JP2003006864A - 光ディスク装置及び光ディスク記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＰＲＭＬ信号処理方式の光ディスク装置に対
しても、小規模な構成で、適正な記録補償量が得られる
光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク上にレーザビームを照射し
て、試書データを所定領域へ試し書きし、次にこの試し
書きを読み取る試書機構２１，２２，２３，ＰＵ，１１
〜１４と、読み取られた再生データＳに基づき記録処理
のための記録波形パルスの補償量を決定する補償量コン
トロール回路２０と、書き込みデータＲと決定された補
償量に基づいて記録波形パルスＰを生成する記録パルス
制御回路２１と、これに応じて発生したレーザビームを
光ディスクの記録領域に照射して書き込みデータＲを記
録する記録機構２１，２２，ＰＵとを有する光ディスク
装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光ディスク
装置におけるレーザビームの波形補償方式に関し、特に
ＰＲＭＬ信号処理を伴う場合の波形補償方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近、ＤＶＤ（Digital Versatile Dis
c）等の光ディスクに対する記録・再生処理を行う光デ
ィスク装置が広く普及してきており、様々な仕様での開
発・製造がなされている。このような中で例えば、光デ
ィスク一枚一枚の特性に応じて記録特性を異ならせる記
録波形パルスの補償技術についても、一層の高性能化が
望まれている。

【０００３】光ディスク装置において高密度のマーク長
記録を行なう場合、隣接マーク間での熱干渉によって、
記録状態に悪影響が及ぼされる。これへの対策として、
特開２０００−９０４３６号公報では、次のような技術
が開示されている。すなわち、光ディスクから記録に関
する情報（記録マークの前後スペースに関連する２値化
信号等）を再生し、再生された情報に基づきディスクに
対する記録パラメータ（記録波形前後パルスの位置／位
相、幅あるいは高さに関係する波形補正量）を算出す
る。算出された記録パラメータに基づき記録データＲＤ
の記録波形パルスＲＷＰを生成する。生成された記録波
形によって、ディスクに記録を行なうことで、熱干渉の
影響を低減させるものである。

【０００４】又更に、特開２０００−２００４１８号公
報においては、以下のような工夫がなされている。すな
わち、書き込み可能な光ディスクから、マーク長とスペ
ース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて
記録パルスの位置を特定した記録パルス標準条件を読み
出し、この記録パルス標準条件で試し書きを行なう。そ
して、記録パルス標準条件を一律または個別的に変化さ
せ、最適な記録パルス条件を求め、ジッタの低減を図る
ものである。

【０００５】又更に、「Matsushita Technical Journal
Vol. 45 NO.6 Dec. 1999 P.72」においては、以下の
ような工夫が開示されている。すなわち、自己マーク長
および前スペース長の組合せごとにレーザ照射開始位置
を変化させるマーク前エッジ補償動作と、自己マーク長
および後スペース長の組合せごとにレーザ照射終了位置
を変化させるマーク後エッジ補償動作を行う。そして、
マークエッジのジッタが最小となるレーザ照射位置を探
索し、テーブル値として決定しこの値を用いて記録補償
を行うものである。

【０００６】従来の光ディスク装置において、本発明の
背景となる熱干渉の影響と対策について、以下に詳述す
る。相変化記録方式を利用した情報記録媒体にマーク長
記録を行う場合、記録密度が高くなって隣接マークとの
間隔が小さくなると、相変化によって媒体に記録するた
めのレーザ加熱によって、隣接マーク間において熱干渉
が生じる。このために、記録したマークのエッジの位置
にずれが生じる。このエッジのずれたマークを再生した
場合、再生信号に歪が生じて読み取りエラー率が悪化す
る。

【０００７】マークを記録するレーザ光は、図２２に示
すように、マルチパルスと呼ばれるパルス列に分割され
て照射される。図２２は、光ディスク装置において用い
られるマルチパルスの例を示す波形図である。熱干渉を
回避するため、マークを記録するマルチパルスの先頭の
パルスの幅は、記録されるマーク長とマークの前のスペ
ースの関係で変化させる。同様に、マークを記録するマ
ルチパルスの最終パルスの幅を、記録されるマーク長と
マークの後のスペースの関係で変化させる。これによっ
て、熱干渉によるマークのずれ分を予め補正して記録す
る。補正量（すなわち、記録補償量）は、マーク長と前
後のスペースの組み合わせによって違う値を取り得るの
で、図２３に示すようなテーブルを用いて記録補償量を
決める。このテーブルにおいて、Ｔはチャネルクロック
ＣＬＫの周期である。

【０００８】実際の装置では、この記録補償を行うため
の条件を収めたテーブルは、装置またはディスクの特定
の領域に記憶されているが、量産時の特性のばらつきや
環境の変化などにより、記憶されている記録補償量が適
正値であるとは限らない。そこで、高密度の記録再生型
光ディスク装置では、新たな記録媒体に情報を記録する
場合は、試し書きによって適正な記録補償量になるよう
にテーブルの値を更新している。

【０００９】図２４は、試し書きによって適正な記録補
償量になるようにテーブルの値を更新するシステムの概
要を示すブロック図である。図２４において、記録／再
生部は、再生時に２値化信号とチャネルクロックＣＬＫ
をパラメータ算出部に供給する。パラメータ算出部は、
供給された２値化信号とチャネルクロックＣＬＫにもと
づいて、マークの前後のエッジのずれを検出し、記録補
償量の算出を行う。得られた補償量は、記録波形内パル
ス位置／幅制御部に供給される。パルス位置／幅制御部
は、外部から記録データを受け取り、供給された補償量
にもとづいて熱干渉が生じないような記録波形を発生す
る。この記録波形が記録／再生部に共有され、記録波形
パルスに対応した記録用レーザ光ビームが記録媒体の相
変化記録層の所定部分に照射される。

【００１０】又、図２５は、図２４に示すシステムの記
録／再生部の内部構成の一例を示すブロック図であり、
図２６は、図２４に示すシステムのパラメータ算出部の
内部構成の一例を示すブロック図である。媒体が挿入さ
れた直後の初期状態においては、記録補償量テーブルの
初期値は、装置またはディスクの特定の領域に記憶され
ていた値になっているが、図２４の記録部により、この
初期補償量を用いてランダム系列のデータを媒体に記録
する。記録されたデータの再生信号に対応する２値化信
号とチャネルクロックＣＬＫがパラメータ算出部内のパ
ターン判別部およびエッジ位相差パルス発生部に入力さ
れる。マークの前エッジと後エッジのずれ量を評価する
ために、エッジ位相差パルス発生部は、２値化信号の立
ち上がりおよび立下りエッジとチャネルクロックＣＬＫ
との位相差に比例した幅のパルスを発生し、パルス幅−
電圧変換部（Ｔ−Ｖ変換）で電圧値に変換する。パラメ
ータ演算部は、パターン判別部で判定された、前スペー
ス長、マーク長、および、後スペース長と位相差に比例
した電圧値を入力し、各エッジとチャネルクロックＣＬ
Ｋとの位相差（＝ジッタ）の平均値を求めることによ
り、記録補償テーブルの値を更新する。

【００１１】更新された記録補償量テーブルの値を用い
た書き込みと、これを再生することによる記録補償テー
ブルの更新は、記録させるマークのジッタの値が所定の
値以下になるまで繰り返される。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来装
置においては、マークエッジのジッタが所定の値以下と
なる記録パルスの位置を記録補償に用いているが、この
方法を高記録密度の大容量ディスク装置で用いられるＰ
ＲＭＬ信号処理方式に用いようとしても、ＰＲＭＬ信号
処理方式がチャネルクロックに同期した離散時間の時刻
における識別点の振幅値で信号処理をする方式であるの
で、従来の信号処理方式における時間方向へのスライス
位置のずれ量である“ジッタ”を評価基準にすることが
できない。したがって、ＰＲＭＬ信号処理方式の記録再
生型ディスク装置では、従来のような適応記録補償のた
めの学習を行わせることができなくなり、ディスク媒体
上に適正な記録マークを形成できないという問題が生じ
る。又更に、記録補償を行うための条件を収めたテーブ
ルを更新するためだけの専用の回路を、再生信号処理回
路とは別に設ける必要があるという問題もある。

【００１３】本発明は、このような問題の解決を意図し
てなされたものであり、ＰＲＭＬ信号処理方式の光ディ
スク装置に対しても、小規模な構成で、適正な記録補償
量が得られる光ディスク装置を提供することを目的とす
る。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は上述した課題を
解決するべく、同心円状又は螺旋状の記録領域を有する
光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
て、前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段
と、前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビー
ムを照射して、所定データを所定領域へ試し書きし、次
に、この試し書きした所定データを読み取る試書手段
と、前記試書手段が読み取った前記所定データに基づ
き、記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定す
る補償量決定手段と、外部から受けた記録データに所定
処理を施し、前記補償量決定手段が決定した前記補償量
に基づいて記録波形パルスを生成し、これに応じて発生
したレーザビームを前記光ディスクの記録領域に照射し
て前記記録データを記録する記録手段とを具備すること
を特徴とする光ディスク装置である。

【００１５】本発明は上述した構成により、マークのエ
ッジの熱干渉によるずれ量を、書き込まれたデータに同
期したクロックでサンプルされた離散時間における再生
信号サンプル点の理想等化値との振幅値のずれ量で評価
するものである。これにより、エッジの時間方向のジッ
タ量を評価する必要がなくなり、ＰＲＭＬ信号処理方式
においても記録補償の条件を収めたテーブルの更新が可
能となる。

