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JP2002005955A - 容量式力学量センサ - Google Patents

容量式力学量センサ

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Publication number
JP2002005955A
JP2002005955A JP2000191536A JP2000191536A JP2002005955A JP 2002005955 A JP2002005955 A JP 2002005955A JP 2000191536 A JP2000191536 A JP 2000191536A JP 2000191536 A JP2000191536 A JP 2000191536A JP 2002005955 A JP2002005955 A JP 2002005955A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
movable electrode
connecting portion
displacement
vibration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000191536A
Other languages
English (en)
Inventor
Mineichi Sakai
峰一 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2000191536A priority Critical patent/JP2002005955A/ja
Priority to US09/880,778 priority patent/US6502462B2/en
Priority to DE10130237A priority patent/DE10130237B4/de
Publication of JP2002005955A publication Critical patent/JP2002005955A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
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    • G01P2015/0808Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
    • G01P2015/0811Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0814Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for translational movement of the mass, e.g. shuttle type

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 容量式半導体加速度センサにおいて、実動作
時の変位部の振動特性を確保しつつ、ワイヤボンディン
グ時の変位部の破損を防止する。 【解決手段】 支持基板としてのSOI基板10と可動
電極20とは、第1の梁221及び第2の梁222の両
端部が梁連結部223で連結された枠形状の変位部22
を介して連結され、可動電極20には固定電極31、3
2が対向配置されている。また、SOI基板10には、
ワイヤボンディング用の電極パッド25a、31b、3
2bが形成されている。変位部22において、SOI基
板10及び可動電極20との連結部を固定端とし梁連結
部223を自由端とした屈曲振動の固有振動数が、ワイ
ヤボンディングの際に印加される振動数とは異なるよう
に、梁連結部223が調整された形状となっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、可動電極と固定電
極とを備え、これら両電極間の容量変化に基づき印加力
学量を検出する容量式力学量センサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、この種の容量式力学量センサ
として、特開平11−326365号公報に記載のもの
