JP2002533015A - データ伝送チャネルのビットエラー構造計測の工程および装置 - Google Patents
データ伝送チャネルのビットエラー構造計測の工程および装置Info
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
-
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
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- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
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- H04L2012/5628—Testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
疑似ランダムシーケンスは、デジタル伝送パスにおけるビットエラー計測に使用される。テストエラーシーケンスフォームの疑似ランダムシーケンスラベルがパターンの限定サイトにおいて挿入される。例えば、国際データ交換におけるエンドツーエンド計測において送信側でのラベルフェード・インを疑似ランダムシーケンス計測装置が許可しない場合、送信側にて計測データをマークすることはしばしば不可能である。本発明は疑似ランダムシーケンスラベル提供を行う方法を提供する。本方法により、マーカはビット比較器の前でレシーバ側でスイッチオンされ、疑似ランダムシーケンスラベルは送信側から受取った疑似ランダムシーケンス信号と同期する。レシーバ側での疑似ランダムシーケンスラベリングは、パターンのサイト、頻度、およびクロック周期数に関して、従来の送信側ラベリングに適用される。疑似ランダムシーケンスラベリングは伝送パスにおける滑りと体系的に発生するビットエラーを一定装置にアサインするために必要とされる。本発明はATM計測におけるセルのロスの対ビット決定のための方法を提供する。
Description
【0001】 (技術分野) 本発明は、請求項1の序文によるデジタル伝送リンクの計測装置に関する。
【0002】 (背景技術) データ計測装置は計測信号として疑似ランダムシーケンスを用いることが知られ
ている。テスト中にある目的で伝送されると(データ伝送リンク)、この伝送さ
れた疑似ランダムシーケンスは、同一発信の疑似ランダムシーケンス基準信号と
データ計測レシーバにて比較される。
ている。テスト中にある目的で伝送されると(データ伝送リンク)、この伝送さ
れた疑似ランダムシーケンスは、同一発信の疑似ランダムシーケンス基準信号と
データ計測レシーバにて比較される。
【0003】 この比較の結果は、それが正しく伝送されたか否かを各ビットごとに示す2進
信号シーケンスとなる。このビットエラー信号は、正確にあるいは不正確に伝送
された連続するビットの数値からシーケンスとして記録の可能なビットエラー構
造を表わす。(telekom praxis Vol.74/1997年、N
o.11にHerzog,W.により発表された「オペレーションのビットエラ
ー構造計測装置」を参照のこと。)
信号シーケンスとなる。このビットエラー信号は、正確にあるいは不正確に伝送
された連続するビットの数値からシーケンスとして記録の可能なビットエラー構
造を表わす。(telekom praxis Vol.74/1997年、N
o.11にHerzog,W.により発表された「オペレーションのビットエラ
ー構造計測装置」を参照のこと。)
【0004】 さらに、疑似ランダムシーケンスの一定サンプルポイントにおけるマーキング
の伝送側入力も知られている。マーキングは、疑似ランダムシーケンスの各サイ
クル上ではなく、規則的に挿入される系統的ビット反転のテストエラー系列から
成る。テストエラー系列は疑似ランダムシーケンス発生シフトレジスタ段よりも
より高いビット数から構成されていなくてはならない。それにより、伝送エラー
を誘導する伝送リンクからそれが明確に区別される。
の伝送側入力も知られている。マーキングは、疑似ランダムシーケンスの各サイ
クル上ではなく、規則的に挿入される系統的ビット反転のテストエラー系列から
成る。テストエラー系列は疑似ランダムシーケンス発生シフトレジスタ段よりも
より高いビット数から構成されていなくてはならない。それにより、伝送エラー
を誘導する伝送リンクからそれが明確に区別される。
【0005】 受信側で、テストエラー系列は従来の疑似ランダムシーケンスのサンプルポイン
トにおいてビットエラーとして現れるため、疑似ランダムシーケンスサンプル計
算のための所定のポイントとして、記録されたビットエラー構造においてこれら
を使用することが出来る。これにより、テスト中の伝送リンクにおける装置故障
を示す系統的エラーパターンを見つけだすことが可能となる。装置故障の検出お
よび削除による品質の改善がビットエラー構造計測の主要目的である。
トにおいてビットエラーとして現れるため、疑似ランダムシーケンスサンプル計
算のための所定のポイントとして、記録されたビットエラー構造においてこれら
を使用することが出来る。これにより、テスト中の伝送リンクにおける装置故障