【００１６】又更に本発明は、先の補償量決定手段が、
前記試書手段が読み取った前記所定データとこれに対応
するチャネルクロックとを受けこれらの位相差信号を出
力する位相比較手段を有し、この位相差信号に基づき、
記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定するこ
とを特徴とする光ディスク装置である。

【００１７】本発明は上述した構成により、マークエッ
ジのずれ量を評価するための信号をＰＲＭＬ信号処理方
式の位相比較器から供給するものである。これにより、
位相比較器の出力を用いない場合に設ける必要のあっ
た、記録補償量コントロール回路においての、時間方向
の評価を行うための時間方向のサンプルデータを確保し
これを評価するための多くのメモリ領域が不要となる。
これにより記録補償量の制御を行うための回路規模を削
減でき、位相比較器の出力を応用することで小規模な構
成により同等の記録補償量の制御を行うことができる光
ディスク装置を提供することが可能となる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
に係る光ディスク装置を詳細に説明する。

【００１９】＜＜第１の実施形態＞＞第１の実施形態
は、ＰＲＭＬ信号処理方式に対応することができる記録
補償量の制御方法を提示するもので、位相比較器の位相
差出力を用いて記録補償量を決定する光ディスク装置を
提供するものである。

【００２０】＜光ディスク装置及びデータ処理ユニット
の構成＞図１は、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を
用いた光ディスク記録再生装置の一例における再生信号
処理部と書込制御部の一部を示すブロック図、図２は本
発明に係る光ディスク装置の一例の全体の構成を示すブ
ロック図である。

【００２１】（光ディスク装置の構成）図２において、
本発明に係る光ディスク装置Ａは光ディスクＤに対する
データ記録又はデータ再生を行うものである。上記光デ
ィスク装置Ａは、ディスクカートリッジに収納された光
ディスクＤを搬送するトレー３２と、このトレーを駆動
するモータ３３と、光ディスクＤを保持するクランパ３
４と、これにより保持された光ディスクＤを所定回転数
で回転させるスピンドルモータ３５とを有している。更
に、制御部として全体の動作制御を行うＣＰＵ４６と、
この制御動作の基本的なプログラム等を格納するＲＯＭ
４７と、各制御プログラムやアプリケーションデータ等
を書替可能に格納するＲＡＭ４８とが制御バスを介して
接続されている。更にこれらのＣＰＵ４６等の制御部に
それぞれ接続されて、ピックアップＰＵの搬送を行う送
りモータ３６と、ピックアップのフォーカスやトラッキ
ング制御を行うフォーカス／トラッキングアクチュエー
タドライバ／送りモータドライバ４０、更にスピンドル
モータ３５を駆動するスピンドルモータドライバ４１、
トレーモータを駆動するトレーモータドライバ４２がそ
れぞれ設けられている。

【００２２】又更に、ピックアップＰＵに接続され検出
信号を増幅するプリアンプ１１と、サーボアンプ３８，
更にシーク動作を行うためのシーク信号をドライバに供
給するサーボシーク制御ユニット３９とを有している。
更にピックアップＰＵとプリアンプ１１、サーボシーク
制御ユニット３９等に接続され、検出信号及び記録信号
を処理するためのデータ処理ユニット１、この各種処理
に用いるデータを格納するためのＲＡＭ４３が設けられ
ている。このデータ処理ユニット１からの信号を外部装
置との間で送受信するべく、インタフェース制御部４５
がＲＡＭ４４を伴って設けられている。

【００２３】（データ処理ユニットの構成）このような
光ディスク装置において、本発明では図１に示すような
データ処理ユニット１を構成することで、識別方式にデ
ジタル方式を用いた場合でも適切な波形補償機能を可能
としている。すなわち、図１において、ピックアップ・
ユニットＰＵから信号を受けるプリアンプ１１は、アナ
ログ・フィルタ１２に接続され、アナログ・フィルタ１
２はＡ／Ｄコンバータ１３に接続される。更にＡ／Ｄコ
ンバータ１３は、波形等化器であるデジタルＦＩＲフィ
ルタ１４に接続され、これが次に最尤検出器であるビタ
ビ検出器１５に接続され、図示しない後続の信号処理ユ
ニットに接続されている。更に、デジタルＦＩＲフィル
タ１４は、位相比較器１６に再生信号Ｓを供給するべく
接続され、位相比較器１６は、ループ・フィルタ１７，
記録補償量コントロール回路２０にそれぞれ位相差信号
τを供給している。ループ・フィルタ１７は、ＶＦＯ１
８に接続される。ＶＦＯは、チャネルクロックを供給す
るべく、Ａ／Ｄコンバータ１３，ビタビ検出器１５，位
相比較器１６及び記録補償量コントロール回路２０に接
続されている。更に記録補償量コントロール回路は、決
定した記録補償量に応じる制御信号Ｃを供給するべく記
録パルス制御回路２１に接続されている。記録パルス制
御回路２１は、書き込みデータＲが供給され、更に試し
書きデータであるランダムパターン発生部２３に接続さ
れており、更にレーザ駆動回路２２に波形整形した記録
パルス列Ｐを供給すべくレーザ駆動回路２２に接続さ
れ、更にレーザ駆動回路２２から波形補償がなされたレ
ーザが放射されるべく駆動信号がピックアップ・ユニッ
トＰＵへ供給される。

【００２４】（光ディスク装置の動作）このような構成
を有する本発明の実施に設けられる光ディスク装置は、
以下のように光ディスクの再生処理及び記録処理を行
う。すなわち、光ディスクＤが光ディスク装置Ａへ装填
されると、ピックアップＰＵとデータ処理ユニット１を
用いて、光ディスクＤのリードインエリアのエンボスデ
ータゾーン内のコントロールデータゾーンに記録されて
いる光ディスクＤの制御情報が読み取られ、ＣＰＵ４６
に供給されるようになっている。

【００２５】本発明の光ディスク装置Ａでは、ユーザの
操作による操作情報や光ディスク内のコントロールデー
タゾーンに記録されている光ディスクＤの制御情報、現
在のステータス等に基づいて、ＣＰＵ４６の制御下にお
いて、図示しないレーザ制御ユニットによって付勢され
てレーザビームを発生する。

【００２６】発生したレーザビームは、対物レンズ３１
により収束され、ディスクの記録領域へと照射される。
これにより、光ディスクＤの記憶領域にデータが記録さ
れ（マーク列の生成：可変長のマークとマークの間隔
と、可変長の各マークの長さにより光ディスクＤにデー
タが記録される）、或いは、格納されているデータに対
応する反射波が反射されこれが検出されて、このデータ
の再生が行われる。

【００２７】図２ではピックアップＰＵに含まれるレー
ザ制御ユニットは、データ処理ユニット１によってその
設定がセットされるが、その設定は、再生信号Ｓを得る
再生パワー、データを記録する記録パワー及びデータを
消去する消去パワーで異なっている。レーザビームは、
再生パワー、記録パワー及び消去パワーの３つのパワー
でそれぞれ異なるレベルのパワーを有し、それぞれのパ
ワーのレーザビームが発生されるように半導体レーザユ
ニットがレーザ制御ユニットによって付勢される。

【００２８】このレーザ制御ユニットは、図示しない抵
抗とトランジスタにより構成され、電源電圧が抵抗とト
ランジスタと半導体レーザユニットとしての半導体レー
ザに印加されるようになっている。これにより、トラン
ジスタのベース電流により増幅率が異なり、半導体レー
ザ発振器に異なる電流が流れ、強度の異なったレーザビ
ームが発生されるようになっている。ここでは、後に詳
細に説明がなされる本発明の特徴である光ディスク１枚
１枚の特性に応じて記録波形補償がなされ、記録パルス
制御回路２１から出力される記録波形パルスＰに応じて
レーザパワーが発生され、光ディスクへの記録処理がな
されるようになっている。

【００２９】又、光ディスクＤが対物レンズ３１に対向
して配置されるように、この光ディスクＤは、直接或い
はディスクカートリッジに収納されてトレー３２によっ
て装置内に搬送される。このトレー３２を駆動するため
のトレーモータ３３が装置内に設けられている。また、
装填された光ディスクＤは、クランパ３４によって回転
可能にスピンドルモータ３５上に保持され、このスピン
ドルモータ３５によって所定回転数に回転される。

【００３０】ピックアップＰＵは、その内にレーザビー
ムを検出する光検出器（図示せず）を有している。この
光検出器は、光ディスクＤで反射されて対物レンズ３１
を介して戻されたレーザビームを検出する。光検出器か
らの検出信号（電流信号）は、電流／電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）で電圧信号に変換され、この信号は、プリアンプ１
１及びサーボアンプ３４に供給される。プリアンプ１１
からは、ヘッダ部のデータの再生用と記録領域のデータ
の再生用信号がデータ処理ユニット１に出力される。サ
ーボアンプ３４からのサーボ信号（トラックエラー信
号、フォーカスエラー信号）は、サーボシーク制御ユニ
ット３９に出力される。

