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JP2002025781A - 有機el素子およびその製造方法 - Google Patents

有機el素子およびその製造方法

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Publication number
JP2002025781A
JP2002025781A JP2000207463A JP2000207463A JP2002025781A JP 2002025781 A JP2002025781 A JP 2002025781A JP 2000207463 A JP2000207463 A JP 2000207463A JP 2000207463 A JP2000207463 A JP 2000207463A JP 2002025781 A JP2002025781 A JP 2002025781A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic
organic layer
layer
insulating
transparent electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000207463A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikazu Yamaguchi
嘉和 山口
Shinichi Fukuzawa
真一 福沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2000207463A priority Critical patent/JP2002025781A/ja
Priority to US09/899,352 priority patent/US6690108B2/en
Publication of JP2002025781A publication Critical patent/JP2002025781A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • H10K59/173Passive-matrix OLED displays comprising banks or shadow masks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/164Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/341Short-circuit prevention
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/351Thickness

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パターン形成装置等を必要とせず、真空蒸着
装置によって、有機EL素子作製基板を大気に曝するこ
となく真空一貫工程で、製造工数の増大を招くことな
く、有機EL素子の信頼性低下を防止し、製造コストの
低減を可能とする。 【解決手段】 基板11に並設された複数の透明電極1
2と、隣接する透明電極12どうしの間のスペース部S
に形成された絶縁有機層18と、これら透明電極および
絶縁有機層の上側に形成された発光層15を含む有機層
19と、有機層19の上側に透明電極12と交差する方
向に延在する複数の陰極17と、を具備する有機EL素
子10の製造方法であって、透明電極12を形成する工
程と、絶縁有機層18を形成する工程と、有機層19を
形成する工程と、陰極17を形成する工程との各工程を
真空一貫でおこなう。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、有機EL(エレク
トロルミネッセンス)素子およびその製造方法に用いて
好適な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】エレクトロルミネッセンス素子(EL素
子)は、自己発光のため視認性が高く、また完全固体素
子であるため耐衝撃性に優れるという特徴を有してお
り、各種の表示装置における発光素子等の利用が試みら
れている。特に有機EL素子は陰極/発光層/正孔注入層
/陽極,陰極/電子注入層/発光層/陽極,陰極/電子
注入層/発光層/正孔注入層/陽極,陽極/発光層/電
子注入層/陰極/等の構成のものが開発されている。こ
れらは、低電圧を印加するだけで発光する、高輝度高効
率の発光が得られる、多色表示が可能であるなどの優れ
た特性を有しているものである。
