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JP2002365350A - 磁気検出装置 - Google Patents

磁気検出装置

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Publication number
JP2002365350A
JP2002365350A JP2001171078A JP2001171078A JP2002365350A JP 2002365350 A JP2002365350 A JP 2002365350A JP 2001171078 A JP2001171078 A JP 2001171078A JP 2001171078 A JP2001171078 A JP 2001171078A JP 2002365350 A JP2002365350 A JP 2002365350A
Authority
JP
Japan
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magnetic
magnetic field
applying
magneto
impedance
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001171078A
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English (en)
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JP2002365350A5 (ja
Inventor
Takahiro Kudo
高裕 工藤
Yujiro Kitade
雄二郎 北出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Priority to EP02728231A priority patent/EP1403648B1/en
Priority to PCT/JP2002/005464 priority patent/WO2002101396A1/ja
Priority to US10/478,975 priority patent/US6879153B2/en
Priority to KR1020037001739A priority patent/KR100750439B1/ko
Priority to CNB02810773XA priority patent/CN100495044C/zh
Priority to TW091112008A priority patent/TWI266059B/zh
Priority to DE60239334T priority patent/DE60239334D1/de
Publication of JP2002365350A publication Critical patent/JP2002365350A/ja
Publication of JP2002365350A5 publication Critical patent/JP2002365350A5/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
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  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型,低コスト,低消費電力の磁気検出装置
を提供する。 【解決手段】 磁気インピーダンス効果を持つ磁気イン
ピーダンス素子1に対して、バイアス用コイル4および
負帰還用コイル5を樹脂等により一体化して構成する構
造とすることにより、素子1とコイル4,5間の磁気抵
抗を低減させ、より少ない消費電力でバイアスおよび負
帰還磁界を印加できるようにする。2は端子、3はボビ
ン、6は樹脂製のケースを示す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気インピーダ
ンス効果を利用した磁気検出装置、特に、その構造を改
良した磁気検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気検出装置としてはホール素子
や磁気抵抗素子が広く用いられているが、検出感度の点
で満足できるものが少ない。そこで、この磁気抵抗素子
に代わる高感度磁気検出素子として、例えば特開平6−
281712号公報に開示されているアモルファスワイ
ヤによる磁気インピーダンス素子や、特開平8−075
835号公報に開示されている薄膜形状のものが提案さ
れている。
【0003】いずれの形状の磁気インピーダンス素子も
高感度の磁気検出特性を示すが、素子自身の磁気検出特
性は、図14に示すアモルファスワイヤの磁気インピー
ダンス特性例のように非線形特性を有するので、例えば
特開平6−176930号公報,特開平6−34748
9号公報の如く、バイアス磁界を加えることによりイン
ピーダンス変化の印加磁界依存性の直線性を改善した
り、磁気インピーダンス素子に負帰還コイルを巻き、磁
気インピーダンス素子の両端の電圧に比例した電流をコ
イルに通電し負帰還を施すことにより、直線性に優れた
磁気検出素子を提供するようにしている。
【0004】バイアス磁界は磁気インピーダンス素子に
