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JP2002269981A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

Info

Publication number
JP2002269981A
JP2002269981A JP2001067902A JP2001067902A JP2002269981A JP 2002269981 A JP2002269981 A JP 2002269981A JP 2001067902 A JP2001067902 A JP 2001067902A JP 2001067902 A JP2001067902 A JP 2001067902A JP 2002269981 A JP2002269981 A JP 2002269981A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory element
signal
register
refresh operation
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001067902A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junji Mori
順二 森
Takashi Tatsumi
隆 辰巳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001067902A priority Critical patent/JP2002269981A/en
Publication of JP2002269981A publication Critical patent/JP2002269981A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 必要なリフレッシュ対象につき的確にリフレ
ッシュ動作を行える半導体メモリ装置を得る。 【解決手段】 メモリ要素4〜7と、前記メモリ要素へ
制御信号を入力するための外部信号を受ける制御端子と
を備え、前記制御端子による入力信号の組み合わせによ
って前記メモリ要素4〜7の一部についてリフレッシュ
動作を行うためのコマンド信号を生成し、前記コマンド
信号により前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象とし
てのメモリ要素4〜7の一部についてリフレッシュ動作
を行わせるようにした。
(57) [Problem] To provide a semiconductor memory device capable of appropriately performing a refresh operation on a required refresh target. A memory element includes a memory element and a control terminal that receives an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a part of the memory element according to a combination of input signals from the control terminal. , A command signal for performing a refresh operation is generated, and the command signal causes the refresh operation to be performed on a part of the memory elements 4 to 7 to be refreshed among the memory elements.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体メモリ装
置、特に、セルフリフレッシュ回路を持つDRAMから
なるダイナミックメモリ装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a dynamic memory device comprising a DRAM having a self-refresh circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は従来技術によるセルフリフレッシ
ュ回路を持つDRAMの構成を示すブロック図である。
図8は従来技術におけるセルフリフレッシュタイミング
を示すタイミングチャートである。図において、1はC
LK信号の立ち上がりエッジで各入力ピンの状態を取り
込みコマンドを認識するコマンドデータ、2はワード線
を昇圧するためのアクティブ信号を一定周期で発生させ
るセルフリフレッシュタイマー、3はアクティブ(Ac
tive)信号発生毎に、リフレッシュを行うロウ・ア
ドレスをカウント・アップするセルフリフレッシュカウ
ンタである。4〜7はデータを記憶しておくメモリセル
であり、4はバンク〔1〕を、5はバンク〔2〕を、6
はバンク〔3〕を、7はバンク〔4〕を、それぞれ構成
する。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a DRAM having a self-refresh circuit according to the prior art.
FIG. 8 is a timing chart showing the self-refresh timing in the prior art. In the figure, 1 is C
Command data for recognizing a command by taking in the state of each input pin at the rising edge of the LK signal, 2 is a self-refresh timer for generating an active signal for boosting the word line at a fixed period, and 3 is active (Ac
tive) A self-refresh counter that counts up a row address to be refreshed every time a signal is generated. 4 to 7 are memory cells for storing data, 4 is bank [1], 5 is bank [2], 6
Constitutes the bank [3], and 7 constitutes the bank [4].

【0003】図7および図8に示す従来技術によるセル
フリフレッシュ回路は、リフレッシュを実施する領域
(アドレス)を指定する機能を持っていなかった。この
ため、不要なアドレスについてもリフレッシュ動作を行
うので、無駄な電力を消費していた。
The conventional self-refresh circuit shown in FIGS. 7 and 8 does not have a function of designating a region (address) for performing refresh. For this reason, unnecessary addresses are consumed because the refresh operation is also performed for unnecessary addresses.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】この発明は、必要なリ
フレッシュ対象につき的確にリフレッシュ動作を行える
半導体メモリ装置を得ようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of accurately performing a refresh operation on a required refresh target.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係る半導体
メモリ装置では、メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御
信号を入力するための外部信号を受ける制御端子とを備
え、前記制御端子による入力信号の組み合わせによって
前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行う
ためのコマンド信号を生成し、前記コマンド信号により
前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としてのメモリ
要素の一部についてリフレッシュ動作を行わせるように
したものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor memory device comprising: a memory element; and a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element. A command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is generated by a combination of signals, and the refresh operation is performed on a part of the memory element to be refreshed among the memory elements by the command signal. Things.

【0006】第2の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレ
ジスタとを備え、前記メモリ要素の一部についてリフレ
ッシュ動作を行うためのコマンド信号を前記レジスタに
格納し、前記レジスタのコマンド信号により前記メモリ
要素のうちリフレッシュ対象としてのメモリ要素の一部
についてリフレッシュ動作を行わせるようにしたもので
ある。
In the semiconductor memory device according to the second invention,
A memory element and a register integrated with the memory element, a command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is stored in the register, and a command signal of the memory element stores the command signal of the register. The refresh operation is performed on a part of the memory elements to be refreshed.

【0007】第3の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信号を入力するた
めの外部信号を受ける制御端子と、前記メモリ要素と一
体に組み込まれたレジスタとを備え、前記制御端子によ
る入力信号の組み合わせによって前記メモリ要素の一部
についてリフレッシュ動作を行うためのコマンド信号を
生成して前記レジスタに格納し、前記レジスタのコマン
ド信号により前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象と
してのメモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行
わせるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to a third aspect,
A memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element. A command signal for performing a refresh operation on a part is generated and stored in the register, and a refresh operation is performed on a part of the memory element to be refreshed among the memory elements by the command signal of the register. Things.

【0008】第4の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信号を入力するた
めの外部信号を受ける制御端子と、前記メモリ要素と一
体に組み込まれたレジスタとを備え、前記レジスタに前
記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行うた
めのアドレス指定信号を格納し、前記レジスタの前記ア
ドレス指定信号により前記メモリ要素のうちリフレッシ
ュ対象としての特定の領域だけについてリフレッシュ動
作を行わせるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to a fourth aspect,
A memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element, wherein the register performs a refresh operation on a part of the memory element. An address designation signal to be performed is stored, and the refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed among the memory elements by the address designation signal of the register.

【0009】第5の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたス
タートアドレスレジスタおよびストップアドレスレジス
タとを備え、前記スタートアドレスレジスタに前記メモ
リ要素の一部についてリフレッシュ動作を行うためのス
タートアドレス指定信号を格納するとともに、前記スト
ップアドレスレジスタに前記メモリ要素の一部について
リフレッシュ動作を行うためのストップアドレス指定信
号を格納し、前記スタートアドレスレジスタおよびスト
ップアドレスレジスタの前記アドレス指定信号により前
記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定の領
域だけについてリフレッシュ動作を行わせるようにした
ものである。
In a semiconductor memory device according to a fifth aspect,
A memory element, a start address register and a stop address register integrated with the memory element, and a start address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element in the start address register; Storing a stop address designating signal for performing a refresh operation on a part of the memory element in the stop address register, and using the start address register and the stop address register as the refresh target among the memory elements by the address designating signal. The refresh operation is performed only in a specific area.