【0003】カラー有機EL素子の例としては、図5に
示すように、ガラス基板1上に透明電極2(陽極)がパ
ターニングされ、その上に、正孔注入層3、正孔輸送層
4、発光層5、電子輸送層6、陰極7がそれぞれ成膜さ
れて有機EL素子が形成されている構成が知られてい
る。前記透明導電極(陽極)2としては、ITO(イン
ジウム−スズ酸化物)が一般に用いられている。また、
陰極7は、マグネシウムと第二金属系の合金または混合
物の電極として形成されることが多い。陽極2と陰極7
との間には、発光層5が設けられ、この発光層5は、赤
発光層5a、緑発光層5b、青発光層5cにそれぞれパ
ターニングされている。さらに、陽極2と陰極7との間
には、発光効率を高めるため正孔注入層3、正孔輸送層
4、電子輸送層6が設けられている。有機EL素子は前
記陽極2と陰極7に電圧を掛けることで発光層5が発光
する。有機EL素子の各層は陰極7を除いていずれも2
00nm以下の膜厚構造となっている。
【0004】ここで、図5に示すように、カラー有機E
L素子の製造時においては、ガラス基板1上に透明電極
2(陽極)をフォトリソグラフイー法によりパターニン
グし、その後に、この陽極2の上に正孔注入層3、正孔
輸送層4、発光層5、電子輸送層6、陰極7の各層をそ
れぞれ成膜している。ここで、前記透明導電極(陽極)
2としてのITO膜はパターン加工性が悪く、生産性に
適したウエットエッチングを行うと、陽極2としてのI
TOパターンエッジ端部2a,2aが凸凹状になって1
5〜90゜のテーパー角をなして形成される。
【0005】このため、ITOパターンエッジ端部の凸
凹上に成膜される、正孔注入層3、正孔輸送層4、電子
輸送層6は、その膜厚が変化し、膜厚の薄い箇所および
凸部上では、印加電圧による局所的な膜破壊および電界
集中によるショートが発生し、また最後に成膜される陰
極7が切れてしまうなど、有機EL素子の信頼性を低下
させている原因の一つとなっている。
【0006】このショートや陰極切れを防止するため
に、特許第2734464号公報に対向電極間に絶縁性
物質を設ける方法が記載されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記公報記載
の方法では蒸着装置とは別の成膜装置、パターン形成装
置等が必要になり、製造工数の増大が避けられないた
め、これに伴って製造コストが高くなるという問題があ
った。またスピンコート等によってポリイミド膜を層間
絶縁膜とすることが好ましいとあるが、有機EL素子完
成後の信頼性においてポリイミド膜に含まれる微量水分
の影響によって発光素子領域が黒くなるダークスポット
が増大するなど、欠点を有する。
【0008】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、パターン形成装置等を必要とせず、有機EL素子
の製造に用いる真空蒸着装置によって、有機EL素子作
製基板を大気に曝することなく真空一貫工程で、製造工
数の増大を招くことなく、有機EL素子の信頼性低下を
防止すること、および、製造工数低減により、製造コス
トの低減を可能とすることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の有機EL素子
は、基板に並設された複数の透明電極と、前記透明電極
と交差する方向に延在する複数の陰極と、これら透明電
極と陰極との間に形成された発光層を含む有機層と、を
具備する有機EL素子であって、隣接する前記透明電極
どうしの間のスペース部に、絶縁有機層が形成されてな
ることにより上記課題を解決した。本発明において、前
記絶縁有機層が、前記透明電極の端部の上側に張り出し
て、該透明電極の端部を被覆していることができる。本
発明において、前記絶縁有機層は、その幅方向端部に、
前記幅方向外側に向かって膜厚が減少するようにテーパ
角を有することが好ましい。本発明において、前記絶縁
有機層のテーパー角θが0.01゜〜70゜の範囲の値
に設定されることができる。また、本発明において、前
記絶縁有機層の膜厚が10nm〜500nmの範囲の値
に設定されることができる。また、本発明において、前
記絶縁有機層が、前記透明電極の端部の上側に張り出す
幅方向寸法が1μm〜15μmの範囲の値に設定される
ことができる。また、本発明において、前記絶縁有機層
が、少なくとも有機層の一部分と同一の材質から形成さ
れることができる。本発明の有機EL素子の製造方法
は、基板に並設された複数の透明電極と、隣接する前記
透明電極どうしの間のスペース部に形成された絶縁有機
層と、これら透明電極および絶縁有機層の上側に形成さ
れた発光層を含む有機層と、該有機層の上側に前記透明
電極と交差する方向に延在する複数の陰極と、を具備す
