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JP2003258149A - Wiring structure of area layout type semiconductor device - Google Patents

Wiring structure of area layout type semiconductor device

Info

Publication number
JP2003258149A
JP2003258149A JP2002054407A JP2002054407A JP2003258149A JP 2003258149 A JP2003258149 A JP 2003258149A JP 2002054407 A JP2002054407 A JP 2002054407A JP 2002054407 A JP2002054407 A JP 2002054407A JP 2003258149 A JP2003258149 A JP 2003258149A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lands
wiring
land
bumps
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002054407A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoru Kawamoto
悟 川本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2002054407A priority Critical patent/JP2003258149A/en
Priority to DE10308590A priority patent/DE10308590A1/en
Publication of JP2003258149A publication Critical patent/JP2003258149A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W70/65
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • H10W72/07251
    • H10W72/20
    • H10W74/15
    • H10W90/724
    • H10W90/734

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 エリア配置型半導体素子を搭載したプリント
基板の各ランドからの配線の引き出しを容易に行うこと
が可能なエリア配置型半導体装置の配線構造を提供する
こと。 【解決手段】 CSP1の実装部に格子状に配列した複
数のバンプ3を形成し、プリント基板2上にバンプ3に
対応して複数のランド4を形成する。格子状に配列され
たランド4において、電流容量を大きくする為に複数の
ランド4を接続する場合、外周側の列に存在するランド
4aと内周側の列に存在するランド4aとが接続配線9
bにより接続され、1本の配線9aによりCSP1の周
囲へ向けて引き出される。これにより、接続配線9bが
他のランド4から引き出される配線9と交差する可能性
を低減でき、各ランド4からの配線9の引き出しを容易
に行うことができる。
(57) [Problem] To provide a wiring structure of an area arrangement type semiconductor device which can easily draw out wiring from each land of a printed board on which an area arrangement type semiconductor element is mounted. A plurality of bumps arranged in a grid pattern are formed on a mounting portion of a CSP, and a plurality of lands are formed on a printed board corresponding to the bumps. When a plurality of lands 4 are connected to increase the current capacity of the lands 4 arranged in a lattice, the lands 4a existing in the outer row and the lands 4a existing in the inner row are connected to each other. 9
b, and are drawn out to the periphery of the CSP 1 by one wiring 9a. Thus, the possibility that the connection wiring 9b intersects with the wiring 9 drawn from another land 4 can be reduced, and the wiring 9 can be drawn from each land 4 easily.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、エリア配置型半導
体装置における配線構造に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring structure in an area-arranged semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、エリア配置型半導体素子の実装面
には、複数のバンプが格子状に配列されており、複数のバ
ンプがプリント基板に形成した複数のランドとそれぞれ
接合されることによって、エリア配置型半導体素子がプ
リント基板上に実装される。このとき、複数のバンプ及
び複数のランドは、1対1に対応しており、各1個ずつの
バンプとランドとが、半導体素子とプリント基板の配線
とを接続する電源端子、GND端子、入力・出力端子など
の端子として機能する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a plurality of bumps are arranged in a grid pattern on a mounting surface of an area-arranged semiconductor element, and the plurality of bumps are bonded to a plurality of lands formed on a printed circuit board, respectively. The area-arranged semiconductor device is mounted on a printed circuit board. At this time, the plurality of bumps and the plurality of lands have a one-to-one correspondence, and each one of the bumps and the lands connects the semiconductor element and the wiring of the printed circuit board to the power supply terminal, the GND terminal, and the input.・ Functions as terminals such as output terminals.

【0003】プリント基板のランドに接続された配線
は、エリア配置型半導体素子の周囲に引き出される。こ
の場合、格子状に配列された複数のランドの内周列に属
するランドからの引き出しを容易に行う為に、プリント
基板は多層基板として構成され、その内周列に属するラ
ンドは一旦下層に落として、配線を引き出すように構成
される。ただし、格子状に配列されたランドの列の数だ
けの層を設けると、多層基板の層数が増加してしまう為、
1層当たり複数の列に属するランドからの引き出し配線
を形成している。
The wiring connected to the land of the printed circuit board is drawn around the area-arranged semiconductor element. In this case, the printed board is configured as a multi-layered board in order to easily draw out from the lands belonging to the inner peripheral row of the plurality of lands arranged in a grid pattern, and the lands belonging to the inner peripheral row are once dropped to the lower layer. And is configured to pull out the wiring. However, if the number of layers is equal to the number of rows of lands arranged in a grid pattern, the number of layers of the multilayer substrate increases,
Lead wires from lands belonging to a plurality of columns are formed per layer.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来のエリア配置型半
導体素子の各バンプは、上述のように1つのランドが割
り当てられている。しかし、その半導体素子の回路規模
や送信すべき信号の種類によっては、電源端子、GND端
子、出力端子等の端子の電流容量を多くとる必要が生じ
る場合がある。
As described above, one land is assigned to each bump of the conventional area-arranged semiconductor device. However, depending on the circuit scale of the semiconductor element and the type of signal to be transmitted, it may be necessary to increase the current capacity of terminals such as the power supply terminal, the GND terminal, and the output terminal.

【0005】端子の電流容量を大きくする為には、複数
のバンプと複数のランドとから1端子を構成することが
考えられる。しかしながら、図9(a),(b),
(c)に示すように,1端子を構成する複数のバンプ3
a及び複数のランド4aを最外周の列に割り当てると,
内周側の列に属するランド4から配線9を引き出すこと
が出来なくなってしまう。この場合,内周側の列に属す
るランド4から配線9を引き出す為には,プリント基板
の層数を増加させる必要があり,プリント基板の製造コ
ストの増加を招く。尚、図9(a)はエリア配置型半導
体素子の実装面のバンプの配列を示す平面図、図9
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、図9(c)はプリント基板第2層目のランドの配
列を示す配列図である。
In order to increase the current capacity of the terminal, it is possible to construct one terminal from a plurality of bumps and a plurality of lands. However, FIG. 9 (a), (b),
As shown in (c), a plurality of bumps 3 forming one terminal
a and a plurality of lands 4a are assigned to the outermost row,
The wiring 9 cannot be pulled out from the land 4 belonging to the column on the inner peripheral side. In this case, it is necessary to increase the number of layers of the printed board in order to draw out the wiring 9 from the land 4 belonging to the row on the inner peripheral side, which causes an increase in the manufacturing cost of the printed board. 9A is a plan view showing the arrangement of bumps on the mounting surface of the area-arranged semiconductor element.
FIG. 9B is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed circuit board, and FIG. 9C is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed circuit board.

