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JP2002008237A - 情報記録方法及びその実施に使用する情報記録装置 - Google Patents

情報記録方法及びその実施に使用する情報記録装置

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Publication number
JP2002008237A
JP2002008237A JP2000189975A JP2000189975A JP2002008237A JP 2002008237 A JP2002008237 A JP 2002008237A JP 2000189975 A JP2000189975 A JP 2000189975A JP 2000189975 A JP2000189975 A JP 2000189975A JP 2002008237 A JP2002008237 A JP 2002008237A
Authority
JP
Japan
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recording
mark
timing
pulse
space
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000189975A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Tanaka
努 田中
Masakazu Taguchi
雅一 田口
Takuya Kamimura
拓也 上村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2000189975A priority Critical patent/JP2002008237A/ja
Priority to US09/774,155 priority patent/US6426930B2/en
Publication of JP2002008237A publication Critical patent/JP2002008237A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 微細寸法のマークであっても前後エッジの位
置シフト量を小さくし、ジッタを低減できる情報記録方
法及び装置。 【解決手段】 記録補償制御部１は記録データが入力さ
れてパルスタイミング調整を行なうか否かを判定し、行
なう場合はＡＰＣ３にタイミング調整を指示してレーザ
光のパルス開始タイミングを早める、及び／又は、パル
ス終了タイミングを遅らせる。記録補償制御部１は、所
定の（スペース，記録マーク）の有無によりパルスタイ
ミング調整を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビーム光の熱によ
り光記録媒体に記録マークを形成する情報記録方法及び
その実施に使用する情報記録方法に関し、特に、マーク
エッジ記録方式により情報を記録する方法及び装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光記録媒体の情報高密度化の要求
に伴い、記録方式としてマークエッジ記録方式が多く用
いられている。マークエッジ記録方式は記録マークのエ
ッジに二値情報データの‘１’を対応させる記録方式で
あり、記録マークの有無を‘１’又は‘０’に対応させ
るマークポジション記録方式と比較して情報をより高密
度に記録することが可能となる。
【０００３】また光記録媒体の高密度記録の実現のため
には、マークエッジ記録方式を用いると共にその記録制
御の精度が十分確保されていることが重要である。本願
出願人は特開平３−22223 号公報において、１つの記録
マークの形成のためのレーザ光照射の信号をパルス化
し、マーク非形成部分（スペース）の長さに応じて次マ
ークのパルス列の長さ及び振幅を調整する制御方法及び
その装置を提案している。この制御方法により、直前マ
ークの熱の影響によるマークの後エッジ形状の歪みを補
正することができるが、マークの前エッジの形状歪み及
びエッジ位置シフト問題を解決することはできなかっ
た。
【０００４】マーク形成位置のシフト問題を解決する方
法として特開平６−84224 号公報が提案されている。こ
の方法はマーク形成のためのレーザ光のパワーを３値に
変調してパルス化し、スペース形成のためのレーザ光の
パワーを２値に変調するマルチパルス記録方式であり、
マーク長に応じてパルス列長を調整する。直前のマーク
において自身の長さに応じて熱供給量を調整し、次マー
クの形成位置のシフトを防止するという記録制御方法で
あるが、直前のスペースの長さに起因する熱の影響を回
避できないという問題があった。
【０００５】また特開平６−76401 号公報には、記録マ
ークのエッジ位置シフト量を常に一定にするための記録
方法及び記録装置が提案されている。これは、直前のス
ペースが短いほど次の発光タイミングを遅らせ、記録マ
ークが長いほど消光タイミングを早める記録方法であ
り、データ信号の種々のマーク長及びスペース長の組合
せに応じた記録補償はできないという問題があった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図１１及び図１２は、
夫々、従来の記録方法による記録波形と記録すべきデー
タとを共に示したタイミングチャートである。図１１は
特開平６−84224 号公報に基づくマルチパルス記録波形
であり、マーク形成のためのレーザ光のパワーをＰａ，
Ｐｗ１及びＰｗ２の３値に変調し、スペース形成のため
のレーザ光のパワーをＰａ及びＰｒの２値に変調する。
（１，７）ＲＬＬ変調符号方式の２Ｔ，３Ｔ，…８Ｔの
記録マーク夫々に対してパルス数を順に増大させて照射
する。記録データの立ち上がり点から立ち下がり点まで
が記録マークに対応している。各記録マークのパルス終
