by the oscillating block 15 and the bonding arm 16, and urges the bonding arm 16 to the oscillating block 15 counterclockwise about the support shaft 14. The swing is performed by the stopper 1 provided on the swing block 15.
Limited by 9. On the other hand, the voice coil motor 18
The main body 18a is attached to the swing block 15, and the operating shaft 18b is attached to the bonding arm 16, respectively.
The voice coil motor 18 generates a pressing force corresponding to the current value at the rear portion of the bonding arm 16 by applying a current. Therefore, the biasing force of the spring 17 acting between the swing block 15 and the bonding arm 16 can be adjusted by adjusting the current applied to the voice coil motor 18.
【0015】なお、図中20は揺動ブロック15に設け
られたギャップセンサで、その検出面がボンディングア
ーム16の他端部に対向するように設けられ、揺動ブロ
ック15に対するボンディングアーム16の相対移動量
を検知する。In the figure, reference numeral 20 denotes a gap sensor provided on the swing block 15, and the gap sensor is provided so that its detection surface faces the other end of the bonding arm 16, and the bonding arm 16 is relative to the swing block 15. Detect the amount of movement.
【0016】揺動ブロック15の後方部には、一対の支
持アーム21が突設される。そして、モータ22によっ
て回転される円盤23の偏芯位置に突設された係合ピン
24が、一対の支持アーム21間に係合しており、モー
タ22の出力軸を中心とした係合ピン24の回転方向並
びに回転速度に応じて、揺動ブロック15は揺動させら
れる。なお揺動ブロック15の揺動量は、モータ22に
接続された不図示のエンコーダにて検出される。また、
このエンコーダ、並びにギャツプセンサ20の検出値は
制御装置30に送られるようになっており、制御装置3
0はこれらの信号に基づいて、テーブル11、ボイスコ
イルモータ18、モータ22を後述するように動作制御
する。なお、キャピラリ1に保持されるワイヤ2の経路
には、図示は省略したクランパが設けられ、クランパの
開閉動作により、ワイヤ2を適宜解放、保持する。A pair of support arms 21 are provided on the rear portion of the swing block 15 so as to project therefrom. An engaging pin 24 protruding from an eccentric position of the disk 23 rotated by the motor 22 is engaged between the pair of support arms 21, and an engaging pin centered on the output shaft of the motor 22. The swing block 15 is swung in accordance with the rotation direction and the rotation speed of 24. The swing amount of the swing block 15 is detected by an encoder (not shown) connected to the motor 22. Also,
The detection values of the encoder and the gap sensor 20 are sent to the control device 30.
Based on these signals, 0 controls the operation of the table 11, the voice coil motor 18, and the motor 22 as described later. A clamper (not shown) is provided in the path of the wire 2 held by the capillary 1, and the wire 2 is appropriately released and held by the opening / closing operation of the clamper.
【0017】次に、このワイヤボンディング装置10に
よるボンディング動作について説明する。Next, the bonding operation of the wire bonding apparatus 10 will be described.
【0018】まず、テーブル11の移動により、キャピ
ラリ1は半導体ペレット51の電極52の上方の位置A
に位置付けられ、ワイヤ先端と不図示のトーチ電極との
間の放電によりワイヤの先端にボールが形成される(図
2参照)。次にモータ22が駆動され、ボンディングア
ーム16はその後端部がストッパ19に当接した状態で
揺動ブロック15と一体となって揺動し、キャピラリ1
は下降を開始する。この時、クランパは開状態とされ、
ワイヤが繰り出される。そしてこの下降時、モータ22
に接続された不図示のエンコーダによってキャピラリ1
がサーチレベルに達したことが検出されると、制御装置
30は、モータ22の回転速度を下げ、キャピラリ1の
下降速度をサーチ速度に減速する。そしてキャピラリ1
に保持されたワイヤ2が半導体ペレット51の電極52
に接触すると、この接触に伴いギャップセンサ20の検
出値が変化することから、制御装置30はこの変化時点
を接触タイミングとしてとらえ、電極52に接触したワ
イヤ2に対し所定のボンディング荷重と超音波振動を付
与し、ワイヤ2を電極52にボンディングする。ここ
で、ボンディング荷重は、ばね17による付勢力とボイ
スコイルモータ18における印加した電流に応じた押付
力との差分となる。また、超音波振動は、ボンディング
アーム16の他端部に設けられた不図示の超音波振動子
による。First, by moving the table 11, the capillary 1 is moved to a position A above the electrode 52 of the semiconductor pellet 51.