【0006】本発明は上記点に鑑みてなされたもので、
1本の配線に対して複数個のランドを接続させても、プ
リント基板の層数を増やすことなく内周側の列に属する
ランドから配線の引き出しが容易なエリア配置型半導体
装置の配線構造を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points,
Even if a plurality of lands are connected to one wiring, the wiring structure of the area-arranged semiconductor device in which the wiring can be easily pulled out from the lands belonging to the column on the inner peripheral side without increasing the number of layers of the printed circuit board is provided. The purpose is to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する為
に、請求項1に記載のエリア配置型半導体装置の配線構
造は、パッケージの実装面に複数のバンプが格子状に配
列されたエリア配置型半導体素子と、バンプと同様の格
子状に形成され、電気的にバンプと接続される接続端子
としての複数のランド及び複数のランドにそれぞれ接続
された配線を有するプリント基板とを備えたエリア配置
型半導体装置において、1本の配線に対して少なくとも
2個のランドを接続する際に、その少なくとも2個のラ
ンドは、格子状に配列された複数のランドの外周側の列
に属するランドと内周側の列に属するランドからなるこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, the wiring structure of an area-arranged semiconductor device according to claim 1 has an area arrangement in which a plurality of bumps are arranged in a grid on a mounting surface of a package. Type semiconductor element and an area arrangement including a printed board having a plurality of lands as connection terminals electrically connected to the bumps and wirings respectively connected to the plurality of lands, which are formed in the same grid shape as the bumps When at least two lands are connected to one wiring in the semiconductor device of the type, at least two lands are connected to a land belonging to a row on the outer peripheral side of a plurality of lands arranged in a grid pattern. It is characterized in that it consists of lands belonging to the row on the circumferential side.

【0008】このように1本の配線に対して少なくとも
2個のランドを接続する際、そのランドを外周側の列の
みに割り当てるのではなく、少なくとも1個のランド
は、内周側の列に属するランドから選択する。この場
合、2個のランド間が配線によって接続されるが、その
接続配線は同じ列に属するランドではなく、異なる列に
属するランド間を接続するものである為、その接続配線
が各ランドから引き出される配線と交差する可能性を低
減できる。これにより、各ランドからの配線の引き出し
を容易に行うことができる。
When at least two lands are connected to one wiring in this manner, the lands are not allocated only to the outer peripheral row, but at least one land is allocated to the inner peripheral row. Select from the land to which you belong. In this case, the two lands are connected by wiring, but since the connection wiring is not for lands belonging to the same column but for lands belonging to different columns, the connection wiring is pulled out from each land. It is possible to reduce the possibility that the wiring will intersect with the wiring. This makes it possible to easily draw out the wiring from each land.

【0009】請求項2に記載したように、1本の配線と
接続された少なくとも2個のランドの各々を有する外周
側の列と内周側の列は、その列同士が隣接していること
が好ましい。このようにすると外周側の列と内周側の列
の各ランド間を配線で接続した際、列同士が隣接してい
る為、各ランド間の接続配線は短い距離ですむ。従って、
ランド間を通る引き出し配線のスペース減少を極力抑え
る事が出来る為、より内周側の列に属するランドと配線
を接続することが可能となる。更に、配線距離自体も短
くて済むため、コスト及び品質の両面で有利である。
As described in claim 2, the row on the outer peripheral side and the row on the inner peripheral side each having at least two lands connected to one wiring are adjacent to each other. Is preferred. In this way, when the lands on the outer peripheral side and the lands on the inner peripheral side are connected by wiring, since the rows are adjacent to each other, the connecting wiring between the lands can be short. Therefore,
Since it is possible to suppress the reduction of the space of the lead wiring that passes between the lands as much as possible, it is possible to connect the wiring to the lands belonging to the inner peripheral row. Further, the wiring distance itself can be short, which is advantageous in terms of cost and quality.

【0010】請求項3に記載したように、パッケージの
実装面に複数のバンプが格子状に配列されたエリア配置
型半導体素子と、バンプと同様の格子状に形成され、電気
的にバンプと接続される接続端子としての複数のランド
及び複数のランドにそれぞれ接続された配線を有するプ
リント基板とを備えたエリア配置型半導体装置におい
て、1本の配線に対して、少なくとも2個のランドを接続
する際に、その少なくとも2個のランドは、格子状に配列
された複数のランドの最外周の列によって囲まれる内周
側の列に属するランドのみからなることを特徴とする。
最外周の列に属するランド同士を接続すると、その接続
配線は、その内周側に位置する全てのランドからの配線
の引き出しに影響を与える。それに対し、内周側の列に
属するランド同士を接続した場合、その接続されたラン
ドの更に内周側には、ランドが存在しないか、存在した
としてもその数は少ない。従って、1本の配線に対し
て、内周側の列に属する少なくとも2個のランドを接続
すれば、他のランドからの配線の引き出しを容易に行う
ことが出来る。
As described in claim 3, an area-arranged semiconductor element in which a plurality of bumps are arranged in a grid on the mounting surface of the package and a grid similar to the bumps are formed and electrically connected to the bumps. In an area-arranged semiconductor device including a plurality of lands as connection terminals and a printed circuit board having wirings respectively connected to the plurality of lands, at least two lands are connected to one wiring. In this case, the at least two lands are characterized by being composed only of lands belonging to an inner peripheral side row surrounded by an outermost peripheral row of a plurality of lands arranged in a grid pattern.
When the lands belonging to the outermost row are connected to each other, the connection wiring affects the extraction of the wiring from all the lands located on the inner circumference side. On the other hand, when the lands belonging to the row on the inner peripheral side are connected to each other, there are no lands on the inner peripheral side of the connected lands, or the lands are small in number even if they exist. Therefore, if at least two lands belonging to the column on the inner peripheral side are connected to one wiring, the wiring can be easily pulled out from other lands.

【0011】請求項4に記載したように、少なくとも2
個のランドは、格子状に配列された複数のランドの最外
周の列によって囲まれる内周側の列に属し、且つ同一列
の隣接するランドからなることが好ましい。これによ
り、少なくとも2個のランド間の接続配線は短くてす
み、他のランドからの配線の引き出しに与える影響を一
層小さく出来る。
As described in claim 4, at least 2
It is preferable that each land belongs to a row on the inner peripheral side surrounded by the outermost row of a plurality of lands arranged in a grid pattern, and is composed of adjacent lands in the same row. As a result, the connection wiring between at least two lands can be short, and the influence exerted on the drawing of the wiring from other lands can be further reduced.