巻かれたコイルに通電する方法が一般的なので、バイア
ス用と帰還用の二種類のコイルを巻く必要があり、装置
が大型化する。装置が大型化すると、磁気インピーダン
ス素子とバイアス用および帰還用コイルとの磁気抵抗が
増えるので、巻線に通電する電流を増やす必要が生じ低
消費電力化の妨げとなる。
【0005】その対策として、磁気インピーダンス素子
を可能な限り小型化することで磁気インピーダンス素子
と巻線間の磁気抵抗を低減できるが、アモルファスワイ
ヤの場合はワイヤの張力等の違い、すなわち磁歪効果の
違いにより出力がばらつく。歪みの影響は磁気感度が小
さい程、すなわち素子が小型化する程影響が大きくなる
ので、アモルファスワイヤを小型化すると磁気検出精度
が上がらない、温度等により歪みの影響が変わるので耐
環境性が悪い、などの問題がある。図15に、アモルフ
ァスワイヤを用いた小型磁気検出装置の例を示す。Wは
アモルファスワイヤ、Cはコイルを示す。
【0006】さらに、ワイヤ状,薄膜状のいずれの形状
の磁気インピーダンス素子を用いる場合でも、磁気イン
ピーダンス素子の製造時の材料(透磁率,抵抗率等)お
よび素子寸法(長さ,膜厚,膜幅等)のばらつきによ
り、素子感度がばらつくという問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】図16に磁気インピー
ダンス素子の検出回路(磁気センサ)の従来例を示す。
【0008】これは、磁気インピーダンス素子1に対
し、高周波電流発生器OSCから高周波電流を流したと
き得られる出力を、検波回路Aおよび増幅回路Bを介し
て出力することで、例えば素子1のインピーダンスを求
めるものである。このとき、出力の調整は可変抵抗器V
Rにより行なう。
【0009】しかし、図16のような方式では、上記の
素子感度ばらつきを1つの可変抵抗器VRでしか調整で
きないので、ばらつきの低減化が非常に困難であるとい
う問題がある。また、このような検出回路を用いて素子
感度ばらつきを低減するためには、1台ずつ調整や校正
を行なう必要があり、コストが大幅にアップする。仮
に、調整,校正が行なえたとしても、経時変化による出
力ドリフトの校正はできないので、補償精度が上がらな
いという問題もある。
【0010】したがって、この発明の課題は、耐環境性
や経時変化による精度低下のない、高精度で低コストな
検出回路を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、請求項1の発明では、磁気インピーダンス効果
を有する磁気インピーダンス素子と、この磁気インピー
ダンス素子の両端に交流電流を印加する端子と、前記磁
気インピーダンス素子にバイアス磁界を印加するための
巻線および端子と、前記磁気インピーダンス素子に負帰
還磁界を印加するための巻線および端子とを設け、前記
磁気インピーダンス素子と、前記バイアス磁界を印加す
るための巻線および端子と、前記負帰還磁界を印加する
ための巻線および端子とを樹脂成型により一体化するこ
とを特徴とする。
【0012】この請求項2の発明では、磁気インピーダ
ンス効果を有する1対の磁気インピーダンス素子と、こ
れら各磁気インピーダンス素子の両端に交流電流を印加
する端子と、前記各磁気インピーダンス素子にバイアス
磁界を印加するための巻線および端子と、前記各磁気イ
ンピーダンス素子に負帰還磁界を印加するための巻線お
よび端子とを設け、前記磁気インピーダンス素子と、前
記バイアス磁界を印加するための巻線および端子と、前
記負帰還磁界を印加するための巻線および端子とをそれ
ぞれ樹脂成型により一体化することを特徴とする。
【0013】この請求項2の発明においては、前記負帰
還磁界を印加するための巻線は、前記対となる磁気イン
ピーダンス素子に対して同一方向の磁界を与えるよう1
つの巻線から構成することができる(請求項3の発
明)。
【0014】請求項4の発明では、磁気インピーダンス
効果を有する少なくとも2つの磁気インピーダンス素子
と、これら各磁気インピーダンス素子の両端に交流電流
を印加する端子と、前記各磁気インピーダンス素子にバ
イアス磁界を印加するための磁石と、前記各磁気インピ
ーダンス素子に負帰還磁界を印加するための巻線および
端子とを設け、前記磁気インピーダンス素子と、磁石
と、前記負帰還磁界を印加するための巻線および端子と
をそれぞれ樹脂成型により一体化することを特徴とす
る。
【0015】上記請求項1ないし4のいずれかの発明に
おいては、前記磁気インピーダンス素子に対し、その出
力に比例した信号を出力する回路部を一体化することが
できる(請求項5の発明)。
【0016】上記請求項1ないし5のいずれかの発明に
おいては、前記磁気インピーダンス素子として薄膜型の
ものを用いることができる(請求項6の発明)。
【0017】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の第1の実施の形
態を示す構成図で、1は薄膜状の磁気インピーダンス素
子、3は磁気インピーダンス素子1の外側に形成された
樹脂製のボビンで、インサート成形等で製作する。4は
磁気インピーダンス素子1にバイアス磁界を印加するた
めのコイル、5は磁気インピーダンス素子1に負帰還磁
界を印加するためのコイル、6は磁気インピーダンス素
子1およびコイル4,5を環境から保護するための樹脂
製のケースで、インサート成形等で製作する。2は磁気
インピーダンス素子1の両端に高周波電流を印加するた
