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JP2002124630A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

Info

Publication number
JP2002124630A
JP2002124630A JP2000317086A JP2000317086A JP2002124630A JP 2002124630 A JP2002124630 A JP 2002124630A JP 2000317086 A JP2000317086 A JP 2000317086A JP 2000317086 A JP2000317086 A JP 2000317086A JP 2002124630 A JP2002124630 A JP 2002124630A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
pull
transistor
transistors
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000317086A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshirou Iwasa
伊郎 岩佐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2000317086A priority Critical patent/JP2002124630A/en
Publication of JP2002124630A publication Critical patent/JP2002124630A/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 直列接続された複数のトランジスタを形成
し、必要とされる抵抗値に応じた連続するトランジスタ
を抵抗を必要とする回路に接続することにより、多様な
抵抗値を選択することができる。 【解決手段】 直列接続されたトランジスタQP1〜Q
P6と、トランジスタQP1〜QP6上に第1の絶縁層
を介して形成されたアルミニウム等の配線1〜7と、ト
ランジスタQP1〜QP6及び配線1〜7上に第2の絶
縁層を介して形成され接地電位VSSを供給するアルミニ
ウム等の配線8〜9とを具備する。
(57) [Problem] To form a plurality of transistors connected in series and connect a continuous transistor corresponding to a required resistance value to a circuit requiring a resistance, thereby providing various resistance values. You can choose. SOLUTION: Transistors QP1 to QQ connected in series
P6, wirings 1 to 7 made of aluminum or the like formed over the transistors QP1 to QP6 via a first insulating layer, and formed over the transistors QP1 to QP6 and the wirings 1 to 7 via a second insulating layer. And wirings 8 to 9 made of aluminum or the like for supplying the ground potential V SS .

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、トランジスタを抵
抗素子として用いる半導体装置に関する。
The present invention relates to a semiconductor device using a transistor as a resistance element.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、セミカスタム仕様の半導体装
置において、AC特性に依存しない部分の回路、例えば
プルアップ抵抗回路やプルダウン抵抗回路等に、トラン
ジスタが用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semi-custom semiconductor device, transistors are used in a circuit that does not depend on AC characteristics, such as a pull-up resistor circuit and a pull-down resistor circuit.

【0003】このような従来のプルアップ抵抗回路及び
プルダウン抵抗回路について、図5〜図8を参照して説
明する。
[0005] Such a conventional pull-up resistor circuit and pull-down resistor circuit will be described with reference to FIGS.

【0004】図5は、従来のプルアップ抵抗回路のレイ
アウト図である。図5のプルアップ抵抗回路30は、図
6の回路図に示すプルアップ抵抗回路を実現したもので
ある。
FIG. 5 is a layout diagram of a conventional pull-up resistor circuit. The pull-up resistor circuit 30 shown in FIG. 5 realizes the pull-up resistor circuit shown in the circuit diagram of FIG.

【0005】図5において、従来のプルアップ抵抗回路
30は、PチャネルトランジスタQP7〜QP8を含ん
でいる。トランジスタQP7〜QP8は、ソースが共通
となるように並列接続されている。トランジスタQP7
〜QP8のソース〜ドレイン経路のオン抵抗は、例え
ば、夫々20kΩである。
In FIG. 5, a conventional pull-up resistor circuit 30 includes P-channel transistors QP7 to QP8. The transistors QP7 and QP8 are connected in parallel so that the sources are common. Transistor QP7
The on-resistance of the source-drain paths of QP8 to QP8 is, for example, 20 kΩ.

【0006】トランジスタQP7〜QP8上には、第1
の絶縁層(図示せず)を介してアルミニウム等の配線3
1〜34が形成されている。配線31は、トランジスタ
QP7〜QP8の共通ソースにコンタクトC39を介し
て接続され、電源電位VDDを供給する。配線32は、ト
ランジスタQP7のドレインにコンタクトC40を介し
て接続されている。配線33は、トランジスタQP8の
ドレインにコンタクトC41を介して接続されている。
配線32〜33は、プルアップ抵抗回路30の接続端子
である配線34に接続されている。
On the transistors QP7 to QP8, the first
Wiring 3 made of aluminum or the like via an insulating layer (not shown)
1 to 34 are formed. Wiring 31 is connected to a common source of transistors QP7 to QP8 via contact C39, and supplies power supply potential V DD . The wiring 32 is connected to the drain of the transistor QP7 via the contact C40. The wiring 33 is connected to the drain of the transistor QP8 via the contact C41.
The wirings 32 to 33 are connected to a wiring 34 that is a connection terminal of the pull-up resistor circuit 30.

【0007】トランジスタQP7〜QP8及び配線31
〜34上には第2の絶縁層(図示せず)を介して接地電
位VSSを供給するためのアルミニウム等の配線35〜3
6が形成されている。配線35は、トランジスタQP7
〜QP8のゲートG13〜G14にコンタクトC42〜
C43を介して接続されている。同様に、配線36は、
トランジスタQP7〜QP8のゲートG13〜G14に
コンタクトC44〜C45を介して接続されている。
[0007] Transistors QP7 to QP8 and wiring 31
On the wirings 34 to 34, wirings 35 to 3 made of aluminum or the like for supplying the ground potential V SS via a second insulating layer (not shown)
6 are formed. The wiring 35 is connected to the transistor QP7
To contacts C42 to G13 to G14 of QP8
It is connected via C43. Similarly, the wiring 36
The gates G13 to G14 of the transistors QP7 to QP8 are connected via contacts C44 to C45.

【0008】このように、トランジスタQP7〜QP8
のゲートG13〜G14には接地電位VSSが供給され、
トランジスタQP7〜QP8はオンしている。そのた
め、プルアップ抵抗回路30の接続端子である配線34
は、並列接続されたトランジスタQP7〜QP8を介し
て配線31に接続されている。従って、プルアップ抵抗
回路30は、10kΩのプルアップ抵抗としての機能を
果たす。
As described above, the transistors QP7 to QP8
Ground potential V SS is supplied to the gates G13 to G14 of
The transistors QP7 and QP8 are on. Therefore, the wiring 34 which is a connection terminal of the pull-up resistor circuit 30
Are connected to the wiring 31 via transistors QP7 and QP8 connected in parallel. Therefore, the pull-up resistor circuit 30 functions as a 10 kΩ pull-up resistor.

【0009】ここで、接地電位VSSに接続された配線3
5〜36を、並列接続されたトランジスタQP7〜QP
8の両方のゲートに接続するのではなく、トランジスタ
QP7〜QP8の何れか一方のゲートに接続することに
より、他方のトランジスタをオフにして、プルアップ抵
抗回路30の抵抗値を20kΩにすることができる。
Here, the wiring 3 connected to the ground potential V SS
5 to 36 are connected to transistors QP7 to QP connected in parallel.
By connecting to the gate of any one of the transistors QP7 to QP8 instead of connecting to both gates of the transistor 8, the other transistor is turned off, and the resistance value of the pull-up resistor circuit 30 is set to 20 kΩ. it can.