が提案されている。このものは、支持基板(半導体基
板)に対して連結された変位部(バネ部)と、この変位
部に連結されて変位部とともに変位可能な可動電極と、
支持基板に支持され可動電極に対向して配置された固定
電極とを備える。
【0003】ここで、変位部は、詳しくは、中間部にて
支持基板に連結されて支持された第1の梁と、この第1
の梁と離間して平行に配置された第2の梁と、これら第
1及び第2の梁の両端部を連結する梁連結部とよりなる
枠形状をなし、可動電極は、第2の梁の中間部に連結さ
れ、前記第2の梁とともに変位可能となっている。ま
た、上記容量式力学量センサにおいて、支持基板には、
可動電極及び固定電極を外部と電気的に接続するための
電極パッドが形成されており、通常、この電極パッド
は、ワイヤボンディングを施すことにより外部回路に結
線される。
【0004】そして、例えば加速度等の力学量が印加さ
れたとき、変位部における第1及び第2の梁が、その長
手方向と直交する方向に前記梁連結部を固定端として検
出振動を行う。このとき、この検出振動に応じて可動電
極が変位することにより、可動電極と固定電極との間に
容量変化が生じ、この容量変化に基づいて印加力学量が
検出されるようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者の検討によれば、上記従来の容量式力学量センサにお
いては、次のような問題が生じることがわかった。上記
電極パッドに対してワイヤボンディングを行う際には、
このワイヤボンディングの振動が変位部に印加される。
このワイヤボンディングの振動数と変位部の梁の固有振
動数とが一致すると、変位部の梁が共振して梁連結部が
周囲部分に当たり、変位部が破損する。
【0006】ここで、単純には、変位部の第1の梁及び
第2の梁の固有振動数を調整し、ワイヤボンディングの
振動数と変位部の梁の固有振動数とが一致しないように
することが考えられるが、その場合、力学量を検出する
検出振動時、即ち実動作時において変位部の振動特性が
変わってしまう。
【0007】そこで、本発明は上記問題に鑑み、容量式
力学量センサにおいて、実動作時の変位部の振動特性を
確保しつつ、ワイヤボンディング時の変位部の破損を防
止することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者は、容量式力学
量センサの変位部における実動作時の振動モードと、ワ
イヤボンディング時の振動モードについて鋭意検討を行
った。その結果、実動作時とワイヤボンディング時とで
は、変位部の振動モードが異なることがわかった。
【0009】図4(a)に示す様に、実動作時の変位部
(22)の振動、即ち検出振動は、力学量が印加された
とき、第1の梁(221)及び第2の梁(222)が梁
連結部(223)を固定端として、その長手方向と直交
する方向にて互いに近づいたり離れたりするように振動
する(検出振動モード)。
【0010】一方、図4(b)に示す様に、ワイヤボン
ディング時の変位部(22)の振動は、第1の梁(22
1)における支持基板(10)との連結部及び第2の梁
(222)における可動電極(20)との連結部を固定
端とし、梁連結部(223)を自由端として、第1の梁
(221)及び第2の梁(222)が同一方向へ屈曲す
る屈曲振動を行う(屈曲振動モード)。
【0011】また、これら2つの振動モードにおいて、
変位部を構成する梁の固有振動数は、梁のバネ定数を
K、振動体の質量をmとすると、(K/m)1/2で決定
される。ここで、実動作時の検出振動モードでは、質量
mは変位部だけでなく、変位部に比べて非常に重い可動
電極の質量も含むのに対し、ワイヤボンディング時の屈
曲振動モードでは、質量mは実質的に変位部の質量のみ
である。
【0012】そのため、屈曲振動モードにおける梁の固
有振動数(例えば数10kHz以上)は、検出振動モー
ドにおける梁の固有振動数(例えば10kHz以下)よ
りも1桁程度大きく、屈曲振動モードにおける梁の固有
振動数は、ワイヤボンディングの振動数(例えば60k
Hzまたは120kHz)と一致しやすくなる。
【0013】よって、ワイヤボンディング時、変位部は
屈曲振動モードで共振しやすくなるため、この屈曲振動
の固有振動数がワイヤボンディングの際に印加される振
動数とは異なるように、尚且つ、実動作時の検出振動の