The ball is formed at the tip of the wire due to the discharge between the tip of the wire and the torch electrode (not shown) (see FIG. 2). Next, the motor 22 is driven, and the bonding arm 16 swings together with the swing block 15 with the rear end of the bonding arm 16 contacting the stopper 19, and the capillary 1
Begins to descend. At this time, the clamper is opened,
The wire is paid out. And at the time of this descent, the motor 22
The capillary 1 is connected to an encoder (not shown).
Is detected to have reached the search level, the controller 30 reduces the rotation speed of the motor 22 and reduces the descending speed of the capillary 1 to the search speed. And capillary 1
The wire 2 held on the electrode 52 of the semiconductor pellet 51.
When the contact is made with the contact, the detection value of the gap sensor 20 changes with the contact, so the control device 30 regards this change time as the contact timing, and a predetermined bonding load and ultrasonic vibration are applied to the wire 2 contacting the electrode 52. And the wire 2 is bonded to the electrode 52. Here, the bonding load is the difference between the urging force of the spring 17 and the pressing force of the voice coil motor 18 according to the applied current. The ultrasonic vibration is generated by an ultrasonic vibrator (not shown) provided at the other end of the bonding arm 16.
【0019】このようにして電極52へのボンディング
が終了すると、モータ22の回転によりキャピラリ1は
位置Bまで距離a上昇し、その後テーブル11の移動に
よりリード53とは反対方向へ距離b離れた位置Cに水
平移動する。以後、キャピラリ1は位置Cから位置Dま
で距離c上昇、次にリード53とは反対方向に距離d水
平移動して位置Eへ、そして距離e上昇して位置Fに達
する。位置Fにキャピラリ1が到達すると、不図示のキ
ャピラリは閉じてワイヤ2を保持し、この状態でテーブ
ル11の水平移動、並びにモータ22の回転によるキャ
ピラリ1の下動とが並行して行なわれ、キャピラリ1
は、ループを形成しつつリード53上のボンディング点
に向けて移動する。When the bonding to the electrode 52 is completed in this way, the capillary 1 is moved up to the position B by the distance a by the rotation of the motor 22, and then the table 11 is moved to the position away from the lead 53 by the distance b. Move horizontally to C. Thereafter, the capillary 1 moves up from the position C to the position D by the distance c, then moves horizontally in the direction opposite to the lead 53 by the distance d to the position E, and moves up the distance e to the position F. When the capillary 1 reaches the position F, the capillary (not shown) is closed and holds the wire 2. In this state, the horizontal movement of the table 11 and the downward movement of the capillary 1 by the rotation of the motor 22 are performed in parallel, Capillary 1
Moves toward the bonding point on the lead 53 while forming a loop.
【0020】さて、ここでループを形成しつつ移動する
キャピラリ1は、リード53上のボンディング点上方を
通り過ぎ、G位置、すなわちリード53の上方に設定さ
れたサーチ開始レベルと同レベルでしかもリード53上
のボンディング点より半導体ペレット51から見て遠方
に距離f離れた位置まで移動する。Now, the capillary 1 which moves while forming a loop passes above the bonding point on the lead 53 and is at the G position, that is, at the same level as the search start level set above the lead 53, and the lead 53. It moves from the above bonding point to a position away from the semiconductor pellet 51 by a distance f.
【0021】ここで本実施の形態においては、キャピラ
リ1が位置Gに達したタイミングで、ボイスコイルモー
タ18に印加する電流を増大させ、ばね17の付勢力に
近い押付力をボンディングアーム16の後部に付与する
ようにしてある。Here, in the present embodiment, when the capillary 1 reaches the position G, the current applied to the voice coil motor 18 is increased and a pressing force close to the biasing force of the spring 17 is applied to the rear portion of the bonding arm 16. It is given to.
