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JP2001358419A - プリント配線板およびその製造方法、ならびにその配線板を用いた半導体装置 - Google Patents

プリント配線板およびその製造方法、ならびにその配線板を用いた半導体装置

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Publication number
JP2001358419A
JP2001358419A JP2000179598A JP2000179598A JP2001358419A JP 2001358419 A JP2001358419 A JP 2001358419A JP 2000179598 A JP2000179598 A JP 2000179598A JP 2000179598 A JP2000179598 A JP 2000179598A JP 2001358419 A JP2001358419 A JP 2001358419A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
connection plug
printed wiring
insulating layer
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000179598A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Kawashima
康夫 河嶋
Junichi Murai
淳一 村井
Yoichi Kitamura
洋一 北村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2000179598A priority Critical patent/JP2001358419A/ja
Publication of JP2001358419A publication Critical patent/JP2001358419A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 導体層間の接続信頼性に優れたプリント配線
板およびその製造方法、ならびにそのプリント配線板を
用いた半導体装置を提供する。 【解決手段】 絶縁層2が積層配置され、この絶縁層2
の両面に所定形状の導体層1が配置されている。両側に
配置される導体層1の間は、絶縁層2に設けられた開口
部に埋め込まれるようにして設けられた接続プラグ6に
より、電気的に接続されている。接続プラグ6と導体層
1との接触面は平坦面となるように設けられている。導
体層1と接続プラグ6との接触断面は、絶縁層2の積層
時における加熱収縮により2kg/cm以上の引き剥が
し強度で強く加圧接触されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、絶縁層と導体層
が交互に形成され、導体層間を介して各層間を接続する
プリント配線板およびその製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化や高機能化に対応する
ために、プリント配線板においては多層化や高密度化が
要求されている。従来の有機系プリント配線板では、ド
リルやパンチングにより形成したスルーホールの内表面
をめっきにより導電化して層間の接続を行った基板を多
層化するために、任意の層間箇所においてブラインドバ
イアホール接続を設けることが不可能であった。また、
バイアホール内が充填されていないため、バイアホール
の直上または直下に他のバイアホールを設けることが困
難であった。
【0003】こうした問題を解決するために、従来、セ
ラミック多層配線板で実現していたインナバイアホール
による任意の層間接続が有機樹脂を含有した絶縁層にお
いても検討されつつある。これに関連する従来技術とし
て、特開平9−293968号公報、および、特開平6
−104545号公報が挙げられる。
【0004】ここで、上記特開平9−293968号公
報に開示された多層配線基板構造(以下、従来技術1と
称する)について、図16を参照して簡単に説明する。
従来技術1においては、上面に導体層1を有する有機樹
脂を含有した絶縁層2を積層し、バイア導体部3により
各層の導体回路を接続する多層プリント配線板が開示さ
れている。バイア導体部3は、銅、はんだ、アルミニウ
ムあるいはこれらを含む合金の中から選ばれる少なくと
も1種からなる球状体の金属塊からなり、基材である絶
縁層2にこのバイア導体部3が埋め込まれている。
【0005】また、特開平6−104545号公報に開
