JP2002048761A - ガス濃度センサのヒータ制御装置 - Google Patents
ガス濃度センサのヒータ制御装置Info
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- JP2002048761A JP2002048761A JP2000238831A JP2000238831A JP2002048761A JP 2002048761 A JP2002048761 A JP 2002048761A JP 2000238831 A JP2000238831 A JP 2000238831A JP 2000238831 A JP2000238831 A JP 2000238831A JP 2002048761 A JP2002048761 A JP 2002048761A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】検出素子の劣化を好適に検出し、ひいては当該
検出素子の保護を図ること。 【解決手段】A/Fセンサ30は、エンジン排出ガス中
の酸素濃度にほぼ比例した限界電流を出力する検出素子
61と該検出素子61を加熱するヒータ64とを有す
る。マイコン21内のCPU22は、検出素子61のイ
ンピーダンスが目標値に一致するよう予め規定した通電
量の範囲内でヒータ64への通電をフィードバック制御
する。また、CPU22は、ヒータ通電のフィードバッ
ク制御が実施される場合に、ヒータ通電量が規定範囲の
上限値又はその近傍に達しているかどうかを判定し、ヒ
ータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍に達しその
状態が所定時間以上継続されると、検出素子61が劣化
している旨を判定する。CPU22は、検出素子61が
劣化している旨判定された場合、インピーダンスの目標
値を補正する。
検出素子の保護を図ること。 【解決手段】A/Fセンサ30は、エンジン排出ガス中
の酸素濃度にほぼ比例した限界電流を出力する検出素子
61と該検出素子61を加熱するヒータ64とを有す
る。マイコン21内のCPU22は、検出素子61のイ
ンピーダンスが目標値に一致するよう予め規定した通電
量の範囲内でヒータ64への通電をフィードバック制御
する。また、CPU22は、ヒータ通電のフィードバッ
ク制御が実施される場合に、ヒータ通電量が規定範囲の
上限値又はその近傍に達しているかどうかを判定し、ヒ
ータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍に達しその
状態が所定時間以上継続されると、検出素子61が劣化
している旨を判定する。CPU22は、検出素子61が
劣化している旨判定された場合、インピーダンスの目標
値を補正する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガス濃度センサの
ヒータ制御装置に係り、詳しくは、内燃機関の排出ガス
中の酸素濃度を検出する空燃比センサ等において、同セ
ンサを活性化するためのヒータの通電を好適に制御する
ための技術に関するものである。
ヒータ制御装置に係り、詳しくは、内燃機関の排出ガス
中の酸素濃度を検出する空燃比センサ等において、同セ
ンサを活性化するためのヒータの通電を好適に制御する
ための技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種のガス濃度センサとして、例え
ば、エンジンの排出ガス中の酸素濃度を検出する限界電
流式空燃比センサが知られており、当該センサのヒータ
制御装置として、特開平8−278279号公報、特開
平10−300716号公報などの技術が開示されてい
る。
ば、エンジンの排出ガス中の酸素濃度を検出する限界電
流式空燃比センサが知られており、当該センサのヒータ
制御装置として、特開平8−278279号公報、特開
平10−300716号公報などの技術が開示されてい
る。
【0003】また、空燃比センサは一般に、断面コップ
状を成すコップ型構造のものと、板状の検出素子やヒー
タ部材等を積層して構成される積層型構造のものとが知
られており、近年では、小型化、低コスト化に適し、且
つ検出素子の昇温特性に優れる積層型構造のものが多用
されつつある。この積層型構造の空燃比センサは、例え
ば特開平11−344466号公報に開示されており、
検出素子とヒータとが間近に配置され、素子温度とヒー
タ温度との差が比較的小さいことから、ヒータ抵抗の検
出値によるヒータ電力制御に代えて、検出素子の内部抵
抗(インピーダンス)によるヒータ通電制御が実施され
る。つまり、検出素子のインピーダンスが所定の目標値
になるよう、ヒータ通電量がフィードバック制御され
る。なお、積層型構造の空燃比センサでは、ヒータから
検出素子への伝熱効果が良好となるため、ヒータでの発
熱量を抑える、つまり電流値を小さくすることが可能と
なる。
状を成すコップ型構造のものと、板状の検出素子やヒー
タ部材等を積層して構成される積層型構造のものとが知
られており、近年では、小型化、低コスト化に適し、且
つ検出素子の昇温特性に優れる積層型構造のものが多用
されつつある。この積層型構造の空燃比センサは、例え
ば特開平11−344466号公報に開示されており、
検出素子とヒータとが間近に配置され、素子温度とヒー
タ温度との差が比較的小さいことから、ヒータ抵抗の検
出値によるヒータ電力制御に代えて、検出素子の内部抵
抗(インピーダンス)によるヒータ通電制御が実施され
る。つまり、検出素子のインピーダンスが所定の目標値
になるよう、ヒータ通電量がフィードバック制御され
る。なお、積層型構造の空燃比センサでは、ヒータから
検出素子への伝熱効果が良好となるため、ヒータでの発
熱量を抑える、つまり電流値を小さくすることが可能と
なる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検出素
子は、ヒータによる長時間の加熱やガソリン成分の被毒
などが原因で劣化し、インピーダンス特性が変化するお
それがある。この場合、インピーダンス特性の変化が原
因で素子温度が上昇し、この状態でヒータ通電を継続す
ることにより更なる熱劣化を助長するおそれがあった。
また、この状態で内燃機関から高温の排出ガスが排出さ
れると、素子温度がより一層上昇するおそれもある。
子は、ヒータによる長時間の加熱やガソリン成分の被毒
などが原因で劣化し、インピーダンス特性が変化するお
それがある。この場合、インピーダンス特性の変化が原
因で素子温度が上昇し、この状態でヒータ通電を継続す
ることにより更なる熱劣化を助長するおそれがあった。
また、この状態で内燃機関から高温の排出ガスが排出さ
れると、素子温度がより一層上昇するおそれもある。
【0005】本発明は、上記問題に着目してなされたも
のであって、その目的とするところは、検出素子の劣化
を好適に検出し、ひいては当該検出素子の保護を図るこ
とができるガス濃度センサのヒータ制御装置を提供する
ことである。
のであって、その目的とするところは、検出素子の劣化
を好適に検出し、ひいては当該検出素子の保護を図るこ
とができるガス濃度センサのヒータ制御装置を提供する
ことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】ガス濃度センサは、素子
抵抗(検出素子のインピーダンス)が目標値に一致する
よう予め規定した通電量の範囲内でヒータ通電量がフィ
ードバック制御される(ヒータ制御手段)。そして、こ
のヒータ通電制御にて検出素子が活性化されることによ
り、検出素子は、内燃機関の排出ガス中の特定成分濃度
にほぼ比例した限界電流を出力する。特に請求項1に記
載の発明では、ヒータ通電のフィードバック制御が実施
される場合に、ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はそ
の近傍にあれば、その状態から検出素子の劣化を判定す
る(劣化判定手段)。
抵抗(検出素子のインピーダンス)が目標値に一致する
よう予め規定した通電量の範囲内でヒータ通電量がフィ
ードバック制御される(ヒータ制御手段)。そして、こ
のヒータ通電制御にて検出素子が活性化されることによ
り、検出素子は、内燃機関の排出ガス中の特定成分濃度
にほぼ比例した限界電流を出力する。特に請求項1に記
載の発明では、ヒータ通電のフィードバック制御が実施
される場合に、ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はそ
の近傍にあれば、その状態から検出素子の劣化を判定す
る(劣化判定手段)。
【0007】要するに、検出素子が劣化すると素子抵抗
が大きくなるために目標値との偏差が大きくなり、その
偏差をなくすようなフィードバック制御を継続すると、
ヒータ通電量が大きくなってフィードバック制御の規定
範囲の上限値に達する。それ故に、ヒータ通電量が規定
範囲の上限値又はその付近にあれば、検出素子の劣化が
好適に検出できる。この場合、検出素子の劣化が正しく
検出できれば、それ以降のヒータ通電を制限したりする
ことにより検出素子の更なる劣化進行が抑制される。従
って、検出素子の保護を図ることが可能となる。
が大きくなるために目標値との偏差が大きくなり、その
偏差をなくすようなフィードバック制御を継続すると、
ヒータ通電量が大きくなってフィードバック制御の規定
範囲の上限値に達する。それ故に、ヒータ通電量が規定
範囲の上限値又はその付近にあれば、検出素子の劣化が
好適に検出できる。この場合、検出素子の劣化が正しく
検出できれば、それ以降のヒータ通電を制限したりする
ことにより検出素子の更なる劣化進行が抑制される。従
って、検出素子の保護を図ることが可能となる。
【0008】特に、固体電解質を有する検出素子にヒー
タを積層して配置した、いわゆる積層型構造のガス濃度
センサ(請求項11)では、温度特性に優れる反面、素
子割れ等の不具合が生じ易いが、本発明では、上記の通