めの端子、およびコイル4,5に電流を印加するための
端子である。以上のように構成される磁気検出装置を、
符号10で示す。
【0018】図2に磁気検出装置の組み立てフローを示
す。
【0019】まず、に示すリードフレーム20の一組
の端子間に、磁気インピーダンス素子1をに示すよう
に接合する。この接合方法としては半田付け,接着,ボ
ンディング等がある。次に、のように、磁気インピー
ダンス素子1を接合したリードフレーム20に、ボビン
3を樹脂成形する。次いでのようにリードフレームを
カットした後、バイアス用コイル4と負帰還用コイル5
を巻く。その上に、のようにケース6を樹脂成形し、
端子2を折り曲げ加工して完成となる。
【0020】薄膜状の磁気インピーダンス素子は1mm
角程度に製作が可能なので、磁気検出装置10の外形を
ほぼ5mm角にすることができ、磁気インピーダンス素
子1とコイル4,5との磁気抵抗を大幅に低減すること
ができる。
【0021】図3に検出回路の例を示す。
【0022】同図において、80は磁気インピーダンス
素子1に高周波電流を印加する素子駆動部、81はバイ
アス用コイル4を駆動するバイアス用駆動部、82は検
波回路、83,84は保持回路、85は差動増幅回路、
86は負帰還用コイル5に出力を帰還するための、例え
ば抵抗からなる帰還素子、87は差動増幅回路85の出
力電圧をデジタル値に変換する電圧/デジタル変換器、
88はマイクロコンピュータ等からなる補正演算器をそ
れぞれ示す。
【0023】つまり、外部磁界によるインピーダンスの
変化を検波回路82で検波後に、バイアス用コイル4に
印加する波形のタイミングに同期させ、保持回路83で
検波波形の(+)側を保持するとともに保持回路84で
その(−)側を保持し、これらの差を差動増幅回路85
で検出する。
【0024】図4は磁気検出装置に交流バイアスを印加
した時の出力説明図である。
【0025】これは一般的な磁気インピーダンス素子の
特性を示し、零磁界を基準に磁界の方向に関わらず任意
のセンサ出力が得られる様子を示す。
【0026】図4において、(a),(b)で示すケー
ス1は、外部磁界が零の状態で、磁気インピーダンス素
子の出力で見たプラス側の出力とマイナス側の出力が等
しいくなっているので、保持回路83,84のそれぞれ
の出力は等しくなり、差動増幅回路85の出力は零とな
る。
【0027】図4の(c),(d)で示すケース2は、
外部磁界が印加された状態で、磁気インピーダンス素子
の出力で見たプラス側の出力とマイナス側の出力差はΔ
Vとなるので、保持回路83,84のそれぞれの出力差
はΔVとなり、差動増幅回路85の出力はα×ΔV
(α:差動増幅回路のゲイン)となる。
【0028】以上のように、任意の磁界が印加された状
態で既知の磁界をバイアス用コイルに印加し、そのとき
の出力を求めることにより、磁気検出装置の出力感度を
自動的に求めることができるので、以上に説明したよう
な磁気検出装置を用いることにより、環境特性や経時変
化にて磁気インピーダンス素子1の磁気感度が変化した
としても、図4で示したような方法により磁気インピー
ダンス素子1の感度を検出し、自動的に校正をすること
が可能となる。
【0029】図5は磁気検出装置における磁界の発生方
向説明図である。
【0030】ここでは、バイアス用コイル4の外側に帰
還用コイル5が巻かれているが、帰還用コイル5の外側
にバイアス用コイル4を巻くようにしても良い。磁気イ
ンピーダンス素子1の磁界検知方向に対して、負帰還用
コイル5による磁界方向を逆にすることにより、磁気イ
ンピーダンス素子1への印加磁界を低減できるので、よ
り広い範囲の磁界検知が可能となる。
【0031】図6に負帰還素子(86)を任意に選定し
た場合の、検知磁界に対する磁気検出装置の出力特性例
を示す。負帰還を施した場合の方が広範囲の磁界を検知
できることが分かる。
【0032】図7に磁気検出装置により電流を検知する
場合の構成例を示す。同図(a)は斜視図、同(b)は
上面図である。
【0033】図(a)のように、電流を導く配線12を
有する基板11上に磁気検出装置を実装したもので、電
流120により発生する同(b)の点線のような磁束に
対する磁気検出装置10の配置により、磁気検出装置1
0の出力感度が決定されるので、磁気検出装置10の配
置を考慮することにより、電流120の大きさに応じた
磁気検出装置10の出力感度調整が可能となる。
【0034】図8に磁気検出装置を用いて電流を検知す
る場合の磁気シールドの構成例を示す。これは、図7に
示すものに磁気シールド13を付加したもので、その形
状は電流120の大きさに応じて適正化することが必要
である。
【0035】図9にこの発明の第2の実施の形態を示
す。
【0036】これは、図1に示すものに対し、2つの磁
気インピーダンス素子1a,1bを用いた点が特徴であ
る。こうすれば、2つの素子の出力差をとることがで
き、これにより外乱磁界の影響をキャンセルして磁界を
検知することが可能となり、より高精度な検知が可能と
なる。
【0037】図10は外乱磁界のキャンセル方法説明図
である。
【0038】同図において、磁界Sに対する磁気インピ
ーダンス素子1a,1bの検知磁界をSa,Sbとし、
一様な外乱磁界Nに対する磁気インピーダンス素子1
a,1bの検知磁界をNとすると、磁気インピーダンス
素子1a,1bの出力差は、 差動出力=1aの出力−1bの出力 =Sa+N−(Sb+N)=Sa−Sb …(1) となり、一様な外乱磁界Nの影響を受けることなく磁界