示された両面プリント基板(以下、従来技術2と称する)
の構造について、図17(a),(b)を参照して簡
単に説明する。
【0006】従来技術2においては、図17(b)に示
すように、表裏に導体層1を有する有機樹脂を含有した
絶縁層2を積層し、バイア導体部3により各層の導体回
路を接続する多層プリント配線板が開示されている。絶
縁層2における表裏導体層1の電気的接続は、図17
(a)に示すように、絶縁層2に設けられた開口部4へ
充填された導電性粒子5を介して行われる。
【0007】この方法によると、絶縁層2の表裏の導体
層1を電気的に接続するバイア導体部3があらかじめ設
けられた開口部4にて位置決めされている。そのため、
バイア導体部3の位置精度がよくなり、導体層1のラン
ドサイズを小径化することが可能となる。また、この方
法により製造される多層プリント配線板では、高密度化
が容易となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術1および2に示す多層プリント基板構造において
は、バイア導体部3が球体状であるため、導体部1とバ
イア導体部3との接触領域が点接触となる。その結果、
導体層間の接続抵抗が高くなり、導体層間の接続の信頼
性に乏しいという問題があった。
【0009】したがって、この発明は上記のような問題
点を解消するためになされたもので、導体層間の接続抵
抗が低く、導体層間の接続の信頼性を向上させることが
可能な、プリント配線板およびその製造方法、ならびに
その配線板を用いた半導体装置を提供することを目的と
する。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に基づいたプリ
ント配線板においては、絶縁層と、上記絶縁層の第1の
面に配置される第1導体層と、上記絶縁層の上記第1の
面とは反対の第2の面に配置される第2導体層と、上記
絶縁層の内部に設けられ、上記第1導体層と上記第2導
体層とを接続する接続プラグとを備え、上記第1導体層
および前記第2導体層と前記接続プラグとの接触面はそ
の全体が平坦面である。
【0011】この発明に基づいたプリント配線板によれ
ば、接続プラグと導体層との接続領域は、平坦面からな
る面接触となるため、従来技術の配線板構造に比べ接触
面積を拡大させることが可能になる。その結果、導体層
間の接続抵抗が低く、導体層間の接続の信頼性を向上さ
せることが可能になる。
【0012】また、好ましくは、上記絶縁層の内部に設
けられる上記接続プラグの周囲に、絶縁コートがさらに
設けられる。このプリント配線板によっても、上記と同
様の作用が得られるとともに、接続プラグ領域における
絶縁信頼性を向上させることが可能になる。
【0013】また、好ましくは、上記第1導体層および
上記第2導体層と上記接続プラグとの間にに導電ペース
トがさらに設けられる。また、好ましくは、上記接続プ
ラグは金属である。また、好ましくは、上記接続プラグ
は、金、銅、ニッケル、および、はんだのいずれかの材
料からなる。
【0014】このように、上記第1導体層および上記第
2導体層と上記接続プラグとの接触面に導電ペーストを
設けることにより、導体層と導電ペーストとの間におい
て金属結合が生じ、導体層間の接続抵抗のさらなる低下
を図ることが可能になる。
【0015】次に、この発明に基づいた半導体装置にお
いては、上記発明に基づいたプリント配線板を用いて製
造されている。この半導体装置によれば、導体層間のコ
ンタクト性能の向上を図ることが可能になる結果、半導
体装置の動作信頼性の向上を図ることが可能になる。
【0016】次に、この発明に基づいたプリント配線板
の製造方法においては、絶縁層に貫通穴を設ける工程
と、前記貫通穴に接続プラグを貫通させる工程と、前記
絶縁層の両面から露出する前記接続プラグの両端を切断
して、前記絶縁層の両側の表面のそれぞれと前記接続プ
ラグとの表面とを面一とする工程と、前記絶縁層の両側
の表面に、前記接続プラグに接する導体層を形成する工
程とを備える。
【0017】このようにして形成されたプリント配線板
によれば、接続プラグと導体層との接続領域は、平坦面
からなる面接触となるため、従来技術の配線板構造に比
べ接触面積を拡大させることが可能になる。その結果、
導体層間の接続抵抗が低く、導体層間の接続の信頼性を
向上させることが可能になる。
【0018】また、上記製造方法において、上記貫通穴
に接続プラグを貫通させる工程において、側面が絶縁コ
ートに覆われた上記接続プラグを前記貫通穴に貫通させ
る。このようにして形成されたプリント配線板によれ
ば、接続プラグ領域における絶縁信頼性をさらに向上さ
せることが可能になる。
【0019】また、上記製造方法において、前記接続プ