【0010】第6の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素への制御信号を入力する
ための外部信号を受ける制御端子と、外部からアドレス
信号を受けるアドレス端子と、前記メモリ要素と一体に
組み込まれたレジスタとを備え、前記制御端子およびア
ドレス端子による入力信号の組み合わせによって前記メ
モリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行うための
アドレス指定信号を生成して前記レジスタに格納し、前
記レジスタの前記アドレス指定信号により前記メモリ要
素のうちリフレッシュ対象としての特定の領域だけにつ
いてリフレッシュ動作を行わせるようにしたものであ
る。
In a semiconductor memory device according to a sixth aspect,
A memory element, a control terminal receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal receiving an external address signal, and a register integrated with the memory element, An address designating signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is generated by a combination of input signals by a terminal and an address terminal, and stored in the register, and the address designation signal of the register refreshes the memory element. The refresh operation is performed only for a specific area as a target.

【0011】第7の発明に係る半導体メモリ装置では、
メモリ要素と、前記メモリ要素への制御信号を入力する
ための外部信号を受ける制御端子と、外部からアドレス
信号を受けるアドレス端子と、前記メモリ要素と一体に
組み込まれたレジスタと、前記メモリ要素と一体に組み
込まれたセルフリフレッシュタイマーとを備え、前記制
御端子およびアドレス端子による入力信号の組み合わせ
によって前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動
作を行うためのアドレス指定信号を生成して前記レジス
タに格納し、前記レジスタの前記アドレス指定信号と前
記セルフリフレッシュタイマーによって所定の周期で発
生されるアクティブ信号とにより前記メモリ要素のうち
リフレッシュ対象としての特定の領域だけについてリフ
レッシュ動作を行わせるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to a seventh aspect,
A memory element, a control terminal receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal receiving an external address signal, a register integrated with the memory element, A self-refresh timer integrally incorporated, generating an address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element by a combination of input signals from the control terminal and the address terminal, and storing the address designation signal in the register; The refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed in the memory element by the address designation signal of the register and an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer.

【0012】第8の発明に係る半導体メモリ装置では、
複数のバンクを有するメモリ要素と、前記メモリ要素へ
制御信号を入力するための外部信号を受ける制御端子と
を備え、前記制御端子による入力信号の組み合わせによ
って前記メモリ要素の各バンクについてリフレッシュ動
作を実施するか実施しないかを選択するためのバンク選
択用コマンド信号を生成し、前記バンク選択用コマンド
信号により前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象とし
ての特定のバンクだけについてリフレッシュ動作を行わ
せるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to an eighth aspect,
A memory element having a plurality of banks; and a control terminal receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, wherein a refresh operation is performed for each bank of the memory element by a combination of input signals from the control terminal. A command signal for bank selection for selecting whether to perform or not to execute is generated, and the bank selection command signal causes the refresh operation to be performed only for a specific bank to be refreshed among the memory elements. is there.

【0013】第9の発明に係る半導体メモリ装置では、
複数のバンクを有するメモリ要素と、前記メモリ要素と
一体に組み込まれたレジスタとを備え、前記メモリ要素
の各バンクについてリフレッシュ動作を実施するか実施
しないかを選択するためのバンク選択用コマンド信号を
前記レジスタに格納し、前記レジスタの前記バンク選択
用コマンド信号により前記メモリ要素のうちリフレッシ
ュ対象としての特定の領域だけについてリフレッシュ動
作を行わせるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to a ninth aspect,
A memory element having a plurality of banks; and a register integrated with the memory element. A bank selection command signal for selecting whether to perform a refresh operation on each bank of the memory element. The memory element is stored in the register, and the refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed among the memory elements by the bank selection command signal of the register.

【0014】第10の発明に係る半導体メモリ装置で
は、複数のバンクを有するメモリ要素と、前記メモリ要
素へ制御信号を入力するための外部信号を受ける制御端
子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタと
を備え、前記制御端子による入力信号の組み合わせによ
って前記メモリ要素の各バンクについてリフレッシュ動
作を実施するか実施しないかを選択するためのバンク選
択用コマンド信号を生成して前記レジスタに格納し、前
記レジスタのバンク選択用コマンド信号により前記メモ
リ要素のうちリフレッシュ対象としての特定のバンクだ
けについてリフレッシュ動作を行わせるようにしたもの
である。
In a semiconductor memory device according to a tenth aspect of the present invention, a memory element having a plurality of banks, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and integrated with the memory element are provided. A bank selection command signal for selecting whether or not to perform a refresh operation for each bank of the memory element according to a combination of input signals from the control terminal, and storing the command signal in the register. The refresh operation is performed only for a specific bank to be refreshed among the memory elements by a bank selection command signal of the register.

【0015】第11の発明に係る半導体メモリ装置で
は、複数のバンクを有するメモリ要素と、前記メモリ要
素へ制御信号を入力するための外部信号を受ける制御端
子、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタと、
前記メモリ要素と一体に組み込まれたセルフリフレッシ
ュタイマーとを備え、前記制御端子による入力信号の組
み合わせによって前記メモリ要素の各バンクについてリ
フレッシュ動作を実施するか実施しないかを選択するた
めのバンク選択用コマンド信号を生成して前記レジスタ
に格納し、前記レジスタのバンク選択用コマンド信号と
前記セルフリフレッシュタイマーによって所定の周期で
発生されるアクティブ信号とにより前記メモリ要素のう
ちリフレッシュ対象としての特定のバンクだけについて
リフレッシュ動作を行わせるようにしたものである。
In a semiconductor memory device according to an eleventh aspect of the present invention, a memory element having a plurality of banks, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and integrated with the memory element Registers and
A self-refresh timer integrated with the memory element, and a bank selection command for selecting whether or not to perform a refresh operation on each bank of the memory element by a combination of input signals from the control terminal. A signal is generated and stored in the register, and a command signal for bank selection of the register and an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer are used for only a specific bank to be refreshed among the memory elements. The refresh operation is performed.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】実施の形態1.この発明による実
施の形態1を図1ないし図3について説明する。図1は
実施の形態1における改善されたセルフリフレッシュ回
路を採用したDRAMの構成を示すものである。図2は
実施の形態1におけるセルフリフレッシュタイミングを
示すタイミングチャートである。図3は実施の形態1に
おけるコマンド信号を示す説明図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 First Embodiment A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a configuration of a DRAM employing an improved self-refresh circuit according to the first embodiment. FIG. 2 is a timing chart showing self-refresh timing in the first embodiment. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a command signal according to the first embodiment.