【0012】請求項5に記載したように、内周側の列は、
複数の列を有し、その少なくとも2個のランドは、内周側
の複数列において、隣接する少なくとも2列に属するラ
ンドからなることが好ましい。これについても、隣接す
る少なくとも2個のランド間の接続配線は短くてすみ、
且つその接続配線の方向は、他のランドからの配線の引
き出し方向に対して鉛直ではない為、その接続配線が他
のランドからの引き出し配線と交差する可能性を一層低
減できる。
As described in claim 5, the row on the inner peripheral side is
It is preferable to have a plurality of rows, and the at least two lands thereof be lands belonging to at least two adjacent rows in the plurality of rows on the inner peripheral side. Also for this, the connection wiring between at least two adjacent lands can be short,
Moreover, since the direction of the connection wiring is not perpendicular to the direction of the wiring drawn from the other land, the possibility that the connection wiring intersects the drawn wiring from the other land can be further reduced.

【0013】請求項6に記載したように、少なくとも2
個のランドは、異なる列に属し、且つその列に対して鉛直
方向に配置されるランドを含むことが好ましい。このよ
うに少なくとも2個のランドが、格子状に配列されてい
る列に対して鉛直方向に配置されているランドを含み、
そのランド間を配線にて接続した場合、その接続配線の
方向は他のランドからの引き出し配線の方向と同方向と
なる。その結果、その接続配線が他のランドからの引き
出し配線と交差する可能性をより一層低減できる。
According to claim 6, at least 2
It is preferable that the individual lands include lands that belong to different rows and that are arranged vertically to the rows. In this way, at least two lands include lands arranged in the vertical direction with respect to the rows arranged in a grid pattern,
When the lands are connected by wiring, the direction of the connecting wiring is the same as the direction of the lead-out wiring from other lands. As a result, it is possible to further reduce the possibility that the connection wiring intersects with the wiring extending from another land.

【0014】請求項7に記載したように、パッケージの
実装面に複数のバンプが格子状に配列されたエリア配置
型半導体素子と、バンプと同様の格子状に形成され、電気
的にバンプと接続される接続端子としての複数のランド
及び複数のランドにそれぞれ接続された配線を有するプ
リント基板とを備えたエリア配置型半導体装置におい
て、1本の配線に対して少なくとも2個のランドを接続
する際に、その少なくとも2個のランドは、格子状に配
列された複数のランドの最外周の列のコーナーに位置す
るランドとそのコーナーに位置するランドと隣接するラ
ンドからなることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, an area-arranged semiconductor element in which a plurality of bumps are arranged in a grid pattern on the mounting surface of the package and a grid pattern similar to the bumps are formed and electrically connected to the bumps. When connecting at least two lands to one wiring in an area-arranged semiconductor device including a plurality of lands as connection terminals and a printed circuit board having wirings respectively connected to the plurality of lands In addition, the at least two lands are composed of a land located at a corner of an outermost row of a plurality of lands arranged in a grid and a land adjacent to the land located at the corner.

【0015】このように、少なくとも2個のランドが、
格子状に配列されたランドの最外周の列のコーナーに存
在するランドとそれに隣接するランドからなる場合、そ
のランド間の接続配線は短くてすみ、且つ最外周の列に
よって囲まれる内周側の列に存在するコーナー部のラン
ドは、最外周の列のランド間に4箇所配線の引き出し箇
所が存在し、その中から選択可能なため、内周側の列に
属するランドからの配線の引き出しを容易に行うことが
出来る。
Thus, at least two lands are
If the land is located at the corner of the outermost row of lands arranged in a grid pattern and the land adjacent to it, the connection wiring between the lands is short, and the land on the inner circumference side surrounded by the outermost row is surrounded. The corner lands existing in the row have four wiring lead-out points between the lands of the outermost row, and the wiring can be selected from these locations. Therefore, the wiring can be drawn from the land belonging to the inner row. It can be done easily.

【0016】請求項8に記載したように、少なくとも2
個のランド間を結ぶ配線は、他のランドに接続される配
線よりも太い線幅を有すことを特徴とする。
According to claim 8, at least 2
The wiring connecting the individual lands has a line width larger than that of the wiring connected to the other lands.

【0017】このように、太い線幅を持つ配線を単独の
ランドとの間で行った場合、各配線ピッチが短くなり、絶
縁抵抗に影響が生じたり、内周側の列に属するランドか
らの配線の引き出しスペースが無くなる。また、細い線
幅のまま複数のランドと接合した場合、大電流を通そう
としてもその線幅が細いため、抵抗値は上昇し電流も十
分に流れない。しかしながら、上述のような配線構造を
とる事によって、太い配線によって複数ランド間を接続
することができ、内周側の列に属する他のランドからの
配線の引き出しに影響を与えることもない。
As described above, when the wiring having the thick line width is formed between the lands and the individual lands, the respective wiring pitches are shortened, the insulation resistance is affected, and the lands from the lands belonging to the column on the inner peripheral side are affected. There is no space for wiring. Further, when the thin line width is joined to a plurality of lands, the line width is thin even if an attempt is made to pass a large current, the resistance value increases, and the current does not flow sufficiently. However, by adopting the wiring structure as described above, it is possible to connect a plurality of lands with a thick wiring, and there is no influence on the drawing of the wiring from other lands belonging to the inner peripheral side column.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、本発
明の第1の実施の形態におけるエリア配置型半導体装置
の配線構造を図に基づいて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (First Embodiment) A wiring structure of an area-arranged semiconductor device according to a first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】図1は、本実施の形態におけるエリア配置
型半導体装置の構成を示す断面図である。エリア配置型
半導体装置はCSP(Chip Size Packa
ge)1等のエリア配置型半導体素子とガラスエポキシ
樹脂等から形成されたプリント基板2からなる。CSP
1はその実装面に接続端子として複数個のバンプ3を格
子状に配列しており、プリント基板2は、接続端子とし
てCuからなる導体パターンの端部にランド4を有して
いる。またプリント基板2はコア層をその中心とし、絶
縁層と導体配線層を交互に積み上げるように繰り返し形
成して多層化したビルドアッププリント配線基板が用い
られる。プリント基板2の表面に形成した複数のランド
4と配線を行う為、プリント基板2の各層間にはバイア
ホール5やスルーホール6、コアバイア7等が形成され
ている。
FIG. 1 is a sectional view showing the structure of an area-arranged semiconductor device according to this embodiment. The area-arranged semiconductor device is a CSP (Chip Size Packa).
ge) 1 and the like, and the printed circuit board 2 made of glass epoxy resin or the like. CSP
1 has a plurality of bumps 3 arranged in a grid on its mounting surface as connection terminals, and the printed circuit board 2 has lands 4 at the ends of a conductor pattern made of Cu as connection terminals. As the printed board 2, a build-up printed wiring board is used in which the core layer is the center and the insulating layers and the conductor wiring layers are repeatedly formed so as to be alternately stacked to form a multilayer. Since wiring is performed with the plurality of lands 4 formed on the surface of the printed board 2, via holes 5, through holes 6, core vias 7 and the like are formed between the layers of the printed board 2.