振動特性を確保するように、変位部を構成することが必
要となる。このような検討に基づいて、請求項1〜請求
項5の発明を創出するに至った。
【0014】まず、請求項1の発明においては、変位部
(22)は、上記の屈曲振動ができるようになってお
り、該変位部の屈曲振動における固有振動数がワイヤボ
ンディングの際に印加される振動数とは異なるように、
梁連結部(223)が調整された形状となっていること
を特徴としている。
【0015】本発明によれば、力学量を検出する検出振
動時即ち実動作時において固定端となる梁連結部(22
3)の形状を調整するだけであるので、この梁連結部の
形状調整は、該検出振動の特性を支配する第1の梁(2
21)及び第2の梁(222)には殆ど影響しない。そ
のため、実動作時の変位部(22)の振動特性は確保さ
れる。
【0016】そして、変位部(22)の屈曲振動におけ
る固有振動数がワイヤボンディングの際に印加される振
動数とは異なるため、ワイヤボンディングの振動によっ
て、該変位部が屈曲振動モードで共振することを防止で
きる。従って、本発明によれば、実動作時の変位部の振
動特性を確保しつつ、ワイヤボンディング時の変位部の
破損を防止することができる。
【0017】ここで、請求項2の発明のように、ワイヤ
ボンディングの際に印加される振動数をω0としたと
き、変位部(22)の屈曲振動における固有振動数を、
(2−21/2)ω0以下または21/2ω0以上であるように
することが好ましい。これは、振動に関する分野におい
ては、ある振動数ωによって振動体が共振しないように
するには、その振動体の固有振動数が、(2−21/2
ω以下または21/2ω以上とするのが一般的であるため
である。
【0018】また、請求項3の発明においては、変位部
(22)は、上記の屈曲振動モードを有するものであ
り、ワイヤボンディングの際に印加される振動によって
該変位部が該屈曲振動モードにて共振しないように、梁
連結部(223)が調整された形状となっていることを
特徴としている。
【0019】本発明においても、請求項1の発明と同
様、梁連結部(223)の形状調整は、該検出振動の特
性を支配する第1の梁(221)及び第2の梁(22
2)には殆ど影響しない。そして、ワイヤボンディング
の際に印加される振動によって変位部(22)が屈曲振
動モードにて共振しない。従って、本発明でも、実動作
時の変位部の振動特性を確保しつつ、ワイヤボンディン
グ時の変位部の破損を防止することができる。
【0020】ここで、請求項4の発明のように、梁連結
部(223)の形状の調整は、変位部(22)の長手方
向における該梁連結部の長さを調整することで可能であ
る。それにより、第1の梁(221)及び第2の梁(2
22)の実質的な長さを変えることなく、変位部の屈曲
振動における固定端から自由端までの長さを調整するこ
とができるため、実動作時の変位部の振動特性を確保し
つつ、当該屈曲振動における固有振動数を容易に調整す
ることができる。
【0021】また、請求項5の発明は、梁連結部(22
3)に、その一部を除去することにより形成された貫通
孔(224)が備えられていることを特徴とする。変位
部の屈曲振動において、比較的低い振動数で振動が行わ
れる場合、梁連結部の重さが振動に影響する。このと
き、梁連結部が重いほど振幅が大きくなり、振幅が大き
くなりすぎると梁連結部がその周囲部分に当たる可能性
がある。
【0022】その点、本発明によれば、梁連結部(22
3)の一部を除去することにより貫通孔(224)を形
成し、梁連結部の重さを軽くすることができるため、そ
のような問題を回避しやすくなる。
【0023】なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一
例である。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図に示す実施形態
について説明する。本実施形態は、容量式力学量センサ
として、差動容量式の半導体加速度センサについて本発
明を適用したものである。図1に半導体加速度センサ1
00の平面構成を示し、図2に図1中のA−A線に沿っ
た模式的な断面構造を示す。この半導体加速度センサ1
00は、例えば、エアバッグ、ABS、VSC等の作動
制御を行うための自動車用加速度センサやジャイロセン
サ等に適用できる。