り劣化判定を好適に行うことにより上記不具合が解消さ
れる。故に、素子保護等の効果がより一層有効的に得ら
れることとなる。
タを積層して配置した、いわゆる積層型構造のガス濃度
センサ(請求項11)では、温度特性に優れる反面、素
子割れ等の不具合が生じ易いが、本発明では、上記の通
り劣化判定を好適に行うことにより上記不具合が解消さ
れる。故に、素子保護等の効果がより一層有効的に得ら
れることとなる。
【0009】また、前記劣化判定手段としては、以下の
請求項2又は3の如く具体化されるのが望ましい。つま
り、 ・請求項2に記載の発明では、ヒータ通電量が規定範囲
の上限値又はその近傍に達しているかどうかを判定し、
ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍に達しそ
の状態が所定時間以上継続されると、検出素子が劣化し
ている旨を判定する。 ・請求項3に記載の発明では、アイドル運転時における
ヒータ通電量の平均値が前記規定範囲の上限値又はその
近傍にあれば、検出素子が劣化している旨を判定する。 これら何れの場合にも、検出素子が劣化していることが
正しく検出できる。
請求項2又は3の如く具体化されるのが望ましい。つま
り、 ・請求項2に記載の発明では、ヒータ通電量が規定範囲
の上限値又はその近傍に達しているかどうかを判定し、
ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍に達しそ
の状態が所定時間以上継続されると、検出素子が劣化し
ている旨を判定する。 ・請求項3に記載の発明では、アイドル運転時における
ヒータ通電量の平均値が前記規定範囲の上限値又はその
近傍にあれば、検出素子が劣化している旨を判定する。 これら何れの場合にも、検出素子が劣化していることが
正しく検出できる。
【0010】また、請求項4に記載の発明では、検出素
子が劣化している旨判定された場合、素子抵抗の目標値
を補正するので、検出素子の劣化状態(劣化の程度)に
応じたヒータ通電制御を実施することができる。この場
合、素子劣化時にも、検出素子の温度を望み通りに制御
することが可能となる。これにより、検出素子の過剰な
温度上昇が抑制され、検出素子が保護できる。
子が劣化している旨判定された場合、素子抵抗の目標値
を補正するので、検出素子の劣化状態(劣化の程度)に
応じたヒータ通電制御を実施することができる。この場
合、素子劣化時にも、検出素子の温度を望み通りに制御
することが可能となる。これにより、検出素子の過剰な
温度上昇が抑制され、検出素子が保護できる。
【0011】かかる場合、請求項5に記載したように、
前記補正手段は、素子抵抗の偏差をなくすようにその目
標値を徐変させると良い。このとき、素子抵抗の偏差を
なましつつ補正したり、比較的小さな所定値にて補正し
たりすると良い。
前記補正手段は、素子抵抗の偏差をなくすようにその目
標値を徐変させると良い。このとき、素子抵抗の偏差を
なましつつ補正したり、比較的小さな所定値にて補正し
たりすると良い。
【0012】更に、請求項6に記載したように、前記補
正手段は、素子抵抗の目標値を増加側にのみ補正すると
良い。つまり、ガス濃度センサ(検出素子)が内燃機関
の排出ガスに晒される場合、排出ガスの温度が高いと、
排出ガスからの受熱により素子抵抗の偏差が一時的に小
さくなり、素子劣化に伴い一旦増加側に補正された素子
抵抗の目標値が誤って減少側に再補正されてしまうこと
が懸念される。しかしながら、目標値の補正を増加側に
限定することにより、素子抵抗の目標値が誤って補正さ
れるといった不都合が防止される。
正手段は、素子抵抗の目標値を増加側にのみ補正すると
良い。つまり、ガス濃度センサ(検出素子)が内燃機関
の排出ガスに晒される場合、排出ガスの温度が高いと、
排出ガスからの受熱により素子抵抗の偏差が一時的に小
さくなり、素子劣化に伴い一旦増加側に補正された素子
抵抗の目標値が誤って減少側に再補正されてしまうこと
が懸念される。しかしながら、目標値の補正を増加側に
限定することにより、素子抵抗の目標値が誤って補正さ
れるといった不都合が防止される。
【0013】また、上記請求項6に代えて、請求項7に
記載したように、内燃機関からの排出ガスが比較的低い
状態である場合にのみ、素子抵抗の目標値を補正するよ
うにしても良い。例えば、内燃機関のアイドル時には排
出ガスの温度が低く、排出ガスの温度による影響が少な
いと考えられる。故に、こうしたアイドル運転時などに
限定して補正を行うことにより、誤った補正が防止でき
る。
記載したように、内燃機関からの排出ガスが比較的低い
状態である場合にのみ、素子抵抗の目標値を補正するよ
うにしても良い。例えば、内燃機関のアイドル時には排
出ガスの温度が低く、排出ガスの温度による影響が少な
いと考えられる。故に、こうしたアイドル運転時などに
限定して補正を行うことにより、誤った補正が防止でき
る。
【0014】請求項8に記載の発明では、前記補正手段
により補正する毎に該補正した素子抵抗の目標値を一時
記憶メモリに記憶し、それよりも長い時間間隔で、前記
一時記憶メモリに記憶した素子抵抗の目標値をバックア
ップ用メモリに記憶する。本発明では、素子抵抗の目標
値が誤って補正されたとしても、それは一時記憶メモリ
(ノーマルRAM)に一旦記憶され、直ぐにバックアッ
プ用メモリ(スタンバイRAM)に記憶されることはな
い。それ故、素子抵抗の目標値が誤学習されるといった
不都合は生じない。
により補正する毎に該補正した素子抵抗の目標値を一時
記憶メモリに記憶し、それよりも長い時間間隔で、前記
一時記憶メモリに記憶した素子抵抗の目標値をバックア
ップ用メモリに記憶する。本発明では、素子抵抗の目標
値が誤って補正されたとしても、それは一時記憶メモリ
(ノーマルRAM)に一旦記憶され、直ぐにバックアッ
プ用メモリ(スタンバイRAM)に記憶されることはな
い。それ故、素子抵抗の目標値が誤学習されるといった
不都合は生じない。
【0015】請求項9に記載の発明では、内燃機関の始
動に伴うヒータ通電の開始当初には、バックアップ用メ
モリに記憶された目標値を読み出し、それをヒータ通電
のフィードバック制御に用いる。これにより、内燃機関
の始動当初から前回学習した目標値を用いて好適なヒー
タ通電制御を実施することができる。
動に伴うヒータ通電の開始当初には、バックアップ用メ
モリに記憶された目標値を読み出し、それをヒータ通電
のフィードバック制御に用いる。これにより、内燃機関
の始動当初から前回学習した目標値を用いて好適なヒー
タ通電制御を実施することができる。
【0016】また、請求項10に記載したように、内燃
機関の空燃比制御システムに適用する場合には、上記し
た通りガス濃度センサのヒータ通電が好適に実施される
ことにより、ガス濃度センサ(空燃比センサ)の適正な
活性状態が維持され、空燃比を正しく検出することが可
能となる。故に、空燃比制御を精度良く実施することが
できる。
機関の空燃比制御システムに適用する場合には、上記し
た通りガス濃度センサのヒータ通電が好適に実施される
ことにより、ガス濃度センサ(空燃比センサ)の適正な
活性状態が維持され、空燃比を正しく検出することが可
能となる。故に、空燃比制御を精度良く実施することが
できる。
【0017】
【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、この
発明を車載エンジンの空燃比制御システムに具体化した
一実施の形態を図面に従って説明する。本制御システム
は、空燃比センサ(A/Fセンサ)による検出結果を基
にエンジンへの燃料噴射量を所望の空燃比にて制御する
ものであり、本実施の形態では特に、A/Fセンサを良
好に活性化するためのヒータ通電制御の内容を中心に以
下に詳しく説明する。
発明を車載エンジンの空燃比制御システムに具体化した
一実施の形態を図面に従って説明する。本制御システム
は、空燃比センサ(A/Fセンサ)による検出結果を基
にエンジンへの燃料噴射量を所望の空燃比にて制御する
ものであり、本実施の形態では特に、A/Fセンサを良
好に活性化するためのヒータ通電制御の内容を中心に以
下に詳しく説明する。
【0018】図1は、本実施の形態における空燃比制御
システムの概要を示す全体構成図である。図1におい
て、限界電流式空燃比センサ(以下、A/Fセンサとい
う)30は、エンジン10のエンジン本体11から延び
る排気管12に取り付けられており、電子制御ユニット
(以下、ECUという)20から指令される電圧の印加
に伴い、排ガス中の酸素濃度に比例したリニアな空燃比
検出信号(センサ電流信号)を出力する。
システムの概要を示す全体構成図である。図1におい
て、限界電流式空燃比センサ(以下、A/Fセンサとい
う)30は、エンジン10のエンジン本体11から延び
る排気管12に取り付けられており、電子制御ユニット
(以下、ECUという)20から指令される電圧の印加
に伴い、排ガス中の酸素濃度に比例したリニアな空燃比
検出信号(センサ電流信号)を出力する。
【0019】ECU20は、各種制御の中枢をなすマイ
クロコンピュータ(以下、マイコンという)21を備え
ており、マイコン21は、各種の演算プログラムを実行
するCPU22と、各種プログラムや制御データを予め
記憶するROM23と、演算データを一時的に記憶する
NRAM(ノーマルRAM)24と、電源遮断時にも記
憶内容を保持するデータバックアップ用のSRAM(ス
タンバイRAM)25等により構成されている。マイコ
ン21は、エンジン10の燃料噴射制御や点火制御を実
施する他に、A/Fセンサ30への印加電圧制御や同セ
ンサ30のヒータ通電制御を実施する。
クロコンピュータ(以下、マイコンという)21を備え
ており、マイコン21は、各種の演算プログラムを実行
するCPU22と、各種プログラムや制御データを予め
記憶するROM23と、演算データを一時的に記憶する
NRAM(ノーマルRAM)24と、電源遮断時にも記
憶内容を保持するデータバックアップ用のSRAM(ス
タンバイRAM)25等により構成されている。マイコ