【００３１】ここで、フォーカスずれ量を光学的に検出
する方法としては、たとえば次のような非点収差法やナ
イフエッジ法がある。

【００３２】非点収差法、すなわち、光ディスクＤの光
反射膜層または光反射性記録膜で反射されたレーザ光の
検出光路に非点収差を発生させる光学素子（図示せず）
を配置し、光検出器上に照射されるレーザ光の形状変化
を検出する方法である。光検出領域は対角線状に４分割
されている。各検出領域から得られる検出信号に対し、
サーボシーク制御ユニット３９内で対角和間の差を取っ
てフォーカスエラー検出信号（フォーカス信号）を得
る。

【００３３】ナイフエッジ法、すなわち、光ディスクＤ
で反射されたレーザ光に対して非対称に一部を遮光する
ナイフエッジを配置する方法である。光検出領域は２分
割され、各検出領域から得られる検出信号間の差を取っ
てフォーカスエラー検出信号を得る。

【００３４】通常、上記非点収差法あるいはナイフエッ
ジ法のいずれかが採用される。

【００３５】光ディスクＤはスパイラル状または同心円
状のトラックを有し、トラック上に情報が記録される。
このトラックに沿って集光スポットをトレースさせて情
報の再生または記録／消去を行う。安定して集光スポッ
トをトラックに沿ってトレースさせるため、トラックと
集光スポットの相対的位置ずれを光学的に検出する必要
がある。

【００３６】トラックずれ検出方法としては一般に、次
の位相差検出法、プッシュプル法、ツインスポット法等
がある。

【００３７】位相差検出（Differential Phase Detecti
on）法、すなわち、光ディスクＤの光反射膜層または光
反射性記録膜で反射されたレーザ光の光検出器上での強
度分布変化を検出する。光検出領域は対角線上に４分割
されている。各検出領域から得られる検出信号に対し、
サーボシーク制御ユニット３９内で対角和間の位相差を
取ってトラックエラー検出信号（トラッキング信号）を
得る。

【００３８】プッシュプル（Push-Pull ）法、すなわち
この方法においては、光ディスクＤで反射されたレーザ
光の光検出器上での強度分布変化を検出する。光検出領
域は２分割され、各検出領域から得られる検出信号間の
差を取ってトラックエラー検出信号を得る。

【００３９】ツインスポット（Twin-Spot ）法、すなわ
ち、半導体レーザ素子と光ディスクＤ間の送光系に回折
素子などを配置して光を複数に波面分割し、光ディスク
Ｄ上に照射する±１次回折光の反射光量変化を検出す
る。再生信号検出用の光検出領域とは別に＋１次回折光
の反射光量と−１次回折光の反射光量を個々に検出する
光検出領域を配置し、それぞれの検出信号の差を取って
トラックエラー検出信号を得る。

【００４０】このようなフォーカス制御及びトラック制
御により、サーボシーク制御ユニット３９からフォーカ
ス信号、トラッキング信号及び送り信号がフォーカス及
びトラッキングアクチュエータドライバ並びに送りモー
タドライバ４０に送られ、このドライバ４０によって対
物レンズ３１がフォーカスサーボ制御され、また、トラ
ッキングサーボ制御される。更に、アクセス信号に応じ
てドライバ４０から付勢信号が送りモータ３６に供給さ
れピックアップＰＵが搬送制御される。

【００４１】又、サーボシーク制御ユニット３９は、デ
ータ処理ユニット１によって制御される。例えば、デー
タ処理ユニット１からアクセス信号がサーボシーク制御
ユニット３９に供給されて送り信号が生成される。

【００４２】又、データ処理ユニット１からの制御信号
でスピンドルモータドライバ４１及びトレーモータドラ
イバ４２が制御され、スピンドルモータ３５及びトレー
モータ３３が付勢され、スピンドルモータ３５が所定回
転数で回転され、トレーモータ３３がトレーを適切に制
御することとなる。

【００４３】データ処理ユニット１に供給されたヘッダ
部のデータに対応する再生信号Ｓは、ＣＰＵ４６に供給
される。これによりＣＰＵ４６は、その再生信号Ｓによ
りヘッダ部のアドレスとしてのセクタ番号を判断し、ア
クセスする（データを記録するあるいは記録されている
データを再生する）アドレスとしてのセクタ番号との比
較を行うようになっている。

【００４４】データ処理ユニット１に供給された記録領
域のデータに対応する再生信号Ｓは、ＲＡＭ４８に必要
なデータが格納され、再生信号Ｓがこのデータ処理ユニ
ット１で処理されてインタフェース制御部４５に供給さ
れ、例えばパーソナルコンピュータ等の外部装置に再生
処理信号が供給される。

【００４５】＜記録補償量の制御方法＞このように記録
・再生処理を行う光ディスク装置であるが、以下に、本
発明の特徴である記録補償量の制御方法について図面を
用いて詳細に説明する。

【００４６】本発明に係る記録補償量の制御方法は、図
１に示されたデータ処理ユニット１内の動作にて説明さ
れるもので、ピックアップ・ユニットＰＵから読み出さ
れた再生信号Ｓは、プリアンプ１１で振幅値を調整され
た後、アナログ・フィルタ１２で高域のノイズを除去さ
れて、Ａ／Ｄコンバータ１３でチャネルクロックＣＬＫ
の周期に同期した離散時間における振幅のサンプル値に
変換される。Ａ／Ｄ変換された再生信号Ｓのサンプル値
系列は、デジタルフィルタ１４で、パーシャルレスポン
ス（ＰＲ）の応答特性に等化され、ビタビ検出器１５で
最尤検出（ＭＬ）されてバイナリ系列に変換される。

【００４７】ビタビ検出器１５から出力されたバイナリ
系列は、図示されない復調器でチャネル変調コードから
ＥＣＣ付のデータ系列に変化され、図示されないエラー
訂正回路により誤り訂正をされた後、インターフェース
を通してパソコン等の上位装置に送られる。

【００４８】ここで、図１において、再生信号Ｓに基づ
いて、チャネルクロックＣＬＫをリカバリ（復旧）する
ために、位相比較器１６は、デジタルフィルタの出力で
あるＰＲ等化された再生信号が入力され、理想ＰＲ等化
波形とデジタルフィルタ出力波形の振幅値のずれから、
ＶＣＯ１８のチャネルクロックＣＬＫと再生信号Ｓとの
位相差τを検出する。検出された位相差τは、ループ・
フィルタ１７を通してＶＣＯ１８に供給され、チャネル
クロックＣＬＫの位相をチャネルクロックＣＬＫと同期
するように制御される。

【００４９】一方、光ディスクへの書き込みデータの記
録処理について、図示されないチャネル変調コードへの
エンコーダから出力された書き込みデータＲのバイナリ
系列が、記録パルス制御回路２１に入力されると、記録
パルス列に変換された後、レーザ駆動回路２２に送ら
れ、光ディスク上に適正な波形報償が施された位置のマ
ークが形成される。これにより、マークのエッジの熱干
渉によるずれ量を、試し書きデータの再生信号Ｓに基づ
いて適正な補償が行われることで、最適なデータ記録処
理を行うことができる。又この時、補償量決定は、位相
比較器１６の位相差出力を利用して行われるので、従来
装置のように時間軸成分の多くのサンプルデータを必要
としないため、回路規模を大幅に縮小することができ
る。

【００５０】（ＰＲＭＬ処理方式）次に、図３を用い
て、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を説明する。図
３は、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を説明するタ
イミングチャートである。

【００５１】図３の（ａ）は、エンコーダから出力され
た書き込みデータのバイナリ系列を示している。図３の
（ｂ）は、記録パルス制御回路２１から出力される記録
パルス列を示している。これらは、図１の記録補償量コ
ントロール回路２０により制御され、図の矢印で示した
ように記録パルスの先頭エッジの位置と最終エッジの位
置を記録補償量に合わせて調整が行われる。図３の
（ｃ）は、書き込みデータに対応した、媒体上に形成さ
れたマークを示している。図３の（ｄ）は、再生信号の
ＰＲ応答に関する説明である。この例では、ＰＲクラス
（パーシャルレスポンスの応答クラス）を、１２２１で
あると仮定している（以下、ＰＲ１２２１と記述す
る）。ＰＲ１２２１応答波形とは、書き込み信号の
（ａ）の“１”に対応する再生応答波形が、チャネルク
ロックＣＬＫの４クロック分にわたり、その値がそれぞ
れ“１”、“２”、“２”、“１”になることを示して
いる。１連の書き込みデータに対応する再生信号をＰＲ
等化した波形は、個々の応答の線形重畳になる。図３の
（ｅ）は、線形重畳により得られるＰＲ等化波形の振幅
値“３”を中心値“０”にするために、値“３”を減じ
た振幅値をプロットした波形である。図３の（ｆ）は、
位相比較器１６、ループ・フィルタ１７、ＶＣＯ１８か
ら構成されるタイミング・リカバリ（復旧）回路により
リカバリ（復旧）された再生信号Ｓに同期したチャネル
クロックＣＬＫを示している。図３の（ｇ）は、図３の
（ｅ）のＰＲ等化信号をビタビ検出器１５で検出した結
果であり、図３の（ａ）の書き込みデータと一致してい
る。

【００５２】（記録補償量の学習）以下、この発明にか
かる記録補償量の学習について詳細に説明する。

【００５３】マークを記録するレーザ光は、図１の記録
パルス制御回路２１によって、図２２に示したようにマ
ルチパルスと呼ばれるパルス列に分割されて照射され
る。熱干渉によるマークのずれ分を予め補正して記録す
るために、マークを記録するマルチパルスの先頭のパル
スの幅は、記録されるマーク長とマークの前のスペース
の関係で変化させられ、同様に、マークを記録するマル
チパルスの最終パルスの幅も記録されるマーク長とマー
クの後のスペースの関係で変化させられる。記録パルス
制御回路２１は、記録補償コントロール部内の、マーク
長と前後のスペースの組み合わせによって変わる記録補
償量を収めたテーブルから補償量を読み出して、所定の
パルスを生成する。