了タイミングは、記録データの立ち下がりタイミングよ
りも（１／２）Ｔだけ早い。これは熱の影響により記録
マークの後エッジが後方側へ膨らむことを考慮したもの
である。
【０００７】図１１に示す記録波形で記録マークが形成
された光磁気ディスクについて、記録マークの前後エッ
ジのシフト量を測定した結果、短いマークのシフト量が
大きいことが判った。また前後エッジのランダムジッタ
を測定した結果、前エッジは11.2％，後エッジは12.1％
で平均ジッタは11.7％であり、前後エッジ共にジッタ許
容値10％を超えている。このようなジッタの増大は記録
最短マークが短いほど顕著であることが判った。なお、
ランダムジッタの測定は、記録マークのエッジと基準ク
ロックのエッジとの時間的ずれの標準偏差を算出してお
り、基準クロックに対する割合を示している。
【０００８】図１２は本願出願人提案のマルチパルス記
録波形であり、マーク形成のためのレーザ光のパワーを
Ｐａ，Ｐｗ１，Ｐｗ２及びＰｗ３の４値に変調し、スペ
ース形成のためのレーザ光のパワーをＰａ及びＰｂの２
値に変調する。（１，７）ＲＬＬ変調符号方式の２Ｔ，
３Ｔ，…８Ｔの記録マーク夫々に対してパルス数を順に
増大させてレーザ光を照射する。各記録マークのパルス
終了タイミングは図１１と同様に記録データの立ち下が
りタイミングよりも早めている。
【０００９】このような記録波形でマークが記録された
光磁気ディスクについて、マークの前後エッジのシフト
量を測定したところ、図１１の記録波形のものと比較し
てシフト量が低減されていた。前後エッジのランダムジ
ッタを測定した結果、前エッジは11.4％，後エッジは1
0.5％で平均ジッタは11.0％であり、図１１の記録波形
のものと比較して後エッジのジッタは低減されている
が、ジッタ許容値は超えていることが判った。
【００１０】以上の如く、例えば２Ｔ〜８Ｔのような様
々な長さの記録マークを形成する際に、各記録マークの
エッジシフトの制御をパルス数及びレーザパワーの調整
のみで行なうことに限界があった。また、記録最短マー
クの寸法が小さいほどジッタ増大が顕著であり、特に、
ビームスポットよりも微小な寸法、例えば0.4 μｍ以下
の寸法の記録マークの再生が可能な磁気超解像媒体は、
記録マークの位置シフトが生じてジッタが高くなるとい
う問題があった。
【００１１】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、所定の長さスペース及び長さマークの順列組
合せを記録する際に、ビーム光のパルス開始タイミン
グ、及び／又は、パルス終了タイミングを調整すること
により、0.4 μｍ以下の寸法のマークであっても前後エ
ッジの位置シフト量を小さくし、ジッタを低減できる情
報記録装置及び情報記録方法を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本願出願人は、前述した
マルチパルス記録方式（図１２参照）により記録された
スペースとマークとの各順列組合せに対するエッジシフ
ト評価を行なったところ、以下の知見を得た。エッジシ
フト評価のために、図１３（ａ）に示すパターンシフト
パターンで記録したマークと、図１３（ｂ）に示すサー
マルシフトパターンで記録したマークとの夫々について
エッジシフト量を測定した。図１３はパターンシフト及
びサーマルシフトを測定するための記録マーク長及びス
ペース間隔を示す図である。パターンシフトパターンで
は図１３（ａ）に示すようにスペース間隔を一定にして
記録マーク長を変化させてある。このパターンでは、記
録マークを形成したときの熱が記録マークの後エッジに
与える影響を見ることができる。
【００１３】図１４はパターンシフトパターンにより記
録した従来の各マークの長さのシフト量を示すグラフで
ある。（１，７）ＲＬＬ変調符号を用い、ランド／グル
ーブ両方に記録可能な光磁気ディスクに２Ｔ〜８Ｔマー
クを記録した。スペースは８Ｔ一定である。縦軸はシフ
ト量（nsec．）を示し、横軸は記録したマーク長（×
Ｔ）を示している。なおシフト量は、形成された記録マ
ークの長さに対応する時間をタイムインターバルアナラ
イザを用いて測定し、最短記録マークの時間を基準とし
た各記録マークの正しい時間との差を求めている。即
ち、記録されたマークが正しい位置からどれだけずれて
いるかを示している。なお最短記録マークとは（１，
７）ＲＬＬ変調符号の場合は２Ｔマークである。縦軸の
正方向はマークが長いことを、負方向はマークが短いこ
とを示している。
【００１４】図１５はパターンシフトパターンにより同
様に記録した従来の各マークと前後エッジのシフト量と
の関係を示すグラフである。縦軸はシフト量（nsec．）
を示し、横軸は隣合うマークの前エッジから前エッジま
での距離（チャネルクロック長）、後エッジから後エッ
ジまでのチャネルクロック長を示している。グラフ中、
‘△’は前エッジ間を示し、‘□’は後エッジ間を示し
ている。縦軸の正方向はマークの前方向のずれ量を示
し、負方向はマークの後方向のずれ量を示している。
【００１５】図１４から３Ｔマークが正しい長さよりも
短いことが判る。また図１５で３Ｔマークの前エッジは
正しい位置にある（横軸１１Ｔの前エッジ間のシフト量
が零に近い）ことから、３Ｔマークは後エッジが前方向
にずれていることが判る。これは３Ｔマークを形成する
ための熱が不足していることを示している。この結果は
一定スペース長が８Ｔの場合のみでなく、２Ｔから８Ｔ
までのいずれの場合も同様であった。即ち、直前のスペ
ース長に関わらず３Ｔマークは後エッジが前方向にずれ
て短くなり、３Ｔマークの形成は熱不足であるというこ
とが判った。
【００１６】次に、サーマルシフトパターンで記録した
記録マーク間のスペースについてシフト量を評価した。
サーマルパターンでは図１３（ｂ）に示すように記録マ
ーク長を一定にしてスペース間隔を変化させてある。こ
のパターンでは、スペース間隔における予熱が次の記録