【0010】図7は、従来のプルダウン抵抗回路のレイ
アウト図である。図7のプルダウン抵抗回路40は、図
8の回路図に示すプルダウン抵抗回路を実現したもので
ある。
FIG. 7 is a layout diagram of a conventional pull-down resistor circuit. The pull-down resistor circuit 40 shown in FIG. 7 implements the pull-down resistor circuit shown in the circuit diagram of FIG.

【0011】図7において、従来のプルダウン抵抗回路
40は、NチャネルトランジスタQN7〜QN8を含ん
でいる。トランジスタQN7〜QN8は、ソースが共通
となるように並列接続されている。トランジスタQN7
〜QN8のソース〜ドレイン経路のオン抵抗は、例え
ば、夫々20kΩである。
Referring to FIG. 7, a conventional pull-down resistor circuit 40 includes N-channel transistors QN7 to QN8. The transistors QN7 and QN8 are connected in parallel so that the sources are common. Transistor QN7
On-resistance of the source-drain paths of QN8 to QN8 is, for example, 20 kΩ.

【0012】トランジスタQN7〜QN8上には、第1
の絶縁層(図示せず)を介してアルミニウム等の配線4
1〜44が形成されている。配線41は、トランジスタ
QN7〜QN8の共通ソースにコンタクトC46を介し
て接続され、接地電位VSSを供給する。配線42は、ト
ランジスタQN7のドレインにコンタクトC47を介し
て接続されている。配線43は、トランジスタQN8の
ドレインにコンタクトC48を介して接続されている。
配線42〜43は、プルダウン抵抗回路40の接続端子
である配線44に接続されている。
The first transistors QN7 and QN8 are
Wiring 4 made of aluminum or the like via an insulating layer (not shown)
1 to 44 are formed. Wiring 41 is connected via a contact C46 to the common source of the transistors QN7~QN8, supplying the ground potential V SS. The wiring 42 is connected to the drain of the transistor QN7 via a contact C47. The wiring 43 is connected to the drain of the transistor QN8 via a contact C48.
The wirings 42 to 43 are connected to a wiring 44 which is a connection terminal of the pull-down resistance circuit 40.

【0013】トランジスタQN7〜QN8及び配線41
〜44上には第2の絶縁層(図示せず)を介して電源電
位VDDを供給するためのアルミニウム等の配線45〜4
6が形成されている。配線45は、トランジスタQN7
〜QN8のゲートG15〜G16にコンタクトC49〜
C50を介して接続されている。同様に、配線46は、
トランジスタQN7〜QN8のゲートG15〜G16に
コンタクトC51〜C52を介して接続されている。
The transistors QN7 to QN8 and the wiring 41
Wirings 45 to 4 made of aluminum or the like for supplying power supply potential V DD via a second insulating layer (not shown)
6 are formed. The wiring 45 is connected to the transistor QN7
Contacts C49 to gates G15 to G16 of QN8
It is connected via C50. Similarly, the wiring 46 is
The gates G15 to G16 of the transistors QN7 to QN8 are connected via contacts C51 to C52.

【0014】このように、トランジスタQN7〜QN8
のゲートG15〜G16には電源電位VDDが供給され、
トランジスタQN7〜QN8はオンしている。そのた
め、プルダウン抵抗回路40の接続端子である配線44
は、並列接続されたトランジスタQN7〜QN8を介し
て配線41に接続されている。従って、プルダウン抵抗
回路40は、10kΩのプルダウン抵抗としての機能を
果たす。
As described above, the transistors QN7 to QN8
The power supply potential V DD is supplied to the gates G15 to G16 of
The transistors QN7 to QN8 are on. Therefore, the wiring 44 which is a connection terminal of the pull-down resistor circuit 40
Are connected to a wiring 41 via transistors QN7 to QN8 connected in parallel. Therefore, the pull-down resistor circuit 40 functions as a 10 kΩ pull-down resistor.

【0015】ここで、電源電位VDDに接続された配線4
5〜46を、並列接続されたトランジスタQN7〜QN
8の両方のゲートに接続するのではなく、配線44をト
ランジスタQN7〜QN8の何れか一方のゲートに接続
することにより、他方のトランジスタをオフにして、プ
ルダウン抵抗回路40の抵抗値を20kΩにすることが
できる。
Here, the wiring 4 connected to the power supply potential V DD
5 to 46 are connected to transistors QN7 to QN connected in parallel.
By connecting the wiring 44 to one of the gates of the transistors QN7 to QN8 instead of connecting to both the gates of the transistors 8, the other transistor is turned off and the resistance value of the pull-down resistor circuit 40 is set to 20 kΩ. be able to.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
プルアップ抵抗回路30では、並列接続された2つのト
ランジスタQP7〜QP8の双方を用いる、又は、並列
接続された2つのトランジスタQP7〜QP8の何れか
一方を用いるという選択肢しかなかった。そのため、半
導体ベンダーにより設定されたトランジスタQP7〜Q
P8所定の抵抗値、又は、トランジスタQP7とトラン
ジスタQP8とを並列接続して得られる抵抗値の2種類
しか得ることができなかった。
As described above, the conventional pull-up resistor circuit 30 uses two transistors QP7 to QP8 connected in parallel, or two transistors QP7 to QP8 connected in parallel. The only option was to use either one of these. Therefore, the transistors QP7 to QP7 set by the semiconductor vendor
Only two kinds of resistance values, that is, a predetermined resistance value of P8 or a resistance value obtained by connecting the transistor QP7 and the transistor QP8 in parallel could be obtained.

【0017】同様に、従来のプルダウン抵抗回路40で
は、並列接続された2つのトランジスタQN7〜QN8
の双方を用いる、又は、並列接続された2つのトランジ
スタQN7〜QN8の何れか一方を用いるという選択肢
しかなかった。そのため、半導体ベンダーにより設定さ
れたトランジスタQN7〜QN8所定の抵抗値、又は、
トランジスタQN7とトランジスタQN8とを並列接続
して得られる抵抗値の2種類しか得ることができなかっ
た。
Similarly, in the conventional pull-down resistor circuit 40, two transistors QN7 to QN8 connected in parallel
, Or one of two transistors QN7 to QN8 connected in parallel. Therefore, the predetermined resistance value of the transistors QN7 to QN8 set by the semiconductor vendor, or
Only two kinds of resistance values obtained by connecting the transistor QN7 and the transistor QN8 in parallel could be obtained.