【００５４】ここで、記録するための光ディスクＤが装
填された直後の記録補償量を収めたテーブルは、装置内
のＲＯＭ４７に収められた値、または、光ディスクＤの
特定の領域に記憶されているテーブルから読み出された
値に初期化されている。しかし、量産時の特性のばらつ
きや環境の変化などにより、記憶されている記録補償量
が挿入された光ディスクに対して適正値であるとは限ら
ないため、試し書きによって適正な記録補償量になるよ
うにテーブルの値を更新していく。

【００５５】図１のランダムデータ発生部２３から発生
されたランダムデータをチャネルコードで変調した書き
込みデータＲは、記録パルス制御回路２１により記録パ
ルス列に変換されて光ディスクＤの試し書きのための領
域に書き込まれる。このとき、記録パルス制御回路２１
は、書き込み補償量としてテーブル内の初期値を用いて
記録パルス列を生成する。

【００５６】試し書きされたランダムデータは、すぐに
読み出されて記録補償量を適正値に更新するために評価
される。試し書きデータに限らず、記録再生型光ディス
クＤのデータフォーマットは、図４に示すようなセクタ
フォーマットで記録されている。図４は、本発明に係る
セクタフォーマットを示すセクタフィールドのレイアウ
トの一例を示す図、図５は、本発明に係るＰＲＭＬ信号
処理方式の試し書きの際の信号波形を示すグラフ、図１
０が本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いられる位
相比較器の他の一例を示すブロック図である。

【００５７】ヘッダ部のＩＤを読み出して所望のセクタ
であると確認した後に、データフィールドが読み出され
る。レコーディング・フィールドに書き込まれたデータ
のチャネルクロックＣＬＫは書き込みのタイミングによ
って位相が他の部分とは一致していないので、ＶＦＯパ
ターンの部分で記録されたデータにＶＣＯのクロックを
同期させる。ＶＦＯパターンは、たとえば、８チャネル
クロックＣＬＫを１周期とした単一周波数パターンで、
位相差情報が多く高速に引き込みができるようになって
いる。ＶＦＯパターンでビット同期をとった後に、ＰＳ
パターンでバイト同期が取られてチャネル変調コードが
復調されるが、記録補償量の更新処理ではビット同期ま
で取れていればよく、バイト同期が外れた場合のリシン
ク処理などは、ここでの説明では考慮する必要がないの
で省略する。

【００５８】読み出された試し書きのランダムデータパ
ターンは、図１の位相比較器１６により、マークのエッ
ジのずれ量が、理想ＰＲ等化波形の期待される振幅値と
の振幅値の差として検出される。一例として、図３に示
した波形の、書き込みデータが“０００１１１１１１”
となっている部分のマークエッジについて考える。

【００５９】図５の（ｂ）に示したように、記録された
マークのエッジが点線で示したように図面の左方向にず
れた場合、再生された信号のＰＲ等化波形は、図５の
（ａ）の点線で示したように、チャネルクロックＣＬＫ
に同期している識別点における振幅値がプラス方向にず
れる。同様に、図５の（ｄ）に示したように、記録され
たマークのエッジが点線で示したように、図面の右方向
にずれた場合、再生された信号のＰＲ等化波形は、図５
の（ｃ）の点線で示したように、チャネルクロックＣＬ
Ｋに同期している識別点における振幅値がマイナス方向
にずれる。ＰＲ１２２１等化の信号処理方式で、チャネ
ルの変調コードのｄ制約（（書き込みデータの０または
１の連続する長さの最小値）−１）の値）が“１”また
は“２”の場合（例えば、（１，７）ＲＬＬ変調また
は、８−１６変調）、マークのエッジにおいては、ＰＲ
等化後の振幅値が振幅値０を通過するので、レベル０の
識別点における振幅値のずれを評価することで、マーク
エッジのずれ量を評価することが可能である。

【００６０】本発明の実施形態では、チャネルクロック
ＣＬＫとＶＣＯのクロックとを同期させるための位相誤
差検出処理と、熱干渉によるマークエッジのずれ量の評
価とを同じ位相比較器１６により併用することが可能と
なっている。再生信号を観測しただけでは、個々のマー
クエッジに相当する信号識別点の振幅値のずれが、クロ
ックの位相がずれているために起きているのか、熱干渉
によりマーク位置がずれたために起きているのかを判別
することはできない。ただ、ＶＦＯパターンの部分でＶ
ＣＯクロックの位相合わせは終了しているはずで、その
後の回転変動等に対する追従特性は、ループ・フィルタ
によって十分低域の周波数に抑えられている（＝平均化
されている）。このため、マーク長と前後のスペース長
に依存する個々のマークエッジのずれは、平均化された
ＶＣＯクロックとの位相ずれとして検出しても問題は生
じない。

【００６１】（位相比較器の構成・動作）次に、本発明
に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いられる位相比較器の
説明を詳細に行う。図６は、本発明に係るＰＲＭＬ信号
処理回路に用いられる位相比較器１６の一例を示すブロ
ック図である。

【００６２】図６は一般的な位相差比較器の構成の一例
を示すブロック図であり、又図１０は記録補償コントロ
ール回路２０へ位相差信号τを供給するための配線を備
えた位相比較器の構成の一例を示すブロック図である。
図１０において、ゼロレベル振幅誤差信号、傾き誤差信
号、検出信号がそれぞれ、図６の位相比較器の構成に加
えられて設けられている。

【００６３】ここで、熱干渉によるマークエッジのずれ
量の評価のための振幅ずれ量の検出動作説明に先立っ
て、ＰＲＭＬ信号処理回路における通常の位相比較器１
６の動作をまず説明する。

【００６４】ここでは、ＰＲクラスは、（１，２，２，
１）とし、ｄ制約は１以上であるとする。図６におい
て、振幅値ｙ（ｎ＋１）は、遅延回路１０１に入力さ
れ、その出力である振幅値ｙ（ｎ）は、遅延回路１０２
に供給され、その出力である振幅値ｙ（ｎ−１）が出力
される。

【００６５】遅延回路１０９〜１１０も同様に、入力し
たサンプル値を１サンプリング周期遅らせて出力する手
段であり、閾値判断回路３５３の入力がｇ（ｎ）の場
合、各々の遅延回路１０９〜１１０の出力は、ｇ（ｎ−
１）、ｇ（ｎ−２）となる。

【００６６】ここで、ｇ（ｎ）は、ｎ番目のサンプリン
グ周期においてサンプルされた再生信号の振幅値ｙ
（ｎ）のレベルが、ＰＲ等化後の基準値＋２以上、−
１、０、＋１、−２以下のいずれと見なされるべきかを
表す値である。振幅値が＋２以上であると見なされるべ
きときには“＋１”、振幅値が−１、０、＋１であると
見なされるべきときには“０”、振幅値が−２以下であ
ると見なされるべきときには“−１”の値を取るものと
する。このｇ（ｎ）を判定レベルと呼ぶことにする。

【００６７】本実施形態では、判定レベル０のサンプリ
ング時点の前後の振幅判定値が、振幅の勾配が大きくな
る判定値−１または＋１であるかどうかを調べ、条件が
合致する場合に位相誤差勾配の計算式を条件に応じて切
り替えて値を算出する。

【００６８】より具体的には、判定レベル（ｇ（ｎ）
ｇ（ｎ−１） ｇ（ｎ−２）） の組み合わせが、 （−１ ０ ０ ） （１ ０ ０ ） （−１ ０ １ ） （１ ０ −１） （ ０ ０ １ ） （０ ０ −１） であるような場合に、位相誤差勾配の計算式を条件に応
じて切り替えて値を算出する。

【００６９】閾値判定回路３５３は、選択素子３５２の
出力の値から判定レベルｇ（ｎ）の取るべき値を判定す
る。選択素子３５２は、判定レベルｇ（ｎ−１）の値が
“０”の場合には、加算器３５０の出力である“ｙ（ｎ
＋１）＋ｙ（ｎ）”を選択し、判定レベルｇ（ｎ−１）
の値が“０”以外の場合には、加算器３５１の出力であ
る“ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−１）”を選択する。

【００７０】又図７に、判定レベルｇ（ｎ−１）の値が
“０”以外の場合の波形の遷移の様子を示す。図７は、
本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路における判定レベル
ｇ（ｎ−１）の値が０以外の場合の波形の遷移を説明す
るグラフ、図８は、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路
における判定レベルｇ（ｎ−１）の値が０の場合の波形
の遷移を説明するグラフである。

【００７１】図７の（ａ）と（ｂ）の場合は、ｇ（ｎ−
１）＝−１で、ｙ（ｎ−１）とｙ（ｎ）はともに−２以
下であり、（ｃ）の場合は、ｇ（ｎ−１）＝−１で、ｙ
（ｎ−１）とｙ（ｎ）は、“−２”と“０”であるか
ら、例えば閾値判定手段３５３の−ε＝−２．５とすれ
ば、（ａ）と（ｂ）の場合を判定レベル“−１”、
（ｃ）の場合を判定レベル“０”と判定することができ
る。同様に波形の立下りでも、（ｄ）と（ｅ）の場合
は、判定レベル“＋１”、（ｆ）の場合は判定レベル
“０”とすることができる。

