JP2002196008A - オートサンプラ - Google Patents
オートサンプラInfo
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- JP2002196008A JP2002196008A JP2000393967A JP2000393967A JP2002196008A JP 2002196008 A JP2002196008 A JP 2002196008A JP 2000393967 A JP2000393967 A JP 2000393967A JP 2000393967 A JP2000393967 A JP 2000393967A JP 2002196008 A JP2002196008 A JP 2002196008A
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
よる、試料セル検出センサの検出ミスを防止したオート
サンプラを提供する。 【解決手段】試料セル1を把持する一対のフィンガー3
aの下端部に黒色ツヤけし塗料による低反射率物質3c
を塗布することにより、試料セル検知センサ5の発光素
子5aからの赤外線は前記低反射率物質3cに吸収さ
れ、その反射光が減少するので、フィンガー3aからの
反射光による検出ミスを無くすることができる。
Description
置において用いられる自動試料搬送用オートサンプラに
関する。
ムに取り付けられた板状や棒状形状のフィンガーが、試
料トレイに並んだ試料セルを把持してディテクタ位置ま
で搬送している。その際、フィンガーの移送路近傍に光
センサを配置して、移送中の試料セルの下面に光を当て
て、その反射光を検知することにより試料セルの有無を
確認している。
では上記のようにフィンガーにより把持された試料セル
の存在を光センサによって検知しているが、試料セルの
存在を確実に検知するには光センサを試料セルに近づけ
る必要がある。しかしながら、光センサをフィンガーに
あまり近づけ過ぎるとフィンガー下端面からも光センサ
方向に光が反射し、フィンガーが試料セルを把持してい
ないのに試料セルがあるかのように光センサが反応して
しまうという問題がある。本発明は、このような事情に
鑑みてなされたものであって、移送過程の試料セルの有
無を確実に検知できるオートサンプラを提供することを
目的とする。
め、本発明のオートサンプラは、被分析試料を収容する
試料セルを保持する保持部と、該保持部を駆動するアー
ムとを備え、複数の試料セルを順次自動的にディテクタ
上に移送すると共に、移送中の保持部における試料セル
の有無を検知する光センサを備えたオートサンプラにお
いて、試料セル保持部の下端面に光センサからの入射光
が反射しないような低反射物質を塗布、あるいは試料セ
ル保持部の下端面を鋭角度に傾斜させて反射光が光セン
サに入射しないようにしたことを特徴とするものであ
る。本発明のオートサンプラは上記の構成を用いること
により、確実に移送中の試料セルの有無を確認すること
ができる。
トサンプラを図面を参照しながら説明する。図1は本発
明のオートサンプラを熱分析装置に用いた場合の構成を
示す斜視図である。本オートサンプラは、試料セル1を
搭載するための複数の凹み又は通し孔2aと回転軸2b
を有する試料トレイ2と、試料セル1を把持するフィン
ガー3aとその試料セル1をディテクタ4の位置まで移
送する搬送アーム3bを連結してなる試料搬送機構3
と、移送中のフィンガー3aに試料セル1が把持されて
いるかどうかを検知する試料セル検知センサ5と、これ
らの構成要素を搭載すると共に、該構成要素の動作を制
御するための制御装置6を収容する筐体7から構成され
ている。
な搬送アーム3bを水平方向に回転移動させるためのモ
ータM1、搬送アーム3bを介してフィンガー3aを上
下に移動するためのモータM2、同じくフィンガー3a
を左右に開閉するためのモータM3、また、試料トレイ
2にはこれを回転又は停止させるためのモータM4がそ
れぞれ組み込まれている。そして、前記試料セル検知セ
ンサ5は移送中の試料セル1に向けて光線を発射する発
光素子5aとその反射光を検知する受光素子5bから構
成されている。
オートサンプラによる試料セル1の搬送を実行する制御
プログラムを記憶しておくROM62、データの出し入
れを行うRAM63と、その制御プログラムにおける演
算制御を実行するCPU61と、このCPU61からの
制御信号に基づき前記試料トレイ2や試料搬送機構3を
制御するための駆動信号を出力したり、試料セル検知セ
ンサ5からの検知信号を取り込むためのI/Oインター
フェース64と、自動分析開始等の指令信号を入力する
入力装置66や試料セル検知センサ5からの情報を出力
する出力装置67用のI/Oインターフェース65から
構成されている。
aの実施例による側面図(a)とその正面図(b)を示
したものである。図に示すように、このフィンガー3a
の下端面には試料セル検知センサ5の発光素子5aから
の入射光を反射させない低反射率物質3cが塗布されて
いる。前記発光素子5aと受光素子5bには発光ダイオ
ードとフォトダイオードを個々に配置して構成すること
もできるが、これらを一体にした汎用の光電センサを用
いることもできる。例えば、発光素子5aとして赤外線
を発光するGaAsのような半導体発光素子を用いる場
合は、低反射率物質3cとして黒色ツヤけし塗料、受光
素子5aとして量子型のフォトダイオードや熱型の焦電
性赤外線センサを用いることができる。
用した熱分析装置の自動分析動作を図1、図2を参照し
ながら説明する。自動分析開始指令を入力装置66に入
力すると、フィンガー3aは搬送アーム3bと共にモー
タM1により試料トレイ2上の規定位置に移動し、モー
タM3により左右方向に開いた後、モータM2により試
料セル1の位置まで下降する。そして、フィンガー3a
はモータM3により試料セル1を把持した後、モータM
