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JP2002026074A - Bonding apparatus and bonding method - Google Patents

Bonding apparatus and bonding method

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Publication number
JP2002026074A
JP2002026074A JP2000199865A JP2000199865A JP2002026074A JP 2002026074 A JP2002026074 A JP 2002026074A JP 2000199865 A JP2000199865 A JP 2000199865A JP 2000199865 A JP2000199865 A JP 2000199865A JP 2002026074 A JP2002026074 A JP 2002026074A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
bonding
substrate
bonding head
head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000199865A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masanori Hashimoto
正規 橋本
Ryosuke Isurugi
涼介 石動
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2000199865A priority Critical patent/JP2002026074A/en
Publication of JP2002026074A publication Critical patent/JP2002026074A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 単一のボンディング装置により、チップを基
板の相対する面いずれにもボンディング可能とし、製造
ラインの設備効率とスペース効率を向上すること。 【解決手段】 反転ユニット13が取出したチップ2を
反転状態で受取り、該チップ2を下向きで基板1の上面
にボンディング可能とするボンディングヘッド14を有
してなるフリップチップボンダ10において、反転ユニ
ット13が取出したチップ2を非反転状態で受取り、該
チップ2を上向きで基板1の下面にボンディング可能と
するボンディングステージ15を有してなるもの。
(57) [Problem] To improve the equipment efficiency and space efficiency of a manufacturing line by enabling a chip to be bonded to any of opposing surfaces of a substrate by a single bonding apparatus. SOLUTION: In a flip chip bonder 10 having a bonding head 14 capable of receiving a chip 2 taken out by a reversing unit 13 in an inverted state and bonding the chip 2 downward to an upper surface of a substrate 1, a flipping unit 13 is provided. Has a bonding stage 15 for receiving the chip 2 taken out in a non-inverted state and bonding the chip 2 upward to the lower surface of the substrate 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はボンディング装置及
びボンディング方法に関する。
[0001] The present invention relates to a bonding apparatus and a bonding method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体素子等のチップ(フリップ
チップ)をリードフレーム等の基板のボンディング部に
電極面を下向き(フェースダウン方式)でボンディング
するフリップチップボンダがある。従来のフリップチッ
プボンダは、基板を支持する基板支持装置と、チップを
電極面を上向きで載置するチップ供給テーブルと、チッ
プ供給テーブルに載置されたチップを取出し、該チップ
を反転させて電極面を下向きとする反転ユニットと、反
転ユニットが取出したチップを反転状態で受取り、該チ
ップを下向きで基板の上面にボンディングするボンディ
ングヘッドと、ボンディングヘッドによるボンディング
時に基板の下面を支持するボンディングステージとを有
して構成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is a flip chip bonder for bonding a chip (flip chip) such as a semiconductor element to a bonding portion of a substrate such as a lead frame with an electrode surface facing downward (face down method). A conventional flip chip bonder includes a substrate support device for supporting a substrate, a chip supply table for mounting chips with the electrode surface facing upward, a chip mounted on the chip supply table, and taking out the chip by reversing the chip. A reversing unit with the surface facing downward, a bonding head for receiving the chip taken out by the reversing unit in a reversed state, and bonding the chip downward to the upper surface of the substrate, and a bonding stage for supporting the lower surface of the substrate during bonding by the bonding head. Is configured.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】然るに、フリップチッ
プボンダを製造ラインに組み込んで使用する場合、前後
の工程によってはチップを基板に下向きでボンディング
するばかりでなく、上向き(フェースアップ方式)でボ
ンディングする、つまりボンディング部が下面となる状
態で支持された基板に対して、電極面を上向きにしたチ
ップを下方からボンディングする必要を生ずる可能性が
ある。
However, when a flip chip bonder is incorporated in a manufacturing line and used, not only the chip is bonded to the substrate downward but also upward (face-up method) depending on the process before and after. In other words, there is a possibility that it is necessary to bond a chip having an electrode surface facing upward from below to a substrate supported with the bonding portion facing down.

【0004】従来技術で、チップを基板に対し上方から
でも、下方からでもボンディング可能とする製造ライン
を構築するには、フェースダウン方式の下向き専用ボン
ディング装置(フリップチップボンダ)と、フェースア
ップ方式の上向き専用ボンディング装置を並設する必要
がある。これは、製造ラインの設備効率が悪く、小スペ
ース化の点でも好ましくない。
In order to construct a manufacturing line that can bond a chip to a substrate from above or below from the prior art, a face-down type dedicated downward bonding device (flip chip bonder) and a face-up type It is necessary to arrange a dedicated upward bonding device side by side. This is unfavorable in terms of the equipment efficiency of the production line and the reduction in space.

【0005】本発明の課題は、単一のボンディング装置
により、チップを基板の相対する面いずれにもボンディ
ング可能とし、製造ラインの設備効率とスペース効率を
向上することにある。
An object of the present invention is to make it possible to bond a chip to both opposing surfaces of a substrate by a single bonding apparatus, and to improve the equipment efficiency and space efficiency of a manufacturing line.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を支持する基板支持装置と、チップを載置するチップ供
給テーブルと、このチップ供給テーブルに載置された前
記チップを取出し、取出したチップを反転可能とする反
転ユニットと、この反転ユニットが取出した前記チップ
を受取り、受取ったチップを前記基板の第1の面にボン
ディング可能とする第1ボンディングヘッドと、前記反
転ユニットが取出した前記チップを受取り、受取ったチ
ップを前記基板の第1の面に相対する第2の面にボンデ
ィング可能とする第2ボンディングヘッドとを有し、前
記第2ボンディングヘッドは、前記第1ボンディングヘ
ッドによる前記チップのボンディング時に前記基板の第
2の面を支持可能とされ、前記第1ボンディングヘッド
は、前記第2ボンディングヘッドによる前記チップのボ
ンディング時に前記基板の第1の面を支持可能とされる
ようにしたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate supporting apparatus for supporting a substrate, a chip supply table for mounting chips, and taking out and taking out the chips mounted on the chip supply table. A reversing unit for reversing the chip, a first bonding head for receiving the chip taken out by the reversing unit and bonding the received chip to a first surface of the substrate, and a reversing unit for taking out the chip. A second bonding head for receiving the chip and bonding the received chip to a second surface opposite to the first surface of the substrate, wherein the second bonding head is provided by the first bonding head. The second surface of the substrate can be supported when the chip is bonded, and the first bonding head is provided with the second bonding head. It is obtained so as to be capable supporting the first surface of the substrate during bonding of the chip by Inguheddo.