マークのフロントエッジに与える影響を見ることができ
る。図１６はサーマルシフトパターンにより記録した従
来の各マーク間のスペース長さのシフト量を示すグラフ
である。（１，７）ＲＬＬ変調符号を用い、ランド／グ
ルーブ両方に記録可能な光磁気ディスクに２Ｔ〜８Ｔス
ペース間隔で一定マークを記録した。マークは２Ｔで一
定である。縦軸はシフト量（nsec．）を示し、横軸は形
成されたスペース長（×Ｔ）を示している。
【００１７】図１７はサーマルシフトパターンにより同
様に記録した従来の各マークと前後エッジのシフト量と
の関係を示すグラフである。縦軸はシフト量（nsec．）
を示し、横軸は隣合うマークの前エッジから前エッジま
でのチャネルクロック長、後エッジから後エッジまでの
チャネルクロック長を示している。グラフ中、‘△’は
前エッジ間を示し、‘□’は後エッジ間を示している。
縦軸の正方向はマークの前方向のずれ量を示し、負方向
はマークの後方向のずれ量を示している。
【００１８】図１６から２Ｔスペースが正しい長さより
も長くなっていることが判る。また図１７で横軸５Ｔの
前エッジ間シフト量が後方向にずれており、図１６で３
Ｔスペースのシフト量が零に近いことから、２Ｔスペー
ス後のマークの前エッジが正しい位置から後方向にずれ
ていることが判る。これは２Ｔスペース部分の予熱が不
足しているために次のマークを形成し始める熱が足りな
いことを示している。この結果は一定マーク長が２Ｔの
場合だけでなく、３Ｔから８Ｔまでのいずれの記録マー
クの場合も同様であった。即ち、直後のマーク長に関わ
らず２Ｔスペースの後エッジ、即ち２Ｔスペース後のマ
ークの前エッジが後方向にずれるということが判った。
【００１９】第１発明に係る情報記録方法は、所定長さ
のスペース及び所定長さの記録マークの順列組合せの有
無を判定する過程と、前記所定の順列組合せが無しと判
定された場合に、当該記録マークを形成するための第１
パルスの開始を前記記録データの記録マークへの切り換
わりタイミングに対して設定された開始タイミングで行
なうこと、及び、前記記録マークを形成するための最終
パルスの終了を前記記録データのスペースへの切り換わ
りタイミングに対して設定された終了タイミングで行な
うことを指示する過程と、前記所定の順列組合せが有り
と判定された場合に、前記所定長さの記録マークを形成
するための第１パルスの開始を前記開始タイミングより
も早める調整を指示し、及び／又は、所定長さの記録マ
ークを形成するための最終パルスの終了を前記終了タイ
ミングよりも遅らせる調整を指示する過程と、前記光記
録媒体に記録マークを形成する過程と、を有することを
特徴とする。
【００２０】第４発明に係る情報記録装置は、所定長さ
のスペース及び所定長さの記録マークの順列組合せの有
無を判定する判定部と、該判定部が前記所定の順列組合
せの無しを判定した場合に、当該記録マークを形成する
ための第１パルスの開始を前記記録データの記録マーク
への切り換わりタイミングに対して設定された開始タイ
ミングで行なうこと、及び、前記記録マークを形成する
ための最終パルスの終了を前記記録データのスペースへ
の切り換わりタイミングに対して設定された終了タイミ
ングで行なうことを指示し、また前記判定部が前記所定
の順列組合せの有りを判定した場合に、前記所定長さの
記録マークを形成するための第１パルスの開始を前記開
始タイミングよりも早める調整を指示し、及び／又は、
所定長さの記録マークを形成するための最終パルスの終
了を前記終了タイミングよりも遅らせる調整を指示する
タイミング調整指示部と、光源と、ビーム光制御部とを
備えることを特徴とする。
【００２１】第１及び第４発明にあっては、予めシフト
量が大きく生じることが判っている（スペース，記録マ
ーク）の順列組合せが記録データの中に有る場合に、そ
の記録マークのシフト量が小さくなるように、記録マー
クの頭部が後方向にずれるものはパルス開始タイミング
を早め、記録マークの尾部が前方向にずれるものは終了
タイミングを遅らせるのでシフト量を小さくでき、ジッ
タの低減化が図れる。
【００２２】第２発明に係る情報記録方法は、第１発明
において、前記判定の過程にて最短スペースを含む前記
順列組合せの有無を判定し、有りと判定された場合に、
当該記録マークを形成するための第１パルスの開始を前
記開始タイミングよりも早める調整を指示することを特
徴とする。
【００２３】第５発明に係る情報記録装置は、第４発明
において、前記判定部は最短スペースを含む前記順列組
合せの有無を判定し、前記タイミング調整指示部は、前
記判定部が有りを判定した場合に、当該記録マークを形
成するための第１パルスの開始を前記開始タイミングよ
りも早める調整を指示することを特徴とする。
【００２４】第２及び第５発明にあっては、最短スペー
スの次にどのような長さの記録マークを記録するとき
も、その記録マークを形成するための第１パルスの開始
を前記開始タイミングよりも早める。上述したように本
願出願人は、従来の（１，７）ＲＬＬ変調符号の２Ｔス
ペース後のｎＴ記録マークは、前エッジが後方向にずれ
るということを見出している。従って、当該記録マーク
の第１パルスの開始を他の記録の開始タイミングよりも
早めることにより記録マークのシフト量を小さくし、ジ
ッタを低減する。
【００２５】第３発明に係る情報記録方法は、第１又は
第２発明において、前記判定の過程にて２つのパルスを
要する長さの記録マークを含む前記順列組合せの有無を
判定し、有りと判定された場合に、当該記録マークを形
成するための第２パルスの終了を前記終了タイミングよ
りも遅らせる調整を指示することを特徴とする。
【００２６】第６発明に係る情報記録方法装置は、第４
又は第５発明において、前記判定部は２つのパルスを要
する長さの記録マークを含む前記順列組合せの有無を判
定し、前記タイミング調整指示部は、前記判定部が有り
を判定した場合に、当該記録マークを形成するための第
２パルスの終了を前記終了タイミングよりも遅らせる調
整を指示することを特徴とする。