る有機EL素子の製造方法であって、前記絶縁有機層を
形成する工程と、前記有機層を形成する工程と、前記陰
極を形成する工程との各工程を真空一貫で行うことによ
り上記課題を解決した。
【0010】本発明の有機EL素子においては、隣接す
る前記透明電極どうしの間のスペース部に、絶縁有機層
が形成されてなることにより、スペース部近傍における
透明電極端部のテーパー角度の急峻性を防ぐことがで
き、有機層および陰極を滑らかに形成することが可能と
なるため、陰極切れを防止することができる。同時に、
ショートの原因である端部のラフネスによる有機層の薄
膜化を防ぐことができる。
【0011】本発明の有機EL素子においては、前記絶
縁有機層が、前記透明電極の端部の上側に張り出して、
該透明電極の端部を被覆していることにより、透明電極
端部が凸凹状になっている場合でも、スペース部近傍に
おける透明電極端部のテーパ角度の急峻性を防ぐことが
でき、有機層の膜厚が変化し、膜厚の薄い箇所および凸
部上では、印加電圧による局所的な膜破壊および電界集
中によるショートが発生し、また最後に成膜される陰極
が切れてしまうことが防止できる。
【0012】本発明の有機EL素子においては、前記絶
縁有機層は、その幅方向端部に、前記幅方向外側に向か
って膜厚が減少するようにテーパ角を有することによ
り、より一層、スペース部近傍における透明電極端部の
テーパー角度の急峻性を防ぐことができ、有機層および
陰極を滑らかに形成することが可能となる。ここで、前
記絶縁有機層のテーパー角θが0.01゜〜70゜の範
囲の値に設定されることが可能であり、これ以外の値に
設定された場合には、上記の不具合を充分防止すること
ができなくなり好ましくない。
【0013】本発明の有機EL素子においては、前記絶
縁有機層の膜厚が10nm〜500nmの範囲の値に設
定されることにより、陰極を滑らかに形成することが可
能となるため、陰極切れを防止することができる。同時
に、またショートの原因である端部のラフネスによる有
機層の薄膜化を防ぐことができる。
【0014】本発明の有機EL素子においては、前記絶
縁有機層が、少なくとも有機層の一部分と同一の材質か
ら形成されることにより、前記絶縁有機層を形成する工
程と、前記有機層を形成する工程と、前記陰極を形成す
る工程との各工程を真空一貫で行うことが可能となるた
め、工数、コストの低減が可能である。また、絶縁有機
層のテーパー角度はメタルマスク等を用いて真空蒸着中
にパターニングすることにより、蒸着分子のマスク部へ
の回り込み効果により自動的に形成されるため、工数の
低減が可能となる。
【0015】本発明の有機EL素子の製造方法において
は、有機EL素子を形成する際の真空一貫の蒸着工程に
て一層追加しただけであり、また有機EL素子の基本構
造に使用している材料を使用可能なため、ポリイミド等
をパターニングした場合に発生する水分の影響によって
発光素子領域が黒くなるダークスポットが増大すること
を回避することができる。また、絶縁有機層の成膜及び
パターニングは、従来の有機EL素子を形成する際の蒸
着工程にて一層追加したのみであり、パターニングはメ
タルマスクを使用し、また有機EL素子構造に使用して
いる材料を使用可能で、かつ、各工程を真空一貫で行う
ことが可能となるため、ポリイミドを使用してのフォト
リソグラフイー法に比べ格段に工数、コストの削減が可
能である。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るの一実施形態
を、図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態の有
機EL素子を示す概略平面図であり、図2は、図1の有
機EL素子のA−A顔面を示す拡大断面図である。図1
ないし図4において、符号10は有機EL素子、11ば
ガラス基板である。
【0017】本実施形態の有機EL素子10において
は、図1,図2に示すように、厚さ1.1mmのガラス
基板11上には、複数の透明電極12(陽極)が膜厚1
50nm程度に設定されて平行状態にパターニングされ
る。隣り合う透明電極12,12の間のスペース部Sに
は、絶縁有機層18が透明電極12,12の端部に平面
視して重なるように形成されている。これら透明電極1
2,絶縁有機層18の上に、正孔注入層13、正孔輸送
層14、発光層15、電子輸送層16からなる有機層1
9が積層される。さらにこの有機層19の上には透明電
極12,12と交差するようにパターンニングされた陰
極17が成膜されている。一つの透明電極12と陰極1
7の交差部で1ドットとし、RGBの3ドットで1画素
となるように設定される。
【0018】前記透明導電極(陽極)12としては、I
TO(インジウム−スズ酸化物)が一般に用いられてい