ン21は、エンジン10の燃料噴射制御や点火制御を実
施する他に、A/Fセンサ30への印加電圧制御や同セ
ンサ30のヒータ通電制御を実施する。
【0020】A/Fセンサ30に関する制御を略述すれ
ば、マイコン21は、A/Fセンサ30に電圧を印加す
るためのバイアス指令信号Vrを、D/A変換器26及
びLPF(ローパスフィルタ)27を介してバイアス制
御回路40に出力する。このとき、D/A変換器26に
てバイアス指令信号Vrがアナログ信号Vbに変換さ
れ、更にLPF27にてアナログ信号Vbの高周波成分
が除去された後、出力電圧Vcがバイアス制御回路40
に入力される。
ば、マイコン21は、A/Fセンサ30に電圧を印加す
るためのバイアス指令信号Vrを、D/A変換器26及
びLPF(ローパスフィルタ)27を介してバイアス制
御回路40に出力する。このとき、D/A変換器26に
てバイアス指令信号Vrがアナログ信号Vbに変換さ
れ、更にLPF27にてアナログ信号Vbの高周波成分
が除去された後、出力電圧Vcがバイアス制御回路40
に入力される。
【0021】バイアス制御回路40内の電流検出回路5
0は、A/Fセンサ30への電圧の印加に伴い流れる電
流値を検出する。当該電流検出回路50にて検出された
電流値のアナログ信号は、A/D変換器28を介してマ
イコン21に入力される。マイコン21は、所定の時間
周期(例えば数ミリ秒毎)でセンサ電流を取り込み、そ
の電流値をA/Fに変換する。また、A/Fセンサ30
のインピーダンス検出に際しては、マイコン21から出
力される矩形状のバイアス指令信号Vrにより、単発的
で且つ所定の時定数を持った電圧がA/Fセンサ30に
印加される。
0は、A/Fセンサ30への電圧の印加に伴い流れる電
流値を検出する。当該電流検出回路50にて検出された
電流値のアナログ信号は、A/D変換器28を介してマ
イコン21に入力される。マイコン21は、所定の時間
周期(例えば数ミリ秒毎)でセンサ電流を取り込み、そ
の電流値をA/Fに変換する。また、A/Fセンサ30
のインピーダンス検出に際しては、マイコン21から出
力される矩形状のバイアス指令信号Vrにより、単発的
で且つ所定の時定数を持った電圧がA/Fセンサ30に
印加される。
【0022】更に、マイコン21は、ヒータ制御回路2
9に対してヒータ制御信号を出力する。これにより、A
/Fセンサ30に設けられたヒータ64の通電がデュー
ティ制御される。
9に対してヒータ制御信号を出力する。これにより、A
/Fセンサ30に設けられたヒータ64の通電がデュー
ティ制御される。
【0023】A/Fセンサ30は、積層型のセンサ素子
部(セル)60を有するものであって、その構成を図2
及び図3を用いて説明する。ここで、図2は、A/Fセ
ンサ30の全体構成を示す断面図、図3は、A/Fセン
サ30を構成するセンサ素子部60の断面図である。
部(セル)60を有するものであって、その構成を図2
及び図3を用いて説明する。ここで、図2は、A/Fセ
ンサ30の全体構成を示す断面図、図3は、A/Fセン
サ30を構成するセンサ素子部60の断面図である。
【0024】図2に示されるように、A/Fセンサ30
は、排気管壁に螺着される筒状の金属製ハウジング31
を有し、そのハウジング31の下側開口部には素子カバ
ー32が取り付けられている。素子カバー32内には、
長板状のセンサ素子部60の先端(下端)が配設されて
いる。素子カバー32は有底二重構造をなし、排ガスを
カバー内部に取り込むための複数の排気口32aを有す
る。センサ素子部60は、ハウジング31内に配設され
た絶縁部材33を貫通するように図の上方に延び、その
上端部には一対のリード部34が接続されている。
は、排気管壁に螺着される筒状の金属製ハウジング31
を有し、そのハウジング31の下側開口部には素子カバ
ー32が取り付けられている。素子カバー32内には、
長板状のセンサ素子部60の先端(下端)が配設されて
いる。素子カバー32は有底二重構造をなし、排ガスを
カバー内部に取り込むための複数の排気口32aを有す
る。センサ素子部60は、ハウジング31内に配設され
た絶縁部材33を貫通するように図の上方に延び、その
上端部には一対のリード部34が接続されている。
【0025】ハウジング31の上端には本体カバー35
がカシメ着されている。また、本体カバー35の上方に
はダストカバー36が取り付けられ、これら本体カバー
35及びダストカバー36の二重構造によりセンサ上部
が保護される。各カバー35,36には、カバー内部に
大気を取り込むための複数の大気口35a,36aが設
けられている。
がカシメ着されている。また、本体カバー35の上方に
はダストカバー36が取り付けられ、これら本体カバー
35及びダストカバー36の二重構造によりセンサ上部
が保護される。各カバー35,36には、カバー内部に
大気を取り込むための複数の大気口35a,36aが設
けられている。
【0026】次に、センサ素子部60の構成を図3を用
いて説明する。センサ素子部60は大別して、固体電解
質からなる検出素子61、ガス拡散抵抗層62、大気導
入ダクト63及びヒータ64からなり、これら各部材を
積層して構成されている。また、各部材の周囲には保護
層65が設けられている。
いて説明する。センサ素子部60は大別して、固体電解
質からなる検出素子61、ガス拡散抵抗層62、大気導
入ダクト63及びヒータ64からなり、これら各部材を
積層して構成されている。また、各部材の周囲には保護
層65が設けられている。
【0027】長方形板状の検出素子(固体電解質)61
は部分安定化ジルコニア製のシートであり、その上面
(ガス拡散抵抗層62側)には白金等からなる多孔質の
計測電極66が形成されると共に、下面(大気導入ダク
ト63側)には同じく白金等からなる多孔質の大気側電
極67が形成されている。計測電極66及び大気側電極
67には、リード部66a,67aが接続されており、
その先はECU20に接続されている。
は部分安定化ジルコニア製のシートであり、その上面
(ガス拡散抵抗層62側)には白金等からなる多孔質の
計測電極66が形成されると共に、下面(大気導入ダク
ト63側)には同じく白金等からなる多孔質の大気側電
極67が形成されている。計測電極66及び大気側電極
67には、リード部66a,67aが接続されており、
その先はECU20に接続されている。
【0028】ガス拡散抵抗層62は、計測電極66へ排
ガスを導入するための多孔質シートからなるガス透過層
62aと、排ガスの透過を抑制するための緻密層からな
るガス遮蔽層62bとを有する。ガス透過層62a及び
ガス遮蔽層62bは何れも、アルミナ、スピネル、ジル
コニア等のセラミックスをシート成形法等により成形し
たものであるが、ポロシティの平均孔径及び気孔率の違
いによりガス透過率が相違するものとなっている。この
場合、ガス透過層62aの表面はガス遮蔽層62bに被
われているため、センサ素子部周囲の排ガスはガス透過
層62aの側方(図の左右方向)から侵入し、計測電極
66に達する。
ガスを導入するための多孔質シートからなるガス透過層
62aと、排ガスの透過を抑制するための緻密層からな
るガス遮蔽層62bとを有する。ガス透過層62a及び
ガス遮蔽層62bは何れも、アルミナ、スピネル、ジル
コニア等のセラミックスをシート成形法等により成形し
たものであるが、ポロシティの平均孔径及び気孔率の違
いによりガス透過率が相違するものとなっている。この
場合、ガス透過層62aの表面はガス遮蔽層62bに被
われているため、センサ素子部周囲の排ガスはガス透過
層62aの側方(図の左右方向)から侵入し、計測電極
66に達する。
【0029】大気導入ダクト63はアルミナ等の高熱伝
導性セラミックスからなり、同ダクト63により大気室
68が形成されている。この大気導入ダクト63は大気
室68内の大気側電極67に大気を導入する役割をな
す。因みに、大気室68は、前記図2に示すカバー3
5,36の大気口35a,36aに連通している。
導性セラミックスからなり、同ダクト63により大気室
68が形成されている。この大気導入ダクト63は大気
室68内の大気側電極67に大気を導入する役割をな
す。因みに、大気室68は、前記図2に示すカバー3
5,36の大気口35a,36aに連通している。
【0030】大気導入ダクト63の下面にはヒータ64
が取り付けられている。ヒータ64は、車載バッテリか
らの通電により発熱する発熱体64aと、それを覆う絶
縁シート64bとからなり、発熱体64aの両端にはリ
ード部64cが接続されている。但し、図3の構成以外
に、発熱体64aを検出素子61に埋設したり、発熱体
64aをガス拡散抵抗層62に埋設したりする構成も可
能である。
が取り付けられている。ヒータ64は、車載バッテリか
らの通電により発熱する発熱体64aと、それを覆う絶
縁シート64bとからなり、発熱体64aの両端にはリ
ード部64cが接続されている。但し、図3の構成以外
に、発熱体64aを検出素子61に埋設したり、発熱体
64aをガス拡散抵抗層62に埋設したりする構成も可
能である。
【0031】上記構成のA/Fセンサ30は、図4に示
す電圧−電流特性を持つ。すなわち、センサ素子部60
(検出素子61)は、酸素濃度を直線的特性にて検出し
得るものであり、酸素濃度に応じた限界電流を発生す
る。限界電流(センサ電流)の増減はA/F値の増減
(すなわち、リーン・リッチの程度)に対応しており、
A/F値がリーン側になるほど限界電流は増大し、A/
F値がリッチ側になるほど限界電流は減少する。ここ
で、検出素子61のインピーダンス(素子抵抗)と同素
子61の温度(素子温度)とは相関があり、素子温度が
上昇するほど、インピーダンスが低下する傾向にある。
この場合、検出素子61のインピーダンスが目標値(例
えば30Ω)になるようヒータ通電をF/B制御するこ
とにより、素子温度が目標温度(例えば750℃)に保
持される。
す電圧−電流特性を持つ。すなわち、センサ素子部60
(検出素子61)は、酸素濃度を直線的特性にて検出し