【0017】実施の形態1における改善されたセルフリ
フレッシュ回路を採用したDRAMの構成を示す図1を
参照して、図7に示した従来のセルフリフレッシュ回路
と比較して説明する。その改善点は、セルフリフレッシ
ュを行う領域を指定できることである。レジスタで指定
された領域だけをリフレッシュする手段を図1ないし図
3を参照しながら説明する。図1において、1はCLK
端子に導入されるクロック信号であるCLK信号の立ち
上がりエッジで外部信号を受ける制御端子を構成する各
入力ピンの状態を取り込みコマンドを認識するコマンド
データ、2はワード線を昇圧するためのアクティブ信号
を一定周期で発生させるセルフリフレッシュタイマー、
3はアクティブ(Active)信号発生毎に、リフレ
ッシュを行うロウ・アドレスをカウント・アップするセ
ルフリフレッシュカウンタである。4〜7はデータを記
憶しておくメモリセルからなるメモリ要素であり、4は
バンク〔1〕を、5はバンク〔2〕を、6はバンク
〔3〕を、7はバンク〔4〕を、それぞれ構成する。1
3はセルフリフレッシュを行う領域を格納しておくため
のスタート/ストップアドレスレジスタ、14はセルフ
リフレッシュカウンタから出力されたアドレスがリフレ
ッシュを実施する領域であるか否かを判定するセルフリ
フレッシュ実行判定回路である。
Referring to FIG. 1 showing the structure of a DRAM employing the improved self-refresh circuit in the first embodiment, a description will be given in comparison with the conventional self-refresh circuit shown in FIG. The improvement is that an area for performing self-refresh can be specified. The means for refreshing only the area specified by the register will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, 1 is CLK
Command data for recognizing a command by taking in the state of each input pin which constitutes a control terminal for receiving an external signal at a rising edge of a CLK signal which is a clock signal introduced to a terminal, 2 is an active signal for boosting a word line Self-refresh timer generated at regular intervals,
Reference numeral 3 denotes a self-refresh counter that counts up a row address to be refreshed every time an active signal is generated. Reference numerals 4 to 7 denote memory elements composed of memory cells for storing data, 4 denotes a bank [1], 5 denotes a bank [2], 6 denotes a bank [3], and 7 denotes a bank [4]. , Respectively. 1
Reference numeral 3 denotes a start / stop address register for storing an area for performing a self-refresh, and reference numeral 14 denotes a self-refresh execution determination circuit for determining whether an address output from the self-refresh counter is an area for performing a refresh. is there.

【0018】コマンドデコーダ1の各入力ピンには、メ
モリセル4〜7を制御するための制御信号として外部か
らCLK信号,/CS信号,/RAS信号,/CAS信
号,/WE信号,CKE信号、および、アドレス信号A
0〜A11、ならびに、レジスタセットコマンド信号B
A0,BA1が入力される。そして、コマンドデコーダ
1,セルフリフレッシュタイマー2,セルフリフレッシ
ュカウンタ3,スタート/ストップアドレスレジスタ1
3,およびセルフリフレッシュ実行判定回路14は、メ
モリセル4〜7とともに共通の半導体チップに一体とし
て集積化されて同一のパッケージに組み込まれている。
このパッケージには、CLK信号,/CS信号,/RA
S信号,/CAS信号,/WE信号,CKE信号を外部
から入力するためのコマンドデコーダ1の各入力ピンが
制御端子としてそれぞれ設けられ、アドレス信号A0〜
A11を外部から入力するためのコマンドデコーダ1の
各入力ピンがアドレス端子としてそれぞれ設けられ、レ
ジスタセットコマンド信号BA0,BA1を外部から入
力するためのコマンドデコーダ1の各入力ピンが制御端
子としてそれぞれ設けられている。
Each of the input pins of the command decoder 1 receives a CLK signal, a / CS signal, a / RAS signal, a / CAS signal, a / WE signal, a CKE signal, and a control signal for controlling the memory cells 4 to 7 from the outside. And address signal A
0 to A11 and a register set command signal B
A0 and BA1 are input. The command decoder 1, self-refresh timer 2, self-refresh counter 3, start / stop address register 1
3, and the self-refresh execution determination circuit 14 are integrated together with the memory cells 4 to 7 on a common semiconductor chip and are incorporated in the same package.
This package contains CLK signal, / CS signal, / RA
Each input pin of the command decoder 1 for externally inputting the S signal, the / CAS signal, the / WE signal, and the CKE signal is provided as a control terminal.
Each input pin of the command decoder 1 for externally inputting A11 is provided as an address terminal, and each input pin of the command decoder 1 for externally inputting the register set command signals BA0 and BA1 is provided as a control terminal. Have been.

【0019】この発明におけるセルフリフレッシュタイ
ミングを図2に示す。この発明では、セルフリフレッシ
ュコマンドを実施する前にセルフリフレッシュを行う領
域をあらかじめレジスタに設定しておくためのセルフリ
フレッシュモードレジスタセットコマンドを追加した。
FIG. 2 shows the self-refresh timing according to the present invention. According to the present invention, a self-refresh mode register set command for setting an area for performing self-refresh in a register before executing the self-refresh command is added.

【0020】CLK信号の立ち上がりエッジで/CS=
/RAS=/CAS=/WE=“L”、CKE=“H”
であればモードレジスタセットコマンドが成立する。こ
の場合、BA0=1、BA1=0であれば通常のモード
レジスタセットコマンドではなく図3に示すセルフリフ
レッシュモードレジスタセットコマンドと認識し、アド
レスピンに設定されたアドレスを図1のスタートアドレ
スレジスタ13に格納する。また、BA0=0、BA1
=1であればアドレスピンに設定されたアドレスを図1
のストップアドレスレジスタ13に格納する。図1のセ
ルフリフレッシュ実行判定回路14はセルフリフレッシ
ュカウンタ3から出力されたアドレスとスタート/スト
ップアドレスレジスタ13のアドレスを比較し、セルフ
リフレッシュを実行する範囲内のアドレスであれば各バ
ンクに対してアクティブ信号を発生させるので、指定さ
れた領域だけをリフレッシュすることができる。以上の
ような構成によれば、選択的にリフレッシュを実施でき
るので消費電力を抑制することができる。この発明はD
RAMについて説明したが、DRAMを混載したシステ
ムLSIにも適用できる。
At the rising edge of the CLK signal, / CS =
/ RAS = / CAS = / WE = "L", CKE = "H"
If so, the mode register set command is established. In this case, if BA0 = 1 and BA1 = 0, it is recognized as a self-refresh mode register set command shown in FIG. 3 instead of a normal mode register set command, and the address set on the address pin is replaced with the start address register 13 in FIG. To be stored. BA0 = 0, BA1
If = 1, the address set on the address pin is
In the stop address register 13. The self-refresh execution determination circuit 14 of FIG. 1 compares the address output from the self-refresh counter 3 with the address of the start / stop address register 13, and if the address is within the range in which the self-refresh is executed, it is activated for each bank. Since the signal is generated, only the specified area can be refreshed. According to the above configuration, refresh can be selectively performed, so that power consumption can be suppressed. The invention is based on D
Although the RAM has been described, the present invention can also be applied to a system LSI incorporating a DRAM.