【0007】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て更に、前記反転ユニットは、前記チップ供給テーブル
からチップを取出すチップ取出し位置と前記第1ボンデ
ィングヘッド及び前記第2ボンディングヘッドに前記チ
ップを受け渡す移載位置との間で移動可能とされ、前記
第1ボンディングヘッドは、前記移載位置と前記基板の
第1の面に前記チップをボンディングするボンディング
位置との間を移動可能とし、前記第2ボンディングヘッ
ドは、前記移載位置と前記基板の第2の面に前記チップ
をボンディングするボンディング位置との間を移動可能
とするようにしたものである。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the reversing unit further includes a chip pick-up position for picking up a chip from the chip supply table, and the chip being attached to the first bonding head and the second bonding head. Wherein the first bonding head is movable between the transfer position and a bonding position for bonding the chip to a first surface of the substrate; and The second bonding head is configured to be movable between the transfer position and a bonding position for bonding the chip to the second surface of the substrate.

【0008】請求項3の発明は、請求項1又は2の発明
において更に、前記第1ボンディングヘッドが受取った
前記チップの位置を検出する第1検出装置と、前記第2
ボンディングヘッドが受取った前記チップの位置を検出
する第2検出装置と、前記基板支持装置に支持された前
記基板の位置を検出する第3検出装置とを有するように
したものである。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, there is further provided a first detecting device for detecting the position of the chip received by the first bonding head;
A second detecting device for detecting the position of the chip received by the bonding head and a third detecting device for detecting the position of the substrate supported by the substrate supporting device.

【0009】請求項4の発明は、請求項1のボンディン
グ装置を用いたボンディング方法であって、前記第1ボ
ンディングヘッドが受取った前記チップを前記基板の第
1の面にボンディングするときには、前記第2ボンディ
ングヘッドが前記基板の第2の面を支持し、前記第2ボ
ンディングヘッドが受取った前記チップを前記基板の第
2の面にボンディングするときには、前記第1ボンディ
ングヘッドが前記基板の第1の面を支持するようにした
ものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the bonding method using the bonding apparatus of the first aspect, when bonding the chip received by the first bonding head to the first surface of the substrate, 2 when the bonding head supports the second surface of the substrate and bonds the chip received by the second bonding head to the second surface of the substrate, the first bonding head is connected to the first surface of the substrate. It is designed to support the surface.

【0010】請求項5の発明は、請求項2のボンディン
グ装置を用いたボンディング方法であって、前記反転ユ
ニットが前記チップ取出し位置から取出した前記チップ
を反転させて前記移載位置に位置付けられたときには、
前記移載位置において前記反転ユニットから前記第1ボ
ンディングヘッドへ前記チップを移載し、前記第1ボン
ディングヘッドにより前記基板の第1の面へ前記チップ
をボンディングし、前記第1ボンディングヘッドが前記
チップを前記基板の第1の面にボンディングするときに
は前記第2ボンディングヘッドが前記基板の第2の面を
支持するものとし、前記反転ユニットが前記チップ取出
し位置から取出した前記チップを反転させずに前記移載
位置に位置付けられたときには、前記移載位置において
前記反転ユニットから前記第2ボンディングヘッドへ前
記チップを移載し、前記第2ボンディングヘッドにより
前記基板の第2の面へ前記チップをボンディングし、前
記第2ボンディングヘッドが前記チップを前記基板の第
2の面にボンディングするときには前記第1ボンディン
グヘッドが前記基板の第1の面を支持するようにしたも
のである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the bonding method using the bonding apparatus of the second aspect, the reversing unit reverses the chip taken out from the chip take-out position and is positioned at the transfer position. Sometimes
Transferring the chip from the reversing unit to the first bonding head at the transfer position, bonding the chip to a first surface of the substrate by the first bonding head, wherein the first bonding head When bonding to the first surface of the substrate, the second bonding head shall support the second surface of the substrate, and the reversing unit does not reverse the chip taken out from the chip take-out position without reversing the chip. When the chip is located at the transfer position, the chip is transferred from the reversing unit to the second bonding head at the transfer position, and the chip is bonded to the second surface of the substrate by the second bonding head. The second bonding head bonds the chip to a second surface of the substrate. When the graying in which the first bonding head is adapted to support a first surface of the substrate.