【0018】ところで、特開平8−316422号公報
(以下、単に「文献1」ともいう)には、半導体基板
と、半導体基板に形成され、それぞれ異なる抵抗値に設
定された複数の抵抗を任意の端子間で組み合わせた抵抗
回路網とを備え、複数の抵抗は、2種類以上の異なるシ
ート抵抗を有する抵抗素子を、抵抗回路網中の所望の抵
抗値に応じて選択的に複数使用し、所望の抵抗値に各々
適合するよう抵抗素子の寸法を加工形成する半導体装置
が掲載されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-316422 (hereinafter also referred to simply as “Document 1”) discloses a semiconductor substrate and a plurality of resistors formed on the semiconductor substrate and having different resistance values. A plurality of resistance elements having two or more different sheet resistances are selectively used in accordance with a desired resistance value in the resistance network. Semiconductor devices in which the dimensions of the resistance elements are processed and formed so as to conform to the respective resistance values are described.

【0019】また、特開昭57−72382号公報(以
下、単に「文献2」ともいう)には、MOS型トランジ
スタのゲートを抵抗体で構成し、ゲートの上面に形成さ
れた絶縁膜のゲートの上の領域に複数個の開口を設け、
導電体用マスクパターンにより導電体を複数個の開口の
中の所望の開口を介してゲートと導通させ、導電体とゲ
ート間の抵抗値を導電体用マスクパターンにより任意に
選択することができる半導体装置が掲載されている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 57-72382 (hereinafter simply referred to as "Reference 2") discloses that a gate of a MOS transistor is formed of a resistor, and a gate of an insulating film formed on an upper surface of the gate is formed. Multiple openings in the area above the
A semiconductor in which a conductor is conducted to a gate through a desired one of a plurality of openings by a conductor mask pattern, and the resistance between the conductor and the gate can be arbitrarily selected by the conductor mask pattern Equipment is listed.

【0020】しかしながら、文献1に掲載された半導体
装置は、2種類以上の異なるシート抵抗を有する抵抗素
子で抵抗回路網を構成するために不純物濃度等を調整す
る必要があり、製造することが容易ではない。
However, the semiconductor device described in Document 1 needs to adjust the impurity concentration and the like in order to form a resistance circuit network with two or more types of resistance elements having different sheet resistances, and is easy to manufacture. is not.

【0021】また、文献2に掲載された半導体装置は、
MOS型トランジスタのゲートの抵抗値を変えることに
よりMOS型トランジスタの遅延時間を変更するもので
あり、ソース〜ドレイン間の抵抗値を変更することがで
きない。
The semiconductor device described in Reference 2 is:
The delay time of the MOS transistor is changed by changing the resistance value of the gate of the MOS transistor, and the resistance value between the source and the drain cannot be changed.

【0022】そこで、上記の点に鑑み、本発明は、直列
接続された複数のトランジスタを形成し、ソース〜ドレ
イン経路の抵抗値の和が必要とされる抵抗値に等しい連
続したトランジスタを抵抗を必要とする回路に接続する
ことにより、拡散層に変更を加えることなくコンタクト
及び配線層若しくは配線層のみに変更を加えることで多
様な抵抗値を選択することができ、製造が容易な半導体
装置を提供することを目的とする。
In view of the above, the present invention forms a plurality of transistors connected in series, and sets the resistance of a continuous transistor in which the sum of the resistance values of the source-drain paths is equal to the required resistance value. By connecting to the required circuit, various resistance values can be selected by changing only the contact and the wiring layer or the wiring layer without changing the diffusion layer, and a semiconductor device which is easy to manufacture can be manufactured. The purpose is to provide.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明の第1の観点に係る半導体装置は、第1及び
第2の回路と、直列接続された複数のトランジスタと、
ソース〜ドレイン経路の抵抗値の和が第1の回路と第2
の回路との間に必要とされる抵抗値に等しい複数のトラ
ンジスタの内の連続するトランジスタの一端のトランジ
スタのソースと第1の回路とを接続する第1の配線と、
連続するトランジスタの他端のトランジスタのドレイン
と第2の回路とを接続する第2の配線と、連続するトラ
ンジスタの夫々のゲートに所定の電位を供給する第3の
配線とを具備する。
In order to solve the above problems, a semiconductor device according to a first aspect of the present invention comprises a first and a second circuit, a plurality of transistors connected in series,
The sum of the resistance values of the source-drain paths is equal to the first circuit and the second circuit.
A first wiring connecting a source of a transistor at one end of a continuous transistor among a plurality of transistors having a resistance value required between the first circuit and the first circuit;
A second wiring for connecting the drain of the transistor at the other end of the continuous transistor to the second circuit; and a third wiring for supplying a predetermined potential to each gate of the continuous transistor.

【0024】また、本発明の第2の観点に係る半導体装
置は、プルアップ対象回路と、直列接続された複数のP
チャネルトランジスタと、ソース〜ドレイン経路の抵抗
値の和がプルアップ対象回路が必要とするプルアップ抵
抗値に等しい複数のPチャネルトランジスタの内の連続
するトランジスタの一端のPチャネルトランジスタのソ
ースに第1の電位を供給する第1の配線と、連続するP
チャネルトランジスタの他端のPチャネルトランジスタ
のドレインとプルアップ対象回路とを接続する第2の配
線と、連続するPチャネルトランジスタの夫々のゲート
に第2の電位を供給する第3の配線とを具備する。
Further, the semiconductor device according to the second aspect of the present invention includes a pull-up target circuit and a plurality of Ps connected in series.
The source of a P-channel transistor at one end of a continuous transistor among a plurality of P-channel transistors whose sum of the resistance values of the channel transistor and the source-drain path is equal to the pull-up resistance value required by the pull-up target circuit A first wiring for supplying the potential of
A second wiring for connecting the drain of the P-channel transistor at the other end of the channel transistor to the pull-up target circuit; and a third wiring for supplying a second potential to each gate of the continuous P-channel transistors. I do.

【0025】また、本発明の第3の観点に係る半導体装
置は、プルダウン対象回路と、直列接続された複数のN
チャネルトランジスタと、ソース〜ドレイン経路の抵抗
値の和がプルダウン対象回路が必要とするプルダウン抵
抗値に等しい複数のNチャネルトランジスタの内の連続
するトランジスタの一端のNチャネルトランジスタのソ
ースに第1の電位を供給する第1の配線と、連続するN
チャネルトランジスタの内の他端のNチャネルトランジ
スタのドレインとプルダウン対象回路とを接続する第2
の配線と、連続するNチャネルトランジスタの夫々のゲ
ートに第2の電位を供給する第3の配線とを具備する。
Further, the semiconductor device according to the third aspect of the present invention includes a pull-down target circuit and a plurality of N connected in series.
A first potential is applied to the source of the N-channel transistor at one end of a continuous transistor among the plurality of N-channel transistors in which the sum of the resistance values of the channel transistor and the source-drain path is equal to the pull-down resistance value required by the pull-down target circuit. And a first wiring for supplying N
A second connecting the drain of the N-channel transistor at the other end of the channel transistors to the pull-down target circuit
And a third wiring for supplying a second potential to each gate of the continuous N-channel transistors.

