JP2003198148A - Multilayer wiring board - Google Patents
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波半導体チッ
プが搭載される高密度多層配線板に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high density multilayer wiring board on which a high frequency semiconductor chip is mounted.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、電子機器の発達にともない、電子
部品の高性能化に加えて、小型化と軽量化の要求はます
ます厳しくなっている。特に携帯電話に代表される携帯
無線電子機器においてはその利便性の追求から顕著であ
る。このような背景から、半導体チップや受動素子を効
率良く搭載するために、多層配線板が用いられてきた。
この多層配線板においては、高密度化や低コスト化が重
要な課題である。さらに、携帯無線機器においてはこれ
らの要求に加えて、高周波特性を満足する基板設計技術
確立が最重要課題となっている。2. Description of the Related Art In recent years, with the development of electronic devices, demands for smaller size and lighter weight in addition to higher performance of electronic parts have become more and more strict. In particular, it is remarkable in the pursuit of convenience in portable wireless electronic devices represented by mobile phones. From such a background, multilayer wiring boards have been used to efficiently mount semiconductor chips and passive elements.
In this multilayer wiring board, high density and low cost are important issues. In addition to these requirements, the establishment of board design technology that satisfies the high frequency characteristics has become the most important issue for mobile radio equipment.
【0003】基板設計技術で最も重要な項目は、特性イ
ンピーダンスのコントロールである。これは、インピー
ダンスの整合を取らないと反射ノイズが発生し、回路特
性が低下するためである。配線板に求められる特性イン
ピーダンスは45〜75Ωであり、その要求値に対して
±10%、望ましくは±5%の精度が求められている。
配線板で配線の特性インピーダンスをコントロールする
際に一般的に用いられるものにマイクロストリップ配線
がある。この配線の特性インピーダンス:Z0は、数式
1で求めることができる(出典: Microwave
Network Analysis;Microwa
ve Engineering、D.Pozar著、J
OHN WILEY & SONS、INC.刊行)。The most important item in board design technology is control of characteristic impedance. This is because if the impedances are not matched, reflection noise occurs and the circuit characteristics deteriorate. The characteristic impedance required for a wiring board is 45 to 75Ω, and an accuracy of ± 10%, preferably ± 5%, with respect to the required value is required.
Microstrip wiring is commonly used to control the characteristic impedance of wiring on a wiring board. The characteristic impedance: Z 0 of this wiring can be obtained by Equation 1 (Source: Microwave)
Network Analysis; Microwa
ve Engineering, D.V. Pozar, J
OHN WILEY & SONS, INC. Publication).
【0004】[0004]
【数1】 但し、 W:配線幅 d:絶縁層厚 εr:絶縁層の誘電率[Equation 1] However, W: wiring width d: insulating layer thickness ε r : dielectric constant of insulating layer
【0005】また、伝送損失量(信号減衰量)の抑制も
重要な項目である。これは、信号減衰が回路特性の低下
を招くためである。信号減衰の原因としては導体損失と
誘電体損失がある。導体損失の対策としては配線導体幅
の確保が知られており、300μm以上が必要とされて
いる。また、誘電体損失の対策としては誘電正接の小さ
な絶縁材料の使用が知られている。Further, suppression of the amount of transmission loss (amount of signal attenuation) is also an important item. This is because signal attenuation causes deterioration of circuit characteristics. Causes of signal attenuation include conductor loss and dielectric loss. As a countermeasure against the conductor loss, it is known to secure the width of the wiring conductor, and it is required to have a width of 300 μm or more. Further, as a measure against dielectric loss, it is known to use an insulating material having a small dielectric loss tangent.
【0006】高密度多層配線板としてビルドアップ配線
板が普及している。これは、コアとなる回路板に絶縁樹
脂層を順次積み上げて多層配線板を作製するものであ
る。このとき、積み上げるビルドアップ絶縁樹脂層の厚
みは一般的に50〜100μmである。50μm未満で
あると、絶縁信頼性の確保が困難になり、100μmを
超えると積層時のフローコントロールが難しくなり厚み
のばらつきが生じやすくなる。Build-up wiring boards are widely used as high-density multilayer wiring boards. In this, an insulating resin layer is sequentially stacked on a circuit board serving as a core to manufacture a multilayer wiring board. At this time, the thickness of the buildup insulating resin layer to be stacked is generally 50 to 100 μm. If it is less than 50 μm, it becomes difficult to secure insulation reliability, and if it exceeds 100 μm, it becomes difficult to control the flow during lamination and thickness variation easily occurs.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】前述したように、高周
波基板を設計する際には、45〜75Ωにおける特性イ
ンピーダンスの制御と300μm以上の配線導体幅の確
保が必要となる。配線幅が100μmと300μmの場
合について、誘電率を3.5〜5.0、絶縁層厚を50
〜200μmとしたときに前述の計算式で算出した特性
インピーダンスを表1に示す。100μm幅配線は、一
般的なビルドアップ配線板で標準的に使用されている設
計ルールである。計算結果は、100μm幅配線の特性
インピーダンスは45Ωを超えるが、300μm幅配線
の特性インピーダンスは150μm以上の絶縁層厚の場
合のみに45Ω以上を確保できることを示している。し
かし、市販のビルドアップ材料で絶縁層厚150μm以
上のものを見出すことは困難である。また、2層以上の
絶縁層を足し合わせて150μm以上の絶縁層とするこ
とも可能であるが、配線層の増大や配線密度の低減とい
う問題が生じる。本発明は、特性インピーダンスを45
Ω以上に設計でき、かつ配線幅が300μm以上の高周
波回路用基板に適した高密度多層配線板を提供すること
を目的とするものである。As described above, when designing a high frequency substrate, it is necessary to control the characteristic impedance at 45 to 75Ω and secure a wiring conductor width of 300 μm or more. When the wiring width is 100 μm and 300 μm, the dielectric constant is 3.5 to 5.0 and the insulating layer thickness is 50.
Table 1 shows the characteristic impedance calculated by the above-described calculation formula when the thickness is set to ˜200 μm. The 100 μm wide wiring is a design rule that is commonly used in general build-up wiring boards. The calculation result shows that the characteristic impedance of the wiring of 100 μm width exceeds 45Ω, but the characteristic impedance of the wiring of 300 μm width can be secured to 45Ω or more only when the insulating layer thickness is 150 μm or more. However, it is difficult to find a commercially available build-up material having an insulating layer thickness of 150 μm or more. Further, it is possible to add two or more insulating layers to form an insulating layer having a thickness of 150 μm or more, but there arises a problem that the wiring layer is increased or the wiring density is reduced. The present invention has a characteristic impedance of 45
It is an object of the present invention to provide a high-density multilayer wiring board which can be designed to be Ω or more and which is suitable for a high frequency circuit substrate having a wiring width of 300 μm or more.
【0008】[0008]
【表1】 単位:Ω[Table 1] Unit: Ω
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は、以下のことを
特徴とする。
(1)複数の絶縁層と導体からなる複数の配線層と前記
配線層間を電気的に接続する導体化された非貫通穴を有
する多層配線板であり、かつ300μm以上の幅を有す
る配線が最外配線層に少なくとも形成され、最外配線層
と前記非貫通穴を介して設けられた配線層の絶縁距離が
150μm以上であることを特徴とする多層配線板。
(2)最外配線層に形成された300μm以上の幅を持
つ配線の特性インピーダンスが45Ω以上75Ω以下で
あることを特徴とする(1)記載の多層配線板。
(3)前記非貫通穴のアスペクト比が1以上であること
を特徴とする(1)乃至(2)記載の多層配線板。
(4)前記非貫通穴の穴径が150μm以下であること
を特徴とする(1)〜(3)記載の多層配線板。
(5)最外配線層に隣接する絶縁層がガラス基材で補強
された樹脂であることを特徴とする(1)〜(4)記載
の多層配線板。
(6)前記ガラス基材で補強された樹脂中に無機フィラ
ーが添加されていることを特徴とする(5)に記載の多
層配線板。
(7)前記ガラス基材で補強された樹脂中に添加された
無機フィラーがシリカであることを特徴とする(6)に
記載の多層配線板。
(8)最外配線層に隣接する絶縁層の1GHzにおける
誘電率が5以下であることを特徴とする(1)〜(7)
に記載の多層配線板。
(9)前記非貫通穴の形成をレーザ光照射で行ったこと
を特徴とする(1)〜(8)に記載の多層配線板。
(10)レーザ光照射時の基板表面に金属箔が全面また
は一部に残されていることを特徴とする(9)に記載の
多層配線板。
(11)(1)〜(10)いずれかの多層配線板に90
0MHz以上の周波数で動作する高周波半導体チップを
搭載させたことを特徴とする半導体装置。
(12)(11)の半導体装置を搭載したことを特徴と
する無線電子装置。The present invention is characterized by the following. (1) A multilayer wiring board having a plurality of wiring layers made of a plurality of insulating layers and conductors and a non-through hole made into a conductor for electrically connecting the wiring layers, and a wiring having a width of 300 μm or more is the most suitable. A multilayer wiring board characterized in that an insulation distance between at least an outermost wiring layer and a wiring layer provided through the non-through hole is at least 150 μm in the outer wiring layer. (2) The multilayer wiring board according to (1), wherein the wiring having a width of 300 μm or more formed in the outermost wiring layer has a characteristic impedance of 45Ω or more and 75Ω or less. (3) The multilayer wiring board according to (1) or (2), wherein the non-through hole has an aspect ratio of 1 or more. (4) The multilayer wiring board according to (1) to (3), wherein the non-through hole has a hole diameter of 150 μm or less. (5) The multilayer wiring board according to (1) to (4), wherein the insulating layer adjacent to the outermost wiring layer is a resin reinforced with a glass base material. (6) The multilayer wiring board according to (5), wherein an inorganic filler is added to the resin reinforced with the glass base material. (7) The multilayer wiring board according to (6), wherein the inorganic filler added to the resin reinforced with the glass substrate is silica. (8) The dielectric constant at 1 GHz of the insulating layer adjacent to the outermost wiring layer is 5 or less (1) to (7)
The multilayer wiring board described in. (9) The multilayer wiring board according to (1) to (8), wherein the non-through hole is formed by laser light irradiation. (10) The multilayer wiring board according to (9), characterized in that the metal foil is left on the entire surface or a part of the surface of the substrate at the time of laser light irradiation. (11) 90 on the multilayer wiring board according to any one of (1) to (10)
A semiconductor device comprising a high-frequency semiconductor chip that operates at a frequency of 0 MHz or higher. (12) A wireless electronic device including the semiconductor device according to (11).