【００２７】第３及び第６発明にあっては、どんな長さ
のスペースの次であっても２つのパルスを要する記録マ
ークを記録するときは、その記録マークを形成するため
の第２パルスの終了を前記終了タイミングよりも遅くす
る。上述したように本願出願人は、従来の（１，７）Ｒ
ＬＬ変調符号のｎＴスペース後の３Ｔ記録マークは、後
エッジが前方向にずれるということを見出している。従
って、当該記録マークの第２パルスの終了を他の記録の
終了タイミングよりも遅らせることにより記録マークの
シフト量を小さくし、ジッタを低減する。
【００２８】第７発明に係る情報記録装置は、第５発明
において、前記記録データは（１，７）ＲＬＬ変調符号
であり、最短スペースは２Ｔスペースであることを特徴
とする。
【００２９】第８発明に係る情報記録装置は、第６発明
において、前記記録データは（１，７）ＲＬＬ変調符号
であり、２つのパルスを要する長さの記録マークは３Ｔ
マークであることを特徴とする。
【００３０】第７及び第８発明にあっては、（１，７）
ＲＬＬ変調符号を用いて情報を記録する場合は、２Ｔス
ペースの後に形成される記録マーク（いずれの長さも）
の最終パルスの終了タイミングを遅らせることによりジ
ッタを低減でき、前がいずれの長さのスペースでも次の
３Ｔマークの第１パルスの開始タイミングを早めること
によりジッタを低減できる。
【００３１】第９発明に係る情報記録装置は、第４乃至
第８発明のいずれかにおいて、前記第１パルスの開始タ
イミング及び前記最終パルスの終了タイミングは、形成
すべき記録マーク及びスペースの長さを決定する単位周
期に依存して設定され、タイミング調整量は前記単位周
期に独立的に設定されていることを特徴とする。
【００３２】第９発明にあっては、最終パルスの終了タ
イミングは記録データの切り換えタイミングに対して例
えば（１／２）Ｔだけ早く設定されるが、３Ｔマークの
最終パルスのタイミング調整量は、前記終了タイミング
よりも0.4 nsec．〜2.8 nsec．の範囲内で遅らせる。Ｔ
は単位周期である。このように、パルスの開始タイミン
グ及び終了タイミングは単位周期に応じて決定される
が、タイミング調整量は単位周期が変わっても同じ値の
設定が可能である。
【００３３】第１０発明に係る情報記録装置は、第４乃
至第９発明のいずれかにおいて、前記ビーム光制御部
は、さらに、ビーム光パワーの制御が可能であり、記録
マーク及びスペースの形成のためにパワー値を変調せし
めるべくなしてあることを特徴とする。
【００３４】第１０発明にあっては、ビーム光制御部が
ビーム光パワーを制御することにより、記録マーク及び
スペースを形成するためのパルスを４値又は５値に変調
して照射できるので、長さが異なる各記録マークのシフ
ト量をさらに小さくでき、ジッタを低減できる。
【００３５】また、ビーム光のスポット径よりも小さい
寸法の記録マークが形成される磁気超解像媒体にあって
はジッタが生じ易いが、上述した如く、所定の（スペー
ス，記録マーク）の順列組合せを記録する際にパルスタ
イミングを調整することによりジッタを低減できる。
【００３６】
【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づき具体的に説明する。図１は本発明に係
る記録再生装置の構成を示すブロック図である。図中、
Ｄは後述する積層膜構成を有する光磁気ディスクであ
り、光ヘッド部１２に対向して配されている。符号化さ
れた記録データが、本発明の特徴となる記録補償制御部
１及びＡＰＣ（レーザパワー自動制御機構）３に入力系
端子を経て夫々入力される。ＡＰＣ３は光ヘッド部１２
から出射されるレーザ光のパワーを制御する制御機構で
あり、入力されたデータに応じた信号ａ〜ｆをＬＤ（レ
ーザダイオード）回路２へ出力する。これによりレーザ
光がパルス化されて光ヘッド部１２から出射される。ま
た記録補償制御部１は、記録データの入力を受けて記録
補償を行なうか否かを判定し、レーザ光のパルス開始タ
イミング及びパルス終了タイミングを調整するか否かを
ＡＰＣ３に指示する。記録補償制御部１の記録データが
入力された後の処理手順については後述する。
【００３７】図２は図１に示すＬＤ回路４の構成を示す
回路図である。ＬＤ回路４は半導体レーザ光源２３及び
その制御回路を備えており、入力された信号に基づいて
半導体レーザ光源２３から所定のパワー値のレーザ光を
出射せしめる回路である。図２に示すように、半導体レ
ーザ光源２３の制御回路は第１〜第６定電流現Ｉｗ3，
Ｉｗ2 ，Ｉｗ1 ，Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｒと、各定電流源と半
導体レーザ光源２３との間に接続された第１〜第６スイ
ッチＳＷ1 ，ＳＷ2 ，ＳＷ3 ，ＳＷ4 ，ＳＷ5，ＳＷ6
とを備えて構成されている。第１〜第６スイッチＳＷ1
〜ＳＷ6 の夫々は、第１〜第６定電流源Ｉｗ3 ，Ｉ
ｗ2 ，Ｉｗ1 ，Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｒ夫々から半導体レーザ
光源２３への電流の供給／遮断をそのオン／オフに応じ
て行い、第１〜第６スイッチＳＷ1 〜ＳＷ6 のオン／オ
フの制御は、ＡＰＣ３から入力される信号ａ〜ｆの出力
に応じて夫々行なわれるようになっている。
【００３８】即ち、第１の定電流源Ｉｗ3 は、信号ａに
より第１のスイッチＳＷ1 が閉じたときに設定電流値を
半導体レーザ光源２３に与える。第２の定電流源Ｉｗ2
は、信号ｂにより第２のスイッチＳＷ2 が閉じたときに
設定電流値を半導体レーザ光源２３に与える。同様にし
て第３〜第６の定電流源Ｉｗ1 ，Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｒは、
各信号ｃ〜ｆによりスイッチＳＷ3 〜ＳＷ6 が夫々閉じ
たときに各設定電流値を半導体レーザ光源２３に与える
ようになっている。そして、半導体レーザ光源２３に供