ラグの表面を前記絶縁層の表面と面一とする工程の後
に、前記接続プラグの表面に導電ペーストを設ける工程
をさらに備える。このようにして形成されたプリント配
線板によれば、上記第1導体層および上記第2導体層と
上記接続プラグとの接触面に導電ペーストが設けられる
結果、導体層と導電ペーストとの間において金属結合が
生じ、導体層間の接続抵抗のさらなる低下を図ることが
可能になる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明に基づいた各実施の
形態について、図を参照しながら説明する。
【0021】(実施の形態1)図1から図7を参照し
て、本実施の形態におけるプリント配線板およびその製
造方法について説明する。なお、図1は、本実施の形態
における多層プリント配線板を示す断面図であり、図2
から図7は、本実施の形態における多層プリント配線板
の製造方法を示す断面工程図である。
【0022】(構造)まず、図1を参照して、本実施の
形態における多層プリント配線板の構造について説明す
る。絶縁層2が積層配置され、この絶縁層2の両面に所
定形状の導体層1が配置されている。両側に配置される
導体層1の間は、絶縁層2に設けられた開口部に埋め込
まれるようにして設けられた接続プラグ6により、電気
的に接続されている。接続プラグ6と絶縁層2との表面
は面一となるように設けられ、その結果、接続プラグ6
と導体層1との接触面はその全体が平坦面となる。
【0023】導体層1は、たとえば銅などの導電体材料
からなり、絶縁層2は、たとえばガラス繊維を含浸させ
たエポキシ樹脂等の絶縁材料からなり、接続プラグ6
は、たとえば、金、銅、ニッケル、および、はんだ等の
金属線からなる。導体層1と接続プラグ6との接触断面
は、絶縁層2の積層時における加熱収縮により2kg/
cm以上の引き剥がし強度で強く加圧接触されている。
【0024】(製造方法)次に、図2から図7を参照し
て、上記構造を有する多層プリント配線板の製造方法に
ついて説明する。図2を参照して、半硬化絶縁基材8に
レーザにより貫通穴7を所定位置に開口する。その後、
図3を参照して、半硬化絶縁基材8を約80℃で軟化さ
せた後、貫通穴7に接続プラグ6を貫通させる。
【0025】次に、図4を参照して、半硬化絶縁基材8
を冷却した後、接続プラグ6の両端を切断し、半硬化絶
縁基材8の表面と接続プラグ6との表面とを面一とす
る。その後、半硬化絶縁基材8の両面に銅箔9を配置
し、加熱プレスを用いて半硬化絶縁基材8および銅箔9
を加圧し、両面銅張り積層板10Aを形成する。このと
きの加圧条件は、プレス加熱温度150℃〜200℃、
プレス圧10kg/cm2〜100kg/cm2、プレス
時間約60分である。
【0026】次に、図5を参照して、積層板10Aの銅
箔9に対してパターニングを行なう。このパターニング
は、通常のエッチングレジスト膜を、たとえば真空ラミ
ネータにより銅箔9上に形成し、その後、エッチングレ
ジスト膜を露光および現像して銅箔9の導体パターン部
をマスキングしてから、塩化第二銅をエッチング液とし
て導体パターン部領域以外の銅箔9をエッチングにより
除去する。その後、エッチングレジスト膜を剥離し、所
定パターン形状の導体層1を形成する。これにより、接
続プラグ6と導体層1との接触面はその全体が平坦面と
なる。以上の工程により、両面プリント配線板10が完
成する。
【0027】次に、図6を参照して、上記図2および図
3で示した工程と同じ工程で、半硬化絶縁基材8に接続
プラグ6が埋め込まれ、その両端が半硬化絶縁基材8の
表面と接続プラグ6の表面とが面一となるように切断さ
れた接続プラグ6を有する半硬化絶縁基材8を、両面プ
リント配線板10の上下面に配置し、さらに上下に位置
する半硬化絶縁基材8上下面に銅箔9を配置した後、図
4で示したプレス工程と同様のプレス工程により、加熱
加圧プレスを行ない多層板を形成する。
【0028】次に、図7を参照して、図5で説明した、
パターニング工程と同工程により、銅箔9のパターンエ
ッチングを行ない導体層1を形成する。これにより、図
1に示す多層プリント配線板が完成する。
【0029】(作用効果)上記本実施の形態におけるプ
リント配線板によれば、接続プラグ6と導体層1との接
続領域は、その全体が平坦面からなる面接触となるた
め、従来技術の配線板構造に比べ接触面積が拡大する。
その結果、導体層1間の接触不良品の発生率は10pp
mとなり、導体層1間で非常に優れた接続性を示す結果
が得られた。
【0030】(実施の形態2)図8を参照して、本実施
の形態における多層プリント配線板およびその製造方法
について説明する。なお、図8は、本実施の形態におけ
る多層プリント配線板を示す断面図である。
【0031】(構造)本実施の形態における多層プリン