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態に用いる多層
配線板は、複数の絶縁層と導体からなる複数の配線層と
前記配線層間を電気的に接続する導体化された非貫通穴
を有する多層配線板であり、かつ300μm以上の幅を
有する配線が最外配線層に少なくとも形成され、最外配
線層と前記非貫通穴を介して設けられた配線層の絶縁距
離が150μm以上であることを特徴とする。配線幅を
300μm以上にすることにより高周波回路において信
号減衰を抑制することができ、かつ絶縁層の厚みを15
0μm以上にすることにより特性インピーダンスを45
Ω以上に設計することができる。配線幅には特に上限は
ないが、実用上600μm以下である。また、絶縁層の
厚みはパッド穴を小さくして、IVHの深さを深くする
ことは難しく、実用上300μm以下である。また、非
貫通穴のアスペクト比は、1以上であることが好まし
く、6以下であることが好ましい。非貫通穴は配線の禁
止領域を削減できるため、多層配線板の高密度化に有効
な手法である。また、非貫通穴径は、配線領域確保のた
めに小さい程好ましい。具体的には、配線層に設ける非
貫通穴のランド径を300μm以下に抑制するために1
50μm以下とすることが望ましく、50μm以上が好
ましい。50μm未満では、穴内の導体化が困難になる
からである。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A multilayer wiring board used in an embodiment of the present invention has a plurality of wiring layers each composed of a plurality of insulating layers and conductors, and a conductive non-through hole for electrically connecting the wiring layers. And a wiring layer having a width of 300 μm or more is formed in at least the outermost wiring layer, and an insulation distance between the outermost wiring layer and the wiring layer provided through the non-through hole is 150 μm or more. It is characterized by By setting the wiring width to 300 μm or more, signal attenuation can be suppressed in the high frequency circuit, and the thickness of the insulating layer can be 15
By setting it to 0 μm or more, the characteristic impedance becomes 45
It can be designed above Ω. There is no particular upper limit to the wiring width, but it is practically 600 μm or less. In addition, it is difficult to make the IVH depth deep by making the pad hole small, and the thickness of the insulating layer is practically 300 μm or less. Further, the aspect ratio of the non-through hole is preferably 1 or more, and preferably 6 or less. The non-penetrating hole is an effective technique for increasing the density of the multilayer wiring board because it can reduce the prohibited area of wiring. Further, the diameter of the non-through hole is preferably as small as possible to secure the wiring area. Specifically, in order to suppress the land diameter of the non-through hole provided in the wiring layer to 300 μm or less, 1
The thickness is preferably 50 μm or less, and more preferably 50 μm or more. This is because if it is less than 50 μm, it becomes difficult to form a conductor in the hole.
【0011】また、本発明の実施の形態に用いられる多
層配線板は、最外配線層に隣接する絶縁層がガラス基材
で補強された樹脂であることを特徴とする。ガラス基材
で補強されることにより、絶縁層の厚みが150μm以
上であっても、ガラス基材がない場合に比べて、その厚
み制御が容易になる。The multilayer wiring board used in the embodiment of the present invention is characterized in that the insulating layer adjacent to the outermost wiring layer is a resin reinforced with a glass base material. By being reinforced with the glass base material, even if the thickness of the insulating layer is 150 μm or more, it is easier to control the thickness of the insulating layer as compared with the case without the glass base material.
【0012】本発明の実施の形態に用いられる多層配線
板は、最外配線層に隣接する絶縁層がガラス基材で補強
され、かつ無機フィラーが添加された樹脂であることを
特徴とする高密度多層配線板である。無機フィラーを添
加することにより、非貫通穴をレーザ光照射により作製
しようとした場合の加工性が良好となる。これは、ガラ
ス基材と樹脂のレーザ加工における最適エネルギー強度
の差を小さくすることができ、加工後の穴内壁粗さを抑
制することができるためである。このことにより、非貫
通穴の接続信頼性を向上させることができる。無機フィ
ラーとしては、ガラス基材に近い物性を持つシリカフィ
ラーが好ましい。また、レーザ光照射時の基板表面に
は、金属箔が全面または一部に残されていることが好ま
しい。最外配線層と絶縁層の接着強度確保に有効なため
である。The multilayer wiring board used in the embodiment of the present invention is characterized in that the insulating layer adjacent to the outermost wiring layer is a resin reinforced with a glass base material and an inorganic filler is added. It is a density multilayer wiring board. By adding the inorganic filler, workability is improved when the non-through holes are to be produced by laser light irradiation. This is because it is possible to reduce the difference between the optimum energy intensities in the laser processing of the glass base material and the resin, and to suppress the inner wall roughness of the hole after processing. As a result, the connection reliability of the non-through holes can be improved. As the inorganic filler, a silica filler having physical properties close to those of a glass substrate is preferable. Further, it is preferable that the metal foil is left on the entire surface or a part of the surface of the substrate when the laser light is irradiated. This is because it is effective in securing the adhesive strength between the outermost wiring layer and the insulating layer.
【0013】本発明の実施の形態に用いられる多層配線
板は、最外配線層に隣接する絶縁層の1GHzにおける
誘電率が5以下であることを特徴とする。誘電率が高い
絶縁層を用いた場合、特性インピーダンスを45Ω以上
とするためには、絶縁層を厚くする必要が生じる。その
結果として、非貫通穴の穴径(穴表面の最大径)を大き
くする必要が生じ、配線密度が低下する。また、好まし
い誘電率の範囲は、2.1以上5以下であり、より好ま
しくは、3.5以上4.5以下である。The multilayer wiring board used in the embodiment of the present invention is characterized in that the insulating layer adjacent to the outermost wiring layer has a dielectric constant of 5 or less at 1 GHz. When an insulating layer having a high dielectric constant is used, it is necessary to make the insulating layer thick in order to set the characteristic impedance to 45Ω or more. As a result, it becomes necessary to increase the hole diameter of the non-through holes (maximum diameter of the hole surface), and the wiring density decreases. Further, the preferable range of the dielectric constant is 2.1 or more and 5 or less, and more preferably 3.5 or more and 4.5 or less.
【0014】ガラス基材で補強された樹脂としては、汎
用的に用いられているエポキシ系樹脂、耐熱性に優れて
いるポリイミド系樹脂やビスマレイミド系樹脂、誘電特
性に優れたポリフェニルエーテル系樹脂、ポリフェニル
オレイン系樹脂、シアネート系樹脂やフッ素系樹脂など
を用いることができる。As the resin reinforced with the glass base material, there are widely used epoxy resins, polyimide resins and bismaleimide resins having excellent heat resistance, and polyphenyl ether resins having excellent dielectric properties. , Polyphenyl olein-based resin, cyanate-based resin, fluorine-based resin and the like can be used.