を示す系統的エラーパターンを見つけだすことが可能となる。装置故障の検出お
よび削除による品質の改善がビットエラー構造計測の主要目的である。
【0006】 疑似ランダムシーケンスサイクル長の全体数の倍数と等しくならなくてはいけ
ないクロックパルスである、このテストエラー系列のクロックパルスのインター
バルが受信側においてモニタされる場合、例えば、ATM(非同期転送モード)
計測におけるセルのロスの結果として、テストトランスミッタとテストレシーバ
間の文字同期が損失する時に発生する種類の滑りを計算することが出来る。
ないクロックパルスである、このテストエラー系列のクロックパルスのインター
バルが受信側においてモニタされる場合、例えば、ATM(非同期転送モード)
計測におけるセルのロスの結果として、テストトランスミッタとテストレシーバ
間の文字同期が損失する時に発生する種類の滑りを計算することが出来る。
【0007】 この高次元の計測方法の利点を使用出来るようにする目的において、このよう
な疑似ランダムシーケンスマーキングによりテストデータを伝送することの可能
な適切な疑似ランダムシーケンステストトランスミッタが伝送側に配備されてい
なくてはならない。しかし、疑似ランダムシーケンスは使用するが上述の種類の
マーキングは伝送しない一般の商業的に普及している計測装置のみが伝送側に配
備されている場合、正確には、これは伝送リンクの計測ケースではないことがし
ばしばある。しかし、他の計測上の利点によりこの計測装置は頻繁に用いられる
。
な疑似ランダムシーケンスマーキングによりテストデータを伝送することの可能
な適切な疑似ランダムシーケンステストトランスミッタが伝送側に配備されてい
なくてはならない。しかし、疑似ランダムシーケンスは使用するが上述の種類の
マーキングは伝送しない一般の商業的に普及している計測装置のみが伝送側に配
備されている場合、正確には、これは伝送リンクの計測ケースではないことがし
ばしばある。しかし、他の計測上の利点によりこの計測装置は頻繁に用いられる
。
【0008】 このような計測上の利点は、ループ計測のかわりにより意義のあるエンドツー
エンド計測が可能であるという事実か、あるいは商業的に普及した計測装置が、
伝送側にて適切な計測インターフェースを分配することから、ビットエラー構造
計測局にて新しいものを開発する必要がないという事実に基づく。
エンド計測が可能であるという事実か、あるいは商業的に普及した計測装置が、
伝送側にて適切な計測インターフェースを分配することから、ビットエラー構造
計測局にて新しいものを開発する必要がないという事実に基づく。
【0009】 商業的に普及している伝送側計測装置における差違の実際のケースは、まず初
めに、世界的データトラフィックにおけるトランスミッタとレシーバ間の広域地
理的分離(カリフォルニアのトランスミッタ、ベルリンのレシーバ)のケースで
ある。次に、異なるインターフェース(トランスミッタに対して25.6Mbi
t/sのインハウスレートにてATM(非同期転送モード)伝送、また、レシー
バに対して155.526Mbit/sの[ATM計測に対して]通常ライン側
STM1レートにてATM伝送)による接続ポイント間の計測のケースである。
めに、世界的データトラフィックにおけるトランスミッタとレシーバ間の広域地
理的分離(カリフォルニアのトランスミッタ、ベルリンのレシーバ)のケースで
ある。次に、異なるインターフェース(トランスミッタに対して25.6Mbi
t/sのインハウスレートにてATM(非同期転送モード)伝送、また、レシー
バに対して155.526Mbit/sの[ATM計測に対して]通常ライン側
STM1レートにてATM伝送)による接続ポイント間の計測のケースである。
【0010】 伝送側で使用される計測装置は、プロセスに合う方法で疑似ランダムシーケン
スマーキングが提供される外部テストデータの任意入力をしばしば許可しないた
め、計測装置自身により内部的に提供されるこれらの疑似ランダムシーケンステ
ストデータにて行わせる必要がある。
スマーキングが提供される外部テストデータの任意入力をしばしば許可しないた
め、計測装置自身により内部的に提供されるこれらの疑似ランダムシーケンステ
ストデータにて行わせる必要がある。
【0011】 しかし、受信側にて使用されるビットエラー構造計測局は、ビットエラー構造
レコードの評価において疑似ランダムシーケンスマークとしてのちに緊急に必要
とされるテストエラー系列を有していない。
レコードの評価において疑似ランダムシーケンスマークとしてのちに緊急に必要
とされるテストエラー系列を有していない。
【0012】 (発明の開示) 本発明の目的は、ビットエラー構造に対して同等の評価が可能となるような方
法により、伝送側における疑似ランダムシーケンスマーキングの不在をプロセス
によって克服することにある。
法により、伝送側における疑似ランダムシーケンスマーキングの不在をプロセス
によって克服することにある。
【0013】 本発明の目的は、疑似ランダムシーケンスシンボル検出器、疑似ランダムシー
ケンス開始パルス発生器、およびスイッチ可能疑似ランダムシーケンスマーカー
を、ビット比較器の前のデータ計測装置のレシーバ入力に追加配置することによ