【0011】請求項6の発明は、請求項3のボンディン
グ装置を用いたボンディング方法であって、前記反転ユ
ニットが前記チップ取出し位置から取出した前記チップ
を反転させて前記移載位置に位置付けられたときには、
前記移載位置において前記反転ユニットから前記第1ボ
ンディングヘッドへ前記チップを移載し、前記第1検出
装置で前記第1ボンディングヘッドが受取った前記チッ
プの位置を検出するとともに前記第3検出装置で前記基
板支持装置に支持された前記基板の位置を検出し、前記
第1検出装置で検出した前記チップの位置と前記第3検
出装置で検出した前記基板位置とに基づいて前記チップ
と前記基板とを位置合せしつつ前記第1ボンディングヘ
ッドにより前記チップを前記基板の第1の面へボンディ
ングし、前記第1ボンディングヘッドが前記チップを前
記基板の第1の面にボンディングするときには、前記第
2ボンディングヘッドが前記基板の第2の面を支持する
ものとし、前記反転ユニットが前記チップ取出し位置か
ら取出した前記チップを反転させずに前記移載位置に位
置付けられたときには、前記移載位置において前記反転
ユニットから前記第2ボンディングヘッドへ前記チップ
を移載し、前記第2検出装置で前記第2ボンディングヘ
ッドが受取った前記チップの位置を検出するとともに前
記第3検出装置で前記基板支持装置に支持された前記基
板の位置を検出し、前記第2検出装置で検出した前記チ
ップの位置と前記第3検出装置で検出した前記基板位置
とに基づいて前記チップと前記基板とを位置合せしつつ
前記第2ボンディングヘッドにより前記チップを前記基
板の第2の面へボンディングし、前記第2ボンディング
ヘッドが前記チップを前記基板の第2の面にボンディン
グするときには前記第1ボンディングヘッドが前記基板
の第1の面を支持するようにしたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a bonding method using the bonding apparatus of the third aspect, wherein the reversing unit reverses the chip taken out from the chip take-out position and is positioned at the transfer position. Sometimes
The chip is transferred from the reversing unit to the first bonding head at the transfer position, the position of the chip received by the first bonding head is detected by the first detection device, and the chip is detected by the third detection device. Detecting the position of the substrate supported by the substrate support device, the chip and the substrate based on the position of the chip detected by the first detection device and the substrate position detected by the third detection device Bonding the chip to the first surface of the substrate by the first bonding head while aligning the second bonding head when the first bonding head bonds the chip to the first surface of the substrate. A head supporting the second surface of the substrate, wherein the reversing unit removes the chip from the chip removing position; When the chip is positioned at the transfer position without inverting the chip, the chip is transferred from the reversing unit to the second bonding head at the transfer position, and the second bonding head is moved by the second detection device. The position of the received chip is detected, the position of the substrate supported by the substrate support device is detected by the third detection device, and the position of the chip detected by the second detection device and the third detection device are detected. Bonding the chip to the second surface of the substrate by the second bonding head while aligning the chip with the substrate based on the substrate position detected in the above, and the second bonding head attaches the chip to the second surface of the substrate. When bonding to the second surface of the substrate, the first bonding head supports the first surface of the substrate. It is.

【0012】[0012]

【作用】請求項1、4の発明によれば下記の作用があ
る。第1ボンディングヘッドに受取ったチップを基板
の第1の面にボンディングし、且つ基板の第2の面を第
2ボンディングヘッドによって支持するものとすること
により、チップを基板の第1の面にボンディングでき
る。他方、第2ボンディングヘッドに受取ったチップを
基板の第2の面にボンディングし、且つ基板の第1の面
を第1ボンディングヘッドによって支持するものとする
ことにより、チップを基板の第2の面にボンディングす
ることもできる。従って、単一のボンディング装置によ
り、チップを基板の第1の面にでも、第2の面にでもボ
ンディング可能とし、製造ラインの設備効率とスペース
効率を向上できる。
According to the first and fourth aspects of the present invention, the following operations are provided. Bonding the chip to the first surface of the substrate by bonding the chip received by the first bonding head to the first surface of the substrate and supporting the second surface of the substrate by the second bonding head; it can. On the other hand, the chip received by the second bonding head is bonded to the second surface of the substrate, and the first surface of the substrate is supported by the first bonding head, so that the chip is placed on the second surface of the substrate. Can also be bonded. Therefore, the chip can be bonded to the first surface or the second surface of the substrate by a single bonding apparatus, and the equipment efficiency and the space efficiency of the production line can be improved.

【0013】請求項2、5の発明によれば下記の作用
がある。第1ボンディングヘッドと第2ボンディング
ヘッドを共に、ボンディング位置からチップ移載位置に
移動可能としたから、チップを基板の第1の面にボンデ
ィングするときにも、チップを基板の第2の面にボンデ
ィングするときにも、反転ユニットからそれらのボンデ
ィングヘッドへのチップの受け渡しをチップ移載位置で
行なうことができる。
According to the second and fifth aspects of the present invention, the following operations are provided. Since both the first bonding head and the second bonding head can be moved from the bonding position to the chip transfer position, even when the chip is bonded to the first surface of the substrate, the chip remains on the second surface of the substrate. Also at the time of bonding, the chips can be transferred from the reversing unit to the bonding heads at the chip transfer position.

【0014】請求項3、6の発明によれば下記の作用
がある。チップを基板の第1の面にボンディングする
ときには、第1ボンディングヘッドに受取ったチップの
第1検出装置による検出位置と基板の第3検出装置によ
る検出位置とに基づいて基板とチップとを位置合せする
ことにより、ボンディングの高精度化を図ることができ
る。他方、チップを基板の第2の面にボンディングする
ときには、ボンディングステージに受取ったチップの第
2検出装置による検出位置と基板の第3検出装置による
検出位置を位置合せすることにより、ボンディングの高
精度化を図ることができる。
According to the third and sixth aspects of the invention, the following operations are provided. When bonding the chip to the first surface of the substrate, the substrate and the chip are aligned based on the detection position of the chip received by the first bonding head by the first detection device and the detection position of the substrate by the third detection device. By doing so, the precision of bonding can be improved. On the other hand, when the chip is bonded to the second surface of the substrate, the detection position of the chip received by the bonding stage by the second detection device is aligned with the detection position of the substrate by the third detection device, so that the bonding accuracy is high. Can be achieved.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1は本発明に係るフリップチッ
プボンダを示す模式図、図2はフリップチップボンダの
下向きボンディング方式を示す模式図、図3はフリップ
チップボンダの上向きボンディング方式を示す模式図で
ある。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a flip chip bonder according to the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing a downward bonding system of a flip chip bonder, and FIG. 3 is a schematic diagram showing an upward bonding system of a flip chip bonder. FIG.