【0026】本発明に係る半導体装置によれば、直列接
続された複数のトランジスタを形成し、ソース〜ドレイ
ン経路の抵抗値の和が必要とされる抵抗値に等しい連続
したトランジスタを抵抗を必要とする回路に接続するこ
とにより、拡散層に変更を加えることなくコンタクト及
び配線層若しくは配線層のみに変更を加えることで多様
な抵抗値を選択することができる。
According to the semiconductor device of the present invention, a plurality of transistors connected in series are formed, and the sum of the resistance values of the source-drain paths is equal to the required resistance value. Therefore, various resistance values can be selected by changing only the contact and the wiring layer or the wiring layer without changing the diffusion layer.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態について説明する。なお、同一の構成要素には
同一の参照番号を付して、説明を省略する。図1は、本
発明の一実施形態に係る半導体装置に含まれるプルアッ
プ抵抗回路のレイアウト図である。図1のプルアップ抵
抗回路10は、図2の回路図に示すプルアップ抵抗回路
を実現したものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same components are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. FIG. 1 is a layout diagram of a pull-up resistor circuit included in a semiconductor device according to one embodiment of the present invention. The pull-up resistor circuit 10 shown in FIG. 1 realizes the pull-up resistor circuit shown in the circuit diagram of FIG.

【0028】図1において、プルアップ抵抗回路10
は、PチャネルトランジスタQP1〜QP6を含んでい
る。トランジスタQP1〜QP6は直列接続され、トラ
ンジスタQP1のドレインとトランジスタQP2のソー
スは共通となっており、トランジスタQP2のドレイン
とトランジスタQP3のソースは共通となっており、ト
ランジスタQP3のドレインとトランジスタQP4のソ
ースは共通となっており、トランジスタQP4のドレイ
ンとトランジスタQP5のソースは共通となっており、
トランジスタQP5のドレインとトランジスタQP6の
ソースは共通となっている。
In FIG. 1, a pull-up resistor circuit 10
Includes P-channel transistors QP1 to QP6. The transistors QP1 to QP6 are connected in series, the drain of the transistor QP1 and the source of the transistor QP2 are common, the drain of the transistor QP2 and the source of the transistor QP3 are common, and the drain of the transistor QP3 and the source of the transistor QP4 Are common, and the drain of the transistor QP4 and the source of the transistor QP5 are common.
The drain of the transistor QP5 and the source of the transistor QP6 are common.

【0029】トランジスタQP1のソース〜ドレイン経
路の抵抗値は、例えば、10kΩである。また、トラン
ジスタQP2〜QP6のゲートG2〜G6のゲート長
は、トランジスタQP1のゲートG1のゲート長の2倍
となっている。トランジスタのソース〜ドレイン経路の
抵抗値はゲート長に比例するため、トランジスタQP2
〜QP6のソース〜ドレイン経路の抵抗値は、トランジ
スタQP1のソース〜ドレイン経路の抵抗値の2倍の2
0kΩである。
The resistance value of the source-drain path of the transistor QP1 is, for example, 10 kΩ. The gate length of the gates G2 to G6 of the transistors QP2 to QP6 is twice as long as the gate length of the gate G1 of the transistor QP1. Since the resistance value of the source-drain path of the transistor is proportional to the gate length, the transistor QP2
To QP6, the resistance of the source to drain path is twice the resistance of the source to drain path of transistor QP1.
0 kΩ.

【0030】トランジスタQP1〜QP6上には、第1
の絶縁層(図示せず)を介してアルミニウム等の配線1
〜7が形成されている。配線1は、トランジスタQP1
のソースにコンタクトC1を介して接続されている。配
線2は、トランジスタQP1のドレイン及びトランジス
タQP2のソースにコンタクトC2を介して接続されて
いる。配線3は、トランジスタQP2のドレイン及びト
ランジスタQP3のソースにコンタクトC3を介して接
続されている。配線4は、トランジスタQP3のドレイ
ン及びトランジスタQP4のソースにコンタクトC4を
介して接続されている。配線5は、トランジスタQP4
のドレイン及びトランジスタQP5のソースにコンタク
トC5を介して接続されている。配線6は、トランジス
タQP5のドレイン及びトランジスタQP6のソースに
コンタクトC6を介して接続されている。配線7は、ト
ランジスタQP6のドレインにコンタクトC7を介して
接続されている。配線1には、高電位側の電源電位VDD
が供給されている。また、配線7は、プルアップ抵抗回
路10の接続端子となっている。
On the transistors QP1 to QP6, the first
Wiring 1 made of aluminum or the like via an insulating layer (not shown)
To 7 are formed. The wiring 1 is a transistor QP1
Is connected via a contact C1. The wiring 2 is connected to the drain of the transistor QP1 and the source of the transistor QP2 via a contact C2. The wiring 3 is connected to the drain of the transistor QP2 and the source of the transistor QP3 via a contact C3. The wiring 4 is connected to the drain of the transistor QP3 and the source of the transistor QP4 via a contact C4. The wiring 5 is connected to the transistor QP4
And the source of the transistor QP5 via a contact C5. The wiring 6 is connected to the drain of the transistor QP5 and the source of the transistor QP6 via a contact C6. The wiring 7 is connected to the drain of the transistor QP6 via a contact C7. The wiring 1 has a power supply potential V DD on the high potential side.
Is supplied. Further, the wiring 7 is a connection terminal of the pull-up resistance circuit 10.

【0031】トランジスタQP1〜QP6及び配線1〜
7上には第2の絶縁層(図示せず)を介して低電位側の
電源電位VSS(本実施形態においては接地電位とする)
を供給するためのアルミニウム等の配線8〜9が形成さ
れている。配線8は、トランジスタQP1〜QP6のゲ
ートG1〜G6にコンタクトC8〜C13を介して接続
されている。同様に、配線9は、トランジスタQP1〜
QP6のゲートG1〜G6にコンタクトC14〜C19
を介して接続されている。
Transistors QP1 to QP6 and wirings 1 to
A power supply potential V SS on the low potential side (a ground potential in the present embodiment) is provided on the gate electrode 7 via a second insulating layer (not shown).
Wirings 8 to 9 made of aluminum or the like for supplying aluminum. The wiring 8 is connected to gates G1 to G6 of the transistors QP1 to QP6 via contacts C8 to C13. Similarly, the wiring 9 is connected to the transistors QP1 to QP1.
Contacts C14 to C19 are connected to gates G1 to G6 of QP6.
Connected through.

