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JP2002033374A - プローブステーション用チャック - Google Patents

プローブステーション用チャック

Info

Publication number
JP2002033374A
JP2002033374A JP2001136081A JP2001136081A JP2002033374A JP 2002033374 A JP2002033374 A JP 2002033374A JP 2001136081 A JP2001136081 A JP 2001136081A JP 2001136081 A JP2001136081 A JP 2001136081A JP 2002033374 A JP2002033374 A JP 2002033374A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting member
base
device mounting
chuck
rotation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001136081A
Other languages
English (en)
Inventor
L Harris Daniel
エル ハリス ダニエル
R Mccann Peter
アール マッキャン ピーター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FormFactor Beaverton Inc
Original Assignee
Cascade Microtech Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cascade Microtech Inc filed Critical Cascade Microtech Inc
Publication of JP2002033374A publication Critical patent/JP2002033374A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H10P72/74
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2831Testing of materials or semi-finished products, e.g. semiconductor wafers or substrates
    • H10P72/0611

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テストを受ける装置を迅速、正確に角度割出
しするコンパクトなプローブステーション用チャックを
提供する。 【解決手段】 このチャック12はプローブステーショ
ン10に取り付けられたベース16、56と、このベー
スに回転するように取り付けられた軸52と、この軸と
共に回転するようにこの軸に固着された装置取付け部材
50とを具える。装置取付け部材に対する軸の方向には
実質的に無関係に、ベースに対する平面の方向を装置取
付け部材は有する。ベースと、装置取付け部材との間
に、大径の0リング76を設け、0リング76によっ
て、軸52の垂直性に無関係に、装置取付け部材を支持
し、その一貫する水平性を維持する。また、このように
装置取付け部材を支持することにより、軸の長さを減少
させ、チャックの高さと、容積とを減少させ、プローブ
ステーションもコンパクトにすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はプローブを使用して
テストを行うプローブステーションにおいて、テストを
受ける装置を保持するプローブステーション用チャック
に関するものであり、また特に、プローブステーション
において、テストを受ける装置を取り付けるため、この
装置を割出し、回転できる回転チャックに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】集積回路は半導体材料、又はウエハを化
学的に腐食して形成されたマイクロ回路を具える。単一
のウエハ上に、数個の集積回路を製造し、次に、ウエハ
プローブステーションにおいて、性能と、機能とをテス
トした後、個々の回路に分離するのが普通である。この
集積回路を複合装置に組み込んだ後、集積回路の性能
と、機能とをテストするためにも、プローブステーショ
ンが使用されている。
【0003】一般に、プローブステーションは包囲室を
具え、性能や機能のテストを受ける装置(以下、DUT
(device under test) と略称する)を取り付け、位置決