得るものであり、酸素濃度に応じた限界電流を発生す
る。限界電流(センサ電流)の増減はA/F値の増減
(すなわち、リーン・リッチの程度)に対応しており、
A/F値がリーン側になるほど限界電流は増大し、A/
F値がリッチ側になるほど限界電流は減少する。ここ
で、検出素子61のインピーダンス(素子抵抗)と同素
子61の温度(素子温度)とは相関があり、素子温度が
上昇するほど、インピーダンスが低下する傾向にある。
この場合、検出素子61のインピーダンスが目標値(例
えば30Ω)になるようヒータ通電をF/B制御するこ
とにより、素子温度が目標温度(例えば750℃)に保
持される。
【0032】次に、ヒータ通電制御の概要について説明
する。ここで、図6〜図8は、何れもマイコン21内の
CPU22により実施される制御プログラムを示すフロ
ーチャートであり、このうち図6は、エンジン始動時に
イニシャルルーチンとして実行される。また、図7はヒ
ータ制御量算出ルーチンであり、例えば131ミリ秒毎
に実行される。図8は目標インピーダンス更新処理であ
り、例えば1秒毎に実行される。
する。ここで、図6〜図8は、何れもマイコン21内の
CPU22により実施される制御プログラムを示すフロ
ーチャートであり、このうち図6は、エンジン始動時に
イニシャルルーチンとして実行される。また、図7はヒ
ータ制御量算出ルーチンであり、例えば131ミリ秒毎
に実行される。図8は目標インピーダンス更新処理であ
り、例えば1秒毎に実行される。
【0033】さて、エンジン始動に伴い図6の処理が起
動すると、ステップ101では、SRAM25に既に記
憶されている目標インピーダンスZtg(前回までの学
習値)を読み出し、そのZtgをNRAM24に記憶す
る。以降、NRAM24のZtg値を用いたヒータ64
の通電制御が可能となり、前回運転時までの学習結果を
反映したヒータ制御が実施されるようになる。
動すると、ステップ101では、SRAM25に既に記
憶されている目標インピーダンスZtg(前回までの学
習値)を読み出し、そのZtgをNRAM24に記憶す
る。以降、NRAM24のZtg値を用いたヒータ64
の通電制御が可能となり、前回運転時までの学習結果を
反映したヒータ制御が実施されるようになる。
【0034】一方、図7では、大きくは全通電制御、第
1のヒータF/B制御、第2のヒータF/B制御が順次
実施されるようになっており、概略として、エンジンの
始動当初には全通電制御が実施され、その全通電制御で
はヒータ制御量(Duty)が100%で制御される。
また、全通電制御に引き続き第1のヒータF/B制御が
実施され、この第1のヒータF/B制御では、インピー
ダンスの偏差に応じてヒータ制御量(Duty)が0〜
80%の規定範囲内で制御される。更に、第1のヒータ
F/B制御に引き続き第2のヒータF/B制御が実施さ
れ、この第2のヒータF/B制御では、インピーダンス
の偏差に応じてヒータ制御量(Duty)が0〜60%
の規定範囲内で制御される。
1のヒータF/B制御、第2のヒータF/B制御が順次
実施されるようになっており、概略として、エンジンの
始動当初には全通電制御が実施され、その全通電制御で
はヒータ制御量(Duty)が100%で制御される。
また、全通電制御に引き続き第1のヒータF/B制御が
実施され、この第1のヒータF/B制御では、インピー
ダンスの偏差に応じてヒータ制御量(Duty)が0〜
80%の規定範囲内で制御される。更に、第1のヒータ
F/B制御に引き続き第2のヒータF/B制御が実施さ
れ、この第2のヒータF/B制御では、インピーダンス
の偏差に応じてヒータ制御量(Duty)が0〜60%
の規定範囲内で制御される。
【0035】具体的には、センサ新品時のインピーダン
ス特性を示す図10において、実インピーダンスZre
と素子温度とが図の実線の関係にあり、目標インピーダ
ンスZtgが素子温度750℃相当の「30Ω」である
場合、インピーダンスの偏差ΔZ(=Zre−Ztg)
が所定値K1(例えば、20Ω)よりも大きければ、全
通電制御が実施される。また、インピーダンスの偏差Δ
Zが所定値K2〜K1の範囲内(例えば、10〜20
Ω)にあれば、第1のヒータF/B制御が実施され、Δ
Zが所定値K2(例えば、10Ω)よりも小さければ、
第2のヒータF/B制御が実施される。
ス特性を示す図10において、実インピーダンスZre
と素子温度とが図の実線の関係にあり、目標インピーダ
ンスZtgが素子温度750℃相当の「30Ω」である
場合、インピーダンスの偏差ΔZ(=Zre−Ztg)
が所定値K1(例えば、20Ω)よりも大きければ、全
通電制御が実施される。また、インピーダンスの偏差Δ
Zが所定値K2〜K1の範囲内(例えば、10〜20
Ω)にあれば、第1のヒータF/B制御が実施され、Δ
Zが所定値K2(例えば、10Ω)よりも小さければ、
第2のヒータF/B制御が実施される。
【0036】更に、第2のヒータF/B制御が実施され
るとき、ヒータ制御量(Duty)がF/B制御範囲の
上限値(60%)のまま継続されると、検出素子61が
劣化している旨が判定される。つまり、検出素子61が
劣化すると目標値に対するインピーダンスの偏差が大き
くなり、その偏差をなくすようなF/B制御を継続する
と、Dutyが大きくなってF/B制御範囲の上限値に
達する。このことから、検出素子61の劣化が検出され
るようになっている。
るとき、ヒータ制御量(Duty)がF/B制御範囲の
上限値(60%)のまま継続されると、検出素子61が
劣化している旨が判定される。つまり、検出素子61が
劣化すると目標値に対するインピーダンスの偏差が大き
くなり、その偏差をなくすようなF/B制御を継続する
と、Dutyが大きくなってF/B制御範囲の上限値に
達する。このことから、検出素子61の劣化が検出され
るようになっている。
【0037】なおここで、実インピーダンスZreは、
周知の掃引法により検出されるようになっており、詳し
くは図5に示すように、A/Fセンサ30の印加電圧を
一時的に正方向及び負方向に変化させる。そして、この
電圧変化時における正負何れか一方の電圧変化量ΔVと
電流変化量ΔIとから実インピーダンスZreを算出す
る(Zre=ΔV/ΔI)。以下、ヒータ通電の詳しい
内容を図7に従い説明する。
周知の掃引法により検出されるようになっており、詳し
くは図5に示すように、A/Fセンサ30の印加電圧を
一時的に正方向及び負方向に変化させる。そして、この
電圧変化時における正負何れか一方の電圧変化量ΔVと
電流変化量ΔIとから実インピーダンスZreを算出す
る(Zre=ΔV/ΔI)。以下、ヒータ通電の詳しい
内容を図7に従い説明する。
【0038】先ず図7のステップ201では、検出素子
61の劣化判定を行う。ここで、劣化判定は、第2のヒ
ータF/B制御が実施される場合に、ヒータ制御量(D
uty)が上限値(60%)のまま所定時間以上継続さ
れているかどうかにより行い、実際には、エンジン始動
後300秒が経過していることを前提に、後述するカウ
ンタCmaxの値が所定時間(例えば20秒)以上であ
れば、検出素子61が劣化している旨を判定する。
61の劣化判定を行う。ここで、劣化判定は、第2のヒ
ータF/B制御が実施される場合に、ヒータ制御量(D
uty)が上限値(60%)のまま所定時間以上継続さ
れているかどうかにより行い、実際には、エンジン始動
後300秒が経過していることを前提に、後述するカウ
ンタCmaxの値が所定時間(例えば20秒)以上であ
れば、検出素子61が劣化している旨を判定する。
【0039】素子劣化でなければ、そのままステップ2
04に進む。また、素子劣化であればステップ202に
進み、目標インピーダンスZtgの補正を行う。つま
り、ステップ202では、インピーダンスの偏差ΔZに
応じて、NRAM値である目標インピーダンスZtgを
補正する。但し、目標インピーダンスZtg(NRAM
値)の補正は増加側にのみ限って行うこととしており、
その理由については後述する。
04に進む。また、素子劣化であればステップ202に
進み、目標インピーダンスZtgの補正を行う。つま
り、ステップ202では、インピーダンスの偏差ΔZに
応じて、NRAM値である目標インピーダンスZtgを
補正する。但し、目標インピーダンスZtg(NRAM
値)の補正は増加側にのみ限って行うこととしており、
その理由については後述する。
【0040】この目標インピーダンスZtgの補正に際
し、なまし演算等の手法を用いて補正を行うのが望まし
く、一例として、 Ztg=Ztg(i−1)+ΔZ/4 といった演算により目標インピーダンスの前回値Ztg
(i−1)を補正し、今回値を算出する。なお、上記補
正には、前回処理時のΔZ値を用いればよい。勿論、比
較的小さな一定の更新量αで目標インピーダンスZtg
を補正する構成でも良い(Ztg=Ztg(i−1)+
αとする)。目標インピーダンスZtgの補正後、ステ
ップ203では、カウンタCmaxをクリアする。
し、なまし演算等の手法を用いて補正を行うのが望まし
く、一例として、 Ztg=Ztg(i−1)+ΔZ/4 といった演算により目標インピーダンスの前回値Ztg
(i−1)を補正し、今回値を算出する。なお、上記補
正には、前回処理時のΔZ値を用いればよい。勿論、比
較的小さな一定の更新量αで目標インピーダンスZtg
を補正する構成でも良い(Ztg=Ztg(i−1)+
αとする)。目標インピーダンスZtgの補正後、ステ
ップ203では、カウンタCmaxをクリアする。
【0041】その後、ステップ204では、実インピー
ダンスZreと目標インピーダンスZtgとから偏差Δ
Zを算出する(ΔZ=Zre−Ztg)。次に、ステッ
プ205では、ヒータ制御の許可条件が成立するか否か
を判別する。この許可条件としては、・エンジン始動後
にエンジン回転数が所定値(例えば200rpm)以上
に上昇したこと、 ・バッテリ電圧が低下していないこと、 ・ヒータ制御に関与するその他のセンサの異常がないこ
と、 等を含み、これらが成立する場合にヒータ制御が許可さ