って、ビットエラー構造計測局の受信側に代替マーカーを作り出すことで達成さ
れる。
ケンス開始パルス発生器、およびスイッチ可能疑似ランダムシーケンスマーカー
を、ビット比較器の前のデータ計測装置のレシーバ入力に追加配置することによ
って、ビットエラー構造計測局の受信側に代替マーカーを作り出すことで達成さ
れる。
【0014】 (発明を実施するための最良の形態) 本発明の実施形態を、計測装置受信部分の拡張に関する詳細と、さらに、従来
の計測設定と本発明による新しい計測設定の原理を提示した図1から図4に基づ
いて開示する。
の計測設定と本発明による新しい計測設定の原理を提示した図1から図4に基づ
いて開示する。
【0015】 図1は、疑似ランダムシーケンスマーカーがすでに配備されている疑似ランダ
ムシーケンスデータトランスミッタにおけるビットエラー構造計測の従来の計測
設定である。図2は、データトランスミッタとして疑似ランダムシーケンスマー
カーを含まない、ゆえに、上記の商業的に普及している計測装置の部分である疑
似ランダムシーケンス発生器を示している。
ムシーケンスデータトランスミッタにおけるビットエラー構造計測の従来の計測
設定である。図2は、データトランスミッタとして疑似ランダムシーケンスマー
カーを含まない、ゆえに、上記の商業的に普及している計測装置の部分である疑
似ランダムシーケンス発生器を示している。
【0016】 本発明により受信側に挿入される、エラー構造計測に必要な疑似ランダムシー
ケンスマーカーは、入力伝送リンク信号から、すなわち伝送されたテスト疑似ラ
ンダムシーケンスから派生する、マークされるべき疑似ランダムシーケンスサン
プルポイントが必要となる。マークされるべきサンプルポイントは、図2に示す
ように、疑似ランダムシーケンスシンボル検出器と疑似ランダムシーケンス開始
パルスにより供給される。
ケンスマーカーは、入力伝送リンク信号から、すなわち伝送されたテスト疑似ラ
ンダムシーケンスから派生する、マークされるべき疑似ランダムシーケンスサン
プルポイントが必要となる。マークされるべきサンプルポイントは、図2に示す
ように、疑似ランダムシーケンスシンボル検出器と疑似ランダムシーケンス開始
パルスにより供給される。
【0017】 図2で示したような3ブロックの回路配列である、疑似ランダムシーケンスシ
ンボル検出器、疑似ランダムシーケンス開始パルス、および疑似ランダムシーケ
ンスマーカーを図3において示している。これについてはさらに詳細を後述する
。 この回路の動作原理を図4において5つのラインパルス図に関して示している
。
ンボル検出器、疑似ランダムシーケンス開始パルス、および疑似ランダムシーケ
ンスマーカーを図3において示している。これについてはさらに詳細を後述する
。 この回路の動作原理を図4において5つのラインパルス図に関して示している
。
【0018】 回路の複雑さを理にかなう制限内におさめるために、遡及受信側疑似ランダム
シーケンスマーキングを少しの重要な疑似ランダムシーケンスタイプに制限する
ことが望ましい。
シーケンスマーキングを少しの重要な疑似ランダムシーケンスタイプに制限する
ことが望ましい。
【0019】 疑似ランダムシーケンスデータは、レジスタ長とフィードバックタイプがそれ
により結果的に疑似ランダムシーケンスを決定するフィードバックシフトレジス
タを用いて発振される。最も頻繁に用いられる疑似ランダムシーケンスはITU
(国際電気電信連合)により標準化されている疑似ランダムシーケンス23/1
8および疑似ランダムシーケンス15/14である。この両方は、反転データシ
ーケンスとして伝送され、計測装置リーディング製造者のデータ計測装置の調整
可能テストパターンとして利用可能である。
により結果的に疑似ランダムシーケンスを決定するフィードバックシフトレジス
タを用いて発振される。最も頻繁に用いられる疑似ランダムシーケンスはITU
(国際電気電信連合)により標準化されている疑似ランダムシーケンス23/1
8および疑似ランダムシーケンス15/14である。この両方は、反転データシ
ーケンスとして伝送され、計測装置リーディング製造者のデータ計測装置の調整
可能テストパターンとして利用可能である。
【0020】 図4の第1ラインはデータクロックパルスのパルスシーケンスである。第2ラ
インは、本発明に従って実行される疑似ランダムシーケンスマーキングが示され
た反転疑似ランダムシーケンス15/14のパルスシーケンスを示したものであ
る。
インは、本発明に従って実行される疑似ランダムシーケンスマーキングが示され
た反転疑似ランダムシーケンス15/14のパルスシーケンスを示したものであ
る。
【0021】 非反転疑似ランダムシーケンス15/14は、2進法で追加された15段目と
14段目の信号が、各クロックパルスにて1段目の入力にフィードバックされる
15段シフトレジスタにより発振される。スタンディングシフトレジスタの状態
(低信号にて全段)が回路技術の方法により防止される場合、これは、長さ(2 15 −1)=32767ビットの疑似ランダムシーケンスサイクルとなる。
14段目の信号が、各クロックパルスにて1段目の入力にフィードバックされる
15段シフトレジスタにより発振される。スタンディングシフトレジスタの状態