めするためのチャックと、DUT上のテスト点を機器に
接続する1個、又はそれ以上の個数のプローブと、集積
回路のテスト点を設置してプローブによるテストを行う
操作者を助ける光学装置とを上記包囲室内に収容する。
包囲室は電気的障害、及び周囲からの障害に対し脆弱な
プローブと、DUTとを保護する。チャックはDUTを
取り付け、位置決めするための機構となる。また、チャ
ックは加熱、冷却性能、及び付加的電磁界分離性のよう
な局部的な作動条件を更に制御する手段を有することが
できる。装置をテストするため、プローブステーション
の操作者は顕微鏡下に、この装置を試験し、更に、チャ
ック、及びプローブのための位置決め機構を使用して、
DUTのテスト点にプローブ先端を接触させる。集積回
路のテスト点は、通常、長方形のグリッド座標に沿って
位置し、プローブカード上の多数のプローブにより、又
は東西南北に配置された単一プローブにより、集積回路
のテスト点はテストを受ける。同様に、複合装置内の集
積回路は、通常、長方形の座標に沿って配置される。
【0004】プローブの先端と、DUTのテスト点とを
相関位置決めするのを容易にするため、プローブと、チ
ャックとの両方が数個の方向に移動できるようにする。
通常、チャックは移動可能なステージ上に取り付けら
れ、水平方向(X軸線方向、及びY軸線方向)、及び垂
直方向(Z軸線方向)に並進運動を行うことができる。
更に、このステージはZ軸線の周りの回転、即ち「θ
角」の調整を行い、プローブの先端と、集積回路のテス
ト点との平行な配列を容易にする。通常、プローブの取
付け部によって、マイクロメータの精度で、プローブの
X軸線、Y軸線、及びZ軸線の運動を行わせることがで
きる。
【0005】通常、テスト点は集積回路上に長方形のグ
リッド配置に配設され、テストの手順には、同一のX軸
線、及びY軸線に沿って配置されていないテスト点を複
数回にわたり、プローブによりテストすることが必要で
ある。例え、集積回路のテスト点をプローブによるテス
トに有効なように配置したいと思っても、多数の集積回
路を含む装置のテスト点は好都合に配置され難い。その
結果、テストと、テストとの間で、DUTをチャック上
で回転しなければならないか、又は、プローブカードを
取り外して、回転し、プローブの先端の方向を再設定し
なければならない。DUT、又はプローブカードの方向
の再設定を行うのに必要な時間と、努力に加えて、プロ
ーブの方向の再設定には、取り付けられた機器の再較正
が必要であり、この再較正には時間を要する。垂直軸線
(Z軸線)の周りにチャックを回転(θ回転)できるよ
うにすることによって、プローブ、及びテスト点の方向
の再設定に必要な時間を減少させることができる。
【0006】「微細」なθ角調整の形の回転運動は通
常、プローブステーションのチャックにおいて、行われ
る。この「微細」なθ角調整を使用すれば、一連のDU
TをプローブステーションのX軸線、及びY軸線に対
し、確実に配列することができ、更に調整を行うこと無
く、プローブを装置から、装置に、段歩的に動かすこと
ができる。通常、微細なθ角の回転は約±7.5 度に限定
され、顕微鏡的プローブ先端と、テスト点との配列を容
易にするため、回転速度は比較的遅い。従って、微細な
θ角の調整機構は順次のテストのためのテスト点の方向
の再設定に適合させるため、90度、又はそれ以上の大
きな角度にわたり、DUTを回転させるのに、十分でな
く、又は便利でない。
【0007】Rochに与えられた米国特許第3936743 号の
発明の名称「高速精密チャック組立体」の発明はウエハ
プローブステーション用の回転チャックを開示してい
る。このチャックはハウジングの孔内の軸受内に、回転
するように配置されたステム部を有するプラットホーム
を具える。このチャックは調整ノブと、取り付けられた
ウオーム歯車とを回転することによって、手動で回転す
ることができる。このウオーム歯車はチャックの回転す
るプラットホームに取り付けられた平歯車に噛合する。
この機構はチャックの表面を回転して、DUTの方向の
再設定を容易にするが、ウオーム歯車の駆動はチャック
の大きさを増大し、ステージの位置決め機構の摩耗と損
傷とを増大し、ステージによる正確な位置決めを一層、
困難にしてしまう。更に、この取付け面の平坦性は支持
ステム、及び対応する支持構造の孔の垂直性によって定
まる。
【0008】顕微鏡下にDUTを観察しながら、DUT
の位置決めを行うから、平面の方向、即ち平坦性が僅か
にずれていても、プローブによる検査のため、DUTを
位置決めしている間、既定の手順として、光学装置を再
フォーカスする必要性を生ずる。また、ウオーム歯車機
構はチャックの高さを増大させるから、プローブステー
ションのステージ、光学装置、及び包囲室は回転するチ