れる。ヒータ制御の許可条件が不成立の場合、ステップ
206に進み、ヒータ制御量(Duty)を0%とす
る。
ダンスZreと目標インピーダンスZtgとから偏差Δ
Zを算出する(ΔZ=Zre−Ztg)。次に、ステッ
プ205では、ヒータ制御の許可条件が成立するか否か
を判別する。この許可条件としては、・エンジン始動後
にエンジン回転数が所定値(例えば200rpm)以上
に上昇したこと、 ・バッテリ電圧が低下していないこと、 ・ヒータ制御に関与するその他のセンサの異常がないこ
と、 等を含み、これらが成立する場合にヒータ制御が許可さ
れる。ヒータ制御の許可条件が不成立の場合、ステップ
206に進み、ヒータ制御量(Duty)を0%とす
る。
【0042】また、ヒータ制御の許可条件が成立した場
合はステップ207に進み、ヒータ全通電を実施するか
否かを判別する。ヒータ全通電の実施条件としては、全
通電の開始後の経過時間が所定時間(例えば10秒)以
内であり、且つインピーダンス偏差ΔZ(=Zre−Z
tg)が所定値K1以上であることを含み、エンジンの
低温始動時等においては実インピーダンスZreが非常
に大きな値であることから、ステップ207がYESと
なり、ヒータ全通電を実施する。つまり、ステップ20
8に進み、ヒータ制御量(Duty)を100%とす
る。
合はステップ207に進み、ヒータ全通電を実施するか
否かを判別する。ヒータ全通電の実施条件としては、全
通電の開始後の経過時間が所定時間(例えば10秒)以
内であり、且つインピーダンス偏差ΔZ(=Zre−Z
tg)が所定値K1以上であることを含み、エンジンの
低温始動時等においては実インピーダンスZreが非常
に大きな値であることから、ステップ207がYESと
なり、ヒータ全通電を実施する。つまり、ステップ20
8に進み、ヒータ制御量(Duty)を100%とす
る。
【0043】また、ステップ207がNOであればステ
ップ209に進み、インピーダンスの偏差ΔZが所定値
K2よりも大きいか否かを判別する。そして、ステップ
209がYESであればステップ210に進み、第1の
ヒータF/B制御を実施する。このとき、前述した通り
0〜80%の範囲でDutyが設定される。但し実際に
は、エンジンの始動直後はインピーダンスの偏差ΔZが
未だ大きいため、80%付近のDutyが設定されるこ
ととなる。
ップ209に進み、インピーダンスの偏差ΔZが所定値
K2よりも大きいか否かを判別する。そして、ステップ
209がYESであればステップ210に進み、第1の
ヒータF/B制御を実施する。このとき、前述した通り
0〜80%の範囲でDutyが設定される。但し実際に
は、エンジンの始動直後はインピーダンスの偏差ΔZが
未だ大きいため、80%付近のDutyが設定されるこ
ととなる。
【0044】また、ステップ209がNOの場合、ステ
ップ211に進み、第2のヒータF/B制御を実施す
る。このとき、前述した通り0〜60%の範囲でDut
yが設定される。本実施の形態の場合、インピーダンス
の偏差ΔZに応じて、ヒータ制御量(Duty)が0
%,20%,40%,60%の何れかに設定されるよう
になっている(但し、第1のヒータF/B制御では、こ
れに80%が加わる)。図10を用いて具体的に説明す
れば、・素子温度が目標値よりも高温の場合において、
ΔZ<−K4であれば、Duty=0%とし、ΔZ=−
K3〜−K4であれば、Duty=20%とする。・素
子温度が目標値付近にあれば、すなわち、|ΔZ|≦K
3であれば、この温度が保持できるようDuty=40
%とする。・素子温度が目標値よりも低温の場合におい
て、ΔZ=K3〜K2であれば、Duty=60%とす
る。
ップ211に進み、第2のヒータF/B制御を実施す
る。このとき、前述した通り0〜60%の範囲でDut
yが設定される。本実施の形態の場合、インピーダンス
の偏差ΔZに応じて、ヒータ制御量(Duty)が0
%,20%,40%,60%の何れかに設定されるよう
になっている(但し、第1のヒータF/B制御では、こ
れに80%が加わる)。図10を用いて具体的に説明す
れば、・素子温度が目標値よりも高温の場合において、
ΔZ<−K4であれば、Duty=0%とし、ΔZ=−
K3〜−K4であれば、Duty=20%とする。・素
子温度が目標値付近にあれば、すなわち、|ΔZ|≦K
3であれば、この温度が保持できるようDuty=40
%とする。・素子温度が目標値よりも低温の場合におい
て、ΔZ=K3〜K2であれば、Duty=60%とす
る。
【0045】その後、ステップ212では、その時のD
utyが上限(60%又はその近傍)にあるか否かを判
別する。そして、YESであればステップ213に進
み、カウンタCmaxをインクリメントする。また、ス
テップ212がNOであればステップ214に進み、カ
ウンタCmaxをクリアする(ステップ208,210
の処理後も同様)。上記ステップ212,213によれ
ば、第2のヒータF/B制御が実施される場合において
ヒータ制御量(Duty)が上限値のまま継続される
と、その継続時間が計測される。A/Fセンサ30の劣
化時には、ステップ212がYESとなる状態が続くた
め、カウンタCmaxがカウントアップされていく。
utyが上限(60%又はその近傍)にあるか否かを判
別する。そして、YESであればステップ213に進
み、カウンタCmaxをインクリメントする。また、ス
テップ212がNOであればステップ214に進み、カ
ウンタCmaxをクリアする(ステップ208,210
の処理後も同様)。上記ステップ212,213によれ
ば、第2のヒータF/B制御が実施される場合において
ヒータ制御量(Duty)が上限値のまま継続される
と、その継続時間が計測される。A/Fセンサ30の劣
化時には、ステップ212がYESとなる状態が続くた
め、カウンタCmaxがカウントアップされていく。
【0046】最後に、ステップ215では、ヒータ制御
量の急変を防止すべく、今回設定したヒータ制御量(D
uty)になまし処理を実施する。例えば、 Duty=(3×Duty(i−1)+今回Duty)
/4 といった演算によりDutyを設定する。
量の急変を防止すべく、今回設定したヒータ制御量(D
uty)になまし処理を実施する。例えば、 Duty=(3×Duty(i−1)+今回Duty)
/4 といった演算によりDutyを設定する。
【0047】なお本実施の形態では、ステップ209〜
211が本発明の「ヒータ制御手段」に相当し、ステッ
プ201が「劣化判定手段」に相当し、ステップ202
が「補正手段」に相当する。
211が本発明の「ヒータ制御手段」に相当し、ステッ
プ201が「劣化判定手段」に相当し、ステップ202
が「補正手段」に相当する。
【0048】一方、図8に示す目標インピーダンス更新
処理では、例えば30分間隔でSRAM25の更新を実
施する。すなわち、1秒周期で図8の処理がスタートす
ると、先ずステップ301では、SRAM値の更新間隔
を計測するためのカウンタCimpが30分相当の値に
達したか否かを判別し、NOであればステップ302に
進み、カウンタCimpのインクリメントを継続する。
処理では、例えば30分間隔でSRAM25の更新を実
施する。すなわち、1秒周期で図8の処理がスタートす
ると、先ずステップ301では、SRAM値の更新間隔
を計測するためのカウンタCimpが30分相当の値に
達したか否かを判別し、NOであればステップ302に
進み、カウンタCimpのインクリメントを継続する。
【0049】また、ステップ301がYESであればス
テップ303に進み、目標インピーダンスZtgのSR
AM値を更新する。つまり、前記図7の処理において、
目標インピーダンスZtgが補正されてその値がNRA
M24に一時記憶されている場合、NRAM値(補正後
Ztg)をSRAM25に書き込む。但しこのとき、そ
れまでのSRAM値に対してなまし処理を実施するのが
望ましく、例えば、SRAM値=(7×SRAM値(i
−1)+NRAM値)/8といった演算により新たなS
RAM値(Ztg)を求め、それをSRAM25に書き
込む。そしてその後、ステップ304では、カウンタC
impをクリアする。
テップ303に進み、目標インピーダンスZtgのSR
AM値を更新する。つまり、前記図7の処理において、
目標インピーダンスZtgが補正されてその値がNRA
M24に一時記憶されている場合、NRAM値(補正後
Ztg)をSRAM25に書き込む。但しこのとき、そ
れまでのSRAM値に対してなまし処理を実施するのが
望ましく、例えば、SRAM値=(7×SRAM値(i
−1)+NRAM値)/8といった演算により新たなS
RAM値(Ztg)を求め、それをSRAM25に書き
込む。そしてその後、ステップ304では、カウンタC
impをクリアする。
【0050】要するに、目標インピーダンスZtgのN
RAM値は、補正により変更されるとその都度更新され
るため、最新値が素早くヒータ制御に反映される。これ
に対し、目標インピーダンスZtgのSRAM値は、比
較的長い時間間隔でゆっくり更新されるため、誤学習な
どが抑制できる。
RAM値は、補正により変更されるとその都度更新され
るため、最新値が素早くヒータ制御に反映される。これ
に対し、目標インピーダンスZtgのSRAM値は、比
較的長い時間間隔でゆっくり更新されるため、誤学習な
どが抑制できる。
【0051】ここで、素子劣化時における目標インピー
ダンスZtgの補正を増加側にのみ実施する理由を説明
する。A/Fセンサ30の新品時と劣化時とでインピー
ダンス特性を比較すると、図11に示すように、総じて
劣化時のインピーダンスが大きくなり、同じ目標インピ
ーダンスZtg(例えば30Ω)でヒータ通電を制御し
たとしても、センサ劣化時には素子温度が高くなる。こ
の場合、目標インピーダンスZtgを引き上げることに
より、素子温度の上昇が抑制される。また、エンジンの
排気温度はエンジン運転状態に応じて変化し、アイドル
運転時のように排気温度が低い場合と高速走行時のよう
に排気温度が高い場合とを比べると、それが原因で素子