【0015】ガラス基材で補強されたエポキシ系樹脂と
しては、市販のものとして、GEA−E−67N、GE
A−E−679N、GEA−E−65N(K)(以上、
日立化成工業株式会社製、商品名)、R−5610、R
−5610/S、R−1661/T、R−1551(以
上、松下電工株式会社製、商品名)、EI−6781、
EI−6765、EI−6777(以上、住友ベークラ
イト株式会社製、商品名)、ES−3615、ES−3
307、ES−3807(以上、利昌工業株式会社製、
商品名)などを使用できる。また、ガラス基材で補強さ
れたポリイミド系樹脂としては、市販のものとして、G
IA−671N(日立化成工業株式会社製、商品名)、
R−4600、R4670、R4680/K(以上、松
下電工株式会社製、商品名)などを使用できる。また、
ガラス基材で補強されたビスマレイミド系樹脂として
は、市販のものとして、GHPL−830、GHPL−
830HS、GHPL−830TF、GHPL−830
TF、GHPL−830RT、GHPL−830NB
(以上、三菱ガス化学株式会社製、商品名)などを使用
できる。また、ガラス基材で補強された誘電特性に優れ
た樹脂としては、市販のものとして、GXA−67N
(日立化成工業株式会社製、商品名)、TLP−596
(東芝ケミカル株式会社製、商品名)、ES−3317
A、ES−3317/E(以上、利昌工業株式会社製、
商品名)などを使用できる。Commercially available epoxy resins reinforced with a glass substrate are GEA-E-67N and GE.
AE-679N, GEA-E-65N (K) (above,
Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), R-5610, R
-5610 / S, R-1661 / T, R-1551 (above, trade name of Matsushita Electric Works, Ltd.), EI-6781,
EI-6765, EI-6777 (above, Sumitomo Bakelite Co., Ltd., trade name), ES-3615, ES-3
307, ES-3807 (above, manufactured by Risho Industry Co., Ltd.,
Product name) etc. can be used. As the polyimide resin reinforced with the glass base material, G
IA-671N (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name),
R-4600, R4670, R4680 / K (above, Matsushita Electric Works, Ltd. make, a brand name) etc. can be used. Also,
As the bismaleimide-based resin reinforced with a glass base material, commercially available GHPL-830, GHPL-
830HS, GHPL-830TF, GHPL-830
TF, GHPL-830RT, GHPL-830NB
(These are product names of Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc.) and the like can be used. Further, as a resin reinforced with a glass base material and having excellent dielectric properties, GXA-67N is commercially available.
(Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), TLP-596
(Toshiba Chemical Co., Ltd., trade name), ES-3317
A, ES-3317 / E (above, manufactured by Risho Kogyo Co., Ltd.,
Product name) etc. can be used.
【0016】ガラス基材で補強され、かつ無機フィラー
が添加された樹脂としては、市販のものとして、GEA
−679F、GEA−679F(G)、GRA−67N
(以上、日立化成工業株式会社製、商品名)、ES−3
305S(利昌工業株式会社製、商品名)などを使用で
きる。As the resin reinforced with a glass base material and added with an inorganic filler, GEA is commercially available.
-679F, GEA-679F (G), GRA-67N
(Above, product name of Hitachi Chemical Co., Ltd.), ES-3
305S (trade name, manufactured by Risho Kogyo Co., Ltd.) can be used.
【0017】レーザ光で基板穴明け加工する方法は種々
開発されている。これらの方法の中で、回路を形成する
銅箔との接着強度を確保するためには、基板表面に銅箔
が全面または一部に残されていることが望ましく、この
ような方法として、コンフォーマルマスク法、ラージウ
ィンドウマスク法、銅箔ダイレクト法が知られている。
コンフォーマルマスク法は、銅箔エッチングにより加工
する穴径の窓穴を形成して窓内の樹脂をレーザ光で除去
するものである。この方法には、穴径がエッチングされ
た窓穴径と一致するために、レーザ光のエネルギー変動
に対してマージンが大きいという特長がある。また、ラ
ージウィンドウマスク法は、レーザ加工する穴径よりも
大きな径の窓穴を銅箔エッチングにより形成した後、所
望の径の穴をレーザ加工するものである。この方法に
は、レーザ光の散乱が少ないために加工形状の凹凸制御
が容易という特長がある。また、銅箔ダイレクト法は、
薄い銅箔と樹脂を同時にレーザ光で除去するものであ
る。この方法には、銅箔エッチングによる窓穴形成のプ
ロセスが不要で、プロセスが簡易という特長がある。Various methods have been developed for drilling a substrate with a laser beam. Among these methods, in order to secure the adhesive strength with the copper foil forming the circuit, it is desirable that the copper foil is left on the whole or a part of the substrate surface. The formal mask method, large window mask method, and copper foil direct method are known.
The conformal mask method is to form a window hole having a hole diameter to be processed by copper foil etching and remove the resin in the window with laser light. This method has a feature that the hole diameter matches the etched window hole diameter, so that there is a large margin for the energy fluctuation of the laser beam. In the large window mask method, a window hole having a diameter larger than the hole diameter to be laser processed is formed by copper foil etching, and then a hole having a desired diameter is laser processed. This method has the advantage that the unevenness of the processed shape can be easily controlled because the scattering of laser light is small. In addition, the copper foil direct method
The thin copper foil and resin are simultaneously removed by laser light. This method does not require a process of forming a window hole by etching a copper foil, and has a feature that the process is simple.
【0018】コンフォーマルマスク法、ラージウィンド
ウマスク法に用いる銅箔としては、一般の高密度配線板
に用いられる9μmや12μmの銅箔を用いることがで
きる。このような銅箔としては、市販のものとして、S
TD/GTSシリーズ、MP/GTSシリーズ(以上、
古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、JTC
シリーズ、LPシリーズ(以上、株式会社ジャパンエナ
ジー製、商品名)、VPシリーズ、HVシリーズ(以
上、福田金属箔粉工業株式会社製、商品名)、VLPシ
リーズ(三井金属鉱業株式会社製、商品名)などを使用
できる。As the copper foil used for the conformal mask method and the large window mask method, a copper foil having a thickness of 9 μm or 12 μm used for a general high-density wiring board can be used. As such a copper foil, as a commercially available copper foil, S
TD / GTS series, MP / GTS series (above,
Furukawa Circuit Foil Co., Ltd., trade name), JTC
Series, LP series (above, Japan Energy Co., trade name), VP series, HV series (above, Fukuda Metal Foil & Powder Co., trade name), VLP series (Mitsui Mining & Smelting Co., trade name) ) Etc. can be used.
【0019】銅箔ダイレクト法に用いる銅箔としては、
5μm以下の極薄銅箔を用いることができる。また、レ
ーザ光反射を抑制するために表面粗化処理が必要であ
る。予め表面を粗化した極薄銅箔は、市販のものとし
て、F−DP5/35、F−DP3/35(以上、古河
サーキットフォイル株式会社製、商品名)、MT35M
3、MT25M5(以上、三井金属鉱業株式会社製、商
品名)などを使用できる。これらの市販銅箔は35μm
銅箔をキャリアとしたものである。このキャリア銅箔
は、レーザ加工直前に手で容易に剥がすことができるも
のである。しかし、本発明は、このような予め表面粗化
処理を施された銅箔使用に限定されたものでなく、レー
ザ加工前に酸化銅処理やマイクロエッチング処理等で表
面粗化を行うことも可能である。また、9μmや12μ
mの銅箔をエッチングにより5μm以下とし、その表面
を粗化処理することも可能である。As the copper foil used in the copper foil direct method,
An ultra-thin copper foil having a thickness of 5 μm or less can be used. Further, a surface roughening treatment is necessary to suppress laser light reflection. The ultra-thin copper foil whose surface is roughened in advance is commercially available as F-DP5 / 35, F-DP3 / 35 (above, Furukawa Circuit Foil Co., Ltd., trade name), MT35M.
3, MT25M5 (above, Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. make, a brand name), etc. can be used. These commercial copper foils are 35 μm
It uses copper foil as a carrier. This carrier copper foil can be easily peeled off by hand immediately before laser processing. However, the present invention is not limited to the use of such a copper foil that has been subjected to surface roughening treatment in advance, and it is also possible to perform surface roughening by copper oxide treatment or micro etching treatment before laser processing. Is. Also, 9μm and 12μ
It is also possible to make the copper foil of m 5 μm or less by etching and roughen the surface thereof.
【0020】レーザ加工機としては、炭酸ガスレーザが
プリント配線板のレーザ穴明けには一般的である。しか
しながら、炭酸ガスレーザに限定するものではなく、加
工する基板の種類によってUVヤングレーザやエキシマ
レーザを用いることもできる。As a laser processing machine, a carbon dioxide gas laser is generally used for laser drilling a printed wiring board. However, it is not limited to the carbon dioxide gas laser, and a UV Young laser or an excimer laser may be used depending on the type of the substrate to be processed.