の検知が可能なことが分かる。
【0039】図11にこの発明の第3の実施の形態を示
す。
【0040】これは、図9のバイアス用コイルの代わり
に、(マイクロ)マグネット7を用いた点が特徴であ
る。マイクロマグネット7は磁気インピーダンス素子1
a,1bに直流バイアスを印加するもので、バイアス用
コイルを用いるものに比べてバイアス用コイルに通電す
る電流を低消費電力化できる。通常、バイアス用コイル
には約30mA程度の電流が必要なので、5V駆動時に
約150mWの低消費電力化が可能となる。
【0041】図12は、図11のマイクロマグネットに
よる直流バイアス説明図である。同図の外部磁界に対す
るセンサの出力特性は、一般的な磁気インピーダンス素
子の特性を示しており、零磁界を基準に磁界の方向に関
わらず任意のセンサ出力が得られることを示す。図12
(a),(b),(c)で示すケース1は、外部磁界が
零の状態で、磁気インピーダンス素子1a,1bの出力
が等しくなっているので、保持回路83,84の各出力
も等しくなり、差動増幅回路85の出力は零となる。
【0042】また、図12(d),(e),(f)で示
すケース2は、外部磁界ΔHが印加された状態で、磁気
インピーダンス素子1a,1bの出力差がΔVとなるの
で、保持回路83,84の出力差もΔVとなり、差動増
幅回路85の出力はA×ΔV(=α×(ΔH−Δ
H’)、A:差動増幅回路のゲイン)となる。
【0043】図13にこの発明の第4の実施の形態を示
す。
【0044】これは、図1に示す磁気検出装置に対し、
図3に示すような検知回路部8を内蔵した点が特徴であ
る。このようにすることで、センサ信号の高S/N化が
可能となり、図4で説明したような自動校正時の各種補
正データを磁気インピーダンス素子毎に内蔵させること
で、より高精度化できる。このような検知回路部8は図
9,図11に示す磁気検出装置に対しても適用できるの
は言うまでもない。
【0045】
【発明の効果】この発明によれば、磁気インピーダンス
素子とバイアス巻線,負帰還巻線および端子を樹脂成形
により一体化したので、磁気抵抗が低減されバイアス電
流および負帰還電流を小さくすることができ、小型で低
消費電力の磁気検出装置を提供することができる。
【0046】また、バイアス用コイルで既知の磁界を印
加できるので、その出力から磁気インピーダンス素子の
感度を自動的に検出することにより、耐環境性に優れた
高精度な磁気検出装置を提供できる。
【0047】さらに、負帰還電流により検知磁界が低減
できるので、負帰還電流を大きくすることにより、検知
磁界に対する磁気検出装置の出力感度の調整が可能とな
る。したがって、検知磁界により磁気検出装置の出力が
飽和することがなく、磁気検知範囲の広い(ワイドレン
ジな)磁気検出装置を低消費電力で提供できる。
【0048】また、2つの磁気インピーダンス素子の出
力の差を検出することで、外乱磁界の影響をキャンセル
することができ、低消費電力で高精度な磁気検出装置を
提供できる。
【0049】磁気インピーダンス素子のバイアス磁界を
マイクロマグネットで印加することで、バイアスコイル
に印加する電流分を更に低減でき、より低消費電力化を
図ることができる。
【0050】また、信号処理回路(検知回路部)を内蔵
させることで、センサ信号の高S/N化が可能となる。
特に、各種補正データを内蔵させて高機能化を図ること
で、耐環境性に優れ高精度で低消費電力の磁気検出装置
を提供できる。
【0051】加えて、磁気インピーダンス素子に薄膜タ
イプのものを用いることにより、ワイヤタイプで問題と
なる歪みによる出力変化の影響が少なく、その結果、高
精度で低消費電力の磁気検出装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施の形態を示す構成図であ
る。
【図2】この発明による磁気検出装置の製造過程説明図
である。
【図3】図1で用いられる検知回路例を示すブロック図
である。
【図4】磁気検出装置における交流バイアス説明図であ
る。
【図5】磁気インピーダンス素子における磁界発生方向
説明図である。
【図6】磁気検出装置の磁界検知特性説明図である。
【図7】磁気検出装置における磁界検知方向説明図であ
る。
【図8】磁気シールドの説明図である。
【図9】この発明の第2の実施の形態を示す構成図であ
る。
【図10】外乱磁界のキャンセル方法説明図である。
【図11】この発明の第3の実施の形態を示す構成図で
ある。
【図12】磁気検出装置における直流バイアス説明図で
ある。
【図13】この発明の第4の実施の形態を示す構成図で
ある。
【図14】アモルファスワイヤの磁気インピーダンス特
性説明図である。
【図15】アモルファスワイヤを用いた磁気検出装置例
を示す概要図である。
【図16】検出回路の従来例を示す回路図である。
【符号の説明】
1,1a,1b…磁気インピーダンス素子、2…端子、
3…ボビン、4…バイアス磁界印加用コイル、5…負帰
還磁界印加用コイル、6…樹脂製ケース、7…マイクロ
マグネット、8…検知回路部、10…磁気検出装置、1
1…基板、12…配線、13…磁気シールド、20…リ
ードフレーム、80…素子駆動部、81…バイアス用駆
動部、82…検波回路、83,84…保持回路、85…
差動増幅回路、86…負帰還素子、87…電圧/デジタ
ル変換器、88…補正演算器。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気インピーダンス効果を有する磁気イ
