JP2003014624A - 吸収スペクトルの検量線作成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 ノイズ成分を修正し得る吸収スペクトルの検
量線作成方法を提供する。 【解決手段】 ノイズ成分を含む吸収スペクトルより検
量線を作成する吸収スペクトルの検量線作成方法であっ
て、物質の濃度ゼロから各所定濃度までの各受光スペク
トルを採取し、ノイズ成分を濃度ゼロの受光スペクトル
より小さい任意の仮ノイズ成分量として仮設定し、仮ノ
イズ成分量を介して各所定濃度の吸光度を算出し、各所
定濃度と吸光度の関係が直線に従うとして線形回帰法に
より相関係数を求め、続いて仮ノイズ成分量を変えるこ
とにより同様の処理を繰り返して他の相関係数を求め、
各仮ノイズ成分量における相関係数から最も大きいもの
を選択し、選択された相関係数の情報により検量線を作
成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、定量分析に用いる
吸収スペクトルの検量線作成方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、吸収スペクトルを用いて物質の
定量分析を行う際には、ランベルトベールの法則により
濃度と吸光度が比例することから、予め各所定濃度にお
ける受光スペクトル（受光強度もしくは受光面積）を測
定して各吸光度を求め、各所定濃度と各吸光度により検
量線を作成し、濃度が不明な物質の場合には吸光度を測
定することにより検量線に当てはめて定量している。

【０００３】実際にガスの吸収分析における波長２１０
ｎｍのＳＯ_２の検量線を例に示すと、検量線は、図１１
に示す如く、高濃度部分で検量線の傾きが水平方向にな
るよう飽和し、ランベルトベールの法則に従わないよう
になっている。

【０００４】このランベルトベールの法則に従わない原
因の一つはノイズ成分によるものと考えられており、ノ
イズ成分には検出器に不要の迷光が入り込む迷光ノイズ
があり、図１２に示す如く、分光器を使用しない分光分
析例の場合には、迷光１は光源２より筐体からの反射
光、散乱光等の原因によって生じ、サンプル３を通過す
ることなく検出器４に入り込んで測定に影響を与えてい
る。又、図１３に示す如く、サンプル６の後側に分光器
７を備えた場合には、迷光８は光源９より分光器７の中
での散乱により生じ、目的波長の光とは別に検出器１０
に入り込んで測定に影響を与えている。ここで、図１
２、図１３中、５，１１は光路、１２は回折格子を夫々
示している。

【０００５】このため、定量分析において検量線を使用
する際には、直線上の狭い部分のみを使用したり、検量
線範囲を分割する種々の方法が採用されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ノイズ
成分の原因となっている迷光１，８は装置ごとに異なる
ため、同じ物質の検量線でも装置ごとに検量線が異な
り、光学系の汚れや光源の劣化、受光器の老朽等によっ
ても迷光１，８のノイズ量が変化するため、同じ装置で
も測定ごとに検量線が異なるという問題があった。又、
吸光係数は物質固有の物理定数であるにもかかわらず、
迷光１，８のノイズ成分が存在する条件では正確に測る
ことができないため、高精度でノイズ量が少ない高価な
装置を用いて計測する必要があり、しかも取り扱いや整
備、設置環境等を十分に注意する必要があった。

【０００７】本発明は上述した実情に鑑みてなしたもの
で、ノイズ成分を修正し得る吸収スペクトルの検量線作
成方法を提供することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１は、ノ
イズ成分を含む吸収スペクトルより検量線を作成する吸
収スペクトルの検量線作成方法であって、物質の濃度ゼ
ロから各所定濃度までの各受光スペクトルを採取し、前
記ノイズ成分を濃度ゼロの受光スペクトル又は所定濃度
の受光スペクトルより小さい任意の仮ノイズ成分量とし
て仮設定し、前記仮ノイズ成分量を濃度ゼロの受光スペ
クトル及び所定濃度の受光スペクトルから夫々引いて各
所定濃度の吸光度を算出し、各所定濃度と吸光度の関係
が直線に従うとして