【0021】コアとなる回路板に用いる銅張積層板とし
ては、先に述べたガラス基材で補強された樹脂と同等の
特性を有するものが使用できる。すなわち、汎用的に用
いられているエポキシ系樹脂、耐熱性に優れているポリ
イミド系樹脂やビスマレイミド系樹脂、誘電特性に優れ
たポリフェニルエーテル系樹脂、ポリフェニルオレイン
系樹脂、シアネート系樹脂やフッ素系樹脂などを用いる
ことができる。エポキシ系銅張積層板としては、市販の
ものとして、MCL−E−67、MCL−E−679、
MCL−E−65(K)、MCL−E−679F、MC
L−E−679F(G)、MCL−RO−67G(以
上、日立化成工業株式会社製、商品名)、R−5715
シリーズ、R−1766/T、R−1551(以上、松
下電工株式会社製、商品名)、ELC−4781、EL
C−4765、ELC−4777(以上、住友ベークラ
イト株式会社製、商品名)、CS−3665、CS−3
375、CS−3287(以上、利昌工業株式会社製、
商品名)などを使用できる。また、ガラス基材で補強さ
れたポリイミド系樹脂としては、市販のものとして、M
CL−I−671(日立化成工業株式会社製、商品
名)、R−4705、R4775、R4785/K(以
上、松下電工株式会社製、商品名)などを使用できる。
また、ガラス基材で補強されたビスマレイミド系樹脂と
しては、市販のものとして、CCL−830、CCL−
832、CCL−832HS、CCL−832TF、C
CL−832TF、CCL−832RT、CCL−83
2NB(以上、三菱ガス化学株式会社製、商品名)など
を使用できる。また、ガラス基材で補強された誘電特性
に優れた樹脂としては、市販のものとして、MCL−L
X−67(日立化成工業株式会社製、商品名)、TLC
−W−596(東芝ケミカル株式会社製、商品名)、C
S−3376A、CS−3376/E、CS−3355
S(以上、利昌工業株式会社製、商品名)などを使用で
きる。As the copper-clad laminate used for the circuit board to be the core, one having the same characteristics as the resin reinforced with the glass base material described above can be used. That is, widely used epoxy resins, polyimide resins and bismaleimide resins having excellent heat resistance, polyphenyl ether resins having excellent dielectric properties, polyphenyl olein resins, cyanate resins and fluorine. A resin or the like can be used. Commercially available epoxy-based copper-clad laminates include MCL-E-67, MCL-E-679,
MCL-E-65 (K), MCL-E-679F, MC
LE-679F (G), MCL-RO-67G (above, Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), R-5715
Series, R-1766 / T, R-1551 (above, Matsushita Electric Works, Ltd., trade name), ELC-4781, EL
C-4765, ELC-4777 (above, product name by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.), CS-3665, CS-3
375, CS-3287 (above, manufactured by Risho Industry Co., Ltd.,
Product name) etc. can be used. Further, as the polyimide-based resin reinforced with the glass base material, commercially available products, M
CL-I-671 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), R-4705, R4775, R4785 / K (above, manufactured by Matsushita Electric Works, Ltd.) can be used.
As the bismaleimide-based resin reinforced with a glass base material, CCL-830, CCL-
832, CCL-832HS, CCL-832TF, C
CL-832TF, CCL-832RT, CCL-83
2NB (above, product name by Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc.) can be used. Further, as a resin reinforced with a glass base material and having excellent dielectric properties, a commercially available resin, MCL-L
X-67 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), TLC
-W-596 (Toshiba Chemical Co., Ltd., trade name), C
S-3376A, CS-3376 / E, CS-3355
S (above, product name by Risho Kogyo Co., Ltd.) can be used.
【0022】[0022]
【実施例】以下に、本発明の実施の形態を、実施例によ
って具体的に述べる。
実施例1
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679F(日立化成工業株式
会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを
形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路
パターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板
の回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする
黒化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元
処理によって、粗化処理を行った。Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to embodiments. Example 1 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm, and unnecessary. The copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0023】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み80μmのフィラー入りガラスエポキシプリ
プレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、商
品名)を2枚、(3)コア回路基板、(4)厚み80μ
mのフィラー入りガラスエポキシプリプレグGEA−6
79Fを2枚、(5)厚み9μmの銅箔STD/GTS
の順に重ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加熱加
圧時間60分のプレス条件で積層一体化した。この基板
の表面に所望のエッチングレジストを形成し、不要な銅
箔をエッチング除去して、所望の箇所にφ0.15mm
の窓穴を形成した。この基板表面に設けた窓穴の箇所に
三菱電機株式会社製ML505GT型炭酸ガスレーザを
用いて、出力パワー26mJ、パルス幅100μs、シ
ョット数6回の条件でレーザ穴明けを行った。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Two glass epoxy prepregs GEA-679F (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name) with a thickness of 80 μm containing filler, (3) core circuit board, (4) thickness of 80 μ
Glass epoxy prepreg GEA-6 with m filler
Two 79F, (5) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
In order of temperature, 170 ° C., pressure 2.5 MPa, and heating and pressurizing time 60 minutes. A desired etching resist is formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil is removed by etching, and a desired area is φ0.15 mm.
Windows were formed. Using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation at the location of the window hole provided on the surface of the substrate, laser drilling was performed under the conditions of an output power of 26 mJ, a pulse width of 100 μs, and a number of shots of 6 times.
【0024】超音波洗浄とアルカリ過マンガン酸液で炭
化した樹脂カスを除去後、洗浄触媒付与、密着促進後無
電解銅めっきを行い、レーザ穴内壁と銅箔表面に約20
μmの無電解銅めっき層を形成した。この基板表面のパ
ッドや回路パターンなど必要な箇所にエッチングレジス
トを形成し、不要な銅をエッチング除去して、外層回路
を形成した。この基板表面にソルダーレジストPSR−
4000 AUS5(太陽インキ、商品名)をロールコ
ータで30μm塗布、乾燥後に露光・現像して所望の箇
所にソルダーレジストを形成した。その後、3μmの無
電解ニッケルめっきと0.1μmの無電解金めっきを外
層回路パターン露出部表面層に形成して、図1に示すよ
うな多層配線板を得た。スクリーン印刷により、接続パ
ッドパターンの部分にはんだペーストを印刷し、半導体
チップを位置合わせして配置した後、IRリフローを用
いてはんだを溶融させて、高周波パワーICを多層配線
板にフリップチップ実装した。同時にコンデンサやイン
ダクタなどの受動素子チップ部品も同時に実装した。こ
の時の高周波パワーICの出力部が接続される配線幅は
300μmとした。After ultrasonic cleaning and removal of the resin residue carbonized with the alkali permanganate solution, a cleaning catalyst is applied, adhesion is promoted, and electroless copper plating is performed.
An electroless copper plating layer of μm was formed. An etching resist was formed on necessary portions such as pads and circuit patterns on the surface of the substrate, and unnecessary copper was removed by etching to form an outer layer circuit. Solder resist PSR-
4000 AUS5 (Taiyo Ink, trade name) was applied by a roll coater to a thickness of 30 μm, dried and then exposed and developed to form a solder resist at a desired position. Then, electroless nickel plating of 3 μm and electroless gold plating of 0.1 μm were formed on the surface layer of the outer layer circuit pattern exposed portion to obtain a multilayer wiring board as shown in FIG. After the solder paste was printed on the connection pad pattern by screen printing and the semiconductor chips were aligned and arranged, the solder was melted using IR reflow, and the high frequency power IC was flip-chip mounted on the multilayer wiring board. . At the same time, passive element chip parts such as capacitors and inductors were also mounted at the same time. At this time, the wiring width to which the output part of the high frequency power IC is connected was set to 300 μm.