温度が変わる。つまり、図12に示すように、同じDu
tyでヒータ通電を制御したとしても、排気温度が高い
方が素子温度が高くなる。それ故、排気温度が高ければ
実インピーダンスが小さくなり、センサ劣化時における
インピーダンス偏差ΔZが小さくなる。逆に、排気温度
が低ければ実インピーダンスが大きくなり、センサ劣化
時におけるインピーダンス偏差ΔZが大きくなる。
ダンスZtgの補正を増加側にのみ実施する理由を説明
する。A/Fセンサ30の新品時と劣化時とでインピー
ダンス特性を比較すると、図11に示すように、総じて
劣化時のインピーダンスが大きくなり、同じ目標インピ
ーダンスZtg(例えば30Ω)でヒータ通電を制御し
たとしても、センサ劣化時には素子温度が高くなる。こ
の場合、目標インピーダンスZtgを引き上げることに
より、素子温度の上昇が抑制される。また、エンジンの
排気温度はエンジン運転状態に応じて変化し、アイドル
運転時のように排気温度が低い場合と高速走行時のよう
に排気温度が高い場合とを比べると、それが原因で素子
温度が変わる。つまり、図12に示すように、同じDu
tyでヒータ通電を制御したとしても、排気温度が高い
方が素子温度が高くなる。それ故、排気温度が高ければ
実インピーダンスが小さくなり、センサ劣化時における
インピーダンス偏差ΔZが小さくなる。逆に、排気温度
が低ければ実インピーダンスが大きくなり、センサ劣化
時におけるインピーダンス偏差ΔZが大きくなる。
【0052】この場合、排気温度に関係なく一様に、イ
ンピーダンス偏差ΔZにより目標インピーダンスZtg
の補正を行うと、劣化状態が同じであっても排気温度の
違いに応じて目標インピーダンスZtgの補正量が相違
してしまい、アイドル時に増加側に補正された目標イン
ピーダンスZtgが、走行時(排気温度上昇時)に減少
側に誤って再補正されるといった不都合が生じる。図1
3によれば、排気温度が低いアイドル時と排気温度が高
い状態とを比較した場合に、前者の方が素子劣化の状態
が顕著となることが分かる(劣化に伴うインピーダンス
増加の程度が大きい)。
ンピーダンス偏差ΔZにより目標インピーダンスZtg
の補正を行うと、劣化状態が同じであっても排気温度の
違いに応じて目標インピーダンスZtgの補正量が相違
してしまい、アイドル時に増加側に補正された目標イン
ピーダンスZtgが、走行時(排気温度上昇時)に減少
側に誤って再補正されるといった不都合が生じる。図1
3によれば、排気温度が低いアイドル時と排気温度が高
い状態とを比較した場合に、前者の方が素子劣化の状態
が顕著となることが分かる(劣化に伴うインピーダンス
増加の程度が大きい)。
【0053】本実施の形態では、目標インピーダンスZ
tgの補正を増加側にのみ限定することにより、実質
上、エンジンの全運転期間内において最も排気温度の低
いアイドル運転時、すなわちインピーダンス偏差が最も
大きくなる条件でのみ、目標インピーダンスZtgの補
正が行われることとなる。このとき、A/Fセンサ30
が劣化している場合において、その劣化状態に則したイ
ンピーダンス補正を行わなければならないのにその適正
な補正が行われない、といった不都合が解消される。
tgの補正を増加側にのみ限定することにより、実質
上、エンジンの全運転期間内において最も排気温度の低
いアイドル運転時、すなわちインピーダンス偏差が最も
大きくなる条件でのみ、目標インピーダンスZtgの補
正が行われることとなる。このとき、A/Fセンサ30
が劣化している場合において、その劣化状態に則したイ
ンピーダンス補正を行わなければならないのにその適正
な補正が行われない、といった不都合が解消される。
【0054】また、排気温度が高い場合には、A/Fセ
ンサ30が劣化していても、排気からの受熱により実イ
ンピーダンスZreが目標インピーダンスZtgにほぼ
一致し、素子温度が高い状態であるにも関わらずヒータ
制御量(Duty)が低下することが考えられる。それ
故に、素子劣化に伴うインピーダンス補正ができなくな
るが、上記の通りアイドル運転時にインピーダンス補正
を行っていれば、排気温度が高くても素子温上昇が抑制
できるようになる。
ンサ30が劣化していても、排気からの受熱により実イ
ンピーダンスZreが目標インピーダンスZtgにほぼ
一致し、素子温度が高い状態であるにも関わらずヒータ
制御量(Duty)が低下することが考えられる。それ
故に、素子劣化に伴うインピーダンス補正ができなくな
るが、上記の通りアイドル運転時にインピーダンス補正
を行っていれば、排気温度が高くても素子温上昇が抑制
できるようになる。
【0055】次に、ヒータ通電制御についてより具体的
な動作を図9のタイムチャートを用いて説明する。な
お、図9は、エンジン10の低温始動時におけるヒータ
通電の様子を示す。
な動作を図9のタイムチャートを用いて説明する。な
お、図9は、エンジン10の低温始動時におけるヒータ
通電の様子を示す。
【0056】さて、エンジン始動直後にヒータ制御が許
可されると、ヒータ64の全通電制御が開始される。こ
のとき、ヒータ制御量(Duty)は100%で制御さ
れる。その後、素子温度の上昇に伴い次第に実インピー
ダンスZreが低下し、時刻t1で、インピーダンス偏
差ΔZが所定値K1を下回ると(或いは、全通電開始後
10秒が経過すると)、Duty=0〜80%を制御範
囲とする第1のヒータF/B制御が開始される。このと
き、ヒータ制御量(Duty)はほぼ80%で制御さ
れ、素子昇温を優先したヒータ制御が実施される。
可されると、ヒータ64の全通電制御が開始される。こ
のとき、ヒータ制御量(Duty)は100%で制御さ
れる。その後、素子温度の上昇に伴い次第に実インピー
ダンスZreが低下し、時刻t1で、インピーダンス偏
差ΔZが所定値K1を下回ると(或いは、全通電開始後
10秒が経過すると)、Duty=0〜80%を制御範
囲とする第1のヒータF/B制御が開始される。このと
き、ヒータ制御量(Duty)はほぼ80%で制御さ
れ、素子昇温を優先したヒータ制御が実施される。
【0057】その後、時刻t2では、インピーダンス偏
差ΔZが所定値K2まで減少し、Duty=0〜60%
を制御範囲とする第2のヒータF/B制御が開始され
る。或いは、始動後300秒が経過すると、第2のヒー
タF/B制御が開始される。このとき、検出素子61が
劣化していれば、インピーダンス偏差ΔZが大きいまま
となるので、DutyがF/B制御範囲の上限値(60
%)に張り付き、その状態が継続される。故に、カウン
タCmaxがカウントアップされていく。
差ΔZが所定値K2まで減少し、Duty=0〜60%
を制御範囲とする第2のヒータF/B制御が開始され
る。或いは、始動後300秒が経過すると、第2のヒー
タF/B制御が開始される。このとき、検出素子61が
劣化していれば、インピーダンス偏差ΔZが大きいまま
となるので、DutyがF/B制御範囲の上限値(60
%)に張り付き、その状態が継続される。故に、カウン
タCmaxがカウントアップされていく。
【0058】その後、その状態のままCmax値が20
秒相当の値になると、検出素子61が劣化しているとの
判定が下される。そして、インピーダンス偏差ΔZに応
じて目標インピーダンスZtgが増加側に補正される。
また、Ztg値の補正後もインピーダンス偏差ΔZが大
きく、Dutyが上限値(60%)に張り付いたままな
らば、カウンタCmaxがカウントし直され、その値が
再び20秒相当の値になると、再びインピーダンス偏差
ΔZに応じて目標インピーダンスZtgが増加側に補正
される。なお、補正された目標インピーダンスZtg
は、その都度NRAM値として更新される。
秒相当の値になると、検出素子61が劣化しているとの
判定が下される。そして、インピーダンス偏差ΔZに応
じて目標インピーダンスZtgが増加側に補正される。
また、Ztg値の補正後もインピーダンス偏差ΔZが大
きく、Dutyが上限値(60%)に張り付いたままな
らば、カウンタCmaxがカウントし直され、その値が
再び20秒相当の値になると、再びインピーダンス偏差
ΔZに応じて目標インピーダンスZtgが増加側に補正
される。なお、補正された目標インピーダンスZtg
は、その都度NRAM値として更新される。
【0059】こうしてZtg値の補正が繰り返されるこ
とによりインピーダンス偏差ΔZが次第に小さくなり、
ヒータ制御量(Duty)の上限値張り付きの状態が解
消されると(時刻t3)、それ以降、実インピーダンス
Zreが目標インピーダンスZtgに一致するよう、偏
差ΔZに応じてヒータ通電がフィードバック制御され
る。
とによりインピーダンス偏差ΔZが次第に小さくなり、
ヒータ制御量(Duty)の上限値張り付きの状態が解
消されると(時刻t3)、それ以降、実インピーダンス
Zreが目標インピーダンスZtgに一致するよう、偏
差ΔZに応じてヒータ通電がフィードバック制御され
る。
【0060】また、エンジン始動後、カウンタCimp
がカウントアップされ、Cimp値が30分相当の値に
なると、NRAM24内の目標インピーダンスZtgが
SRAM25に書き込まれる(時刻t4)。つまり、3
0分間隔でSARM値の更新が繰り返し行われる。そし
て、次のエンジン始動時には、今回更新したZtg値が
SRAM25からNRAM24に読み出され、始動当初
よりヒータ制御に用いられる。
がカウントアップされ、Cimp値が30分相当の値に
なると、NRAM24内の目標インピーダンスZtgが
SRAM25に書き込まれる(時刻t4)。つまり、3
0分間隔でSARM値の更新が繰り返し行われる。そし
て、次のエンジン始動時には、今回更新したZtg値が
SRAM25からNRAM24に読み出され、始動当初
よりヒータ制御に用いられる。
【0061】以上詳述した本実施の形態によれば、以下
に示す効果が得られる。ヒータ通電のF/B制御が実施
される場合に、ヒータ制御量(Duty)が規定範囲の
上限値に達しその状態が所定時間以上継続されると、検
出素子61が劣化している旨を判定するようにした。ま
た、検出素子61の劣化時には目標インピーダンスZt