【0016】フリップチップボンダ10は、図1に示す
如く、リードフレーム等の基板1の被接続端子群(不図
示)に、チップ2の対応する電極群(不図示)を対向さ
せ、両者を圧接させてボンディングする。
As shown in FIG. 1, the flip chip bonder 10 has a corresponding electrode group (not shown) of the chip 2 opposed to a connected terminal group (not shown) of the substrate 1 such as a lead frame, and press-contacts the two. And bonding.

【0017】フリップチップボンダ10は、基板支持装
置11と、チップ供給テーブル12と、反転ユニット1
3と、ボンディングヘッド14と、ボンディングステー
ジ15とを有する。
The flip chip bonder 10 includes a substrate support device 11, a chip supply table 12, and a reversing unit 1.
3, a bonding head 14, and a bonding stage 15.

【0018】基板支持装置11は、不図示の搬送手段に
て搬送される基板1を支持及び案内するガイドレール1
1Aを備え、ボンディング位置においてガイドレール1
1Aとの間で基板1を保持するクランパ(不図示)を有
する。
The substrate supporting device 11 is a guide rail 1 for supporting and guiding the substrate 1 conveyed by a conveying means (not shown).
1A and the guide rail 1 at the bonding position.
1A has a clamper (not shown) for holding the substrate 1.

【0019】チップ供給テーブル12は、多数のチップ
2を電極面を上向きにして貼着してなるウエハシート3
を載置する。
The chip supply table 12 has a wafer sheet 3 on which a large number of chips 2 are attached with their electrode surfaces facing upward.
Is placed.

【0020】反転ユニット13は、チップ供給テーブル
12に供給されたチップ2を吸着ノズル13Aに吸着し
て取出し、吸着ノズル13Aを回転する回転ヘッド13
Bにより該チップ2を180度反転可能とする。反転ユニ
ット13は、ガイドロッド13Cに沿って、チップ供給
テーブル12に相対してチップ2を取出すチップ取出し
位置と、ボンディングヘッド14やボンディングステー
ジ15にチップ2を受け渡し可能とするチップ移載位置
との間で移動可能とされている。
The reversing unit 13 sucks and picks up the chips 2 supplied to the chip supply table 12 by the suction nozzle 13A, and rotates the suction head 13A.
B enables the chip 2 to be turned 180 degrees. The reversing unit 13 is provided with a chip pick-up position for picking up the chip 2 relative to the chip supply table 12 along the guide rod 13C and a chip transfer position at which the chip 2 can be transferred to the bonding head 14 or the bonding stage 15. It is possible to move between.

【0021】ボンディングヘッド14は、チップ移載位
置とボンディング位置との間で移動可能とされる。ボン
ディングヘッド14は、チップ移載位置において、反転
ユニット13が取出して反転したチップ2を吸着ノズル
14A(基板1の上面に圧接する加圧部としても機能)
に吸着して受取る。ここで、反転ユニット2で反転され
たチップ2の電極群は下側に位置するものとなる。ボン
ディングヘッド14は、ボンディング位置に移動し、吸
着ノズル14Aに吸着保持しているチップ2を電極面を
下向きにした状態で基板1の上面(第1の面)のボンデ
ィング部にボンディング可能とする。
The bonding head 14 is movable between a chip transfer position and a bonding position. At the chip transfer position, the bonding head 14 picks up the chip 2 picked up and inverted by the reversing unit 13 and functions as a suction nozzle 14A (also functions as a pressurizing unit for pressing the chip 2 against the upper surface of the substrate 1).
To be picked up and received. Here, the electrode group of the chip 2 inverted by the inversion unit 2 is located on the lower side. The bonding head 14 moves to the bonding position, and enables bonding to the bonding portion on the upper surface (first surface) of the substrate 1 with the chip 2 sucked and held by the suction nozzle 14A with the electrode surface facing down.

【0022】ボンディングステージ15は、ボンディン
グ位置で基板1の下方に配置され、ボンディングヘッド
14によるボンディング時に基板1をその下面に当接し
て支持可能とする。
The bonding stage 15 is disposed below the substrate 1 at the bonding position, and can support the substrate 1 by abutting the lower surface thereof during bonding by the bonding head 14.

【0023】然るに、フリップチップボンダ10は、上
向きボンディングも可能とするため、ボンディングステ
ージ15をチップ移載位置とボンディング位置との間で
移動可能としている。そして、ボンディングステージ1
5は、チップ移載位置において、反転ユニット13が取
出したチップ2を非反転状態(チップ2の電極面が上向
き)で吸着ノズル15A(基板1の下面に圧接する加圧
部としても機能)に吸着して受取り、ボンディング位置
に移動した後、吸着ノズル15Aに吸着保持しているチ
ップ2を上向きで基板1の下面(第2の面)のボンディ
ング部にボンディング可能とする。このボンディングス
テージ15による上向きボンディング時に、ボンディン
グヘッド14は基板1をその上面に当接して支持する。
However, in the flip chip bonder 10, the bonding stage 15 is movable between the chip transfer position and the bonding position in order to enable upward bonding. And bonding stage 1
Reference numeral 5 denotes a suction nozzle 15A (which also functions as a pressurizing portion that presses against the lower surface of the substrate 1) in a non-inverted state (the electrode surface of the chip 2 is facing upward) at the chip transfer position with the chip 2 taken out by the reversing unit 13 in a non-inverted state. After being sucked and received and moved to the bonding position, the chip 2 sucked and held by the suction nozzle 15A can be bonded upward to the bonding portion on the lower surface (second surface) of the substrate 1. During upward bonding by the bonding stage 15, the bonding head 14 supports the substrate 1 by contacting the upper surface thereof.