【0022】キャピラリ1がG位置に達した後、下降速
度がサーチ速度に減速されるとともに、テーブル11と
モータ22の駆動により、キャピラリ1はリード53上
のボンディング点に向かって斜め方向に下降移動する。
なおこの下降移動時の移動軌跡は、水平面に緩やかに交
わる勾配であることが好ましい。そしてこの下降移動
時、ギャップセンサ20が揺動ブロック15とボンディ
ングアーム16との相対移動を検出することにより、ワ
イヤ2がリード53上のボンディング点に接触したこと
が検出される。このとき先に述べたように、ボイスコイ
ルモータ18によりばね17の付勢力に近い押付力がボ
ンディングアーム16の後部に付与されているので、ワ
イヤ2がリード53上のボンディング点に接触した時点
でワイヤ2には、リード53へのボンディング時に加え
る正規のボンディング荷重よりは弱い押圧力が付与され
ることになる。After the capillary 1 reaches the G position, the descending speed is reduced to the search speed, and the table 11 and the motor 22 are driven so that the capillary 1 descends obliquely toward the bonding point on the lead 53. To do.
It should be noted that the locus of movement during the downward movement is preferably a gradient that gently intersects the horizontal plane. During this downward movement, the gap sensor 20 detects the relative movement between the swing block 15 and the bonding arm 16 to detect that the wire 2 is in contact with the bonding point on the lead 53. At this time, as described above, since the pressing force close to the biasing force of the spring 17 is applied to the rear portion of the bonding arm 16 by the voice coil motor 18, when the wire 2 contacts the bonding point on the lead 53. A weaker pressing force than the regular bonding load applied at the time of bonding to the lead 53 is applied to the wire 2.
【0023】次にこの状態からテーブル11はさらに僅
かの距離だけ電極52から離れる方向に移動して停止す
る。そして停止時、ボイスコイルモータ18に印加する
電流を制御してボンディングアーム16に対する押付力
を解除または弱める。これによりキャピラリ1を介して
ワイヤ2にはばね17による正規のボンディング荷重が
付与されることになる。そして不図示の超音波振動子か
ら超音波が印加され、リード53上のボンディング点に
ワイヤ2はボンディングされる。Next, from this state, the table 11 is moved by a slight distance in the direction away from the electrode 52 and stopped. Then, when stopped, the current applied to the voice coil motor 18 is controlled to release or weaken the pressing force on the bonding arm 16. As a result, a regular bonding load by the spring 17 is applied to the wire 2 via the capillary 1. Then, ultrasonic waves are applied from an ultrasonic vibrator (not shown), and the wires 2 are bonded to the bonding points on the leads 53.
【0024】リード53へのボンディングが終了する
と、不図示のクランパは開き、そしてキャピラリ1は、
キャピラリ1の先端に次のボール形成に必要な長さ分の
ワイヤ2が繰り出されるまで上昇する。ここでクランパ
は閉じ、閉じ状態のクランパがキャピラリ1とともに上
昇する。これにより、リード53との接続部分にてワイ
ヤ2は切断され、1サイクルが終了する。When the bonding to the lead 53 is completed, the clamper (not shown) is opened, and the capillary 1 is
The wire 2 is lifted up to the tip of the capillary 1 for the length required for the next ball formation. Here, the clamper is closed, and the clamper in the closed state moves up together with the capillary 1. As a result, the wire 2 is cut at the connecting portion with the lead 53, and one cycle is completed.
【0025】図3は、上記キャピラリ1の移動軌跡にて
形成されるワイヤ2の成形状態並びに移動軌跡を示すも
ので、図2、図3において距離を示す符号の同一のもの
は対応する部分を示す。FIG. 3 shows a forming state and a movement locus of the wire 2 formed by the movement locus of the capillary 1. In FIGS. 2 and 3, the same reference numerals indicating the distance indicate corresponding portions. Show.