    ンピーダンス素子と、この磁気インピーダンス素子の両
    端に交流電流を印加する端子と、前記磁気インピーダン
    ス素子にバイアス磁界を印加するための巻線および端子
    と、前記磁気インピーダンス素子に負帰還磁界を印加す
    るための巻線および端子とを設け、前記磁気インピーダ
    ンス素子と、前記バイアス磁界を印加するための巻線お
    よび端子と、前記負帰還磁界を印加するための巻線およ
    び端子とを樹脂成型により一体化することを特徴とする
    磁気検出装置。
  2. 【請求項2】 磁気インピーダンス効果を有する1対の
    磁気インピーダンス素子と、これら各磁気インピーダン
    ス素子の両端に交流電流を印加する端子と、前記各磁気
    インピーダンス素子にバイアス磁界を印加するための巻
    線および端子と、前記各磁気インピーダンス素子に負帰
    還磁界を印加するための巻線および端子とを設け、前記
    磁気インピーダンス素子と、前記バイアス磁界を印加す
    るための巻線および端子と、前記負帰還磁界を印加する
    ための巻線および端子とをそれぞれ樹脂成型により一体
    化することを特徴とする磁気検出装置。
  3. 【請求項3】 前記負帰還磁界を印加するための巻線
    は、前記対となる磁気インピーダンス素子に対して同一
    方向の磁界を与えるよう1つの巻線からなることを特徴
    とする請求項2に記載の磁気検出装置。
  4. 【請求項4】 磁気インピーダンス効果を有する少なく
    とも2つの磁気インピーダンス素子と、これら各磁気イ
    ンピーダンス素子の両端に交流電流を印加する端子と、
    前記各磁気インピーダンス素子にバイアス磁界を印加す
    るための磁石と、前記各磁気インピーダンス素子に負帰
    還磁界を印加するための巻線および端子とを設け、前記
    磁気インピーダンス素子と、磁石と、前記負帰還磁界を
    印加するための巻線および端子とをそれぞれ樹脂成型に
    より一体化することを特徴とする磁気検出装置。
  5. 【請求項5】 前記磁気インピーダンス素子に対し、そ
    の出力に比例した信号を出力する回路部を一体化するこ
    とを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の磁
    気検出装置。
  6. 【請求項6】 前記磁気インピーダンス素子として薄膜
    型のものを用いることを特徴とする請求項1ないし5の
    いずれかに記載の磁気検出装置。
JP2001171078A 2001-06-06 2001-06-06 磁気検出装置 Pending JP2002365350A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7304475B2 (en) * 2003-03-25 2007-12-04 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies Mechanism for and method of biasing magnetic sensor
JP2016514269A (ja) * 2013-03-15 2016-05-19 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 外部からアクセス可能なコイルを有する磁気センサのための方法及び装置
JP2017096829A (ja) * 2015-11-26 2017-06-01 矢崎総業株式会社 磁界検出センサ
US11680996B2 (en) 2012-05-10 2023-06-20 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI221929B (en) 2001-10-09 2004-10-11 Fuji Electric Co Ltd Overload current protection apparatus
JP4845335B2 (ja) * 2003-05-21 2011-12-28 キヤノン株式会社 データストリーム送信装置及びデータストリーム受信装置
JP4483497B2 (ja) * 2004-09-16 2010-06-16 富士ゼロックス株式会社 磁性体検知装置
JP4725600B2 (ja) 2008-06-10 2011-07-13 愛知製鋼株式会社 マグネトインピーダンスセンサ素子
US20100188078A1 (en) * 2009-01-28 2010-07-29 Andrea Foletto Magnetic sensor with concentrator for increased sensing range
CN102183736B (zh) * 2011-02-28 2013-10-02 上海奥波信息科技有限公司 一种弱磁场测量装置及方法
CN102707246B (zh) * 2011-03-28 2016-01-20 新科实业有限公司 测量隧道磁电阻传感器中纵向偏磁场的方法
JP5533826B2 (ja) * 2011-09-19 2014-06-25 株式会社デンソー 電流センサおよび電流センサの組み付け構造