ャックを受け入れるため、特別な設計を必要とする。更
に、ウオーム歯車駆動系は精密な再配列のため、DUT
を連続的に回転させるが、新たなテスト位置にDUTを
迅速、便利に位置決めすることは生産的なプローブによ
る検査に重要であるにも関わらず、そのようなDUTの
迅速で、便利な位置決めはこのウオーム歯車駆動系では
達成されない。
【0009】Boucher 等に与えられた米国特許第567636
0 号の発明の名称「工作機械の回転テーブルロック装
置」の発明は上記のものとは異なるウオーム歯車で駆動
される回転テーブルを開示している。このテーブルはダ
イシングソーに使用するのに適合している。このテーブ
ルの表面の平面の方向はテーブルを回転させる軸のこの
表面に対する方向によって定まっている。その結果、回
転するようにテーブルを支持している軸受は広く離間し
ており、そのため、テーブルの高さが増大する。選択さ
れた回転位置にテーブルをロックするため、このテーブ
ルは制動装置を組み込んでいる。流体圧力は円形ピスト
ンを押圧して、回転テーブルの周縁の立縁に、この円形
ピストンを押しつける。このピストンはテーブルのベー
スに対し、任意の位置を自由に占めることができるか
ら、制動を加えても、テーブルを安定化せず、テーブル
の平面の方向に効果をもたらさない。更に、テーブルの
周縁に、制動力を加えた際のテーブルの撓みを防ぐた
め、一層、大きなテーブルが必要になる欠点がある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従って、剛強で、容積
が小さく、正確な平坦性を維持することができると共
に、集積回路のテスト点の順次のプローブによるテスト
のため、大きな角度にわたり、DUTの迅速、正確な回
転を容易に行うことができるコンパクトな回転チャック
が待望される。
【0011】本発明の目的は上記の従来技術の欠点を除
去し、コンパクトで、剛強で、正確な平坦性を維持し、
テストを受ける装置を迅速、正確に、大きな角度にわた
り回転し、容易に順次のテストを行うことができるプロ
ーブステーション用チャックを得るにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明プローブステーション用チャックはプローブ
ステーションに取り付けられたベースと、このベース内
に回転するように取り付けられた軸と、この軸と共に回
転するようにこの軸に固着された装置取付け部材とを具
え、この装置取付け部材に対する前記軸の方向とは実質
的に無関係に前記ベースに対する平面の方向を前記装置
取付け部材が有することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例では、ベース
と、装置取付け部材との間に、大径の弾性シールを設
け、この大径の弾性シールによって、軸の配列とは無関
係に、装置取付け部材を支持し、装置取付け部材の剛強
性と、一貫する平坦性とを増進する。更に、このように
して支持することは軸の長さを減らし、従って、回転チ
ャックの高さと、容積とを減少させ、プローブステーシ
ョン自体をもコンパクトな構造にすることができる。
【0014】更に、本発明の他の実施例では、この回転
チャックに釈放可能な回転停止装置を設ける。これによ
り、装置取付け部材を新たなテスト位置に割り出すこと
ができる。他の実施例のプローブステーション用チャッ
クはプローブステーションに取り付けられたベースと、
ベースに対し回転するように、ベースによって拘束され
る装置取付け部材とを具える。図面に付き、本発明の実
施例を詳細に説明する。
【0015】
【実施例】図1において、プローブステーション10内
に、テストを受ける装置(DUT)をチャック12に取
り付ける。ステーションベース16上に取り付けた移動
ステージ14上に、このチャック12は取り付けられて
いる。プローブ(図示せず)はプラテン18によって、
チャックの上方に支持される。このプローブには水平軸
線(X軸線、及びY軸線)に沿って、位置決めするため
の制御装置を設け、プラテン18を垂直方向(Z軸線方
向)に調整し、DUTの集積回路のテスト点に、プロー
ブを接触させる。プローブの位置設定と、位置決めとを
容易にするため、光学装置用ブリッジ22に取り付けた
顕微鏡台20に取り付けた顕微鏡(図示せず)をプロー
ブステーション10に設ける。包囲ハウジング(図示せ
ず)をプローブステーション10に設け、DUT、及び
プローブを塵埃、及び周囲からの障害に対し、防護す
る。
【0016】DUT、及びプローブの相対位置決めを容
易にするため、移動ステージ14によって、チャック1
2の並進運動、及び限定された回転運動(θ角運動)を
生ぜしめる。図1に示すプローブステーション10にお
いては、ステージ14を動かすためのリニアアクチュエ