【0021】この発明による実施の形態1によれば、バ
ンク〔1〕〜〔4〕を構成するメモリセルからなるメモ
リ要素4〜7と、前記メモリ要素への制御信号を入力す
るための外部信号を受ける制御端子と、外部からアドレ
ス信号を受けるアドレス端子と、前記メモリ要素と一体
に組み込まれたレジスタ13と、前記メモリ要素と一体
に組み込まれたセルフリフレッシュタイマー2とを備
え、前記制御端子およびアドレス端子による入力信号の
組み合わせによって前記メモリ要素の一部についてリフ
レッシュ動作を行うためのアドレス指定信号を生成して
レジスタ13に格納し、前記レジスタ13の前記アドレ
ス指定信号と前記セルフリフレッシュタイマー2によっ
て所定の周期で発生されるアクティブ信号とにより前記
メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定の領域
だけについてリフレッシュ動作を行わせるようにしたの
で、前記制御端子およびアドレス端子による入力信号の
組み合わせによって生成され前記レジスタ13に格納さ
れたアドレス指定信号により、前記メモリ要素4〜7の
内いずれかの必要なリフレッシュ対象につき的確にリフ
レッシュ動作を行える半導体メモリ装置を得ることがで
きる。
According to the first embodiment of the present invention, memory elements 4 to 7 comprising memory cells constituting banks [1] to [4] and external signals for inputting control signals to the memory elements A control terminal for receiving an external address signal, a register 13 integrated with the memory element, and a self-refresh timer 2 integrated with the memory element. An address designating signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is generated by a combination of the input signals from the address terminals and stored in the register 13. The address designating signal of the register 13 and the self-refresh timer 2 are used for a predetermined operation. Of the memory elements by the active signal generated in the cycle of Since the refresh operation is performed only for a specific area to be refreshed, the memory elements 4 to 4 are generated by an address designation signal generated by a combination of input signals from the control terminal and the address terminal and stored in the register 13. 7, a semiconductor memory device capable of appropriately performing a refresh operation on any necessary refresh target can be obtained.

【0022】実施の形態2.この発明による実施の形態
2を図4ないし図6について説明する。図4は実施の形
態2における改善されたセルフリフレッシュ回路を採用
したDRAMの構成を示すものである。図5は実施の形
態1におけるセルフリフレッシュタイミングを示すタイ
ミングチャートである。図6は実施の形態1におけるモ
ードレジスタの内容を示す説明図である。この実施の形
態2においては、ここで説明する特有の構成以外の構成
については、先に説明した実施の形態1と同様の構成を
有し同様の作用を奏するものである。
Embodiment 2 FIG. Second Embodiment A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 4 shows a configuration of a DRAM employing an improved self-refresh circuit according to the second embodiment. FIG. 5 is a timing chart showing the self-refresh timing in the first embodiment. FIG. 6 is an explanatory diagram showing the contents of the mode register according to the first embodiment. In the second embodiment, the configuration other than the specific configuration described here has the same configuration as the above-described first embodiment and has the same operation.

【0023】DRAM制御ピンおよびアドレスピンの組
み合わせにより作成したコマンドによってセルフリフレ
ッシュを行うバンクを図4ないし図6を参照しながら説
明する。図4において、1はCLK信号の立ち上がりエ
ッジで各入力ピンの状態を取り込みコマンドを認識する
コマンドデコータ、2はワード線を昇圧するためのアク
ティブ信号を一定周期で発生させるセルフリフレッシュ
タイマー、3はアクティブ信号発生毎に、リフレッシュ
を行うロウ・アドレスをカウント・アップするセルフリ
フレッシュカウンタである。4〜7はデータを記憶して
おくメモリセルからなるメモリ要素であり、4はバンク
〔1〕を、5はバンク〔2〕を、6はバンク〔3〕を、
7はバンク〔4〕を、それぞれ構成する。8〜11はア
ンド回路、12はセルフリフレッシュモードレジスタで
ある。
Referring to FIGS. 4 to 6, a description will be given of a bank in which self-refresh is performed by a command generated by a combination of a DRAM control pin and an address pin. In FIG. 4, 1 is a command decoder for recognizing a command by taking in the state of each input pin at the rising edge of the CLK signal, 2 is a self-refresh timer for generating an active signal for boosting a word line at a fixed period, and 3 is A self-refresh counter that counts up a row address to be refreshed every time an active signal is generated. 4 to 7 are memory elements composed of memory cells for storing data, 4 is a bank [1], 5 is a bank [2], 6 is a bank [3],
Numeral 7 constitutes the bank [4]. 8 to 11 are AND circuits, and 12 is a self-refresh mode register.

【0024】図5は実施の形態2におけるタイミングを
示し、図6はモードレジスタ12の内容を示すものであ
る。この発明では、図5に示すようにセルフリフレッシ
ュを行うバンクをあらかじめレジスタに設定しておくた
めのセルフリフレッシュモードレジスタセットコマンド
を追加した。この発明では、図6に示すセルフリフレッ
シュモードレジスタ12の設定に従ってリフレッシュを
実行するバンクを選択する。コマンドデータはCLK信
号の立ち上がりエッジで各入力ピンの状態(“H”or
“L”)を取り込みコマンドを識別する。CLK信号の
立ち上がりエッジで/CS=/RAS=/CAS=/W
E=“L”、CKE=“H”であればモードレジスタセ
ットコマンドが成立する。この場合、BA0,1が共に
“H”であれば、通常のモードレジスタセットコマンド
ではなくセルフリフレッシュモードレジスタセットコマ
ンドと認識し、アドレスピンに設定されたセルフリフレ
ッシュを行うバンクを内部レジスタ12に格納する。こ
の後、図7に示すタイミングでセルフリフレッシュコマ
ンドを実施することにより選択的なリフレッシュが実現
される。
FIG. 5 shows the timing in the second embodiment, and FIG. 6 shows the contents of the mode register 12. In the present invention, a self-refresh mode register set command for setting a bank for performing self-refresh in a register in advance is added as shown in FIG. According to the present invention, a bank to execute refresh is selected according to the setting of self-refresh mode register 12 shown in FIG. The command data is in the state of each input pin (“H” or
"L") to identify the command. / CS = / RAS = / CAS = / W at rising edge of CLK signal
If E = "L" and CKE = "H", the mode register set command is established. In this case, if BA0 and BA1 are both "H", it is recognized as a self-refresh mode register set command instead of a normal mode register set command, and the bank for performing self-refresh set on the address pin is stored in the internal register 12. I do. Thereafter, a selective refresh is realized by executing a self-refresh command at the timing shown in FIG.