【0026】図3に示されるように、上述したキャピラ
リ1の移動により、電極52とリード53の各ボンディ
ング間に形成されたワイヤループの全体形状は台形とさ
れ、電極52から距離h立ち上がり、台形の上底は距離
j、そして距離eの斜辺をもってリード53上のボンデ
ィング点にボンディングされた形状となる。As shown in FIG. 3, due to the movement of the capillary 1 described above, the overall shape of the wire loop formed between the bonding of the electrode 52 and the lead 53 becomes trapezoidal, and the distance h rises from the electrode 52 by a distance h. The upper bottom has a shape bonded to the bonding point on the lead 53 with a hypotenuse of distance j and distance e.
【0027】以上説明した実施の形態において、キャピ
ラリ1の動きは、ワイヤ2が電極52上にボンディング
された後、ループを形成しつつ、リード53上のボンデ
ィング点上方を通り過ぎ、G位置、すなわちリード53
の上方に設定されたサーチ開始レベルと同レベルでしか
もリード53上のボンディング点より半導体ペレット5
1から見て遠方に距離f離れた位置まで移動し、その
後、半導体ペレット51方向、つまり電極52側に引き
戻る動作を行なってリード53上のボンディング点にワ
イヤ2をボンディングするようにした。このため、ワイ
ヤ2がリード53上のボンディング点にボンディングさ
れる直前の段階において、電極52とリード53間に形
成されるループには、このループ全体を上方に持ち上げ
るような力が付与されることになる。従って、たとえ半
導体ペレット51が大型化し、電極52からペレット端
部51aまでの距離が長く、かつペレット端部51aか
らリード53上のボンディング点までの距離が短い場合
においても、従来生じていたワイヤ2がペレット端部5
1aに接触してしまう、といったことが防止でき、半導
体としての品質向上を図ることが可能となる。In the embodiment described above, the movement of the capillary 1 is such that, after the wire 2 is bonded on the electrode 52, it passes above the bonding point on the lead 53 while forming a loop, and then the G position, that is, the lead. 53
Of the semiconductor pellet 5 at the same level as the search start level set above the
The wire 2 is bonded to the bonding point on the lead 53 by moving it to a position away from the position 1 by a distance f, and then pulling it back toward the semiconductor pellet 51, that is, toward the electrode 52 side. Therefore, immediately before the wire 2 is bonded to the bonding point on the lead 53, the loop formed between the electrode 52 and the lead 53 is applied with a force that lifts the entire loop upward. become. Therefore, even if the size of the semiconductor pellet 51 is increased, the distance from the electrode 52 to the pellet end portion 51a is long, and the distance from the pellet end portion 51a to the bonding point on the lead 53 is short, the wire 2 that has conventionally occurred. Is the end 5 of the pellet
It is possible to prevent contact with 1a and improve the quality of the semiconductor.
【0028】また、リード53上のボンディング点にワ
イヤ2をボンディングする直前にて、キャピラリ1に引
き戻し動作をさせることで、形成されたループにはワイ
ヤ2に対して角度の癖を強くつけることができ、この理
由からも、上記と同様な効果を得ることができる。Further, just before the wire 2 is bonded to the bonding point on the lead 53, the capillary 1 is pulled back so that the formed loop has a strong angle habit with respect to the wire 2. For this reason, the same effect as above can be obtained.
【0029】なお、上記した実施の形態においては、電
極52とリード53間をボンディングする例を用いて説
明したが、本発明の適用としては、リード同士、電極同
士の間をワイヤボンディングする場合であっても適用で
きる。In the above embodiment, an example in which the electrode 52 and the lead 53 are bonded to each other has been described. However, the application of the present invention is to wire-bond the leads to each other and the electrodes to each other. It is applicable even if there is.
【0030】また、ループ形状が台形となるようにキャ
ピラリを移動制御する場合を説明したが、図4に示した
通常三角ループと呼ばれているタイプのループを形成す
るものであってもよく、ループ形状に特定されるもので
はない。Further, the case where the capillaries are moved and controlled so that the loop shape becomes a trapezoid has been described, but it is also possible to form a type of loop called a normal triangular loop shown in FIG. It is not specific to the loop shape.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ボンディング点間をワイヤにて良好に接続でき、良質の
半導体の製造が可能となる。As described above, according to the present invention,
Wires can be satisfactorily connected between the bonding points, and a good quality semiconductor can be manufactured.