ト配線板の構造は、上記実施の形態1における多層プリ
ント配線板の構造と基本的には同じ構造を有し、相違点
としては、接続プラグ6を取巻くように絶縁コート11
が設けられている点にある。絶縁コート11、たとえ
ば、BTレジンに代表される高耐湿樹脂から形成されて
いる。本実施の形態においても、導体層1と接続プラグ
6との接触断面は、絶縁層2の積層時における加熱収縮
により2kg/cm以上の引き剥がし強度で強く加圧接
触されている。
【0032】(製造方法)本実施の形態においては、絶
縁層2に設けられた開口部にあらかじめ側面に絶縁コー
ト11が設けられた接続プラグ6を用いる以外は、他の
製造工程は上記実施の形態1における製造方法と同じで
ある。
【0033】(作用効果)上記本実施の形態における多
層プリント配線板によれば、接続プラグ6と導体層1と
の接続部は、その全体が平坦面からなる面接触となるた
め、従来技術の配線板構造に比べ接触面積が拡大する。
その結果、導体層1間の接触不良品の発生率は10pp
mとなり、導体層1間の極めて優れた接続性を示す結果
が得られた。
【0034】さらに、接続プラグ6が絶縁コート11で
コートされているため、絶縁信頼性にも優れ、温度85
℃、湿度85%、電圧50Vの高温高湿バイアス試験に
おいても1000時間以上、絶縁抵抗の劣化はなく、B
Tレジン基材プリント配線板と同等の特性を有する結果
が得られた。
【0035】(実施の形態3)図9から図15を参照し
て、本実施の形態におけるプリント配線板およびその製
造方法について説明する。なお、図9は、本実施の形態
における多層プリント配線板を示す断面図であり、図1
0から図15は、本実施の形態における多層プリント配
線板の製造方法を示す断面工程図である。
【0036】(構造)まず、図9を参照して、本実施の
形態における多層プリント配線板の構造について説明す
る。絶縁層2が積層配置され、この絶縁層2の上下面に
所定形状の導体層1が配置されている。両側に配置され
る導体層1の間は、絶縁層2に設けられた開口部に埋め
込まれるようにして設けられた接続プラグ6およびこの
接続プラグ6を上下から挟み込むように設けられる導電
ペースト12により、電気的に接続されている。接続プ
ラグ6と導電ペースト12との接触面、および、導電ペ
ースト12と導体層1との接触面はその全体が平坦面と
なるように設けられている。
【0037】導体層1は、たとえば銅などの導電体材料
からなり、絶縁層2は、たとえばガラス繊維を含浸させ
たエポキシ樹脂等の絶縁材料からなり、接続プラグ6
は、たとえば、金、銅、ニッケル、および、はんだ等の
金属線からなり、導体ペースト12は、たとえば、はん
だペーストからなる。この導電ペースト12は、絶縁層
2の積層工程後、導体ペースト12の溶融温度まで過熱
して溶解することにより、導体層1の裏面と接続プラグ
6は、導体層1と導体ペースト12の金属粒子との金属
結合により接続される。
【0038】(製造方法)次に、図10から図15を参
照して、上記構造を有する多層プリント配線板の製造方
法について説明する。図10を参照して、半硬化絶縁基
材8にレーザにより貫通穴7を所定位置に開口する。そ
の後、図11を参照して、半硬化絶縁基材8を約80℃
で軟化させた後、貫通穴7に接続プラグ6を貫通させ
る。
【0039】次に、図12を参照して、半硬化絶縁基材
8を冷却した後、半硬化絶縁基材8と接続プラグ6との
表面が面一となるように、接続プラグ6の両端を切断す
る。その後、接続プラグ6の断面上にスクリーン印刷に
よって導電ペースト12を形成する。その後、半硬化絶
縁基材8の両面を銅箔9を配置し、加熱プレスを用いて
半硬化絶縁基材8および銅箔1を加圧し、両面銅張り積
層板10Bを形成する。半硬化絶縁基材8がガラスエポ
キシプリプレグの場合の加圧条件は、プレス加熱温度1
50℃〜200℃、プレス圧10kg/cm2〜100
kg/cm2、プレス時間約60分である。
【0040】その後、両面どう銅張積層板10Bを導電
ペースト12の溶融温度にまで加熱し、導電ペースト1
2中の金属粒子を溶解させ、銅箔9と金属結合させる。
導電ペースト12がPb−Sn共晶はんだペーストの場
合の加熱条件は、約220℃〜230℃、約5秒であ
る。
【0041】次に、図13を参照して、積層板10Aの
銅箔9に対してパターニングを行なう。このパターニン
グは、通常のエッチングレジスト膜を、たとえば真空ラ
ミネータにより銅箔9上に形成し、その後、エッチング
レジスト膜を露光および現像して銅箔9の導体パターン
部をマスキングしてから、塩化第二銅をエッチング液と
して導体パターン部領域以外の銅箔9をエッチングによ
り除去する。その後、エッチングレジスト膜を剥離し、
所定パターン形状の導体層1を形成する。これにより、