【0025】図6において、セルフリフレッシュコマン
ドが入力されると、セルフリフレッシュタイマー2は一
定周期でアクティブ信号を発生させる。コマンドデータ
はセルフリフレッシュモードレジスタ12の設定に従い
バンク〔1〕,〔2〕,〔3〕,〔4〕セレクト信号を
出力する。アクティブ信号と各バンクセレクト信号を入
力としてアンドを取るので選択されたバンクのみアクテ
ィブ信号が入力されリフレッシュが実行される。
In FIG. 6, when a self-refresh command is input, the self-refresh timer 2 generates an active signal at a constant cycle. The command data outputs bank [1], [2], [3] and [4] select signals in accordance with the setting of the self-refresh mode register 12. Since an AND signal is input with the active signal and each bank select signal as an input, the active signal is input only to the selected bank and the refresh is executed.

【0026】この発明はセルフリフレッシュを行うバン
クを指定する場合について説明したが、セルモードレジ
スタにバンク〔1〕,〔2〕,〔3〕,〔4〕セレクト
信号の論理を切り替えるモード設定を追加することによ
り、セルフリフレッシュを行わないバンクを指定するこ
とができる。
Although the present invention has been described with respect to the case where a bank for performing self-refresh is specified, a mode setting for switching the logic of the bank [1], [2], [3], [4] select signal is added to the cell mode register. By doing so, it is possible to specify a bank in which self refresh is not performed.

【0027】この発明による実施の形態2によれば、複
数のバンク〔1〕〜〔4〕を有するメモリ要素4〜7
と、前記メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信
号を受ける制御端子と、前記メモリ要素と一体に組み込
まれたレジスタと、前記メモリ要素と一体に組み込まれ
たセルフリフレッシュタイマー2とを備え、前記制御端
子による入力信号の組み合わせによって前記メモリ要素
の各バンクについてリフレッシュ動作を実施するか実施
しないかを選択するためのバンク選択用コマンド信号を
生成して前記レジスタに格納し、前記レジスタのバンク
選択用コマンド信号と前記セルフリフレッシュタイマー
2によって所定の周期で発生されるアクティブ信号とに
より前記メモリ要素4〜7のうちリフレッシュ対象とし
ての特定のバンクだけについてリフレッシュ動作を行わ
せるようにしたので、バンク選択用コマンド信号とアク
ティブ信号とにより、必要なリフレッシュ対象につき的
確にリフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置を得る
ことができる。
According to the second embodiment of the present invention, memory elements 4 to 7 having a plurality of banks [1] to [4].
A control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, a register integrated with the memory element, and a self-refresh timer 2 integrated with the memory element, A bank selection command signal for selecting whether or not to perform a refresh operation for each bank of the memory element according to a combination of input signals from the control terminal is generated and stored in the register. The refresh operation is performed only for a specific bank to be refreshed among the memory elements 4 to 7 by a command signal for use and an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer 2. Command signal and active signal , It is possible to obtain a semiconductor memory device capable of performing an accurate refresh operation per need refreshed.

【0028】[0028]

【発明の効果】第1の発明によれば、メモリ要素と、前
記メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を受
ける制御端子とを備え、前記制御端子による入力信号の
組み合わせによって前記メモリ要素の一部についてリフ
レッシュ動作を行うためのコマンド信号を生成し、前記
コマンド信号により前記メモリ要素のうちリフレッシュ
対象としてのメモリ要素の一部についてリフレッシュ動
作を行わせるようにしたので、前記制御端子による入力
信号の組み合わせによって生成されたコマンド信号によ
り、必要なリフレッシュ対象につき的確にリフレッシュ
動作を行える半導体メモリ装置を得ることができる。
According to the first invention, a memory element and a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element are provided, and the memory element is provided by a combination of input signals from the control terminal. A command signal for performing a refresh operation on a part of the memory elements is generated, and the command signal causes the refresh operation to be performed on a part of the memory elements to be refreshed among the memory elements. With the command signal generated by the combination of the signals, it is possible to obtain a semiconductor memory device that can appropriately perform a refresh operation on a required refresh target.

【0029】第2の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタとを備え、前
記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行うた
めのコマンド信号を前記レジスタに格納し、前記レジス
タのコマンド信号により前記メモリ要素のうちリフレッ
シュ対象としてのメモリ要素の一部についてリフレッシ
ュ動作を行わせるようにしたので、前記レジスタに格納
されたコマンド信号により、必要なリフレッシュ対象に
つき的確にリフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置
を得ることができる。
According to the second aspect, a memory element and a register integrated with the memory element are provided, and a command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is stored in the register. Since a refresh operation is performed on a part of the memory elements to be refreshed among the memory elements by the command signal of the register, the necessary refresh target can be accurately refreshed by the command signal stored in the register. A semiconductor memory device that can operate can be obtained.

【0030】第3の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を受け
る制御端子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレ
ジスタとを備え、前記制御端子による入力信号の組み合
わせによって前記メモリ要素の一部についてリフレッシ
ュ動作を行うためのコマンド信号を生成して前記レジス
タに格納し、前記レジスタのコマンド信号により前記メ
モリ要素のうちリフレッシュ対象としてのメモリ要素の
一部についてリフレッシュ動作を行わせるようにしたの
で、前記制御端子による入力信号の組み合わせによって
生成され前記レジスタに格納されたコマンド信号によ
り、必要なリフレッシュ対象につき的確にリフレッシュ
動作を行える半導体メモリ装置を得ることができる。
According to the third aspect of the present invention, the control device includes a memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element. A command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is generated by a combination of input signals from terminals and stored in the register, and a command signal of the register is used to specify a memory element to be refreshed among the memory elements. Since the refresh operation is performed on a part of the semiconductor memory device, a refresh operation can be properly performed for a required refresh target by a command signal generated by a combination of input signals from the control terminal and stored in the register. be able to.

【0031】第4の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を受け
る制御端子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレ
ジスタとを備え、前記レジスタに前記メモリ要素の一部
についてリフレッシュ動作を行うためのアドレス指定信
号を格納し、前記レジスタの前記アドレス指定信号によ
り前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定
の領域だけについてリフレッシュ動作を行わせるように
したので、前記レジスタに格納されたアドレス指定信号
により、必要なリフレッシュ対象につき的確にリフレッ
シュ動作を行える半導体メモリ装置を得ることができ
る。
According to the fourth aspect, the memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element are provided. An address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element, and performing a refresh operation only on a specific area to be refreshed in the memory element by the address designation signal of the register. Therefore, it is possible to obtain a semiconductor memory device capable of appropriately performing a refresh operation on a required refresh target by the address designation signal stored in the register.