【００７２】図８に、判定レベルｇ（ｎ−１）の値が
“０”の場合の波形の遷移のようすを示す。図８の
（ａ）と（ｂ）の場合は、ｇ（ｎ−１）＝０で、ｙ
（ｎ）とｙ（ｎ＋１）はともに“＋２”以上であり、
（ｃ）の場合は、ｇ（ｎ−１）＝０で、ｙ（ｎ）とｙ
（ｎ＋１）は、“＋１”と“０”であるから、例えば閾
値判定手段３５３のε＝２．５とすれば、（ａ）と
（ｂ）の場合を判定レベル“＋１”、（ｃ）の場合を判
定レベル“０”と判定することができる。同様に波形の
立下りでも、（ｄ）と（ｅ）の場合は、判定レベル“−
１”、（ｆ）の場合は判定レベル“０”とすることがで
きる。

【００７３】位相誤差勾配Δτ１０７は、加算器３８０
により、乗算器３６３と３８１の出力を合算した結果を
判定レベルｇ（ｎ−１）が“０”の場合だけ出力する。

【００７４】乗算器３６３は、ｙ（ｎ−１）と係数決定
手段３６４の出力の積を出力する。

【００７５】乗算器３８１は、係数決定手段３８３の出
力と加算器３８２の出力との積を出力する。加算器３８
２は、ｙ（ｎ）とｙ（ｎ−２）との和を出力する。

【００７６】図６を用いて、より具体的にこれらの動作
を説明する。

【００７７】（ａ）の場合、ｇ（ｎ）＝０、ｇ（ｎ−
１）＝０、ｇ（ｎ−２）＝−１であるから、比較器３６
９の出力は“１”、比較器３７０の出力は“０”、比較
器３７１の出力は“０”、比較器３７２の出力は
“０”、となり、位相誤差勾配は、 ｙ（ｎ−１）×１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×０ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が＋γであるとすると、 ｙ（ｎ−１）×１＝＋γ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγが等化誤差勾配とし
て出力される。

【００７８】（ｂ）の場合、ｇ（ｎ）＝１、ｇ（ｎ−
１）＝０、ｇ（ｎ−２）＝−１ であるから、比較器３
６９の出力は“１”、比較器３７０の出力は“１”、比
較器３７１の出力は“０”、比較器３７２の出力は
“０”、となり、位相誤差勾配は、 ｙ（ｎ−１）×１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×１ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が“＋γ”であるとする。
ｙ（ｎ−２）が、位相が一致していた場合の振幅値２０
１に対して、実際のサンプル値２０２は、位相誤差τ１
のために振幅値が“−２＋β”であるとする。また、ｙ
（ｎ） が、位相が一致していた場合の振幅値２０５に
対して、実際のサンプル値２０６は、位相誤差τ３のた
めに振幅値が“＋２＋δ”であるとすると、 ＋γ＋（＋２＋δ）＋（−２＋β）＝＋γ＋β＋δ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγとβとδの和が、等
化誤差勾配として出力される。

【００７９】（ｃ）の場合、ｇ（ｎ）＝１、ｇ（ｎ−
１）＝０、ｇ（ｎ−２）＝０であるから、比較器３６９
の出力は“０”、比較器３７０の出力は“１”、比較器
３７１の出力は“０”、比較器３７２の出力は“０”、
となり、位相誤差勾配は、 ｙ（ｎ−１）×１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×０ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が“＋γ”であるとする
と、 ｙ（ｎ−１）×１＝＋γ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγが、等化誤差勾配と
して出力される。

【００８０】（ｄ）の場合、ｇ（ｎ）＝０ ｇ（ｎ−
１）＝０ ｇ（ｎ−２）＝１ であるから、比較器３６
９の出力は“０”、比較器３７０の出力は“０”、比較
器３７１の出力は“１”、比較器３７２の出力は
“０”、となり、位相誤差勾配は、 ｙ（ｎ−１）×−１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×０ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が“−γ”であるとする
と、 ｙ（ｎ−１）×−１＝ −γ×−１ ＝ ＋γ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγが、等化誤差勾配と
して出力される。

【００８１】（ｅ）の場合、ｇ（ｎ）＝−１、ｇ（ｎ−
１）＝０、ｇ（ｎ−２）＝１であるから、比較器３６９
の出力は“０”、比較器３７０の出力は“０”、比較器
３７１の出力は“１”、比較器３７２の出力は“１”、
となり、位相誤差勾配は、 ｙ（ｎ−１）×−１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×−
１ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が“−γ”であるとする。
ｙ（ｎ−２）が、位相が一致していた場合の振幅値２０
１に対して、実際のサンプル値２０２は、位相誤差τ１
のために振幅値が“＋２−β”であるとする。また、ｙ
（ｎ） が、位相が一致していた場合の振幅値２０５に
対して、実際のサンプル値２０６は、位相誤差τ３のた
めに振幅値が“−２−δ”であるとすると、 −γ×−１＋（（−２−δ）＋（＋２−β））×−１
＝＋γ＋β＋δ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγとβとδの和が、等
化誤差勾配として出力される。

【００８２】（ｆ）の場合、ｇ（ｎ）＝−１ ｇ（ｎ−
１）＝０ ｇ（ｎ−２）＝０ であるから、比較器３６
９の出力は“０”、比較器３７０の出力は“０”、比較
器３７１の出力は“０”、比較器３７２の出力は
“１”、となり、位相誤差勾配は ｙ（ｎ−１）×−１＋（ｙ（ｎ）＋ｙ（ｎ−２））×０ から求める。ｙ（ｎ−１）が、位相が一致していた場合
の振幅値２０３に対して、実際のサンプル値２０４は、
位相誤差τ２のために振幅値が“−γ”であるとする
と、 ｙ（ｎ−１）×−１＝−γ×−１＝＋γ となる。ＰＲ等化基準値とのズレγが等化誤差勾配とし
て出力される。

【００８３】このような動作が、図１８の位相比較器に
おいて記録補償量コントロール回路への出力が生成され
る手順を示すフローチャートに纏められている。図１８
のフローチャートにおいて、振幅値ｙ（ｎ）が入力され
ると（Ｓ１１）、判定レベルｇ（ｎ−１）の極性に応じ
て（Ｓ１２）、Ｇｉｎが求められる（Ｓ１３，Ｓ１
４）。更に、Ｇｉｎとεとの大小関係に応じて、判定レ
ベルｇ（ｎ）が定義され（Ｓ１５〜Ｓ１９）、その後、
Ｔ２＝０とした後（Ｓ２０）、各判定レベルｇ（ｎ）〜
ｇ（ｎ−２）の大小関係に応じて（Ｓ２１，Ｓ２２，Ｓ
２６，Ｓ２７）、Ｔ２が定義された後に（Ｓ２３，Ｓ２
８）、判定レベルｇ（ｎ−１）が“０”となれば（Ｓ２
４）、振幅誤差信号をＴ２、傾き誤差信号をｇ（ｎ）と
して送出する（Ｓ２９）。そうでない場合は、番号を繰
り上げて同様の処理を繰り返す（Ｓ２５）。

【００８４】＜記録補償量コントロール回路２０での動
作＞次に、ＰＲＭＬ信号処理回路における位相比較器１
６の信号から、熱干渉によるマークエッジのずれ量の評
価のための振幅ずれ量の検出動作を説明する。

【００８５】ＰＲ１２２１等化の信号処理方式では、マ
ークのエッジに対応するレベル０の識別点における振幅
値のずれを評価することで、マークエッジのずれ量を評
価することが可能であることはすでに述べた。図６の位
相比較器１６においては、遅延回路１０９の出力が
“０”、すなわちｙ（ｎ−１）の期待値がレベル０であ
ると、比較器３４５の出力が“１”になる。このとき、
乗算器３６３の出力は、ｙ（ｎ−１）の識別点のレベル
０からの振幅のずれ量に信号の勾配をかけた値であるか
ら、この値がマークエッジのすれ量として評価すべき値
になっている。また、ｇ（ｎ−１）の時のｇ（ｎ）の値
は、“＋１”ならばマークの先端エッジであることを表
し、“−１”ならばマークの後端エッジであることを表
している。

【００８６】よって、この３つの信号があるだけで、記
録補償量コントロール回路２０で、マークエッジのずれ
量を評価して、記録補償を収めたテーブルの内容を更新
することが可能である。

【００８７】図１１は、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理
回路に用いられる記録補償量コントロール回路２０の一
例を示すブロック図、図１２は、図１１に示される記録
補償量コントロール回路２０の動作を説明するためのタ
イミングチャート、図１９は、この記録補償量コントロ
ール回路における記録補償テーブルの更新の制御手順を
示すフローチャートである。

【００８８】図１１において、位相比較器１６に接続さ
れる記録補償量コントロール回路２０は、レジスタＡ５
１とこれに接続されるレジスタＢ、ここから振幅誤差値
が供給されるテーブル値演算回路５３及び記録補償テー
ブル５４を有している。更に、位相比較器１６から傾き
極性信号が供給される比較器５５と、これに接続される
マーク長カウンタ５６及びこれに接続されるレジスタ
Ｃ、更に比較器５５とテーブル値演算回路５３の間に設
けられるアンド回路５８，５９，更に比較器５５に接続
されてレジスタＤ６１を伴って設けられるスペース長カ
ウンタ６０を有している。