【0025】半導体加速度センサ(以下、単にセンサと
いう)100は、半導体基板に周知のマイクロマシン加
工を施すことにより形成される。センサ100を構成す
る半導体基板は、図2に示す様に、第1の半導体層とし
ての第1シリコン基板11と第2の半導体層としての第
2シリコン基板12との間に、絶縁層としての酸化膜1
3を有する矩形状のSOI基板(本発明でいう支持基
板)10である。
【0026】第2シリコン基板12には、溝14を形成
することにより、可動部としての可動電極20、及び、
この可動電極20と溝14を介して区画された固定電極
31、32よりなる梁構造体が形成されている。また、
酸化膜13のうち上記梁構造体20、31、32の形成
領域に対応した部位は、犠牲層エッチング等により矩形
状に除去されて開口部13aを形成している。
【0027】開口部13a上を横断するように配置され
た可動電極20は、矩形状の錘部21を備えており、こ
の錘部21の両端を、変位部22を介してアンカー部2
3に一体に連結した構成となっている。両アンカー部2
3は、酸化膜13における開口部13aの開口縁部に固
定され、第1シリコン基板11上に支持されている。こ
れにより、錘部21及び変位部22は開口部13aに臨
んだ状態となっている。
【0028】ここで、図3は図1中の変位部22近傍の
拡大図である。両変位部22は、互いに離間して平行に
配置された同一形状及び同一サイズの第1の梁221と
第2の梁222とが、互いの両端にて梁連結部223に
よって連結された矩形枠状をなしている。第1の梁22
1は、その長手方向の中間部にて、アンカー部23を介
してSOI基板(支持基板)10に連結されて支持され
ている。また、第2の梁222は、その長手方向の中間
部にて、可動電極20の錘部21に連結されている。
【0029】この変位部22は、図1及び図3中の矢印
Yにて示す梁221、222の長手方向と直交する方向
(以下、Y方向という)に変位するバネ機能を有する。
具体的には、図4(a)に模式的に示す様に、Y方向の
成分を含む加速度を受けたときに、第1及び第2の梁2
21、222が、梁連結部223を固定端として、Y方
向にて互いに近づいたり離れたりするように振動する
(検出振動モード)。
【0030】このように、錘部21は、加速度の印加に
応じて、検出振動モードにて変位可能となっている。ま
た、矩形状の錘部21におけるY方向に平行な両辺(図
1中の左右両側の辺)には、それぞれ、突出電極部24
が、Y方向と直交する方向において、互いに反対方向へ
櫛歯状に突出して一体に形成されている。
【0031】図1では、突出電極部24は、錘部21の
左側及び右側に各々4個ずつ突出して形成され、個々の
突出電極部24は断面矩形の梁状に形成されて、開口部
13aに臨んだ状態となっている。このように、錘部2
1と突出電極部24とは一体に形成されて可動電極20
を構成している。
【0032】固定電極31、32は、錘部21を挟んで
錘部21の左右両側に設けられ、各突出電極部24によ
って構成される櫛歯の隙間に噛み合うように、突出電極
部24に対向して配置されている。そして、固定電極3
1、32は、開口部13aの開口縁部にて、酸化膜13
を介して第1シリコン基板11に支持されている。
【0033】詳しく言うと、固定電極31、32におけ
る個々の電極(図示例では4個ずつ)は断面矩形の梁状
に形成されており、第1シリコン基板11に片持ち状に
支持された状態で、開口部13aに臨んだ状態となって
いる。そして、固定電極31、32における個々の電極
の側面は、個々の突出電極部24の側面と所定の間隔
(検出間隔)40を存して平行した状態で対向配置され
ている。
【0034】ここで、固定電極31、32のうち、図1
中の左側に位置するものを第1の固定電極31、右側に
位置するものを第2の固定電極32とする。これら第1
の固定電極31と第2の固定電極32とは、互いに電気
的に独立しており、各々、第2シリコン基板12に形成
された配線部31a、32aに電気的に導通している。
【0035】また、各配線部31a、32a上の所定位
置には、それぞれワイヤボンディング用の固定電極パッ
ド31b、32bが形成されている。また、一方のアン
カー部23と一体に連結された状態で、可動電極用配線
部25が形成されており、この配線部25上の所定位置
には、ワイヤボンディング用の可動電極パッド25aが