【0032】第5の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素と一体に組み込まれたスタートアドレスレジ
スタおよびストップアドレスレジスタとを備え、前記ス
タートアドレスレジスタに前記メモリ要素の一部につい
てリフレッシュ動作を行うためのスタートアドレス指定
信号を格納するとともに、前記ストップアドレスレジス
タに前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を
行うためのストップアドレス指定信号を格納し、前記ス
タートアドレスレジスタおよびストップアドレスレジス
タの前記アドレス指定信号により前記メモリ要素のうち
リフレッシュ対象としての特定の領域だけについてリフ
レッシュ動作を行わせるようにしたので、前記スタート
アドレスレジスタおよびストップアドレスレジスタにか
くのうされたスタートアドレス指定信号およびストップ
アドレス指定信号により、必要なリフレッシュ対象につ
き的確にリフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置を
得ることができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the memory device includes a memory element, a start address register and a stop address register integrated with the memory element, and the start address register performs a refresh operation on a part of the memory element. Storing a start address specifying signal for performing a refresh operation on a part of the memory element in the stop address register, and storing a stop address specifying signal for performing a refresh operation on a part of the memory element in the start address register and the stop address register. Since the refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed among the memory elements by the signal, the start address register and the stop address register are updated in the start address register and the stop address register. The preparative addressing signals and the stop address signal, it is possible to obtain a semiconductor memory device capable of performing an accurate refresh operation per need refreshed.

【0033】第6の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素への制御信号を入力するための外部信号を受
ける制御端子と、外部からアドレス信号を受けるアドレ
ス端子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレジス
タとを備え、前記制御端子およびアドレス端子による入
力信号の組み合わせによって前記メモリ要素の一部につ
いてリフレッシュ動作を行うためのアドレス指定信号を
生成して前記レジスタに格納し、前記レジスタの前記ア
ドレス指定信号により前記メモリ要素のうちリフレッシ
ュ対象としての特定の領域だけについてリフレッシュ動
作を行わせるようにしたので、前記制御端子およびアド
レス端子による入力信号の組み合わせによって生成され
前記レジスタに格納されたアドレス指定信号により、必
要なリフレッシュ対象につき的確にリフレッシュ動作を
行える半導体メモリ装置を得ることができる。
According to the sixth aspect, a memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal for receiving an address signal from the outside, and an integrated part with the memory element And an address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element by a combination of input signals from the control terminal and the address terminal, and stores the address designation signal in the register. Since the refresh operation is performed only for a specific area to be refreshed among the memory elements by the address designation signal, an address generated by a combination of input signals by the control terminal and the address terminal and stored in the register is stored. Refresh required by specified signal It is possible to obtain a semiconductor memory device capable of performing an accurate refresh operation per elephant.

【0034】第7の発明によれば、メモリ要素と、前記
メモリ要素への制御信号を入力するための外部信号を受
ける制御端子と、外部からアドレス信号を受けるアドレ
ス端子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれたレジス
タと、前記メモリ要素と一体に組み込まれたセルフリフ
レッシュタイマーとを備え、前記制御端子およびアドレ
ス端子による入力信号の組み合わせによって前記メモリ
要素の一部についてリフレッシュ動作を行うためのアド
レス指定信号を生成して前記レジスタに格納し、前記レ
ジスタの前記アドレス指定信号と前記セルフリフレッシ
ュタイマーによって所定の周期で発生されるアクティブ
信号とにより前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象と
しての特定の領域だけについてリフレッシュ動作を行わ
せるようにしたので、前記アドレス指定信号とアクティ
ブ信号とにより、必要なリフレッシュ対象につき的確に
リフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置を得ること
ができる。
According to the seventh aspect, the memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal for receiving an address signal from the outside, and an integrated part with the memory element Addressing for performing a refresh operation on a part of the memory element by a combination of input signals from the control terminal and the address terminal. A signal is generated and stored in the register, and only a specific area to be refreshed in the memory element is refreshed by the addressing signal of the register and an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer. To make it work. The by the addressing signal and the active signal, it is possible to obtain a semiconductor memory device capable of performing an accurate refresh operation per need refreshed.

【0035】第8の発明によれば、複数のバンクを有す
るメモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信号を入力する
ための外部信号を受ける制御端子とを備え、前記制御端
子による入力信号の組み合わせによって前記メモリ要素
の各バンクについてリフレッシュ動作を実施するか実施
しないかを選択するためのバンク選択用コマンド信号を
生成し、前記バンク選択用コマンド信号により前記メモ
リ要素のうちリフレッシュ対象としての特定のバンクだ
けについてリフレッシュ動作を行わせるようにしたの
で、前記制御端子による入力信号の組み合わせによって
生成されたバンク選択用コマンド信号により、必要なリ
フレッシュ対象につき的確にリフレッシュ動作を行える
半導体メモリ装置を得ることができる。
According to the eighth aspect, the memory device includes a memory element having a plurality of banks, and a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element. Generating a bank selection command signal for selecting whether or not to perform a refresh operation on each bank of the memory element, and by using the bank selection command signal, only a specific bank to be refreshed among the memory elements; , The refresh operation can be performed. Therefore, a semiconductor memory device capable of accurately performing a refresh operation on a required refresh target can be obtained by a bank selection command signal generated by a combination of input signals from the control terminal.

【0036】第9の発明によれば、複数のバンクを有す
るメモリ要素と、前記メモリ要素と一体に組み込まれた
レジスタとを備え、前記メモリ要素の各バンクについて
リフレッシュ動作を実施するか実施しないかを選択する
ためのバンク選択用コマンド信号を前記レジスタに格納
し、前記レジスタの前記バンク選択用コマンド信号によ
り前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定
の領域だけについてリフレッシュ動作を行わせるように
したので、前記レジスタに格納されたバンク選択用コマ
ンド信号により、必要なリフレッシュ対象につき的確に
リフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置を得ること
ができる。
According to the ninth aspect, there is provided a memory element having a plurality of banks, and a register integrated with the memory element. Whether the refresh operation is performed or not for each bank of the memory element Is stored in the register, and the bank selection command signal of the register causes the refresh operation to be performed only in a specific area to be refreshed among the memory elements. According to the present invention, a semiconductor memory device capable of appropriately performing a refresh operation on a required refresh target by a bank selection command signal stored in the register can be obtained.