【0032】このように、トランジスタQP1〜QP6
のゲートに接地電位VSSが供給されているので、トラン
ジスタQP1〜QP6はオンしている。また、配線1に
は、電源電位VDDが供給されている。従って、プルアッ
プ抵抗回路10の接続端子である配線7には、ソース〜
ドレイン経路の抵抗値が10kΩのトランジスタQP1
とソース〜ドレイン経路の抵抗値が20kΩのトランジ
スタQP2〜QP6とを介して電源電位VDDが供給さ
れ、プルアップ抵抗回路10は、110kΩのプルアッ
プ抵抗としての機能を果たす。
As described above, the transistors QP1 to QP6
Are supplied with the ground potential V SS , the transistors QP1 to QP6 are on. The power supply potential V DD is supplied to the wiring 1. Therefore, the wiring 7 serving as the connection terminal of the pull-up resistor circuit 10 has a source
A transistor QP1 having a drain path with a resistance value of 10 kΩ
The power supply potential VDD is supplied via the transistors QP2 to QP6 having a resistance value of 20 kΩ between the source and drain paths, and the pull-up resistance circuit 10 functions as a 110 kΩ pull-up resistor.

【0033】ここで、配線1に電源電位VDDを供給し配
線7を接続端子とすることにより、プルアップ抵抗回路
10は110kΩのプルアップ抵抗としての機能を果た
しているが、電源電位VDDを供給する配線又は接続端子
とする配線を配線1〜7の中から選択することにより、
プルアップ抵抗回路10の抵抗値を10kΩ〜110k
Ωの範囲内で10kΩ刻みで任意の値にすることができ
る。
[0033] Here, by the connecting terminal wiring 7 supplies a power supply potential V DD to the wiring 1, the pull-up resistor circuit 10 plays the function of a pull-up resistor 110Keiomega, the power supply potential V DD By selecting a wiring to be supplied or a wiring to be a connection terminal from wirings 1 to 7,
Set the resistance value of the pull-up resistor circuit 10 to 10 kΩ to 110 k.
Any value can be set in 10 kΩ steps within the range of Ω.

【0034】即ち、配線1に電源電位VDDを供給し、配
線2を接続端子とすることにより、プルアップ抵抗回路
10の抵抗値を10kΩとすることができる。また、配
線2に電源電位VDDを供給し、配線3を接続端子とする
ことにより、プルアップ抵抗回路10の抵抗値を20k
Ωとすることができる。また、配線1に電源電位VDD
供給し、配線3を接続端子とすることにより、プルアッ
プ抵抗回路10の抵抗値を30kΩとすることができ
る。また、配線2に電源電位VDDを供給し、配線4を接
続端子とすることにより、プルアップ抵抗回路10の抵
抗値を40kΩとすることができる。また、配線1に電
源電位VDDを供給し、配線4を接続端子とすることによ
り、プルアップ抵抗回路10の抵抗値を50kΩとする
ことができる。また、配線2に電源電位VDDを供給し、
配線6を接続端子とすることにより、プルアップ抵抗回
路10の抵抗値を60kΩとすることができる。また、
配線1に電源電位VDDを供給し、配線5を接続端子とす
ることにより、プルアップ抵抗回路10の抵抗値を70
kΩとすることができる。また、配線2に電源電位V DD
を供給し、配線6を接続端子とすることにより、プルア
ップ抵抗回路10の抵抗値を80kΩとすることができ
る。また、配線1に電源電位VDDを供給し、配線6を接
続端子とすることにより、プルアップ抵抗回路10の抵
抗値を90kΩとすることができる。また、配線2に電
源電位VDDを供給し、配線7を接続端子とすることによ
り、プルアップ抵抗回路10の抵抗値を100kΩとす
ることができる。
That is, the power supply potential VDDSupply and distribution
By using line 2 as a connection terminal, a pull-up resistor circuit
The resistance value of 10 can be 10 kΩ. In addition,
Power supply potential V on line 2DDAnd wiring 3 is used as a connection terminal.
As a result, the resistance value of the pull-up
Ω. In addition, the power supply potential VDDTo
Supply, and by using wiring 3 as a connection terminal, pull-up
The resistance value of the resistor circuit 10 can be set to 30 kΩ.
You. In addition, the power supply potential VDDAnd connect wiring 4
The connection of the pull-up resistor circuit 10
The resistance value can be 40 kΩ. Also, the wiring 1
Source potential VDDAnd the wiring 4 is used as a connection terminal.
And the resistance value of the pull-up resistor circuit 10 is set to 50 kΩ.
be able to. In addition, the power supply potential VDDSupply,
By using the wiring 6 as a connection terminal, a pull-up resistor
The resistance of the road 10 can be 60 kΩ. Also,
Power supply potential VDDAnd the wiring 5 is used as a connection terminal.
As a result, the resistance value of the pull-up resistor circuit 10 becomes 70
kΩ. In addition, the power supply potential V DD
And the wiring 6 is used as a connection terminal,
The resistance value of the top resistor circuit 10 can be set to 80 kΩ.
You. In addition, the power supply potential VDDAnd connect wiring 6
The connection of the pull-up resistor circuit 10
The resistance can be 90 kΩ. Also, the wiring 2
Source potential VDDAnd the wiring 7 is used as a connection terminal.
And the resistance value of the pull-up resistor circuit 10 is set to 100 kΩ.
Can be

【0035】また、配線1に電源電位VDDを供給し、配
線2〜7を接続端子としておけば、プルアップ抵抗回路
10の抵抗値を10kΩとすることができる。ここで、
配線1〜7及びコンタクトC8〜C19のいずれかに変
更を加えることにより、他のプルアップ抵抗値を得るこ
とができる。
When the power supply potential V DD is supplied to the wiring 1 and the wirings 2 to 7 are used as connection terminals, the resistance value of the pull-up resistor circuit 10 can be set to 10 kΩ. here,
By changing any of the wires 1 to 7 and the contacts C8 to C19, other pull-up resistance values can be obtained.

【0036】このように、本実施形態に係るプルアップ
抵抗回路10によれば、拡散層に変更を加えることなく
コンタクト及び配線層若しくは配線層のみに変更を加え
ることで多様な抵抗値を選択することができる。
As described above, according to the pull-up resistor circuit 10 according to the present embodiment, various resistance values are selected by changing only the contact and the wiring layer or only the wiring layer without changing the diffusion layer. be able to.