【数３】Ｙ＝ａＸ＋ｂ ａ：傾き ｂ：切片 よりＸに濃度、Ｙに吸光度を夫々代入して線形回帰法に
より相関係数を求め、続いて仮ノイズ成分量を変えるこ
とにより同様の処理を繰り返して他の相関係数を求め、
各仮ノイズ成分量における相関係数から最も大きいもの
を選択し、選択された相関係数の情報により検量線を作
成することを特徴とする吸収スペクトルの検量線作成方
法、に係るものである。

【０００９】本発明の請求項２は、ノイズ成分を含む吸
収スペクトルより検量線を作成する吸収スペクトルの検
量線作成方法であって、物質の濃度ゼロから各所定濃度
までの各受光スペクトルを採取し、前記ノイズ成分を濃
度ゼロの受光スペクトル又は所定濃度の受光スペクトル
より小さい任意の仮ノイズ成分量として仮設定し、前記
仮ノイズ成分量を濃度ゼロの受光スペクトル及び所定濃
度の受光スペクトルから夫々引いて各所定濃度の吸光度
を算出し、各所定濃度と吸光度の関係が直線に従うとし
て

【数４】Ｙ＝ａＸ＋ｂ ａ：傾き ｂ：切片 よりＸに濃度、Ｙに吸光度を夫々代入し、線形回帰法を
用いて切片を求め、続いて仮ノイズ成分量を変えること
により同様の処理を繰り返して他の切片を求め、各仮ノ
イズ成分量における切片から最もゼロに近いものを選択
し、選択された切片の情報により検量線を作成すること
を特徴とする吸収スペクトルの検量線作成方法、に係る
ものである。

【００１０】本発明の請求項１は、請求項３に示す如
く、仮設定される仮ノイズ成分量を徐々に増やして処理
を繰返し、仮ノイズ成分量が濃度ゼロの受光スペクトル
又は所定濃度の受光スペクトルを超えた時点で前記処理
を停止し、各仮ノイズ成分量における相関係数から最も
大きいものを選択してもよい。

【００１１】本発明の請求項２は、請求項４に示す如
く、仮設定される仮ノイズ成分量を徐々に増やして処理
を繰返し、仮ノイズ成分量が濃度ゼロの受光スペクトル
又は所定濃度の受光スペクトルを超えた時点で前記処理
を停止し、各仮ノイズ成分量における切片から最もゼロ
に近いものを選択してもよい。

【００１２】本発明の請求項１、２、３又は４は、請求
項５に示す如く、選択された情報により実際のノイズ成
分量を求めて検量線を作成してもよい。

【００１３】本発明の請求項１、２、３又は４は、請求
項６に示す如く、選択された情報により傾きを決定して
検量線を作成してもよい。

【００１４】このように、請求項１又は２によれば、仮
ノイズ成分量を介して線形回帰法から算出された複数の
相関係数もしくは複数の切片により最適な情報を選択し
てノイズ成分を除いた検量線を作成するので、装置が異
なる場合や光学系の汚れや光源の劣化、受光器の老朽等
がある場合であっても正確な直線の検量線を作成し、結
果的にノイズ成分が存在する条件下であっても吸光係数
を正確に測ることができ、且つ高価な装置に変える等の
ハードウェアの変更を不要にすると共に、取り扱いや整
備、設置環境等に払う注意を低減することができる。

【００１５】請求項３又は４の如く、仮設定される仮ノ
イズ成分量を徐々に増やして処理を繰返し且つ所定の条
件下で処理を停止すると、多くの仮ノイズ成分量を設定
するので、線形回帰法による相関係数もしくは切片の数
が多くなり、相関係数の場合には各相関係数から最も大
きいものを一層正確に選択でき、切片の場合には各切片
から最もゼロに近いものを一層正確に選択できる。

【００１６】請求項５の如く、選択された情報により実
際のノイズ成分量を求めて検量線を作成すると、検量線
と共に実際のノイズ成分を算出するので、実際のノイズ
成分を数量化し、測定装置の品質や状態を判別すること
ができる。