【0025】実施例2
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679(日立化成工業株式会
社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを形
成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路パ
ターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板の
回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする黒
化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元処
理によって、粗化処理を行った。Example 2 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0026】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み80μmのガラスエポキシプリプレグGEA
−679N(日立化成工業株式会社製、商品名)を2
枚、(3)コア回路基板、(4)厚み80μmのガラス
エポキシプリプレグGEA−679Nを2枚、(5)厚
み9μmの銅箔STD/GTSの順に重ね、温度170
℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス条
件で積層一体化した。この基板の表面に所望のエッチン
グレジストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去し
て、所望の箇所にφ0.15mmの窓穴を形成した。こ
の基板表面に設けた窓穴の箇所に三菱電機株式会社製M
L505GT型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー2
6mJ、パルス幅100μs、ショット数6回の条件で
レーザ穴明けを行った。その後の多層配線板プロセス、
実装プロセスは実施例1に準じて行った。高周波パワー
IC出力部が接続される配線幅は300μmとした。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Glass epoxy prepreg GEA with a thickness of 80 μm
-679N (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name) 2
Sheet, (3) core circuit board, (4) two glass epoxy prepreg GEA-679N having a thickness of 80 μm, (5) copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm in this order, and a temperature of 170
The layers were integrated under a pressing condition of ° C, a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.15 mm was formed at a desired position. Mitsubishi Electric Corporation M
Output power 2 using L505GT carbon dioxide laser
Laser drilling was performed under the conditions of 6 mJ, pulse width 100 μs, and shot number 6 times. Subsequent multilayer wiring board process,
The mounting process was performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0027】実施例3
銅箔厚18μm、板厚0.25mmの低誘電率/低誘電
損失両面銅箔張積層板MCL−LX−67(日立化成工
業株式会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジ
ストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望
の回路パターンを有するコア回路基板を作製した。この
回路板の回路表面には、有機酸系マイクロエッチング剤
CZ−8100B(メック株式会社製、商品名)によっ
て、粗化処理を行った。Example 3 Desired on the surface of a low-dielectric constant / low-dielectric loss double-sided copper foil-clad laminate MCL-LX-67 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.25 mm. The etching resist was formed, and unnecessary copper foil was removed by etching to prepare a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was subjected to a roughening treatment with an organic acid-based microetching agent CZ-8100B (manufactured by Mec Co., Ltd., trade name).
【0028】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み150μmの低誘電率/低誘電損失プリプレ
グGXA−67N(日立化成工業株式会社製、商品
名)、(3)コア回路基板、(4)厚み150μmの低
誘電率/低誘電損失プリプレグGXA−67N、(5)
厚み9μmの銅箔STD/GTSの順に重ね、温度21
0℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス
条件で積層一体化した。この基板の表面に所望のエッチ
ングレジストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去し
て、所望の箇所にφ0.15mmの窓穴を形成した。こ
の基板表面に設けた窓穴の箇所に、三菱電機株式会社製
ML505GT型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー
26mJ、パルス幅100μs、ショット数6回の条件
でレーザ穴明けを行った。その後の多層配線板プロセ
ス、実装プロセスは実施例1に準じて行った。高周波パ
ワーIC出力部が接続される配線幅は300μmとし
た。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) 150 μm thick low dielectric constant / low dielectric loss prepreg GXA-67N (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), (3) core circuit board, (4) 150 μm thick low dielectric constant / low dielectric loss prepreg. GXA-67N, (5)
The copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm is stacked in this order, and the temperature is 21.
The layers were integrated under a pressing condition of 0 ° C., a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.15 mm was formed at a desired position. Using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, laser drilling was performed at the window hole provided on the surface of the substrate under the conditions of an output power of 26 mJ, a pulse width of 100 μs, and a number of shots of 6 times. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0029】実施例4
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679F(日立化成工業株式
会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを
形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路
パターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板
の回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする
黒化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元
処理によって、粗化処理を行った。Example 4 A desired etching resist is formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0030】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み80μmのフィラー入りガラスエポキシプリ
プレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、商
品名)を2枚、(3)コア回路基板、(4)厚み80μ
mのフィラー入りガラスエポキシプリプレグGEA−6
79Fを2枚、(5)厚み9μmの銅箔STD/GTS
の順に重ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加熱加
圧時間60分のプレス条件で積層一体化した。この基板
の表面に所望のエッチングレジストを形成し、不要な銅
箔をエッチング除去して、所望の箇所にφ0.25mm
の窓穴を形成した。この基板表面に設けた窓穴の箇所
に、三菱電機株式会社製ML505GT型炭酸ガスレー
ザを用いて、出力パワー10mJ、パルス幅70μs、
ショット数6回の条件でレーザ穴明けを行い、φ0.1
5mmのレーザ穴を作製した。その後の多層配線板プロ
セス、実装プロセスは実施例1に準じて行った。高周波
パワーIC出力部が接続される配線幅は300μmとし
た。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Two glass epoxy prepregs GEA-679F (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name) with a thickness of 80 μm containing filler, (3) core circuit board, (4) thickness of 80 μ
Glass epoxy prepreg GEA-6 with m filler
Two 79F, (5) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
In order of temperature, 170 ° C., pressure 2.5 MPa, and heating and pressurizing time 60 minutes. A desired etching resist is formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil is removed by etching, and a desired area is φ0.25 mm.
Windows were formed. An ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation was used at a window hole provided on the surface of the substrate, with an output power of 10 mJ and a pulse width of 70 μs.
Laser drilling was performed under the condition of 6 shots and φ0.1
A 5 mm laser hole was made. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0031】実施例5
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679(日立化成工業株式会
社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを形
成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路パ
ターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板の
回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする黒
化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元処
理によって、粗化処理を行った。Example 5 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0032】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み80μmのガラスエポキシプリプレグGEA
−679N(日立化成工業株式会社製、商品名)を2
枚、(3)コア回路基板、(4)厚み80μmのガラス
エポキシプリプレグGEA−679Nを2枚、(5)厚
み9μmの銅箔STD/GTSの順に重ね、温度170
℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス条
件で積層一体化した。この基板の表面に所望のエッチン
グレジストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去し
て、所望の箇所にφ0.25mmの窓穴を形成した。こ
の基板表面に設けた窓穴の箇所に、三菱電機株式会社製
ML505GT型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー
10mJ、パルス幅70μs、ショット数6回の条件で
レーザ穴明けを行い、φ0.15mmのレーザ穴を作製
した。その後の多層配線板プロセス、実装プロセスは実
施例1に準じて行った。高周波パワーIC出力部が接続
される配線幅は300μmとした。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Glass epoxy prepreg GEA with a thickness of 80 μm
-679N (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name) 2
Sheet, (3) core circuit board, (4) two glass epoxy prepreg GEA-679N having a thickness of 80 μm, (5) copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm in this order, and a temperature of 170
The layers were integrated under a pressing condition of ° C, a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.25 mm was formed at a desired position. Using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, laser holes were drilled in the window holes provided on the surface of the substrate under the conditions of an output power of 10 mJ, a pulse width of 70 μs, and a number of shots of 6 to obtain φ0.15 mm. Laser holes were made. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0033】実施例6
銅箔厚18μm、板厚0.25mmの低誘電率/低誘電
損失両面銅箔張積層板MCL−LX−67(日立化成工
業株式会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジ
ストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望
の回路パターンを有するコア回路基板を作製した。この
回路板の回路表面には、有機酸系マイクロエッチング剤
CZ−8100B(メック株式会社製、商品名)によっ
て、粗化処理を行った。Example 6 Desired on the surface of a low-dielectric constant / low-dielectric loss double-sided copper foil-clad laminate MCL-LX-67 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.25 mm. The etching resist was formed, and unnecessary copper foil was removed by etching to prepare a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was subjected to a roughening treatment with an organic acid-based microetching agent CZ-8100B (manufactured by Mec Co., Ltd., trade name).
【0034】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み150μmの低誘電率/低誘電損失プリプレ
グGXA−67N(日立化成工業株式会社製、商品
名)、(3)コア回路基板、(4)厚み150μmの低
誘電率/低誘電損失プリプレグGXA−67N、(5)
厚み9μmの銅箔STD/GTSの順に重ね、温度21
0℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス
条件で積層一体化した。この基板の表面に所望のエッチ
ングレジストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去し
て、所望の箇所にφ0.25mmの窓穴を形成した。こ
の基板表面に設けた窓穴の箇所に、三菱電機株式会社製
ML505GT型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー
10mJ、パルス幅70μs、ショット数6回の条件で
レーザ穴明けを行い、φ0.15mmのレーザ穴を作製
した。その後の多層配線板プロセス、実装プロセスは実
施例1に準じて行った。高周波パワーIC出力部が接続
される配線幅は300μmとした。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) 150 μm thick low dielectric constant / low dielectric loss prepreg GXA-67N (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name), (3) core circuit board, (4) 150 μm thick low dielectric constant / low dielectric loss prepreg. GXA-67N, (5)
The copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm is stacked in this order, and the temperature is 21.