(低信号にて全段)が回路技術の方法により防止される場合、これは、長さ(2 15 −1)=32767ビットの疑似ランダムシーケンスサイクルとなる。
【0022】 疑似ランダムシーケンスサイクルのクロック実行の間、シフトレジスタは、1
5段により発振可能な異なる全状態を連続的に仮定する。その状態のうちの1つ
が検出され、疑似ランダムシーケンスマーキングの開始ポイントとして決定され
る。
5段により発振可能な異なる全状態を連続的に仮定する。その状態のうちの1つ
が検出され、疑似ランダムシーケンスマーキングの開始ポイントとして決定され
る。
【0023】 図4の第3ラインは、反転データ状態「全シフトレジスタ段信号ロウ」からの
開始パルスの発振を示したものである。開始パルスのハイパルスは、この簡単に
検出されたシフトレジスタ状態が、第2ラインの疑似ランダムシーケンスデータ
信号において発生したところで正確に現れる。このシフトレジスタ状態は、32
767ビットの疑似ランダムシーケンスサイクル全体において1回だけ発生する
。1ビット長の開始パルスは常にこの疑似ランダムシーケンスサンプルポイント
にて発振される。
開始パルスの発振を示したものである。開始パルスのハイパルスは、この簡単に
検出されたシフトレジスタ状態が、第2ラインの疑似ランダムシーケンスデータ
信号において発生したところで正確に現れる。このシフトレジスタ状態は、32
767ビットの疑似ランダムシーケンスサイクル全体において1回だけ発生する
。1ビット長の開始パルスは常にこの疑似ランダムシーケンスサンプルポイント
にて発振される。
【0024】 疑似ランダムシーケンス開始パルスから、いくつかのクロックパルス周期上に
伸長する長いテストエラー長パルスが展開されている。このテストエラー長パル
スはテストエラーの発生および疑似ランダムシーケンスマークの発生に用いられ
る。テストエラー長パルスを図4の第4ラインにて示している。最長疑似ランダ
ムシーケンスのシフトレジスタ段よりも、さらにクロックパルス周期上に、その
長さを伸長すべきである。すなわち、このケースでは、23ビットよりも大きく
なるべきである。図4の第4ラインにおいては36ビットのパルス長が選択され
ている。
伸長する長いテストエラー長パルスが展開されている。このテストエラー長パル
スはテストエラーの発生および疑似ランダムシーケンスマークの発生に用いられ
る。テストエラー長パルスを図4の第4ラインにて示している。最長疑似ランダ
ムシーケンスのシフトレジスタ段よりも、さらにクロックパルス周期上に、その
長さを伸長すべきである。すなわち、このケースでは、23ビットよりも大きく
なるべきである。図4の第4ラインにおいては36ビットのパルス長が選択され
ている。
【0025】 図4の第4ラインは、1ビットだけシフトした第2ラインの疑似ランダムシー
ケンスデータを示している。サンプルポイントがマークされ、多くの調整可能疑
似ランダムシーケンスサイクルの後、それがテストエラー長パルス持続時間の間
、反転され、それが、疑似ランダムシーケンスサイクルにおいて限定された同一
ポジションに常にある連続36ビットエラーのテストエラー長のレシーバとなる
。これらの長さにより、ビットエラーは伝送リンクにおけるビットエラーと混同
されることはない。なぜならば、これらの個々の最大エラー長は常に、疑似ラン
ダムシーケンス基疑似信号発生器のシフトレジスタステージ数によって特徴づけ
がなされるからである。
ケンスデータを示している。サンプルポイントがマークされ、多くの調整可能疑
似ランダムシーケンスサイクルの後、それがテストエラー長パルス持続時間の間
、反転され、それが、疑似ランダムシーケンスサイクルにおいて限定された同一
ポジションに常にある連続36ビットエラーのテストエラー長のレシーバとなる
。これらの長さにより、ビットエラーは伝送リンクにおけるビットエラーと混同
されることはない。なぜならば、これらの個々の最大エラー長は常に、疑似ラン
ダムシーケンス基疑似信号発生器のシフトレジスタステージ数によって特徴づけ
がなされるからである。
【0026】 図3に示す回路配列において、データ伝送リンクから入ってきた受信テスト信
号は疑似ランダムシーケンスデータとクロックパルスにより指示され第一データ
フリップフロップにより受取られる。
号は疑似ランダムシーケンスデータとクロックパルスにより指示され第一データ
フリップフロップにより受取られる。
【0027】 回路の技術的方法により、提供された疑似ランダムシーケンスシンボル検出、
疑似ランダムシーケンス開始パルス発生、および疑似ランダムシーケンスマーキ
ングを達成する目的において、疑似ランダムシーケンスデータ(ここでは反転疑
似ランダムシーケンス15/14データ形式)、およびデータクロックパルスが
カウンターに供給され、疑似ランダムシーケンスタイプの識別子が加えられる。
このカウンターは、疑似ランダムシーケンス開始パルスの発生に使用される。ま
た、このカウンターは、サイクルで1度だけ発生する15ビットの低信号長が発
生したか否かを判断して、その検出の出力にて高信号によりこれを知らせるため
に、疑似ランダムシーケンスデータが通過する時、連続的に実行された反転疑似
ランダムシーケンスサイクルの低状態の個々の長さを各ケースごとにチェックす
るという方法において制御される。