【００１７】請求項６の如く、選択された情報により傾
きを決定して検量線を作成すると、相関係数及び切片を
算出した時の傾きを使用し得るので、処理手段を低減し
て迅速に検量線を作成することができる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施例を図面を参照
しつつ説明する。

【００１９】図１は本発明の吸収スペクトルの検量線作
成方法を実施する形態例のフローを示している。

【００２０】本発明の吸収スペクトルの検量線作成方法
を実施する際には、一般の検量線を作成する場合と同様
に、物質の濃度ゼロの場合、及び濃度をｎ１，ｎ２，ｎ
３…（少なくとも３個以上）に変化させた場合の受光ス
ペクトル（受光強度、受光面積）を測定する。

【００２１】この時、測定した受光スペクトルには、ノ
イズ成分の迷光ノイズが含まれており、

【数５】Ｐ＝Ｐｓ＋Ｐｍ Ｐ：測定した受光スペクトル Ｐｓ：物質の受光スペクトル Ｐｍ：迷光ノイズの受光スペクトル となる。

【００２２】このため、一般に吸光度を求める式、

【数６】Ａ＝ｌｏｇ（Ｐｚ／Ｐ） Ａ：吸光度 Ｐｚ：ゼロスペクトル（物質の濃度ゼロの場合の受光ス
ペクトル） Ｐ：測定した受光スペクトル より、迷光ノイズの受光スペクトルを引き、

【数７】 Ａｓ＝ｌｏｇ（（Ｐｚ−ｎＰｍ）／（Ｐ−ｎＰｍ）） Ａｓ：修正した吸光度 Ｐｚ：ゼロスペクトル（物質の濃度ゼロの場合の受光ス
ペクトル） Ｐ：測定した受光スペクトル ｎＰｍ：仮の迷光ノイズの受光スペクトル（仮ノイズ成
分量） に変形する。

【００２３】物質の濃度を変化させて受光スペクトルＰ
を測定した後には、迷光ノイズのノイズ成分を数量化す
るようノイズ成分量設定段階として迷光ノイズをゼロの
仮ノイズ成分量（仮迷光）ｎＰｍに仮設定し、且つ仮ノ
イズ成分量ｎＰｍが濃度ゼロの受光スペクトル又は所定
濃度の受光スペクトルより小さい値であることを確認
し、仮ノイズ成分量ｎＰｍにゼロの仮設定値、各所定濃
度（ｎ１，ｎ２，ｎ３…）の受光スペクトルＰの測定
値、濃度ゼロのゼロスペクトル（受光スペクトル）Ｐｚ
の測定値を［数７］に夫々代入して、各所定濃度に対応
する吸光度Ａｓを算出する。

【００２４】算出された各吸光度と、各所定濃度との関
係はランベルトベールの式

【数８】Ａ＝αｎ Ａ：吸光度 α：吸光係数 ｎ：濃度 に従い、直線の検量線となるので、

【数９】Ｙ＝ａＸ＋ｂ ａ：傾き ｂ：切片 の式に、Ｘに各所定濃度（ｎ１，ｎ２，ｎ３…）の値、
Ｙに各吸光度Ａｓの算出値を代入し、最小二乗法等の線
形回帰法により相関係数ｒ（Ｒ^２）、切片ｂ、傾きａを
求める。

【００２５】ここで、線形回帰法による処理を示すと、
線形回帰法は、採取及び算出した濃度Ｘと吸光度Ｙの複
数組（少くとも三組以上）をＫ個として考える。

【００２６】

【表１】

【００２７】又、ＸとＹの共分散Ｓｘｙは

【数１０】 Ｓｘｙ＝（１／ｋ）Σｘｙ−ａｖｇ_ｘ×ａｖｇ_ｙ このとき、

【数１１】ａ＝Ｓｘｙ／Ｓｘｘ

【数１２】 ｂ＝ａｖｇ_ｙ−Ｓｘｙ×ａｖｇ_ｙ／Ｓｘｘ 又、相関係数ｒの二乗Ｒ^２は

【数１３】Ｒ^２＝Ｓｘｙ^２／（Ｓｘｘ・Ｓｙｙ） であり、この計算値によりｒ（Ｒ^２）が最も大きくなっ
た場合（１に近づいた場合）に濃度Ｘと吸光度Ｙの複数
組が直線上に位置すると判断する。又、ｒ（Ｒ^２）が最
も大きくなったときにはｂ＝０になるのでｂを基準にし
てもよい。なお、線形回帰法において誤差の二乗和が最
小になるｎＰｍを求める場合にはＲ^２が最大になるとは
限らず、ｂ＝０にもならないので適用できない。