給される電流値は、第１〜第６定電流源Ｉｗ3 ，Ｉ
ｗ2 ，Ｉｗ1 ，Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｒから供給された設定電
流値を加算した値となる。
【００３９】このような構成のＬＤ回路４によりパルス
化されたレーザ光は、光ヘッド部１２が備える光学機構
１３及び対物レンズ２を経て光磁気ディスクＤに照射さ
れ、記録データである（１，７）ＲＬＬ変調符号がマー
クエッジ記録方式により光磁気ディスクＤに記録され
る。１つの記録マークは１又は複数のパルス照射で形成
され、マルチパルス方式が用いられる。このとき、光磁
気ディスクＤは図示しないモータにより7.5 m/s の一定
速度で回転している。（１，７）ＲＬＬ変調符号におけ
る最短マーク２Ｔを0.30μｍとし、レーザ光の波長は64
0 ｎｍで、光学機構１３の対物レンズのＮＡ（開口数）
は0.55を用いた。図３は本発明方法が適用される光磁気
ディスクの膜構成図である。図３に示すように、光磁気
ディスクＤは0.6 μｍピッチにてランド及びグルーブが
夫々形成されたランド／グルーブ記録が可能な基板３１
上に誘電体層３２、再生層３３、中間層３４、記録層３
５及び保護層３６を積層して構成されている。この光磁
気ディスクＤは、例えば特開平７−244877号公報に示す
本願出願人の提案によるＭＳＲ（Magnetically Induced
Super Resolution ）媒体の膜構成を有している。この
膜構成により、光磁気ディスクＤにビームスポット径よ
りも小さい寸法で形成された記録マークが再生可能とな
る。
【００４０】再生層３３は希土類−遷移金属非晶質合金
膜からなり、垂直方向（積層方向）に磁化容易軸を有し
ている。中間層３４は希土類−遷移金属非晶質合金膜か
らなり、室温（１０℃〜３５℃）で面内方向に磁化容易
軸を有しており、レーザ光の照射により昇温された所定
温度になるとその磁化容易軸が面内方向から垂直方向に
変化する。また、記録層３５は希土類−遷移金属非晶質
合金膜からなり、垂直方向に磁化容易軸を有している。
膜材料及び膜厚の一例を以下に示す。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳＩＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），４０ｎ
ｍ 中間層３４：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），４０ｎ
ｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ
【００４１】なお、各磁性層の膜材料はこれに限ること
はなく、再生層３３，中間層３４及び記録層３５のキュ
リー温度を夫々Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ３としたとき、Ｔ
ｃ２＜Ｔｃ１，Ｔｃ２＜Ｔｃ３の関係を満たしており、
また再生層３３及び記録層３５の室温における保磁力を
Ｈｃ１，Ｈｃ３としたとき、Ｈｃ１＜Ｈｃ３の関係を満
たしていれば良い。
【００４２】光磁気ディスクＤに記録されたデータを再
生する際には、図１に示すように、光ヘッド部１２から
再生用のレーザ光を光磁気ディスクＤに照射し、その反
射光が光学機構１３を経てＰＤ（フォトダイオード）回
路５へ入光され、電気信号に変換されてプリアンプ６に
入力される。プリアンプ６にて増幅された再生信号はＬ
ＰＦ（ローパスフィルタ）７へ入力されて高周波数域の
雑音が除かれ、出力系端子から出力されるようになって
いる。
【００４３】上述した記録再生装置を用いて光磁気ディ
スクＤのランド及びグルーブの両方に（１，７）ＲＬＬ
変調符号を記録する際の記録補償の手順を次に説明す
る。図４は図１に示す記録補償制御部１の処理手順を示
したフローチャートである。記録データが入力系端子を
経て記録補償制御部１及びＡＰＣ３へ入力されると、ま
ず記録データの順列組合せを認識する。ここで記録デー
タの順列組合せとは記録すべきスペース長とマーク長と
の組合せであり（スペース，マーク）で示す。例えば
（２Ｔ，２Ｔ）は、２Ｔの長さのスペースの次に２Ｔの
長さのマークが形成されるという意味である。Ｔはクロ
ック（単位）周期である。記録補償制御部１は記録デー
タが入力されたとき（ステップＳ１１）、（２Ｔ，３
Ｔ），（ｎＴ，３Ｔ，ｎ≠２）又は（２Ｔ，ｎＴｎ≠
３）であるか否かを判定する。なお、ｎＴは（１，７）
ＲＬＬ変調符号における２Ｔ〜８Ｔを示し、ｎは整数で
ある。
【００４４】まず、記録データの順列組合せが（２Ｔ，
３Ｔ），（ｎＴ，３Ｔ，ｎ≠２）又は（２Ｔ，ｎＴ，ｎ
≠３）のいずれでもない場合は（ステップＳ１２〜Ｓ１
６）、当該記録マークを形成するためのレーザ光の第１
パルスの開始タイミングをＡＰＣ３に予め設定された開
始タイミング（以下、標準開始タイミングという）で行
なうことを指示する信号と、当該記録マークを形成する
ためのレーザ光の最終パルスの終了タイミングをＡＰＣ
３に予め設定された終了タイミング（以下、標準終了タ
イミングという）で行なうことを指示する信号とをＡＰ
Ｃ３に出力する（ステップＳ１８）。その後、次の記録
データについての判定が行なわれる。
【００４５】また、入力された記録データが（２Ｔ，３
Ｔ）であると判定した場合は（ステップＳ１２）、２Ｔ
スペース後の３Ｔマークを形成するためのレーザ光の第
１パルスの開始タイミングを、上述した標準開始タイミ
ングよりも早めることを指示するタイミング調整信号
と、３Ｔマークを形成するための最終パルスの終了タイ
ミングを前記標準終了タイミングよりも遅らせることを
指示するタイミング調整信号とをＡＰＣ３に出力する
（ステップＳ１３）。このときのタイミング調整量は例
えば４nsec. であり、即ち、標準開始タイミングから４
nsec. だけ早め（補償量；＋４nsec. ）、標準終了タイ
ミングから４nsec. だけ遅らせる（補償量；−４nsec.