【0024】また、フリップチップボンダ10にあって
は、基板支持装置11により支持された基板1のボンデ
ィング部をパターン認識するための第3検出装置を構成
するカメラ21と、ボンディングヘッド14の吸着ノズ
ル14Aが受取ったチップ2の位置をパターン認識する
ための第1検出装置を構成するカメラ22と、ボンディ
ングステージ15の吸着ノズル15Aが受取ったチップ
2の位置をパターン認識するための第2検出装置を構成
するカメラ23を有する。フリップチップボンダ10
は、ボンディングヘッド14の吸着ノズル14Aの例え
ば中心軸上にチップ2の中心を吸着したとき、ボンディ
ングヘッド14に対するチップ2の吸着位置が位置ずれ
のない標準位置にあるものとする。また、ボンディング
ステージ15の吸着ノズル15Aが例えば中心軸上にチ
ップ2の中心を吸着したとき、ボンディングステージ1
5に対するチップ2の吸着位置が位置ずれのない標準位
置にあるものとする。そして、基板支持装置11の上で
の基板1のボンディング点が標準位置にあり、ボンディ
ングヘッド14やボンディングステージ15が吸着して
いるチップ2の吸着位置が標準位置にあれば、ボンディ
ングヘッド14やボンディングステージ15はそのボン
ディング部の標準位置に単に位置付けられることによ
り、それらが吸着しているチップ2を基板1のボンディ
ング部にずれなくボンディングできる。他方、カメラ2
1〜23を用いたパターン認識による結果、基板1のボ
ンディング点が標準位置からずれていたり、ボンディン
グヘッド14やボンディングステージ15が吸着してい
るチップ2の吸着位置が標準位置からずれている場合に
は、ボンディングヘッド14やボンディングステージ1
5はそのボンディング部の標準位置に、カメラ21〜2
3を用いたパターン認識の結果検出されたそれらのずれ
量を加味し、それらが吸着しているチップ2を基板1の
ボンディング部にずれなく位置合せするようにそれらの
移動量を制御される。
In the flip chip bonder 10, a camera 21 constituting a third detecting device for pattern recognition of a bonding portion of the substrate 1 supported by the substrate supporting device 11, and a suction nozzle of the bonding head 14 The camera 22 constituting a first detection device for pattern recognition of the position of the chip 2 received by the chip 14A and the second detection device for pattern recognition of the position of the chip 2 received by the suction nozzle 15A of the bonding stage 15 are provided. It has a camera 23 to configure. Flip chip bonder 10
It is assumed that, when the center of the chip 2 is sucked, for example, on the center axis of the suction nozzle 14A of the bonding head 14, the suction position of the chip 2 with respect to the bonding head 14 is at a standard position with no displacement. When the suction nozzle 15A of the bonding stage 15 sucks the center of the chip 2 on the center axis, for example,
It is assumed that the suction position of the chip 2 with respect to No. 5 is at a standard position with no displacement. If the bonding point of the substrate 1 on the substrate support device 11 is at the standard position and the bonding position of the chip 2 to which the bonding head 14 or the bonding stage 15 is being mounted is at the standard position, the bonding head 14 or the bonding Since the stage 15 is simply positioned at the standard position of the bonding portion, the chip 2 to which the stage 15 is adsorbed can be bonded to the bonding portion of the substrate 1 without displacement. On the other hand, camera 2
As a result of the pattern recognition using Nos. 1 to 23, when the bonding point of the substrate 1 is deviated from the standard position or the suction position of the chip 2 to which the bonding head 14 or the bonding stage 15 is adsorbed is deviated from the standard position. Are the bonding head 14 and the bonding stage 1
Reference numeral 5 denotes a camera 21 to 2 at a standard position of the bonding portion.
In consideration of the shift amounts detected as a result of the pattern recognition using No. 3, the shift amounts of the chips 2 on which they are sucked are controlled so as to be aligned with the bonding portions of the substrate 1 without shifting.

【0025】従って、フリップチップボンダ10を用い
たボンディング方法は以下の通りになる。 (A) 下向きボンディング(フェースダウン方式)(図
1、図2) (1) 反転ユニット13をチップ取出し位置に位置付け、
チップ2を取出し(図1)、チップ2を反転する。
Therefore, the bonding method using the flip chip bonder 10 is as follows. (A) Downward bonding (face down method) (FIGS. 1 and 2) (1) Position the reversing unit 13 at the chip take-out position,
Chip 2 is taken out (FIG. 1) and chip 2 is inverted.

【0026】(2) 反転ユニット13、ボンディングヘッ
ド14をそれぞれチップ移載位置に移動し、反転ユニッ
ト13が保持するチップ2を反転状態でボンディングヘ
ッド14に受け渡す(図2)。
(2) The reversing unit 13 and the bonding head 14 are moved to the chip transfer positions, and the chips 2 held by the reversing unit 13 are transferred to the bonding head 14 in a reversed state (FIG. 2).