【００２８】このような線形回帰法により仮ノイズ成分
量ｎＰｍがゼロにおける相関係数ｒ、切片ｂ、傾きａを
求めた後には、傾きａと共に、相関係数ｒ及び切片ｂの
少くとも一方を仮記憶する。

【００２９】次に、ゼロの仮ノイズ成分量ｎＰｍに所定
の増加量ΔｎＰｍを加えて、図１に示す如く、処理手段
をノイズ成分量設定段階に戻すことによりノイズ成分を
他のノイズ成分量ｎＰｍと仮設定し、他の仮ノイズ成分
量ｎＰｍが濃度ゼロの受光スペクトルＰｚ又は所定濃度
の受光スペクトルＰより小さい値であることを確認す
る。

【００３０】確認した後には、初めに吸光度を求めた処
理と略同様に、他の仮ノイズ成分量ｎＰｍの仮設定値、
各所定濃度（ｎ１，ｎ２，ｎ３…）の受光スペクトルＰ
の測定値、濃度ゼロのゼロスペクトルＰｚの測定値を夫
々［数７］に代入して、各所定濃度に対応する吸光度Ａ
を算出し、且つ、先の線形回帰法により相関係数等を算
出した処理と同様に、他の仮ノイズ成分量ｎＰｍにおけ
る他の相関係数ｒ、他の切片ｂ、他の傾きａを求め、同
様に仮記憶する。

【００３１】続いて、他の仮ノイズ成分量ｎＰｍに更に
増加量ΔｎＰｍを加えて処理手段をノイズ成分量設定段
階に戻すことにより別の仮ノイズ成分量ｎＰｍを仮設定
し、同じ処理を繰り返して、別の仮ノイズ成分量ｎＰｍ
における別の相関係数ｒ、別の切片ｂ、別の傾きａを求
め、同様に仮記憶する。

【００３２】このように仮ノイズ成分量ｎＰｍに徐々に
増加量ΔｎＰｍを加えて、複数の傾きａと共に、複数の
相関係数ｒ及び切片ｂを求めて蓄積し、仮ノイズ成分量
ｎＰｍが濃度ゼロの受光スペクトルＰｚ又は所定濃度の
受光スペクトルＰを超えた時点で処理を停止する。ここ
で、処理を停止する場合は、相関係数ｒの蓄積数もしく
は切片ｂの蓄積数が所定以上になった場合でもよい。

【００３３】処理を停止した後、各仮ノイズ成分量ｎＰ
ｍにおける複数の相関係数ｒの中より相関係数ｒが最も
大きいもの（最も１に近づいたもの）を選択すると共
に、各仮ノイズ成分量ｎＰｍにおける複数の切片ｂの中
から切片ｂが最もゼロに近いものを選択する。ここで、
相関係数ｒ及び切片ｂの選択はどちらか一方でもよい。
又、相関係数ｒが最も大きいものを選択する場合は、Ｒ
^２の極大値を求めるものであり、微分法や山登り法でも
求めることができる。更に、極大になるポイント部分を
詳細に探索するよう極大値近傍の区間のみΔｎＰｍを小
さくしてもよい。更に又、相関係数ｒ及び切片ｂを選択
する場合は、多くの相関係数ｒ及び切片ｂを蓄積せず
に、所定の仮ノイズ成分量ｎＰｍにおける相関係数ｒ及
び切片ｂを求めた時点で、前に仮記憶した相関係数ｒ及
び切片ｂと比較し、常に相関係数ｒが最も大きいもの、
及び切片ｂが最もゼロに近いものを残すようにしてもよ
い。