疑似ランダムシーケンス開始パルス発生、および疑似ランダムシーケンスマーキ
ングを達成する目的において、疑似ランダムシーケンスデータ(ここでは反転疑
似ランダムシーケンス15/14データ形式)、およびデータクロックパルスが
カウンターに供給され、疑似ランダムシーケンスタイプの識別子が加えられる。
このカウンターは、疑似ランダムシーケンス開始パルスの発生に使用される。ま
た、このカウンターは、サイクルで1度だけ発生する15ビットの低信号長が発
生したか否かを判断して、その検出の出力にて高信号によりこれを知らせるため
に、疑似ランダムシーケンスデータが通過する時、連続的に実行された反転疑似
ランダムシーケンスサイクルの低状態の個々の長さを各ケースごとにチェックす
るという方法において制御される。
【0028】 従い、単純に構成された疑似ランダムシーケンス開始パルスカウンターは、図
1および図2に示す疑似ランダムシーケンスシンボル検出機能と疑似ランダムシ
ーケンス開始パルス発生機能を既に実行している。しかし、ビット数15のオー
バカウンティングは回避されなくてはならない。疑似ランダムシーケンス開始パ
ルスカウンターは、考慮されうる15ビット以上が低信号長として検出される時
は常に、高信号(開始パルスを表す)を発振してはならない。これは、伝送リン
クにおける割り込みの形による伝送フォールトの場合に発生する。
1および図2に示す疑似ランダムシーケンスシンボル検出機能と疑似ランダムシ
ーケンス開始パルス発生機能を既に実行している。しかし、ビット数15のオー
バカウンティングは回避されなくてはならない。疑似ランダムシーケンス開始パ
ルスカウンターは、考慮されうる15ビット以上が低信号長として検出される時
は常に、高信号(開始パルスを表す)を発振してはならない。これは、伝送リン
クにおける割り込みの形による伝送フォールトの場合に発生する。
【0029】 開始パルスが遡及受信側疑似ランダムシーケンスマーキングに使用されるため
、レシーバ入力信号のフォールトを誘導する誤判断は防がれるにちがいない。
、レシーバ入力信号のフォールトを誘導する誤判断は防がれるにちがいない。
【0030】 レシーバ入力信号の誤判断の回避についても、疑似ランダムシーケンスシフト
レジスタの15段よりも大きいビットをサンプルポイント検出に含むことにより
さらに改善が可能となる。しかし、これは検出回路の複雑さを増大させることに
なる。完全には除くことの出来ないレシーバ入力信号の誤判断が必ずしも不正確
な計測結果をもたらすとは限らないことを理解されたい。なぜならば、本発明に
よる疑似ランダムシーケンスマーキングは後続するビットエラー構造レコーディ
ングに用いられ、いかなる誤判断もビットエラー構造レコードにおいて検出可能
であり、評価実行中もその補償が可能であるからである。
レジスタの15段よりも大きいビットをサンプルポイント検出に含むことにより
さらに改善が可能となる。しかし、これは検出回路の複雑さを増大させることに
なる。完全には除くことの出来ないレシーバ入力信号の誤判断が必ずしも不正確
な計測結果をもたらすとは限らないことを理解されたい。なぜならば、本発明に
よる疑似ランダムシーケンスマーキングは後続するビットエラー構造レコーディ
ングに用いられ、いかなる誤判断もビットエラー構造レコードにおいて検出可能
であり、評価実行中もその補償が可能であるからである。
【0031】 図3において、第一カウンターにより1サイクルで1回送出される疑似ランダ
ムシーケンス開始パルスは第2カウンターに供給される。この第2カウンターは
、疑似ランダムシーケンスサイクル数識別子の助けをかりて、どれだけの非マー
ク疑似ランダムシーケンスサイクル後に疑似ランダムシーケンスマークが再び挿
入されるかを明示するテストエラー頻度信号を配信する。このテストエラー頻度
のカウンターは、疑似ランダムシーケンス開始パルスにてクロックされ、かつ、
サイクル数識別子に従って、16,32,64,128,256,...327
68疑似ランダムシーケンスサイクルの後に駆動信号を送出するシンプル非同期
2進カウンターである。
ムシーケンス開始パルスは第2カウンターに供給される。この第2カウンターは
、疑似ランダムシーケンスサイクル数識別子の助けをかりて、どれだけの非マー
ク疑似ランダムシーケンスサイクル後に疑似ランダムシーケンスマークが再び挿
入されるかを明示するテストエラー頻度信号を配信する。このテストエラー頻度
のカウンターは、疑似ランダムシーケンス開始パルスにてクロックされ、かつ、
サイクル数識別子に従って、16,32,64,128,256,...327
68疑似ランダムシーケンスサイクルの後に駆動信号を送出するシンプル非同期
2進カウンターである。
【0032】 例えば、伝送リンクの伝送レートが2.048Mビット/sであり、(223−
1)=8388607ビットのサイクル長を有する疑似ランダムシーケンス23
/18によって計測される場合、疑似ランダムシーケンスサイクルの持続時間は
およそ4秒となる。しかし、計測の経験では、約毎10分後の疑似ランダムシー
ケンスマーキングにて十分である。
1)=8388607ビットのサイクル長を有する疑似ランダムシーケンス23
/18によって計測される場合、疑似ランダムシーケンスサイクルの持続時間は