【００８９】このような記録補償量コントロール回路２
０において、位相比較器１６からの検出信号の図１２の
タイミングチャートのパルス５０１に示すタイミングに
おいて、レジスタＡ５１には、位相比較器１６からのマ
ーク１の先端エッジの位置ずれを示す振幅誤差信号がセ
ットされる。マーク長カウンタ５６は、検出信号が
“１”で、かつ、傾き極性信号が“１”である場合に、
チャネルクロックＣＬＫをカウントすることでマーク長
の測定をはじめる。位相比較器１６からの傾き極性信号
は“１”か“−１”の値をとるので、記録補償量コント
ロール回路２０に入力された時点で、比較器を通して、
“１”と“０”に変換している。スペース長カウンタ
は、検出信号が“１”で、かつ、傾き極性信号が“１”
である場合にカウントを終了する。よって、パルス５０
１のタイミングでスペース１の長さのカウントを停止す
る。レジスタＤ６１にはスペース長カウンタ６０が測定
したスペース１の長さがセットされる。

【００９０】検出信号のパルス５０２で示すタイミング
において、レジスタＡ５１には、位相比較器１６からの
マーク１の後端エッジの位置ずれを示す振幅誤差信号が
セットされる。レジスタＢ５２には、レジスタＡ５１に
セットされていた位相比較器１６からのマーク１の先端
エッジの位置ずれを示す振幅誤差信号がシフトしてセッ
トされる。マーク長カウンタ５６は、検出信号が“１”
で、かつ、傾き極性信号が０である場合に、マーク長の
測定を停止する。レジスタＣ５７にはマーク長カウンタ
５６が測定したマーク１の長さがセットされる。スペー
ス長カウンタ６０は、検出信号が１で、かつ、傾き極性
信号が０である場合に、チャネルクロックＣＬＫをカウ
ントすることでスペース長の測定をはじめる。レジスタ
Ｄ６１には、スペース１の長さがセットされたままとな
っている。

【００９１】前スペース長／マーク長信号５０５は、レ
ジスタＢの振幅誤差信号が、前スペース長がレジスタＤ
の値で、マーク長がレジスタＣの値の場合のエッジの位
置ずれ示していることを表している。図１１のテーブル
値演算回路５３は、この前スペース長とマーク長の組み
合わせに対応するエッジの位置ずれ量を積算して平均化
し、記録補償テーブル５４に収められた値を更新する。

【００９２】検出信号のパルス５０３に示すタイミング
において、レジスタＡ５１には、位相比較器１６からの
マーク２の先端エッジの位置ずれを示す振幅誤差信号τ
がセットされる。レジスタＢ５２には、レジスタＡ５１
にセットされていた位相比較器１６からのマーク１の後
端エッジの位置ずれを示す振幅誤差信号がシフトしてセ
ットされる。マーク長カウンタ５６は、検出信号が
“１”で、かつ、傾き極性信号が“１”であるので、チ
ャネルクロックＣＬＫをカウントすることでマーク２の
マーク長の測定をはじめる。レジスタＣ５７には、マー
ク１の長さがセットされたままとなっている。スペース
長カウンタ６０は、検出信号が１で、かつ、傾き極性信
号が０であるのでスペース２の長さのカウントを停止す
る。レジスタＤ６１にはスペース長カウンタ６０が測定
したスペース２の長さがセットされる。

【００９３】マーク長／後スペース長信号５０６は、レ
ジスタＢ５２の振幅誤差信号が、マーク長がレジスタＣ
５７の値で、後スペース長がレジスタＤ６１の値である
場合のエッジの位置ずれ示していることをあらわしてい
る。図１１のテーブル値演算回路５３は、このマーク長
と後スペース長との組み合わせに対応するエッジの位置
ずれ量を積算して平均化し、記録補償テーブル５４に収
められた値を更新していく。

【００９４】こうして得られた更新された記録補償量テ
ーブル５４の値を用いた試し書き領域へのランダムパタ
ーン２３の書き込みと、これを再生することによる記録
補テーブル５４の更新は、記録させるマークのジッタの
値が所定の値以下になるまで繰り返される。

【００９５】このような記録補償量コントロール回路２
０の処理は、図１９のフローチャートに纏められてい
る。フローチャートにおいて、試し書きデータを読み込
みながら（Ｓ３１）、検出信号１が検出されると（Ｓ３
２）、振幅誤差信号をレジスタＡ、レジスタＡに格納さ
れた信号をレジスタＢにそれぞれ転送する（Ｓ３３）。
そして、傾き極性信号が正のとき（Ｓ３４）、マーク長
カウンタ５６がカウントを開始し、スペース長カウンタ
６０がカウントを終了する。そして、スペース長カウン
タのカウント値をレジスタＤに格納する（Ｓ３５）。次
に、マーク長をレジスタＣとし、後スペース長をレジス
タＤとし、振幅誤差量をレジスタＢとして、マーク長と
後スペース長との組に対する誤差量を積算する（Ｓ３
６）。

【００９６】傾き極性信号が負のとき（Ｓ３４）、マー
ク長カウンタ５６がカウントを終了し、スペース長カウ
ンタ６０がカウントを開始する。そして、マーク長カウ
ンタ５６のカウント値をレジスタＣに格納する（Ｓ３
７）。次に、前スペース長をレジスタＤとし、マーク長
をレジスタＣとし、振幅誤差量をレジスタＢとして、前
スペース長とマーク長との組に対する誤差量を積算する
（Ｓ３８）。全ての試し書きデータを読み込んだことを
確認した上で、前スペース長とマーク長、マーク長と後
スペース長とのそれぞれの組に対する誤差量の積算値を
平均化する。そして、この値に基づき、マーク長とスペ
ース長との組合せに対応するテーブル内の書き込み補償
量の値を更新するものである（Ｓ３９）。

【００９７】以上、詳細に説明したように本発明の第１
の実施形態によれば、位相差検出器を用いることによ
り、従来装置に比べ小規模な構成によって、ＰＲＭＬ信
号処理方式の光ディスク装置に対しても、熱干渉に基づ
くマークのずれ等を補償する記録補償処理を行うことが
可能な光ディスク装置を提供することができる。

【００９８】＜＜第２の実施形態＞＞第２の実施形態
は、ＰＲＭＬ信号処理方式に対応することができる記録
補償量の制御方法を提示するもので、最尤シーケンス検
出器（＝ビタビ検出器）の出力を用いて記録補償量を決
定する光ディスク装置を提供するものである。

【００９９】以下、図面を用いて詳細に説明する。図１
０は、本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いられる
位相比較器の他の一例を示すブロック図、図１３は、光
ディスク記録再生装置の他の一例における再生信号処理
部と書込制御部の一部を示すブロック図、図１４は、ビ
タビ検出器の一例を示すブロック図、図１５は、記録補
償量コントロール回路の一例を示すブロック図、図２０
は、この記録補償量コントロール回路における記録補償
テーブルの更新の制御手順を示すフローチャートであ
る。

【０１００】これらの図において、先の図１に示される
構成では、位相比較器１６で生成される信号を用いて記
録補償量コントロール回路２０が記録補償量を収めたテ
ーブルの値を更新している。一方、第２実施形態におい
ては、図１３で示したデータ処理ユニットが示すよう
に、ビタビ検出器１５（＝最尤シーケンス検出器）の出
力と遅延させた識別点の振幅値を用いて、記録補償量を
収めたテーブルの値を更新している。図１３は、位相比
較器１６からの位相差信号τは、記録補償量コントロー
ル回路２０には直接には供給されてはおらず、ビタビ検
出器１５の出力Ｂが供給されている。更に、ゼロフェー
ズスタータ２４が設けられＶＦＯ１８に接続されてい
る。それ以外の構成は、図１と同等のものである。

【０１０１】このように第１実施形態のように位相比較
器１６からの位相差信号τを利用するのではなく、一層
シーケンスの長いビタビ検出器１５の出力が供給されこ
れに基づき補償量を決定することにより、より高精度な
記録補量処理を可能とする光ディスク装置を提供する。

【０１０２】又、図１４は、本発明に係るＰＲＭＬ信号
処理方式に用いられるビタビ検出器の一例を示すブロッ
ク図である。ビタビ検出器は、従来のビットごとに信号
の値が閾値を超えたか否かで０と１を判定していたのと
は違い、再生信号のサンプル点系列とＰＲ等化クラスと
変調コードのｄ制約で決まる状態遷移の中から取りうる
信号系列の組み合わせとのユークリッド距離を計算し
て、最も確からしい信号系列を選択する方式である。図
においてビタビ検出器１５は、一例として、ブランチメ
トリック計算部７１と、ＡＣＳ７２、これに接続される
パスメトリックメモリ７３，更にパスメモリ７４と、パ
ス選択部７５とを有している。ビタビ検出器の詳細な動
作は、この発明の動作に直接か関わるものではないので
説明は省略する。

【０１０３】この発明に関わる特性は、波形干渉のある
信号サンプル点系列から最も確からしい系列を選択する
ために、パスメモリと呼ばれる一種のシフトレジスタ通
して出力のバイナリ系列が得られる構成になっているた
め、サンプル値が入力されてから、その点に対応する０
または１のデータが出力されるまでには、十数クロック
からから数十クロックの遅れが生じることである。従っ
て、速度よりも精度を重視する場合に用いられる方法で
ある。