【0037】第10の発明によれば、複数のバンクを有
するメモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信号を入力す
るための外部信号を受ける制御端子と、前記メモリ要素
と一体に組み込まれたレジスタとを備え、前記制御端子
による入力信号の組み合わせによって前記メモリ要素の
各バンクについてリフレッシュ動作を実施するか実施し
ないかを選択するためのバンク選択用コマンド信号を生
成して前記レジスタに格納し、前記レジスタのバンク選
択用コマンド信号により前記メモリ要素のうちリフレッ
シュ対象としての特定のバンクだけについてリフレッシ
ュ動作を行わせるようにしたので、前記制御端子による
入力信号の組み合わせによって生成され前記レジスタに
格納されたバンク選択用コマンド信号により、必要なリ
フレッシュ対象につき的確にリフレッシュ動作を行える
半導体メモリ装置を得ることができる。
According to the tenth aspect, a memory element having a plurality of banks, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, a register integrated with the memory element, Generating a bank selection command signal for selecting whether or not to perform a refresh operation on each bank of the memory element according to a combination of input signals by the control terminal, storing the command signal in the register, storing the command signal in the register, The refresh operation is performed only for the specific bank to be refreshed among the memory elements by the bank selection command signal of the above, so that the bank selection generated by the combination of the input signals by the control terminal and stored in the register is performed. Required refresh target Can it is possible to obtain a semiconductor memory device capable of performing an accurate refresh operation.

【0038】第11の発明によれば、複数のバンクを有
するメモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信号を入力す
るための外部信号を受ける制御端子、前記メモリ要素と
一体に組み込まれたレジスタと、前記メモリ要素と一体
に組み込まれたセルフリフレッシュタイマーとを備え、
前記制御端子による入力信号の組み合わせによって前記
メモリ要素の各バンクについてリフレッシュ動作を実施
するか実施しないかを選択するためのバンク選択用コマ
ンド信号を生成して前記レジスタに格納し、前記レジス
タのバンク選択用コマンド信号と前記セルフリフレッシ
ュタイマーによって所定の周期で発生されるアクティブ
信号とにより前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象と
しての特定のバンクだけについてリフレッシュ動作を行
わせるようにしたので、前記バンク選択用コマンド信号
とアクティブ信号とにより、必要なリフレッシュ対象に
つき的確にリフレッシュ動作を行える半導体メモリ装置
を得ることができる。
According to the eleventh aspect, a memory element having a plurality of banks, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, a register integrated with the memory element, A self-refresh timer integrated with the memory element,
A bank selection command signal for selecting whether or not to perform a refresh operation for each bank of the memory element according to a combination of input signals from the control terminal is generated and stored in the register. And the active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer causes the refresh operation to be performed only on a specific bank to be refreshed among the memory elements. And the active signal, it is possible to obtain a semiconductor memory device capable of appropriately performing a refresh operation on a required refresh target.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明による実施の形態1における構成を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 この発明による実施の形態1におけるタイミ
ングを示すタイミングチャート図である。
FIG. 2 is a timing chart showing a timing according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 この発明による実施の形態1におけるレジス
タの内容を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing contents of a register according to the first embodiment of the present invention;

【図4】 この発明による実施の形態2における構成を
示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 この発明による実施の形態2におけるタイミ
ングを示すタイミングチャート図である。
FIG. 5 is a timing chart showing a timing according to a second embodiment of the present invention.

【図6】 この発明による実施の形態2におけるレジス
タの内容を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing contents of a register according to a second embodiment of the present invention;

【図7】 従来技術における構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration according to a conventional technique.

【図8】 従来技術におけるタイミングを示すタイミン
グチャート図である。
FIG. 8 is a timing chart showing a timing in the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コマンドデータ、2 セルフリフレッシュタイマ
ー、3 セルフリフレッシュカウンタ、4〜7 メモリ
セルからなるメモリ要素、12 セルフリフレッシュモ
ードレジスタ、13 スタート/ストップアドレスレジ
スタ、14 セルフリフレッシュ実行判定回路。
1 command data, 2 self-refresh timer, 3 self-refresh counter, memory element composed of 4 to 7 memory cells, 12 self-refresh mode register, 13 start / stop address register, 14 self-refresh execution determination circuit.