The layers were integrated under a pressing condition of 0 ° C., a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.25 mm was formed at a desired position. Using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, laser holes were drilled in the window holes provided on the surface of the substrate under the conditions of an output power of 10 mJ, a pulse width of 70 μs, and a number of shots of 6 to obtain φ0.15 mm. Laser holes were made. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0035】実施例7
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679F(日立化成工業株式
会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを
形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路
パターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板
の回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする
黒化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元
処理によって、粗化処理を行った。Example 7 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0036】(1)厚み3μmの銅箔に35μmのキャ
リア銅箔を備えた銅箔MT35M3(三井金属鉱業株式
会社製、商品名)、(2)厚み80μmのフィラー入り
ガラスエポキシプリプレグGEA−679F(日立化成
工業株式会社製、商品名)を2枚、(3)コア回路基
板、(4)厚み80μmのフィラー入りガラスエポキシ
プリプレグGEA−679Fを2枚、(5)厚み3μm
の銅箔に35μmのキャリア銅箔を備えた銅箔MT35
M3の順に重ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加
熱加圧時間60分のプレス条件で積層一体化した。この
基板の表面のキャリア銅箔を手作業により剥離後、三菱
電機株式会社製ML505GT型炭酸ガスレーザを用い
て、出力パワー30mJ、パルス幅15μs、ショット
数6回の条件でレーザ穴明けを行い、φ0.15mmの
レーザ穴を作製した。その後の多層配線板プロセス、実
装プロセスは実施例1に準じて行った。高周波パワーI
C出力部が接続される配線幅は300μmとした。(1) Copper foil MT35M3 (trade name, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.), which is a copper foil having a thickness of 3 μm and a carrier copper foil having a thickness of 35 μm, and (2) a glass epoxy prepreg GEA-679F (filler with a thickness of 80 μm). Hitachi Chemical Co., Ltd. product name, 2 sheets, (3) core circuit board, (4) 2 sheets of glass epoxy prepreg GEA-679F with a filler of 80 μm in thickness, (5) 3 μm in thickness
Copper foil MT35 in which 35 μm carrier copper foil is provided on the copper foil of
They were stacked in the order of M3, and laminated and integrated under a pressing condition of a temperature of 170 ° C., a pressure of 2.5 MPa, and a heating / pressing time of 60 minutes. After the carrier copper foil on the surface of this substrate was manually peeled off, laser drilling was performed using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation under the conditions of an output power of 30 mJ, a pulse width of 15 μs, and a number of shots of 6 times. Laser holes of 0.15 mm were made. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. High frequency power I
The wiring width to which the C output portion is connected was set to 300 μm.
【0037】実施例8
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679(日立化成工業株式会
社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを形
成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路パ
ターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板の
回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする黒
化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元処
理によって、粗化処理を行った。Example 8 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0038】(1)厚み3μmの銅箔に35μmのキャ
リア銅箔を備えた銅箔MT35M3(三井金属鉱業株式
会社製、商品名)、(2)厚み80μmのガラスエポキ
シプリプレグGEA−679N(日立化成工業株式会社
製、商品名)を2枚、(3)コア回路基板、(4)厚み
80μmのガラスエポキシプリプレグGEA−679N
を2枚、(5)厚み3μmの銅箔に35μmのキャリア
銅箔を備えた銅箔MT35M3の順に重ね、温度170
℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス条
件で積層一体化した。この基板の表面のキャリア銅箔を
手作業により剥離後、三菱電機株式会社製ML505G
T型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー30mJ、パ
ルス幅15μs、ショット数6回の条件でレーザ穴明け
を行い、φ0.15mmのレーザ穴を作製した。その後
の多層配線板プロセス、実装プロセスは実施例1に準じ
て行った。高周波パワーIC出力部が接続される配線幅
は300μmとした。(1) Copper foil MT35M3 (manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.), which is a copper foil having a thickness of 3 μm and a carrier copper foil having a thickness of 35 μm, and (2) a glass epoxy prepreg GEA-679N (Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a thickness of 80 μm. (Trade name) manufactured by Kogyo Co., Ltd., (3) core circuit board, (4) 80 μm thick glass epoxy prepreg GEA-679N
And (5) a copper foil MT35M3 having a thickness of 3 μm and a carrier copper foil of 35 μm on the copper foil having a thickness of 3 μm.
The layers were integrated under a pressing condition of ° C, a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. After peeling the carrier copper foil on the surface of this substrate by hand, ML505G manufactured by Mitsubishi Electric Corporation
Using a T-type carbon dioxide laser, laser drilling was performed under the conditions of an output power of 30 mJ, a pulse width of 15 μs, and a number of shots of 6 to make a laser hole of φ0.15 mm. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0039】実施例9
銅箔厚18μm、板厚0.25mmの低誘電率/低誘電
損失両面銅箔張積層板MCL−LX−67(日立化成工
業株式会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジ
ストを形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望
の回路パターンを有するコア回路基板を作製した。この
回路板の回路表面には、有機酸系マイクロエッチング剤
CZ−8100B(メック株式会社製、商品名)によっ
て、粗化処理を行った。Example 9 Desired on the surface of a low-dielectric constant / low-dielectric loss double-sided copper foil-clad laminate MCL-LX-67 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.25 mm. The etching resist was formed, and unnecessary copper foil was removed by etching to prepare a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was subjected to a roughening treatment with an organic acid-based microetching agent CZ-8100B (manufactured by Mec Co., Ltd., trade name).
【0040】(1)厚み3μmの銅箔に35μmのキャ
リア銅箔を備えた銅箔MT35M3(三井金属鉱業株式
会社製、商品名)、(2)厚み150μmの低誘電率/
低誘電損失プリプレグGXA−67N(日立化成工業株
式会社製、商品名)、(3)コア回路基板、(4)厚み
150μmの低誘電率/低誘電損失プリプレグGXA−
67N、(5)厚み3μmの銅箔に35μmのキャリア
銅箔を備えた銅箔MT35M3の順に重ね、温度210
℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間60分のプレス条
件で積層一体化した。この基板の表面のキャリア銅箔を
手作業により剥離後、三菱電機株式会社製ML505G
T型炭酸ガスレーザを用いて、出力パワー30mJ、パ
ルス幅15μs、ショット数6回の条件でレーザ穴明け
を行い、φ0.15mmのレーザ穴を作製した。その後
の多層配線板プロセス、実装プロセスは実施例1に準じ
て行った。高周波パワーIC出力部が接続される配線幅
は300μmとした。(1) Copper foil MT35M3 (trade name, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.), which is a copper foil having a thickness of 3 μm and a carrier copper foil having a thickness of 35 μm, (2) a low dielectric constant of 150 μm /
Low dielectric loss prepreg GXA-67N (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), (3) core circuit board, (4) 150 μm thick low dielectric constant / low dielectric loss prepreg GXA-
67 N, and (5) a copper foil MT35M3 having a carrier copper foil of 35 μm on a copper foil having a thickness of 3 μm, stacked in this order at a temperature of 210.
The layers were integrated under a pressing condition of ° C, a pressure of 2.5 MPa, and a heating and pressing time of 60 minutes. After peeling the carrier copper foil on the surface of this substrate by hand, ML505G manufactured by Mitsubishi Electric Corporation
Using a T-type carbon dioxide laser, laser drilling was performed under the conditions of an output power of 30 mJ, a pulse width of 15 μs, and a number of shots of 6 to make a laser hole of φ0.15 mm. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected was 300 μm.
【0041】実施例10
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679(日立化成工業株式会
社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを形
成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路パ
ターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板の
回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする黒
化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元処
理によって、粗化処理を行った。Example 10 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0042】(1)接着剤厚み80μmの12μm銅箔
付き接着フィルムMCF−6000E(日立化成工業株
式会社製、商品名)、(2)コア回路基板、(3)接着
剤厚み80μmの12μm銅箔付き接着フィルムMCF
−6000Eの順に重ね、温度170℃、圧力2.5M
Pa、加熱加圧時間60分のプレス条件で積層一体化し
た。この基板の表面銅箔を全面エッチング後、さらに
(1)接着剤厚み80μmの12μm銅箔付き接着フィ
ルムMCF−6000E(日立化成工業株式会社製、商
品名)、(2)コア回路基板、(3)接着剤厚み80μ
mの12μm銅箔付き接着フィルムMCF−6000E
の順に重ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加熱加
圧時間60分のプレス条件で積層一体化した。この基板
の表面に所望のエッチングレジストを形成し、不要な銅
箔をエッチング除去して、所望の箇所にφ0.15mm
の窓穴を形成した。この基板表面に設けた窓穴の箇所に
三菱電機株式会社製ML505GT型炭酸ガスレーザを
用いて、出力パワー26mJ、パルス幅80μs、ショ
ット数6回の条件でレーザ穴明けを行った。その後の多
層配線板プロセス、実装プロセスは実施例1に準じて行
った。高周波パワーIC出力部が接続される配線幅は3
00μmとした。(1) Adhesive film with an adhesive thickness of 80 μm and 12 μm copper foil MCF-6000E (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), (2) Core circuit board, (3) Adhesive thickness of 12 μm copper foil Adhesive film MCF
-6000E in order, temperature 170 ℃, pressure 2.5M
The layers were integrated under a pressing condition of Pa and a heating and pressing time of 60 minutes. After completely etching the surface copper foil of this substrate, (1) an adhesive film MCF-6000E with a 12 μm copper foil having an adhesive thickness of 80 μm (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), (2) core circuit board, (3) ) Adhesive thickness 80μ
m adhesive film with copper foil MCF-6000E
In order of temperature, 170 ° C., pressure 2.5 MPa, and heating and pressurizing time 60 minutes. A desired etching resist is formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil is removed by etching, and a desired area is φ0.15 mm.