【０１０４】又、図１５は、本発明に係るＰＲＭＬ信号
処理方式に用いられる記録補償量コントロール回路２０
の一例を示すブロック図である。図１５において振幅誤
差信号、検出信号、傾き極性信号を生成する前処理部、
すなわち遅延回路６２、Ｄフリップフロップ回路５１
０，ＥｘＯＲ回路５１１等を除くと、図１１に示した記
録補償量コントロール回路２０と同じ構成になってい
る。よって、ビタビ検出器の出力と遅延させた識別点の
振幅値から、振幅誤差信号、検出信号、傾き極性信号を
生成する部分について説明する。

【０１０５】マークの先端エッジでは、検出されるバイ
ナリデータは、０から１に変化する。マークの後端エッ
ジでは、検出されるバイナリデータは、０から１に変化
する。よってエッジの検出信号は、現在のビタビ検出器
１４の出力とＤフリップフロップ５１０の出力である１
クロック前の時刻のビタビ検出器１４の出力との排他的
論理和をＥｘＯＲ回路５１１によって求めることで生成
することができる。

【０１０６】傾き極性信号は、ビタビ検出器１４の出力
をそのまま用いることで、図１２に示した信号を得るこ
とができる。振幅誤差信号は、デジタルフィルタの出力
信号サンプル値をビタビ検出器のパスメモリによる遅延
と同じ時間だけ遅延させた後、傾き極性信号を２倍して
１減じることにより、１を１に０を−１に変換した信号
との積をとることで生成できる。すなわち、エッジの先
端と後端でエッジの時間方向のずれ量と振幅値のずれの
極性が逆転しているのを、傾き極性信号を用いて補正し
ているのである。

【０１０７】又図２０は、このビタビ検出器の出力を利
用した場合の記録補償量コントロール回路での記録補償
テーブルの更新の制御手順を示すフローチャートであ
る。このフローチャートにおいて、記録補償量コントロ
ール回路２０は、試し書きデータを読み込みながら（Ｓ
３１）、１クロック前のビタビ出力が現在の出力となら
ない範囲で（Ｓ４１）、検出信号を“１”とし、傾き極
性信号を現在のビタビ出力とし、振幅誤差×（傾き誤差
信号×２−１）の値を振幅誤差と設定する。その上で、
振幅誤差信号をレジスタＡ、レジスタＢへと転送する
（Ｓ４２）。

【０１０８】次に、傾き極性信号が１であれば（Ｓ４
３）、マーク長カウンタ５６がカウントを開始し、スペ
ース長カウンタ６０がカウントを終了する。そして、ス
ペース長カウンタのカウント値をレジスタＤに格納する
（Ｓ３５）。次に、マーク長をレジスタＣとし、後スペ
ース長をレジスタＤとし、振幅誤差量をレジスタＢとし
て、マーク長と後スペース長との組に対する誤差量を積
算する（Ｓ３６）。

【０１０９】傾き極性信号が１でないとき（Ｓ４３）、
マーク長カウンタ５６がカウントを終了し、スペース長
カウンタ６０がカウントを開始する。そして、マーク長
カウンタ５６のカウント値をレジスタＣに格納する（Ｓ
３７）。次に、前スペース長をレジスタＤとし、マーク
長をレジスタＣとし、振幅誤差量をレジスタＢとして、
前スペース長とマーク長との組に対する誤差量を積算す
る（Ｓ３８）。全ての試し書きデータを読み込んだこと
を確認した上で、前スペース長とマーク長、マーク長と
後スペース長とのそれぞれの組に対する誤差量の積算値
を平均化する。そして、この値に基づき、マーク長とス
ペース長との組合せに対応するテーブル内の書き込み補
償量の値を更新するものである（Ｓ３９）。

【０１１０】（他の実施形態）更に他の実施形態とし
て、ＰＲ等化信号のゼロレベルの振幅値だけではなく、
隣接ビットの振幅誤差をも考慮した記録補償処理を行う
光ディスク装置を追加する。

【０１１１】すなわち、図１および図１３を用いた実施
形態の説明では、熱干渉によるマークエッジのずれ量を
評価するのに、ＰＲ等化信号のゼロレベルの振幅値のず
れ量を用いている。ＰＲＭＬ信号処理方式では、マーク
からの応答波形が隣接ビットに決められた量の波形干渉
を起こすことを許容している。すなわち、マークエッジ
の立ち上がりまたは立ち下りに対応する応答は、隣接ビ
ットにも影響を及ぼしている。

【０１１２】従って、ＰＲ等化波形に対するマークエッ
ジずれによる影響を評価する場合、ゼロレベルのみでは
なく隣接ビットの振幅誤差をも考慮したほうがより正確
な評価を得ることができる。

【０１１３】図９は、本発明に係る位相比較器の動作を
説明するためのグラフである。ＰＲクラスがＰＲ１２２
１で、変調コードが、現在のＤＶＤに用いられている、
ｄ制約が２である８−１６変調であるならば、図３の
（ａ）で示したような、変調後の書込みデータをＮＲＺ
Ｉ形式に変換したバイナリ系列では、１または０のデー
タが最低でも３個連続する。よって、書き込まれたマー
クの先端と後端のエッジにおける波形は、図３の（ｄ）
と（ｅ）からわかるように、−２、０、＋２ と＋２、
０、−２ という値をとることになる。よって、図６に
示した位相比較器１６の動作を説明する図９において、
（ｂ）または、（ｃ）のパターンしか現れないことにな
る。その結果、図６の位相比較器１６の出力１０７に
は、常に、ゼロレベルとその前後の振幅値のずれ量を加
算した値が出力されることになる。

【０１１４】以上から、ＰＲ等化波形に対するマークエ
ッジずれによる影響を評価するべく、ゼロレベルのみで
はなく隣接ビットの振幅誤差も考慮した評価とするに
は、図１６で示すように、乗算器３６３の出力から取っ
ていた振幅誤差信号を、ゲート３５５の出力であり位相
比較器１６の位相誤差情報でもある振幅誤差信号１０７
へと変更すればよいことがわかる。

【０１１５】図１７に、ビタビ検出器の出力と遅延させ
た識別点の振幅値を用いて記録補償量を収めたテーブル
の値を更新する記録補償量コントロール回路２０で、マ
ークエッジずれによる影響を評価するのに、ゼロレベル
のみではなく隣接ビットの振幅誤差も考慮した場合の構
成を示す。図１７の後段の構成は図１５と同じなので省
略し、ビタビ検出器の出力と遅延させた識別点の振幅値
から、振幅誤差信号、検出信号、傾き極性信号を生成す
る部分を中心に示した。ゼロレベルのみではなく隣接ビ
ットの振幅誤差も評価するため、図１５の構成に、ビタ
ビ検出器のバイナリ出力にＰＲ応答波形である１，２，
２，１を畳み込み積分し、比較の基準となる理想ＰＲ等
化波形を生成するフリップフロップ回路５１３〜５２１
が付加され、畳み込み積分回路の遅れ分を調整するため
の遅延回路６２が追加されている。

【０１１６】図２１は、図１７の記録補償量コントロー
ル回路２０における記録補償テーブルの更新の制御手順
を示すフローチャートである。

【０１１７】すなわち、このフローチャートにおいて、
記録補償量コントロール回路２０は、試し書きデータを
読み込みながら（Ｓ３１）、ビタビ出力とＰＲ１２２１
応答波形との畳み込み積分を求め、これを理想ＰＲ等化
信号とし、更に理想ＰＲ等化信号と遅延されたフィルタ
出力との差を求め、これを振幅誤差信号とする（Ｓ４
５）。次に、３クロック前のビタビ出力が２クロック前
のビタビ出力と同等でないことを確認した上で、検出信
号を“１”とし、傾き極性信号を現在のビタビ出力と
し、振幅誤差×（傾き誤差信号×２−１）の値を振幅誤
差と設定する。その上で、振幅誤差信号をレジスタＡ、
レジスタＢへと転送する（Ｓ４２）。

【０１１８】次に、傾き極性信号が１であれば（Ｓ４
３）、マーク長カウンタ５６がカウントを開始し、スペ
ース長カウンタ６０がカウントを終了する。そして、ス
ペース長カウンタのカウント値をレジスタＤに格納する
（Ｓ３５）。次に、マーク長をレジスタＣとし、後スペ
ース長をレジスタＤとし、振幅誤差量をレジスタＢとし
て、マーク長と後スペース長との組に対する誤差量を積
算する（Ｓ３６）。

【０１１９】傾き極性信号が１でないとき（Ｓ４３）、
マーク長カウンタ５６がカウントを終了し、スペース長
カウンタ６０がカウントを開始する。そして、マーク長
カウンタ５６のカウント値をレジスタＣに格納する（Ｓ
３７）。次に、前スペース長をレジスタＤとし、マーク
長をレジスタＣとし、振幅誤差量をレジスタＢとして、
前スペース長とマーク長との組に対する誤差量を積算す
る（Ｓ３８）。全ての試し書きデータを読み込んだこと
を確認した上で、前スペース長とマーク長、マーク長と
後スペース長とのそれぞれの組に対する誤差量の積算値
を平均化する。そして、この値に基づき、マーク長とス
ペース長との組合せに対応するテーブル内の書き込み補
償量の値を更新するものである（Ｓ３９）。