【0037】尚、本実施形態に係るプルアップ抵抗回路
10において、ソース〜ドレイン経路のオン抵抗が10
kΩであるトランジスタQP1、及び、ソース〜ドレイ
ン経路のオン抵抗が20kΩであるトランジスタQP2
〜QP6を用いているが、ソース〜ドレイン経路のオン
抵抗は、ゲート長やゲート幅等を変更することにより所
望の値とすることができる。また、本実施形態に係るプ
ルアップ抵抗回路10において、トランジスタQP1〜
QP6の6個のトランジスタを用いているが、任意の数
のトランジスタを用いることができる。このように、所
望のオン抵抗を有するトランジスタを任意の数だけ直列
接続することにより、種々のプルアップ抵抗値を得るこ
とができる。
In the pull-up resistor circuit 10 according to this embodiment, the on-resistance of the source-drain path is 10
and a transistor QP2 having a source-drain path having an on-resistance of 20 kΩ.
Although QP6 is used, the on-resistance of the source-drain path can be set to a desired value by changing the gate length, gate width, and the like. In the pull-up resistor circuit 10 according to the present embodiment, the transistors QP1 to QP1
Although six transistors of QP6 are used, any number of transistors can be used. As described above, by connecting an arbitrary number of transistors having a desired on-resistance in series, various pull-up resistance values can be obtained.

【0038】図3は、本発明の一実施形態に係る半導体
装置に含まれるプルダウン抵抗回路のレイアウト図であ
る。図3のプルダウン抵抗回路20は、図4の回路図に
示すプルダウン抵抗回路を実現したものである。
FIG. 3 is a layout diagram of a pull-down resistor circuit included in a semiconductor device according to one embodiment of the present invention. The pull-down resistor circuit 20 shown in FIG. 3 realizes the pull-down resistor circuit shown in the circuit diagram of FIG.

【0039】図3において、プルダウン抵抗回路20
は、NチャネルトランジスタQN1〜QN6を含んでい
る。トランジスタQN1〜QN6は直列接続され、トラ
ンジスタQN1のソースとトランジスタQN2のドレイ
ンは共通となっており、トランジスタQN2のソースと
トランジスタQN3のドレインは共通となっており、ト
ランジスタQN3のソースとトランジスタQN4のドレ
インは共通となっており、トランジスタQN4のソース
とトランジスタQN5のドレインは共通となっており、
トランジスタQN5のソースとトランジスタQN6のド
レインは共通となっている。
In FIG. 3, the pull-down resistor circuit 20
Includes N-channel transistors QN1 to QN6. The transistors QN1 to QN6 are connected in series, the source of the transistor QN1 and the drain of the transistor QN2 are common, the source of the transistor QN2 and the drain of the transistor QN3 are common, and the source of the transistor QN3 and the drain of the transistor QN4 Are common, the source of the transistor QN4 and the drain of the transistor QN5 are common,
The source of the transistor QN5 and the drain of the transistor QN6 are common.

【0040】トランジスタQN1のソース〜ドレイン経
路の抵抗値は、例えば、10kΩである。また、トラン
ジスタQN2〜QN6のゲートG8〜G12のゲート長
は、トランジスタQN1のゲートG7のゲート長の2倍
となっている。トランジスタのソース〜ドレイン経路の
抵抗値はゲート長に比例するため、トランジスタQN2
〜QN6のソース〜ドレイン経路の抵抗値は、トランジ
スタQN1のソース〜ドレイン経路の抵抗値の2倍の2
0kΩである。
The resistance value of the source-drain path of the transistor QN1 is, for example, 10 kΩ. The gate length of the gates G8 to G12 of the transistors QN2 to QN6 is twice the gate length of the gate G7 of the transistor QN1. Since the resistance value of the source-drain path of the transistor is proportional to the gate length, the transistor QN2
To QN6 are twice as large as the resistance of the source to drain path of the transistor QN1.
0 kΩ.

【0041】トランジスタQN1〜QN6上には、第1
の絶縁層(図示せず)を介してアルミニウム等の配線2
1〜27が形成されている。配線21は、トランジスタ
QN1のドレインにコンタクトC20を介して接続され
ている。配線22は、トランジスタQN1のソース及び
トランジスタQN2のドレインにコンタクトC21を介
して接続されている。配線23は、トランジスタQN2
のソース及びトランジスタQN3のドレインにコンタク
トC22を介して接続されている。配線24は、トラン
ジスタQN3のソース及びトランジスタQN4のドレイ
ンにコンタクトC23を介して接続されている。配線2
5は、トランジスタQN4のソース及びトランジスタQ
N5のドレインにコンタクトC24を介して接続されて
いる。配線26は、トランジスタQN5のソース及びト
ランジスタQN6のドレインにコンタクトC25を介し
て接続されている。配線27は、トランジスタQN6の
ソースにコンタクトC26を介して接続されている。配
線27には、接地電位VSSが供給されている。また、配
線21は、プルダウン抵抗回路20の接続端子となって
いる。
On the transistors QN1 to QN6, the first
Wiring 2 made of aluminum or the like via an insulating layer (not shown)
1 to 27 are formed. The wiring 21 is connected to the drain of the transistor QN1 via the contact C20. The wiring 22 is connected to the source of the transistor QN1 and the drain of the transistor QN2 via a contact C21. The wiring 23 is connected to the transistor QN2
And the drain of the transistor QN3 via a contact C22. The wiring 24 is connected to the source of the transistor QN3 and the drain of the transistor QN4 via a contact C23. Wiring 2
5 is the source of the transistor QN4 and the transistor QN4.
The drain of N5 is connected via a contact C24. The wiring 26 is connected to the source of the transistor QN5 and the drain of the transistor QN6 via a contact C25. Wiring 27 is connected to the source of transistor QN6 via contact C26. The ground potential V SS is supplied to the wiring 27. The wiring 21 is a connection terminal of the pull-down resistance circuit 20.

【0042】トランジスタQN1〜QN6及び配線21
〜27上には第2の絶縁層(図示せず)を介して電源電
位VDDを供給するためのアルミニウム等の配線28〜2
9が形成されている。配線28は、トランジスタQN1
〜QN6のゲートG7〜G12にコンタクトC27〜C
32を介して接続されている。同様に、配線29は、ト
ランジスタQN1〜QN6のゲートG7〜G12にコン
タクトC33〜C38を介して接続されている。
Transistors QN1 to QN6 and wiring 21
On the wirings 28 to 27 for supplying the power supply potential V DD via a second insulating layer (not shown).
9 are formed. The wiring 28 is connected to the transistor QN1
Contacts C27 to CN to gates G7 to G12 of QN6
32. Similarly, the wiring 29 is connected to the gates G7 to G12 of the transistors QN1 to QN6 via the contacts C33 to C38.