【００３４】次いで、選択した相関係数ｒ及び切片ｂの
少くとも一方の情報から実際のノイズ成分量Ｐｍを求め
ると共に、線形回帰法により算出された傾きａを決定
し、実際のノイズ成分量Ｐｍを求めた際には、実際のノ
イズ成分量Ｐｍを［数７］に代入して修正した吸光度Ａ
ｓを求め、濃度ｎと、修正した吸光度Ａｓとにより略直
線の検量線を作成する。一方、傾きａを決定した場合に
は、傾きａが吸光係数αになるので原点（ｂ＝０）を通
る傾きａの略直線の検量線を作成する。以下、実際の例
を示す。

【００３５】（実施例１）ＳＯ_２において迷光の仮ノイ
ズ成分量ｎＰｍを変えた場合を検量線により説明する
と、図２に示す如く、仮ノイズ成分量ｎＰｍを変化させ
た場合には、検量線の傾きが立ち上がり、ある値の仮ノ
イズ成分量ｎＰｍで検量線が略直線になることが明らか
である。又、この時の仮ノイズ成分量ｎＰｍを変化させ
た時の仮ノイズ成分量ｎＰｍと相関係数の二乗のＲ^２と
の関係を示すと、図３、図４に示す如く、仮ノイズ成分
量ｎＰｍは所定位置（１５６０付近）に極大がある。こ
こで、図４は図３の極大値近傍の拡大図である。更に、
この時の仮ノイズ成分量ｎＰｍを変化させた時の切片ｂ
の関係を示すと、図５に示す如く、ｂは所定位置でｂ＝
０となる。従って、相関係数Ｒ^２が極大値、ｂがゼロの
位置の場合に、仮ノイズ成分量ｎＰｍは実際のノイズ成
分量Ｐｍ（実際の迷光）になり、実際のノイズ成分量Ｐ
ｍを１５６０〜１５７０と推測し、且つ吸光係数に相当
する傾きａは２１０ｎｍで０．０１４９となる。更に
又、測定した受光スペクトルＰにどの程度ノイズ成分量
Ｐｍが含まれているかを示すと、図６に示す如く、各波
長においてゼロスペクトルＰｚ及び受光スペクトルＰの
下に所定量のノイズ成分量Ｐｍが存在することが明らか
である。

【００３６】（実施例２）同一の装置において意図的に
光学系の調整を行なって実際の迷光のノイズ成分量Ｐｍ
を変えた例を用いて説明すると、図７に示す如く、ノイ
ズ成分量Ｐｍを含む検量線は、迷光のノイズ成分量Ｐｍ
の大きさに伴って湾曲が大きくなり、且つ傾きが変化し
ている。又、図７の検量線より各ノイズ成分量Ｐｍを取
り除くと、図８の迷光大（ノイズ成分大）、図９の迷光
中（ノイズ成分中）、図１０の迷光小（ノイズ成分小）
に示す如く、検量線は、迷光の大きさ（ノイズ成分量の
大きさ）にかかわらず、略直線になり、傾きも略一定に
なることが明らかである。

【００３７】このように、仮ノイズ成分量ｎＰｍを介し
て線形回帰法から算出された複数の相関係数ｒもしくは
複数の切片ｂにより最適な情報を選択して実際のノイズ
成分Ｐｍを除いた検量線を作成するので、装置が異なる
場合や光学系の汚れや光源の劣化、受光器の老朽等があ
る場合であっても正確な直線の検量線を作成し、結果的
にノイズ成分が存在する条件下であっても吸光係数を正
確に測ることができ、且つ高価な装置に変える等のハー
ドウェアの変更を不要にすると共に、取り扱いや整備、
設置環境等に払う注意を低減することができる。

【００３８】仮設定される仮ノイズ成分量ｎＰｍを徐々
に増加量ΔｎＰｍを増やして処理を繰返し且つ所定の条
件下で処理を停止すると、多くの仮ノイズ成分量ｎＰｍ
を設定するので、線形回帰法による相関係数ｒもしくは
切片ｂの数が多くなり、相関係数ｒの場合には各相関係
数から最も大きいものを一層正確に選択でき、切片ｂの
場合には各切片から最もゼロに近いものを一層正確に選
択できる。