【0020】ここでプリント基板2へのCSP1の実装
は、プリント基板2のランド4とCSP1のバンプ3が
重なり合うようにCSP1をプリント基板2に搭載し、
その状態で、リフローはんだ付けを行うことによってな
される。尚、バンプ3ははんだボールであり、その材料
として鉛−錫共晶はんだが用いられている。その融点は
183℃である。また、本例ではバンプ3の配列は、4
列で総計144個のはんだボールが実装面に装着されて
いる。このときのリフロー条件としては、バンプピッチ
やバンプ径によっても異なるが、はんだバンプ3を溶融
する為、ピーク温度がパッケージの表面で約230℃程
度とする。
Here, for mounting the CSP 1 on the printed board 2, the CSP 1 is mounted on the printed board 2 so that the lands 4 of the printed board 2 and the bumps 3 of the CSP 1 overlap each other.
In that state, reflow soldering is performed. The bumps 3 are solder balls, and lead-tin eutectic solder is used as the material thereof. Its melting point is 183 ° C. Further, in this example, the arrangement of the bumps 3 is 4
A total of 144 solder balls in rows are mounted on the mounting surface. Although the reflow condition at this time varies depending on the bump pitch and the bump diameter, the peak temperature is about 230 ° C. on the surface of the package because the solder bump 3 is melted.

【0021】一方、プリント基板2上のランド4は配線
と接続され、その各配線は電源、グランド等の外部端子と
接続されたり、プリント基板2上の他の素子と接続され
る。CSP1とプリント基板2間は充填樹脂8により封
止されており、その材料としてエポキシ樹脂等が用いら
れる。ここで、エリア配置型半導体素子の例としてCS
P1を挙げたが、それ以外にもBGA(Ball Gr
id Array)、FC(Flip Chip)等が
適用できる。
On the other hand, the lands 4 on the printed circuit board 2 are connected to wirings, and the respective wirings are connected to external terminals such as a power source and a ground or to other elements on the printed circuit board 2. The space between the CSP 1 and the printed circuit board 2 is sealed with a filling resin 8, and epoxy resin or the like is used as the material. Here, as an example of the area-arranged semiconductor device, CS
P1 was mentioned, but other than that, BGA (Ball Gr
id Array), FC (Flip Chip), etc. can be applied.

【0022】図2(a)はCSP1の実装面のバンプ3
の配列を示す平面図であり、図2(b)はプリント基板
2の第1層目におけるランド4と各ランド4に接続され
た配線9の配線構造を示す図、図2(c)はプリント基
板2の第2層目におけるランド4の配列を示す図であ
る。尚、図2(b)、図2(c)には、図2(a)にお
けるCSP1の実装面のうち、その格子の1辺に着目し、
その4列36個の一点鎖線で囲まれる領域に存在するバ
ンプ3に対応するプリント基板2の第1層目及び第2層
目のランド4と配線9を示した。また実線で囲われた3
個のバンプ3aは図2(b)で示す1本の配線9aと接
続する3個のランド4aと対応するものである。尚、本
例においては全てCSP1のバンプ3とプリント基板2
のランド4は1:1で対応するものとする。
FIG. 2A shows the bumps 3 on the mounting surface of the CSP 1.
2 (b) is a plan view showing the arrangement, FIG. 2 (b) is a diagram showing the wiring structure of the lands 4 on the first layer of the printed circuit board 2 and the wiring 9 connected to each land 4, and FIG. It is a figure which shows the arrangement | positioning of the land 4 in the 2nd layer of the board | substrate 2. FIG. 2B and 2C, focusing on one side of the lattice of the mounting surface of the CSP 1 in FIG. 2A,
The lands 4 and the wirings 9 of the first and second layers of the printed circuit board 2 corresponding to the bumps 3 existing in the region surrounded by the four-row 36-dotted line are shown. Also surrounded by a solid line 3
The individual bumps 3a correspond to the three lands 4a connected to the single wiring 9a shown in FIG. 2B. In this example, the bumps 3 of the CSP 1 and the printed circuit board 2 are all used.
The land 4 of 1 corresponds to 1: 1.

【0023】プリント基板2の第1層目で配線9との接
続が出来ないランド4bについては、ランドオンバイア
により第2層目へ移層し、第2層目にて配線9との接続
が行われる。このとき、第1層目から第2層目への移層
に使用するバイアホールの形成法としては、CO2やUV
−YAG等のレーザー加工等が用いられる。
The land 4b which cannot be connected to the wiring 9 on the first layer of the printed circuit board 2 is transferred to the second layer by land on via, and the connection to the wiring 9 is made on the second layer. Done. At this time, as a method of forming a via hole used for transfer from the first layer to the second layer, CO 2 or UV is used.
-Laser processing such as YAG is used.

【0024】ここで、1本の配線に対して、複数個(本
例では3個)のプリント基板2のランド4を接続させる
場合、図2(b)のように、最外周の列のランド4のみで
なく、内周側の列に属するランド4を含む3個のランド
4aを用いると良い。このような3個のランド4aを1
本の配線9aと接続した場合、最外列ランド4aと内周
側の列のランド4aとの接続配線9bの方向は、ランド
4の各列に対して鉛直方向か斜め方向となる。従って、
各ランド4から引き出される配線9と接続配線9bとが
交差しにくくできるので、他のランド4からの配線の引
き出しを容易に行うことが出来る。第1層目で配線出来
なかったランド4bについては図2(b)、(c)のよ
うに、バイアホール7にてプリント基板2の第2層目へ
移層することとなる。そして、第2層目においてランド
4と配線9が接続される。
Here, when a plurality of (three in this example) lands 4 of the printed circuit board 2 are connected to one wiring, as shown in FIG. It is preferable to use not only four lands 4 but also three lands 4a including lands 4 belonging to the inner circumferential side row. One such land 3a
When connected to the book wiring 9a, the direction of the connection wiring 9b between the outermost row land 4a and the land 4a on the inner circumferential side is vertical or oblique to each row of the lands 4. Therefore,
Since it is possible to prevent the wiring 9 drawn from each land 4 and the connection wiring 9b from intersecting each other, it is possible to easily draw the wiring from another land 4. The lands 4b that could not be wired in the first layer are transferred to the second layer of the printed circuit board 2 through the via holes 7 as shown in FIGS. 2B and 2C. Then, in the second layer, the land 4 and the wiring 9 are connected.