【0043】このように、トランジスタQN1〜QN6
のゲートに電源電位VDDが供給されているので、トラン
ジスタQN1〜QN6はオンしている。また、配線27
には、接地電位VSSが供給されている。従って、プルダ
ウン抵抗回路20の接続端子である配線21には、ソー
ス〜ドレイン経路の抵抗値が10kΩのトランジスタQ
N1とソース〜ドレイン経路の抵抗値が20kΩのトラ
ンジスタQN2〜QN6とを介して接地電位VSSが供給
され、プルダウン抵抗回路20は、110kΩのプルダ
ウン抵抗としての機能を果たす。
As described above, the transistors QN1 to QN6
Are supplied with the power supply potential V DD , the transistors QN1 to QN6 are on. Also, the wiring 27
Is supplied with the ground potential V SS . Accordingly, the wiring 21 serving as a connection terminal of the pull-down resistance circuit 20 has a transistor Q having a resistance value of 10 kΩ in the source-drain path.
The resistance value of N1 and the source-drain path is supplied with the ground potential V SS via a transistor QN2~QN6 of 20 k [Omega, the pull-down resistor circuit 20 serves as a pull-down resistor 110Keiomega.

【0044】ここで、配線27に接地電位VSSを供給し
配線21を接続端子とすることにより、プルダウン抵抗
回路20は110kΩのプルダウン抵抗としての機能を
果たしているが、接地電位VSSを供給する配線及び接続
端子とする配線を配線21〜27の中から適切に選択す
ることにより、プルダウン抵抗回路20の抵抗値を10
kΩ〜110kΩの範囲内で10kΩ刻みで任意の値に
することができる。
Here, by supplying the ground potential V SS to the wiring 27 and using the wiring 21 as a connection terminal, the pull-down resistor circuit 20 functions as a 110 kΩ pull-down resistor, but supplies the ground potential V SS . By appropriately selecting the wiring and the wiring serving as the connection terminal from the wirings 21 to 27, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 is set to 10
Any value can be set in the range of kΩ to 110 kΩ in steps of 10 kΩ.

【0045】即ち、配線22に接地電位VSSを供給し、
配線21を接続端子とすることにより、プルダウン抵抗
回路20の抵抗値を10kΩとすることができる。ま
た、配線23に接地電位VSSを供給し、配線22を接続
端子とすることにより、プルダウン抵抗回路20の抵抗
値を20kΩとすることができる。また、配線23に接
地電位VSSを供給し、配線21を接続端子とすることに
より、プルダウン抵抗回路20の抵抗値を30kΩとす
ることができる。また、配線24に接地電位VSSを供給
し、配線22を接続端子とすることにより、プルダウン
抵抗回路20の抵抗値を40kΩとすることができる。
また、配線24に接地電位VSSを供給し、配線21を接
続端子とすることにより、プルダウン抵抗回路20の抵
抗値を50kΩとすることができる。また、配線25に
接地電位VSSを供給し、配線22を接続端子とすること
により、プルダウン抵抗回路20の抵抗値を60kΩと
することができる。また、配線25に接地電位VSSを供
給し、配線21を接続端子とすることにより、プルダウ
ン抵抗回路20の抵抗値を70kΩとすることができ
る。また、配線26に接地電位VSSを供給し、配線22
を接続端子とすることにより、プルダウン抵抗回路20
の抵抗値を80kΩとすることができる。また、配線2
6に接地電位VSSを供給し、配線21を接続端子とする
ことにより、プルダウン抵抗回路20の抵抗値を90k
Ωとすることができる。また、配線27に接地電位VSS
を供給し、配線22を接続端子とすることにより、プル
ダウン抵抗回路20の抵抗値を100kΩとすることが
できる。
That is, the ground potential V SS is supplied to the wiring 22,
By using the wiring 21 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 10 kΩ. Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 23 and using the wiring 22 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 20 kΩ. Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 23 and using the wiring 21 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 30 kΩ. Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 24 and using the wiring 22 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistor circuit 20 can be set to 40 kΩ.
Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 24 and using the wiring 21 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 50 kΩ. Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 25 and using the wiring 22 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 60 kΩ. Further, by supplying the ground potential V SS to the wiring 25 and using the wiring 21 as a connection terminal, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 70 kΩ. Also, the ground potential V SS is supplied to the wiring 26 and the wiring 22
As a connection terminal, the pull-down resistor circuit 20
Can be set to 80 kΩ. Also, wiring 2
6 is supplied with the ground potential V SS and the wiring 21 is used as a connection terminal, so that the resistance value of the pull-down resistor circuit 20 is 90 k
Ω. In addition, the ground potential V SS
And the wiring 22 is used as a connection terminal, whereby the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 100 kΩ.

【0046】また、配線22に接地電位VSSを供給し、
配線21及び23〜27を接続端子としておけば、プル
ダウン抵抗回路20の抵抗値を10kΩとすることがで
きる。ここで、配線21〜27及びコンタクトC27〜
C38のいずれかに変更を加えることにより、他のプル
ダウン抵抗値を得ることができる。
Further, the ground potential V SS is supplied to the wiring 22,
If the wirings 21 and 23 to 27 are used as connection terminals, the resistance value of the pull-down resistance circuit 20 can be set to 10 kΩ. Here, the wirings 21 to 27 and the contacts C27 to
By changing any of C38, another pull-down resistance value can be obtained.

【0047】このように、本実施形態に係るプルダウン
抵抗回路20によれば、拡散層に変更を加えることなく
コンタクト及び配線層若しくは配線層のみに変更を加え
ることで多様な抵抗値を選択することができる。
As described above, according to the pull-down resistor circuit 20 according to the present embodiment, various resistance values can be selected by changing the contact and the wiring layer or only the wiring layer without changing the diffusion layer. Can be.

【0048】尚、本実施形態に係るプルダウン抵抗回路
20において、ソース〜ドレイン経路のオン抵抗が10
kΩであるトランジスタQN1、及び、ソース〜ドレイ
ン経路のオン抵抗が20kΩであるトランジスタQN2
〜QN6を用いているが、ソース〜ドレイン経路のオン
抵抗は、ゲート長やゲート幅等を変更することにより所
望の値とすることができる。また、本実施形態に係るプ
ルダウン抵抗回路20において、トランジスタQN1〜
QN6の6個のトランジスタを用いているが、任意の数
のトランジスタを用いることができる。このように、所
望のオン抵抗を有するトランジスタを任意の数だけ直列
接続することにより、種々のプルダウン抵抗値を得るこ
とができる。
In the pull-down resistor circuit 20 according to the present embodiment, the on-resistance of the source-drain path is 10
and a transistor QN2 whose source-drain path has an on-resistance of 20 kΩ.
Although QN6 is used, the on-resistance of the source-drain path can be set to a desired value by changing the gate length, gate width, and the like. In the pull-down resistor circuit 20 according to the present embodiment, the transistors QN1 to QN1
Although six transistors QN6 are used, any number of transistors can be used. As described above, by connecting an arbitrary number of transistors having a desired on-resistance in series, various pull-down resistance values can be obtained.