【0027】(3) 基板支持装置11にクランプされてい
る基板1の位置をカメラ21を用いて、ボンディングヘ
ッド14が受取ったチップ2の位置をカメラ22を用い
て検出する。
(3) The position of the substrate 1 clamped by the substrate support device 11 is detected by using the camera 21, and the position of the chip 2 received by the bonding head 14 is detected by using the camera 22.

【0028】(4) ボンディングヘッド14に受取ったチ
ップ2のカメラ22を用いて検出した位置と、カメラ2
1を用いて検出した基板1のボンディング部の位置とに
基づいてチップ2と基板1とを位置合せしつつ、ボンデ
ィングヘッド14が保持するチップ2を下向きで基板1
の上面のボンディング部に圧接してボンディングする。
このとき、基板1はボンディングステージ15によって
下面側から支持される。
(4) The position of the chip 2 received by the bonding head 14 detected by the camera 22 and the position of the camera 2
The chip 2 held by the bonding head 14 is positioned downward while aligning the chip 2 with the substrate 1 based on the position of the bonding portion of the substrate 1 detected by using the substrate 1.
And press-bonding to the bonding portion on the upper surface.
At this time, the substrate 1 is supported from below by the bonding stage 15.

【0029】(B) 上向きボンディング(フェースアップ
方式)(図1、図3) (1) 反転ユニット13をチップ取出し位置に位置付け、
チップ2を取出す(図1)。
(B) Upward bonding (face-up method) (FIGS. 1 and 3) (1) Position the reversing unit 13 at the chip take-out position,
The chip 2 is taken out (FIG. 1).

【0030】(2) 反転ユニット13、ボンディングステ
ージ15をそれぞれチップ移載位置に移動し、反転ユニ
ット13が保持するチップ2を非反転状態でボンディン
グステージ15に受け渡す(図3)。
(2) The reversing unit 13 and the bonding stage 15 are moved to the chip transfer positions, and the chip 2 held by the reversing unit 13 is transferred to the bonding stage 15 in a non-reversed state (FIG. 3).

【0031】(3) 基板支持装置11にクランプされてい
る基板1の位置をカメラ21を用いて、ボンディングス
テージ15が受取ったチップ2の位置をカメラ23を用
いて検出する。
(3) The camera 21 detects the position of the substrate 1 clamped to the substrate support device 11, and the camera 23 detects the position of the chip 2 received by the bonding stage 15.

【0032】(4) ボンディングステージ15に受取った
チップ2のカメラ23を用いて検出した位置と、カメラ
21を用いて検出した基板1のボンディング部の位置と
に基づいてチップ2と基板1とを位置合せしつつ、ボン
ディングステージ15が保持するチップ2を上向きで基
板1の下面のボンディング部に圧接してボンディングす
る。このとき、基板1はボンディングヘッド14によっ
て上面側から支持される。
(4) The chip 2 and the substrate 1 are separated based on the position of the chip 2 received by the bonding stage 15 detected by the camera 23 and the position of the bonding portion of the substrate 1 detected by the camera 21. While aligning, the chip 2 held by the bonding stage 15 is pressed upward to the bonding portion on the lower surface of the substrate 1 for bonding. At this time, the substrate 1 is supported by the bonding head 14 from above.

【0033】従って、本実施形態によれば、以下の作用
がある。 フリップチップボンダ10は、ボンディングヘッド1
4に受取ったチップ2を下向きで基板1の上面にボンデ
ィングし、且つ基板1をボンディングステージ15によ
って下面側から支持するものとすることにより、チップ
2を下向きで基板1上面にボンディングできる。他方、
ボンディングステージ15に受取ったチップ2を上向き
で基板1の下面にボンディングし、且つ基板1をボンデ
ィングヘッド14によって上面側から支持するものとす
ることにより、チップ2を上向きで基板1下面にボンデ
ィングすることもできる。従って、単一のフリップチッ
プボンダ10により、チップ2を基板1の上面、下面の
いずれにもボンディング可能とし、製造ラインの設備効
率とスペース効率を向上できる。
Therefore, according to the present embodiment, the following operations are provided. The flip chip bonder 10 includes the bonding head 1
By bonding the chip 2 received at 4 downward to the upper surface of the substrate 1 and supporting the substrate 1 from below by the bonding stage 15, the chip 2 can be bonded downward to the upper surface of the substrate 1. On the other hand,
Bonding the chip 2 upward to the lower surface of the substrate 1 by bonding the chip 2 received on the bonding stage 15 upward to the lower surface of the substrate 1 and supporting the substrate 1 from the upper surface side by the bonding head 14 Can also. Therefore, the chip 2 can be bonded to both the upper surface and the lower surface of the substrate 1 by the single flip chip bonder 10, so that the equipment efficiency and the space efficiency of the production line can be improved.

【0034】ボンディングヘッド14とボンディング
ステージ15を共に、ボンディング位置からチップ移載
位置に移動可能としたから、チップ2の下向きボンディ
ング時にも、チップ2の上向きボンディング時にも、反
転ユニット13からそれらのボンディングヘッド14又
はボンディングステージ15へのチップ2の受け渡しを
チップ移載位置で行なうことができる。
Since both the bonding head 14 and the bonding stage 15 can be moved from the bonding position to the chip transfer position, both when the chip 2 is bonded downward and when the chip 2 is bonded upward, the reversing unit 13 performs these bonding operations. Delivery of the chip 2 to the head 14 or the bonding stage 15 can be performed at the chip transfer position.