およそ4秒となる。しかし、計測の経験では、約毎10分後の疑似ランダムシー
ケンスマーキングにて十分である。
【0033】 マークされていないサイクルに対する有効な疑似ランダムシーケンスサイクル
数は、ちょうど9分未満の挿入パルスと一致する128である。かなり短い疑似
ランダムシーケンスサイクルのため、より頻繁にリピートされる疑似ランダムシ
ーケンス15/14の場合、理想的な長さの挿入パルスを達成するために要求さ
れる疑似ランダムシーケンスサイクル数は32768となる。データクロックパ
ルスと同様、第1カウンタ(疑似ランダムシーケンス開始パルス)のパルス信号
と第2カウンタ(テストエラー駆動パルス)のパルス信号は、図4の第4ライン
に従って、テストエラー長に対するパルスを発振する第3カウンターに供給され
る。
数は、ちょうど9分未満の挿入パルスと一致する128である。かなり短い疑似
ランダムシーケンスサイクルのため、より頻繁にリピートされる疑似ランダムシ
ーケンス15/14の場合、理想的な長さの挿入パルスを達成するために要求さ
れる疑似ランダムシーケンスサイクル数は32768となる。データクロックパ
ルスと同様、第1カウンタ(疑似ランダムシーケンス開始パルス)のパルス信号
と第2カウンタ(テストエラー駆動パルス)のパルス信号は、図4の第4ライン
に従って、テストエラー長に対するパルスを発振する第3カウンターに供給され
る。
【0034】 テストエラー長に対するこのカウンターの出力信号はEXCLUSIVE−O
Rゲートの第1入力に供給される。EXCLUSIVE−ORゲートの第2入力
は、1ビット遅延にてレシーバ入力データ(反転疑似ランダムシーケンス15/
14)を通過する第1データフリップフロップの出力に接続される。
Rゲートの第1入力に供給される。EXCLUSIVE−ORゲートの第2入力
は、1ビット遅延にてレシーバ入力データ(反転疑似ランダムシーケンス15/
14)を通過する第1データフリップフロップの出力に接続される。
【0035】 EXCLUSIVE−ORゲートの出力は第2データフリップフロップの入力
に接続される。この第2データフリップフロップはデータクロックパルスにより
EXCLUSIVE−ORゲートのロジック信号をブランクにして、図4の第5
ラインにて示すマークされた所望の疑似ランダムシーケンスデータ信号をその出
力にて送出する。
に接続される。この第2データフリップフロップはデータクロックパルスにより
EXCLUSIVE−ORゲートのロジック信号をブランクにして、図4の第5
ラインにて示すマークされた所望の疑似ランダムシーケンスデータ信号をその出
力にて送出する。
【0036】 マークされた疑似ランダムシーケンスサンプルポイントで、EXCLUSIV
E−ORゲートにより通常シーケンスにて送出されたロジック信号に常に従って
、データ信号はその反転ビットシーケンスに取替えられる。
E−ORゲートにより通常シーケンスにて送出されたロジック信号に常に従って
、データ信号はその反転ビットシーケンスに取替えられる。
【0037】 本発明に従い受信側でマークされた疑似ランダムシーケンスは同一疑似ランダ
ムシーケンスサンプルポイントを検出すべきであり、従来の伝送側疑似ランダム
シーケンスマーキングと同一のマーク頻度を有するべきである。それにより、ビ
ットエラー構造レコーディングおよび評価プログラムは通常の方法により使用可
能となる。
ムシーケンスサンプルポイントを検出すべきであり、従来の伝送側疑似ランダム
シーケンスマーキングと同一のマーク頻度を有するべきである。それにより、ビ
ットエラー構造レコーディングおよび評価プログラムは通常の方法により使用可
能となる。
【図1】 従来のビットエラー構造計測の設定を表す図である。
【図2】 本発明によるビットエラー構造測定の設定を表す図である。
【図3】 擬似ランダムシーケンスマーカの回路設定を表す図である。
【図4】 擬似ランダムシーケンスマーカのパルスを表す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 伝送された疑似ランダムシーケンスのマーキングが、テスト
中の伝送リンクを通過した後に受信側で発生し、マーカがビット比較器の前で受
信側において接続され、そして、マーキングが伝送側から到着する疑似ランダム
シーケンスと同期することを特徴とする、ビット反転フォームにて限定されたサ
ンプルポイントで挿入されたマーキングを有する計測信号としての疑似ランダム
シーケンスによるデータ伝送チャネルのビットエラー構造計測の工程および装置
。 - 【請求項2】 −限定されたサンプルポイント −マーク頻度 −ラインビットエラーを区別する目的で疑似ランダムシーケンスの段数を超過す
べきクロックパルス周期数 に関して、疑似ランダムシーケンスの受信側マーキングは従来の伝送側マーキン
グに適用されることを特徴とする請求項1に記載の工程および装置。 - 【請求項3】 受信側マーキングがITU(国際電気電信連合)標準に準拠
する疑似ランダムシーケンスを示すことを特徴とする請求項1に記載の工程およ
び装置。 - 【請求項4】 疑似ランダムシーケンスの受信側マーキングが、マーキング
が伝送側にてすでに使用可能というイベントでスイッチオフ可能であること特徴