形成されている。これらパッド25a、31b、32b
により、可動電極20及び固定電極31、32は外部と
電気的に接続される。
【0036】なお、図1中、上記各電極パッド25a、
31b、32bとは電気的に独立して、電極パッド33
a、33bが第2シリコン基板12に形成されている。
この電極パッド33a、33bは、センサ100の動作
中に、可動電極20に余分な信号が加わらないように、
変位部22の周辺の第2シリコン基板12を一定の電位
に維持しておくためのものである。上記の各電極パッド
25a、31b、32b、33a、33bは、例えばア
ルミニウムにより形成されている。
【0037】更に、錘部21、突出電極部24、及び各
固定電極31、32には、開口部13a側から反対側に
貫通する矩形状の貫通孔50が複数形成されており、こ
れら貫通孔50により、矩形枠状部を複数組み合わせた
所謂ラーメン構造形状が形成されている。これにより、
可動電極20及び各固定電極31、32の軽量化、捩じ
り強度の向上がなされている。
【0038】また、図2に示す様に、本センサ100
は、第1シリコン基板11の裏面(酸化膜13とは反対
側の面)側において接着剤60を介してパッケージ70
に接着固定されている。このパッケージ70には、後述
する回路手段80が収納されている。そして、この回路
手段80と上記の各電極パッド25a、31b、32
b、33a、33bとは、金もしくはアルミニウムのワ
イヤボンディングにより形成されたワイヤ(図示せず)
により電気的に接続されている。
【0039】このような構成においては、第1の固定電
極31と突出電極部24との検出間隔40に第1の容量
(CS1とする)、第2の固定電極32と突出電極部2
4との検出間隔40に第2の容量(CS2とする)が形
成されている。そして、加速度を受けると、変位部22
のバネ機能により、可動電極20全体が一体的に、上記
した検出振動モードにて振動し、Y方向へ変位する。
【0040】このとき、可動電極20の変位に応じて検
出間隔40が変化し、上記各容量CS1、CS2が変化
する。そして、上記検出回路80は、突出電極部24と
固定電極31、32による差動容量(CS1−CS2)
の変化に基づいて加速度を検出する。
【0041】図5に、本センサ100の検出回路図を示
す。検出回路80において、81はスイッチドキャパシ
タ回路(SC回路)であり、このSC回路81は、容量
がCfであるコンデンサ82、スイッチ83及び差動増
幅回路84を備え、入力された容量差(CS1−CS
2)を電圧に変換するものである。
【0042】なお、CP1、CP2、CP3は寄生容量
を示している。CP1は第1の固定電極31の配線部3
1aと第1シリコン基板11との間の容量、CP2は第
2の固定電極32の配線部32aと第1シリコン基板1
1との間の容量、CP3は可動電極24の配線部25と
第1シリコン基板11との間の容量である。
【0043】また、この検出回路80に対するタイミン
グチャートの一例を図6に示す。上記センサ100にお
いては、例えば、固定電極パッド31bから搬送波1
(例えば、周波数100kHz、振幅0〜5V)、固定
電極パッド32bから搬送波1と位相が180°ずれた
搬送波2(例えば、周波数100kHz、振幅0〜5
V)を入力し、SC回路81のスイッチ83を図に示す
タイミングで開閉する。そして、印加加速度は、下記の
数式1に示す様に、電圧値V0として出力される。な
お、数式1中、Vは両パッド31b、32bの間の電圧
差である。
【0044】
【数1】V0={(CS1 −CS2 )+ (CP1 −CP2 )・CP3
}・V /Cf ところで、上記センサ100は、周知の半導体製造技術
を用いてSOI基板10に梁構造体20、31、32を
形成した後、回路手段80と各電極パッド25a、31
b、32b、33a、33bとを、ワイヤボンディング
することにより結線することで製造される。
【0045】このワイヤボンディングを行う際には、こ
のワイヤボンディングの振動が変位部22に印加され
る。本実施形態では、このとき、梁221、222が共
振して梁連結部223が、その周囲の溝14を介して対
向する部分に当たり変位部22が破損するのを防止する
ために、梁連結部223の形状を調整することでワイヤ
ボンディングの振動数と変位部22の梁221、222