【0025】(第2の実施の形態)次に本発明の第2の
実施の形態を図3(a)〜図3(c)に基づいて説明す
る。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 (a) to 3 (c).

【0026】第2の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明
は省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method of joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the second embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted and the different parts will be focused. Explained.

【0027】第2の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、お互い隣接
する列に存在することである。ここで、図3(a)はC
SP1の実装面のバンプ3の配列を示す平面図であり、
図3(b)はプリント基板2の第1層目におけるランド
4と各ランド4に接続された配線9の配線構造を示す
図、図3(c)はプリント基板2の第2層目におけるラ
ンド4の配列を示す図である。
The second embodiment differs from the first embodiment in that at least two lands 4a (three in this example) connected to one wiring 9a are adjacent to each other. Is to exist. Here, FIG. 3A shows C
It is a plan view showing an array of bumps 3 on the mounting surface of SP1,
FIG. 3B is a diagram showing a wiring structure of the lands 4 on the first layer of the printed circuit board 2 and the wiring 9 connected to each land 4, and FIG. 3C is a land on the second layer of the printed circuit board 2. It is a figure which shows the arrangement | sequence of 4.

【0028】図3(a)〜図3(c)に示すように、1
本の配線9aに接続されるランド4aは、最外周の列に
属するランド4aと内周側の列に属するランド4aから
なり、且つ各ランド4aが隣接する列に存在する。この
場合、図2(a)〜図2(c)の場合と同様に、1本の
配線9aと接続されるランド4aのランド間の接続配線
9bの方向がランド4の各列の方向と同一ではなく、各
列に対して鉛直方向か斜め方向となる。従って、他のラ
ンド4からの配線9の引き出しが容易に行える。更に、
本実施の形態によれば、1本の配線9aと接続される各
ランド4a間の配線距離が短い為、より他のランド4か
ら配線9が引き出しやすく、コスト的にも有利である。
As shown in FIGS. 3 (a) to 3 (c), 1
The land 4a connected to the book wiring 9a is composed of a land 4a belonging to the outermost row and a land 4a belonging to the inner row, and each land 4a is present in an adjacent row. In this case, as in the case of FIGS. 2A to 2C, the direction of the connection wiring 9b between the lands of the lands 4a connected to one wiring 9a is the same as the direction of each column of the lands 4. Instead, it is either vertical or diagonal to each row. Therefore, the wiring 9 can be easily pulled out from the other land 4. Furthermore,
According to the present embodiment, since the wiring distance between each land 4a connected to one wiring 9a is short, the wiring 9 can be more easily drawn from the other land 4, which is also advantageous in terms of cost.

【0029】(第3の実施の形態)次に本発明の第3の
実施の形態を図4(a)〜図4(c)に基づいて説明す
る。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 (a) to 4 (c).

【0030】第3の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明
は省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method of joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the third embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted below, and the different parts will be emphasized. Explained.

【0031】第3の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、ランド4の
各列に対して鉛直方向に位置するランド4aからなるこ
とである。尚、図4(a)はCSP1の実装面のバンプ
3の配列を示す平面図であり、図4(b)はプリント基
板2の第1層目におけるランド4と各ランド4に接続さ
れた配線9の配線構造を示す図、図4(c)はプリント
基板2の第2層目におけるランド4の配列を示す図であ
る。
The third embodiment differs from the first embodiment in that at least two lands 4a (three in this example) connected to one wiring 9a are each land 4. It is composed of lands 4a positioned in the vertical direction with respect to the rows. 4A is a plan view showing the arrangement of the bumps 3 on the mounting surface of the CSP 1, and FIG. 4B is a land 4 on the first layer of the printed board 2 and wirings connected to each land 4. 9 is a view showing the wiring structure of FIG. 9, and FIG. 4C is a view showing the arrangement of the lands 4 in the second layer of the printed board 2.

【0032】図4(a)〜図4(c)に示したように、
最外周の列に属するランド4と内周側の2列に属するラ
ンド4からなる3個のランド4aは、ランド4の各列に
対して鉛直方向に位置するため、それらのランド4a間
を接続する接続配線9bも、ランド4の各列に対して鉛
直方向となる。従って、その接続配線9bは他のランド
4からの配線9の引き出し方向と一致する為、接続配線
9bと他のランド4からの引き出し配線9とが交差する
ことは全く無く、他のランド4からの配線9の引き出し
を一層容易にする事ができる。また、1本の配線9aと
接続される各ランド4a間の配線距離が短い為、コスト
的にも有利である。
As shown in FIGS. 4 (a) to 4 (c),
Since the three lands 4a, which are the lands 4 belonging to the outermost row and the lands 4 belonging to the two rows on the inner circumference side, are located in the vertical direction with respect to each row of the lands 4, these lands 4a are connected to each other. The connecting wirings 9b to be connected are also vertical to each column of the lands 4. Therefore, since the connection wiring 9b coincides with the drawing direction of the wiring 9 from the other land 4, the connection wiring 9b and the drawing wiring 9 from the other land 4 do not intersect at all, and the connection wiring 9b from the other land 4 does not intersect. The wiring 9 can be pulled out more easily. Further, since the wiring distance between each land 4a connected to one wiring 9a is short, it is advantageous in terms of cost.

【0033】(第4の実施の形態)次に、本発明の第4
の実施の形態を図5(a)〜図5(c)に基づいて説明
する。
(Fourth Embodiment) Next, a fourth embodiment of the present invention will be described.
The embodiment will be described with reference to FIGS. 5 (a) to 5 (c).

【0034】第4の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明は
省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method for joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the fourth embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted below, and the different parts will be focused. Explained.

【0035】第4の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、最外周の列
に属するランド4は含まず、内周側の列に属するランド
4aのみからなる点である。尚、図5(a)はCSP1
の実装面のバンプ3の配列を示す平面図であり、図5
(b)はプリント基板2の第1層目におけるランド4と
各ランド4に接続された配線9の配線構造を示す図、図
5(c)はプリント基板2の第2層目におけるランド4
の配列を示す図である。
The fourth embodiment differs from the first embodiment in that at least two lands 4a (three in this example) connected to one wiring 9a are the outermost rows. It does not include the lands 4 belonging to, but is composed only of the lands 4a belonging to the inner circumferential row. Note that FIG. 5A shows CSP1.
5 is a plan view showing the arrangement of the bumps 3 on the mounting surface of FIG.
FIG. 5B is a diagram showing the wiring structure of the lands 4 on the first layer of the printed board 2 and the wiring 9 connected to each land 4, and FIG. 5C is the land 4 on the second layer of the printed board 2.
It is a figure which shows the arrangement | sequence of.