gを補正するようにした。この場合、検出素子61の劣
化が正しく検出できると共に、その劣化状態(劣化の程
度)に応じたヒータ通電制御を実施することができる。
従って、素子劣化時にも、素子温度を望み通りに制御す
ることが可能となる。これにより、検出素子61の過剰
な温度上昇が抑制され、同検出素子61の更なる劣化進
行が抑制される。
に示す効果が得られる。ヒータ通電のF/B制御が実施
される場合に、ヒータ制御量(Duty)が規定範囲の
上限値に達しその状態が所定時間以上継続されると、検
出素子61が劣化している旨を判定するようにした。ま
た、検出素子61の劣化時には目標インピーダンスZt
gを補正するようにした。この場合、検出素子61の劣
化が正しく検出できると共に、その劣化状態(劣化の程
度)に応じたヒータ通電制御を実施することができる。
従って、素子劣化時にも、素子温度を望み通りに制御す
ることが可能となる。これにより、検出素子61の過剰
な温度上昇が抑制され、同検出素子61の更なる劣化進
行が抑制される。
【0062】特に、積層型構造のA/Fセンサ30で
は、温度特性に優れる反面、素子割れ等の不具合が生じ
易いが、上記の通り劣化判定を好適に行うことにより素
子割れ等の不具合が解消される。故に、素子保護等の効
果がより一層有効的に得られることとなる。
は、温度特性に優れる反面、素子割れ等の不具合が生じ
易いが、上記の通り劣化判定を好適に行うことにより素
子割れ等の不具合が解消される。故に、素子保護等の効
果がより一層有効的に得られることとなる。
【0063】素子劣化に伴うZtg補正時において、な
まし処理により目標インピーダンスZtgを徐変させる
ようにしたので、Ztg値の誤った補正が防止される。
また、インピーダンス偏差ΔZに応じて補正を行うよう
にしたので、インピーダンス偏差ΔZが大きい場合や、
バッテリ交換時などSRAM25のデータがクリアされ
る場合にその収束性が向上する。
まし処理により目標インピーダンスZtgを徐変させる
ようにしたので、Ztg値の誤った補正が防止される。
また、インピーダンス偏差ΔZに応じて補正を行うよう
にしたので、インピーダンス偏差ΔZが大きい場合や、
バッテリ交換時などSRAM25のデータがクリアされ
る場合にその収束性が向上する。
【0064】更に、目標インピーダンスZtgを増加側
にのみ補正する構成としたので、排気温度の影響による
誤ったZtg補正が防止される。その結果、ヒータ通電
の制御精度が向上する。
にのみ補正する構成としたので、排気温度の影響による
誤ったZtg補正が防止される。その結果、ヒータ通電
の制御精度が向上する。
【0065】目標インピーダンスZtgを補正する毎に
補正後のZtg値をNRAM(一時記憶メモリ)24に
記憶し、それよりも長い時間間隔で、NRAM24のZ
tg値をSRAM(バックアップ用メモリ)25に記憶
するようにしたので、Ztg値が誤って補正されたとし
ても、それはNRAM24に一旦記憶され、直ぐにSR
AM25に記憶されることはない。それ故、Ztg値が
誤学習されるといった不都合は生じない。
補正後のZtg値をNRAM(一時記憶メモリ)24に
記憶し、それよりも長い時間間隔で、NRAM24のZ
tg値をSRAM(バックアップ用メモリ)25に記憶
するようにしたので、Ztg値が誤って補正されたとし
ても、それはNRAM24に一旦記憶され、直ぐにSR
AM25に記憶されることはない。それ故、Ztg値が
誤学習されるといった不都合は生じない。
【0066】エンジン始動に伴うヒータ通電の開始当初
は、SRAM25に記憶されたZtg値を読み出し、そ
れをヒータ通電制御に用いるので、エンジン始動当初か
ら前回学習した目標値を用いて好適なヒータ通電制御を
実施することができる。
は、SRAM25に記憶されたZtg値を読み出し、そ
れをヒータ通電制御に用いるので、エンジン始動当初か
ら前回学習した目標値を用いて好適なヒータ通電制御を
実施することができる。
【0067】検出素子61の冷間状態からの昇温に際
し、通電開始当初はヒータ64を全通電制御し、その
後、検出素子61の昇温に伴い、第1のヒータF/B制
御、第2のヒータF/B制御を順次実施するようにし
た。これにより、DutyのF/B制御範囲が検出素子
61の暖機状態に応じて変更され、検出素子61の暖機
促進(早期活性化)と素子保護とを共に図ることができ
る。
し、通電開始当初はヒータ64を全通電制御し、その
後、検出素子61の昇温に伴い、第1のヒータF/B制
御、第2のヒータF/B制御を順次実施するようにし
た。これにより、DutyのF/B制御範囲が検出素子
61の暖機状態に応じて変更され、検出素子61の暖機
促進(早期活性化)と素子保護とを共に図ることができ
る。
【0068】エンジンの空燃比制御システムにおいて、
上記した通りA/Fセンサ30のヒータ通電が好適に実
施されるので、A/Fセンサ30の適正な活性状態が維
持され、空燃比を正しく検出することが可能となる。故
に、空燃比制御を精度良く実施することができる。
上記した通りA/Fセンサ30のヒータ通電が好適に実
施されるので、A/Fセンサ30の適正な活性状態が維
持され、空燃比を正しく検出することが可能となる。故
に、空燃比制御を精度良く実施することができる。
【0069】(第2の実施の形態)次に、本発明におけ
る第2の実施の形態について、上述した第1の実施の形
態との相違点を中心に説明する。上記実施の形態では、
第2のヒータF/B制御が実施されるとき、ヒータ制御
量(Duty)がF/B制御範囲の上限値(60%)の
まま継続されると、検出素子61が劣化しているとみな
して目標インピーダンスZtgを補正したが、これを以
下のように変更する。図14は、Ztg補正の手順を示
すフローチャートであり、これは、前記図7のフローチ
ャートにおいてステップ201〜203に代えて実施さ
れる。なおこれに伴い、同図7のステップ212〜21
4が削除される。
る第2の実施の形態について、上述した第1の実施の形
態との相違点を中心に説明する。上記実施の形態では、
第2のヒータF/B制御が実施されるとき、ヒータ制御
量(Duty)がF/B制御範囲の上限値(60%)の
まま継続されると、検出素子61が劣化しているとみな
して目標インピーダンスZtgを補正したが、これを以
下のように変更する。図14は、Ztg補正の手順を示
すフローチャートであり、これは、前記図7のフローチ
ャートにおいてステップ201〜203に代えて実施さ
れる。なおこれに伴い、同図7のステップ212〜21
4が削除される。
【0070】図14において、ステップ401では、今
現在アイドル運転状態であるか否かを判別し、YESで
あればステップ402に進み、その時のヒータ制御量の
平均値(アイドル制御量平均値Dav)を算出する。ま
た、ステップ403では、前記算出したアイドル制御量
平均値Davが所定値よりも大きいか否かを判別する。
ここで、アイドル制御量平均値Davを判定するための
前記所定値は、F/B通電制御における上限Duty
(60%)又はそれ近傍の値であり、ステップ403が
YESであれば素子劣化とみなし、目標インピーダンス
Ztgを補正する。すなわち、ステップ404では、イ
ンピーダンスの偏差ΔZに応じて目標インピーダンスZ
tg(NRAM値)を補正する。このZtg補正に際し
ては、前述の通りなまし演算等の手法を用いるのが望ま
しい。また、ステップ405では、アイドル制御量平均
値Davをクリアする。なお本実施の形態では、ステッ
プ403が「劣化判定手段」に相当し、ステップ404
が「補正手段」に相当する。
現在アイドル運転状態であるか否かを判別し、YESで
あればステップ402に進み、その時のヒータ制御量の
平均値(アイドル制御量平均値Dav)を算出する。ま
た、ステップ403では、前記算出したアイドル制御量
平均値Davが所定値よりも大きいか否かを判別する。
ここで、アイドル制御量平均値Davを判定するための
前記所定値は、F/B通電制御における上限Duty
(60%)又はそれ近傍の値であり、ステップ403が
YESであれば素子劣化とみなし、目標インピーダンス
Ztgを補正する。すなわち、ステップ404では、イ
ンピーダンスの偏差ΔZに応じて目標インピーダンスZ
tg(NRAM値)を補正する。このZtg補正に際し
ては、前述の通りなまし演算等の手法を用いるのが望ま
しい。また、ステップ405では、アイドル制御量平均
値Davをクリアする。なお本実施の形態では、ステッ
プ403が「劣化判定手段」に相当し、ステップ404
が「補正手段」に相当する。
【0071】以上第2の実施の形態によれば、上記第1
の実施の形態と同様に、検出素子61の劣化が正しく検
出できると共に、その劣化状態(劣化の程度)に応じた
ヒータ通電制御を実施することができる。従って、素子
劣化時にも、素子温度を望み通りに制御することが可能
となる。これにより、検出素子61の過剰な温度上昇が
抑制され、同検出素子61の更なる劣化進行が抑制され
る。
の実施の形態と同様に、検出素子61の劣化が正しく検
出できると共に、その劣化状態(劣化の程度)に応じた
ヒータ通電制御を実施することができる。従って、素子
劣化時にも、素子温度を望み通りに制御することが可能
となる。これにより、検出素子61の過剰な温度上昇が
抑制され、同検出素子61の更なる劣化進行が抑制され
る。
【0072】また、アイドル運転時のヒータ制御量(D
uty)をモニタして劣化判定を行うので、排気温度の
影響による誤った劣化判定やZtg補正が防止される。
その結果、ヒータ通電の制御精度が向上する。
uty)をモニタして劣化判定を行うので、排気温度の
影響による誤った劣化判定やZtg補正が防止される。
その結果、ヒータ通電の制御精度が向上する。
【0073】なお本発明は、上記以外に次の形態にて具
体化できる。上記第1の実施の形態(図7の処理)で
は、目標インピーダンスZtg(NRAM値)の補正を
増加側に限定して実施したが、これを以下のように変更
する。つまり、Ztg補正を増加側に限定した理由は、