両面プリント配線板10が完成する。
【0042】次に、図14を参照して、上記図11およ
び図12で示した工程と同じ工程で、半硬化絶縁基材8
に接続プラグ6が埋め込まれ、半硬化絶縁基材8の表面
と接続プラグ6の表面とが面一となるように接続プラグ
6の両端が切断され、かつ、導電ペースト12が設けら
れた接続プラグ6を有する半硬化絶縁基材8を、両面プ
リント配線板10の上下面に配置し、さらに上下に位置
する半硬化絶縁基材8の上下面に銅箔9を配置した後、
図12で示したプレス工程と同様のプレス工程により、
加熱加圧プレスを行ない多層板を形成する。
【0043】次に、図15を参照して、図13で説明し
た、パターニング工程と同工程により、銅箔9のパター
ンエッチングを行ない導体層1を形成する。これによ
り、図9に示す多層プリント配線板が完成する。
【0044】(作用効果)上記本実施の形態における多
層プリント配線板によれば、従来技術の配線板構造に比
べ、接触面積が大きく、かつ導体層1と接続プラグ6と
は金属結合により接続されているため、導体層1間の接
続抵抗は数mΩと低く、また、導体層1間の接触不良品
の発生率は10ppm以下となり、導体層1間の極めて
優れた接続性を示す結果が得られた。
【0045】さらに、接続プラグ6の絶縁信頼性にも優
れ、温度85℃、湿度85%、高温高湿バイアス試験に
おいても1000時間以上絶縁抵抗の劣化はなく高い導
体層間の接続信頼性を示した。
【0046】(他の実施の形態)上記各実施の形態にお
いては、絶縁層2および半硬化絶縁樹脂8はガラス繊維
にエポキシ樹脂を含浸させたものを用いたが、絶縁樹脂
としては、エポキシ樹脂のかわりにBTレジン、フェノ
ール樹脂、PPE(ポリフェニレンエーテル)樹脂、ポ
リイミド樹脂、フッ素樹脂、シリコン樹脂、ポリエーテ
ルイミド樹脂、ポリサルフォン樹脂、ポリエーテルサル
フォン樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、PPO(ポリフ
ェニレンオキサイド)樹脂、などを用いてもよい。ま
た、ガラス繊維に代わり、アラミド繊維、液晶ポリマ繊
維などの有機不織布を用いてもよい。
【0047】また、上記各実施の形態においては、半硬
化絶縁樹脂8の穴あけにレーザを用いたが、ドリル穴あ
けやサンドブラスト、打ち抜き、バイブロシェービング
などの方法を用いてもよい。
【0048】また、上記各実施の形態においては、接続
プラグ6として、銅線、金線を用いたが、銀、ニッケ
ル、アルミ、はんだあるいはこれらの金属を含む合金か
らなるものでもよい。
【0049】また、上記実施の形態2においては、接続
プラグ6の絶縁コート11に高耐湿性のBTレジンを例
にあげたが、高周波特性にすぐれるフッ素樹脂、PPE
(ポリフェニレンエーテル)、ベンゾシクロブテンなど
を用いてもよい。
【0050】また、上記各実施の形態においては、絶縁
層2を3層構造としたが、単層構造または2以上の複数
層構造であっても構わない。
【0051】したがって、今回開示された各実施の形態
はすべての点で例示であって制限的なものではないと考
えられる。本発明の範囲の技術的範囲は上記した説明で
はなくて特許請求の範囲によって画定され、特許請求の
範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含ま
れることが意図される。
【0052】なお、上記各実施の形態における多層プリ
ント配線板を用いて、DRAM等の半導体装置を製造し
た場合、半導体装置の動作信頼性の向上を図ることが可
能になる。
【0053】
【発明の効果】以上、詳細に述べたように、本発明によ
れば、導体層間の接続面積を大きくすることができるこ
とから導体層間の接続抵抗を小さくすることが可能とな
り、導体層間の接続の信頼性が高い多層プリント配線板
およびその製造方法を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態1におけるプリント配線板を示す
断面図である。
【図2】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第1断面工程図である。
【図3】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第2断面工程図である。
【図4】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第3断面工程図である。
【図5】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第4断面工程図である。