）。タイミング調整量は４nsec. に限らない。調整量
は予めＡＰＣ３に設定してあっても良いし、記録補償制
御部１に設定してあっても良い。その後、次の記録デー
タについての判定が行なわれる。
【００４６】さらに、記録補償制御部１が入力された記
録データに（ｎＴ，３Ｔ，ｎ≠２）が有ると判定した場
合は（ステップＳ１４）、ｎＴスペース後の３Ｔマーク
を形成するためのレーザ光の第１パルスの開始タイミン
グを前記標準開始タイミングで行い、３Ｔマークを形成
するためのレーザ光の最終パルスの終了タイミングを前
記標準終了タイミングよりも遅らせることを指示するタ
イミング調整信号をＡＰＣ３に出力する（ステップＳ１
５）。その後、次の記録データについての判定を繰り返
す。
【００４７】さらにまた、記録補償制御部１が入力され
た記録データに（２Ｔ，ｎＴ，ｎ≠３）が有ると判定し
た場合は（ステップＳ１６）、２Ｔスペース後のｎＴマ
ークを形成するためのレーザ光の第１パルスの開始タイ
ミングを前記標準開始タイミングよりも早め、ｎＴマー
クを形成するためのレーザ光の最終パルスの終了タイミ
ングを前記標準終了タイミングで行なうことを指示する
タイミング調整信号をＡＰＣ３に出力する（ステップＳ
１７）。その後、次の記録データの判定を繰り返す。
【００４８】ＡＰＣ３は、記録補償制御部１からの以上
の如き信号と記録データとが入力され、パルスタイミン
グの標準または調整の指示に基づいてレーザ光の制御を
行う。なお、本実施の形態では、上述した標準開始タイ
ミングは二値情報の切り換わりタイミングと同タイミン
グに設定されており、標準終了タイミングは二値情報の
切り換わりタイミングよりも（Ｔ／２）だけ早いタイミ
ングに設定されている。標準設定タイミングは全ての記
録マークについて同じタイミングが設定されていても良
いし、各長さマークに対して異なるタイミングが設定さ
れていても良い。その場合、開始タイミングの調整は設
定された複数のタイミングのうち最も早いタイミングよ
りも早め、終了タイミングの調整は最も遅いタイミング
よりも遅くする。
【００４９】以下に具体的なレーザパワー制御及び記録
補償制御の方法を説明する。図５及び図６は本実施の形
態のマルチパルス記録方式による記録波形及び記録マー
クを示す図であり、図５はレーザパワー５値変調方式を
用いてパターンシフトを測定するための記録マークを形
成した場合を、図６はレーザパワー４値変調方式を用い
てサーマルシフトを測定するための記録マークを形成し
た場合を示している。４値変調方式及び５値変調方式に
ついては、本願出願人による提案の特開平10−124950号
公報にて説明しており、ここでの詳述は省略する。なお
４値変調でサーマルシフトを、５値でパターンシフトを
測定しても記録補償制御は同様の結果を得る。
【００５０】図５に示すシフトの測定では、記録すべき
データが２Ｔマーク，ｎＴスペース（ｎ≠２），３Ｔマ
ーク，ｎＴスペース（ｎ≠２），４Ｔマーク…であり、
（ｎＴ，３Ｔ，ｎ≠２）が含まれている。２Ｔマークの
形成部分では、記録データの立ち上がりと同時にパルス
を開始し、第１の主熱パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（３
／２）Ｔ期間照射してパルスを終了させ、続いてボトム
パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間照射する。次のｎＴス
ペース部分は、ひき続いて（１／２）Ｔ期間だけボトム
パワー値Ｐｂで照射した後、記録データの次の立ち上が
りの（１／２）Ｔ前まで予熱パワー値Ｐａで照射し、立
ち上がりまでの（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射
する。
【００５１】次に３Ｔのマーク長の記録マーク形成部分
では、ステップＳ１５（図４参照）の処理に基づいて、
記録データの立ち上がりと同時に第１パルスを開始し
（標準開始タイミング）、第１の主熱パワー値Ｐｗ１で
レーザ光を（３／２）Ｔ期間照射した後、予熱パワー値
Ｐａで（１／２）Ｔ期間照射する。ステップＳ１５（図
４参照）の処理に基づいて、第２の主熱パワー値Ｐｗ２
で（Ｔ／２＋４nsec. ）期間照射した後、第２（最終）
パルスを終了し（標準終了タイミングより４nsec. 遅れ
の調整）、立ち上がりまでの（Ｔ／２−４nsec. ）期間
をボトムパワー値Ｐｂで照射する。次のｎＴスペース部
分は、ひき続いて（Ｔ／２＋４nsec. ）期間だけボトム
パワー値Ｐｂで照射した後、記録データの次の立ち上が
りの（１／２）Ｔ前まで予熱パワー値Ｐａで照射し、立
ち上がりまでの（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射
する。
【００５２】図６に示すシフトの測定では、記録すべき
データが２Ｔマーク，２Ｔスペース，ｎＴマーク（ｎ≠
３）…であり、（２Ｔ，ｎＴ，ｎ≠３）が含まれてい
る。２Ｔマークの形成部分では、記録データの立ち上が
りと同時にパルスを開始し、第１の主熱パワー値Ｐｗ１
でレーザ光を（３／２）Ｔ期間照射してパルスを終了
し、続いてボトムパワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間照射
する。次の２Ｔスペース部分は、ひき続いて（１／２）
Ｔ期間だけボトムパワー値Ｐｂで照射した後、ステップ
Ｓ１７（図４参照）の処理に基づいて、記録データの次
の立ち上がりの４nsec. 前まで予熱パワー値Ｐａで照射
し、立ち上がりまでの４nsec. 期間を主熱パワー値Ｐｗ
１で照射する（標準開始タイミングより４nsec. 早めの
調整）。
【００５３】次にｎＴのマーク長の記録マーク形成部分
では、引き続いて第１の主熱パワー値Ｐｗ１でレーザ光
を（３／２）Ｔ期間照射した後、予熱パワー値Ｐａで
（１／２）Ｔ期間照射する。その後第２の主熱パワー値
Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期間照射し、これをｎの値に応じ
て繰り返した後、ステップＳ１７（図４参照）の処理に
基づいて、第２の主熱パワー値Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期
間照射して最終パルスを終了し（標準終了タイミン
グ）、立ち上がりまでの（１／２）Ｔ期間をボトムパワ
ー値Ｐｂで照射する。
【００５４】このように、（１，７）ＲＬＬ変調符号に
おける最短マークが0.30μｍである記録マークをパター
ンシフトパターン及びサーマルシフトパターンの夫々で
形成し、パターンシフト及びサーマルシフトの夫々を測
定した。図７は本発明装置により形成された記録マーク
の長さとシフト量との関係を示すグラフである。縦軸は
パターンシフト量（nsec. ）を示し、横軸は記録マーク
長（×Ｔ）を示している。Ｔは20nsec．であり、記録補
償量はその６％、即ち、1.2 nsec. のタイミング調整量
とした。グラフから判るように、本実施の形態による３
Ｔマークのシフト量は従来（図１４参照）と比較して小
さく、また本実施の形態の記録マークのシフト残差ΔＳ
は±1.2 nsec. であり、これは従来と比較して極めて小
さい。
【００５５】また、図８は本発明装置により形成された
スペースの長さとシフト量との関係を示すグラフであ
る。図８の縦軸はサーマルシフト量（nsec. ）を示し、
横軸はスペース長（×Ｔ）を示している。Ｔは20nsec．
であり、記録補償量はその40％、即ち、8 nsec. の遅延
調整量とした。グラフから判るように、本実施の形態に
よる２Ｔスペースのシフト量は従来（図１６参照）と比
較して小さい。また図９は図８と同様に形成された記録
マークの前後エッジ間の長さとシフト量との関係を示す
グラフである。図９の縦軸はサーマルシフト量（nsec.