の固有振動数とを異ならせている。
【0046】本発明者の検討の結果、実動作時(検出振
動時)とワイヤボンディング時とでは、変位部22の振
動モードが異なることがわかった。実動作時の変位部2
2は、上述したように、第1及び第2の梁221、22
2が、梁連結部223を固定端として、Y方向にて互い
に近づいたり離れたりするように振動する(図4(a)
参照、検出振動モード)。
【0047】一方、ワイヤボンディング時の変位部22
は、図4(b)に示す様に、第1の梁221におけるア
ンカー部23との連結部(本発明でいう支持基板との連
結部)及び第2の梁222における錘部21との連結部
(本発明でいう可動電極との連結部)を固定端とし、梁
連結部223を自由端として、第1の梁221及び第2
の梁222が同一方向へ屈曲する屈曲振動を行う(屈曲
振動モード)。
【0048】また、これら2つの振動モードにおいて、
梁221、222のバネ定数をK、振動体の質量をmと
すると、変位部22を構成する梁221、222の固有
振動数は、(K/m)1/2で決定される。ここで、図3
に示す様に、第1及び第2の梁221、222の長手方
向の長さをL1、第1及び第2の梁221、222の幅
をW1、梁連結部223の長さをL2とする。
【0049】また、第1及び第2の梁221、222の
厚さ(梁連結部223の厚さも略同じ)をh、第1及び
第2の梁221、222のヤング率をEとする。このよ
うにしたとき、検出振動モード、屈曲振動モードのバネ
定数K1、K2はそれぞれ、次の数式2のように示され
る。
【0050】
【数2】K1=(2・E・h・W1 3)/L1 32=(E・h・W1 3)/4・(L1+L23 一般に容量式力学量センサの変位部においては、梁連結
部の長さL2は梁の長さL1に比べて小さいため、上記数
式2から、屈曲振動モードのバネ定数K2は、検出振動
モードのバネ定数K1よりも一桁近く小さくなることが
わかる。
【0051】また、検出振動モードでは、振動体の質量
mは変位部22だけでなく、変位部22に比べて非常に
重い可動電極20の質量も含むのに対し、屈曲振動モー
ドでは、該質量mは実質的に変位部22の質量のみであ
る。そのため、検出、屈曲の両振動モードにおける梁の
固有振動数には、バネ定数Kの相違よりも、振動体の質
量mの相違が支配的となる。
【0052】そのため、屈曲振動モードにおける梁の固
有振動数ω2は、検出振動モードにおける梁の固有振動
数ω1よりも1桁程度大きくなる。例えば、固有振動数
ω1は0〜10kHz以下、固有振動数ω2は数10kH
z以上である。よって、例えば60kHzまたは120
kHzと高いワイヤボンディングの振動数と一致しやす
くなるのは、屈曲振動モードにおける梁の固有振動数ω
2である。
【0053】こうしたことを鑑み、本実施形態では、こ
の屈曲振動の固有振動数ω2をワイヤボンディングの際
に印加される振動数とは異ならせ、ワイヤボンディング
時に変位部22が屈曲振動モードで共振しないように、
尚且つ、実動作時の検出振動の振動特性が確保できるよ
うに、変位部22を構成している。
【0054】即ち、本実施形態では、変位部22の屈曲
振動における固有振動数ω2がワイヤボンディングの際
に印加される振動数とは異なるように、梁連結部223
が調整された形状となっている。それによれば、検出振
動時(実動作時)において固定端となる梁連結部223
の形状を調整するだけであるので、この梁連結部223
の形状調整は、検出振動の特性を支配する第1の梁22
1及び第2の梁222には殆ど影響しない。そのため、
実動作時の変位部22の振動特性は確保される。
【0055】そして、変位部22の屈曲振動における固
有振動数ω2がワイヤボンディングの際に印加される振
動数とは異なるため、ワイヤボンディングの振動によっ
て、変位部22が屈曲振動モードで共振することを防止
でき、梁連結部223がその周囲部分に当たるのを防止
できる。従って、本実施形態によれば、実動作時の変位
部22の振動特性を確保しつつ、ワイヤボンディング時
の変位部22の破損を防止することができる。
【0056】ここで、ワイヤボンディングの際に印加さ
れる振動数をω0としたとき、変位部22の屈曲振動に
おける固有振動数ω2は、ω2≦(2−21/2)ω0、2
1/2ω0≦ω2の範囲にあることが好ましい。これは、振
動に関する分野においては、ある振動数ωによって振動