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信
号を入力するための外部信号を受ける制御端子とを備
え、前記制御端子による入力信号の組み合わせによって
前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行う
ためのコマンド信号を生成し、前記コマンド信号により
前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としてのメモリ
要素の一部についてリフレッシュ動作を行わせるように
したことを特徴とする半導体メモリ装置。
1. A memory element, and a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, wherein a refresh operation is performed on a part of the memory element by a combination of input signals from the control terminal. A semiconductor memory device that generates a command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element to be refreshed among the memory elements by the command signal.
【請求項2】 メモリ要素と、前記メモリ要素と一体に
組み込まれたレジスタとを備え、前記メモリ要素の一部
についてリフレッシュ動作を行うためのコマンド信号を
前記レジスタに格納し、前記レジスタのコマンド信号に
より前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としてのメ
モリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行わせるよ
うにしたことを特徴とする半導体メモリ装置。
2. A memory device comprising: a memory element; and a register integrated with the memory element. A command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is stored in the register. Wherein the refresh operation is performed on a part of the memory elements to be refreshed among the memory elements.
【請求項3】 メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信
号を入力するための外部信号を受ける制御端子と、前記
メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタとを備え、前
記制御端子による入力信号の組み合わせによって前記メ
モリ要素の一部についてリフレッシュ動作を行うための
コマンド信号を生成して前記レジスタに格納し、前記レ
ジスタのコマンド信号により前記メモリ要素のうちリフ
レッシュ対象としてのメモリ要素の一部についてリフレ
ッシュ動作を行わせるようにしたことを特徴とする半導
体メモリ装置。
3. A combination of a memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element. A command signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is generated and stored in the register, and a refresh operation is performed on a part of the memory element to be refreshed among the memory elements by the command signal of the register. A semiconductor memory device characterized in that it is performed.
【請求項4】 メモリ要素と、前記メモリ要素へ制御信
号を入力するための外部信号を受ける制御端子と、前記
メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタとを備え、前
記レジスタに前記メモリ要素の一部についてリフレッシ
ュ動作を行うためのアドレス指定信号を格納し、前記レ
ジスタの前記アドレス指定信号により前記メモリ要素の
うちリフレッシュ対象としての特定の領域だけについて
リフレッシュ動作を行わせるようにしたことを特徴とす
る請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体メ
モリ装置。
4. A memory element, a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, and a register integrated with the memory element, wherein the register includes one of the memory elements. An address designating signal for performing a refresh operation on the unit is stored, and the address designating signal of the register causes the refresh operation to be performed only in a specific area to be refreshed among the memory elements. The semiconductor memory device according to claim 1.
【請求項5】 メモリ要素と、前記メモリ要素と一体に
組み込まれたスタートアドレスレジスタおよびストップ
アドレスレジスタとを備え、前記スタートアドレスレジ
スタに前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動作
を行うためのスタートアドレス指定信号を格納するとと
もに、前記ストップアドレスレジスタに前記メモリ要素
の一部についてリフレッシュ動作を行うためのストップ
アドレス指定信号を格納し、前記スタートアドレスレジ
スタおよびストップアドレスレジスタの前記アドレス指
定信号により前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象と
しての特定の領域だけについてリフレッシュ動作を行わ
せるようにしたことを特徴とする請求項1ないし請求項
4のいずれかに記載の半導体メモリ装置。
5. A start address designation for performing a refresh operation on a part of the memory element in the start address register, comprising: a memory element; and a start address register and a stop address register integrated with the memory element. A signal is stored, and a stop address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element is stored in the stop address register, and the start address register and the stop address register use the address designation signal of the stop address register to store the memory element. 5. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein a refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed.
【請求項6】 メモリ要素と、前記メモリ要素への制御
信号を入力するための外部信号を受ける制御端子と、外
部からアドレス信号を受けるアドレス端子と、前記メモ
リ要素と一体に組み込まれたレジスタとを備え、前記制
御端子およびアドレス端子による入力信号の組み合わせ
によって前記メモリ要素の一部についてリフレッシュ動
作を行うためのアドレス指定信号を生成して前記レジス
タに格納し、前記レジスタの前記アドレス指定信号によ
り前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定
の領域だけについてリフレッシュ動作を行わせるように
したことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれ
かに記載の半導体メモリ装置。
6. A memory element, a control terminal receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal receiving an external address signal, and a register integrated with the memory element. And generating an address designating signal for performing a refresh operation on a part of the memory element by a combination of the input signals by the control terminal and the address terminal, and storing the generated address designating signal in the register. 6. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein a refresh operation is performed only on a specific area to be refreshed among the memory elements.
【請求項7】 メモリ要素と、前記メモリ要素への制御
信号を入力するための外部信号を受ける制御端子と、外
部からアドレス信号を受けるアドレス端子と、前記メモ
リ要素と一体に組み込まれたレジスタと、前記メモリ要
素と一体に組み込まれたセルフリフレッシュタイマーと
を備え、前記制御端子およびアドレス端子による入力信
号の組み合わせによって前記メモリ要素の一部について
リフレッシュ動作を行うためのアドレス指定信号を生成
して前記レジスタに格納し、前記レジスタの前記アドレ
ス指定信号と前記セルフリフレッシュタイマーによって
所定の周期で発生されるアクティブ信号とにより前記メ
モリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定の領域だ
けについてリフレッシュ動作を行わせるようにしたこと
を特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれかに記載
の半導体メモリ装置。
7. A memory element, a control terminal receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, an address terminal receiving an external address signal, and a register integrated with the memory element. A self-refresh timer integrated with the memory element, and generating an address designation signal for performing a refresh operation on a part of the memory element by a combination of input signals from the control terminal and the address terminal. The memory element is stored in a register, and the refresh operation is performed only in a specific area to be refreshed in the memory element by the address designation signal of the register and an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer. Claims characterized by the following: The semiconductor memory device according to claim 1.
【請求項8】 複数のバンクを有するメモリ要素と、前
記メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を受
ける制御端子とを備え、前記制御端子による入力信号の
組み合わせによって前記メモリ要素の各バンクについて
リフレッシュ動作を実施するか実施しないかを選択する
ためのバンク選択用コマンド信号を生成し、前記バンク
選択用コマンド信号により前記メモリ要素のうちリフレ
ッシュ対象としての特定のバンクだけについてリフレッ
シュ動作を行わせるようにしたことを特徴とする半導体
メモリ装置。
8. A memory element having a plurality of banks, and a control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element, wherein each bank of the memory element is provided by a combination of input signals from the control terminal. A command signal for bank selection for selecting whether or not to perform a refresh operation on the memory element, and the refresh operation is performed only on a specific bank to be refreshed among the memory elements by the command signal for bank selection. A semiconductor memory device characterized by doing so.
【請求項9】 複数のバンクを有するメモリ要素と、前
記メモリ要素と一体に組み込まれたレジスタとを備え、
前記メモリ要素の各バンクについてリフレッシュ動作を
実施するか実施しないかを選択するためのバンク選択用
コマンド信号を前記レジスタに格納し、前記レジスタの
前記バンク選択用コマンド信号により前記メモリ要素の
うちリフレッシュ対象としての特定の領域だけについて
リフレッシュ動作を行わせるようにしたことを特徴とす
る半導体メモリ装置。
9. A memory element having a plurality of banks and a register integrated with the memory element.
A bank selection command signal for selecting whether to perform or not perform a refresh operation on each bank of the memory element is stored in the register, and the bank element command signal of the register causes the memory element to be refreshed among the memory elements. A semiconductor memory device wherein a refresh operation is performed only in a specific region as described above.
【請求項10】 複数のバンクを有するメモリ要素と、
前記メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を
受ける制御端子と、前記メモリ要素と一体に組み込まれ
たレジスタとを備え、前記制御端子による入力信号の組
み合わせによって前記メモリ要素の各バンクについてリ
フレッシュ動作を実施するか実施しないかを選択するた
めのバンク選択用コマンド信号を生成して前記レジスタ
に格納し、前記レジスタのバンク選択用コマンド信号に
より前記メモリ要素のうちリフレッシュ対象としての特
定のバンクだけについてリフレッシュ動作を行わせるよ
うにしたことを特徴とする半導体メモリ装置。
10. A memory element having a plurality of banks;
A control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element; and a register integrated with the memory element, wherein each bank of the memory element is refreshed by a combination of input signals from the control terminal. A bank selection command signal for selecting whether to perform or not perform an operation is generated and stored in the register, and only a specific bank to be refreshed among the memory elements by the bank selection command signal of the register is generated. Wherein the refresh operation is performed for the semiconductor memory device.
【請求項11】 複数のバンクを有するメモリ要素と、
前記メモリ要素へ制御信号を入力するための外部信号を
受ける制御端子、前記メモリ要素と一体に組み込まれた
レジスタと、前記メモリ要素と一体に組み込まれたセル
フリフレッシュタイマーとを備え、前記制御端子による
入力信号の組み合わせによって前記メモリ要素の各バン
クについてリフレッシュ動作を実施するか実施しないか
を選択するためのバンク選択用コマンド信号を生成して
前記レジスタに格納し、前記レジスタのバンク選択用コ
マンド信号と前記セルフリフレッシュタイマーによって
所定の周期で発生されるアクティブ信号とにより前記メ
モリ要素のうちリフレッシュ対象としての特定のバンク
だけについてリフレッシュ動作を行わせるようにしたこ
とを特徴とする請求項8ないし請求項10のいずれかに
記載の半導体メモリ装置。
11. A memory element having a plurality of banks,
A control terminal for receiving an external signal for inputting a control signal to the memory element; a register integrated with the memory element; and a self-refresh timer integrated with the memory element. A bank selection command signal for selecting whether to perform or not perform a refresh operation on each bank of the memory element according to a combination of input signals is generated and stored in the register. 11. The refresh operation for only a specific bank to be refreshed among the memory elements by an active signal generated at a predetermined cycle by the self-refresh timer. Semiconductor memo described in any of the above Apparatus.
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