ータ28、30をそれぞれ駆動するX軸線モータ24、
及びY軸線モータ26によって、チャック12の水平並
進運動を達成する。同様の機構(図示せず)によって、
チャック12の垂直並進運動を行わせる。回転運動用モ
ータ32、及びそれに取り付けたリニアアクチュエータ
34によって、垂直軸線の周りの回転運動、即ち、微細
なθ角調整を行う。この微細なθ角調整を行うことによ
って、プローブ先端と、テスト点との平行化を容易にす
る。通常、回転は約15度(±7.5 °)に限定される。
回転速度を比較的遅くし、顕微鏡プローブ先端と、テス
ト点との配列を容易にする。1個、又はそれ以上のリニ
アエンコーダ36は上記のステージ位置決めモータのた
めの制御装置にフィードバックする。
【0017】図2において、本発明のチャック12は装
置取付け部材50を具え、ベース56の孔内に設置され
たブッシュ54内に回転するように取り付けられた軸5
2に、この装置取付け部材50を取り付ける。保持リン
グ57によって、軸52をブッシュ54内に取り付け
る。ベース56を平坦板58に取りつけ、図1に示すよ
うなプローブステーション10の移動ステージ14に、
この平坦板58を取り付ける。取付けねじ60と、それ
ぞれ取付けねじ60によって保持される複数個のばね座
金62との構成によって、ベース56を平坦板58に取
り付ける。ばね座金62はベース56と、平坦板58と
の間に介挿され、ベース56と、平坦板58とを分離さ
せる力を作用させている。プローブステーション10の
構造に対する装置取付け部材50の上面の平坦性は1
個、又はそれ以上の数の取付けねじ60を緩め、又は締
め付けることによって、調整することができる。
【0018】装置取付け部材50を便利に手動回転させ
るため、装置取付け部材50に、ハンドル(図示せず)
を設置することができる。ベース56と、回転する装置
取付け部材50とに、回転角を示す対応するマークを設
けることができる。手動回転によって、装置取付け部材
50を迅速、確実に回転させることができるが、モー
タ、及び適切な駆動系(図示せず)により、動力で回転
させることもできる。動力による装置取付け部材50の
位置決めは既知のモータ制御器、及び回転位置決めフィ
ードバック装置によって、制御することができる。
【0019】図2のチャック12の実施例では、テスト
を受ける装置(DUT)64をクランプ装置68によっ
て、取付け具66に取り付ける。装置取付け部材50の
蟻溝に整合する鳩尾部によって、取付け具66を装置取
付け部材50に取り付ける。DUT64を取り付ける他
の方法も使用することができる。例えば、真空手段によ
って、チャックの表面にウエハを保持することもある。
回転ユニオン(図示せず)と、装置取付け部材50、及
び軸52の通路とを通じて、装置取付け部材50の上面
に設けた孔(図示せず)を真空源(図示せず)に連結す
ることができる。真空源をこの通路に連結した時、空気
圧によって、装置取付け部材50の上面にDUTを保持
する。
【0020】通常、集積回路のテスト点は長方形の座標
に沿って、配置されているから、テスト中、DUTを9
0度回転すること、即ち1/4回転づつ回転させること
が通常、必要である。本発明の発明者等はプローブと、
接触点とを配列させるため、正確な概略のθ角の迅速な
DUTの回転の次に、θ角の微細な調整を行えば、プロ
ーブステーションの生産性を著しく向上させることがで
きるという結論に達した。本発明チャック12は装置取
付け部材50を新たな位置に、迅速、精密に回転させる
機械的割出し装置を有する。釈放可能な回転停止装置を
設け、装置取付け部材50の回転を割り出す。手動で操
作する割出しピン70を装置取付け部材50の孔に摺動
させて掛合させ、ばね72によって、この割出しピン7
0を突出位置に押圧する。この突出位置では、割出しピ
ン70は複数個の孔74の一つに、又はベース56の他
の表面の一つに掛合する。
【0021】装置取付け部材50を回転させるために
は、ベース58の孔74から割出しピン70を後退さ
せ、装置取付け部材50が自由に回転できるようにす
る。割出しピン70の1/4回転のような第2運動によ
って、割出しピン70を後退位置に保持し、割出し操作
無しにチャックを回転させてもよい。集積回路上にテス
ト点を一直線に配置することにより、多くの用途で便利
な90度の回転、即ち1/4回転づつの回転を行うこと
ができるが、ベース56における他の位置、即ち付加的
位置に、ピン収容孔74を設けることによって、他の角
度づつの割出しを行うこともできる。チャック12の1
個の素子に移動可能に取り付けられ、チャック12の他
の素子に掛合する回転停止部材を具える他の形状になる
よう、上記の釈放可能な回転停止装置を形成することが
できる。代案として、装置取付け部材50、軸52、及
びベース56の一部に掛合するフリップアップアーム、