る。また、陰極17としては、電子輸送層に電子を効果
的に注入するために、仕事関数が陽極12よりも小さい
材料が好ましい。陰極材料は特に限定されないが、具体
的には、インジウム、アルミニウム、マグネシウムや、
マグネシウム−インジウム、マグネシウム−アルミニウ
ム、アルミニウム−リチウム、マグネシウム−銀の混合
金属または合金等が使用できる。
【0019】陽極12と陰極17との間には、有機層1
9が積層され、この有機層19として透明電極12と陰
極7とに電圧をかけることで発光する発光層15が設け
られ、また、この発光層15の発光効率を高めるため正
孔注入層13、正孔輸送層14、電子輸送層16がそれ
ぞれ設けられている。
【0020】本実施形態の発光層15は、上記の1画素
となるRGBの3ドットに対応して、赤発光層15a、
緑発光層15b、青発光層15cにそれぞれパターニン
グされている。ここで発光層15に用いる材料として
は、赤発光層15aの場合は例えばアルミキノリン錯体
にドーパントとして4−ジシアノメチレン−2−メチル
−6−(p−ジメチルアミノスチリル)−4H−ピラン
(DCM、ドーピング濃度5wt%)、緑発光層15b
の場合は例えばホストにトリス(8−キノリノール)ア
ルミニウム(アルミニュウム錯体)、ドーパントとして
キナクリドン(ドーピング濃度5wt%)、青発光層1
5cの場合は例えばペリレンを挙げることができる。
【0021】本実施形態の正孔注入層13を形成する正
孔注入材料は、その機能をはたすものであれば特に限定
されず、例えば4,4’,4’’―トリス(3―メチル
フェニルフェニルアミノ)―トリフェニルアミン、4−
フェニル−4’,4’’−ビス〔ジ(3−メチルフェニ
ル)アミノ〕トリフェニルアミンなどのアリールアミン
系、N,N’−ジフェニル−N,N’−ビス(3−メチ
ルフェニル)−1,1’−ビフェニル−4、4’−ジア
ミン(TPD)、N,N‘―ジフェニルーN,N’―ビ
ス(α―ナフチル)―1,1‘ ―ビフェニルー4,
4’―ジアミン(α―NPD)等のジアミン誘導体等が
使用可能である。
【0022】また、正孔輸送層14を形成するための正
孔輸送材料は特に限定されず、通常正孔輸送材料として
使用される化合物であればいかなる化合物でも使用可能
である。例えば、ビス(ジ(p−トリル)アミノフェニ
ル)−1,1−シクロヘキサン、N,N’−ジフェニル
−N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−1,1’−
ビフェニル−4、4’−ジアミン、N,N’−ジフェニ
ル−N,N’−ビス(α−ナフチル)−(1,1’−ビ
フェニル)−4、4‘−ジアミン等のジアミンや、トリ
アミン、テトラアミン類やスターバースト型分子が挙げ
られる。
【0023】本実施形態の有機EL素子10の電子輸送
層16に用いる材料は、一般式で示される化合物の例と
して、有機金属錯体等が挙げられ、トリス(8−キノリ
ノール)アルミニウム等がある。
【0024】絶縁有機層18,18は、図1,図2に示
すように、パターンニングされている透明電極12,1
2どうしの間に位置するスペース部S、および、透明電
極12の端部12aに重なるように形成されており、前
記絶縁有機層18が、前記透明電極12の端部12aの
上側に張り出す幅方向寸法が1μm〜15μmの範囲の
値に設定される。前記絶縁有機層18は、この透明電極
12の端部12aでは、前記スペース部Sから透明電極
12側に向かって膜厚が薄くなるようにテーパー角θを
有する構成とされている。このテーパ角θは、透明電極
12の上面と絶縁有機層の上側のテーパ面18aとのな
す角である。このテーパー角θを0.01゜≦θ≦70
゜以内に設定することができる。この範囲外の値にテー
パー角θを設定した場合には、絶縁有機層18の端部位
置においても陰極17が切れが発生する可能性があり好
ましくない。また、絶縁有機層18の最大膜厚つまりス
ペース部Sにおける膜厚は、10nm〜500nmの範
囲の値に設定されることができ、さらに、透明電極12
の膜厚および発光層15の膜厚の合計と略同等か、これ
よりも小さく設定することができる。これにより、最上
部に積層されている陰極17における厚み方向の凸凹の
発生を防止することが可能となる。絶縁有機層18を形
成する材料としては、上記有機層19のうち正孔注入層
13、正孔輸送層14、電子輸送層16と同等のものを
選択することが可能であるが、本実施形態においては、
電子輸送層16と同等の電子輸送材料により成膜され
る。上記有機EL素子10の各層は、絶縁有機層18、
陰極17を除いていずれも200nm以下の膜厚に設定
される。
【0025】本実施形態の有機EL素子10は前記陽極
12と陰極17に電圧を印加することで発光層15が発