【図6】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第5断面工程図である。
【図7】 実施の形態1におけるプリント配線板の製造
方法を示す第6断面工程図である。
【図8】 実施の形態2におけるプリント配線板を示す
断面図である。
【図9】 実施の形態3におけるプリント配線板を示す
断面図である。
【図10】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第1断面工程図である。
【図11】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第2断面工程図である。
【図12】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第3断面工程図である。
【図13】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第4断面工程図である。
【図14】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第5断面工程図である。
【図15】 実施の形態3におけるプリント配線板の製
造方法を示す第6断面工程図である。
【図16】 特開平9−293968号公報に開示され
た多層配線基板構造を示す断面図である。
【図17】 (a)および(b)は、特開平6−104
545号公報に開示された両面プリント基板を示す断面
図である。
【符号の説明】
1 導体層、2 絶縁層、3 バイア導体部、4 開口
部、5 導電性粒子、6 接続プラグ、7 貫通穴、8
半硬化絶縁基材、9 銅箔、10 両面プリント配線
板、10A,10B 積層板、11 絶縁コート、12
導電ペースト。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北村 洋一 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5E317 AA04 AA24 BB02 BB12 BB13 BB15 BB18 CC25 CD01 CD25 CD27 CD32 5E346 AA42 AA43 CC32 CC37 CC38 CC40 FF21 GG28 HH07 HH31

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁層と、 前記絶縁層の第1の面に配置される第1導体層と、 前記絶縁層の前記第1の面とは反対の第2の面に配置さ
    れる第2導体層と、 前記絶縁層の内部に設けられ、前記第1導体層と前記第
    2導体層とを接続する接続プラグと、を備え、 前記第1導体層および前記第2導体層と前記接続プラグ
    との接触面はその全体が平坦面である、プリント配線
    板。
  2. 【請求項2】 前記絶縁層の内部に設けられる前記接続
    プラグの周囲に、絶縁コートがさらに設けられる、請求
    項1に記載のプリント配線板。
  3. 【請求項3】 前記第1導体層および前記第2導体層と
    前記接続プラグとの間に導電ペーストがさらに設けられ
    る、請求項1に記載のプリント配線板。
  4. 【請求項4】 前記接続プラグは金属である、請求項1
    から3のいずれかに記載のプリント配線板。
  5. 【請求項5】 前記接続プラグは、金、銅、ニッケル、
    および、はんだのいずれかの材料からなる、請求項4に
    記載のプリント配線板。
  6. 【請求項6】 請求項1から5のいずれかに記載のプリ
    ント配線板を用いて製造された、半導体装置。
  7. 【請求項7】 絶縁層に貫通穴を設ける工程と、 前記貫通穴に接続プラグを貫通させる工程と、 前記絶縁層の両面から露出する前記接続プラグの両端を
    切断して、前記絶縁層の両側の表面のそれぞれと前記接
    続プラグとの表面とを面一とする工程と、 前記絶縁層の両側の表面に、前記接続プラグに接する導
    体層を形成する工程と、を備える、プリント配線板の製
    造方法。
  8. 【請求項8】 前記貫通穴に接続プラグを貫通させる工
    程において、側面が絶縁コートに覆われた前記接続プラ
    グを前記貫通穴に貫通させる、請求項7に記載のプリン
    ト配線板の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記接続プラグの表面を前記絶縁層の表
    面と面一とする工程の後に、前記接続プラグの表面に導
    電ペーストを設ける工程をさらに備える、請求項7に記
    載のプリント配線板の製造方法。
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