）を示し、横軸は記録マークのエッジ間の長さ（×
Ｔ）を示している。グラフ中、‘△’は前エッジ間を示
し、‘□’は後エッジ間を示している。グラフから、横
軸５Ｔの前エッジ間シフト量が従来（図１７参照）より
も小さくなっており、３Ｔマークの後方向へのずれが小
さくなっていることが判る。また、前エッジ間シフトと
後エッジ間シフトとのシフト残差ΔＳが1.9 nsec．であ
り、これは従来よりも小さい。
【００５６】また、上述した本実施の形態の記録方法で
記録補償量（タイミング調整量）を異ならせて記録マー
クを形成し、夫々のシフト残差ΔＳを測定した。図１０
は本発明方法による記録補償量とシフト残差との関係を
示すグラフである。縦軸はシフト残差（±nsec．）を示
し、横軸は記録補償量（％）を示している。記録補償量
の正方向はタイミングを遅らせる側であり、負方向はタ
イミングを早める側である。グラフ中、‘□’はサーマ
ルシフトのシフト残差を示し、‘○’はパターンシフト
のシフト残差を示している。グラフから判るように、シ
フト残差ΔＳが許容値（４nsec．）以下の記録補償量範
囲は、Ｔ（20nsec．）に対してサーマルシフトで（−12
％）〜（−1.5 ％）であり、パターンシフトで２％〜14
％である。これにより、Ｔが20nsec．の場合、本発明の
パルス開始タイミングの調整量はＴの1.5 ％〜12％だけ
早め、パルス終了タイミングの調整量はＴの２％〜14％
だけ遅らせることが好ましいと言える。
【００５７】以上の結果から、本実施の形態の情報記録
方法により形成された記録マークは、0.4 μｍ以下の微
細寸法のマークであっても前後エッジの位置シフト量を
少なくし、ジッタを低減できることが言える。
【００５８】なお、上述した実施の形態では、記録マー
ク及びスペース形成のためにレーザ光のパワーを４値又
は５値に変調した場合を説明しているが、これに限るも
のではなく、１つの記録マークを１又は複数のパルス化
されたレーザ光で形成するマルチパルス方式であれば本
発明の記録方法を適用できる。また、パルスタイミング
調整を行なうべきスペース長及び記録マーク長は、
（１，７）ＲＬＬ変調符号の２Ｔスペース及び３Ｔマー
クに限らず、開始タイミングの調整は最短スペース長の
次マークのとき、終了タイミングの調整は第２パルスが
最終パルスとなる記録マークのときに行なえば良い。特
に終了タイミングの調整については、（１，７）ＲＬＬ
変調符号における３Ｔマークが２つのパルス照射で形成
される場合に、本発明を適用で大なる効果を得る。
【００５９】また、上述した実施の形態では、記録デー
タが（１，７）ＲＬＬ変調符号である場合を説明してい
るが、これに限るものではなく、他の変調符号であって
も、シフトが大きいことが判明している（スペース，記
憶マーク）のパルスタイミングを調整することにより同
様の効果を得る。
【００６０】さらに、上述した実施の形態では、光照射
及び磁界印加で記録マークを形成する光磁気記録の場合
を説明しているが、これに限るものではなく、相変化型
記録又はライトワンス記録のようにビーム光を照射する
記録方式であれば本発明に適用できる。なお相変化型記
録とは、光ビームの照射により記録膜を結晶状態とアモ
ルファス状態とに変化せしめる記録方法であり、ライト
ワンス記録とは有機系色素又は金属材料の記録膜にビー
ム光を照射して孔を開けることにより１度限りの書き換
えが可能である記録方法である。
【００６１】さらにまた、上述した実施の形態では、磁
気超解像再生可能な光磁気記録媒体に記録マークを形成
する場合を説明しているが、これに限るものではなく、
光の照射により記録マークを形成できる記録媒体であれ
ば同様の効果を得る。特に、ビームスポット径よりも小
寸法の記録マークを記録再生する磁気超解像媒体には大
なる効果を得る。
【００６２】
【発明の効果】以上のように、本発明においては、シフ
ト量が大きい長さスペース及び長さマークの順列組合せ
を記録する際に、ビーム光のパルス開始タイミング、及
び／又は、パルス終了タイミングを調整するので、0.4
μｍ以下の寸法の記録マークであっても前後エッジのシ
フト量が小さくなり、ジッタを低減できる。また、各記
録マーク及び各スペースが、１又は複数にパルス化され
てパワー変調されたビーム光照射で形成される場合に、
最短スペースの次に形成される記録マークの第１パルス
の開始タイミングを他の開始タイミングよりも早めるこ
とにより記録マークの前方向のシフト量を低減できる。
また、２つのパルスを要する記録マークの第２パルスの
終了タイミングを他の終了タイミングよりも遅らせるこ
とにより記録マークの後方向のシフト量を低減できる
等、本発明は優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る記録再生装置の構成を示すブロッ
ク図である。
【図２】図１に示すＬＤ回路の構成を示す回路図であ
る。
【図３】本発明方法が適用される光磁気ディスクの膜構
成図である。
【図４】図１に示す記録再生装置の記録補償制御部の処
理手順を示したフローチャートである。
【図５】本実施の形態のマルチパルス記録方式による記
録波形、及びパターンシフトを測定するための記録マー
クを示す図である。
【図６】本実施の形態のマルチパルス記録方式による記
録波形、及びサーマルシフトを測定するための記録マー
クを示す図である。
【図７】本発明装置により形成された記録マークの長さ
とシフト量との関係を示すグラフである。
【図８】本発明装置により形成されたスペースの長さと
シフト量との関係を示すグラフである。
【図９】本発明装置により形成された記録マークの前後
エッジ間の長さとシフト量との関係を示すグラフであ
る。
【図１０】本発明方法による記録補償量とシフト残差と
の関係を示すグラフである。
【図１１】従来の記録方法による記録波形と記録すべき
データとを共に示したタイミングチャートである。
【図１２】従来の他の記録方法による記録波形と記録す
べきデータとを共に示したタイミングチャートである。
【図１３】パターンシフト及びサーマルシフトを測定す
るための記録マーク長及びスペース間隔を示す図であ
る。
【図１４】パターンシフトパターンにより記録した従来
の各マークの長さのシフト量を示すグラフである。
【図１５】パターンシフトパターンにより同様に記録し
た従来の各マークと前後エッジのシフト量との関係を示
すグラフである。
【図１６】サーマルシフトパターンにより記録した従来
の各マーク間のスペース長さのシフト量を示すグラフで
ある。
【図１７】サーマルシフトパターンにより記録した従来