【0035】チップ2の下向きボンディング時には、
ボンディングヘッド14に受取ったチップ2のカメラ2
2を用いた検出位置と基板1のカメラ21を用いた検出
位置とに基づいて、両者を位置合せすることにより、下
向きボンディングの高精度化を図ることができる。他
方、チップ2の上向きボンディング時には、ボンディン
グステージ15に受取ったチップ2のカメラ23を用い
た検出位置と基板1のカメラ21を用いた検出位置とに
基づいて両者を位置合せすることにより、上向きボンデ
ィングの高精度化を図ることができる。
At the time of downward bonding of the chip 2,
Camera 2 of chip 2 received by bonding head 14
By positioning the two based on the detection position using the camera 2 and the detection position using the camera 21 on the substrate 1, it is possible to improve the accuracy of the downward bonding. On the other hand, at the time of upward bonding of the chip 2, the two are aligned based on the detection position of the chip 2 received by the bonding stage 15 using the camera 23 and the detection position of the substrate 1 using the camera 21. Accuracy can be improved.

【0036】以上、本発明の実施の形態を図面により詳
述したが、本発明の具体的な構成はこの実施の形態に限
られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があっても本発明に含まれる。
The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration of the present invention is not limited to this embodiment, and the design can be changed without departing from the scope of the present invention. The present invention is also included in the present invention.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、単一のフ
リップチップボンダにより、チップを基板の相対する面
のいずれにもボンディング可能とし、製造ラインの設備
効率とスペース効率を向上できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to bond a chip to any of the opposing surfaces of a substrate by using a single flip chip bonder, thereby improving the equipment efficiency and space efficiency of a production line.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1はフリップチップボンダを示す模式図であ
る。
FIG. 1 is a schematic view showing a flip chip bonder.

【図2】図2はフリップチップボンダの下向きボンディ
ング方式を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic view showing a downward bonding method of a flip chip bonder.

【図3】図3はフリップチップボンダの上向きボンディ
ング方式を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic view showing an upward bonding method of a flip chip bonder.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 チップ 10 フリップチップボンダ 11 基板支持装置 12 チップ供給テーブル 13 反転ユニット 14 ボンディングヘッド 15 ボンディングステージ 21、22、23 カメラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Chip 10 Flip chip bonder 11 Substrate support device 12 Chip supply table 13 Inversion unit 14 Bonding head 15 Bonding stage 21, 22, 23 Camera