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9812588B2 (en) 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9494660B2 (en) 2012-03-20 2016-11-15 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US9666788B2 (en) 2012-03-20 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US10234513B2 (en) 2012-03-20 2019-03-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
JP2016057190A (ja) * 2014-09-10 2016-04-21 愛知製鋼株式会社 磁界測定装置
CN105606877B (zh) * 2016-02-22 2019-01-04 宁波中车时代传感技术有限公司 一种闭环tmr电流传感器
AU2017330454B2 (en) * 2016-09-26 2022-08-18 Magic Leap, Inc. Calibration of magnetic and optical sensors in a virtual reality or augmented reality display system
CN107290694B (zh) * 2017-07-18 2020-12-18 上海交通大学 抑制方向串扰的电感型磁传感器及其制备方法
US10921391B2 (en) 2018-08-06 2021-02-16 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with spacer
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3266736B2 (ja) * 1994-05-17 2002-03-18 三菱電機株式会社 磁気センサ
EP0892276A3 (en) * 1997-07-14 2001-05-30 Alps Electric Co., Ltd. Magnetic sensor
WO1999006848A1 (fr) * 1997-07-29 1999-02-11 Unitika Ltd. Dispositif a effet d'impedance magnetique
JP2000081471A (ja) 1998-06-30 2000-03-21 Aichi Steel Works Ltd 熱衝撃および機械振動に優れた磁気インピーダンス素子及び磁気インピーダンスセンサ
TW434411B (en) * 1998-10-14 2001-05-16 Tdk Corp Magnetic sensor apparatus, current sensor apparatus and magnetic sensing element
JP2000193729A (ja) * 1998-12-24 2000-07-14 Alps Electric Co Ltd 磁気インピーダンス効果素子の駆動回路
JP2000258464A (ja) 1999-03-09 2000-09-22 Mitsubishi Materials Corp 電流センサ
JP2000284028A (ja) * 1999-03-30 2000-10-13 Kaneo Mori 薄膜磁性体mi素子
JP3764834B2 (ja) * 1999-10-22 2006-04-12 キヤノン電子株式会社 電流センサー及び電流検出装置
JP2001296127A (ja) 2000-04-13 2001-10-26 Aichi Steel Works Ltd 磁場検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7304475B2 (en) * 2003-03-25 2007-12-04 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies Mechanism for and method of biasing magnetic sensor
US11680996B2 (en) 2012-05-10 2023-06-20 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil
JP2016514269A (ja) * 2013-03-15 2016-05-19 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 外部からアクセス可能なコイルを有する磁気センサのための方法及び装置
US10725100B2 (en) 2013-03-15 2020-07-28 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an externally accessible coil
JP2017096829A (ja) * 2015-11-26 2017-06-01 矢崎総業株式会社 磁界検出センサ

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CN100495044C (zh) 2009-06-03
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