体が共振しないようにするには、その振動体の固有振動
数が、(2−21/2)ω以下または21/2ω以上とするの
が一般的であるためである。
【0057】具体的に、梁連結部223の形状の調整
は、変位部22の長手方向における梁連結部223の長
さL2や梁連結部223の重さを調整することで可能で
ある。それにより、第1の梁221及び第2の梁222
の長さL1を変えることなく、上記屈曲振動における固
定端から自由端までの長さ(L1+L2)を調整すること
ができる。
【0058】そのため、検出振動の固有振動数ω1を変
えずに実動作時の変位部22の振動特性を確保しつつ、
屈曲振動における固有振動数ω2を容易に調整すること
ができる。例えば、梁連結部223の長さL2を長くす
れば、変位部22の全体の長さ(L1+L2)も長くな
り、屈曲振動モードにおける固有振動数ω2を低くする
ことができる。
【0059】本センサ100において、上記した変位部
22の各パラメータの一例を示すと、第1及び第2の梁
のヤング率Eが約1.7×1011Pa、第1及び第2の
梁の厚さhが約15μm、第1及び第2の梁の幅W1
約4μm、第1及び第2の梁の長さL1が約290μ
m、梁連結部の長さL2が約18μmである。
【0060】また、本センサ100では、梁連結部22
3に、その一部を除去することにより形成された貫通孔
224が備えられている。この貫通孔24は、上記貫通
孔50と同様に、第2シリコン基板12の厚さ方向に貫
通する孔であり、図示例では、梁連結部223一箇所に
つき2個設けられている。この貫通孔224を設けたの
は、本発明者の次のような検討によるものである。
【0061】変位部22の屈曲振動において、比較的高
い周波数(例えば約100kHz)では、自由端である
梁連結部223の重さは振動に影響しないが、比較的低
い振動数(例えば約50kHz)で振動が行われる場
合、梁連結部223の重さが振動に影響する。
【0062】後者の場合、梁連結部223が重いほど屈
曲振動の振幅が大きくなり、振幅が大きくなりすぎると
梁連結部223がその周囲の溝14を介して対向する部
分に当たる可能性がある。その点、梁連結部223の一
部を除去することにより貫通孔224を形成すれば、梁
連結部223を軽くすることができるため、そのような
問題を回避しやすくなり、好ましい。ただし、本実施形
態にて貫通孔224は、無くても良い。
【0063】更に、この貫通孔224を、梁連結部22
3に少なくとも1個(図示例では2個)以上設けること
により、梁連結部223は、2個(図示例では3個)以
上のビームで第1の梁221の一端部と第2の梁222
の一端部とを連結した形となる。それにより、1個のビ
ームで連結する場合(貫通孔224の無い場合)に比べ
て、梁連結部223の剛性が高くなる。
【0064】梁連結部223は、実動作時、常に固定端
として応力が作用する。そのため、梁連結部223の剛
性を高くしないと、梁連結部223が上記Y方向(感度
軸方向)とは異なる方向へ変形し、Y方向以外の他軸に
て感度(他軸感度)が発生しやすくなる。そのため、梁
連結部223は、本例のように複数ビーム構造として剛
性を高くすることが好ましい。
【0065】なお、本発明は上記半導体加速度センサ1
00に適用するものに限らず、第1、第2の梁及び梁連
結部よりなる矩形状の変位部を備え、この変位部によっ
て可動電極を振動させ、可動電極と対向する固定電極と
の間の容量変化に基づいて力学量を検出するものであれ
ば、圧力センサ、ヨーレートセンサなどの力学量センサ
にも同様に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る半導体加速度センサの
平面構成図である。
【図2】図1中のA−A断面図である。
【図3】図1の変位部近傍の拡大図である。
【図4】変位部の振動モードの模式的説明図である。
【図5】図1に示す半導体加速度センサの検出回路図で
ある。
【図6】図5に示す検出回路に対するタイミングチャー
トの一例を示す図である。
【符号の説明】
10…SOI(シリコンオンインシュレータ)基板、2
0…可動電極、22…変位部、25a…可動電極パッ
ド、31、32…固定電極、31b、32b…固定電極
パッド、221…第1の梁、222…第2の梁、223