とする請求項1に記載の工程および装置。 - 【請求項5】 受信側において使用された疑似ランダムシーケンスのマーカ
は、統合モジュールとして、データ計測装置の構成部分であること特徴とする請
求項1に記載の工程および装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19860125A DE19860125A1 (de) | 1998-12-17 | 1998-12-17 | Verfahren und Anordnung für Bitfehlerstruktur-Messungen von Datenübertragungskanälen |
| DE19860125.5 | 1998-12-17 | ||
| PCT/EP1999/008865 WO2000036784A1 (de) | 1998-12-17 | 1999-11-18 | Verfahren und anordnung für bitfehlerstruktur-messungen von datenübertragungskanälen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002533015A true JP2002533015A (ja) | 2002-10-02 |
Family
ID=7892705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000588924A Pending JP2002533015A (ja) | 1998-12-17 | 1999-11-18 | データ伝送チャネルのビットエラー構造計測の工程および装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6651195B1 (ja) |
| EP (1) | EP1062759B1 (ja) |
| JP (1) | JP2002533015A (ja) |
| AT (1) | ATE326089T1 (ja) |
| DE (2) | DE19860125A1 (ja) |
| WO (1) | WO2000036784A1 (ja) |
Family Cites Families (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3694757A (en) | 1970-05-04 | 1972-09-26 | Totuus Communications Inc | Pseudo-random code recognition receiver |
| US3824548A (en) * | 1973-01-15 | 1974-07-16 | Us Navy | Satellite communications link monitor |
| US4023026A (en) | 1975-12-15 | 1977-05-10 | International Telephone And Telegraph Corporation | Pseudo-random coder with improved near range rejection |
| DE2643836A1 (de) | 1976-09-29 | 1978-04-06 | Siemens Ag | Bitfehlermesseinrichtung |
| JPS58196743A (ja) | 1982-05-08 | 1983-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | 回線品質監視制御方式 |
| US4745603A (en) | 1986-05-27 | 1988-05-17 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Code sequence generator for a digital transmission line fault location system |
| FR2619479B1 (fr) | 1987-08-14 | 1989-12-01 | Thomson Csf | Procede pour la synchronisation rapide de vocodeurs couples entre eux au moyen de dispositifs de chiffrement et de dechiffrement |
| DE3733278A1 (de) | 1987-09-29 | 1989-04-13 | Siemens Ag | Messverfahren zur stoerungsanalyse digitaler uebertragungswege und messeinrichtung zur durchfuehrung des messverfahrens |
| JPH01231446A (ja) | 1988-03-11 | 1989-09-14 | Nec Corp | Tdma回線のビット誤り率測定装置 |
| JPH07105786B2 (ja) | 1990-03-24 | 1995-11-13 | アンリツ株式会社 | 擬似ランダム信号の受信装置 |