アイドル運転時以外(排出ガスの高温状態)での誤った
補正を排除するためであった。そこで、Ztg補正を増
加側に限定する代わりに、補正の実施条件として、「排
気温度が低いか?」或いは「アイドル運転時か?」とい
った要件を加える。そして、排気温度が低い時又はアイ
ドル運転時(但し、高速走行直後に排出ガスが高温とな
る状態は除く)にのみZtg補正を許可する。この場合
にも排気温度の影響による誤ったZtg補正が防止され
る。その結果、ヒータ通電の制御精度が向上する。
体化できる。上記第1の実施の形態(図7の処理)で
は、目標インピーダンスZtg(NRAM値)の補正を
増加側に限定して実施したが、これを以下のように変更
する。つまり、Ztg補正を増加側に限定した理由は、
アイドル運転時以外(排出ガスの高温状態)での誤った
補正を排除するためであった。そこで、Ztg補正を増
加側に限定する代わりに、補正の実施条件として、「排
気温度が低いか?」或いは「アイドル運転時か?」とい
った要件を加える。そして、排気温度が低い時又はアイ
ドル運転時(但し、高速走行直後に排出ガスが高温とな
る状態は除く)にのみZtg補正を許可する。この場合
にも排気温度の影響による誤ったZtg補正が防止され
る。その結果、ヒータ通電の制御精度が向上する。
【0074】上記第1の実施の形態では、ヒータ制御量
(Duty)が規定範囲の上限値(60%)にあれば、
カウンタCmaxを作動させて劣化判定を実施したが、
必ずしも上限値(60%)になくとも、ヒータ制御量
(Duty)が上限値付近(例えば55〜60%)にあ
れば、カウンタCmaxを作動させて劣化判定を実施す
るように変更しても良い。
(Duty)が規定範囲の上限値(60%)にあれば、
カウンタCmaxを作動させて劣化判定を実施したが、
必ずしも上限値(60%)になくとも、ヒータ制御量
(Duty)が上限値付近(例えば55〜60%)にあ
れば、カウンタCmaxを作動させて劣化判定を実施す
るように変更しても良い。
【0075】上記実施の形態の装置では、素子劣化の有
無を判定し、素子劣化している場合には目標インピーダ
ンスZtgを補正したが、これを変更する。例えば、単
に検出素子61の劣化の有無を判定する劣化判定装置と
して具体化しても良い。また、素子劣化時には、ヒータ
通電を禁止したり、素子劣化の旨を表すコード情報をメ
モリに記憶したり、素子劣化の旨をドライバ等に警告し
たりするようにしても良い。
無を判定し、素子劣化している場合には目標インピーダ
ンスZtgを補正したが、これを変更する。例えば、単
に検出素子61の劣化の有無を判定する劣化判定装置と
して具体化しても良い。また、素子劣化時には、ヒータ
通電を禁止したり、素子劣化の旨を表すコード情報をメ
モリに記憶したり、素子劣化の旨をドライバ等に警告し
たりするようにしても良い。
【0076】上記実施の形態では、積層型A/Fセンサ
を用いて空燃比制御システムを具体化したが、断面コッ
プ状の検出素子を持つ、いわゆるコップ型A/Fセンサ
を用いても良い。また、本発明は、A/Fセンサを用い
た空燃比検出装置以外にも適用できる。つまり、NO
x,HC,CO等のガス濃度成分が検出可能なガス濃度
センサを用いたガス濃度検出装置にも適用できる。当該
他のガス濃度検出装置においても上記実施の形態と同様
の手法を用いることで、検出素子の劣化を好適に検出
し、ひいては当該検出素子の保護を図ることができる。
を用いて空燃比制御システムを具体化したが、断面コッ
プ状の検出素子を持つ、いわゆるコップ型A/Fセンサ
を用いても良い。また、本発明は、A/Fセンサを用い
た空燃比検出装置以外にも適用できる。つまり、NO
x,HC,CO等のガス濃度成分が検出可能なガス濃度
センサを用いたガス濃度検出装置にも適用できる。当該
他のガス濃度検出装置においても上記実施の形態と同様
の手法を用いることで、検出素子の劣化を好適に検出
し、ひいては当該検出素子の保護を図ることができる。
【図1】発明の実施の形態における空燃比制御システム
の概要を示す構成図。
の概要を示す構成図。
【図2】A/Fセンサの構造を示す断面図。
【図3】センサ素子部の断面図。
【図4】A/Fセンサの出力特性を示す図。
【図5】インピーダンス検出時における電圧及び電流の
波形図。
波形図。
【図6】イニシャルルーチンを示すフローチャート。
【図7】ヒータ制御量算出ルーチンを示すフローチャー
ト。
ト。
【図8】目標インピーダンス更新処理を示すフローチャ
ート。
ート。
【図9】エンジン始動時におけるヒータ通電の様子を示
すタイムチャート。
すタイムチャート。
【図10】検出素子のインピーダンス特性を示す図。
【図11】素子劣化時におけるインピーダンス特性を示
す図。
す図。
【図12】排気温度の違いによる素子温度の違いを示す
図。
図。
【図13】排気温度の違いによるインピーダンス特性の
違いを示す図。
違いを示す図。
【図14】他の形態において目標インピーダンスの補正
手順を示すフローチャート。
手順を示すフローチャート。
10…エンジン(内燃機関)、12…排気管、20…E
CU、21…マイコン、22…CPU、24…NRAM
(一時記憶メモリ)、25…SRAM(バックアップ用
メモリ)、30…A/Fセンサ(ガス濃度センサ)、6
1…検出素子、64…ヒータ。
CU、21…マイコン、22…CPU、24…NRAM
(一時記憶メモリ)、25…SRAM(バックアップ用
メモリ)、30…A/Fセンサ(ガス濃度センサ)、6
1…検出素子、64…ヒータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01N 27/46 331
Claims (11)
- 【請求項1】内燃機関の排出ガス中の特定成分濃度にほ
ぼ比例した限界電流を出力する検出素子と該検出素子を
加熱するヒータとを有するガス濃度センサと、 前記ガス濃度センサの素子抵抗が目標値に一致するよう
予め規定した通電量の範囲内でヒータへの通電をフィー
ドバック制御するヒータ制御手段と、 ヒータ通電のフィードバック制御が実施される場合に、
ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍にあれ
ば、その状態から検出素子の劣化を判定する劣化判定手
段と、を備えたことを特徴とするガス濃度センサのヒー
タ制御装置。 - 【請求項2】前記劣化判定手段は、ヒータ通電量が規定
範囲の上限値又はその近傍に達しているかどうかを判定
し、ヒータ通電量が規定範囲の上限値又はその近傍に達
しその状態が所定時間以上継続されると、検出素子が劣
化している旨を判定する請求項1に記載のガス濃度セン
サのヒータ制御装置。 - 【請求項3】内燃機関のアイドル運転時におけるヒータ
通電量をモニタして所定期間内での平均値を算出する手
段を備え、 前記劣化判定手段は、アイドル運転時におけるヒータ通
電量の平均値が前記規定範囲の上限値又はその近傍にあ
れば、検出素子が劣化している旨を判定する請求項1に
記載のガス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項4】前記劣化判定手段により検出素子が劣化し
ている旨判定された場合、素子抵抗の目標値を補正する
補正手段を更に備える請求項1〜3の何れかに記載のガ
ス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項5】請求項4に記載のヒータ制御装置におい
て、 前記補正手段は、素子抵抗の偏差をなくすようにその目
標値を徐変させるガス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項6】請求項4又は5に記載のヒータ制御装置に
おいて、 前記補正手段は、素子抵抗の目標値を増加側にのみ補正
するガス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項7】請求項4又は5に記載のヒータ制御装置に
おいて、 前記補正手段は、内燃機関からの排出ガスが比較的低い
状態である場合にのみ、素子抵抗の目標値を補正するガ
ス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項8】請求項4〜7の何れかに記載のヒータ制御
装置において、 前記補正手段により補正する毎に該補正した素子抵抗の
目標値を一時記憶メモリに記憶し、それよりも長い時間
間隔で、前記一時記憶メモリに記憶した素子抵抗の目標
値をバックアップ用メモリに記憶するガス濃度センサの
ヒータ制御装置。 - 【請求項9】請求項8に記載のヒータ制御装置におい
て、 内燃機関の始動に伴うヒータ通電の開始当初には、前記
バックアップ用メモリに記憶された目標値を読み出し、
それをヒータ通電のフィードバック制御に用いるガス濃
度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項10】内燃機関に供給する混合気の空燃比を制
御する空燃比制御システムに適用され、前記ガス濃度セ
ンサは、内燃機関の排出ガス中の酸素濃度にほぼ比例し
た限界電流を出力する空燃比センサである請求項1〜9
の何れかに記載のガス濃度センサのヒータ制御装置。 - 【請求項11】前記ガス濃度センサは、固体電解質を有
する検出素子にヒータを積層して配置した積層型構造を
持つ請求項1〜10の何れかに記載のガス濃度センサの
ヒータ制御装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2000238831A JP2002048761A (ja) | 2000-08-07 | 2000-08-07 | ガス濃度センサのヒータ制御装置 |
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| JP2002048761A true JP2002048761A (ja) | 2002-02-15 |
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