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を支持する基板支持装置と、 チップを載置するチップ供給テーブルと、 このチップ供給テーブルに載置された前記チップを取出
し、取出したチップを反転可能とする反転ユニットと、 この反転ユニットが取出した前記チップを受取り、受取
ったチップを前記基板の第1の面にボンディング可能と
する第1ボンディングヘッドと、 前記反転ユニットが取出した前記チップを受取り、受取
ったチップを前記基板の第1の面に相対する第2の面に
ボンディング可能とする第2ボンディングヘッドとを有
し、 前記第2ボンディングヘッドは、前記第1ボンディング
ヘッドによる前記チップのボンディング時に前記基板の
第2の面を支持可能とされ、 前記第1ボンディングヘッドは、前記第2ボンディング
ヘッドによる前記チップのボンディング時に前記基板の
第1の面を支持可能とされることを特徴とするボンディ
ング装置。
1. A substrate support device for supporting a substrate, a chip supply table on which chips are mounted, a reversing unit for taking out the chips mounted on the chip supply table, and reversing the chips taken out, A first bonding head for receiving the chip taken out by the reversing unit and bonding the received chip to a first surface of the substrate; and receiving the chip taken out by the reversing unit and placing the received chip on the substrate. A second bonding head capable of bonding to a second surface opposite to the first surface of the first bonding head, wherein the second bonding head is a second bonding head of the substrate when bonding the chip by the first bonding head. The first bonding head is formed of the chip by the second bonding head. A bonding surface capable of supporting the first surface of the substrate during bonding.
【請求項2】 前記反転ユニットは、前記チップ供給テ
ーブルからチップを取出すチップ取出し位置と前記第1
ボンディングヘッド及び前記第2ボンディングヘッドに
前記チップを受け渡す移載位置との間で移動可能とさ
れ、前記第1ボンディングヘッドは、前記移載位置と前
記基板の第1の面に前記チップをボンディングするボン
ディング位置との間を移動可能とし、前記第2ボンディ
ングヘッドは、前記移載位置と前記基板の第2の面に前
記チップをボンディングするボンディング位置との間を
移動可能とすることを特徴とする請求項1記載のボンデ
ィング装置。
2. The chip reversing unit according to claim 1, further comprising: a chip pick-up position for picking up chips from the chip supply table;
The chip is movable between a transfer position for transferring the chip to the bonding head and the second bonding head, and the first bonding head bonds the chip to the transfer position and a first surface of the substrate. Wherein the second bonding head is movable between the transfer position and a bonding position for bonding the chip to the second surface of the substrate. The bonding apparatus according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記第1ボンディングヘッドが受取った
前記チップの位置を検出する第1検出装置と、前記第2
ボンディングヘッドが受取った前記チップの位置を検出
する第2検出装置と、前記基板支持装置に支持された前
記基板の位置を検出する第3検出装置とを有することを
特徴とする請求項1又は2記載のボンディング装置。
3. A first detection device for detecting a position of the chip received by the first bonding head;
3. The apparatus according to claim 1, further comprising a second detection device for detecting a position of the chip received by the bonding head, and a third detection device for detecting a position of the substrate supported by the substrate support device. The bonding apparatus as described in the above.
【請求項4】 請求項1記載のボンディング装置を用い
たボンディング方法であって、 前記第1ボンディングヘッドが受取った前記チップを前
記基板の第1の面にボンディングするときには、前記第
2ボンディングヘッドが前記基板の第2の面を支持し、 前記第2ボンディングヘッドが受取った前記チップを前
記基板の第2の面にボンディングするときには、前記第
1ボンディングヘッドが前記基板の第1の面を支持する
ことを特徴とするボンディング方法。
4. A bonding method using the bonding apparatus according to claim 1, wherein when bonding the chip received by the first bonding head to a first surface of the substrate, the second bonding head is connected to the first bonding head. The first bonding head supports the first surface of the substrate when supporting the second surface of the substrate and bonding the chip received by the second bonding head to the second surface of the substrate. A bonding method characterized by the above-mentioned.
【請求項5】 請求項2記載のボンディング装置を用い
たボンディング方法であって、 前記反転ユニットが前記チップ取出し位置から取出した
前記チップを反転させて前記移載位置に位置付けられた
ときには、前記移載位置において前記反転ユニットから
前記第1ボンディングヘッドへ前記チップを移載し、前
記第1ボンディングヘッドにより前記基板の第1の面へ
前記チップをボンディングし、前記第1ボンディングヘ
ッドが前記チップを前記基板の第1の面にボンディング
するときには前記第2ボンディングヘッドが前記基板の
第2の面を支持するものとし、 前記反転ユニットが前記チップ取出し位置から取出した
前記チップを反転させずに前記移載位置に位置付けられ
たときには、前記移載位置において前記反転ユニットか
ら前記第2ボンディングヘッドへ前記チップを移載し、
前記第2ボンディングヘッドにより前記基板の第2の面
へ前記チップをボンディングし、前記第2ボンディング
ヘッドが前記チップを前記基板の第2の面にボンディン
グするときには前記第1ボンディングヘッドが前記基板
の第1の面を支持することを特徴とするボンディング方
法。
5. A bonding method using the bonding apparatus according to claim 2, wherein when the reversing unit is positioned at the transfer position by reversing the chip taken out from the chip take-out position. The chip is transferred from the reversing unit to the first bonding head at the mounting position, and the chip is bonded to the first surface of the substrate by the first bonding head, and the first bonding head attaches the chip to the first bonding head. When bonding to the first surface of the substrate, the second bonding head supports the second surface of the substrate, and the reversing unit performs the transfer without reversing the chip taken out from the chip take-out position. When the transfer unit is located at the transfer position, And transferring the chip to the down loading head,
The second bonding head bonds the chip to a second surface of the substrate, and the second bonding head bonds the chip to a second surface of the substrate. 1. A bonding method, comprising: supporting the first surface.
【請求項6】 請求項3記載のボンディング装置を用い
たボンディング方法であって、 前記反転ユニットが前記チップ取出し位置から取出した
前記チップを反転させて前記移載位置に位置付けられた
ときには、前記移載位置において前記反転ユニットから
前記第1ボンディングヘッドへ前記チップを移載し、前
記第1検出装置で前記第1ボンディングヘッドが受取っ
た前記チップの位置を検出するとともに前記第3検出装
置で前記基板支持装置に支持された前記基板の位置を検
出し、前記第1検出装置で検出した前記チップの位置と
前記第3検出装置で検出した前記基板位置とに基づいて
前記チップと前記基板とを位置合せしつつ前記第1ボン
ディングヘッドにより前記チップを前記基板の第1の面
へボンディングし、前記第1ボンディングヘッドが前記
チップを前記基板の第1の面にボンディングするときに
は前記第2ボンディングヘッドが前記基板の第2の面を
支持するものとし、前記反転ユニットが前記チップ取出
し位置から取出した前記チップを反転させずに前記移載
位置に位置付けられたときには、前記移載位置において
前記反転ユニットから前記第2ボンディングヘッドへ前
記チップを移載し、前記第2検出装置で前記第2ボンデ
ィングヘッドが受取った前記チップの位置を検出すると
ともに前記第3検出装置で前記基板支持装置に支持され
た前記基板の位置を検出し、前記第2検出装置で検出し
た前記チップの位置と前記第3検出装置で検出した前記
基板位置とに基づいて前記チップと前記基板とを位置合
せしつつ前記第2ボンディングヘッドにより前記チップ
を前記基板の第2の面へボンディングし、前記第2ボン
ディングヘッドが前記チップを前記基板の第2の面にボ
ンディングするときには前記第1ボンディングヘッドが
前記基板の第1の面を支持することを特徴とするボンデ
ィング方法。
6. The bonding method using the bonding apparatus according to claim 3, wherein the reversing unit reverses the chip taken out from the chip take-out position and is positioned at the transfer position when the chip is taken out. The chip is transferred from the reversing unit to the first bonding head at the mounting position, the position of the chip received by the first bonding head is detected by the first detection device, and the substrate is detected by the third detection device. Detecting the position of the substrate supported by a supporting device, and positioning the chip and the substrate based on the position of the chip detected by the first detecting device and the position of the substrate detected by the third detecting device. Bonding the chip to the first surface of the substrate by the first bonding head while aligning the first bonding head; When the head bonds the chip to the first surface of the substrate, the second bonding head supports the second surface of the substrate, and the reversing unit removes the chip from the chip removal position. When the chip is positioned at the transfer position without being inverted, the chip is transferred from the reversing unit to the second bonding head at the transfer position, and is received by the second bonding head by the second detection device. The position of the chip is detected, and the position of the substrate supported by the substrate support device is detected by the third detecting device, and the position of the chip detected by the second detecting device and the position of the chip detected by the third detecting device are detected. The chip is moved by the second bonding head while aligning the chip with the substrate based on the position of the substrate. Bonding to the second surface of the substrate, wherein the first bonding head supports the first surface of the substrate when the second bonding head bonds the chip to the second surface of the substrate. Bonding method.
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