【００３９】選択された情報により実際のノイズ成分量
Ｐｍを求めて検量線を作成すると、検量線と共に実際の
ノイズ成分を算出するので、実際のノイズ成分を数量化
し、測定装置の品質や状態を判別することができる。

【００４０】選択された情報により傾きａを決定して検
量線を作成すると、相関係数ｒ及び切片ｂを算出した時
の傾きを使用し得るので、処理手段を低減して迅速に検
量線を作成することができる。

【００４１】なお、本発明の吸収スペクトルの検量線作
成方法は上述した実施例のみに限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更
を加え得ることは勿論である。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の吸収スペ
クトルの検量線作成方法によれば、下記の如き、種々の
優れた効果を奏し得る。

【００４３】Ｉ）請求項１又は２によれば、仮ノイズ成
分量を介して線形回帰法から算出された複数の相関係数
もしくは複数の切片により最適な情報を選択してノイズ
成分を除いた検量線を作成するので、装置が異なる場合
や光学系の汚れや光源の劣化、受光器の老朽等がある場
合であっても正確な直線の検量線を作成し、結果的にノ
イズ成分が存在する条件下であっても吸光係数を正確に
測ることができ、且つ高価な装置に変える等のハードウ
ェアの変更を不要にすると共に、取り扱いや整備、設置
環境等に払う注意を低減することができる。

【００４４】ＩＩ）請求項３又は４の如く、仮設定され
る仮ノイズ成分量を徐々に増やして処理を繰返し且つ所
定の条件下で処理を停止すると、多くの仮ノイズ成分量
を設定するので、線形回帰法による相関係数もしくは切
片の数が多くなり、相関係数の場合には各相関係数から
最も大きいものを一層正確に選択でき、切片の場合には
各切片から最もゼロに近いものを一層正確に選択でき
る。

【００４５】ＩＩＩ）請求項５の如く、選択された情報
により実際のノイズ成分量を求めて検量線を作成する
と、検量線と共に実際のノイズ成分を算出するので、実
際のノイズ成分を数量化し、測定装置の品質や状態を判
別することができる。

【００４６】ＩＶ）請求項６の如く、選択された情報に
より傾きを決定して検量線を作成すると、相関係数及び
切片を算出した時の傾きを使用し得るので、処理手段を
低減して迅速に検量線を作成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の吸収スペクトルの検量線作成方法を実
施する形態例を示すフローである。

【図２】ＳＯ_２において迷光の仮ノイズ成分量を変えた
検量線を示す図である。

【図３】図２において仮ノイズ成分量を変化させた時の
仮ノイズ成分量と相関係数の二乗値との関係を示す図で
ある。

【図４】図３の極大値近傍を示す拡大図である。

【図５】図２において仮ノイズ成分量を変化させた時の
切片の関係を示す図である。

【図６】測定した受光スペクトルにどの程度ノイズ成分
量が含まれているかを示す図である。

【図７】同一の装置において意図的に光学系の調整を行
なって実際の迷光のノイズ成分量を変えた検量線の例を
示す図である。

【図８】図７の迷光大（ノイズ成分大）の検量線におい
て各ノイズ成分量を取り除いた検量線を示す図である。

【図９】図７の迷光中（ノイズ成分中）の検量線におい
て各ノイズ成分量を取り除いた検量線を示す図である。

【図１０】図７の迷光小（ノイズ成分小）の検量線にお
いて各ノイズ成分量を取り除いた検量線を示す図であ
る。

【図１１】従来の波長２１０ｎｍのＳＯ_２の検量線を示
す図である。

【図１２】非分散分光分析の場合における迷光を示す概
略図である。

【図１３】分光器使用の分光分析の場合における迷光を
示す概略図である。

【符号の説明】

Ａｓ 吸光度 Ｐ 受光スペクトル Ｐｍ 実際のノイズ成分量 Ｐｚ ゼロスペクトル Ｒ^２ 相関係数 ａ 傾き ｂ 切片 ｎ 濃度 ｎＰｍ 仮ノイズ成分量 ｒ 相関係数