光する。本実施形態の有機EL素子10においては、ス
ペース部Sに絶縁有機層18を設け、透明電極12の端
部12aを絶縁有機層18により被覆すること、およ
び、絶縁有機層18のテーパ角θを設定することによっ
て、陰極切れの原因である透明電極12端部12aにお
ける有機層19のテーパ角度が急峻になることを防ぐこ
とができる。同時に、透明電極12,陰極17における
ショートの原因である透明電極端部のラフネスによる有
機層19の薄膜化を防ぐことができる。また、絶縁有機
層18の最大膜厚を、上記の値とし、透明電極12の膜
厚および発光層15の膜厚の合計と略同等か、これより
も小さく設定することにより、最上部に積層されている
陰極17における厚み方向の凸凹の発生を防止すること
が可能となる。これらにより、陰極17切れおよび陰極
17,陽極12のショートを防ぐことができ、有機EL
素子10の信頼性を向上することができる。
【0026】本実施形態の有機EL素子10において
は、従来陰極切れ及び陰極、陽極のショートを防ぐため
にポリイミド等をパターニングする方法で問題となって
いた、ポリイミド膜に含まれる微量水分の影響によって
発光素子領域が黒くなるダークスポットの増大を防止す
ることができる。これは、本実施形態の場合、有機EL
素子10の基本構造に使用している材料からなる絶縁有
機層18を積層するため、画素収縮の原因となる水分の
影響による問題は回避することができることによる。
【0027】次に本実施形態の有機EL素子の製造方法
を図面に基づいて説明する。図3,図4は本実施形態の
有機EL素子の製造方法を示す工程図である。
【0028】本実施形態の製造方法図3(a)に示すよ
うに、厚さ1.1mmのガラス基板11上に透明電極1
2’をスパッター法により膜厚150nm形成し、図3
(b)に示すように、フォトリソグラフィー等によるパ
ターニングを行い、複数の透明電極12,12および、
この間のスペース部S,Sを形成する。
【0029】その後、図3(c)に示すように、透明電
極12の端部12aおよびスペース部Sに、メタルマス
クM1を使用して、上述の電子輸送材料からなる絶縁有
機層18を、膜厚300nmになるように蒸着成膜す
る。このとき、図2に示す絶縁有機層18のテーパ角θ
は、例えば10゜に設定する。絶縁有機層18のテーパ
角θを形成するためには、絶縁有機層18の蒸着の際に
メタルマスクM1と基板11との間隔を調節することが
必要であり、これにより、蒸着粒子の回り込み効果によ
り自動的にテーパが形成され、テーパ角θを設定するこ
とが可能となる。さらに、透明電極12の端部12aを
覆う絶縁有機層18の幅は5μmとする。絶縁有機層1
8の幅はメタルマスクM1のスリット幅によって決める
ことができる。
【0030】次に、真空状態を破ることなく、図4
(d)に示すように、透明電極12,絶縁有機層18の
上に正孔注入層13、正孔輸送層14を形成する。さら
に、真空状態を維持して、発光層15は、図4(e)に
示すように、メタルマスクM2等を使用し透明電極12
上に赤発光層15a、緑発光層15b、青発光層15c
をパターニングする。
【0031】そして、図4(f)に示すように、真空状
態を維持した状態で、電子輸送層16、陰極17を形成
する。このとき、陰極17,17は、図2に示すよう
に、透明電極12と交差するようにパターニングをおこ
なう。
【0032】本実施形態においては、電子輸送層16と
同材質からなる絶縁有機層18のテーパ角θを、メタル
マスクM1等を用いて真空蒸着中にパターニングするこ
とにより、蒸着分子のマスク部への回り込み効果により
自動的に形成することができこれにより、真空維持状態
を破ることなく、透明電極12端部12aに絶縁有機層
18を被覆することによって、陰極切れの原因である透
明電極12端部12aのテーパ角度の急峻性を防ぐこと
ができ、またショートの原因である端部12aのラフネ
スによる有機層19薄膜化を防ぐことができる。
【0033】本実施形態の有機EL素子10において
は、従来陰極切れ及び陰極、陽極のショートを防ぐため
にポリイミド等をパターニングする方法で問題となって
いた、ポリイミド膜に含まれる微量水分の影響によって
発光素子領域が黒くなるダークスポットの増大を防止す
ることができる。これは本実施形態の場合、有機EL素
子10を形成する際の真空一貫の蒸着工程にて積層する
層と同一材料の絶縁有機層18を追加しただけであり、
また有機EL素子10の基本構造に使用している材料を
使用するため、画素収縮の原因となる水分の影響による
問題や、真空を破ることに起因する製造不良等を回避す
ることができるからである。同時に、有機EL素子10
を形成する際の蒸着工程にて一層追加したのみであり、