…梁連結部、224…貫通孔。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 支持基板(10)と、 中間部にて前記支持基板に連結されて支持された第1の
    梁(221)、この第1の梁と離間して平行に配置され
    た第2の梁(222)、及び、これら第1及び第2の梁
    の両端部を連結する梁連結部(223)を備えた枠形状
    をなす変位部(22)と、 前記第2の梁の中間部に連結された可動電極(20)
    と、 前記支持基板に支持され、前記可動電極に対向して配置
    された固定電極(31、32)と、 前記支持基板に形成され、前記可動電極及び前記固定電
    極を外部と電気的に接続するためのワイヤボンディング
    用の電極パッド(25a、31b、32b)とを備え、 力学量が印加されたとき、前記変位部における前記第1
    及び第2の梁が、その長手方向と直交する方向に前記梁
    連結部を固定端として検出振動を行い、 この検出振動に応じて前記可動電極が変位することによ
    り生じる前記可動電極と前記固定電極との間の容量変化
    に基づいて印加力学量を検出する容量式力学量センサに
    おいて、 前記変位部は、前記第1の梁における前記支持基板との
    連結部及び前記第2の梁における前記可動電極との連結
    部を固定端とし、前記梁連結部を自由端として、前記第
    1及び前記第2の梁が同一方向へ屈曲する屈曲振動がで
    きるようになっており、 前記変位部の前記屈曲振動における固有振動数が前記ワ
    イヤボンディングの際に印加される振動数とは異なるよ
    うに、前記梁連結部が調整された形状となっていること
    を特徴とする容量式力学量センサ。
  2. 【請求項2】 前記ワイヤボンディングの際に印加され
    る振動数をω0としたとき、前記変位部(22)の前記
    屈曲振動における固有振動数は、(2−21/ 2)ω0以下
    または21/2ω0以上であることを特徴とする請求項1に
    記載の容量式力学量センサ。
  3. 【請求項3】 支持基板(10)と、 中間部にて前記支持基板に連結されて支持された第1の
    梁(221)、この第1の梁と離間して平行に配置され
    た第2の梁(222)、及び、これら第1及び第2の梁
    の両端部を連結する梁連結部(223)を備えた枠形状
    をなす変位部(22)と、 前記第2の梁の中間部に連結された可動電極(20)
    と、 前記支持基板に支持され、前記可動電極に対向して配置
    された固定電極(31、32)と、 前記支持基板に形成され、前記可動電極及び前記固定電
    極を外部と電気的に接続するためのワイヤボンディング
    用の電極パッド(25a、31b、32b)とを備え、 力学量が印加されたとき、前記変位部における前記第1
    及び第2の梁が、その長手方向と直交する方向に前記梁
    連結部を固定端として検出振動を行い、 この検出振動に応じて前記可動電極が変位することによ
    り生じる前記可動電極と前記固定電極との間の容量変化
    に基づいて印加力学量を検出する容量式力学量センサに
    おいて、 前記変位部は、前記第1の梁における前記支持基板との
    連結部及び前記第2の梁における前記可動電極との連結
    部を固定端とし、前記梁連結部を自由端として、前記第
    1及び前記第2の梁が同一方向へ屈曲する屈曲振動モー
    ドを有するものであり、 前記ワイヤボンディングの際に印加される振動によって
    前記変位部が前記屈曲振動モードにて共振しないよう
    に、前記梁連結部が調整された形状となっていることを
    特徴とする容量式力学量センサ。
  4. 【請求項4】 前記梁連結部(223)の形状の調整
    は、前記変位部(22)の長手方向における前記梁連結
    部の長さを調整することを特徴とする請求項1ないし3
    のいずれか1つに記載の容量式力学量センサ。
  5. 【請求項5】 前記梁連結部(223)には、その一部
    を除去することにより形成された貫通孔(224)が備
    えられていることを特徴とする請求項1ないし4のいず
    れか1つに記載の容量式力学量センサ。
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