又はばね負荷プランジャ、又はボール留め金を設けても
よい。
【0022】また、本発明の回転チャック12に回転制
動安定システムを設ける。このシステムは無数の回転位
置に、装置取付け部材50をロックすることができる。
更に、テスト中、このシステムはDUT64の安定性
と、平坦性とを増進する。これにより、必要な顕微鏡の
調整を減らし、プローブステーションの生産性を増進す
る。装置取付け部材50の下面のOリング溝内に、大径
のOリング真空シール76を設置する。弾性Oリング7
6はベース56の上面に接触し、装置取付け部材50
と、ベース56との間に分離する力を作用させる。回転
中、装置取付け部材50の直径の大部分にわたり、大径
のOリング76によって、支持し、DUT64のための
安定した取付け部となるようにする。更に、装置取付け
部材50の平面の方向、即ち傾きは取付け軸52の方向
とは無関係である。長い距離を置いて配置される軸受
や、長い軸は必要でなく、従って、チャック12の高さ
を低くすることができる。
【0023】軸52のOリング溝内に、付加的Oリング
真空シール78、80を設置し、軸52と、ブッシュ5
4との間をシールする。Oリング真空シール76、7
8、80は装置取付け部材50と、ベース56との間
に、シールされた室82を形成する。ベース56内の通
路84はシールされた室82を真空源(図示せず)に連
結する。制御弁(図示せず)を作動させた時、シールさ
れた室82から空気を排気し、装置取付け部材50に作
用する空気圧により、この装置取付け部材50を押圧し
て、ベース56に接触させる。言い換えれば、装置取付
け部材50、ベース56、及びシール78、80、76
は流体圧力の変化に応動するアクチュエータを形成して
いる。装置取付け部材50、Oリングシール76、及び
ベース56の間の摩擦は装置取付け部材50の回転を防
止し、装置取付け部材50を所定位置にロックする。装
置取付け部材50と、ベース56とを合体、押圧するか
ら、弾性Oリングを圧縮し、制動力を加えた時、装置取
付け部材50をその表面の広い部分にわたり、支持す
る。
【0024】平坦板58上にベースを支持するねじ60
によって、ベース56の上面の平面の方向、即ち傾きを
調整する。ねじ60によって正しく調整した後は、装置
取付け部材50の上面の平面の方向、即ち平坦性は装置
取付け部材50の上面と、下面との平行性によって決定
され、装置取付け部材50に対する軸52の方向とは無
関係である。その結果、テストを受ける装置のための取
付け部の平面の方向の偏向は装置取付け部材50の上下
面の平行性を制御する能力によって、即ち加工の際の精
度のみによって最少にされ、装置取付け部材50を取り
付けるのに、比較的短い軸52を使用することができる
から、回転チャックの高さを最少にすることができる。
装置取付け部材50の平面の方向の偏向が最少になれ
ば、DUTを回転し、並進運動させる際、光学装置の再
フォーカスを繰り返して行わなくともよいようになる。
回転チャックの高さが最少になることによって、非回転
チャックのため設計されたプローブステーション内に、
チャック12を設定することが可能になる。
【0025】図3において、代案の構造では、チャック
90の装置取付け部材92をベース94の表面によっ
て、直接、支持する。ベース94の突出部のOリング溝
内に取り付けたOリングシール96は装置取付け部材9
2を回転するように、支承する。回転中、装置取付け部
材92はその直径にわたり、ベース94によって、支持
されており、剛固な支持が得られると共に、装置取付け
部材92の上面の平面の方向が安定する。第2Oリング
98は装置取付け部材92の上面と、ベース94の突出
部との間の環状容積をシールする。シールされたこの環
状容積に、通路100を通じて、真空を加えた時、装置
取付け部材92はベース94の突出部に向け、上方に吸
引され、第2Oリング98を圧縮する。
【0026】その結果、装置取付け部材92の上面のほ
ぼ直径にわたる環状区域に、制動圧力が加わり、装置取
付け部材92の平坦性はこの表面の平坦性によって決定
される。装置取付け部材92の下面の凹凸に接触するよ
うにボール104を押圧するばね102を具えるボール
掛止め装置によって、装置取付け部材92の回転の概略
の割出しを行うことができる。更に、円錐端を有する設
置ピン106を装置取付け部材92の孔内に摺動するよ
うに配置する。スナップリング110によって保持され
るばね108により、設置ピン106は後退位置に保持
される。設置ピン106はOリング112によって、シ
ールされる。装置取付け部材92と、ベース94とによ
って形成される室に真空を加えた時、設置ピン106は
装置取付け部材92の円錐形凹所114に接触するよう
に、吸引され、装置取付け部材92の最終的な回転によ