【０１２０】以上のような手順により、ＰＲ等化信号の
ゼロレベルの振幅値だけではなく、隣接ビットの振幅誤
差をも考慮した記録補償処理を行うことができ、より正
確で適切な記録補償量を与えることができる光ディスク
装置を提供することが可能となる。

【０１２１】以上記載した様々な実施形態により、当業
者は本発明を実現することができる。しかしこれらの実
施形態の様々な変形例が当業者により容易に明かであ
り、開示された広い意味での原理を発明的な能力をもた
なくとも様々な実施形態へと適用することが可能であ
る。このように本発明は、開示された原理と新規な特徴
に矛盾しない広範な範囲に及ぶものであり、上述した実
施形態に限定されることはないことは言うまでもない。

【０１２２】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、Ｐ
Ｒ等化後の振幅値が振幅値０を通過するレベル０の識別
点における振幅値のずれを評価することで、マークエッ
ジのずれ量を評価することが可能になるので、ＰＲＭＬ
信号処理方式のような離散時間のサンプル点を用いるデ
ジタル信号処理方式においても、マークエッジのずれ量
を評価し記録補償の条件を収めたテーブルの値を、実際
の光ディスクや光ディスク装置の条件に適合させること
ができる光ディスク装置を提供することができる。

【０１２３】又、マークエッジのずれ量を評価を評価す
るための信号をＰＲＭＬ信号処理方式の位相比較器１６
から供給することで、記録補償テーブルを更新するため
の回路を簡略化した光ディスク装置を提供することがで
きる。

【０１２４】又更に、マークエッジのずれ量を評価する
ための信号をＰＲＭＬ信号処理方式のビタビ検出器の出
力と等化器出力から供給すようにすることによっても、
位相比較器の出力以上の高い精度でＰＲＭＬ信号処理方
式に対しても最適な記録補償テーブルの更新を可能とし
た光ディスク装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を用いた光
ディスク記録再生装置の一例における再生信号処理部と
書込制御部の一部を示すブロック図。

【図２】本発明に係る光ディスク装置の一例の全体の構
成を示すブロック図。

【図３】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を説明する
タイミングチャート。

【図４】本発明に係るセクタフォーマットを示すセクタ
フィールドのレイアウトの一例を示す図。

【図５】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式の試し書き
の際の信号波形を示すグラフ。

【図６】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いられ
る位相比較器の一例を示すブロック図。

【図７】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路における判
定レベルｇ（ｎ−１）の値が０以外の場合の波形の遷移
を説明するグラフ。

【図８】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路における判
定レベルｇ（ｎ−１）の値が０の場合の波形の遷移を説
明するグラフ。

【図９】本発明に係る位相比較器の動作を説明するため
のグラフ。

【図１０】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いら
れる位相比較器の他の一例を示すブロック図。

【図１１】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いら
れる記録補償量コントロール回路の一例を示すブロック
図。

【図１２】図１１に示される記録補償量コントロール回
路の動作を説明するためのタイミングチャート。

【図１３】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式を用いた
光ディスク記録再生装置の他の一例における、再生信号
処理部と書込制御部の一部を示すブロック図。

【図１４】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式に用いら
れるビタビ検出器の一例を示すブロック図。

【図１５】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理方式に用いら
れる記録補償量コントロール回路の一例を示すブロック
図。

【図１６】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いら
れる位相比較器の他の一例（乗算器３６３の出力を位相
比較器の位相誤差情報とする）を示すブロック図。

【図１７】本発明に係るＰＲＭＬ信号処理回路に用いら
れる記録補償量コントロール回路の他の一例（ビタビ検
出器の出力と遅延させた識別点の振幅値を用いてテーブ
ル値を更新）を示すブロック図。

【図１８】本発明に係る位相比較器において記録補償量
コントロール回路への出力が生成される手順を示すフロ
ーチャート。

【図１９】図１１に示す記録補償量コントロール回路に
おける記録補償テーブルの更新の制御手順を示すフロー
チャート。

【図２０】図１５に示す記録補償量コントロール回路に
おける記録補償テーブルの更新の制御手順を示すフロー
チャート。

【図２１】図１７に示す記録補償量コントロール回路に
おける記録補償テーブルの更新の制御手順を示すフロー
チャート。

【図２２】光ディスク装置において用いられるマルチパ
ルスの例を示す波形図。

【図２３】光ディスク装置の記録補償量を決定するため
のテーブルの一例を示す図。

【図２４】光ディスク装置に用いられる、試し書きによ
って適正な記録補償量とすべくテーブル値を更新するシ
ステムの一例を示すブロック図。

【図２５】図２４に示すシステムの記録／再生部の内部
構成の一例を示すブロック図。

【図２６】図２４に示すシステムのパラメータ算出部の
内部構成の一例を示すブロック図。

【符号の説明】 Ｄ…光ディスク ＰＵ…ピックアップ・ユニット １…データ処理ユニット １１…バリアブル・ゲイン・アンプ １２…アナログ・フィルタ １３…Ａ／Ｄコンバータ １４…デジタルフィルタ １５…ビタビ検出器 １６…位相比較器 １７…ループ・フィルタ ２０…記録補償量コントロール回路 ２１…記録パルス制御回路 ２２…レーザ駆動回路 ２３…ランダムパターン発生部

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 同心円状又は螺旋状の記録領域を有する
   光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
   て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
   照射して、所定データを所定領域へ試し書きし、次に、
   この試し書きした所定データを読み取る試書手段と、 前記試書手段が読み取った前記所定データに基づき、記
   録処理のための記録波形パルスの補償量を決定する補償
   量決定手段と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記補償
   量決定手段が決定した前記補償量に基づいて記録波形パ
   ルスを生成し、これに応じて発生したレーザビームを前
   記光ディスクの記録領域に照射して前記記録データを記
   録する記録手段とを具備することを特徴とする光ディス
   ク装置。
2. 【請求項２】 前記補償量決定手段は、前記試書手段が
   読み取った前記所定データとこれに対応するチャネルク
   ロックとを受けこれらの位相差信号を出力する位相比較
   手段を有し、この位相差信号に基づき、記録処理のため
   の記録波形パルスの補償量を決定することを特徴とする
   請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記補償量決定手段は、前記試書手段が
   読み取った前記所定データと、この所定データが供給さ
   れる最尤シーケンス検出器の出力とを受けこれらに基づ
   き、記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定す
   ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記補償量決定手段は、サンプル点とこ
   の前後の複数のサンプル点とについて、マーク長とその
   前後のスペース長との組合せに対応する、再生信号と理
   想信号との間の振幅のずれ量をそれぞれ評価すること
   で、記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定す
   ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 同心円状又は螺旋状の記録領域を有する
   光ディスクへデータを記録する光ディスク記録方法にお
   いて、 回転手段により所定回転数で回転される光ディスク上に
   レーザビームを照射して、所定データを所定領域へ試し
   書きし、次に、この試し書きした所定データを読み取る
   試書工程と、 前記試書工程にて読み取った前記所定データに基づき、
   記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定する補
   償量決定工程と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記補償
   量決定工程で決定した前記補償量に基づいて記録波形パ
   ルスを生成し、これに応じて発生したレーザビームを前
   記光ディスクの記録領域に照射して前記記録データを記
   録する記録工程と、 を具備することを特徴とする光ディスク記録方法。
6. 【請求項６】 前記補償量決定工程は、前記試書工程で
   読み取った前記所定データとこれに対応するチャネルク
   ロックとを受けこれらの位相差信号を出力する位相比較
   器を用いて、出力した位相差信号に基づき、記録処理の
   ための記録波形パルスの補償量を決定することを特徴と
   する請求項５に記載の光ディスク記録方法。
7. 【請求項７】 前記補償量決定工程は、前記試書工程で
   読み取った前記所定データと、この所定データが供給さ
   れる最尤シーケンス検出器の出力とを受けこれらに基づ
   き、記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定す
   ることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録方
   法。
8. 【請求項８】 前記補償量決定工程は、サンプル点とこ
   の前後の複数のサンプル点とについて、マーク長とその
   前後のスペース長との組合せに対応する、再生信号と理
   想信号との間の振幅のずれ量をそれぞれ評価すること
   で、記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定す
   ることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録方
   法。
9. 【請求項９】 前記補償量決定手段は、前記試書手段が
   読み取った前記所定データに対応するチャネルクロック
   によりサンプルされた離散時間における再生信号サンプ
   ル点によって、補償すべき誤差量を評価し、これにより
   記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定する手
   段を有することを特徴とする請求項１に記載の光ディス
   ク装置。
10. 【請求項１０】 前記試書手段は、前記回転手段が回転
    する光ディスク上にレーザビームを照射して、ランダム
    データである所定データを所定領域へ試し書きし、次
    に、この試し書きしたランダムデータである所定データ
    を読み取る手段を有することを特徴とする請求項１に記
    載の光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 前記補償量決定工程は、前記試書工程
    で読み取った前記所定データに対応するチャネルクロッ
    クによりサンプルされた離散時間における再生信号サン
    プル点によって、補償すべき誤差量を評価し、これによ
    り記録処理のための記録波形パルスの補償量を決定する
    工程を有することを特徴とする請求項５に記載の光ディ
    スク記録方法。
12. 【請求項１２】 前記試書工程は、前記回転手段が回転
    する光ディスク上にレーザビームを照射して、ランダム
    データである所定データを所定領域へ試し書きし、次
    に、この試し書きしたランダムデータである所定データ
    を読み取る手段を有することを特徴とする請求項５に記
    載の光ディスク記録方法。