フロントページの続き (72)発明者 小林 健 東京都江東区豊洲三丁目１番15号 石川島 播磨重工業株式会社東京エンジニアリング センター内 (72)発明者 八木 武人 東京都江東区豊洲三丁目１番15号 石川島 播磨重工業株式会社東京エンジニアリング センター内 (72)発明者 小原 正孝 東京都江東区豊洲三丁目２番16号 石川島 播磨重工業株式会社東京エンジニアリング センター技術開発本部内 Ｆターム(参考） 2G059 AA01 EE01 EE12 MM12

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ノイズ成分を含む吸収スペクトルより検
   量線を作成する吸収スペクトルの検量線作成方法であっ
   て、 物質の濃度ゼロから各所定濃度までの各受光スペクトル
   を採取し、前記ノイズ成分を濃度ゼロの受光スペクトル
   又は所定濃度の受光スペクトルより小さい任意の仮ノイ
   ズ成分量として仮設定し、前記仮ノイズ成分量を濃度ゼ
   ロの受光スペクトル及び所定濃度の受光スペクトルから
   夫々引いて各所定濃度の吸光度を算出し、各所定濃度と
   吸光度の関係が直線に従うとして 【数１】Ｙ＝ａＸ＋ｂ ａ：傾き ｂ：切片 よりＸに濃度、Ｙに吸光度を代入して線形回帰法により
   相関係数を求め、続いて仮ノイズ成分量を変えることに
   より同様の処理を繰り返して他の相関係数を求め、各仮
   ノイズ成分量における相関係数から最も大きいものを選
   択し、選択された相関係数の情報により検量線を作成す
   ることを特徴とする吸収スペクトルの検量線作成方法。
2. 【請求項２】 ノイズ成分を含む吸収スペクトルより検
   量線を作成する吸収スペクトルの検量線作成方法であっ
   て、 物質の濃度ゼロから各所定濃度までの各受光スペクトル
   を採取し、前記ノイズ成分を濃度ゼロの受光スペクトル
   又は所定濃度の受光スペクトルより小さい任意の仮ノイ
   ズ成分量として仮設定し、前記仮ノイズ成分量を濃度ゼ
   ロの受光スペクトル及び所定濃度の受光スペクトルから
   夫々引いて各所定濃度の吸光度を算出し、各所定濃度と
   吸光度の関係が直線に従うとして 【数２】Ｙ＝ａＸ＋ｂ ａ：傾き ｂ：切片 よりＸに濃度、Ｙに吸光度を夫々代入し、線形回帰法を
   用いて切片を求め、続いて仮ノイズ成分量を変えること
   により同様の処理を繰り返して他の切片を求め、各仮ノ
   イズ成分量における切片から最もゼロに近いものを選択
   し、選択された切片の情報により検量線を作成すること
   を特徴とする吸収スペクトルの検量線作成方法。
3. 【請求項３】 仮設定される仮ノイズ成分量を徐々に増
   やして処理を繰返し、仮ノイズ成分量が濃度ゼロの受光
   スペクトル又は所定濃度の受光スペクトルを超えた時点
   で前記処理を停止し、各仮ノイズ成分量における相関係
   数から最も大きいものを選択する請求項１記載の吸収ス
   ペクトルの検量線作成方法。
4. 【請求項４】 仮設定される仮ノイズ成分量を徐々に増
   やして処理を繰返し、仮ノイズ成分量が濃度ゼロの受光
   スペクトル又は所定濃度の受光スペクトルを超えた時点
   で前記処理を停止し、各仮ノイズ成分量における切片か
   ら最もゼロに近いものを選択する請求項２記載の吸収ス
   ペクトルの検量線作成方法。
5. 【請求項５】 選択された情報により実際のノイズ成分
   量を求めて検量線を作成する請求項１、２、３又は４記
   載の吸収スペクトルの検量線作成方法。
6. 【請求項６】 選択された情報により傾きを決定して検
   量線を作成する請求項１、２、３又は４記載の吸収スペ
   クトルの検量線作成方法。