| GB9008151D0 (en) | 1990-04-10 | 1990-06-06 | British Telecomm | Data communication |
| GB9010724D0 (en) | 1990-05-12 | 1990-07-04 | Storno As | Apparatus for generating and detecting distributed block synchronization |
| JP2751673B2 (ja) | 1991-07-26 | 1998-05-18 | トヨタ自動車株式会社 | デジタル通信システム用ビット誤り率測定装置 |
| JP3146297B2 (ja) | 1992-11-25 | 2001-03-12 | アンリツ株式会社 | 伝送特性測定装置 |
| DE4318368C1 (de) | 1993-05-28 | 1994-07-14 | Siemens Ag | Verfahren zum Gewinnen eines einen Ausfall der Synchronisation zwischen einer Pseudozufallssignalfolge eines Senders und einer Referenz-Pseudozufallssignalfolge eines Empfängers anzeigenden Signals |
| JPH07209382A (ja) | 1994-01-12 | 1995-08-11 | Fujitsu Ltd | 疑似ランダムビットデータの検査装置 |
| JPH0832564A (ja) | 1994-07-15 | 1996-02-02 | Ando Electric Co Ltd | 同期検出回路 |
| JP3058805B2 (ja) | 1995-01-10 | 2000-07-04 | アンリツ株式会社 | 通信ネットワークのビット誤り試験装置 |
| US5761216A (en) | 1995-02-24 | 1998-06-02 | Advantest Corp. | Bit error measurement system |
| JPH0946322A (ja) | 1995-07-28 | 1997-02-14 | Ando Electric Co Ltd | エラー測定回路 |
| US5732089A (en) | 1995-09-27 | 1998-03-24 | Ando Electric Co., Ltd. | Bit error measurement circuit |
| DE19715829A1 (de) | 1997-04-16 | 1998-10-22 | Deutsche Telekom Ag | Bitfehlerstruktur-Erfassungsschaltung |
| JP3274836B2 (ja) | 1997-05-13 | 2002-04-15 | 三菱化学株式会社 | 耐熱材 |
| US5959479A (en) | 1997-09-11 | 1999-09-28 | Hewlett-Packard Company | Sampling timebase system |
-
1998
- 1998-12-17 DE DE19860125A patent/DE19860125A1/de not_active Withdrawn
-
1999
- 1999-11-18 JP JP2000588924A patent/JP2002533015A/ja active Pending
- 1999-11-18 US US09/622,611 patent/US6651195B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-18 WO PCT/EP1999/008865 patent/WO2000036784A1/de not_active Ceased
- 1999-11-18 AT AT99958069T patent/ATE326089T1/de active
- 1999-11-18 DE DE59913413T patent/DE59913413D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-18 EP EP99958069A patent/EP1062759B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59913413D1 (de) | 2006-06-14 |
| US6651195B1 (en) | 2003-11-18 |
| EP1062759A1 (de) | 2000-12-27 |
| EP1062759B1 (de) | 2006-05-10 |
| WO2000036784A1 (de) | 2000-06-22 |
| ATE326089T1 (de) | 2006-06-15 |
| DE19860125A1 (de) | 2000-06-21 |
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