る配列を達成する。
【0027】ウエハ、及びその他のDUTをチャックに
取り付けるために、真空を使用することが多いから、こ
の制動安定システムを作動させるための真空は便利なエ
ネルギー源である。しかし、制動安定システムを作動さ
せるのに、高い流体圧力を使用することもできる。図4
に示すように、ベース56の周縁に固着されたシールリ
ング122内に、大径のOリングシール120を設置す
ることができる。第2Oリング124を使用して、シー
ルリング122と、ベース56との間をシールすること
ができる。軸(図示せず)のシールに組み合わせてシー
ル120、124によって、装置取付け部材50と、ベ
ース56との間に、シールされた流体室126を形成す
る。加圧流体を室126に指向させた時、装置取付け部
材50の上面はシール120、及びシールリング122
に向け、上方に押圧される。このように構成した場合、
装置取付け部材50の上面の平坦性はこの上面の平坦さ
によって決定される。
【0028】本明細書中に記載した先行技術、及び先行
技術として記載した刊行物の内容を本明細書の一部とし
て援用する。本明細書中に採用した語、及び表現は単
に、記載の表現のため使用されたもので、そのような
語、及び表現の使用に当たり、図示し、記載したものの
均等物を除外するものでなく、本発明の範囲は特許請求
の範囲に明瞭である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のチャック、及びプローブステーショ
ンの斜視図である。
【図2】 割出しを行う回転可能な本発明チャックの断
面図である。
【図3】 本発明の他の実施例の割出しを行う回転可能
なチャックの断面図である。
【図4】 加圧流体によって制動するように配置された
本発明の更に他の実施例の割出しを行う回転可能なチャ
ックの部分断面図である。
【符号の説明】
10 プローブステーション 12、90 チャック 14 移動ステージ 16 56、94 ステーションベース、ベース 18 プラテン 20 顕微鏡台 22 光学装置用ブリッジ 24 X軸線モータ 26 Y軸線モータ 28、30、34 リニアアクチュエータ 32 回転運動用モータ 36 リニアエンコーダ 50、92 装置取付け部材 52 軸 70 割出しピン 72、102、108 ばね 74 孔 76、78、80、96、112、120、124 O
リングシール 84、100 通路 98、124 第2Oリング 104 ボール 106 設置ピン 110 スナップリング 114 円錐形凹所 122 シールリング 82、126 シールされた室、シールされた流体室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ピーター アール マッキャン アメリカ合衆国 オレゴン州 97007 ビ ーバートン サウスウェスト 第165 コ ート 5910 Fターム(参考) 2G003 AA10 AG12 AG16 AH04 AH05 AH07 2G132 AA00 AE03 AE04 AL03 AL11 AL35 4M106 AA01 BA01 DD01 DD05 DJ04 DJ06 DJ07 5F031 CA02 CA13 CA20 HA01 MA21 PA30

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)プローブステーションに取り付け
    られたベースと、 (b)前記ベース内に回転するように取り付けられた軸
    と、 (c)前記軸と共に回転するようにこの軸に固着された
    装置取付け部材とを具え、この装置取付け部材に対する
    前記軸の方向に実質的に無関係に、前記ベースに対する
    平面の方向を前記装置取付け部材が有することを特徴と
    するプローブステーション用チャック。
  2. 【請求項2】 前記装置取付け部材の回転を制限する釈
    放可能な停止装置を更に具える請求項1のチャック。
  3. 【請求項3】 前記装置取付け部材と、前記ベースとの
    いずれか一方に移動可能に取り付けられ、前記装置取付
    け部材と、前記ベースとの残りの他方の表面に選択的に
    掛合するように配置された止め部材を前記釈放可能な停
    止装置が具える請求項2のチャック。
  4. 【請求項4】 前記装置取付け部材の回転を1/4回転
    づつ制限するように、前記釈放可能な停止装置を配置し
    た請求項2のチャック。
  5. 【請求項5】 (a)前記ベースと、前記装置取付け部
    材と共に、流体室を画成するシールと、 (b)前記装置取付け部材と、前記ベースとの間を押圧
    接触させる作用を有する前記流体室内の流体圧力を変化
    させるための流体圧力制御装置とを更に具える請求項1