【0036】図5(a)〜図5(c)に示したように、
1本の配線9aと接続される3個のランド4aは、内周
側の列に属するランド4aのみからなる為、最外周の列
に属するランド4の全てのランド4の間から、内周側の
列に属する他のランド4の配線9の引き出しが可能であ
る。このように、内周側の列に属するランド4aを接続
しても、他のランド4からの配線9の引き出しに与える
影響が小さい。更に、接続配線9bによって接続された
ランド4aについては、外周側の列に属するランド4の
間を通して引き出す配線9aの数が1本ですむため、同
一層内でより多くのランド4から配線9を引き出すこと
が出来る。
As shown in FIGS. 5 (a) -5 (c),
Since the three lands 4a connected to one wiring 9a are composed only of the lands 4a belonging to the innermost row, the land 4a between all the lands 4 of the lands 4 belonging to the outermost row It is possible to draw out the wiring 9 of the other land 4 belonging to the column. In this way, even if the lands 4a belonging to the column on the inner peripheral side are connected, the influence on the lead-out of the wiring 9 from the other lands 4 is small. Further, regarding the lands 4a connected by the connection wirings 9b, the number of the wirings 9a drawn out between the lands 4 belonging to the row on the outer peripheral side is only one, so that wirings 9 from more lands 4 in the same layer can be connected. You can withdraw.

【0037】(第5の実施の形態)次に、本発明の第5
の実施の形態を図6(a)〜図6(c)に基づいて説明
する。
(Fifth Embodiment) Next, the fifth embodiment of the present invention will be described.
The embodiment will be described with reference to FIGS. 6A to 6C.

【0038】第5の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明は
省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method of joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the fifth embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted and the different parts will be focused. Explained.

【0039】第5の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、最外周の列
に属するランド4は含まず、内周側の列に属するランド
4のみからなり、且つ各ランド4aが同一列の隣接する
ランド4aからなる点である。尚、図6(a)はCSP
1の実装面のバンプ3の配列を示す平面図であり、図6
(b)はプリント基板2の第1層目におけるランド4と
各ランド4に接続された配線9の配線構造を示す図、図
6(c)はプリント基板2の第2層目におけるランド4
の配列を示す図である。
The fifth embodiment differs from the first embodiment in that at least two (3 in this example) lands 4a connected to one wiring 9a are the outermost row. The land 4 belonging to the inner peripheral side is not included, and each land 4a is formed of the adjacent lands 4a in the same row. In addition, FIG. 6A shows a CSP.
7 is a plan view showing the arrangement of the bumps 3 on the mounting surface of FIG.
FIG. 6B is a diagram showing the wiring structure of the lands 4 on the first layer of the printed board 2 and the wiring 9 connected to each land 4, and FIG. 6C is the land 4 on the second layer of the printed board 2.
It is a figure which shows the arrangement | sequence of.

【0040】図6(a)〜図6(c)に示したように、
最外周の列に属するランド4は含まず、内周側の同一列
に属し、且つ隣接する3個のランド4aを1本の配線9
aと接続させた場合、各ランド4a間の接続配線9bの
方向は、ランド4の配列方向と同方向となる。その為、
1本の配線9aと接続されるランド4aの個数が3個以
上の場合、更に内周側の列に属するランド4からの配線
9の引き出し方向と交差する箇所が出来る。しかしなが
ら、接続配線9bによって接続したランド4aのさらに
内周側に存在するランド4は、2層目に落として配線を
引き出すことができるため、内周側の列のランド4aを
接続しても他のランド4の配線9の引き出しに与える影
響は少ない。また、1本の配線9aと接続される各ラン
ド4a間の配線距離も短くできるので、他のランド4か
ら配線9が引き出しやすく、コスト的にも有利である。
As shown in FIGS. 6 (a) to 6 (c),
The land 4 belonging to the outermost row is not included, but the three adjacent lands 4a belonging to the same row on the inner circumference side are connected to one wiring 9.
When connected to a, the direction of the connection wiring 9b between each land 4a is the same as the arrangement direction of the lands 4. For that reason,
When the number of lands 4a connected to one wiring 9a is 3 or more, a portion intersecting with the drawing direction of the wiring 9 from the lands 4 belonging to the column on the inner peripheral side is further formed. However, since the land 4 existing on the inner peripheral side of the land 4a connected by the connection wiring 9b can be dropped to the second layer to draw out the wiring, even if the land 4a on the inner peripheral side is connected, The influence on the drawing of the wiring 9 of the land 4 is small. Further, since the wiring distance between each land 4a connected to one wiring 9a can be shortened, the wiring 9 can be easily pulled out from the other land 4, which is advantageous in terms of cost.

【0041】(第6の実施の形態)次に、本発明の第6
の実施の形態を図7(a)〜図7(c)に基づいて説明
する。
(Sixth Embodiment) Next, the sixth embodiment of the present invention will be described.
The embodiment will be described with reference to FIGS. 7 (a) to 7 (c).

【0042】第6の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明は
省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method of joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the sixth embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted below, and the different parts will be emphasized. Explained.

【0043】第6の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、最外周の列
に属するランド4は含まず、内周側の列に属し、且つ隣
接する列に属するランド4aからなる点である。尚、図
7(a)はCSP1の実装面のバンプ3の配列を示す平
面図であり、図7(b)はプリント基板2の第1層目に
おけるランド4と各ランド4に接続された配線9の配線
構造を示す図、図7(c)はプリント基板2の第2層目
におけるランド4の配列を示す図である。
The sixth embodiment differs from the first embodiment in that at least two (three in this example) lands 4a connected to one wiring 9a are the outermost rows. This is a point which does not include the lands 4 belonging to the above, but is composed of the lands 4a belonging to the inner circumferential row and belonging to the adjacent row. 7A is a plan view showing an arrangement of the bumps 3 on the mounting surface of the CSP 1, and FIG. 7B is a land 4 on the first layer of the printed circuit board 2 and wirings connected to each land 4. 9 is a view showing the wiring structure of FIG. 9, and FIG. 7C is a view showing the arrangement of the lands 4 in the second layer of the printed board 2.

【0044】ここで図7(a)〜図7(c)に示したよ
うに、内周側の列に属し、且つ隣接する2列に属するラ
ンド4aは、そのランド4a間の接続配線9bの方向が
列方向に対して鉛直若しくは斜め方向となり、それによ
り他のランド4からの配線9の引き出しと交差すること
はない。更に、内周側の列に属するランド4aのみを接
続配線9bで接続しているため、他のランド4から引き
出される配線9に対して与える影響は少ない。
Here, as shown in FIGS. 7A to 7C, the lands 4a belonging to the column on the inner peripheral side and adjacent to two columns are connected to each other by the connection wiring 9b between the lands 4a. The direction is vertical or oblique with respect to the column direction, and thus does not intersect with the lead-out of the wiring 9 from another land 4. Furthermore, since only the lands 4a belonging to the column on the inner peripheral side are connected by the connection wirings 9b, the influence on the wirings 9 drawn from the other lands 4 is small.