Windows were formed. Using a ML505GT type carbon dioxide gas laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, laser drilling was performed at the window holes provided on the surface of the substrate under the conditions of an output power of 26 mJ, a pulse width of 80 μs, and a number of shots of 6 times. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment. The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected is 3
It was set to 00 μm.
【0043】比較例1
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679F(日立化成工業株式
会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを
形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路
パターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板
の回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする
黒化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元
処理によって、粗化処理を行った。Comparative Example 1 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0044】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み100μmのフィラー入りガラスエポキシプ
リプレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、
商品名)、(3)コア回路基板、(4)厚み100μm
のフィラー入りガラスエポキシプリプレグGEA−67
9F、(5)厚み9μmの銅箔STD/GTSの順に重
ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間6
0分のプレス条件で積層一体化した。この基板の表面に
所望のエッチングレジストを形成し、不要な銅箔をエッ
チング除去して、所望の箇所にφ0.15mmの窓穴を
形成した。この基板表面に設けた窓穴の箇所に三菱電機
株式会社製ML505GT型炭酸ガスレーザを用いて、
出力パワー26mJ、パルス幅100μs、ショット数
4回の条件でレーザ穴明けを行った。その後の多層配線
板プロセス、実装プロセスは実施例1に準じて行った。
高周波パワーIC出力部が接続される配線幅は300μ
mとした。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Glass epoxy prepreg with a thickness of 100 μm GEA-679F (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.,
(Trade name), (3) core circuit board, (4) thickness 100 μm
Filled Glass Epoxy Prepreg GEA-67
9F, (5) copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm are stacked in this order, temperature 170 ° C., pressure 2.5 MPa, heating and pressurizing time 6
The layers were integrated under a pressing condition of 0 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.15 mm was formed at a desired position. Using a ML505GT type carbon dioxide laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation at the window hole provided on the surface of the substrate,
Laser drilling was performed under the conditions of an output power of 26 mJ, a pulse width of 100 μs, and the number of shots 4 times. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment.
The wiring width to which the high frequency power IC output is connected is 300μ.
m.
【0045】比較例2
銅箔厚18μm、板厚0.2mmの両面銅箔張ガラスエ
ポキシ積層板MCL−E−679F(日立化成工業株式
会社製、商品名)の表面に所望のエッチングレジストを
形成し、不要な銅箔をエッチング除去して、所望の回路
パターンを有するコア回路基板を作製した。この回路板
の回路表面には、次亜塩素酸ナトリウムを主成分とする
黒化処理と、ジメチルアミノボランを主成分とする還元
処理によって、粗化処理を行った。Comparative Example 2 A desired etching resist was formed on the surface of a double-sided copper foil-clad glass epoxy laminate MCL-E-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 18 μm and a plate thickness of 0.2 mm. Then, unnecessary copper foil was removed by etching to produce a core circuit board having a desired circuit pattern. The circuit surface of this circuit board was roughened by blackening treatment containing sodium hypochlorite as a main component and reduction treatment containing dimethylaminoborane as a main component.
【0046】(1)厚み9μmの銅箔STD/GTS
(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名)、
(2)厚み100μmのフィラー入りガラスエポキシプ
リプレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、
商品名)、(3)コア回路基板、(4)厚み100μm
のフィラー入りガラスエポキシプリプレグGEA−67
9F、(5)厚み9μmの銅箔STD/GTSの順に重
ね、温度170℃、圧力2.5MPa、加熱加圧時間6
0分のプレス条件で積層一体化した。この基板の表面に
所望のエッチングレジストを形成し、不要な銅箔をエッ
チング除去して、所望の箇所にφ0.15mmの窓穴を
形成した。この基板表面に設けた窓穴の箇所に三菱電機
株式会社製ML505GT型炭酸ガスレーザを用いて、
出力パワー26mJ、パルス幅100μs、ショット数
4回の条件でレーザ穴明けを行った。その後の多層配線
板プロセス、実装プロセスは実施例1に準じて行った。
高周波パワーIC出力部が接続される配線幅は180μ
mとした。(1) Copper foil STD / GTS with a thickness of 9 μm
(Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. product name),
(2) Glass epoxy prepreg with a thickness of 100 μm GEA-679F (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.,
(Trade name), (3) core circuit board, (4) thickness 100 μm
Filled Glass Epoxy Prepreg GEA-67
9F, (5) copper foil STD / GTS having a thickness of 9 μm are stacked in this order, temperature 170 ° C., pressure 2.5 MPa, heating and pressurizing time 6
The layers were integrated under a pressing condition of 0 minutes. A desired etching resist was formed on the surface of this substrate, unnecessary copper foil was removed by etching, and a window hole of φ0.15 mm was formed at a desired position. Using a ML505GT type carbon dioxide laser manufactured by Mitsubishi Electric Corporation at the window hole provided on the surface of the substrate,
Laser drilling was performed under the conditions of an output power of 26 mJ, a pulse width of 100 μs, and the number of shots 4 times. Subsequent multilayer wiring board processes and mounting processes were performed according to the first embodiment.
The wiring width to which the high frequency power IC output section is connected is 180μ
m.
【0047】試験方法は以下の通りである。
(特性インピーダンス)特性インピーダンス測定は、T
DR(Time Domain Reflector)
機能付き高速回路用デジタイジングオシロスコープシス
テム83480A/5450A/54753A(アジレ
ントテクノロジー株式会社製、商品名)に50Ω同軸ケ
ーブルSUCOFLEX104/100(SUHNER
社製、商品名)を介して高周波信号測定プローブMIC
ROPRPBE ACP50(GSG250型、Cas
cade社、商品名)に接続した測定システムを用い
た。高周波パワーIC出力部が接続される配線と同じ配
線幅の評価配線を多層配線板上に予め作製しておき、こ
の評価配線の測定端子に前述プローブを接触させて反射
特性を測定した。この結果から内部演算機能を用いて特
性インピーダンスを算出した。評価配線の長さは50m
mとした。The test method is as follows. (Characteristic impedance) Characteristic impedance measurement is T
DR (Time Domain Reflector)
50Ω coaxial cable SUCOFLEX104 / 100 (SUHNER) for digitizing oscilloscope system 83480A / 5450A / 54753A (manufactured by Agilent Technologies, Inc.) for high-speed circuits with functions
High-frequency signal measurement probe MIC
ROPRPBE ACP50 (GSG250 type, Cas
A measuring system connected to Cade Inc., trade name) was used. Evaluation wiring having the same wiring width as the wiring to which the high-frequency power IC output section is connected was prepared in advance on a multilayer wiring board, and the above-mentioned probe was brought into contact with the measurement terminal of this evaluation wiring to measure the reflection characteristics. From this result, the characteristic impedance was calculated using the internal calculation function. Evaluation wiring length is 50m
m.
【0048】(伝送損失量)伝送損失量測定は、ネット
ワークアナライザ8753ES(アジレントテクノロジ
ー株式会社製、商品名)に50Ω同軸ケーブルSUCO
FLEX104/100(SUHNER社製、商品名)
を介して高周波信号測定プローブMICROPRPBE
ACP50(GSG250型、Cascade社、商
品名)に接続した測定システムを用いた。特性インピー
ダンス測定と同じ評価配線を用い、伝送特性であるS2
1を測定して周波数が1GHzにおける伝送損失量を算
出した。(Transmission loss amount) The transmission loss amount was measured by using a network analyzer 8753ES (trade name, manufactured by Agilent Technology Co., Ltd.) and a 50Ω coaxial cable SUCO.
FLEX104 / 100 (made by SUHNER, trade name)
High frequency signal measurement probe MICROPRPBE via
A measurement system connected to ACP50 (GSG250 type, Cascade company, trade name) was used. Using the same evaluation wiring as the characteristic impedance measurement, S2 which is the transmission characteristic
1 was measured to calculate the amount of transmission loss at a frequency of 1 GHz.