の各マークと前後エッジのシフト量との関係を示すグラ
フである。
【符号の説明】 １ 記録補償制御部 ２ 対物レンズ ３ ＡＰＣ ４ ＬＤ回路 ５ ＰＤ回路 １２ 光ヘッド部 ２３ 半導体レーザ光源 Ｄ 光磁気記録媒体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上村 拓也 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 BC04 CC04 GL20 5D090 AA01 BB04 CC01 DD03 DD05 EE02 HH01 KK05 5D119 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 FA05 HA25 HA60

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 二値情報の一方が前縁及び後縁に対応す
    る一連の記録マークを各記録マークにつき１又は複数に
    パルス化したビーム光の照射により形成して、光記録媒
    体に情報を記録する情報記録方法において、 形成すべき記録マーク及びスペースを表す記録データが
    入力され、所定長さのスペース及び所定長さの記録マー
    クの順列組合せの有無を判定する過程と、 前記所定の順列組合せが無いと判定された場合に、当該
    記録マークを形成するための第１パルスの開始を前記記
    録データの記録マークへの切り換わりタイミングに対し
    て設定された開始タイミングで行なうこと、及び、前記
    記録マークを形成するための最終パルスの終了を前記記
    録データのスペースへの切り換わりタイミングに対して
    設定された終了タイミングで行なうことを指示する過程
    と、 前記所定の順列組合せが有ると判定された場合に、前記
    所定長さの記録マークを形成するための第１パルスの開
    始を前記開始タイミングよりも早める調整を指示し、及
    び／又は、所定長さの記録マークを形成するための最終
    パルスの終了を前記終了タイミングよりも遅らせる調整
    を指示する過程と、 該指示を受けて光源からのビーム光のパルスタイミング
    を制御しつつ、前記光記録媒体に記録マークを形成する
    過程と、 を有することを特徴とする情報記録方法。
  2. 【請求項２】 前記判定の過程にて最短スペースを含む
    前記順列組合せの有無を判定し、有りと判定された場合
    に、当該記録マークを形成するための第１パルスの開始
    を前記開始タイミングよりも早める調整を指示する請求
    項１記載の情報記録方法。
  3. 【請求項３】 前記判定の過程にて２つのパルスを要す
    る長さの記録マークを含む前記順列組合せの有無を判定
    し、有りと判定された場合に、当該記録マークを形成す
    るための第２パルスの終了を前記終了タイミングよりも
    遅らせる調整を指示する請求項１又は２記載の情報記録
    方法。
  4. 【請求項４】 二値情報の一方が前縁及び後縁に対応す
    る一連の記録マークを各記録マークにつき１又は複数に
    パルス化したビーム光の照射により形成して、光記録媒
    体に情報を記録する情報記録装置において、 形成すべき記録マーク及びスペースを表す記録データが
    入力され、所定長さのスペース及び所定長さの記録マー
    クの順列組合せの有無を判定する判定部と、 該判定部が前記所定の順列組合せが無いと判定した場合
    に、当該記録マークを形成するための第１パルスの開始
    を前記記録データの記録マークへの切り換わりタイミン
    グに対して設定された開始タイミングで行なうこと、及
    び、前記記録マークを形成するための最終パルスの終了
    を前記記録データのスペースへの切り換わりタイミング
    に対して設定された終了タイミングで行なうことを指示
    する指示部と、 前記判定部が前記所定の順列組合せが有ると判定した場
    合に、前記所定長さの記録マークを形成するための第１
    パルスの開始を前記開始タイミングよりも早める調整を
    指示し、及び／又は、所定長さの記録マークを形成する
    ための最終パルスの終了を前記終了タイミングよりも遅
    らせる調整を指示するタイミング調整指示部と、 パルス化されたビーム光が出射可能な光源と、 前記タイミング調整指示部からの指示を受けて前記光源
    のビーム光のパルスタイミングを制御するビーム光制御
    部と、 を備えることを特徴とする情報記録装置。
  5. 【請求項５】 前記判定部は最短スペースを含む前記順
    列組合せの有無を判定し、前記タイミング調整指示部
    は、前記判定部が有りと判定した場合に、当該記録マー
    クを形成するための第１パルスの開始を前記開始タイミ
    ングよりも早める調整を指示する請求項４記載の情報記
    録装置。
  6. 【請求項６】 前記判定部は２つのパルスを要する長さ
    の記録マークを含む前記順列組合せの有無を判定し、前
    記タイミング調整指示部は、前記判定部が有りと判定し
    た場合に、当該記録マークを形成するための第２パルス
    の終了を前記終了タイミングよりも遅らせる調整を指示
    する請求項４又は５記載の情報記録装置。
  7. 【請求項７】 前記記録データは（１，７）ＲＬＬ変調
    符号であり、最短スペースは２Ｔスペースである請求項
    ５記載の情報記録装置。但し、Ｔは単位周期を示す。
  8. 【請求項８】 前記記録データは（１，７）ＲＬＬ変調
    符号であり、２つのパルスを要する長さの記録マークは
    ３Ｔマークである請求項６記載の情報記録装置。但し、
    Ｔは単位周期を示す。
  9. 【請求項９】 前記第１パルスの開始タイミング及び前
    記最終パルスの終了タイミングは、形成すべき記録マー
    ク及びスペースの長さを決定する単位周期に依存して設
    定され、タイミング調整量は前記単位周期から独立的に
    設定されている請求項４乃至８のいずれかに記載の情報
    記録装置。
  10. 【請求項１０】 前記ビーム光制御部は、さらに、ビー
    ム光パワーの制御が可能であり、記録マーク及びスペー
    スの形成のためにパワー値を変調せしめるべくなしてあ
    る請求項４乃至９のいずれかに記載の情報記録装置。
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