【0045】(第7の実施の形態)次に、本発明の第7
の実施の形態を図8(a)〜図8(c)に基づいて説明
する。
(Seventh Embodiment) Next, the seventh embodiment of the present invention will be described.
The embodiment will be described with reference to FIGS. 8 (a) to 8 (c).

【0046】第7の実施の形態におけるCSP1とプリ
ント基板2の接合方法は、第1の実施の形態によるもの
と共通するので、以下、共通部分については詳しい説明は
省略し、異なる部分を重点的に説明する。
Since the method of joining the CSP 1 and the printed circuit board 2 in the seventh embodiment is common to that in the first embodiment, the detailed description of the common parts will be omitted and the different parts will be focused. Explained.

【0047】第7の実施の形態において、第1の実施の
形態と異なる点は、1本の配線9aと接続される少なく
とも2個(本例では3個)のランド4aが、最外周の列
に属するコーナーのランド4を含むことである。尚、図
8(a)はCSP1の実装面のバンプ3の配列を示す平
面図であり、図8(b)は図8(a)の一点鎖線で囲ま
れた領域におけるプリント基板2の第1層目におけるラ
ンド4と各ランド4に接続された配線9の配線構造を示
す図、図8(c)は図8(a)の一点鎖線で囲まれた領
域におけるプリント基板2の第2層目におけるランド4
の配列を示す図である。
The seventh embodiment differs from the first embodiment in that at least two lands 4a (three in this example) connected to one wiring 9a are the outermost rows. Is to include the land 4 of the corner belonging to. 8A is a plan view showing the arrangement of the bumps 3 on the mounting surface of the CSP 1, and FIG. 8B is a first view of the printed circuit board 2 in the area surrounded by the one-dot chain line in FIG. 8A. The figure which shows the wiring structure of the land 4 and the wiring 9 connected to each land 4 in a layer, FIG.8 (c) is the 2nd layer of the printed circuit board 2 in the area | region enclosed by the dashed-dotted line of FIG.8 (a). Land 4 at
It is a figure which shows the arrangement | sequence of.

【0048】図8(a)〜図8(c)に示すように、最
外周の列に存在するコーナーのランド4aとその両側の
隣接ランド4aとを接続配線9bによって接続しても、
内周側の列に属するコーナーのランド4は、そのランド
4からの配線9の引き出し方向が、通常は2箇所のとこ
ろ4箇所存在する為、最外周の列に属するコーナーのラ
ンド4aを含む接続配線9bによる影響は受けにくい。
従って、最外周列に属するランド4aを含んでいても、
内周側の列に属するランド4からの配線9の引き出しを
容易に行うことが出来る。
As shown in FIGS. 8 (a) to 8 (c), even if the land 4a at the corner existing in the outermost row and the adjacent lands 4a on both sides thereof are connected by the connection wiring 9b,
The corner lands 4 belonging to the column on the inner peripheral side are connected to the lands 4a at the corners belonging to the outermost column because there are usually four locations where the wiring 9 is pulled out from the land 4. It is not easily affected by the wiring 9b.
Therefore, even if the land 4a belonging to the outermost row is included,
The wiring 9 can be easily pulled out from the land 4 belonging to the column on the inner peripheral side.

【0049】尚、上述した第1〜7の実施の形態のいず
れにおいても、少なくとも2個のランド4a間の接続配
線9bは、他のランド4から引き出される配線9よりも
太い線幅を有すことができる。このように、太い線幅を
持つ配線9を単独のランド4との間で行った場合、各配
線ピッチが短くなり、絶縁抵抗に影響が生じたり、内周側
の列に属するランド4からの配線9を引き出すスペース
が無くなる。また、細い線幅のまま複数のランド4と接
合した場合、大電流を通そうとしてもその線幅が細いた
め、抵抗値は上昇し電流も十分に流れない。しかしなが
ら、上述のような配線構造をとる事によって、太い接続配
線9bによって複数ランド4aを接続して電流容量を増
加させつつ、内周側に属するランド4からの配線9の引
き出しに影響を与えることがない。
In any of the first to seventh embodiments described above, the connection wiring 9b between at least two lands 4a has a line width thicker than the wiring 9 drawn from the other lands 4. be able to. In this way, when the wiring 9 having a thick line width is formed between the individual lands 4, the wiring pitches are shortened, the insulation resistance is affected, and the lands 4 belonging to the inner circumferential side are arranged. There is no space to draw out the wiring 9. Further, when the thin line width is bonded to the plurality of lands 4, the line width is small even if an attempt is made to pass a large current, the resistance value increases, and the current does not sufficiently flow. However, by adopting the wiring structure as described above, the plurality of lands 4a are connected by the thick connection wiring 9b to increase the current capacity and influence the extraction of the wiring 9 from the land 4 belonging to the inner peripheral side. There is no.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施形態におけるエリア配置型半導体装
置の断面図を示す。
FIG. 1 is a sectional view of an area-arranged semiconductor device according to a first embodiment.

【図2】第1の実施形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 2 shows a wiring structure according to the first embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図3】第2の実施形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 3 shows a wiring structure according to a second embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図4】第3の実施形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 4 shows a wiring structure according to a third embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図5】第4の実施の形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 5 shows a wiring structure according to a fourth embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図6】第5の実施の形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 6 shows a wiring structure according to a fifth embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図7】第6の実施の形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 7 shows a wiring structure according to a sixth embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図8】第7の実施の形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 8 shows a wiring structure according to a seventh embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【図9】第8に実施の形態における配線構造を示し、
(a)はCSPの実装面のバンプの配列を示す平面図、
(b)はプリント基板第1層目のランドの配列を示す配
列図、(c)はプリント基板第2層目のランドの配列を
示す配列図である。
FIG. 9 shows a wiring structure according to an eighth embodiment,
(A) is a plan view showing an arrangement of bumps on a mounting surface of a CSP,
(B) is an array diagram showing an array of lands on the first layer of the printed board, and (c) is an array diagram showing an array of lands on the second layer of the printed board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・CSP、2・・・プリント基板、3・・・バンプ、4・・・ラ
ンド、4a・・・1つの端子に接続される3個のランド、4
b・・・下層に移層するランド、5・・・バイアホール、 9・・・配線、9a・・・3個のランドから引き出される配
線、9b・・・3個のランド間を接続する接続配線
1 ... CSP, 2 ... Printed circuit board, 3 ... Bump, 4 ... Land, 4a ... Three lands connected to one terminal, 4
b ... Land transferred to lower layer, 5 ... Via hole, 9 ... Wiring, 9a ... Wiring drawn from three lands, 9b ... Connection for connecting between three lands wiring