パターニングはメタルマスクM1を使用し、また有機E
L素子10構造に使用している電子輸送層16と同等の
材料を絶縁有機層18に使用するため、ポリイミドを使
用してのフォトリソグラフイー法に比べ格段に工数、コ
ストの削減ができるという効果を奏する。
【0034】
【発明の効果】本発明の有機EL素子およびその製造方
法によれば、以下の効果を奏する。 (1) 隣接する透明電極の間に絶縁有機層を設け、透
明電極の端部を絶縁有機層により被覆すること、およ
び、絶縁有機層端部のテーパ角を設定することによっ
て、陰極切れの原因である透明電極端部位置における透
明電極上側の層のテーパ角度が急峻になることを防ぐこ
とができる。同時に、透明電極,陰極におけるショート
の原因である透明電極端部のラフネスによる透明電極上
側の層の薄膜化を防ぐことができる。また、陰極切れお
よび陰極,透明電極のショートを防ぐことにより有機E
L素子の信頼性を向上することができる。 (2) 有機EL素子の基本構造に使用している材料か
らなる絶縁有機層を積層することにより、画素収縮の原
因となる水分の影響によるダークスポットの増大を防止
することができる。同時に、有機EL素子を形成する際
の真空一貫の蒸着工程にて積層する層と同一材料の絶縁
有機層を追加しただけであり、また有機EL素子の基本
構造に使用している材料を使用するため、工数、コスト
の削減ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る有機EL素子の一実施形態を
示す平面図である。
【図2】 図1における有機EL素子を示す拡大断面
図である。
【図3】 本発明に係る有機EL素子の製造方法の一
実施形態を示す工程図である。
【図4】 本発明に係る有機EL素子の製造方法の一
実施形態を示す工程図である。
【図5】 従来の有機EL素子の一例を示す断面図で
ある。
【符号の説明】
10…有機EL素子,11…ガラス基板,12…透明電
極(陽極),12a…端部,13…正孔注入層,14…
正孔輸送層,15…発光層,15a…赤発光層,15b
…緑発光層,15c…青発光層,16…電子輸送層,1
7…陰極,18…絶縁有機層,19…有機層,S…スペ
ース部,θ…テーパ角

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に並設された複数の透明電極と、
    前記透明電極と交差する方向に延在する複数の陰極と、
    これら透明電極と陰極との間に形成された発光層を含む
    有機層と、を具備する有機EL素子であって、 隣接する前記透明電極どうしの間のスペース部に、絶縁
    有機層が形成されてなることを特徴とする有機EL素
    子。
  2. 【請求項2】 前記絶縁有機層が、前記透明電極の端
    部の上側に張り出して、該透明電極の端部を被覆してい
    ることを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
  3. 【請求項3】 前記絶縁有機層は、その幅方向端部
    に、前記幅方向外側に向かって膜厚が減少するようにテ
    ーパ角を有することを特徴とする請求項1または2記載
    の有機EL素子。
  4. 【請求項4】 前記絶縁有機層のテーパー角θが0.
    01゜〜70゜の範囲の値に設定されることを特徴とす
    る請求項3記載の有機EL素子。
  5. 【請求項5】 前記絶縁有機層の膜厚が10nm〜5
    00nmの範囲の値に設定されることを特徴とする請求
    項1から4のいずれか記載の有機EL素子。
  6. 【請求項6】 前記絶縁有機層が、前記透明電極の端
    部の上側に張り出す幅方向寸法が1μm〜15μmの範
    囲の値に設定されることを特徴とする請求項2から5の
    いずれか記載の有機EL素子。
  7. 【請求項7】 前記絶縁有機層が、少なくとも有機層
    の一部分と同一の材質から形成されることを特徴とする
    請求項1から6のいずれか記載の有機EL素子。
  8. 【請求項8】 基板に並設された複数の透明電極と、
    隣接する前記透明電極どうしの間のスペース部に形成さ
    れた絶縁有機層と、これら透明電極および絶縁有機層の
    上側に形成された発光層を含む有機層と、該有機層の上
    側に前記透明電極と交差する方向に延在する複数の陰極
    と、を具備する有機EL素子の製造方法であって、 前記絶縁有機層を形成する工程と、前記有機層を形成す
    る工程と、前記陰極を形成する工程との各工程を真空一
    貫でおこなうことを特徴とする有機EL素子の製造方
    法。
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