【0049】(接続信頼性試験)100個の非貫通穴と
それを繋ぐ配線パターンからなる評価パターンを予め多
層配線板内に作製しておき、これを試験片とした。気相
で行う熱衝撃試験機を用い、試験条件は、−55℃の低
温雰囲気に15分間放置し、その後125℃の高温雰囲
気に15分間放置する工程を1サイクルとした。低温雰
囲気から高温雰囲気に変わるとき、及びその逆のときに
は、室温雰囲気に5分間放置した。100サイクル毎に
接続部の導通抵抗を測定し、初期値から10%以上上昇
したところを終点とした。(Connection Reliability Test) An evaluation pattern consisting of 100 non-through holes and wiring patterns connecting the holes was prepared in advance in a multilayer wiring board and used as a test piece. Using a thermal shock tester conducted in a gas phase, the test conditions were a step of leaving the sample in a low temperature atmosphere of -55 ° C for 15 minutes and then in a high temperature atmosphere of 125 ° C for 15 minutes, which was one cycle. When changing from a low temperature atmosphere to a high temperature atmosphere and vice versa, the sample was left to stand in a room temperature atmosphere for 5 minutes. The conduction resistance of the connection portion was measured every 100 cycles, and the point where the resistance increased by 10% or more from the initial value was taken as the end point.
【0050】[0050]
【表2】 [Table 2]
【0051】実施例1〜10は、いずれも、最外配線層
の配線幅が300μm以上かつ最外配線層とその第2配
線層との絶縁距離が150μm以上であることを特徴と
する多層配線板である。これらを用いた実装基板はいず
れも特性インピーダンスが45Ωを超えており、伝送損
失も0.4dBに満たず、電気特性に優れている。ま
た、接続信頼性においても何れも1000回を超え、優
れている。特に、フィラー入りガラスエポキシプリプレ
グを用いた実施例1、実施例4、実施例7は接続信頼性
が2000回を超えており、特に優れている。また、実
施例10と比較すると実施例1〜9は、多層配線板の製
造プロセスが短く、経済性に優れている。In each of Examples 1 to 10, the wiring width of the outermost wiring layer is 300 μm or more and the insulation distance between the outermost wiring layer and its second wiring layer is 150 μm or more. It is a plate. The mounting boards using these all have a characteristic impedance of over 45Ω and a transmission loss of less than 0.4 dB, and are excellent in electrical characteristics. In addition, the connection reliability is excellent, exceeding 1000 times. In particular, Examples 1, 4, and 7 using the glass epoxy prepreg containing the filler have a connection reliability of more than 2000 times and are particularly excellent. Further, compared with Example 10, Examples 1 to 9 have a short manufacturing process of the multilayer wiring board and are excellent in economic efficiency.
【0052】また、比較例1は、最外配線層とその第2
配線層との絶縁距離が100μmと薄いため特性インピ
ーダンスが低い。そのために信号反射が起こり、伝送損
失量が大きい。比較例2は、最外配線層とその第2配線
層との絶縁距離が100μmであるが配線幅が180μ
mと細いために特性インピーダンスが45Ωを超える。
しかし、配線幅を細くしたため、導体損失量が増加し、
伝送損失量が大きい。In Comparative Example 1, the outermost wiring layer and its second
Since the insulation distance from the wiring layer is as thin as 100 μm, the characteristic impedance is low. Therefore, signal reflection occurs and the amount of transmission loss is large. In Comparative Example 2, the insulation distance between the outermost wiring layer and the second wiring layer is 100 μm, but the wiring width is 180 μm.
Since it is as thin as m, the characteristic impedance exceeds 45Ω.
However, because the wiring width is made thinner, the amount of conductor loss increases,
The amount of transmission loss is large.
【0053】[0053]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によって、
特性インピーダンスが45Ω以上であり、高周波におけ
る伝送損失量の小さな多層配線板を提供することができ
る。As described above, according to the present invention,
It is possible to provide a multilayer wiring board having a characteristic impedance of 45Ω or more and a small amount of transmission loss at high frequencies.
【図1】本発明の実施例の一部の構造を示す断面図であ
る。FIG. 1 is a sectional view showing a part of the structure of an embodiment of the present invention.
1.ビルドアップ絶縁層、 2.コア基板層 3.非貫通穴 4.300μm以上の導体配線 5.300μm未満の導体配線 6.グランド層 1. Build-up insulation layer, 2. Core substrate layer 3. Non-through hole 4. Conductor wiring of 300 μm or more 5. Conductor wiring of less than 300 μm 6. Ground layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/00 H05K 3/00 N (72)発明者 渡辺 悦男 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 鴨志田 正志 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 Fターム(参考) 5E346 AA02 AA12 AA15 AA22 AA32 AA43 AA51 BB02 BB11 BB13 BB15 CC04 CC08 CC09 DD02 DD12 DD23 DD32 EE06 EE09 EE13 FF01 FF04 FF45 GG15 GG17 GG22 GG28 HH03 HH11 HH25 HH26 HH31 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05K 3/00 H05K 3/00 N (72) Inventor Etsuo Watanabe 1500 Ogawa, Shimodate City, Ibaraki Prefecture Hitachi Chemical Co., Ltd. (72) Inventor, Masashi Kamoshida, 1500 Ogawa, Ogawa, Shimodate-shi, Ibaraki Hitachi Chemical Co., Ltd. Research Institute F-term (reference) 5E346 AA02 AA12 AA15 AA22 AA32 AA43 AA51 BB02 BB11 BB13 BB15 CC04 CC08 CC09 DD02 DD12 DD23 DD32 EE06 EE09 EE13 FF01 FF04 FF45 GG15 GG17 GG22 GG28 HH03 HH11 HH25 HH26 HH31
Claims (12)
層と前記配線層間を電気的に接続する導体化された非貫
通穴を有する多層配線板であり、かつ300μm以上の
幅を有する配線が最外配線層に少なくとも形成され、最
外配線層と前記非貫通穴を介して設けられた配線層の絶
縁距離が150μm以上であることを特徴とする多層配
線板。1. A multi-layer wiring board having a plurality of wiring layers each composed of a plurality of insulating layers and conductors and a non-through hole made into a conductor for electrically connecting the wiring layers, and a wiring having a width of 300 μm or more. Is formed on at least the outermost wiring layer, and the insulation distance between the outermost wiring layer and the wiring layer provided through the non-through hole is 150 μm or more.
の幅を持つ配線の特性インピーダンスが45Ω以上75
Ω以下であることを特徴とする請求項1記載の多層配線
板。2. The characteristic impedance of a wiring having a width of 300 μm or more formed in the outermost wiring layer is 45Ω or more 75
The multilayer wiring board according to claim 1, which has an Ω or less.
あることを特徴とする請求項1乃至請求項2記載の多層
配線板。3. The multilayer wiring board according to claim 1, wherein the non-through hole has an aspect ratio of 1 or more.
あることを特徴とする請求項1〜3記載の多層配線板。4. The multilayer wiring board according to claim 1, wherein the non-through hole has a hole diameter of 150 μm or less.
材で補強された樹脂であることを特徴とする請求項1〜
4記載の多層配線板。5. The insulating layer adjacent to the outermost wiring layer is a resin reinforced with a glass base material.
4. The multilayer wiring board described in 4.
機フィラーが添加されていることを特徴とする請求項5
に記載の多層配線板。6. An inorganic filler is added to the resin reinforced with the glass base material.
The multilayer wiring board described in.
加された無機フィラーがシリカであることを特徴とする
請求項6に記載の多層配線板。7. The multilayer wiring board according to claim 6, wherein the inorganic filler added to the resin reinforced with the glass base material is silica.
における誘電率が5以下であることを特徴とする請求項
1〜7に記載の多層配線板。8. A 1 GHz GHz insulating layer adjacent to the outermost wiring layer
The multilayer wiring board according to any one of claims 1 to 7, wherein the dielectric constant is 5 or less.
ったことを特徴とする請求項1〜8に記載の多層配線
板。9. The multilayer wiring board according to claim 1, wherein the non-through hole is formed by laser light irradiation.
全面または一部に残されていることを特徴とする請求項
9に記載の多層配線板。10. The multilayer wiring board according to claim 9, wherein the metal foil is left on the entire surface or a part of the surface of the substrate at the time of laser light irradiation.
に900MHz以上の周波数で動作する高周波半導体チ
ップを搭載させたことを特徴とする半導体装置。11. A semiconductor device comprising a multi-layer wiring board according to claim 1 mounted with a high-frequency semiconductor chip operating at a frequency of 900 MHz or higher.
とを特徴とする無線電子装置。12. A wireless electronic device comprising the semiconductor device according to claim 11.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001397132A JP2003198148A (en) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | Multilayer wiring board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001397132A JP2003198148A (en) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | Multilayer wiring board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003198148A true JP2003198148A (en) | 2003-07-11 |
Family
ID=27603018
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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|---|---|
| JP (1) | JP2003198148A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7692103B2 (en) | 2003-11-18 | 2010-04-06 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Wiring substrate and manufacturing process of the same |
-
2001
- 2001-12-27 JP JP2001397132A patent/JP2003198148A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7692103B2 (en) | 2003-11-18 | 2010-04-06 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Wiring substrate and manufacturing process of the same |
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