2により一定の高さまで上昇し、続いてモータM1によ
り試料セル1をディテクタ4まで移送する。
セル1を試料トレイ2から、ディテクタ4方向(図4
(a)における矢印方向)に移送中、試料セル検知セン
サ5により、試料セル1の有無が検知される。図4は試
料セル1がある場合(a)と無い場合(b)の試料セル
検知センサ5の動作を説明する図である。すなわち、フ
ィンガー3aに試料セル1が把持されている場合は、図
4(a)に示すように発光素子5aからの赤外線は試料
セル1の下端面で反射されて受光素子5bに入射し、試
料セル1の把持が確認される。
していない場合は、図4(b)に示すように発光素子5
aからの赤外線はフィンガー3aの下端面に当たっても
黒色ツヤけし塗装面で吸収されるので、受光素子5bへ
の赤外線の入射光がなくなり、フィンガー3aで試料セ
ル1が把持されていないことが確実に確認される。
止し、モータM2により試料セル1をディテクタ4に設
置した後、モータM1〜M3を駆動して試料トレイ2に
戻る。そして、加熱炉8がディテクタ4上に降下し、デ
ィテクタ上4の試料セル1を加熱炉8内に収容して加熱
を行い、熱分析のための熱重量測定を行う。試料が所定
の設定温度に達した時点で熱重量測定を終了すると共
に、加熱炉8の加熱運転を停止する。炉内温度があらか
じめ設定された温度にまで低下した後、加熱炉8が上昇
しフィンガー3aの動作によって測定を終了した試料セ
ル1をディテクタ4から元の位置に移送して1つのサイ
クルを終了し、次のサイクルへ移行する。次のサイクル
において、先ず試料トレイ2を1ピッチ回動させ、フィ
ンガー3aの下の位置に次の試料セル1を移動させる。
そして、上記サイクルと同様にフィンガー3aで試料セ
ル1を把持して、ディテクタ4上に移送し、加熱して熱
重量測定を行う。
る断面図と試料セル検知センサ5とを示したものであ
る。このフィンガー3dの下端部分は、図に示されるよ
うに、その側面に傾斜をつけ下端面に平坦部を無くすよ
うに仕上げられている。これにより、発光素子5aから
フィンガー3dの下端部分に入射した光線は、受光素子
5bの方向から外れた矢印方向Aに反射するので、試料
セル1が把持されていないことが確実に検知できる。
面からの反射光によって試料セルがない場合でも試料セ
ル検知センサが有りと判定することを防止するため、下
端面に低反射率物質を塗布して反射光を無くすこと、あ
るいは反射面に傾斜をつけて光の反射方向を変えるよう
にしたことを特徴するもので、試料セル検出センサの光
線、低反射率物質およびフィンガーの形状の種類は実施
例にのみ限定されるものではない。
知センサをフィンガーに十分近づけて試料セルの有無の
判定が行えるので、試料セルの有無による判別は当然の
こと、セルを少々斜めに掴んでいてもセルの有無が確実
に判別できる。
である。
(b)である。
となし(b)の場合の動作説明図である。
Claims (1)
- 【請求項1】被分析試料を収容する試料セルを保持する
保持部と、該保持部を駆動するアームとを備え、複数の
試料セルを順次自動的にディテクタ上に移送すると共
に、移送中の保持部における試料セルの有無を検知する
光センサを備えたオートサンプラにおいて、試料セル保
持部の下端面に光センサからの入射光が反射しないよう
な低反射物質を塗布、あるいは試料セル保持部の下端面
を鋭角度に傾斜させて反射光が光センサに入射しないよ
うにしたことを特徴とするオートサンプラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000393967A JP4547801B2 (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | オートサンプラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000393967A JP4547801B2 (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | オートサンプラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002196008A true JP2002196008A (ja) | 2002-07-10 |
| JP4547801B2 JP4547801B2 (ja) | 2010-09-22 |
Family
ID=18859672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000393967A Expired - Lifetime JP4547801B2 (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | オートサンプラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4547801B2 (ja) |
Cited By (2)
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| US8018048B2 (en) | 2007-03-29 | 2011-09-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
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-
2000
- 2000-12-26 JP JP2000393967A patent/JP4547801B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4547801B2 (ja) | 2010-09-22 |
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