【図1】本発明が適用されてなるワイヤボンディング装
置の正面図である。FIG. 1 is a front view of a wire bonding apparatus to which the present invention is applied.
【図2】図1のワイヤボンディング装置を用いたキャピ
ラリの移動軌跡を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a movement path of a capillary using the wire bonding apparatus of FIG.
【図3】図1のワイヤボンディング装置を用いたワイヤ
の移動軌跡を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a locus of movement of a wire using the wire bonding apparatus of FIG.
【図4】従来技術による形成されたワイヤの接続状態を
示す図である。FIG. 4 is a view showing a connection state of wires formed by a conventional technique.
1 キャピラリ 2 ワイヤ 11 テーブル 12 ボンディングヘッド 13 支持ブロック 14 支軸 15 揺動ブロック 16 ボンディングアーム 17 ばね 18 ボイスコイルモータ 20 ギャップセンサ 21 支持アーム 22 モータ 23 円盤 30 制御装置 50 ワイヤ 51 半導体ペレット 51a ペレット端部 52 電極 53 リード 1 capillary 2 wires 11 table 12 Bonding head 13 Support block 14 spindle 15 swing block 16 Bonding arm 17 spring 18 voice coil motor 20 Gap sensor 21 Support arm 22 motor 23 discs 30 control device 50 wires 51 Semiconductor pellet 51a pellet end 52 electrodes 53 lead
Claims (2)
グ点と第2ボンディング点間をワイヤで接続するワイヤ
ボンディング方法において、 第1ボンディング点にワイヤを接続後、ループを形成し
つつ第2ボンディング点方向にキャピラリを移動させ、
第2ボンディング点の上方を行き過ぎた後に第1ボンデ
ィング点側にキャピラリを引き戻す動作を行なわせてか
ら第2ボンディング点にワイヤを接続することを特徴と
するワイヤボンディング方法。1. A wire bonding method for connecting a wire between a first bonding point and a second bonding point by moving a capillary, wherein a wire is connected to the first bonding point and then a loop is formed in the direction of the second bonding point. Move the capillary,
A wire bonding method characterized in that, after passing over the second bonding point, the capillary is pulled back to the first bonding point side, and then the wire is connected to the second bonding point.
置と、この移動装置の制御装置とを有するワイヤボンデ
ィング装置において、 前記制御装置は、前記キャピラリが第1ボンディング点
にワイヤを接続後、ループを形成しつつ第2ボンディン
グ点方向に移動し、第2ボンディング点の上方を行き過
ぎた後に第1ボンディング点側に引き戻る動作を行な
い、その後、第2ボンディング点にワイヤを接続するよ
う前記移動装置を制御することを特徴とするワイヤボン
ディング装置。2. A wire bonding apparatus comprising a capillary, a moving device for the capillary, and a control device for the moving device, wherein the control device forms a loop after the capillary connects the wire to a first bonding point. And moving toward the second bonding point, moving past the second bonding point too much, and then returning to the first bonding point side, and thereafter controlling the moving device to connect the wire to the second bonding point. A wire bonding apparatus characterized by:
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2002073163A JP2003273150A (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | Wire bonding method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002073163A JP2003273150A (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | Wire bonding method and apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003273150A true JP2003273150A (en) | 2003-09-26 |
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ID=29202962
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2002073163A Pending JP2003273150A (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | Wire bonding method and apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003273150A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018121000A (en) * | 2017-01-27 | 2018-08-02 | 日亜化学工業株式会社 | Method for manufacturing light-emitting device |
| US20190096847A1 (en) * | 2017-09-27 | 2019-03-28 | Nichia Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing same |
| WO2025033099A1 (en) * | 2023-08-04 | 2025-02-13 | ローム株式会社 | Semiconductor device |
-
2002
- 2002-03-15 JP JP2002073163A patent/JP2003273150A/en active Pending
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