【0049】以上、本実施形態に係る半導体装置に含ま
れるプルアップ抵抗回路10及びプルダウン抵抗回路2
0について説明したが、これらの回路をプルアップ抵抗
及びプルダウン抵抗以外の抵抗として用いることも可能
である。
As described above, the pull-up resistor circuit 10 and the pull-down resistor circuit 2 included in the semiconductor device according to the present embodiment
Although 0 has been described, these circuits can be used as resistors other than the pull-up resistor and the pull-down resistor.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上述べた様に、本発明によれば、直列
接続された複数のトランジスタを形成し、ソース〜ドレ
イン経路の抵抗値の和が必要とされる抵抗値に等しい連
続したトランジスタを抵抗を必要とする回路に接続する
ことにより、拡散層に変更を加えることなくコンタクト
及び配線層若しくは配線層のみに変更を加えることで多
様な抵抗値を選択することができる。
As described above, according to the present invention, a plurality of transistors connected in series are formed, and a continuous transistor in which the sum of the resistance values of the source-drain paths is equal to the required resistance value is formed. By connecting to a circuit requiring a resistor, various resistance values can be selected by changing only the contact and the wiring layer or only the wiring layer without changing the diffusion layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る半導体装置に含まれ
るプルアップ抵抗回路のレイアウト図である。
FIG. 1 is a layout diagram of a pull-up resistor circuit included in a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施形態に係る半導体装置に含まれ
るプルアップ抵抗回路の回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a pull-up resistor circuit included in the semiconductor device according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施形態に係る半導体装置に含まれ
るプルダウン抵抗回路のレイアウト図である。
FIG. 3 is a layout diagram of a pull-down resistor circuit included in the semiconductor device according to one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施形態に係る半導体装置に含まれ
るプルダウン抵抗回路の回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of a pull-down resistor circuit included in the semiconductor device according to one embodiment of the present invention.

【図5】従来の半導体装置に含まれるプルアップ抵抗回
路のレイアウト図である。
FIG. 5 is a layout diagram of a pull-up resistor circuit included in a conventional semiconductor device.

【図6】従来の半導体装置に含まれるプルアップ抵抗回
路の回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram of a pull-up resistor circuit included in a conventional semiconductor device.

【図7】従来の半導体装置に含まれるプルダウン抵抗回
路のレイアウト図である。
FIG. 7 is a layout diagram of a pull-down resistor circuit included in a conventional semiconductor device.

【図8】従来の半導体装置に含まれるプルダウン抵抗回
路の回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram of a pull-down resistor circuit included in a conventional semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、30 プルアップ抵抗回路 20、40 プルダウン抵抗回路 QP1〜QP8、QN1〜QN8 トランジスタ G1〜G16 ゲート C1〜C52 コンタクト 1〜9、21〜29、31〜36、41〜46 配線 10, 30 Pull-up resistor circuit 20, 40 Pull-down resistor circuit QP1 to QP8, QN1 to QN8 Transistor G1 to G16 Gate C1 to C52 Contact 1 to 9, 21 to 29, 31 to 36, 41 to 46 Wiring

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1及び第2の回路と、 直列接続された複数のトランジスタと、 ソース〜ドレイン経路の抵抗値の和が前記第1の回路と
前記第2の回路との間に必要とされる抵抗値に等しい前
記複数のトランジスタの内の連続するトランジスタの一
端のトランジスタのソースと前記第1の回路とを接続す
る第1の配線と、 前記連続するトランジスタの他端のトランジスタのドレ
インと前記第2の回路とを接続する第2の配線と、 前記連続するトランジスタの夫々のゲートに所定の電位
を供給する第3の配線と、を具備する半導体装置。
A first and a second circuit, a plurality of transistors connected in series, and a sum of resistance values of a source-drain path are required between the first circuit and the second circuit. A first wiring connecting the source of the transistor at one end of the plurality of transistors equal to the resistance value to be connected and the first circuit; a drain of the transistor at the other end of the continuous transistor; A semiconductor device comprising: a second wiring for connecting to the second circuit; and a third wiring for supplying a predetermined potential to each gate of the continuous transistors.
【請求項2】 プルアップ対象回路と、 直列接続された複数のPチャネルトランジスタと、 ソース〜ドレイン経路の抵抗値の和が前記プルアップ対
象回路が必要とするプルアップ抵抗値に等しい前記複数
のPチャネルトランジスタの内の連続するトランジスタ
の一端のPチャネルトランジスタのソースに第1の電位
を供給する第1の配線と、 前記連続するPチャネルトランジスタの他端のPチャネ
ルトランジスタのドレインと前記プルアップ対象回路と
を接続する第2の配線と、 前記連続するPチャネルトランジスタの夫々のゲートに
第2の電位を供給する第3の配線と、を具備する半導体
装置。
2. A pull-up target circuit, a plurality of P-channel transistors connected in series, and the plurality of P-channel transistors, wherein a sum of resistance values of a source-drain path is equal to a pull-up resistance value required by the pull-up target circuit. A first wiring for supplying a first potential to the source of the P-channel transistor at one end of the continuous P-channel transistor, a drain of the P-channel transistor at the other end of the continuous P-channel transistor, and the pull-up A semiconductor device comprising: a second wiring for connecting to a target circuit; and a third wiring for supplying a second potential to each gate of the continuous P-channel transistors.
【請求項3】 プルダウン対象回路と、 直列接続された複数のNチャネルトランジスタと、 ソース〜ドレイン経路の抵抗値の和が前記プルダウン対
象回路が必要とするプルダウン抵抗値に等しい前記複数
のNチャネルトランジスタの内の連続するトランジスタ
の一端のNチャネルトランジスタのソースに第1の電位
を供給する第1の配線と、 前記連続するNチャネルトランジスタの内の他端のNチ
ャネルトランジスタのドレインと前記プルダウン対象回
路とを接続する第2の配線と、 前記連続するNチャネルトランジスタの夫々のゲートに
第2の電位を供給する第3の配線と、を具備する半導体
装置。
3. A pull-down target circuit, a plurality of N-channel transistors connected in series, and the plurality of N-channel transistors having a sum of resistance values of a source-drain path equal to a pull-down resistance value required by the pull-down target circuit. A first wiring for supplying a first potential to a source of an N-channel transistor at one end of a continuous transistor, a drain of an N-channel transistor at the other end of the continuous N-channel transistor, and the pull-down target circuit And a third wiring for supplying a second potential to each gate of the continuous N-channel transistors.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009188189A (en) * 2008-02-06 2009-08-20 Nec Electronics Corp Semiconductor integrated circuit device

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