    のチャック。
  6. 【請求項6】 前記ベースに対する前記装置取付け部材
    の平面の方向を画成する弾性部材を更に具える請求項1
    のチャック。
  7. 【請求項7】 (a)プローブステーションに取り付け
    られたベースと、 (b)前記ベースに回転するように取り付けられた装置
    取付け部材と、 (c)前記ベースに対する前記装置取付け部材の回転を
    釈放可能に制限する回転停止装置とを具えることを特徴
    とするプローブステーション用チャック。
  8. 【請求項8】 前記装置取付け部材と、前記ベースとの
    いずれか一方に移動可能に取り付けられ、前記装置取付
    け部材と、前記ベースとの残りの他方の表面に選択的に
    掛合するように配置された止め部材を前記回転停止装置
    が具える請求項7のチャック。
  9. 【請求項9】 (a)流体圧力を変化させる制御装置
    と、 (b)前記流体圧力の変動に応動して、前記装置取付け
    部材と、前記ベースとを押圧して接触させるアクチュエ
    ータとを前記回転停止装置が具える請求項7のチャッ
    ク。
  10. 【請求項10】 (a)前記装置取付け部材の表面と、 (b)前記ベースの表面と、 (c)前記装置取付け部材と、前記ベースとの間に流体
    室を画成するシールとから前記アクチュエータを構成し
    た請求項9のチャック。
  11. 【請求項11】 (a)プローブステーションに取り付
    けられたベースと、 (b)前記ベースに回転するように取り付けられた装置
    取付け部材と、 (c)前記ベースと、前記装置取付け部材とに接触して
    いる弾性部材とを具えることを特徴とするプローブステ
    ーション用回転チャック。
  12. 【請求項12】 前記ベースと、前記装置取付け部材と
    のいずれか一方に移動可能に取り付けられ、前記ベース
    と、前記装置取付け部材との残りの他方に釈放可能に掛
    合する回転停止装置を更に具える請求項11の回転チャ
    ック。
  13. 【請求項13】 前記装置取付け部材の回転を1/4回
    転づつ制限するように、前記回転停止装置を配置した請
    求項12の回転チャック。
  14. 【請求項14】 (a)プローブステーションに取り付
    けられたベースと、 (b)前記ベースに回転するように取り付けられた装置
    取付け部材と、 (c)前記ベースと、前記装置取付け部材とに接触して
    おり、前記装置取付け部材の表面の寸法のほぼ大部分に
    わたる横断面を有する室をシールしている弾性シール部
    材と、 (d)前記ベースと、前記装置取付け部材とを押圧接触
    させる作用を有する前記流体室内の流体圧力を変化させ
    るための流体圧力制御装置と、 (e)前記ベースと、前記装置取付け部材との相対回転
    を制限する釈放可能な回転停止装置とを具えることを特
    徴とするプローブステーション用回転チャック。
  15. 【請求項15】 前記装置取付け部材の回転を1/4回
    転づつ制限するように、前記回転停止装置を配置した請
    求項14の回転チャック。
  16. 【請求項16】 (a)プローブステーションに取り付
    けられたベースと、 (b)前記ベースに対し回転するように、前記ベースに
    よって拘束される装置取付け部材とを具えることを特徴
    とするプローブステーション用チャック。
  17. 【請求項17】 前記装置取付け部材の回転を制限する
    釈放可能な停止装置を更に具える請求項16のチャッ
    ク。
  18. 【請求項18】 前記装置取付け部材と、前記ベースと
    のいずれか一方に移動可能に取り付けられ、前記装置取
    付け部材と、前記ベースとの残りの他方の表面に選択的
    に掛合するように配置された止め部材を前記釈放可能な
    停止装置が具える請求項17のチャック。
  19. 【請求項19】 前記装置取付け部材の回転を1/4回
    転づつ制限するように、前記釈放可能な停止装置を配置
    した請求項17のチャック。
  20. 【請求項20】 (a)前記ベースと、前記装置取付け
    部材と共に、流体室を画成するシールと、 (b)前記装置取付け部材と、前記ベースとの間を押圧
    接触させる作用を有する前記流体室内の流体圧力を変化
    させるための流体圧力制御装置とを更に具える請求項1
    6のチャック。
  21. 【請求項21】 前記ベースに対する前記装置取付け部
    材の平面の方向を画成する弾性部材を更に具える請求項
    16のチャック。
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