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パッケージの実装面に複数のバンプが格
子状に配列されたエリア配置型半導体素子と、前記バン
プと同様の格子状に形成され、電気的に前記バンプと接
続される接続端子としての複数のランド及び前記複数の
ランドにそれぞれ接続された配線を有するプリント基板
とを備えたエリア配置型半導体装置において、1本の配
線に対して少なくとも2個のランドを接続する際に、そ
の少なくとも2個のランドは、格子状に配列された前記
複数のランドの外周側の列に属するランドと内周側の列
に属するランドからなることを特徴とするエリア配置型
半導体装置の配線構造。
1. An area-arranged semiconductor element in which a plurality of bumps are arranged in a grid on a mounting surface of a package, and a connection terminal which is formed in the same grid as the bumps and is electrically connected to the bumps. In an area-arranged semiconductor device including a plurality of lands and a printed circuit board having wirings respectively connected to the plurality of lands, when at least two lands are connected to one wiring, 2. The wiring structure of an area-arranged semiconductor device, wherein the two lands are composed of lands belonging to a row on the outer peripheral side and lands belonging to a row on the inner peripheral side of the plurality of lands arranged in a grid pattern.
【請求項2】 1本の配線と接続される少なくとも2個
のランドの各々を有する外周側の列と内周側の列は、そ
の列同士が隣接していることを特徴とする請求項1記載
のエリア配置型半導体装置の配線構造。
2. The row on the outer peripheral side and the row on the inner peripheral side having at least two lands each connected to one wiring are adjacent to each other. The wiring structure of the described area-arranged semiconductor device.
【請求項3】 パッケージの実装面に複数のバンプが格
子状に配列されたエリア配置型半導体素子と、前記バン
プと同様の格子状に形成され、電気的に前記バンプと接
続される接続端子としての複数のランド及び前記複数の
ランドにそれぞれ接続された配線を有するプリント基板
とを備えたエリア配置型半導体装置において、1本の配
線に対して、少なくとも2個のランドを接続する際に、そ
の少なくとも2個のランドは、格子状に配列された前記
複数のランドの最外周の列によって囲まれる内周側の列
に属するランドのみからなることを特徴とするエリア配
置型半導体装置の配線構造。
3. An area-arranged semiconductor element in which a plurality of bumps are arranged in a grid pattern on a mounting surface of a package, and a connection terminal which is formed in a grid pattern similar to the bumps and is electrically connected to the bumps. In an area-arranged semiconductor device including a plurality of lands and a printed circuit board having wirings respectively connected to the plurality of lands, when at least two lands are connected to one wiring, The wiring structure for an area-arranged semiconductor device, wherein at least two lands are composed only of lands belonging to a column on the inner peripheral side surrounded by the outermost column of the plurality of lands arranged in a grid pattern.
【請求項4】 前記少なくとも2個のランドは、格子状
に配列された前記複数のランドの最外周の列によって囲
まれる内周側の列に属し、且つ同一列の隣接するランド
からなることを特徴とする請求項3記載のエリア配置型
半導体装置の配線構造。
4. The at least two lands belong to a row on the inner peripheral side surrounded by the outermost row of the plurality of lands arranged in a lattice, and are composed of adjacent lands in the same row. The wiring structure of the area-arranged semiconductor device according to claim 3.
【請求項5】 前記内周側の列は、複数の列を有し、前記
少なくとも2個のランドは、内周側の複数列において隣
接する少なくとも2列に属するランドからなることを特
徴とする請求項3記載のエリア配置型半導体装置の配線
構造。
5. The inner peripheral row has a plurality of rows, and the at least two lands are lands belonging to at least two adjacent rows in the plurality of inner peripheral rows. The wiring structure of the area-arranged semiconductor device according to claim 3.
【請求項6】 前記少なくとも2個のランドは、異なる
列に属し、且つその列に対して鉛直方向に配置されるラ
ンドを含むことを特徴とする請求項1〜3及び請求項5
のいずれか記載のエリア配置型半導体装置の配線構造。
6. The land according to claim 1, wherein the at least two lands include lands that belong to different rows and are arranged in a vertical direction with respect to the rows.
3. The wiring structure of the area-arranged semiconductor device according to any one of items 1 to 3.
【請求項7】 パッケージの実装面に複数のバンプが格
子状に配列されたエリア配置型半導体素子と、前記バン
プと同様の格子状に形成され、電気的に前記バンプと接
続される接続端子としての複数のランド及び前記複数の
ランドにそれぞれ接続された配線を有するプリント基板
とを備えたエリア配置型半導体装置において、1本の配
線に対して少なくとも2個のランドを接続する際に、そ
の少なくとも2個のランドは、格子状に配列された前記
複数のランドの最外周の列のコーナーに位置するランド
とそのコーナーに位置するランドと隣接するランドから
なることを特徴とするエリア配置型半導体装置の配線構
造。
7. An area-arranged semiconductor device in which a plurality of bumps are arranged in a grid on a mounting surface of a package, and a connection terminal which is formed in a grid similar to the bumps and is electrically connected to the bumps. In an area-arranged semiconductor device including a plurality of lands and a printed circuit board having wirings respectively connected to the plurality of lands, when at least two lands are connected to one wiring, The two lands include a land located at a corner of the outermost row of the plurality of lands arranged in a lattice and a land adjacent to the land located at the corner, and the area-arranged semiconductor device. Wiring structure.
【請求項8】 前記少なくとも2個のランド間を結ぶ配
線は、他のランドに接続される配線よりも太い線幅を有
すことを特徴とする請求項1〜7のいずれか記載のエリ
ア配置型半導体装置の配線構造。
8. The area arrangement according to claim 1, wherein the wiring connecting the at least two lands has a line width larger than that of a wiring connected to another land. Type semiconductor device wiring structure.
JP2002054407A 2002-02-28 2002-02-28 Wiring structure of area layout type semiconductor device Pending JP2003258149A (en)

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JP2007234674A (en) * 2006-02-27 2007-09-13 Denso Corp Electronic equipment
US7411295B2 (en) 2004-04-02 2008-08-12 Fujitsu Limited Circuit board, device mounting structure, device mounting method, and electronic apparatus

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